JP2516978B2 - しみ・汚れ検査装置 - Google Patents

しみ・汚れ検査装置

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JP2516978B2
JP2516978B2 JP62135350A JP13535087A JP2516978B2 JP 2516978 B2 JP2516978 B2 JP 2516978B2 JP 62135350 A JP62135350 A JP 62135350A JP 13535087 A JP13535087 A JP 13535087A JP 2516978 B2 JP2516978 B2 JP 2516978B2
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stains
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dirt
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JP62135350A
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公俊 洞口
正則 古来
正則 豊田
保弘 冨田
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Matsushita Electric Works Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/6447Fluorescence; Phosphorescence by visual observation

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は衣服等に付着した飲食物,香粧品,排泄物等
のしみ・汚れの検査装置に関するものである。
従来の技術 肉眼では自然光や可視光線による人工光の下では発見
しにくい、衣服等に付着した飲食物,香粧品,排泄物等
のしみ・汚れを350〜360nmに主波長をもつブラックライ
トの照射光の下で観察を行うことによって、しみ・汚れ
の部分が螢光発光したり、吸収により黒く沈んだように
見えるため、発見が容易になることは既によく知られて
いる。なお、この場合、可視光線は完全に遮られること
が必要である。このため、クリーニング店等では、クリ
ーニングの実施に際し、肉眼では自然光や可視光線によ
る人工光の下では発見しにくい、衣服等に付着したしみ
・汚れを発見するため、昼間、自然光や他の一般照明光
が入り込まないように、シャッターや暗幕で室内全体
を、或るいは室内の一部を暗室状態にしたり、夜間にな
るのを待って、一般照明を消灯し、一般のスタンド照明
器具等にブラックライトランプを装着・点灯して、しみ
・汚れの有無を検査している。
発明が解決しようとする問題点 最近、クリーニング実施の際の、しみ・汚れの除去に
関するトラブルが増加しており、そのトラブルの内容は
(1)クリーニング実施前に見えなかった、しみ・汚れ
のクリーニング実施後の顕在化、(2)クリーニング実
施による、しみ・汚れの除去が不充分であるための、そ
の部分からの後日のカビ発生、(3)しみ・汚れの原因
・種類の識別の不充分に基づく、除去方法の不適切さに
よる、生地の損傷や脱色、等である。こうしたトラブル
を未然に防止するため、クリーニング品の受付時と実施
後に、しみ・汚れの有無やその種類などが確実・容易に
確認・識別できる必要がある。ところが、肉眼では、可
視光線の下では発見できにくい、しみ・汚れをブラック
ライトの照射光による螢光発光や黒い沈み込みによって
発見するための、従来の、昼間、自然光や他の一般照明
光が入り込まないように、シャッターや暗幕で室内全体
を、或るいは室内の一部を暗室状態にしたり、夜間にな
るのを待って、一般照明を消灯し、一般のスタンド照明
器具等にブラックライトランプを装着・点灯して、検査
する方法は簡便でなく、必要に応じて適宜検査を実施す
ることが困難であった。
本発明は前記問題点を解決できる、しみ・汚れ検査装
置を提供することを目的としている。
問題点を解決するための手段 前記目的を達成するため本発明は、上下移動が可能
で、底面に、しみ・汚れの付着した被検査物を置くこと
ができるブラックボックスを設け、このブラックボック
スの上面に前記被検査物を拡大観察するための拡大レン
ズを有する覗き窓を配設するとともに前記ブラックボッ
クスの上面の裏面に前記ブラックボックス底面に置かれ
た被検査物を照射するためのブラックライトランプと一
般照明用ランプを配設し、前記ブラックライトランプと
一般照明用ランプを切り替えて点灯する手段を設けたし
み・汚れ検査装置である。
作用 前記構成によれば、しみ・汚れの付着した被検査物を
必要に応じて適宜、簡便に、周囲の明るい場所において
も、ブラックライトの照射光線の下で検査することがで
き、可視光線の下では肉眼で発見できにくい、しみ・汚
れの付着した部分を、螢光発光や黒い沈み込みとして検
