JP2023065608A - マルチ参照アームスペクトルドメイン光干渉断層撮影のためのシステム、方法及び媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】マルチ参照アームスペクトルドメイン光干渉断層撮影のためのシステム200は、光源202に連結されたサンプルアームと、第1経路長を有する第1参照アームと、より長い第2経路長を有する第2参照アームと、サンプルアームからの光と第1参照アームからの光を結合させる第1光カプラ222と、サンプルアームからの光と第2参照アームからの光を結合させる第2光カプラ224と、光スイッチ230と、を備え、光スイッチは、第1光カプラに連結された第1入力ポートと、イメージセンサの取得時間と少なくとも等しい遅延を生じる光導波路を介して第2光カプラに連結された第2入力ポートと、分光計124のイメージセンサに連結された出力と、を備える。
【選択図】図2A
Description
本出願は、2017年10月12日に出願された米国仮特許出願第62/571,787に基づくものであり、その利益を主張するとともにその優先権を主張するものであり、引用によりその全体を本明細書に包含する。
該当せず。
1ポート及び前記第2ポートの一方からの光を選択的に提供するとともに、前記第1ポート及び前記第2ポートの他方からの光を遮断するよう、前記光スイッチが構成されている。
に、離散フーリエ変換を実行する工程をさらに有する。
少することが予想できる。
る)を光増幅器206に放射することができる。さらに、一部の実施形態では、偏光制御部204は、光増幅器206に向けて放射された光の偏光状態を変更することができ、これは光増幅器206のゲインに影響を及ぼすのに用いることができる。
及び210-3は、対応する参照リフレクタ214-1及び214-2によって反射された光を受けて、反射された光を対応するファイバカプラに向かわせることができる。例えば、一部の実施形態では、光サーキュレータ210-2は、参照リフレクタ214-1によって反射された光を第1ファイバカプラ222に向かわせることができ、第1ファイバカプラ222もまたサンプル112から反射された光の一部を(例えばファイバスプリッタ218から)受けるよう構成されたものである。別の例として、一部の実施形態では、光サーキュレータ210-3は、参照リフレクタ214-2によって反射された光を第2ファイバカプラ224に向かわせることができ、第2ファイバカプラ224もまたサンプル112から反射された光の一部を(例えばファイバスプリッタ218から)受けるよう構成されたものである。図2Aに示すように、一部の実施形態では、参照アームの光サーキュレータとの間に偏光制御部204を配置して、対応するファイバカプラに向けられる光の偏光を制御するようにしてもよい。一部の実施形態では、ファイバカプラ222及び224はあらゆる適切なファイバカプラを用いて具現化することができる。例えば、ファイバカプラ222(及び/又はファイバカプラ224)は、サンプル112から反射された光の約半分と参照リフレクタ214-1から(又は参照リフレクタ214-2から)反射された光とを結合させるよう構成された99/1ファイバカプラとすることができる。
る時間分(amount of time)だけ遅延させるよう構成することができる。そのような実施形態では、システム200は、ファイバカプラ222及びファイバカプラ224からの光を、1ライン分のデータを収集するのにかかる時間分に基づく周波数で、交互に分光計124に提供するよう光スイッチ230を制御することができる。光導波路226によってもたらされる遅延により、ファイバカプラ224から提供される光は、ファイバカプラ222から提供される光によって表されるサンプルの状態と実質的に同じ時間でのサンプルの状態を表すことができる。したがって、分光計124によってファイバカプラ222及び224から順次的に受ける光は、同じ時間窓内におけるサンプル112の状態に実質的に対応し、これにより、順次的に取得される画像におけるアーティファクトの原因となり得るサンプルの動きによるイメージングへの影響を抑えながらも、より大きい深達度(depth penetration)でのイメージングを容易にすることができる。本明細書では、ファイバカプラ222の出力は場合によりチャネル1と称され、ファイバカプラ224の出力は場合によりチャネル2と称されることに留意されたい。
