JP2023084755A - Component mounting device - Google Patents

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JP2023084755A
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backup pin
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component mounting
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明靖 上杉
Akiyasu Uesugi
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Yamaha Motor Co Ltd
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Abstract

To provide a component mounting device which can easily detect an abnormality of a backup pin with a simple structure.MEANS FOR SOLVING THE PROBLEM: A component mounting device 1 comprises: a backup pin 50 which backs up a substrate P from the lower side; a plate which is provided with a plurality of support parts that can support the backup pin 50; a camera which images the backup pin 50 supported by the support parts from the upper side; and a control unit 30. The backup pin 50 includes a contact part 53 which can be in contact with the support parts. The backup pin 50 includes a first mark 55A and a second mark 55B which are arranged at different positions in the vertical direction and can be recognized by the camera from the upper side. The control unit 30 acquires a first image by imaging the first mark 55A of the backup pin 50 supported by the support parts by the camera, acquires a second image by imaging the second mark 55B of the backup pin 50 supported by the support parts by the camera, and determines whether or not there is an abnormality in the backup pin 50 by measuring the inclination of the backup pin 50 on the basis of the first image and the second image.SELECTED DRAWING: Figure 9

Description

本開示は、部品実装装置に関する。 The present disclosure relates to a component mounting apparatus.

基板に部品を実装する部品実装装置は、基板に部品を実装するときに基板が撓むことを抑制するために、基板を下方から支持するバックアップ装置を備えている。このようなバックアップ装置として、従来、特開2019-140228号公報(下記特許文献1)に記載のものが知られている。特許文献1に記載のバックアップ装置は、複数のバックアップピンと、バックアップピンが挿入される複数のピン挿入穴が設けられる上部プレートと、上部プレートの下方に配されるタッチパネルと、制御部と、を備える。タッチパネルは、ピン挿入穴に挿入されたバックアップピンを検出可能とされている。制御部は、タッチパネルの検出結果から、バックアップピンが正規の位置に立設されているか判断できるようになっている。 2. Description of the Related Art A component mounting apparatus that mounts components on a board includes a backup device that supports the board from below in order to prevent the board from bending when components are mounted on the board. As such a backup device, the one disclosed in Japanese Patent Laying-Open No. 2019-140228 (Patent Document 1 below) is conventionally known. The backup device described in Patent Document 1 includes a plurality of backup pins, an upper plate provided with a plurality of pin insertion holes into which the backup pins are inserted, a touch panel arranged below the upper plate, and a control unit. . The touch panel can detect the backup pin inserted into the pin insertion hole. The control unit can determine whether the backup pin is erected at the proper position from the detection result of the touch panel.

特開2019-140228号公報JP 2019-140228 A

上記の構成では、バックアップピンの位置情報を得るために、バックアップ装置にタッチパネルを設ける必要があり、バックアップ装置の構成が複雑になる場合がある。 In the above configuration, it is necessary to provide the backup device with a touch panel in order to obtain the position information of the backup pin, which may complicate the configuration of the backup device.

本開示の部品実装装置は、基板に部品を実装する部品実装装置であって、前記基板を下方からバックアップするバックアップピンと、前記バックアップピンを支持可能な複数の支持部が設けられるプレートと、前記支持部に支持された前記バックアップピンを上方から撮像するカメラと、制御部と、を備え、前記バックアップピンは、前記支持部と当接可能な当接部を備え、前記バックアップピンは、上下方向について異なる位置に配され、それぞれ上方から前記カメラにより認識可能とされる第1マーク及び第2マークを有し、前記制御部は、前記支持部に支持された前記バックアップピンの前記第1マークを前記カメラにより撮像することで第1画像を取得し、前記支持部に支持された前記バックアップピンの前記第2マークを前記カメラにより撮像することで第2画像を取得し、前記第1画像及び前記第2画像に基づいて、前記バックアップピンの傾きを測定することで、前記バックアップピンに異常があるか否かを判定する、部品実装装置である。 A component mounting apparatus according to the present disclosure is a component mounting apparatus that mounts a component on a board, and includes: a backup pin that backs up the board from below; a plate provided with a plurality of support portions capable of supporting the backup pin; a camera that captures an image of the backup pin supported by a portion from above; It has a first mark and a second mark which are arranged at different positions and can be recognized by the camera from above, respectively, and the control unit controls the first mark of the backup pin supported by the support unit to the A first image is obtained by imaging with a camera, a second image is obtained by imaging the second mark of the backup pin supported by the support portion with the camera, and the first image and the second image are obtained. The component mounting apparatus determines whether or not there is an abnormality in the backup pin by measuring the inclination of the backup pin based on two images.

本開示によれば、簡素な構成によりバックアップピンの異常を検出しやすい部品実装装置を提供することができる。 Advantageous Effects of Invention According to the present disclosure, it is possible to provide a component mounting apparatus that can easily detect an abnormality in a backup pin with a simple configuration.

図1は、実施形態1に係る部品実装装置の平面図である。FIG. 1 is a plan view of a component mounting apparatus according to Embodiment 1. FIG. 図2は、部品実装装置の側面図である。FIG. 2 is a side view of the component mounting apparatus. 図3は、バックアップ装置の斜視図である。FIG. 3 is a perspective view of the backup device. 図4は、バックアップ装置の模式的な側面図であって、当接部、上部プレート、及び下部プレートの断面を示す図である。FIG. 4 is a schematic side view of the backup device, showing cross sections of the contact portion, the upper plate, and the lower plate. 図5は、部品実装装置の電気的構成を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing the electrical configuration of the component mounting apparatus. 図6は、図4に示すバックアップピンを撮像して取得した第1画像及び第2画像について説明する図である。6A and 6B are diagrams for explaining a first image and a second image acquired by imaging the backup pin shown in FIG. 図7は、傾いた状態のバックアップピンを示す模式的な側面図であって、上部プレート、及び下部プレートの断面を示す図である。FIG. 7 is a schematic side view of the backup pin in a tilted state, showing cross sections of the upper and lower plates. 図8は、図7に示すバックアップピンを撮像して取得した第1画像及び第2画像について説明する図である。FIG. 8 is a diagram for explaining a first image and a second image acquired by imaging the backup pin shown in FIG. 図9は、バックアップピンの異常判定処理について示すフローチャートである。FIG. 9 is a flowchart showing backup pin abnormality determination processing. 他の実施形態に係るバックアップピンを示す斜視図である。It is a perspective view showing a backup pin according to another embodiment.

[本開示の実施形態の説明]
最初に本開示の実施態様を列挙して説明する。
[Description of Embodiments of the Present Disclosure]
First, embodiments of the present disclosure are enumerated and described.

(1)本開示の部品実装装置は、基板に部品を実装する部品実装装置であって、前記基板を下方からバックアップするバックアップピンと、前記バックアップピンを支持可能な複数の支持部が設けられるプレートと、前記支持部に支持された前記バックアップピンを上方から撮像するカメラと、制御部と、を備え、前記バックアップピンは、前記支持部と当接可能な当接部を備え、前記バックアップピンは、上下方向について異なる位置に配され、それぞれ上方から前記カメラにより認識可能とされる第1マーク及び第2マークを有し、前記制御部は、前記支持部に支持された前記バックアップピンの前記第1マークを前記カメラにより撮像することで第1画像を取得し、前記支持部に支持された前記バックアップピンの前記第2マークを前記カメラにより撮像することで第2画像を取得し、前記第1画像及び前記第2画像に基づいて、前記バックアップピンの傾きを測定することで、前記バックアップピンに異常があるか否かを判定する、部品実装装置である。 (1) A component mounting apparatus according to the present disclosure is a component mounting apparatus that mounts components on a board, and includes a backup pin that backs up the board from below, and a plate provided with a plurality of support portions capable of supporting the backup pin. a camera for capturing an image of the backup pin supported by the support from above; and a control unit, the backup pin includes a contact portion capable of coming into contact with the support, and the backup pin is configured to: It has a first mark and a second mark which are arranged at different positions in the vertical direction and which can be recognized by the camera from above, respectively, and the control unit controls the first mark of the backup pin supported by the support unit. A first image is obtained by imaging a mark with the camera, a second image is obtained by imaging the second mark of the backup pin supported by the support portion with the camera, and the first image is obtained. and determining whether or not there is an abnormality in the backup pin by measuring the inclination of the backup pin based on the second image.

このような構成によると、第1マーク及び第2マークはバックアップピンの上下方向における異なる位置に設けられるから、第1マークが撮像された第1画像と第2マークが撮像された第2画像とに基づいて、バックアップピンの傾きを測定し、バックアップピンに異常があるか否かを判定することができる。したがって、バックアップピンに第1マーク及び第2マークを設けた簡素な構成により、バックアップピンの異常を検出することができる。
ここで、バックアップピンに異常がある場合とは、例えば、当接部とプレートとの間に異物を挟み込んでいる場合や、バックアップピン自体が曲がっている場合等を含む。
According to such a configuration, the first mark and the second mark are provided at different positions in the vertical direction of the backup pin. , it is possible to measure the inclination of the backup pin and determine whether or not the backup pin has an abnormality. Therefore, it is possible to detect an abnormality of the backup pin with a simple configuration in which the first mark and the second mark are provided on the backup pin.
Here, the case where the backup pin is abnormal includes, for example, the case where a foreign object is sandwiched between the contact portion and the plate, the case where the backup pin itself is bent, and the like.

(2)前記支持部は、前記バックアップピンを挿入可能な貫通孔の孔縁部であることが好ましい。 (2) It is preferable that the support portion is a hole edge portion of a through hole into which the backup pin can be inserted.

このような構成によると、プレートに設けられた貫通孔の孔縁部によりバックアップピンを支持することができる。 According to such a configuration, the backup pin can be supported by the edge of the through hole provided in the plate.

(3)前記制御部は、前記第1画像から前記第1画像に写った前記バックアップピンの中心位置である第1基準位置を算出し、前記第2画像から前記第2画像に写った前記バックアップピンの中心位置である第2基準位置を算出し、前記第1基準位置と前記第2基準位置との位置ずれ量から前記バックアップピンの傾きを算出し、前記位置ずれ量が予め設定された閾値よりも大きい場合に、前記バックアップピンに異常があると判定することが好ましい。 (3) The control unit calculates a first reference position, which is a center position of the backup pin captured in the first image, from the first image, and calculates the backup pin captured in the second image from the second image. calculating a second reference position that is the center position of the pin; calculating the inclination of the backup pin from the positional deviation amount between the first reference position and the second reference position; It is preferable to determine that the backup pin has an abnormality when it is larger than the above.

