JP2023516889A - フォトニックウェハ通信システム及び関連するパッケージ - Google Patents
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Abstract
フォトニック通信プラットフォーム及び関連するパッケージについて説明する。一例では、フォトニックパッケージは、基板キャリアの上面を貫通して形成された凹部を有する基板キャリアを含む。基板キャリアは、セラミック積層体製であってもよい。複数のフォトニックモジュールを含むフォトニック基板は、凹部内に配置される。フォトニックモジュールは、共通のフォトマスクを使用してパターン化してもよく、その結果、同じ層パターンを共有してもよい。複数の電子ダイをそれぞれのフォトニックモジュールの上に配置してもよい。フォトニックモジュールは、光ドメイン内のダイの間の通信を可能にする。電力供給基板を使用して、基板キャリアから電子ダイ及びフォトニック基板に電力を送ってもよい。電力供給基板は、例えば、ブリッジダイ又はインターポーザ(例えば、シリコン又は有機インターポーザ)を使用して実装されてもよい。
Description
本開示は、フォトニックウェハ通信システム及び関連するパッケージに関する。
従来の計算では、回路及び何百万ものトランジスタを含むプロセッサを使用して、電気信号で表される情報のビットに論理ゲートを実装する。従来の中央処理装置(CPU:central processing unit)のアーキテクチャは、汎用計算用に設計されているが、特定のタイプのアルゴリズム用には最適化されていない。グラフィックス処理、人工知能、ニューラルネットワーク、及びディープラーニングは、計算量が多く、CPUを使用して効率的に実行されないタイプのアルゴリズムの例である。その結果、特定のアルゴリズムにより適したアーキテクチャを備える専用のプロセッサが開発されている。例えば、グラフィック処理ユニット(GPU:graphical processing unit)は高度な並列アーキテクチャを備えているため、CPUよりも効率的に画像処理やグラフィック操作を実行できる。GPUがグラフィックス処理用に開発された後、ニューラルネットワークやディープラーニング等の他のメモリ集約型アルゴリズムでも、GPUはCPUより効率的であることが判明した。この認識と、人工知能及びディープラーニングの需要の高まりにより、これらのアルゴリズムの速度をさらに向上させることのできる新しい電気回路アーキテクチャのさらなる研究が進んでいる。
いくつかの実施形態は、凹部が形成された基板キャリアと、凹部内に配置されるフォトニック基板と、フォトニック基板の上に配置される第1の電子ダイと、基板キャリアから第1の電子ダイに電力を送るように構成される電力供給基板と、を備えるフォトニックパッケージに関する。
いくつかの実施形態では、電力供給基板は、基板キャリアからフォトニック基板を通過して第1の電子ダイに電力を送るように構成される。
いくつかの実施形態では、電力供給基板は、一部が基板キャリア上に、一部がフォトニック基板上に載置される。
いくつかの実施形態では、電力供給基板は、一部が基板キャリア上に、一部がフォトニック基板上に載置される。
いくつかの実施形態では、電力供給基板は第1の電力供給基板であり、フォトニックパッケージは第1の電力供給基板の上に配置される第2の電力供給基板をさらに備える。
いくつかの実施形態では、電力供給基板はブリッジダイを備え、ブリッジダイは電力の伝播をサポートするように構成される導電性トレースを備え、ブリッジダイはトランジスタを有さない(lack)。
いくつかの実施形態では、電力供給基板はブリッジダイを備え、ブリッジダイは電力の伝播をサポートするように構成される導電性トレースを備え、ブリッジダイはトランジスタを有さない(lack)。
いくつかの実施形態では、電力供給基板は、フォトニック基板と第1の電子ダイとの間に配置されるインターポーザを備える。
いくつかの実施形態では、シリコンインターポーザは、一部が基板キャリア上に載置される。
いくつかの実施形態では、シリコンインターポーザは、一部が基板キャリア上に載置される。
いくつかの実施形態では、フォトニックパッケージは、基板キャリアとフォトニック基板との間の凹部に配置される材料層をさらに備える。
いくつかの実施形態では、フォトニックパッケージは第2の電子ダイをさらに備え、フォトニック基板は第1及び第2のフォトニックモジュールを備え、第1の電子ダイは第1のフォトニックモジュールの上に配置され、第2の電子ダイは第2のフォトニックモジュールの上に配置される。
いくつかの実施形態では、フォトニックパッケージは第2の電子ダイをさらに備え、フォトニック基板は第1及び第2のフォトニックモジュールを備え、第1の電子ダイは第1のフォトニックモジュールの上に配置され、第2の電子ダイは第2のフォトニックモジュールの上に配置される。
いくつかの実施形態では、第1及び第2のフォトニックモジュールは、少なくとも1つの共通の層パターンを有する。
いくつかの実施形態では、第1の電子ダイはフォトニック基板と接触する。
いくつかの実施形態では、第1の電子ダイはフォトニック基板と接触する。
いくつかの実施形態では、フォトニックパッケージはフォトニック基板を覆う蓋をさらに備え、蓋は第1の電子ダイと熱的に接触する。
いくつかの実施形態では、基板キャリアはセラミック製である。
いくつかの実施形態では、基板キャリアはセラミック製である。
いくつかの実施形態は、基板キャリアと、基板キャリア上に配置されるフォトニック基板であって、フォトニック基板にモノリシックに埋め込まれた第1及び第2のフォトニックモジュールでパターン化され、第1及び第2のフォトニックモジュールが少なくとも1つの共通の層パターンを共有する、フォトニック基板と、第1のフォトニックモジュールの上に配置される第1の電子ダイ及び第2のフォトニックモジュールの上に配置される第2の電子ダイと、電力を第1の電子ダイに送るように構成される第1の電力供給基板と、を備える、フォトニック-電子計算システム(photonic-electronic computing system)に関する。
いくつかの実施形態では、第1の電力供給基板は、電力を第2の電子ダイに送るようにさらに構成される。
いくつかの実施形態では、フォトニック-電子計算システムは、電力を第2の電子ダイに送るように構成される第2の電力供給基板をさらに備える。
いくつかの実施形態では、フォトニック-電子計算システムは、電力を第2の電子ダイに送るように構成される第2の電力供給基板をさらに備える。
いくつかの実施形態では、第1の電力供給基板は、基板キャリアから電力を受け取るように構成される。
いくつかの実施形態では、第1のフォトニックモジュールは、第2のフォトニックモジュールに光学的に連結される。
いくつかの実施形態では、第1のフォトニックモジュールは、第2のフォトニックモジュールに光学的に連結される。
いくつかの実施形態では、基板キャリアには、凹部が形成され、第1の電力供給基板は、一部が基板キャリアの第1側に、一部が基板キャリアの第2側に載置され、第1側と第2側とは、凹部によって互いに分離される。
いくつかの実施形態では、第1の電力供給基板は開口部を備え、第1の電子ダイは開口部に配置される。
いくつかの実施形態では、第1の電力供給基板には、第1のブリッジダイが半導体材料の複数の列及び複数の行を備えるように、複数の開口部が形成される。
いくつかの実施形態では、第1の電力供給基板には、第1のブリッジダイが半導体材料の複数の列及び複数の行を備えるように、複数の開口部が形成される。
