JP2023019435A - 発光装置およびプロジェクター - Google Patents
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Abstract
【課題】小型化を図ることができる発光装置を提供する。【解決手段】基板と、前記基板に設けられた積層体と、前記積層体に設けられ、前記積層体に電流を注入する導電層と、を有し、前記積層体は、前記基板と前記導電層との間に設けられ、第1導電型の第1半導体層と、前記第1導電型と異なる第2導電型の第2半導体層と、前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に設けられた発光層と、を有し、前記導電層は、前記積層体の積層方向と直交する方向に延伸する複数のワイヤー部を有し、前記発光層で発生した光を偏光させ、前記発光層には、前記複数のワイヤー部を介して電流が注入される、発光装置。【選択図】図1
Description
本発明は、発光装置およびプロジェクターに関する。
液晶プロジェクターでは、画像表示に際して偏光を必要とするため、液晶プロジェクター用の光源としては、偏光度の高い光を出射することが望ましい。
例えば特許文献1には、リード部にフリップチップ接続された発光素子と、リード部の窓の位置において発光素子と対向する側に取り付けられた偏光板と、を具備する偏光光源が記載されている。
しかしながら、特許文献1に記載の偏光光源では、発光素子と偏光板とが離間して設けられているため、大型化してしまう。
本発明に係る発光装置の一態様は、
基板と、
前記基板に設けられた積層体と、
前記積層体に設けられ、前記積層体に電流を注入する導電層と、
を有し、
前記積層体は、前記基板と前記導電層との間に設けられ、
第1導電型の第1半導体層と、
前記第1導電型と異なる第2導電型の第2半導体層と、
前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に設けられた発光層と、
を有し、
前記導電層は、前記積層体の積層方向と直交する方向に延伸する複数のワイヤー部を有し、前記発光層で発生した光を偏光させ、
前記発光層には、前記複数のワイヤー部を介して電流が注入される。
基板と、
前記基板に設けられた積層体と、
前記積層体に設けられ、前記積層体に電流を注入する導電層と、
を有し、
前記積層体は、前記基板と前記導電層との間に設けられ、
第1導電型の第1半導体層と、
前記第1導電型と異なる第2導電型の第2半導体層と、
前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に設けられた発光層と、
を有し、
前記導電層は、前記積層体の積層方向と直交する方向に延伸する複数のワイヤー部を有し、前記発光層で発生した光を偏光させ、
前記発光層には、前記複数のワイヤー部を介して電流が注入される。
本発明に係るプロジェクターの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
前記発光装置の一態様を有する。
以下、本発明の好適な実施形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また、以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
1. 第1実施形態
1.1. 発光装置
まず、第1実施形態に係る発光装置について、図面を参照しながら説明する。図1は、第1実施形態に係る発光装置100を模式的に示す断面図である。図2は、第1実施形態に係る発光装置100を模式的に示す平面図である。なお、図1は、図2のI-I線断面図である。また、図1および図2では、互いに直交する3軸として、X軸、Y軸、およびZ軸を示している。
1.1. 発光装置
まず、第1実施形態に係る発光装置について、図面を参照しながら説明する。図1は、第1実施形態に係る発光装置100を模式的に示す断面図である。図2は、第1実施形態に係る発光装置100を模式的に示す平面図である。なお、図1は、図2のI-I線断面図である。また、図1および図2では、互いに直交する3軸として、X軸、Y軸、およびZ軸を示している。
発光装置100は、図1および図2に示すように、例えば、基板10と、積層体20と、絶縁層40と、n型電極50と、第1p型電極60と、ワイヤーグリッド偏光板70と、配線80と、パッド90と、を有している。発光装置100は、LED(Light Emitting Diode)である。
基板10は、例えば、Si基板、GaN基板、サファイア基板、SiC基板などである。
積層体20は、基板10に設けられている。図1に示す例では、積層体20は、基板10上に設けられている。積層体20は、基板10とワイヤーグリッド偏光板70との間に設けられている。積層体20は、例えば、バッファー層22と、第1半導体層32と、発光層34と、第2半導体層36と、を有している。
本明細書では、積層体20の積層方向(以下、単に「積層方向」ともいう)において、発光層34を基準とした場合、発光層34から第2半導体層36に向かう方向を「上」とし、発光層34から第1半導体層32に向かう方向を「下」として説明する。また、積層方向と直交する方向を「面内方向」ともいう。また、「積層体20の積層方向」とは、第1半導体層32と発光層34との積層方向のことである。図示の例では、積層方向は、Z軸方向である。
バッファー層22は、基板10上に設けられている。バッファー層22は、基板10と第1半導体層32との間に設けられている。バッファー層22は、第1導電型の半導体層である。バッファー層22は、例えば、Siがドープされたn型のGaN層である。
第1半導体層32は、バッファー層22上に設けられている。第1半導体層32は、基板10と発光層34との間に設けられている。第1半導体層32は、第1導電型の半導体層である。第1半導体層32は、例えば、Siがドープされたn型のGaN層である。
発光層34は、第1半導体層32上に設けられている。発光層34は、第1半導体層32と第2半導体層36との間に設けられている。発光層34は、電流が注入されることで光を発生させる。発光層34は、例えば、ウェル層と、バリア層と、を有している。ウェル層およびバリア層は、不純物が意図的にドープされていないi型の半導体層である。ウェル層は、例えば、InGaN層である。バリア層は、例えば、GaN層である。発光層34は、ウェル層とバリア層とから構成されたMQW(Multiple Quantum Well)構造を有している。
なお、発光層34を構成するウェル層およびバリア層の数は、特に限定されない。例えば、ウェル層は、1層だけ設けられていてもよく、この場合、発光層34は、SQW(Single Quantum Well)構造を有している。