深さの半分までのみ収集される(但し、これはミラー画像の重なりを含む画像となるであろう)。一部の実施形態では、第2参照アームの経路長は、あらゆる適切な方法又は方法の組み合わせを用いて設定することができる。例えば、一部の実施形態では、第2参照アームの経路長は、第1参照アームの予想イメージング深さに基づいて決定することができる(例えば、経路長は、第1参照アームの経路長よりも約3mm長くなるよう決定できる)。別の例として、第2参照アームの経路長は手動で調整することができる。より具体的な例では、経路長は初期値に設定することができ、そして、オペレータは、結合画像(及び/又は第2参照アームのみを用いて生成された情報のみを用いて生成された画像)が、第1参照アームと十分な量だけ重なる組織の深さからのデータを含むとともに第1参照アームの最大イメージング深さを大幅に超える深さからのデータも含むまで、経路長を調整することができる。さらに別の例として、第2参照アームの経路長は、最大イメージング深さを提供するように自動で調整することができる。
ができる。例えば、図2Aと関連して上記したように、工程410において、プロセス400は、サンプルアーム内の光と第1参照アーム内の光との干渉に基づいてサンプルによって光が反射された深さを示すデータを取り込むために、イメージセンサ(例えばリニアCCD又はリニアCMOSセンサ)を制御することができる。
。例えば、図2Aと関連して上記したように、工程414において、プロセス400は、サンプルアーム内の光と第2参照アーム内の光との干渉に基づいてサンプルによって光が反射された深さを示すデータを取り込むために、イメージセンサ(例えばリニアCCD又はリニアCMOSセンサ)を制御することができる。一部の実施形態では、プロセス400は、工程408に戻って第1チャネルにスイッチを戻し、工程410において時間tn+1に対応するデータを取得する。
、トリガ信号の立ちあがりエッジの検出に応答してデータを取り込むよう構成されている。光スイッチ制御信号は、リニアセンサによる連続的なデータ取得中にチャネル1及びチャネル2から光を出力するよう光スイッチを制御するために、トリガ信号の周波数の半分の周波数を有することができる。ここで、場合によっては、センサの取得時間は、トリガ信号の周期の大部分を占めてもよいことに留意されたい。例えば、図5に示すように、立ち上がりエッジによって読み出しがトリガされた場合、センサによる取得は、トリガ信号の対応する立ち下がりエッジの後まで完了しなくてもよい。
)M/2×N及びICh2(λ,t)M/2×Nに分離することができ、これらは各々、異なる参照
信号に対応するサンプルの画像を表す。
平均(average)(即ち平均(mean))値を計算して、平均をデータから均一に差し引くこ
とでチャネル1画像からバックグランド成分を除去することができる。例えば、プロセス600は、バックグランド成分が除去されたICh1(λ,t)M/2×Nに対応する調整後行
列I’Ch1(λ,t)M/2×Nを生成することができ、これは以下のように表すことができ
る。
れた波長を波数ドメイン(kドメインとも称される)にマッピングすることができる。例えば、各列に対応する中心波長λNを、波数kNにマッピングすることができる(一般的に波数は周波数の逆数に対応し、即ちkN=1/λNであることに留意されたい)。マッピングはI’Ch1(λ,t)M/2×N→ICh1(k,t)M/2×Nとして表すことができる。一部の実施形態では、マッピング関数は、線形補間を用いて分光計についてキャリブレーションすることができる。
間ドメインデータ行列ICh1(z,t)M/2×Nを生成するためにkドメインデータ行列の
離散フーリエ変換を実行することができる。より具体的な例では、プロセス600は、kドメインデータ行列の高速フーリエ変換を実行することができ、これは以下のように表すことができる。
