JP2023107531A - プローブ - Google Patents
プローブ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2023107531A JP2023107531A JP2022008776A JP2022008776A JP2023107531A JP 2023107531 A JP2023107531 A JP 2023107531A JP 2022008776 A JP2022008776 A JP 2022008776A JP 2022008776 A JP2022008776 A JP 2022008776A JP 2023107531 A JP2023107531 A JP 2023107531A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flange
- probe
- pin
- housing
- connector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 142
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 11
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 11
- 230000009467 reduction Effects 0.000 claims description 6
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 4
- 239000004696 Poly ether ether ketone Substances 0.000 claims description 3
- 229930182556 Polyacetal Natural products 0.000 claims description 3
- 229920006122 polyamide resin Polymers 0.000 claims description 3
- 229920002530 polyetherether ketone Polymers 0.000 claims description 3
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 claims description 3
- -1 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 claims description 3
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 claims description 3
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 claims description 3
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 32
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
【課題】コネクタの検査精度を向上させるプローブを提供する。【解決手段】プローブ1は、コンタクト1001,1001を備えるコネクタ100の検査に用いられるプローブ1であって、コンタクト1001,1001に対応するように設けられたプローブピン3を内包する先端部42と、延伸方向に延びるとともにプローブピン3に電気的に接続される導電部2を内包する本体部41と、本体部41の外周に固定された鍔部43と、を有するプランジャ4と、本体部41を貫通させる穴6Hが設けられたフランジ6と、延伸方向における中央部87において本体部41を内包すると共に、延伸方向における一方の端部84において先端部42を内包するハウジング8と、ハウジング8と鍔部43との間で、鍔部43をフランジ6の方向に付勢すると共に、ハウジング8を鍔部43から離れる方向に付勢する一つのスプリング7と、を備える。【選択図】図3
Description
本開示は、コネクタの検査に用いられるプローブに関する。
特許文献1には、検査対象のコネクタとプローブとの位置ずれを矯正するための第1弾性体と、プローブピンを移動させてコネクタの端子に接触させるための第2弾性体とを備えるプローブが開示されている。
特許文献1に例示されるようなプローブにおいては、プローブ全体のストローク量を第1弾性体及び第2弾性体に配分する必要がある。第1弾性体のストローク量が不十分になることにより、コネクタとプローブとの位置ずれの矯正が不十分になり得る。これにより、プローブピンがコネクタの端子と適切に接触しない場合がある。その結果、従来のプローブでは、コネクタの高精度な検査が阻害される。
そこで本開示は、コネクタの検査精度を向上させるプローブを提供する。
本開示の一態様に係るプローブは、コンタクトを備えるコネクタの検査に用いられるプローブであって、コンタクトに対応するように設けられたプローブピンを内包する先端部と、延伸方向に延びるとともにプローブピンに電気的に接続される導電部を内包する本体部と、本体部の外周に固定された鍔部と、を有するプランジャと、本体部を貫通させる穴が設けられたフランジと、延伸方向における中央部において本体部を内包すると共に、延伸方向における一方の端部において先端部を内包するハウジングと、ハウジングと鍔部との間で、鍔部をフランジの方向に付勢すると共に、ハウジングを鍔部から離れる方向に付勢する一つのスプリングと、を備える。
