JP2023043501A - Flowmeter calibration system, substrate processing device and flowmeter calibration method - Google Patents

Flowmeter calibration system, substrate processing device and flowmeter calibration method Download PDF

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Abstract

To provide a technology capable of saving calibration work of a flowmeter.SOLUTION: A flowmeter calibration system comprises: a treatment liquid supply line that supplies treatment liquid to a substrate; a flowmeter that detects a flow rate value of the treatment liquid; a treatment liquid discharge line that is provided downstream of the flowmeter, and discharges the treatment liquid; and a control unit that controls the treatment liquid discharge line. The treatment liquid discharge line has a weighing tank that stores the treatment liquid, and a valve that opens and closes a flow path for the treatment liquid that is discharged downward from the bottom part of the weighing tank. The control unit closes the flow path for the treatment liquid with the valve, and calibrates the flow rate value of the flowmeter based on an amount of treatment liquid stored in the weighing tank.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本開示は、流量計校正システム、基板処理装置および流量計校正方法に関する。 The present disclosure relates to a flowmeter calibration system, a substrate processing apparatus, and a flowmeter calibration method.

特許文献1には、処理液を用いて基板を処理する基板処理装置(液処理装置)が開示されている。この基板処理装置は、処理液の供給経路に流量計を備え、流量計が検出する流量値を用いて、処理液の流量を制御している。 Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2002-200001 discloses a substrate processing apparatus (liquid processing apparatus) that processes a substrate using a processing liquid. This substrate processing apparatus has a flow meter in the supply path of the processing liquid, and controls the flow rate of the processing liquid using the flow rate value detected by the flow meter.

特開2008-98426号公報JP-A-2008-98426

本開示は、流量計の校正作業を省力化することができる技術を提供する。 The present disclosure provides a technology capable of saving labor in calibration work of flowmeters.

本開示の一態様によれば、基板に処理液を供給する処理液供給ラインと、前記処理液供給ラインに設けられ、前記処理液の流量値を検出する流量計と、前記流量計よりも下流側に設けられ、前記処理液供給ラインを流通した前記処理液を排出する処理液排出ラインと、前記処理液排出ラインを制御する制御部と、を備え、前記処理液排出ラインは、前記処理液を貯留する秤量タンクと、前記秤量タンクの底部から下方に排出される前記処理液の流路を開閉するバルブと、を有し、前記制御部は、前記バルブにより前記処理液の流路を閉じて、前記秤量タンクに貯留される前記処理液の量に基づき、前記流量計の流量値を校正する、流量計校正システムが提供される。 According to one aspect of the present disclosure, a processing liquid supply line for supplying a processing liquid to a substrate, a flow meter provided in the processing liquid supply line for detecting a flow rate value of the processing liquid, and a flow meter downstream of the flow meter a processing liquid discharge line for discharging the processing liquid that has flowed through the processing liquid supply line; and a control section for controlling the processing liquid discharge line, wherein the processing liquid discharge line is provided on the and a valve for opening and closing a flow path of the processing liquid discharged downward from the bottom of the weighing tank, wherein the control unit closes the flow path of the processing liquid by the valve. Accordingly, a flowmeter calibration system is provided that calibrates the flow rate value of the flowmeter based on the amount of the processing liquid stored in the weighing tank.

一態様によれば、流量計の校正作業を省力化することができる。 According to one aspect, it is possible to save labor in calibration work of the flowmeter.

一実施形態に係る流量計校正システムを有する基板処理装置の全体構成を示す概略説明図である。1 is a schematic explanatory diagram showing the overall configuration of a substrate processing apparatus having a flowmeter calibration system according to one embodiment; FIG. 流量計校正システムを構成する供給機構、排出機構および制御部を示す概略説明図である。FIG. 2 is a schematic explanatory diagram showing a supply mechanism, a discharge mechanism, and a control section that constitute a flowmeter calibration system; 流量計校正方法を示すフローチャートである。5 is a flow chart showing a flowmeter calibration method; 流量計校正方法の動作タイミングを示すタイミングチャートである。4 is a timing chart showing operation timings of the flowmeter calibration method; 流量計校正方法における補正係数の算出を示す説明図であり、(a)は流量積分値の概念図、(b)は温度と単位時間あたりの揮発量の関係を示すグラフである。It is explanatory drawing which shows calculation of the correction coefficient in the flowmeter calibration method, (a) is a conceptual diagram of a flow integral value, (b) is a graph which shows the relationship between temperature and the volatilization amount per unit time. 変形例に係る流量計校正システムを構成する供給機構、排出機構および制御部を示す概略説明図である。FIG. 11 is a schematic explanatory diagram showing a supply mechanism, a discharge mechanism, and a control section that constitute a flowmeter calibration system according to a modification;

以下、図面を参照して本開示を実施するための形態について説明する。各図面において、同一構成部分には同一符号を付し、重複した説明を省略する場合がある。 Hereinafter, embodiments for carrying out the present disclosure will be described with reference to the drawings. In each drawing, the same components are denoted by the same reference numerals, and redundant description may be omitted.

一実施形態に係る基板処理装置1について、図1を参照しながら説明する。基板処理装置1は、処理液Lによって基板Wを処理(液処理)する液処理装置である。基板Wは、例えば、シリコンウエハまたは化合物半導体ウエハなどの半導体基板を対象とし得る。基板Wは、液処理時において円板状に形成されている。なお、基板Wは、ガラス基板であってもよく、また角板状などの別形状に形成されてもよい。 A substrate processing apparatus 1 according to one embodiment will be described with reference to FIG. The substrate processing apparatus 1 is a liquid processing apparatus that processes a substrate W with a processing liquid L (liquid processing). The substrate W may, for example, be intended for a semiconductor substrate such as a silicon wafer or a compound semiconductor wafer. The substrate W is formed in a disk shape during liquid processing. The substrate W may be a glass substrate, or may be formed in a different shape such as a square plate shape.

基板処理装置1は、実際に基板Wの液処理を行う液処理ユニット2と、この液処理ユニット2を制御する制御部9と、を備える。液処理ユニット2は、基板Wを処理する処理容器100と、処理液Lを供給する供給機構50と、処理液Lを排出する排出機構70と、を有する。また、処理容器100は、基板Wに供給した処理液を回収するカップ20と、カップ20内で基板Wを保持するチャック30と、チャック30を回転させる回転機構40と、を有する。 The substrate processing apparatus 1 includes a liquid processing unit 2 that actually performs liquid processing on the substrate W, and a controller 9 that controls the liquid processing unit 2 . The liquid processing unit 2 includes a processing container 100 that processes the substrate W, a supply mechanism 50 that supplies the processing liquid L, and a discharge mechanism 70 that discharges the processing liquid L. As shown in FIG. The processing container 100 also includes a cup 20 that collects the processing liquid supplied to the substrate W, a chuck 30 that holds the substrate W in the cup 20 , and a rotation mechanism 40 that rotates the chuck 30 .

カップ20は、基板Wを収容するために水平方向に広い有底筒状を呈しており、基板Wに供給した処理液Lを回収する。 The cup 20 has a horizontally wide cylindrical shape with a bottom to accommodate the substrate W, and collects the processing liquid L supplied to the substrate W. As shown in FIG.

チャック30は、基板Wの形状に応じて円板状に形成される。チャック30は、基板Wを水平に保持する。チャック30は、当該チャック30の中心(回転中心)と基板Wの中心とが一致するように、基板Wを保持する。図1中のチャック30はメカニカルチャックであるが、チャック30は、真空チャックまたは静電チャックなどを適用してもよい。 The chuck 30 is formed in a disk shape according to the shape of the substrate W. As shown in FIG. The chuck 30 holds the substrate W horizontally. The chuck 30 holds the substrate W so that the center (rotation center) of the chuck 30 and the center of the substrate W are aligned. Although the chuck 30 in FIG. 1 is a mechanical chuck, the chuck 30 may be a vacuum chuck, an electrostatic chuck, or the like.

回転機構40は、上端においてチャック30を支持する回転軸41と、回転軸41の下端に接続される回転駆動部42と、を有する。回転軸41は、チャック30の中心に一致する軸心を有し、鉛直方向に沿って直線状に延在している。回転駆動部42は、制御部9に接続されており、基板Wの液処理時に、回転軸41を介してチャック30に保持された基板Wを回転させる。 The rotation mechanism 40 has a rotation shaft 41 that supports the chuck 30 at its upper end, and a rotation drive section 42 connected to the lower end of the rotation shaft 41 . The rotating shaft 41 has an axial center coinciding with the center of the chuck 30 and extends linearly along the vertical direction. The rotation drive unit 42 is connected to the control unit 9 and rotates the substrate W held by the chuck 30 via the rotation shaft 41 when the substrate W is processed with the liquid.

供給機構50は、カップ20に収容された基板Wに対して処理液Lを吐出する。なお、本実施形態に係る供給機構50は、一種類の処理液Lを基板Wに供給するが、供給機構50は、複数種類の処理液Lを予め定められた順番で基板Wに供給してもよい。例えば、基板処理装置1は、複数種類の処理液Lとして、薬液、リンス液、乾燥液を順に供給する構成をとることができる。これにより、基板Wは、先に薬液の液膜が表面に形成され、次いで薬液の液膜がリンス液の液膜に置換され、その後、リンス液の液膜が乾燥液の液膜に置換される。 The supply mechanism 50 discharges the processing liquid L onto the substrate W accommodated in the cup 20 . Although the supply mechanism 50 according to the present embodiment supplies one type of processing liquid L to the substrate W, the supply mechanism 50 supplies a plurality of types of processing liquid L to the substrate W in a predetermined order. good too. For example, the substrate processing apparatus 1 can be configured to sequentially supply a chemical liquid, a rinse liquid, and a drying liquid as the processing liquids L of a plurality of types. As a result, the chemical liquid film is first formed on the surface of the substrate W, then the chemical liquid film is replaced with the rinse liquid film, and then the rinse liquid film is replaced with the dry liquid film. be.

薬液は、特に限定されないが、例えばDHF(希フッ酸)、SC-1(水酸化アンモニウムと過酸化水素とを含む水溶液)、SC-2(塩化水素と過酸化水素とを含む水溶液)などが挙げられる。薬液は、アルカリ性でもよいし、酸性でもよい。複数種類の薬液が順番に供給されてもよく、その場合、第1薬液の液膜の形成と、第2薬液の液膜の形成との間に、リンス液の液膜を形成するとよい。 The chemical solution is not particularly limited, but for example, DHF (dilute hydrofluoric acid), SC-1 (aqueous solution containing ammonium hydroxide and hydrogen peroxide), SC-2 (aqueous solution containing hydrogen chloride and hydrogen peroxide), etc. mentioned. The chemical solution may be alkaline or acidic. A plurality of types of chemical liquids may be supplied in order. In this case, it is preferable to form the liquid film of the rinse liquid between the formation of the liquid film of the first chemical liquid and the formation of the liquid film of the second chemical liquid.

リンス液は、基板Wの表面に供給されることで、表面の薬液を洗い流してリンス液の液膜を形成する。リンス液としては、例えばDIW(脱イオン水)などの純水が用いられる。 The rinse liquid is supplied to the surface of the substrate W to wash away the chemical liquid on the surface and form a liquid film of the rinse liquid. Pure water such as DIW (deionized water) is used as the rinse liquid.

乾燥液は、基板Wの表面に供給され、リンス液を洗い流して乾燥液の液膜を形成する。乾燥液としては、リンス液よりも低い表面張力を有するものが用いられることが好ましく、これにより表面張力による凹凸パターンの倒壊を抑制できる。乾燥液としては、例えばIPA(イソプロピルアルコール)などの有機溶剤があげられる。 The drying liquid is supplied to the surface of the substrate W to wash away the rinsing liquid and form a liquid film of the drying liquid. As the drying liquid, it is preferable to use one having a lower surface tension than the rinsing liquid, thereby suppressing collapse of the uneven pattern due to the surface tension. Examples of the drying liquid include organic solvents such as IPA (isopropyl alcohol).

供給機構50は、チャック30の上方に配置され、チャック30に保持された基板Wの中心に対して上方から処理液Lを供給するノズル51を有する。処理液Lは、回転機構40により回転する基板Wの表面の中心に供給されて、遠心力によって基板Wの表面の径方向全体に広がり、表面全体に液膜を形成する。供給機構50は、複数種類の処理液Lを吐出する場合に、複数種類の処理液L毎にノズル51を用意して各ノズル51から吐出する構成でもよく、同一のノズル51によって各処理液Lを吐出する構成でもよい。 The supply mechanism 50 is arranged above the chuck 30 and has a nozzle 51 for supplying the processing liquid L from above to the center of the substrate W held by the chuck 30 . The processing liquid L is supplied to the center of the surface of the substrate W being rotated by the rotating mechanism 40, spreads over the entire surface of the substrate W in the radial direction by centrifugal force, and forms a liquid film over the entire surface. The supply mechanism 50 may have a configuration in which a nozzle 51 is prepared for each of the plurality of types of processing liquids L, and each of the processing liquids L is discharged from each nozzle 51 when a plurality of types of processing liquids L are to be discharged. may be discharged.

また、供給機構50は、カップ20の外部に設けられ、ノズル51が待機するノズルバス60と、ノズル51を移動させる移動機構61と、を備える。ノズルバス60は、上部が開放された凹状容器であり、ノズル51を収容するとともに、ノズル51から吐出される処理液Lを一時的に受ける受容空間60aを有する。ノズルバス60の受容空間60aの容積は、カップ20や後記の秤量タンク86(図2参照)の容積よりも小さい。 Further, the supply mechanism 50 is provided outside the cup 20 and includes a nozzle bus 60 in which the nozzles 51 stand by and a moving mechanism 61 that moves the nozzles 51 . The nozzle bath 60 is a concave container with an open top, which accommodates the nozzles 51 and has a receiving space 60 a for temporarily receiving the treatment liquid L discharged from the nozzles 51 . The volume of the receiving space 60a of the nozzle bath 60 is smaller than the volume of the cup 20 and a weighing tank 86 (see FIG. 2) which will be described later.

