JP2024511228A - ハイブリッド制御によるスロットダイ調整 - Google Patents

Abstract

スロットダイの調整に関連する方法及びシステムが提供される。スロットダイは、スロットダイの幅にわたって延びるアプリケータスロットであって、スロットダイを通る流体流路と流体連通している、アプリケータスロットと、スロットダイ表面を含む調整機構と、スロットダイの幅に沿って離間した複数の１次アクチュエータと、を含む。各１次アクチュエータは、１つ以上の２次アクチュエータに動作可能に結合され、各２次アクチュエータは、調整機構に動作可能に結合されて、その対応する場所での流体流路の断面高さを調整して、アプリケータスロットを通る流体流の局所的な調整を提供する。本方法は、目標スロット高さプロファイルを決定することと、次いで、コントローラを用いて、目標スロット高さプロファイルに基づいて、１次アクチュエータ設定のセット及び２次アクチュエータ設定のセットを予測することと、を含む。次いで、１次アクチュエータ設定及び２次アクチュエータ設定の予測されたセットに従って、１次アクチュエータ及び２次アクチュエータの各々が別々に位置決めされてスロットダイが調整される。

Description

製品の連続製造に有用なスロットダイが、関連するアセンブリ、システム、及びその方法と共に提供される。

工業製造業者は、一般に、ポリマー処理のためにスロットダイを使用する。スロットダイは、コーティングのために使用することができ、この場合、バッキング又は剥離ライナーなどの移動する可撓性基材上に液体材料が押し出される。液体材料は、ポリマー溶融物又は反応性モノマー混合物であり得る。材料が基材上に塗布される場合、このプロセスは一般に押出コーティングと呼ばれる。他の場合には、押し出された材料は、バッキングを必要とせずに、直接、自立型フィルムを形成することができる。

スロットダイ押出しが行われる方法には多くの変形形態がある。一例として、コーティング材料は、周囲温度又は高温であり得る。供給原料材料が処理のために溶融又は液化されることを確実にするためにコーティング材料の温度が上昇される場合、これは、しばしばホットメルトコーティングと呼ばれる。押出物は溶媒希釈剤を含むことができる。溶媒は、水、有機溶媒、又はコーティングの成分を溶解若しくは分散させる任意の好適な流体であってもよい。溶媒は、典型的には、乾燥によってなど、後続の処理において除去される。コーティングは、単一又は複数の層を含むことができ、いくつかのスロットダイを使用して、複数の層を同時に塗布することができる。コーティングは、ダイの幅にわたる連続コーティングであってもよく、又は代わりに、ストリップを形成することを含んでもよく、各ストリップは、ダイの幅の一部分のみにわたって延び、隣接するストリップから分離されている。

一般に、スロットダイは、アプリケータスロットを形成する一対の対向するダイリップを含む。アプリケータスロットの幅は、移動ウェブの幅、又はフィルムなどの押出製品を受け取るローラの幅にわたって延びることができる。本明細書で使用される場合、スロットダイ及びスロットダイの構成要素に関して、「幅」は、スロットダイ及びその構成要素のクロスウェブ寸法を指す。押出ウェブの厚さは、一般に、一方又は両方のダイリップの形状を変えることにより、又はダイリップから上流に位置するチョーカーバーを調整することにより調整される。

フィルム押出ダイ又は押出コーティングダイ上でのクロスウェブプロファイルを調整する技術は、一般に、２つの方法のうちの１つを含む。第１に、ダイリップ又はチョーカーバーは、ダイリップ又はチョーカーバーの形状に僅かな調整を行うために、ねじ機構を使用する差動ボルトを使用して手動で調整することができる。第２に、ダイリップ又はチョーカーバーは、熱アシストボルトを使用して調整することができ、これは、温度と共に長さが変化することができ、ダイリップ又はチョーカーと係合して更に微細な調整を行うことができる。これらプロセスの一部は、同時係属中の
国際特許出願第ＰＣＴ／ＩＢ２０２０／０６１６８５号（Ｙａｐｅｌら）、同第ＰＣＴ／ＩＢ２０２０／０６１６８７号（Ｙａｐｅｌら）、及び同第ＰＣＴ／ＩＢ２０２０／０６１６８８号（Ｓｅｃｏｒら）、並びに米国仮特許出願第６３／１２２，９９６号（Ｓｅｃｏｒら）に記載されており、これら全てが２０２０年１２月９日に出願された。

クロスウェブ制御空間解像度は、ダイの制御において特に懸念材料である。ダイスロットの空間分解能は、押出ウェブ厚さに対する制御の分解能を限定し、クロスウェブ変動性を最小限に抑える。これは、光学グレードフィルムに使用されるような幅出しフィルム作業において特に懸念材料である。幅出しフィルム作業において、フィルムは押し出され、次いで横方向に延伸され、これが、延伸係数によってダイの解像度に影響を与える。フィルムが横方向に６倍に延伸される場合、ダイ上の１センチメートルのアクチュエータ／ボルト間隔は、最終フィルムの幅を６センチメートルにのみ制御できるだけである。横方向延伸は、フィルムの押出（すなわち、キャスティング）、長さ方向配向、横方向配向、及び／又は複合二軸延伸を含む、一連の工程における別々のプロセス工程であり得る。

有利なことに、提供される方法は、２つの異なるアクチュエータの移動を調整して、クロスウェブ空間分解能の実質的な向上を可能にする、ハイブリッド制御プロセスを使用する。いくつかの実施形態では、これらハイブリッド制御は、幅出しフィルムプロセスにおける、既存の計測及びダイへの再マッピングの使用を可能にする。好都合には、製造ラインに既に構成されている既存の計測システムを使用しながら、ダイを動作させるために、ハイブリッド制御を使用することができる。全体として、これらの改善されたシステム及び方法が、ダイスロットのより高い精度、一貫性、及び知識を付加する。

第１の態様では、スロットダイを調整する方法が提供される。スロットダイは、スロットダイの幅にわたって延びるアプリケータスロットであって、スロットダイを通る流体流路と流体連通している、アプリケータスロットと、スロットダイ表面を含む調整機構と、スロットダイの幅に沿って離間した複数の１次アクチュエータであって、各１次アクチュエータは、１つ以上の２次アクチュエータに動作可能に結合され、各２次アクチュエータは、調整機構に動作可能に結合されて、その対応する場所での流体流路の断面高さを調整して、アプリケータスロットを通る流体流の局所的な調整を提供する、複数の１次アクチュエータと、を備える。本方法は、目標スロット高さプロファイルを決定することと、コントローラを用いて、目標スロット高さプロファイルに基づいて１次アクチュエータ設定のセット及び２次アクチュエータ設定のセットを予測することと、１次アクチュエータ設定と２次アクチュエータ設定の予測されたセットに従って、１次アクチュエータ及び２次アクチュエータの各々を別々に位置決めしてスロットダイを調整することと、を含む。

第２の態様では、スロットダイを備えるシステムが提供され、スロットダイは、スロットダイの幅にわたって延びるアプリケータスロットであって、スロットダイを通る流体流路と流体連通している、アプリケータスロットと、アプリケータスロットを通る流体流路の断面高さを調整するためのスロットダイ表面を備える調整機構と、スロットダイ表面の幅に沿って離間した複数の１次アクチュエータであって、各１次アクチュエータは、１つ以上の２次アクチュエータに動作可能に結合され、各２次アクチュエータは、調整機構に動作可能に結合されて、その対応する場所での流体流路の断面高さを調整して、アプリケータスロットを通る流体流の局所的な調整を提供する、複数の１次アクチュエータと、各１次アクチュエータ及び各２次アクチュエータの位置を独立して設定することが可能なコントローラと、を備える。

例示的な一実施形態による、スロットダイを組み込んだ製造ラインを示す概略図である。 図１のスロットダイの斜視図である。 所与の場所における流体流路の高さを調整するために１次及び２次アクチュエータが設けられた、図１及び図２のスロットダイの側断面図である。 図１～図３のスロットダイの２次アクチュエータの前端部を示す斜視図である。 図１～図４のスロットダイを動作させるために使用されてもよい様々な制御ループを示すブロック図である。 図１～図４のスロットダイを動作させるために使用されてもよい様々な制御ループを示すブロック図である。 図１～図４のスロットダイを動作させるために使用されてもよい様々な制御ループを示すブロック図である。 調整前及び調整後の状態にある、図１～図４のスロットダイにおける１次アクチュエータ及び２次アクチュエータの構成を示す上面図である。 調整前及び調整後の状態にある、図１～図４のスロットダイにおける１次アクチュエータ及び２次アクチュエータの構成を示す上面図である。 図１～図４のスロットダイを動作させるために使用されてもよい別の制御ループを示すブロック図である。 ２次アクチュエータのアレイに対する温度プロファイルを示すプロットと、それに隣接する、同じ２次アクチュエータに対する電力入力プロファイルを示す対比プロットである。 スロットダイを動作させる２つの異なる方法を使用して作製された押出ウェブに関するクロスウェブ厚さプロファイルの平均及び±２ｓ変動限界を示すプロットである。 スロットダイを動作させる２つの異なる方法を使用して作製された押出ウェブに関するクロスウェブ厚さプロファイルの平均及び±２ｓ変動限界を示すプロットである。

明細書及び図面中の参照文字が繰り返して使用されている場合、本開示の同じ又は類似の特徴又は要素を表すことを意図している。当業者は多くの他の修正形態及び実施形態を考案することができ、それらは本開示の原理の範囲及び趣旨に含まれることを理解されたい。図は、縮尺通りに描かれていないことがある。

本明細書で使用する場合、「好ましい」及び「好ましくは」という用語は、一定の状況下で一定の利点をもたらすことができる、本明細書に記載の実施形態を指す。ただし、他の実施形態もまた、同じ又は他の状況下で好ましい場合がある。更にまた、１つ以上の好ましい実施形態の列挙は、他の実施形態が有用でないことを示唆するものではなく、他の実施形態を本発明の範囲から除外することを意図するものでもない。

