JP2500594B2 - 光変調度制御回路 - Google Patents
光変調度制御回路Info
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- JP2500594B2 JP2500594B2 JP5125450A JP12545093A JP2500594B2 JP 2500594 B2 JP2500594 B2 JP 2500594B2 JP 5125450 A JP5125450 A JP 5125450A JP 12545093 A JP12545093 A JP 12545093A JP 2500594 B2 JP2500594 B2 JP 2500594B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は複数のサブキャリア信号
を周波数分割多重（以下、ＦＤＭ多重と称する）した信
号を光伝送するシステムに関し、特にサブキャリア数が
時間的に変動する場合に最適な光変調度を与える光変調
度制御回路に関する。
を周波数分割多重（以下、ＦＤＭ多重と称する）した信
号を光伝送するシステムに関し、特にサブキャリア数が
時間的に変動する場合に最適な光変調度を与える光変調
度制御回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ＦＤＭ多重を採用した光伝送シス
テムに適用される光送信装置、特に光変調装置において
は、光信号がクリップされないように、多重されるサブ
キャリア信号の最大伝送キャリア数を見込んだ光変調度
を設定し、光変調度を一定とする方式がとられることが
多い。一方、この光信号を受信する受信部におけるＣ／
Ｎは、光変調度が大きいほど高くなる。しかし、光変調
度を大きくし過ぎると、光信号がクリップされ受信信号
に歪み雑音の劣化を生じることがある。
テムに適用される光送信装置、特に光変調装置において
は、光信号がクリップされないように、多重されるサブ
キャリア信号の最大伝送キャリア数を見込んだ光変調度
を設定し、光変調度を一定とする方式がとられることが
多い。一方、この光信号を受信する受信部におけるＣ／
Ｎは、光変調度が大きいほど高くなる。しかし、光変調
度を大きくし過ぎると、光信号がクリップされ受信信号
に歪み雑音の劣化を生じることがある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来の方
式では、クリップを防止するために多重されたサブキャ
リアの最大伝送キャリア数に対応した光変調度に設定し
ているため、多重されるサブキャリア数に依らず光変調
度が一定となり、サブキャリア数がその最大多重数より
少ない場合においては、光変調度を大きくする余裕があ
るのにもかかわらずこれを大きくすることができず、光
受信部において最大のＣ／Ｎを得ることができないもの
となる。一方、サブキャリアの最大多重数を無視してそ
の平均多重数等により光変調度を設定したりすると、多
重数がこの見込んだ最大値より多くなった場合には、光
変調度が過度となり光信号がクリップされ受信信号に歪
み雑音の劣化を生じることがある。本発明の目的は、多
重されるサブキャリア数の変化に応じて光変調度を変化
させることで、光受信部におけるＣ／Ｎを改善し、かつ
一方では光信号のクリップを防止する光変調度制御回路
を提供することにある。
式では、クリップを防止するために多重されたサブキャ
リアの最大伝送キャリア数に対応した光変調度に設定し
ているため、多重されるサブキャリア数に依らず光変調
度が一定となり、サブキャリア数がその最大多重数より
少ない場合においては、光変調度を大きくする余裕があ
るのにもかかわらずこれを大きくすることができず、光
受信部において最大のＣ／Ｎを得ることができないもの
となる。一方、サブキャリアの最大多重数を無視してそ
の平均多重数等により光変調度を設定したりすると、多
重数がこの見込んだ最大値より多くなった場合には、光
