JP2517819Y2 - Capacitance measuring device for capacitors - Google Patents
Capacitance measuring device for capacitorsInfo
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Description
本考案は、回路基板上に搭載されたコンデンサーの静
電容量を測定するコンデンサーの静電容量測定装置に関
する。The present invention relates to a capacitor capacitance measuring device for measuring the capacitance of a capacitor mounted on a circuit board.
従来、電子部品であるコンデンサーの静電容量を抜き
取り検査する場合、例えば第４図（ａ）に示す様に、抜
き取ったコンデンサー１を回路基板２上に搭載し、この
回路基板２上に対向して配置されたランド電極３、３…
に半田付けする。そして、このランド電極３、３に容量
測定部４の測定端子（プローブ）５、５を当て、前記コ
ンデンサー１の静電容量を測定する。この場合、コンデ
ンサー１が半田付けされた回路基板２は、パレット６に
保持される。このパレット６の表面には、前記回路基板
２の表面に対応した凹部７が形成されており、この凹部
７に前記回路基板２が挿入され、同基板２を下から支え
る。Conventionally, when the electrostatic capacitance of a capacitor which is an electronic component is to be extracted and inspected, for example, as shown in FIG. 4A, the extracted capacitor 1 is mounted on a circuit board 2 and is opposed to the circuit board 2. The land electrodes 3, 3 ...
Solder to. Then, the measuring terminals (probes) 5 and 5 of the capacitance measuring unit 4 are applied to the land electrodes 3 and 3, and the capacitance of the capacitor 1 is measured. In this case, the circuit board 2 to which the capacitor 1 is soldered is held on the pallet 6. A recess 7 corresponding to the surface of the circuit board 2 is formed on the surface of the pallet 6, and the circuit board 2 is inserted into the recess 7 to support the board 2 from below.
しかしながら、前記従来のコンデンサーの静電容量測
定装置では、測定箇所によって静電容量の測定値に再現
性が悪い。特に、小さな静電容量を測定する場合、その
測定誤差が大きく、正確な静電容量の測定が困難である
と言う課題があった。 そこで、本考案では、前記の従来技術における課題を
解消し、小さな静電容量でも測定誤差なく正確に測定す
ることが出来、また、測定値の再現性に優れたコンデン
サーの静電容量測定装置を提供することをその目的とす
る。However, in the conventional capacitance measuring device for a capacitor, the reproducibility of the capacitance measured value is poor depending on the measurement location. In particular, when measuring a small capacitance, there is a problem that the measurement error is large and it is difficult to measure the capacitance accurately. In view of the above, the present invention solves the above-mentioned problems in the prior art and provides a capacitor capacitance measuring device that can accurately measure even a small capacitance without a measurement error and that has excellent reproducibility of measured values. Its purpose is to provide.
すなわち本考案によるコンデンサーの静電容量測定装
置は、第一の主面上に対向するランド電極21、21が配置
された回路基板20と、該回路基板20の第一の主面上に搭
載され、前記ランド電極21、21に接続されたコンデンサ
ー30と、前記回路基板20をコンデンサー30が搭載された
のと反対の第二の主面側から支持するパレット10と、該
パレット10上に支持された前記回路基板20の前記ランド
電極21、21に測定端子50、50を当て、該ランド電極50、
50に接続されたコンデンサー30の静電容量を測定する静
電容量測定部40とを有し、前記回路基板20の第一の主面
上に形成された前記ランド電極21、21及びその間に接続
されたコンデンサー30が占領する領域に対応して、前記
パレット10の表面に凹部12が形成され、この凹部12の表
面Ａが前記回路基板20の第一の主面から離れていること
を特徴とする。That is, the capacitance measuring device for a capacitor according to the present invention is mounted on the first main surface of the circuit board 20 having the land electrodes 21, 21 facing each other on the first main surface. A capacitor 30 connected to the land electrodes 21 and 21, a pallet 10 for supporting the circuit board 20 from the second main surface side opposite to the side where the capacitor 30 is mounted, and a pallet 10 supported on the pallet 10. The measurement terminals 50, 50 are applied to the land electrodes 21, 21 of the circuit board 20, and the land electrodes 50,
And a capacitance measuring unit 40 for measuring the capacitance of the capacitor 30 connected to 50, and the land electrodes 21, 21 formed on the first main surface of the circuit board 20 and connected between them. A recess 12 is formed on the surface of the pallet 10 corresponding to the area occupied by the capacitor 30 and the surface A of the recess 12 is separated from the first main surface of the circuit board 20. To do.
