JP2526550B2 - 自動分析装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 この発明は自動分析装置、特に反応管が測定セルを兼
ねる直接測光方式型生化学自動分析装置に関し、詳しく
は自動分析装置の分光光度計の位置決め構造に関する。

（ロ）従来の技術 従来、直接測光方式の自動分析装置としては、分光光
度計が固定で反応管が移動するものと、反応管も分光光
度計も移動するものとがある。

後者の自動分析装置においては、自動分析装置本体の
反応ディスクを、まずホトセンサーで分析初期位置に位
置決めし、次いで反応ディスク下方の測光ディスクを上
記ホトセンサーとは別のホトセンサーで位置決めしてい
た。

（ハ）発明が解決しようとする問題点 しかし、上記位置決め方式では、反応ディスク用及び
測光ディスク用のそれぞれのホトセンサーによって反応
ディスクと測光ディスクの絶対位置が決まってしまうこ
とになり、重要な両ディスクの相対位置関係が十分には
定まらなかった。これを定めようとすると、大変難しい
調整が必要になる。また各ホトセンサーの感度のバラツ
キがそのまま両ディスクの相対位置関係に影響を与え、
測光精度を悪くしてしまう可能性がある。

この発明は以上の事情に鑑みなされたもので、測光デ
ィスクに２つのセンサを設け、これらセンサのラフな調
整のみで常に反応ディスクと測光ディスクとの相対位置
関係を正確に決定することができるようにすることを目
的とするものである。

（ニ）問題点を解決するための手段及び作用 この発明は、複数個の反応管を保持し回転可能に水平
に固定された反応ディスクと、この反応ディスクの下方
に回転可能に水平に固定された測光ディスクと、測光デ
ィスクに取付けられ測光ディスクの回転中心から測光デ
ィスクの外周縁に向かう光路を形成する分光光度計と、
反応ディスクを間欠的に回転させる反応ディスク作動手
段と、測光ディスクを正逆回転させる測光ディスク作動
手段と、反応ディスクを初期位置に停止させる反応ディ
スク位置決めセンサーと、測光ディスクをオーバーラン
位置に停止させるオーバーラン検出器と、測光ディスク
の概略初期位置を決める測光ディスク位置決めセンサー
と、前記分光光度計の光路および検出器を利用して反応
ディスク上の特定の反応管の位置を検出する手段とを備
え、測光ディスクが前記オーバーラン位置から正方向回
転する段階で、特定反応管の検出位置から次段の反応管
までの距離Ｘと、前記によって検出された特定反応管の
位置から一定量移動した距離Ｙと、測光ディスクが逆方
向回転する段階で、測光ディスク位置決めセンサによっ
て検出される測光ディスク逆方向移動距離Ｚとをそれぞ
れ計測し、このXYZから測光ディスクの停止目的ポジシ
ョンへの位置決め移動量を演算することを特徴とする自
動分析装置である。

（ホ）実施例 以下第１図から第５図に示す実施例に基づいてこの発
明を詳述する。なお、これによってこの発明は限定され
るものではない。

第１図において、自動分析装置は、反応ディスク１、
測光ディスク２、凹状の恒温槽３、分光光度計４、反応
ディスク作動手段５、測光ディスク作動手段６、反応デ
ィスク位置決めセンサー７、オーバーラン検出器８、測
光ディスク位置決めセンサー９及びマイクロコンピュー
タ10から主として構成される。

反応ディスク１は回転軸11により回転可能に水平に支
持されており、測光ディスク２は反応ディスク１の下方
に上記回転軸11と同軸の回転軸12によって回転可能に水
平に支持されている。

恒温槽３は反応ディスク１にその外周縁に沿って装着
された各反応管13を浸積して各反応管13内の反応液を恒
温に保持させるもので、測光ディスク２に取付けられて
いる。

分光光度計４は、測光ディスク２の回転中心から測光
ディスク２の外周縁に向かい恒温槽３の所定の部位を横
向きに透過する光路を形成するもので、測光ディスク２
に取付けられており、ランプ14と、レンズ15,16と、ミ
ラー17,18と、グレーティング19と、検出器群20とから
なる。

反応ディスク作動手段５は反応ディスク１を反応管13
に１つ分ずつ間欠的に回転させるもので、回転軸11の下
端に取付けられたプーリ21と、パルスモータ22とパルス
モータ22のモータ軸23に取付けられたプーリ24と、両プ
ーリ21,24によって張設されたベルト25とからなる。