第2半導体層36は、発光層34上に設けられている。第2半導体層36は、第1導電型と異なる第2導電型の半導体層である。第2半導体層36は、例えば、Mgがドープされたp型のGaN層である。第1半導体層32および第2半導体層36は、発光層34に光を閉じ込める機能を有するクラッド層である。
なお、図示はしないが、第1半導体層32と発光層34との間、および発光層34と第2半導体層36との間の少なくとも一方に、i型のInGaN層およびGaN層からなるOCL(Optical Confinement Layer)が設けられていてもよい。また、第2半導体層36は、p型のAlGaN層からなるEBL(Electron Blocking Layer)を有してもよい。
発光装置100では、p型の第2半導体層36、i型の発光層34、およびn型の第1半導体層32により、pinダイオードが構成される。発光装置100では、n型電極50と第1p型電極60との間に、pinダイオードの順バイアス電圧を印加すると、発光層34に電流が注入されて発光層34において電子と正孔との再結合が起こる。この再結合により発光が生じる。発光層34で発生した光は、第1p型電極60およびワイヤーグリッド偏光板70を透過して出射される。
なお、図示はしないが、基板10とバッファー層22との間、または基板10の下に反射層が設けられていてもよい。該反射層は、例えば、DBR(Distributed Bragg Reflector)層である。該反射層によって、発光層34で発生した光を反射させることができ、発光装置100は、第1p型電極60側からのみ光を出射することができる。
絶縁層40は、バッファー層22上に設けられている。絶縁層40は、積層方向からみて、半導体層32,36および発光層34を囲んでいる。図示の例では、絶縁層40の上面は、第1p型電極60の上面よりも+Z軸方向に位置しているが、絶縁層40の上面の位置は、特に限定されない。絶縁層40は、例えば、酸化シリコン層、ポリイミド層などである。
n型電極50は、バッファー層22上に設けられている。n型電極50は、バッファー層22とオーミックコンタクトしていてもよい。n型電極50は、第1半導体層32と電気的に接続されている。図示の例では、n型電極50は、バッファー層22を介して、第1半導体層32と電気的に接続されている。n型電極50は、発光層34に電流を注入するための一方の電極である。n型電極50としては、例えば、バッファー層22側から、Cr層、Ni層、Au層の順序で積層したものなどを用いる。なお、図示はしないが、絶縁層40には、n型電極50と導通をとるためのコンタクトホールが設けられている。
第1p型電極60は、第2半導体層36上に設けられている。第1p型電極60は、積層体20とワイヤーグリッド偏光板70との間に設けられている。第1p型電極60は、第2半導体層36とオーミックコンタクトしていてもよい。
第1p型電極60の厚さは、例えば、数十nm以下である。第1p型電極60の厚さが数十nm以下であれば、発光層34で発生した光が第1p型電極60を透過する際の光の損失を低減することができる。第1p型電極60は、発光層34に電流を注入するための他方の電極である。第1p型電極60としては、例えば、第2半導体層36側から、Pd層、Pt層、Au層の順序で積層したものなどを用いる。
ワイヤーグリッド偏光板70は、積層体20に設けられている。図示の例では、ワイヤーグリッド偏光板70は、第1p型電極60を介して、積層体20に設けられている。ワイヤーグリッド偏光板70は、第1p型電極60上に設けられている。ワイヤーグリッド偏光板70は、第1p型電極60に接している。ワイヤーグリッド偏光板70は、複数のワイヤー部72を有している。複数のワイヤー部72は、積層方向と直交する方向に延伸している。図2に示す例では、複数のワイヤー部72は、Y軸方向に延伸している。複数のワイヤー部72のピッチは、例えば、発光層34で発生する光の波長の半分以下である。具体的には、複数のワイヤー部72のピッチは、400nm以下であり、好ましくは100nm程度である。ワイヤー部72の幅は、例えば、300nmm以下であり、好ましくは60nm程度である。図示の例では、ワイヤー部72の幅は、ワイヤー部72のX軸方向の大きさである。ワイヤー部72の厚さは、第1p型電極60の厚さよりも大きい。図示の例では、ワイヤー部72の厚さは、ワイヤー部72のZ軸方向の大きさである。ワイヤー部72の厚さは、例えば、第1p型電極60の厚さの2倍よりも大きい。
ワイヤーグリッド偏光板70は、複数のワイヤー部72によって、発光層34で発生した光を偏光させる。ワイヤーグリッド偏光板70は、複数のワイヤー部72によって、発光層34で発生した光のうち、ワイヤー部72の延伸方向と直交する方向(図示の例ではX軸方向)に電場が振動する光を透過させ、その他の光(例えばY軸方向に電場が振動する光)を、積層体20に向けて反射させる。これにより、ワイヤーグリッド偏光板70は、発光層34で発生した光を偏光させることができる。ワイヤーグリッド偏光板70によって、発光装置100では、例えば、X軸方向に電場が振動する直線偏光を出射させることができる。ワイヤー部72の幅、厚さ、およびピッチによって、発光装置100から出射される光の偏光度を制御することができる。
なお、ワイヤーグリッド偏光板70は、例えば、Y軸方向に電場が振動する光を積層体20側に反射させる反射型のワイヤーグリッド偏光板であってもよいし、Y軸方向に電場が振動する光を吸収する吸収型のワイヤーグリッド偏光板であってもよい。
ワイヤーグリッド偏光板70のワイヤー部72は、導電性を有する。ワイヤー部72は、金属を含んで構成されている。ワイヤー部72は、図1に示すように、例えば、第1層72aと、第2層72bと、を有している。ワイヤーグリッド偏光板70は、特許請求の範囲でいう、「導電層」に相当する。ワイヤーグリッド偏光板70は、積層体20に電流を注入する。
ワイヤー部72の第1層72aの材質は、例えば、Al、Ag、またはこれらの合金である。このような材質の第1層72aであれば、反射型のワイヤーグリッド偏光板70を構成することができる。第1層72aは、Alを含み、かつ、アモルファスのSi、アモルファスのGe、およびSiNのうちの少なくとも1つを含む材料で構成されていてもよい。このような材質の第1層72aであれば、吸収型のワイヤーグリッド偏光板70を構成することができる。
ワイヤー部72の第2層72bは、第1層72aと第1p型電極60との間に設けられている。第2層72bの融点は、第1層72aの融点よりも高い。第2層72bの材質は、例えば、Mo、Ti、TiNx、Ta、またはこれらとAlとの合金である。第2層72bの厚さは、第1層72aの厚さよりも小さい。第2層72bの厚さは、例えば、第1層72aの厚さの半分よりも小さい。
