JP2542062B2 - 高周波電気メス装置 - Google Patents
高周波電気メス装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、各電極の高周波電流を検出してその比率を
求め、その値に基づいて高周波出力を制御するようにし
た高周波電気メス装置に関する。
求め、その値に基づいて高周波出力を制御するようにし
た高周波電気メス装置に関する。
［従来の技術］ 一般に、高周波電気メス装置においては、電気的な接
触の不良によって不慮の火傷事故が起きることがあるた
め、それについて対策を施すことが必要となっている。
触の不良によって不慮の火傷事故が起きることがあるた
め、それについて対策を施すことが必要となっている。
ところで、上述の火傷事故が生じる原因として最も多
いのは、高周波電気メス装置とモニタ機器等とが組み合
わされて使用される場合であって、使用中に患者と患者
電極との電気的接触が不良になったり或いは患者電極に
接続したコードが断線したりして焼灼電流がモニタ機器
の電極等の患者に接触されている少面積の金属片を介し
て流れる場合である。又、電気的接触が正常であって
も、接地された電動ベッドに患者の手が触れたりする
と、その部分に高周波電流が流れてしまい、火傷が引き
起こされることもある。
いのは、高周波電気メス装置とモニタ機器等とが組み合
わされて使用される場合であって、使用中に患者と患者
電極との電気的接触が不良になったり或いは患者電極に
接続したコードが断線したりして焼灼電流がモニタ機器
の電極等の患者に接触されている少面積の金属片を介し
て流れる場合である。又、電気的接触が正常であって
も、接地された電動ベッドに患者の手が触れたりする
と、その部分に高周波電流が流れてしまい、火傷が引き
起こされることもある。
これに対する対策として、特開昭和61−32016号公報
に開示されている先行技術例では、処置具電極に流れる
電流IAと患者電極に流れる電流IPとを検出し、その比IA
/IPを求め、この比IA/IPの値が一定の基準値を下回って
いるときには高周波電流を制御するようにしている。こ
の先行技術例によれば、上記のように患者に接触されて
いる少面積の金属片を介して電流が流れてしまい患者電
極に電流が流れない場合に、高周波電流を小さくするの
で、火傷に至る事故を防ぐことができた。
に開示されている先行技術例では、処置具電極に流れる
電流IAと患者電極に流れる電流IPとを検出し、その比IA
/IPを求め、この比IA/IPの値が一定の基準値を下回って
いるときには高周波電流を制御するようにしている。こ
の先行技術例によれば、上記のように患者に接触されて
いる少面積の金属片を介して電流が流れてしまい患者電
極に電流が流れない場合に、高周波電流を小さくするの
で、火傷に至る事故を防ぐことができた。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、上記先行技術例では、スコープに漏れ
た電流を回収するためのＳコードを接続しているシステ
ムにおいて漏れの大きい（長く、表面積の大きい）スコ
ープを使用した場合に、患者電極に流れる電流が少なく
なるため、高周波出力を制限してしまい、処置そのもの
ができなくなる状況が生じていた。又、Ｓコードは、ス
コープの内部或いは外装から漏れた電流を回収するもの
であるため、このＳコードがない場合には、例えば操作
部等の金属部から手術者に電流が流れて火傷を生じさせ
ることがあった。
た電流を回収するためのＳコードを接続しているシステ
ムにおいて漏れの大きい（長く、表面積の大きい）スコ
ープを使用した場合に、患者電極に流れる電流が少なく
なるため、高周波出力を制限してしまい、処置そのもの
ができなくなる状況が生じていた。又、Ｓコードは、ス
コープの内部或いは外装から漏れた電流を回収するもの
であるため、このＳコードがない場合には、例えば操作
部等の金属部から手術者に電流が流れて火傷を生じさせ
ることがあった。
［発明の目的］ 本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであり、
焼灼電流の漏れによる不慮の事故を確実に防ぐことがで
き且つ確実に高周波処置のできる高周波電気メスを提供
することを目的とする。
焼灼電流の漏れによる不慮の事故を確実に防ぐことがで
き且つ確実に高周波処置のできる高周波電気メスを提供
することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 本発明の高周波電気メス装置は、生体の患部に接触す
る処置用電極と、患者に接触する患者電極と、内視鏡挿
入部のブレード部に接続されるスコープ電極とを有する
高周波電気メス装置において、前記処置用電極と前記患
者電極と前記スコープ電極にそれぞれ流れる高周波電流
IA,IP,ISの値を検出する検出手段と、この検出手段によ
り検出されたIA,IP,ISの値からIP/IAとIS/IAとを求める
算出手段と、このIP/IAとIS/IAの値に基づいて高周波出
力を制御する制御手段とを設けたものである。
る処置用電極と、患者に接触する患者電極と、内視鏡挿
入部のブレード部に接続されるスコープ電極とを有する
高周波電気メス装置において、前記処置用電極と前記患
者電極と前記スコープ電極にそれぞれ流れる高周波電流
IA,IP,ISの値を検出する検出手段と、この検出手段によ
り検出されたIA,IP,ISの値からIP/IAとIS/IAとを求める
算出手段と、このIP/IAとIS/IAの値に基づいて高周波出
力を制御する制御手段とを設けたものである。
［作用］ 即ち、本発明の高周波電気メス装置においては、処置
用電極と患者電極とスコープ電極にそれぞれ流れる高周
波電流IA,IP,ISの値を検出され、IP/IAとIS/IAとが求め
られ、このIP/IAとIS/IAの値に基づいて高周波出力が制
御される。
用電極と患者電極とスコープ電極にそれぞれ流れる高周
波電流IA,IP,ISの値を検出され、IP/IAとIS/IAとが求め
られ、このIP/IAとIS/IAの値に基づいて高周波出力が制
御される。
［実施例］ 以下、添附図面を参照しながら本発明の実施例につい
て述べる。
て述べる。
第１図ないし第４図は本発明の第１実施例に係わり、
第１図は高周波電気メス装置の構成を示すブロック図、
第２図は第１図の高周波電気メス装置を実際に患者に使
用した場合に各電極に流れる電流を示す図、第３図は内
視鏡挿入部の断面図、第４図は各電極に流れる電流とそ
の比率を示す図である。
第１図は高周波電気メス装置の構成を示すブロック図、
第２図は第１図の高周波電気メス装置を実際に患者に使
用した場合に各電極に流れる電流を示す図、第３図は内
視鏡挿入部の断面図、第４図は各電極に流れる電流とそ
の比率を示す図である。
第２図に示すように、第１実施例の高周波電気メス装
置１は、アクティブ用のＡコネクタ２と、スコープ用の
Ｓコネクタ３と、患者用のＰコネクタ４とを備えてい
る。そして、前記Ａコネクタ２は、Ａコード５を介して
処置具６に接続されるようになっており、この処置具６
は、内視鏡の保持部７のチャンネル挿入口を通過して内
視鏡挿入部８を挿通されて、生体９の体内に接触するよ
うになっている。又、前記Ｓコネクタ３は、Ｓコード10
を介して、ブレード11に接続されたＳ口金12に接続され
るようになっている。又、前記Ｐコネクタ４は、Ｐコー
ド13を介して、生体９に大きなう面積にわたり接触して
いるＰプレート14に接続されるようになっている。
置１は、アクティブ用のＡコネクタ２と、スコープ用の
Ｓコネクタ３と、患者用のＰコネクタ４とを備えてい
る。そして、前記Ａコネクタ２は、Ａコード５を介して
処置具６に接続されるようになっており、この処置具６
は、内視鏡の保持部７のチャンネル挿入口を通過して内
視鏡挿入部８を挿通されて、生体９の体内に接触するよ
うになっている。又、前記Ｓコネクタ３は、Ｓコード10
を介して、ブレード11に接続されたＳ口金12に接続され
るようになっている。又、前記Ｐコネクタ４は、Ｐコー
ド13を介して、生体９に大きなう面積にわたり接触して
いるＰプレート14に接続されるようになっている。
第３図は、前記内視鏡挿入部８の断面図である。この
挿入部８の最も外側には、絶縁材による外被20が設けら
れており、この外被20の内側には、ステンレス等の金属
を含んだブレード11がこの外被20に密着するように設け
られている。このブレード11の内側には、照明光を伝達
するライトガイド21と、内視鏡の先端部において結像し
た画像を信号として伝えるイメージガイド22と、絶縁チ
ューブで他の部分と分離されていて処置具６等を通過さ
せるチャンネルチューブ23とが備えられている。この処
置具６は、処置具絶縁チューブ24の中に、より線や単線
のワイア等で構成される処置具導電部25を有している。
挿入部８の最も外側には、絶縁材による外被20が設けら
れており、この外被20の内側には、ステンレス等の金属