このような構成によると、第1画像から第1基準位置を算出し、第2画像から第2基準位置を算出し、第1基準位置と第2基準位置との位置ずれ量からバックアップピンの傾きを算出することができる。位置ずれ量と閾値との比較により、バックアップピンの異常を検出することができる。 According to such a configuration, the first reference position is calculated from the first image, the second reference position is calculated from the second image, and the inclination of the backup pin is calculated from the positional deviation amount between the first reference position and the second reference position. can be calculated. Abnormality of the backup pin can be detected by comparing the amount of positional deviation with the threshold value.

(4)前記カメラは、前記基板の位置を認識するための基板撮像カメラであり、前記基板撮像カメラは、上下方向に移動可能とされていることが好ましい。 (4) Preferably, the camera is a substrate imaging camera for recognizing the position of the substrate, and the substrate imaging camera is vertically movable.

このような構成によると、基板撮像カメラの高さを適切に設定することにより、基板撮像カメラと第1マークとの間隔を調整し、第1画像を良好に撮像することができる。また、基板撮像カメラの高さを適切に設定することにより、基板撮像カメラと第2マークとの間隔を調整し、第2画像を良好に撮像することができる。 According to such a configuration, by appropriately setting the height of the board imaging camera, the distance between the board imaging camera and the first mark can be adjusted, and the first image can be satisfactorily captured. Also, by appropriately setting the height of the board imaging camera, the distance between the board imaging camera and the second mark can be adjusted, and the second image can be captured satisfactorily.

(5)前記プレートは、前記基板をバックアップする際に支持位置に配され、前記プレートは、前記支持位置よりも上方に移動可能とされているようになっていてもよい。 (5) The plate may be arranged at a support position when backing up the substrate, and the plate may be movable above the support position.

このような構成によると、プレートは支持位置より上方に移動可能であるから、プレートの高さを適切に設定することにより、カメラと第1マークとの間隔を調整し、第1画像を良好に撮像することができる。また、プレートの高さを適切に設定することにより、カメラと第2マークとの間隔を調整し、第2画像を良好に撮像することができる。 With such a configuration, the plate can be moved upward from the support position, so by appropriately setting the height of the plate, the distance between the camera and the first mark can be adjusted, and the first image can be obtained satisfactorily. It can be imaged. Also, by appropriately setting the height of the plate, the distance between the camera and the second mark can be adjusted, and the second image can be captured satisfactorily.

(6)本開示の部品実装装置は、さらに報知部を備え、前記バックアップピンに異常があると判定された場合、前記制御部は、前記報知部により前記支持部への前記バックアップピンの配置が不可であることをオペレータに報知することが好ましい。 (6) The component mounting apparatus of the present disclosure further includes a notification unit, and when it is determined that the backup pin has an abnormality, the control unit causes the notification unit to cause the backup pin to be displaced to the support unit. It is preferable to notify the operator of the impossibility.

このような構成によると、オペレータは直ちにバックアップピンの異常を修正することができる。これにより、バックアップピンに異常がある状態で生産が開始されてしまうことを抑制できる。 With such a configuration, the operator can immediately correct the failure of the backup pin. As a result, it is possible to prevent production from being started in a state where the backup pin is abnormal.

(7)本開示の部品実装装置は、さらに表示部を備え、前記バックアップピンに異常があると判定された場合、前記制御部は、前記表示部に前記バックアップピンの位置を表示させることが好ましい。 (7) Preferably, the component mounting apparatus of the present disclosure further includes a display unit, and when it is determined that the backup pin has an abnormality, the control unit causes the display unit to display the position of the backup pin. .

このような構成によると、オペレータがバックアップピンの異常を確認する作業を容易にすることができる。 According to such a configuration, it is possible for the operator to easily confirm the abnormality of the backup pin.

(8)本開示の部品実装装置は、さらに表示部を備え、前記バックアップピンに異常があると判定された場合、前記制御部は、前記支持部の代わりに前記複数の支持部のうちの他の支持部に前記バックアップピンを配置可能であることが予め設定されているときには、前記表示部に前記他の支持部の位置を表示させることが好ましい。 (8) The component mounting apparatus of the present disclosure further includes a display section, and when it is determined that the backup pin has an abnormality, the control section controls the other of the plurality of support sections instead of the support section. When it is set in advance that the backup pin can be arranged on the other supporting portion, it is preferable that the display portion displays the position of the other supporting portion.

このような構成によると、当接部とプレートとの間への異物の挟み込みにより異常が検出された場合、バックアップピンを他の支持部に配置することができる。よって、異物を除去する作業を省略することができる。 According to such a configuration, when an abnormality is detected due to foreign matter being caught between the contact portion and the plate, the backup pin can be arranged on another support portion. Therefore, it is possible to omit the work of removing the foreign matter.

[本開示の実施形態の詳細]
以下に、本開示の実施形態について説明する。本開示はこれらの例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内での全ての変更が含まれることが意図される。
[Details of the embodiment of the present disclosure]
Embodiments of the present disclosure will be described below. The present disclosure is not limited to these examples, but is indicated by the scope of the claims, and is intended to include all modifications within the meaning and scope of equivalents of the scope of the claims.

<実施形態1>
実施形態1を図1ないし図9によって説明する。以降の説明では図1における図示左右方向をX軸方向、図示上下方向をY軸方向、図2における図示上下方向をZ軸方向という。実空間においては、Z軸方向における正の方向が上方とされている。また、以降の説明では図1の図示右側を上流側、図示左側を下流側という。また、以降の説明では同一の構成部材には一部を除いて図面の符号を省略している場合がある。
<Embodiment 1>
Embodiment 1 will be described with reference to FIGS. 1 to 9. FIG. In the following description, the left-right direction in FIG. 1 is called the X-axis direction, the up-down direction in FIG. 2 is called the Y-axis direction, and the up-down direction in FIG. 2 is called the Z-axis direction. In real space, the positive direction in the Z-axis direction is upward. In the following description, the right side of FIG. 1 is called the upstream side, and the left side of the drawing is called the downstream side. Also, in the following description, the reference numerals in the drawings may be omitted except for some of the same constituent members.

[全体構成]
実施形態1は、図1に示すように、電子部品等の部品Eをプリント基板等の基板Pに実装する部品実装装置1を例示している。部品実装装置1は、基台10、搬送コンベア11、ヘッドユニット12、ヘッド搬送部13、バックアップ装置20(図2参照)、2つの部品撮像カメラ15、基板撮像カメラ16(カメラの一例)、テープ部品供給装置3、図5に示す制御部30、操作部31などを備えている。
[overall structure]
Embodiment 1, as shown in FIG. 1, illustrates a component mounting apparatus 1 that mounts a component E such as an electronic component on a substrate P such as a printed circuit board. The component mounting apparatus 1 includes a base 10, a transport conveyor 11, a head unit 12, a head transport section 13, a backup device 20 (see FIG. 2), two component imaging cameras 15, a board imaging camera 16 (an example of a camera), a tape It includes a component supply device 3, a control unit 30 shown in FIG. 5, an operation unit 31, and the like.

基台10は平面視方形状をなすとともに上面が平坦とされている。図1において二点鎖線で示す矩形枠は基板Pに部品Eを実装するときの作業位置Aを示している。図1には示されていないが、作業位置Aの下方には後述するバックアップ装置20(図2参照)が配されている。 The base 10 has a square shape in plan view and has a flat upper surface. A rectangular frame indicated by a two-dot chain line in FIG. Although not shown in FIG. 1, below the working position A is a backup device 20 (see FIG. 2), which will be described later.

搬送コンベア11は基板PをX軸方向の上流側から作業位置Aに搬入し、作業位置Aで部品Eが実装された基板Pを下流側に搬出するものである。搬送コンベア11はX軸方向に循環駆動する一対のコンベアベルト11A,11B、それらのコンベアベルト11A,11Bを駆動するコンベア駆動モータ42(図5参照)などを備えている。図示上側のコンベアベルト11AはY軸方向に移動可能であり、基板Pの幅に応じて2つのコンベアベルト11A,11Bの間隔を調整できる。 The transport conveyor 11 carries the board P from the upstream side in the X-axis direction to the work position A, and carries out the board P on which the component E is mounted at the work position A to the downstream side. The transport conveyor 11 includes a pair of conveyor belts 11A and 11B that are driven to circulate in the X-axis direction, a conveyor drive motor 42 (see FIG. 5) that drives the conveyor belts 11A and 11B, and the like. The upper conveyor belt 11A in the drawing is movable in the Y-axis direction, and the interval between the two conveyor belts 11A and 11B can be adjusted according to the width of the substrate P.

ヘッドユニット12は複数(ここでは5個)の実装ヘッド17を軸周りに回転、及び、軸方向に昇降させるものである。ヘッドユニット12の構成については後述する。
ヘッド搬送部13はヘッドユニット12を所定の可動範囲内でX軸方向及びY軸方向に搬送するものである。ヘッド搬送部13はヘッドユニット12をX軸方向に往復移動可能に支持しているビーム13A、ビーム13AをY軸方向に往復移動可能に支持している一対のY軸ガイドレール13B、ヘッドユニット12をX軸方向に往復移動させるX軸サーボモータ38、ビーム13AをY軸方向に往復移動させるY軸サーボモータ39などを備えている。
The head unit 12 rotates a plurality of (here, five) mounting heads 17 around an axis and raises and lowers them in the axial direction. The configuration of the head unit 12 will be described later.
The head transport section 13 transports the head unit 12 in the X-axis direction and the Y-axis direction within a predetermined movable range. The head transport section 13 includes a beam 13A supporting the head unit 12 so as to be reciprocable in the X-axis direction, a pair of Y-axis guide rails 13B supporting the beam 13A so as to be reciprocable in the Y-axis direction, and the head unit 12. and an X-axis servomotor 38 for reciprocating the beam 13A in the X-axis direction, and a Y-axis servomotor 39 for reciprocating the beam 13A in the Y-axis direction.

2つの部品撮像カメラ15はそれぞれX軸方向に並んだ2つのテープ部品供給装置3の間に設けられている。部品撮像カメラ15は実装ヘッド17に吸着されている部品Eを下から撮像して部品Eの位置や姿勢などを認識するためのものであり、撮像面を上に向けた姿勢で配されている。 The two component imaging cameras 15 are provided between the two tape component supply devices 3 arranged in the X-axis direction. The component imaging camera 15 is for capturing an image of the component E sucked by the mounting head 17 from below and recognizing the position and orientation of the component E, and is arranged with the imaging surface facing upward. .