出することができ、さらに、ブラックライトランプと一
般照明用ランプを相互に切り替えて点灯することによっ
て、可視光線の下での被検査物のしみ・汚れの具合や場
所も併せて観察・検査することができる。また予じめ作
成した標本と対照することによって、被検査物に付着し
た、しみ・汚れの種類を判別することもできる。
実施例 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。図
において1はしみ・汚れの付着した被検査物を照射する
光源部、2は前記光源部の支柱アーム、3は前記支柱ア
ームを固定する支柱、4は支柱台、5は可視光線が被検
査物に入り込まないように外光を遮光するための遮光フ
ードである。前記光源部1の内部には、ブラックライト
ランプ6および一般照明用ランプ7をそれぞれ対向する
ように配設し、ランプ切替えスイッチ8でもって前記ブ
ラックライトランプ6および一般照明用ランプ7を相互
に切替えて点灯できるようになっている。また前記光源
部1の上面中央部には前記支柱台4の上面に置かれたし
み・汚れの付着した被検査物9を覗いて検査するための
覗き窓10が配設されており、前記覗き窓10には被検査物
を拡大観察できるよう拡大レンズ11が組込まれている。
さらに前記光源部1は前記支柱アーム2で前記支柱3に
装着されており、前記支柱アーム2の側面に設けた調節
ネジ12を加減することによって前記支柱3に沿って上下
に可動するようになっている。なお、前記光源部1の下
方側面は前記光源部1の下端に取付けられたカーテンレ
ール状の金具に吊り下げられた前記遮光フード5で全周
覆われ、ブラックボックスを形成し、前面から左右に開
閉できるようになっており、この前面開閉部から前記遮
光フード5の内部に前記被検査物9を持込むことができ
る構造になっている。
前記構成のしみ・汚れ検査装置において、前記遮光フ
ード5で囲まれたブラックボックス部にしみ・汚れの付
着した被検査物9を持込み、前記光源部1に内蔵したブ
ラックライトランプ6を点灯することによって、可視光
線の下では肉眼で発見できにくい、しみ・汚れの付着し
た部分を、ブラックライト照射光による螢光発光や黒い
沈み込みとして検出することができ、さらに、ブラック
ライトランプ6と一般照明用ランプ7を相互に切り替え
て点灯することによって、可視光線の下での被検査物9
のしみ・汚れの具合や場所も併せて観察・検査すること
ができる。
発明の効果 前記実施例の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、可視光線の下では肉眼で発見できにくい、しみ・汚
れの付着した部分を、必要に応じて適宜、簡便に発見す
ることができ、また予じめ作成した標本と対照すること
によって、被検査物に付着した、しみ・汚れの種類を判
別することもでき、その効果は大なるものである。
【図面の簡単な説明】
図は、本発明の一実施例におけるしみ・汚れ検査装置の
斜視図である。 1……光源部、2……支柱アーム、3……支柱、4……
支柱台、5……遮光フード、6……ブラックライトラン
プ、7……一般照明用ランプ、8……ランプ切替えスイ
ッチ、9……被検査物、10……覗き窓、11……拡大レン
ズ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 豊田 正則 門真市大字門真1048番地 松下電工株式 会社内 (72)発明者 冨田 保弘 門真市大字門真1048番地 松下電工株式 会社内 (56)参考文献 実開 昭56−92841(JP,U) 実開 昭61−93918(JP,U) 実開 昭59−61297(JP,U)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】上下移動が可能で、底面に、しみ・汚れの
    付着した被検査物を置くことができるブラックボックス
    を設け、このブラックボックスの上面に前記被検査物を
    拡大観察するための拡大レンズを有する覗き窓を配設す
    るとともに前記ブラックボックスの上面の裏面に前記ブ
    ラックボックス底面に置かれた被検査物を照射するため
    のブラックライトランプと一般照明用ランプを配設し、
    前記ブラックライトランプと一般照明用ランプを切り替
    えて点灯する手段を設けたしみ・汚れ検査装置。
JP62135350A 1987-05-29 1987-05-29 しみ・汚れ検査装置 Expired - Lifetime JP2516978B2 (ja)

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JPS63298140A JPS63298140A (ja) 1988-12-05
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JPS63298140A (ja) 1988-12-05

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