を含んだブレード11がこの外被20に密着するように設け
られている。このブレード11の内側には、照明光を伝達
するライトガイド21と、内視鏡の先端部において結像し
た画像を信号として伝えるイメージガイド22と、絶縁チ
ューブで他の部分と分離されていて処置具６等を通過さ
せるチャンネルチューブ23とが備えられている。この処
置具６は、処置具絶縁チューブ24の中に、より線や単線
のワイア等で構成される処置具導電部25を有している。
第１図は、第１実施例の高周波電気メス装置１の構成
を示すものである。この高周波電気メス装置１では、出
力制御回路31から出力される波形と大きさを制御された
高周波信号がパワーアンプ32に印加されて、このパワー
アンプ32により増幅された後に変圧器33の１次側に入力
されるようになっており、この変圧器33の２次側から昇
圧された高周波信号が発生されるようになっている。こ
の高周波信号のうち、前記Ａコネクタ２へ流れる電流
（IA）の直流成分がＡキャパシタ34により阻止されるよ
うになっている。そして、検出手段としてのＡカレント
センサ35が、前記IAの大きさを検出し、算出手段として
のレベル検出比較回路36へ伝えるようになっている。同
様に、Ｓキャパシタ37は前記高周波信号のうち前記Ｓコ
ネクタ３に流れる電流（IS）の直流成分を阻止するよう
になっており、検出手段としてのＳカレントセンサ38が
前記ISの大きさを検出し、前記レベル検出比較回路36へ
伝えるようになっている。そして、Ｐキャパシタ39は、
前記高周波信号のうちの前記Ｐコネクタ４に流れる電流
（IP）の直流成分を阻止するようになっており、検出手
段としてのＰカレントセンサ40が前記IPの大きさを検出
し、前記レベル検出比較回路36へ伝えるようになってい
る。前記レベル検出比較回路36では、これらの各電流の
レベルを比較して、その結果を制御手段としての出力制
御回路31に伝えるようになっている。この出力制御回路
31では、その比較結果に基づいて高周波出力の制御を行
うようになっている。
を示すものである。この高周波電気メス装置１では、出
力制御回路31から出力される波形と大きさを制御された
高周波信号がパワーアンプ32に印加されて、このパワー
アンプ32により増幅された後に変圧器33の１次側に入力
されるようになっており、この変圧器33の２次側から昇
圧された高周波信号が発生されるようになっている。こ
の高周波信号のうち、前記Ａコネクタ２へ流れる電流
（IA）の直流成分がＡキャパシタ34により阻止されるよ
うになっている。そして、検出手段としてのＡカレント
センサ35が、前記IAの大きさを検出し、算出手段として
のレベル検出比較回路36へ伝えるようになっている。同
様に、Ｓキャパシタ37は前記高周波信号のうち前記Ｓコ
ネクタ３に流れる電流（IS）の直流成分を阻止するよう
になっており、検出手段としてのＳカレントセンサ38が
前記ISの大きさを検出し、前記レベル検出比較回路36へ
伝えるようになっている。そして、Ｐキャパシタ39は、
前記高周波信号のうちの前記Ｐコネクタ４に流れる電流
（IP）の直流成分を阻止するようになっており、検出手
段としてのＰカレントセンサ40が前記IPの大きさを検出
し、前記レベル検出比較回路36へ伝えるようになってい
る。前記レベル検出比較回路36では、これらの各電流の
レベルを比較して、その結果を制御手段としての出力制
御回路31に伝えるようになっている。この出力制御回路
31では、その比較結果に基づいて高周波出力の制御を行
うようになっている。
次に、以上のように構成された本実施例の動作につい
て述べる。
て述べる。
Ａコネクタ２から出力された高周波電流は、スコープ
のチャンネルチューブ23内を挿通された処置具６を通じ
て、生体９の一部分（例えばポリープ頚部）に流れる。
この生体９に流れた電流の大部分は、この生体９に接触
しているＰプレート14を介してＰコード13へ流れ、更
に、このＰコード13を通じてＰコネクタ４へ流れる。
又、生体９に流れた電流の一部分は体表面から大地に向
かって流れ（IR）、一部分はスコープの外被20を介して
ブレード11に流れて、Ｓ口金12とＳコード11とを経由し
てＳコネクタ３に流れる。又、Ａコネクタ２から出力さ
れた高周波電流は、スコープの内部でも処置具絶縁チュ
ーブ24と、チャンネルチューブ23とを介してブレード11
に流れ込む。このブレード11に高周波電流が流れ込むの
は、絶縁材であってもキャパシタ分を有しているために