本明細書及び添付の特許請求の範囲において使用する場合、文脈上別段の明記がない限り、単数形「ａ」、「ａｎ」及び「ｔｈｅ」は複数の指示物を含むものとする。したがって、例えば、「ａ」又は「ｔｈｅ」が付いた構成要素への言及には、構成要素及び当業者に公知のその均等物のうちの１つ以上を含んでもよい。更に、「及び／又は」という用語は、列挙された要素のうちの１つ若しくは全て、又は列挙された要素のうちの任意の２つ以上の組み合わせを意味する。

「含む」という用語及びその変化形は、これらの用語が添付の記載に現れた場合、限定的意味を有しないことに注意されたい。また更に、「ａ」、「ａｎ」、「ｔｈｅ」、「少なくとも１つの」及び「１つ以上の」は、本明細書では互換的に使用される。左、右、前方、後方、上部、底部、側、上方、下方、水平、垂直などの相対語が、本明細書において使用される場合があり、その場合、特定の図面において見られる視点からのものである。しかしながら、これらの用語は、記載を簡単にするために使用されるに過ぎず、決して本発明の範囲を制限するものではない。

本明細書全体において、「一実施形態」、「特定の実施形態」、「１つ以上の実施形態」又は「ある実施形態」に対する言及は、その実施形態に関して記載される特定の特徴、構造、材料又は特性が、本発明の少なくとも１つの実施形態に含まれることを意味する。したがって、本明細書全体を通して様々な箇所にある「１つ以上の実施形態では」、「特定の実施形態では」、「一実施形態では」又は「実施形態では」などの句の出現は、必ずしも本発明の同一の実施形態に言及しているわけではない。該当する場合、商品名は、全て大文字で記載する。

図１は、例示的な一実施形態による製造プロセスラインを示し、以下では数字５０で示される。プロセスライン５０は、順番に生じる様々なポリマー処理段階を含む。これら段階は、押出機５２、スロットダイ５４、キャスティングロールアセンブリ５６、機械方向延伸機５８、横方向延伸機６０、及び巻取機６２によって、以下の順序で行われる。プロセスライン５０のこれら要素は、以下でより詳細に記載されている。

押出機５２は、一般に、加熱されたバレル内で一軸又は二軸スクリュー構成を使用し、ペレット又は粉末の形態のポリマー供給原料を受け入れることができる。この供給原料は、押出機５２によって溶融及び混合され、スロットダイ５４を通して排出されて、押出ウェブ６８が提供される。このプロセスを支援するため、溶融ポンプ又は定量ポンプを使用することができる。スロットダイ５４は、特に限定される必要はなく、例えば、フィルムスロットダイ、押出ダイ、多層スロットダイ、ホットメルト押出コーティングダイ、ドロップダイ、回転ロッドダイ、接着剤スロットダイ、溶媒コーティングスロットダイ、水性コーティングダイ、スロット供給ナイフダイ、又はナイフコータであり得る。

スロットダイ５４を出た後、ウェブ６８は、キャスティングロールアセンブリ５６内のキャスティングロール上に直接配置され、次いで機械方向延伸機５８に通され、それにより、ウェブ６８は、そのダウンウェブ方向に沿って一軸延伸される。この次元に沿って延伸された後、ウェブ６８は横方向延伸機６０を通して導かれ、そこでウェブの縁部がクランプで把持され、ウェブはそのクロスウェブ方向に沿って延伸される。ウェブ６８は、両方向に沿って所望の程度まで十分に延伸されると、図示するように、最終的に巻取機６２を介して圧密されてロールになり得る。任意選択で、フィルムがコアに巻き取られる前に、エッジトリミング工程が行われて、均一な幅のフィルムが提供される。

この例示的なプロセスでは、計測場所として知られる、ウェブ６８の厚さが測定され得る様々な場所がある。図１では、押出ウェブ６８は、ダイ５４から第１の計測場所６４に、次いで第２の計測場所６６に搬送された後、巻取機６２によってロールに巻き取られる。第１の場所６４では、押出ウェブ６８が最初のキャストロール上で急冷された直後にウェブ厚さ情報が捕捉される。第２の場所６６では、横方向延伸機６０によって第２の延伸工程が完了した後で、ウェブ６８が巻取機６２によって巻き取られる前に、この情報が捕捉される。任意選択で、場所６６は、縁部トリミング工程が行われてウェブ６８に均一な幅が付与された後であり得る。所望であれば、機械方向延伸機５８と横方向延伸機６０との間などの中間点で厚さ測定を実施することも可能である。ウェブ厚さは、コーティング重量に直接的に関連し、これら２つは、本開示では同様に見なすものとする。

押出ウェブ６８の計測は、当該技術分野において既知の任意の方法を使用して実現することができる。１つの有用な厚さ測定技術は、ベータゲージを使用する。ベータゲージは、放射性同位体源（例えば、プロメチウム、クリプトン、又はストロンチウムに基づく）から放出された放射線をウェブに透過させ、結果として生じるベータ粒子の減衰を検出することによって、所与のウェブの正規化質量を測定する。ベータゲージの測定フットプリントは小さいので、プロファイル測定は、ウェブの幅の全体にわたるジグザグパターンに沿った様々な場所で行われる。次いで、これら測定値を経時的に追跡して、ウェブに沿って実施された測定値間の時間差を明らかにすることができる。プロセス条件の影響が安定した後であっても、完全なプロファイル測定は、機械方向の変動を平均化するために、いくつかの走査（通常、６回以上の走査）の平均化を必要とする可能性がある。

ＵＶ蛍光、赤外吸収、干渉分光法、レーザ三角測量などの直接厚さ測定、ガンマ後方散乱などの反射法、及び静電容量ベースの感知に基づくものを含む、代替的な計測方法も利用可能である。これらの方法のいくつかは、ウェブの全幅にわたるウェブ厚さプロファイルを一度に捕捉することができる。コーティング厚さをその全幅に沿って一度に測定しながら、本明細書に記載される特定のワークフローを適用することにより、従来のスキャンベースの計測方法を使用するワークフローと比較して、サイクル時間において４倍～１２倍の改善を提供することができると判定された。

本明細書では明示的に示されていないが、他のプロセスラインも可能である。これらのいくつかは、機械方向延伸機５８又は横方向延伸機６０の一方又は両方を含まない。他の実施形態では、機械方向延伸及び横方向延伸が同じ工程において行われる。更なる代替的実施形態では、押出機５２は、まだ溶融している押出ウェブをエンボス加工された表面上に配置して、テクスチャ化表面が提供される。押出ウェブは、キャスティングロールアセンブリ５６内のニップローラ間を通過しながら、既存のフィルム上に配置されることもできる。

プロセスラインが、複数の追加プロセスステーションのいずれかを含んでもよい。例えば、乾燥用オーブン又は他のステーションを設けて、硬化性組成物を含む押出ウェブを硬化させることができる。更なるプロセス工程は、押出ウェブ上にコロナ処理又は火炎処理された表面を提供する表面処理ステーション、又はいかなる品質問題をも明らかにする検査ステーションを含むことができる。前述した変型形態の全てが、提供される本開示の範囲内にあることを理解されたい。

図２及び図３は、それぞれ、スロットダイ５４の斜視図及び断面図を示す。図３に示すように、スロットダイ５４は、一対の対向するダイブロック１００、１０２を含み、これらは共に、押出機からアプリケータスロット１０４への流体流の経路を画定する。ダイブロック１００の遠位端には、アプリケータスロット１０４の表面を画定するスロット調整機構、ここではダイリップ１０６、が設けられている。図示されていないが、スロット調整機構は、代わりに、ダイリップから上流に位置するチョーカーバーにより提供され得る。

図２に示すように、スロットダイ５４は、６つの１次アクチュエータ１０８を含む。いくつかの実施形態では、１次アクチュエータ１０８は、リニアアクチュエータを駆動するモータを含む構成要素のアセンブリを表す。各アセンブリが、リニアアクチュエータの出力シャフトの位置移動を検出する、線形可変差動変圧器（linear variable differential transformer、ＬＶＤＴ）又はリニアエンコーダなどの精密センサを含むことが有利であり得る。有用なアクチュエータアセンブリに関する更なる詳細が、例えば、同時係属中のＰＣＴ特許出願第ＰＣＴ／ＩＢ２０２０／０６１６８５号（Ｙａｐｅｌら）、第ＰＣＴ／ＩＢ２０２０／０６１６８７号（Ｙａｐｅｌら）、及び第ＰＣＴ／ＩＢ２０２０／０６１６８８号（Ｓｅｃｏｒら）、並びに米国特許仮出願第６３／１２２，９９６号（Ｓｅｃｏｒら）に記載されており、これらは全て２０２０年１２月９日に出願された。

再び図２を参照すると、６つの１次アクチュエータ１０８の各々が、その遠位端において複数の２次アクチュエータ１１２に機械的に結合されている。この実施形態では、各２次アクチュエータ１１２は、フォーク１１０内の複数の尖叉（ｔｉｎｅ）のうちの１つによって表され、各尖叉は個別に制御可能である。代わりに、単一の尖叉のみを有する２次アクチュエータを使用することが可能であり、これは、１次アクチュエータ１０８間の間隔がダイリップ１０６を制御するのに十分な分解能を提供する用途に適切であり得る。好ましい実施形態では、各フォークは、少なくとも２個、３個、４個、５個、６個、７個、８個、又は９個以上の尖叉を含むことができる。

２次アクチュエータ１１２の遠位端は、ダイリップ１０６の表面に係合して、ダイリップ１０６の位置の局所的調整を可能にしている。係合は、場合によっては、２次アクチュエータ１１２がダイリップ１０６に押力と引張力の両方を加えることを可能にする機械的結合であり得る。代わりに、２次アクチュエータ１１２とダイリップ１０６の表面との間の係合は、押力を加えることのみを可能にする単なる接触であってもよい。他の実施形態では、２次アクチュエータ１１２は、チョーカーバー表面などの、スロットダイ５４の他の表面に係合し得る。