移動機構61は、基板Wに処理液Lを吐出する処理位置(例えば図1に実線で示す位置)と、ノズルバス60に対して処理液Lを吐出する待機位置(例えば図1に一点鎖線で示す位置)と、の間でノズル51を移動させる。移動機構61は、例えば、ノズル51を保持する旋回アーム62と、旋回アーム62を旋回させる旋回機構(不図示)とを有する。旋回機構は、旋回アーム62を昇降させる機構を兼ねてもよい。旋回アーム62は、水平に配置され、その長手方向一端部にてノズル51を保持し、その長手方向他端部から下方に延びる旋回軸を中心に旋回させられる。なお、移動機構61は、旋回アーム62と旋回機構との代わりに、ガイドレールと直動機構とを有する構成でもよい。ガイドレールは水平に配置され、直動機構がガイドレールに沿ってノズル51を移動させる。 The moving mechanism 61 has a processing position (for example, the position indicated by the solid line in FIG. 1) at which the processing liquid L is discharged onto the substrate W, and a waiting position (for example, indicated by the dashed line in FIG. 1) at which the processing liquid L is discharged to the nozzle bath 60. position) and the nozzle 51 is moved. The moving mechanism 61 has, for example, a swivel arm 62 that holds the nozzle 51 and a swivel mechanism (not shown) that swivels the swivel arm 62 . The turning mechanism may also serve as a mechanism for raising and lowering the turning arm 62 . The swivel arm 62 is arranged horizontally, holds the nozzle 51 at one end in the longitudinal direction, and is swiveled about a swivel axis extending downward from the other end in the longitudinal direction. In addition, the moving mechanism 61 may be configured to have a guide rail and a linear motion mechanism instead of the turning arm 62 and the turning mechanism. The guide rails are arranged horizontally, and a direct-acting mechanism moves the nozzle 51 along the guide rails.

図1および図2に示すように、供給機構50は、ノズル51に対して処理液Lを供給する処理液供給ライン52を有する。処理液供給ライン52は、流路を内側に有する配管が複数接続されることで、一連に連続した処理液Lの経路を形成している。処理液供給ライン52の流路の内径は、処理液Lのちぎれ(間欠的な流通)を防止するために、適度に小さな寸法(細径)に設定される。 As shown in FIGS. 1 and 2 , the supply mechanism 50 has a processing liquid supply line 52 that supplies the processing liquid L to the nozzles 51 . The processing liquid supply line 52 forms a continuous path of the processing liquid L by connecting a plurality of pipes having flow paths inside. The inner diameter of the flow path of the processing liquid supply line 52 is set to a moderately small dimension (thin diameter) in order to prevent the processing liquid L from breaking (intermittent flow).

処理液供給ライン52の上流端は、図示しない処理液供給源に接続されている。処理液供給ライン52の下流端は、ノズル51に接続されている。また、供給機構50は、処理液供給ライン52の上流(処理液供給源)側から下流(ノズル51)に向かって順に、流量計54、流量調整バルブ55、供給側バルブ56を有する。 An upstream end of the processing liquid supply line 52 is connected to a processing liquid supply source (not shown). A downstream end of the processing liquid supply line 52 is connected to the nozzle 51 . The supply mechanism 50 also has a flow meter 54 , a flow control valve 55 , and a supply-side valve 56 in order from the upstream (processing liquid supply source) side of the processing liquid supply line 52 toward the downstream (nozzle 51 ) side.

供給機構50は、制御部9による流量調整バルブ55および供給側バルブ56の制御に基づき、処理液供給ライン52を介して、処理液供給源の処理液Lをノズル51に供給する。処理液供給源は、処理液Lを加圧した状態で送り出す機構(例えば、不活性ガスの供給に基づき処理液Lを圧送する機構)を備えているとよい。なお、処理液Lは、図示しないポンプにより圧送されてもよい。また、供給機構50は、処理液供給源よりも上流側もしくは処理液供給源自体に、DIWなどの純水で処理液Lを希釈する希釈構造を備えていてもよい。 The supply mechanism 50 supplies the processing liquid L from the processing liquid supply source to the nozzle 51 via the processing liquid supply line 52 based on the control of the flow control valve 55 and the supply side valve 56 by the control unit 9 . The processing liquid supply source preferably has a mechanism for sending out the processing liquid L in a pressurized state (for example, a mechanism for pumping the processing liquid L based on supply of an inert gas). The treatment liquid L may be pressure-fed by a pump (not shown). Further, the supply mechanism 50 may have a dilution structure for diluting the treatment liquid L with pure water such as DIW, upstream of the treatment liquid supply source or at the treatment liquid supply source itself.

流量計54は、処理液供給ライン52の流路を通過する処理液Lの流量を計測して、計測した流量値(測定結果)を制御部9に送信する。流量計54は、計測対象の処理液Lの種類に応じて適切なものを用いればよく、電磁式、超音波式などの流量計54を適用することができる。なお、図示例では流量調整バルブ55よりも上流側に流量計54を備えるが、流量計54は、供給側バルブ56と流量調整バルブ55の間に設けられてもよく、供給側バルブ56よりも下流側に設けられてもよい。 The flow meter 54 measures the flow rate of the processing liquid L passing through the flow path of the processing liquid supply line 52 and transmits the measured flow rate value (measurement result) to the controller 9 . An appropriate flowmeter 54 may be used according to the type of the treatment liquid L to be measured, and an electromagnetic flowmeter, an ultrasonic flowmeter, or the like can be used. In the illustrated example, the flowmeter 54 is provided on the upstream side of the flow rate adjustment valve 55 , but the flowmeter 54 may be provided between the supply side valve 56 and the flow rate adjustment valve 55 and may It may be provided downstream.

流量調整バルブ55は、処理液供給ライン52の処理液Lの流量を制御することで、ノズル51から基板Wに吐出する処理液Lの供給量を調整する。流量調整バルブ55は、特に限定されないが、電空レギュレータ(不図示)に接続された定圧弁を適用することが好ましい。この場合、制御部9は、流量計54の流量値とその目標値との偏差を算出し、算出した偏差に基づいて、目標値に応じた定圧弁の二次側圧力を達成するための操作圧力を求める。そして、制御部9は、電空レギュレータを制御して、求めた操作圧力をパイロットポートに供給することで、流量計54の流量値が目標値で一定となるように処理液Lの流量を調整する。制御部9は、例えば、75mL/min~300mL/minの範囲の流量で処理液Lを流すように制御する。 The flow rate adjustment valve 55 adjusts the supply amount of the processing liquid L discharged from the nozzle 51 onto the substrate W by controlling the flow rate of the processing liquid L in the processing liquid supply line 52 . Although the flow control valve 55 is not particularly limited, it is preferable to apply a constant pressure valve connected to an electropneumatic regulator (not shown). In this case, the control unit 9 calculates the deviation between the flow rate value of the flow meter 54 and its target value, and performs an operation to achieve the secondary side pressure of the constant pressure valve according to the target value based on the calculated deviation. Seek pressure. Then, the control unit 9 controls the electropneumatic regulator to supply the obtained operating pressure to the pilot port, thereby adjusting the flow rate of the processing liquid L so that the flow rate value of the flow meter 54 is constant at the target value. do. The controller 9 controls the processing liquid L to flow at a flow rate in the range of 75 mL/min to 300 mL/min, for example.

また、供給側バルブ56は、処理液供給ライン52の流路を開放することで処理液Lを流通可能とし、処理液供給ライン52の流路を閉塞することで処理液Lの流通を遮断する。すなわち、処理液供給ライン52は、供給側バルブ56の開放に基づきノズル51から処理液を吐出する。なお、供給側バルブ56と流量調整バルブ55とは、一体化されてもよい。 The supply-side valve 56 allows the flow of the processing liquid L by opening the flow path of the processing liquid supply line 52, and blocks the flow of the processing liquid L by closing the flow path of the processing liquid supply line 52. . That is, the processing liquid supply line 52 discharges the processing liquid from the nozzle 51 based on the opening of the supply side valve 56 . Note that the supply side valve 56 and the flow control valve 55 may be integrated.

以上の供給機構50を有する基板処理装置1は、基板Wを液処理する際に、制御部9により流量計54が検出した流量値に応じて流量調整バルブ55を制御し、処理液Lの流量を調整する。この流量計54は、基板処理装置1の設置時やメンテナンス時に、実際の処理液Lを用いて校正が行われる。これにより、基板処理装置1は、処理液Lの流量を精度よく調整できる。流量計54の流量値の校正において、供給機構50は、処理液供給源から処理液供給ライン52を介してノズル51まで処理液Lを流通させる。このため、供給機構50は、流量計54の流量値を校正する流量計校正システム10の一部と言える。 The substrate processing apparatus 1 having the supply mechanism 50 described above controls the flow rate adjustment valve 55 according to the flow rate value detected by the flow meter 54 by the controller 9 when liquid processing the substrate W, and the flow rate of the processing liquid L is to adjust. The flowmeter 54 is calibrated using the actual processing liquid L when the substrate processing apparatus 1 is installed or maintained. Thereby, the substrate processing apparatus 1 can adjust the flow rate of the processing liquid L with high accuracy. In calibrating the flow rate value of the flow meter 54 , the supply mechanism 50 circulates the processing liquid L from the processing liquid supply source to the nozzle 51 via the processing liquid supply line 52 . Therefore, the supply mechanism 50 can be said to be part of the flowmeter calibration system 10 that calibrates the flow rate value of the flowmeter 54 .

図1に戻り、基板処理装置1の排出機構70は、ノズル51から吐出された後の処理液Lを、基板処理装置1から排出して廃棄または回収する。排出機構70は、カップ20に接続される処理容器側排出部71と、ノズルバス60に接続されるバス側排出部75と、を含む。 Returning to FIG. 1, the discharge mechanism 70 of the substrate processing apparatus 1 discharges the processing liquid L discharged from the nozzle 51 from the substrate processing apparatus 1 and discards or collects it. The discharge mechanism 70 includes a processing vessel side discharge portion 71 connected to the cup 20 and a bus side discharge portion 75 connected to the nozzle bus 60 .

処理容器側排出部71は、カップ20の底部21の鉛直方向下方に突出する排液ポート72および排気ポート73を有する。排液ポート72は、カップ20の外部に設けられた処理液排出ライン77に接続され、基板Wから振り落された処理空間20a内の処理液Lをカップ20の外部に排出する。処理液排出ライン77は、流路を内側に有する配管が複数接続されることで、一連に連続した処理液Lの経路を構成している。一方、排気ポート73は、カップ20の外部に設けられた排気ライン74に接続され、処理空間20a内のガスをカップ20の外部に排出する。 The processing container-side discharge portion 71 has a liquid discharge port 72 and an exhaust port 73 projecting vertically downward from the bottom portion 21 of the cup 20 . The liquid discharge port 72 is connected to a processing liquid discharge line 77 provided outside the cup 20 , and discharges the processing liquid L in the processing space 20 a that has been shaken off the substrate W to the outside of the cup 20 . The treatment liquid discharge line 77 constitutes a continuous path of the treatment liquid L by connecting a plurality of pipes having flow paths inside. On the other hand, the exhaust port 73 is connected to an exhaust line 74 provided outside the cup 20 and exhausts the gas in the processing space 20 a to the outside of the cup 20 .

バス側排出部75は、ノズルバス60の底部の鉛直方向下方に突出する排液ポート76を有する。排液ポート76も、処理液排出ライン77に接続されている。すなわち、処理液排出ライン77は、処理容器側排出部71の排液ポート76に接続される容器側排液ライン77Aと、バス側排出部75の排液ポート76に接続されるバス側排液ライン77Bと、を有する。容器側排液ライン77Aおよびバス側排液ライン77Bは、合流してもよい。 The bath-side discharge portion 75 has a drain port 76 projecting vertically downward from the bottom of the nozzle bath 60 . The drain port 76 is also connected to the processing liquid drain line 77 . That is, the processing liquid discharge line 77 includes a container side discharge line 77A connected to the liquid discharge port 76 of the processing container side discharge section 71 and a bath side liquid discharge line 77A connected to the liquid discharge port 76 of the bus side discharge section 75. and lines 77B. The container-side drain line 77A and the bus-side drain line 77B may merge.

バス側排液ライン77Bは、ノズルバス60の設置位置より鉛直方向下方に設置される。そして、本実施形態に係るバス側排液ライン77Bは、図2に示すように、流量計54の流量値の校正において、ノズル51からノズルバス60に吐出された処理液Lの秤量を行う構造部を有している。すなわち、バス側排出部75は、流量計54の流量値を校正する流量計校正システム10の一部と言える。 The bus-side drainage line 77B is installed below the installation position of the nozzle bath 60 in the vertical direction. As shown in FIG. 2, the bus-side drainage line 77B according to the present embodiment is a structural part that measures the processing liquid L discharged from the nozzle 51 to the nozzle bath 60 in calibrating the flow rate value of the flow meter 54. have. That is, the bus-side discharge unit 75 can be said to be part of the flowmeter calibration system 10 that calibrates the flow rate value of the flowmeter 54 .

バス側排液ライン77Bの流路の内径は、処理液Lのちぎれ(間欠的な流通)を防止するために、適度に小さな寸法(細径)に設定されることが好ましい。バス側排液ライン77Bの流路の内径は、例えば、5mm~20mmの範囲に設定されるとよい。 The inner diameter of the flow path of the bus-side drain line 77B is preferably set to a moderately small dimension (thin diameter) in order to prevent the treatment liquid L from being torn off (intermittent flow). The internal diameter of the flow path of the bus-side drainage line 77B is preferably set within a range of 5 mm to 20 mm, for example.

バス側排液ライン77Bは、ノズルバス60に接続されて処理液Lが流通する上流側から下流側に向かって順に、排液上流バルブ78と、秤量部80と、排液下流バルブ79と、を備える。 The bus-side drainage line 77B is connected to the nozzle bus 60 and has a drainage upstream valve 78, a weighing unit 80, and a drainage downstream valve 79 in order from the upstream side through which the processing liquid L flows to the downstream side. Prepare.

