JP2023050647A - スイッチング電源回路及び電圧検出回路 - Google Patents

スイッチング電源回路及び電圧検出回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2023050647A
JP2023050647A JP2021160858A JP2021160858A JP2023050647A JP 2023050647 A JP2023050647 A JP 2023050647A JP 2021160858 A JP2021160858 A JP 2021160858A JP 2021160858 A JP2021160858 A JP 2021160858A JP 2023050647 A JP2023050647 A JP 2023050647A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
digital
value
circuit
analog
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2021160858A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2023050647A5 (ja
Inventor
篤 長谷川
Atsushi Hasegawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
D Clue Technologies Co Ltd
Original Assignee
D Clue Technologies Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by D Clue Technologies Co Ltd filed Critical D Clue Technologies Co Ltd
Priority to JP2021160858A priority Critical patent/JP2023050647A/ja
Publication of JP2023050647A publication Critical patent/JP2023050647A/ja
Publication of JP2023050647A5 publication Critical patent/JP2023050647A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Dc-Dc Converters (AREA)

Abstract

【課題】従来の電源回路では、電圧制御精度と応答性を高レベルで両立しながら回路規模を削減することが難しい問題があった。【解決手段】本発明のスイッチング電源回路は、電圧検出回路11が、検出電圧Vsenとオフセット電圧Vofsとの加算値から、前デジタル検出値Doに対応するアナログ値を有するDAC出力電圧Vdacを減算してエラー変動電圧Veを生成するアナログ加減算回路32と、エラー変動電圧Veをデジタル値を有するエラー変動値Deに変換するアナログデジタル変換回路33と、エラー変動値Deを前デジタル検出値Doと加算値をデジタル検出値Doを生成するデジタル加算回路34と、デジタル検出値Doをアナログ値のDAC出力電圧Vdacに変換するデジタルアナログ変換回路35と、を有し、アナログデジタル変換回路33は、オフセット電圧Vofs近傍ほど分解能が高くなるフラッシュ型アナログデジタル変換回路である。【選択図】図2

Description

本発明はアナログデジタル変換回路に関し、例えば、電源回路の出力電圧の検出に用いられるアナログデジタル変換回路に関する。
様々な装置で、外部から供給される外部電源電圧を、装置を構成する各部品に要求される電圧に変換した内部電源電圧を生成する電源回路が多く利用されている。この電源回路の一態様に、PWM(Pulse Width Modulation)信号により負荷への駆動力を可変させるスイッチング電源回路がある。このようなスイッチング電源回路に関する技術の一例が特許文献1に開示されている。
特許文献1に記載のスイッチング電源装置は、PWM信号に基づいて、スイッチングを行うスイッチ部を有し、直流の電源電圧を任意の直流電圧に変換するDC/DCコンバータと、前記DC/DCコンバータから出力される出力電圧に基づいて、前記DC/DCコンバータが生成する電源電圧を制御する電圧制御部と、を備え、前記電圧制御部は、前記DC/DCコンバータから出力される電圧をディジタルデータに変換するA/D変換器と、前記A/D変換器が変換した前記ディジタルデータに基づいて、前記スイッチ部をオンする時間的割合を算出し、制御ディジタルデータとして出力するディジタル演算器と、前記ディジタル演算器が算出した前記制御ディジタルデータに基づいて、前記スイッチ部を駆動する前記PWM信号を生成するPWM生成部と、を有し、前記ディジタル演算器は、少なくとも前記A/D変換器のサンプリング周波数に同期して、前記A/D変換器が変換したディジタルデータから設定された指令値を減算した誤差データ、前記ディジタル演算器におけるディジタル演算の内部状態データ、およびディジタルフィルタによる計算結果である算出結果データをそれぞれ保持および更新し、前記算出結果データに加算するオフセットデータを保持する。
