JP2024059042A - 処理装置 - Google Patents

Abstract

【課題】パルス渦流探傷による対象物の厚さの測定値の中から異常値を適切に判別する。【解決手段】処理装置５は、パルス渦流探傷によって測定された対象物９の厚さの測定値を継続的に収集する収集器５４と、収集器５４によって収集された測定値の集合である測定値群の中から異常値を判別する判別器５５とを備えている。判別器５５は、測定値群のうちの所定の第１期間中の測定値に基づいて測定値群の中から第１異常値を判別する第１判別と、測定値群のうちの第１期間よりも長い第２期間中の測定値から第１異常値を除去して、第１異常値が除去された第２期間中の測定値の経時変化に基づいて測定値群の中から第２異常値を判別する第２判別とを実行する。【選択図】図５

Description

ここに開示された技術は、処理装置に関する。

従来より、測定値に含まれる異常値を判別する技術が知られている。例えば、特許文献１に開示された装置は、測定データの母集団の中から測定データ間の差異に基づいて、測定データ群における測定データのばらつきが母集団における測定データのばらつきよりも小さくなるように、母集団の中から特定の測定データを除去する。

特開２０２２－２８２５２号公報

ところで、パルス渦流探傷による対象物の厚さの測定においては、測定が長期に亘って実行される。このような長期に亘って収集される測定値に対しては異常値の適切な判別が難しい。

ここに開示された技術は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、パルス渦流探傷による対象物の厚さの測定値の中から異常値を適切に判別することにある。

ここに開示された処理装置は、パルス渦流探傷によって測定された対象物の厚さの測定値を継続的に収集する収集器と、前記収集器によって収集された前記測定値の集合である測定値群の中から異常値を判別する判別器とを備え、前記判別器は、前記測定値群のうちの所定の第１期間中の前記測定値に基づいて前記測定値群の中から第１異常値を判別する第１判別と、前記測定値群のうちの前記第１期間よりも長い第２期間中の前記測定値から前記第１異常値を除去して、前記第１異常値が除去された前記第２期間中の前記測定値の経時変化に基づいて前記測定値群の中から第２異常値を判別する第２判別とを実行する。

本開示の処理装置によれば、パルス渦流探傷による対象物の厚さの測定値の中から異常値を適切に判別することができる。

図１は、測定システムの構成を示す説明図である。 図２は、制御装置による渦電流測定のフローチャートである。 図３は、処理装置の制御器の制御系統の構成を示すブロック図である。 図４は、第１検出器によって検出された電圧信号Ｖ（ｔ）の時間変化、即ち、渦電流の時間変化を示すグラフである。 図５は、第１判別を行う前の測定値群の一例を表すグラフである。 図６は、第２判別を行う前の測定値群の一例を表すグラフである。 図７は、測定値の変化率を求める際の測定値群の一例を表すグラフである。

以下、例示的な実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。図１は、測定システム１００の構成を示す説明図である。

－測定システムの概略－
測定システム１００は、プローブ１と、プローブ１を制御する制御装置３と、プローブ１の検出結果から測定値を求め、測定値を処理する処理装置５とを備えている。測定システム１００は、パルス渦電流探傷（ＰＥＣ:Pulsed Eddy Current）によって対象物の厚さを測定する。プローブ１は、対象物９に渦電流を発生させ且つ発生した渦電流を検出する。この例では、対象物９は、配管である。配管は、流体が流通する金属製の配管である。

－プローブ－
プローブ１は、非接触型のプローブであり、対象物９に近接して配置される。尚、「非接触型」とは、非接触でも使用可能であることを意味し、接触状態での使用を除外するものではない。プローブ１は、変動磁場を形成することによって対象物に渦電流を発生させる。また、プローブ１は、対象物に発生した渦電流の変化を誘導電圧として検出する。

プローブ１は、励磁電流による磁束で対象物９に渦電流を発生させる励磁コイル１１と、対象物９の渦電流を検出する検出コイル１２とを備える。プローブ１は、励磁コイル１１及び検出コイル１２を収容するケーシング１３をさらに備えていてもよい。プローブ１は、励磁コイル１１によって対象物９に渦電流を発生させ、発生した渦電流を検出コイル１２で検出する。この例では、プローブ１は、励磁コイル１１と検出コイル１２とを１組として、２組の励磁コイル１１及び検出コイル１２を有している。各組の励磁コイル１１の軸心と検出コイル１２の軸心とが一直線状になるように、励磁コイル１１と検出コイル１２とが配列されている。このとき、検出コイル１２の方が対象物９の近くに配置されている。

励磁コイル１１は、電流が印加されることによって、その軸心の方向に磁場を形成する。一方の励磁コイル１１と他方の励磁コイル１１とは、軸心の方向において互いに反対向きの磁場を形成するように電流が印加される。例えば、一方の励磁コイル１１から対象物９へ向かって磁束が発生し、対象物９から他方の励磁コイル１１へ向かって磁束が発生する。その結果、一方の励磁コイル１１から発せられる大部分の磁束は、一方の励磁コイル１１の軸心の方向に出て対象物９内へ入り、対象物９内を略円弧状に通過し、他方の励磁コイル１１の軸心の方向へ向かい他方の励磁コイル１１に入っていく。励磁コイル１１に印加する電流を変動させることによって、対象物９に発生する磁場が変動し、対象物９に渦電流が発生する。

一方、対象物９のうち検出コイル１２の近傍の部分に発生した渦電流によって、検出コイル１２を貫通する磁束が形成される。検出コイル１２を貫通する磁束が変化すると、検出コイル１２に誘導起電力が発生する。検出コイル１２は、この誘導起電力を検出することによって、対象物９の渦電流を検出する。

プローブ１は、対象物９の温度を検出する温度センサ２１をさらに備えていてもよい。温度センサ２１は、ケーシング１３内に配置されていてもよい。温度センサ２１は、例えば、熱電対である。

－制御装置－
制御装置３は、励磁コイル１１に励磁電流を印加する励磁器３１と、対象物９の渦電流の過渡変化を検出する第１検出器３２と、温度センサ２１の出力が入力される第２検出器３３と、外部機器と通信を行う通信器３４と、各種情報を記憶する記憶器３５と、少なくとも励磁器３１、第１検出器３２、第２検出器３３、通信器３４及び記憶器３５を制御する制御器３６とを有している。

励磁器３１は、パルス状の励磁電流を励磁コイル１１に供給する。励磁器３１は、パルス信号を発生するパルス発生器３１ａと、パルス発生器３１ａからのパルス信号を増幅して、励磁電流として出力する送信アンプ３１ｂとを有している。

