JP2023183808A5 - - Google Patents

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CN118352862B (zh) * 2024-05-14 2024-11-01 深圳市硕凌电子科技有限公司 一种高可靠性排针排母的制作方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5956814B2 (ja) 2012-04-20 2016-07-27 株式会社キーエンス 外観検査装置、外観検査方法及びコンピュータプログラム
US11580398B2 (en) 2016-10-14 2023-02-14 KLA-Tenor Corp. Diagnostic systems and methods for deep learning models configured for semiconductor applications
JP6573226B2 (ja) 2017-12-15 2019-09-11 オムロン株式会社 データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム
JPWO2020031984A1 (ja) 2018-08-08 2021-08-10 Ｂｌｕｅ Ｔａｇ株式会社 部品の検査方法及び検査システム
JP2021086284A (ja) * 2019-11-26 2021-06-03 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法、及びプログラム
JP7446559B2 (ja) 2020-01-28 2024-03-11 オムロン株式会社 画像処理装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム
JP7444439B2 (ja) 2020-03-05 2024-03-06 国立大学法人 筑波大学 欠陥検出分類システム及び欠陥判定トレーニングシステム
JP7595649B2 (ja) 2020-04-17 2024-12-06 株式会社半導体エネルギー研究所 パターン検査装置
JP2022024541A (ja) * 2020-07-28 2022-02-09 トッパン・フォームズ株式会社 画像生成装置、画像検査システム、画像生成方法、及びプログラム

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