JP2520021Y2 - 稜線等の検査装置 - Google Patents
稜線等の検査装置Info
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- JP2520021Y2 JP2520021Y2 JP1084091U JP1084091U JP2520021Y2 JP 2520021 Y2 JP2520021 Y2 JP 2520021Y2 JP 1084091 U JP1084091 U JP 1084091U JP 1084091 U JP1084091 U JP 1084091U JP 2520021 Y2 JP2520021 Y2 JP 2520021Y2
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Description
【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は、たとえばワイパーブレ
ードの稜線に機能上問題となる程度の凹凸がないかどう
か、あるいは平滑体の表面に一定以上の深さの傷が存在
しないかどうか、などといった被検査物の稜線等の検査
を、触針を用いて行う検査装置に関するものである。
ードの稜線に機能上問題となる程度の凹凸がないかどう
か、あるいは平滑体の表面に一定以上の深さの傷が存在
しないかどうか、などといった被検査物の稜線等の検査
を、触針を用いて行う検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】被検査物における検査対象の部分に触針
を当て、その被検査物と触針とのうち一方を他方に対し
て移動させれば、たとえば蓄音機と同様の原理で、検査
対象の凹凸の程度を知ることができる。
を当て、その被検査物と触針とのうち一方を他方に対し
て移動させれば、たとえば蓄音機と同様の原理で、検査
対象の凹凸の程度を知ることができる。
【0003】特開平1−213502号公報に記載の稜
線検査装置は、そのように触針を使用することによって
ワイパーブレードなどの稜線の凹凸(うねりを除く急峻
な凹凸)を検査する装置である。同装置では、圧電型加
速度検出器が触針に付けられているので、被検査物の稜
線上を触針がなぞって動くとき、稜線の凹凸に応じた触
針の接触圧変動が電圧信号として取り出される。取り出
された信号が強いとそれだけ凹凸が大きいことになるの
で、あるブレードの検査中に強度の過剰な信号がピック
アップされた場合には、異常がある(機能にさしつかえ
る凹凸が存在する)とし、そのブレードが不良品である
とみなす。
線検査装置は、そのように触針を使用することによって
ワイパーブレードなどの稜線の凹凸(うねりを除く急峻
な凹凸)を検査する装置である。同装置では、圧電型加
速度検出器が触針に付けられているので、被検査物の稜
線上を触針がなぞって動くとき、稜線の凹凸に応じた触
針の接触圧変動が電圧信号として取り出される。取り出
された信号が強いとそれだけ凹凸が大きいことになるの
で、あるブレードの検査中に強度の過剰な信号がピック
アップされた場合には、異常がある(機能にさしつかえ
る凹凸が存在する)とし、そのブレードが不良品である
とみなす。
【0004】被検査物の稜線や他の表面部分の凹凸を、
上記のように触針の接触圧変動をピックアップして検査
する場合、被検査物に異常があるかどうかの判定は、ピ
ックアップされた検知信号の強度(絶対値)が許容レベ
ルよりも大きいか小さいかで下される。上記公報の検査
装置においても、検出した信号値を許容レベル(基準
値)と比較して両者間の絶対値の大小を二値化する手段
が備わっている。
上記のように触針の接触圧変動をピックアップして検査
する場合、被検査物に異常があるかどうかの判定は、ピ
ックアップされた検知信号の強度(絶対値)が許容レベ
ルよりも大きいか小さいかで下される。上記公報の検査
装置においても、検出した信号値を許容レベル(基準
値)と比較して両者間の絶対値の大小を二値化する手段
が備わっている。
【0005】この許容レベルは、被検査物に要求される
精度・品質等によって異なる性質のものなので、被検査
物の規格や種類が変わったときには設定値が変更される
のが通常である。しかしながら、上記公報の装置をはじ
め、従来の検査装置においては、一つの被検査物を検査
している間にもその許容レベルを変化させることは全く
なかった。
精度・品質等によって異なる性質のものなので、被検査
物の規格や種類が変わったときには設定値が変更される
のが通常である。しかしながら、上記公報の装置をはじ
め、従来の検査装置においては、一つの被検査物を検査
している間にもその許容レベルを変化させることは全く
なかった。
【0006】
【考案が解決しようとする課題】従来の検査装置を使用
し、被検査物に触針を当てたうえ被検査物または触針を
