JP2024044501A - 磁気ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 リード処理の精度を向上し、信頼性の高い磁気ディスク装置を提供する。【解決手段】磁気ディスクと、前記磁気ディスクにデータをライトするライトヘッドと、前記磁気ディスクからデータをリードするリードヘッドと、前記リードヘッドを加熱するヒータと、前記リードヘッドの浮上量を検出する検出部と、を有している磁気ヘッドと、前記浮上量に応じて前記ヒータに供給する電力値を制御するコントローラと、を備え、前記コントローラは、リードエラーが発生した場合、エラー発生領域における浮上量を前記検出部で検出し、前記エラー発生領域における浮上量を予め設定された基準浮上量にするためのアシスト量を決定し、前記アシスト量に応じた電力値を前記ヒータに入力した状態で、前記エラー発生領域のリトライリードを実行する、磁気ディスク装置。【選択図】 図６

Description

本発明の実施形態は、磁気ディスク装置に関する。

ハードディスク装置である磁気ディスク装置は、磁気媒体としての磁気ディスクと、磁気ディスクにデータをライト及びリードする磁気ヘッドと、を備えている。磁気ヘッドは、ヒータを有している。ヒータに供給される電力値に応じて磁気ヘッドの突出し量は変化する。磁気ディスク装置は、磁気ディスクと磁気ヘッドとの浮上量が適切になるように、予めＤＦＨ（Ｄｙｎａｍｉｃ Ｆｌｙｉｎｇ Ｈｅｉｇｈｔ）機能の調整を試験工程内で行っている。
ＤＦＨ機能の調整として、例えば、浮上量の設定がある。浮上量の設定は、まず、磁気ディスクと磁気ヘッドとが接触する際のヒータに供給される電力値を特定し、次に、所望の浮上量になるまで上記電力値を小さくすることで行われる。実際の磁気ディスクには物理的な歪みが存在するため、上記の設定は、磁気ディスクの１周のうち磁気ヘッドと最も近い設定位置を基準に行われる。このため、磁気ディスク上に設定位置よりも磁気ヘッドから離れた位置が存在し、設定位置以外の位置でリードエラーが発生する場合がある。

米国特許第７６０２５７１号明細書 米国特許第８８７３１９１号明細書 米国特許第９９９７１８６号明細書

本実施形態の課題は、リード処理の精度を向上し、信頼性の高い磁気ディスク装置を提供することにある。

一実施形態に係る磁気ディスク装置は、磁気ディスクと、前記磁気ディスクにデータをライトするライトヘッドと、前記磁気ディスクからデータをリードするリードヘッドと、前記リードヘッドを加熱するヒータと、前記リードヘッドの浮上量を検出する検出部と、を有している磁気ヘッドと、前記浮上量に応じて前記ヒータに供給する電力値を制御するコントローラと、を備え、前記コントローラは、リードエラーが発生した場合、エラー発生領域における前記リードヘッドの浮上量を前記検出部で検出し、前記エラー発生領域における浮上量を予め設定された基準浮上量にするためのアシスト量を決定し、前記アシスト量に応じた電力値を前記ヒータに入力した状態で、前記エラー発生領域のリトライリードを実行する、
磁気ディスク装置。

図１は、一実施形態に係る磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。 図２は、上記実施形態に係る磁気ディスク装置の磁気ヘッド及び磁気ディスクを示す斜視図である。 図３は、上記実施形態に係る磁気ディスク装置の磁気ヘッド及び磁気ディスクを示す拡大断面図である。 図４は、ＨＤＩｓ値とＤＦＨ値との関係を示すグラフである。 図５は、磁気ディスクを１周させたときのＨＤＩｓ値の変化を示すグラフである。 図６は、上記実施形態に係る磁気ディスク装置のリード処理の手順を示すフローチャートである。

以下、図面を参照しながら、実施形態に係る磁気ディスク装置について説明する。
なお、開示はあくまで一例にすぎず、当業者において、発明の趣旨を保っての適宣変更について容易に想到し得るものについては、当然に本発明の範囲に含有されるものである。また、図面や説明をより明確にするため、実際の様態に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。また、本明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して、詳細な説明を適宣省略することがある。

