JP2532025Y2 - Inspection equipment for wire termination - Google Patents

Inspection equipment for wire termination

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JP2532025Y2
JP2532025Y2 JP1992021808U JP2180892U JP2532025Y2 JP 2532025 Y2 JP2532025 Y2 JP 2532025Y2 JP 1992021808 U JP1992021808 U JP 1992021808U JP 2180892 U JP2180892 U JP 2180892U JP 2532025 Y2 JP2532025 Y2 JP 2532025Y2
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wire
core
optical
optical fiber
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隆弘 浅野
正弘 池知
伸雄 佐藤
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Shinmaywa Industries Ltd
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Shinmaywa Industries Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本考案は、被覆剥取処理を施して
芯線部を裸出させた電線端末の芯線部の状態を検査する
電線の端末処理状態検査装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electric wire terminal processing state inspection apparatus for inspecting the state of a core part of an electric wire end in which a core part is exposed by performing a coating stripping process.

【0002】[0002]

【従来の技術】電線端末の被覆を剥取る処理工程と、そ
の剥取部分に端子を圧着する処理工程とからなる端子圧
着処理を連続かつ自動的に行うように構成された自動端
子圧着装置がある。そして自動端子圧着装置の処理経路
(電線端末の移送経路)上に被覆剥取状態検査装置が配
置され、電線の被覆剥取処理が良好に行われたかどうか
を検査し、被覆剥取不良による不良製品の発生を未然に
防止していた。
2. Description of the Related Art There is an automatic terminal crimping apparatus configured to continuously and automatically perform a terminal crimping process including a process of stripping a covering of a wire terminal and a process of crimping a terminal to the stripped portion. is there. Then, an insulation stripping state inspection device is arranged on the processing route of the automatic terminal crimping device (transfer route of the wire terminal), and inspects whether or not the wire stripping process has been performed well. Product generation was prevented beforehand.

【0003】[0003]

【考案が解決しようとする課題】しかしながら、電線端
末の被覆剥取処理が確実に行われていた場合であって
も、被覆剥取処理によって裸出された芯線部が、被覆剥
取処理時や移送時における他の部材との接触等によって
バラケが生じ、先端部側が広がっている場合がある。
However, even if the stripping process of the wire end has been performed reliably, the core portion exposed in the stripping process may not be removed during the stripping process. In some cases, contact may occur with other members at the time of transfer, so that the leading end may be widened.

【0004】この裸出芯線部のバラケ状態で、端子圧着
処理工程により端子の圧着が行われた場合に、芯線部を
構成する素線の一部が端子の圧着部からはみ出すことが
あり、製品の品質の低下を招くおそれがあった。
[0004] When the terminals are crimped in the terminal crimping process in a state where the bare core wires are disjointed, a part of the wires constituting the core wires may protrude from the crimp portions of the terminals. There was a possibility that the quality of the product was lowered.

【0005】そこで、本考案は上記問題点に鑑み、裸出
芯線部の広がりを検知して素線のはみ出しによる不良製
品の発生を未然に防止し、製品の品質向上を図る電線の
端末処理状態検査装置を提供することを目的とする。
[0005] In view of the above problems, the present invention detects the spread of the bare core wire portion, prevents the occurrence of defective products due to the protruding wires, and improves the quality of the products. It is an object to provide an inspection device.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の技術的手段は、被覆剥取処理により裸出された電線端
末の芯線部の状態を端子圧着処理工程前に検査する電線
の端末処理状態検査装置であって、電線端末の移送経路
をはさんで対向配置されると共に、電線端末の裸出芯線
部の残留被覆部側基端部および他端側先端部の通過をそ
れぞれ非接触で検知し、該通過の時間に対応した長さの
第1および第2の通過信号をそれぞれ与える第1および
第2の検知手段と、前記第1および第2の通過信号の長
さを比較して、その差が所定値より大きいとき芯線状態
不良と判定し、所定値以下のとき芯線状態良と判定する
判定手段とを備え、前記第1および第2の検知手段がそ
れぞれ、投光器と受光器の対からなる光電スイッチと、
投光器および受光器の検出ヘッド部にそれぞれに連結さ
れた光ファイバとを備えた光ファイバセンサからなり、
各光電スイッチの投光器と受光器にそれぞれ連結された
対の光ファイバの他端部が前記移送経路をはさんで光軸
が一致するように対向配置されてなる点にある。
Technical means for attaining the above object include a terminal treatment of an electric wire for inspecting a state of a core portion of an end of the electric wire exposed by a coating stripping process before a terminal crimping process. A condition inspection device, wherein a transfer path of a wire terminal is provided.
Across the while being opposed, detects the passage of the residual coating portion side base end portion of the bare core wire portion of the wire end and the other end tip without contact each length corresponding to the time of the passage Comparing the lengths of the first and second passing signals with the first and second detecting means for providing the first and second passing signals, respectively. Determination means for determining that the core wire state is good when the value is equal to or less than a predetermined value , and wherein the first and second detection means
A photoelectric switch comprising a pair of a transmitter and a receiver,
Connected to the detection heads of the sender and receiver respectively.
Comprising an optical fiber sensor having
Connected to the emitter and receiver of each photoelectric switch
The other end of the pair of optical fibers has the optical axis
Are arranged so as to coincide with each other.