図３は、スロットダイ５４の内部フィーチャをより詳細に示す。図示するように、スロットダイ５４のダイブロック１００、１０２は、組み合わされて、アプリケータスロット１０４と流体連通する、スロットダイ５４を通る流体流路を形成する。

１次アクチュエータ１０８は、スロットダイ５４の幅に沿って取付ブラケット１２０、１２１に締結され、取付ブラケット１２０、１２１は、ダイブロック１００に対して固定され、１次アクチュエータ１０８及びフォーク１１０をそれぞれ支持する。各１次アクチュエータ１０８は、ダイリップ１０６の位置を変更することにより、スロットダイ５４の幅に沿ったその対応する場所での流体流路の高さを調整して、アプリケータスロット１０４を通る流体流の局所的な調整を提供するように動作可能である。各フォーク１１０の本体１１１は、ダイリップ１０６に力を加えたときにフォーク１１０の座屈又はたわみを低減させることを手助けするために、任意選択でリニアブッシングで支援されて、取付ブラケット１２１を通って延びている。いくつかの実施形態では、フォーク１１０の本体１１１は、最小限のバックラッシュを提供する段付きボルト取付具を介してフォーク１１０の上部に取り付けられたスピンドル１２２に結合され得る。

スロットダイ５４の動作中、押出物がスロットダイ５４に入り、押出物がアプリケータスロット１０４を通って出て、冷却されたローラに適用されて溶融物が固化するまで、スロットダイ５４の流体流路を通って進み続ける。本開示と密接に関係するわけではないが、このようなプロセスとしては、延伸、コーティング、テクスチャリング、印刷、切断、圧延、及び積層が挙げられるが、これらに限定されない。いくつかのプロセスでは、製造剥離ライナーを除去して、剥離ライナーを追加することができ、又は１つ以上の追加の層（積層転写テープなど）を追加することができる。押出物が硬化性組成物である場合、ｅ－ビーム、オーブン、又は紫外線（ＵＶ）チャンバへの曝露などによって硬化工程を実施することもできる。

好ましい実施形態では、１次アクチュエータ１０８は、コントローラの支援を受けて動作する。コントローラは、モータ及びセンサの両方から位置入力を受け取ることができる。例えば、モータはステッパモータであってもよく、これは、ステッパモータの既知の基準位置からステッパモータが行った「ステップ」数の指標を提供する。センサは、モータによって提供されるよりも正確な位置情報をコントローラに提供することができる。コントローラは更に、１次アクチュエータ１０８のスピンドル１２２を予め選択された位置に駆動するための命令をモータに提供することができる。例えば、コントローラは、予め選択された位置に従って１次アクチュエータ１０８のスピンドル１２２を位置決めするために、モータ２１０を動作させながら、センサ２３０を用いて１次アクチュエータ１０８のスピンドル１２２の位置を監視することができる。いくつかの実施例では、コントローラは、１次アクチュエータ１０８のセットを同時に又は順次に、のいずれかで制御することができる。例えば、コントローラは、図２に示すように、スロットダイ５４における１次アクチュエータ１０８の各々を同時に制御することができる。

作動機構として差動ボルトを利用するスロットダイ設計とは対照的に、本明細書に示されるようなゼロバックラッシュカプラ１２４を使用して、限定されたバックラッシュで又はバックラッシュなしで、出力シャフト１２６を１次アクチュエータ１０８のスピンドル１２２に接続することができる。これを実現するために、１次アクチュエータ１０８は、線形電圧変位変換器、デジタルスケール、キャパシタンスゲージ、光学変位計、レーザ変位計、又はそれらの組み合わせ、を組み込んだ位置センサを使用して、フォーク１１０の本体１１１を正確な位置に調整することができる。差動ボルト機構は１００マイクロメートルを超えるバックラッシュを有する場合があるのに対して、ゼロバックラッシュカプラ１２４は、１０マイクロメートル未満、又は更には５マイクロメートル未満、例えば約３マイクロメートルなど、ほとんどバックラッシュを提供しない場合がある。

アプリケータスロット幅又はチョーカーバー位置を制御するために１組の差動ボルトを利用するスロットダイでは、各差動ボルトの比較的大きなバックラッシュは、１つの差動ボルトの位置を調整することにより、他のボルトにおける流体流路の高さを変化させる可能性があることを意味する。この理由から、押出ダイの動作中にダイリップ１０６の絶対位置を知ることはできない。対照的に、スロットダイ５４では、１次アクチュエータ１０８のスピンドル１２２の位置は、ダイリップ１０６の局所位置に直接的に対応する。このアクチュエータアセンブリの詳細は、例えば、同時係属中の国際特許出願第ＰＣＴ／ＩＢ２０２０／０６１６８５号（Ｙａｐｅｌら）にて詳細に説明されている。主な利点は、従来の差動ボルトを利用するスロットダイでは利用できない再現可能で正確な位置決めを含む。

図４は、スロットダイ５４の残りの部分から分解されたフォーク１１０の拡大図を示す。図示するように、フォーク１１０は、本体１１１からダイリップ１０６に向かって外向きに延びる、独立して調整可能な２次アクチュエータ１１２として機能する、一連の６個の尖叉から構成される。有利なことに、各２次アクチュエータ１１２は、それ自体の制御ゾーンを提供し、ダイリップ１０６の形状を制御する場合に、精度の６倍の増加が可能になる。

任意選択で、図示するように、本体１１１及び尖叉は、一体構造の一部である。この実施例では、各尖叉は、熱膨張及び収縮によって制御される長さを有する。制御を提供するために、尖叉の各々は、抵抗性加熱要素を含み、熱感知デバイスと共に電力源への接続を有して、制御ループが尖叉を所定の温度に加熱することが可能である。これら構成要素は、スロットダイ５４の動作中に損傷から保護するために、尖叉内に部分的に埋め込まれている。熱感知デバイスは、尖叉内のカートリッジヒータに組み込むことができる、又は尖叉に取り付けることができる。赤外線加熱などの、尖叉を加熱する他の方法も可能である。更なる選択肢として、各尖叉を冷却する能力を提供して、尖叉の温度に対して更に良好な制御を得て、より速い応答時間を可能にすることできる。このような冷却は、例えば、強制空気対流によって達成され得る。

適切なコントローラを使用して、各２次アクチュエータ１１２の長さを制御し、それにより、２次アクチュエータ１１２とダイリップ１０６との間に機械的係合が生じる位置を画定することができる。このコントローラは、１次アクチュエータ１０８用に使用されるコントローラとは別個であることができ、又は一体であることができる。有用なコントローラには、制御ループ機構を適用する比例積分微分（ＰＩＤ）コントローラが含まれる。２次アクチュエータ１１２の長さは、２次アクチュエータ１１２の温度に最も直接的に相関するが、この長さは、各２次アクチュエータ１１２に関する、電力入力（すなわち、％電力）との所定の相関に基づいて制御することもできる。後者の方法は、より単純であり得るが、熱擾乱の影響をより受けやすい傾向があり、これが２次アクチュエータ１１２に不均一に影響を及ぼし得る。

１次及び２次アクチュエータ１０８、１１２は、２次アクチュエータ１１２の遠位端とダイリップ１０６との間の機械的結合に基づいてダイリップ１０６の位置を集合的に制御する。１次及び２次アクチュエータ１０８、１１２は、直列で動作し、したがって、所与の制御ゾーンに対して、アクチュエータ設定の様々な組み合わせが、ダイリップ１０６の同じ終端位置を提供することができることに留意されたい。しかしながら、図示するように、アプリケータスロット１０４に対してスロット高さ調整を実施する場合、１次及び２次アクチュエータ１０８、１１２を連係させて調整することが有利であり得る。

図５は、図１の製造プロセスライン５０の環境において動作する、スロットダイ５４などの提供されたスロットダイにおいて、スロット高さ調整を実現するために単一制御ループを使用する例示的なワークフロー１５０を示す。

最初に、製造プロセスライン５０は、所定の初期的な１次及び２次アクチュエータ設定プロファイルを使用して押出ウェブ６８を形成するように動作する。これら初期的なプロファイルは、同様のプロセス条件に基づく履歴データに基づいて保存することができる、又はそのようなデータがない場合、これらプロファイルは、ユーザ入力に基づいてデフォルト値に設定することができる。したがって、１次アクチュエータ及び２次アクチュエータの両方は、制御ループの開始時に、これら所定の設定に従う初期位置をとる。出発点として、１次及び／又は２次アクチュエータの所定の設定が、スロットダイの幅の大部分又は全部にわたって一定又は平坦であることが好都合であり得る。

ブロック１５２は、スロットダイのアプリケータスロットから押出しされたウェブのプロファイル測定値を提供する第１の工程を示す。前述したように、いかなる既知の測定技術も使用され得る。プロファイル測定は、キャストされた状態で、又は押出物の一部が配向された若しくは他の方法で変更された後に行うことができる。前者の場合、ウェブ厚さプロファイルの測定は、押出ウェブがアプリケータスロットを出た場所の近くで（「キャストされた状態で」）行われる。図１では、例えば、この厚さ測定は、溶融ウェブがキャスティングロールアセンブリ５６の冷却ロール上で固化した直後に場所６４において行うことができる。後者の場合、プロファイル測定は、ウェブが何らかの処理を受けた後に（「変換された状態で」）行われる。図１では、測定は、キャストウェブがクロスウェブ方向及びダウンウェブ方向の両方に沿って延伸された後に、場所６６で行うことができる。