本開示の一態様に係るプローブでは、スプリングによって、本体部に固定された鍔部がフランジの方向に付勢されると共にハウジングが鍔部から離れる方向に付勢されている。フランジのストロークによりスプリングが収縮し、フランジの方向に付勢されている鍔部、及び鍔部が固定されている本体部を介してプランジャの移動が開始される。また、一つのスプリングの場合は接触部位が少なくなるため抵抗値が安定する。これらにより、コネクタの検査精度を向上させることができる。
本開示によれば、コネクタの検査精度を向上させるプローブを提供することができる。
以下、実施形態について、図面を参照しつつ詳細に説明する。説明において、同一要素又は同一機能を有する要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
[第一の実施形態]
図1は、第一の実施形態におけるプローブ1の外観を示す図である。図1(a)は平面図、図1(b)は斜視図、図1(c)は側面図、図1(d)は底面図である。プローブ1を平面視した形状(図1(a)参照)、及びプローブ1を底面視した形状(図1(d)参照)はいずれも長方形に近似している。以下、当該長方形の長辺に沿う方向をX軸方向といい、当該長方形の短辺に沿う方向をY軸方向という。X軸及びY軸に直交する方向である高さ方向をZ軸方向という。X軸、Y軸、及びZ軸は互いに直交している。プローブ1は、全体としてZ軸方向に延伸する略柱状の形状を有する。
図1は、第一の実施形態におけるプローブ1の外観を示す図である。図1(a)は平面図、図1(b)は斜視図、図1(c)は側面図、図1(d)は底面図である。プローブ1を平面視した形状(図1(a)参照)、及びプローブ1を底面視した形状(図1(d)参照)はいずれも長方形に近似している。以下、当該長方形の長辺に沿う方向をX軸方向といい、当該長方形の短辺に沿う方向をY軸方向という。X軸及びY軸に直交する方向である高さ方向をZ軸方向という。X軸、Y軸、及びZ軸は互いに直交している。プローブ1は、全体としてZ軸方向に延伸する略柱状の形状を有する。
プローブ1は、後述するコネクタ100(図4参照)の検査に用いられる器具である。コネクタ100は、複数のコンタクト1001,1001(図4参照)を備える多芯コネクタである。複数のコンタクト1001,1001は、例えば複数の列に沿って配置されている。本実施形態では、コネクタ100は、2列で配置された2つのコンタクト1001,1001、及びコンタクト1001,1001を固定する絶縁ハウジング1003を備える。また、コネクタ100は、絶縁ハウジング1003の外周を囲うと共に、複数のコンタクト1001,1001の間を区画するシェル1002(図4参照)を有する。シェル1002は、グランド接続部として機能する。コネクタ100は、プリント基板(不図示)に配置されており、コネクタ100は、プリント基板とは電気的に接続されている。また、コネクタ100は、検査時においては、プローブ1に電気的に接続される。プリント基板には、コネクタ100以外にも様々な部品が配置されていてもよい。
プローブ1とコネクタ100とは、プローブ1がZ軸方向に動作することによって、電気的に接続される。以下、Z軸方向のうち、プローブ1から見たコネクタ100が位置する方向を「下」、コネクタ100から見たプローブ1が位置する方向を「上」という。プローブ1は、コネクタ100から見て上方向に配置される。プローブ1とコネクタ100とが接続されるとき、プローブ1を下方向に押し付けた力に対する反作用として、プローブ1に対して上方向に向けて押圧する力(以下、「押圧力」という。)が加えられる。プローブ1に対し、押圧力が加えられていない状態を初期状態といい、押圧力が加えられた状態をストローク状態という。
図2は、プローブ1の分解斜視図である。プローブ1は、導電部2と、プローブピン3と、プランジャ4と、基板5と、フランジ6と、スプリング7と、ハウジング8と、キャップ9と、を備える。導電部2は、同軸ケーブル21と、導電部材22とを有する。プランジャ4は、本体部41と、先端部42と、鍔部43とを有する。
図3を参照して、プローブ1の構成を説明する。図3は、図1(a)のA-A線に沿う断面を示す断面図である。
導電部2は、プローブピン3と電気的に接続される。ここでの「電気的に接続される」とは、導電部2とプローブピン3とが物理的に直接接続されることにより導電部2とプローブピン3とが電気的に接続される場合だけでなく、導電部2とプローブピン3との間に配置された導電性の部品(例えば基板5)を介して、導電部2とプローブピン3とが間接的に接続されることにより導電部2とプローブピン3とが電気的に接続される場合を含む。また、導電部2は、例えば外部の検査設備等と電気的に接続される。
例えば、導電部2は、複数(例えば2本)の同軸ケーブル21と、複数(例えば2本)の導電部材22とを有する。同軸ケーブル21は、Z軸方向に延伸する絶縁体で被覆された導体である。導電部材22は、Z軸方向に延伸する導電性の部品(例えば金属からなる導体又は配線等)である。同軸ケーブル21は、導電部材22に電気的に接続される。導電部2は、同軸ケーブル21及び導電部材22の少なくとも一方のみで構成されていてもよい。
プローブピン3は、針状の導電性の部品であり、例えばポゴピンである。プローブピン3は、コネクタ100の複数のコンタクト1001,1001に一対一で対応するように複数(例えば2本)設けられ、Z軸方向に沿って延伸する。プローブピン3の先端(下端)は、Z軸方向においてコネクタ100に対向する。本実施形態において、「対向する」とは、対向する物同士の間に他の部材等が存在する場合も含む。