【0007】[0007]

【作用】本考案によれば、被覆剥取処理により裸出され
た電線端末の芯線部が、移送経路上において、第1およ
び第2の検知手段によって検知され、その裸出芯線部の
残留被覆部側基端部および他端側先端部の通過の時間に
対応した長さの第1および第2の通過信号が導出され
る。
According to the present invention, the core portion of the wire end stripped by the coating stripping process is detected by the first and second detecting means on the transfer path, and the residual coating of the stripped core portion is detected. First and second passing signals having lengths corresponding to the passing times of the part-side base end and the other end-side tip are derived.

【0008】この際、裸出芯線部の先端部側が広がって
いない場合には、第1および第2の通過信号の長さの差
は小さく、逆に、裸出芯線部の先端部側が広がっている
場合には、第1および第2の通過信号の長さの差は大き
くなる。
At this time, if the leading end side of the bare core portion is not widened, the difference between the lengths of the first and second passing signals is small, and conversely, the leading end side of the bare core portion is widened. In this case, the difference between the lengths of the first and second passing signals is large.

【0009】そして、判定手段は、第1および第2の通
過信号の長さを比較して、その差が所定値より大きいと
き芯線状態不良と判定し、所定値以下のとき芯線状態良
と判定する。
The determining means compares the lengths of the first and second passing signals. If the difference is larger than a predetermined value, it is determined that the core wire state is poor. If the difference is smaller than the predetermined value, it is determined that the core wire state is good. I do.

【0010】ここに、芯線状態不良の電線が検知でき、
不良製品の発生を未然に防止できる。また、前記第1お
よび第2の検知手段がそれぞれ、投光器と受光器の対か
らなる光電スイッチと、投光器および受光器の検出ヘッ
ド部にそれぞれに連結された光ファイバとを備えた光フ
ァイバセンサからなり、各光電スイッチの投光器と受光
器にそれぞれ連結された対の光ファイバの他端部が前記
移送経路をはさんで光軸が一致するように対向配置され
てなる構造としているため、投光器から出た光はそれに
連結された投光器側の光ファイバを通じて移送経路の一
方側に案内され、移送経路をはさんで対向する受光器側
の光ファイバに受光され、この光ファイバを通じて受光
器に案内される。従って、設置スペースをあまり必要と
しない光ファイバを移送経路をはさんで対向配置させ、
比較的かさばる投光器と受光器を空きスペースに設置す
ることができ、移送経路をはさんで対向配置される検知
部分のコンパクト化が図れる。
Here, an electric wire having a defective core wire state can be detected,
Defective products can be prevented from occurring. In addition, the first
And the second detecting means are a pair of a projector and a receiver, respectively.
Photoelectric switch and the detection heads of the sender and receiver.
Optical fiber with an optical fiber
It consists of fiber sensor, and the light emitter and receiver of each photoelectric switch
The other end of each pair of optical fibers connected to the
Oppositely arranged so that the optical axis coincides across the transfer path
Light emitted from the projector
One of the transport paths is connected through the optical fiber connected to the projector.
Receiver that is guided to the other side and faces the transport path
Is received by the optical fiber of
Guided to the vessel. Therefore, it requires much installation space.
Optical fibers are placed opposite each other across the transport path,
Install relatively bulky emitters and receivers in empty space
Detection that is placed opposite the transfer path
Parts can be made more compact.

【0011】[0011]

【実施例】以下、本考案の第1実施例を図面に基づいて
説明すると、図1乃至図3において、1はセンサ支持ブ
ロックで、自動端子圧着装置の所定位置に配置されてお
り、電線端末2の移送経路に対応した電線通過路3を備
えた側面視コ字状に形成されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A first embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIGS. 1 to 3, reference numeral 1 denotes a sensor support block which is arranged at a predetermined position of an automatic terminal crimping apparatus. It is formed in a U-shape in a side view provided with an electric wire passage 3 corresponding to the second transfer path.

【0012】一方、被覆剥取処理が施された電線端末2
は、対の搬送爪5a,5bにより根元を把持されて、図
1および図2に示される如く、処理のための移送経路上
を矢印で示す如く右側(上流)から左側(下流)へと移
送される。例えば、前述の自動端子圧着装置であれば、
図示の上流側には被覆剥取処理部が存在し、下流側には
端子圧着処理部が存在する。
On the other hand, the wire terminal 2 having been subjected to the coating stripping process
Is transported from the right side (upstream) to the left side (downstream) as indicated by an arrow on the transfer path for processing, as shown in FIGS. 1 and 2, with the base gripped by the pair of transport claws 5a and 5b. Is done. For example, if the above-mentioned automatic terminal crimping device,
A coating stripping section is present on the upstream side in the figure, and a terminal crimping section is present on the downstream side.

【0013】センサ支持ブロック1の電線通過路3をは
さんで上下に対向する各支持アーム7a,7bには、移
送経路に沿って移送される電線端末2の残留被覆部9、
裸出芯線部10の残留被覆部9側基端部10aおよび他
端側先端部10bの通過位置に対応してそれぞれ透過式
の光ファイバセンサ12a,12b,12cが備えられ
ており、非接触で検知する第1,第2,第3の検知手段
を構成している。
Each of the support arms 7a and 7b vertically opposed to each other across the electric wire passage 3 of the sensor support block 1 has a residual covering portion 9 of the electric wire terminal 2 transferred along the transfer path.
Transmission-type optical fiber sensors 12a, 12b, and 12c are provided corresponding to the passing positions of the base end portion 10a and the other end portion 10b on the remaining covering portion 9 side of the bare cored wire portion 10, respectively. It constitutes first, second and third detecting means for detecting.