いくつかの実施形態では、第1の電力供給基板は電力の伝播をサポートするように構成される導電性トレースを備え、第1の電力供給基板はトランジスタを有さない。
いくつかの実施形態では、第1及び第2の電子ダイはフォトニック基板と接触する。
いくつかの実施形態では、第1及び第2の電子ダイはフォトニック基板と接触する。
いくつかの実施形態は、複数のフォトニックモジュールでパターン化されたフォトニック基板上に電子ダイを配置することと、基板キャリアに凹部を形成することと、基板キャリアの凹部にフォトニック基板を配置することと、電力供給基板が電子ダイと電気的に接続されるように、一部をフォトニック基板上に、一部を基板キャリア上に、電力供給基板を配置することと、を含むフォトニックパッケージを製造する方法に関する。
いくつかの実施形態では、方法は、フォトニック基板にレーザダイを取り付けることをさらに含む。
いくつかの実施形態では、方法は、凹部にフォトニック基板を配置すると、材料層がフォトニック基板と基板キャリアの間に位置するように、基板キャリアの凹部にフォトニック基板を配置する前に、フォトニック基板の表面に材料層を配置することを更に含む。
いくつかの実施形態では、方法は、凹部にフォトニック基板を配置すると、材料層がフォトニック基板と基板キャリアの間に位置するように、基板キャリアの凹部にフォトニック基板を配置する前に、フォトニック基板の表面に材料層を配置することを更に含む。
いくつかの実施形態では、方法は、蓋が電子ダイと熱的に接触するように、電子ダイを蓋で覆うことをさらに含む。
添付の図面は、縮尺通りに描かれることを意図していない。図面では、様々な図に示されている同一又は略同一の各構成要素は、同様の数字で表されている。わかりやすくするために、すべての図面ですべての構成要素にラベルが付けられていないことがある。
添付の図面は、縮尺通りに描かれることを意図していない。図面では、様々な図に示されている同一又は略同一の各構成要素は、同様の数字で表されている。わかりやすくするために、すべての図面ですべての構成要素にラベルが付けられていないことがある。
I.概要
本発明者らは、データ集約型計算の普及を制限する主要なボトルネックの1つが現在のコンピュータのメモリ容量及び帯域幅を十分な高速に拡張(scale)できないことであることを認識及び理解した。従来の電子コンピュータは、導電性トレースを利用して、様々な構成要素間でデータを伝送する。しかし、導電性トレースは、特に高いデータ速度を生成するために必要な周波数で、寄生インピーダンスが大きいという特徴がある。寄生インピーダンスは、2つの点で帯域幅の拡張性を制限する。第一に、寄生インピーダンスはトレースがサポートできる帯域幅を制限する。第二に、寄生インピーダンスは消費電力を増加させる。さらに悪いことに、寄生インピーダンスはトレースの長さとともに増加する。つまり、メモリチップとプロセッサ間との距離が大きいほど、帯域幅は狭くなる。そのため、従来の計算システムでは、メモリチップがプロセッサの数センチ以内に配置されるように、通常設計されている。しかし、この範囲に収容できるメモリチップの数は限られている。その結果、従来の計算システムでは、メモリ帯域幅及びメモリ容量の両方が制限される。
本発明者らは、データ集約型計算の普及を制限する主要なボトルネックの1つが現在のコンピュータのメモリ容量及び帯域幅を十分な高速に拡張(scale)できないことであることを認識及び理解した。従来の電子コンピュータは、導電性トレースを利用して、様々な構成要素間でデータを伝送する。しかし、導電性トレースは、特に高いデータ速度を生成するために必要な周波数で、寄生インピーダンスが大きいという特徴がある。寄生インピーダンスは、2つの点で帯域幅の拡張性を制限する。第一に、寄生インピーダンスはトレースがサポートできる帯域幅を制限する。第二に、寄生インピーダンスは消費電力を増加させる。さらに悪いことに、寄生インピーダンスはトレースの長さとともに増加する。つまり、メモリチップとプロセッサ間との距離が大きいほど、帯域幅は狭くなる。そのため、従来の計算システムでは、メモリチップがプロセッサの数センチ以内に配置されるように、通常設計されている。しかし、この範囲に収容できるメモリチップの数は限られている。その結果、従来の計算システムでは、メモリ帯域幅及びメモリ容量の両方が制限される。
本発明者らは、従来の電子コンピュータで可能なものをはるかに超えるメモリ容量及び帯域幅の拡張を可能にする通信プラットフォームを開発した。本明細書で説明する通信プラットフォームは、光学を使用してこれらの制限を克服する。光が導波路の中を伝播する物理特性により、光通信は本質的に寄生インピーダンスの影響を受けない。寄生インピーダンスの影響を受けないということは、メモリチップをプロセッサの特定の範囲内に配置する必要がなくなる、という大きな利点につながる。
本明細書で説明するプラットフォームは、計算システムの異なる部分間にデータを分配するために「フォトニック基板」を使用する。このタイプのフォトニック基板は、複数のフォトニックモジュールを有するようにリソグラフィでパターン化された基板(例えば、シリコン等の半導体材料製である)を含む。その結果、フォトニックモジュールはフォトニック基板にモノリシックに埋め込まれる。いくつかの実施形態では、各フォトニックモジュールは、ステップアンドリピート方式の半導体製造プロセスにおけるレチクルショットとしてパターン化される。したがって、いくつかの実施形態では、フォトニックモジュールは互いに同一である(又は、共通の導波路層パターン等の少なくとも1つの共通の層パターンを有する)。
フォトニックモジュールは、例えば格子状に並べて配置される。グリッドの各ノードは、フォトニックモジュールによって占有されることがある。実装される特定のアーキテクチャに応じて、グリッドの各ノード(又は少なくともいくつかのノード)には、メモリダイやプロセッサダイ等の電子ダイが存在することがある。各フォトニックモジュールには、特定のコンピュータアーキテクチャのニーズに基づいて構成できるプログラム可能なフォトニック回路が含まれる。いくつかのプラットフォームは、3×1のモジュールのブロック、5×1のモジュールのブロック、10×1のモジュールのブロック、20×1のモジュール等、1次元の配列によって配置される。いくつかのプラットフォームは、3×3のモジュールのブロック、5×3のモジュールのブロック、5×5のモジュールのブロック、10×10のモジュールのブロック等、2次元の配列によって配置される。グリッドのサイズが大きいほど、これらのプラットフォームを使用して実現され得る計算アーキテクチャはより高度になる。一例では、各フォトニックモジュールが26mm×33mmのサイズであり、182mm×231mmに等しい総サイズを有する7×7のフォトニック基板が提供される。
発明者らは、これらのフォトニック基板のサイズが大きいことに起因する課題、すなわち基板の全延長にわたって均一に電力を供給することが困難であることを理解した。フォトニック基板の縁部に近いノードは、一般に高い電力を受け取る。しかし、フォトニック基板の中央に近い(縁部から遠い)ノードは、受け取る電力が少なくなる。これは、基板に供給される全体的な電力を増やすことで回避できる。しかし、そのようにすると、大きな温度のスポットが生じ、その結果、屈折率の局所的な変動が生じ、光ネットワークの機能が予測不可能な形で変化するという欠点がある。