移動してその対象部分の凹凸を検査する場合、つぎの不
都合が生じる。
し、被検査物に触針を当てたうえ被検査物または触針を
移動してその対象部分の凹凸を検査する場合、つぎの不
都合が生じる。
【0007】イ) 被検査物または触針の移動は、あらか
じめ設定された一定の速度(定常値)になるまで停止状
態(速度ゼロ)から次第に加速して行われるが、速度が
定常値に達するまでの区間では検査精度が良くない。被
検査物上での触針の速度が低い場合には、同じ凹凸であ
っても、検知される信号の強度は本来のものより低くな
るからである。したがって、本来なら異常とされる程度
の凹凸が被検査物の端部付近(上記低速度の区間)に存
在している場合は、それが見落とされることがある。
じめ設定された一定の速度(定常値)になるまで停止状
態(速度ゼロ)から次第に加速して行われるが、速度が
定常値に達するまでの区間では検査精度が良くない。被
検査物上での触針の速度が低い場合には、同じ凹凸であ
っても、検知される信号の強度は本来のものより低くな
るからである。したがって、本来なら異常とされる程度
の凹凸が被検査物の端部付近(上記低速度の区間)に存
在している場合は、それが見落とされることがある。
【0008】ロ) 被検査物または触針を急加速して移動
し、その移動速度を短時間に定常値に到達させることに
よって、上記イ)のように検査精度の甘くなる区間を短く
しようとしても、あまりに急激な移動は触針の動きを乱
すことになり、正確な検知信号が得られない。被検査物
と触針との間に静止摩擦力がはたらいている状態で両者
間を急に動かすと、被検査物上で触針が踊ってしまい、
凹凸を忠実になぞることができなくなるのである。
し、その移動速度を短時間に定常値に到達させることに
よって、上記イ)のように検査精度の甘くなる区間を短く
しようとしても、あまりに急激な移動は触針の動きを乱
すことになり、正確な検知信号が得られない。被検査物
と触針との間に静止摩擦力がはたらいている状態で両者
間を急に動かすと、被検査物上で触針が踊ってしまい、
凹凸を忠実になぞることができなくなるのである。
【0009】ハ) 上記イ)・ロ)の点から、被検査物
の一端に接するようダミー体(疑似の被検査物)を置
き、そのダミー体上に触針を当てたうえで上記の移動を
始め、ダミー体から被検査物上に触針が乗り移るときま
でにその移動速度を定常値に到達させておく──といっ
た方法も従来よく採用されているが、その場合は、ダミ
ー体と被検査物との間に隙間や段差のないことが条件と
なり、両者の取付けが極めて難しい。両者間にもしも隙
間や段差があれば、触針が引っ掛かったり踊ったりする
ので、検査精度や触針の寿命等に関して好ましくない。
の一端に接するようダミー体(疑似の被検査物)を置
き、そのダミー体上に触針を当てたうえで上記の移動を
始め、ダミー体から被検査物上に触針が乗り移るときま
でにその移動速度を定常値に到達させておく──といっ
た方法も従来よく採用されているが、その場合は、ダミ
ー体と被検査物との間に隙間や段差のないことが条件と
なり、両者の取付けが極めて難しい。両者間にもしも隙
間や段差があれば、触針が引っ掛かったり踊ったりする
ので、検査精度や触針の寿命等に関して好ましくない。
【0010】本考案の目的は、被検査物・触針間の移動
速度が定常値に達するまでの加速区間のうちにも稜線等
の凹凸の検査を正確に行うことができ、したがってダミ
ー体を使用する必要のない検査装置を提供することであ
る。
速度が定常値に達するまでの加速区間のうちにも稜線等
の凹凸の検査を正確に行うことができ、したがってダミ
ー体を使用する必要のない検査装置を提供することであ
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】本考案の検査装置は、被
検査物の稜線や表面等の凹凸を検査するため、対象箇所
に接触させる触針と、被検査物または触針の移動機構、
触針の接触圧変動を電気信号にするピックアップ手段、
およびその電気信号の絶対値が許容レベルを超えるとき
異常とする判定手段とを備える検査装置であるが、許容
レベルの可変手段──すなわち、上記移動機構による被
検査物または触針の移動速度が定常値に達するまでの
間、その移動速度の変化に合わせて上記の許容レベルを
変化させる手段──を設けたものである。
検査物の稜線や表面等の凹凸を検査するため、対象箇所
に接触させる触針と、被検査物または触針の移動機構、
触針の接触圧変動を電気信号にするピックアップ手段、
およびその電気信号の絶対値が許容レベルを超えるとき
異常とする判定手段とを備える検査装置であるが、許容
レベルの可変手段──すなわち、上記移動機構による被
検査物または触針の移動速度が定常値に達するまでの
間、その移動速度の変化に合わせて上記の許容レベルを
変化させる手段──を設けたものである。
【0012】なお請求項2に記載したように、上記の移
