JP2540909B2 - Plant abnormality diagnosis device - Google Patents

Plant abnormality diagnosis device

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JP2540909B2
JP2540909B2 JP12091688A JP12091688A JP2540909B2 JP 2540909 B2 JP2540909 B2 JP 2540909B2 JP 12091688 A JP12091688 A JP 12091688A JP 12091688 A JP12091688 A JP 12091688A JP 2540909 B2 JP2540909 B2 JP 2540909B2
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abnormality
plant
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cause
event
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、例えば発電プラントなど複数の装置によ
り構成されたプラントにおいて、異常の発生箇所と原因
を推定する異常診断装置に関するものである。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an abnormality diagnosing apparatus for estimating a location and a cause of an abnormality in a plant including a plurality of devices such as a power plant.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第4図は例えば特開昭60−91413号公報に示された従
来のプラントの異常診断装置を示す構成図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a conventional plant abnormality diagnosis device disclosed in, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 60-91413.

図において、電子計算機(1)は発電プラント(2)
よりプロセス量を読み込むプロセス入力部(3)と、そ
のプロセス量より異常を検出する異常検出部(4)と、
異常検出部(4)において検出された異常事象より異常
原因を推論する異常原因推論部(5)と、因果関係によ
る知識の蓄積された知識データベース(6)とCRT表示
装置(7)へ出力する処理を行なう表示処理部(8)と
からなる。
In the figure, a computer (1) is a power plant (2)
A process input unit (3) for reading more process amount, and an abnormality detection unit (4) for detecting an abnormality from the process amount,
An abnormality cause inference unit (5) that infers an abnormality cause from an abnormal event detected in the abnormality detection unit (4), a knowledge database (6) in which knowledge on a causal relationship is accumulated, and a CRT display device (7) are output. And a display processing unit (8) for performing processing.

また、第5図は、従来の異常診断装置における異常原
因推定方式を説明するための説明図である。
Further, FIG. 5 is an explanatory diagram for explaining an abnormality cause estimation method in a conventional abnormality diagnosis device.

次に動作について説明する。異常検出処理部(4)で
は、プロセス入力部(3)により入力された発電プラン
トのプロセス量の変化を監視し、正常範囲から逸脱した
場合に異常が発生したことを検出する。異常原因推論部
(5)は、異常検出処理部(4)で異常が検出された場
合動作し、検出された異常事象により異常原因を推論
し、その推論結果は、表示処理部(8)により表示処理
され、CRT表示装置(7)に表示される。異常原因の推
論は、知識データベース(6)に蓄積された因果関係に
よる知識により行なわれる。例えば、第5図において原
因「M」であれば事象「M」と「M2」が発生する。原因
「M1」であれば事象「M11」と「M12」が発生し、原因
「M2」であれば「M21」と「M22」、「M23」が発生す
る。このように関連木として表わされた因果関係の知識
により、発生した異常事象から原因を探索し、推定す
る。
Next, the operation will be described. The abnormality detection processing unit (4) monitors a change in the process amount of the power plant input by the process input unit (3) and detects the occurrence of an abnormality when the process amount deviates from the normal range. The anomaly cause inference unit (5) operates when an anomaly is detected by the anomaly detection processing unit (4), infers an anomaly cause based on the detected anomalous event, and the inference result is displayed by the display processing unit (8). It is displayed and displayed on the CRT display device (7). The reason of the abnormality is inferred by the knowledge based on the causal relationship accumulated in the knowledge database (6). For example, in FIG. 5, if the cause is "M", the events "M" and "M2" occur. If the cause is "M1", the events "M11" and "M12" occur, and if the cause is "M2", "M21", "M22", and "M23" occur. With the knowledge of the causal relationship represented as the relation tree in this way, the cause is searched and estimated from the abnormal event that has occurred.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be Solved by the Invention]