本発明者らは、フォトニック基板及びそれを利用する計算システム全体に供給される電力の均一性を改善するためのアーキテクチャを開発した。これらのアーキテクチャは、基板キャリアからフォトニックモジュール及び電子ダイに電力を送るために、電力供給基板(その例は、以下に詳細に説明する)を利用する。本明細書で説明する電力供給基板は、システムの周辺部だけでなく、中心部にも直接電力を供給する。これらの基板は、ブリッジダイ及び/又はインターポーザを含んでもよく、ショートルーピング(short looping)ウェハ処理(そのため、低コストである)によって作ることができる。ショートルーピングは、縮小されたマスクセット(例えば、後続のマスクに関連するプロセスステップをスキップすることによって)でウェハを処理することを含み得る。これにより、単位面積あたりのコストが非常に低くなり、非常に大きな電力基板を展開する機会が開かれる。電源基板の大きな面積により、任意の電力供給ネットワークが可能になり、均一な電力分配が促進される。
II.フォトニック基板
本明細書で説明するタイプのフォトニック基板は、任意のアーキテクチャを備える計算システムを実装するために必要な基礎構造を提供するように設計されている。これらのフォトニック基板は、グリッドを形成するように配置してもよく、グリッドのノードはフォトニックモジュールによって占有される。各フォトニックモジュールは、他のフォトニックモジュールと光学的に通信する。さらに、各フォトニックモジュールは、メモリダイ、プロセッサダイ、又は他のタイプのダイのいずれとも、それぞれの電子ダイとインターフェースする。
本明細書で説明するタイプのフォトニック基板は、任意のアーキテクチャを備える計算システムを実装するために必要な基礎構造を提供するように設計されている。これらのフォトニック基板は、グリッドを形成するように配置してもよく、グリッドのノードはフォトニックモジュールによって占有される。各フォトニックモジュールは、他のフォトニックモジュールと光学的に通信する。さらに、各フォトニックモジュールは、メモリダイ、プロセッサダイ、又は他のタイプのダイのいずれとも、それぞれの電子ダイとインターフェースする。
図1は、一例による、3×3のグリッドに配置された9個のフォトニックモジュールを有するフォトニック通信プラットフォームに基づく例示的な計算システムを示す。グリッドの各ノードでは、フォトニック基板20がフォトニックモジュール22でパターン化されている。このフォトニック通信プラットフォームは、フォトニック基板20の中央に配置された1つのプロセッサダイ(30)と、プロセッサダイを取り囲む7つのメモリノードとを支持する。メモリノードのいくつかは、単一のメモリチップを含む(例えば、メモリダイ32を参照)。他のメモリノードは、複数の垂直に積み重ねられたメモリダイを含む積層メモリを含む(例えば、積層メモリ34を参照)。レーザダイ36は、フォトニックモジュールの1つの上に搭載される。ダイは、フォトニックモジュールと電子的に(例えば、シリコン貫通ビア、銅ピラー、マイクロバンプ、ボールグリッドアレイ、又は他の電気的相互接続を使用して)及び/又は光学的に(例えば、グレーティングカプラ、プリズム、レンズ、又は他の光学カプラを使用して)通信できる。
以下でさらに詳細に説明するように、フォトニックモジュールは、光導波路及び光分配ネットワークでパターン化される。フォトニックモジュールの光分配ネットワークは、その特定のフォトニックモジュールのダイを、計算システムの任意の他のダイと光通信するように選択的に配置することができる。例えば、プロセッサダイ30の下に配置されたフォトニックモジュールの光分配ネットワークは、プロセッサのニーズに応じて再構成してもよい。ルーチンの開始時に、プロセッサは、第1のメモリノードに格納されたデータにアクセスする必要があることがある。この読み出し動作は、プロセッサが第1のメモリノードと光通信するようにそれぞれの光分配ネットワークを構成することを含む。ルーチンの後半で、プロセッサは第2のメモリノードにデータを書き込む必要があることがある。この書き込み動作は、プロセッサが第2のメモリノードと光通信するように光分配ネットワークを再構成することを含む。
フォトニック基板20のフォトニックモジュールは、共通のフォトマスクセット(又は少なくとも1つの共通のフォトマスク)を使用して製造してもよい。このアプローチは、2つの点でコストを削減する。第一に、いくつかの異なるフォトマスクセットを調達する際に、このアプローチでなければ発生する追加コストが削減される。第二に、このアプローチは標準的な半導体製造工場でフォトニックモジュールを製造することができ、そのうちのいくつかは、同一のフォトマスクセット(又は少なくとも1つのフォトマスク)をウェハ全体にわたって使用することを必要とする。少なくとも1つのフォトマスクを共有するフォトニックモジュールを設計することで、標準的な低コストのステップアンドリピート製造プロセスを活用しつつ、同じ半導体ウェハ上に多数のフォトニックモジュールを製造することが可能になる。
図1Bは、6つのフォトニックモジュール22を含む例示的な2×3のフォトニック基板を示す。この例では、すべてのフォトニックモジュールが同じテンプレートに従ってパターン化されている。しかし、いくつかの実施形態では、フォトニックモジュールの層のサブセットのみが同じテンプレートに従ってパターン化される。例えば、光導波路が規定される層は、同じテンプレートで6回パターン化されるが、別の層(例えば、金属層)は周期的な構成にならない。フォトニックモジュール22は、光モジュールの導波路111がその光モジュールの左側の光モジュールの導波路112と一列に並び、光モジュールの導波路112がその光モジュールの右側の光モジュールの導波路111と一列に並び、光モジュールの導波路113がその光モジュールの上方の光モジュールの導波路114と一列に並び、光モジュールの導波路114がその光モジュールの下方の光モジュールの導波路113と一列に並ぶように、配置されている。その結果、光モジュールは光ネットワークを形成する。
光分配ネットワーク104は、再構成可能であってもよい。したがって、光分配ネットワーク104は、ネットワークの内側又は外側のどこにでも光信号を送ることができる。例えば、フォトニック基板の北西の角に位置するフォトニックモジュールにプロセッサが搭載され、フォトニック基板の南東の角に位置するフォトニックモジュールにメモリが搭載されているとする。読み出し動作は、プロセッサがメモリと光通信するように光分配ネットワークを再構成することを含み得る。例えば、1)プロセッサを、プロセッサが搭載されているフォトニックモジュールの面外カプラに連結し、2)そのフォトニックモジュールの面外カプラを、同じフォトニックモジュールの導波路112に連結し、3)そのフォトニックモジュールの導波路112を、隣接するフォトニックモジュール(最上段中央のフォトニックモジュール)の導波路111に連結し、4)最上段中央のフォトニックモジュールの導波路112を、次に隣接するフォトニックモジュール(フォトニック基板の北東の角)の導波路111に連結し、5)北東の角に配置されているフォトニックモジュールの導波路114を、メモリが搭載されているフォトニックモジュールの導波路113に連結し、6)メモリが搭載されているフォトニックモジュールの導波路113を、同じフォトニックモジュールの面外カプラに連結する、光通信経路を形成してもよい。