ワイヤーグリッド偏光板70は、図2に示すように、複数のワイヤー部72のうちの隣り合うワイヤー部72を接続する接続部74を有している。図示の例では、接続部74は、隣り合うワイヤー部72の+Y軸方向の端部同士を接続している。さらに、接続部74は、隣り合うワイヤー部72の-Y軸方向の端部同士を接続している。接続部74は、隣り合うワイヤー部72のうちの一方のワイヤー部72から他方のワイヤー部72に向けてX軸方向に延伸している。ワイヤーグリッド偏光板70は、板状の部材に、Y軸方向に延伸するスリットが形成された形状を有している。図示の例では、積層方向からみて、接続部74は、第1p型電極60とは重ならずに、絶縁層40と重なっている。接続部74の材質は、例えば、ワイヤー部72と同じである。
配線80は、ワイヤーグリッド偏光板70とパッド90とを接続している。図示の例では、パッド90は、ワイヤーグリッド偏光板70の+Y軸方向に設けられている。配線80は、パッド90から-Y軸方向に延伸してワイヤーグリッド偏光板70に接続されている。パッド90のX軸方向の大きさは、配線80のX軸方向の大きさよりも大きい。パッド90には、例えば、図示せぬワイヤーボンディングが接続されている。ワイヤーボンディングを流れる電流は、パッド90、配線80、ワイヤーグリッド偏光板70、および第1p型電極60を介して、発光層34に注入される。このように、発光層34には、複数のワイヤー部72および第1p型電極60を介して、電流が注入される。複数のワイヤー部72は、発光層34に電流を注入するための電極としても機能する。配線80およびパッド90の材質は、例えば、ワイヤー部72と同じである。
なお、上記では、InGaN系の発光層34について説明したが、発光層34としては、出射される光の波長に応じて、電流が注入されることで発光可能な様々な材料系を用いることができる。例えば、AlGaN系、AlGaAs系、InGaAs系、InGaAsP系、InP系、GaP系、AlGaP系などの半導体材料を用いることができる。
発光装置100は、例えば、以下の作用効果を有する。
発光装置100では、積層体20に設けられたワイヤーグリッド偏光板70を有する。そのため、発光装置100では、ワイヤーグリッド偏光板が積層体に設けられていない場合に比べて、小型化を図ることができる。
さらに、発光装置100では、ワイヤーグリッド偏光板70は、積層方向と直交する方向に延伸する複数のワイヤー部72を有し、発光層34で発生した光を偏光させる。そのため、発光装置100では、例えば、直線偏光の光を出射することができる。
さらに、発光装置100では、発光層34には、複数のワイヤー部72を介して電流が注入される。そのため、発光装置100では、例えば、ワイヤー部に電流が流れない場合に比べて、ワイヤー部72にも電流が流れるので、低抵抗化を図ることができる。したがって、発光層34に均一性よく電流を注入することができる。例えば、第1p型電極60は第2p型電極62よりも抵抗率は低いが、厚さが小さいので、ワイヤー部72を設けていないと、発光層に均一性よく電流を注入することができない場合がある。さらに、ワイヤー部72の延伸方向と直交する方向に電場が振動する光は、複数のワイヤー部72にほぼ吸収されないため、ワイヤー部72の厚膜化によって、さらなる低抵抗化を図ることができる。
発光装置100では、積層体20とワイヤーグリッド偏光板70との間に設けられた第1p型電極60を有し、ワイヤーグリッド偏光板70は、第1p型電極60と接し、発光層34で発生した光は、第1p型電極60を透過して出射され、発光層34には、第1p型電極60を介して電流が注入される。そのため、発光装置100では、第1p型電極を有していない場合に比べて、発光層34に均一性よく電流を注入することができる。さらに、ワイヤーグリッド偏光板と第1p型電極とが離間している場合に比べて、小型化を図ることができる。
発光装置100では、ワイヤーグリッド偏光板70は、複数のワイヤー部72のうちの隣り合うワイヤー部72を接続する接続部74を有する。そのため、発光装置100では、接続部74が設けられていない場合に比べて、複数のワイヤー部72に均一性よく電流を流すことができる。
発光装置100では、複数のワイヤー部72の各々は、第1層72aと、第1層72aと積層体20との間に設けられ、第1層72aよりも高い融点を有する第2層72bと、を有する。そのため、発光装置100では、例えば、発光層34で生じた光がワイヤーグリッド偏光板70を透過する際に熱が発生しても、該熱によって第1層72aに含まれる原子が第1p型電極60に拡散することを、第2層72bによって抑制することができる。特に、Al原子は拡散し易いので、第1層72aがAl原子を含む場合は、第2層72bを設けることが好ましい。
1.2. 発光装置の製造方法
次に、第1実施形態に係る発光装置100の製造方法について、図面を参照しながら説明する。図3は、第1実施形態に係る発光装置100の製造工程を模式的に示す断面図である。
次に、第1実施形態に係る発光装置100の製造方法について、図面を参照しながら説明する。図3は、第1実施形態に係る発光装置100の製造工程を模式的に示す断面図である。
図3に示すように、基板10上に、バッファー層22をエピタキシャル成長させる。エピタキシャル成長させる方法としては、例えば、MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)法、MBE(Molecular Beam Epitaxy)法などが挙げられる。
次に、バッファー層22上に、図示せぬマスク層を形成する。マスク層は、例えば、電子ビーム蒸着法やスパッタ法などによる成膜、およびパターニングによって形成される。パターニングは、例えば、フォトリソグラフィーおよびエッチングによって行われる。マスク層は、例えば、酸化シリコン層、チタン層、酸化チタン層、酸化アルミニウム層などである。
次に、マスク層をマスクとしてバッファー層22上に、第1半導体層32、発光層34、および第2半導体層36を、この順でエピタキシャル成長させる。エピタキシャル成長させる方法としては、例えば、MOCVD法、MBE法などが挙げられる。本工程により、積層体20を形成することができる。
図1に示すように、バッファー層22上にn型電極50を形成する。n型電極50は、例えば、スパッタ法、真空蒸着法などによって形成される。
次に、バッファー層22上およびn型電極50上に、絶縁層40を形成する。絶縁層40は、例えば、CVD(Chemical Vapor Deposition)法、スピンコート法などによって形成される。
次に、第2半導体層36上に第1p型電極60を形成する。第1p型電極60は、例えば、スパッタ法、真空蒸着法などによって形成される。