高周波に対しては高いインピーダンスを保持できなくな
り電流が流れてしまうためである。このブレード11に流
れ込んだ電流は、Ｓ口金12とＳコード11を経由してＳコ
ネクタ３に流れる。
のチャンネルチューブ23内を挿通された処置具６を通じ
て、生体９の一部分（例えばポリープ頚部）に流れる。
この生体９に流れた電流の大部分は、この生体９に接触
しているＰプレート14を介してＰコード13へ流れ、更
に、このＰコード13を通じてＰコネクタ４へ流れる。
又、生体９に流れた電流の一部分は体表面から大地に向
かって流れ（IR）、一部分はスコープの外被20を介して
ブレード11に流れて、Ｓ口金12とＳコード11とを経由し
てＳコネクタ３に流れる。又、Ａコネクタ２から出力さ
れた高周波電流は、スコープの内部でも処置具絶縁チュ
ーブ24と、チャンネルチューブ23とを介してブレード11
に流れ込む。このブレード11に高周波電流が流れ込むの
は、絶縁材であってもキャパシタ分を有しているために
高周波に対しては高いインピーダンスを保持できなくな
り電流が流れてしまうためである。このブレード11に流
れ込んだ電流は、Ｓ口金12とＳコード11を経由してＳコ
ネクタ３に流れる。
第４図は、各電極に流れる電流の大きさとその比率を
種々の組み合わせについて示すものであり、この図を参
照しながら、Ａ〜Ｆの各状態と、その状態が危険な状態
であるかどうかの判断について説明する。
種々の組み合わせについて示すものであり、この図を参
照しながら、Ａ〜Ｆの各状態と、その状態が危険な状態
であるかどうかの判断について説明する。
まず、Ａ状態においては、IAに対するIPの比率が1:1
であって、ISとIRがないという理想的な状態である。こ
の場合には、IP/IA＝100％となり、漏れ電流のない安全
な状態と判断される。
であって、ISとIRがないという理想的な状態である。こ
の場合には、IP/IA＝100％となり、漏れ電流のない安全
な状態と判断される。
Ｂ状態においては、IP/IA＝75％であり、どこかに電
流が漏れているということがわかり、IS/IA＝25％であ
ることから、電流が漏れているのはスコープに対しての
みであるということがわかる（75％＋25％）ため、特に
危険な状態ではないということが判断できる。
流が漏れているということがわかり、IS/IA＝25％であ
ることから、電流が漏れているのはスコープに対しての
みであるということがわかる（75％＋25％）ため、特に
危険な状態ではないということが判断できる。
Ｃ状態においては、IP/IA＝75％という点については
上記Ｂ状態と同一であるが、IS/IA＝０％であるため、
残りの25％が他の部分に流れていることがわかり、これ
は、漏れている部位や面積によっては危険な状態である
ということが判断できる。
上記Ｂ状態と同一であるが、IS/IA＝０％であるため、
残りの25％が他の部分に流れていることがわかり、これ
は、漏れている部位や面積によっては危険な状態である
ということが判断できる。
Ｄ状態においては、IP/IA＝50％と、かなり少なく、
半分が他の部分に流れていることがわかる。しかし、IS
/IA＝50％であるため、漏れている電流は全てスコープ
に流れていることがわかり、特に危険な状態ではないも
のと判断される。
半分が他の部分に流れていることがわかる。しかし、IS
/IA＝50％であるため、漏れている電流は全てスコープ
に流れていることがわかり、特に危険な状態ではないも
のと判断される。
Ｅ状態においては、IP/IA＝50％という点では上記Ｄ
状態と同様であるが、IS/IA＝25％であることから、残
りの25％は他の部分に流れてしまっていることがわか
り、漏れている部位や面積によっては危険な状態である
ということが判断できる。
状態と同様であるが、IS/IA＝25％であることから、残
りの25％は他の部分に流れてしまっていることがわか
り、漏れている部位や面積によっては危険な状態である
ということが判断できる。
Ｆ状態においては、IP/IA＝50％であり、その点では
上記Ｄ状態及び上記Ｅ状態と同様であるが、IS/IA＝０
％であり、残りの50％は他の部分に漏れてしまってい
る。
上記Ｄ状態及び上記Ｅ状態と同様であるが、IS/IA＝０
％であり、残りの50％は他の部分に漏れてしまってい
る。
上記Ｅ状態及び上記Ｆ状態は、IP/IAのレベルとして
も悪く、なおかつ漏れ電流が大きいという非常に危険な
状態であると判断できる。