図1Aに示すように、電子ダイは、各(又は少なくともいくつかの)フォトニックモジュールに搭載され得る。電子ダイがフォトニックモジュールに搭載され得る方法は、図1Cにさらに詳細に示されている。この側断面図では、電気ダイ30がフォトニックモジュール22に搭載されている。電子ダイ30は、電気的に(電気接続部120による)又は光学的に(面外光カプラ105,107による)、あるいはその両方でフォトニックモジュール22と通信する。わかりやすくするために、面外カプラ105、導波路117、及び光分配ネットワーク(ODN:optical distribution network)104のみが光モジュール22内に示されている。ダイ30は、コントローラ31を面外カプラ107と光通信させる導波路118を含む。コントローラ31は、電気接続部120を介して光分配ネットワーク104に電気的に連結される。電気接続部120は、例えば、ボールグリッドアレイ、銅ピラー、シリコン貫通ビア、マイクロバンプ、金属パッド等を含み得る。コントローラ31は、光分配ネットワーク104の動作を制御する。例えば、コントローラ31は、光分配ネットワーク104のルーティングの方向を制御する。制御信号は、電気接続部120を介して光分配ネットワーク104に提供される。
III.フォトニックパッケージ
本発明者らは、本明細書で説明するタイプの計算システム全体にわたって電力を均一に分配することが困難であることを理解した。例えば、図1Aの計算システムを想定する。この場合、フォトニック基板の周辺部に配置された8つのダイに電力を供給することは比較的容易である。しかし、周辺部から離れた位置にあるため、プロセッサダイ30に電力を供給することはより困難である。
本発明者らは、本明細書で説明するタイプの計算システム全体にわたって電力を均一に分配することが困難であることを理解した。例えば、図1Aの計算システムを想定する。この場合、フォトニック基板の周辺部に配置された8つのダイに電力を供給することは比較的容易である。しかし、周辺部から離れた位置にあるため、プロセッサダイ30に電力を供給することはより困難である。
この問題を認識し、本発明者らは、より均一な電力分配を可能にする電力供給アーキテクチャ及びパッケージを開発した。いくつかの実施形態では、これらのアーキテクチャは、電力供給基板に利用して、フォトニック基板の周辺部に配置されたダイだけでなく、周辺部から離れて配置されたダイにも直接電力を供給する。そのようなパッケージの1つが図2Aに示されている。図2Aのパッケージは、基板キャリア200と、フォトニック基板20と、電子ダイ30,32と、電力供給基板210と、蓋220とを含む。フォトニック基板20及びその上に搭載される電子ダイは、上記で詳細に説明した。
基板キャリア200は、図2Bに単体で示されている。この図に示すように、基板キャリア200は、基板キャリアの上面の一部を貫通して形成された凹部201を含む。再び図2Aを参照すると、フォトニック基板20は凹部201内に配置されている。いくつかの実施形態では、基板キャリア200は、フォトニック基板20の熱膨張係数に近い熱膨張係数を有する材料製である。例えば、フォトニック基板20はシリコン製であってもよく、基板キャリア200はセラミック(セラミック積層体を含む)製であってもよい。別の例では、フォトニック基板20はシリコン製であってもよく、基板キャリア200は、0.5ppm/℃から30ppm/℃の間、0.5ppm/℃から20ppm/℃の間、0.5ppm/℃から10ppm/℃の間、又は0.5ppm/℃から5ppm/℃の間、他の可能な範囲の間の熱膨張係数を有する材料製であってもよい。発明者らは、熱膨張の近い材料を用いることにより、そうでなければ熱リフロー時に発生し得る基板の反りを低減することを理解した。いくつかの実施形態では、材料層206は、凹部201の底面とフォトニック基板20の底面との間に配置されている。いくつかの実施形態では、基板キャリア200は、セラミック積層体製であってもよい。セラミック積層体は同時焼成プロセスを使用して形成されるため、収縮が生じ、接点の位置が変化する可能性がある。この影響を軽減するために、いくつかの実施形態では、材料層206は、標準的なリソグラフィプロセスを使用して同時焼成した後、セラミック積層体の上に配置される。基板キャリアはフォトニック基板(及び金属線を介して電子ダイ)と熱的に接触しているため、基板キャリアを熱シンク(又はソース)として使用して、パッケージから熱を除去したり、パッケージの特定の温度を維持したりできる。
基板キャリア200は、導電性パッド202を含む。キャリア基板がプリント回路基板上に搭載されると、導電性パッド202がキャリア基板をプリント回路基板と電気的に接続する。
図1Aに関連して説明したように、メモリダイ32及びプロセッサダイ30は、フォトニック基板20のそれぞれのフォトニックモジュールに搭載されている。蓋220は、電子ダイを覆い、電子ダイと熱的に接触するように配置されている(直接接触によって、又は熱ペースト等の熱材料によって)。したがって、蓋220は、ダイによって生成された熱をパッケージの外側に伝達する。
図2Aのパッケージは、電力供給基板210を利用して、ダイ及びフォトニック基板に電力を送る。そのような電力供給基板の1つが図2Cにさらに詳細に示されている。いくつかの実施形態では、電力供給基板210は、一部が基板キャリア上に、一部がフォトニック基板上に配置されている。これらの実施形態では、凹部の高さは、フォトニック基板の高さと実質的に一致してもよい(又は、フォトニック基板の高さに材料層206の高さを加えたものと実質的に一致してもよい)。電力供給基板210は、任意の適切な技術を使用して実装してもよい。一例では、電力供給基板は、金属トレース222を含むブリッジダイ(例えば、シリコン製)である。金属トレースは、様々な接続部221(これには、とりわけ、銅ピラー、マイクロバンプ、ボールグリッドアレイ、又は他の電気相互接続を含まれ得る)を相互に接続するようにパターン化され得る。いくつかの実施形態では、ブリッジダイは、比較的低コストの製造プロセスを使用して製造してもよい。一例では、ブリッジダイは、比較的大きな製造ノード(fabrication node)で作成されてもよい。別の例では、ブリッジダイは小さな製造ノードを使用して製造されるが、トランジスタがその上に製造される前に製造プロセスラインから取り出される。したがって、いくつかの実施形態では、ブリッジダイはトランジスタを有さない。
基板キャリア200は、パッド202を電力供給基板210と(接続部221を介して)接続する接続部204(例えば、ビア及び/又は導電性トレース)を含む。フォトニック基板20は、電力供給基板210を電子ダイ32と(それぞれの接続部221,33を介して)接続する接続部25(例えば、ビア及び/又は導電性トレース)を含む。フォトニック基板20は、電力供給基板210を1つ以上のフォトニックモジュールと接続する接続部26をさらに含む。
図2Dは、いくつかの実施形態において、電力が電子ダイにどのように供給され得るかを示す。この例では、基板キャリア200は、プリント回路基板260に搭載される。電源262もプリント回路基板260に搭載される。電力経路264は、電源262から電子ダイ32まで形成される。電力経路は、プリント回路基板260、パッド202、接続部204、接続部221、トレース222、接続部25及び接続部33を通過する。この点で、電力供給基板210は、基板キャリア200から電子ダイ32及びフォトニック基板20に電力を送るものと見なすことができる。