排液上流バルブ78は、バス側排液ライン77Bの上方位置(例えば、排液ポート76の下端)に設置される。排液上流バルブ78は、通常状態で流路を閉塞しており、ノズルバス60からバス側排液ライン77Bへの処理液Lの排出を遮断している。そして、排液上流バルブ78は、制御部9の開指令に基づき流路を開放することで、ノズルバス60からバス側排液ライン77Bに処理液Lを排出させる。また、排液上流バルブ78は、エアが流通し易い内径からなるオリフィスを内部に備えていることが好ましい。これにより、ノズルバス60からバス側排液ライン77Bに処理液Lを排出する際に、バス側排液ライン77B(秤量部80など)からノズルバス60にエアを排出することができ、処理液Lを下流側に安定して流すことできる。 The drainage upstream valve 78 is installed at a position above the bus-side drainage line 77B (for example, the lower end of the drainage port 76). The drainage upstream valve 78 closes the channel in a normal state, and blocks the discharge of the processing liquid L from the nozzle bath 60 to the bus-side drainage line 77B. Then, the drainage upstream valve 78 opens the flow path based on the open command from the control unit 9, thereby discharging the treatment liquid L from the nozzle bus 60 to the bus-side drainage line 77B. Further, it is preferable that the drainage upstream valve 78 is internally provided with an orifice having an inner diameter through which air can easily flow. As a result, when the processing liquid L is discharged from the nozzle bath 60 to the bath-side drainage line 77B, air can be discharged from the bath-side drainage line 77B (the weighing unit 80, etc.) to the nozzle bath 60, and the processing liquid L can be discharged. It can stably flow downstream.

秤量部80は、流量計54の校正時に、バス側排液ライン77Bを流通する処理液Lを秤量する部位である。秤量部80は、排液上流バルブ78と排液下流バルブ79の間で、バス側排液ライン77Bを2つの経路に分岐させている。具体的には、秤量部80は、分岐部81と、分岐部81から分岐した第1ライン82および第2ライン83と、第1ライン82と第2ライン83が合流した接続部84と、接続部84から延在する合流ライン85と、を含む。また、第1ライン82は、処理液Lを一時的に貯留可能な秤量タンク86を途中位置に有する。第2ライン83は、処理液Lの液面を検出する液位センサ87を途中位置に2つ備える。 The weighing unit 80 is a portion that weighs the processing liquid L flowing through the bus-side drain line 77B when the flow meter 54 is calibrated. The weighing unit 80 branches the bus-side drain line 77B into two paths between the drain upstream valve 78 and the drain downstream valve 79 . Specifically, the weighing unit 80 includes a branch portion 81, a first line 82 and a second line 83 branched from the branch portion 81, a connection portion 84 where the first line 82 and the second line 83 join, and a connection and a confluence line 85 extending from the portion 84 . Further, the first line 82 has a weighing tank 86 in which the processing liquid L can be temporarily stored at an intermediate position. The second line 83 has two liquid level sensors 87 for detecting the liquid level of the treatment liquid L at intermediate positions.

分岐部81は、当該分岐部81よりも上流側(1次側)のバス側排液ライン77Bと、第1ライン82と、第2ライン83とを接続している。1次側のバス側排液ライン77Bの流路、第1ライン82の流路、第2ライン83の流路は、分岐部81内において相互に連通し合っている。 The branch portion 81 connects the bus-side drainage line 77B on the upstream side (primary side) of the branch portion 81, the first line 82, and the second line 83. As shown in FIG. The flow path of the bus-side drainage line 77B on the primary side, the flow path of the first line 82, and the flow path of the second line 83 communicate with each other within the branch portion 81. As shown in FIG.

1次側のバス側排液ライン77Bは水平方向に延在しており、第1ライン82の上端および第2ライン83の上端は、略同じ高さ位置から分岐し、かつ鉛直方向に沿って同じ高さ位置に配置される。これにより、流量計校正システム10は、第1ライン82および第2ライン83に流入した処理液Lに対して気圧を揃えることが可能となり、第1ライン82と第2ライン83における処理液の液面のずれを抑制できる。 The primary-side bus-side drainage line 77B extends horizontally, and the upper ends of the first line 82 and the upper end of the second line 83 branch from substantially the same height and extend vertically. placed at the same height. As a result, the flowmeter calibration system 10 can equalize the pressure of the processing liquid L flowing into the first line 82 and the second line 83, and the processing liquid in the first line 82 and the second line 83 can be adjusted. It is possible to suppress the misalignment of the surface.

また、分岐部81の内部には、第1ライン82の接続空間に対して第2ライン83の接続空間が高くなる段差81aが形成されている。このため、1次側のバス側排液ライン77Bから分岐部81を経由して処理液Lが第2ライン83に向かうことが規制され、秤量タンク86を流通した処理液Lのみが下側から流入するようになる。分岐部81または第2ライン83の上部には、大気開放されていることで、気体を外部に排出可能なベント部(不図示)が設けられてもよい。 A step 81 a is formed inside the branch portion 81 so that the connection space of the second line 83 is higher than the connection space of the first line 82 . Therefore, the treatment liquid L is restricted from flowing from the bus-side drainage line 77B on the primary side to the second line 83 via the branch 81, and only the treatment liquid L that has flowed through the weighing tank 86 flows from the lower side. It starts to flow in. A vent portion (not shown) that can discharge gas to the outside by being open to the atmosphere may be provided in the upper portion of the branch portion 81 or the second line 83 .

第1ライン82に設けられた秤量タンク86は、底部861および天井部862を閉塞した筒状(円筒状または角筒状)に形成され、貯留空間86aを内側に有する。秤量タンク86は、その軸心が鉛直方向に沿うように、基板処理装置1の適宜の構造に固定される。また、貯留空間86aを囲う秤量タンク86の内周面は、鉛直方向に沿って一定の内径(断面積)に設定されている。したがって、秤量タンク86は、鉛直方向に沿って貯留空間86aの容積が一定の割合で変化するように形成されている。 A weighing tank 86 provided in the first line 82 is formed in a tubular shape (cylindrical or rectangular tubular shape) with a bottom portion 861 and a ceiling portion 862 closed, and has a storage space 86a inside. The weighing tank 86 is fixed to an appropriate structure of the substrate processing apparatus 1 so that its axis extends in the vertical direction. The inner peripheral surface of the weighing tank 86 surrounding the storage space 86a is set to have a constant inner diameter (cross-sectional area) along the vertical direction. Therefore, the weighing tank 86 is formed such that the volume of the storage space 86a changes at a constant rate along the vertical direction.

この秤量タンク86は、成形精度が高く、また温度変化に伴う変形を抑制できる、金属材料(例えば、ステンレス)または石英により形成されることが好ましい。これにより、秤量タンク86の加工誤差および環境誤差によって生じる測定誤差が可及的に小さくなる。あるいは、秤量タンク86は、樹脂材料により形成されてもよい。この場合、制御部9は、流量計54の流量値の校正時に、樹脂タンクが温度に応じて伸びた分の温度補正係数を積算して、貯留容積を補正すればよい。 This weighing tank 86 is preferably made of a metal material (for example, stainless steel) or quartz, which has high molding accuracy and can suppress deformation due to temperature change. This minimizes measurement errors caused by machining errors of the weighing tank 86 and environmental errors. Alternatively, the weighing tank 86 may be made of a resin material. In this case, when calibrating the flow rate value of the flow meter 54, the control unit 9 may correct the storage volume by accumulating the temperature correction coefficient for the expansion of the resin tank according to the temperature.

また、秤量タンク86の天井部862には、貯留空間86aに処理液Lを流入させる第1ライン82の流入配管821が接続される一方で、秤量タンク86の底部861には貯留空間86aの処理液Lを流出させる第1ライン82の流出配管822が接続される。流入配管821および流出配管822は、秤量タンク86の軸心に配置されている。 The ceiling portion 862 of the weighing tank 86 is connected to the inflow pipe 821 of the first line 82 for inflowing the processing liquid L into the storage space 86a. An outflow pipe 822 of the first line 82 for outflowing the liquid L is connected. The inflow pipe 821 and the outflow pipe 822 are arranged in the axial center of the weighing tank 86 .

流入配管821は、天井部862から貯留空間86aを通って底部861の近傍位置まで延在しており、その延出端(下端)に処理液Lを吐出する吐出口821aを有する。流入配管821の吐出口821aから貯留空間86aに吐出された処理液Lは、供給時における液はねを抑制することができる。また、底部861付近まで延在する流入配管821は、処理液Lの液面が揺れないようにする隔壁として機能する。 The inflow pipe 821 extends from the ceiling portion 862 through the storage space 86a to a position near the bottom portion 861, and has a discharge port 821a for discharging the processing liquid L at its extending end (lower end). The processing liquid L discharged from the discharge port 821a of the inflow pipe 821 into the storage space 86a can be prevented from splashing during supply. Also, the inflow pipe 821 extending to the vicinity of the bottom portion 861 functions as a partition that prevents the liquid surface of the processing liquid L from shaking.

流出配管822は、秤量タンク86の貯留空間86aに連通するとともに、秤量タンク86の底部861から延在して接続部84に接続されている。接続部84は、第1ライン82、第2ライン83および合流ライン85を接続する3ポートコネクタを適用し得る。 The outflow pipe 822 communicates with the storage space 86 a of the weighing tank 86 , extends from the bottom portion 861 of the weighing tank 86 and is connected to the connection portion 84 . The connection part 84 can apply a 3-port connector that connects the first line 82 , the second line 83 and the junction line 85 .

一方、秤量部80の第2ライン83は、分岐部81から接続部84まで一連に延在し、秤量タンク86の内径よりも小さな内径かつ透明性を有するチューブにより構成されている。第2ライン83は、形状の変形を抑制可能な剛性を有していることが好ましい。例えば、第2ライン83は、石英により形成されるとよい。 On the other hand, the second line 83 of the weighing section 80 extends continuously from the branching section 81 to the connecting section 84 and is composed of a transparent tube having an inner diameter smaller than the inner diameter of the weighing tank 86 . It is preferable that the second line 83 have a rigidity capable of suppressing deformation of the shape. For example, the second line 83 may be made of quartz.

第2ライン83は、秤量タンク86に対して水平方向に隣接するように基板処理装置1の適宜の構造に固定される。第2ライン83において少なくとも秤量タンク86と同じ高さ位置(以下、秤量領域83Xという)は、鉛直方向に沿って直線状に延在している。第2ライン83は、排液下流バルブ79の閉塞により処理液Lがせき止められることで、下方(下流)側から液位が増加していく。すなわち、流量計校正システム10は、流量計54の流量値の校正において、第1ライン82の秤量タンク86と第2ライン83の両方に、処理液Lを貯留していく。 The second line 83 is fixed to an appropriate structure of the substrate processing apparatus 1 so as to be horizontally adjacent to the weighing tank 86 . At least the same height position as the weighing tank 86 in the second line 83 (hereinafter referred to as a weighing area 83X) extends linearly along the vertical direction. The liquid level of the second line 83 increases from the lower (downstream) side as the processing liquid L is dammed up by the blockage of the drainage downstream valve 79 . That is, the flowmeter calibration system 10 accumulates the processing liquid L in both the weighing tank 86 of the first line 82 and the second line 83 in calibrating the flow rate value of the flowmeter 54 .

第2ライン83において秤量領域83Xから接続部84までの範囲(以下、下流領域83Yという)は、可及的に小さい圧損を有する。例えば、秤量部80は、流出配管822の内径(流路断面積)および延在長さ、下流領域83Yの内径(流路断面積)および延在長さを調整することで、処理液Lの圧損を可及的に小さくすることが可能となる。処理液Lの圧損が小さいほど、第1ライン82の液面と、第2ライン83の液面とのずれが抑制される。 A range from the weighing region 83X to the connecting portion 84 (hereinafter referred to as a downstream region 83Y) in the second line 83 has as little pressure loss as possible. For example, the weighing unit 80 adjusts the inner diameter (cross-sectional area of flow path) and extension length of the outflow pipe 822 and the inner diameter (cross-sectional area of flow path) and extension length of the downstream region 83Y. It is possible to reduce the pressure loss as much as possible. As the pressure loss of the treatment liquid L is smaller, the deviation between the liquid level of the first line 82 and the liquid level of the second line 83 is suppressed.

そして、第2ライン83は、秤量領域83Xの鉛直方向の異なる位置に2つの液位センサ87を有する。以下、2つの液位センサ87について、鉛直方向下方に位置するものを第1液位センサ871といい、第1液位センサ871よりも鉛直方向上方に位置するものを第2液位センサ872という。 The second line 83 has two liquid level sensors 87 at different positions in the vertical direction of the weighing area 83X. Hereinafter, of the two liquid level sensors 87, the one positioned vertically below is referred to as a first liquid level sensor 871, and the one positioned vertically above the first liquid level sensor 871 is referred to as a second liquid level sensor 872. .

第1液位センサ871は、秤量タンク86の底部861よりも上方に位置して、第2ライン83に溜まる処理液Lの液面を検出する。第2液位センサ872は、第1液位センサ871よりも上方に所定間隔離れ、かつ秤量タンク86の天井部862よりも下方に位置して、第2ライン83に溜まる処理液Lの液面を検出する。第1液位センサ871および第2液位センサ872は、例えば、処理液Lの有りと処理液Lの無しとを光学的に検知可能な光学センサを適用することができる。 The first liquid level sensor 871 is located above the bottom 861 of the weighing tank 86 and detects the liquid level of the processing liquid L accumulated in the second line 83 . The second liquid level sensor 872 is positioned above the first liquid level sensor 871 by a predetermined distance and below the ceiling portion 862 of the weighing tank 86 to detect the liquid level of the processing liquid L accumulated in the second line 83. to detect For the first liquid level sensor 871 and the second liquid level sensor 872, for example, an optical sensor capable of optically detecting the presence or absence of the processing liquid L can be applied.