また、上記A/D変換器に関する技術として特許文献2がある。特許文献2に記載の無線受信機は、受信したアナログ信号をデジタル信号へ変換するための複数のユニットを備え、前記複数のユニットの中から動作するユニットを選択することによって、出力の階調数を切り替えることが可能なADコンバータと、前記ADコンバータに接続され前記ADコンバータが出力するデジタル信号に基づいて受信信号レベルを算出する受信信号レベル算出器とを具備し、前記受信信号レベルに基づいて前記複数のユニットの中から動作するユニットを選択することによって前記ADコンバータの出力の階調数を切り替える。
特開2015-27235号公報 特開2007-266874号公報
スイッチング電源回路では、出力電圧を予め設定した基準電圧付近に留める電圧制御精度と、出力電圧が基準電圧から乖離した際に早急に基準電圧付近に出力電圧を復帰させる応答性と、を高いレベルで実現することが求められる。また、近年の要求として回路規模を削減することが求められている。しかしながら、特許文献1、2を参照しても電圧制御精度と応答性を高レベルで両立しながら回路規模を削減することについては開示も示唆もされていない。
本発明にかかるスイッチング電源回路の一態様は、出力電圧に応じて変動する検出電圧をデジタル値に変換したデジタル検出値を出力する電圧検出回路と、前記デジタル検出値と基準値との誤差を算出する加算処理部と、前記誤差に対してPID処理を施すPID制御部と、前記PID制御部の出力値に応じたデューティー比のPWM信号を出力するPWM生成部と、前記PWM信号に基づき負荷回路を駆動して前記出力電圧を生成する駆動部と、を有し、前記電圧検出回路は、オフセット電圧を生成するオフセット電圧生成回路と、前記検出電圧と前記オフセット電圧とを加算した電圧値から、前処理サイクルで算出された前デジタル検出値に対応するアナログ値を有するDAC出力電圧を減算してエラー変動電圧を生成するアナログ加減算回路と、前記エラー変動電圧に対応するデジタル値を有するエラー変動値を生成するアナログデジタル変換回路と、前記エラー変動値を前記前デジタル検出値と加算して、現在の前記デジタル検出値を生成するデジタル加算回路と、前記デジタル検出値に基づき前記DAC出力電圧を生成するデジタルアナログ変換回路と、を有し、前記アナログデジタル変換回路は、前記オフセット電圧近傍ほど分解能が高くなるフラッシュ型アナログデジタル変換回路である。
本発明にかかる電圧検出回路の一態様は、オフセット電圧を生成するオフセット電圧生成回路と、出力電圧に応じて変動する検出電圧と前記オフセット電圧とを加算した電圧値から、前処理サイクルで算出された前デジタル検出値に対応するアナログ値を有するDAC出力電圧を減算してエラー変動電圧を生成するアナログ加減算回路と、前記エラー変動電圧に対応するデジタル値を有するエラー変動値を生成するアナログデジタル変換回路と、前記エラー変動値を前記前デジタル検出値と加算して、現在のデジタル検出値を生成するデジタル加算回路と、前記デジタル検出値に基づき前記DAC出力電圧を生成するデジタルアナログ変換回路と、を有し、前記アナログデジタル変換回路は、前記オフセット電圧近傍ほど分解能が高くなるフラッシュ型アナログデジタル変換回路である。
本発明にかかるスイッチング電源回路及び電圧検出回路は、アナログデジタル変換回路において、オフセット電圧の近傍領域とオフセット電圧から離れた領域とでデジタル値を変化させる分解能が異なる。
本発明にかかるスイッチング電源回路及び電圧検出回路によれば、スイッチング電源回路の電圧制御精度と高速応答性を両立させながら回路規模を削減することができる。
実施の形態1にかかるスイッチング電源回路のブロック図である。 実施の形態1にかかる電圧検出回路のブロック図である。 実施の形態1にかかるアナログ加減算回路の回路図である。 実施の形態1にかかるフラッシュ型アナログデジタル変換回路の回路図である。 実施の形態1にかかるフラッシュ型アナログデジタル変換回路の分解能を説明する図である。 実施の形態1にかかるデジタルアナログ変換回路の回路図である。 実施の形態1にかかる電圧検出回路の動作を説明するタイミングチャートである。
実施の形態1
説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略、及び簡略化がなされている。また、各図面において、同一の要素には同一の符号が付されており、必要に応じて重複説明は省略されている。