基板撮像カメラ16はヘッドユニット12に設けられている。基板撮像カメラ16は基板Pに付されている図示しないフィデューシャルマークなどを撮像してそれらの位置を認識するためのものであり、撮像面を下に向けた姿勢で配されている。
また、本実施形態では、基板撮像カメラ16は後述するバックアップピン50の第1マーク55A及び第2マーク55Bを撮像するカメラとされている。
A board imaging camera 16 is provided in the head unit 12 . The substrate imaging camera 16 is for imaging fiducial marks (not shown) attached to the substrate P and recognizing their positions, and is arranged with its imaging surface facing downward.
Further, in this embodiment, the substrate imaging camera 16 is a camera that images first marks 55A and second marks 55B of the backup pin 50, which will be described later.

テープ部品供給装置3は搬送コンベア11のY軸方向の両側においてX軸方向に並んで2箇所ずつ、計4箇所に配されている。これらのテープ部品供給装置3には複数のフィーダ3AがX軸方向に横並び状に整列して取り付けられている。各フィーダ3Aは所謂テープフィーダであり、複数の部品Eが収容された部品テープが巻回されたリール(不図示)、及び、リールから部品テープを引き出す電動式のテープ送出装置等を備えており、搬送コンベア11側の端部に設けられた部品供給位置から部品Eを一つずつ供給する。 The tape component supply devices 3 are arranged in two locations in the X-axis direction on both sides of the conveyer 11 in the Y-axis direction, for a total of four locations. A plurality of feeders 3A are attached to these tape component supply devices 3 so as to be aligned side by side in the X-axis direction. Each feeder 3A is a so-called tape feeder, and includes a reel (not shown) on which a component tape containing a plurality of components E is wound, and an electric tape delivery device for pulling out the component tape from the reel. , the parts E are supplied one by one from the part supply position provided at the end on the conveyer 11 side.

なお、ここでは部品供給装置としてテープ部品供給装置3を例に説明するが、部品供給装置は部品Eが載置されているトレイを供給する所謂トレイフィーダであってもよいし、半導体ウェハを供給するものであってもよい。 Here, the tape component supply device 3 will be described as an example of the component supply device, but the component supply device may be a so-called tray feeder that supplies a tray on which components E are placed, or a semiconductor wafer. It may be something to do.

[ヘッドユニット]
図2に示すように、本実施形態に係るヘッドユニット12は所謂インライン型であり、複数の実装ヘッド17がX軸方向に並んで設けられている。また、ヘッドユニット12にはこれらの実装ヘッド17を個別に昇降させるZ軸サーボモータ40(図5参照)やこれらの実装ヘッド17を一斉に軸周りに回転させるR軸サーボモータ41(図5参照)などが設けられている。
[Head unit]
As shown in FIG. 2, the head unit 12 according to this embodiment is a so-called in-line type, in which a plurality of mounting heads 17 are arranged side by side in the X-axis direction. The head unit 12 also includes a Z-axis servomotor 40 (see FIG. 5) for individually raising and lowering these mounting heads 17 and an R-axis servomotor 41 (see FIG. 5) for simultaneously rotating these mounting heads 17 around the axis. ), etc. are provided.

各実装ヘッド17は部品Eを吸着及び解放するものであり、ノズルシャフト17Aと、ノズルシャフト17Aの下端部に着脱可能に取り付けられている吸着ノズル17Bとを有している。吸着ノズル17Bにはノズルシャフト17Aを介して図示しない空気供給装置から負圧及び正圧が供給される。吸着ノズル17Bは負圧が供給されることによって部品Eを吸着し、正圧が供給されることによってその部品Eを解放する。 Each mounting head 17 sucks and releases the component E, and has a nozzle shaft 17A and a suction nozzle 17B detachably attached to the lower end of the nozzle shaft 17A. Negative pressure and positive pressure are supplied to the suction nozzle 17B from an air supply device (not shown) through the nozzle shaft 17A. The suction nozzle 17B sucks the component E by being supplied with a negative pressure, and releases the component E by being supplied with a positive pressure.

なお、ここではインライン型のヘッドユニット12を例に説明するが、ヘッドユニット12は例えば複数の実装ヘッド17が円周上に配列された所謂ロータリーヘッドであってもよい。 Here, an in-line type head unit 12 will be described as an example, but the head unit 12 may be, for example, a so-called rotary head in which a plurality of mounting heads 17 are arranged on a circumference.

[バックアップ装置]
図2に示すように、バックアップ装置20は基板Pに部品Eを実装するときに基板Pをバックアップするものである。具体的には、作業位置Aに基板Pが搬入されてくる前の状態では、バックアップ装置20は上端(より具体的にはバックアップピン50の上端)がコンベアベルト11A及び11Bより下方となる位置まで下降している。作業位置Aに基板Pが搬入されるとバックアップ装置20が上昇し、複数のバックアップピン50によって基板Pが持ち上げられる。これにより基板Pがバックアップ装置20によって下方から支持される。言い換えると基板Pがバックアップされる。
[Backup device]
As shown in FIG. 2, the backup device 20 backs up the board P when the component E is mounted on the board P. As shown in FIG. Specifically, before the board P is carried into the work position A, the backup device 20 is moved to a position where the upper end (more specifically, the upper end of the backup pin 50) is below the conveyor belts 11A and 11B. descending. When the substrate P is carried into the working position A, the backup device 20 is raised, and the substrate P is lifted by the plurality of backup pins 50 . As a result, the substrate P is supported from below by the backup device 20 . In other words, the substrate P is backed up.

図3に示すように、バックアップ装置20は複数のバックアップピン50、上部プレート22(プレートの一例)、上部プレート22の下方に配されている下部プレート23、4つの支柱25、下部プレート23を昇降させる昇降機構26などを備えている。 As shown in FIG. 3, the backup device 20 includes a plurality of backup pins 50, an upper plate 22 (an example of a plate), a lower plate 23 arranged below the upper plate 22, four supports 25, and the lower plate 23. A lifting mechanism 26 and the like are provided.

[バックアップピン]
図4はバックアップ装置20の一部を模式的に示している。図4に示すように、バックアップピン50は、円柱状の大径部51と、大径部51の下端から下方に延びる円柱状の小径部52と、大径部51の下端部からフランジ状に張り出す当接部53と、大径部51の上端から上方にのびる縮径部54と、を有している。縮径部54は上方に向かうほど径方向の寸法が小さい円錐台状をなしている。当接部53の下面には当接部53を上部プレート22に吸着させるための環状の磁石53Aが埋め込まれている。
[Backup pin]
FIG. 4 schematically shows part of the backup device 20. As shown in FIG. As shown in FIG. 4 , the backup pin 50 includes a cylindrical large-diameter portion 51 , a cylindrical small-diameter portion 52 extending downward from the lower end of the large-diameter portion 51 , and a flange-like portion extending from the lower end of the large-diameter portion 51 . It has a protruding contact portion 53 and a reduced diameter portion 54 extending upward from the upper end of the large diameter portion 51 . The reduced-diameter portion 54 has a truncated cone shape whose radial dimension decreases toward the top. An annular magnet 53</b>A is embedded in the lower surface of the contact portion 53 to attract the contact portion 53 to the upper plate 22 .

[第1マーク、第2マーク]
縮径部54の外周面には、上下方向に所定の幅を有する帯状をなす第1マーク55A及び第2マーク55Bが設けられている(図2及び図3では不図示)。第1マーク55Aと第2マーク55Bとは、上下方向に異なる位置に配されており、本実施形態では第2マーク55Bは第1マーク55Aより上方に位置している。第1マーク55A及び第2マーク55Bは、基板撮像カメラ16によって上方から認識可能に着色されている。
[1st mark, 2nd mark]
A band-shaped first mark 55A and a second mark 55B having a predetermined width in the vertical direction are provided on the outer peripheral surface of the reduced diameter portion 54 (not shown in FIGS. 2 and 3). The first mark 55A and the second mark 55B are arranged at different positions in the vertical direction, and in this embodiment, the second mark 55B is positioned above the first mark 55A. The first mark 55A and the second mark 55B are colored so that they can be recognized from above by the board imaging camera 16 .

[上部プレート、貫通孔]
上部プレート22は平板状に形成された金属製の部材である。図3に示すように、上部プレート22には板厚方向に貫通する複数の貫通孔24がマトリクス状に形成されている。図4に示すように、貫通孔24の内径はバックアップピン50の小径部52の外径より大きい一方、当接部53の外径より小さい。上部プレート22において貫通孔24の周囲(言い換えると貫通孔24の孔縁部)はバックアップピン50の下降を規制している。ここで、貫通孔24の孔縁部は、支持部の一例である。
[Upper plate, through hole]
The upper plate 22 is a flat metal member. As shown in FIG. 3, a plurality of through-holes 24 are formed in a matrix in the upper plate 22 so as to penetrate in the plate thickness direction. As shown in FIG. 4 , the inner diameter of the through hole 24 is larger than the outer diameter of the small diameter portion 52 of the backup pin 50 and smaller than the outer diameter of the contact portion 53 . In the upper plate 22, the periphery of the through hole 24 (in other words, the edge of the through hole 24) restricts the descent of the backup pin 50. As shown in FIG. Here, the hole edge portion of the through hole 24 is an example of the support portion.

下部プレート23は板状の部材であり、4隅から立ち上がっている支柱25を介して上部プレート22と連結されている。 The lower plate 23 is a plate-like member, and is connected to the upper plate 22 via pillars 25 rising from the four corners.

図2に示すように、昇降機構26は下部プレート23から下方に延びる複数のボールねじ26A、各ボールねじ26Aに螺合しているボールナット26B、昇降モータ43、ボールナット26Bと昇降モータ43とに掛け回されているベルト26Cなどを備えている。昇降モータ43を回転させるとベルト26Cを介してボールナット26Bが回転し、ボールねじ26Aが上下に移動する。これによりバックアップ装置20が昇降する。 As shown in FIG. 2, the elevating mechanism 26 includes a plurality of ball screws 26A extending downward from the lower plate 23, ball nuts 26B screwed to the respective ball screws 26A, an elevating motor 43, the ball nuts 26B and the elevating motor 43. It has a belt 26C and the like that is wrapped around. When the lifting motor 43 is rotated, the ball nut 26B rotates via the belt 26C, and the ball screw 26A moves up and down. As a result, the backup device 20 moves up and down.