従来のプラントの異常診断装置は以上のように構成さ
れているので、原因と事象間の因果関係が第5図のよう
に整理されている場合には容易に実現できるが、全ての
故障原因を想定するのは困難である。また、想定できた
としても故障原因に対する事象が発電プラントなどの場
合にはプラントの運転状態によって異なるため、原因と
事象間の因果関係の知識を整理するのは容易でなく、適
用し難いなどの課題があった。
Since the conventional plant abnormality diagnosing device is configured as described above, it can be easily realized when the causal relationship between the cause and the event is arranged as shown in FIG. It is difficult to assume. In addition, even if it can be assumed, if the event for the failure cause is a power plant or the like, it depends on the operating state of the plant, so it is not easy to organize the knowledge of the causal relationship between the cause and the event, and it is difficult to apply. There were challenges.

この発明は上記のような課題を解消するためになされ
たもので、故障原因と事象間の因果関係の知識が整理さ
れ難い対象プラントに対して、表現し易すい知識と推論
手段とを備えたプラントの異常診断装置を得ることを目
的とする。
The present invention has been made in order to solve the above problems, and is provided with easy-to-express knowledge and inference means for a target plant in which knowledge of causal relationships between failure causes and events is difficult to organize. The purpose is to obtain a plant abnormality diagnosis device.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

この発明に係るプラントの異常診断装置は、複数の装
置で構成されたプラントから入力されたプロセス値の変
化により異常を推定し、運転員にガイドするプラントの
異常診断装置において、上記プラントの構成装置毎に作
成され該装置が正常な時の特性を定性的・定量的に表現
した知識と、上記プラントからのプロセス値とを比較推
論し、異常の原因となっている箇所を有する装置を特定
する手段を備えたものである。
A plant abnormality diagnosing device according to the present invention is a plant abnormality diagnosing device that estimates an abnormality from a change in a process value input from a plant including a plurality of devices and guides the operator to the plant constituent device. The knowledge that is created for each device and expresses the characteristics when the device is normal is qualitatively and quantitatively compared with the process value from the plant, and the device having the point causing the abnormality is specified. It is equipped with means.

〔作用〕[Action]

この発明におけるプラントの異常診断装置は、プラン
トの構成装置毎に作成された装置が正常な時の特性を定
性的:定量的に表現した知識と、プラントからのプロセ
ス値とを比較推論し、異常の原因となっている箇所を有
する装置を特定して、この特定された装置について異常
原因を推定する。
The plant abnormality diagnosing device according to the present invention qualitatively expresses the characteristics when the device created for each component device of the plant is normal: quantitatively expresses the process value from the plant by comparing and inferring the abnormality. The device having the point that is the cause of is identified, and the cause of the abnormality is estimated for the identified device.

〔発明の実施例〕Example of Invention

以下、この発明の一実施例を図について説明する。第
1図において、(1)は電子計算機であり、発電プラン
ト(2)よりプロセス量を読み込むプロセス入力部
(3)と、そのプロセス量より異常を検出する異常検出
部(4)と、異常検出部(4)において検出された異常
事象とプロセス入力部(3)において入力されたデータ
とから異常箇所と異常原因を推論する異常原因推論部
(5)と、プラントの構成装置毎に作成した正常時の特
性を定性的・定量的に表現した知識及び故障原因と事象
間の因果関係の知識とから構成される知識ベース(6)
と、CRT表示装置(7)へ発生事象、故障箇所・原因、
対応処置などを出力する処理を行なう表示処理部(8)
とからなる。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 1, (1) is an electronic computer, a process input section (3) for reading a process amount from a power plant (2), an abnormality detection section (4) for detecting an abnormality from the process amount, and an abnormality detection An abnormal cause inferring unit (5) that infers an abnormal place and an abnormal cause from an abnormal event detected in the unit (4) and data input in the process input unit (3), and a normal created for each constituent device of the plant. A knowledge base composed of knowledge that qualitatively and quantitatively expresses the characteristics of time and knowledge of causal relationships between causes of failures and events (6)
To the CRT display device (7), occurrence event, failure location / cause,
Display processing unit (8) for performing processing for outputting corresponding measures, etc.
Consists of