まず、図1に実施の形態1にかかるスイッチング電源回路1のブロック図を示す。図1では、スイッチング電源回路1の駆動対象である負荷回路を示した。図1に示すように、スイッチング電源回路1は、制御部10、駆動部20、インダクタL、平滑容量Co、抵抗R1、R2を有する。
実施の形態1にかかるスイッチング電源回路1では、制御部10が生成したPWM(Pulse Width Modulation)信号に基づき駆動部20をスイッチング動作させてインダクタL及び平滑容量Coにより駆動部20が出力する信号を平滑化することで出力電圧Voを生成し、負荷回路に電源を供給する。また、スイッチング電源回路1では、出力電圧Voを抵抗R1、R2により分圧した電圧を検出電圧Vsenとして制御部10により検出する。制御部10は、検出電圧Vsenが予め設定した基準値に一致するようにPWM信号のデューティー比を変化させる。なお、検出電圧は抵抗分圧点から取得する以外に直接取得する、或いは、他の方法で電圧シフトさせた電圧として取得することもできる。
制御部10は、電圧検出回路11、基準値レジスタ12、加算処理部13、PID制御部14、PWM生成部15を有する。ここで、制御部10は、電圧検出回路11において検出電圧Vsenの電圧値を所定のルールに従ってデジタル値に変換したデジタル検出値Doを生成し、加算処理部13、PID制御部14、PWM生成部15においてデジタル信号処理を行うことでPWM信号のデューティー比を制御する。つまり、加算処理部13、PID制御部14、PWM生成部15における処理は、例えば、プログラムを実行可能な演算部において電源制御プログラム等を実行することでも実現でき、所定の処理に特化したDSP等の専用ハードウェアによっても実現することができる。また、基準値レジスタ12は、例えば、プロセッサ上に備えられている記憶部であり、検出電圧Vsenの目標値となる基準値が保持される。
電圧検出回路11は、出力電圧に応じて変動する検出電圧Vsenをデジタル値に変換したデジタル検出値Doを出力する。実施の形態1にかかるスイッチング電源回路1では、電圧検出回路11の構成に特徴の1つがあるため詳細は後述する。
加算処理部13は、デジタル検出値Doと基準値との誤差を算出する。図1に示す例では、加算処理部13は、基準値レジスタ12に保持された基準値からデジタル検出値Doを引くデジタル減算処理を行う。
PID制御部14は、誤差に対してPID(Proportional-Integral-Differential)処理を施す。このPID制御部14は、加算処理部13が出力する誤差に時間経過とともに重みが小さくなる重み係数を乗算してPWM信号のデューティー比の大きさを決定するための出力値を生成する。そして、PWM生成部15は、PID制御部14が出力した出力値の大きさに応じたデューティー比のPWM信号を生成する。
駆動部20は、駆動回路21と、PMOSトランジスタTr1、及び、NMOSトランジスタTr2を有する。PMOSトランジスタTr1及びNMOSトランジスタTr2は、電源配線と接地配線との間に直列に接続される。なお、駆動回路21の出力段の構成としては縦積みしたNMOSトランジスタにより構成する、或いは、トランジスタ1つをオープンドレイン構成とするなど様々な構成を考えることができる。そして、駆動回路21は、PWM生成部15から与えられるPWM信号に応じてPMOSトランジスタTr1及びNMOSトランジスタTr2をプシュプル動作させる。そして、スイッチング電源回路1では、駆動部20が出力電流をインダクタL及び平滑容量Coにより平滑化することで出力電圧Voを生成する。
ここで、実施の形態1にかかるスイッチング電源回路1では、負荷回路における消費電流が変化することで平滑容量Coに蓄積された電荷が減少するため出力電圧Voが低下する。そこで、実施の形態1にかかるスイッチング電源回路1では、出力電圧Voが低下、或いは、上昇するなどして基準値と乖離した場合にPWM信号のデューティー比を変化させて出力電圧Voを基準値付近に維持する。このとき、実施の形態1にかかるスイッチング電源回路1では、出力電圧Voを抵抗R1、R2で分圧した検出電圧Vsenにより出力電圧Voの現在の電圧値及び基準値からの乖離量を処理サイクル(制御部10の内部クロックにより決定される周期)毎に検出することで、出力電圧Voを基準値付近に維持する。
ここで、実施の形態1にかかるスイッチング電源回路1では、電圧検出回路11の構成及び動作により、出力電圧Voの制御精度と、出力電圧Voが基準値から乖離した際に出力電圧Voを基準値付近に復帰させる速度を示す応答性と、を高める。また、電圧検出回路11では、出力電圧Voの制御精度と応答性を高めながら回路規模を抑制する構成を有する。そこで、以下の説明では、電圧検出回路11について詳細に説明する。
図2に実施の形態1にかかる電圧検出回路11のブロック図を示す。図2に示すように、電圧検出回路11は、オフセット電圧生成回路31、アナログ加減算回路32、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33、デジタル加算回路34、デジタルアナログ変換回路35を有する。