図4に示すように、バックアップピン50は小径部52が上から貫通孔24に挿入され、当接部53の下面が上部プレート22の貫通孔24の孔縁部に当接することによってそれ以上の下降が規制される。当接部53の下面が貫通孔24の孔縁部に当接すると、当接部53の下面に埋め込まれている磁石53Aが金属製の上部プレート22の上面に吸着する。これにより、バックアップピン50の上下方向の位置が磁石53Aによって固定される。 As shown in FIG. 4, the backup pin 50 has the small diameter portion 52 inserted into the through hole 24 from above, and the lower surface of the contact portion 53 contacts the hole edge of the through hole 24 of the upper plate 22, thereby further Descent is restricted. When the bottom surface of the contact portion 53 contacts the hole edge of the through hole 24 , the magnet 53A embedded in the bottom surface of the contact portion 53 is attracted to the upper surface of the metallic top plate 22 . Thereby, the vertical position of the backup pin 50 is fixed by the magnet 53A.

上部プレート22においてバックアップピン50が立設される正規の位置は、基板Pの種類毎に異なっている。これは、基板Pのサイズや部品Eが実装される部分の位置等に応じて、基板Pをバックアップピン50により支持すべき位置が異なってくるためである。ここでは、複数の貫通孔24のうち正規の位置に配されるものを正規貫通孔24Aとする。 The normal position of the backup pin 50 on the upper plate 22 differs for each type of substrate P. As shown in FIG. This is because the positions at which the substrate P should be supported by the backup pins 50 differ depending on the size of the substrate P, the position of the portion where the component E is mounted, and the like. Here, among the plurality of through holes 24, those arranged at regular positions are referred to as regular through holes 24A.

また、生産される基板Pによっては、ある1つの正規貫通孔24Aに立設されるべきバックアップピン50を、正規貫通孔24Aと異なる他の貫通孔24に配置できる場合がある。本実施形態では、このように正規貫通孔24Aに代替可能とされる代替貫通孔24Bが設定されている。ここで、代替貫通孔24Bの孔縁部は、他の支持部の一例である。 Also, depending on the substrate P to be produced, the backup pin 50 to be erected in one regular through-hole 24A may be arranged in another through-hole 24 different from the regular through-hole 24A. In this embodiment, the alternative through-holes 24B that can be substituted for the regular through-holes 24A are set in this way. Here, the hole edge portion of the alternative through-hole 24B is an example of another support portion.

例えば、図3に示すように、上部プレート22の左端かつ後端に配されている正規貫通孔24Aについて、この正規貫通孔24Aの前方に隣接して代替貫通孔24Bが設けられているような場合がありうる。この場合、何らかの理由で正規貫通孔24Aにバックアップピン50を立設できなくなっても、代わりに代替貫通孔24Bにバックアップピン50を立設することで、バックアップピン50の再配置を迅速に行うことができる。 For example, as shown in FIG. 3, for the regular through-hole 24A arranged at the left end and the rear end of the upper plate 22, an alternative through-hole 24B is provided adjacent to the front of the regular through-hole 24A. There are cases. In this case, even if the backup pin 50 cannot be erected in the regular through hole 24A for some reason, the backup pin 50 can be quickly rearranged by erecting the backup pin 50 in the alternative through hole 24B instead. can be done.

[部品実装装置の電気的構成]
図5に示すように、部品実装装置1は制御部30及び操作部31を備えている。制御部30は演算処理部32、モータ制御部33、記憶部34、画像処理部35、外部入出力部36、フィーダ通信部37などを備えている。
[Electrical Configuration of Component Mounting Device]
As shown in FIG. 5, the component mounting apparatus 1 includes a control section 30 and an operation section 31. As shown in FIG. The control unit 30 includes an arithmetic processing unit 32, a motor control unit 33, a storage unit 34, an image processing unit 35, an external input/output unit 36, a feeder communication unit 37, and the like.

演算処理部32はCPU、ROM、RAMなどを備えており、ROMに記憶されている制御プログラムを実行することによって部品実装装置1の各部を制御する。なお、演算処理部32はCPUに替えて、あるいはCPUに加えてASIC(Application Specific Integrated Circuit)やFPGA(Field Programmable Gate Array)などを備えていてもよい。 The arithmetic processing unit 32 includes a CPU, ROM, RAM, etc., and controls each unit of the component mounting apparatus 1 by executing a control program stored in the ROM. Note that the arithmetic processing unit 32 may include an ASIC (Application Specific Integrated Circuit), an FPGA (Field Programmable Gate Array), or the like instead of the CPU or in addition to the CPU.

モータ制御部33は演算処理部32の制御の下でX軸サーボモータ38、Y軸サーボモータ39、Z軸サーボモータ40、R軸サーボモータ41、コンベア駆動モータ42、昇降モータ43などの各モータを回転させる。 The motor control unit 33 controls each motor such as an X-axis servomotor 38, a Y-axis servomotor 39, a Z-axis servomotor 40, an R-axis servomotor 41, a conveyor drive motor 42, and an elevating motor 43 under the control of the arithmetic processing unit 32. to rotate.

記憶部34には各種のデータが記憶されている。各種のデータには生産が予定されている基板Pの生産枚数や品種に関する情報、部品Eの実装座標や実装角度に関する情報、部品Eの実装順序に関する情報等が含まれる。
また、記憶部34にはバックアップピン50が立設されるべき正規貫通孔24Aの位置を表す正規位置データが基板Pの種類毎に記憶されている。正規位置データは基板Pの生産を開始する前に予め作成されて記憶部34に記憶される。
さらに、記憶部34には正規の位置の代わりにバックアップピン50を配置可能な代替貫通孔24Bの位置を表す代替位置データも基板Pの種類毎に予め記憶されている。
Various data are stored in the storage unit 34 . The various data include information on the number of boards P to be produced and types, information on the mounting coordinates and mounting angles of the components E, information on the mounting order of the components E, and the like.
Further, the storage unit 34 stores normal position data representing the positions of the normal through holes 24A in which the backup pins 50 are to be erected for each type of the board P. As shown in FIG. The normal position data is created in advance and stored in the storage unit 34 before the production of the substrate P is started.
Further, alternative position data representing the positions of alternative through-holes 24B in which the backup pins 50 can be arranged are stored in advance in the storage unit 34 for each type of substrate P instead of the regular positions.

画像処理部35は部品撮像カメラ15や基板撮像カメラ16から出力される画像信号が取り込まれるように構成されており、出力された画像信号に基づいてデジタル画像を生成する。
外部入出力部36はいわゆるインターフェースであり、部品実装装置1の本体に設けられている各種センサ類44から出力される検出信号が取り込まれるように構成されている。また、外部入出力部36は演算処理部32から出力される制御信号に基づいて各種アクチュエータ類45に対する動作制御を行うように構成されている。
The image processing unit 35 is configured to receive image signals output from the component imaging camera 15 and the board imaging camera 16, and generates a digital image based on the output image signals.
The external input/output unit 36 is a so-called interface, and is configured to receive detection signals output from various sensors 44 provided on the main body of the component mounting apparatus 1 . Also, the external input/output unit 36 is configured to control the operation of various actuators 45 based on control signals output from the arithmetic processing unit 32 .

フィーダ通信部37はフィーダ3Aに接続されており、フィーダ3Aを統括して制御する。
操作部31は液晶ディスプレイなどの表示部31Aや、タッチパネル、キーボード、マウスなどの入力部31Bを備えている。オペレータは操作部31を操作して各種の設定などを行うことができる。本実施形態では、表示部31Aは報知部の一例である。
The feeder communication unit 37 is connected to the feeder 3A and controls the feeder 3A in an integrated manner.
The operation unit 31 includes a display unit 31A such as a liquid crystal display, and an input unit 31B such as a touch panel, keyboard, and mouse. An operator can operate the operation unit 31 to perform various settings. In this embodiment, the display section 31A is an example of a notification section.

[バックアップピンの異常の判定]
図7を参照して、バックアップピン50の異常の判定について説明する。図7に示すように、上部プレート22の上面には何らかの異物56(例えば電子部品など)が乗っていることもある。その場合、バックアップピン50の当接部53と上部プレート22の貫通孔24の孔縁部との間に異物56が挟み込まれることにより、上部プレート22に配置されたバックアップピン50が傾いてしまうことがある。
[Determination of Backup Pin Abnormality]
Determination of abnormality of the backup pin 50 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 7, some foreign matter 56 (for example, an electronic component) may be on the upper surface of the upper plate 22 . In that case, the backup pin 50 arranged on the upper plate 22 may be tilted due to the foreign matter 56 being caught between the contact portion 53 of the backup pin 50 and the hole edge portion of the through hole 24 of the upper plate 22 . There is

バックアップピン50が傾くと基板Pの下面に実装されている部品Eやプリント配線にバックアップピン50が当たってそれらが破損する虞がある。また、バックアップピン50が傾くと基板Pの上面に部品Eを実装するときにその部品Eが実装されるべき本来の位置と実際に実装された位置とがずれてしまう虞もある。また、バックアップピン50が傾くとバックアップピン50の上端が基板Pの下面に当接しなくなり、その部分で基板Pが撓んでしまうことも考えられる。 If the backup pin 50 is tilted, there is a risk that the backup pin 50 will hit the component E or the printed wiring mounted on the lower surface of the board P and damage them. Further, if the backup pin 50 is tilted, when the component E is mounted on the upper surface of the substrate P, there is a possibility that the original position where the component E should be mounted and the position where the component E is actually mounted may deviate. Further, if the backup pin 50 is tilted, the upper end of the backup pin 50 will not be in contact with the lower surface of the substrate P, and the substrate P may be bent at that portion.

また、当接部53と上部プレート22との間に異物56が挟み込まれることによりバックアップピン50が傾いている場合以外にも、例えばバックアップピン50自体が曲がっている場合等に、上記と同様のことが起こりうる。 In addition to the case where the backup pin 50 is tilted due to the foreign matter 56 being sandwiched between the contact portion 53 and the upper plate 22, for example, when the backup pin 50 itself is bent, the same operation as described above can be performed. things can happen.

本実施形態にかかる部品実装装置1では、制御部30が基板撮像カメラ16を制御して第1マーク55A及び第2マーク55Bを上方から撮像し、得られた画像に基づいてバックアップピン50の傾きを測定する。これにより、当接部53と上部プレート22との間への異物56の挟み込みやバックアップピン50の変形等を含むバックアップピン50の異常を検出することができる。
以下、制御部30によるバックアップピン50の異常の検出について詳細に説明する。
In the component mounting apparatus 1 according to the present embodiment, the controller 30 controls the board imaging camera 16 to image the first marks 55A and the second marks 55B from above, and based on the obtained image, the inclination of the backup pins 50 is detected. to measure. This makes it possible to detect an abnormality of the backup pin 50 including a foreign object 56 sandwiched between the contact portion 53 and the upper plate 22, deformation of the backup pin 50, and the like.
The detection of abnormality in the backup pin 50 by the control unit 30 will be described in detail below.