変調度が過度となり光信号がクリップされ受信信号に歪
み雑音の劣化を生じることがある。本発明の目的は、多
重されるサブキャリア数の変化に応じて光変調度を変化
させることで、光受信部におけるＣ／Ｎを改善し、かつ
一方では光信号のクリップを防止する光変調度制御回路
を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の光変調度制御回
路は、複数のサブキャリアをＦＤＭ多重化した信号をそ
の周波数範囲内で掃引してＩＦ信号に変換し、かつ変換
された各サブキャリアのＩＦ信号のレベルを検出する検
波回路部と、この検波回路部の出力に基づいてサブキャ
リアの数を計数する計数回路部と、計数されたサブキャ
リアの数に対応する電圧を出力し、この電圧に基づいて
ＦＤＭ多重化信号の変調レベルを制御する電圧発生部と
を備える。ここで、検波回路部は、ＦＤＭ多重化信号を
その周波数範囲内で掃引する周波数スイーパと、ＦＤＭ
多重化信号をこの周波数スイーパの掃引周波数で周波数
変換してＩＦ信号を得るミキサと、周波数変換されたＩ
Ｆ信号を検波する検波器とを備え、また計数回路部は検
波出力をリファレンス電圧と比較して比較結果を出力す
る比較器と、比較器の出力を計数してサブキャリア数と
して出力する計数器とを備え、更に電圧発生部は、異な
るサブキャリア数のそれぞれに最適な電圧データを記憶
するＲＯＭと、計数器で計数されたサブキャリア数に対
応した電圧データをＲＯＭから読み出してその電圧を出
力する電圧発生器とを備える。例えば、ＦＤＭ多重化さ
れた信号レベルを減衰器において制御し、この制御され
た信号レベルを発光手段の変調信号とする光変調装置に
おいては、電圧発生部で発生された電圧を減衰器の制御
電圧として光変調を行うように構成する。
路は、複数のサブキャリアをＦＤＭ多重化した信号をそ
の周波数範囲内で掃引してＩＦ信号に変換し、かつ変換
された各サブキャリアのＩＦ信号のレベルを検出する検
波回路部と、この検波回路部の出力に基づいてサブキャ
リアの数を計数する計数回路部と、計数されたサブキャ
リアの数に対応する電圧を出力し、この電圧に基づいて
ＦＤＭ多重化信号の変調レベルを制御する電圧発生部と
を備える。ここで、検波回路部は、ＦＤＭ多重化信号を
その周波数範囲内で掃引する周波数スイーパと、ＦＤＭ
多重化信号をこの周波数スイーパの掃引周波数で周波数
変換してＩＦ信号を得るミキサと、周波数変換されたＩ
Ｆ信号を検波する検波器とを備え、また計数回路部は検
波出力をリファレンス電圧と比較して比較結果を出力す
る比較器と、比較器の出力を計数してサブキャリア数と
して出力する計数器とを備え、更に電圧発生部は、異な
るサブキャリア数のそれぞれに最適な電圧データを記憶
するＲＯＭと、計数器で計数されたサブキャリア数に対
応した電圧データをＲＯＭから読み出してその電圧を出
力する電圧発生器とを備える。例えば、ＦＤＭ多重化さ
れた信号レベルを減衰器において制御し、この制御され
た信号レベルを発光手段の変調信号とする光変調装置に
おいては、電圧発生部で発生された電圧を減衰器の制御
電圧として光変調を行うように構成する。
【０００５】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図１は本発明の一実施例のブロック図であり、光変
調器としてレーザダイオードＬＤを用い、このレーザダ
イオードＬＤのバイアス電圧を光信号に応じて変化制御
する光変調回路に適用した例を示している。即ち、ＦＤ
Ｍ多重される複数のサブキャリアＳＣ１〜ＳＣｎはＦＤ
Ｍ多重部１でＦＤＭ多重され、このＦＤＭ多重化信号は
ハイブリッドで構成される分岐部２を通り、減衰器３に
おいて光変調度に応じたレベルに制御され、直流カット
コンデンサＣを経て変調信号としてレーザダイオードＬ
Ｄに供給される。レーザダイオードＬＤには抵抗Ｒを介
してバイアスが印加されている。光変調度制御回路４