オフセット電圧生成回路31は、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33における変換中心となるオフセット電圧Vofsを生成する。このオフセット電圧Vofsは、例えば、後述するフラッシュ型アナログデジタル変換回路33の変換レンジの中心電圧である。
アナログ加減算回路32は、検出電圧Vsenとオフセット電圧Vofsとの加算値から、前処理サイクルで算出された前デジタル検出値Doに対応するアナログ値を有するDAC出力電圧Vdacを減算してエラー変動電圧Veを生成する。このDAC出力電圧Vdacは、前処理サイクルの電圧検出回路11の出力値であるデジタル検出値Doをデジタルアナログ変換回路35がアナログ値に変換した電圧である。
ここで、アナログ加減算回路32の詳細な回路について説明する。そこで、図3に実施の形態1にかかるアナログ加減算回路32の回路図を示す。図2に示すように、アナログ加減算回路32は、抵抗R11~R16、増幅器OPを有する。
抵抗R11は、一端にオフセット電圧Vofsが与えられ、他端が増幅器OPの非反転端子に接続される。抵抗R12は、一端に検出電圧Vsenが与えられ、他端が増幅器OPの非反転端子に接続される。抵抗R13は、一端が接地配線に接続され、他端が増幅器OPの非反転端子に接続される。
抵抗R14は、一端にDAC出力電圧Vdacが与えられ、他端が増幅器OPの反転端子に接続される。抵抗R15は、一端が接地配線に接続され、他端が増幅器OPの反転端子に接続される。抵抗R16は、増幅器OPの出力端子と反転端子との間に接続される。
DAC出力電圧Vdacは、前処理サイクルで検出されたデジタル検出値Doに対応するアナログ電圧であり、検出電圧Vsenからオフセット電圧Vofsを引くと、処理サイクルの間で変化した検出電圧Vsenの変化電圧量が算出される。そして、アナログ加減算回路32では、オフセット電圧Vofsに変化電圧量分の電圧を加算した電圧値をエラー変動電圧Veとして出力する。
フラッシュ型アナログデジタル変換回路33は、エラー変動電圧Veに対応するデジタル値を有するエラー変動値Deを生成する。より具体的には、オフセット電圧Vofsを中心として符号が逆転する符号付きデジタル値をエラー変動値Deを出力する。つまり、アナログ加減算回路32で負荷されたオフセット電圧Vofsは、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33の変換処理で相殺され、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33が出力するエラー変動値Deは、処理サイクル間で変動した検出電圧Vsenの変動成分となる。
そして、デジタル加算回路34は、検出エラー量値Deを前サイクルの電圧検出回路11の出力値である前デジタル検出値と加算して、現在のデジタル検出値Doを生成する。つまり、電圧検出回路11では、エラー変動値Deの積算をデジタル加算回路34において継続することで検出電圧Vsenと同等のデジタル値を有するデジタル検出値Doを生成する。
また、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33は、図1に示す例では、電圧検出回路11が出力するデジタル検出値Doがmビット(例えば、12ビット)であるところ、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33が出力する検出エラー量値Deは、mよりも小さなビット数であるnビット(例えば、7ビット)とした。また、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33は、オフセット電圧近傍ほど分解能が高くなる構成を有する。
ここで、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33の詳細な回路について説明する。そこで、図4に実施の形態1にかかるフラッシュ型アナログデジタル変換回路33の回路図を示す。図4に示すように、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33は、抵抗R0~Rjのj+1個の抵抗、j-1個の比較器CMP(図4では、j-1個の比較器のうちCMPi-5~CMPi+4を示した。iは比較器の順番を示す整数である)、デコーダ41を有する。なお、コンパレータの数は、例えば24個程度が考えられる。