第１検出器３２は、対象物９の渦電流に応じて検出コイル１２に発生する誘導起電力を検出する。検出コイル１２に発生する誘導起電力の過渡変化は、対象物９に発生する渦電流の過渡変化と関連している。第１検出器３２は、検出コイル１２に発生する電圧を増幅する受信アンプ３２ａを少なくとも有している。第１検出器３２は、電圧信号にフィルタ処理を施すフィルタをさらに有していてもよい。

第２検出器３３は、温度センサ２１からの出力が入力されている。第２検出器３３は、温度センサ２１からの出力を増幅するアンプを有していてもよい。

通信器３４は、外部機器と無線通信を行う。例えば、通信器３４は、第１検出器３２によって検出された電圧信号（即ち、検出信号）及び第２検出器３３によって検出された検出信号を処理装置５に送信する。

記憶器３５は、制御器３６で実行されるプログラム及び各種データを格納している。例えば、記憶器３５は、制御プログラムが格納されている。記憶器３５は、第１検出器３２の検出信号及び第２検出器３３の検出信号を記憶している。記憶器３５は、不揮発性メモリ、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｃ Ｄｒｉｖｅ）又はＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）等で形成される。

制御器３６は、制御装置３の全体を制御する。制御器３６は、各種の演算処理を行う。例えば、制御器３６は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）等のプロセッサで形成されている。制御器３６は、ＭＣＵ（Ｍｉｃｒｏ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ Ｕｎｉｔ）、ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ Ｕｎｉｔ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）、ＰＬＣ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）、システムＬＳＩ等で形成されていてもよい。

例えば、制御器３６は、励磁器３１に所定期間だけ励磁電流を出力させる一方、励磁電流の出力停止後に第１検出器３２による検出信号を取得する。制御器３６は、第２検出器３３による検出信号も取得する。制御器３６は、第１検出器３２及び第２検出器３３からの検出信号を記憶器３５に記憶させ、記憶器３５に記憶された検出信号を所定のタイミングで通信器３４を介して処理装置５に送信する。

制御装置３による渦電流の測定について図２を用いて詳しく説明する。図２は、制御装置３による渦電流測定のフローチャートである。

制御器３６は、ステップＳ１０１において、対象物９の温度を測定する。つまり、制御器３６は、温度センサ２１の出力を第２検出部３３に取得させ、取得された検出信号を記憶器３５に記憶させる。後述するが、対象物９の温度測定は繰り返される場合があり、記憶器３５は、測定温度を蓄積していく。

続いて、制御器３６は、ステップＳ１０２において、対象物９の渦電流の測定（詳しくは、渦電流の過渡変化の測定）を行う。制御器３６は、所定の繰り返し回数ｎの渦電流の測定を１セット行う。具体的には、制御器３６は、励磁器３１に励磁電流を励磁コイル１１へ出力させる。励磁コイル１１は、励磁電流の印加によって軸心の方向へ磁場を形成する。一方の励磁コイル１１と他方の励磁コイル１１とは、軸心の方向において互いに反対向きの磁場を形成する。例えば、一方の励磁コイル１１から対象物９へ向かって磁束が発生し、対象物９から他方の励磁コイル１１へ向かって磁束が発生する。制御器３６は、励磁電流の出力を停止させ、対象物９に発生する渦電流を第１検出器３２に検出させる。制御器３６は、第１検出器３２による電圧信号の検出を所定期間継続し、検出された電気信号を記憶器３５に記憶していく。これにより、制御器３６は、検出コイル１２の誘導起電力の過渡変化（経時変化）、即ち、対象物９に発生する渦電流の過渡変化を測定する。制御器３６は、このような渦電流の測定を繰り返し回数ｎだけ繰り返す。

その後、制御器３６は、ステップＳ１０３において、対象物９の温度を測定する。ステップＳ１０３の処理は、ステップＳ１０１の処理と同様である。

制御器３６は、ステップＳ１０４において、対象物９の温度変化が所定の基準よりも大きいか否かを判定する。例えば、制御器３６は、ステップＳ１０３で測定された温度と前回測定された温度との温度差が所定値αよりも大きいか否かを判定する。制御器３６は、記憶器３５に記憶されている直近の２回の測定温度から温度差を求めて判定する。

対象物９の温度変化が所定の基準よりも大きくない場合、即ち、温度差が所定値α以下である場合には、制御器３６は、ステップＳ１０５において、繰り返し回数ｎの渦電流の測定のセット数が所定のセット回数ｍに達したか否かを判定する。測定のセット数がセット回数ｍに達していない場合には、制御器３６は、ステップＳ１０２に戻って、ステップＳ１０２以降の処理を繰り返す。

ステップＳ１０２～Ｓ１０５が繰り返されて、測定のセット数がセット回数ｍに達した場合には、制御器３６は、ステップＳ１０６において、記憶器３５に蓄積された渦電流（検出信号）及び温度（即ち、検出信号）を処理装置５へ送信する。つまり、制御器３６は、繰り返し回数ｎ×セット回数ｍの渦電流とセット回数ｍの温度とを処理装置５へ送信する。

制御器３６は、渦電流及び温度の送信を完了すると、今回の渦電流の測定を終了する。

一方、ステップＳ１０４において、対象物９の温度変化が所定の基準よりも大きい場合、即ち、温度差が所定値αよりも大きい場合には、制御器３６は、渦電流の測定を中止し、ステップＳ１０６へ進む。制御器３６は、ステップＳ１０６において、測定を中止するまでに記憶器３５に蓄積された渦電流と温度とを処理装置５へ送信する。このとき、制御器３６は、対象物９の温度変化が大きいために渦電流の測定を中止した旨も処理装置５へ通知する。

制御器３６は、このような渦電流の測定を所定の測定周期で繰り返す。これにより、複数個の渦電流の測定結果が周期的に取得される。そして、複数個の渦電流の測定の途中に対象物９の温度が監視される。具体的には、ｎ回の渦電流の測定ごとに１回の温度測定が行われる。渦電流の過渡変化は、対象物９の温度に依存する。対象物９の温度測定の１つの目的は、渦電流の過渡変化から求められる対象物９の厚さを対象物９の温度によって補正することである。対象物９の温度測定の別の目的は、対象物９の温度変化が大き過ぎる場合の渦電流を対象物９の厚さ測定から除去することである。対象物９の温度変化が大き過ぎる場合には、温度センサ２１による検出の遅れ等が原因で、対象物９の厚さを測定温度によって精度よく補正できない虞がある。そこで、対象物９の温度変化が大き過ぎる場合には、制御器３６は、そのときに測定された渦電流を対象物９の厚さ測定から除去するために、渦電流の測定を中止する。尚、制御器３６は、それまでに測定された渦電流及び温度を形式的に処理装置５へ送信する。処理装置５は、受信した渦電流及び温度を対象物９の厚さ測定に用いない。

