JP2507875B2 - 多変数多項式型測定値較正器 - Google Patents
多変数多項式型測定値較正器Info
- Publication number
- JP2507875B2 JP2507875B2 JP61290931A JP29093186A JP2507875B2 JP 2507875 B2 JP2507875 B2 JP 2507875B2 JP 61290931 A JP61290931 A JP 61290931A JP 29093186 A JP29093186 A JP 29093186A JP 2507875 B2 JP2507875 B2 JP 2507875B2
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、多変数多項式型測定値を較正するための測
定値較正器に関するものである。
定値較正器に関するものである。
[従来の技術] 各種測定器は、本来測定しようとする量に対し、測定
器の出力が一対一対応し、しかも直線関係で結ばれてい
るのが望ましいが、そのような関係が実現されない場合
の方が多い。
器の出力が一対一対応し、しかも直線関係で結ばれてい
るのが望ましいが、そのような関係が実現されない場合
の方が多い。
その場合、測定値を較正して初期の目的に合わせるの
であるが、この目的には、 y=ax+b ……(0) (x:測定値、y:被測定値) なる線形一次式を用いて誤差の二乗和が最小になるよう
にa,bを求める方法が良く知られ、結果は、 (n:データ数、,:xi,yiの平均値)のようになる
(石田正次著、データ解析の基礎、森北出版P35)。
であるが、この目的には、 y=ax+b ……(0) (x:測定値、y:被測定値) なる線形一次式を用いて誤差の二乗和が最小になるよう
にa,bを求める方法が良く知られ、結果は、 (n:データ数、,:xi,yiの平均値)のようになる
(石田正次著、データ解析の基礎、森北出版P35)。
同様に、 yi=C0+C1xi+C2▲x2 i▼+・・+Cm▲xm i▼……
(1) (i=1,2,・・n) のようにm次の多項式で表現される場合には、 なる式を解けば良いことが知られている(同書P92)。
(1) (i=1,2,・・n) のようにm次の多項式で表現される場合には、 なる式を解けば良いことが知られている(同書P92)。
しかしながら、被測定変数が多数の測定値に影響され
る場合の較正法は一般に知られておらず、また(1)式
の一般化は表現が複雑で計算も容易ではないと推測され
る。
る場合の較正法は一般に知られておらず、また(1)式
の一般化は表現が複雑で計算も容易ではないと推測され
る。
他方、行列論では、(1)式のように表現された関係
に対し、主としてn<mの場合の解法が一般逆行列とし
て知られており、パラメータの数がデータの数より多い
場合、最尤推定値になることがわかっている(土屋
茂:一般逆行列、数理科学5−5、68/72,1973)。
に対し、主としてn<mの場合の解法が一般逆行列とし
て知られており、パラメータの数がデータの数より多い
場合、最尤推定値になることがわかっている(土屋
茂:一般逆行列、数理科学5−5、68/72,1973)。
一般逆行列の理論では、n>mの場合は十分に調べら
れておらず、同様に多変数で表現される場合も十分調べ
られていない。
れておらず、同様に多変数で表現される場合も十分調べ
られていない。
[発明が解決しようとする問題点] 本発明の目的は、多数のパラメータに影響され、非線
形の関係を持っているが、滑らかな変化をしているデー
タを、多変数の多項式で表現し、容易に得られる係数を
使って、上記多項式に基づく測定値の較正を簡単に実施
可能にすることにある。
形の関係を持っているが、滑らかな変化をしているデー
タを、多変数の多項式で表現し、容易に得られる係数を
使って、上記多項式に基づく測定値の較正を簡単に実施
可能にすることにある。
[問題点を解決するための手段] 上記目的を達成するための本発明の測定値較正器は、
上述した多変数多項式の演算を行う演算装置を備え、上
記演算装置におけるデータ較正のための係数として、一
般逆行列の計算法の一般化した方法、即ち、 C=(XTX)-1XTA (但し、C:係数の行列、X:測定値の行列、A:予め知られ
ている真値の行列、T:転置行列、(*)-1:*の逆行列
を示す。) によって計算される係数を設定し、これによって測定値
の較正を行うことを特徴とするものである。
上述した多変数多項式の演算を行う演算装置を備え、上
記演算装置におけるデータ較正のための係数として、一
般逆行列の計算法の一般化した方法、即ち、 C=(XTX)-1XTA (但し、C:係数の行列、X:測定値の行列、A:予め知られ
ている真値の行列、T:転置行列、(*)-1:*の逆行列
を示す。) によって計算される係数を設定し、これによって測定値
の較正を行うことを特徴とするものである。
[作用及び効果] 演算装置におけるデータ較正のための係数として、一
般逆行列の計算法の一般化した方法によって計算される
係数を用いているので、多変数の多項式の係数が容易に
得られ、その係数を使って非常に簡単な回路構成によ
り、測定値を簡単に較正することが可能になる。
般逆行列の計算法の一般化した方法によって計算される
係数を用いているので、多変数の多項式の係数が容易に
得られ、その係数を使って非常に簡単な回路構成によ
り、測定値を簡単に較正することが可能になる。
[実施例] 一例として、後述する実験例のように、多数のパラメ
ータに影響された非線形の関係を持っているが、滑らか
な変化をしているデータについて、非測定値ai,biが測
定値xi,yiのm次の多項式で表現されるとすると、 ai=C10+C11xi+C12yi+C13▲x2 i▼+C14xiyi+C15