り、データ行列ICh1(z,t)M/2×N/2はICh1(z,t)M/2×Nの(N/2+1)番目からN番目の列に基づいている。一部の実施形態では、プロセス600は、後の処理においてミラー画像の1つしか用いられない場合には、ミラー画像の1つの生成を省略することができる。
即ち算術平均)値を計算し、平均をデータから均一に差し引くことで、チャネル2画像からバックグランド成分を除去することができる。例えば、プロセス600は、バックグランド成分が除去されたICh2(λ,t)M/2×Nに対応する調整後行列I’Ch2(λ,t)M/2×Nを生成することができ、これは以下のように表すことができる。
れた波長を波数ドメイン(kドメインとも称される)にマッピングすることができる。例えば、各列に対応する中心波長λNを、波数kNにマッピングすることができる(一般的に波数は周波数の逆数に対応し、即ちkN=1/λNであることに留意されたい)。マッピングはI’Ch2(λ,t)M/2×N→ICh2(k,t)M/2×Nとして表すことができる。一部の実施形態では、マッピング関数は、線形補間を用いて分光計についてキャリブレーションすることができる。
間ドメインデータ行列ICh2(z,t)M/2×Nを生成するためにkドメインデータ行列の
離散フーリエ変換を実行することができる。より具体的な例では、プロセス600は、kドメインデータ行列の高速フーリエ変換を実行することができ、これは以下のように表すことができる。
。一部の実施形態では、プロセス600は、あらゆる適切な方法又は方法の組み合わせを用いて2つのチャネル間のZshiftを決定することができる。例えば、プロセス600は
、チャネル1からのミラー画像におけるどの列がチャネル2からの画像における列に対応するのかを決定するために、相互相関関数を用いることができる。一部の実施形態では、オフセットは通常変わらないので、空間的オフセットは一度計算するだけでよい。しかしながら、一部の実施形態では、参照アームのうちの1つの経路長が変化した場合並びに/又は所定期間の後及び/若しくは所定数の画像が取り込まれた後(例えば、温度などの環境因子によって時間の経過とともに経路長が変化する為)に、オフセットを再計算してもよい。
ことができる。これにより、工程612において抽出された画像の深さを、チャネル2から生成された画像の最大深さとほぼ致させることができる。一部の実施形態では、(例えば工程624に関して後述するように)オフセットに基づいてチャネル2画像から生成された画像ICh2(z,t)M/2×N'の寸法(dimension)と一致させるために、ゼロパディ
ングをICh1(z,t)M/2×N/2→ICh1(z,t)M/2×N'と表すことができる。
ことができる。一部の実施形態では、マスクBは、チャネル1のミラー画像とチャネル2からのメイン(例えば正の遅延)の画像との比較に基づいて生成することができる。例えば、チャネル1のミラー画像における各要素の値を閾値と比較することができる。要素の値が閾値を超えていれば、その位置においてバイナリマスクBに0(ゼロ)を含めることができ、要素の値が閾値未満(又は以下)であれば、その位置においてバイナリマスクBに1を含めることができる。より具体的な例では、閾値は、信号のない領域からのノイズ値(例えば平均及び標準偏差)に基づくことができる。例えば、706において、ゼロ遅延内であって反射された信号のないイメージングプローブ表面内の行列の一部を用いて、閾値を決定してもよい。
な方法又は方法の組み合わせを用いてチャネル1及びチャネル2からの画像を結合することができる。例えば、チャネル1画像及びチャネル2画像の両方において表された部分を生成するために、以下の式を用いて、Im(z,x)M/2×N'を生成することができる。
ローブの表面から3mm以内に存在する組織は画像2においてミラー画像アーチファクトを生じる可能性がある。ミラーアーチファクトは結合画像では軽減されており、2つの画像を結合させる際にミラーアーチファクトを除去することで、幅のある深さにおけるより深い部分について感度が向上した最終画像が生成されるとともに、従来のSD-OCTシステムよりもシステムのイメージング範囲が増大する。