図１は、一実施形態に係る磁気ディスク装置１０の構成を示すブロック図である。
図１に示すように、磁気ディスク装置１０は、矩形状の筐体１１と、筐体１１内に配置された記録媒体としての磁気ディスク１２と、磁気ディスク１２を支持及び回転するスピンドルモータ１４と、磁気ディスク１２に対してデータのライト（記録）及びリード（再生）を行う複数の磁気ヘッド１６と、を備えている。

磁気ディスク装置１０は、磁気ヘッド１６を磁気ディスク１２上の任意のトラック上に移動するとともに位置決めするヘッドアクチュエータ１８を備えている。ヘッドアクチュエータ１８は、磁気ヘッド１６を移動可能に支持するキャリッジアッセンブリ２０と、キャリッジアッセンブリ２０を回動させるボイスコイルモータ（ＶＣＭ）２２とを含んでいる。
キャリッジアッセンブリ２０は、筐体１１に回動自在に支持された軸受部２４と、軸受部２４から延出した複数のサスペンション２６と、を有している。磁気ヘッド１６は、各サスペンション２６の先端に支持されている。

磁気ディスク装置１０は、磁気ヘッド１６を駆動するヘッドアンプＩＣ（プリアンプ）３０と、メインコントローラ４０と、ドライバＩＣ４８と、を備えている。ヘッドアンプＩＣ３０は、磁気ヘッド１６に電気的に接続されている。ヘッドアンプＩＣ３０は、磁気ヘッド１６の記録コイルに記録電流を供給する記録電流供給回路３２と、後述するヒータＨに電力を供給するヒータ電力供給回路３４と、磁気ヘッドにより読み取った信号を増幅する図示しない増幅器と、を備えている。

メインコントローラ４０及びドライバＩＣ４８は、例えば、筐体１１の背面側に設けられた図示しない制御回路基板に構成されている。メインコントローラ４０は、Ｒ／Ｗチャネル４２、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）４４、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）４６、メモリ４７などを備えている。メインコントローラ４０は、ドライバＩＣ４８を介して、ＶＣＭ２２及びスピンドルモータ１４に電気的に接続されている。ＨＤＣ４４は、ホストコンピュータ（ホスト）４５に接続可能である。

Ｒ／Ｗチャネル４２は、リード／ライトデータの信号処理回路である。ＨＤＣ４４は、ＭＰＵ４６からの支持に応じて、ホスト４５とＲ／Ｗチャネル４２との間のデータ転送を制御する。ＨＤＣ４４は、例えば、Ｒ／Ｗチャネル４２、ＭＰＵ４６、メモリ４７などに電気的に接続されている。メモリ４７は、揮発性メモリ及び不揮発性メモリを含む。例えば、メモリ４７は、ＤＲＡＭからなるバッファメモリ及びフラッシュメモリなどを含む。メモリ４７は、ＭＰＵ４６の処理に必要なプログラム及びパラメータを格納する。

ＭＰＵ４６は、磁気ディスク装置１０の主制御部であり、リード／ライト動作の制御及び磁気ヘッド１６の位置決めに必要なサーボ制御を実行する。ＭＰＵ４６は、ライト処理を制御するライト制御部４６ａ、リード処置を制御するリード制御部４６ｂ、後述するヒータＨに供給する電力値を制御するヒータ電力制御部４６ｃ、後述する検出部７４で検出される浮上量とメモリ４７に予め格納されている検出部７４の感度とに基づいてヒータに供給する電力を演算する演算部４６ｄなどを含んでいる。

ライト制御部４６ａは、ホスト４５などからのコマンドに従って、データのライト処理を制御する。具体的には、ライト制御部４６ａは、ドライバＩＣ４８を介してＶＣＭ２２を制御し、磁気ヘッド１６を磁気ディスク１２上の所定の位置に配置して、データをライトする。
リード制御部４６ｂは、ホスト４５などからのコマンドに従って、データのリード処理を制御する。具体的には、リード制御部４６ｂは、ドライバＩＣ４８を介してＶＣＭ２２を制御し、磁気ヘッド１６を磁気ディスク１２上の所定の位置に配置して、データをリードする。
演算部４６ｄは、リードエラーが発生した場合に、後述するアシスト量を算出し、アシスト量に応じた電力値（ヒータＨに供給する電力値）を算出する。