基板5は、導電部2と、複数のプローブピン3とを互いに電気的に接続する略円柱状の部品である。基板5は、第1主面51と、第1主面51に対向する第2主面52とを有する。基板5は、第1主面51において導電部2の導電部材22と電気的に接続される。基板5は、第2主面52において複数のプローブピン3と電気的に接続される。基板5の詳細は後述する。
プランジャ4は、本体部41と、先端部42と、鍔部43とを有する導電性の部品である。本体部41は、略円柱状に形成され、導電部2の少なくとも一部を内包する。具体的には、本体部41は、複数の同軸ケーブル21の一部、及び、複数の導電部材22を内包し、これらの構成に沿ってZ軸方向に延びている。本体部41は、円柱形状を構成する、上面411と、底面412と、上面411から底面412に亘ってZ軸方向に設けられた側面413とを有する。本体部41には、上面411から底面412に亘って、Z軸方向に沿った複数の貫通孔41Hが形成されている。複数の貫通孔41Hには、導電部2を構成する導電部材22等をそれぞれ内包する絶縁体Dが配置される。例えば、複数の貫通孔41Hには、上面411からZ軸方向に沿って同軸ケーブル21が挿入され、カラーCによって同軸ケーブル21の挿入箇所の隙間が埋められている。底面412は、Z軸方向において基板5に対向している。底面412からは、導電部2(例えば導電部材22)の先端が露出している。
先端部42は、柱状に形成され、本体部41の下部415に配置され、本体部41に固定される。先端部42は、複数のプローブピン3を内包すると共に、基板5を収容し、複数のプローブピン3に沿ってZ軸方向に延びている。基板5は、本体部41と先端部42との間で挟み込まれるように配置される。
先端部42は、支持部421と、保持部422とを有する。支持部421は、有底円筒状に形成され、基板5を収容する。保持部422は、柱状に形成され、支持部421に連続する箇所を基端(上端)としてZ軸方向(下方)に延伸し、複数のプローブピン3を内包する。また、先端部42は、Z軸方向の下端面である先端面423を有する。また、保持部422は、先端面423から複数のプローブピン3の先端(下端)がそれぞれ露出するように複数のプローブピン3を保持する。
支持部421は、上面4211と、上面4211が窪むようにして形成された凹部4212と、凹部4212の底面である内底面4213とを有する。凹部4212は、基板5を収容する。換言すると、凹部4212は、基板5の受け皿として機能する。内底面4213は、基板5の第2主面に対向している。内底面4213の中央部分には、複数のプローブピン3の基端(他方の端部)が突出し、基板5の第2主面52と接触している。
鍔部43は、本体部41の外周に固定される。鍔部43は、例えば、ポリアセタール樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、及ポリテトラフルオロエチレン樹脂からなる群から選ばれる少なくとも一種で形成されている。これらの樹脂は摩擦抵抗が小さい(摺動性が高い)特性を有する。鍔部43は、上面431及び下面432を有する円環部430と、下面432に連続すると共に側面413に沿ってZ軸方向の下方に延びる円筒状の筒部433とを有する。鍔部43を平面視したとき、又は鍔部43を底面視したとき、中央付近の領域は、円形にくり貫かれている。鍔部43は、後述するフランジ6の穴6Hの外周に沿って、フランジ6の下面62に配置される。また、鍔部43は、本体部41の上部414において、側面413を取り囲む。筒部433は、Z軸方向において、後述するハウジング8の底面811に対向する。
鍔部43には、上面431から下面432に亘って貫通孔43Hが形成されている。貫通孔43Hは、鍔部43の周方向に沿って所定の間隔で複数(例えば4つ)形成されている(図2参照)。貫通孔43Hには、後述するハウジング8のリブ83が下面432から挿入される(図1(b)参照)。
本実施形態の基板5は、ビルドアップ基板である(図3参照)。例えば、基板5は、ベース層と、Z軸方向においてベース層を挟む第1主面51及び第2主面52を形成するビルドアップ層とにより構成されている。第1主面51は基板5の上面を構成しており、第2主面52は基板5の下面を構成している。
基板5は、信号導電部53と、接地導電部54とを更に有する。信号導電部53は、第1主面51から第2主面52に亘って設けられている。信号導電部53は、第1主面51において複数の導電部材22に接触すると共に、第2主面52において複数のプローブピン3に接触することにより、導電部2と複数のプローブピン3とを電気的に接続する。
基板5は、導電部2のピッチと複数のプローブピン3のピッチとを変換する。例えば、複数の導電部材22のピッチは、複数のプローブピン3のピッチよりも大きい。このピッチの違いに対応して、第1主面51における信号導電部53のピッチは、第2主面52における信号導電部53のピッチよりも大きい。すなわち、信号導電部53は、第1主面51における位置と第2主面52における位置とに対応して、導電部2のピッチと、複数のプローブピン3のピッチとを変換する。
接地導電部54は、第1主面51及び第2主面52のそれぞれに設けられた導電性の層状体である。接地導電部54は、例えばメッキにより形成された多層構造を有する。第1主面51における接地導電部54は、第1主面51における信号導電部53を取り囲んでいる。例えば、基板5を平面視したとき、第1主面51には複数(例えば2つ)の信号導電部53がX軸方向における両端付近に設けられており、接地導電部54が信号導電部53の周囲を取り囲むように設けられている。また、第2主面52における接地導電部54は、第2主面52における信号導電部53を取り囲んでいる。例えば、基板5を底面視したときも同様に、第2主面52には複数(例えば2つ)の信号導電部53がX軸方向における両端付近に設けられており、接地導電部54が信号導電部53の周囲を取り囲むように設けられている(不図示)。