動機構としては、一対のプーリ間に巻き掛けられたゴム
ベルトを含むものとするのがよい。
動機構としては、一対のプーリ間に巻き掛けられたゴム
ベルトを含むものとするのがよい。
【0013】
【作用】本考案の検査装置が被検査物の稜線や表面等の
凹凸(うねりを除く)を検査する手順は、つぎのとおり
である。すなわち、1)被検査物の検査対象部分に触針を
接触させる、2)移動機構により、被検査物または触針の
うち一方を他方に対して移動する、3)移動中の触針の接
触圧変動を、ピックアップ手段により電気信号(検知信
号)として取り出す、4)取り出した電気信号を判定手段
において許容レベルと比較し、前者の信号の強度(絶対
値)が後者のレベルを超えるときは、異常として出力す
る。そして、被検査物の種類等が変わったり検査精度が
変更されたりしたときには、上記の許容レベルを変えて
設定したうえ、1)〜4)を繰り返す。
凹凸(うねりを除く)を検査する手順は、つぎのとおり
である。すなわち、1)被検査物の検査対象部分に触針を
接触させる、2)移動機構により、被検査物または触針の
うち一方を他方に対して移動する、3)移動中の触針の接
触圧変動を、ピックアップ手段により電気信号(検知信
号)として取り出す、4)取り出した電気信号を判定手段
において許容レベルと比較し、前者の信号の強度(絶対
値)が後者のレベルを超えるときは、異常として出力す
る。そして、被検査物の種類等が変わったり検査精度が
変更されたりしたときには、上記の許容レベルを変えて
設定したうえ、1)〜4)を繰り返す。
【0014】以上の点は従来の検査装置におけるものと
差がないが、本考案の装置には、さらにつぎの作用があ
る。すなわち、上記2)による移動の間に、前記した許容
レベル可変手段によって4)における許容レベルを変化さ
せることである。そしてこの変化は、上記移動の速度が
定常値に達するまでの間、その速度変化に合わせて、つ
まり速度の上昇とともに許容レベルが上がるようにす
る。
差がないが、本考案の装置には、さらにつぎの作用があ
る。すなわち、上記2)による移動の間に、前記した許容
レベル可変手段によって4)における許容レベルを変化さ
せることである。そしてこの変化は、上記移動の速度が
定常値に達するまでの間、その速度変化に合わせて、つ
まり速度の上昇とともに許容レベルが上がるようにす
る。
【0015】このように許容レベルが変化すると、被検
査物・触針間の相対的な移動速度が定常値に達するまで
の加速(したがってまだ低速な)区間のうちにも、異常
とされるべき凹凸が見落とされることなく検出される。
同じ凹凸部分であっても低速であるゆえに検知信号の強
度が低くなるときに、それと比較すべき許容レベルを低
くすることは、いわば判定基準を相当に厳しくすること
にほかならないからである。検知信号の強度は速度変化
とともに変わるので、上記のように速度変化に合わせて
許容レベルを変化させると、検知信号に対する判定基準
が妥当なレベルにおかれることになる。
査物・触針間の相対的な移動速度が定常値に達するまで
の加速(したがってまだ低速な)区間のうちにも、異常
とされるべき凹凸が見落とされることなく検出される。
同じ凹凸部分であっても低速であるゆえに検知信号の強
度が低くなるときに、それと比較すべき許容レベルを低
くすることは、いわば判定基準を相当に厳しくすること
にほかならないからである。検知信号の強度は速度変化
とともに変わるので、上記のように速度変化に合わせて
許容レベルを変化させると、検知信号に対する判定基準
が妥当なレベルにおかれることになる。
【0016】以上の点より、本考案の検査装置では、被
検査物のうち最初に(つまり移動開始前に)触針をおい
た点からほぼ正確な検査ができる。言いかえれば、ダミ
ー体を用いることなく、被検査物の全長にわたる検査が
可能である。
検査物のうち最初に(つまり移動開始前に)触針をおい
た点からほぼ正確な検査ができる。言いかえれば、ダミ
ー体を用いることなく、被検査物の全長にわたる検査が
可能である。
【0017】請求項2の検査装置のように移動機構のう
ちにゴムベルトが含まれると、触針の拾うノイズが減少
してS/N比が向上するので、上記の検査が一層正確に
行われる。移動中の被検査物または触針に対して駆動源
(モータなど)から伝わる機械的振動が、そのゴムの弾
性によって吸収・減衰されるからである。またゴムベル
トの場合、機構が簡単なため調整が容易で給油も不要、
したがって高いS/N比をらくに維持できる、といった
整備上の利点もある。
ちにゴムベルトが含まれると、触針の拾うノイズが減少
してS/N比が向上するので、上記の検査が一層正確に
行われる。移動中の被検査物または触針に対して駆動源
(モータなど)から伝わる機械的振動が、そのゴムの弾
性によって吸収・減衰されるからである。またゴムベル
トの場合、機構が簡単なため調整が容易で給油も不要、