なお、第1液位センサ871および第2液位センサ872は、光学センサに限定されず、種々のセンサを適用し得る。他の液位センサ87としては、例えば、超音波式センサ、マイクロ波式センサ、または処理液Lのバブリングと圧力をモニタリングする圧力式レベルセンサ、電極やフロートなどの検出子が処理液Lに接触する接液式のセンサなどがあげられる。 Note that the first liquid level sensor 871 and the second liquid level sensor 872 are not limited to optical sensors, and various sensors can be applied. Other liquid level sensors 87 include, for example, an ultrasonic sensor, a microwave sensor, a pressure level sensor that monitors bubbling and pressure of the processing liquid L, and a detector such as an electrode or a float that contacts the processing liquid L. A wetted type sensor that

排液下流バルブ79は、バス側排液ライン77Bの合流ライン85において接続部84寄りに設置される。排液下流バルブ79は、通常状態で流路を開放しており、バス側排液ライン77Bの下流側に向かって処理液Lを排出させる。そして、排液下流バルブ79は、制御部9の閉指令に基づき流路を閉塞することで、バス側排液ライン77Bの下流側への処理液Lの排出を遮断する。流量計54を校正するために秤量タンク86に処理液Lを貯留する場合には、制御部9は、この排液下流バルブ79を閉塞することで、第1ライン82および第2ライン83の両方に処理液Lを貯留していく。 The drain downstream valve 79 is installed near the connecting portion 84 in the confluence line 85 of the bus-side drain line 77B. The drainage downstream valve 79 opens the flow path in a normal state, and discharges the processing liquid L toward the downstream side of the bus-side drainage line 77B. Then, the drainage downstream valve 79 closes the flow path based on the closing command from the control unit 9, thereby blocking the discharge of the treatment liquid L to the downstream side of the bus-side drainage line 77B. When the processing liquid L is stored in the weighing tank 86 to calibrate the flow meter 54, the control unit 9 closes the drainage downstream valve 79, so that both the first line 82 and the second line 83 are closed. The processing liquid L is stored in .

また、流量計校正システム10は、第2ライン83および秤量タンク86の温度を調整可能な温度調整機構88を備えていてもよい。温度調整機構88は、特に限定されず、例えば、処理液を加温するヒータや処理液を冷却する冷却器などを適宜組み合わせて構成することができる。温度調整機構88は、制御部9の制御下に温度が調整され、秤量タンク86内の処理液Lの温度を、基板Wの液処理時の温度と同じ温度とする。これにより、流量計54の流量値の校正において、処理液の温度誤差を可及的に低減することが可能となる。例えば、温度調整機構88としてヒータを適用する場合、秤量タンク86の外側に巻き付けられるリボンヒータを用いることができる。 The flowmeter calibration system 10 may also include a temperature adjustment mechanism 88 capable of adjusting the temperatures of the second line 83 and the weighing tank 86 . The temperature adjustment mechanism 88 is not particularly limited, and can be configured by, for example, appropriately combining a heater that heats the processing liquid, a cooler that cools the processing liquid, and the like. The temperature adjustment mechanism 88 adjusts the temperature under the control of the control unit 9, and sets the temperature of the processing liquid L in the weighing tank 86 to the same temperature as the substrate W during the liquid processing. This makes it possible to reduce the temperature error of the treatment liquid as much as possible in calibrating the flow rate value of the flow meter 54 . For example, when a heater is used as the temperature adjustment mechanism 88, a ribbon heater wrapped around the outside of the weighing tank 86 can be used.

また、流量計校正システム10は、流量計54の流量値の校正時に、排液ポート76にノズル51を直接接触させて接触部分をシールすることで、ノズルバス60の受容空間60aに処理液Lを溜めずにバス側排液ライン77Bに処理液Lを流す構成でもよい。これにより、ノズルバス60からバス側排液ライン77Bに向かう処理液Lのちぎれを防止することができる。 In addition, the flowmeter calibration system 10 causes the nozzle 51 to directly contact the drain port 76 and seals the contact portion when calibrating the flow rate value of the flowmeter 54 , so that the processing liquid L is supplied to the receiving space 60 a of the nozzle bath 60 . The processing liquid L may flow through the bus-side drainage line 77B without being stored. As a result, it is possible to prevent the treatment liquid L from being torn off from the nozzle bath 60 toward the bath-side drainage line 77B.

この場合、バス側排出部75は、秤量タンク86などに溜まっているエアをバス側排液ライン77Bから排出可能なベント構造65を備えていることが好ましい。例えば、ベント構造65は、第2ライン83の上端部(秤量領域83Xよりも上方)から分岐し、かつ排液下流バルブ79よりも下流側の合流ライン85(バス側排液ライン77Bの下流側)に接続されるベントライン65aを備える。また、ベントライン65aの途中位置には、当該ベントライン65aを開閉するベント用バルブ65bが設けられている。 In this case, it is preferable that the bus-side discharge section 75 has a vent structure 65 capable of discharging the air accumulated in the weighing tank 86 or the like from the bus-side drain line 77B. For example, the vent structure 65 branches from the upper end of the second line 83 (above the weighing region 83X) and is a confluence line 85 downstream of the drainage downstream valve 79 (downstream of the bus side drainage line 77B). ) is provided with a vent line 65a connected to . In addition, a vent valve 65b for opening and closing the vent line 65a is provided in the middle of the vent line 65a.

流量計校正システム10は、秤量部80において秤量を行う場合に、排液下流バルブ79を閉塞するとともに、排液上流バルブ78およびベント用バルブ65bを開放する。これにより、第2ライン83や秤量タンク86に溜まっているエアを安定的に抜くことが可能となる。なお、ベント構造65は、ノズル51を排液ポート76に直接接触させない構成に設けられてもよいことは勿論である。 The flowmeter calibration system 10 closes the drainage downstream valve 79 and opens the drainage upstream valve 78 and the vent valve 65b when weighing in the weighing unit 80 . As a result, it becomes possible to stably remove the air accumulated in the second line 83 and the weighing tank 86 . Of course, the vent structure 65 may be provided in a configuration in which the nozzle 51 does not come into direct contact with the liquid discharge port 76 .

図1に戻り、制御部9は、基板処理装置1全体を制御するコントローラ本体91と、コントローラ本体91に接続されるユーザインタフェース94と、を有する。コントローラ本体91は、1以上のプロセッサ92、メモリ93、図示しない入出力インタフェースおよび電子回路を有するコンピュータを適用し得る。プロセッサ92は、CPU、ASIC、FPGA、複数のディスクリート半導体からなる回路などのうち1つまたは複数を組み合わせたものである。メモリ93は、揮発性メモリ、不揮発性メモリ(例えば、コンパクトディスク、DVD、ハードディスク、フラッシュメモリなど)を含み、基板処理装置1を動作させるプログラム、プロセス条件などのレシピを記憶している。 Returning to FIG. 1 , the control unit 9 has a controller main body 91 that controls the entire substrate processing apparatus 1 and a user interface 94 connected to the controller main body 91 . A computer having one or more processors 92 , memory 93 , input/output interfaces and electronic circuits (not shown) can be applied to the controller body 91 . The processor 92 is a combination of one or more of a CPU, an ASIC, an FPGA, circuits made up of multiple discrete semiconductors, and the like. The memory 93 includes volatile memory and nonvolatile memory (for example, compact disc, DVD, hard disk, flash memory, etc.), and stores recipes such as programs for operating the substrate processing apparatus 1 and process conditions.

コントローラ本体91は、メモリ93に記憶されたプログラムをプロセッサ92に実行させることにより、基板Wを液処理する際に、回転機構40、供給機構50、移動機構61、排出機構70などの各構成の動作を制御する。また、コントローラ本体91は、プログラムの実行に基づき、流量計54の流量値を校正する流量計校正方法を実施する。すなわち、制御部9は、流量計校正システム10の一部と言える。 The controller main body 91 causes the processor 92 to execute a program stored in the memory 93, thereby controlling each component such as the rotation mechanism 40, the supply mechanism 50, the movement mechanism 61, and the discharge mechanism 70 when the substrate W is subjected to liquid processing. control behavior. Further, the controller body 91 implements a flowmeter calibration method for calibrating the flow rate value of the flowmeter 54 based on the execution of the program. That is, the controller 9 can be said to be part of the flowmeter calibration system 10 .

ユーザインタフェース94は、ユーザが基板処理装置1を管理するためにコマンドの入力操作などを行うキーボード、基板処理装置1の稼働状況を可視化して表示するディスプレイ、または表示および入力の両機能の有するタッチパネルなどを適用し得る。 The user interface 94 includes a keyboard for a user to input commands for managing the substrate processing apparatus 1, a display for visualizing and displaying the operating status of the substrate processing apparatus 1, or a touch panel having both display and input functions. etc. can be applied.

本実施形態に係る基板処理装置1は、基本的には以上のように構成され、以下、その動作(流量計校正方法)について説明する。 The substrate processing apparatus 1 according to this embodiment is basically configured as described above, and its operation (flowmeter calibration method) will be described below.

流量計54の流量値の校正において、基板処理装置1の制御部9は、当該基板処理装置1の設置時またはメンテナンス時と、基板処理装置1を日常的に運用する際とで、異なる処理を実施する。以下、基板処理装置1の設置時またはメンテナンス時に行う処理を基準校正モードといい、基板処理装置1を日常的に運用する際に行う処理を健全性チェックモードという。 In calibrating the flow rate value of the flow meter 54, the control unit 9 of the substrate processing apparatus 1 performs different processes during installation or maintenance of the substrate processing apparatus 1 and during daily operation of the substrate processing apparatus 1. implement. Hereinafter, the processing performed during installation or maintenance of the substrate processing apparatus 1 will be referred to as reference calibration mode, and the processing performed during daily operation of the substrate processing apparatus 1 will be referred to as soundness check mode.

制御部9は、例えば、メモリ93内に設けられた流量計校正方法用のステータスレジスタ(不図示)を識別することで、基準校正モードおよび健全性チェックモードを選択する。ステータスレジスタは、基板処理装置1の初期設定やメンテナンスにおいて、ユーザインタフェース94を介した作業者(ユーザ)の実行操作により、基準校正モード用のフラグを立ち上げる。制御部9は、このフラグの立ち上がりを認識すると、適宜のタイミングで基準校正モードを開始する。また、ステータスレジスタは、基板処理装置1の通常運用中において起動を開始した後に自動的に、健全性チェックモード用のフラグを立ち上げる。制御部9は、このフラグの立ち上がりを認識すると、適宜のタイミングで健全性チェックモードを開始する。なお、健全性チェックモードも、ユーザの操作に基づき実行してよい。 The control unit 9 selects the reference calibration mode and the soundness check mode by, for example, identifying a status register (not shown) for the flowmeter calibration method provided in the memory 93 . The status register raises a flag for the reference calibration mode by an operator's (user's) execution operation via the user interface 94 in the initial setting and maintenance of the substrate processing apparatus 1 . When the control unit 9 recognizes the rise of this flag, it starts the reference calibration mode at an appropriate timing. In addition, the status register automatically raises the flag for the soundness check mode after starting up during normal operation of the substrate processing apparatus 1 . When the control unit 9 recognizes that the flag has risen, it starts the soundness check mode at an appropriate timing. Note that the soundness check mode may also be executed based on the user's operation.

図3に示すように、制御部9は、流量計54の校正方法を開始すると、まず基準校正モードを実施するか否か(基準校正モードまたは健全性チェックモードの実施)を判定する(ステップS1)。基準校正モードを実施する場合(ステップS1:YES)、制御部9は、ステップS2に進む。 As shown in FIG. 3, when the flowmeter 54 calibration method is started, the control unit 9 first determines whether or not to implement the reference calibration mode (implementation of the reference calibration mode or the soundness check mode) (step S1 ). If the reference calibration mode is to be performed (step S1: YES), the controller 9 proceeds to step S2.

ステップS2において、制御部9は、ノズルバス60にノズル51を待機した状態とし、処理液供給ライン52、ノズル51、ノズルバス60、バス側排液ライン77Bを介して処理液Lを秤量部80に導き、秤量部80に対する処理液Lの貯留を開始する。この際例えば、制御部9は、供給機構50の流量調整バルブ55を全開状態として、処理液供給ライン52の処理液をバス側排液ライン77Bに導く。 In step S2, the control unit 9 puts the nozzle 51 on standby in the nozzle bus 60, and guides the processing liquid L to the weighing unit 80 through the processing liquid supply line 52, the nozzle 51, the nozzle bus 60, and the bus-side drainage line 77B. , storage of the treatment liquid L in the weighing unit 80 is started. At this time, for example, the controller 9 fully opens the flow control valve 55 of the supply mechanism 50 to guide the processing liquid in the processing liquid supply line 52 to the bus-side drainage line 77B.

またこの際、制御部9は、図4の時点t1に示すように、先に排液上流バルブ78を閉状態から開状態に切り替えて、第1ライン82、第2ライン83および合流ライン85に処理液Lを通過させることで、秤量部80に残る残留物(気体、液体)を排出する。そして時点t1から所定時間経過した図4の時点t2において、排液下流バルブ79を開状態から閉状態に切り替える。これにより、排液下流バルブ79よりも上流側の合流ライン85に処理液Lが貯留され始め、さらに処理液Lが接続部84を超えると、第1ライン82の流出配管822および第2ライン83の下流領域83Yに処理液Lが貯留されていく。 At this time, the control unit 9 first switches the drain upstream valve 78 from the closed state to the open state as shown at time t1 in FIG. By allowing the treatment liquid L to pass through, the residue (gas, liquid) remaining in the weighing unit 80 is discharged. Then, at time t2 in FIG. 4 after a predetermined time has elapsed from time t1, the drain downstream valve 79 is switched from the open state to the closed state. As a result, the processing liquid L begins to be stored in the confluence line 85 on the upstream side of the drainage downstream valve 79, and when the processing liquid L further exceeds the connection portion 84, the outflow pipe 822 of the first line 82 and the second line 83 The processing liquid L is stored in the downstream region 83Y of the .

その結果、秤量タンク86および第2ライン83の鉛直方向下方から処理液Lが徐々に貯留されるようになる。上記したように、秤量部80は、流出配管822と第2ライン83の下流領域83Yにおける処理液Lの圧損が可及的に小さくなっており、また処理液Lにかかる気圧が略同一となっている。そのため、秤量タンク86の処理液Lの液面と、第2ライン83の秤量領域83Xの液面とは、同じ高さで上昇していく。さらに、分岐部81の内部が段差81aとなっていることで、分岐部81からの第2ライン83への処理液Lの流入が回避され、液位センサ87の誤検知を防ぐことができる。 As a result, the processing liquid L gradually accumulates from below the weighing tank 86 and the second line 83 in the vertical direction. As described above, in the weighing unit 80, the pressure loss of the processing liquid L in the outflow pipe 822 and the downstream region 83Y of the second line 83 is minimized, and the pressure applied to the processing liquid L is substantially the same. ing. Therefore, the liquid level of the treatment liquid L in the weighing tank 86 and the liquid level of the weighing area 83X of the second line 83 rise at the same height. Furthermore, since the inside of the branching portion 81 has a step 81a, the processing liquid L is prevented from flowing into the second line 83 from the branching portion 81, and erroneous detection by the liquid level sensor 87 can be prevented.