本考案は、前記の従来のコンデンサーの静電容量測定
装置により測定される測定値の変動が、次のような原因
により生じるという事実を着目することによりなされ
た。すなわち、既に説明した従来のコンデンサーの静電
容量測定装置により静電容量の測定を行うために、その
測定端子を回路基板２の表面に当てると、第４図（ｂ）
に示す様に、回路基板２が、上方からの力で撓み、その
下面が絶縁物のパレット６に接触し、前記回路基板２上
に形成されたランド電極３とパレット６の間に静電容量
を形成する。このとき、ランド電極３とパレット６との
接触の具合いによって、ランド電極３とパレット６との
距離が変わり、前記静電容量が変化する。このため、コ
ンデンサーの静電容量の測定値が変動し、測定値の再現
性が損われる。 これに対し、本考案によるコンデンサーの静電容量測
定装置では、前記の回路基板２をパレット10で支持した
とき、パレット10に形成された凹部12により、前記回路
基板20の第二の主面と前記パレット10とが離れているの
で、その間に静電容量が形成されない。従って、従来の
ような測定容量値に変動が生じ難く、測定値の再現性が
向上すると共に、小さな静電容量でも正確に測定するこ
とができるようになる。The present invention was made by paying attention to the fact that the fluctuation of the measurement value measured by the above-mentioned conventional capacitance measuring device for capacitors is caused by the following causes. That is, in order to measure the capacitance with the conventional capacitance measuring device for a capacitor, which has been already described, when its measuring terminal is applied to the surface of the circuit board 2, FIG.
As shown in FIG. 3, the circuit board 2 is bent by a force from above, the lower surface of the circuit board 2 contacts the pallet 6 made of an insulating material, and the capacitance between the land electrode 3 and the pallet 6 formed on the circuit board 2 is increased. To form. At this time, the distance between the land electrode 3 and the pallet 6 changes depending on the contact state between the land electrode 3 and the pallet 6, and the capacitance changes. Therefore, the measured value of the capacitance of the capacitor fluctuates, and the reproducibility of the measured value is impaired. On the other hand, in the capacitor capacitance measuring device according to the present invention, when the circuit board 2 is supported by the pallet 10, the concave portion 12 formed in the pallet 10 causes the second main surface of the circuit board 20 to move. Since the pallet 10 is separated from the pallet 10, no capacitance is formed between them. Therefore, the measured capacitance value is unlikely to fluctuate as in the conventional case, the reproducibility of the measured value is improved, and the small capacitance can be accurately measured.
以下、本考案の実施例について、図面を参照しながら
詳細に説明する。 第２図に本考案によるコンデンサーの静電容量測定装
置のパレット10が示されている。このパレット10は、例
えばアルミナあるいは樹脂等の絶縁物で立方形状に形成
され、その表面上に、回路基板20を嵌め込んで固定する
ための基板支持用の段部11が形成されている。さらに、
このパレット10の表面上の段部11の内側に凹部12が形成
されている。凹部12は、例えば、前記回路基板20の上側
の主面にランド電極21、21…（第３図を参照）が形成さ
れる領域に対応して形成されている。 第１図に、前記のパレット10を使用して、抜き取られ
たコンデンサー30、30…の静電容量を測定する様子を示
す。回路基板20の第一の主面、すなわち図において上側
の主面上にランド電極21、21…が対向して形成され、第
３図に拡大して示すように、これらランド電極21、21…
の対向した位置にコンデンサー30、30が搭載され、この
コンデンサー30、30…の両端の端子が前記ランド電極2
1、21…に半田接続されて固定されている。 第１図に示すように、この様な回路基板20を前記パレ
ット10で保持する場合、前記回路基板20の下側の主面の
周辺部が、前記パレット10に形成された基板支持用の段
部11に嵌め込まれ、下から支持される。このとき、この
段部11の内側に凹部12が形成されているため、この凹部
12によって前記回路基板20の下側に空洞が形成される。
そのため、前記回路基板20の第一の主面上にランド電極
21、21…及びコンデンサー30が占める部分に対応する同
回路基板20の第二の主面と、パレット10の凹部12の表面
とが離れ、ランド電極21、21…と前記パレット10の表面
Ａとの間に静電容量が形成されない。すなわち、ランド
電極21、21…とパレット10の表面Ａとの間に形成される
静電容量は、測定上殆ど無視し得るものとなる。従っ
て、測定端子50を回路基板20のランド電極21に当てたと
きに、回路基板20が撓んでも、静電容量の測定値の変動
は起らない。 より具体的には、前記の本考案による構造のパレット
10を使用することにより、コンデンサーの測定誤差は0.