基板5の高さは支持部421の凹部4212の深さよりも大きい。より詳細には、基板5の第1主面51と第2主面52との間の距離は、支持部421の上面4211と内底面4213との間の距離よりも大きい。したがって、基板5が凹部4212に収容されると、基板5の第1主面51が支持部421の上面4211よりもはみ出る。
フランジ6は、プローブ1を検査設備に固定するため板状の部品である。フランジ6を平面視した形状は略長方形である。フランジ6は、上面61と、下面62とを有する。フランジ6には、上面61の中央から下面62の中央に亘って、本体部41を貫通させる穴6Hが形成されている。上面61を平面視したとき、又は下面62を底面視したとき、穴6Hが形成された領域は、円形にくり貫かれている。上面61における穴6Hは、後述するキャップ9の穴9Hに連通する。下面62における穴6Hは、鍔部43の中央付近の領域に設けられた穴に連通する。また、フランジ6には、X軸方向に沿う両端部において、上面61から下面62に亘って、穴6Hを挟むように一対の穴6Wが形成されている。フランジ6は、穴6Wを介してネジ止めを行うことにより、プローブ1を検査設備に固定する。なお、穴6Wは、いわゆるネジ穴であってもよい。
フランジ6の上面61は、フランジ6とは別体で形成された棒状のピンPを固定する。ピンPは、上端部P1と、上面61に固定される下端部P2とを有する。
スプリング7は、一つのコイルスプリングである。スプリング7は、プランジャ4の鍔部43と後述するハウジング8の基部81との間に配置される。具体的には、スプリング7は、本体部41の側面413を囲い、鍔部43の筒部433と、後述する基部81の底面811との間で挟み込まれるようにして配置される。スプリング7は、基部81を鍔部43から離れる方向に付勢することによって、ハウジング8を鍔部43から離れる方向に付勢する。初期状態において、スプリング7は、鍔部43の下面432から、下方向に向けた付勢力をハウジング8に対して加える。スプリング7によって、ハウジング8が鍔部43から所定の間隔を空けた初期位置に保たれる。ストローク状態において、スプリング7は、Z軸方向に縮んだ状態になる。
ハウジング8は、略筒状に形成され、Z軸方向に沿って延伸する導電性の部材である。ハウジング8は、基部81と、底部82と、リブ83とを有する(図2参照)。ハウジング8は、プランジャ4、スプリング7を収容する。具体的には、ハウジング8は、延伸方向における中央部87において本体部41を内包すると共に、延伸方向における一方の端部84において先端部42を内包する。
基部81は、略有底円筒状に形成され、延伸方向の一方(下方)において底面811を有する。底面811は、Z軸方向において筒部433に対向してスプリング7を挟み込む。底部82は、ハウジング8の延伸方向の一方(下方)の端部84(一端)において、基部81の底面811の中央付近から、Z軸方向に沿って下方向に延伸するように設けられた角筒状の部分である。底部82は、下端部において板状部材821を有する。板状部材821は、コネクタ100に対向する先端面822と、先端部42の先端面423に対向する内底面823とを有する。板状部材821には、先端面822から内底面823に亘り、複数のプローブピン3の先端をそれぞれ外部に露出するための複数の開口82Hが形成されている。先端面822において、複数の開口82Hの間の部分は、コネクタ100における複数のコンタクト1001,1001の間を区画するシェル1002と接触する(図4参照)。この接触により、コネクタ100とハウジング8とのグランド接触が行われる。
ハウジング8は、先端部42を内包するように設けられ、一方(下方)の端部84においてコネクタ100に対する位置決めを行うガイド部86を更に有する。ガイド部86は、コネクタ100と嵌合される。ガイド部86は、板状部材821の先端面822に連続すると共に、Z軸方向の下方に向けて突出するように設けられる。ガイド部86の先端(下端)部分は、先端ほど厚みが薄く(開口形状が大きく)なるようにテーパ形状とされている。例えば、ガイド部86は、X軸方向に一対のテーパ形状が設けられると共に、Y軸方向に一対のテーパ形状が設けられる。ガイド部86は、Z軸方向においてコネクタ100に接近した際、テーパ形状の傾斜に沿ってコネクタ100の位置を調整する。
リブ83は、ハウジング8の延伸方向の他方(上方)の端部85において、基部81に連続して設けられる。例えば、リブ83は、基部81を基端としてZ軸方向に沿って上方向に延伸するように設けられる板状の突起である。リブ83は、基部81の周方向に沿って所定の間隔で複数(例えば4つ)設けられている(図1(b)参照)。リブ83は、鍔部43の下面432から、貫通孔43Hに挿入される。
キャップ9は、略直方体状の部品である。キャップ9は、ハウジング8のリブ83の周囲を囲うように配置される。キャップ9は、上面91と、下面92とを有する。キャップ9には、上面91の中央から下面92の中央に亘って、Z軸方向に沿った穴9Hが形成されている。上面91を平面視又は下面92を底面視したとき、穴9Hが形成された領域は、円形にくり貫かれている。上面91における穴9Hの径は、下面92における穴9Hの径よりも小さい。下面92は、フランジ6の上面61に対向する。下面92における穴9Hは、フランジ6の上面61における穴6Hに連通する。穴9Hには、下面92からハウジング8のリブ83が挿入され、上面91の下端部93と下面92との間の位置(例えば中間位置)まで圧入されて固定される。下端部93には、リブ83に取り付けられた絶縁体が接することにより、間接的にリブ83が接していてもよい。