尚、測定システム１００が複数のプローブ１を備える場合には、制御器３６は、各プローブ１に関する渦電流の測定を順番に又は並行して行う。対象物９の表面においてプローブ１を移動させる移動器を測定システム１００が備えている場合には、制御器３６は、一の測定位置で渦電流の測定を終えると、プローブ１を別の測定位置へ移動させて渦電流の測定を実行する。制御器３６は、プローブ１に対象物９の表面において走査させて渦電流の測定を継続する。

－処理装置－
処理装置５は、コンピュータ又はコンピュータネットワーク（所謂、クラウド）で形成されている。処理装置５は、図１に示すように、外部機器と通信を行う通信器５１と、各種情報を記憶する記憶器５２と、検出された渦電流の過渡変化に基づいて対象物９の厚さを求める制御器５３とを有している。

通信器５１は、外部機器と無線通信を行う。例えば、通信器５１は、制御装置３からの検出信号（即ち、プローブ１及び温度センサ２１の検出信号）を受信する。

制御器５３は、処理装置５の全体を制御する。制御器５３は、各種の演算処理を行う。例えば、制御器５３は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）等のプロセッサで形成されている。制御器５３は、ＭＣＵ（Ｍｉｃｒｏ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ Ｕｎｉｔ）、ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ Ｕｎｉｔ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）、ＰＬＣ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）、システムＬＳＩ等で形成されていてもよい。

記憶器５２は、制御器５３で実行されるプログラム及び各種データを格納している。例えば、記憶器５２は、制御プログラムが格納されている。記憶器５２は、不揮発性メモリ、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｃ Ｄｒｉｖｅ）又はＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ Ｓｔａｔｅ Ｄｒｉｖｅ）等で形成される。記憶器５２は、プローブ１によって測定された渦電流、温度センサ２１によって測定された温度、及び、対象物９の厚さを演算するために必要な情報等を記憶している。

図３は、処理装置５の制御器５３の制御系統の構成を示すブロック図である。制御器５３は、記憶器５２から制御プログラムをメモリに読み出して展開することによって、各種機能を実現する。具体的には、制御器５３は、渦電流から対象物９の厚さを測定して、測定値を収集する収集器５４と、測定値群の中から異常値を判別する判別器５５と、対象物９の厚さの変化率を測定値群に基づいて求める算出器５６として機能する。

＝収集器＝
収集器５４は、プローブ１によって測定された渦電流に基づいて、測定値として対象物９の厚さを求める。尚、収集器５４は、対象物９の温度変化が大きいために渦電流の測定を中止した場合の渦電流は、対象物９の厚さの算出を行わない。渦電流に基づいた厚さの測定は、公知の技術が用いられる。例えば、渦電流は、対象物９に浸透していくのに従って減衰していく。渦電流は、対象物９の表面（プローブ１が対向している面）から裏面に到達するまでの間は徐々に減衰し、裏面に到達すると急激に減衰する。検出コイル１２によって検出される電圧も渦電流と同様に変化する。対象物９の厚さと検出電圧が急激に減衰するまでの時間とには相関がある。制御器５３は、検出電圧が急激に減衰するまでの時間に基づいて、対象物９の厚さを演算する。

厚さ測定についてさらに詳しく説明する。図４は、第１検出器３２によって検出された電圧信号Ｖ（ｔ）の時間変化、即ち、渦電流の時間変化を示すグラフである。図４のグラフは、両対数グラフである。図４において、電圧信号Ｖ０（ｔ）は、厚さｄ０を有する対象物９の電圧信号であり、電圧信号Ｖ１（ｔ）は、厚さｄ０よりも薄い厚さｄ１を有する対象物９の電圧信号である。制御装置３から処理装置５へ送信される、プローブ１によって測定された渦電流は、図４に示すような電圧信号Ｖ（ｔ）である。

渦電流は、対象物９に浸透していくのに従って減衰していく。渦電流は、対象物９の表面（プローブ１が対向している面）から裏面に到達するまでの間は徐々に減衰し、裏面に到達すると急激に減衰する。電圧信号Ｖ（ｔ）も渦電流と同様の変化を示す。つまり、電圧信号Ｖ（ｔ）の過渡変化は、渦電流の過渡変化に相当する。渦電流が対象物９の裏面に達するまでの間の電圧信号Ｖ（ｔ）の変化は、両対数グラフ上では直線的（線形的）に表される。その後、電圧信号Ｖ（ｔ）は、急激に減衰していく。このように変化する電圧信号Ｖ（ｔ）は、以下の式（１）のように表される。

ここで、Ａは、電圧信号Ｖ（ｔ）の振幅の程度に関連する定数である。ｎは、電圧信号Ｖ（ｔ）の減衰の程度に関連する定数であり、－ｎは、両対数グラフにおける電圧信号Ｖ（ｔ）の傾きを表す。

式（１）からもわかるように、電圧信号Ｖ（ｔ）の変化態様は、時間τにおいて切り替わる。以下、説明の便宜上、τを「減衰時間」と称する。減衰時間τは、以下の式（２）で表わされる。

τ＝σμｄ^２ ・・・（２）
ここで、σは、対象物９の導電率であり、μは、対象物９の透磁率であり、ｄは、対象物９の厚さである。

つまり、減衰時間τは、対象物９の厚さｄに依存して変化する。対象物９の導電率σ及び透磁率μが一定であると仮定すると、減衰時間τは、対象物９の厚さｄに依存して変化する。また、減衰時間τ及び厚さｄが変化しても、τ／ｄ^２は、一定である。そのため、既知の厚さｄ０に対する減衰時間τ０と、未知の厚さｄｘに対する減衰時間τｘとがわかれば、以下の式（３）に基づいて、未知の厚さｄｘを求めることができる。