も悪く、なおかつ漏れ電流が大きいという非常に危険な
状態であると判断できる。
IP/IAのレベルを70％程度とした場合、従来のIP/IAの
みでの判断では、、Ｄ状態は当然危険であると判断して
高周波出力の制御を行うことになるが、IS/IAの値も考
慮に入れて判断を行うと、高周波出力の制限は行なわれ
ない。これは、Ｐプレートに回収されなかった高周波電
流も全てＳコード10に回収されているので安全であると
判断したからである。
みでの判断では、、Ｄ状態は当然危険であると判断して
高周波出力の制御を行うことになるが、IS/IAの値も考
慮に入れて判断を行うと、高周波出力の制限は行なわれ
ない。これは、Ｐプレートに回収されなかった高周波電
流も全てＳコード10に回収されているので安全であると
判断したからである。
以上述べたように、本実施例によれば、高周波出力の
制限を行うか行なわないかを判断する際にIP/IAの値とI
S/IAの値の両方を考慮に入れることにより、漏れ電流が
全てスコープに対して流れている場合には高周波出力の
制限をせずに正常な処置が行える。
制限を行うか行なわないかを判断する際にIP/IAの値とI
S/IAの値の両方を考慮に入れることにより、漏れ電流が
全てスコープに対して流れている場合には高周波出力の
制限をせずに正常な処置が行える。
第６図は、本発明の第２実施例の高周波メス装置の構
成を示すブロック図である。この第２実施例の高周波メ
ス装置は、上記第１実施例の装置の出力制御回路31にス
コープの情報（長さ、太さ等）を読み込む能力を設け、
それに伴いスコープに接続するためのSIコネクタ42を追
加したものである。
成を示すブロック図である。この第２実施例の高周波メ
ス装置は、上記第１実施例の装置の出力制御回路31にス
コープの情報（長さ、太さ等）を読み込む能力を設け、
それに伴いスコープに接続するためのSIコネクタ42を追
加したものである。
この第２実施例は、その他の点については上記第１実
施例と同様の構成であり、同一の要素には同一の参照符
号を付して説明する。
施例と同様の構成であり、同一の要素には同一の参照符
号を付して説明する。
第５図から明らかなように、スコープの挿入部が長い
ほど、またスコープの外径が太い（表面積が大きい）ほ
ど、処置具に流れている電流がスコープのブレード11に
流れ込む量は大きくなる。換言すれば、長いスコープを
用いた場合には、短いスコープを用いた場合よりもＰプ
レートに戻る電流が減少し、IP/IAの値も低下する。こ
のため、長いスコープを用いて高周波処置を行おうとし
た場合、IP/IAの判断により高周波出力が制限されて実
際の処置ができないことが生じていた。
ほど、またスコープの外径が太い（表面積が大きい）ほ
ど、処置具に流れている電流がスコープのブレード11に
流れ込む量は大きくなる。換言すれば、長いスコープを
用いた場合には、短いスコープを用いた場合よりもＰプ
レートに戻る電流が減少し、IP/IAの値も低下する。こ
のため、長いスコープを用いて高周波処置を行おうとし
た場合、IP/IAの判断により高周波出力が制限されて実
際の処置ができないことが生じていた。
第６図に示す高周波メス装置においては、スコープか
らの情報を予めチェックし、長いスコープであればIP/I
Aの値が低めで、IS/IAの値が高めであっても高周波出力
の制限をせずに、一方、短いスコープでIS/IAの値が高
めである場合には問題があるものとみなして高周波出力
を制限するようにする。
らの情報を予めチェックし、長いスコープであればIP/I
Aの値が低めで、IS/IAの値が高めであっても高周波出力
の制限をせずに、一方、短いスコープでIS/IAの値が高
めである場合には問題があるものとみなして高周波出力
を制限するようにする。
スコープの情報は、ROMにディジタル型式のコードで
入力されているものとし、それを高周波メス装置から読
み取れるようなインターフェースが設けてあるものとす
る。
入力されているものとし、それを高周波メス装置から読
み取れるようなインターフェースが設けてあるものとす
る。
又、スコープの情報は、スコープから直接ではなく、
光源装置を介して読み取るようにしても良い。
光源装置を介して読み取るようにしても良い。
このように、この第２実施例によれば、上記第１実施
例に比べて、スコープの長さ、太さ等の高周波電流の漏
れるレベルに関する情報を予め得ることが可能であるた
め、IS/IAの安全レベルや危険レベルのスレッシュホー