次に、第1p型電極60上に導電層を形成する。該導電層は、例えば、スパッタ法、真空蒸着法などによって形成される。次に、導電層上にレジスト層を形成し、該レジスト層を露光および現像を行った後、レジスト層をマスクとして、導電層をドライエッチングする。その後、レジスト層を剥離する。露光は、例えば、二光束干渉露光によって行われる。ドライエッチングは、例えば、Cl2ガス、BCl3ガス、Cl4ガス、またはこれらの混合ガスを用いて行われる。本工程により、ワイヤー部72および接続部74を有するワイヤーグリッド偏光板70を形成することができる。さらに、本工程により、配線80およびパッド90を形成する。
以上の工程により、発光装置100を製造することができる。
2. 第2実施形態
2.1. 発光装置
次に、第2実施形態に係る発光装置200について、図面を参照しながら説明する。図4は、第2実施形態に係る発光装置200を模式的に示す断面図である。図5は、第2実施形態に係る発光装置200を模式的に示す平面図である。なお、図4は、図5のIV-IV線断面図である。
2.1. 発光装置
次に、第2実施形態に係る発光装置200について、図面を参照しながら説明する。図4は、第2実施形態に係る発光装置200を模式的に示す断面図である。図5は、第2実施形態に係る発光装置200を模式的に示す平面図である。なお、図4は、図5のIV-IV線断面図である。
以下、第2実施形態に係る発光装置200において、上述した第1実施形態に係る発光装置100の構成部材と同様の機能を有する部材については同一の符号を付し、その詳細な説明を省略する。
発光装置200では、図4および図5に示すように、第2p型電極62および第3p型電極64を有する点において、上述した発光装置100と異なる。
第2p型電極62は、図4に示すように、ワイヤーグリッド偏光板70の第1p型電極60とは反対側に設けられている。第2p型電極62は、複数のワイヤー部72上に設けられている。第2p型電極62は、複数のワイヤー部72に接続されている。第2p型電極62は、複数のワイヤー部72にわたって設けられている。第2p型電極62は、ワイヤーグリッド偏光板70と第3p型電極64との間に設けられている。第2p型電極62の厚さは、例えば、ワイヤー部72の厚さよりも小さく、第1p型電極60の厚さよりも大きい。ワイヤー部72の抵抗率および第1p型電極60の抵抗率は、第2p型電極62の抵抗率よりも低い。第2p型電極62は、発光層34で発生した光に対して透明な透明電極である。第2p型電極62は、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)層、ZnO層などである。
第3p型電極64は、第2p型電極62上に設けられている。さらに、第3p型電極64は、絶縁層40上、および絶縁層40に設けられた開口部42を規定する絶縁層40の側面に設けられている。第3p型電極64の厚さは、例えば、ワイヤー部72の厚さよりも小さく、第1p型電極60の厚さよりも大きい。第3p型電極64の材質は、例えば、第2p型電極62と同じである。図5に示す例では、第3p型電極64の形状は、円形である。
なお、図示はしないが、ワイヤー部72は、第1層72aと第2p型電極62との間に、第1層72aの融点よりも高い第3層を有していてもよい。これにより、第1層72aに含まれるAlがITO層である第2p型電極62と電池反応し、第1層72aに含まれるAlが溶けることを抑制することができる。第3層の材質は、例えば、第2層72bと同じである。
ここで、上述した発光装置100では、図2に示すように、配線80は、ワイヤーグリッド偏光板70とパッド90とを接続した。
これに対し、発光装置200では、図5に示すように、配線80は、第3p型電極64とパッド90とを接続している。配線80の材質およびパッド90の材質は、例えば、第3p型電極64と同じである。パッド90に接続された図示せぬワイヤーボンディングを流れる電流は、パッド90、配線80、第3p型電極64、第2p型電極62、ワイヤーグリッド偏光板70、および第1p型電極60を介して、発光層34に注入される。
発光装置200は、例えば、以下の作用効果を有する。
発光装置200では、ワイヤーグリッド偏光板70の第1p型電極60とは反対側に設けられ、複数のワイヤー部72に接続された第2p型電極62を有する。そのため、発光装置200では、第2p型電極62によってワイヤー部72を保護することができる。ワイヤー部72は幅が狭いため、ワイヤー部72が露出していると、例えば、絶縁層40を形成する際や、製品として使用している際に、水分や外部部材と接触することによりワイヤー部72が倒れてしまう可能性がある。発光装置200では、第2p型電極62によってワイヤー部72を保護することができるため、ワイヤー部72が倒れる可能性を小さくすることができる。
発光装置200では、第2p型電極62は、発光層34で発生した光に対して透明な透明電極であり、複数のワイヤー部72の各々の抵抗率は、第2p型電極62の抵抗率よりも低い。そのため、発光装置200では、第2p型電極62を流れてきた電流は、ワイヤー部72と重なる部分では、抵抗率の低いワイヤー部72を優先的に流れることができるため、ワイヤー部72が設けられていない場合に比べて、発光層34に均一性よく電流を注入することができる。
2.2. 発光装置の製造方法
次に、第2実施形態に係る発光装置200の製造方法について、図面を参照しながら説明する。図6は、第2実施形態に係る発光装置200の製造工程を模式的に示す断面図である。
次に、第2実施形態に係る発光装置200の製造方法について、図面を参照しながら説明する。図6は、第2実施形態に係る発光装置200の製造工程を模式的に示す断面図である。
発光装置200の製造方法では、上述した発光装置100の製造方法と同様に、積層体20、第1p型電極60、およびワイヤーグリッド偏光板70を形成した後、図6に示すように、複数のワイヤー部72上に第2p型電極62を形成する。第2p型電極62は、例えば、スパッタ法、真空蒸着法などによって形成される。第2p型電極62、複数のワイヤー部72、および第1p型電極60を一括にエッチングして、所定形状の、第2p型電極62、複数のワイヤー部72、および第1p型電極60を形成してもよい。
図4に示すように、バッファー層22上にn型電極50を形成する。n型電極50は、例えば、スパッタ法、真空蒸着法などによって形成される。
次に、バッファー層22およびn型電極50上に、絶縁層40を形成する。絶縁層40は、例えば、スピンコート法、CVD法によって形成される。次に、絶縁層40をエッチングして、開口部42を形成する。
次に、第2p型電極62上、絶縁層40上、および開口部42を規定する絶縁層40の側面に、第3p型電極64を形成する。第3p型電極64は、例えば、スパッタ法、真空蒸着法などによって形成される。さらに、本工程により、配線80およびパッド90を形成する。
以上の工程により、発光装置200を製造することができる。
3. 第3実施形態
3.1. 発光装置
次に、第3実施形態に係る発光装置300について、図面を参照しながら説明する。図7は、第3実施形態に係る発光装置300を模式的に示す断面図である。
3.1. 発光装置