例えば、図４において電圧信号Ｖ０（ｔ），Ｖ１（ｔ）を比較すると、厚さｄ０の対象物９の電圧信号Ｖ０（ｔ）の変化態様は、減衰時間τ０で切り替わる。対象物９の厚さｄがｄ０からｄ１に減少すると、減衰時間τは、τ０からτ１に減少する。尚、電圧信号Ｖ（ｔ）のうち両対数グラフで直線状の部分の変化態様は、式（１）からわかるように厚さｄに依存しないので、電圧信号Ｖ０（ｔ），Ｖ１（ｔ）で実質的に同じである。厚さｄ０及び減衰時間τ０，τ１を式（３）に代入することによって、厚さｄ１を求めることができる。

処理装置５は、対象物９の既知の厚さを基準厚さｄ０とし、基準厚さｄ０における電圧信号Ｖ０（ｔ）の過渡変化及びそのときの対象物９の温度Ｔ０を予め取得し、記憶器５２に記憶している。以下、電圧信号Ｖ０（ｔ）を基準電圧信号Ｖ０（ｔ）と称する。記憶器５２には、制御装置３から送信された複数の電圧信号Ｖｘ（ｔ）が温度Ｔｘと共に記憶されている。収集器５４は、各電圧信号Ｖｘ（ｔ）の過渡変化を基準電圧信号Ｖ０（ｔ）の過渡変化と比較することによって、対象物９の厚さｄｘを求める。具体的には、収集器５４は、式（３）を用いて、基準厚さｄ０、基準減衰時間τ０及び減衰時間τｘから変化後の厚さｄｘを求める。

さらに、収集器５４は、求めた厚さｄｘを対象物９の温度Ｔｘに基づいて補正する。詳しくは、前述の演算においては、対象物９の導電率σ及び透磁率μが一定であると仮定している。しかし、対象物９の導電率σ及び透磁率μは温度依存性を有する。そこで、収集器５４は、基準厚さｄ０における電圧信号Ｖ０（ｔ）を取得したときの対象物９の温度Ｔ０と厚さｄｘにおける電圧信号Ｖｘ（ｔ）を取得したときの対象物９の温度Ｔｘを用いて、補正後の厚さｄｘ’を求める。具体的には、収集器５４は、以下の式（４）に基づいて補正後の厚さｄｘ’を求める。

ｄｘ’＝ｄｘ－α×ΔＴ×ｄｘ ・・・（４）
ここで、αは、温度補正係数であり、ΔＴ＝Ｔ０－Ｔｘである。尚、温度補正係数αは、対象物９の温度を変化させた場合の電圧信号Ｖ（ｔ）の変化又は対象物９の温度を変化させた場合の、式（３）から求められる厚さｄの変化に基づいて予め求められ、記憶器５２に記憶されている。

尚、前述のように、対象物９の温度は、渦電流の１セットの測定ごと、即ち、渦電流のｎ回の測定ごとに１回測定されている。この例では、一のセットに含まれる温度Ｔｘが、同じセット中の全ての電圧信号Ｖｘ（ｔ）の温度Ｔｘとして用いられる。

こうして、収集器５４は、対象物９の温度を考慮した、対象物９の厚さｄｘ’を求める。収集器５４は、記憶器５２に記憶された複数の電圧信号Ｖｘについて対象物９の厚さｄｘ’を求める。ただし、収集器５４は、渦電流の測定を中止した旨が通知された電圧信号Ｖｘについては、対象物９の厚さｄｘ’を求めない。収集器５４は、求めた対象物９の厚さｄｘ’を記憶器５２に記憶させる。記憶器５２には、測定値が蓄積されていく。求められた対象物９の厚さｄｘ’が対象物９の厚さの測定値である。こうして、収集器５４は、対象物９の厚さの測定値を収集する。渦電流はプローブ１によって周期的に測定されているので、収集器５４は、対象物９の厚さの測定値を周期的、即ち、継続的に収集する。

＝判別器＝
次に、判別器５５について詳しく説明する。

判別器５５は、複数の測定値の集合である測定値群において他の測定値に比べて異常な値、即ち、異常値を測定値群の中から判別する。判別器５５は、測定値群の中から第１異常値を判別する第１判別と、測定値群の中から第２異常値を判別する第２判別とを実行する。第１判別と第２判別とでは、どの期間の測定値を参照するか、判別方法、及び、異常値の取扱いが異なる。

まず、第１判別に関し、判別器５５は、測定値群のうちの所定の第１期間中の測定値に基づいて測定値群の中から第１異常値を判別する。判別器５５は、第１期間中の測定値の代表値を求め、代表値を基準に定められる第１範囲から外れる測定値を第１異常値と判別する。第１範囲は、代表値よりも大きい上限値と代表値よりも小さい下限値とによって規定される。すなわち、第１範囲は、代表値を含み、代表値から上下に拡がりを有する範囲である。

第１異常値は、測定値群から永久に除去される。つまり、第１判別が繰り返し行われる場合には、第１異常値と判別された測定値は、別の第１判別において活用されない。例えば、第１異常値が別の第１判別における第１期間に含まれる場合、第１異常値は代表値の導出から除去される。また、第２判別及び測定値の変化率の算出においても、第１異常値が除去された測定値群が用いられる。

例えば、判別器５５は、測定値群のうち対象測定値ごとに第１判別を実行する。第１判別の対象測定値は、１又は時系列に連続する複数の測定値である。第１期間は、対象測定値に対して過去の所定期間、詳しくは、直前の所定期間である。つまり、判別器５５は、対象測定値に対する直前の第１期間中に含まれる測定値に基づいて対象測定値から第１異常値を判別する。対象測定値が変わると、第１期間も変わる。代表値は、第１期間に含まれる測定値を代表する値である。代表値は、例えば、平均値又は中央値である。第１範囲は、例えば、代表値を基準に規定される範囲である。第１範囲は、代表値を含む範囲である。第１範囲の上限値は、代表値に所定の上幅を加算した値であり、第１範囲の下限値は、代表値から所定の下幅を減算した値である。下幅（代表値と下限値との幅）は、上幅（即ち、上限値と代表値との幅）よりも大きくてもよい。

図５は、第１判別を行う前の測定値群の一例を表すグラフである。図５において、横軸は、時間であり、縦軸は、対象物９の厚さである。グラフ中の縦線（破線）は、一日ごとの区切りを表す。図５では、説明の便宜上、各測定値を時間方向において等間隔で表している。これらは、後述の図６，７においても同様である。

図５の例では、対象測定値は、対象の一日に含まれる測定値である。第１期間は、対象測定値の直前の一日、即ち、前日である。代表値は、平均値である。第１範囲の上幅及び下幅のそれぞれは、平均値に対する分散よりも大きい値である。