【0014】各光ファイバセンサ12a,12b,12
cは投光器、受光器の対からなる光電スイッチ13a,
13b,13cと、各光電スイッチ13a,13b,1
3cの検出ヘッド部にそれぞれ連結された光ファイバ1
4a,14b,14cとからなり、それぞれの対の光フ
ァイバ14a,14b,14cが電線通過路3をはさん
で、光軸が一致するように対向して配置されている。そ
して光軸が一致しているため、各光電スイッチ13a,
13b,13cの投光器から出た光16a,16b,1
6cは、対の各光ファイバ14a,14b,14cを通
じて常時は受光器側に案内されるが、図3に示される如
く、残留被覆部9および裸出芯線部10がこの光16
a,16b,16cを遮光すると、各光電スイッチ13
a,13b,13cの受光器は検知信号を生じる。これ
らの検知信号は光16a,16b,16cが遮光されて
いる間継続するため、その長さはそれぞれ、残留被覆部
9,裸出芯線部10の基端部10aおよび先端部10b
の通過の時間と対応したものとなる。
Each of the optical fiber sensors 12a, 12b, 12
c denotes a photoelectric switch 13a composed of a pair of a projector and a receiver.
13b, 13c and each of the photoelectric switches 13a, 13b, 1
The optical fibers 1 respectively connected to the detection heads 3c
4a, 14b, and 14c, and a pair of optical fibers 14a, 14b, and 14c are arranged to face each other across the electric wire passage 3 so that the optical axes coincide. Since the optical axes coincide, each of the photoelectric switches 13a, 13a,
Lights 16a, 16b, 1 emitted from the projectors 13b, 13c
6c is always guided to the light receiving side through the pair of optical fibers 14a, 14b, 14c, but as shown in FIG.
a, 16b and 16c are shielded from light,
The photodetectors a, 13b and 13c generate detection signals. Since these detection signals continue while the lights 16a, 16b, and 16c are shielded, their lengths are respectively set to the residual covering portion 9, the proximal end portion 10a and the distal end portion 10b of the bare cored wire portion 10.
It corresponds to the time of passing.

【0015】このようにして各光ファイバセンサ12
a,12b,12cから導出された検知信号は、それぞ
れ残留被覆部通過信号、裸出芯線部10の基端部通過信
号および先端部通過信号として後述の処理回路に与えら
れ、被覆剥取良否および芯線状態良否の判定のための利
用に供される。
Thus, each optical fiber sensor 12
The detection signals derived from a, 12b, and 12c are given to a later-described processing circuit as a residual covering portion passing signal, a base portion passing signal and a leading end portion passing signal of the bare core wire portion 10, respectively. It is used for determining the quality of the core wire.

【0016】図6はそのような処理回路を示す概略ブロ
ック図であり、その各部の波形を図7の波形図に示す。
処理回路は、図7(A)に示すクロックパルスを発生す
るクロック発生器18と、各光ファイバセンサ12a,
12b,12cからの残留被覆部通過信号、裸出芯線部
10の基端部通過信号および先端部通過信号を上記クロ
ックとそれぞれAND処理するANDゲート19a,1
9b,19cと、各ANDゲート19a,19b,19
cの出力をそれぞれカウントするカウンタ20a,20
b,20cと、それぞれ対となるカウンタ20a,20
b,およびカウンタ20b,20cの各出力カウント値
をそれぞれ比較する比較演算回路21a,21bとから
構成されており、被覆剥取の良否および芯線状態の良否
を判定する判定手段として機能する。
FIG. 6 is a schematic block diagram showing such a processing circuit, and the waveforms of the respective parts are shown in the waveform diagram of FIG.
The processing circuit includes a clock generator 18 for generating a clock pulse shown in FIG.
AND gates 19a, 1 which AND-process the residual covering portion passing signals from 12b, 12c, the base portion passing signal and the leading portion passing signal of the bare core wire portion 10 with the above clock, respectively.
9b, 19c and AND gates 19a, 19b, 19
counters 20a and 20 for respectively counting the outputs of c
b and 20c, and counters 20a and 20 that form a pair, respectively.
b and comparison operation circuits 21a and 21b for comparing the respective output count values of the counters 20b and 20c, respectively, and function as a judging means for judging the quality of the coating stripping and the quality of the core wire state.

【0017】まず第一に、被覆剥取が良好な場合の動作
について述べれば、この場合光ファイバセンサ12aか
ら導出される残留被覆部通過信号は図7(B)に示す如
くなり、光ファイバセンサ12bから導出される裸出芯
線部10の基端部通過信号は図7(D)実線に示す如く
なる。尚通過信号の時間幅は図2に示す残留被覆部9お
よび裸出芯線部10の基端部10aの横幅に対応するも
のである。
First, the operation in the case where the coating stripping is good will be described. In this case, the residual coating portion passing signal derived from the optical fiber sensor 12a is as shown in FIG. The base end passing signal of the bare core wire portion 10 derived from 12b is as shown by the solid line in FIG. Note that the time width of the passing signal corresponds to the width of the residual covering portion 9 and the base end portion 10a of the bare core wire portion 10 shown in FIG.