また、第2図はこの発明における異常原因推論方式を
説明するための説明図であり、第2図における装置1、
装置2、…、装置nはそれぞれプラントを構成する装置
を示し、それぞれ、プロセス入力部(3)にプロセス値
を入力することによって区切られた部分であり、必ずし
も独立した装置として切り離すことが出来るものでなく
ともよい。
Further, FIG. 2 is an explanatory diagram for explaining an abnormality cause inference system according to the present invention.
A device 2, ..., A device n each represents a device that constitutes a plant, and is a part that is divided by inputting a process value into a process input unit (3), and can be necessarily separated as an independent device. It doesn't have to be.

第3図は上記プラントを構成する装置ごとに作成され
た知識を説明するための説明図であり、知識ベース
(6)に記憶されている。
FIG. 3 is an explanatory diagram for explaining the knowledge created for each device that constitutes the plant, and is stored in the knowledge base (6).

次に上記実施例の動作について説明する。プロセス入
力部(3)では、発電プラント(2)よりデータを入力
するとともに定量的なプロセス値を異常原因推論部
(5)で使用する「ゆっくり増加」、「一定」などの定
性的なデータに変換する。異常検出処理部(4)では、
プロセス入力部(3)で入力処理されたプロセス量を監
視し、正常範囲から逸脱した場合に異常が発生したこと
を検出する。異常原因推論部(5)は異常検出処理部
(4)で異常が検出された場合動作し、検出された異常
事象及び定性的・定量的なプロセス量により故障箇所・
原因の推論を行ない、その推論結果は表示処理部(8)
により表示処理されCRT表示装置(7)に表示される。
異常原因の推論は知識ベース(6)に蓄積されたプラン
トの構成装置毎に作成された正常時の特性を定性的・定
量的に表現した知識及び故障原因と事象間の因果関係の
知識により行なわれる。例えば、第2図においてプラン
トは装置1から装置nにより構成されており、装置毎に
作成された知識は第3図のように「入力データがゆっく
り増加ならば出力データもゆっくり増加」のように正常
時の特性を定性的に表現した知識と正常時の入力データ
と出力データの関係を定量的に表現した知識と「原因A
ならば入力データ一定のとき出力データはハンチングす
る」のような故障原因と事象間の因果関係の知識とから
構成されている。例えば異常検出処理部で異常事象Zが
検出された場合には、異常原因推論部では、異常事象Z
を出力データとして持つ装置5から探索を始め、各装置
の正常特性知識と定性的・定量的データとを比較するこ
とにより異常の原因になっている装置を特定する。さら
に特定された装置の知識の中にある故障原因・事象間の
因果関係の知識により故障原因を推論する。
Next, the operation of the above embodiment will be described. In the process input section (3), data is input from the power plant (2), and quantitative process values are converted into qualitative data such as "slow increase" and "constant" used in the abnormality cause inference section (5). Convert. In the abnormality detection processing unit (4),
The process input section (3) monitors the process amount input and detects the occurrence of an abnormality when it deviates from the normal range. The anomaly cause inference unit (5) operates when an anomaly is detected by the anomaly detection processing unit (4), and detects a failure location based on the detected anomalous event and a qualitative / quantitative process amount.
The reason is inferred and the inference result is displayed by the display processing unit (8).
Is displayed on the CRT display device (7).
The reason for the abnormality is inferred by the knowledge accumulated in the knowledge base (6) for each component of the plant that qualitatively and quantitatively expresses the characteristics under normal conditions and the knowledge of the causal relationship between the failure cause and the event. Be done. For example, in FIG. 2, the plant is composed of devices 1 to n, and the knowledge created for each device is such that “if the input data slowly increases, the output data slowly increases” as shown in FIG. Knowledge that qualitatively expresses the characteristics under normal conditions and knowledge that expresses the relationship between input data and output data under normal conditions and “Cause A
If so, the output data is hunting when the input data is constant "and the knowledge of causal relationships between events. For example, if the abnormal event Z is detected by the abnormality detection processing unit, the abnormal cause inference unit detects the abnormal event Z.
The search is started from the device 5 that has as output data, and the device causing the abnormality is specified by comparing the normal characteristic knowledge of each device with the qualitative / quantitative data. Further, the cause of the failure is inferred from the knowledge of the causal relationship between the failure cause and the event, which is included in the knowledge of the specified device.