測光ディスク作動手段６は測光ディスク２を正逆回転
させるもので、回転軸12の下端に取付けられたプーリ26
と、パルスモータ27と、パルスモータ27のモータ軸28に
取付けられたプーリ29と、両プーリ26,29によって張設
されたベルト30とからなる。

反応ディスク位置決めセンサー７は、反応ディスク作
動手段５のプーリ21の上面に取付けられたスリット板31
の外周縁に設けられた幅広の凹状切欠32（第３図参照）
を検出して反応ディスク１の初期位置を設定するもの
で、スリット板31の外周縁近傍に設置されている。

オーバーラン検出器８は測光ディスク作動手段６のプ
ーリ26の外周縁に突設した舌片33を検出して測光ディス
ク２のオーバーラン位置を検出するもので、上記プーリ
26の外周縁近傍に設置されている。

ここでオーバーラン位置とは、測光ディスクが正方向
に１回転して１回の分析を終えた後逆回転して元の分析
準備位置へ戻るとき、この準備位置をオーバーランした
位置をいう。

測光ディスク位置決めセンサー９は測光ディスク作動
手段６のプーリ26の外周縁に突設した上記舌片33を検出
して、測光ディスク２の初期位置を決めるもので、その
プーリ26の外周縁近傍に設置されている。

マイクロコンピュータ10は、分析作動を制御する作動
制御部35と、各ディスクの回転移動を制御して位置決め
を行う位置決め制御部36とから構成される。

位置決め制御部36は、第２図に示すように反応ディス
ク初期位置決定手段37、測光ディスクオーバーラン位置
決定手段38、測光ディスク仮位置決定手段39、第１作動
測定手段40、第２作動測定手段41、演算手段43及び測光
ディスク本位置決定手段44から構成される。

反応ディスク初期位置決定手段37は、反応ディスク作
動手段５に作動信号を出力するとともに反応ディスク位
置決めセンサー７よりの出力信号により、反応ディスク
１の１番目の反応管13が所定の初期位置に位置するよう
に反応ディスク１を回転移動させるものである。

測光ディスクオーバーラン位置決定手段38は、反応デ
ィスク初期位置決定手段37の決定信号に基づいて測光デ
ィスク作動手段６に作動信号を出力してこれを逆回転さ
せ、オーバーラン検出器８よりの出力信号によって測光
ディスク２をオーバーラン位置に停止させるものであ
る。

測光ディスク仮位置決定手段39は、測光ディスクオー
バーラン位置決定手段38の決定信号に基づいて、測光デ
ィスク作動手段６に作動信号を出力して、これを正方向
に回転させ、分光光度計４のランプ14からの光が反応デ
ィスク１の１番目の反応管13₁の手前の反応管13₂の測光
窓34₂の左のエッジ（第４図参照）を横切る位置まで測
光ディスク２を回転移動させるものである。

第１作動測定手段40は、測定ディスク仮位置決定手段
39の決定信号に基づいて、測光ディスク作動手段６に作
動信号を出力して測光ディスク２を正回転移動させると
ともに、この回転移動によって分光光度計４のランプ14
からの光が一番目の反応管13₁の測光窓34₁の右のエッジ
（第４図）に達するまでの移動距離即ち光遮断距離Ｘを
測定するものである。

第２作動測定手段41は、第１作動測定手段40の測定終
了信号に基づいて測光ディスク作動手段６に作動信号を
出力して、測光ディスク２を所定の距離Ｙだけ正回転移
動させるとともに、Ｙだけ移動した位置で測光ディスク
駆動モータ27に逆回転移動信号を出力して測光ディスク
を逆回転させ、これを初期位置の方へ戻し、測光ディス
ク位置決めセンサー９よりの出力信号によって、この戻
し距離Ｚを測定するものである。

演算手段43は、第２作動測定手段41の測定終了信号に
基づいて、上記X,Y,Zから を演算するものである。

測光ディスク本位置決定手段44は、演算手段43の演算
結果に基づいて、測光ディスク作動手段６に作動信号を
出力して測光ディスク２を上記距離Ｐだけ逆回転移動さ
せて測光ディスク２を分析開始の準備位置即ち停止目的
ポジションに停止させるものである。