【0018】ANDゲート19aは、図7(A)のクロ
ック信号と図7(B)の残留被覆部通過信号とを受けて
AND処理し、図7(C)に示す信号を出力する。また
ANDゲート19bは、図7(A)のクロック信号と図
7(D)実線の基端部通過信号とを受けてAND処理
し、図7(E)実線に示す信号を出力する。これらAN
Dゲート19a,19bの出力信号に含まれているパル
ス数は、それぞれの通過信号の時間幅に比例している。
The AND gate 19a receives the clock signal shown in FIG. 7A and the signal passing through the residual covering portion shown in FIG. 7B, performs an AND process, and outputs a signal shown in FIG. 7C. The AND gate 19b receives the clock signal of FIG. 7A and the base-end passing signal of the solid line in FIG. 7D, performs an AND process, and outputs a signal indicated by the solid line in FIG. These AN
The number of pulses included in the output signals of the D gates 19a and 19b is proportional to the time width of each passing signal.

【0019】これらのパルス数はカウンタ20a,20
bにおいてそれぞれカウントされ、そのカウント値は比
較演算回路21aに与えられる。比較演算回路21aは
両カウント値を比較し、その差が所定値よりも大きいか
どうかを判定する。差が所定値よりも大きいときは、残
留被覆部9と裸出芯線部10とでその横幅に十分な差が
あり、被覆剥取が良好に行われたということがわかる。
従ってこの場合は、比較演算回路21aから剥取良を示
す判定信号が出力される。一方、差が所定値以下のとき
は、残留被覆部9と裸出芯線部10とでその横幅に十分
な差がなく、被覆剥取が良好に行われていないというこ
とがわかる。従ってこの場合は、比較演算回路21aか
ら剥取不良を示す判定信号が出力される。例えば上記所
定値として最も簡単にゼロを選択すれば、両カウント値
が等しいか否かにより剥取の良否を判定することにな
る。もちろん、電線の形状に応じて、適当な所定値を予
め設定するようにしてもよい。
The number of these pulses is determined by the counters 20a, 20a.
b, and the count value is supplied to the comparison operation circuit 21a. The comparison operation circuit 21a compares the two count values and determines whether the difference is larger than a predetermined value. When the difference is larger than the predetermined value, there is a sufficient difference in the lateral width between the residual coating portion 9 and the bare core wire portion 10, and it can be seen that the coating was successfully stripped.
Therefore, in this case, a determination signal indicating good peeling is output from the comparison operation circuit 21a. On the other hand, when the difference is equal to or less than the predetermined value, there is no sufficient difference in the width between the residual coating portion 9 and the bare core wire portion 10, and it can be seen that the coating is not stripped well. Therefore, in this case, the comparison operation circuit 21a outputs a determination signal indicating a stripping failure. For example, if zero is most simply selected as the predetermined value, the quality of stripping is determined based on whether or not both count values are equal. Of course, an appropriate predetermined value may be set in advance according to the shape of the electric wire.

【0020】いま、所定値としてゼロを選択していると
仮定すれば、図7(C)および図7(E)実線に示すA
NDゲート19a,19bの出力パルス数はそれぞれ1
6および8であるので、比較演算回路21aは16−8
>0つまり16>8と判定し、剥取良を示す判定信号を
出力する。
Now, assuming that zero is selected as the predetermined value, if A is indicated by a solid line in FIG. 7 (C) and FIG.
The number of output pulses of the ND gates 19a and 19b is 1
6 and 8, the comparison operation circuit 21a calculates 16-8
> 0, that is, 16> 8, and outputs a determination signal indicating good peeling.

【0021】次に、被覆剥取が不良な場合について述べ
る。この場合は裸出すべき芯線部10に被覆がついたま
まになっており、光ファイバセンサ12bから導出され
る裸出芯線部10の基端部通過信号は、図7(D)2点
鎖線に示す如く、図7(B)の残留被覆部通過信号と同
様の時間幅のものとなる。従って図7(E)2点鎖線に
示すように、ANDゲート19bの出力パルス数(=1
6)は、図7(C)に示すANDゲートー19aの出力
パルス数(=16)と等しくなる。そして比較演算回路
21aは16−16=0つまり16=16と判定し、剥
取不良を示す判定信号を出力する。
Next, a case where the coating stripping is defective will be described. In this case, the core wire 10 to be exposed is still covered, and the signal passing through the proximal end of the exposed core wire 10 derived from the optical fiber sensor 12b is indicated by a two-dot chain line in FIG. As shown, the signal has a time width similar to that of the signal passing through the residual covering portion in FIG. 7B. Therefore, as shown by the two-dot chain line in FIG. 7E, the number of output pulses of the AND gate 19b (= 1)
6) becomes equal to the number of output pulses (= 16) of the AND gate 19a shown in FIG. 7C. Then, the comparison operation circuit 21a determines that 16−16 = 0, that is, 16 = 16, and outputs a determination signal indicating a peeling failure.