キャップ9の下面92には、X軸方向における両端部に複数(例えば2つ)のピン穴92Hが形成されている。ピン穴92Hは、下面92から上面91方向に(上方向に)形成されているが、上面91にまでは達していない(貫通していない)。ピン穴92Hの最深部(上端)には、穴底94が形成されている。穴底94は、最深部(上端)に向けて先細りになるテーパ形状を呈し、その後一定の穴径を有するように設けられている。ピン穴92Hに対応するようにピンPがフランジ6の上面61に配置される。
ピンPは、上端部P1が穴底94に係合し、該係合が解除可能に構成されている。初期状態において、ピンPの上端部P1は、穴底94に当接する。これによりフランジ6とキャップ9とが係合される。以下、ピンPがキャップ9に係合している状態を「第1状態」という。第1状態において、プローブピン3の先端とハウジング8におけるコネクタ100に対向する先端面822との離間距離L1が定まる。すなわち、プローブ1は、X軸、Y軸について、ピンPとキャップ9の係合によって位置が固定され、Z軸について、プランジャ4の鍔部43がスプリング7によってフランジ6の方向に付勢されており、プローブ1の初期位置が定まる。ストローク状態において、ピンPの上端部P1は、穴底94から離間する。ピンPの上端部P1が穴底94のテーパ形状になる位置まで移動すると、ピンPと穴底94との係合が解除される。
本実施形態では、穴底94がキャップ9に形成されているとして説明するが、穴底94がフランジ6に形成されていてもよい。例えば、キャップ9の代わりに、フランジ6の上面61に穴底94が形成されていてもよい。この場合、キャップ9はピンPの上端部P1を固定してもよい。ピンPは、下端部P2がフランジ6に形成された穴底94に係合し、該係合が解除可能に構成されてもよい。すなわち、ピンPは、フランジ6及びキャップ9の他方の部材に向かって延び、該他方の部材に係合し、該係合を解除可能に構成されていてもよい。
[ストローク]
次に、図4及び図5を参照して、プローブ1のストローク状態について説明する。図4は、ピンPの係合が解除された状態において、図1(a)のA-A線に沿う断面を示す断面図である。
次に、図4及び図5を参照して、プローブ1のストローク状態について説明する。図4は、ピンPの係合が解除された状態において、図1(a)のA-A線に沿う断面を示す断面図である。
プランジャ4は、ハウジング8が一方の端部84においてコネクタ100に当接した状態で、フランジ6が鍔部43を押す方向(Z軸方向における下方)に移動することに応じて、ハウジング8に対して延伸方向(Z軸方向における下方)に相対的に移動する。プランジャ4は、移動範囲として、第1状態からフランジ6の移動に伴ってピンPが移動し、キャップ9に対するピンPの係合が解除される第2状態までの第1移動範囲を有する。
具体的には、初期状態からフランジ6が鍔部43を押す方向に移動すると、鍔部43を介してプランジャ4全体がZ軸方向における下方に移動する。また、ピンPの上端部P1は、穴底94から離間し、ピン穴92Hの内部に空隙が生じる。プランジャ4は、初期状態からピンPがキャップ9に係合している長さである係合長さL2までの間、Z軸方向にのみ移動可能である。プランジャ4が係合長さL2だけZ軸方向における下方に移動すると、ピンPの係合が解除される。ピンPの係合が解除されると、プローブ1は、X軸及びY軸方向において可動状態となる。このことで、プローブ1は、プローブ1とコネクタ100との軸ずれを調整することが可能となる。
ここで、第1状態において、係合長さL2は、プローブピン3の先端とハウジング8におけるコネクタ100に対向する先端面822との離間距離L1(図3参照)よりも短い。すなわち、プランジャ4の第1移動範囲において、プローブピン3の先端は、ハウジング8の底部82における開口82Hから露出しない。換言すると、キャップ9に対するピンPの係合が外れるまでの第1移動範囲において、プランジャ4の急激な移動によってプローブピン3がハウジング8から外部に露出することが防止される。
図5は、ストローク状態において、図1(a)のA-A線に沿う断面を示す断面図である。図5は、図4に示される状態から、プローブ1がコネクタ100に押し付けられるように更に押圧力が加えられた状態を示す。
プランジャ4は、その移動範囲として、第2状態から延伸方向に更にフランジ6が移動する第2移動範囲を更に有する。ストローク状態において、プランジャ4がZ軸方向における下方向に動く。プランジャ4の第2移動範囲において、プローブピン3の先端は、ハウジング8の底部82における開口82Hから外部に露出する。換言すると、第1移動範囲においてコネクタ100に対する位置決めを行った後に、キャップ9に対するピンPの係合が外れてフランジ6及びプローブピン3のスムーズな移動が可能になり、プローブピン3がハウジング8から外部に露出する。そして、プローブピン3は、コネクタ100に接続される。
[本実施形態の効果]
本実施形態の一態様に係るプローブ1は、コンタクト1001,1001を備えるコネクタ100の検査に用いられるプローブ1であって、コンタクト1001,1001に対応するように設けられたプローブピン3を内包する先端部42と、延伸方向に延びるとともにプローブピン3に電気的に接続される導電部2を内包する本体部41と、本体部41の外周に固定された鍔部43と、を有するプランジャ4と、本体部41を貫通させる穴6Hが設けられたフランジ6と、延伸方向における中央部87において本体部41を内包すると共に、延伸方向における一方の端部84において先端部42を内包するハウジング8と、ハウジング8と鍔部43との間で、鍔部43をフランジ6の方向に付勢すると共に、ハウジング8を鍔部43から離れる方向に付勢する一つのスプリング7と、を備える。