は、前記分岐部２で分岐されたＦＤＭ多重化信号を処理
して前記減衰器３の減衰量を制御する回路として構成さ
れる。即ち、ＦＤＭ多重化信号を検波する検波回路部５
と、サブキャリアの数を計数する計数回路部６と、計数
されたサブキャリア数に応じて減衰器３の制御電圧を発
生させる電圧発生部７とで構成される。
る。図１は本発明の一実施例のブロック図であり、光変
調器としてレーザダイオードＬＤを用い、このレーザダ
イオードＬＤのバイアス電圧を光信号に応じて変化制御
する光変調回路に適用した例を示している。即ち、ＦＤ
Ｍ多重される複数のサブキャリアＳＣ１〜ＳＣｎはＦＤ
Ｍ多重部１でＦＤＭ多重され、このＦＤＭ多重化信号は
ハイブリッドで構成される分岐部２を通り、減衰器３に
おいて光変調度に応じたレベルに制御され、直流カット
コンデンサＣを経て変調信号としてレーザダイオードＬ
Ｄに供給される。レーザダイオードＬＤには抵抗Ｒを介
してバイアスが印加されている。光変調度制御回路４
は、前記分岐部２で分岐されたＦＤＭ多重化信号を処理
して前記減衰器３の減衰量を制御する回路として構成さ
れる。即ち、ＦＤＭ多重化信号を検波する検波回路部５
と、サブキャリアの数を計数する計数回路部６と、計数
されたサブキャリア数に応じて減衰器３の制御電圧を発
生させる電圧発生部７とで構成される。
【０００６】前記検波回路部５は、ＦＤＭ多重されたサ
ブキャリアの周波数範囲にわたって、しかもサブキャリ
アの周波数に対応したステップで不連続に周波数掃引す
る周波数スイーパ５１と、分岐部２で分岐されたＦＤＭ
多重化信号と周波数スイーパ５１からの周波数信号とを
混合して所定のＩＦ周波数に周波数変換するミキサ５２
と、このミキサ５２の出力のうち所定周波数帯域外の雑
音を除去する帯域通過フィルタ５３と、所定帯域のＩＦ
信号を検波する検波器５４とで構成される。前記計数回
路部６は、検波されたサブキャリアのＩＦ信号の出力を
リファレンス電圧Ｖｒと比較し、サブキャリア出力がリ
ファレンス電圧Ｖｒよりも高い場合に信号を出力する比
較器６１と、この比較器６１から出力される信号を計数
することで、所定レベル以上のサブキャリア数を計数す
る計数器６２とで構成される。前記電圧発生部７は、サ
ブキャリア数に対応して前記減衰器３がＦＤＭ多重化信
号に対して好適なレベル制御を行うために、減衰器３の
減衰量を制御するために好適な電圧のデータを記憶する
ＲＯＭ７１と、このＲＯＭ７１から読み出されたデータ
に対応する電圧を発生し、その電圧を前記減衰器３の制
御端に入力させる電圧発生器７２とで構成される。
ブキャリアの周波数範囲にわたって、しかもサブキャリ
アの周波数に対応したステップで不連続に周波数掃引す
る周波数スイーパ５１と、分岐部２で分岐されたＦＤＭ
多重化信号と周波数スイーパ５１からの周波数信号とを
混合して所定のＩＦ周波数に周波数変換するミキサ５２
と、このミキサ５２の出力のうち所定周波数帯域外の雑
音を除去する帯域通過フィルタ５３と、所定帯域のＩＦ
信号を検波する検波器５４とで構成される。前記計数回
路部６は、検波されたサブキャリアのＩＦ信号の出力を
リファレンス電圧Ｖｒと比較し、サブキャリア出力がリ
ファレンス電圧Ｖｒよりも高い場合に信号を出力する比
較器６１と、この比較器６１から出力される信号を計数
することで、所定レベル以上のサブキャリア数を計数す
る計数器６２とで構成される。前記電圧発生部７は、サ
ブキャリア数に対応して前記減衰器３がＦＤＭ多重化信
号に対して好適なレベル制御を行うために、減衰器３の
減衰量を制御するために好適な電圧のデータを記憶する
ＲＯＭ７１と、このＲＯＭ７１から読み出されたデータ
に対応する電圧を発生し、その電圧を前記減衰器３の制
御端に入力させる電圧発生器７２とで構成される。
【０００７】この構成の光変調度制御回路の動作を図２
及び図３を参照して説明する。図２において、ＦＤＭ多
重化部１で多重化された最大多重数ｎのサブキャリアの
ＦＤＭ多重化信号（ａ）の一部が分岐部２において分岐
