JP2523740Y2 - IC board inspection position determination device - Google Patents

IC board inspection position determination device

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JP2523740Y2
JP2523740Y2 JP14851789U JP14851789U JP2523740Y2 JP 2523740 Y2 JP2523740 Y2 JP 2523740Y2 JP 14851789 U JP14851789 U JP 14851789U JP 14851789 U JP14851789 U JP 14851789U JP 2523740 Y2 JP2523740 Y2 JP 2523740Y2
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camera
indexing
inspection
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board
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隆弘 山本
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Lossev Technology Corp
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、IC基板の検査位置を割り出す装置に関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to an apparatus for determining an inspection position of an IC substrate.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

IC基板の製造過程で、半田付け状態などが検査され
る。通常、IC基板は、X-Yテーブル上にセットされ、検
査位置を割り出しながら画像処理用のカメラなどによっ
て撮像され、画像処理の分野で検査される。
During the manufacturing process of the IC substrate, the soldering state and the like are inspected. Normally, an IC substrate is set on an XY table, is imaged by an image processing camera or the like while determining an inspection position, and is inspected in the field of image processing.

従来の検査装置は、検査対象のIC基板をX-Y方向に割
り出し可能なテーブル上に載置し、その上方から固定の
カメラによって撮像し、検査位置毎にX-Yテーブルを所
定の方向に移動させて行っている。
In a conventional inspection device, an IC board to be inspected is placed on a table that can be indexed in the XY direction, images are taken from above by a fixed camera, and the XY table is moved in a predetermined direction for each inspection position. ing.

〔従来技術の問題点〕[Problems of the prior art]

IC基板の大きさが例えば500×500〔mm〕程度とすれ
ば、テーブルの割り出し移動に必要な寸法は、その倍の
1000×1000〔mm〕以上となる。このため、その割り出し
装置が大型化する。
If the size of the IC board is, for example, about 500 × 500 [mm], the dimension required for indexing and moving the table is twice that size.
It becomes 1000 × 1000 [mm] or more. For this reason, the indexing device becomes large.

一方、検査作業の高速化のために、IC基板の固定や割
り出し作業時間の短縮化が要求されている。割り出し時
の移動速度に限界があるため、テーブルが大型化する
と、その割り出し時間も長くなってしまい、移動時間の
短縮化の要求にそえなくなる。
On the other hand, in order to speed up the inspection work, it is required to fix the IC substrate and to shorten the indexing work time. Since there is a limit to the moving speed at the time of indexing, when the size of the table is increased, the indexing time is lengthened, and the demand for shortening the moving time cannot be met.

〔考案の目的〕[Purpose of the invention]

したがって、本考案の目的は、テーブルの割り出し時
間を短縮化し、割り出し機構を小型化することである。
Therefore, an object of the present invention is to reduce the indexing time of the table and reduce the indexing mechanism.

〔考案の解決手段〕[Solution of the invention]

そこで、本考案は、ベース上でIC基板載置用のテーブ
ルをX-Y方向に移動可能な状態で設けるとともに、テー
ブルの上方の画像処理用のカメラもX-Y方向に移動可能
とし、これらのテーブルおよびカメラを割り出し駆動手
段および回転制御器によって同時に駆動できるようにし
ている。
In view of this, the present invention provides a table for mounting an IC substrate on a base so as to be movable in the XY direction, and a camera for image processing above the table is also movable in the XY direction. Can be simultaneously driven by the index driving means and the rotation controller.

〔考案の作用〕[Action of the invention]

IC基板の種類によって、その検査位置は、予め設定さ
れている。回転制御器は、その検査位置に適合する割り
出しプログラムにしたがって、テーブルの割り出し駆動
手段およびカメラの割り出し駆動手段を同時に駆動して
いく。したがって、現在の検査位置から次の検査位置へ
と割り出す過程で、回転制御器は、テーブルの割り出し
駆動手段を駆動して、IC基板の次の検査点をカメラの方
向に移動させると同時に、カメラの割り出し駆動手段を
駆動することによって、カメラを次の検査点に向けて移
動させる。この結果、テーブルおよびカメラは、検査点
に接近する方向に相対的に同時に移動することになる。
したがって、この割り出し移動に必要な時間が短縮化で
き、またテーブルのX-Y方向の割り出し駆動部分も小型
化できる。
The inspection position is set in advance depending on the type of the IC substrate. The rotation controller simultaneously drives the table index driving unit and the camera index driving unit according to an index program suitable for the inspection position. Therefore, in the process of indexing from the current inspection position to the next inspection position, the rotation controller drives the indexing drive means of the table to move the next inspection point on the IC board in the direction of the camera, and The camera is moved to the next inspection point by driving the indexing driving means. As a result, the table and the camera relatively simultaneously move in the direction approaching the inspection point.
Therefore, the time required for the indexing movement can be shortened, and the indexing drive portion of the table in the XY direction can be reduced in size.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は、本考案のIC基板の検査位置割り出し装置1
の機械的な構成を示している。
FIG. 1 is an apparatus 1 for determining an inspection position of an IC substrate according to the present invention.
2 shows a mechanical configuration of the first embodiment.