図２は、上記実施形態に係る磁気ディスク装置１０の磁気ヘッド１６及び磁気ディスク１２を示す斜視図である。図３に示すように、磁気ディスク装置１０は、複数の磁気ヘッド１６及び複数の磁気ディスク１２を有している。複数の磁気ヘッド１６及び複数の磁気ディスク１２は、回転軸線ａに沿って並んで位置している。
各々の磁気ディスク１２は、一対の記録面Ｓを有し、円周方向に沿った複数のトラックＴと、トラックＴを円周方向に分割して構成された複数のセクタＣと、を含んでいる。複数のトラックＴは、半径方向に並んで位置している。セクタＣは、データがライトされる記憶領域であり、ＬＢＡ（Ｌｏｇｉｃａｌ Ｂｌｏｃｋ Ａｄｄｒｅｓｓ）が割り当てられている。

各々の磁気ヘッド１６は、１つの記録面Ｓと対向している。メインコントローラ４０は、各々の磁気ヘッド１６を個別に制御することができる。例えば、メインコントローラ４０は、ヒータ電力制御部４６ｃでヒータ電力供給回路３４を制御して各々の磁気ヘッド１６に供給される電力値を個別に調整することができる。
なお、磁気ディスク装置１０は、複数の磁気ヘッド１６及び複数の磁気ディスク１２を備える構成に限定されず、例えば、１つの磁気ヘッド１６及び１つの磁気ディスク１２を備える構成としてもよい。

図３は、上記実施形態に係る磁気ディスク装置１０の磁気ヘッド１６及び磁気ディスク１２を示す拡大断面図である。図３に示すように、磁気ヘッド１６は、スライダ１５の端部に薄膜プロセスで形成されたライトヘッド１６Ｗ及びリードヘッド１６Ｒを有し、分離型のヘッドとして形成されている。スライダ１５は、磁気ディスク１２の記録面Ｓから浮上するために磁気ディスク１２の記録面Ｓに対向する面であるＡＢＳ（Ａｉｒ Ｂｅａｒｉｎｇ Ｓｕｒｆａｃｅ：ヘッド面）１３を有している。ライトヘッド１６Ｗは、磁気ディスク１２上にデータを書き込む。リードヘッド１６Ｒは、磁気ディスク１２上に記録されているデータを読み出す。

磁気ディスク１２は、垂直磁気記録媒体として構成されている。磁気ディスク１２は、例えば、直径９６ｍｍ（約３．５インチ）の円板状に形成され、非磁性体からなる基板１０１を有している。基板１０１の各表面（記録面Ｓ）に、下地層として軟磁気特性を示す材料からなる軟磁性層１０２と、その上層部に、磁気ディスク１２の表面に対して垂直方向に磁気異方性を有する垂直磁気記録層１０３と、保護膜１０４とが順次積層されている。磁気ディスク１２は、スピンドルモータ１４のハブに互いに同軸的に嵌合されている。磁気ディスク１２は、スピンドルモータ１４により所定の速度で矢印Ｂ方向に回転される（図１参照）。

リードヘッド１６Ｒは、磁気抵抗効果素子５５と、垂直磁気記録層１０３に形成される記録トラックの長手方向Ｘにおいて、磁気抵抗効果素子５５を挟むように配置された第１磁気シールド膜５６及び第２磁気シールド膜５７と、を有している。磁気抵抗効果素子５５及び各磁気シールド膜５６，５７は、ＡＢＳ１３に対してほぼ垂直に延在している。磁気抵抗効果素子５５及び各磁気シールド膜５６，５７の下端部（先端部）は、ＡＢＳ１３から僅かに突出している。