され、ミキサ５２に入力される。一方、周波数スイーパ
５１は、サブキャリアの周波数に対応したステップで不
連続に掃引を行い、この掃引周波数信号（ｂ）をミキサ
５２に入力する。ミキサ５２ではＦＤＭ多重化信号と掃
引周波数信号を混合し、所定の周波数のＩＦ信号（ｃ）
に変換して出力する。このＩＦ信号は帯域通過フィルタ
５３で周波数雑音が除去され、更に検波器５４で検波さ
れることで、各サブキャリアに対応した信号レベルの電
圧として出力される。
及び図３を参照して説明する。図２において、ＦＤＭ多
重化部１で多重化された最大多重数ｎのサブキャリアの
ＦＤＭ多重化信号（ａ）の一部が分岐部２において分岐
され、ミキサ５２に入力される。一方、周波数スイーパ
５１は、サブキャリアの周波数に対応したステップで不
連続に掃引を行い、この掃引周波数信号（ｂ）をミキサ
５２に入力する。ミキサ５２ではＦＤＭ多重化信号と掃
引周波数信号を混合し、所定の周波数のＩＦ信号（ｃ）
に変換して出力する。このＩＦ信号は帯域通過フィルタ
５３で周波数雑音が除去され、更に検波器５４で検波さ
れることで、各サブキャリアに対応した信号レベルの電
圧として出力される。
【０００８】この検波出力（ｄ）は、比較器６１におい
てリファレンス電圧Ｖｒと比較される。ここでは、比較
器６１は、検波出力がリファレンス電圧Ｖｒより高い場
合は“Ｈ”レベルのパルス（ｅ）を出力し、逆に検波出
力がリファレンス電圧Ｖｒより低い場合には“Ｌ”レベ
ルのままである。これにより、前段の帯域通過フィルタ
５３で除去されない帯域内の雑音を除去することができ
る。そして計数器６２は、前記周波数スイーパの掃引周
期（１回の掃引時間）内における比較器６１からの
“Ｈ”レベルのパルス（ｅ）の数を計数する。この計数
器６２で計数されたパルスの数が入力信号に多重されて
いるサブキャリア数に相当する。
てリファレンス電圧Ｖｒと比較される。ここでは、比較
器６１は、検波出力がリファレンス電圧Ｖｒより高い場
合は“Ｈ”レベルのパルス（ｅ）を出力し、逆に検波出
力がリファレンス電圧Ｖｒより低い場合には“Ｌ”レベ
ルのままである。これにより、前段の帯域通過フィルタ
５３で除去されない帯域内の雑音を除去することができ
る。そして計数器６２は、前記周波数スイーパの掃引周
期（１回の掃引時間）内における比較器６１からの
“Ｈ”レベルのパルス（ｅ）の数を計数する。この計数
器６２で計数されたパルスの数が入力信号に多重されて
いるサブキャリア数に相当する。
【０００９】次いで、電圧発生部７では、計数回路部６
の出力に対して減衰器３を制御する制御電圧を発生させ
る。この時、ＲＯＭ７１には、受信部において最大のＣ
／Ｎが得られるような光変調度を実現するように、前記
減衰器３を制御するための電圧をそれぞれ異なるサブキ
ャリア数の毎に決定し、これを記憶している。したがっ
て、計数回路部６の出力から得られるサブキャリアの数
に対応する電圧データをＲＯＭ７１から読み出し、この
データに基づいて電圧発生器７２で対応する電圧を発生
させる。図３はサブキャリアの数と発生電圧との関係を
示す図である。
の出力に対して減衰器３を制御する制御電圧を発生させ
る。この時、ＲＯＭ７１には、受信部において最大のＣ
／Ｎが得られるような光変調度を実現するように、前記
減衰器３を制御するための電圧をそれぞれ異なるサブキ
ャリア数の毎に決定し、これを記憶している。したがっ
て、計数回路部６の出力から得られるサブキャリアの数
に対応する電圧データをＲＯＭ７１から読み出し、この
データに基づいて電圧発生器７２で対応する電圧を発生
させる。図３はサブキャリアの数と発生電圧との関係を
示す図である。
【００１０】したがって、ＦＤＭ多重化されたサブキャ
リアの数が経時的に変化される場合でも、検波回路部５
及び計数回路部６の作用によってその時々のサブキャリ
アの数が検出でき、このサブキャリアの数に対応する電
圧が電圧発生部７から発生されることになる。このた