いくつかの実施形態では、電力供給基板は電力を1つの電子ダイに送る。他の実施形態では、電力供給基板は電力を複数の電子ダイに送る。そのような実施形態の1つが図2Eに示されている。この例では、7×7のフォトニックモジュール22を有するフォトニック基板20上に配置された49個のダイを含むフォトニック-電子計算システムが形成される。追加的に、フォトニック-電子計算システムは、互いに平行に配置された8つの電力供給基板210を含む。各電力供給基板210は、この例では(y軸に沿った)細長い形状を有する。さらに、電力供給基板210は、フォトニック基板20上、及び凹部201の両側にある基板キャリア200の2つの部分上に載置される。図2Eでは、2つの電力供給基板210が、電力経路265を介して電子ダイのそれぞれの列に電力を送るものとして示されている。他の電力供給基板210は、同様の方法で他のダイの列に電力を送ることができる。
上述のように、いくつかの実施形態では、ブリッジダイが電力供給基板として機能してもよい。ブリッジダイは、導電性トレース及びビアを有するシリコンウェハをリソグラフィでパターン化し、ウェハをダイシングして所望のダイの形状に形成することによって得ることができる。いくつかの実施形態では、ブリッジダイはトランジスタを有さないが、すべての実施形態がこの点において限定されるわけではない。他のタイプの電力供給基板も可能である。インターポーザは別の例である。
図3Aは、いくつかの実施形態による、電力供給基板として機能するインターポーザを含むフォトニックパッケージを示す。図2Aの構成と同様に、図3Aの構成は、凹部を有する基板キャリア200と、凹部内に配置されたフォトニック基板20と、電子ダイ30,32と、複数の電力供給基板210と、蓋220とを含む。この例では、電力供給基板210は、ブリッジダイを用いて実装されている。図3Aの構成は、インターポーザを用いて実装される電力供給基板300をさらに含む。インターポーザは、例えば、シリコン製又は有機材料製であってもよい。いくつかの実施形態では、インターポーザを使用して、電気ダイ及びフォトニック基板内並びにそれらの間で熱を再分配することができる。
インターポーザは、一部がフォトニック基板20上に、一部が基板キャリア200の第1部分上に、一部が基板キャリアの第2部分上に載置されており、第1及び第2部分は凹部201によって分離されている。いくつかの実施形態では、複数のインターポーザ(図2Eの電力供給基板と同様に、例えば平行な列に配置される)があってもよいことを理解されたい。インターポーザは、電子ダイの間、及び電子ダイとフォトニック基板との間で信号を分配してもよい。例えば、インターポーザは、電子ダイがフォトニック基板に直接接続された場合に可能なピッチよりも広いピッチに接続部を広げることができる。インターポーザの利点は、電子ダイがフォトニック基板と同じピン配列(pin out arrangement)を有する必要がないことである。この例では、電子ダイ30,32、及び電力供給基板210がインターポーザ上に載置されている。電子ダイは異なる高さを有し得ることに留意されたい。これは、例えば、電子ダイの一部がチップのスタック(例えば、3D積層メモリユニット)を含む場合である。電子ダイの高さに関係なく蓋220との熱的な接触を確保にするために、異なる高さの熱材料320を電子ダイの上に配置してもよい。熱材料は、電子ダイ及びフォトニック基板の熱を除去すること及び/又は特定の温度を維持することに役立つことがある。
いくつかの実施形態では、電力供給基板300は、電力供給基板210を介して電子ダイに電力を送る。追加的に、又は代替的に、電力供給基板300は、電力を電子ダイに直接送ってもよい。図3Bは、図3Aのパッケージの一部をさらに詳細に示す。この図に示すように、電力供給基板300は、フォトニックパッケージの様々な構成要素にわたって電力及び信号を送るためのビア及び金属層302を含む。電力供給基板300は、接続部204から電力を受け取り、その電力の一部を電力供給基板210に供給し、その電力の一部をフォトニック基板20に供給する。次に、電力供給基板210は、金属トレース222を介して電子ダイ32に電力を送る。他の実施形態(図3Bでは図示略)では、電力供給基板300は、電力供給基板210を通過する必要なく、電力を電子ダイ32に直接送る。
いくつかの実施形態では、電力供給基板には、複数の開口部が形成されたブリッジダイを含んでもよい。例えば、そのような電力供給基板の1つは、開口部によって互いに分離された半導体材料の複数の行及び列を含むように形成されてもよい。図3Cは、複数の開口部272を有するブリッジダイ270を示し、各開口部は半導体材料によって取り囲まれている。この例では、7×7の構成で配置された49個の開口部がある。いくつかの実施形態では、このタイプのブリッジダイを使用して、任意の電力分配ネットワークを可能にすることができる。一例を図3Dに示す。ここで、各電子ダイは、インターポーザ上(図3Aのように)で又はフォトニック基板上(図2Aのように)で直接、ブリッジダイのそれぞれの開口部に配置されている。この構成により、ブリッジダイは、任意の電力経路を使用して電子ダイに電力を分配することが可能になる。そのような経路は、配線で接続されてもよいし、電子的に再構成可能であってもよい。
図3Dの例は開口部を備えた形状のブリッジダイを示すが、追加的に(又は代替的に)、インターポーザは、電子ダイが開口部に配置され得るように、開口部を有する形状とされてもよい。追加的に、いくつかの実施形態では、フォトニックパッケージは、図3Aに示されるタイプの複数のインターポーザを含んでもよい。各インターポーザは、フォトニック基板の一部を電子ダイのそれぞれのサブセットに接続することができる。
いくつかの実施形態では、システムの様々な部分が電力を受け取る均一性をテストするために、ウェハレベル(wafer-level)プローブシステムをフォトニック基板の1つ以上の縁部上に配置してもよい。このアプローチは、不可逆的な特別なパッケージングプロセスを必要としないため、ウェハレベルシステムを迅速にテストするのに役立つ。プローブシステムは、テストの終了後に取り外すことができる。しかし、この方法には、供給される電力の量がウェハのプローブされる側からの距離によって低下するという欠点がある。その結果、プローブシステムに最も近いフォトニックモジュールは、プローブシステムから最も遠いフォトニックモジュールよりも多くの電力を受け取る。図4は、7×7のフォトニックモジュールを有するフォトニック基板を通過するそのような電力低下の解析例を示す。この図に示すように、電力分布は、フォトニック基板の左手側の縁部付近及びフォトニック基板の上側の縁部付近で低下しているものの、フォトニック基板全体で比較的均一である。
IV.フォトニックパッケージの製造方法
いくつかの実施形態は、例えば上述のフォトニックパッケージを含むフォトニックパッケージを製造する方法に関する。図5は、代表的な製造方法を示すフローチャートである。方法500のステップは、図5に示す順序で実行してもよいし、任意の他の適切な順序で実行してもよい。
いくつかの実施形態は、例えば上述のフォトニックパッケージを含むフォトニックパッケージを製造する方法に関する。図5は、代表的な製造方法を示すフローチャートである。方法500のステップは、図5に示す順序で実行してもよいし、任意の他の適切な順序で実行してもよい。
方法500は、ステップ502で開始し、基板キャリアと、フォトニック基板と、1つ以上の電子ダイと、1つ以上の電力供給基板とが取得される。電力供給基板は、例えばセラミック積層基板であってもよい。フォトニック基板は、例えば図1Bに関連して述べたように、複数のフォトニックモジュールで予めパターン化されていてもよい。電子ダイは、メモリ、プロセッサ、又は他のタイプのチップを形成するために予めパターン化されていてもよい。電力供給基板は、ブリッジダイ、インターポーザ、又は電力を送るように構成された他のタイプの基板であってもよい。電力供給基板は、ビア及び導電性トレースで予めパターン化されていてもよい。
