JP2022546589A - 超解像画像化のための高速スキャニングシステム - Google Patents
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Abstract
Description
本出願は、2019年9月5日に提出された米国特許仮出願第62/896,541号の恩典を主張するものであり、該仮出願は、その全体が参照により本明細書に組み入れられる。
現代社会において商品原価とは、企業の起業を可能にするものであり、一方で企業の倒産を引き起こし得るものでもある。多くの場合、この商品およびサービスの原価(COGS)は、特定の処理についてのスループットを増大させることによって、減少させることが可能である。そのため、商品を可能な限り迅速かつ効率良く処理することを可能にすることは、多くの場合、企業にとって「必須」である。商品の自動検査は、ビジョンシステムまたは画像化システムを用いて規定どおりになされる。これらのシステムは、物体の静止画または動画を取得し、そして該動画または静止画の解析に基づいて該物体の状態を決定するために、使用される。そのため、該物体に次に何が起きるのかを決定するために、動画または静止画から定量化可能なデータを抽出することが必要である。定量化可能なデータの抽出は、画像の品質(画像の特徴物がどのくらい明確に定まっているか(ぼけ)、適切なコントラストがどのくらい好ましく定まっているか、等)に、常に依存する。単純かつ費用効果の高い様式で、この必要性を、高スループット画像化(試料が連続的に移動している最中の、試料の画像化)に関する必要性と組み合わせることは、難題である。オンザフライ方式での画像化または高スループット画像化の重要な局面の1つは、試料ステージの速度をほぼ一定に維持することである。試料ステージの速度が変化している場合、画像はぼやけ、そして抽出される定量化可能なデータは、不十分なものになり得る。いくつかの高スループット処理に関しては、スキャニング中の超解像画像化(回折限界未満の画像化)、および<0.5ピクセルのぼけが要求される。この定量化の改善は、2つのミラー(速度追尾ミラーおよび加速追尾ミラー)を用いて、または1つのミラーを用いて、フィードフォワードアプローチ(現在のフィールドの平均速度を使用して、次のフィールドのための速度補正項を計算し、かつ提供する)を利用して達成され得る。画像の安定化の正確性が<40 nmであり、かつスピードが20 FPS(フレーム毎秒)よりも速いという、リアルタイム位置データのみを使用する超解像システムにおいて、画像の安定化のために1つまたは2つのミラーが使用される、既知の適用例は、現時点では存在しない。
本発明は、少なくとも部分的には、移動しているステージ上の物体を画像化する際のピクセルスミアを減少させる、新規な方法および装置の発見に基づく。
本明細書において言及されるすべての刊行物、特許、および特許出願は、個々の刊行物、特許、または特許出願がそれぞれ、参照により組み入れられるように具体的にかつ個々に示された場合と同程度に、参照により本明細書に組み入れられる。本明細書に含まれる本開示と相反する、参照により組み入れられる刊行物および特許または特許出願の範囲については、本明細書が、そのような相反する事柄のどれよりも優先され、および/または上位に立つことが、意図される。
本発明のさまざまな態様が本明細書において示されかつ記載されているが、そのような態様が単なる例として提供されていることは、当業者には明らかである。無数の変形、改変、および置き換えが、本発明から逸脱することなく、当業者に想起され得る。本明細書において記載される本発明の態様のさまざまな代替物が採用され得ることが、理解されるべきである。