め、この電圧によって制御される減衰器３の減衰量はサ
ブキャリアの数の変化に追従して変化され、レーザダイ
オードＬＤに印加される変調信号もこれと共に変化さ
れ、サブキャリア数の相違に応じて、最大のＣ／Ｎが得
られる一方でクリップが生じない光変調度での変調が実
現されることになる。
リアの数が経時的に変化される場合でも、検波回路部５
及び計数回路部６の作用によってその時々のサブキャリ
アの数が検出でき、このサブキャリアの数に対応する電
圧が電圧発生部７から発生されることになる。このた
め、この電圧によって制御される減衰器３の減衰量はサ
ブキャリアの数の変化に追従して変化され、レーザダイ
オードＬＤに印加される変調信号もこれと共に変化さ
れ、サブキャリア数の相違に応じて、最大のＣ／Ｎが得
られる一方でクリップが生じない光変調度での変調が実
現されることになる。
【００１１】ここで、前記実施例では電圧発生部の出力
で減衰器を制御して光変調度を制御しているが、電圧発
生部の出力をそのまま変調信号に利用するように構成し
てもよい。また、前記実施例ではレーザダイオードを用
いた光変調装置の例であるが、他の構成の光変調装置に
おける変調信号を得る場合にも本発明を適用することが
できる。更に、電圧発生部にＲＯＭを使用しているが、
これは演算回路で構成してもよい。但し、ＲＯＭを用い
ることで、予め減衰器の制御電圧を任意に設定しておく
ことが可能であり、サブキャリア数と制御電圧が非線形
な関係をもつ場合にも、容易に対応できる。或いは、サ
ブキャリアの最大多重数を変更する等のシステムの拡張
にも容易に対応できる。
で減衰器を制御して光変調度を制御しているが、電圧発
生部の出力をそのまま変調信号に利用するように構成し
てもよい。また、前記実施例ではレーザダイオードを用
いた光変調装置の例であるが、他の構成の光変調装置に
おける変調信号を得る場合にも本発明を適用することが
できる。更に、電圧発生部にＲＯＭを使用しているが、
これは演算回路で構成してもよい。但し、ＲＯＭを用い
ることで、予め減衰器の制御電圧を任意に設定しておく
ことが可能であり、サブキャリア数と制御電圧が非線形
な関係をもつ場合にも、容易に対応できる。或いは、サ
ブキャリアの最大多重数を変更する等のシステムの拡張
にも容易に対応できる。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ＦＤＭ多
重化した信号からサブキャリアを検出してその数を計数
し、かつ計数されたサブキャリアの数に対応する電圧を
出力してＦＤＭ多重化信号の変調レベルを制御するの
で、ＦＤＭ多重化信号に多重化されるサブキャリアの数
に対応した光変調度での変調を行うことができ、サブキ
ャリア数が比較的短時間に変動する場合においても、受
信部において最大のＣ／Ｎが得られ、かつ一方ではクリ
ップが生じることがない好適な光変調度に制御すること
ができる効果がある。例えば、ＦＤＭ多重化された信号
レベルを減衰器において制御し、この制御された信号レ
ベルを発光手段の変調信号とする光変調装置において
は、電圧発生部で発生された電圧を減衰器の制御電圧と
して用いることにより、発光手段に供給する変調信号の
レベルをサブキャリアの数に応じて変化制御することが
でき、光変調度を好適に制御することができる。
重化した信号からサブキャリアを検出してその数を計数
し、かつ計数されたサブキャリアの数に対応する電圧を
出力してＦＤＭ多重化信号の変調レベルを制御するの
で、ＦＤＭ多重化信号に多重化されるサブキャリアの数
に対応した光変調度での変調を行うことができ、サブキ
ャリア数が比較的短時間に変動する場合においても、受
信部において最大のＣ／Ｎが得られ、かつ一方ではクリ
ップが生じることがない好適な光変調度に制御すること
ができる効果がある。例えば、ＦＤＭ多重化された信号
レベルを減衰器において制御し、この制御された信号レ
ベルを発光手段の変調信号とする光変調装置において
は、電圧発生部で発生された電圧を減衰器の制御電圧と