抵抗R0~Rjは、上位側基準電圧VrefHと下位側基準電圧VrefLとの間に直列に接続され、各抵抗の接続点から複数の比較電圧を出力する抵抗ストリングを構成する。図4では、上位側基準電圧VrefHが一端に与えられる抵抗R0及び下位側基準電圧VrefLが一端に与えられる抵抗Rjの抵抗値を単位抵抗Rの1/2倍の抵抗値とした。また、抵抗R1~抵抗Rj-1のうちi-2番目からi+2番目の抵抗Ri-2~抵抗Ri+2を除く抵抗の抵抗値を単位抵抗Rの3倍の抵抗値とした。i-2番目とi+2番目の抵抗Ri-2及び抵抗Ri+2については抵抗値を単位抵抗Rの2倍の抵抗値とした。そして、抵抗Ri-1~抵抗Ri+1の抵抗値を単位抵抗Rの抵抗値とした。このとき、抵抗値を単位抵抗Rと同値とした抵抗Ri-1~抵抗Ri+1が出力する比較電圧は、オフセット電圧Vofsの近傍の電圧となるように設定する。
このような抵抗ストリングとすることで、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33の変換レンジは、上位側基準電圧VrefHと下位側基準電圧VrefLとの電位差で決定される。また、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33の変換ステップは、オフセット電圧Vofsに対応する電圧値の近傍の比較電圧が出力される抵抗Ri-1~抵抗Ri+1の比較電圧は隣接する比較電圧との電圧差がおおよそ1LSBの幅となり、抵抗Ri-2及び抵抗Ri+2の比較電圧は隣接する比較電圧との電圧差がおおよそ2LSBの幅となり、他の部分の比較電圧は隣接する比較電圧との電圧差がおおよそ3LSBの幅となる。つまり、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33では、オフセット電圧Vofsに近いほど変換ステップが小さくなる。
また、図4に示すように、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33では、抵抗R1~抵抗Rj-1番目の抵抗に対応して比較器CMP1~CMPj-1が設けられる。なお、図4では、j-1個の比較器のうちCMPi-5~CMPi+4を示した。比較器は、対応する比較電圧とエラー変動電圧Veとの大小を比較してハイ電圧とロウ電圧とのいずれか一方を出力する。デコーダ41は、複数の比較器(例えば、比較器CMP1~CMPj-1)の出力値をデコードして符号付きデジタル値となるエラー変動値Deを出力する。このエラー変動値Deは、デジタル検出値Doよりもビット数の少ないnビットの値である。例えば、比較器の個数を24個、デジタル検出値Doのビット数nを7とした場合、デコーダ41は、24個の2値信号から7ビットのデジタル検出値を生成する。
ここで、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33の分解能についてさらに詳細に説明する。そこで、図5に実施の形態1にかかるフラッシュ型アナログデジタル変換回路33の分解能を説明する図を示す。
図5に示すように、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33の分解能は、オフセット電圧Vofsの近傍ほど高い分解能となる非線形特性となるが、入力されるエラー変動電圧Veとデジタル検出値Doとの入出力特性は線形を維持するように抵抗ストリング及びデコーダ41を構成することが、変換精度を維持するためには好ましい。つまり、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33は、非線形な分解能特性と、線形な入出力特性を有する。このような構成により、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33は、広いダイナミックレンジを有しながら抵抗ストリングを構成する抵抗及びコンパレータ数を削減しながら、制御精度が要求されるオフセット電圧付近の入力に対しては高い精度でエラー変動値Deを変化させることができる。また、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33は、大きくエラー変動電圧Veが変動した際にエラー変動値Deを構成するビットを複数個変化させることができるため、高速応答性に優れる。
続いて、デジタルアナログ変換回路35は、デジタル検出値Doのアナログ値を有するDAC出力電圧Vdacを生成する。ここで、デジタルアナログ変換回路35の詳細な回路について説明する。そこで、図6に実施の形態1にかかるデジタルアナログ変換回路35の回路図を示す。
図6に示すように、デジタルアナログ変換回路35は、R-2Rラダー型とRストリング型とを組み合わせたデジタルアナログ変換回路である。また、デジタルアナログ変換回路35では、R-2Rラダー型変換回路によりバイナリコードに基づきデジタル値をアナログ電圧に変換するバイナリ型コンバータと、Rストリング型変換回路によりサーモメータコードに基づきデジタル値をアナログ電圧に変換するサーモメータ型コンバータとを組み合わせた構成とした。そして、デジタルアナログ変換回路35では、入力値となるデジタル検出値Doの下位側ビット(例えば、下位6ビット)をバイナリ型コンバータで変換し、デジタル検出値Doの上位側ビット(例えば、上位6ビット)をサーモメータ型コンバータで変換する。