▲y2 i▼ +C16▲x3 i▼+C17▲x2 i▼yi+C18xi▲y2 i▼
≠C19▲y3 i▼‥ bi=C20+C21xi+C22yi+C23▲x2 i▼+C24xiyi+C25
▲y2 i▼ +C26▲x3 i▼+C27▲x2 i▼yi+C28xi▲y2 i▼
+C29y3+‥ ……(2) となるが、これを行列表現すると以下のようになる。
ータに影響された非線形の関係を持っているが、滑らか
な変化をしているデータについて、非測定値ai,biが測
定値xi,yiのm次の多項式で表現されるとすると、 ai=C10+C11xi+C12yi+C13▲x2 i▼+C14xiyi+C15
▲y2 i▼ +C16▲x3 i▼+C17▲x2 i▼yi+C18xi▲y2 i▼
≠C19▲y3 i▼‥ bi=C20+C21xi+C22yi+C23▲x2 i▼+C24xiyi+C25
▲y2 i▼ +C26▲x3 i▼+C27▲x2 i▼yi+C28xi▲y2 i▼
+C29y3+‥ ……(2) となるが、これを行列表現すると以下のようになる。
上記(3)式を、行列を使って再表現すると、 A=XC(A:n×2,X:n×lC:l×2, l:パラメータの項数) ……(4) と表せる。
(4)式の両辺にXT(T:転置行列を示す)を掛けて逆
行列を取ると、前述したところの、 C=(XTX)-1XTA ……(5) になる。
行列を取ると、前述したところの、 C=(XTX)-1XTA ……(5) になる。
ここで、データ数nがパラメータの数lより大きい場
合は、一般にXTX(l×l行列)の逆行列は存在する。
何らかの事情で十分データを取れなかったときは、その
逆行列は存在しないが、その場合は一般逆行列(XTT)
+(前述参考文献)を用いれば良い。
合は、一般にXTX(l×l行列)の逆行列は存在する。
何らかの事情で十分データを取れなかったときは、その
逆行列は存在しないが、その場合は一般逆行列(XTT)
+(前述参考文献)を用いれば良い。
このように、(5)式より得られる係数Cを用いて、
任意の次数、任意の変数に対して、(2)式のようにき
わめて簡単に較正器をうることができる。
任意の次数、任意の変数に対して、(2)式のようにき
わめて簡単に較正器をうることができる。
(0)式のように一次式で表わされるとき、(5)式
の係数を用いれば、近似は最小二乗誤差を与えることは
既に知られており(武田常広:三次元位置計測装置と床
反力計による重心測定、製品科学研究所研究報告No.94,
37/48)、一般逆行列が誤差の二乗和が最小になる最尤
推定値になることから、(5)式は一般に良いデータ較
正係数を表わすものと期待できる。このことを後述の実
験例によって示す。
の係数を用いれば、近似は最小二乗誤差を与えることは
既に知られており(武田常広:三次元位置計測装置と床
反力計による重心測定、製品科学研究所研究報告No.94,
37/48)、一般逆行列が誤差の二乗和が最小になる最尤
推定値になることから、(5)式は一般に良いデータ較
正係数を表わすものと期待できる。このことを後述の実
験例によって示す。
なお、変数の数および次数は他の先験的知識によって
決定される。
決定される。
このデータ較正器は第1図に示した回路構成によって
実現できる。同図は、2変数2次多項式による測定値較
正器の回路図で、前記(2)式の演算を行うように各種
演算要素を配列している。図中に示したXは、乗算を行
う演算要素を示し、同じく+は加算を行う演算要素を示
している。データ較正のための係数C10〜C19は、一般逆
行列の計算法の一般化した方法によって計算されたもの
であり、この回路の出力として、較正を行った測定値を
得ることができる。
実現できる。同図は、2変数2次多項式による測定値較
正器の回路図で、前記(2)式の演算を行うように各種
演算要素を配列している。図中に示したXは、乗算を行
う演算要素を示し、同じく+は加算を行う演算要素を示
している。データ較正のための係数C10〜C19は、一般逆
行列の計算法の一般化した方法によって計算されたもの
であり、この回路の出力として、較正を行った測定値を
得ることができる。
次に、本発明に関する実験例を示す。
先に本発明者らが特開昭62−8730号として提案した
「眼球屈折力測定装置」において、眼球の回転角は2つ
のミラーの回転角により測定されるのであるが、回転ミ
ラーを球面ミラーの中心に置くことができないために、
それぞれのミラーの回転角が、眼の左右、上下の回転角
に直接対応しない。
「眼球屈折力測定装置」において、眼球の回転角は2つ
のミラーの回転角により測定されるのであるが、回転ミ
ラーを球面ミラーの中心に置くことができないために、
それぞれのミラーの回転角が、眼の左右、上下の回転角
に直接対応しない。
即ち、模型眼を左右(X軸)、上下(Y軸)に回転で
きるステージに乗せて、5度きざみに回転したときの2
つのミラーの出力値は、第2図のようになった。同図
は、眼を5度きざみで左右に15度、上下に10度だけ動か
したとき(格子の交点に相当する)に測定された2つの
ミラーのふれ角(○印で示した)を表示したもので、そ
の測定値は滑らかに変化する関数ではあるが、とても一
次式で表現できるような関係にはならず、非線形の関係
を持っている。この非線形性は、例えば、レンズの収差
や、電気系統の各種特性等の多数のパラメータに影響さ
れて生じたものである。そこで、 ai:模型眼の水平方向の回転角、 bi:模型眼の上下方向の回転角、 xi:ミラーXの回転角、 yi:ミラーYの回転角、 と定義して、 と表現し、n=35(左右±15゜、上下±10゜、5度きざ
みにデータをとる。)とし、1,2,3,4,5次の多項式で表
現したときの二乗誤差の和を求めたが、その値は、第1
表のように、次数を増加させるに従い単調減少し、次数