して用いることにより、発光手段に供給する変調信号の
レベルをサブキャリアの数に応じて変化制御することが
でき、光変調度を好適に制御することができる。
【図１】本発明の光変調度制御回路の一実施例のブロッ
ク回路図である。
ク回路図である。
【図２】図１の回路におけるタイミング図である。
【図３】サブキャリア数と制御電圧との関係を示す図で
ある。
ある。
１ ＦＤＭ多重部 ２ 分岐部 ３ 減衰器 ４ 光変調度制御回路 ５ 検波回路部 ６ 計数回路部 ７ 電圧発生部 ＬＤ レーザダイオード
Claims (3)
- 【請求項１】 複数のサブキャリアを周波数分割多重化
した信号で光変調を行う光変調装置において、前記多重
化信号をその周波数範囲内で掃引してＩＦ信号に変換
し、かつ変換された各サブキャリアのＩＦ信号のレベル
を検出する検波回路部と、この検波回路部の出力に基づ
いて前記サブキャリアの数を計数する計数回路部と、計
数されたサブキャリアの数に対応する電圧を出力し、こ
の電圧に基づいて前記多重化信号の変調レベルを制御す
る電圧発生部とを備えることを特徴とする光変調度制御
回路。 - 【請求項２】 検波回路部は、複数のサブキャリアを周
波数分割多重化した信号をその周波数範囲内で掃引する
周波数スイーパと、前記多重化信号をこの周波数スイー
パの掃引周波数で周波数変換してＩＦ信号を得るミキサ
と、周波数変換されたＩＦ信号を検波する検波器とを備
え、前記計数回路部は検波出力をリファレンス電圧と比
較して比較結果を出力する比較器と、比較器の出力を計
数してサブキャリア数として出力する計数器とを備え、
前記電圧発生部は、異なるサブキャリア数のそれぞれに
最適な電圧データを記憶するＲＯＭと、前記計数器で計
数されたサブキャリア数に対応した電圧データを前記Ｒ
ＯＭから読み出してその電圧を出力する電圧発生器とを
備える請求項１の光変調度制御回路。 - 【請求項３】 周波数分割多重化された信号レベルを減
衰器において制御し、この制御された信号レベルを発光
手段の変調信号とする光変調装置において、電圧発生部
で発生された電圧を前記減衰器の制御電圧とする請求項
１又は２の光変調度制御回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5125450A JP2500594B2 (ja) | 1993-04-28 | 1993-04-28 | 光変調度制御回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5125450A JP2500594B2 (ja) | 1993-04-28 | 1993-04-28 | 光変調度制御回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06314834A JPH06314834A (ja) | 1994-11-08 |
| JP2500594B2 true JP2500594B2 (ja) | 1996-05-29 |
Family
ID=14910392
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5125450A Expired - Lifetime JP2500594B2 (ja) | 1993-04-28 | 1993-04-28 | 光変調度制御回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2500594B2 (ja) |
-
1993
- 1993-04-28 JP JP5125450A patent/JP2500594B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06314834A (ja) | 1994-11-08 |
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