[第1画像、第2画像]
制御部30は、基板撮像カメラ16により上部プレート22の貫通孔24に挿入されたバックアップピン50の第1マーク55Aを上方から撮像して第1画像を取得し、第2マーク55Bを上方から撮像して第2画像を取得する。第1マーク55Aの撮像の前に、制御部30は、昇降機構26により上部プレート22の高さを適切に設定する。基板Pの生産時、上部プレート22は支持位置に配され(図2参照)、基板Pの上面を基板撮像カメラ16により良好に撮像することが可能になっている。本実施形態では、昇降機構26により上部プレート22を支持位置よりも上方に移動させることができる。したがって、第1マーク55Aを生産時の基板Pの上面の高さ位置まで上昇させることができ、基板撮像カメラ16により第1マーク55Aを良好に撮像できるようになっている。第2マーク55Bの撮像の前にも、上記と同様に昇降機構26により上部プレート22の高さを調節することで、基板撮像カメラ16により第2マーク55Bを良好に撮像できる。
[1st image, 2nd image]
The control unit 30 captures the first mark 55A of the backup pin 50 inserted into the through hole 24 of the upper plate 22 from above by the substrate imaging camera 16 to obtain a first image, and captures the second mark 55B from above. to obtain a second image. Before imaging the first mark 55</b>A, the control unit 30 appropriately sets the height of the upper plate 22 using the lifting mechanism 26 . During production of the board P, the upper plate 22 is arranged in the supporting position (see FIG. 2), so that the board imaging camera 16 can take an excellent image of the upper surface of the board P. FIG. In this embodiment, the lifting mechanism 26 can move the upper plate 22 above the support position. Therefore, the first mark 55A can be raised to the height position of the upper surface of the substrate P at the time of production, and the first mark 55A can be satisfactorily imaged by the substrate imaging camera 16. FIG. By adjusting the height of the upper plate 22 by the elevating mechanism 26 in the same manner as described above, the second mark 55B can be satisfactorily imaged by the substrate imaging camera 16 before imaging the second mark 55B.

[第1基準位置、第2基準位置、位置ずれ量]
制御部30は、第1画像に基づいて第1画像に写ったバックアップピン50の水平面(XY平面)内における中心位置とされる第1基準位置を算出する。そして、制御部30は、第2画像に基づいて第2画像に写ったバックアップピン50の水平面内における中心位置とされる第2基準位置を算出する。
制御部30は、第1基準位置と第2基準位置との位置ずれ量を算出する。位置ずれ量はバックアップピン50の傾きの尺度として用いることができる。制御部30は、位置ずれ量が予め設定された閾値よりも大きい場合に、バックアップピン50に異常があると判定するようになっている。
[First reference position, second reference position, displacement amount]
Based on the first image, the controller 30 calculates a first reference position, which is the center position of the backup pin 50 shown in the first image in the horizontal plane (XY plane). Then, based on the second image, the control unit 30 calculates a second reference position, which is the central position in the horizontal plane of the backup pin 50 shown in the second image.
The control unit 30 calculates the positional deviation amount between the first reference position and the second reference position. The amount of misalignment can be used as a measure of the tilt of the backup pin 50 . The control unit 30 determines that the backup pin 50 is abnormal when the amount of positional deviation is larger than a preset threshold value.

[バックアップピンが傾いていない場合の判定]
図6は、図4に示すバックアップピン50を撮像した第1画像61(図6の左側部分)、第2画像62(図6の中央部分)、及び第1画像61と第2画像62を重ね合わせた合成画像63(図6の右側部分)を示している。図4に示すバックアップピン50は、上部プレート22に対して適切に立設されており、傾いていない。よって、図6に示すように、第1画像61に写った第1マーク55Aと第2画像62に写った第2マーク55Bは円形状となり、それぞれの円の中心位置が第1基準位置64及び第2基準位置65とされる。
合成画像63において第1基準位置64と第2基準位置65とは重なり、位置ずれ量はゼロとなるから、制御部30は、バックアップピン50は傾いていないと判断し、バックアップピン50に異常はないと判定する。
[Determination when the backup pin is not tilted]
FIG. 6 shows a first image 61 (left part of FIG. 6) and a second image 62 (center part of FIG. 6) of the backup pin 50 shown in FIG. A combined composite image 63 (right part of FIG. 6) is shown. The backup pin 50 shown in FIG. 4 is properly erected relative to the top plate 22 and is not tilted. Therefore, as shown in FIG. 6, the first mark 55A shown in the first image 61 and the second mark 55B shown in the second image 62 are circular, and the center positions of the respective circles are the first reference position 64 and the second mark 55B. A second reference position 65 is set.
Since the first reference position 64 and the second reference position 65 overlap in the synthesized image 63 and the amount of positional deviation is zero, the control unit 30 determines that the backup pin 50 is not tilted, and the backup pin 50 is normal. judge not.

[バックアップピンが傾いている場合の判定]
図8は、図7に示すバックアップピン50を撮像した第1画像71(図8の左側部分)、第2画像72(図8の中央部分)、及び第1画像71と第2画像72を重ね合わせた合成画像73(図8の右側部分)を示している。図7に示すバックアップピン50の当接部53と上部プレート22との間には異物56が挟み込まれており、バックアップピン50が上部プレート22に対して傾いている。よって、図8に示すように、第1画像71に写った第1マーク55Aと第2画像72に写った第2マーク55Bの帯状部分の幅が一定ではなくなる。ここでは、第1マーク55Aの外縁部の形状のXY座標における中心位置を第1基準位置74とし、第2マーク55Bの外縁部の形状のXY座標における中心位置を第2基準位置75とする。
合成画像73においては、第1基準位置74と第2基準位置75とはX軸方向にずれているから、制御部30により有限の大きさを有する位置ずれ量dXが算出される。位置ずれ量dXが閾値より大きい場合、制御部30は、バックアップピン50が傾いていると判断し、バックアップピン50に異常があると判定する。
[Determination when the backup pin is tilted]
FIG. 8 shows a first image 71 (left part of FIG. 8) and a second image 72 (center part of FIG. 8) of the backup pin 50 shown in FIG. A merged composite image 73 (right part of FIG. 8) is shown. A foreign object 56 is sandwiched between the contact portion 53 of the backup pin 50 and the upper plate 22 shown in FIG. Therefore, as shown in FIG. 8, the widths of the belt-shaped portions of the first mark 55A shown in the first image 71 and the second mark 55B shown in the second image 72 are not constant. Here, the XY coordinate center position of the outer edge of the first mark 55A is defined as a first reference position 74, and the XY coordinate center position of the outer edge of the second mark 55B is defined as a second reference position 75.
In the synthesized image 73, the first reference position 74 and the second reference position 75 are shifted in the X-axis direction, so the controller 30 calculates the positional shift amount dX having a finite size. When the positional deviation amount dX is larger than the threshold, the control unit 30 determines that the backup pin 50 is tilted and determines that the backup pin 50 has an abnormality.

一方、位置ずれ量dXが閾値以下である場合には、制御部30は、バックアップピン50に異常はないと判定する。ここで、閾値は、基板Pをバックアップする際に上記したような基板Pの破損や撓みを引き起こさない範囲内に設定されている。したがって、位置ずれ量dXが有限の大きさをもち、バックアップピン50の傾きがゼロではない場合でも、位置ずれ量dXが閾値以下であれば、制御部30は異常なしと判定するようになっている。 On the other hand, when the positional deviation amount dX is equal to or less than the threshold, the controller 30 determines that the backup pin 50 is normal. Here, the threshold value is set within a range that does not cause damage or bending of the substrate P as described above when the substrate P is backed up. Therefore, even when the amount of positional deviation dX has a finite magnitude and the inclination of the backup pin 50 is not zero, the controller 30 determines that there is no abnormality if the amount of positional deviation dX is equal to or less than the threshold value. there is

制御部30はバックアップピン50に異常があると判定すると、表示部31Aに貫通孔24へのバックアップピン50の挿入が不可である旨のエラーメッセージを表示させることで、バックアップピン50に異常があることをオペレータに報知する。
また、制御部30は、異常があるバックアップピン50の位置を表示部31Aに表示させる。これにより、オペレータは上部プレート22に配置された複数のバックアップピン50のうち、どのバックアップピン50に異常があるかすぐに認識することができる。よって、オペレータによるバックアップピン50の異常の確認作業が容易になる。
When the control unit 30 determines that the backup pin 50 is abnormal, the display unit 31A displays an error message indicating that the backup pin 50 cannot be inserted into the through hole 24, thereby indicating that the backup pin 50 is abnormal. Notify the operator.
Further, the control unit 30 causes the display unit 31A to display the position of the backup pin 50 having an abnormality. As a result, the operator can immediately recognize which backup pin 50 out of the plurality of backup pins 50 arranged on the upper plate 22 has an abnormality. Therefore, it becomes easier for the operator to confirm whether the backup pin 50 is abnormal.

バックアップピン50に異常があると判定された場合、通常、オペレータは、少なくともバックアップピン50を正規貫通孔24Aから引き抜く作業と、バックアップピン50を正規貫通孔24Aに再配置する作業と、を行う必要がある。例えば、異物56が当接部53と上部プレート22との間に挟み込まれていた場合には、バックアップピン50を正規貫通孔24Aから引き抜いた後、その異物56を取り除き、バックアップピン50を正規貫通孔24Aに再配置する。
また、バックアップピン50が変形していた場合には、新しいバックアップピン50を正規貫通孔24Aに再配置する。正規貫通孔24Aが破損していた場合には、上部プレート22を新しいものに交換し、バックアップピン50の再配置を行う。
When it is determined that the backup pin 50 is abnormal, the operator usually needs to perform at least the work of pulling out the backup pin 50 from the regular through hole 24A and the work of rearranging the backup pin 50 in the regular through hole 24A. There is For example, if a foreign object 56 is caught between the contact portion 53 and the upper plate 22, the foreign object 56 is removed after the backup pin 50 is pulled out from the regular through hole 24A, and the backup pin 50 is allowed to pass through the regular through hole. Relocate to hole 24A.
Also, if the backup pin 50 is deformed, a new backup pin 50 is rearranged in the regular through hole 24A. If the regular through hole 24A is damaged, the upper plate 22 is replaced with a new one, and the backup pin 50 is rearranged.