01pF以内となり、小容量でもその自動測定が可能になっ
た。また、200個のコンデンサーについて測定したとこ
ろ、従来の測定装置では±0.05pFであったが、本考案に
よる静電容量測定装置によって±0.01pFまでその測定誤
差を小さくすることが可能になった。Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 2 shows a pallet 10 of the capacitor capacitance measuring device according to the present invention. The pallet 10 is formed in a cubic shape from an insulating material such as alumina or resin, and a board supporting step 11 for fitting and fixing the circuit board 20 is formed on the surface thereof. further,
A recess 12 is formed inside the step 11 on the surface of the pallet 10. The recess 12 is formed, for example, in a region corresponding to the land electrodes 21, 21 ... (See FIG. 3) on the upper main surface of the circuit board 20. FIG. 1 shows how the capacitance of the extracted capacitors 30, 30, ... Is measured using the pallet 10. The land electrodes 21, 21, ... Are formed facing each other on the first main surface of the circuit board 20, that is, the main surface on the upper side in the figure. As shown in an enlarged view in FIG. 3, these land electrodes 21, 21 ,.
Capacitors 30 and 30 are mounted at positions facing each other, and terminals at both ends of the capacitors 30, 30 ...
It is fixed by soldering to 1, 21 ... As shown in FIG. 1, when such a circuit board 20 is held by the pallet 10, the peripheral portion of the lower main surface of the circuit board 20 is a step for supporting the board formed on the pallet 10. It is fitted into the portion 11 and supported from below. At this time, since the concave portion 12 is formed inside the stepped portion 11, the concave portion is formed.
12 forms a cavity on the lower side of the circuit board 20.
Therefore, the land electrode is formed on the first main surface of the circuit board 20.
The second main surface of the circuit board 20 corresponding to the portion occupied by 21, 21, ... And the capacitor 30 and the surface of the recess 12 of the pallet 10 are separated, and the land electrodes 21, 21, ... And the surface A of the pallet 10 are separated. No capacitance is formed between. That is, the electrostatic capacitance formed between the land electrodes 21, 21, ... And the surface A of the pallet 10 is almost negligible in measurement. Therefore, even if the circuit board 20 bends when the measurement terminal 50 is applied to the land electrode 21 of the circuit board 20, the measurement value of the capacitance does not change. More specifically, the pallet having the structure according to the present invention.
By using 10, the measurement error of the condenser is 0.
It was within 01pF, and automatic measurement became possible even with a small capacity. In addition, when measuring 200 capacitors, it was ± 0.05 pF with the conventional measuring device, but it was possible to reduce the measurement error to ± 0.01 pF with the capacitance measuring device according to the present invention.
以上の説明から明らかな様に、本考案によれば、回路
基板20上のランド電極21、21…とパレット10との間に静
電容量が発生しないため、コンデンサー30の静電容量測
定値の誤差が無くなり、その測定値の変動も無くなるた
め、正確な測定値が得られ、且つ再現性に優れたコンデ
ンサーの静電容量測定装置を提供することが可能になるAs is apparent from the above description, according to the present invention, since no capacitance is generated between the land electrodes 21, 21 ... On the circuit board 20 and the pallet 10, the capacitance measurement value of the capacitor 30 Since the error disappears and the fluctuation of the measured value also disappears, it becomes possible to provide an accurate measured value and to provide a capacitor capacitance measuring device having excellent reproducibility.