【0022】さらに、裸出芯線部10の芯線状態が良好
な場合の動作について述べれば、この場合光ファイバセ
ンサ12bから導出される裸出芯線部10の基端部通過
信号は図7(D)実線に示す如くなり、光ファイバセン
サ12cから導出される裸出芯線部10の先端部通過信
号は図7(F)に示す如くなる。両通過信号の時間幅は
図2に示す裸出芯線部10の基端部10aおよび先端部
10bの横幅に対応するものである。
Further, the operation when the core state of the bare core section 10 is good will be described. In this case, the base end passing signal of the bare core section 10 derived from the optical fiber sensor 12b is shown in FIG. As shown by the solid line, the signal passing through the distal end of the bare core wire 10 derived from the optical fiber sensor 12c is as shown in FIG. 7 (F). The time width of both passing signals corresponds to the width of the base end 10a and the tip end 10b of the bare core wire section 10 shown in FIG.

【0023】ANDゲート19bは、図7(A)のクロ
ック信号と図7(D)実線の基端部通過信号とを受けて
AND処理し、図7(E)実線に示す信号を出力する。
またANDゲート19cは、図7(A)のクロック信号
と図7(F)の先端部通過信号とを受けてAND処理
し、図7(G)に示す信号を出力する。これらANDゲ
ート19b,19cの出力信号に含まれているパルス数
は、それぞれの通過信号の時間幅に比例している。
The AND gate 19b receives the clock signal of FIG. 7 (A) and the base-end passing signal of the solid line of FIG. 7 (D), performs an AND process, and outputs a signal shown by the solid line of FIG. 7 (E).
The AND gate 19c receives the clock signal shown in FIG. 7A and the leading end passing signal shown in FIG. 7F, performs an AND process, and outputs a signal shown in FIG. 7G. The number of pulses included in the output signals of these AND gates 19b and 19c is proportional to the time width of each passing signal.

【0024】これらのパルス数はカウンタ20b,20
cにおいてそれぞれカウントされ、そのカウント値は比
較演算回路21bに与えられる。比較演算回路21bは
両カウント値を比較し、その差が所定値よりも大きいか
どうかを判別する。差が所定値以下のときは、裸出芯線
部10の基端部10aと先端部10bとでその横幅に十
分な差がなく、ここに裸出芯線部10にバラケによる広
がりが生じておらず、芯線状態が良好であるということ
がわかる。従ってこの場合は、比較演算回路21bから
芯線状態良を示す判定信号が出力される。一方、差が所
定値よりも大きいときは、基端部10aと先端部10b
とでその横幅に十分な差があり、ここに裸出芯線部10
にバラケによる広がりが生じており、芯線状態が不良で
あるということがわかる。従ってこの場合は、比較演算
回路21bから芯線状態不良を示す判定信号が出力され
る。例えば上記所定値として2を選択すれば、両カウン
ト値が2より大きいか小さいかにより芯線状態の良否を
判定することになる。もちろん、電線の形状に応じて、
適当な所定値を予め設定するようにしてもよい。
The number of these pulses is determined by the counters 20b and 20b.
c, and the count value is supplied to the comparison operation circuit 21b. The comparison operation circuit 21b compares the two count values and determines whether the difference is larger than a predetermined value. When the difference is equal to or less than the predetermined value, there is no sufficient difference in the width between the base end portion 10a and the distal end portion 10b of the bare cored wire portion 10, and the bare cored wire portion 10 does not spread due to looseness. It can be seen that the core condition is good. Therefore, in this case, the comparison operation circuit 21b outputs a determination signal indicating that the core wire state is good. On the other hand, when the difference is larger than the predetermined value, the proximal end 10a and the distal end 10b
There is a sufficient difference in the width between
It can be seen that the spread due to irregularities has occurred, and that the state of the core wire is defective. Therefore, in this case, the comparison operation circuit 21b outputs a determination signal indicating a core wire state defect. For example, if 2 is selected as the predetermined value, the quality of the core wire state is determined based on whether both count values are larger or smaller. Of course, depending on the shape of the wire,
An appropriate predetermined value may be set in advance.

【0025】いま、所定値として2を選択していると仮
定すれば、図7(E)実線および図7(G)に示すAN
Dゲート19b,19cの出力パルス数はそれぞれ8で
あるので、比較演算回路21bは8−8=0≦2と判定
し、芯線状態良を示す判定信号を出力する。
Now, assuming that a predetermined value of 2 is selected, the solid line in FIG. 7E and the AN shown in FIG.
Since the number of output pulses of each of the D gates 19b and 19c is 8, the comparison operation circuit 21b determines that 8−8 = 0 ≦ 2, and outputs a determination signal indicating that the core state is good.

【0026】次に、図4に示される如く、裸出芯線部1
0がバラケ状態となっている芯線状態が不良な場合につ
いて述べる。この場合、基端部10a側は残留被覆部9
により広がりが規制されているため、光ファイバセンサ
12bから導出される基端部通過信号は図7(D)実線
に示す如く前述同様であり、一方、先端部10bは広が
っているため、光ファイバセンサ12cから導出される
先端部通過信号は図7(H)に示す如く、時間幅が広く
なる。従って図7(E)実線に示すANDゲート19b
の出力パルス数(=8)と、図7(I)に示すANDゲ
ート19cの出力パルス数(=14)との差が大きくな
る。ここに比較演算回路21bは14−8=6>2と判
定し、芯線状態不良を示す判定信号を出力する。
Next, as shown in FIG.
A case where the core wire state where 0 is in a disjointed state is bad will be described. In this case, the proximal end 10a side is
7D, the signal passing through the base end portion derived from the optical fiber sensor 12b is the same as described above as shown by the solid line in FIG. 7D. The tip passage signal derived from the sensor 12c has a wide time width as shown in FIG. 7 (H). Therefore, the AND gate 19b shown by the solid line in FIG.
And the number of output pulses (= 14) of the AND gate 19c shown in FIG. 7 (I) becomes large. Here, the comparison operation circuit 21b determines that 14−8 = 6> 2, and outputs a determination signal indicating a core state defect.