ライトヘッド１６Ｗは、主磁極６０と、リターン磁極６２と、非導電体５２と、リーディング磁極６４と、第２接続部６７と、第１記録コイル７０と、第２記録コイル７２と、を有している。主磁極６０、リターン磁極６２、及びリーディング磁極６４は、高透磁材料で形成されている。主磁極６０及びリターン磁極６２は、磁路を形成する第１磁気コアを構成し、主磁極６０及びリーディング磁極６４は、磁路を形成する第２磁気コアを構成している。
主磁極６０は、ＡＢＳ１３に対してほぼ垂直に延びている。主磁極６０のＡＢＳ１３側の先端部６０ａは、ＡＢＳ１３に向かって先細に絞り込まれ、他の部分に対して幅の狭い柱状に形成されている。主磁極６０の先端部６０ａは、スライダ１５のＡＢＳ１３から僅かに突出している。

リターン磁極６２は、主磁極６０直下の磁気ディスク１２の軟磁性層１０２を介して効率的に磁路を閉じるために設けられている。リターン磁極６２は、ほぼＬ字形状に形成され、その先端部６２ａは、細長い矩形状に形成されている。リターン磁極６２の先端部６２ａは、スライダ１５のＡＢＳ１３から僅かに突出している。先端部６２ａは、主磁極６０の先端部６０ａにライトギャップＷＧを置いて対向する磁極端面６２ｂを有している。磁極端面６２ｂは、ＡＢＳ１３に対し垂直に、あるいは、僅かに傾斜して延びている。
リターン磁極６２は、主磁極６０に接続された第１接続部５０を有している。第１接続部５０は、非導電体５２を介して主磁極６０の上部、すなわち、主磁極６０のＡＢＳ１３から離れた部分に磁気的に接続されている。第１記録コイル７０は、第１磁気コアにおいて、例えば、第１接続部５０の回りに巻き付けられている。磁気ディスク１２に信号を書き込む際、第１記録コイル７０にライト電流を流すことにより、第１記録コイル７０は、主磁極６０を励起して主磁極６０に磁束を流す。

リーディング磁極６４は、主磁極６０のリーディング側に主磁極６０と対向して設けられている。リーディング磁極６４は、ほぼＬ字形状に形成され、ＡＢＳ１３側の先端部６４ａは、細長い矩形状に形成されている。先端部６４ａは、スライダ１５のＡＢＳ１３から僅かに突出している。先端部６４ａは、主磁極６０の先端部６０ａにギャップを置いて対向する磁極端面６４ｂを有している。
また、リーディング磁極６４は、ＡＢＳ１３から離間した位置で主磁極６０に接合された第２接続部６７を有している。この第２接続部６７は、例えば、軟磁性体で形成され、非導電体５９を介して主磁極６０の上部、すなわち、主磁極６０のＡＢＳ１３から離れた部分に磁気的に接続されている。これにより、第２接続部６７は、主磁極６０及びリーディング磁極６４とともに磁気回路を形成している。第２記録コイル７２は、例えば、第２接続部６７の回りに巻き付けて配置され、この磁気回路に磁界を印加する。

更に、磁気ヘッド１６は、ヒータＨと、検出部７４と、を有している。一例において、ヒータＨは、ライトヘッド１６Ｗを加熱する第１ヒータＨ１と、リードヘッド１６Ｒを加熱する第２ヒータＨ２とから構成されている。第１ヒータＨ１及び第２ヒータＨ２は、それぞれ配線及び接続端子４３を介してヘッドアンプＩＣ３０に接続されている。ヘッドアンプＩＣ３０のヒータ電力供給回路３４から第１ヒータＨ１及び第２ヒータＨ２のそれぞれに所望の電力値が供給される。なお、ヒータＨは、第１ヒータＨ１と第２ヒータＨ２との２つのヒータから構成されることに限定されず、例えば、リードヘッド１６Ｒを加熱する１つのヒータで構成されてもよい。以下、「ヒータＨに供給する電力値」を「ＤＦＨ値」とも称する。

検出部７４は、ヒータＨの近傍に設けられ、一例において、第１ヒータＨ１と第２ヒータＨ２との間に位置している。検出部７４は、リードヘッド１６Ｒの浮上量を検出する。例えば、検出部７４は、磁気ディスク１２の記録面Ｓから磁気ヘッド１６のＡＢＳ１３までの長さを検出する。なお、検出部７４は、ライトヘッド１６Ｗの浮上量を検出可能であってもよい。また、ここで言う「浮上量」とは、磁気ディスク１２から磁気ヘッド１６までの長さであってもよい。
検出部７４は、例えば、温度変化によって生じる電気抵抗値の変化を基に浮上量を検出するＨＤＩ（Ｈｅａｄ Ｄｉｓｋ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）センサである。ＨＤＩセンサは、例えば、抵抗素子である。