本明細書において、基材が可動ステージ上で移動している最中に、高感度で、基材の一部分または基材のフィールドの画像を高フレームレートでキャプチャーするためのシステムが提供される。該光学スキャニングシステムは、高速、単一分子、単一フルオロフォアでの画像化が可能であり、これはこれまで、ステージ移動の厳密な制御を必要とする、重くかつ高価なシステムか、またはより遅い、ステップアンドリピート方式の光学スキャニングシステムによってしか、提供されていない。本明細書において提供される光学スキャニングシステムは、1%から10%まで変動するステージ速度、および画像の少なくとも数ピクセルのぼけを補正する、1つのミラーまたは2つのミラーのスキャニング光学素子を用いることによって、(連続的に移動しているステージの画像として使用され得る。この補正は、0.1%未満の変動で追尾されたステージ速度と同等の、または+/-1ピクセル以下のピクセルスミアの画像と同等の画像をもたらし得る。したがって、本明細書において開示されるスキャニング光学素子は、速度誤差(すなわち速度変動)を、たとえば可動ステージまたは基材の局所的な加速および減速などを、補正して、連続的に移動している可動ステージの画像化中に、安定化された画像フィールドをカメラへと提供して、ピクセルスミアを減少させる、システムを提供する。
未満である。いくつかの態様において、可動ステージは、2次元フルフレーム電子センサーを有するカメラが2次元画像を生成する最中に、対物レンズに対する第1の既知の横方向において、連続的な動きで基材を移動させるように構成されている。いくつかの態様において、基材上のフィールドの複数の行または列を画像化するために、可動ステージは、連続的に蛇行する様式で移動するように構成されている。
F(A,x,t) = A(x)*Err(x,t)
D(F,C,x,E) = F(A,x,t)y*C*x + E
式中、Cはスケール因子であり、x = ステージ位置であり、かつEはオフセットである。本明細書において記載されるように、F(A,x,t)yは、傾斜範囲 = yでの、または前のフィールドでの、F(A,x,t)の平均値である。不連続性を平滑化する関数もまた、加速追尾ミラーの駆動シグナルを生成するために使用され得る。
本明細書において、回折限界であるλ/(2*NA)未満の中心間の間隔で表面上に置かれた分析物からのシグナルの画像化を容易にするためのシステムおよび方法が提供される。これらのシステムおよび方法は、高分解能の画像を生成するために、先進の画像化システムを使用し、かつ、高い正確性での基材上の分子の位置決定を容易にするために、反復検出を使用し、かつ、高密度に詰め込まれた表面上の各分子についてのシグナルのアイデンティティを高い正確性で取得するために、画像のデコンボリューションを使用する。これらの方法およびシステムは、高密度に詰め込まれた基材上での、合成による単一分子配列決定を可能にして、高い正確性での高効率かつ非常に高スループットのポリヌクレオチドの配列決定を提供する。
図12Aは、240 nmのピッチで80 nmの直径の結合領域(スポット)という高密度領域の、提案される態様を示す。この態様において、単鎖DNA分子のみがチップ上の特定の領域に結合した、規則的なアレイが使用され得る。いくつかの態様において、スポットを埋め尽くさないよう、40 kBより小さいコンカテマー(すなわち、連続して連結された同じDNA配列の複数のコピーを含む、長く連続したDNA分子)が使用される。コンカテマーのサイズはほぼ領域に対応しており、同じ増幅プロセスが使用される場合、より小さいコンカテマーの予測される長さは、およそ10コピーをもたらすおよそ4 kB~5 kBとなることを意味する。4 kBの長さのDNAを使用し、そして単一分子を直接的に配列決定することもまた、可能である。別の選択肢は、排他的な分子を作るのに必要なサイズまで全長を伸ばすために、DNAのより短いセグメントに、配列決定されないフィラーDNAを結合させることである。
画像化プラットフォームの増大した分子密度に関する第1の制約は、回折限界である。光学システムの回折限界のための方程式は、
D = λ/2*NA
であり、式中、Dは回折限界であり、λは光の波長であり、かつNAは光学システムの開口数である。典型的な空気中の画像化システムは、0.6~0.8のNAを有する。λ = 600 nmを用いると、回折限界は375 nm~500 nmとなる。水浸システムに関して、NAは約1.0であり、300 nmの回折限界となる。