判別器５５は、測定値群に含まれる測定値を一日ごとに分けて、各日に含まれる測定値を第１判別の対象測定値とする。判別器５５は、対象測定値の第１期間、即ち、前日の測定値の平均値を求め、平均値を基準に対象測定値の第１範囲を設定する。図５において、一点鎖線は、対象測定値の前日の測定値の平均値であり、二点鎖線は、対象測定値の第１範囲の上限値及び下限値である。判別器５５は、対象測定値のうち第１範囲から外れる測定値を第１異常値として判別する。図５では、正常な測定値が丸で表現され、第１異常値が三角形で表現されている。判別器５５は、第１異常値を記憶器５２に保存する。

判別器５５は、対象測定値を変更して第１判別を繰り返す。このとき、判別器５５は、第１期間に既に第１異常値と判別された測定値が含まれる場合には、第１異常値を除去して平均値を求める。つまり、繰り返される第１判別において、第１異常値は用いられない。

このように、判別器５５は、第１判別において、比較的近い過去の測定値に比べて大きく外れる測定値を第１異常値として判別する。図５からわかるように、第１範囲において、平均値から下限値までの拡がりは、平均値から上限値までの拡がりよりも大きい。測定値は対象物９の厚さであり、対象物９の厚さは経時的に減少し得る。つまり、過去の平均値を下回る測定値は、厚さの減少の影響を受けている可能性がある。平均値から下限値までの拡がりを平均値から上限値までの拡がりよりも大きくすることによって、厚さの減少によって小さくなった測定値を第１異常値と誤判定することを防止できる。

次に、第２判別に関し、判別器５５は、第２期間中の測定値に基づいて測定値群の中から第２異常値を判別する。第２異常値の判別に参照される測定値は、測定値群のうちの第１期間よりも長い第２期間中の測定値から第１異常値が除去された測定値である。第２期間は、第２判別の対象期間と重複する又は同じ期間である。判別器５５は、第２期間中の測定値（第１異常値を除く）の経時変化の近似直線を求め、近似直線を基準とする第２範囲から外れる測定値を第２異常値と判別する。第２範囲は、近似直線から上下に拡がりを有する範囲である。

第２異常値は、後述する算出器５６による変化率の算出時には測定値群から除去される。ただし、判別器５５が第２判別を繰り返し行う際には、過去に第２異常値と判別された測定値は測定値群に戻され、第２異常値を含む測定値群に対して第２判別が実行される。

例えば、判別器５５は、測定値群のうち対象測定値ごとに第２判別を実行する。第２判別の対象測定値は、時系列に連続する複数の測定値である。第２期間は、第２判別の対象測定値を含む期間である。言い換えると、第２期間に含まれる測定値が第２判別の対象測定値である。近似直線は、時間に対する測定値の関係を表す直線である。例えば、近似直線は、最小二乗法によって求められる。第２範囲は、近似直線から所定の閾値だけ上下に拡がりを有する範囲である。

図６は、第２判別を行う前の測定値群の一例を表すグラフである。図６の測定値群からは、第１異常値が除去されている。図６において、太実線は、近似直線であり、二点鎖線は、第２範囲の上限値及び下限値である。図６の例では、第２期間は、十日である。

判別器５５は、測定値群のうち連続する十日間に含まれる測定値を第２判別の対象測定値に設定する。つまり、第２期間も十日間である。判別器５５は、対象測定値の経時変化の近似直線を求め、近似直線を基準に第２範囲を設定する。判別器５５は、近似直線を所定の閾値だけ上下へ平行移動して第２範囲の上限値及び下限値を設定する。例えば、閾値は、近似直線に対する分散に基づいて設定される。例えば、閾値は、分散に所定の倍率を乗じた値である。判別器５５は、第２範囲から外れる対象測定値を第２異常値として判別する。具体的には、判別器５５は、近似直線との差（絶対値）が閾値よりも大きい対象測定値を第２異常値と判別する。図６では、正常な測定値が丸で表現され、第２異常値が四角形で表現されている。判別器５５は、第２異常値を記憶器５２に保存する。

判別器５５は、測定値群の中から第２判別の対象測定値、即ち、対象となる期間を変更しつつ、対象測定値に対して第２判別を繰り返す。例えば、判別器５５は、対象となる期間を一日ずつシフトして第２判別を繰り返す。対象となる期間をシフトする間隔は、一日に限定されず、二日ずつであってもよいし、十日ずつ（即ち、対象となる期間と同じ間隔）であってもよい。第２判別の対象測定値は、第１異常値と既に判別された測定値を含まず、第２異常値と既に判別された測定値を含む。つまり、既に第１異常値と判別された測定値が第２期間に含まれる場合には、判別器５５は、第１異常値を除去して近似直線を求める。一方、既に第２異常値と判別された測定値が第２期間に含まれる場合には、判別器５５は、第２異常値を含めて近似直線を求める。つまり、繰り返される第２判別において、第１異常値は用いられず、第２異常値は用いられる。

このように、判別器５５は、第２判別において、比較的長い期間の測定値の変化に対して大きく外れる測定値を第２異常値として判別する。第２判別においては、測定値の変化態様に対して変化が異なる測定値が第２異常値として判別される。

＝算出器＝
次に、算出器５６について詳しく説明する。算出器５６は、第１異常値及び第２異常値が除去された測定値群の測定値の変化率を算出する。算出器５６は、対象の算出期間中の測定値の変化率を算出する。算出器５６は、算出期間中の測定値の経時変化の近似直線を求め、近似直線の傾きを測定値の変化率として算出する。近似直線は、時間に対する測定値の関係を表す直線である。例えば、近似直線は、最小二乗法によって求められる。

図７は、測定値の変化率を求める際の測定値群の一例を表すグラフである。図７の設定値群からは第１異常値及び第２異常値が除去されている。図７において、太実線は、第１異常値及び第２異常値が除去された測定値群の近似直線であり、一点鎖線は、第１異常値及び第２異常値を含む測定値群の近似直線であり、二点鎖線は、第１異常値のみが除去された測定値群の近似直線である。図７の例では、算出期間は、十日である。

算出器５６は、測定値群のうち算出期間に含まれる測定値を変化率の算出の対象測定値に設定する。この例では、算出期間は、第２判別の第２期間と同じである。算出器５６は、対象測定値の経時変化の近似直線を求め、近似直線の傾きを求める。近似直線の傾きは、測定値の変化率であり、即ち、対象物９の厚さの変化率である。算出器５６は、近似直線の傾きを測定値の変化率として記憶器５２に保存する。

