JP2532519Y2 - 軸間距離測定具 - Google Patents
軸間距離測定具Info
- Publication number
- JP2532519Y2 JP2532519Y2 JP1991048697U JP4869791U JP2532519Y2 JP 2532519 Y2 JP2532519 Y2 JP 2532519Y2 JP 1991048697 U JP1991048697 U JP 1991048697U JP 4869791 U JP4869791 U JP 4869791U JP 2532519 Y2 JP2532519 Y2 JP 2532519Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- measuring
- axis
- distance
- axes
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、クランクシャフト等の
異なる２つの軸間の距離を測定する測定具に関するもの
である。
異なる２つの軸間の距離を測定する測定具に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】従来、クランクシャフトのジャ−ナル軸
とピン軸との距離を測定する方法に、定盤とマスタ−を
使用し、ダイヤルゲ−ジ等で測定する方法がある。これ
は図４Ａに示すように、ワ−クＷの一方の基準となる軸
１，１を定盤に取付けたセンタ−11付きの支柱12で両側
から芯出しして取付け、図４Ｂに示すように、ワ−クＷ
を回転して測定軸２の最高点とマスタ−13とを測定具14
で比較し、基準軸１，１と測定軸２との軸間距離Ｌを測
定するものである。実開昭５５−６８２５号公報には、
このような測定方式において、マグネスケ−ル等の複数
の測定器を使用したものが記載されている。
とピン軸との距離を測定する方法に、定盤とマスタ−を
使用し、ダイヤルゲ−ジ等で測定する方法がある。これ
は図４Ａに示すように、ワ−クＷの一方の基準となる軸
１，１を定盤に取付けたセンタ−11付きの支柱12で両側
から芯出しして取付け、図４Ｂに示すように、ワ−クＷ
を回転して測定軸２の最高点とマスタ−13とを測定具14
で比較し、基準軸１，１と測定軸２との軸間距離Ｌを測
定するものである。実開昭５５−６８２５号公報には、
このような測定方式において、マグネスケ−ル等の複数
の測定器を使用したものが記載されている。
【０００３】また、Ｖブロックで基準軸を支持し、特殊
軸間距離測定器で測定する方法がある。これは図５に示
すように、２個のＶブロック５で基準となる軸１をそれ
ぞれ支持して測定軸２を位置決めし、基準ブロック５と
一体的に形成した測定部15にマグネスケ−ル等の電気的
測長器17，18と摺動する測定子16を設置し、測定子16を
測定軸２の一側にセットし、測定軸２の直径上の両端を
電気的測長器17，18の測定子19，20の変位で測り、その
測定値を演算して軸間距離Ｌを算出するものである。
軸間距離測定器で測定する方法がある。これは図５に示
すように、２個のＶブロック５で基準となる軸１をそれ
ぞれ支持して測定軸２を位置決めし、基準ブロック５と
一体的に形成した測定部15にマグネスケ−ル等の電気的
測長器17，18と摺動する測定子16を設置し、測定子16を
測定軸２の一側にセットし、測定軸２の直径上の両端を
電気的測長器17，18の測定子19，20の変位で測り、その
測定値を演算して軸間距離Ｌを算出するものである。
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】図４に示す従来の測定
方法では、両端面にセンタ−孔のあるワ−クでないと測
定できないし、ワ−クを回転してその最高点を測定する
ので、測定に時間がかかる。また、測定軸の直径に影響
され、軸間距離Ｌの測定値に誤差が出る。図５に示した
特殊測定具を使用した測定方法では、電源及び演算機能
を備えた大型の装置が必要となり、設備投資が高額とな
るだけでなく、測定軸の真円度の不良が判別できない。
本考案は、上記の課題を解決し、簡易な構成で測定値に
誤差が入いらず、測定軸の真円度の判別も可能な軸間距
離の測定具を提供することを目的とするものである。
方法では、両端面にセンタ−孔のあるワ−クでないと測
定できないし、ワ−クを回転してその最高点を測定する
ので、測定に時間がかかる。また、測定軸の直径に影響
され、軸間距離Ｌの測定値に誤差が出る。図５に示した
特殊測定具を使用した測定方法では、電源及び演算機能
を備えた大型の装置が必要となり、設備投資が高額とな
るだけでなく、測定軸の真円度の不良が判別できない。
本考案は、上記の課題を解決し、簡易な構成で測定値に
誤差が入いらず、測定軸の真円度の判別も可能な軸間距