多くの計測デバイスは、厚さデータを収集するために、移動するウェブの幅を横切って往復走査することに留意されたい。多くの場合、これら測定は、ウェブの全幅を横切って分散されるだけでなく、異なる時点でも取得され得る、非常に多数の別個の測定値を伴い得る。これを管理するため、コントローラは、生の離散的な測定値を処理して、より少数のデータ値にすることができる。これは、クロスウェブ及びダウンウェブ平均化の形態を使用して、連続ウェブに沿った特定の場所においてクロスウェブ厚さプロファイルの仮想スナップショットを捕捉する。

提供される方法は、連続フルウェブコーティング押出物及びストライプコーティング押出物の両方に使用することができる。フルウェブコーティングでは、多数の測定値は、コーティングされた幅全体を表す。ストライプコーティングの場合、測定された厚さ値は、クロスウェブ方向に沿って互いに離間した複数のコーティングされた領域に対応し、その結果、測定値は、コーティングされたストライプのみをカバーし、その間のコーティングされていないレーンをカバーしない。

ブロック１５４は、これらプロファイル測定のウェブからダイへのマッピングを実施する次の工程を表す。ゲージ測定値をダイにマッピングするときに、特定の簡略化仮定を行うことができる。第１に、最新の計測システムはエッジ検出を有するものとすると、プロファイル測定から受信されるデータはエッジからエッジへ取られると仮定することができる。第２に、ゲージデータは実際の押出物重量／厚さに直接対応すると仮定される。ウェブが剥離ライナー上に配置される場合、剥離ライナーの坪量が差し引かれ、データはコーティング重量のみを表すと更に仮定することができる。最後に、押出ウェブの両縁部からいかなるネックインも対照的に存在すると仮定することができる。

粗粒度測定値の数及び位置は、ダイリップアクチュエータの数及び位置と異なることが多く、したがって、測定値をアクチュエータ位置にマッピングする一般的な方法が望ましい。フィルムネックイン計算は、異なる流量、延伸距離、及びウェブ速度の影響を考慮することができる。一実施形態では、物理単位（インチ又はｍｍ）でのコーティングされたウェブ座標は、アクチュエータ単位での座標（すなわち、連続アクチュエータ番号に基づくダイ座標系）にマッピングされる。このプロセスは、コーティング測定アレイ値から、物理的なコーティングをされたウェブ位置へのマッピングを可能にし、次いで、ウェブからダイへのマッピング関数を介して物理的なダイ位置へのマッピングを可能にする。ここで、コーティング測定アレイは、例えば、移動するウェブをスキャナが横断するたびに生成される厚さ測定値の最新のアレイを表すことができる。

適切なダイからウェブへ又はウェブからダイへのマッピング関数では、プロファイル制御方式の他の場所でこの関数を利用することが有利であり得る。例えば、マッピングは、コーティング流れ場を通したコントローラ利得又はアクチュエータ相互作用などの制御パラメータにおけるクロスウェブ変動を組み込むことができる。これは、製造経験に基づいた特別な方法で、又はコーティング流れ場の流体機械モデルを使用したより科学的な方法で行うことができる。

流れのモデル化は、流体レオロジーを特性化する任意の適切なモデルを使用してもよい。例えば、流れのモデル化は、有限要素解析を含んでもよく、又は１つ以上の方程式により直接的に依存してもよい。例示的な数学モデルは、他の場所、すなわち２０２０年１２月９日に出願された同時係属中のＰＣＴ出願第ＰＣＴ／ＩＢ２０２０／０６１６８８号（Ｓｅｃｏｒら）に記載されている。

スロットダイ調整の計算的予測が可能である。その理由は、アクチュエータの位置、及び推論によってスロット高さが、所望の押出物目標厚さ、現在の測定された押出物厚さと組み合わせて既知だからである。従来は、押出プロセス中にスロット高さの絶対位置を知ることは、例えば差動ボルトのバックラッシュに起因して、可能ではなかった。既知の目標厚さ及び測定された押出物厚さプロファイルを使用して、これら計算が適切なスロットダイ変化を予測することができる。この知識に基づいて、スロット高さプロファイルと押出物厚さプロファイルとの間の関係を知ることができ、したがって、スロット高さプロファイルを予測して、目標厚さプロファイルを得ることが可能である。

いくつかの実施形態では、このマッピングは、測定システムに既に組み込まれている任意のスキャン位置からダイボルト位置へのマッピングを組み込む。ＮＤＣ Ｉｎｆｒａｒｅｄ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ Ｉｎｃ．（Ｉｒｗｉｎｄａｌｅ，ＣＡ）からのプロファイル制御ソリューションなどの様々な市販のシステムがウェブからダイへのマッピングを実行することができる。

次いでブロック１５６に進んで、ウェブ厚さに対するプロファイル偏差が次いで決定される。これは、各制御ゾーンにおいて、現在のウェブ厚さプロファイルが目標ウェブ厚さプロファイル（ブロック１５８）から逸脱している程度を表す値の残差アレイ（すなわち、ベクトル）によって提供することができる。制御ゾーンは、本明細書で言及される場合、各１次アクチュエータ又は代わりに各２次アクチュエータに対応するスロットダイのセグメントに対応し得る。

ブロック１５８における初期目標プロファイルは、スロットダイを出る押出物に近い場所（例えば、図１の場所６４）、又は代わりに、ウェブが部分的に又は十分に変換された場所から下流にある場所（例えば、図１の場所６６）において画定され得る。プロセスライン５０における異なる起源に起因し得る所望のウェブ厚さプロファイルと実際のウェブ厚さプロファイルとの間の偏差を十分に理解し補正するために、両方のタイプの測定を組み込むことが重要な技術的利点であり得る。

ワークフロー１５０のその後の反復において、ブロック１５６で決定されたプロファイル偏差は、ブロック１５８で設定された初期目標ウェブ厚さプロファイル、又は必要に応じて、修正された目標ウェブ厚さプロファイルのいずれかに基づくことができる。目標ウェブ厚さプロファイルに対する修正は特に制限されず、コンピュータアルゴリズムに従って所定の方法で、又はオペレータからの入力により手動で実施され得る。

ワークフロー１５０が最初に実行される場合、目標ウェブ厚さプロファイルは、ワークフロー１５０の又は同様の条件下で行われた他のワークフローの、前回の反復において使用されたウェブ厚さのアレイなど、保存されているウェブ厚さプロファイルに基づくことができる。例えば、前回に使用された目標ウェブ厚さプロファイルは、同じ又は類似のダイスロット構成及びスロットダイを通る類似の流れ条件が使用される場合、有用であり得る。多くの用途では、平坦な押出物プロファイルが望ましいが、他のプロファイルが好ましい状況がある。例えば、「ドッグボーン」形状の目標プロファイルは、ドローレゾナンス（draw resonance）又はエッジスカロッピング（edge scalloping）に関連するものなど、押出プロセスにおけるエッジ不安定性を制御するために望ましい場合がある。

次いで、ブロック１５６において、ブロック１５８からの初期目標ウェブ厚さプロファイルと、利用可能であれば測定されたウェブ厚さプロファイルとの差に基づいて、プロファイル偏差が決定される。ワークフロー１５０における制御ループの最初の反復が、ウェブ厚さ測定値の完全なセットが得られる前に実施され得る。測定されたウェブ厚さプロファイルがまだ利用可能でない場合、スロットダイにおける調整は、十分な数のウェブ厚さ測定値が存在する時間まで遅延されてもよい。部分的なプロファイル測定（ブロック１５２）を得ることができる限りにおいて、ワークフロー１５０を使用して、アプリケータスロットの一部分に沿って、しかし別の部分ではなく、スロットダイを調整することができる。

次いで、このようにして決定されたプロファイル偏差を用いて、適切なスロット高さ調整を計算することができる（ブロック１６０）。ブロック１５８からの初期目標プロファイルを達成するのに適切な、可撓性ダイリップ又はチョーカーバーに係合した１次及び２次アクチュエータに対する調整を予測する場合、ダイを通る流体流の影響を、流体流が存在しないスロットダイに関する機械的影響から切り離すことを可能にする、圧力ダイたわみモデルを適用することが有利であり得る。適切なモデルは、アプリケータスロットにわたる圧力プロファイルと、可撓性ダイリップ又はチョーカーバーにおける対応する圧力たわみ量とを予測することができる。場合によっては、この圧力に基づくたわみを経験的に測定することが可能であり得る。

圧力たわみは、それを計算されたスロット高さに加算して、目標スロット高さプロファイルを得ることにより考慮することができる。次いで、この目標スロット高さプロファイルを現在のスロット高さプロファイルと比較して（ブロック１６２）、適切な調整を決定することができる。とりわけ、現在のスロット高さは、アプリケータスロットを通って流れる押出物組成物に起因するある程度の圧力たわみ（Ｄ）を含む。したがって、たわみＤの量のいかなる変化も小さいと仮定すると、流体のみに起因するたわみＤを、圧力補償されたスロット高さプロファイル（Ｈ＋Ｄ）から減算して、ゼロ圧力スロット高さプロファイル（Ｈ）を得ることができ、次いで、それを使用して、目標アクチュエータ位置を計算することができる。

スロットダイにおける流体力学及び圧力効果を説明する数学的モデルは、他の場所、例えば、どちらも２０２０年１２月９日に出願された、同時係属中の国際特許出願第ＰＣＴ／ＩＢ２０２０／０６１６８８号（Ｓｅｃｏｒら）及び米国仮特許出願第６３／１２２，９９６号（Ｓｅｃｏｒら）に詳細に説明されている。

上記で得られたゼロ圧力スロット高さプロファイルを用いて、コントローラは、次いで、所望のスロット高さプロファイルを達成するのに適切な個別アクチュエータ設定のセットを予測することができる。好ましい実施形態では、個別アクチュエータ設定のこのセットは、予め選択されたクロスウェブプロファイルに対応する複数のアクチュエータ設定に基づく。以下に説明するように、複数の個別アクチュエータ設定は、一連の予め選択されたクロスウェブプロファイルに対して決定することができ、それにより、適切なアクチュエータ調整（ブロック１６４）を決定するための予測モデルが提供される。