算出器５６は、測定値群の中から変化率の算出の対象測定値、即ち、算出期間を変更しつつ、対象測定値の変化率の算出を繰り返す。例えば、算出器５６は、算出期間を一日ずつシフトして変化率の算出を繰り返す。算出期間をシフトする間隔は、一日に限定されず、二日ずつであってもよいし、十日ずつ（即ち、算出期間と同じ間隔）であってもよい。

このように、算出器５６は、第１異常値及び第２異常値が除去された測定値群の測定値の変化率を求めることによって、他の測定値に比べて大きく外れた測定値を除いて測定値の変化率が求められる。その結果、算出器５６は、測定値の変化率を精度よく求めることができる。尚、図７からわかるように、測定値群から第１異常値のみを除去すること（二点鎖線参照）によっても、第１異常値及び第２異常値の両方を除去しない場合（一点鎖線参照）に比べて、測定値の変化率の算出精度が向上する。

以上のように、処理装置５は、第１判別及び第２判別を実行して、測定値群の中から異常値を２段階で判別する。具体的には、判別器５５は、測定値群のうちの第１期間中の測定値に基づいて測定値群の中から第１異常値を判別する第１判別と、測定値群のうちの第１期間よりも長い第２期間中の測定値から第１異常値を除去して、第１異常値が除去された第２期間中の測定値の経時変化に基づいて測定値群の中から第２異常値を判別する第２判別とを実行する。第１判別では、基準となる測定値に対して値の変化の大きい測定値が第１異常値と判別される。第２判別では、基準となる測定値の変化態様に対して異なる変化をする測定値が第２異常値と判別される。第１判別と第２判別とは異常を判別する観点が異なるため、判別の基準となる測定値が互いに異なる。第１判別では、比較的短い第１期間の測定値が基準となる。第２判別では、測定値の変化態様に基づいて異常が判別されるため、第１期間よりも長い第２期間の測定値が基準となる。このように、異なる２つの観点で異常値が判別されるため、測定値群に含まれる異常値の判別の精度が向上する。その結果、測定値の精度が向上する。

詳しくは、第１判別においては、第１期間中の測定値の代表値を基準に第１異常値が判別される。つまり、第１期間中に複数の測定値が含まれる場合には、複数の測定値を代表する値、例えば、平均値又は中央値等を基準に第１異常値が判別される。これにより、第１期間中に含まれる複数の測定値に対して、対象測定値の変化が大きいか否かを簡便に判別することができる。

具体的には、第１判別においては、第１期間中の測定値の代表値を基準に第１範囲が定められ、第１範囲から外れる測定値が第１異常値と判別される。第１範囲の下限値と代表値との幅は、第１範囲の上限値と代表値との幅よりも大きい。つまり、第１異常値の判別において、代表値よりも下側への判別基準は、代表値よりも上側への判別基準よりも緩和されている。これにより、測定値が経時的に減少する場合には、代表値よりも下側への判別基準を緩くすることによって異常値を適切に判別することができる。

また、第２判別においては、第２期間中の測定値の経時変化の近似直線が求められ、近似直線を基準に第２異常値が判別される。具体的には、近似直線を基準に第２範囲が設定され、第２範囲から外れる測定値が第２異常値と判別される。近似直線は、第２期間中の測定値の経時的な変化態様を表している。そのため、第２範囲から外れる測定値を第２異常値と判別することによって、第２期間中の測定値の経時的な変化態様に比べて変化が大きく異なる測定値を容易に判別することができる。

さらに、第２判別は、測定値群の中の対象測定値を変更して繰り返し実行される。ここで、第２判別の対象測定値は、第１異常値と既に判別された測定値を含まず、第２異常値と既に判別された測定値を含む。つまり、第１異常値と判別された測定値は、その後の第２判別においても除去される。一方、第２異常値と判別された測定値は、その後の第２判別においては測定値として用いられる。例えば、第２異常値と判別された測定値は、その後の第２判別において近似直線の算出に用いられる。これにより、第２期間中の測定値の経時変化の近似直線の精度が向上する。つまり、近似直線の算出において測定値の個数が少ないと、近似直線の精度が低下する。第２異常値の異常の程度は、第１異常値に比べて小さい。そのため、近似直線を算出する際には、第２異常値と既に判別された測定値も用いることによって算出に用いる測定値の個数を増やして、近似直線の精度を向上させることができる。

そして、処理装置５の算出器５６は、第１異常値及び第２異常値が除去された測定値群の測定値の変化率を算出する。要するに、処理装置５は、測定値群の中の第１異常値及び第２異常値を判別することによって、測定値の変化率の算出精度を向上させることができる。

また、測定システム１００の制御措置３は、渦電流の測定時に対象物９の温度を測定し、温度変化が大きい場合には測定された渦電流を対象物９の厚さの導出から除去する。つまり、測定システム１００は、第１判別及び第２判別の前に、対象物９の温度変化に基づいて異常な測定値を判別している。結果として、測定システム１００は、測定値を３段階で判別している。

《その他の実施形態》
以上のように、本出願において開示する技術の例示として、前記実施形態を説明した。しかしながら、本開示における技術は、これに限定されず、適宜、変更、置き換え、付加、省略などを行った実施の形態にも適用可能である。また、前記実施形態で説明した各構成要素を組み合わせて、新たな実施の形態とすることも可能である。また、添付図面および詳細な説明に記載された構成要素の中には、課題解決のために必須な構成要素だけでなく、前記技術を例示するために、課題解決のためには必須でない構成要素も含まれ得る。そのため、それらの必須ではない構成要素が添付図面や詳細な説明に記載されていることをもって、直ちに、それらの必須ではない構成要素が必須であるとの認定をするべきではない。

前記実施形態について、以下のような構成としてもよい。

例えば、パルス渦流探傷による厚さ測定の対象物９は、配管に限定されない。対象物９は、渦電流が発生する限り任意の物体が採用され得る。

さらに、プローブ１は、前述の構成に限られない。例えば、プローブ１は、２組の励磁コイル１１及び検出コイル１２を備えているが、励磁コイル１１及び検出コイル１２は、１組でもよく、３組以上であってもよい。励磁コイル１１と検出コイル１２とはそれぞれの軸心が一直線状になるように配置されていなくてもよい。励磁コイル１１又は検出コイル１２の内部にコアが設けられてもよい。検出コイル１２よりも励磁コイル１１の方が対象物９の近くに配置されてもよい。さらに、プローブ１の検出部は、検出コイル１２に限定されない。検出部は、対象物９の渦電流を直接的又は間接的に検出できるものであればよく、例えば、ホール素子であってもよい。