ルド値をスコープに合わせて設定することができ、それ
によって、確実に安全、危険の判断を行うことができ、
より確実な高周波処置を行うことが可能となる。
例に比べて、スコープの長さ、太さ等の高周波電流の漏
れるレベルに関する情報を予め得ることが可能であるた
め、IS/IAの安全レベルや危険レベルのスレッシュホー
ルド値をスコープに合わせて設定することができ、それ
によって、確実に安全、危険の判断を行うことができ、
より確実な高周波処置を行うことが可能となる。
尚、上記各実施例は本発明をオプティカルスコープに
適用した例について述べたものであるが、本発明はこれ
に限定されず、電子スコープについても適用することが
できる。
適用した例について述べたものであるが、本発明はこれ
に限定されず、電子スコープについても適用することが
できる。
［発明の効果］ 以上述べたように、本発明によれば、患者電極に流れ
る電流とスコープに漏れた電流の両方を処置具電極に流
れる電流と比較することにより、焼灼電流の漏れによる
不慮の事故を確実に防ぐことができ、且つ、確実に高周
波処置を行うことができる。
る電流とスコープに漏れた電流の両方を処置具電極に流
れる電流と比較することにより、焼灼電流の漏れによる
不慮の事故を確実に防ぐことができ、且つ、確実に高周
波処置を行うことができる。
第１図ないし第４図は本発明の第１実施例に係わり、第
１図は高周波電気メス装置の構成を示すブロック図、第
２図は第１図の高周波電気メス装置を実際に患者に使用
した場合に各電極に流れる電流を示す図、第３図は内視
鏡挿入部の断面図、第４図は各電極に流れる電流とその
比率を示す図であり、第５図及び第６図は本発明の第２
実施例に係わり、第５図はスコープの長さと太さによる
電流の量を示す図、第６図は高周波電気メス装置の構成
を示すブロック図である。 １……高周波電気メス装置 ２……Ａコネクタ、３……Ｓコネクタ ４……Ｐコネクタ 31,41……出力制御回路 35……Ａカレントセンサ 36……レベル検出比較回路 38……Ｓカレントセンサ 40……Ｐカレントセンサ 42……SIコネクタ
１図は高周波電気メス装置の構成を示すブロック図、第
２図は第１図の高周波電気メス装置を実際に患者に使用
した場合に各電極に流れる電流を示す図、第３図は内視
鏡挿入部の断面図、第４図は各電極に流れる電流とその
比率を示す図であり、第５図及び第６図は本発明の第２
実施例に係わり、第５図はスコープの長さと太さによる
電流の量を示す図、第６図は高周波電気メス装置の構成
を示すブロック図である。 １……高周波電気メス装置 ２……Ａコネクタ、３……Ｓコネクタ ４……Ｐコネクタ 31,41……出力制御回路 35……Ａカレントセンサ 36……レベル検出比較回路 38……Ｓカレントセンサ 40……Ｐカレントセンサ 42……SIコネクタ
Claims (1)
- 【請求項１】生体の患部に接触する処置用電極と、患者
に接触する患者電極と、内視鏡挿入部のブレード部に接
続されるスコープ電極とを有する高周波電気メス装置に
おいて、前記処置用電極と前記患者電極と前記スコープ
電極にそれぞれ流れる高周波電流IA,IP,ISの値を検出す
る検出手段と、この検出手段により検出されたIA,IP,IS
の値からIP/IAとIS/IAとを求める算出手段と、このIP/I
AとIS/IAの値に基づいて高周波出力を制御する制御手段
とを設けたことを特徴とする高周波電気メス装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63272829A JP2542062B2 (ja) | 1988-10-27 | 1988-10-27 | 高周波電気メス装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP63272829A JP2542062B2 (ja) | 1988-10-27 | 1988-10-27 | 高周波電気メス装置 |
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1988
- 1988-10-27 JP JP63272829A patent/JP2542062B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02116362A (ja) | 1990-05-01 |
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