したがって高いS/N比をらくに維持できる、といった
整備上の利点もある。
【0018】
【実施例】本考案の一実施例である検査装置に関し、機
能ブロック図、装置内の一部回路図、および機械部分の
構造図を、それぞれ図1・図2・図3に示す。また、こ
の装置による検査結果の例(データ)を図4に示す。こ
の実施例の検査装置は、複写機において現像ドラムの表
面から残留トナーを掻き落とすためのウレタンゴム製ク
リーニングブレードA(図3参照)を検査対象とし、そ
の機能をなす稜線Aa上に、許容されない程度の凹凸が
ないかどうかを、製造後・出荷前にチェックするもので
ある。なお、ここで言う許容されない凹凸とは、たとえ
ば、稜線Aaに沿った10μm程度の長さのうちに10
μm程度以上の段差を有するような急峻な凹凸を指し、
現像ドラムの表面に押し付けられて密着し得るような緩
やかなうねりは含まない。
能ブロック図、装置内の一部回路図、および機械部分の
構造図を、それぞれ図1・図2・図3に示す。また、こ
の装置による検査結果の例(データ)を図4に示す。こ
の実施例の検査装置は、複写機において現像ドラムの表
面から残留トナーを掻き落とすためのウレタンゴム製ク
リーニングブレードA(図3参照)を検査対象とし、そ
の機能をなす稜線Aa上に、許容されない程度の凹凸が
ないかどうかを、製造後・出荷前にチェックするもので
ある。なお、ここで言う許容されない凹凸とは、たとえ
ば、稜線Aaに沿った10μm程度の長さのうちに10
μm程度以上の段差を有するような急峻な凹凸を指し、
現像ドラムの表面に押し付けられて密着し得るような緩
やかなうねりは含まない。
【0019】この検査装置は、図3に示す機械部分と、
その各部をコントロールするとともに検査結果を表示す
る制御部分(図3には図示省略)などから構成されてい
る。図3(a)のように、機械部分においては、検査しよ
うとするブレードAの稜線Aa上に接触する触針10
(図3(b)参照)と、触針10が受ける接触圧力を電圧
信号として取り出すピックアップ手段20、さらに、ブ
レードAを載せてそれを長手方向に移動する移動機構3
0などが、台板1上に配置されている。
その各部をコントロールするとともに検査結果を表示す
る制御部分(図3には図示省略)などから構成されてい
る。図3(a)のように、機械部分においては、検査しよ
うとするブレードAの稜線Aa上に接触する触針10
(図3(b)参照)と、触針10が受ける接触圧力を電圧
信号として取り出すピックアップ手段20、さらに、ブ
レードAを載せてそれを長手方向に移動する移動機構3
0などが、台板1上に配置されている。
【0020】ピックアップ手段20としては、セラミッ
ク製の圧電型加速度検出器が触針10に付設されたう
え、さらにノイズフィルターおよびアンプ(増幅器)が
接続(図示せず)されており、これらを通じて検知信号
が発せられる。図中の符号21は、触針10やピックア
ップ手段20を先端に有するバランスアーム、符号22
はそのアーム21を揺動自在に支える支持体、また符号
23はバランスウェイトである。ウェイト23は、触針
10の平常時の圧力(針圧)が1〜2gとなるように設
定しておく。
ク製の圧電型加速度検出器が触針10に付設されたう
え、さらにノイズフィルターおよびアンプ(増幅器)が
接続(図示せず)されており、これらを通じて検知信号
が発せられる。図中の符号21は、触針10やピックア
ップ手段20を先端に有するバランスアーム、符号22
はそのアーム21を揺動自在に支える支持体、また符号
23はバランスウェイトである。ウェイト23は、触針
10の平常時の圧力(針圧)が1〜2gとなるように設
定しておく。
【0021】移動機構30としては、ブレードAを取り
付ける載置台31が、直線案内(図示せず)を介してガ
イドレール32上に直線動自在に配備され、その載置台
31が、プーリ34・35間にレール32と平行に掛け
渡されていてモータ36で駆動されるゴム製シンクロベ
ルト33の一部と、金具33aにて連結されている。つ
まり、モータ36を駆動源にして載置台31が直線的に
移動する。この移動機構30では、動力伝達のために、
ネジや金属チェーンではなくゴム製の(したがって弾性
に富み、振動の吸収作用がある)ベルト33が使用され
ているので、給油が不要なほか、モータ36の機械的振
動等に基づくノイズがブレードAに伝わりにくく、検査
精度面でこのましい。なお、載置台31の定常移動速度
が50〜200mm/sのうちに入る(たとえば100
mm/s程度となる)ように、モータ36やプーリ35
を選定するのが良い。
付ける載置台31が、直線案内(図示せず)を介してガ
イドレール32上に直線動自在に配備され、その載置台
31が、プーリ34・35間にレール32と平行に掛け
渡されていてモータ36で駆動されるゴム製シンクロベ