排液下流バルブ79の閉塞後、秤量タンク86および第2ライン83の秤量領域83Xに処理液Lが溜まっていくと、図4の時点t3において、第2ライン83の第1液位センサ871が処理液Lの液面を検出する。制御部9は、第1液位センサ871による処理液Lの液面検出を受信することに基づき、供給機構50の流量計54による流量値の計測を開始する(図3のステップS3も参照)。 After the drainage downstream valve 79 is closed, when the processing liquid L accumulates in the weighing tank 86 and the weighing region 83X of the second line 83, at time t3 in FIG. The liquid level of the processing liquid L is detected. The control unit 9 starts measuring the flow rate value by the flow meter 54 of the supply mechanism 50 based on the detection of the liquid level of the treatment liquid L by the first liquid level sensor 871 (see also step S3 in FIG. 3). .

その後、秤量タンク86および第2ライン83の秤量領域83Xに処理液Lが溜まり続けることで、処理液Lの液面が上昇していく。この過程でも、制御部9は流量計54による処理液Lの流量値の累積を継続する。図4の時点t4において、第2ライン83の第2液位センサ872が処理液Lの液面を検出する。制御部9は、第2液位センサ872による処理液Lの液面検出を受信することで、流量計54の流量値の計測を停止する(図3のステップS4も参照)。またこの際、制御部9は、供給側バルブ56および排液上流バルブ78を閉塞することで、秤量部80への処理液Lの流入を禁止する。なお、制御部9は、第2液位センサ872の液面検出後に、排液上流バルブ78を所定期間開放し続けることで秤量部80への処理液Lの貯留を継続し、所定期間後に排液上流バルブ78を閉塞してもよい。 After that, the processing liquid L continues to accumulate in the weighing tank 86 and the weighing region 83X of the second line 83, so that the liquid level of the processing liquid L rises. In this process as well, the controller 9 continues to accumulate the flow rate value of the treatment liquid L by the flow meter 54 . At time t4 in FIG. 4, the second liquid level sensor 872 of the second line 83 detects the liquid level of the treatment liquid L. As shown in FIG. The control unit 9 stops measuring the flow rate value of the flow meter 54 by receiving detection of the liquid level of the treatment liquid L by the second liquid level sensor 872 (see also step S4 in FIG. 3). At this time, the control unit 9 also closes the supply side valve 56 and the drainage upstream valve 78 to prohibit the processing liquid L from flowing into the weighing unit 80 . After the second liquid level sensor 872 detects the liquid level, the control unit 9 continues to store the processing liquid L in the weighing unit 80 by keeping the drainage upstream valve 78 open for a predetermined period of time, and drains the processing liquid L after the predetermined period of time. The liquid upstream valve 78 may be closed.

そして、図3のステップS5において、制御部9は、時点t3~時点t4(秤量タンク86で設定された貯留容積となる期間)における流量計54の校正用流量積分値を算出し、さらに校正用積分値に基づき補正係数を算出する。すなわち、図5に示すように、第1液位センサ871による第1検出タイミングと第2液位センサ872による第2検出タイミングの積算期間にわたって累積した流量値は、秤量タンク86および第2ライン83で上昇した処理液Lの貯留容積(貯留量)に一致する。また、時点t3~時点t4における流量値の累積は、積算期間と流量計54の流量値とを積分した流量積分値にあたる。そして第1液位センサ871と第2液位センサ872間の秤量タンク86および第2ライン83(秤量領域83X)における処理液Lの貯留容積は、秤量タンク86の容積および第2ライン83の容積に応じて予め規定される。したがって、校正用流量積分値をAとし、貯留容積をBとした場合、以下の式(1)によって流量計54の流量値の補正係数Cを得ることができる。
C=B/A …(1)
Then, in step S5 of FIG. 3, the control unit 9 calculates the flow integral value for calibration of the flow meter 54 from time t3 to time t4 (the period during which the storage volume set in the weighing tank 86 is reached), A correction coefficient is calculated based on the integrated value. That is, as shown in FIG. 5, the flow rate value accumulated over the integration period of the first detection timing by the first liquid level sensor 871 and the second detection timing by the second liquid level sensor 872 is corresponds to the storage volume (storage amount) of the processing liquid L that has increased at . Further, the accumulation of the flow rate values from time t3 to time t4 corresponds to the flow rate integral value obtained by integrating the integration period and the flow rate value of the flow meter 54. FIG. The storage volume of the treatment liquid L in the weighing tank 86 and the second line 83 (weighing area 83X) between the first liquid level sensor 871 and the second liquid level sensor 872 is the volume of the weighing tank 86 and the volume of the second line 83. is predefined according to Therefore, when the calibration flow rate integrated value is A and the storage volume is B, the correction coefficient C for the flow rate value of the flow meter 54 can be obtained by the following equation (1).
C=B/A (1)

なお本実施形態において、秤量部80の貯留容積Bは、秤量タンク86の容積と第2ライン83の容積とを加算して規定されたものである。ただし、第1液位センサ871と第2液位センサ872間の第2ライン83の容積が秤量タンク86の容積よりも充分に小さい場合には、秤量部80の貯留容積Bとして秤量タンク86の容積のみを用いてもよい。 In this embodiment, the storage volume B of the weighing unit 80 is defined by adding the volume of the weighing tank 86 and the volume of the second line 83 . However, when the volume of the second line 83 between the first liquid level sensor 871 and the second liquid level sensor 872 is sufficiently smaller than the volume of the weighing tank 86, the storage volume B of the weighing unit 80 is set to the capacity of the weighing tank 86. Only volume may be used.

また、処理液Lの種類によっては、秤量タンク86内において揮発が生じる場合がある。図5(a)中では、揮発量Dを点線で示している。制御部9は、揮発量Dと校正用流量積分値Aと貯留容積Bに基づいて補正係数Cを得ることが好ましい。例えば、以下の式(2)によって補正係数Cを得ることができる。
C=(B+D)/A …(2)
Further, volatilization may occur in the weighing tank 86 depending on the type of the treatment liquid L. In FIG. 5A, the volatilization amount D is indicated by a dotted line. The control unit 9 preferably obtains the correction coefficient C based on the volatilization amount D, the calibration flow integral value A, and the storage volume B. For example, the correction coefficient C can be obtained by the following equation (2).
C=(B+D)/A (2)

制御部9は、揮発量Dを求めるために、処理液Lの種類に応じた揮発量Dのマップ情報MIを予め保有する。例えば、揮発量Dのマップ情報MIは、処理液Lの温度と、単位時間あたりの揮発量との関係を示す表や関数であるとよい。図5(b)では、温度と単位時間あたりの揮発量の関係を示すグラフを例示している。 In order to obtain the volatilization amount D, the control unit 9 prestores map information MI of the volatilization amount D corresponding to the type of the treatment liquid L. FIG. For example, the map information MI of the volatilization amount D may be a table or function indicating the relationship between the temperature of the treatment liquid L and the volatilization amount per unit time. FIG. 5B illustrates a graph showing the relationship between the temperature and the volatilization amount per unit time.

制御部9は、校正時の温度、および第1液位センサ871による第1検出タイミングから第2液位センサ872による第2検出タイミングまでの期間を計測する。そして、制御部9は、校正時の温度に基づき単位時間あたりの揮発量を、マップ情報MIから抽出し、抽出した単位時間あたりの揮発量と期間を積算することで、校正時に生じた揮発量を精度よく算出することができる。 The controller 9 measures the temperature at the time of calibration and the period from the first detection timing by the first liquid level sensor 871 to the second detection timing by the second liquid level sensor 872 . Then, the control unit 9 extracts the amount of volatilization per unit time based on the temperature at the time of calibration from the map information MI, and integrates the extracted amount of volatilization per unit time with the period to obtain the amount of volatilization generated at the time of calibration. can be calculated with high accuracy.

図3に戻り、制御部9は、流量計54の補正係数Cを算出すると、当該補正係数Cをメモリ93に記憶して、基準校正モードを終了する。メモリ93に記憶された補正係数Cは、基板Wの液処理において流量計54が処理液Lの流量値を計測した際に使用される。つまり、制御部9は、受信した流量値に補正係数Cを積算して流量値を補正することで、処理液Lの正確な流量値を得る。そして、制御部9は、この流量値に基づき流量調整バルブ55を制御することで、基板Wに対する処理液Lの供給量を精度よく調整できる。 Returning to FIG. 3, after calculating the correction coefficient C of the flowmeter 54, the control unit 9 stores the correction coefficient C in the memory 93 and terminates the reference calibration mode. The correction coefficient C stored in the memory 93 is used when the flow meter 54 measures the flow rate value of the processing liquid L in liquid processing of the substrate W. FIG. That is, the control unit 9 obtains an accurate flow rate value of the treatment liquid L by correcting the flow rate value by integrating the correction coefficient C with the received flow rate value. Then, the control unit 9 can accurately adjust the supply amount of the processing liquid L to the substrate W by controlling the flow rate adjustment valve 55 based on this flow rate value.

また、制御部9は、健全性チェックモードを実施する場合(図3のステップS1:NO)に、ステップS6に進む。ステップS6~S8は、上記のステップS2~S4の処理フローと同じ処理を行う。よって、具体的な説明は省略する。ステップS8により、秤量部80による秤量(第2液位センサ872による処理液Lの検出)が終了すると、ステップS9に進む。 If the control unit 9 executes the soundness check mode (step S1 in FIG. 3: NO), the process proceeds to step S6. Steps S6 to S8 perform the same processing as the processing flow of steps S2 to S4 described above. Therefore, detailed description is omitted. When the weighing by the weighing unit 80 (detection of the treatment liquid L by the second liquid level sensor 872) is completed in step S8, the process proceeds to step S9.

ステップS9において、制御部9は、流量計54の再現性を算出する。流量計54の再現性とは、基準校正モードで得られた校正用流量積分値Aに対して、運用中に同じ評価を行った場合に同じ流量積分値を得られているかどうかを指標として算出するものである。例えば、流量計54の再現性をEとし、健全性チェックモードにおけるチェック用流量積分値をFとした場合に、再現性Eは、校正用流量積分値Aを利用して、以下の式(3)で算出することができる。
E=(F-A)/A×100[%] …(3)
In step S<b>9 , the controller 9 calculates the reproducibility of the flow meter 54 . The reproducibility of the flowmeter 54 is calculated as an indicator of whether or not the same flow rate integral value is obtained when the same evaluation is performed during operation for the calibration flow rate integral value A obtained in the reference calibration mode. It is something to do. For example, when the reproducibility of the flow meter 54 is E, and the check flow integral value in the soundness check mode is F, the reproducibility E is obtained by using the calibration flow integral value A, using the following equation (3 ) can be calculated.
E = (FA) / A × 100 [%] (3)

そして、制御部9は、再現性Eを算出すると、この再現性Eが所定の許容差(例えば、±5%以内)に含まれるか否かを判定する(ステップS10)。再現性Eが許容差の範囲内である場合(ステップS10:YES)、制御部9は、流量計校正システム10が正常であると判定する。この結果、制御部9は、健全性チェックモードを終了し、基板処理装置1による基板Wの液処理に移行する。 After calculating the reproducibility E, the control unit 9 determines whether or not the reproducibility E is within a predetermined tolerance (for example, within ±5%) (step S10). If the reproducibility E is within the tolerance (step S10: YES), the controller 9 determines that the flowmeter calibration system 10 is normal. As a result, the control unit 9 terminates the soundness check mode and shifts to liquid processing of the substrate W by the substrate processing apparatus 1 .

一方、再現性Eが許容差の範囲を超えている場合(ステップS10:NO)、制御部9は、流量計校正システム10が異常であると判定する。この際、制御部9は、ユーザインタフェース94を介してユーザにアラートを報知する(ステップS11)。これにより、ユーザは、流量計校正システム10の異常に応じて適切な対処をとることができる。 On the other hand, if the reproducibility E exceeds the allowable range (step S10: NO), the controller 9 determines that the flowmeter calibration system 10 is abnormal. At this time, the control unit 9 notifies the user of an alert via the user interface 94 (step S11). Thereby, the user can take appropriate measures according to the abnormality of the flowmeter calibration system 10 .

なお、本実施形態に係る流量計校正システム10、基板処理装置1および流量計校正方法は、上記の実施形態に限定されず、種々の変形例をとり得る。例えば、排液下流バルブ79は、流出配管822を介して秤量タンク86よりも下流側に設けられる構成に限定されず、秤量タンク86の底部861に設けられてもよい。この場合、第2ライン83は、底部861に連通して処理液を貯留する構成とすればよい。 The flowmeter calibration system 10, the substrate processing apparatus 1, and the flowmeter calibration method according to the present embodiment are not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made. For example, the drain downstream valve 79 is not limited to being provided downstream of the weighing tank 86 via the outflow pipe 822 , and may be provided at the bottom 861 of the weighing tank 86 . In this case, the second line 83 may be configured to communicate with the bottom portion 861 and store the processing liquid.

また例えば、秤量部80は、液位センサ87に代えて、秤量タンク86の処理液Lの液面を、アナログで(リニアに)測定できる図示しないカメラやセンサを適用してもよい。一例として、流量計校正方法では、カメラの監視下に秤量タンク86の計測開始位置まで処理液Lを貯留した後、計測開始位置から所定の積算期間にわたって処理液Lを吐出させ、カメラにより処理液Lの液面の計測終了位置を測定する。そして、制御部9は、流量計54における積算期間の校正用流量積分値Aまたはチェック用流量積分値Fと、測定した上昇量(計測開始位置から計測終了位置までの量)とに基づき、流量計54の流量値の校正を行うことができる。 Further, for example, instead of the liquid level sensor 87, the weighing unit 80 may employ a camera or sensor (not shown) capable of analog (linear) measurement of the liquid level of the treatment liquid L in the weighing tank 86. FIG. As an example, in the flow meter calibration method, after the processing liquid L is stored in the weighing tank 86 to the measurement start position under camera monitoring, the processing liquid L is discharged from the measurement start position for a predetermined integration period, and the processing liquid L is discharged from the measurement start position by the camera. Measure the measurement end position of the liquid level of L. Then, the control unit 9 calculates the flow rate based on the flow rate integral value A for calibration or the flow rate integral value F for checking during the integration period of the flow meter 54 and the measured amount of increase (the amount from the measurement start position to the measurement end position). Calibration of the meter 54 flow rate value can be performed.