次に、第3実施形態に係る発光装置300について、図面を参照しながら説明する。図7は、第3実施形態に係る発光装置300を模式的に示す断面図である。
以下、第3実施形態に係る発光装置300において、上述した第1実施形態に係る発光装置100の構成部材と同様の機能を有する部材については同一の符号を付し、その詳細な説明を省略する。
発光装置300では、図7に示すように、積層体20は、フォトニック結晶構造体38を有する点において、上述した発光装置100と異なる。図示の例では、第2半導体層36は、フォトニック結晶構造体38を有する。
第2半導体層36は、フォトニック結晶構造体38を構成している。フォトニック結晶構造体38は、フォトニック結晶効果を発現し、発光層34で発生した光を、面内方向に閉じ込め、積層方向に出射させる。
図示の例では、第2半導体層36に複数のホール37が設けられ、ホール37と、ホール37の面内方向に位置する第2半導体層36の部分36aと、によってフォトニック結晶構造体38が構成されている。第2半導体層36の部分36aとホール37との屈折率の差によってフォトニック結晶効果が発現される。図示はしないが、ホール37は、酸化シリコン層などによって充填されていてもよい。ホール37の径は、例えば、50nm以上500nm以下である。
なお、「ホールの径」とは、ホール37の平面形状が円の場合は、直径であり、ホール37の平面形状が円ではない形状の場合は、最小包含円の直径である。例えば、ホール37の径は、ホール37の平面形状が多角形の場合、該多角形を内部に含む最小の円の直径であり、ホール37の平面形状が楕円の場合、該楕円を内部に含む最小の円の直径である。このことは、以下に示す「柱状部の径」についても同様である。
複数のホール37は、積層方向からみて、所定の方向に所定のピッチで配列されている。複数のホール37は、例えば、三角格子状に配置されている。なお、複数のホール37の配置は、特に限定されず、正方格子状に配置されていてもよい。
なお、「ホールのピッチ」とは、所定の方向に沿って隣り合うホール37の中心間の距離である。「ホールの中心」とは、ホール37の平面形状が円の場合は、該円の中心であり、ホール37の平面形状が円ではない形状の場合は、最小包含円の中心である。例えば、ホール37の中心は、ホール37の平面形状が多角形の場合、該多角形を内部に含む最小の円の中心であり、ホール37の平面形状が楕円の場合、該楕円を内部に含む最小の円の中心である。このことは、以下に示す「柱状部の径」についても同様である。
発光装置300では、発光層34で発生した光は、面内方向に伝搬し、複数のホール37によるフォトニック結晶の効果により定在波を形成して、発光層34で利得を受けてレーザー発振する。そして、発光装置300は、+1次回折光および-1次回折光をレーザー光として、積層方向に出射する。発光装置300は、レーザー光を出射する半導体レーザーである。
フォトニック結晶構造体38から積層方向に出射される光うち、ワイヤー部72の延伸方向と直交する方向に電場が振動する光の割合は、ワイヤー部72の延伸方向に電場が振動する光の割合よりも大きい。ホール37のピッチ、形状、大きさによって、フォトニック結晶構造体38から積層方向に出射される光の電場の振動方向を制御することができる。
発光装置300は、例えば、以下の特徴を有する。
発光装置300では、積層体20は、発光層34で発生した光を、基板10の面内方向に閉じ込め、積層方向に出射させるフォトニック結晶構造体38を有する。そのため、発光装置300では、積層方向にレーザー光を出射することができる。
発光装置300では、フォトニック結晶構造体38から積層方向に出射される光うち、複数のワイヤー部72の各々の延伸方向と直交する方向に電場が振動する光の割合は、複数のワイヤー部72の各々の延伸方向に電場が振動する光の割合よりも大きい。ワイヤーグリッド偏光板70は、ワイヤー部72の延伸方向と直交する方向に電場が振動する光を透過させる。そのため、ワイヤー部の延伸方向と直交する方向に電場が振動する光の割合がワイヤー部の延伸方向に電場が振動する光の割合よりも少ない場合に比べて、光利用効率を高めることができる。
発光装置300では、第2半導体層36は、フォトニック結晶構造体38を構成している。発光装置300では、例えば、第2半導体層36に複数のホール37を形成することによって、フォトニック結晶構造体38を構成することができる。
なお、図示はしないが、第2半導体層36は、発光層34上に設けられた基部と、基部から上方に突出する複数の柱状部と、を有し、複数の柱状部がフォトニック結晶構造体38を構成していてもよい。複数の柱状部は、例えば、後述する第4実施形態に係る発光装置の複数の柱状部と同様の方法で形成される。
3.2. 発光装置の製造方法
次に、第3実施形態に係る発光装置300の製造方法について、図面を参照しながら説明する。
次に、第3実施形態に係る発光装置300の製造方法について、図面を参照しながら説明する。
発光装置300の製造方法は、例えば電子ビームリソグラフィーおよびドライエッチングによって、図7に示すように第2半導体層36に複数のホール37を形成すること以外は、上述した発光装置100の製造方法と基本的に同じである。したがって、その詳細な説明を省略する。
4. 第4実施形態
4.1. 発光装置
次に、第4実施形態に係る発光装置400について、図面を参照しながら説明する。図8は、第4実施形態に係る発光装置400を模式的に示す断面図である。
4.1. 発光装置
次に、第4実施形態に係る発光装置400について、図面を参照しながら説明する。図8は、第4実施形態に係る発光装置400を模式的に示す断面図である。
以下、第4実施形態に係る発光装置400において、上述した第1実施形態に係る発光装置100、第2実施形態に係る発光装置200、第3実施形態に係る発光装置300の構成部材と同様の機能を有する部材については同一の符号を付し、その詳細な説明を省略する。
上述した発光装置300では、図7に示すように、第2半導体層36は、前記フォトニック結晶構造体38を構成していた。
これに対し、発光装置400では、図8に示すように、複数の柱状部30は、フォトニック結晶構造体38を構成している。
積層体20は、複数の柱状部30を有している。第1半導体層32、発光層34、および第2半導体層36は、複数の柱状部30を構成している。バッファー層22上には、柱状部30を形成するための図示しないマスク層が設けられている。マスク層は、例えば、チタン層、酸化チタン層、シリコン層、酸化シリコン層などである。
柱状部30は、バッファー層22上に設けられている。柱状部30は、バッファー層22から上方に突出した柱状の形状を有している。言い換えれば、柱状部30は、バッファー層22を介して基板10から突出している。柱状部30は、例えば、ナノコラム、ナノワイヤー、ナノロッド、ナノピラーとも呼ばれる。柱状部30の平面形状は、例えば、正六角形などの多角形、円である。