【0027】なお、図5に示される如く、裸出芯線部1
0の一部が広がった状態にあっては、光ファイバセンサ
12cから導出される先端部通過信号は図7(J)に示
す如く、広がった一部のみを検知し、時間幅が短いもの
となる。従って図7(E)実線に示すANDゲート19
bの出力パルス数(=8)と、図7(K)に示すAND
ゲート19cの出力パルス数(=1)との差が大きくな
り、比較演算回路21bは8−1=7>2と判定し、芯
線状態不良を示す判定信号を出力する。
Note that, as shown in FIG.
In a state where a part of 0 is widened, the leading end passage signal derived from the optical fiber sensor 12c detects only the widened part as shown in FIG. Become. Accordingly, the AND gate 19 shown by the solid line in FIG.
b, the number of output pulses (= 8) and AND shown in FIG.
The difference from the number of output pulses (= 1) of the gate 19c increases, and the comparison operation circuit 21b determines that 8-1 = 7> 2, and outputs a determination signal indicating a core line state defect.

【0028】以上のようにして得られた被覆剥取の良否
を示す判定信号や、芯線状態の良否を示す判定信号は、
所定の制御を行うために利用される。例えば、剥取不良
もしくは芯線状態不良のいずれかの不良を示す判定信号
に応答して、自動端子圧着装置の作動を非常停止して不
良電線を手動除去可能とすると共に、警報器を作動させ
てオペレータに剥取不良や芯線状態不良の不良状態を通
報するようにしてもよい。また例えば、剥取不良もしく
は芯線状態不良のいずれかの不良を示す判定信号に応答
して不良電線が自動的に選別除去されるよう、自動端子
圧着装置を構成することも可能である。
The determination signal indicating the quality of the coating stripping obtained as described above and the determination signal indicating the quality of the core wire state are as follows:
It is used for performing predetermined control. For example, in response to a determination signal indicating either a peeling failure or a core wire state failure, the operation of the automatic terminal crimping apparatus is stopped emergencyly, and the defective wire can be manually removed, and the alarm is activated. The operator may be notified of the defective state of the peeling failure or the core wire state failure. Further, for example, an automatic terminal crimping apparatus can be configured so that a defective wire is automatically selected and removed in response to a determination signal indicating either a peeling failure or a core wire state failure.

【0029】図8および図9は、判定手段としての処理
回路の別の実施例を示す概略ブロック図である。これら
の処理回路は、図6の処理回路が残留被覆部9、裸出芯
線部10のそれぞれの幅をディジタル値(パルス数)に
変換したのに対し、これらの幅を積分回路23a,23
b,23cを通じてアナログ値(電圧値)に変換するも
のである。
FIGS. 8 and 9 are schematic block diagrams showing another embodiment of the processing circuit as the judging means. These processing circuits convert the respective widths of the residual covering portion 9 and the bare core wire portion 10 into digital values (the number of pulses) while the processing circuits in FIG. 6 convert these widths into integration circuits 23a and 23.
b, 23c to convert to an analog value (voltage value).

【0030】図8の実施例において、積分回路23a,
23b,23cは光ファイバセンサ12a,12b,1
2cから図7(B),(D),(F)の通過信号をそれ
ぞれ受けてこれを積分し、各通過信号の時間幅に対応し
た大きさの電圧値に変換する。これらの電圧値は、電圧
比較器24a,24bに与えられる。一方の電圧比較器
24aはこれらの電圧値を比較し、その差が所定値より
も大きいときは剥取良を示す判定信号を出力し、所定値
以下のときは剥取不良を示す判定信号を出力し、他方の
電圧比較器24bはこれらの電圧値を比較し、その差が
所定値以下のときは芯線状態良を示す判定信号を出力
し、所定値よりも大きいときは芯線状態不良を示す判定
信号を出力する。この比較は前述した比較演算回路21
a,21bにおける比較と同様であり、その説明は省略
する。
In the embodiment of FIG. 8, the integrating circuits 23a,
23b, 23c are optical fiber sensors 12a, 12b, 1
7B, and receives and integrates the signals shown in FIGS. 7B, 7D, and 7F, and converts them into voltage values having magnitudes corresponding to the time widths of the respective passed signals. These voltage values are provided to voltage comparators 24a and 24b. One voltage comparator 24a compares these voltage values, and outputs a determination signal indicating good peeling when the difference is greater than a predetermined value, and outputs a determination signal indicating poor peeling when the difference is equal to or less than the predetermined value. The other voltage comparator 24b compares these voltage values, and outputs a determination signal indicating good core state when the difference is equal to or less than a predetermined value, and indicates a poor core state when the difference is larger than the predetermined value. Outputs a judgment signal. This comparison is performed by the comparison operation circuit 21 described above.
This is the same as the comparison in a and 21b, and the description is omitted.