離の測定具を提供することを目的とするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本考案は、測定物の基準
軸を支持する少なくとも２個の基準Ｖブロックと前記測
定物の測定軸を支持する測定Ｖブロックとを測定物の所
定軸間距離だけずらせて定盤に設置し、前記測定Ｖブロ
ックのＶ形支持面の両面の前記測定軸のそれぞれの支持
部位において該測定軸に接触するフラット測定子を有す
る測長器を配設した軸間距離測定具である。
軸を支持する少なくとも２個の基準Ｖブロックと前記測
定物の測定軸を支持する測定Ｖブロックとを測定物の所
定軸間距離だけずらせて定盤に設置し、前記測定Ｖブロ
ックのＶ形支持面の両面の前記測定軸のそれぞれの支持
部位において該測定軸に接触するフラット測定子を有す
る測長器を配設した軸間距離測定具である。
【０００６】
【作用】測定物を基準Ｖブロックと測定Ｖブロックにセ
ットし、測定Ｖブロックにおける測定軸のＶ面からの距
離を２つの測長器で測る。測定物の軸間距離が所定寸法
である場合は、測長器の読みはいずれも０となる。測定
物の軸間距離が所定寸法より短い場合は、一方の測長器
は０を指すが、他方の測長器は＋ｘを指し、測定物の軸
間距離が所定寸法より長い場合は、両測長器の値が逆に
なる。また、測定軸が真円形でない場合は、両方の測長
値がいずれも０とならず、それぞれ＋ｙ,＋ｚを指すこ
とになり、測定軸の真円度不良が判別できる。
ットし、測定Ｖブロックにおける測定軸のＶ面からの距
離を２つの測長器で測る。測定物の軸間距離が所定寸法
である場合は、測長器の読みはいずれも０となる。測定
物の軸間距離が所定寸法より短い場合は、一方の測長器
は０を指すが、他方の測長器は＋ｘを指し、測定物の軸
間距離が所定寸法より長い場合は、両測長器の値が逆に
なる。また、測定軸が真円形でない場合は、両方の測長
値がいずれも０とならず、それぞれ＋ｙ,＋ｚを指すこ
とになり、測定軸の真円度不良が判別できる。
【０００７】
【実施例】図１Ａ，Ｂは、本考案の実施例のそれぞれ正
面図、平面図である。例えば、測定物をクランクシャフ
トとした場合、ジャ−ナル軸１，１を支持する２個の基
準Ｖブロック５，５と、クランクシャフトのピン軸２を
支持する測定Ｖブロック４とをクランクシャフトの所定
軸間距離Ｌだけずらせて定盤３に設置し、測定Ｖブロッ
ク４のＶ形支持面の両面にそれぞれダイヤルゲ−ジ６，
６を配設する。各ダイヤルゲ−ジ６には、角度付き測定
子７とフラット測定子８を設け、フラット測定子８の先
端が測定ブロック４のＶ形面の両面から突き出してピン
軸２に当るようにしてある。ワ−クＷの基準軸１，１を
基準ブロック５，５に、測定軸２を測定ブロック４にセ
ットし、測定ブロック４の一部を断面とした図２に示す
ように、測定ブロック４のＶ形面における各浮き上がり
量をダイヤルゲ−ジ６，６で測るようにしたもので、こ
の測定具の定盤３に取っ手９を設けて可搬式としてあ
る。
面図、平面図である。例えば、測定物をクランクシャフ
トとした場合、ジャ−ナル軸１，１を支持する２個の基
準Ｖブロック５，５と、クランクシャフトのピン軸２を
支持する測定Ｖブロック４とをクランクシャフトの所定
軸間距離Ｌだけずらせて定盤３に設置し、測定Ｖブロッ
ク４のＶ形支持面の両面にそれぞれダイヤルゲ−ジ６，
６を配設する。各ダイヤルゲ−ジ６には、角度付き測定
子７とフラット測定子８を設け、フラット測定子８の先
端が測定ブロック４のＶ形面の両面から突き出してピン
軸２に当るようにしてある。ワ−クＷの基準軸１，１を
基準ブロック５，５に、測定軸２を測定ブロック４にセ
ットし、測定ブロック４の一部を断面とした図２に示す
ように、測定ブロック４のＶ形面における各浮き上がり
量をダイヤルゲ−ジ６，６で測るようにしたもので、こ
の測定具の定盤３に取っ手９を設けて可搬式としてあ
る。
【０００８】次に、具体的な測定方法について説明す
る。図３Ａに示すように、ワ−クＷのマスタ−Ｗ0を用
いて各ダイヤルゲ−ジ６，６’が０を指すように調整す
る。ワ−クＷの軸間距離Ｌが所定寸法である場合は、両
方のダイヤルゲ−ジ６，６’の読みはいずれも０とな
る。ワ−クＷの軸間距離Ｌが所定寸法より短い場合は、
図３Ｂに示すようにダイヤルゲ−ジ６は０を指すが、他
方のダイヤルゲ−ジ６’は＋ｘを指し、ワ−クＷの軸間
距離が所定寸法より長い場合は、図３Ｃに示すように逆
にダイヤルゲ−ジ６’は０を指すが、ダイヤルゲ−ジ６
は＋ｘを指すことになり、＋ｘの公差を決めて置けば、
ワ−クＷの合否の判定が直ちに行える。
る。図３Ａに示すように、ワ−クＷのマスタ−Ｗ0を用
いて各ダイヤルゲ−ジ６，６’が０を指すように調整す
る。ワ−クＷの軸間距離Ｌが所定寸法である場合は、両
