JP2505039Y2 - キ―スイッチ打鍵試験装置 - Google Patents

キ―スイッチ打鍵試験装置

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JP2505039Y2
JP2505039Y2 JP3124890U JP3124890U JP2505039Y2 JP 2505039 Y2 JP2505039 Y2 JP 2505039Y2 JP 3124890 U JP3124890 U JP 3124890U JP 3124890 U JP3124890 U JP 3124890U JP 2505039 Y2 JP2505039 Y2 JP 2505039Y2
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JP
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unit
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chattering
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signal
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義和 咲川
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案はキースイッチ打鍵試験装置に関し、特にキー
スイッチを打鍵したときのチャタリング時間と、接点接
触抵抗値の試験を行なうキースイッチ打鍵試験装置に関
する。
〔従来の技術〕
従来、この種のキースイッチ打鍵試験装置は、キース
イッチを打鍵したときのチャタリング時間，接点接触抵
抗値を測定するときは、チャタリング測定装置，接点接
触抵抗測定装置を用いて人間の手の打鍵により試験を実
施していた。
〔考案が解決しようとする課題〕
上述した従来のキースイッチ試験装置は、チャタリン
グ測定装置と接点接触抵抗測定装置とを用いて試験を実
施しているので同一項目の試験しか行なえず、また人間
の手の打鍵であるため、試験時間が長くなるという欠点
がある。
本考案は複数の試験項目を同時に実施できる様にし、
また試験時間の短縮をはかることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕 本考案のキースイッチ打鍵試験装置は、キースイッチ
を打鍵するソレノイド部と、このソレノイド部の駆動を
制御する制御部と、前記キースイッチの信号からチャタ
リング時間を測定するチャタリング測定部と、前記キー
スイッチの信号から接点接触抵抗値を測定する接点接触
抵抗測定部と、打鍵繰り返し回数を設定する操作パネル
部と、前記チャタリング測定部と接点接触抵抗測定部と
を切替えるコントローラ部とを有している。
〔実施例〕
次に、本考案の実施例について図面を参照して説明す
る。
第１図（ａ），（ｂ）はそれぞれ本考案の一実施例を
示す斜視図及びブロック図である。
本実施例は、測定部本体１と、測定部本体１に取付け
られた操作パネル部３と、キースイッチを打鍵するソレ
ノイド部６と、キースイッチを実装する実装部７と、キ
ースイッチの実装部７とソレノイド部６を取付けた打鍵
部本体２と、測定部本体１と打鍵部本体２とを接続する
ケーブル４と、電源（図示せず）よりAC100Vの供給を受
ける為のコード５とからその主要部が構成されている。
測定部本体１と打鍵部本体２には、第１図（ｂ）に示
す様な回路が設けられている。
キースイッチ打鍵試験装置全体を制御するコントロー
ラ部11と、キースイッチの信号を送出するキースイッチ
信号部12と、コントローラ部11へ打鍵繰り返し回数を指
示する打鍵指示パネル部14と、コントローラ部11からの
指示により、ソレノイド部６の駆動を制御するソレノイ
ド部13と、キースイッチ信号部12より送出された信号よ
り、チャタリング時間を測定するチャタリング測定部1G
と、キースイッチ信号部12より送出された信号より接点
接触抵抗値を測定する接点接触抵抗測定部17と、コント
ローラ部11よりの指示でチャタリング測定部16と接点接
触抵抗測定部17とを切替える切替回路15とからその主要
部が構成されている。
次に、このように構成された本実施例の動作について
説明する。
まず、操作パネル部３の打鍵繰り返し回数を設定する
と、打鍵指示パネル部14よりコントローラ部11に打鍵繰
り返し回数が出力される。
次に、キースイッチを実装部７に実装しソレノイド部
６の打鍵位置にセットすると、コントローラ部11よりソ
レノイド駆動部13に打鍵開始の指示と打鍵繰り返し回数
の指示を出す。
指示を受けたソレノイド駆動部13は、指示された打鍵
繰り返し回数ソレノイド部６を駆動させる。
ソレノイド部６を駆動させると、実装部７に実装した
キースイッチよりキースイッチ信号部12にキースイッチ
のオン，オフ信号が送出される。
キースイッチのオン，オフ信号を受けたキースイッチ
信号部12は、信号を切替回路15に送出する。切替回路15
はコントローラ部11の指示によりチャタリング測定部16
へ信号を送出しチャタリング時間を測定する。
その後、コントローラ部11は、切替回路15に信号の送
出先を接点接触抵抗測定部17に切替指示を出し、接点接
触抵抗値の測定を行なう。その結果はコントローラ部11
へ出力される。
〔考案の効果〕
以上説明したように本考案は、ソレノイド部と、チャ
タリング測定部と、接点接触抵抗測定部と、チャタリン
グ測定部と接点接触抵抗値とを同時にソレノイド打鍵に
て測定でき、かつ試験時間を短縮することができる効果
がある。
【図面の簡単な説明】
第１図（ａ），（ｂ）はそれぞれ本考案の一実施例を示
す斜視図及びブロック図である。 １……測定部本体、２……打鍵部本体、３……操作パネ
ル部、４……ケーブル、５……コード、６……ソレノイ
ド部、７……実装部、11……コントローラ部、12……キ
ースイッチ信号部、13……ソレノイド駆動部、14……打
鍵指示パネル部、15……切替回路、16……チャタリング
測定部、17……接点接触抵抗測定部。

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】キースイッチを打鍵するソレノイド部と、
    このソレノイド部の駆動を制御する制御部と、前記キー
    スイッチの信号からチャタリング時間を測定するチャタ
    リング測定部と、前記キースイッチの信号から接点接触
    抵抗値を測定する接点接触抵抗測定部と、打鍵繰り返し
    回数を設定する操作パネル部と、前記チャタリング測定
    部と接点接触抵抗測定部とを切替えるコントローラ部と
    を有するキースイッチ打鍵試験装置。
JP3124890U 1990-03-27 1990-03-27 キ―スイッチ打鍵試験装置 Expired - Lifetime JP2505039Y2 (ja)

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JPH03121436U JPH03121436U (ja) 1991-12-12
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