デジタルアナログ変換回路では、変換時に生じる変換誤差(例えば、積分非直線性誤差(INL))を低減することが重要である。このとき、全てをRストリング型変換回路でデジタルアナログ変換回路35を構成してしまうと、回路規模が非常に大きくなる。例えば、12ビットの入力に対応するデジタルアナログ変換回路をRストリング型変換回路のみで構成した場合抵抗の数は4095個必要になる。一方、全てをR-2Rラダー型変換回路でデジタルアナログ変換回路35を構成してしまうと、変換精度がRストリング型変換回路よりも劣る問題がある。そこで、図6に示したようなバイナリ型コンバータとサーモメータ型コンバータとを組み合わせると、必要な変換精度を得ながら回路規模を削減できる。
続いて、実施の形態1にかかる電圧検出回路11の動作について説明する。そこで、図7に実施の形態1にかかる電圧検出回路の動作を説明するタイミングチャートを示す。図7を参照した説明では、図7の処理サイクルS1、S2の2つのサイクルで行われる処理について説明する。また、実施の形態1にかかる電圧検出回路11では、内部クロックの立ち上がりエッジから次の立ち上がりエッジまでの期間でフラッシュ型アナログデジタル変換回路33の動作とデジタルアナログ変換回路35の動作をそれぞれ1度実施し、この期間を1処理サイクルとする。
図7に示すように、実施の形態1にかかる電圧検出回路11では、まず各処理サイクルにおいて内部クロック信号がハイレベルとなる期間に、デジタルアナログ変換回路35がDAC出力電圧Vdacを出力するとともに、アナログ加減算回路32が加減算処理を行ってエラー変動電圧Veを生成する。また、内部クロック信号のハイレベル期間に、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33がエラー変動電圧Veをサンプリングする。そして、内部クロック信号がロウレベルとなる期間に、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33が出力したエラー変動値Deと前処理サイクルのデジタル検出値Doとをデジタル加算回路34が加算してデジタル検出値Doを生成する。このときデジタル加算回路34が生成したデジタル検出値Doは次の処理サイクルの内部クロックの立ち上がりでデジタル加算回路34が外部に出力する。
そして、図7に示すように、処理サイクルS1では、まず内部クロック信号のハイレベル期間T1において確定したDAC出力電圧Vdacを用いて検出電圧Vsenに関するエラー変動電圧Veが生成される。続いて、処理サイクルS1の内部クロック信号のロウレベル期間T2にエラー変動電圧Veをデジタル値に変換したエラー変動値Deを生成する。また、期間T2では、エラー変動値Deと前処理サイクルのデジタル検出値Doとをデジタル加算回路34が加算してデジタル検出値Doを生成する。その後、処理サイクルS2の内部クロック信号のハイレベル期間T3において期間T2で確定したデジタル検出値Doがデジタル加算回路34から出力され、当該デジタル検出値Doをデジタルアナログ変換回路35がアナログ値に変換してDAC出力電圧Vdacが出力される。そして、期間T3では、期間T1と同様にアナログ加減算回路32、フラッシュ型アナログデジタル変換回路33、デジタル加算回路34が動作する。
上記説明より、実施の形態1にかかるスイッチング電源回路1では、電圧検出回路11において、アナログ値を有する検出電圧Vsenをデジタル値に変換するアナログデジタル変換回路としてフラッシュ型アナログデジタル変換回路33を用いることで高速応答性を実現する。
また、実施の形態1にかかる電圧検出回路11では、検出電圧Vsenと前処理サイクルで生成されたデジタル検出値Doのアナログ値であるDAC出力電圧Vdacとの差分をオフセット電圧Vofsに加算することで、検出電圧Vsenの変化量及び変化方向をオフセット電圧Vofsを中心とした成分として表現したエラー変動電圧Veを生成する。そして。エラー変動電圧Veをオフセット電圧Vofs中心の解像度が他の領域よりも高められた分解能を有するフラッシュ型アナログデジタル変換回路33によりデジタル値に変換する。これにより、実施の形態1にかかるスイッチング電源回路1では、出力電圧Voが基準値付近にある場合は小さな変動に対して駆動力を調整し、出力電圧Voが基準値から大きく乖離した場合には大きな幅で駆動力調整して早期に出力電圧Voを基準値に復帰させることが可能になる。つまり、電圧検出回路11を用いることで出力電圧Voの制御性を高めることが出来る。
また、実施の形態1にかかるスイッチング電源回路1では、高精度な変換精度が必要なオフセット電圧Vofs付近のエラー変動電圧Veに対してのみ変換幅を小さくする非線形な変換特性を有することで、広いダイナミックレンジの入力特性のフラッシュ型アナログデジタル変換回路33の回路規模を小さくすることができる。
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。