次に上記装置の作動を第４図・第５図について説明す
る。

まず、反応ディスク１を回転移動させて１番目の反応
管13₁を初期位置Ｄに停止させる。そして、測光ディス
ク２をオーバーラン位置Ａまで逆回転移動させる（オー
バーラン検出器８が舌片33を検出することにより自動的
にこの位置Ａで停止するとともに、このとき分光光度計
の光路ＯはＡの位置に来る）。次いで測光ディスク２を
正回転移動させて、分光光度計４のランプ14からの光が
一番目の反応管13₁の手前の反応管13₂の測光窓34₂の左
のエッジ（第４図）を横切る位置Ｂ（第５図の光OFF信
号の出る位置）から、一番目の反応管13₁の測光窓34₁の
右のエッジ（第４図）の位置Ｃ（第５図の光ON信号の位
置）に達するまでの光遮断距離Ｘを測定する。その後、
さらに測光ディスク２を所定の距離Ｙだけ正回転移動さ
せる（この位置をＥとする）。次いで、測光ディスク２
を逆回転移動させて測光ディスク２の舌片33が測光ディ
スク位置決めセンサ９を横切る位置（初期位置）Ｄに達
するまでの戻し距離Ｚを測定する。そして、測定したX,
Y,Zから、 を演算して、測光ディスク位置決め移動距離Ｐを求め、
この距離Ｐだけ測光ディスク２を更に逆回転移動させ目
的ポジションＦに停止させる。これによって分光光度計
４のランプ14から光は、反応ディスク１の一番目の反応
管13の手前の目的ポジションを通る光路を形成し、次の
分析の準備が完了する。

以上のように反応ディスク１の一番目の反応管13を基
準として測光ディスク２の反応ディスク１に対する位置
を決めているため、両位置決めセンサー7,9の感度が変
化しても、常に同精度で測光ディスク２の反応ディスク
１に対する位置決めを行うことができる。また、両位置
決めセンサー7,9による当初の位置決めはラフでよいた
め、両ディスク1,2の位置決め操作が簡単となる。

（ヘ）発明の効果 この発明によれば、反応ディスク及び測光ディスクの
位置決めセンサーの感度が変化しても常に同精度で反応
ディスクに対する測光ディスクの位置決めを正確に行う
ことができる。また、位置決めセンサーの調整作業が著
しく少なくなるため、原価低減につながる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す構成説明図、第２図
はこの発明のブロック図、第３図はこの発明に用いられ
るスリット板の平面図、第４図はこの発明に用いられる
測光窓付の反応管の側面図、第５図はこの発明における
測光ディスクの位置決め方法を説明する説明図である。 １……反応ディスク、２……測光ディスク、４……分光
光度計、５……反応ディスク作動手段、６……測光ディ
スク作動手段、７……反応ディスク位置決めセンサー、
８……オーバーラン検出器、９……測光ディスク位置決
めセンサー、13……反応管、34……測光窓、37……反応
ディスク初期位置決定手段、38……オーバーラン位置決
定手段、40……第１作動時間測定手段、41……第２作動
時間測定手段、43……演算手段、44……測光ディスク本
位置決定手段。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】複数個の反応管を保持し回転可能に水平に
   固定された反応ディスクと、この反応ディスクの下方に
   回転可能に水平に固定された測光ディスクと、測光ディ
   スクに取付けられ測光ディスクの回転中心から測光ディ
   スクの外周縁に向かう光路を形成する分光光度計と、反
   応ディスクを間欠的に回転させる反応ディスク作動手段
   と、測光ディスクを正逆回転させる測光ディスク作動手
   段と、反応ディスクを初期位置に停止させる反応ディス
   ク位置決めセンサーと、測光ディスクをオーバーラン位
   置に停止させるオーバーラン検出器と、測光ディスクの
   概略初期位置を決める測光ディスク位置決めセンサー
   と、前記分光光度計の光路および検出器を利用して反応
   ディスク上の特定の反応管の位置を検出する手段とを備
   え、測光ディスクが前記オーバーラン位置から正方向回
   転する段階で、特定反応管の検出位置から次段の反応管
   までの距離Ｘと、前記によって検出された特定反応管の
   位置から一定量移動した距離Ｙと、測光ディスクが逆方
   向回転する段階で、測光ディスク位置決めセンサによっ
   て検出される測光ディスク逆方向移動距離Ｚとをそれぞ
   れ計測し、このXYZから測光ディスクの停止目的ポジシ
   ョンへの位置決め移動量を演算することを特徴とする自
   動分析装置。