【0031】図9の実施例は、図8の実施例と類似して
いるが、積分回路23a,23b,23cの出力電圧値
をそれぞれA/D変換器25a,25b,25cを通じ
てディジタル値に変換した後にこれらを比較するもので
あるという点において、図8の実施例と異なっている。
A/D変換器25a,25b,25cの出力ディジタル
値は、図7(B),(D),(F)に示す光ファイバセ
ンサ12a,12b,12cからの各通過信号の時間幅
とそれぞれ対応したものとなり、比較演算回路26a,
26bはこれらのディジタル値について前述と同様の比
較動作を行い、被覆剥取の良否および芯線状態の良否を
示す判定信号を出力する。
The embodiment of FIG. 9 is similar to the embodiment of FIG. 8, except that the output voltage values of the integrating circuits 23a, 23b and 23c are converted into digital values through A / D converters 25a, 25b and 25c, respectively. 8 is different from the embodiment in FIG.
The output digital values of the A / D converters 25a, 25b, 25c correspond to the time widths of the respective passing signals from the optical fiber sensors 12a, 12b, 12c shown in FIGS. 7 (B), 7 (D), 7 (F). The comparison operation circuit 26a,
26b performs a comparison operation similar to that described above for these digital values, and outputs a determination signal indicating the quality of the coating stripping and the quality of the core wire state.

【0032】上記各実施例において、3組の光ファイバ
センサ12a,12b,12cを用いて、電線端末2の
被覆剥取の良否および芯線状態の良否を同じ通過位置で
検知する構造としているため、装置全体のコンパクト化
が図れる。
In each of the above embodiments, three sets of optical fiber sensors 12a, 12b, and 12c are used to detect the quality of the stripping of the wire terminal 2 and the quality of the core wire at the same passing position. The entire device can be made compact.

【0033】しかしながら、被覆剥取の良否を判定する
検知装置と芯線状態の良否を判定する検知装置とを別構
造とし、電線端末2の移送経路に沿って順に配設する構
造であってもよい。
However, the detecting device for judging the quality of the stripping of the coating and the detecting device for judging the quality of the core wire may have a separate structure, and may be arranged sequentially along the transfer route of the wire terminal 2. .

【0034】また、各光ファイバセンサ12a,12
b,12cがそれぞれ、投光器と受光器の対からなる光
電スイッチ13a,13b,13cと、投光器および受
光器の検出ヘッド部にそれぞれに連結された光ファイバ
14a,14b,14cとからなり、各光電スイッチ1
3a,13b,13cの投光器と受光器にそれぞれ連結
された対の光ファイバ14a,14b,14cの他端部
が電線通過路3をはさんで光軸が一致するように対向配
置されてなる構造としているため、設置スペースをあま
り必要としない光ファイバ14a,14b,14cを電
線通過路3をはさんで対向配置させ、比較的かさばる投
光器と受光器を空きスペースに設置することができ、電
線通過路3をはさんで対向配置される検知部分のコンパ
クト化が図れる。
Each of the optical fiber sensors 12a and 12a
b and 12c are light beams each composed of a pair of a projector and a receiver.
Electrical switches 13a, 13b, 13c,
Optical fiber connected to the detection head of the optical device
14a, 14b, and 14c.
Connected to 3a, 13b, 13c projector and receiver respectively
The other end of the pair of optical fibers 14a, 14b, 14c
Are opposed to each other so that the optical axis is aligned
Installation space.
Power the optical fibers 14a, 14b, 14c
Place the line passage 3 in opposition, and throw relatively
Optics and receivers can be installed in empty space,
Compensation of the detection part which is arranged oppositely across the line passage 3
Can be implemented.

【0035】[0035]

【考案の効果】以上のように、本考案の電線の端末処理
状態検査装置によれば、電線端末の移送経路をはさんで
対向配置されると共に、電線端末の裸出芯線部の残留被
覆部側基端部および他端側先端部の通過をそれぞれ非接
触で検知し、該通過の時間に対応した長さの第1および
第2の通過信号をそれぞれ与える第1および第2の検知
手段と、前記第1および第2の通過信号の長さを比較し
て、その差が所定値より大きいとき芯線状態不良と判定
し、所定値以下のとき芯線状態良と判定する判定手段と
を備え、前記第1および第2の検知手段がそれぞれ、投
光器と受光器の対からなる光電スイッチと、投光器およ
び受光器の検出ヘッド部にそれぞれに連結された光ファ
イバとを備えた光ファイバセンサからなり、各光電スイ
ッチの投光器と受光器にそれぞれ連結された対の光ファ
イバの他端部が前記移送経路をはさんで光軸が一致する
ように対向配置されてなるものであり、裸出芯線部が広
がった芯線状態不良の電線が予め検知でき、端子圧着部
からの素線のはみ出しによる不良製品の発生を未然に防
止でき、ここに製品の品質向上を図ることができる。
た、設置スペースをあまり必要としない光ファイバを移
送経路をはさんで対向配置させ、比較的かさばる投光器
と受光器を空きスペースに設置することができ、移送経
路をはさんで対向配置される検知部分のコンパクト化が
図れるという利点もある。
[Effects of the Invention] As described above, according to the wire terminal processing state inspection device of the present invention, the wire terminal transfer path is sandwiched.
While being disposed to face each other, the passage of the bare end portion of the bare core portion of the electric wire terminal at the base end portion and the end portion at the other end is detected in a non-contact manner, and the first and the lengths corresponding to the passing times are detected. First and second detecting means for respectively providing a second passing signal, and comparing the lengths of the first and second passing signals, and when the difference is larger than a predetermined value, it is determined that the core wire state is poor, Determining means for determining that the core wire state is good when the value is equal to or less than a predetermined value, wherein the first and second detecting means are each configured to perform a projection.
A photoelectric switch consisting of a pair of optical device and
Optical fiber connected to the detection head of the
Each optical switch consists of an optical fiber sensor
Pairs of optical filters respectively connected to the
The other end of Iva has the same optical axis across the transfer path
In this way, it is possible to detect in advance the wire with a poor core wire state in which the bare core wire portion has spread, and to prevent the occurrence of defective products due to the protruding of the wire from the terminal crimping portion. Product quality can be improved. Ma
Also, move optical fiber that requires little installation space.
A relatively bulky emitter that is placed opposite to the transmission path
And receiver can be installed in an empty space.
The detection parts that are placed opposite each other across the road
There is also an advantage that it can be achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本考案の一実施例を示す要部斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a main part of an embodiment of the present invention.