ルト33の一部と、金具33aにて連結されている。つ
まり、モータ36を駆動源にして載置台31が直線的に
移動する。この移動機構30では、動力伝達のために、
ネジや金属チェーンではなくゴム製の(したがって弾性
に富み、振動の吸収作用がある)ベルト33が使用され
ているので、給油が不要なほか、モータ36の機械的振
動等に基づくノイズがブレードAに伝わりにくく、検査
精度面でこのましい。なお、載置台31の定常移動速度
が50〜200mm/sのうちに入る(たとえば100
mm/s程度となる)ように、モータ36やプーリ35
を選定するのが良い。
【0022】この検査装置では、図3(a)・(b)のよう
に載置台31の所定の位置にブレードAを取り付け、そ
の稜線Aa上の一端部に触針10を載せたうえモータ3
6を起動して載置台31を図3(a)の左方へ移動するこ
とにより、稜線Aaに異常な凹凸がないかどうかがチェ
ックされる。すなわち図1のように、凹凸の程度に応じ
た触針10の接触圧変動がピックアップ手段20を経て
電圧信号として検知され、その検知信号が判定手段60
において、後述の入力手段40や可変手段50からくる
許容レベルと比較され、検知信号の強さが許容レベルを
超える部分があれば異常、つまりそのブレードAが不良
品であると、ランプやブザー(図示せず)によって出力
手段70が表示する。
に載置台31の所定の位置にブレードAを取り付け、そ
の稜線Aa上の一端部に触針10を載せたうえモータ3
6を起動して載置台31を図3(a)の左方へ移動するこ
とにより、稜線Aaに異常な凹凸がないかどうかがチェ
ックされる。すなわち図1のように、凹凸の程度に応じ
た触針10の接触圧変動がピックアップ手段20を経て
電圧信号として検知され、その検知信号が判定手段60
において、後述の入力手段40や可変手段50からくる
許容レベルと比較され、検知信号の強さが許容レベルを
超える部分があれば異常、つまりそのブレードAが不良
品であると、ランプやブザー(図示せず)によって出力
手段70が表示する。
【0023】上記の許容レベルは、入力手段40におい
て電圧値で設定され、ブレードAの規格(必要精度)等
に応じて設定変更されるものであるが、この検査装置の
特徴は、そうして設定された許容レベルを、各ブレード
Aの検査中に可変手段50によって変化させることにあ
る。これは、モータ36の起動直後に、載置台31とそ
の上のブレードAの移動速度が定常値まで徐々に上昇す
る段階では、低速ゆえに触針10やピックアップ手段2
0による上記の検知信号が弱いことを考慮し、許容レベ
ルを、起動直後は下げておき、速度上昇に合わせて上げ
ていくものである。
て電圧値で設定され、ブレードAの規格(必要精度)等
に応じて設定変更されるものであるが、この検査装置の
特徴は、そうして設定された許容レベルを、各ブレード
Aの検査中に可変手段50によって変化させることにあ
る。これは、モータ36の起動直後に、載置台31とそ
の上のブレードAの移動速度が定常値まで徐々に上昇す
る段階では、低速ゆえに触針10やピックアップ手段2
0による上記の検知信号が弱いことを考慮し、許容レベ
ルを、起動直後は下げておき、速度上昇に合わせて上げ
ていくものである。
【0024】そういった作用をなすための許容レベル入
力手段40と同可変手段50は、具体的には図2の電気
回路によって構成している。すなわちまず、一端を接地
したうえ定電圧(12ボルト)を印加した可変抵抗VR
0に対し、オペアンプOP1を図のように接続して、入
力手段40を構成した。そして許容レベルの可変手段5
0としては、上記オペアンプOP1の出力端子40a
に、抵抗Rと接点Z1・可変抵抗VR1・オペアンプO
P2・可変抵抗VR2およびコンデンサC1を、図のよ
うに接続した。
力手段40と同可変手段50は、具体的には図2の電気
回路によって構成している。すなわちまず、一端を接地
したうえ定電圧(12ボルト)を印加した可変抵抗VR
0に対し、オペアンプOP1を図のように接続して、入
力手段40を構成した。そして許容レベルの可変手段5
0としては、上記オペアンプOP1の出力端子40a
に、抵抗Rと接点Z1・可変抵抗VR1・オペアンプO
P2・可変抵抗VR2およびコンデンサC1を、図のよ
うに接続した。
【0025】出力端子50aの電位は、接点Z1が閉じ
ている間は、可変抵抗VR1で調整されるある大きさV
0 に保たれるが、接点Z1が開いて十分な時間がたった
のちは、可変抵抗VR0によってきまる一定値V1(>
V0)となる。そしてそれらの間、つまり接点Z1が開
いた直後は、端子50aの電位が、コンデンサC1と可
変抵抗VR2との作用で(両者の大きさの積が大きいほ
ど)ゆっくりとV0 からV1 まで上昇する。したがっ
て、許容レベルを表わす信号として端子50aの電位
(電圧)を判定手段60へ入力することとし、モータ3
6を起動して検査を開始した時点で接点Z1を開くよう