1 スイッチング電源回路
10 制御部
11 電圧検出回路
12 基準値レジスタ
13 加算処理部
14 PID制御部
15 PWM生成部
20 駆動部
21 駆動回路
31 オフセット電圧生成回路
32 アナログ加減算回路
33 フラッシュ型アナログデジタル変換回路
34 デジタル加算回路
35 デジタルアナログ変換回路
Vo 出力電圧
Vsen 検出電圧
Vofs オフセット電圧
Vdac DAC出力電圧
Ve エラー変動電圧
De エラー変動値
Do デジタル検出値

Claims (4)

  1. 出力電圧に応じて変動する検出電圧をデジタル値に変換したデジタル検出値を出力する電圧検出回路と、
    前記デジタル検出値と基準値との誤差を算出する加算処理部と、
    前記誤差に対してPID処理を施すPID制御部と、
    前記PID制御部の出力値に応じたデューティー比のPWM信号を出力するPWM生成部と、
    前記PWM信号に基づき負荷回路を駆動して前記出力電圧を生成する駆動部と、を有し、
    前記電圧検出回路は、
    オフセット電圧を生成するオフセット電圧生成回路と、
    前記検出電圧と前記オフセット電圧とを加算した電圧値から、前処理サイクルで算出された前デジタル検出値に対応するアナログ値を有するDAC出力電圧を減算してエラー変動電圧を生成するアナログ加減算回路と、
    前記エラー変動電圧に対応するデジタル値を有するエラー変動値を生成するアナログデジタル変換回路と、
    前記エラー変動値を前記前デジタル検出値と加算して、現在の前記デジタル検出値を生成するデジタル加算回路と、
    前記デジタル検出値に基づき前記DAC出力電圧を生成するデジタルアナログ変換回路と、を有し、
    前記アナログデジタル変換回路は、
    前記オフセット電圧近傍ほど分解能が高くなるフラッシュ型アナログデジタル変換回路であるスイッチング電源回路。
  2. 前記フラッシュ型アナログデジタル変換回路は、上位側基準電圧と下位側基準電圧との間に直列に抵抗が接続され、前記抵抗の接続点から複数の比較電圧を出力する抵抗ストリングと、
    それぞれが、前記複数の比較電圧のいずれか1つと、前記エラー変動電圧と、の大小関係に応じてハイ電圧とロウ電圧とのいずれか一方を出力する複数の比較器と、
    前記複数の比較器の出力値をデコードして前記オフセット電圧を中心に符号が逆転する符号付きデジタル値となる前記エラー変動値を出力するデコーダと、を有し、
    前記比較電圧は、前記オフセット電圧に近いほど隣接する前記比較電圧との電圧差が小さくなる請求項1に記載のスイッチング電源回路。
  3. 前記オフセット電圧は、前記フラッシュ型アナログデジタル変換回路の変換レンジの中心電圧であり、
    前記フラッシュ型アナログデジタル変換回路は、前記オフセット電圧を中心として符号が逆転する符号付きデジタル値により前記エラー変動値を出力する請求項1又は2に記載のスイッチング電源回路。
  4. オフセット電圧を生成するオフセット電圧生成回路と、
    出力電圧に応じて変動する検出電圧と前記オフセット電圧とを加算した電圧値から、前処理サイクルで算出された前デジタル検出値に対応するアナログ値を有するDAC出力電圧を減算してエラー変動電圧を生成するアナログ加減算回路と、
    前記エラー変動電圧に対応するデジタル値を有するエラー変動値を生成するアナログデジタル変換回路と、
    前記エラー変動値を前記前デジタル検出値と加算して、現在のデジタル検出値を生成するデジタル加算回路と、
    前記デジタル検出値に基づき前記DAC出力電圧を生成するデジタルアナログ変換回路と、を有し、
    前記アナログデジタル変換回路は、
    前記オフセット電圧近傍ほど分解能が高くなるフラッシュ型アナログデジタル変換回路である電圧検出回路。
JP2021160858A 2021-09-30 2021-09-30 スイッチング電源回路及び電圧検出回路 Pending JP2023050647A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021160858A JP2023050647A (ja) 2021-09-30 2021-09-30 スイッチング電源回路及び電圧検出回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021160858A JP2023050647A (ja) 2021-09-30 2021-09-30 スイッチング電源回路及び電圧検出回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2023050647A true JP2023050647A (ja) 2023-04-11
JP2023050647A5 JP2023050647A5 (ja) 2023-09-26

Family