あるいは、秤量部80は、秤量タンク86に貯留される処理液Lの重量を測定して、この重量を流量計54の流量値の校正に使用してもよい。例えば、秤量部80は、水平バーに歪みゲージ89(重量計測部:図2の2点鎖線参照)を介して秤量タンク86を吊り下げる形態をとることで、秤量タンク86内の処理液Lの重量を簡単に計測することができる。計測した処理液Lの重量は、流量計54を通過した処理液Lの流量と比例関係にあるため、制御部9は、所定期間における重量変化に基づき流量計54の流量値を校正することができる。 Alternatively, the weighing unit 80 may measure the weight of the treatment liquid L stored in the weighing tank 86 and use this weight to calibrate the flow rate value of the flowmeter 54 . For example, the weighing unit 80 suspends the weighing tank 86 from a horizontal bar via a strain gauge 89 (weight measuring unit: see two-dot chain line in FIG. 2). Weight can be easily measured. Since the measured weight of the treatment liquid L is proportional to the flow rate of the treatment liquid L that has passed through the flowmeter 54, the controller 9 can calibrate the flow rate value of the flowmeter 54 based on the weight change during a predetermined period. can.

例えば、流量計校正方法では、吐出前の秤量タンク86の重量を測定し、積算期間にわたって処理液Lを吐出した際の、流量計54の校正用流量積分値Aまたはチェック用流量積分値Fを算出するとともに、吐出終了後の秤量タンク86の重量を測定する。制御部9は、吐出前の秤量タンク86の重量と、吐出後の秤量タンク86の重量とに基づき、秤量タンク86に吐出した実際の処理液Lの重量を算出する。そして、制御部9は、校正用流量積分値Aと重量とに基づき、流量計54の流量値を校正することができ、またチェック用流量積分値Fと重量とに基づき、健全性をチェックすることができる。 For example, in the flow meter calibration method, the weight of the weighing tank 86 before discharge is measured, and the calibration flow rate integral value A or the check flow rate integral value F of the flow meter 54 when the treatment liquid L is discharged over the integration period is calculated. Along with the calculation, the weight of the weighing tank 86 after the completion of the discharge is measured. The controller 9 calculates the actual weight of the treatment liquid L discharged into the weighing tank 86 based on the weight of the weighing tank 86 before discharge and the weight of the weighing tank 86 after discharge. Then, the control unit 9 can calibrate the flow rate value of the flow meter 54 based on the flow rate integral value for calibration A and the weight, and check the soundness based on the flow rate integral value for check F and the weight. be able to.

さらに、基板処理装置1は、上記の流量計校正システム10による流量計校正方法とともに、別の流量計校正システムを組み合わせてもよい。例えば、別の流量計校正システム10としては、処理液供給ライン52およびバス側排液ライン77Bと同一の配管レイアウトを有するサンプリングユニット(不図示)を備えることがあげられる。制御部9は、このサンプリングユニットにて計測した流量積分値または貯留容積を組み合わせて、補正係数Cを算出することで、校正の精度を一層高めることができる。 Furthermore, the substrate processing apparatus 1 may combine another flowmeter calibration system with the flowmeter calibration method by the flowmeter calibration system 10 described above. For example, another flowmeter calibration system 10 includes a sampling unit (not shown) having the same piping layout as the processing liquid supply line 52 and the bus-side drain line 77B. The control unit 9 can further improve the accuracy of calibration by calculating the correction coefficient C by combining the flow rate integral value or the storage volume measured by this sampling unit.

また、流量計校正システム10は、カップ20内のチャック30にダミーウエハを収容し、流量計54を介してノズル51からダミーウエハに吐出された処理液Lの動きを赤外線センサにより検出して、流量値の校正に使用してもよい。すなわち、制御部9は、赤外線センサの検出結果に基づき、時間毎の処理液Lの動きから処理液Lの流量を演算することができる。 In addition, the flowmeter calibration system 10 accommodates a dummy wafer in the chuck 30 in the cup 20, detects the movement of the processing liquid L discharged onto the dummy wafer from the nozzle 51 through the flowmeter 54 with an infrared sensor, and determines the flow rate value. may be used for calibration. That is, the control unit 9 can calculate the flow rate of the treatment liquid L from the movement of the treatment liquid L over time based on the detection result of the infrared sensor.

また、流量計校正システム10は、K型熱電対などの温度計をノズルバス60に設置して、処理液Lを一定量の供給した際の、温度計の温度変化を検出して、この検出結果を流量値の校正に使用してもよい。 Further, the flowmeter calibration system 10 installs a thermometer such as a K-type thermocouple in the nozzle bath 60, detects the temperature change of the thermometer when a certain amount of the treatment liquid L is supplied, and detects the detection result may be used to calibrate flow values.

また、流量計校正システム10は、光学的測定を行う液検出センサ(ファイバセンサ)を、処理液供給ライン52に複数設け、その検出結果を流量値の校正に使用してもよい。例えば、制御部9は、第1液検出センサの液検出タイミングと、第2液検出センサの液検出タイミングと、第1液検出センサおよび第2液検出センサの間隔および流路断面積に基づき、処理液供給ライン52を流通する処理液Lの流量を算出することができる。 Further, the flowmeter calibration system 10 may be provided with a plurality of liquid detection sensors (fiber sensors) for optical measurement in the treatment liquid supply line 52, and the detection results thereof may be used to calibrate the flow rate value. For example, based on the liquid detection timing of the first liquid detection sensor, the liquid detection timing of the second liquid detection sensor, the interval between the first liquid detection sensor and the second liquid detection sensor, and the channel cross-sectional area, The flow rate of the processing liquid L flowing through the processing liquid supply line 52 can be calculated.

また、流量計校正システム10は、処理液供給ライン52に複数の流量計54を設置して、一の流量計54の流量値を基準として、他の流量計54の流量値を補正してもよい。この場合、複数の流量計54は、同じ検出方式の流量計54を適用してもよく、異なる検出方式(例えば、電磁式に対して超音波式やコリオリ式)を組み合わせた構成でもよい。 In addition, the flowmeter calibration system 10 can be configured by installing a plurality of flowmeters 54 in the treatment liquid supply line 52, and using the flowrate value of one flowmeter 54 as a reference to correct the flowrate values of the other flowmeters 54. good. In this case, the plurality of flowmeters 54 may employ the same detection method flowmeters 54, or may have a configuration in which different detection methods (for example, an electromagnetic method, an ultrasonic method, or a Coriolis method) are combined.

図6に示す変形例に係る流量計校正システム10Aは、処理液供給ライン52の流量計54および流量調整バルブ55よりも下流側に、処理液Lを流通させる別ライン57を備え、この別ライン57に処理液排出ライン77を接続している。別ライン57は、基板処理装置1から処理液Lを排出する廃棄部に接続されてもよく、処理液供給源に接続されることで処理液Lを回収する構成でもよい。別ライン57は、この別ライン57の流路を開閉する別ライン側バルブ58を途中位置に備える。別ライン側バルブ58は、通常時に閉塞していることで、ノズル51に処理液Lを向かわせ、必要に応じて開放することで、処理液供給ライン52の処理液Lを流通させる。 A flow meter calibration system 10A according to the modification shown in FIG. 57 is connected to a processing liquid discharge line 77 . The separate line 57 may be connected to a waste section that discharges the processing liquid L from the substrate processing apparatus 1, or may be configured to collect the processing liquid L by being connected to a processing liquid supply source. The separate line 57 has a separate line side valve 58 that opens and closes the channel of the separate line 57 at an intermediate position. The separate line side valve 58 is normally closed to direct the processing liquid L to the nozzle 51 , and is opened as necessary to circulate the processing liquid L in the processing liquid supply line 52 .

処理液排出ライン77は、例えば、別ライン側バルブ58よりも上流側の別ライン57に接続され、別ライン57から処理液Lを流入することが可能である。すなわち、流量計54の校正時には、処理液供給ライン52の供給側バルブ56および別ライン57の別ライン側バルブ58を閉塞する一方で、排液上流バルブ78を開放することで秤量部80に処理液Lを導くことができる。したがって、変形例に係る流量計校正システム10Aでも、上記の実施形態と同じ流量計校正方法を行うことができ、流量計54の流量値を精度よく校正することが可能となる。なお、処理液排出ライン77は、別ライン57に接続されずに、流量計54よりも下流側の処理液供給ライン52に直接接続されていてもよい。また、この流量計校正システム10Aでも、図2に示したベント構造65を備えてよいことは勿論である。 The processing liquid discharge line 77 is connected to, for example, a separate line 57 upstream of the separate line side valve 58 , and allows the processing liquid L to flow in from the separate line 57 . That is, when calibrating the flow meter 54 , the supply side valve 56 of the processing liquid supply line 52 and the separate line side valve 58 of the separate line 57 are closed, while the drainage upstream valve 78 is opened to allow the weighing unit 80 to process Liquid L can be introduced. Therefore, the flowmeter calibration system 10A according to the modification can also perform the same flowmeter calibration method as the above-described embodiment, and the flow rate value of the flowmeter 54 can be calibrated with high accuracy. The processing liquid discharge line 77 may be directly connected to the processing liquid supply line 52 on the downstream side of the flow meter 54 without being connected to the separate line 57 . Also, the flowmeter calibration system 10A may of course be provided with the vent structure 65 shown in FIG.

以上の実施形態で説明した本開示の技術的思想および効果について以下に記載する。 The technical ideas and effects of the present disclosure described in the above embodiments will be described below.

本開示の第1の態様に係る流量計校正システム10、10Aは、基板Wに処理液Lを供給する処理液供給ライン52と、処理液供給ライン52に設けられ、処理液Lの流量値を検出する流量計54と、流量計54よりも下流側に設けられ、処理液供給ライン52を流通した処理液Lを排出する処理液排出ライン77と、処理液排出ライン77を制御する制御部9と、を備え、処理液排出ライン77は、処理液Lを貯留する秤量タンク86と、秤量タンク86の底部861から下方に排出される処理液Lの流路を開閉するバルブ(排液下流バルブ79)と、を有し、制御部9は、バルブにより処理液Lの流路を閉じて、秤量タンク86に貯留される処理液Lに基づき、流量計54の流量値を校正する。 The flowmeter calibration system 10, 10A according to the first aspect of the present disclosure includes a processing liquid supply line 52 that supplies the processing liquid L to the substrate W, and the processing liquid supply line 52 is provided with a flow rate value of the processing liquid L. a flowmeter 54 for detection, a processing liquid discharge line 77 provided downstream of the flowmeter 54 for discharging the processing liquid L flowing through the processing liquid supply line 52, and a control unit 9 for controlling the processing liquid discharge line 77. The processing liquid discharge line 77 includes a weighing tank 86 that stores the processing liquid L, and a valve (drainage downstream valve 79), the controller 9 closes the flow path of the processing liquid L with a valve, and calibrates the flow rate value of the flow meter 54 based on the processing liquid L stored in the weighing tank 86 .

上記によれば、流量計校正システム10、10Aは、処理液排出ライン77の秤量タンク86およびバルブ(排液下流バルブ79)により流量計54の流量値を校正することで、人手による校正作業をなくして、流量計54の校正作業を省力化することができる。特に、流量計校正システム10、10Aは、基板に近い位置の処理液Lを秤量タンク86に導入することで、よりプロセス処理条件に近い条件で秤量でき、流量計54の校正の精度を一層高めることができる。また、処理容器100の外に秤量タンク86を備えた流量計校正システム10、10Aは、処理容器100のサイズを大きくすることなく所望の容積の秤量タンク86を使用することができる。仮に特許文献1に開示されている基板処理装置のように、吐出ノズルが退避する容器(ノズルバス)において秤量を行う場合、容器のサイズが大きくなってしまい、チャンバサイズ(処理容器のサイズ)が大きくなってしまう。これに対して、流量計校正システム10、10Aは、ノズルバス60よりも下流側の処理液排出ライン77に秤量タンク86を有するため、秤量タンク86の容積を充分に確保でき、例えば、処理に用いられる処理液Lの総量を秤量することが可能となる。 According to the above, the flowmeter calibration systems 10 and 10A eliminate manual calibration work by calibrating the flow rate value of the flowmeter 54 using the weighing tank 86 and the valve (drainage downstream valve 79) of the processing liquid discharge line 77. Therefore, the calibration work of the flowmeter 54 can be saved. In particular, the flowmeter calibration systems 10 and 10A introduce the processing liquid L at a position closer to the substrate into the weighing tank 86, so that it can be weighed under conditions closer to the process processing conditions, further increasing the accuracy of calibration of the flowmeter 54. be able to. Also, the flow meter calibration system 10, 10A having the weighing tank 86 outside the processing vessel 100 can use the weighing tank 86 of desired volume without increasing the size of the processing vessel 100. FIG. If weighing is performed in a container (nozzle bath) in which the ejection nozzle is retracted, as in the substrate processing apparatus disclosed in Patent Document 1, the size of the container becomes large, and the size of the chamber (size of the processing container) becomes large. turn into. On the other hand, the flowmeter calibration systems 10 and 10A have the weighing tank 86 in the processing liquid discharge line 77 downstream of the nozzle bath 60, so that a sufficient volume of the weighing tank 86 can be secured. It becomes possible to weigh the total amount of the processing liquid L applied.

また、処理液排出ライン77は、秤量タンク86を有する第1ライン82と、秤量タンク86に貯留される処理液の液面と同じ高さまで、秤量タンクから排出された処理液が流入する第2ライン83と、を有し、第2ライン83は、第2ライン83に流入した処理液Lの液面を検出する液位センサ87を有する。これにより、流量計校正システム10、10Aは、秤量タンク86により生じる測定誤差を低減して、秤量タンク86に貯留される処理液Lの液面を正確に検出することができる。 The treatment liquid discharge line 77 includes a first line 82 having a weighing tank 86 and a second line 82 into which the treatment liquid discharged from the weighing tank flows up to the same height as the liquid surface of the treatment liquid stored in the weighing tank 86 . , and the second line 83 has a liquid level sensor 87 that detects the liquid level of the processing liquid L that has flowed into the second line 83 . As a result, the flowmeter calibration systems 10 and 10A can reduce measurement errors caused by the weighing tank 86 and accurately detect the liquid level of the processing liquid L stored in the weighing tank 86 .