を上げる毎に良い近似を与えている。一例として、
(5)式を用いて35個のデータから較正するに際し、3
次式で近似したときの第2図のデータの較正結果を、第
3図に○印で示す。この結果によれば、上記次数を選定
することにより、目的に応じた近似を与え得ることが分
かる。
きるステージに乗せて、5度きざみに回転したときの2
つのミラーの出力値は、第2図のようになった。同図
は、眼を5度きざみで左右に15度、上下に10度だけ動か
したとき(格子の交点に相当する)に測定された2つの
ミラーのふれ角(○印で示した)を表示したもので、そ
の測定値は滑らかに変化する関数ではあるが、とても一
次式で表現できるような関係にはならず、非線形の関係
を持っている。この非線形性は、例えば、レンズの収差
や、電気系統の各種特性等の多数のパラメータに影響さ
れて生じたものである。そこで、 ai:模型眼の水平方向の回転角、 bi:模型眼の上下方向の回転角、 xi:ミラーXの回転角、 yi:ミラーYの回転角、 と定義して、 と表現し、n=35(左右±15゜、上下±10゜、5度きざ
みにデータをとる。)とし、1,2,3,4,5次の多項式で表
現したときの二乗誤差の和を求めたが、その値は、第1
表のように、次数を増加させるに従い単調減少し、次数
を上げる毎に良い近似を与えている。一例として、
(5)式を用いて35個のデータから較正するに際し、3
次式で近似したときの第2図のデータの較正結果を、第
3図に○印で示す。この結果によれば、上記次数を選定
することにより、目的に応じた近似を与え得ることが分
かる。
第1図は本発明に係る多変数多項式型測定値較正器の回
路構成図、第2図は模型眼を5度きざみで動かしたとき
に測定された2つのミラーのふれ角に関する説明図、第
3図は第2図のデータの(5)式による較正結果を示す
説明図である。
路構成図、第2図は模型眼を5度きざみで動かしたとき
に測定された2つのミラーのふれ角に関する説明図、第
3図は第2図のデータの(5)式による較正結果を示す
説明図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 飯田 健夫 茨城県筑波郡谷田部町東1丁目1番4号 工業技術院製品科学研究所内 (56)参考文献 特開 昭59−68620(JP,A) 特開 昭54−142470(JP,A)
Claims (1)
- 【請求項1】多数のパラメータに影響された非線形の関
係を持っているが、滑らかな変化をしているデータを、
多変数の多項式で表現して、この多項式の演算を行う演
算装置を備え、上記演算装置におけるデータ較正のため
の係数として、一般逆行列の計算法の一般化した方法、
即ち、 C=(XTX)-1XTA (但し、C:係数の行列、X:測定値の行列、A:予め知られ
ている真値の行列、T:転置行列、(*)-1:*の逆行列
を示す。) によって計算される係数を設定し、これによって測定値
の較正を行うことを特徴とする多変数多項式型測定値較
正器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61290931A JP2507875B2 (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 | 多変数多項式型測定値較正器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61290931A JP2507875B2 (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 | 多変数多項式型測定値較正器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63142215A JPS63142215A (ja) | 1988-06-14 |
JP2507875B2 true JP2507875B2 (ja) | 1996-06-19 |
Family
ID=17762360
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61290931A Expired - Lifetime JP2507875B2 (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 | 多変数多項式型測定値較正器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2507875B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2530606Y2 (ja) * | 1989-07-01 | 1997-03-26 | 株式会社 堀場製作所 | リニアライザー |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54142470A (en) * | 1978-04-27 | 1979-11-06 | Tohoku Electric Power Co | Forecast monitor |
JPS5968620A (ja) * | 1982-10-13 | 1984-04-18 | Toshiba Corp | 測定値補正装置 |
-
1986
- 1986-12-05 JP JP61290931A patent/JP2507875B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63142215A (ja) | 1988-06-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
EXPY | Cancellation because of completion of term |