第１図は本考案によるコンデンサーの静電容量測定装置
の構造を示す断面図であり、第２図は前記測定装置のパ
レットの構造を示す斜視図であり、第３図は回路基板の
表面に形成されるランド電極の構造を示す図であり、第
４図（ａ）及び（ｂ）は従来技術による静電容量測定装
置を説明する全体構成図及びその一部拡大断面図であ
る。 10……パレット、11……段部、12……凹部、20……回路
基板、21……ランド電極、30……コンデンサー、40……
容量測定部、50……測定端子（プローブ）FIG. 1 is a sectional view showing the structure of a capacitance measuring device for capacitors according to the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing the structure of a pallet of the measuring device, and FIG. It is a figure which shows the structure of the land electrode formed, and FIGS. 4 (a) and 4 (b) are the whole block diagram explaining the electrostatic capacitance measuring device by a prior art, and the one part enlarged sectional view. 10 ... Pallet, 11 ... Step, 12 ... Concave, 20 ... Circuit board, 21 ... Land electrode, 30 ... Capacitor, 40 ...
Capacitance measuring unit, 50 ... Measuring terminal (probe)
Claims (1)
1）、（21）が配置された回路基板（20）と、該回路基
板（20）の第一の主面上に搭載され、前記ランド電極
（21）、（21）に接続されたコンデンサー（30）と、前
記回路基板（20）をコンデンサー（30）が搭載されたの
と反対の第二の主面側から支持するパレット（10）と、
該パレット（10）上に支持された前記回路基板（20）の
前記ランド電極（21）、（21）に測定端子（50）、（5
0）を当て、該ランド電極（50）、（50）に接続された
コンデンサー（30）の静電容量を測定する静電容量測定
部（40）とを有するコンデンサーの静電容量測定装置に
おいて、前記回路基板（20）の第一の主面上に形成され
た前記ランド電極（21）、（21）及びそれに接続された
コンデンサー（30）が占領する領域に対応して、前記パ
レット（10）の表面に凹部（12）が形成され、この凹部
（12）の表面（Ａ）が前記回路基板（20）の第二の主面
から離れていることを特徴とするコンデンサーの静電容
量測定装置。1. A land electrode (2) facing the first main surface.
1) and (21) are arranged on the circuit board (20), and a capacitor (mounted on the first main surface of the circuit board (20) and connected to the land electrodes (21) and (21) ( 30) and a pallet (10) for supporting the circuit board (20) from the second main surface side opposite to the side where the condenser (30) is mounted,
Measuring terminals (50), (5) are provided on the land electrodes (21), (21) of the circuit board (20) supported on the pallet (10).
0) is applied to the land electrode (50), and a capacitance measuring unit (40) for measuring the capacitance of the capacitor (30) connected to (50), in a capacitance measuring device for a capacitor, The pallet (10) corresponding to the area occupied by the land electrodes (21), (21) formed on the first main surface of the circuit board (20) and the capacitor (30) connected thereto. A device for measuring capacitance of a capacitor, characterized in that a recess (12) is formed on the surface of the recess (12), and the surface (A) of the recess (12) is separated from the second main surface of the circuit board (20). .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990092119U JP2517819Y2 (en) | 1990-08-31 | 1990-08-31 | Capacitance measuring device for capacitors |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990092119U JP2517819Y2 (en) | 1990-08-31 | 1990-08-31 | Capacitance measuring device for capacitors |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0449875U JPH0449875U (en) | 1992-04-27 |
| JP2517819Y2 true JP2517819Y2 (en) | 1996-11-20 |
Family
ID=31828338
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1990092119U Expired - Lifetime JP2517819Y2 (en) | 1990-08-31 | 1990-08-31 | Capacitance measuring device for capacitors |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2517819Y2 (en) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01143974A (en) * | 1987-11-30 | 1989-06-06 | Toshiba Corp | In-circuit tester |
-
1990
- 1990-08-31 JP JP1990092119U patent/JP2517819Y2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0449875U (en) | 1992-04-27 |
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