好ましい実施形態では、複数の個別設定、及び／又は現在のスロット高さ（ブロック１６２）から導出されるゼロ圧力の現在のスロット高さの予測は、剛性行列と呼ばれる数学的構成を通じて得ることができる。剛性行列は、アクチュエータ設定を流れ場物理学効果がない対応するスロット高さプロファイルに変換する。本明細書では詳細には考察されないが、国際公開第２０１２／１７０７１３号（Ｓｅｃｏｒら）は、所与のスロットダイに関する剛性行列を生成するために、経験的試験データがどのように使用され得るかの一例についてより詳細に記載している。

高レベルでは、剛性行列及び逆剛性行列を使用して、アクチュエータ位置変化をスロット高さ変化に変換され、この逆の変換も行われる。剛性行列は、以下の式１及び式２で表すことができる。

式１及び式２において、ｈ_０及びｈは、それぞれ、現在のスロット高さ及び新しいスロット高さを表すベクトルであり、Ａ及びＡ_０は、それぞれ、現在のアクチュエータ位置及び新しいアクチュエータ位置（アクチュエータ単位で）を表すベクトルであり、Ｋは、剛性行列であり、Ｉは、単位行列であり、ｋは、アクチュエータ位置変化をスロット高さ変化に変換する比例定数であり、各アクチュエータについて同じである。

剛性行列Ｋは、一般に、Ｎ×Ｎの成分を有し（Ｎは有効なアクチュエータの総数である）、ｊ番目のアクチュエータ設定Ａ_ｊの変化に起因する、測定点におけるスロット高さの変化を物理的に表す。剛性行列は、アクチュエータ間の有意な機械的相互作用を反映し得る。一般に、アクチュエータ位置の変化は、いくつかのアクチュエータだけ離れた位置においてスロット高さの変化を生じ得る。いくつかの実施形態では、これは、帯剛性行列によって表される。多くの場合、帯剛性行列は、対称であると仮定することができる。例えば、行列は、行列の５つの対角線（主対角線＋両側の２つの対角線）に沿ってのみ有意な非０成分を有することができる。

剛性行列が決定されると、スロット高さ測定値を２つの方法で使用することができる。第１に、アクチュエータ設定の任意のセットについて、結果として生じるスロット高さプロファイルは、
上記の式１及び式２に従う剛性行列をアクチュエータ変位で乗算することによって計算することができる。次に、指定されたスロット高さプロファイルをもたらすアクチュエータ設定は、剛性行列の逆数にスロット高さの所望の変化を乗算することによって計算される。アクチュエータ調整の適切なセットを決定するために、式３が使用される。

次いで、ブロック１６４において、アクティブアクチュエータを上記の計算されたアクチュエータ調整に従って適切な位置に調整して、所望のスロット高さプロファイルを達成することができる。この線形代数問題を解く好ましい方法では、ガウス消去法を実行して、剛性行列変換の行列ベースの解を得る。

図５に示すように、ブロック１６４におけるアクチュエータ調整は、１次アクチュエータ、２次アクチュエータのいずれか又は両方に適用され得る。１次アクチュエータが調整されている場合、２次アクチュエータは、各フォークの尖叉が個々にではなく集合的に移動するように、受動的に維持され得る。２次アクチュエータが調整されている場合、２次アクチュエータが調整されている間、１次アクチュエータは固定されていてもよい（又は受動的であってもよい）。第３の可能性として、図７で後述するように、１次アクチュエータと２次アクチュエータの両方を同時に調整することが可能であり、実際に有利であり得る。

アクチュエータ調整が完了すると、ワークフロー１５０はブロック１５２に戻り、そこで新しいプロファイル測定が行われ、上述したプロセスが新たに開始される。ワークフロー１５０における工程は、リアルタイムウェブ厚さ測定に基づいて、１次／２次アクチュエータ設定／位置を漸進的に改善することができる。時間の経過に伴い、これらの段階的な調整を通じて、押出物ウェブ厚さは、所望の目標ウェブ厚さプロファイルに収束することができる。

上記のワークフロー１５０は、ポリマー溶融物が流体流路に沿って搬送され、アプリケータスロット１０４から排出される際に、図２及び図３のスロットダイ５４を使用して実現できる。ここで、コントローラは、ブロック１６４において決定されたアクチュエータ調整に従って、アプリケータスロット１０４に沿った多くの制御ゾーンの各々におけるダイリップ１０６を漸増式に押す又は引くための、１次アクチュエータ１０８及び２次アクチュエータ１１２の一方又は両方のセットの設定を予測する。各１次アクチュエータ１０８は６個の２次アクチュエータ１１２に対応するので、コントローラが、粗いスケールで目標スロット高さプロファイルを得るために１次アクチュエータ設定を予測し、次いで、より細かいスケールで目標スロット高さプロファイルを得るために２次アクチュエータ設定を予測することが、効率的であり得る。

いくつかの実施形態では、１次アクチュエータの位置が、対応する目標１次アクチュエータ位置に基づいて決定され、次いで、目標１次アクチュエータ位置に少なくとも部分的に基づいて、１次アクチュエータに対応する各２次アクチュエータの位置が決定される。有利なことに、目標１次アクチュエータ位置は、２次アクチュエータ間の長さ制御信号の変動を低減させるように決定又は調整され得る。２次アクチュエータのために、ここで使用される長さ制御信号は温度であるが、電力、圧電電圧、又は油圧を含む他の長さ制御信号も可能である。

図６は、ネスト化された制御ループを使用する代替的なワークフロー２５０を示す。ワークフロー２５０は、キャストプロファイル測定（ブロック２５２）、ウェブからダイへのマッピング（ブロック２５４）、初期目標キャストプロファイル（ブロック２５８）に基づくプロファイル偏差の決定（ブロック２５６）、現在のスロット高さ（ブロック２６２）に基づくスロット高さ調整の決定（ブロック２６０）、及びアクチュエータ調整（ブロック２６４）を含む、ワークフロー１５０において既に説明されたいくつかの要素を組み込んでいる。内部制御ループを構成するこれら工程は、ワークフロー１５０において上で検討されたものと類似しており、再び触れることはしない。

ワークフロー２５０は、外側制御ループも含む。このループはブロック２６６で始まり、変換されたプロファイル測定値が提供される。キャストプロファイル測定（ブロック２５２）から下流で取られるこの変換されたプロファイル測定は、内部制御ループの実行中のいかなる時間においても生じ得る。したがって、内側ループ及び外側ループにおける工程は、互いに一致する必要はない。

ブロック２６８は、ブロック２６６における変換されたプロファイル測定値に対して実施されるウェブからダイへのマッピング工程を示す。変換されたウェブ厚さプロファイルに対するウェブからダイへのマッピングは、ブロック２５４で行われるウェブからダイへのマッピングよりも複雑であり得る。プロセスライン５０では、例えば、機械方向延伸機５８及び横方向延伸機６０の動作により、押出フィルムは実質的に伸長される。これらプロセスが予測可能かつ再現可能な結果をもたらすと仮定すると、数学的モデルを使用して、変換後のクロスウェブ座標系を、その変換前の押出ウェブのクロスウェブ座標系にマッピングすることができる。

複数の変換プロセスが存在する場合、変換されたウェブ厚さプロファイルを再びスロットダイに段階的にマッピングするために、一連のマッピング計算が一般に使用される。好ましい実施形態では、変換されたプロファイルがキャストプロファイルに再びマッピングされ、次いで、キャストプロファイルがダイに再びマッピングされる。この後者の工程は、ブロック２５４のウェブからダイへのマッピング工程に関して上述したものと同じプロセスに従う。一例として、図１の場所６６で測定されたプロファイルが、場所６４でのプロファイルにマッピングされることができ、次いで、ダイ５４でのプロファイルに再びマッピングされることができる。好都合なことに、これにより、ブロック２５４からの計算アルゴリズムを再使用することが可能になる。

次にブロック２５８に進むと、次いで、ウェブ厚さについての目標キャストプロファイルは、コントローラからの命令に基づいて適宜更新され得る。このキャストプロファイルは、以前に使用された目標キャストプロファイルを置換する。先に参照したものと同様に、有用なコントローラは、所望の変換されたプロファイルに達するまで、反復的な増分変化を適用して、ブロック２５６によって表される目標キャストプロファイルを漸進的に改善するための、ＰＩＤコントローラを含むことができる。内側ループ及び外側ループは同時に動作するが、アクチュエータ設定の変更によって生じる影響は、押出ウェブが変換プロセス全体を通って移動し終わるまで知ることができないので、外側ループは、遙かに長いサイクル時間でのフィードバックを提供する。

外側ループ及び内側ループは、好ましくは、コヒーレント最適化方式で互いに補完し合う。内側ループは、押出ウェブの第１の場所で測定される第１のウェブ厚さプロファイルに基づき、目標スロット高さプロファイルは、内側ループの少なくともいくつかの反復にわたって一定に保持される。外側ループは、第１の場所から下流にある押出ウェブの第２の場所で測定される第２のウェブ厚さプロファイルに基づき、目標スロット高さプロファイルは、外側ループの各反復において更新される。したがって、内側ループは、短い時間フレームで動作し、目標プロファイルへの収束を求めて１次／２次アクチュエータ設定を連続的に調整する一方で、外側ループは、内側ループによって「追跡」される目標プロファイルを周期的に調整する際に、より長い時間フレームで動作する。

図７は、図２～図４に示す１次アクチュエータ１０８及び２次アクチュエータ１１２などのアクチュエータ間の相互作用を示す更に別の例示的なワークフロー３５０を示す。最初に、互いに端部同士が結合された２つのアクチュエータを有するおかげで、いくつかの興味深い厄介な問題が導入されることに留意されたい。第１に、一方のアクチュエータを長くすると、他方のアクチュエータを短くすることを伴い得るので、単一の目標ウェブ厚さプロファイルが無限数の解に対応し得る。第２に、１次アクチュエータが複数の２次アクチュエータに結合される場合、２次アクチュエータの可能な位置の範囲は、一般に、１次アクチュエータの位置によって制約される。第３に、多くの状況において、１次アクチュエータ及び２次アクチュエータは、非常に異なる応答時間を有し得る。最後に、特定の状況において、隣接するアクチュエータは、それらが互いに近接していることに基づいて、熱伝達によって引き起こされる干渉などの干渉を受ける可能性がある。