本実施形態の一態様に係るプローブ1は、コンタクト1001,1001を備えるコネクタ100の検査に用いられるプローブ1であって、コンタクト1001,1001に対応するように設けられたプローブピン3を内包する先端部42と、延伸方向に延びるとともにプローブピン3に電気的に接続される導電部2を内包する本体部41と、本体部41の外周に固定された鍔部43と、を有するプランジャ4と、本体部41を貫通させる穴6Hが設けられたフランジ6と、延伸方向における中央部87において本体部41を内包すると共に、延伸方向における一方の端部84において先端部42を内包するハウジング8と、ハウジング8と鍔部43との間で、鍔部43をフランジ6の方向に付勢すると共に、ハウジング8を鍔部43から離れる方向に付勢する一つのスプリング7と、を備える。
本実施形態の一態様に係るプローブ1では、スプリング7によって、本体部41に固定された鍔部43がフランジ6の方向に付勢されると共にハウジング8が鍔部43から離れる方向に付勢されている。フランジ6のストロークによりスプリング7が収縮し、フランジ6の方向に付勢されている鍔部43、及び鍔部43が固定されている本体部41を介してプランジャ4の移動が開始される。一つのスプリング7の収縮がプランジャ4の可動範囲を決定するため、本開示のプローブ1はスプリング7の設計が容易且つ小型化可能な構成になると共に、複数のスプリング7を備える従来のプローブに比べて多くの検査レンジ(ストローク量)を確保できる。その結果、プローブ1とコネクタ100との位置ずれ矯正に費やすことのできるストローク量が従来のプローブに比べて長くなるので、プローブ1とコネクタ100との位置決め精度が向上する。また、一つのスプリング7の場合は、従来のプローブに比べて部材数が減ることによって、グランドを導通するための接点数が少なくなるため、抵抗が安定する。これらにより、コネクタ100の検査精度を向上させることができる。
比較例に係るプローブとして、複数(例えば2つ)のスプリングを有するプローブがある。このようなプローブは、例えば、コネクタに対する位置決めを行う第1のスプリングと、プローブピンの突出に係る第2のスプリングとを有する。このようなプローブでは、スプリングが複数取り付けられていることによって、各スプリングのストローク量が制限されてしまい、先端部からのプローブピンの突出量、すなわち検査レンジを十分に確保することができず、コンタクトに対するプローブピンの接触信頼性が低下してしまうおそれがある。このことは、第1のスプリングの弾性力よりも第2のスプリングの弾性力が大きい場合(第1のスプリングが先に動く場合)により顕著になる。一方で、第1のスプリングの弾性力よりも第2のスプリングの弾性力が小さくされた場合においては、位置決めが行われていない段階で第2のスプリングが動いてプローブピンが露出することになるので、プローブピンの座屈の発生、及びプローブピンがコンタクトに接触しないことによる検査精度の低下又は損傷等が問題になる。また、複数のスプリングを交互(又は同時)にストロークさせることは、技術的な難易度が高く、組立公差又は製造公差によって検査精度が低下しやすい。更に、複数のスプリングが採用されることによって、接触部位が増加し、抵抗値が増加することによる電気的特性の悪化が問題になり得る。以上のように、複数のスプリングを有するプローブでは、様々な要因によって検査精度を十分に担保することができない場合がある。この点、本実施形態に係るプローブ1では、一つのスプリングにより構成されていることにより、プローブ1とコネクタ100との位置ずれ矯正に費やすことのできるストローク量が比較例に係るプローブ(従来のプローブ)に比べて長くなるので、プローブ1とコネクタ100との位置決め精度が向上する。また、一つのスプリング7の場合は組立公差又は製造公差のバラつきが抑制されると共に、部品の接触部位が少なくなるため抵抗値が安定する。
上記プローブ1において、ハウジング8は、一方の端部84においてコネクタ100に対する位置決めを行うガイド部86を更に有する。ガイド部86により位置決めの精度が向上する。例えば、ガイド部86は、ガイド部86の先端(下端)部分がテーパ形状とされていることにより、Z軸方向においてコネクタ100に接近した際、テーパ形状の傾斜に沿ってコネクタ100の位置を調整する。
上記プローブ1は、ハウジング8の延伸方向における他方の端部85に取り付けられ、鍔部43との間にフランジ6を挟むように設けられたキャップ9と、フランジ6及びキャップ9の一方の部材に設けられ、フランジ6及びキャップ9の他方の部材に向かって延び、該他方の部材に係合し、該係合を解除可能に構成されたピンPと、を更に備える。プランジャ4は、ハウジング8が一方の端部84においてコネクタ100に当接した状態で、フランジ6が鍔部43を押す方向に移動することに応じて、ハウジング8に対して延伸方向に相対的に移動し、その移動範囲として、ピンPが他方の部材に係合している第1状態からフランジ6の移動に伴ってピンPが移動し他方の部材に対するピンPの係合が解除される第2状態までの第1移動範囲と、第2状態から延伸方向に更にフランジ6が移動する第2移動範囲と、を有する。このような構成によれば、ピンPがフランジ6及びキャップ9のいずれかに係合することによって、フランジ6が急激に移動することが抑制され、該フランジ6に応じて移動するプランジャ4の移動を規制することができる。このことにより、フランジ6及びキャップ9のいずれかに対するピンPの係合が外れるまでの第1移動範囲においては、プランジャ4の急激な移動によってプローブピン3がハウジング8から外部に露出することを防止し、適切にコネクタ100に対する位置決めを行うことができる。そして、第1移動範囲においてコネクタ100に対する位置決めを行った後に、フランジ6及びキャップ9のいずれかに対するピンPの係合が外れてフランジ6及びプローブピン3のスムーズな移動が可能になるので、位置決め後において迅速且つ適切にコネクタ100へのプローブ1の接触を実現することができる。