ＨＤＩセンサの原理について説明する。ＨＤＩセンサには、図示しない電源から定電流が印加されている。ヒータＨ（一例では、第１ヒータＨ１や第２ヒータＨ２）に電力が印加されると、磁気ヘッド１６（一例では、ライトヘッド１６Ｗやリードヘッド１６Ｒ）は加熱され、磁気ディスク１２に向かって突出する。これに伴い、ＨＤＩセンサも加熱され、ＨＤＩセンサの電気抵抗値は上昇する。これにより、ＨＤＩセンサから出力される出力値は、大きくなる。言い換えると、浮上量が小さくなると、ＨＤＩセンサから出力される出力値は大きくなる。つまり、ＨＤＩセンサから出力される出力値と磁気ヘッド１６の浮上量とは、反比例の関係にある。
以下、「ＨＤＩセンサから出力される出力値」を「ＨＤＩｓ値」とも称する。一例において、ＨＤＩｓ値は、リードヘッド１６Ｒの浮上量に対応するＨＤＩセンサから出力される出力値である。
なお、検出部７４は、ＨＤＩセンサであることに限られず、例えば、磁気ディスク１２の記録面Ｓと磁気ヘッド１６のＡＢＳ１３との間の静電容量から浮上量を検出するセンサであってもよい。以下、検出部７４がＨＤＩセンサである場合を例として説明する。

ここで、予め試験工程内に行われるＤＦＨ（Ｄｙｎａｍｉｃ Ｆｌｙｉｎｇ Ｈｅｉｇｈｔ）機能の調整について説明する。ＤＦＨ機能とは、磁気ヘッド１６に実装されたヒータＨを利用して、浮上量の制御を可能にする機能である。ＤＦＨ機能の調整として、例えば、浮上量の設定がある。
浮上量の設定は、まず、磁気ディスク１２と磁気ヘッド１６とが接触する際のＤＦＨ値を特定し、次に、磁気ヘッド１６の浮上量が所望の浮上量になるまでＤＦＨ値を小さくすることで行われる。磁気ディスク１２には物理的な歪みが存在するため、この浮上量の設定は、磁気ヘッド１６との距離が最も近い磁気ディスク１２上の第１位置（設定位置）Ｐ１を基準として行われる。具体的には、磁気ヘッド１６が第１位置Ｐ１に接触するＤＦＨ値を特定し、磁気ヘッド１６の第１位置Ｐ１からの浮上量が所望の浮上量になるまでＤＦＨ値を小さくする。

上記のように浮上量の設定を行うため、磁気ディスク１２上の第１位置Ｐ１以外の位置に対するリードヘッド１６Ｒの浮上量は、予め設定した浮上量よりも大きくなる。このため、第１位置Ｐ１以外の位置でリードエラーが生じる場合がある。
本実施形態に係る磁気ディスク装置１０は、リードエラーが発生した場合に、エラー発生領域における浮上量を検出部７４で検出し、エラー発生領域における浮上量を予め設定された浮上量にするためのアシスト量を決定し、アシスト量に応じた電力値をヒータＨ（第２ヒータＨ２）に入力した状態で、エラー発生領域をリトライリードする。以下、「設定位置Ｐ１で検出される浮上量」を「基準浮上量」と称する。また、「設定位置Ｐ１で予め設定されたＤＦＨ値」を「基準電力値」とも称する。

また、本実施形態においては、試験工程内において検出部７４の感度αを特定する。
図４は、ＨＤＩｓ値とＤＦＨ値との関係を示すグラフである。図４に記載のＨＤＩｓ値は、トラックＴに沿った１周分のＨＤＩｓ値の平均値である。なお、図４に記載のＨＤＩｓ値は、平均値に限定されず、例えば、第１位置Ｐ１における値であってもよい。
図４に示すように、ＤＦＨ値を大きくすると、ＨＤＩｓ値も大きくなる。さらに、ＤＦＨ値とＨＤＩｓ値とは、ほぼ一次の関係を有している。