ステップ504において、電子ダイをフォトニック基板上に配置することができる。いくつかの実施形態では、ステップ504において、電子ダイをフォトニック基板上に直接搭載してもよい。他の実施形態では、ステップ504において、インターポーザをフォトニック基板上に搭載し、電子ダイをインターポーザ上に搭載してもよい。ステップ506において、凹部が基板キャリアに形成される。このステップは、例えば、エッチング技術を使用して実行してもよい。ステップ508において、フォトニック基板を凹部に配置することができる。フォトニック基板は、電子ダイがフォトニック基板上に配置される前又は後に凹部内に配置してもよいことに留意されたい。ステップ510において、電子ダイに電力を送るように構成されるように、一部をフォトニック基板上に、一部を基板キャリア上に、1つ以上の電力供給基板(例えば、インターポーザ及び/又はブリッジダイ)を配置することができる。
V.むすび
このように本願の技術のいくつかの態様及び実施形態が説明されているため、様々な代替、変更、及び改良が当業者によって容易になされることを理解されたい。このような代替、変更、及び改良は、本願において説明されている技術の主旨と範囲内のものであることが意図される。したがって、前述の実施形態は単なる例として提示されており、添付の特許請求の範囲及びその均等の範囲内で、本発明の実施形態は、具体的に記載されている以外の方法で実施され得ることを理解されたい。加えて、本願に記載の2つ以上の特徴、システム、物品、材料、及び/又は方法の任意の組み合わせは、そのような特徴、システム、物品、材料、及び/又は方法が相互に矛盾しない限り、本開示の範囲内に含まれる。
このように本願の技術のいくつかの態様及び実施形態が説明されているため、様々な代替、変更、及び改良が当業者によって容易になされることを理解されたい。このような代替、変更、及び改良は、本願において説明されている技術の主旨と範囲内のものであることが意図される。したがって、前述の実施形態は単なる例として提示されており、添付の特許請求の範囲及びその均等の範囲内で、本発明の実施形態は、具体的に記載されている以外の方法で実施され得ることを理解されたい。加えて、本願に記載の2つ以上の特徴、システム、物品、材料、及び/又は方法の任意の組み合わせは、そのような特徴、システム、物品、材料、及び/又は方法が相互に矛盾しない限り、本開示の範囲内に含まれる。
また、説明したように、いくつかの態様は、1つ以上の方法として具体化され得る。方法の一部として実行される動作は、任意の適切な方法でその順序が並び替えられてもよい。したがって、例示的な実施形態では連続的な動作として示されていても、いくつかの動作を同時に実行することを含む、図示とは異なる順序で動作が実行される実施形態を構築してもよい。
すべての定義は、本願で定義され使用される通りであり、辞書の定義、援用する文書内の定義、及び/又は定義された用語の通常の意味を統制するように理解すべきである。
不定冠詞「a」及び「an」は、本願の明細書及び特許請求の範囲において使用する場合、明確に反示されない限り、「少なくとも1つ」を意味するものと理解すべきである。
不定冠詞「a」及び「an」は、本願の明細書及び特許請求の範囲において使用する場合、明確に反示されない限り、「少なくとも1つ」を意味するものと理解すべきである。
「及び/又は」と言う表現は、本願の明細書及び特許請求の範囲において使用する場合、そのように結びつけられた複数の要素の「いずれか又は両方」、すなわち、ある場合には結合的に存在し、またその他の場合には非結合的に存在する要素を意味するものと理解されるべきである。
本願の明細書及び特許請求の範囲において使用する場合、1つ以上の要素のリストを参照する際の「少なくとも1つ」という表現は、要素のリスト内の任意の1つ以上の要素から選択される少なくとも1つの要素を意味するものと理解すべきであるが、要素のリスト内に特にリスト化されているあらゆる要素それぞれの少なくとも1つを必ずしも含む必要はなく、また要素のリスト内の要素の任意の組み合わせを排除するものでもない。この定義は、「少なくとも1つ」という表現が指す要素のリスト内で特に識別された要素以外の要素が、そのような特に識別された要素に関連するしないに関わらず任意選択で存在し得ることも可能にする。
「おおよそ」及び「約」という用語は、いくつかの実施形態では目標値の±20%以内、いくつかの実施形態では目標値の±10%以内、いくつかの実施形態では目標値の±5%以内、さらにいくつかの実施形態では目標値の±2%以内であることを意味するために使用されることがあるなお、「おおよそ」及び「約」という用語は、目標値を含むことがある。
Claims (27)
- フォトニックパッケージであって、
凹部が形成された基板キャリアと、
前記凹部内に配置されるフォトニック基板と、
前記フォトニック基板の上に配置される第1の電子ダイと、
前記基板キャリアから前記第1の電子ダイに電力を送るように構成される電力供給基板と、を備える、フォトニックパッケージ。 - 前記電力供給基板は、前記基板キャリアから前記フォトニック基板を通過して前記第1の電子ダイに電力を送るように構成される、請求項1に記載のフォトニックパッケージ。
- 前記電力供給基板は、一部が前記基板キャリア上に、一部が前記フォトニック基板上に載置される、請求項1に記載のフォトニックパッケージ。
- 前記電力供給基板は第1の電力供給基板であり、前記フォトニックパッケージは前記第1の電力供給基板の上に配置される第2の電力供給基板をさらに備える、請求項1に記載のフォトニックパッケージ。
- 前記電力供給基板は、ブリッジダイを備え、
前記ブリッジダイは、前記電力の伝播をサポートするように構成される導電性トレースを備え、
前記ブリッジダイは、トランジスタを有さない、請求項1に記載のフォトニックパッケージ。 - 前記電力供給基板は、前記フォトニック基板と前記第1の電子ダイとの間に配置されるインターポーザを備える、請求項1に記載のフォトニックパッケージ。
- 前記シリコンインターポーザは、一部が前記基板キャリア上に載置される、請求項6に記載のフォトニックパッケージ。
- 前記基板キャリアと前記フォトニック基板との間の前記凹部に配置される材料層をさらに備える、請求項1に記載のフォトニックパッケージ。
- 第2の電子ダイをさらに備え、前記フォトニック基板は第1及び第2のフォトニックモジュールを備え、前記第1の電子ダイは前記第1のフォトニックモジュールの上に配置され、前記第2の電子ダイは前記第2のフォトニックモジュールの上に配置される、請求項1に記載のフォトニックパッケージ。
- 前記第1及び第2のフォトニックモジュールは、少なくとも1つの共通の層パターンを有する、請求項9に記載のフォトニックパッケージ。
- 前記第1の電子ダイは、前記フォトニック基板と接触する、請求項1に記載のフォトニックパッケージ。
- 前記フォトニック基板を覆う蓋をさらに備え、前記蓋は前記第1の電子ダイと熱的に接触する、請求項1に記載のフォトニックパッケージ。
- 前記基板キャリアは、セラミック製である、請求項1に記載のフォトニックパッケージ。
- フォトニック-電子計算システムであって、
基板キャリアと、
前記基板キャリア上に配置されるフォトニック基板であって、前記フォトニック基板にモノリシックに埋め込まれた第1及び第2のフォトニックモジュールでパターン化され、前記第1及び第2のフォトニックモジュールが少なくとも1つの共通の層パターンを共有する、フォトニック基板と、