また、正規貫通孔24Aに代わる代替貫通孔24Bが設定されている場合には、制御部30は、バックアップピン50に異常があると判定した場合、この代替貫通孔24Bの位置を表示部31Aに表示させる。よって、オペレータはバックアップピン50を立設可能な代替貫通孔24Bの位置をすみやかに認識することができる。 Further, when an alternative through-hole 24B to replace the regular through-hole 24A is set, the control unit 30, when determining that the backup pin 50 has an abnormality, displays the position of the alternative through-hole 24B on the display unit 31A. display. Therefore, the operator can quickly recognize the position of the alternative through-hole 24B in which the backup pin 50 can be erected.

上記のように代替貫通孔24Bが設定されており、制御部30により代替貫通孔24Bの位置がオペレータに知らされた場合、以後のオペレータのバックアップピン50の再配置作業が容易になる場合がある。例えば、バックアップピン50の異常が当接部53と上部プレート22との間への異物56の挟み込みによる場合には、オペレータはバックアップピン50を正規貫通孔24Aから引き抜いた後、表示部31Aの表示に従ってバックアップピン50を代替貫通孔24Bに立設し、再配置作業を完了することができる。すなわち、正規貫通孔24Aの孔縁部の異物56を除去する作業を行わなくてよい。
また、正規貫通孔24Aが破損していた場合には、上部プレート22を交換することなく、代替貫通孔24Bを用いることでバックアップピン50の再配置を迅速に行うことができる。
When the alternative through-hole 24B is set as described above and the position of the alternative through-hole 24B is notified to the operator by the control unit 30, the operator's subsequent rearrangement work of the backup pin 50 may be facilitated. . For example, if the malfunction of the backup pin 50 is caused by a foreign object 56 being caught between the contact portion 53 and the upper plate 22, the operator pulls out the backup pin 50 from the normal through hole 24A, and then the display on the display portion 31A is displayed. , the backup pin 50 can be erected in the alternate through hole 24B to complete the repositioning operation. That is, it is not necessary to remove the foreign matter 56 from the edge of the regular through hole 24A.
In addition, if the regular through-hole 24A is damaged, the backup pin 50 can be quickly rearranged by using the alternative through-hole 24B without replacing the upper plate 22 .

[バックアップピンの異常判定処理の流れ]
次に、図9を参照して、制御部30によるバックアップピン50の異常判定処理の流れについて説明する。本処理は基板Pの生産を開始する前に、オペレータにより上部プレート22の正規貫通孔24Aに立設されたバックアップピン50に対して実行される。
[Backup pin abnormality determination process flow]
Next, with reference to FIG. 9, the flow of abnormality determination processing of the backup pin 50 by the control unit 30 will be described. This process is performed on the backup pins 50 erected in the regular through holes 24A of the upper plate 22 by the operator before starting the production of the substrates P. As shown in FIG.

制御部30は、正規貫通孔24Aに配置されたバックアップピン50の第1マーク55Aを基板撮像カメラ16により撮像し、第1画像を取得する(S10)。制御部30は、第1画像に基づいて第1基準位置を算出する(S20)。 The control unit 30 takes an image of the first mark 55A of the backup pin 50 arranged in the regular through hole 24A with the board imaging camera 16 to obtain a first image (S10). The controller 30 calculates a first reference position based on the first image (S20).

制御部30は、正規貫通孔24Aに配置されたバックアップピン50の第2マーク55Bを基板撮像カメラ16により撮像し、第2画像を取得する(S30)。制御部30は、第2画像に基づいて第2基準位置を算出する(S40)。 The control unit 30 takes an image of the second mark 55B of the backup pin 50 arranged in the regular through hole 24A with the board imaging camera 16 to obtain a second image (S30). The controller 30 calculates a second reference position based on the second image (S40).

制御部30は、算出された第1基準位置と第2基準位置との位置ずれ量を算出する(S50)。位置ずれ量が予め設定された閾値以下である場合(S60:NO)、制御部30は、バックアップピン50に異常はないと判定する(S70)。
上述したように、図4に示すバックアップピン50について異常判定処理が行われると、S60からS70へと移行し、異常判定処理は終了する。この場合、バックアップピン50は正常に立設されているため、基板Pの生産が開始される。
The controller 30 calculates the positional deviation amount between the calculated first reference position and the second reference position (S50). If the amount of positional deviation is equal to or less than the preset threshold value (S60: NO), the controller 30 determines that there is no abnormality in the backup pin 50 (S70).
As described above, when the abnormality determination process is performed for the backup pin 50 shown in FIG. 4, the process proceeds from S60 to S70, and the abnormality determination process ends. In this case, since the backup pin 50 is normally erected, the production of the board P is started.

一方、位置ずれ量が閾値よりも大きい場合(S60:YES)、制御部30は、バックアップピン50が傾いていると判断し、バックアップピン50に異常があると判定する(S80)。
上述したように、図7に示すバックアップピン50について異常判定処理が行われ、図8における位置ずれ量dXが閾値より大きい場合には、S60からS80へと移行する。位置ずれ量dXが閾値以下である場合には、上記と同様にS60からS70へと移行し、異常判定処理は終了する。
On the other hand, if the positional deviation amount is larger than the threshold (S60: YES), the control unit 30 determines that the backup pin 50 is tilted and determines that the backup pin 50 has an abnormality (S80).
As described above, the abnormality determination process is performed on the backup pin 50 shown in FIG. 7, and when the positional deviation amount dX in FIG. 8 is larger than the threshold value, the process proceeds from S60 to S80. If the positional deviation amount dX is equal to or less than the threshold, the process proceeds from S60 to S70 in the same manner as described above, and the abnormality determination process ends.

バックアップピン50に異常があると判定された場合、制御部30は、表示部31Aにエラーメッセージを表示させることにより、オペレータにエラーを報知する(S90)。また、制御部30は、異常があるバックアップピン50の位置を表示部31Aに表示させ(S100)、オペレータによるバックアップピン50の異常の確認作業を容易にする。 When it is determined that the backup pin 50 is abnormal, the control section 30 notifies the operator of the error by displaying an error message on the display section 31A (S90). In addition, the control unit 30 causes the display unit 31A to display the position of the backup pin 50 having an abnormality (S100), thereby facilitating the confirmation work of the backup pin 50 by the operator.

異常があるとされたバックアップピン50について正規貫通孔24Aの代わりとなる代替貫通孔24Bが設定されていない場合には(S110:NO)、異常判定処理は終了する。この場合、オペレータはバックアップピン50の再配置作業を行う。 If the substitute through-hole 24B that replaces the regular through-hole 24A is not set for the backup pin 50 determined to be abnormal (S110: NO), the abnormality determination process ends. In this case, the operator rearranges the backup pins 50 .

一方、正規貫通孔24Aの代わりとなる代替貫通孔24Bが予め設定されている場合(S110:YES)、制御部30は、表示部31Aに代替貫通孔24Bの位置を表示し(S120)、異常判定処理は終了する。代替貫通孔24Bが設定されている場合には、前述のように、オペレータがバックアップピン50の再配置作業をすみやかに完了できる場合がある。 On the other hand, if the alternative through-hole 24B that replaces the regular through-hole 24A is set in advance (S110: YES), the control unit 30 displays the position of the alternative through-hole 24B on the display unit 31A (S120). The determination process ends. When the alternative through-hole 24B is set, the operator may be able to quickly complete the rearrangement work of the backup pin 50 as described above.

バックアップピン50に異常があると判定され、異常判定処理が終了し、オペレータによりバックアップピン50が再配置されると、再び制御部30により異常判定処理が実行される(S10~)。異常判定処理において異常なしと判定されると(S70)、基板Pの生産が開始される。 When it is determined that there is an abnormality in the backup pin 50, the abnormality determination process ends, and the backup pin 50 is rearranged by the operator, the abnormality determination process is executed again by the control unit 30 (from S10). When it is determined that there is no abnormality in the abnormality determination process (S70), production of the substrate P is started.

[実施形態1の作用効果]
以上のように、実施形態1の部品実装装置1は、基板Pに部品Eを実装する部品実装装置1であって、基板Pを下方からバックアップするバックアップピン50と、バックアップピン50を支持可能な複数の支持部が設けられる上部プレート22(プレート)と、支持部に支持されたバックアップピン50を上方から撮像する基板撮像カメラ16(カメラ)と、制御部30と、を備え、バックアップピン50は、支持部と当接可能な当接部53を備え、バックアップピン50は、上下方向について異なる位置に配され、それぞれ上方から基板撮像カメラ16により認識可能とされる第1マーク55A及び第2マーク55Bを有し、制御部30は、支持部に支持されたバックアップピン50の第1マーク55Aを基板撮像カメラ16により撮像することで第1画像を取得し、支持部に支持されたバックアップピン50の第2マーク55Bを基板撮像カメラ16により撮像することで第2画像を取得し、第1画像及び第2画像に基づいて、バックアップピン50の傾きを測定することで、バックアップピン50に異常があるか否かを判定する。
[Effects of Embodiment 1]
As described above, the component mounting apparatus 1 of Embodiment 1 is a component mounting apparatus 1 that mounts a component E on a substrate P, and is capable of supporting the backup pins 50 that back up the substrate P from below and the backup pins 50 . An upper plate 22 (plate) provided with a plurality of support portions, a substrate imaging camera 16 (camera) that captures an image of the backup pins 50 supported by the support portions from above, and a control portion 30, and the backup pins 50 are , and a contact portion 53 capable of coming into contact with the support portion. The backup pin 50 is arranged at different positions in the vertical direction, and has a first mark 55A and a second mark 55A which can be recognized from above by the board imaging camera 16, respectively. 55B, and the control unit 30 obtains a first image by imaging the first mark 55A of the backup pin 50 supported by the support portion with the board imaging camera 16, and the backup pin 50 supported by the support portion. The second mark 55B is imaged by the substrate imaging camera 16 to obtain a second image, and the inclination of the backup pin 50 is measured based on the first image and the second image. Determine whether or not there is

このような構成によると、第1マーク55A及び第2マーク55Bはバックアップピン50の上下方向における異なる位置に設けられるから、第1マーク55Aが撮像された第1画像と第2マーク55Bが撮像された第2画像とに基づいて、バックアップピン50の傾きを測定し、バックアップピン50に異常があるか否かを判定することができる。したがって、バックアップピン50に第1マーク55A及び第2マーク55Bを設けた簡素な構成により、バックアップピン50の異常を検出することができる。 According to such a configuration, the first mark 55A and the second mark 55B are provided at different positions in the vertical direction of the backup pin 50, so that the first image in which the first mark 55A is captured and the second mark 55B are captured. Based on the obtained second image, the inclination of the backup pin 50 can be measured, and it can be determined whether or not the backup pin 50 has an abnormality. Therefore, the abnormality of the backup pin 50 can be detected with a simple configuration in which the backup pin 50 is provided with the first mark 55A and the second mark 55B.