ID=85805799

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021160858A Pending JP2023050647A (ja) 2021-09-30 2021-09-30 スイッチング電源回路及び電圧検出回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2023050647A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116360540A (zh) * 2023-05-19 2023-06-30 四川奥库科技有限公司 用于芯片测试的电压调节系统及电压调节方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116360540A (zh) * 2023-05-19 2023-06-30 四川奥库科技有限公司 用于芯片测试的电压调节系统及电压调节方法
CN116360540B (zh) * 2023-05-19 2023-09-29 四川奥库科技有限公司 用于芯片测试的电压调节系统及电压调节方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6373423B1 (en) Flash analog-to-digital conversion system and method with reduced comparators
US8164504B2 (en) Successive approximation register analog-digital converter and method for operating the same
KR101007063B1 (ko) Sar 방식의 아날로그/디지털 변환기의 디지털 에러수정 방법 및 장치
EP3090488B1 (en) Combining a coarse adc and a sar adc
US8199041B2 (en) Analog-to-digital converter
US8542144B2 (en) Analog to digital converter
TWI434517B (zh) 數位類比轉換器的元素的權重的估算方法、裝置及應用其之逐次逼近暫存器類比數位轉換器
US7595744B2 (en) Correcting offset errors associated with a sub-ADC in pipeline analog to digital converters
US9054732B2 (en) SAR analog-to-digital conversion method and SAR analog-to-digital conversion circuit
JP2714999B2 (ja) アナログ/デジタル変換器
JP5062213B2 (ja) 逐次比較型ad変換回路
US6011502A (en) Pseudo two-step current-mode analog-to-digital converter
JP4684028B2 (ja) パイプラインa/d変換器
JP2023050647A (ja) スイッチング電源回路及び電圧検出回路
US8203474B2 (en) Pipeline A/D converter
WO2010140523A1 (ja) 逐次比較型ad変換回路及び半導体集積回路
JP2015177374A (ja) Ad変換回路
IL209043A (en) Analog-to-digital converter on two bits together with subsequent approximation
US7999718B2 (en) Analog-to-digital converter and electronic system including the same
CN115701687A (zh) 用于流水线型模数转换电路的校准装置、方法以及雷达
KR20130003545A (ko) 접힌 기준전압 플래시 아날로그 디지털 변환기 및 그 방법
JP5190014B2 (ja) 積分型ad変換回路およびad変換方法
JP4536498B2 (ja) アナログデジタル変換器
KR102242402B1 (ko) 아날로그 신호를 복수의 비트의 디지털 정보로 변환하는 방법
KR20090071705A (ko) 기준전압 선택회로를 이용한 아날로그-디지털 변환기

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20211020

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20230908

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20230908