上記プローブ1では、第1状態において、ピンPが他方の部材に係合している長さである係合長さL2は、プローブピン3の先端とハウジング8におけるコネクタ100に対向する先端面822との離間距離L1よりも短い。このような構成によれば、プローブ1とコネクタ100との位置決めの前にプローブピン3がハウジング8の外部に露出することをより確実に防止することができる。
上記プローブ1において、鍔部43は、ポリアセタール樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、及ポリテトラフルオロエチレン樹脂からなる群から選ばれる少なくとも一種で形成されている。鍔部43が摩擦抵抗の小さい樹脂により形成されることにより、プランジャ4が容易に移動する。
[第二の実施形態]
図6は、第二の実施形態における図3に相当するプローブ1Aの断面を示す断面図である。以下、第一の実施形態におけるプローブ1と異なる点を主に説明する。プローブ1Aは、プローブ1におけるスプリング7の代わりに、スプリング7Aを有する。
図6は、第二の実施形態における図3に相当するプローブ1Aの断面を示す断面図である。以下、第一の実施形態におけるプローブ1と異なる点を主に説明する。プローブ1Aは、プローブ1におけるスプリング7の代わりに、スプリング7Aを有する。
スプリング7Aは、延伸方向の両端において異なる弾性力を有する。例えば、スプリング7Aは、上端部である第1部分71Aと、第1部分71Aよりも高い弾性力を有する下端部である第2部分72Aとを有する。第1部分71Aと第2部分72Aとで形状が異なることにより、弾性力が異なっていてもよい。例えば、スプリング7Aは、鍔部43から離れる方向に向けて、ピッチが縮小すること、径が縮小すること、及び巻線の太さが細くなること、のうちの少なくとも一つを満たしてもよい。一例では、図6に示されるように、スプリング7Aは、鍔部43から離れる方向に向けて径が縮小している。換言すると、スプリング7Aは、ハウジング8の底面811に近付く方向に向けて径が縮小している。スプリング7Aの径は、徐々に縮小してもよいし、スプリング7Aの延伸方向における所定位置(例えば延伸方向における半分の長さ)から縮小してもよい。
プローブ1Aに対し押圧力が加えられると、第1部分71Aは、第2部分72Aよりも早く弾性変形する。換言すると、第1部分71Aは、第2部分72Aよりも早くZ軸方向において縮む。第1部分71Aが弾性変形し、且つ第2部分72Aが弾性変形していない場合、プランジャ4は、第1移動範囲にある。このとき、第1部分71Aは、Z軸方向に縮んだ状態において、プローブ1とコネクタ100との軸ずれを調整する。その後、プローブ1に対しさらに押圧力が加えられると、第2部分72AがZ軸方向に縮む。このとき、プランジャ4は第2移動範囲にあり、プローブピン3の先端が外部に露出する。このような順序でスプリング7が弾性変形することにより、プローブピン3の先端が保護された状態で軸ずれの調整を行うことができる。
プローブ1Aによれば、収縮に応じてスプリング7Aの弾性力が増加する。これにより、プローブ1Aとコネクタ100との位置決めの前にプローブピン3がハウジング8の外部に露出することをより確実に防止することができる。
[変形例]
以上、実施形態について説明したが、本開示は必ずしも上述した実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で様々な変更が可能である。
以上、実施形態について説明したが、本開示は必ずしも上述した実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で様々な変更が可能である。
上記実施形態では、基板5が先端部42に収容されるとして説明したが、基板5が本体部41に収容されてもよい。例えば、基板5を収容する凹部4212は、本体部41の下部415が窪むようにして設けられていてもよい。
1,1A…プローブ、2…導電部、3…プローブピン、4…プランジャ、5…基板、6…フランジ、7,7A…スプリング、8…ハウジング、9…キャップ、41…本体部、42…先端部、43…鍔部、51…第1主面、52…第2主面、53…信号導電部、54…接地導電部、82…底部、84…端部、86…ガイド部、87…中央部、82H…開口、100…コネクタ、822…先端面、P…ピン。
Claims (6)
- コンタクトを備えるコネクタの検査に用いられるプローブであって、
前記コンタクトに対応するように設けられたプローブピンを内包する先端部と、延伸方向に延びるとともに前記プローブピンに電気的に接続される導電部を内包する本体部と、前記本体部の外周に固定された鍔部と、を有するプランジャと、
前記本体部を貫通させる穴が設けられたフランジと、
前記延伸方向における中央部において前記本体部を内包すると共に、前記延伸方向における一方の端部において前記先端部を内包するハウジングと、
前記ハウジングと前記鍔部との間で、前記鍔部を前記フランジの方向に付勢すると共に、前記ハウジングを前記鍔部から離れる方向に付勢する一つのスプリングと、
を備えるプローブ。 - 前記ハウジングは、前記一方の端部において前記コネクタに対する位置決めを行うガイド部を更に有する、請求項1記載のプローブ。
- 前記ハウジングの前記延伸方向における他方の端部に取り付けられ、前記鍔部との間に前記フランジを挟むように設けられたキャップと、