前記第1のフォトニックモジュールの上に配置される第1の電子ダイ及び前記第2のフォトニックモジュールの上に配置される第2の電子ダイと、
電力を前記第1の電子ダイに送るように構成される第1の電力供給基板と、を備える、フォトニック-電子計算システム。 - 前記第1の電力供給基板は、電力を前記第2の電子ダイに送るようにさらに構成される、請求項14に記載のフォトニック-電子計算システム。
- 電力を前記第2の電子ダイに送るように構成される第2の電力供給基板をさらに備える、請求項14に記載のフォトニック-電子計算システム。
- 前記第1の電力供給基板は、前記基板キャリアから前記電力を受け取るように構成される、請求項14に記載のフォトニック-電子計算システム。
- 前記第1のフォトニックモジュールは、前記第2のフォトニックモジュールに光学的に連結される、請求項14に記載のフォトニック-電子計算システム。
- 前記基板キャリアには、凹部が形成され、前記第1の電力供給基板は、一部が前記基板キャリアの第1側に、一部が前記基板キャリアの第2側に載置され、前記第1側と前記第2側とは、前記凹部によって互いに分離される、請求項14に記載のフォトニック-電子計算システム。
- 前記第1の電力供給基板は開口部を備え、前記第1の電子ダイは開口部に配置される、請求項14に記載のフォトニック-電子計算システム。
- 前記第1の電力供給基板には、前記第1のブリッジダイが半導体材料の複数の列及び複数の行を備えるように、複数の開口部が形成された、請求項14に記載のフォトニック-電子計算システム。
- 前記第1の電力供給基板は、前記電力の伝播をサポートするように構成される導電性トレースを備え、
前記第1の電力供給基板は、トランジスタを有さない、請求項14に記載のフォトニック-電子計算システム。 - 前記第1及び第2の電子ダイは、前記フォトニック基板と接触する、請求項14に記載のフォトニック-電子計算システム。
- フォトニックパッケージを製造する方法であって、
複数のフォトニックモジュールでパターン化されたフォトニック基板上に電子ダイを配置することと、
基板キャリアに凹部を形成することと、
前記基板キャリアの前記凹部に前記フォトニック基板を配置することと、
電力供給基板が前記電子ダイと電気的に接続されるように、一部を前記フォトニック基板上に、一部を前記基板キャリア上に、前記電力供給基板を配置することと、を含む、方法。 - 前記フォトニック基板にレーザダイを取り付けることをさらに含む、請求項24に記載の方法。
- 前記凹部に前記フォトニック基板を配置すると、材料層が前記フォトニック基板と前記基板キャリアの間に位置するように、前記基板キャリアの前記凹部に前記フォトニック基板を配置する前に、前記フォトニック基板の表面に前記材料層を配置することを更に含む、請求項24に記載の方法。
- 蓋が前記電子ダイと熱的に接触するように、前記電子ダイを前記蓋で覆うことをさらに含む、請求項24に記載の方法。
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US6684007B2 (en) * | 1998-10-09 | 2004-01-27 | Fujitsu Limited | Optical coupling structures and the fabrication processes |
US6650803B1 (en) | 1999-11-02 | 2003-11-18 | Xros, Inc. | Method and apparatus for optical to electrical to optical conversion in an optical cross-connect switch |
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US20080044128A1 (en) | 2001-10-09 | 2008-02-21 | Infinera Corporation | TRANSMITTER PHOTONIC INTEGRATED CIRCUITS (TxPICs) AND OPTICAL TRANSPORT NETWORK SYSTEM EMPLOYING TxPICs |
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JP3987500B2 (ja) * | 2004-02-17 | 2007-10-10 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光配線基板および光配線基板の製造方法 |
US7894699B2 (en) | 2006-10-16 | 2011-02-22 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Photonic based interconnects for interconnecting multiple integrated circuits |
JP4825739B2 (ja) * | 2007-06-22 | 2011-11-30 | 株式会社日立製作所 | 光電気混載基板と光電気パッケージとの構造体 |
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US8346087B2 (en) | 2007-09-28 | 2013-01-01 | Oracle America, Inc. | Wavelength-division multiplexing for use in multi-chip systems |
US8059443B2 (en) | 2007-10-23 | 2011-11-15 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Three-dimensional memory module architectures |
US8064739B2 (en) | 2007-10-23 | 2011-11-22 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Three-dimensional die stacks with inter-device and intra-device optical interconnect |
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US8450186B2 (en) | 2009-09-25 | 2013-05-28 | Intel Corporation | Optical modulator utilizing wafer bonding technology |
US8862178B2 (en) | 2010-02-24 | 2014-10-14 | Qualcomm Incorporated | Methods and systems for managing participation in multiple wireless networks |
WO2011143548A2 (en) | 2010-05-14 | 2011-11-17 | Cornell University | Electro-optic modulator structures, related methods and applications |
WO2012049273A1 (en) | 2010-10-14 | 2012-04-19 | Rwth Aachen | Laser to chip coupler |