にすれば、検査開始前には低かった許容レベルが、時間
の経過とともに上がることになる。これについては、許
容レベルである端子50aの電圧の上昇がモータ36の
回転速度(すなわちブレードAの移動速度)の上昇に合
わせて上昇するよう可変抵抗VR2の大きさを調整して
おき、また、その速度が定常値に達したのちの端子50
aの電圧V1 が許容レベルとして適当な値になるよう可
変抵抗VR0を定めておく。また、検査開始前にノイズ
によって誤動作することのないよう、ノイズレベルを上
回る電圧V0 を、可変抵抗VR1の調整によって判定手
段60へ入力しておく。
ている間は、可変抵抗VR1で調整されるある大きさV
0 に保たれるが、接点Z1が開いて十分な時間がたった
のちは、可変抵抗VR0によってきまる一定値V1(>
V0)となる。そしてそれらの間、つまり接点Z1が開
いた直後は、端子50aの電位が、コンデンサC1と可
変抵抗VR2との作用で(両者の大きさの積が大きいほ
ど)ゆっくりとV0 からV1 まで上昇する。したがっ
て、許容レベルを表わす信号として端子50aの電位
(電圧)を判定手段60へ入力することとし、モータ3
6を起動して検査を開始した時点で接点Z1を開くよう
にすれば、検査開始前には低かった許容レベルが、時間
の経過とともに上がることになる。これについては、許
容レベルである端子50aの電圧の上昇がモータ36の
回転速度(すなわちブレードAの移動速度)の上昇に合
わせて上昇するよう可変抵抗VR2の大きさを調整して
おき、また、その速度が定常値に達したのちの端子50
aの電圧V1 が許容レベルとして適当な値になるよう可
変抵抗VR0を定めておく。また、検査開始前にノイズ
によって誤動作することのないよう、ノイズレベルを上
回る電圧V0 を、可変抵抗VR1の調整によって判定手
段60へ入力しておく。
【0026】図4は、以上のようにして設定した許容レ
ベルVと、あるブレードAについての前記ピックアップ
手段20からの検知信号Sとを示すデータ(電圧計測結
果)で、横軸は経過時間(時刻)、縦軸は電圧を表わし
ている。レベルVは、モータ36が起動されてブレード
Aが移動し始めた時刻t0 からその移動速度が定常値に
達する時刻t2 までは前述のようにV0 からV1 まで徐
々に上昇し、その後はV1 のまま一定値に保たれてい
る。またブレードAの末端が触針10の位置を通過した
時刻t3 ののち、レベルVは再び下げられている。な
お、このデータは判定手段60において計測されたもの
であるが、検知信号Sの絶対値が許容レベルVを超える
かどうかを判定する目的で、同手段60内において、レ
ベルVは、図のように絶対値の等しい正・負の電圧に置
き換えられている。またこの例では、可変手段50のう
ちに、たとえばコンデンサやトランジスタによる遅延タ
イマー(図示省略)が含まれているため、レベルVがV
0 より上昇しはじめる時刻t1が、ブレードAの移動開
始時刻t0 よりやや遅い。これは、レベルVの上昇が、
ブレードAの移動速度の上昇に合うばかりでなく、でき
るだけ検知信号Sのレベル上昇に近いカーブに従うよう
処置したものであるが、こうしたタイマーを内蔵しなく
ともレベルVの上昇カーブを適切に設定できることは言
うまでもない。
ベルVと、あるブレードAについての前記ピックアップ
手段20からの検知信号Sとを示すデータ(電圧計測結
果)で、横軸は経過時間(時刻)、縦軸は電圧を表わし
ている。レベルVは、モータ36が起動されてブレード
Aが移動し始めた時刻t0 からその移動速度が定常値に
達する時刻t2 までは前述のようにV0 からV1 まで徐
々に上昇し、その後はV1 のまま一定値に保たれてい
る。またブレードAの末端が触針10の位置を通過した
時刻t3 ののち、レベルVは再び下げられている。な
お、このデータは判定手段60において計測されたもの
であるが、検知信号Sの絶対値が許容レベルVを超える
かどうかを判定する目的で、同手段60内において、レ
ベルVは、図のように絶対値の等しい正・負の電圧に置
き換えられている。またこの例では、可変手段50のう
ちに、たとえばコンデンサやトランジスタによる遅延タ
イマー(図示省略)が含まれているため、レベルVがV
0 より上昇しはじめる時刻t1が、ブレードAの移動開
始時刻t0 よりやや遅い。これは、レベルVの上昇が、
ブレードAの移動速度の上昇に合うばかりでなく、でき
るだけ検知信号Sのレベル上昇に近いカーブに従うよう
処置したものであるが、こうしたタイマーを内蔵しなく
ともレベルVの上昇カーブを適切に設定できることは言
うまでもない。
【0027】このデータの対象であるブレードAは、最
初に触針10を置いた端部の付近、すなわち検知信号の
Sa部分に相当する位置に、許容されない大きな凹凸が
あって不良品であると判断されている。Sa部分は、値