これら考慮事項のうちのいくつかがワークフロー３５０において考慮される。ワークフロー３５０は、以前のワークフローと同様に、変換されたウェブのウェブ厚さプロファイル測定（ブロック３６６）と、それに続く、このプロファイルのウェブからダイへのマッピング（ブロック３５２）と、目標プロファイル（ブロック３５８）に対するプロファイル偏差の決定（ブロック３５６）と、現在のスロット高さ（ブロック３６２）に対するスロット高さ調整の決定（ブロック３６０）とを含む。ブロック３６１において、以下の条件が満たされるかどうかに基づいて、コントローラによって分析が行われる。

式中、ｘは１次アクチュエータの長さ制御信号であり、Ｄｘは提案されたアクチュエータ調整であり、ｄ_ｘは１次アクチュエータの分解能に関連するｘの変化に対する所定の閾値である。

図２～図４の例示的な構成における提案されたアクチュエータ調整Ｄｘは、所与のフォーク１１０についての平均尖叉温度と、同じフォーク１１０についての平均目標尖叉温度との差を計算することにより決定され得る。尖叉（２次アクチュエータ１１２）の僅かな熱膨張又は収縮が、温度変化に線形に関連するので、この測定値は、アクチュエータ長さの変化に直接相関する。

所望の長さ制御信号ｘは、前述の方法のいずれかから、例えば、バンプ試験データを使用して決定された逆剛性行列を介して、及び任意選択でスロットダイ内の流体流によって誘起される圧力効果を考慮して、計算され得る。いくつかの実施形態では、ｄ_ｘは、１次アクチュエータ不感帯、又は１次アクチュエータにより対応するには小さすぎるが、それが結合される２次アクチュエータにより対応することが可能な長さ制御信号の範囲を反映する。

提案されたアクチュエータ調整Ｄｘの大きさが閾値ｄ_ｘ以下である場合、２次アクチュエータ１１２はそれに応じて調整され（ブロック３６４）、プロセスは、変換されたプロファイル測定から再び始まる（ブロック３６６）。ここで、調整は、１次アクチュエータ１０８の位置が静止したままで、２次アクチュエータ１１２によって排他的に行われる。対照的に、提案されたアクチュエータ調整Ｄｘが閾値ｄ_ｘよりも大きい場合、以下でより詳細に説明するように、１次及び２次アクチュエータの両方が調整される（ブロック３６５）。

例示的な実施例が、図３の１次及び２次アクチュエータ１０８、１１２によって表され、１次アクチュエータは、ねじ差動結合を使用して移動される一方で、２次アクチュエータは、熱膨張及び収縮によって移動される。より広範には、１次アクチュエータは、機械的、熱的に調整可能なボルト、圧電デバイス、油圧デバイス、又は空気圧デバイスによって駆動され得る。１次アクチュエータ及び２次アクチュエータが連係して調整されると好ましい。任意選択で、１次アクチュエータ及び２次アクチュエータの両方が同時に調整されて、全体的なアクチュエータ位置のよりスムーズな調整が提供される。

１つの例示的な１次作動機構では、アプリケータスロットは、スロットダイの本体によって軸方向に変位させられる作動ロッドと共に、支点としての回転シャフトによって支持されたレバーを使用して可撓性ダイリップに押圧荷重又は引張荷重を印加することによって調整することができる。レバーの回転力は、作動ロッドの軸方向の力に変換され、この軸方向の力が可撓性ダイリップに作用する押圧荷重又は引張荷重となる。レバーは、レバーの作用点で作動ロッドに力を直接加えることができる。

別の例示的な１次作動機構では、熱的に調整可能なボルトが、可撓性ダイリップ上に配置されたそれぞれの熱電素子に結合された複数の調整ピンを使用して、アプリケータスロットを自動的に調整する。熱電素子は、熱電素子の膨張又は収縮を通じて対応する調整ピンによって可撓性ダイリップに加えられる機械的力の作用を通じてアプリケータスロットを調整するために、コントローラによって制御可能であってもよい。更なる選択肢として、作動機構は、同時に調整される少なくとも２つの調整ピン及び／又は熱電素子を提供することを含むことができる。

上記の更なる態様が、他の変形形態と共に、米国特許第９，７００，９１１号（Ｎａｋａｎｏ）及び国際公開第２０１９／２１９７２４号（Ｃｏｌｅｌｌら）に記載されている。

上記の座標調整の好ましい実施形態が、より長い作動ストロークを有する１次アクチュエータを使用することを含んで、全体的な動きの大部分を提供する。この全体的な動きは、各制御ゾーンに対する、２次アクチュエータの遠位端に基づく。複数の２次アクチュエータが各１次アクチュエータに結合される場合、１次アクチュエータ調整は、各１次アクチュエータを、その対応する２次アクチュエータの平均目標位置に基づいて計算された目標位置に調整することに基づいて計算することができる。平均化は、２次アクチュエータを必要以上に拡張又は収縮させることを回避するのに役立ち得る。特定の２次アクチュエータ、そのようなサーマルボルト、を使用して大きな調整を行うことは、技術的に困難なだけでなく、実現し及び安定化させるのに長い時間がかかる可能性もある。その結果、ワークフロー３５０における制御ループの全体的な応答性に悪影響を及ぼす可能性がある。

前述の方法の利点が、１次アクチュエータ１０８及び２次アクチュエータ１１２を２つの異なる構成で示す図８Ａ及び図８Ｂに示される。図示する構成は、同じ最終的な位置を示すが、１次アクチュエータ１０８及び２次アクチュエータ１１２からの相対的寄与は非常に異なる。図８Ａでは、２次アクチュエータ１１２（灰色で陰影付けされている）は、長さの著しい変動を示し、これは、２次アクチュエータ１１２を非常に異なる温度に加熱した結果である。対照的に、図８Ｂでは、同じ２次アクチュエータ１１２が、ほぼ均一な温度プロファイル及び長さを有する。後者の場合、１次アクチュエータ１０８は、ブロック矢印によって示されるように、ダイリップに向かって又はダイリップから離れるように並進移動することにより、２次アクチュエータ１１２の長さの差を正確に補償する。

式４及び式５を適用してこれらアクチュエータを調整することにより、ダイリップ位置を維持しながら、２次アクチュエータ（すなわち、尖叉）と１次アクチュエータ（すなわち、フォーク）との間の長さを再分配することが実現できる。

式中、Ｔ_ｎｅｗは新しい尖叉温度であり、Ｔ_ｏｌｄは古い尖叉温度であり、Ｔ_{ｍｅａｓｕｒｅｄ}はフォーク内の平均測定尖叉温度であり、Ｔ_{ｔａｒｇｅｔ}はフォーク内の平均目標尖叉温度である。

式中、Ａ_ｎｅｗは（アクチュエータ設定における）新しい１次アクチュエータ位置であり、Ａ_ｏｌｄは古い１次アクチュエータ位置であり、Ｙは温度とアクチュエータ設定との間の固定変換係数である。

温度の均一な分布は、２次アクチュエータ１１２とスロットダイの可撓性ダイリップとの間の熱伝達によって引き起こされる熱擾乱を最小限に抑えるのに役立ち得る。熱擾乱は、押出プロセスにおける予測可能性を低下させる可能性があり、一般に望ましくないと考えられている。好ましい実施形態では、尖叉と可撓性ダイリップとの間の望ましくない熱伝達の程度を更に軽減するために、全ての２次アクチュエータ１１２の目標尖叉温度の平均は、スロットダイの動作温度に対応する。

１次アクチュエータ設定が上記のように再較正されると、最終結果として、図８Ａを図８Ｂと比較することによって証明されるように、アクチュエータ位置の同一プロファイルを提供しながら、２次アクチュエータ１１２における温度変動が低減される。１次アクチュエータ１０８は、熱制御される２次アクチュエータ１１２よりも遙かに迅速に応答することが可能なので、２次アクチュエータ１１２を位置決めする時間を許容するために、１次アクチュエータ１０８を漸進的に調整して、製品製造中における突然のアクチュエータ長さの変化を回避することが有益であり得る。

ここで図７を再び参照すると、ブロック３６５における１次及び２次アクチュエータの調整は、このとき完了し得る。この後に次いで、新しい変換されたプロファイル測定値（ブロック３６６）を得ることができ、プロセスは再び始まる。

図９は、以前のワークフロー１５０、２５０、３５０の要素を組み合わせた更に別のワークフロー４５０を示す。前述したように、プロセスは、キャストプロファイル測定（ブロック４５２）、ウェブからダイへのマッピング（ブロック４５４）、プロファイル偏差の決定（ブロック４５４）、及び現在のスロット高さ（ブロック４６２）の知識を用いた適切なスロット高さ調整の決定（ブロック４６０）を含む。次いで、以前のワークフロー３５０で説明したように、１次アクチュエータ調整のための特定の閾値が満たされているか否かを判定するために、ブロック４６１のテストが適用される。このテスト条件が満たされるかどうかに応じて、ワークフロー４５０は、２次アクチュエータを排他的に調整する（ブロック４６４）か、又は１次アクチュエータ及び２次アクチュエータを一緒に調整する（ブロック４６５）かのいずれかに進む。