ＤＦＨ値を変化させながらＨＤＩｓ値を取得し、取得したＨＤＩｓを一次近似すると以下の関係式Ｆを得ることができる。なお、ｙはＨＤＩｓ値、αは感度（ＨＤＩｓ感度）、を表している。
ｙ＝αｘ＋β・・・（関係式Ｆ）
感度αは、ＤＦＨ値の変化に対する検出部７４の感度であり、グラフの傾きに相当する。感度αは、予めメモリ４７に格納されている。

図５は、磁気ディスク１２を１周させたときのＨＤＩｓ値の変化を示すグラフである。図５に示すように、ＨＤＩｓ値は、磁気ディスク１２の歪みに応じて変化する。
ＨＤＩｓ値が１周分のＨＤＩｓ値における最大値ＭＡＸとなる位置は、磁気ヘッド１６と最も近い位置であり、浮上量の設定を行った際の設定位置Ｐ１に相当する。また、最大値ＭＡＸは、基準浮上量に対応する。ＨＤＩｓ値が１周分のＨＤＩｓ値における最小値ＭＩＮとなる第２位置Ｐ２は、磁気ヘッド１６と最も遠い位置である。

以下、アシスト量を算出する一例について説明する。
リードエラーが発生した場合、演算部４６ｄは、エラー発生領域におけるＨＤＩｓ値と設定位置Ｐ１におけるＨＤＩｓ値との差分を算出する。例えば、エラー発生領域が第２位置Ｐ２であった場合、第２位置Ｐ２におけるＨＤＩｓ値と設定位置Ｐ１におけるＨＤＩｓ値との差分（ΔＨＤＩ）を算出する。このとき、第２位置Ｐ２におけるＨＤＩｓ値はエラー発生領域における浮上量に対応し、設定位置Ｐ１におけるＨＤＩｓ値は基準浮上量に対応する。

演算部４６ｄは、上記差分と試験工程内で予め求めた感度αとに応じてアシスト量を決定する。例えば、エラー発生領域が第２位置であった場合、差分（ΔＨＤＩ）と感度αに応じてアシスト量を決定する。アシスト量は、差分を感度αで割った値であり、第２位置Ｐ２がエラー発生領域であった場合、以下の式で表される。なお、ΔＨＤＩは差分、αは感度を表している。
アシスト量＝ΔＨＤＩ／α
アシスト量に応じた電力値とは、例えば、基準電力値にアシスト量を加算した電力値である。

次に、リード処理の手順について説明する。
図６は、上記実施形態に係る磁気ディスク装置１０のリード処理の手順を示すフローチャートである。図６に示すように、リード処理が開始すると、まず、メインコントローラ４０は、データをリードする（Ｓ１）。その後、メインコントローラ４０は、リードエラーが発生しているか否かを判断する（Ｓ２）。リードエラーが発生していない場合、リード処理を終了する。

リードエラーが発生している場合（Ｓ２）、メインコントローラ４０は、リードエラーが発生しているトラック（エラートラック）に沿った１周分の浮上量を検出部７４で取得する（Ｓ３）。次に、メインコントローラ４０は、予め設定されている基準浮上量とエラー発生領域における浮上量との差分及び予めメモリ４７に格納されている感度に応じてアシスト量を決定する（Ｓ４）。

継いで、メインコントローラ４０は、ステップ４で得られたアシスト量に応じた電力値をヒータＨに入力した状態で、エラー発生領域のリトライリードを実行し（Ｓ５）、リードエラーが発生しているか否かを判断する（Ｓ６）。リードエラーが発生していない場合、ヒータＨに入力する電力値の設定をアシスト量に応じない元の電力値に戻し（Ｓ８）、リード処理を終了する。

リードエラーが発生している場合（Ｓ６）、メインコントローラ４０は、所定回数リトライリードしたか否かを判断する（Ｓ７）。所定回数リトライリードしていない場合、ステップＳ５及びステップＳ６を繰り返し実行する。所定回数リトライリードしている場合、ステップＳ８を実行し、リード処理を終了する。
なお、ステップＳ３の「浮上量」は「浮上量に対応する出力値」、ステップＳ４の「基準浮上量」は「設定位置Ｐ１における浮上量に対応する出力値」、ステップＳ４の「エラー発生領域における浮上量」は「エラー発生領域における浮上量に対応する出力値」と読み替え可能である。例えば、検出部７４がＨＤＩセンサであった場合、上記の出力値は、ＨＤＩｓ値である。