また、第1ライン82および第2ライン83は、秤量タンク86よりも鉛直方向上方において相互に連通している。これにより、流量計校正システム10、10Aは、秤量タンク86の処理液Lにかかる気圧と、第2ライン83の処理液Lにかかる気圧とを略同一にすることができ、液面のずれを抑制できる。 The first line 82 and the second line 83 communicate with each other vertically above the weighing tank 86 . As a result, the flow meter calibration systems 10 and 10A can make the air pressure applied to the processing liquid L in the weighing tank 86 substantially the same as the air pressure applied to the processing liquid L in the second line 83, thereby reducing the liquid level deviation. can be suppressed.

また、第1ライン82は、秤量タンク86内に処理液Lを流入させる流入配管821を備え、流入配管821は、秤量タンク86の底部861の近傍位置に、処理液を吐出する吐出口821aを有する。これにより、流量計校正システム10、10Aは、秤量タンク86に処理液Lを貯留する際に、処理液Lの液はねや液面の揺れを抑制することができる。 In addition, the first line 82 includes an inflow pipe 821 for inflowing the processing liquid L into the weighing tank 86 , and the inflow pipe 821 has a discharge port 821 a for discharging the processing liquid at a position near the bottom 861 of the weighing tank 86 . have. As a result, the flowmeter calibration systems 10 and 10A can suppress splashing of the processing liquid L and fluctuation of the liquid surface when the processing liquid L is stored in the weighing tank 86 .

また、秤量タンク86の温度を調整する温度調整機構88を備える。これにより、流量計校正システム10、10Aは、基板Wに処理液Lを供給する際の処理液Lの温度と同じ条件で、処理液Lを流通した際の流量値を校正することができ、校正の精度をより高めることができる。例えば、処理液LとしてIPAを適用する場合、処理液Lは温度によって濃度や粘度が異なるため、処理液Lの温度に応じてより効果的に校正できる。 It also has a temperature adjustment mechanism 88 that adjusts the temperature of the weighing tank 86 . As a result, the flowmeter calibration systems 10 and 10A can calibrate the flow rate value when the processing liquid L is circulated under the same conditions as the temperature of the processing liquid L when the processing liquid L is supplied to the substrate W. Calibration accuracy can be further improved. For example, when IPA is used as the treatment liquid L, since the concentration and viscosity of the treatment liquid L differ depending on the temperature, calibration can be performed more effectively according to the temperature of the treatment liquid L.

また、処理液供給ライン52の先端に設けられるノズル51を収容する容器(ノズルバス60)を有し、処理液排出ライン77は、容器に接続され、容器で受けた処理液Lを秤量タンク86、バルブ(排液下流バルブ79)の順に流通させる。これにより、流量計校正システム10は、バスよりも下流側の処理液排出ライン77において処理液Lの秤量を良好に行うことができる。 The processing liquid supply line 52 has a container (nozzle bus 60) that accommodates the nozzle 51 provided at the tip of the processing liquid supply line 52. The processing liquid discharge line 77 is connected to the container. Circulate in the order of the valves (drainage downstream valve 79). As a result, the flowmeter calibration system 10 can satisfactorily weigh the processing liquid L in the processing liquid discharge line 77 downstream of the bath.

また、処理液排出ライン77は、処理液供給ライン52の先端に設けられるノズル51と流量計54と間で処理液供給ライン52から分岐しており、ノズル51による処理液Lの吐出を停止した状態で、処理液Lを秤量タンク86、バルブ(排液下流バルブ79)の順に流通させる。この場合でも、流量計校正システム10、10Aは、流量計54の下流の処理液供給ライン52から処理液排出ライン77に導入した処理液Lの秤量を良好に行うことができる。 Further, the treatment liquid discharge line 77 branches from the treatment liquid supply line 52 between the nozzle 51 provided at the tip of the treatment liquid supply line 52 and the flow meter 54, and discharge of the treatment liquid L by the nozzle 51 is stopped. In this state, the processing liquid L is circulated through the weighing tank 86 and the valve (drainage downstream valve 79) in this order. Even in this case, the flowmeter calibration systems 10 and 10A can satisfactorily weigh the processing liquid L introduced from the processing liquid supply line 52 downstream of the flowmeter 54 into the processing liquid discharge line 77 .

また、制御部9は、流量計54の流量値の校正において、処理液Lを秤量タンク86に貯留し流量計54の計測を開始してから設定された貯留容積Bまで貯留される期間(積算期間)を計測するとともに、期間における流量計54の流量値を積分した校正用流量積分値Aを算出し、貯留容積Bと校正用流量積分値Aとに基づき、流量計54の流量値を補正する補正係数Cを得る。これにより、制御部9は、流量計54の流量値を適切に校正することができる。 In addition, in calibrating the flow rate value of the flow meter 54, the control unit 9 stores the treatment liquid L in the weighing tank 86 and stores the processing liquid L from the start of measurement by the flow meter 54 to the set storage volume B (integration Period) is measured, and the calibration flow rate integral value A is calculated by integrating the flow rate value of the flow meter 54 in the period, and the flow rate value of the flow meter 54 is corrected based on the storage volume B and the calibration flow rate integral value A. A correction coefficient C is obtained. Thereby, the controller 9 can appropriately calibrate the flow rate value of the flow meter 54 .

また、制御部9は、秤量タンク86に貯留される処理液Lの揮発量Dを推定し、揮発量Dと貯留容積Bと校正用流量積分値Aとに基づき、流量計54の流量値を補正する補正係数Cを得る。このように処理液Lの揮発量を加味することで、制御部9は、流量計54の流量値の校正を一層精度よく行うことができる。 In addition, the control unit 9 estimates the volatilization amount D of the processing liquid L stored in the weighing tank 86, and based on the volatilization amount D, the storage volume B, and the flow rate integration value A for calibration, the flow rate value of the flow meter 54 is calculated. A correction coefficient C to be corrected is obtained. By taking into consideration the volatilization amount of the treatment liquid L in this way, the control unit 9 can calibrate the flow rate value of the flow meter 54 with higher accuracy.

また、制御部9は、流量計54の流量値の校正の実施以降に、流量計54の正常または異常を確認する健全性チェックモードを行い、健全性チェックモードでは、処理液Lを秤量タンク86に貯留し流量計54の計測を開始してから設定された貯留容積Bまで貯留される期間(積算期間)を計測するとともに、期間における流量計54の流量値を積分したチェック用流量積分値Fを算出し、校正用流量積分値Aとチェック用流量積分値Fとに基づき、流量計54の正常または異常を判定する。これにより、制御部9は、液処理時に、流量が調整された処理液Lを、基板Wに安定して供給することが可能となり、また流量計54の異常を早期に把握することができる。 Further, after the calibration of the flow rate value of the flowmeter 54, the control unit 9 performs a soundness check mode for confirming whether the flowmeter 54 is normal or abnormal. The flow rate integrated value F is calculated, and based on the flow rate integral value A for calibration and the flow rate integral value F for check, it is determined whether the flow meter 54 is normal or abnormal. As a result, the control unit 9 can stably supply the processing liquid L whose flow rate has been adjusted to the substrate W during the liquid processing, and can detect an abnormality of the flow meter 54 at an early stage.

また、秤量タンク86の重量を計測する重量計測部(歪みゲージ89)を備え、制御部9は、秤量タンク86に処理液Lを貯留した際の重量変化に基づき、処理液Lの重量を算出し、当該処理液Lの重量を用いて流量計54が検出する処理液Lの流量値を校正する。この場合でも、流量計校正システム10、10Aは、流量計54の流量値を精度よく校正できる。 A weight measuring unit (strain gauge 89) for measuring the weight of the weighing tank 86 is provided, and the control unit 9 calculates the weight of the processing liquid L based on the weight change when the processing liquid L is stored in the weighing tank 86. Then, the weight of the processing liquid L is used to calibrate the flow rate value of the processing liquid L detected by the flowmeter 54 . Even in this case, the flowmeter calibration systems 10 and 10A can accurately calibrate the flow rate value of the flowmeter 54 .

また、本開示の第2の態様は、基板Wを処理液Lで処理する基板処理装置1であって、基板Wに処理液Lを供給する処理液供給ライン52と、処理液供給ライン52に設けられ、処理液Lの流量値を検出する流量計54と、流量計54よりも下流側に設けられ、処理液供給ライン52を流通した処理液Lを排出する処理液排出ライン77と、処理液排出ライン77を制御する制御部9と、を備え、処理液排出ライン77は、処理液Lを貯留可能な秤量タンク86と、秤量タンク86の底部から下方に排出される処理液Lの流路を開閉するバルブ(排液下流バルブ79)と、バルブにより処理液Lの流路を閉じて、秤量タンクに貯留される処理液Lの量に基づき、流量計54の流量値を校正する制御部9と、を有する。これにより、基板処理装置1は、流量計54の校正作業を省力化することができる。 A second aspect of the present disclosure is a substrate processing apparatus 1 that processes a substrate W with a processing liquid L, and includes a processing liquid supply line 52 that supplies the processing liquid L to the substrate W, and a a flow meter 54 provided to detect the flow rate of the treatment liquid L; a treatment liquid discharge line 77 provided downstream of the flow meter 54 for discharging the treatment liquid L flowing through the treatment liquid supply line 52; and a controller 9 for controlling the liquid discharge line 77 , the processing liquid discharge line 77 includes a weighing tank 86 capable of storing the processing liquid L and a flow of the processing liquid L discharged downward from the bottom of the weighing tank 86 . Control for calibrating the flow rate value of the flow meter 54 based on the amount of the processing liquid L stored in the weighing tank by closing the flow path of the processing liquid L with the valve (drainage downstream valve 79) that opens and closes the path. a part 9; As a result, the substrate processing apparatus 1 can save labor in calibrating the flow meter 54 .

また、本開示の第3の態様は、基板Wに処理液Lを供給する処理液供給ライン52に設けられる流量計54の流量値を校正する流量計校正方法であって、流量計54よりも下流側に設けられ、処理液供給ライン52を流通した処理液を排出する処理液排出ライン77を備え、処理液排出ライン77は、処理液を貯留する秤量タンク86と、秤量タンク86の底部861から下方に排出される処理液の流路を開閉するバルブ(排液下流バルブ79)と、を有し、流量計校正方法では、処理液供給ライン52を流通した処理液Lを処理液排出ライン77に排出する工程と、バルブにより処理液Lの流路をとじて、秤量タンク86に処理液Lを貯留する工程と、秤量タンク86に貯留される処理液Lの量に基づき、流量計54の流量値を校正する工程と、を有する。このように第3の態様でも、流量計54の校正作業を省力化することができる。 A third aspect of the present disclosure is a flowmeter calibration method for calibrating the flow rate value of a flowmeter 54 provided in a processing liquid supply line 52 that supplies a processing liquid L to a substrate W. A processing liquid discharge line 77 is provided on the downstream side and discharges the processing liquid that has flowed through the processing liquid supply line 52 . and a valve (drainage downstream valve 79) for opening and closing the flow path of the processing liquid discharged downward from the flowmeter calibration method. a step of closing the flow path of the processing liquid L with a valve to store the processing liquid L in the weighing tank 86; and calibrating the flow rate value of . Thus, in the third mode as well, the calibration work of the flowmeter 54 can be labor-saving.

また、処理液を貯留する工程では、処理液を前記秤量タンク86に貯留し流量計54の計測を開始してから設定された貯留容積まで貯留される期間と、当該期間における流量計54の流量値を計測し、流量計54の流量値を校正する工程では、期間における流量計54の流量値を積分した校正用流量積分値Aを算出し、貯留容積Bと校正用流量積分値Aとに基づき、流量計54の流量値を補正する補正係数Cを得る。これにより、流量計校正方法は、流量計54の流量値を適切に校正することができる。 In addition, in the step of storing the processing liquid, the processing liquid is stored in the weighing tank 86 and stored up to a set storage volume after the measurement of the flow meter 54 is started, and the flow rate of the flow meter 54 during the period. In the step of measuring the value and calibrating the flow rate value of the flow meter 54, the calibration flow rate integral value A is calculated by integrating the flow rate value of the flow meter 54 in the period, and the storage volume B and the calibration flow rate integral value A Based on this, a correction coefficient C for correcting the flow rate value of the flow meter 54 is obtained. Thereby, the flow meter calibration method can appropriately calibrate the flow rate value of the flow meter 54 .

また、流量計54の流量値を校正する工程では、秤量タンク86に貯留される処理液Lの揮発量Dを推定し、揮発量Dと貯留容積Bと校正用流量積分値Aとに基づき、流量計54の流量値を補正する補正係数Cを得る。これにより、流量計校正方法は、流量計54の流量値の校正を一層精度よく行うことができる。 Further, in the step of calibrating the flow rate value of the flow meter 54, the volatilization amount D of the processing liquid L stored in the weighing tank 86 is estimated, and based on the volatilization amount D, the storage volume B, and the flow rate integral value A for calibration, A correction coefficient C for correcting the flow rate value of the flow meter 54 is obtained. Thereby, the flowmeter calibration method can calibrate the flow rate value of the flowmeter 54 with higher accuracy.

また、流量計54の流量値の校正の実施以降に、流量計54の正常または異常を確認する工程を有し、流量計54の正常または異常を確認する工程では、処理液Lを秤量タンク86に貯留し流量計54の計測を開始してから設定された貯留容積まで貯留される期間を計測するとともに、期間における流量計54の流量値を積分したチェック用流量積分値Fを算出し、校正用流量積分値Aとチェック用流量積分値Fとに基づき、流量計54の正常または異常を判定する。これにより、流量計校正方法は、流量計54の異常を早期に把握することができる。 Further, after the calibration of the flow rate value of the flow meter 54, there is a step of confirming whether the flow meter 54 is normal or abnormal. In addition to measuring the period of storage from the start of measurement of the flow meter 54 to the set storage volume, the flow rate integral value F for checking is integrated by integrating the flow rate value of the flow meter 54 in the period, and calibration Based on the flow rate integrated value A for use and the flow rate integrated value F for check, it is determined whether the flow meter 54 is normal or abnormal. As a result, the flowmeter calibration method can quickly detect an abnormality in the flowmeter 54 .

今回開示された実施形態に係る流量計校正システム10、10A、基板処理装置1および流量計校正方法は、すべての点において例示であって制限的なものではない。実施形態は、添付の請求の範囲およびその主旨を逸脱することなく、様々な形態で変形および改良が可能である。上記複数の実施形態に記載された事項は、矛盾しない範囲で他の構成も取り得ることができ、また、矛盾しない範囲で組み合わせることができる。 The flowmeter calibration systems 10 and 10A, the substrate processing apparatus 1, and the flowmeter calibration method according to the embodiments disclosed this time are illustrative in all respects and are not restrictive. Embodiments are capable of variations and modifications in various forms without departing from the scope and spirit of the appended claims. The items described in the above multiple embodiments can take other configurations within a consistent range, and can be combined within a consistent range.

1 基板処理装置
10、10A 流量計校正システム
52 処理液供給ライン
54 流量計
77 処理液排出ライン
79 排液下流バルブ
86 秤量タンク
9 制御部
L 処理液
W 基板
1 Substrate processing apparatus 10, 10A Flow meter calibration system 52 Processing liquid supply line 54 Flow meter 77 Processing liquid discharge line 79 Waste liquid downstream valve 86 Weighing tank 9 Controller L Processing liquid W Substrate

Claims (16)

基板に処理液を供給する処理液供給ラインと、
前記処理液供給ラインに設けられ、前記処理液の流量値を検出する流量計と、
前記流量計よりも下流側に設けられ、前記処理液供給ラインを流通した前記処理液を排出する処理液排出ラインと、
前記処理液排出ラインを制御する制御部と、を備え、
前記処理液排出ラインは、前記処理液を貯留する秤量タンクと、前記秤量タンクの底部から下方に排出される前記処理液の流路を開閉するバルブと、を有し、
前記制御部は、前記バルブにより前記処理液の流路を閉じて、前記秤量タンクに貯留される前記処理液の量に基づき、前記流量計の流量値を校正する、
流量計校正システム。
a processing liquid supply line for supplying the processing liquid to the substrate;
a flow meter provided in the processing liquid supply line for detecting the flow rate of the processing liquid;
a processing liquid discharge line provided downstream of the flow meter for discharging the processing liquid that has flowed through the processing liquid supply line;
a control unit that controls the treatment liquid discharge line,
The treatment liquid discharge line has a weighing tank that stores the treatment liquid, and a valve that opens and closes a flow path of the treatment liquid discharged downward from the bottom of the weighing tank,
The control unit closes the flow path of the processing liquid by the valve, and calibrate the flow rate value of the flow meter based on the amount of the processing liquid stored in the weighing tank.
Flow meter calibration system.
前記処理液排出ラインは、
前記秤量タンクを有する第1ラインと、
前記秤量タンクに貯留される前記処理液の液面と同じ高さまで、前記秤量タンクから排出された前記処理液が流入する第2ラインと、を有し、
前記第2ラインは、前記第2ラインに流入した前記処理液の液面を検出する液位センサを有する、
請求項1に記載の流量計校正システム。
The treatment liquid discharge line is
a first line comprising said weighing tank;
a second line into which the processing liquid discharged from the weighing tank flows up to the same height as the liquid level of the processing liquid stored in the weighing tank;
The second line has a liquid level sensor that detects the liquid level of the treatment liquid that has flowed into the second line.
The flow meter calibration system of claim 1.
前記第1ラインおよび前記第2ラインは、前記秤量タンクよりも鉛直方向上方において相互に連通している、
請求項2に記載の流量計校正システム。
The first line and the second line communicate with each other vertically above the weighing tank.
A flow meter calibration system according to claim 2.
前記第1ラインは、前記秤量タンク内に前記処理液を流入させる流入配管を備え、
前記流入配管は、前記秤量タンクの底部の近傍位置に、前記処理液を吐出する吐出口を有する、
請求項2または3に記載の流量計校正システム。
the first line includes an inflow pipe for inflowing the treatment liquid into the weighing tank;
The inflow pipe has a discharge port for discharging the treatment liquid at a position near the bottom of the weighing tank,
The flowmeter calibration system according to claim 2 or 3.
前記秤量タンクの温度を調整する温度調整機構を備える、
請求項1乃至4のいずれか1項に記載の流量計校正システム。
A temperature adjustment mechanism that adjusts the temperature of the weighing tank,
A flowmeter calibration system according to any one of claims 1 to 4.
前記処理液供給ラインの先端に設けられるノズルを収容する容器を有し、
前記処理液排出ラインは、前記容器に接続され、前記容器で受けた前記処理液を前記秤量タンク、前記バルブの順に流通させる、
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の流量計校正システム。
a container containing a nozzle provided at the tip of the processing liquid supply line;
The treatment liquid discharge line is connected to the container, and circulates the treatment liquid received in the container in the order of the weighing tank and the valve.
The flowmeter calibration system according to any one of claims 1-5.
前記処理液排出ラインは、前記処理液供給ラインの先端に設けられるノズルと前記流量計の間で前記処理液供給ラインから分岐しており、
前記ノズルによる前記処理液の吐出を停止した状態で、前記処理液を前記秤量タンク、前記バルブの順に流通させる、
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の流量計校正システム。
The treatment liquid discharge line branches from the treatment liquid supply line between the nozzle provided at the tip of the treatment liquid supply line and the flow meter,
Discharging the treatment liquid through the weighing tank and the valve in this order while stopping the ejection of the treatment liquid from the nozzle;
The flowmeter calibration system according to any one of claims 1-5.
前記制御部は、前記流量計の流量値の校正において、前記処理液を前記秤量タンクに貯留し前記流量計の計測を開始してから設定された貯留容積まで貯留される期間を計測するとともに、前記期間における前記流量計の流量値を積分した校正用流量積分値を算出し、前記貯留容積と前記校正用流量積分値とに基づき、前記流量計の流量値を補正する補正係数を得る、
請求項1乃至7のいずれか1項に記載の流量計校正システム。
In calibrating the flow rate value of the flow meter, the control unit stores the processing liquid in the weighing tank and measures a period of storage up to a set storage volume after starting measurement of the flow meter, calculating a calibration flow rate integral value by integrating the flow rate value of the flow meter during the period, and obtaining a correction coefficient for correcting the flow rate value of the flow meter based on the storage volume and the calibration flow rate integral value;
The flowmeter calibration system according to any one of claims 1-7.
前記制御部は、前記秤量タンクに貯留される前記処理液の揮発量を推定し、前記揮発量と前記貯留容積と前記校正用流量積分値とに基づき、前記流量計の流量値を補正する補正係数を得る、
請求項8に記載の流量計校正システム。
The control unit estimates a volatilization amount of the treatment liquid stored in the weighing tank, and corrects the flow rate value of the flow meter based on the volatilization amount, the storage volume, and the flow rate integral value for calibration. get the coefficients,
A flow meter calibration system according to claim 8.
前記制御部は、前記流量計の流量値の校正の実施以降に、前記流量計の正常または異常を確認する健全性チェックモードを行い、
前記健全性チェックモードでは、前記処理液を前記秤量タンクに貯留し前記流量計の計測を開始してから設定された貯留容積まで貯留される期間を計測するとともに、前記期間における前記流量計の流量値を積分したチェック用流量積分値を算出し、前記校正用流量積分値と前記チェック用流量積分値とに基づき、前記流量計の正常または異常を判定する、
請求項8または9に記載の流量計校正システム。
The control unit performs a soundness check mode for confirming normality or abnormality of the flowmeter after calibration of the flow rate value of the flowmeter,
In the soundness check mode, the processing liquid is stored in the weighing tank, and the period during which the processing liquid is stored from the start of measurement by the flow meter to a set storage volume is measured, and the flow rate of the flow meter during the period is measured. calculating a flow rate integral value for checking by integrating the value, and determining whether the flow meter is normal or abnormal based on the flow rate integral value for calibration and the flow rate integral value for checking;
A flow meter calibration system according to claim 8 or 9.
前記秤量タンクの重量を計測する重量計測部を備え、
前記制御部は、前記秤量タンクに前記処理液を貯留した際の重量変化に基づき、前記処理液の重量を算出し、当該処理液の重量を用いて前記流量計が検出する前記処理液の流量値を校正する、
請求項1乃至10のいずれか1項に記載の流量計校正システム。
A weight measuring unit for measuring the weight of the weighing tank,
The control unit calculates the weight of the treatment liquid based on the weight change when the treatment liquid is stored in the weighing tank, and the flow rate of the treatment liquid detected by the flow meter using the weight of the treatment liquid. calibrate the value,
A flow meter calibration system according to any one of claims 1-10.
基板を処理液で処理する基板処理装置であって、
前記基板に前記処理液を供給する処理液供給ラインと、
前記処理液供給ラインに設けられ、前記処理液の流量値を検出する流量計と、
前記流量計よりも下流側に設けられ、前記処理液供給ラインを流通した前記処理液を排出する処理液排出ラインと、
前記処理液排出ラインを制御する制御部と、を備え、
前記処理液排出ラインは、前記処理液を貯留する秤量タンクと、
前記秤量タンクの底部から下方に排出される前記処理液の流路を開閉するバルブと、を有し、
前記制御部は、前記バルブにより前記処理液の流路を閉じて、前記秤量タンクに貯留される前記処理液の量に基づき、前記流量計の流量値を校正する、
基板処理装置。
A substrate processing apparatus for processing a substrate with a processing liquid,
a processing liquid supply line for supplying the processing liquid to the substrate;
a flow meter provided in the processing liquid supply line for detecting the flow rate of the processing liquid;
a processing liquid discharge line provided downstream of the flow meter for discharging the processing liquid that has flowed through the processing liquid supply line;
a control unit that controls the treatment liquid discharge line,
The treatment liquid discharge line includes a weighing tank that stores the treatment liquid,
a valve for opening and closing a flow path of the processing liquid discharged downward from the bottom of the weighing tank;
The control unit closes the flow path of the processing liquid by the valve, and calibrate the flow rate value of the flow meter based on the amount of the processing liquid stored in the weighing tank.
Substrate processing equipment.
基板に処理液を供給する処理液供給ラインに設けられる流量計の流量値を校正する流量計校正方法であって、
前記流量計よりも下流側に設けられ、前記処理液供給ラインを流通した前記処理液を排出する処理液排出ラインを備え、
前記処理液排出ラインは、前記処理液を貯留する秤量タンクと、前記秤量タンクの底部から下方に排出される前記処理液の流路を開閉するバルブと、を有し、
前記流量計校正方法では、
前記処理液供給ラインを流通した前記処理液を前記処理液排出ラインに排出する工程と、
前記バルブにより前記処理液の流路を閉じて、前記秤量タンクに前記処理液を貯留する工程と、
前記秤量タンクに貯留される前記処理液の量に基づき、前記流量計の流量値を校正する工程と、を有する、
流量計校正方法。
A flowmeter calibration method for calibrating a flow rate value of a flowmeter provided in a processing liquid supply line for supplying a processing liquid to a substrate,
a processing liquid discharge line provided downstream of the flow meter for discharging the processing liquid that has flowed through the processing liquid supply line;
The treatment liquid discharge line has a weighing tank that stores the treatment liquid, and a valve that opens and closes a flow path of the treatment liquid discharged downward from the bottom of the weighing tank,
In the flowmeter calibration method,
a step of discharging the processing liquid flowing through the processing liquid supply line to the processing liquid discharge line;
a step of closing the flow path of the treatment liquid by the valve and storing the treatment liquid in the weighing tank;
calibrating the flow rate value of the flow meter based on the amount of the processing liquid stored in the weighing tank;
Flowmeter calibration method.
前記処理液を貯留する工程では、前記処理液を前記秤量タンクに貯留し前記流量計の計測を開始してから設定された貯留容積まで貯留される期間と、当該期間における前記流量計の流量値とを計測し、
前記流量計の流量値を校正する工程では、前記期間における前記流量計の流量値を積分した校正用流量積分値を算出し、前記貯留容積と前記校正用流量積分値とに基づき、前記流量計の流量値を補正する補正係数を得る、
請求項13に記載の流量計校正方法。
In the step of storing the processing liquid, the processing liquid is stored in the weighing tank and stored up to a set storage volume after the measurement of the flow meter is started, and the flow rate value of the flow meter during the period. and
In the step of calibrating the flow rate value of the flow meter, a calibration flow rate integral value is calculated by integrating the flow rate value of the flow meter during the period, and based on the storage volume and the calibration flow rate integral value, the flow meter obtain a correction factor that corrects the flow rate value of
The flowmeter calibration method according to claim 13.
前記流量計の流量値を校正する工程では、前記秤量タンクに貯留される前記処理液の揮発量を推定し、前記揮発量と前記貯留容積と前記校正用流量積分値とに基づき、前記流量計の流量値を補正する補正係数を得る、
請求項14に記載の流量計校正方法。
In the step of calibrating the flow rate value of the flow meter, the volatilization amount of the treatment liquid stored in the weighing tank is estimated, and based on the volatilization amount, the storage volume, and the flow rate integral value for calibration, the flow meter obtain a correction factor that corrects the flow rate value of
The flowmeter calibration method according to claim 14.
前記流量計の流量値の校正の実施以降に、前記流量計の正常または異常を確認する工程を有し、
前記流量計の正常または異常を確認する工程では、前記処理液を前記秤量タンクに貯留し前記流量計の計測を開始してから設定された貯留容積まで貯留される期間を計測するとともに、前記期間における前記流量計の流量値を積分したチェック用流量積分値を算出し、前記校正用流量積分値と前記チェック用流量積分値とに基づき、前記流量計の正常または異常を判定する、
請求項14または15に記載の流量計校正方法。
A step of confirming whether the flowmeter is normal or abnormal after performing calibration of the flow rate value of the flowmeter,
In the step of confirming whether the flowmeter is normal or abnormal, the processing liquid is stored in the weighing tank, and the period of storage up to a set storage volume after the start of measurement by the flowmeter is measured, and the period of time is measured. calculating a flow rate integral value for checking by integrating the flow rate value of the flow meter in, and determining whether the flow meter is normal or abnormal based on the flow rate integral value for calibration and the flow rate integral value for checking;
The flowmeter calibration method according to claim 14 or 15.
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