ヒーレント又はインコヒーレント光源(例えば発光ダイオード又は発光ダイオードの組み合わせや、白色光源など)などの1以上の光源922を含むことができる。例えば、光源のバンド幅は、SD-OCTシステムの最大イメージング範囲にわたる深さでの検出を容易にする波長範囲を提供するよう選択することができる。さらに、一部の実施形態では、光源922を1以上のファイバと関連付けることができる。
Claims (12)
- スペクトルドメイン光干渉断層撮影のための方法であって、
第1経路長を有する第1参照アームを用いて生成される、第1の時間を含む第1時間窓におけるサンプルの状態を表すデータの第1ベクトルと、
第2経路長を有する第2参照アームを用いて生成される、前記第1時間窓における前記サンプルの前記状態を表すデータの第2ベクトルと、
前記第1参照アームを用いて生成される、前記第1の時間を含まない第2時間窓における前記サンプルの状態を表すデータの第3ベクトルと、
前記第2参照アームを用いて生成される、前記第2時間窓における前記サンプルの前記状態を表すデータの第4ベクトルと、を備えるデータの行列を、プロセッサによって受信する工程と、
前記プロセッサによって、前記データの第1ベクトルと前記データの第3ベクトルとに基づいて第1画像データを生成する工程と、
前記プロセッサによって、前記データの第2ベクトルと前記データの第4ベクトルとに基づいて第2画像データを生成する工程と、
前記プロセッサによって、前記第1画像データの一部と前記第2画像データの一部との比較に基づいて、前記第1画像データと前記第2画像データとの間の空間的オフセットを計算する工程と、
前記プロセッサによって、ゼロパディング画像を生成するために、第1の複数のベクトルを、前記空間的オフセットに基づく数だけ、前記第1画像データの前記一部に付加する工程と、
前記プロセッサによって、クロップ画像を生成するために、第2の複数のベクトルを、前記空間的オフセットに基づく数だけ、前記第2画像データから除去する工程と、
前記プロセッサによって、感度ロールオフの減少した前記サンプルの画像を生成するために、前記ゼロパディング画像と前記クロップ画像とを結合する工程と、を有する、方法。 - 前記第1ベクトルは前記行列の第1の行であり、前記第2ベクトルは前記行列の第2の行である、請求項1に記載の方法。
- 前記第1ベクトルは、少なくともN個の要素を含み、
前記N個の要素は、各々、前記イメージセンサの画素に対応し、
前記行列は、少なくともN個の列を含む、請求項2に記載の方法。 - 前記空間的オフセットは、前記N個の列のうちの特定の数の列に対応する、請求項3に記載の方法。
- 前記第1ベクトルにおける各エントリーは波長に対応し、
前記方法は、各要素についての前記波長を波数kにマッピングする工程をさらに有する、請求項1に記載の方法。 - 前記第1ベクトルの各要素を深さ値に変換するために、離散フーリエ変換を実行する工程をさらに有する、請求項5に記載の方法。
- 第1サブ行列に含ませるためのゼロ遅延の正の側のベクトルを選択するとともに、第2サブ行列に含ませるための前記ゼロ遅延の負の側のベクトルを選択することによって、前記行列を2つのサブ行列にさらに分割することで、前記第1画像データに基づいて前記サンプルのリアル画像を生成する工程をさらに有する、請求項1に記載の方法。
- 前記第1画像データの前記一部が前記第1サブ行列に対応する、請求項7に記載の方法。
- 前記第2サブ行列と、前記第2参照アームを用いて生成された値を含むシフトされたサブ行列と、の比較に基づいて、バイナリマスクを生成する工程をさらに有する、請求項7に記載の方法。
- 前記バイナリマスク及び結合関数に基づいて、複数の重み付け係数Cmを備える重み付け行列Wを生成する工程をさらに有する、請求項9に記載の方法。
- 前記結合関数は、Cm=(tanh(x)+1)/2であり、式中、xは、-2πから2πの範囲の値である、請求項10に記載の方法。
- 前記第1ベクトル及び前記第2ベクトルは、前記サンプルの表面上の第1横方向位置に対応し、
前記第3ベクトル及び前記第4ベクトルは、前記サンプルの前記表面上の第2横方向に対応する、請求項1に記載の方法。
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