ワークフロー４５０に追加された改良は、内側制御ループと外側制御ループとの組み合わせである。したがって、コントローラは、キャストプロファイル測定値（ブロック４５２）に基づいてアクチュエータ調整を行うが、ウェブからダイへのマッピング（ブロック４６８）、及び更新された目標キャストプロファイルの計算（ブロック４５８）を必要とする、変換されたプロファイル測定値（ブロック４６６）に基づいて行われるアクチュエータ調整もある。これら工程は、図６のワークフロー２５０で説明したものと類似している。ワークフロー３５０とは異なり、ワークフロー４５０は、遙かに短い応答時間を有するキャストプロファイル測定値に基づく調整を含む。内側制御ループと外側制御ループの両方を組み合わせることにより、解のより速い収束と、全体的に著しくより応答性が高く効率的なスロットダイ調整プロセスとが提供され得る。

図１０は、ハイブリッドアクチュエータ制御システムのダッシュボードの実際の例を提供し、横軸に沿って表される８８個のアクチュエータ制御ゾーンにわたる温度プロファイルを示す。図示する例では、ダイ温度の設定値は２４０℃である。図１０の上のチャートは、各制御ゾーンの尖叉温度を示す。下のチャートは、各尖叉に供給されている％電力を示し、これは、特に中心アクチュエータをアプリケータスロットの縁部により近いアクチュエータと比較した場合に、異なる制御ゾーンに向かう電力分布の不均一性を示す。不均一性は、尖叉冷却プレナム内の空気流の差に起因する可能性があり、この場合、端部と比較して、ダイスロットの中心付近において冷却速度がより高いことが、図から明らかである。これらデータは、ハイブリッドアクチュエータ制御方式が、フォークごとに尖叉の平均温度を目標平均温度の近くに保持することが可能であることを更に示す。

図１１及び図１２は、ハイブリッドアクチュエータ制御方式によって提供される重要な技術的利点を示す。図１１（従来技術）のプロットは、従来の制御スキームを使用する１４４個の制御ゾーン（仕上げフィルムで１インチ（２．５４ｃｍ）幅に対応する）にわたる押出ウェブ厚さプロファイルを示し、３８インチ（９６５．２ｍｍ）幅のスロットを有するＥＤＩブランドダイ（Ｎｏｒｄｓｏｎ Ｅｘｔｒｕｓｉｏｎ Ｄｉｅｓ Ｉｎｄｕｓｔｒｉｅｓ ＬＬＣ（Ｃｈｉｐｐｅｗａ Ｆａｌｌｓ，ＷＩ）から入手可能）を使用し、１．１２５インチ（３１．１１５ｍｍ）の間隔を有する熱ボルトを使用している。図１２は、１６個の１次アクチュエータを６０ｍｍの間隔で有する９６５ｍｍ幅のスロットを有するハイブリッドダイについての押出ウェブ厚さプロファイルを示し、１次アクチュエータの各々がフォークを備え、フォークは、提供されるハイブリッド制御方式における尖叉として６個の１０ｍｍ間隔の２次アクチュエータを備える。これらデータは、押出ウェブのロール全体の製造にわたって収集された。中心線は平均厚さを示し、破線は、平均ウェブ厚さからの２つの標準偏差（すなわち、±２ｓ）の境界を示す。

図１２のデータは、概ね最初に図５のワークフロー１５０で説明した方法を使用して収集されたものであり、２次アクチュエータを受動的に維持しながら１次アクチュエータを調整し、次いで、定常状態動作に収束させながら、図６の二重制御ループワークフロー２５０に移行させた。これらチャートにおいて視覚化され得るように、提供されるハイブリッドアクチュエータ制御方法を使用する場合、ウェブ厚さ値の包絡線は、従来の方法と比較して著しく狭い。

本開示で説明される技術は、ハードウェア、ソフトウェア、ファームウェア、又はそれらの任意の組み合わせにおいて少なくとも部分的に実装されてもよい。例えば、技術のさまざまな実施例は、コントローラ、ユーザインターフェース、又は他のデバイスに具現化された、１つ以上のマイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ（digital signal processors、ＤＳＰ）、特定用途向け集積回路（application specific integrated circuits、ＡＳＩＣ）、フィールドプログラマブルゲートアレイ（field programmable gate arrays、ＦＰＧＡ）、又は他の任意の等価集積回路若しくは個別論理回路、並びにそのような構成要素の任意の組み合わせ内に実装することができる。用語「コントローラ」は、一般的に、前述の論理回路単独、又は他の論理回路との組み合わせ、あるいは任意の他の等価回路、のいずれかを指してもよい。

ソフトウェアで実装される場合、本開示で説明されるシステム及びコントローラに帰する機能は、ランダムアクセスメモリ（random access memory、ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（read－only memory、ＲＯＭ）、不揮発性ランダムアクセスメモリ（non－volatile random access memory、ＮＶＲＡＭ）、電気的消去可能プログラム可能読み出し専用メモリ（electrically erasable programmable read－only memory、ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリ、磁気媒体、光学媒体などのコンピュータ可読記憶媒体上の命令として具体化されてもよい。命令は、１つ以上のプロセッサに、本開示に記載される機能の１つ以上の実施例をサポートさせるために実行されてもよい。

様々な実施例を前述の節で説明してきた。これら及び他の実施例は、本明細書で提供される特許請求の範囲内である。

上記特許出願において引用された全ての文献、特許文献又は特許出願は、一貫した形でそれらの全容が参照により本明細書に組み込まれる。組み込まれた参照文献の一部と本出願との間に不一致又は矛盾がある場合、前述の記載における情報が優先するものとする。前述の記載は、当業者が、特許請求の範囲に記載の開示を実践することを可能にするためのものであり、本開示の範囲を限定するものと解釈すべきではなく、本開示の範囲は特許請求の範囲及びその全ての等価物によって定義される。

上記特許出願において引用された全ての文献、特許文献又は特許出願は、一貫した形でそれらの全容が参照により本明細書に組み込まれる。組み込まれた参照文献の一部と本出願との間に不一致又は矛盾がある場合、前述の記載における情報が優先するものとする。前述の記載は、当業者が、特許請求の範囲に記載の開示を実践することを可能にするためのものであり、本開示の範囲を限定するものと解釈すべきではなく、本開示の範囲は特許請求の範囲及びその全ての等価物によって定義される。
以上の実施形態に加えて、以下の態様を付記する。
スロットダイを調整する方法であって、前記スロットダイは、
前記スロットダイの幅にわたって延びるアプリケータスロットであって、前記スロットダイを通る流体流路と流体連通している、アプリケータスロットと、
スロットダイ表面を含む調整機構と、
前記スロットダイの前記幅に沿って離間した複数の１次アクチュエータであって、各１次アクチュエータは、１つ以上の２次アクチュエータに動作可能に結合され、各２次アクチュエータは、前記調整機構に動作可能に結合されて、その対応する場所での流体流路の断面高さを調整して、前記アプリケータスロットを通る流体流の局所的な調整を提供する、複数の１次アクチュエータと、を備え、
前記方法は、
目標スロット高さプロファイルを決定することと、
コントローラを用いて、前記目標スロット高さプロファイルに基づいて、１次アクチュエータ設定のセット及び２次アクチュエータ設定のセットを予測することと、
前記１次アクチュエータ設定及び前記２次アクチュエータ設定の予測された前記セットに従って、前記１次アクチュエータ及び前記２次アクチュエータの各々を別々に位置決めして前記スロットダイを調整することと、を含む、方法。
（付記２）
前記１次アクチュエータ及び前記２次アクチュエータは、複数の尖叉を有するフォークを集合的に備え、更に各尖叉は個別に制御可能である、付記１に記載の方法。
（付記３）
各１次アクチュエータは、前記フォークの本体部分と、前記本体部分を駆動することができる機械式、圧電式、油圧式、又は空気圧式デバイスとを備える、付記２に記載の方法。
（付記４）
前記本体部分は、線形電圧変位変換器、デジタルスケール、キャパシタンスゲージ、光学変位計、レーザ変位計、又はそれらの組み合わせ、を備える位置センサによって位置特定される、付記３に記載の方法。
（付記５）
各２次アクチュエータは尖叉を備え、前記尖叉は、前記尖叉を加熱することにより制御可能である、付記１～４のいずれか一項に記載の方法。
（付記６）
前記尖叉は所定の温度に加熱される、付記５に記載の方法。
（付記７）
抵抗性ヒータ及び／又は赤外線ヒータによって前記尖叉に熱が加えられる、付記５又は６に記載の方法。
（付記８）
各尖叉を位置決めすることは、少なくとも１つの尖叉を冷却することを更に含む、付記５～７のいずれか一項に記載の方法。
（付記９）
前記少なくとも１つの尖叉は、強制空気対流によって冷却される、付記８に記載の方法。
（付記１０）
前記１次アクチュエータ及び前記２次アクチュエータの各々を位置決めすることは、
対応する目標１次アクチュエータ位置に基づいて１次アクチュエータの位置を決定することと、
前記目標１次アクチュエータ位置に少なくとも部分的に基づいて、前記１次アクチュエータに対応する各２次アクチュエータの位置を決定することと、を含む、付記１～９のいずれか一項に記載の方法。
（付記１１）
前記目標１次アクチュエータ位置は、前記２次アクチュエータ間の長さ制御信号の変動を低減させるように決定される、付記１０に記載の方法。
（付記１２）
前記長さ制御信号は、温度、電力、圧電電圧、又は油圧を含む、付記１１に記載の方法。
（付記１３）
前記方法は、前記１次アクチュエータ及び前記２次アクチュエータの各々の前記位置決めを漸進的に改善するための制御ループに従って反復的に実行される、付記１０～１２のいずれか一項に記載の方法。
（付記１４）
前記制御ループは、
押出ウェブの第１の場所で測定される第１のウェブ厚さプロファイルに基づく内側ループであって、前記目標スロット高さプロファイルは、前記内側ループの少なくともいくつかの反復にわたって一定に保持される、内側ループと、
前記押出ウェブの第２の場所で測定される第２のウェブ厚さプロファイルに基づく外側ループであって、前記第２の場所は前記第１の場所から下流にあり、前記目標スロット高さプロファイルは、前記外側ループの各反復において更新される、外側ループと、を備える、付記１３に記載の方法。
（付記１５）
前記押出ウェブを前記第１の場所と前記第２の場所との間で搬送することを更に含む、付記１４に記載の方法。
（付記１６）
前記１次アクチュエータ及び前記２次アクチュエータの前記位置決めは、前記制御ループの各反復において同時に行われる、付記１３～１５のいずれか一項に記載の方法。
（付記１７）
前記１次アクチュエータは、前記制御ループの最初に、所定の設定に従って位置決めされる、付記１３～１６のいずれか一項に記載の方法。
（付記１８）
前記２次アクチュエータは、前記制御ループの最初に、所定の設定に従って位置決めされる、付記１３～１７のいずれか一項に記載の方法。
（付記１９）
前記１次アクチュエータ又は前記２次アクチュエータの前記所定の設定は、前記スロットダイの幅にわたって一定である、付記１３～１８のいずれか一項に記載の方法。
（付記２０）
スロットダイを備えるシステムであって、
前記スロットダイは、
前記スロットダイの幅にわたって延びるアプリケータスロットであって、前記スロットダイを通る流体流路と流体連通している、アプリケータスロットと、
前記アプリケータスロットを通る流体流路の断面高さを調整するためのスロットダイ表面を備える調整機構と、
前記スロットダイ表面の前記幅に沿って離間した複数の１次アクチュエータであって、各１次アクチュエータは、１つ以上の２次アクチュエータに動作可能に結合され、各２次アクチュエータは、前記調整機構に動作可能に結合されて、その対応する場所での流体流路の断面高さを調整して、前記アプリケータスロットを通る流体流の局所的な調整を提供する、複数の１次アクチュエータと、
各１次アクチュエータ及び各２次アクチュエータの位置を独立して設定することが可能なコントローラと、を備える、システム。
（付記２１）
前記１次アクチュエータ及び前記２次アクチュエータは、複数の尖叉を有するフォークを集合的に備え、各１次アクチュエータは、前記フォークの本体部分を備え、各２次アクチュエータは、尖叉を備える、付記２０に記載のシステム。
（付記２２）
前記本体部分の前記位置は、線形電圧変位変換器、デジタルスケール、キャパシタンスゲージ、光学変位計、レーザ変位計、又はそれらの組み合わせ、を備える位置センサによって支援される、付記２１に記載のシステム。
（付記２３）
前記フォークは、３個以上の尖叉を有する、付記２１又は２２に記載のシステム。
（付記２４）
前記スロットダイは、取付ブラケットを更に備え、各本体部分は、前記取付ブラケットを通って延びて、前記本体部分のたわみを低減させる、付記２１～２３のいずれか一項に記載のシステム。
（付記２５）
前記スロットダイは、フィルムスロットダイ、押出ダイ、多層スロットダイ、ホットメルト押出コーティングダイ、ドロップダイ、回転ロッドダイ、接着剤スロットダイ、溶媒コーティングスロットダイ、水性コーティングダイ、スロット供給ナイフダイ、及びナイフコータからなる群から選択される、付記２０～２４のいずれか一項に記載のシステム。

Claims (25)

1. スロットダイを調整する方法であって、前記スロットダイは、
   前記スロットダイの幅にわたって延びるアプリケータスロットであって、前記スロットダイを通る流体流路と流体連通している、アプリケータスロットと、
   スロットダイ表面を含む調整機構と、
   前記スロットダイの前記幅に沿って離間した複数の１次アクチュエータであって、各１次アクチュエータは、１つ以上の２次アクチュエータに動作可能に結合され、各２次アクチュエータは、前記調整機構に動作可能に結合されて、その対応する場所での流体流路の断面高さを調整して、前記アプリケータスロットを通る流体流の局所的な調整を提供する、複数の１次アクチュエータと、を備え、
   前記方法は、
   目標スロット高さプロファイルを決定することと、
   コントローラを用いて、前記目標スロット高さプロファイルに基づいて、１次アクチュエータ設定のセット及び２次アクチュエータ設定のセットを予測することと、
   前記１次アクチュエータ設定及び前記２次アクチュエータ設定の予測された前記セットに従って、前記１次アクチュエータ及び前記２次アクチュエータの各々を別々に位置決めして前記スロットダイを調整することと、を含む、方法。
2. 前記１次アクチュエータ及び前記２次アクチュエータは、複数の尖叉を有するフォークを集合的に備え、更に各尖叉は個別に制御可能である、請求項１に記載の方法。
3. 各１次アクチュエータは、前記フォークの本体部分と、前記本体部分を駆動することができる機械式、圧電式、油圧式、又は空気圧式デバイスとを備える、請求項２に記載の方法。
4. 前記本体部分は、線形電圧変位変換器、デジタルスケール、キャパシタンスゲージ、光学変位計、レーザ変位計、又はそれらの組み合わせ、を備える位置センサによって位置特定される、請求項３に記載の方法。
5. 各２次アクチュエータは尖叉を備え、前記尖叉は、前記尖叉を加熱することにより制御可能である、請求項１～４のいずれか一項に記載の方法。
6. 前記尖叉は所定の温度に加熱される、請求項５に記載の方法。
7. 抵抗性ヒータ及び／又は赤外線ヒータによって前記尖叉に熱が加えられる、請求項５又は６に記載の方法。
8. 各尖叉を位置決めすることは、少なくとも１つの尖叉を冷却することを更に含む、請求項５～７のいずれか一項に記載の方法。
9. 前記少なくとも１つの尖叉は、強制空気対流によって冷却される、請求項８に記載の方法。
10. 前記１次アクチュエータ及び前記２次アクチュエータの各々を位置決めすることは、
    対応する目標１次アクチュエータ位置に基づいて１次アクチュエータの位置を決定することと、
    前記目標１次アクチュエータ位置に少なくとも部分的に基づいて、前記１次アクチュエータに対応する各２次アクチュエータの位置を決定することと、を含む、請求項１～９のいずれか一項に記載の方法。
11. 前記目標１次アクチュエータ位置は、前記２次アクチュエータ間の長さ制御信号の変動を低減させるように決定される、請求項１０に記載の方法。
12. 前記長さ制御信号は、温度、電力、圧電電圧、又は油圧を含む、請求項１１に記載の方法。
13. 前記方法は、前記１次アクチュエータ及び前記２次アクチュエータの各々の前記位置決めを漸進的に改善するための制御ループに従って反復的に実行される、請求項１０～１２のいずれか一項に記載の方法。
14. 前記制御ループは、
    押出ウェブの第１の場所で測定される第１のウェブ厚さプロファイルに基づく内側ループであって、前記目標スロット高さプロファイルは、前記内側ループの少なくともいくつかの反復にわたって一定に保持される、内側ループと、
    前記押出ウェブの第２の場所で測定される第２のウェブ厚さプロファイルに基づく外側ループであって、前記第２の場所は前記第１の場所から下流にあり、前記目標スロット高さプロファイルは、前記外側ループの各反復において更新される、外側ループと、を備える、請求項１３に記載の方法。
15. 前記押出ウェブを前記第１の場所と前記第２の場所との間で搬送することを更に含む、請求項１４に記載の方法。
16. 前記１次アクチュエータ及び前記２次アクチュエータの前記位置決めは、前記制御ループの各反復において同時に行われる、請求項１３～１５のいずれか一項に記載の方法。
17. 前記１次アクチュエータは、前記制御ループの最初に、所定の設定に従って位置決めされる、請求項１３～１６のいずれか一項に記載の方法。
18. 前記２次アクチュエータは、前記制御ループの最初に、所定の設定に従って位置決めされる、請求項１３～１７のいずれか一項に記載の方法。
19. 前記１次アクチュエータ又は前記２次アクチュエータの前記所定の設定は、前記スロットダイの幅にわたって一定である、請求項１３～１８のいずれか一項に記載の方法。
20. スロットダイを備えるシステムであって、
    前記スロットダイは、
    前記スロットダイの幅にわたって延びるアプリケータスロットであって、前記スロットダイを通る流体流路と流体連通している、アプリケータスロットと、
    前記アプリケータスロットを通る流体流路の断面高さを調整するためのスロットダイ表面を備える調整機構と、
    前記スロットダイ表面の前記幅に沿って離間した複数の１次アクチュエータであって、各１次アクチュエータは、１つ以上の２次アクチュエータに動作可能に結合され、各２次アクチュエータは、前記調整機構に動作可能に結合されて、その対応する場所での流体流路の断面高さを調整して、前記アプリケータスロットを通る流体流の局所的な調整を提供する、複数の１次アクチュエータと、
    各１次アクチュエータ及び各２次アクチュエータの位置を独立して設定することが可能なコントローラと、を備える、システム。
21. 前記１次アクチュエータ及び前記２次アクチュエータは、複数の尖叉を有するフォークを集合的に備え、各１次アクチュエータは、前記フォークの本体部分を備え、各２次アクチュエータは、尖叉を備える、請求項２０に記載のシステム。
22. 前記本体部分の前記位置は、線形電圧変位変換器、デジタルスケール、キャパシタンスゲージ、光学変位計、レーザ変位計、又はそれらの組み合わせ、を備える位置センサによって支援される、請求項２１に記載のシステム。
23. 前記フォークは、３個以上の尖叉を有する、請求項２１又は２２に記載のシステム。
24. 前記スロットダイは、取付ブラケットを更に備え、各本体部分は、前記取付ブラケットを通って延びて、前記本体部分のたわみを低減させる、請求項２１～２３のいずれか一項に記載のシステム。
25. 前記スロットダイは、フィルムスロットダイ、押出ダイ、多層スロットダイ、ホットメルト押出コーティングダイ、ドロップダイ、回転ロッドダイ、接着剤スロットダイ、溶媒コーティングスロットダイ、水性コーティングダイ、スロット供給ナイフダイ、及びナイフコータからなる群から選択される、請求項２０～２４のいずれか一項に記載のシステム。

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