前記フランジ及び前記キャップの一方の部材に設けられ、前記フランジ及び前記キャップの他方の部材に向かって延び、該他方の部材に係合し、該係合を解除可能に構成されたピンと、
を更に備え、
前記プランジャは、
前記ハウジングが前記一方の端部において前記コネクタに当接した状態で、前記フランジが前記鍔部を押す方向に移動することに応じて、前記ハウジングに対して前記延伸方向に相対的に移動し、
その移動範囲として、前記ピンが前記他方の部材に係合している第1状態から前記フランジの移動に伴って前記ピンが移動し前記他方の部材に対する前記ピンの係合が解除される第2状態までの第1移動範囲と、前記第2状態から前記延伸方向に更に前記フランジが移動する第2移動範囲と、を有する、
請求項1又は2記載のプローブ。 - 前記第1状態において、前記ピンが前記他方の部材に係合している長さである係合長さは、前記プローブピンの先端と前記ハウジングにおける前記コネクタに対向する先端面との離間距離よりも短い、請求項3記載のプローブ。
- 前記スプリングは、前記鍔部から離れる方向に向けて、ピッチが縮小すること、径が縮小すること、及び巻線の太さが細くなること、のうちの少なくとも一つを満たす、請求項1~4のいずれか一項記載のプローブ。
- 前記鍔部は、ポリアセタール樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、及ポリテトラフルオロエチレン樹脂からなる群から選ばれる少なくとも一種で形成されている、請求項1~5のいずれか一項記載のプローブ。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022008776A JP2023107531A (ja) | 2022-01-24 | 2022-01-24 | プローブ |
TW111148658A TW202331268A (zh) | 2022-01-24 | 2022-12-19 | 探針 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022008776A JP2023107531A (ja) | 2022-01-24 | 2022-01-24 | プローブ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2023107531A true JP2023107531A (ja) | 2023-08-03 |
Family
ID=87474750
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022008776A Pending JP2023107531A (ja) | 2022-01-24 | 2022-01-24 | プローブ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2023107531A (ja) |
TW (1) | TW202331268A (ja) |
-
2022
- 2022-01-24 JP JP2022008776A patent/JP2023107531A/ja active Pending
- 2022-12-19 TW TW111148658A patent/TW202331268A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW202331268A (zh) | 2023-08-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10641814B2 (en) | Probe structure | |
JP6711469B2 (ja) | プローブ | |
JP7095753B2 (ja) | プローブ | |
US10948519B2 (en) | Probe | |
WO2011096067A1 (ja) | 接触子及び電気的接続装置 | |
JP2008145238A (ja) | 電気接続器及びこれを用いた電気的接続装置 | |
JP5486760B2 (ja) | コンタクトピン及び電気部品用ソケット | |
US11346859B2 (en) | Contact probe and probe unit | |
JP2015075370A (ja) | 検査用治具、電極部、プローブ、及び検査用治具の製造方法 | |
US11482805B2 (en) | Electrical contactor, electrical connecting structure and electrical connecting apparatus | |
JP3226821U (ja) | 多極コネクタを測定するためのプローブ | |
JP2023107531A (ja) | プローブ | |
KR20210104660A (ko) | 검사용 지그 지지구, 지지구 및 검사용 지그 | |
JP2023100075A (ja) | プローブ | |
JP2023100074A (ja) | プローブ | |
WO2022113489A1 (ja) | プローブ | |
US20220155347A1 (en) | Electrical contactor and electrical connecting apparatus | |
JP7327663B2 (ja) | プローブ | |
WO2018168136A1 (ja) | プローブピンおよび検査ユニット | |
JP2024055075A (ja) | プローブ | |
JP2024055076A (ja) | プローブ | |
JP7220109B2 (ja) | プローブユニット | |
JP7086680B2 (ja) | 電気的接触子及び電気的接続装置 |