検査位置割り出し装置1は、ベース2上のテーブル3
およびテーブル3の上方の画像処理用のカメラ4によっ
て組み立てられている。上記テーブル3は、ベース2の
上面で、割り出し駆動手段5によって、X-Y方向に移動
可能な状態で組み付けられている。また、カメラ4は、
テーブル3の上方で、ベース2の側面に取り付けられた
サポート6およびそのサポート6の水平部分の内部に組
み込まれた割り出し駆動手段7によってX-Y方向に移動
可能な状態で下向きに取り付けられている。
The inspection position indexing device 1 includes a table 3 on a base 2.
And an image processing camera 4 above the table 3. The table 3 is mounted on the upper surface of the base 2 by the index driving means 5 so as to be movable in the X and Y directions. Also, the camera 4
Above the table 3, the support 6 is attached downward so as to be movable in the X and Y directions by a support 6 attached to the side surface of the base 2 and an index driving means 7 incorporated in the horizontal portion of the support 6.

次に、第2図は、割り出し駆動手段5、7と回転制御
器12との接続関係を示している。
Next, FIG. 2 shows the connection relationship between the indexing drive means 5, 7 and the rotation controller 12.

割り出し駆動手段5、7は、X方向およびY方向の送
りねじユニットや送りベルトユニットなどによって組み
立てられており、各方向毎のモータ8、9、10、11によ
って駆動されるようになっている。そして、回転制御器
12はドライバー13、14、15、16を介し、それぞれのモー
タ8、9、10、11に接続されている。
The indexing driving means 5 and 7 are assembled by feed screw units and feed belt units in the X and Y directions, and are driven by motors 8, 9, 10, and 11 for each direction. And the rotation controller
12 is connected to respective motors 8, 9, 10, 11 via drivers 13, 14, 15, 16;

検査時に、検査対象のIC基板17は、テーブル3の上に
載せられ、位置決め状態で適宜のクランプ手段によって
固定される。このあと、回転制御器12は、IC基板17の形
式に応じて予め設定された1または2以上の検査点をカ
メラ4の視野内に順次納めるために、ドライバー13、14
を介して、モータ8、9を駆動し、その回転量を制御
し、割り出し駆動手段5を介しテーブル3を移動させ、
IC基板17の次の割り出し点としての検査点をカメラ4の
光軸の方向に移動させると同時に、モータ10、11の回転
量を制御し、割り出し駆動手段7を介しカメラ4の光軸
を次の検査点の方向に向けて移動させる。これによっ
て、テーブル3は、IC基板17の次の検査点をカメラ4の
方向に移動させると同時に、カメラ4もその方向に向け
て相対的に接近する方向に移動する。したがって、それ
ぞれのテーブル3およびカメラ4に必要な移動量は、一
方のみを移動させる場合の約半分でよく、したがって割
り出し駆動手段5、7に必要な移動量も小さくなり、そ
の構成が小型化できる。また、それぞれの割り出し駆動
手段5、7に必要な移動量が少ないため、割り出し移動
に必要な時間が短縮化できる。もっとも、テーブル3の
移動量と、カメラ4の移動量とは、必ずしも等しくなく
てもよく、移動負荷の小さい側で多く移動させるように
配分してもよい。このような移動配分や、加速度、最高
速度などは、予め回転制御器12の部分で設定される。
At the time of inspection, the IC substrate 17 to be inspected is placed on the table 3 and is fixed in a positioning state by an appropriate clamp means. Thereafter, the rotation controller 12 controls the drivers 13, 14 in order to sequentially place one or more inspection points preset according to the type of the IC board 17 in the field of view of the camera 4.
, The motors 8 and 9 are driven to control the amount of rotation, and the table 3 is moved via the index driving means 5,
The inspection point as the next indexing point of the IC board 17 is moved in the direction of the optical axis of the camera 4, and at the same time, the rotation amounts of the motors 10 and 11 are controlled, and the optical axis of the camera 4 is In the direction of the inspection point. As a result, the table 3 moves the next inspection point on the IC board 17 in the direction of the camera 4, and at the same time, the camera 4 also moves in a direction relatively approaching in that direction. Accordingly, the moving amount required for each of the table 3 and the camera 4 may be about half of the case where only one of them is moved. Therefore, the moving amount necessary for the indexing driving means 5 and 7 is also small, and the configuration can be downsized. . Further, since the moving amount required for each of the indexing driving means 5 and 7 is small, the time required for the indexing movement can be shortened. However, the amount of movement of the table 3 and the amount of movement of the camera 4 are not necessarily equal to each other, and may be distributed so that the table 3 is moved more on the side where the moving load is smaller. Such movement distribution, acceleration, maximum speed, and the like are set in advance by the rotation controller 12.