の大きさそのものはSb部分などよりもむしろ小さい
が、ブレードAの移動速度が低く検知信号Sの全体的な
レベルがまだ低い段階においてこれだけの大きさをもつ
ことから、本来許容されない凹凸の存在を示すものであ
る。そのSa部分を、異常(許容されない)と正確に判
定し得たのは、この検査装置が、ブレードAの移動速度
の低いうちは上記のように許容レベルVを下げているた
めにほかならない。もし、従来の検査装置のように検査
開始(ブレードAの移動)と同時に許容レベルVをV1
にしていたならば、このSa部分の凹凸は異常とは判定
されなかった。
初に触針10を置いた端部の付近、すなわち検知信号の
Sa部分に相当する位置に、許容されない大きな凹凸が
あって不良品であると判断されている。Sa部分は、値
の大きさそのものはSb部分などよりもむしろ小さい
が、ブレードAの移動速度が低く検知信号Sの全体的な
レベルがまだ低い段階においてこれだけの大きさをもつ
ことから、本来許容されない凹凸の存在を示すものであ
る。そのSa部分を、異常(許容されない)と正確に判
定し得たのは、この検査装置が、ブレードAの移動速度
の低いうちは上記のように許容レベルVを下げているた
めにほかならない。もし、従来の検査装置のように検査
開始(ブレードAの移動)と同時に許容レベルVをV1
にしていたならば、このSa部分の凹凸は異常とは判定
されなかった。
【0028】なお、ブレードAの末端(つまり触針10
が稜線Aaから外れる箇所)に関しては、載置台31に
稜線Aaとの接続部分(図示せず)を形成しておき、同
部分との間に隙間や引っ掛かり(段差)のないようにブ
レードAを取り付ける──というのもよいが、つぎのよ
うにすると一層このましい。すなわち、触針10が稜線
Aaから外れてもすぐにアーム21を支えて触針10が
他の物(たとえば載置台31)に当たるのを防ぐよう、
アーム21のすぐ下に支持片(図示せず)を配置してお
くのである。そしてその支持片や、それと併設する別の
部材に、昇降機能(つまりアーム21を上げ下げする機
能)を付加しておくと便利である。さらにまた、光電ス
イッチ(図示せず)などによってブレードAの末端を検
出させ、それ以降の部分についてはピックアップ手段2
0からの検知信号を受け付けないようにすれば、触針1
0がブレードAから外れた際の振動によって誤動作が起
きることもなくなる。
が稜線Aaから外れる箇所)に関しては、載置台31に
稜線Aaとの接続部分(図示せず)を形成しておき、同
部分との間に隙間や引っ掛かり(段差)のないようにブ
レードAを取り付ける──というのもよいが、つぎのよ
うにすると一層このましい。すなわち、触針10が稜線
Aaから外れてもすぐにアーム21を支えて触針10が
他の物(たとえば載置台31)に当たるのを防ぐよう、
アーム21のすぐ下に支持片(図示せず)を配置してお
くのである。そしてその支持片や、それと併設する別の
部材に、昇降機能(つまりアーム21を上げ下げする機
能)を付加しておくと便利である。さらにまた、光電ス
イッチ(図示せず)などによってブレードAの末端を検
出させ、それ以降の部分についてはピックアップ手段2
0からの検知信号を受け付けないようにすれば、触針1
0がブレードAから外れた際の振動によって誤動作が起
きることもなくなる。
【0029】以上、一つの実施例を紹介したが、これ以
外の態様によっても本考案の検査装置が実施できること
はもちろんである。たとえば、検査されるブレードを動
かすのでなく、ブレードに沿って触針を移動する構成で
もよい。記載した種類のブレードに検査対象(被検査
物)が限定されるわけでなく、また検査の原理は稜線以
外の各種表面部分(粗さの検査)にも適用できる。許容
レベルの可変手段における具体的な電気回路等も、実施
例に示したコンデンサと抵抗によるもの(C−R回路)
には限らない。たとえば、駆動モータの回転速度をアナ
ログ出力式のセンサー(タコジェネレータなど)により
電圧に置き換えて許容レベルとするのもよい。さらに移
動機構についても、実施例のベルトに代えてチェーンや
ワイヤまたはロープなどを使用(その場合、伝動継手や
プーリなどのうちにダンパ部材を入れておくとS/N比
が高い)したり、送りねじやラックアンドピニオン(こ
れらの場合はS/N比に関してあまり期待できないが)
にて構成したりすることもできる。
外の態様によっても本考案の検査装置が実施できること
はもちろんである。たとえば、検査されるブレードを動
かすのでなく、ブレードに沿って触針を移動する構成で
もよい。記載した種類のブレードに検査対象(被検査
物)が限定されるわけでなく、また検査の原理は稜線以
外の各種表面部分(粗さの検査)にも適用できる。許容
レベルの可変手段における具体的な電気回路等も、実施
例に示したコンデンサと抵抗によるもの(C−R回路)
には限らない。たとえば、駆動モータの回転速度をアナ
ログ出力式のセンサー(タコジェネレータなど)により