実施形態1では、支持部は、バックアップピン50を挿入可能な貫通孔24の孔縁部である。 In Embodiment 1, the support portion is the edge of the through hole 24 into which the backup pin 50 can be inserted.

このような構成によると、上部プレート22に設けられた貫通孔24の孔縁部によりバックアップピン50を支持することができる。 With such a configuration, the backup pin 50 can be supported by the edge of the through hole 24 provided in the upper plate 22 .

実施形態1では、制御部30は、第1画像から第1画像に写ったバックアップピン50の中心位置である第1基準位置を算出し、第2画像から第2画像に写ったバックアップピン50の中心位置である第2基準位置を算出し、第1基準位置と第2基準位置との位置ずれ量からバックアップピン50の傾きを算出し、位置ずれ量が予め設定された閾値よりも大きい場合に、バックアップピン50に異常があると判定する。 In the first embodiment, the control unit 30 calculates the first reference position, which is the center position of the backup pin 50 captured in the first image from the first image, and calculates the center position of the backup pin 50 captured in the second image from the second image. A second reference position, which is the central position, is calculated, the inclination of the backup pin 50 is calculated from the positional deviation amount between the first reference position and the second reference position, and if the positional deviation amount is larger than a preset threshold value, , it is determined that the backup pin 50 is abnormal.

このような構成によると、第1画像から第1基準位置を算出し、第2画像から第2基準位置を算出し、第1基準位置と第2基準位置との位置ずれ量からバックアップピン50の傾きを算出することができる。位置ずれ量と閾値との比較により、バックアップピン50の異常を検出することができる。 According to such a configuration, the first reference position is calculated from the first image, the second reference position is calculated from the second image, and the positional deviation amount of the backup pin 50 is calculated from the positional deviation amount between the first reference position and the second reference position. The slope can be calculated. Abnormality of the backup pin 50 can be detected by comparing the amount of positional deviation with the threshold value.

実施形態1では、上部プレート22は、基板Pをバックアップする際に支持位置に配され、上部プレート22は、支持位置よりも上方に移動可能とされているようになっている。 In Embodiment 1, the upper plate 22 is arranged at the support position when backing up the substrate P, and the upper plate 22 is movable above the support position.

このような構成によると、上部プレート22は支持位置より上方に移動可能であるから、上部プレート22の高さを適切に設定することにより、基板撮像カメラ16と第1マーク55Aとの間隔を調整し、第1画像を良好に撮像することができる。また、上部プレート22の高さを適切に設定することにより、基板撮像カメラ16と第2マーク55Bとの間隔を調整し、第2画像を良好に撮像することができる。 According to such a configuration, the upper plate 22 can be moved upward from the supporting position, so by appropriately setting the height of the upper plate 22, the distance between the board imaging camera 16 and the first mark 55A can be adjusted. and the first image can be captured satisfactorily. Also, by appropriately setting the height of the upper plate 22, the distance between the board imaging camera 16 and the second mark 55B can be adjusted, and the second image can be satisfactorily captured.

実施形態1の部品実装装置1は、さらに表示部31A(報知部)を備え、バックアップピン50に異常があると判定された場合、制御部30は、表示部31Aにより貫通孔24へのバックアップピン50の配置が不可であることをオペレータに報知する。 The component mounting apparatus 1 of Embodiment 1 further includes a display section 31A (annunciation section), and when it is determined that the backup pin 50 has an abnormality, the control section 30 causes the display section 31A to indicate the backup pin to the through hole 24. The operator is notified that placement of 50 is not possible.

このような構成によると、オペレータは直ちにバックアップピン50の異常を修正することができる。これにより、バックアップピン50に異常がある状態で生産が開始されてしまうことを抑制できる。 With such a configuration, the operator can immediately correct the abnormality of the backup pin 50 . As a result, it is possible to prevent production from being started in a state where the backup pin 50 is abnormal.

実施形態1では、バックアップピン50に異常があると判定された場合、制御部30は、表示部31Aにバックアップピン50の位置を表示させる。 In the first embodiment, when it is determined that the backup pin 50 is abnormal, the control section 30 causes the display section 31A to display the position of the backup pin 50 .

このような構成によると、オペレータがバックアップピン50の異常を確認する作業を容易にすることができる。 According to such a configuration, it is possible for the operator to easily check whether the backup pin 50 is abnormal.

実施形態1では、バックアップピン50に異常があると判定された場合、制御部30は、正規貫通孔24Aの代わりに複数の貫通孔24のうちの他の代替貫通孔24Bにバックアップピン50を配置可能であることが予め設定されているときには、表示部31Aに代替貫通孔24Bの位置を表示させる。 In the first embodiment, when it is determined that the backup pin 50 has an abnormality, the control unit 30 arranges the backup pin 50 in the alternate through-hole 24B of the plurality of through-holes 24 instead of the regular through-hole 24A. When it is preset that it is possible, the position of the alternative through-hole 24B is displayed on the display section 31A.

このような構成によると、当接部53と上部プレート22との間への異物56の挟み込みにより異常が検出された場合、バックアップピン50を代替貫通孔24Bに配置することができる。よって、異物56を除去する作業を省略することができる。 According to such a configuration, when an abnormality is detected due to the foreign matter 56 being caught between the contact portion 53 and the upper plate 22, the backup pin 50 can be arranged in the alternative through hole 24B. Therefore, the work of removing the foreign matter 56 can be omitted.

<他の実施形態>
本明細書によって開示される技術は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本明細書によって開示される技術的範囲に含まれる。
<Other embodiments>
The technology disclosed in this specification is not limited to the embodiments described in the above description and drawings, and the following embodiments are also included in the technical scope disclosed in this specification.

(1)上記実施形態では、昇降機構26により上部プレート22の高さを変更することにより、バックアップピン50において異なる高さに設けられる第1マーク55A及び第2マーク55Bをそれぞれ良好に撮像する構成としたが、これに限られることはない。例えば、第1マーク及び第2マークを撮像する基板撮像カメラが上下方向に移動可能とされている構成としてもよい。このような構成によると、基板撮像カメラの高さを適切に設定することにより、基板撮像カメラと第1マークとの間隔を調整し、第1画像を良好に撮像することができる。また、基板撮像カメラの高さを適切に設定することにより、基板撮像カメラと第2マークとの間隔を調整し、第2画像を良好に撮像することができる。 (1) In the above-described embodiment, by changing the height of the upper plate 22 by the lifting mechanism 26, the first marks 55A and the second marks 55B provided at different heights on the backup pin 50 can be satisfactorily imaged. However, it is not limited to this. For example, a board imaging camera for imaging the first mark and the second mark may be configured to be vertically movable. According to such a configuration, by appropriately setting the height of the board imaging camera, the distance between the board imaging camera and the first mark can be adjusted, and the first image can be satisfactorily captured. Also, by appropriately setting the height of the board imaging camera, the distance between the board imaging camera and the second mark can be adjusted, and the second image can be captured satisfactorily.

(2)上記実施形態では、第1マーク55Aの撮像を行う際の上部プレート22の高さと第2マーク55Bの撮像を行う際の上部プレート22の高さとは異なっており、第1マーク55Aの撮像と第2マーク55Bの撮像とは別々に行われる構成としたが、これに限られることはない。例えば、第1マーク及び第2マークの双方がカメラにより良好に撮像できる高さにプレートを設定した上で、第1マーク及び第2マークを一度に撮像してもよい。このような構成においては、第1画像と第2画像とは、上記実施形態における合成画像と同様の1つの画像となるが、上記実施形態と同様の作用効果を奏する。 (2) In the above embodiment, the height of the upper plate 22 when imaging the first mark 55A is different from the height of the upper plate 22 when imaging the second mark 55B. Although the imaging and the imaging of the second mark 55B are performed separately, the configuration is not limited to this. For example, the plate may be set to a height at which both the first mark and the second mark can be satisfactorily imaged by the camera, and then the first mark and the second mark may be imaged at once. In such a configuration, the first image and the second image are one image similar to the synthesized image in the above embodiment, but the same effects as in the above embodiment are achieved.

(3)上記実施形態では、第1マーク55A及び第2マーク55Bは縮径部54において着色を施すことにより設けられていたが、第1マーク及び第2マークはバックアップピンにおいて表面処理や形状加工等を施すことによりカメラに認識可能に構成されてもよい。 (3) In the above embodiment, the first mark 55A and the second mark 55B are provided by coloring the reduced diameter portion 54, but the first mark and the second mark are formed by surface treatment or shape processing on the backup pin. It may be constituted so as to be recognizable by the camera by applying such as.

(4)上記実施形態では、第1マーク55A及び第2マーク55Bは縮径部54の外周面の全周にわたって設けられていたが、第1マーク及び第2マークは縮径部の外周面の一部に設けられていてもよい。
(5)上記実施形態では、第1マーク55Aと第2マーク55Bとは縮径部54の外周面に互いに間隔を空けて設けられていたが、図10に示すように、バックアップピン150において第1マーク155Aと第2マーク155Bとは縮径部54の外周面に1つの帯状をなして設けられてもよい。換言すると、縮径部54の外周面が全周にわたって帯状に着色されており、この着色部分のうち下端部分が第1マーク155Aとされ、上端部分が第2マーク155Bとされる構成としてもよい。
(4) In the above embodiment, the first marks 55A and the second marks 55B are provided along the entire circumference of the outer peripheral surface of the diameter-reduced portion 54. It may be provided in part.
(5) In the above embodiment, the first mark 55A and the second mark 55B were provided on the outer peripheral surface of the reduced diameter portion 54 with a space therebetween. The 1st mark 155A and the 2nd mark 155B may be provided on the outer peripheral surface of the diameter-reduced portion 54 so as to form one band. In other words, the outer peripheral surface of the diameter-reduced portion 54 may be colored in a band shape over the entire circumference, and the lower end portion of the colored portion may be the first mark 155A and the upper end portion may be the second mark 155B. .