柱状部30の径は、例えば、50nm以上500nm以下である。柱状部30の径を500nm以下とすることによって、高品質な結晶の発光層34を得ることができ、かつ、発光層34に内在する歪を低減することができる。これにより、発光層34で発生する光を高い効率で増幅することができる。
柱状部30は、複数設けられている。隣り合う柱状部30の間隔は、例えば、1nm以上500nm以下である。複数の柱状部30は、積層方向からみて、所定の方向に所定のピッチで配列されている。複数の柱状部30は、例えば、三角格子状に配置されている。なお、複数の柱状部30の配置は、特に限定されず、正方格子状に配置されていてもよい。
複数の柱状部30は、フォトニック結晶の効果を発現することができる。発光層34で発生した光は、面内方向に伝搬し、複数の柱状部30によるフォトニック結晶の効果により定在波を形成して、発光層34で利得を受けてレーザー発振する。そして、発光装置300は、+1次回折光および-1次回折光をレーザー光として、積層方向に出射する。発光装置400は、レーザー光を出射する半導体レーザーである。複数の柱状部30のピッチは、複数のワイヤー部72のピッチより大きくてもよいし、小さくてもよい。
複数の柱状部30の各々は、積層方向からみて、複数のワイヤー部72の1つ以上と重なっている。積層方向からみて、複数の柱状部30の各々は、1つのワイヤー部72とだけ重なっていてもよいし、2つ以上のワイヤー部72となっていてもよい。積層方向からみて、複数の柱状部30のうち、ワイヤー部72と重なっていない柱状部30は、存在しない。
発光装置400は、上述した発光装置200と同様に、第2p型電極62と、第3p型電極64と、を有している。図8では図示しないが、配線80は、上述した発光装置200と同様に、第3p型電極64とパッド90とを接続している。
なお、上記の例では、隣り合う柱状部30の間には空隙が設けられているが、隣り合う柱状部30の間に、発光層34で発生した光を伝搬させる光伝搬層が設けられていてもよい。光伝搬層は、酸化シリコン層であってもよい。
また、発光装置400は、半導体レーザーではなく、LEDであってもよい。
発光装置400は、例えば、以下の作用効果を有する。
発光装置400では、積層体20は、複数の柱状部30を有し、第1半導体層32、第2半導体層36、および発光層34は、複数の柱状部30を構成し、複数の柱状部30は、フォトニック結晶構造体38を構成している。そのため、発光装置400では、高品質な結晶の発光層34を得ることができ、かつ、発光層34に内在する歪を低減することができる。
発光装置400では、積層方向からみて、複数の柱状部30の各々は、複数のワイヤー部72の1つ以上と重なっている。そのため、発光装置400では、積層方向からみてワイヤー部と重なっていない柱状部が存在している場合に比べて、柱状部30に均一性よく電流を注入することができる。
4.2. 発光装置の製造方法
次に、第4実施形態に係る発光装置400の製造方法について、図面を参照しながら説明する。
次に、第4実施形態に係る発光装置400の製造方法について、図面を参照しながら説明する。
発光装置400の製造方法では、上述した発光装置100の製造方法と同様に、バッファー層22を形成した後に、バッファー層22上に、図示せぬマスク層を形成する。マスク層は、例えば、電子ビーム蒸着法やプラズマCVD法などによる成膜、およびパターニングによって形成される。パターニングは、電子ビームリソグラフィーおよびドライエッチングによって行われる。
図8に示すように、マスク層をマスクとしてバッファー層22上に、第1半導体層32、発光層34、および第2半導体層36を、この順でエピタキシャル成長させる。エピタキシャル成長させる方法としては、例えば、MOCVD法、MBE法などが挙げられる。本工程により、複数の柱状部30を形成することができる。
その後、発光装置400の製造方法では、上述した発光装置200の製造方法と同様に、第1p型電極60、ワイヤーグリッド偏光板70、第2p型電極62、n型電極50、絶縁層40、第3p型電極64を形成する。
以上の工程により、発光装置400を製造することができる。
5. 第5実施形態
次に、第5実施形態に係るプロジェクターについて、図面を参照しながら説明する。図9は、第5実施形態に係るプロジェクター800を模式的に示す図である。
次に、第5実施形態に係るプロジェクターについて、図面を参照しながら説明する。図9は、第5実施形態に係るプロジェクター800を模式的に示す図である。
プロジェクター800は、例えば、光源として、発光装置100を有している。
プロジェクター800は、図示しない筐体と、筐体内に備えられている赤色光、緑色光、青色光をそれぞれ出射する赤色光源100R、緑色光源100G、青色光源100Bと、を有している。なお、便宜上、図9では、赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bを簡略化している。
プロジェクター800は、さらに、筐体内に備えられている、第1光学素子802Rと、第2光学素子802Gと、第3光学素子802Bと、第1光変調装置804Rと、第2光変調装置804Gと、第3光変調装置804Bと、投射装置808と、を有している。第1光変調装置804R、第2光変調装置804G、および第3光変調装置804Bは、例えば、透過型の液晶ライトバルブである。投射装置808は、例えば、投射レンズである。
赤色光源100Rから出射された光は、第1光学素子802Rに入射する。赤色光源100Rから出射された光は、第1光学素子802Rによって集光される。なお、第1光学素子802Rは、集光以外の機能を有していてもよい。後述する第2光学素子802Gおよび第3光学素子802Bについても同様である。
第1光学素子802Rによって集光された光は、第1光変調装置804Rに入射する。第1光変調装置804Rは、入射した光を画像情報に応じて変調させる。そして、投射装置808は、第1光変調装置804Rによって形成された像を拡大してスクリーン810に投射する。
緑色光源100Gから出射された光は、第2光学素子802Gに入射する。緑色光源100Gから出射された光は、第2光学素子802Gによって集光される。
第2光学素子802Gによって集光された光は、第2光変調装置804Gに入射する。第2光変調装置804Gは、入射した光を画像情報に応じて変調させる。そして、投射装置808は、第2光変調装置804Gによって形成された像を拡大してスクリーン810に投射する。
青色光源100Bから出射された光は、第3光学素子802Bに入射する。青色光源100Bから出射された光は、第3光学素子802Bによって集光される。
第3光学素子802Bによって集光された光は、第3光変調装置804Bに入射する。第3光変調装置804Bは、入射した光を画像情報に応じて変調させる。そして、投射装置808は、第3光変調装置804Bによって形成された像を拡大してスクリーン810に投射する。