なお、ステップＳ６の所定回数は、試験工程内に設定された任意の回数であり、例えば、８０回程度である。また、ステップＳ５のリトライリードは、条件を変更して実行されてもよい。例えば、目標セクタにリードヘッド１６Ｒを移動させる際、少しずれた（オフセットした）位置に移動させてもよい。更に、複数回リトライリードした後、パラメータを再帰化してリトライリードしてもよい。また、ステップＳ７において所定回数リトライリードしてからステップ８に移行する場合、データをリードできなかったことや、エラー発生領域のアドレスなどをメモリ４７に記憶してもよい。

上記のように構成された磁気ディスク装置１０によれば、メインコントローラ４０は、リードエラーが発生した場合に、エラー発生領域における浮上量を取得し、エラー発生領域における浮上量を予め設定された基準浮上量にするためのアシスト量を決定し、アシスト量に応じた電力値をヒータＨに入力した状態で、前記エラー発生領域のリトライリードを実行する。
これにより、設定位置Ｐ１以外においても最適な浮上量でリードすることができるため、リード処理の精度を向上し、信頼性の高い磁気ディスク装置１０を得ることができる。

本発明の実施形態を説明したが、上記実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。上述した新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。上記実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１０…磁気ディスク装置、１２…磁気ディスク、１６…磁気ヘッド、１６Ｒ…リードヘッド、１６Ｗ…ライトヘッド、３４…ヒータ電力供給回路、４０…メインコントローラ、４６…ＭＰＵ、４６ｃ…ヒータ電力制御部、４７…メモリ、７４…検出部、Ｆ…関係式、Ｈ…ヒータ、Ｈ１…第１ヒータ、Ｈ２…第２ヒータ、Ｐ１…第１位置（設定位置）、Ｐ２…第２位置、Ｓ…記録面、α…感度。

Claims (5)

1. 磁気ディスクと、
   前記磁気ディスクにデータをライトするライトヘッドと、前記磁気ディスクからデータをリードするリードヘッドと、前記リードヘッドを加熱するヒータと、前記リードヘッドの浮上量を検出する検出部と、を有している磁気ヘッドと、
   前記浮上量に応じて前記ヒータに供給する電力値を制御するコントローラと、を備え、
   前記コントローラは、
   リードエラーが発生した場合、
   エラー発生領域における前記リードヘッドの浮上量を前記検出部で検出し、
   前記エラー発生領域における浮上量を予め設定された基準浮上量にするためのアシスト量を決定し、
   前記アシスト量に応じた電力値を前記ヒータに入力した状態で、前記エラー発生領域のリトライリードを実行する、
   磁気ディスク装置。
2. 前記コントローラは、
   リードエラーが発生した場合、
   リードエラーが発生したトラックに沿った１周分の浮上量を取得し、
   前記基準浮上量と前記エラー発生領域における浮上量との差分に応じて前記アシスト量を決定し、
   予め設定された基準電力値に前記アシスト量に応じた電力値を加算した電力値を前記ヒータに入力した状態で、前記エラー発生領域のリトライリードを実行する、
   請求項１に記載の磁気ディスク装置。
3. 前記基準浮上量は、前記１周分の浮上量における最大の浮上量であり、
   前記エラー発生領域における浮上量は、前記１周分の浮上量における最小の浮上量である、
   請求項２に記載の磁気ディスク装置。
4. 前記コントローラは、
   前記ヒータに供給される電力値の変化に対する前記検出部の感度を格納しているメモリを備え、
   前記差分と前感度とに応じて前記アシスト量を決定する、
   請求項２に記載の磁気ディスク装置。
5. 前記検出部は、温度変化によって生じる電気抵抗値の変化を基に前記浮上量を測定するＨＤＩセンサである、
   請求項１に記載の磁気ディスク装置。

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