デコンボリューションは、記録されたデータに対するコンボリューションの作用を逆転させるために使用される、アルゴリズムに基づくプロセスである。デコンボリューションの概念は、シグナル処理および画像処理の技術において広く使用されている。これらの技術は次々に、多くの科学および工学の分野において広く使用されているので、デコンボリューションは多くの応用性を提供している。
光学的検出画像化システムには回折限界があり、そのためこれは、配列決定において典型的に使用されるフルオロフォアに関して、約300 nmの、理論上の最大分解能を有する。現在まで、最良の配列決定システムは、それらのアレイ上で約600 nmの、または約2x回折限界の、近接するポリヌクレオチドの間の中心間の間隔を有している。この 2xという係数は、結果として位置の誤差を生じ得る、強度の、アレイの、および生物学的な変動を明らかにするために、必要とされる。10ドルゲノムを達成するために、およそ200 nmの中心間の間隔が必要とされ、これは回折限界未満の画像化能力を必要とする。
本明細書において記載されるように、検出方法およびシステムのそれぞれは、回折限界未満の画像化を達成するために、反復検出を必要とした。反復検出は、結合および画像化、または可視光の光学シグナルを放出することができる検出可能な標識に結合した抗体もしくはヌクレオチドなどのプローブを含む。異なるサイクルからの、フィールドの一連の画像からの位置情報を用いることにより、高密度に詰め込まれた基材からのシグナルを解像するデコンボリューションを、光学画像化の回折限界のために不明瞭にされたシグナルからの個々の光学シグナルを効果的に同定するために、使用することができる。複数のサイクル後、分子の厳密な位置は、ますますより正確となる。この情報を用いて、ピクセルへの離散化作用のために生じる、クロストークマトリックスにおける既知の非対称に関するクロストーク補正を補助するために、追加の計算が実施され得る。
回折限界未満での画像化を達成するために、本発明によって克服されるいくつかの障壁がある。
基材上の分析物について相対位置情報が正確に決定され、そして各サイクルからのフィールド画像がこの位置情報とアラインされると、クロストークおよび最近傍回帰を用いる、オーバーサンプリングされた各画像の分析が、各画像における各分析物からの光学シグナルを正確に同定するために、使用され得る。
分子の密度は、隣接する分子からのクロストークにより制約を受ける。図13は、単一分子のシミュレートされた画像を示す。この特定の画像は、2xオーバーサンプリングフィルターで処理された、600 nmのピッチの単一分子アレイのシミュレーションである。8つの近接するスポット中へのクロストークは、アレイのピッチおよびアルゴリズムのタイプの関数として平均される。
いくつかの態様において、図16に示されるように、本明細書において、高密度に詰め込まれた基材の表面上に固定化された分析物の相対位置を正確に決定するための方法が提供される。該方法は、表面を含む基材を提供する工程を最初に含み、ここで表面は、表面上で別々の位置に固定化された複数の分析物を含む。その後、該表面上でのプローブ結合およびシグナル検出の複数のサイクルが実施される。検出の各サイクルは、分析物を、表面上に固定化された標的分析物に結合することができるプローブセットと接触させる工程、該表面上の別々の位置で該分析物に結合した個々のプローブからの複数の光学シグナルを検出するために、光学システムを用いて該表面のフィールドを画像化する工程、および検出の別のサイクルが実施されようとする場合に、結合したプローブを除去する工程を含む。各画像から、該複数のサイクルの少なくとも2つからの該フィールドの画像から、該複数の光学シグナルのそれぞれからのピーク位置が検出される。各分析物についてのピークの位置がオーバーレイされて、それから基材上の各分析物の正確な相対位置がその後決定される、ピークのクラスターが生成される。
本明細書において開示される方法およびシステムの効果は、図22A、図22B、図23A、および図23Bに示される、シミュレートされたクロストークプロットにおいて例示される。これらの図のそれぞれについて、10μm x 10μmの領域での検出された各分析物における4つのフルオロフォアの1つと相関する放出スペクトルの強度を示すクロストークプロットが、示される。4つのフルオロフォアのうちの1つに対応するそれぞれの軸は、プロットのそれぞれの角へと伸長する。したがって、プロットの中心に位置するスポットは、すべての4つのフルオロフォアからの、強度の等しい寄与を有する。画像化サイクル中の個々のフルオロフォアから検出された放出強度は、X, Y;X, -Y;-X, Y;または-X, -Yのいずれかの方向にスポットを移動させるように割り当てられる。したがって、これらの4つの軸に沿ったスポットの集団の分離は、分析物の位置におけるフルオロフォアからの明確なデコンボリューションされたシグナルを示す。各シミュレーションは、10.075μm x 10.075μmの領域における1024分子の検出に基づいており、これは1平方ミクロンあたり10.088分子の密度、または約315 nmの分子間の平均中心間距離を示す。これは、162.5 nm x 162.5 nmのピクセルサイズでの約62 x 62ピクセルの画像領域と相関する。
上述のおよび図21において記載される方法はまた、高密度に詰め込まれたポリヌクレオチドを含む基材上で伸長する相補鎖へと組み込まれる相補的な可逆的ターミネーターの光学的検出を用いる、合成による配列決定による配列決定を容易にする。したがって、回折限界未満の中心間距離で隣接しているポリヌクレオチドの配列と相関するシグナルは、本明細書において記載される方法および光学検出システムを用いて、信頼性をもって検出され得る。配列決定中の画像処理はまた、配列決定反応または検出における誤差を補正するための、基材上の繰り返されたクローン配列に基づく、もしくはデータそれ自体に基づく、前のサイクルの回帰を含み得る。いくつかの態様において、配列決定のために基材上に固定化されているポリヌクレオチドは、コンカテマーである。コンカテマーは、配列決定されようとするポリヌクレオチドの、複数の同一コピーを含み得る。したがって、本明細書において記載される方法およびシステムによって同定される各光学シグナルは、組み込まれたヌクレオチドからの単一の検出可能な標識(たとえばフルオロフォア)を指すことができ、または、シグナルが複数の位置からの平均であるように、単一のコンカテマーにおいて複数の位置に結合した複数の検出可能な標識を指すことができる。生じる分解能は、個々の検出可能な標識の間ではなく、基材に固定化された異なるコンカテマーの間である。
記載されるシステムは、いくつかのサブシステムを含む:
1. 配列決定されようとするDNAを含むフローセル
2. エンコーダーを有する試料ステージ
3. FPGA(スキャニングミラーの制御)
4. レーザー照射源
5. 高速スキャニング光学素子(ミラーが1つ)
6. 1つまたは複数のカメラ
7. 機器制御ソフトウェア
8. 画像処理のために使用される超解像アルゴリズム
方法
本明細書において記載されるシステムおよび方法は、当技術分野における現在の状況に勝る、大きな利点を提供する。検出可能な標識(たとえば、蛍光でタグ付けされた核酸分子)に結合した分析物の画像を取得するために、本明細書において記載される特徴と一致する高速スキャニング(「HSS」)システムが使用された。HSSは、およそ1200のフィールドについて、異なる4色で画像を取得するように構成された。HSSのデータは、スキャニングミラー1つを用いて取得され、かつリニアエンコーダーからのリアルタイムフィードバックを利用した。HSSのデータは、77.7 mm2の面積について画像化された。画像が取得された後、各フィールドにおける分析物の位置を決定するために、画像解析ソフトウェアが使用された。その後、平均密度(分析物/μm2)が計算され、そして、測定された各フィールドに対して割り当てられた。
画像化時間は、HSSのデータおよびSnSのデータの両方について同様であった。さらに、HSSのデータについての誤り率は、SnSの誤り率と同様か、またはそれよりも低かった。図31A~31Bは、HSS画像化およびSnS画像化の両方について、流体キャビティにおけるすべてのフィールドにわたって測定された平均分析物密度(分析物/μm2)を示す。図31Cは、HSSおよびSnSの両方について、それらの分析物密度(分析物/μm2)にしたがって区分けされた、画像化されたフィールドの数のヒストグラムである。