なお、割り出し状態で、検査対象の点がカメラ4の視
野内に納まればよいから、テーブル3とカメラ4との相
対的な位置決め精度が低くても、検査作業に実質的な支
障はない。
In addition, in the indexing state, the point to be inspected only needs to be within the field of view of the camera 4, so that even if the relative positioning accuracy between the table 3 and the camera 4 is low, there is no substantial problem in the inspection work.

〔考案の効果〕[Effect of the invention]

本考案では、IC基板の検査位置の割り出しに際し、テ
ーブルの移動によってIC基板をカメラの視野の方向に移
動させると同時に、カメラ自体を検査点の方向に向けて
相対的に移動させるから、割り出しに必要な時間が短縮
化でき、またIC基板の全域で割り出しに必要なテーブル
の大きさも縮小でき、しかも、割り出しに必要な移動量
も各割り出し駆動手段側で少ないため、それだけ駆動機
構が小型化できる。
In the present invention, when determining the inspection position of the IC board, the table is moved to move the IC board in the direction of the field of view of the camera, and at the same time, the camera itself is relatively moved toward the direction of the inspection point. The required time can be shortened, the size of the table required for indexing can be reduced over the entire area of the IC substrate, and the moving amount required for indexing is small on each indexing drive side, so the drive mechanism can be downsized accordingly .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本考案のIC基板検査装置の斜視図、第2図は回
転制御器とモータとの接続部分のブロック線図である。 1……IC基板の検査位置割り出し装置、2……ベース、
3……テーブル、4……カメラ、5……割り出し駆動手
段、6……サポート、7……割り出し駆動手段、8、
9、10、11……モータ、12……回転制御器、13、14、1
5、16……ドライバー、17……IC基板。
FIG. 1 is a perspective view of the IC board inspection apparatus of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram of a connection portion between a rotation controller and a motor. 1 ... IC board inspection position indexing device
3 ... table, 4 ... camera, 5 ... index driving means, 6 ... support, 7 ... index driving means, 8,
9, 10, 11 ... motor, 12 ... rotation controller, 13, 14, 1
5, 16: Driver, 17: IC board.

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】ベース(2)と、このベース(2)の上面
でX-Y方向に移動可能なIC基板載置用のテーブル(3)
と、このテーブル(3)をX-Y方向に各方向ごとのモー
タ(8、9)で移動させる割り出し駆動手段(5)と、
上記テーブル(3)の上方でX-Y方向に移動可能な画像
処理用のカメラ(4)と、このカメラ(4)をX-Y方向
に各方向ごとのモータ(10、11)で移動させる割り出し
駆動手段(7)と、テーブル(3)上のIC基板(17)の
検査点とカメラ(4)の光軸とを一致させるという割り
出し時に、テーブル(3)上のIC基板(17)の検査点と
カメラ(4)の光軸とを互いに接近させるように、IC基
板載置用のテーブル(3)を移動させる割り出し駆動手
段(5)のモータ(8、9)とカメラ(4)を移動させ
る割り出し駆動手段(7)のモータ(10、11)とを同時
に駆動する回転制御器(12)と、からなることを特徴と
するIC基板検査の位置割り出し装置(1)。
1. A base (2) and an IC substrate mounting table (3) movable on the upper surface of the base (2) in the XY direction.
Index driving means (5) for moving the table (3) in the XY direction by motors (8, 9) for each direction;
An image processing camera (4) movable in the X and Y directions above the table (3), and indexing driving means (10 and 11) for moving the camera (4) in the X and Y directions for each direction ( 7) When the inspection point of the IC board (17) on the table (3) is coincident with the optical axis of the camera (4), the inspection point of the IC board (17) on the table (3) and the camera are determined. Index drive for moving the motor (8, 9) of the index drive means (5) for moving the table (3) for mounting the IC substrate and the camera (4) so that the optical axis of (4) is close to each other. A rotation controller (12) for simultaneously driving the motors (10, 11) of the means (7); and a position indexing device (1) for IC substrate inspection.
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