また、プロジェクター800は、第1光変調装置804R、第2光変調装置804G、および第3光変調装置804Bから出射された光を合成して投射装置808に導くクロスダイクロイックプリズム806を有することができる。
第1光変調装置804R、第2光変調装置804G、および第3光変調装置804Bによって変調された3つの色光は、クロスダイクロイックプリズム806に入射する。クロスダイクロイックプリズム806は、4つの直角プリズムを貼り合わせて形成され、その内面に赤色光を反射する誘電体多層膜と青色光を反射する誘電体多層膜とが配置されている。これらの誘電体多層膜によって3つの色光が合成され、カラー画像を表す光が形成される。そして、合成された光は、投射装置808によりスクリーン810上に投射され、拡大された画像が表示される。
なお、赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bは、発光装置100を映像の画素として画像情報に応じて制御することで、第1光変調装置804R、第2光変調装置804G、および第3光変調装置804Bを用いずに、直接的に映像を形成してもよい。そして、投射装置808は、赤色光源100R、緑色光源100G、および青色光源100Bによって形成された映像を、拡大してスクリーン810に投射してもよい。
また、上記の例では、光変調装置として透過型の液晶ライトバルブを用いたが、液晶以外のライトバルブを用いてもよいし、反射型のライトバルブを用いてもよい。このようなライトバルブとしては、例えば、反射型の液晶ライトバルブや、デジタルマイクロミラーデバイス(Digital Micro Mirror Device)が挙げられる。また、投射装置の構成は、使用されるライトバルブの種類によって適宜変更される。
また、光源を、光源からの光をスクリーン上で走査させることにより、表示面に所望の大きさの画像を表示させる画像形成装置である走査手段を有するような走査型の画像表示装置の光源装置にも適用することが可能である。
上述した実施形態および変形例は一例であって、これらに限定されるわけではない。例えば、各実施形態および各変形例を適宜組み合わせることも可能である。
本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成、例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
上述した実施形態および変形例から以下の内容が導き出される。
発光装置の一態様は、
基板と、
前記基板に設けられた積層体と、
前記積層体に設けられ、前記積層体に電流を注入する導電層と、
を有し、
前記積層体は、前記基板と前記導電層との間に設けられ、
第1導電型の第1半導体層と、
前記第1導電型と異なる第2導電型の第2半導体層と、
前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に設けられた発光層と、
を有し、
前記導電層は、前記積層体の積層方向と直交する方向に延伸する複数のワイヤー部を有し、前記発光層で発生した光を偏光させ、
前記発光層には、前記複数のワイヤー部を介して電流が注入される。
基板と、
前記基板に設けられた積層体と、
前記積層体に設けられ、前記積層体に電流を注入する導電層と、
を有し、
前記積層体は、前記基板と前記導電層との間に設けられ、
第1導電型の第1半導体層と、
前記第1導電型と異なる第2導電型の第2半導体層と、
前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に設けられた発光層と、
を有し、
前記導電層は、前記積層体の積層方向と直交する方向に延伸する複数のワイヤー部を有し、前記発光層で発生した光を偏光させ、
前記発光層には、前記複数のワイヤー部を介して電流が注入される。
この発光装置によれば、小型化を図ることができる。
発光装置の一態様において、
前記積層体と前記導電層との間に設けられた第1電極を有し、
前記導電層は、前記第1電極と接し、
前記発光層で発生した光は、前記第1電極を透過して出射され、
前記発光層には、前記第1電極を介して電流が注入されてもよい。
前記積層体と前記導電層との間に設けられた第1電極を有し、
前記導電層は、前記第1電極と接し、
前記発光層で発生した光は、前記第1電極を透過して出射され、
前記発光層には、前記第1電極を介して電流が注入されてもよい。
この発光装置によれば、発光層に均一性よく電流を注入することができる。
発光装置の一態様において、
前記導電層の前記第1電極とは反対側に設けられ、前記複数のワイヤー部に接続された第2電極を有してもよい。
前記導電層の前記第1電極とは反対側に設けられ、前記複数のワイヤー部に接続された第2電極を有してもよい。
この発光装置によれば、第2電極によってワイヤー部を保護することができる。
発光装置の一態様において、
前記第2電極は、前記発光層で発生した光に対して透明な透明電極であり、
前記複数のワイヤー部の各々の抵抗率は、前記第2電極の抵抗率よりも低くてもよい。
前記第2電極は、前記発光層で発生した光に対して透明な透明電極であり、
前記複数のワイヤー部の各々の抵抗率は、前記第2電極の抵抗率よりも低くてもよい。
この発光装置によれば、発光層に均一性よく電流を注入することができる。
発光装置の一態様において、
前記積層体は、前記発光層で発生した光を、前記積層方向と直交する方向に閉じ込め、前記積層方向に出射させるフォトニック結晶構造体を有してもよい。
前記積層体は、前記発光層で発生した光を、前記積層方向と直交する方向に閉じ込め、前記積層方向に出射させるフォトニック結晶構造体を有してもよい。
この発光装置によれば、例えば、積層方向にレーザー光を出射することができる。
発光装置の一態様において、
前記フォトニック結晶構造体から前記積層方向に出射される光うち、前記複数のワイヤー部の各々の延伸方向と直交する方向に電場が振動する光の割合は、前記複数のワイヤー部の各々の延伸方向に電場が振動する光の割合よりも多くてもよい。
前記フォトニック結晶構造体から前記積層方向に出射される光うち、前記複数のワイヤー部の各々の延伸方向と直交する方向に電場が振動する光の割合は、前記複数のワイヤー部の各々の延伸方向に電場が振動する光の割合よりも多くてもよい。
この発光装置によれば、光利用効率を高めることができる。
発光装置の一態様において、
前記第2半導体層は、前記フォトニック結晶構造体を構成していてもよい。
前記第2半導体層は、前記フォトニック結晶構造体を構成していてもよい。
この発光装置によれば、例えば、第2半導体層に複数のホールを形成することによって、フォトニック結晶構造体を構成することができる。
発光装置の一態様において、