温度センサ２１は、熱電対に限定されない。温度センサ２１は、対象物の温度を検出できればよく、例えば、サーミスタであってもよい。温度センサ２１の個数は、１個に限定されない。温度センサ２１は、２個以上であってもよい。

また、測定システム１００の構成も一例に過ぎない。例えば、処理装置５は、制御装置３の一部又は全部の機能を組み込んでいてもよい。また、測定システム１００が複数のプローブ１及びプローブ１に対応する複数の制御装置３を備えている場合には、処理装置５は、複数の制御装置３からの検出信号を処理してもよい。

制御装置３による渦電流の測定は、前述の方法に限定されない。例えば、渦電流の繰り返し測定は、複数のセットに分けなくてもよく、さらには、セットごとに対象物９の温度を測定しなくてもよい。渦電流の繰り返し測定において、対象物９の温度測定は１度だけであってもよい。また、温度の測定頻度は、渦電流の測定頻度と同じか、又は、渦電流の測定頻度よりも多くてもよい。

ステップＳ１０４における、対象物９の温度変化が所定の基準よりも大きいか否かの判定は、今回の測定温度と前回の測定温度との温度差が所定値よりも大きいか否かに限定されない。例えば、測定温度の移動平均と今回の測定温度との温度差が所定値よりも大きいか否かが基準であってもよい。

また、渦電流の測定において、対象物９の温度測定は必須ではない。また、対象物９の温度が測定されるとしても、渦電流の測定を中止するか否かを判定する基準に対象物９の温度を用いなくてもよい。つまり、対象物９の温度変化にかかわらず、渦電流の測定が継続されてもよい。対象物９の温度は、算出される厚さの補正にのみ用いられてもよい。

また、プローブ１による渦電流の測定は、断続的に実行されればよく、周期的に行われる必要はない。つまり、対象物９の厚さの測定値も断続的に収集されればよく、周期的に収集されなくてもよい。

さらに、制御装置から処理装置５へのデータの送信は、前述の例に限定されない。例えば、制御装置３は、複数の渦電流（例えば、ｎ回繰り返し測定された渦電流）の平均を求め、渦電流の平均をｍセット分送信してもよい。また、制御装置３は、対象物９の温度変化が大きいことに起因して測定を中止した場合には、中止するまでの渦電流等を処理装置５へ送信しなくてもよい。

さらに、処理装置５における厚さの導出方法は、任意の手法を採用することができる。また、対象物９の温度による厚さの補正は必須ではない。

第１判別における第１期間は、第１判別の対象の期間（即ち、対象測定値が含まれる期間）の前日でなくてもよい。第１期間は、対象の期間の前々日であってもよい。第１期間は、第１判別の対象の期間よりも過去の期間でなくてもよい。第１判別は、測定値の変化の大きさに基づいて異常か否かを判別するため、対象測定値に対して時間的に近い期間の測定値を基準に対象測定値が異常か否かを判定すればよい。そのため、第１期間は、第１判別の対象の期間よりも後の期間であってもよい。また、第１期間の長さは、第１判別の対象の期間と同じでなくてもよい。つまり、前述の例では、第１判別の対象の期間は一日であり、第１期間は、対象の期間の前日である。例えば、第１判別の対象の期間は、一時間であり、第１期間は、対象の期間よりも前（例えば、直前）の十時間であってもよい。このように、第１判別の対象の期間の長さと第１期間の長さとは同じでなくてもよい。

第１判別における代表値は、平均値又は中央値でなくてもよい。代表値は、例えば、第１期間中の測定値の最小値であってもよい。

第１判別における第１範囲に関し、第１範囲の下限値と代表値との幅は、第１範囲の上限値と代表値との幅と同じであってもよい。あるいは、第１範囲の下限値と代表値との幅は、第１範囲の上限値と代表値との幅よりも小さくてもよい。例えば、対象物９の厚さが増大する傾向にある場合には有効である。第１範囲の下限値と代表値との幅、又は、第１範囲の上限値と代表値との幅は、平均値に対する分散以下であってもよい。

第２判別における第２期間は、十日に限定されない。第２期間は、第１期間よりも長ければ、任意に設定され得る。第２判別において、第２期間中の測定値の経時変化は、近似直線で表されなくてもよい。例えば、経時変化は、回帰直線で表されてもよい。また、第２範囲に関し、近似直線からの上下への拡がりは、任意に設定され得る。

フローチャートは、一例に過ぎない。フローチャートにおけるステップを適宜、変更、置き換え、付加、省略等を行ってもよい。また、フローチャートにおけるステップの順番を変更したり、直列的な処理を並列的に処理したりしてもよい。例えば、ステップＳ１０４は省略され、対象物９の温度変化にかかわらず、セット回数ｍの渦電流の測定が必ず実行されてもよい。

本明細書中に記載されている構成要素により実現される機能は、当該記載された機能を実現するようにプログラムされた、汎用プロセッサ、特定用途プロセッサ、集積回路、ＡＳＩＣｓ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔｓ）、ＣＰＵ（ａ Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、従来型の回路、及び／又はそれらの組合せを含む、回路（ｃｉｒｃｕｉｔｒｙ）又は演算回路（ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ ｃｉｒｃｕｉｔｒｙ）において実装されてもよい。プロセッサは、トランジスタ及びその他の回路を含み、回路又は演算回路とみなされる。プロセッサは、メモリに格納されたプログラムを実行する、プログラマブルプロセッサ（ｐｒｏｇｒａｍｍｅｄ ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）であってもよい。

本明細書において、回路（ｃｉｒｃｕｉｔｒｙ）、ユニット、手段は、記載された機能を実現するようにプログラムされたハードウェア、又は実行するハードウェアである。当該ハードウェアは、本明細書に開示されているあらゆるハードウェア、又は、当該記載された機能を実現するようにプログラムされた、又は、実行するものとして知られているあらゆるハードウェアであってもよい。

当該ハードウェアが回路（ｃｉｒｃｕｉｔｒｙ）のタイプであるとみなされるプロセッサである場合、当該回路、手段、又はユニットは、ハードウェアと、当該ハードウェア及び又はプロセッサを構成する為に用いられるソフトウェアの組合せである。