【図2】同概略平面説明図である。FIG. 2 is a schematic plan view of the same.

【図3】同概略側面説明図である。FIG. 3 is a schematic side view illustrating the same.

【図4】芯線状態不良の電線端末平面図である。FIG. 4 is a plan view of an electric wire end in a state where a core wire state is poor.

【図5】芯線状態不良の電線端末平面図である。FIG. 5 is a plan view of an electric wire terminal in which a core wire state is poor.

【図6】処理回路を示す概略ブロック図である。FIG. 6 is a schematic block diagram illustrating a processing circuit.

【図7】図6各部の波形図である。FIG. 7 is a waveform chart of each part in FIG. 6;

【図8】処理回路の別の実施例を示す概略ブロック図で
ある。
FIG. 8 is a schematic block diagram showing another embodiment of the processing circuit.

【図9】処理回路の別の実施例を示す概略ブロック図で
ある。
FIG. 9 is a schematic block diagram showing another embodiment of the processing circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 電線端末 9 残留被覆部 10 裸出芯線部 10a 基端部 10b 先端部 12a,12b,12c 光ファイバセンサ 18 クロック発生器 19a,19b,19c ANDゲート 20a,20b,20c カウンタ 21a,20b 比較演算回路 2 Electric wire end 9 Residual coating 10 Bare core wire 10a Base end 10b Tip 12a, 12b, 12c Optical fiber sensor 18 Clock generator 19a, 19b, 19c AND gate 20a, 20b, 20c Counter 21a, 20b Comparison operation circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−198850(JP,A) 特開 昭59−123413(JP,A) 特開 昭61−154412(JP,A) 特開 昭58−95911(JP,A) 特開 昭60−203865(JP,A) 実開 平2−91411(JP,U) 実開 昭63−167245(JP,U) 実公 昭43−1088(JP,Y1) 特表 昭58−500455(JP,A) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-57-198850 (JP, A) JP-A-59-123413 (JP, A) JP-A-61-154412 (JP, A) JP-A-58-1988 95911 (JP, A) JP-A-60-203865 (JP, A) JP-A 2-91411 (JP, U) JP-A 63-167245 (JP, U) JP-A 43-1088 (JP, Y1) Special table 1983-500455 (JP, A)

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】 被覆剥取処理により裸出された電線端末
の芯線部の状態を端子圧着処理工程前に検査する電線の
端末処理状態検査装置であって、 電線端末の移送経路をはさんで対向配置されると共に
電線端末の裸出芯線部の残留被覆部側基端部および他端
側先端部の通過をそれぞれ非接触で検知し、該通過の時
間に対応した長さの第1および第2の通過信号をそれぞ
れ与える第1および第2の検知手段と、 前記第1および第2の通過信号の長さを比較して、その
差が所定値より大きいとき芯線状態不良と判定し、所定
値以下のとき芯線状態良と判定する判定手段とを備え 前記第1および第2の検知手段がそれぞれ、投光器と受
光器の対からなる光電スイッチと、投光器および受光器
の検出ヘッド部にそれぞれに連結された光ファイバとを
備えた光ファイバセンサからなり、各光電スイッチの投
光器と受光器にそれぞれ連結された対の光ファイバの他
端部が前記移送経路をはさんで光軸が一致するように対
向配置され てなることを特徴とする電線の端末処理状態
検査装置。
1. A wire terminal processing state inspection device for inspecting a state of a core portion of a wire terminal exposed by a coating stripping process before a terminal crimping process, wherein a wire terminal transfer path is sandwiched. While being opposed ,
The non-contact detection of the passage of the bare end portion of the bare wire core portion of the electric wire terminal at the base end portion and the tip portion at the other end is performed in a non-contact manner, and the first and second passage signals having lengths corresponding to the passage times are detected. First and second detection means respectively provided are compared with the lengths of the first and second passing signals, and when the difference is larger than a predetermined value, it is determined that the core wire state is not good. Determining means for determining that the state is good ; wherein the first and second detecting means are each provided with a projector and a receiving means.
A photoelectric switch consisting of a pair of optical devices, and a sender and a receiver
The optical fiber connected to each of the detection heads
The optical fiber sensor is equipped with
Other than the pair of optical fibers respectively connected to the optical device and the receiver.
The ends are aligned so that the optical axis is aligned with the transfer path.
An electric wire terminal processing state inspection device characterized by being arranged in a direction .
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