前記積層体は、複数の柱状部を有し、
前記第1半導体層、前記第2半導体層、および前記発光層は、前記複数の柱状部を構成し、
前記複数の柱状部は、前記フォトニック結晶構造体を構成していてもよい。
前記積層体は、複数の柱状部を有し、
前記第1半導体層、前記第2半導体層、および前記発光層は、前記複数の柱状部を構成し、
前記複数の柱状部は、前記フォトニック結晶構造体を構成していてもよい。
この発光装置によれば、高品質な結晶の発光層を得ることができ、かつ、発光層に内在する歪を低減することができる。
発光装置の一態様において、
前記積層方向からみて、前記複数の柱状部は、前記複数のワイヤー部の1つ以上と重なっていてもよい。
前記積層方向からみて、前記複数の柱状部は、前記複数のワイヤー部の1つ以上と重なっていてもよい。
この発光装置によれば、柱状部に均一性よく電流を注入することができる。
発光装置の一態様において、
前記導電層は、前記複数のワイヤー部のうちの隣り合うワイヤー部を接続する接続部を有してもよい。
前記導電層は、前記複数のワイヤー部のうちの隣り合うワイヤー部を接続する接続部を有してもよい。
この発光装置によれば、複数のワイヤー部に均一性よく電流を流すことができる。
発光装置の一態様において、
前記複数のワイヤー部の各々は、
第1層と、
前記第1層と前記積層体との間に設けられ、前記第1層よりも高い融点を有する第2層と、
を有してもよい。
前記複数のワイヤー部の各々は、
第1層と、
前記第1層と前記積層体との間に設けられ、前記第1層よりも高い融点を有する第2層と、
を有してもよい。
この発光装置によれば、第1層に含まれる原子が第1電極に拡散することを、第2層によって抑制することができる。
プロジェクターの一態様は、
前記発光装置の一態様を有する。
前記発光装置の一態様を有する。
10…基板、20…積層体、22…バッファー層、30…柱状部、32…第1半導体層、34…発光層、36…第2半導体層、36a…部分、37…ホール、38…フォトニック結晶構造体、40…絶縁層、42…開口部、50…n型電極、60…第1p型電極、62…第2p型電極、64…第3p型電極、70…ワイヤーグリッド偏光板、72…ワイヤー部、72a…第1層、72b…第2層、74…接続部、80…配線、90…パッド、100,200,300,400…発光装置、800…プロジェクター、802R…第1光学素子、802G…第2光学素子、802B…第3光学素子、804R…第1光変調装置、804G…第2光変調装置、804B…第3光変調装置、806…クロスダイクロイックプリズム、808…投射装置、810…スクリーン
Claims (12)
- 基板と、
前記基板に設けられた積層体と、
前記積層体に設けられ、前記積層体に電流を注入する導電層と、
を有し、
前記積層体は、前記基板と前記導電層との間に設けられ、
第1導電型の第1半導体層と、
前記第1導電型と異なる第2導電型の第2半導体層と、
前記第1半導体層と前記第2半導体層との間に設けられた発光層と、
を有し、
前記導電層は、前記積層体の積層方向と直交する方向に延伸する複数のワイヤー部を有し、前記発光層で発生した光を偏光させ、
前記発光層には、前記複数のワイヤー部を介して電流が注入される、発光装置。 - 請求項1において、
前記積層体と前記導電層との間に設けられた第1電極を有し、
前記導電層は、前記第1電極と接し、
前記発光層で発生した光は、前記第1電極を透過して出射され、
前記発光層には、前記第1電極を介して電流が注入される、発光装置。 - 請求項2において、
前記導電層の前記第1電極とは反対側に設けられ、前記複数のワイヤー部に接続された第2電極を有する、発光装置。 - 請求項3において、
前記第2電極は、前記発光層で発生した光に対して透明な透明電極であり、
前記複数のワイヤー部の各々の抵抗率は、前記第2電極の抵抗率よりも低い、発光装置。 - 請求項1ないし4のいずれか1項において、
前記積層体は、前記発光層で発生した光を、前記積層方向と直交する方向に閉じ込め、前記積層方向に出射させるフォトニック結晶構造体を有する、発光装置。 - 請求項5において、
前記フォトニック結晶構造体から前記積層方向に出射される光うち、前記複数のワイヤー部の各々の延伸方向と直交する方向に電場が振動する光の割合は、前記複数のワイヤー部の各々の延伸方向に電場が振動する光の割合よりも大きい、発光装置。 - 請求項5または6において、
前記第2半導体層は、前記フォトニック結晶構造体を構成している、発光装置。 - 請求項5または6において、
前記積層体は、複数の柱状部を有し、
前記第1半導体層、前記第2半導体層、および前記発光層は、前記複数の柱状部を構成し、
前記複数の柱状部は、前記フォトニック結晶構造体を構成している、発光装置。 - 請求項8において、
前記積層方向からみて、前記複数の柱状部は、前記複数のワイヤー部の1つ以上と重なっている、発光装置。 - 請求項1ないし9のいずれか1項において、
前記導電層は、前記複数のワイヤー部のうちの隣り合うワイヤー部を接続する接続部を有する、発光装置。 - 請求項1ないし10のいずれか1項において、
前記複数のワイヤー部の各々は、
第1層と、
前記第1層と前記積層体との間に設けられ、前記第1層よりも高い融点を有する第2層と、
を有する、発光装置。 - 請求項1ないし11のいずれか1項に記載の発光装置を有する、プロジェクター。
Priority Applications (3)
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JP2021124152A JP2023019435A (ja) | 2021-07-29 | 2021-07-29 | 発光装置およびプロジェクター |
CN202210889307.6A CN115692589A (zh) | 2021-07-29 | 2022-07-27 | 发光装置以及投影仪 |
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JP2021124152A JP2023019435A (ja) | 2021-07-29 | 2021-07-29 | 発光装置およびプロジェクター |
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Family Applications (1)
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- 2021-07-29 JP JP2021124152A patent/JP2023019435A/ja active Pending
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2022
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