本開示の技術をまとめると、以下のようになる。

［１］処理装置５は、パルス渦流探傷によって測定された対象物９の厚さの測定値を継続的に収集する収集器５４と、前記収集器５４によって収集された前記測定値の集合である測定値群の中から異常値を判別する判別器５５とを備え、前記判別器５５は、前記測定値群のうちの所定の第１期間中の前記測定値に基づいて前記測定値群の中から第１異常値を判別する第１判別と、前記測定値群のうちの前記第１期間よりも長い第２期間中の前記測定値から前記第１異常値を除去して、前記第１異常値が除去された前記第２期間中の前記測定値の経時変化に基づいて前記測定値群の中から第２異常値を判別する第２判別とを実行する。

この構成によれば、まず、第１期間中の測定値に基づいて測定値群の中から第１異常値が判別され、次に、第１期間よりも長い第２期間中のうち第１異常値が除去された測定値の経時変化に基づいて第２異常値が判別される。比較的短い第１期間の測定値を基準に第１異常値を判別する第１判別と、第１期間よりも長い第２期間の測定値を基準に第２異常値を判別する第２判別との２段階で異常値が判別されるので、異常値の判別精度が向上する。第２判別では、第２期間中の測定値の経時変化に基づいて第２異常値を判別することによって、比較的長い期間の測定値に対して異常な測定値を適切に判別できる。さらに、第２判別では第２期間中の測定値の中から第１異常値が除去されているため、第２判別の判別精度が向上する。その結果、対象物９の厚さの測定値の中から異常値を精度よく判別することができる。

［２］ ［１］に記載の処理装置５において、前記判別器５５は、前記第１判別において、前記第１期間中の前記測定値の代表値を求め、前記代表値を基準に定められる第１範囲から外れる前記測定値を前記第１異常値と判別する。

この構成によれば、第１期間中に複数の測定値が含まれる場合に、第１異常値の判別に代表値を用いることによって、第１期間中の複数の測定値に対して対象の測定値が異常か否かを簡便に判別することができる。

［３］ ［１］又は［２］に記載の処理装置５において、前記所定の第１範囲は、前記代表値よりも大きい上限値と前記代表値よりも小さい下限値とによって規定され、前記代表値と前記下限値との幅は、前記上限値と前記代表値との幅よりも大きい。

この構成によれば、対象物９の厚さが経時的に薄くなる場合に、第１異常値を適切に判別できる。つまり、対象物９の厚さが経時的に薄くなる場合には、測定値は経時的に減少する傾向にある。代表値に対して下側に変化する測定値は、対象物９の厚さの減少の影響を含み得る。第１範囲の下限値と代表値との幅を第１範囲の上限値と代表値との幅よりも大きくるすことによって、代表値よりも下側への判別基準の方が代表値よりも上側への判別基準よりも緩くなる。これにより、対象物９の厚さの変化に起因して減少した測定値を第１異常値と誤判定することを防止することができる。

［４］ ［１］乃至［３］の何れか１つに記載の処理装置５において、前記判別器５５は、前記第２判別において、前記第２期間中の前記測定値の経時変化の近似直線を求め、前記近似直線を基準とする第２範囲から外れる前記測定値を前記第２異常値と判別する。

この構成によれば、近似直線は、第２期間中の測定値の経時変化を表す。近似直線を基準とする第２範囲に基づいて第２異常値を判別することによって、第２期間中の測定値の経時変化に基づいた第２異常値の判別を簡便に行うことができる。

［５］ ［１］乃至［４］の何れか１つに記載の処理装置５において、前記判別器５５は、前記測定値群の中から前記第２判別の対象の測定値を変更しつつ、前記対象の測定値に対して前記第２判別を繰り返し、前記対象の測定値は、前記第１異常値と既に判別された測定値を含まず、前記第２異常値と既に判別された測定値を含む。

この構成によれば、繰り返し行われる第２判別において、第２判別の基準となる、測定値の経時変化を適切に求めることができる。つまり、第１異常値は、比較的短い第１期間中の測定値を基準に判別されたものである。それに対し、第２異常値は、比較的長い第２期間中の測定値であり且つ第１異常値を除く測定値を基準に判別されたものである。そのため、第２異常値の異常の程度は、第１異常値に比べて小さい。第２判別において、過去の第２判別において第２異常値と既に判別された測定値を経時変化の導出に用いることによって、経時変化の導出に用いる測定値の個数を増やして、経時変化の精度を向上させることができる。

［６］ ［１］乃至［５］の何れか１つに記載の処理装置５において、前記第１異常値及び前記第２異常値が除去された前記測定値群の前記測定値の変化率を算出する算出器５６をさらに備える。

この構成によれば、前述のように判別された第１異常値及び第２異常値を測定値群の中から除去することによって、測定値の変化率を精度よく求めることができる。

５ 処理装置
５４ 収集器
５５ 判別器
５６ 算出器

Claims (6)

1. パルス渦流探傷によって測定された対象物の厚さの測定値を継続的に収集する収集器と、
   前記収集器によって収集された前記測定値の集合である測定値群の中から異常値を判別する判別器とを備え、
   前記判別器は、
   前記測定値群のうちの所定の第１期間中の前記測定値に基づいて前記測定値群の中から第１異常値を判別する第１判別と、
   前記測定値群のうちの前記第１期間よりも長い第２期間中の前記測定値から前記第１異常値を除去して、前記第１異常値が除去された前記第２期間中の前記測定値の経時変化に基づいて前記測定値群の中から第２異常値を判別する第２判別とを実行する処理装置。
2. 請求項１に記載の処理装置において、
   前記判別器は、前記第１判別において、前記第１期間中の前記測定値の代表値を求め、前記代表値を基準に定められる第１範囲から外れる前記測定値を前記第１異常値と判別する処理装置。
3. 請求項２に記載の処理装置において、
   前記所定の第１範囲は、前記代表値よりも大きい上限値と前記代表値よりも小さい下限値とによって規定され、
   前記代表値と前記下限値との幅は、前記上限値と前記代表値との幅よりも大きい処理装置。
4. 請求項１に記載の処理装置において、
   前記判別器は、前記第２判別において、前記第２期間中の前記測定値の経時変化の近似直線を求め、前記近似直線を基準とする第２範囲から外れる前記測定値を前記第２異常値と判別する処理装置。
5. 請求項１に記載の処理装置において、
   前記判別器は、前記測定値群の中から前記第２判別の対象の測定値を変更しつつ、前記対象の測定値に対して前記第２判別を繰り返し、
   前記対象の測定値は、前記第１異常値と既に判別された測定値を含まず、前記第２異常値と既に判別された測定値を含む処理装置。
6. 請求項１乃至５の何れか１つに記載の処理装置において、
   前記第１異常値及び前記第２異常値が除去された前記測定値群の前記測定値の変化率を算出する算出器をさらに備える処理装置。

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