〔発明の効果〕 以上のように、この発明によれば異常原因の推論に用
いる知識をプラントの構成装置毎に作成した正常時の特
性を定性的・定量的に表現した知識ベースを主体に構成
したので、想定していない異常原因に対しても異常箇所
の推論が可能となり、また異常原因と事象間の因果関係
の知識獲得・整理が、プラントの構成装置毎に限定して
できるため容易になるなどの効果がある。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the knowledge base used for inferring the cause of abnormality is created for each constituent device of the plant, and is composed mainly of a knowledge base that qualitatively and quantitatively expresses the characteristics at normal times. As a result, it is possible to infer an abnormal location even for an unexpected cause of abnormality, and it is easy to acquire and organize the knowledge of the causal relationship between the cause of abnormality and the event because it is possible to limit it to each component device of the plant. There is an effect such as.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明の一実施例によるプラントの異常診断
装置を示す構成図、第2図は第1図の装置の異常原因推
論方式を説明するための説明図、第3図は第1図の装置
の知識ベースに記憶された知識を説明するための説明
図、第4図は従来のプラントの異常診断装置を示す構成
図、第5図は第4図の装置の異常原因推論方式を説明す
るための説明図である。 図において、(1)は電子計算機、(2)は発電プラン
ト、(3)はプロセス入力部、(4)は異常検出処理
部、(5)は異常原因推論部、(6)は知識ベース、
(7)はCRT表示装置、(8)は表示処理部である。 なお、図中同一符号は同一、又は相当部分を示す。
FIG. 1 is a block diagram showing an abnormality diagnosing device for a plant according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram for explaining an abnormality cause inference system of the device of FIG. 1, and FIG. 3 is FIG. 4 is an explanatory view for explaining the knowledge stored in the knowledge base of the device, FIG. 4 is a configuration diagram showing a conventional plant abnormality diagnosis device, and FIG. 5 is an explanation of an abnormality cause inference system of the device of FIG. It is explanatory drawing for doing. In the figure, (1) is an electronic computer, (2) is a power plant, (3) is a process input section, (4) is an abnormality detection processing section, (5) is an abnormality cause inference section, (6) is a knowledge base,
(7) is a CRT display device, and (8) is a display processing unit. The same reference numerals in the drawings indicate the same or corresponding parts.

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】複数の装置で構成されたプロセス値の変化
により異常を推定し、運転員にガイドするプラントの異
常診断装置において、上記プラントの構成装置毎に作成
され該装置が正常な時の特性を定性的・定量的に表現し
た知識と、上記プラントからのプロセス値とを比較推論
し、異常の原因となっている箇所を有する装置を特定す
るとともに、該特定された装置の知識の中にある故障原
因・事象間の因果関係の知識により故障原因を推論する
手段を備えたことを特徴とするプラントの異常診断装
置。
1. A plant abnormality diagnosing device for estimating an abnormality based on a change in a process value composed of a plurality of devices and guiding the operator to the abnormality, which is created for each component device of the plant and is used when the device is normal. The knowledge that expresses the characteristics qualitatively and quantitatively and the process value from the plant are compared and inferred to identify the device having the location causing the abnormality, and the knowledge of the identified device An apparatus for diagnosing an abnormality in a plant, which is provided with means for inferring a cause of failure based on knowledge of a causal relationship between the cause of failure and the event in 1.
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