電圧に置き換えて許容レベルとするのもよい。さらに移
動機構についても、実施例のベルトに代えてチェーンや
ワイヤまたはロープなどを使用(その場合、伝動継手や
プーリなどのうちにダンパ部材を入れておくとS/N比
が高い)したり、送りねじやラックアンドピニオン(こ
れらの場合はS/N比に関してあまり期待できないが)
にて構成したりすることもできる。
【0030】
【考案の効果】本考案による稜線等の検査装置は、被検
査物・触針間の移動速度が定常値に達するまでの間にも
判定基準として妥当な許容レベルを有するので、被検査
物のうち最初に(つまり移動開始前に)触針をおいた点
から、稜線等の凹凸を正確に検査できる。したがって、
被検査物の全長にわたる検査を行うのにダミー体を使用
する必要がない。
査物・触針間の移動速度が定常値に達するまでの間にも
判定基準として妥当な許容レベルを有するので、被検査
物のうち最初に(つまり移動開始前に)触針をおいた点
から、稜線等の凹凸を正確に検査できる。したがって、
被検査物の全長にわたる検査を行うのにダミー体を使用
する必要がない。
【0031】なお請求項2の検査装置は、移動機構につ
いて構造が簡単でメンテナンスも容易であるが、S/N
比にすぐれ、検査精度が高い。
いて構造が簡単でメンテナンスも容易であるが、S/N
比にすぐれ、検査精度が高い。
【図1】本考案の一実施例としての検査装置に関する機
能ブロック図である。
能ブロック図である。
【図2】上記検査装置内の一部(特徴的な部分)の回路
図である。
図である。
【図3】図3(a)は上記検査装置の機械部分を示す平面
図、また図3(b)は、同(a)におけるb−b矢視図であ
る。
図、また図3(b)は、同(a)におけるb−b矢視図であ
る。
【図4】上記検査装置による検査結果の一例を示すデー
タ(電圧計測結果)である。
タ(電圧計測結果)である。
10 触針 20 ピックアップ手段 30 移動機構 33 シンクロベルト 40 許容レベル入力手段 50 許容レベル可変手段 60 判定手段 A ブレード(被検査物) S 検知信号 V 許容レベル
Claims (2)
- 【請求項1】 被検査物の稜線や表面等の凹凸を検査す
るため、対象箇所に接触させる触針と、被検査物または
触針の移動機構、触針の接触圧変動を電気信号にするピ
ックアップ手段、およびその電気信号の絶対値が許容レ
ベルを超えるとき異常とする判定手段とを備える検査装
置であって、 上記移動機構による被検査物または触針の移動速度が定
常値に達するまで、その移動速度の変化に合わせて上記
の許容レベルを変化させる手段を有することを特徴とす
る稜線等の検査装置。 - 【請求項2】 上記移動機構のうちに、一対のプーリ間
に巻き掛けられたゴムベルトを備える請求項1に記載の
稜線等の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1084091U JP2520021Y2 (ja) | 1991-02-05 | 1991-02-05 | 稜線等の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1084091U JP2520021Y2 (ja) | 1991-02-05 | 1991-02-05 | 稜線等の検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0625711U JPH0625711U (ja) | 1994-04-08 |
JP2520021Y2 true JP2520021Y2 (ja) | 1996-12-11 |
Family
ID=11761554
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1084091U Expired - Fee Related JP2520021Y2 (ja) | 1991-02-05 | 1991-02-05 | 稜線等の検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2520021Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2015033923A1 (ja) * | 2013-09-09 | 2015-03-12 | バンドー化学株式会社 | ブレード用エッジ検査装置及びブレード用エッジ検査方法 |
-
1991
- 1991-02-05 JP JP1084091U patent/JP2520021Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0625711U (ja) | 1994-04-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |