JP2024077412A - 円筒内面検査装置 - Google Patents
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Landscapes
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Abstract
Description
w=0.61λ/NA (1)
11 本体部
12、12A~12C 検査プローブ
13 アーム
14 昇降装置
15 支柱
16 レーザ発光装置
17 光電変換部
18 照射角度調整部
19 台座
20 端末装置
21 制御部
22 処理部
23 表示部
71 穴あき基板
71a レーザ光通過穴
72 分離用光学素子
73a、73b 光電変換センサ
74 ミラー
75 集光レンズ
76 分離用光学素子
77a、77b 光電変換センサ
80 検査対象物
101 照射光
102 反射光
111 本体部
112 検査プローブ
116 レーザ発光装置
117 光電変換部
118 照射角度調整部
130 偏向用光学素子
Claims (7)
- 円筒状の検査対象物の内面に照射するための、互いに異なる中心波長の複数のレーザ光を発生させるレーザ発光装置と、
前記レーザ発光装置からの前記複数のレーザ光を照射光として先端部に伝送し、先端部から検査対象物の内面に照射光を照射し、検査対象物の内面から反射された反射光を後端部に伝送する検査プローブを備え、照射光を前記検査プローブの先端部から検査対象物の内面の全周囲に順次照射する走査部と、
前記検査プローブの後端部から出射された反射光を波長毎に電気信号に変換する光電変換部と、
前記レーザ発光装置、前記走査部、及び、前記光電変換部を備える本体部を移動させる移動装置と、
を備える円筒内面検査装置。 - 前記複数のレーザ光の中心波長は、互いに100nm以上異なるように設定されている
請求項1記載の円筒内面検査装置。 - 前記複数のレーザ光の中心波長は、波長帯域が280nm以上380nm未満の紫外光、380nm以上430nm未満の紫色光、430nm以上490nm未満の青色光、490nm以上550nm未満の緑色光、550nm以上590nm未満の黄色光、590nm以上640nm未満の橙色光、640nm以上770nm未満の赤色光、770nm以上2500nm未満の近赤外光、2500nm以上の赤外光の分類のうち、互いに異なる分類の組み合わせとなるように設定されている
請求項2記載の円筒内面検査装置。 - 前記複数のレーザ光を検査対象物の内面に照射した際のスポット径が、互いに25μm以上異なるように構成されている
請求項1記載の円筒内面検査装置。 - 前記走査部は、互いに異なる中心波長の複数のレーザ光を検査対象物の内面に照射した際のスポット光のスポット径が中心波長毎に異なる径とし、かつ、スポット径が異なる複数のスポット光の中心位置が同じ位置となるように同心円状に重畳した状態で、複数のスポット光を同時に検査対象物の内面に照射する
請求項1記載の円筒内面検査装置。 - 前記走査部は、
前記レーザ発光装置からのレーザ光を照射光として中空領域を介して伝送する透明材料により形成されたパイプ状部材と、前記パイプ状部材を内部に収容する円筒状の外装部材と、前記外装部材の先端部に設けられた反射部材とから構成され、前記照射光を前記パイプ状部材の中空領域を介して先端部まで伝送して当該先端部に設けられた前記反射部材により反射させることにより検査対象物の内面に前記照射光を照射し、検査対象物の内面から反射された反射光を前記反射部材により反射させて前記パイプ状部材の中空領域以外の領域を介して伝送する前記検査プローブと、
前記検査プローブを回転させる回転装置と、
を備える
請求項1から5のいずれか1項記載の円筒内面検査装置。 - 前記走査部は、
前記レーザ発光装置において発生したレーザ光の照射角度を調整する照射角度調整部と、360度方向に反射又は屈折角度を有する偏向用光学素子が先端部に設けられ、前記照射角度調整部により照射角度が調整された後のレーザ光を、検査対象物の内部に挿入する先端部まで伝送して前記偏向用光学素子により反射又は屈折させることにより検査対象物の内面の全周囲に照射光として順次照射し、検査対象物の内面から反射された反射光を前記偏向用光学素子により反射又は屈折させて前記先端部とは反対側の端面に伝送する前記検査プローブと、
を備える
請求項1から5のいずれか1項記載の円筒内面検査装置。
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Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55121138A (en) * | 1980-01-05 | 1980-09-18 | Matsushita Electric Works Ltd | Defective detector for sheet body |
JPH0634566A (ja) * | 1992-07-15 | 1994-02-08 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 表面傷検査装置 |
WO2016208606A1 (ja) * | 2015-06-25 | 2016-12-29 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検出装置、表面欠陥検出方法、及び鋼材の製造方法 |
WO2016208626A1 (ja) * | 2015-06-25 | 2016-12-29 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法 |
US9581556B1 (en) * | 2012-11-15 | 2017-02-28 | Industrial Optical Measurement Systems, LLC | Laser probe for use in an inspection system |
JP2021004873A (ja) * | 2019-05-22 | 2021-01-14 | ザ・ボーイング・カンパニーThe Boeing Company | 孔の光学撮像及びスキャニング |
JP2021096088A (ja) * | 2019-12-13 | 2021-06-24 | オンライン・ビジネス・ソリューション株式会社 | 円筒内面検査装置 |
JP7049726B1 (ja) * | 2021-12-07 | 2022-04-07 | オンライン・ビジネス・ソリューション株式会社 | 円筒内面検査装置 |
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55121138A (en) * | 1980-01-05 | 1980-09-18 | Matsushita Electric Works Ltd | Defective detector for sheet body |
JPH0634566A (ja) * | 1992-07-15 | 1994-02-08 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 表面傷検査装置 |
US9581556B1 (en) * | 2012-11-15 | 2017-02-28 | Industrial Optical Measurement Systems, LLC | Laser probe for use in an inspection system |
WO2016208606A1 (ja) * | 2015-06-25 | 2016-12-29 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検出装置、表面欠陥検出方法、及び鋼材の製造方法 |
WO2016208626A1 (ja) * | 2015-06-25 | 2016-12-29 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法 |
JP2021004873A (ja) * | 2019-05-22 | 2021-01-14 | ザ・ボーイング・カンパニーThe Boeing Company | 孔の光学撮像及びスキャニング |
JP2021096088A (ja) * | 2019-12-13 | 2021-06-24 | オンライン・ビジネス・ソリューション株式会社 | 円筒内面検査装置 |
JP7049726B1 (ja) * | 2021-12-07 | 2022-04-07 | オンライン・ビジネス・ソリューション株式会社 | 円筒内面検査装置 |
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