方のダイヤルゲ−ジ６，６’の読みはいずれも０とな
る。ワ−クＷの軸間距離Ｌが所定寸法より短い場合は、
図３Ｂに示すようにダイヤルゲ−ジ６は０を指すが、他
方のダイヤルゲ−ジ６’は＋ｘを指し、ワ−クＷの軸間
距離が所定寸法より長い場合は、図３Ｃに示すように逆
にダイヤルゲ−ジ６’は０を指すが、ダイヤルゲ−ジ６
は＋ｘを指すことになり、＋ｘの公差を決めて置けば、
ワ−クＷの合否の判定が直ちに行える。
【０００９】ワ−クＷの測定軸２が真円形でない場合
は、図３Ｄに示すようにダイヤルゲ−ジ６，６’はいず
れも０とならずそれぞれ＋ｙ,＋ｚを指すことになる。
これにより、測定軸２の真円度不良が判別できる。
は、図３Ｄに示すようにダイヤルゲ−ジ６，６’はいず
れも０とならずそれぞれ＋ｙ,＋ｚを指すことになる。
これにより、測定軸２の真円度不良が判別できる。
【００１０】以上の実施例では、測定具に取っ手を設け
て可搬式としたが、固定式の測定具とすることができる
のは勿論であり、機械式のダイヤルゲージに代えて電気
式の測定器を用いて自動化を図ることもできる。
て可搬式としたが、固定式の測定具とすることができる
のは勿論であり、機械式のダイヤルゲージに代えて電気
式の測定器を用いて自動化を図ることもできる。
【００１１】
【考案の効果】本考案は、簡易な構成で軸間距離の測定
が可能となり、測定値に誤差が入ることもなく、また、
測定軸の真円度不良を判別することも可能となる。
が可能となり、測定値に誤差が入ることもなく、また、
測定軸の真円度不良を判別することも可能となる。
【図１】本考案の実施例を示す正面図及び平面図。
【図２】本考案の実施例の一部断面図。
【図３】本考案の測定状態の説明図。
【図４】従来の測定の説明図。
【図５】従来の特殊測定具の説明図。
１ 基準軸 ２ 測定軸 ３ 定盤 ４ 測定ブロック ５ 基準ブロック ６ ダイヤルゲ−ジ ７ 角度付き測定子 ８ フラット測定子
Claims (1)
- 【請求項１】 測定物の基準軸を支持する少なくとも２
個の基準Ｖブロックと前記測定物の測定軸を支持する測
定Ｖブロックとを測定物の所定軸間距離だけずらせて定
盤に設置し、前記測定ＶブロックのＶ形支持面の両面の
前記測定軸のそれぞれの支持部位において該測定軸に接
触するフラット測定子を有する測長器を配設したことを
特徴とする軸間距離測定具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991048697U JP2532519Y2 (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 軸間距離測定具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991048697U JP2532519Y2 (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 軸間距離測定具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04134005U JPH04134005U (ja) | 1992-12-14 |
| JP2532519Y2 true JP2532519Y2 (ja) | 1997-04-16 |
Family
ID=31926999
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991048697U Expired - Lifetime JP2532519Y2 (ja) | 1991-05-31 | 1991-05-31 | 軸間距離測定具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2532519Y2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5993844U (ja) * | 1982-12-16 | 1984-06-26 | 豊田工機株式会社 | クランクピン割出精度確認装置 |
| JPH0439529Y2 (ja) * | 1985-12-30 | 1992-09-16 | ||
| JPH0626801Y2 (ja) * | 1988-09-29 | 1994-07-20 | トヨタ自動車株式会社 | 簡易位置度測定装置 |
-
1991
- 1991-05-31 JP JP1991048697U patent/JP2532519Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04134005U (ja) | 1992-12-14 |
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