US9099965B2 (en) | 2010-12-01 | 2015-08-04 | Stmicroelectronics S.R.L. | Integrated driver and related method |
US8222084B2 (en) | 2010-12-08 | 2012-07-17 | Skorpios Technologies, Inc. | Method and system for template assisted wafer bonding |
JP5897414B2 (ja) | 2011-08-23 | 2016-03-30 | 日本オクラロ株式会社 | 光デバイスの製造方法 |
US9331051B2 (en) | 2011-11-04 | 2016-05-03 | Technische Universiteit Eindhoven | Wafer scale technique for interconnecting vertically stacked dies |
US9627357B2 (en) | 2011-12-02 | 2017-04-18 | Intel Corporation | Stacked memory allowing variance in device interconnects |
WO2013086047A1 (en) | 2011-12-06 | 2013-06-13 | Cornell University | Integrated multi-chip module optical interconnect platform |
WO2013100995A1 (en) * | 2011-12-28 | 2013-07-04 | Intel Corporation | Photonic package architecture |
US9697147B2 (en) | 2012-08-06 | 2017-07-04 | Advanced Micro Devices, Inc. | Stacked memory device with metadata management |
US9236958B2 (en) | 2012-08-10 | 2016-01-12 | Skorpios Technologies, Inc. | Method and system for performing testing of photonic devices |
US9922887B2 (en) | 2012-12-11 | 2018-03-20 | Acacia Communications, Inc. | Wafer-scale testing of photonic integrated circuits using horizontal spot-size converters |
KR102048251B1 (ko) | 2013-03-14 | 2019-11-25 | 삼성전자주식회사 | 메모리 칩 패키지, 그것을 포함하는 메모리 시스템, 그것의 구동 방법 |
US9094135B2 (en) | 2013-06-10 | 2015-07-28 | Freescale Semiconductor, Inc. | Die stack with optical TSVs |
US9766409B2 (en) | 2013-06-10 | 2017-09-19 | Nxp Usa, Inc. | Optical redundancy |
WO2016008771A1 (en) | 2014-07-14 | 2016-01-21 | University Of Copenhagen | Optical device having efficient light-matter interface for quantum simulations |
US9671572B2 (en) * | 2014-09-22 | 2017-06-06 | Oracle International Corporation | Integrated chip package with optical interface |
US9558779B2 (en) | 2014-12-22 | 2017-01-31 | Mohammad A Mazed | System on chip (SoC) based on phase transition and/or phase change material |
US20160191188A1 (en) | 2014-12-31 | 2016-06-30 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | System and method for local interconnection of optical nodes |
US9678271B2 (en) * | 2015-01-26 | 2017-06-13 | Oracle International Corporation | Packaged opto-electronic module |
US9976844B2 (en) | 2015-02-06 | 2018-05-22 | Medlumics S.L. | Miniaturized OCT package and assembly thereof |
US9606308B2 (en) | 2015-02-27 | 2017-03-28 | International Business Machines Corporation | Three dimensional self-alignment of flip chip assembly using solder surface tension during solder reflow |
US9910232B2 (en) | 2015-10-21 | 2018-03-06 | Luxtera, Inc. | Method and system for a chip-on-wafer-on-substrate assembly |
EP3400486B1 (en) * | 2016-01-04 | 2023-06-07 | Infinera Corporation | Photonic integrated circuit package |
IT201600084419A1 (it) * | 2016-08-10 | 2018-02-10 | St Microelectronics Srl | Procedimento per realizzare dispositivi a semiconduttore, dispositivo e circuito corrispondenti |
JP6849907B2 (ja) * | 2016-12-01 | 2021-03-31 | 富士通株式会社 | 光モジュール及び光モジュールの製造方法 |
JP2018195723A (ja) * | 2017-05-18 | 2018-12-06 | 富士通株式会社 | 光モジュールおよびその製造方法並びに光トランシーバ |
US11239377B2 (en) * | 2017-08-07 | 2022-02-01 | Rockley Photonics Limited | Optoelectronic module package |
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