(6)上記実施形態では、バックアップピン50は縮径部54を備え、縮径部54に第1マーク55A及び第2マーク55Bが設けられる構成としたが、バックアップピン50において第1マーク55A及び第2マーク55Bが設けられる部分の態様は縮径部54に限定されない。第1マーク及び第2マークが上下方向について異なる位置に配され、上方から基板撮像カメラ等のカメラで認識可能であればよい。例えば、バックアップピンは縮径部を備えなくてもよく、当接部の上面に第1マークを設け、バックアップピンの上端面に第2マークを設けてもよい。 (6) In the above embodiment, the backup pin 50 has the reduced diameter portion 54, and the reduced diameter portion 54 is provided with the first mark 55A and the second mark 55B. The aspect of the portion where the second mark 55B is provided is not limited to the diameter-reduced portion 54 . It is sufficient that the first mark and the second mark are arranged at different positions in the vertical direction and can be recognized from above by a camera such as a board imaging camera. For example, the backup pin may not have a reduced diameter portion, and the first mark may be provided on the upper surface of the contact portion, and the second mark may be provided on the upper end surface of the backup pin.

(7)上記実施形態では、第1基準位置及び第2基準位置は、それぞれ第1画像及び第2画像に写ったバックアップピン50の中心位置であったが、第1基準位置及び第2基準位置は、これらに基づいてバックアップピンの傾きを算出可能な任意の位置を採用することができる。
(8)上記実施形態では、オペレータにエラーを報知する報知部の一例として表示部31Aを用いているが、音声や光などにより報知する報知部を用いてもよい。
(7) In the above embodiment, the first reference position and the second reference position were the center positions of the backup pins 50 shown in the first image and the second image, respectively. can adopt any position from which the inclination of the backup pin can be calculated based on these.
(8) In the above embodiment, the display unit 31A is used as an example of a notification unit that notifies the operator of an error.

(9)上記実施形態では、第1マーク55A及び第2マーク55Bを撮像するカメラとして基板撮像カメラ16を用いたが、第1マーク及び第2マークを撮像するカメラは基板撮像カメラでなくてもよい。
(10)上記実施形態では、オペレータによりバックアップピン50を配置する作業、異常のあるバックアップピン50を取り除く作業、異物56を除去する作業がなされる構成であったが、これらの作業は部品実装装置により自動で行われる構成としてもよい。
(11)上記実施形態では、磁石53Aによりバックアップピン50の上下方向の位置が固定されていたが、磁石は省略してもよい。
(9) In the above embodiment, the board imaging camera 16 is used as the camera for imaging the first mark 55A and the second mark 55B. good.
(10) In the above-described embodiment, the operation of placing the backup pin 50, removing the abnormal backup pin 50, and removing the foreign matter 56 are performed by the operator. may be configured to be automatically performed by
(11) In the above embodiment, the vertical position of the backup pin 50 is fixed by the magnet 53A, but the magnet may be omitted.

(12)上記実施形態では、上部プレート22には複数の支持部の一例として複数の貫通孔24の孔縁部が設けられていたが、例えば、支持部は下部に磁石が埋め込まれたプレートの平坦な面であって、当該磁石の磁力のみによってバックアップピンがプレートに支持される形態でもよい。 (12) In the above embodiment, the upper plate 22 is provided with the hole edges of the plurality of through holes 24 as an example of the plurality of support portions. It may be a flat surface and the backup pin may be supported by the plate only by the magnetic force of the magnet.

1…部品実装装置、3…テープ部品供給装置、3A…フィーダ、10…基台、11…搬送コンベア、11A…コンベアベルト、12…ヘッドユニット、13…ヘッド搬送部、13A…ビーム、13B…Y軸ガイドレール、15…部品撮像カメラ、16…基板撮像カメラ(カメラの一例)、17…実装ヘッド、17A…ノズルシャフト、17B…吸着ノズル
20…バックアップ装置、22…上部プレート(プレートの一例)、23…下部プレート、24…貫通孔、24A…正規貫通孔、24B…代替貫通孔、25…支柱、26…昇降機構、26A…ボールねじ、26B…ボールナット、26C…ベルト
30…制御部、31…操作部、31A…表示部(報知部の一例)、31B…入力部、32…演算処理部、33…モータ制御部、34…記憶部、35…画像処理部、36…外部入出力部、37…フィーダ通信部、38…X軸サーボモータ、39…Y軸サーボモータ、40…Z軸サーボモータ、41…R軸サーボモータ、42…コンベア駆動モータ、43…昇降モータ、44…センサ類、45…アクチュエータ類
50,150…バックアップピン、51…大径部、52…小径部、53…当接部、53A…磁石、54…縮径部、55A,155A…第1マーク、55B,155B…第2マーク、56…異物
61,71…第1画像、62,72…第2画像、63,73…合成画像、64,74…第1基準位置、65,75…第2基準位置
A…作業位置、E…部品、P…基板、dX…位置ずれ量
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Component mounting apparatus, 3... Tape component supply apparatus, 3A... Feeder, 10... Base, 11... Conveyance conveyor, 11A... Conveyor belt, 12... Head unit, 13... Head conveyance part, 13A... Beam, 13B...Y Axis guide rail 15 Component imaging camera 16 Board imaging camera (an example of camera) 17 Mounting head 17A Nozzle shaft 17B Suction nozzle 20 Backup device 22 Upper plate (an example of plate) 23 Lower plate 24 Through hole 24A Regular through hole 24B Substitute through hole 25 Strut 26 Lifting mechanism 26A Ball screw 26B Ball nut 26C Belt 30 Control unit 31 Operation unit 31A Display unit (an example of notification unit) 31B Input unit 32 Arithmetic processing unit 33 Motor control unit 34 Storage unit 35 Image processing unit 36 External input/output unit 37 Feeder communication unit 38 X-axis servomotor 39 Y-axis servomotor 40 Z-axis servomotor 41 R-axis servomotor 42 Conveyor drive motor 43 Lifting motor 44 Sensors, 45 Actuators 50, 150 Backup pin 51 Large diameter portion 52 Small diameter portion 53 Contact portion 53A Magnet 54 Reduced diameter portion 55A, 155A First mark 55B, 155B Second mark 56 Foreign matter 61, 71 First image 62, 72 Second image 63, 73 Combined image 64, 74 First reference position 65, 75 Second reference position A Work position, E...part, P...board, dX...positional deviation amount

Claims (8)

基板に部品を実装する部品実装装置であって、
前記基板を下方からバックアップするバックアップピンと、
前記バックアップピンを支持可能な複数の支持部が設けられるプレートと、
前記支持部に支持された前記バックアップピンを上方から撮像するカメラと、
制御部と、を備え、
前記バックアップピンは、前記支持部と当接可能な当接部を備え、
前記バックアップピンは、上下方向について異なる位置に配され、それぞれ上方から前記カメラにより認識可能とされる第1マーク及び第2マークを有し、
前記制御部は、前記支持部に支持された前記バックアップピンの前記第1マークを前記カメラにより撮像することで第1画像を取得し、
前記支持部に支持された前記バックアップピンの前記第2マークを前記カメラにより撮像することで第2画像を取得し、
前記第1画像及び前記第2画像に基づいて、前記バックアップピンの傾きを測定することで、前記バックアップピンに異常があるか否かを判定する、部品実装装置。
A component mounting apparatus for mounting components on a substrate,
a backup pin that backs up the substrate from below;
a plate provided with a plurality of support portions capable of supporting the backup pin;
a camera that captures an image of the backup pin supported by the support from above;
a control unit;
The backup pin includes a contact portion that can contact the support portion,
The backup pin has a first mark and a second mark that are arranged at different positions in the vertical direction and that can be recognized by the camera from above,
The control unit acquires a first image by imaging the first mark of the backup pin supported by the support unit with the camera,
Acquiring a second image by imaging the second mark of the backup pin supported by the support portion with the camera;
A component mounting apparatus that determines whether or not there is an abnormality in the backup pin by measuring the inclination of the backup pin based on the first image and the second image.
前記支持部は、前記バックアップピンを挿入可能な貫通孔の孔縁部である、請求項1に記載の部品実装装置。 2. The component mounting apparatus according to claim 1, wherein said support portion is a hole edge portion of a through hole into which said backup pin can be inserted. 前記制御部は、前記第1画像から前記第1画像に写った前記バックアップピンの中心位置である第1基準位置を算出し、
前記第2画像から前記第2画像に写った前記バックアップピンの中心位置である第2基準位置を算出し、
前記第1基準位置と前記第2基準位置との位置ずれ量から前記バックアップピンの傾きを算出し、
前記位置ずれ量が予め設定された閾値よりも大きい場合に、前記バックアップピンに異常があると判定する、請求項1または請求項2に記載の部品実装装置。
The control unit calculates a first reference position, which is a center position of the backup pin reflected in the first image, from the first image,
calculating a second reference position, which is the center position of the backup pin shown in the second image, from the second image;
calculating an inclination of the backup pin from a positional deviation amount between the first reference position and the second reference position;
3. The component mounting apparatus according to claim 1, wherein it is determined that said backup pin is abnormal when said amount of positional deviation is greater than a preset threshold value.
前記カメラは、前記基板の位置を認識するための基板撮像カメラであり、
前記基板撮像カメラは、上下方向に移動可能とされている、請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の部品実装装置。
The camera is a board imaging camera for recognizing the position of the board,
4. The component mounting apparatus according to claim 1, wherein said board imaging camera is vertically movable.
前記プレートは、前記基板をバックアップする際に支持位置に配され、
前記プレートは、前記支持位置よりも上方に移動可能とされている、請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の部品実装装置。
The plate is arranged at a supporting position when backing up the substrate,
5. The component mounting apparatus according to claim 1, wherein said plate is movable above said support position.
さらに報知部を備え、
前記バックアップピンに異常があると判定された場合、前記制御部は、前記報知部により前記支持部への前記バックアップピンの配置が不可であることをオペレータに報知する、請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の部品実装装置。
Further equipped with a notification unit,
6. When it is determined that the backup pin is abnormal, the controller notifies the operator that the backup pin cannot be placed on the support part by the notification unit. The component mounting apparatus according to any one of 1.
さらに表示部を備え、
前記バックアップピンに異常があると判定された場合、前記制御部は、前記表示部に前記バックアップピンの位置を表示させる、請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の部品実装装置。
Furthermore, it has a display unit,
7. The component mounting apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein, when it is determined that said backup pin is abnormal, said control section causes said display section to display the position of said backup pin.
さらに表示部を備え、
前記バックアップピンに異常があると判定された場合、前記制御部は、前記支持部の代わりに前記複数の支持部のうちの他の支持部に前記バックアップピンを配置可能であることが予め設定されているときには、前記表示部に前記他の支持部の位置を表示させる、請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の部品実装装置。
Furthermore, it has a display unit,
When it is determined that the backup pin has an abnormality, the control unit is preset to be able to arrange the backup pin on another support portion among the plurality of support portions instead of the support portion. 8. The component mounting apparatus according to any one of claims 1 to 7, wherein the display section displays the position of the other support section when the other support section is mounted.
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