Claims (37)
- a. 光源;
b. 複数のフィールドをキャプチャーするための、対物レンズと機能的に連結されている1つまたは複数のカメラ;
c. 基材を支持するように構成されているステージであって、該光源に近接する規定された経路に沿って移動するように構成されている、ステージ;
d. 該ステージに機械的かつ機能的に連結されているエンコーダー;
e. 該エンコーダーから位置情報を受け取るように、および該ステージについての複数の位置の複数の計算を実施するように構成されている、位置処理モジュール;
f. 該ステージについての該複数の位置の該複数の計算を受け取るための、該位置処理モジュールに機能的に連結されている該規定された経路に近接する軸に連結されているスキャニングミラー;および
g. 構成要素(a)~(f)を同期的に作動させるように構成されている、制御モジュール
を含む画像化システム。 - 画像処理モジュールをさらに含み、該処理モジュールが、
(i) 前記基材上に配置された複数の分析物のうちのある分析物の位置、または、
前記基材上に配置されたある分析物の、該基材上に配置された別の分析物に対する相対位置
を同定するために複数の画像を処理するための画像化アルゴリズムを使用するように;および
(ii) 該位置または該相対位置において該分析物が同定されたら該分析物を分析するように
構成されており、ここで、該複数の分析物が、該複数の分析物のうちのある分析物と該複数の分析物のうちの別の分析物との間の最小有効ピッチがλ/(2*NA)未満であるような密度で前記基材上に配置されており、式中、λが、光路において使用される光の波長であり、かつ「NA」が、前記1つまたは複数のカメラの開口数である、請求項1に記載のシステム。 - 前記光源がレーザーを含む、請求項2に記載のシステム。
- 前記光源が複数のレーザーを含む、請求項2に記載のシステム。
- 画像化処理モジュールが、複数の超解像画像を生成するように構成されている、請求項2に記載のシステム。
- 前記スキャニングミラーの複数の動作が、前記位置処理モジュールの前記複数の計算から生じる、請求項2に記載のシステム。
- 前記複数の計算が、前記ステージの速度測定値または位置測定値の関数である、請求項2に記載のシステム。
- 前記位置処理モジュールが、前記複数の計算を波形で出力するように構成されている、請求項2に記載のシステム。
- 前記基材が複数のフィールドを含む、請求項2に記載のシステム。
- 前記エンコーダーが、
前記基材上に配置された前記複数の分析物のうちの前記分析物の前記位置、または、
前記基材上に配置された前記分析物の、該基材上に配置された別の分析物に対する前記相対位置
についての1つまたは複数の補正値を生成するように;および
該1つまたは複数の補正値を前記波形に適用するように
構成されている、請求項8に記載のシステム。 - 前記スキャニングミラーが、前記複数のフィールドのうちの1つのフィールドのスキャンが完了したら元の位置へと移動するように、および前記複数のフィールドのうちの次のフィールドのスキャンを開始するように構成されている、請求項2に記載のシステム。
- 前記光源が、約400~800ナノメートルの波長を含む、請求項2に記載のシステム。
- 前記エンコーダーが、前記ステージの前記複数の移動に基づいて複数のエンコーダーカウントを実施するように構成されている、請求項6に記載のシステム。
- 前記エンコーダーが、前記複数のエンコーダーカウントからシグナル周期を生成するように構成されている、請求項13に記載のシステム。
- 前記エンコーダーカウントが、約0.05マイクロメートル~約30マイクロメートルの距離に位置付けられる、請求項13に記載のシステム。
- 前記エンコーダーが、512ナノメートルにおいて、前記複数のエンコーダーカウントからシグナル周期を生成する、請求項15に記載のシステム。
- 前記基材が、規定された複数のレーンを含む、請求項2に記載のシステム。
- 前記規定された複数のレーンのうちの1つのレーンが、複数の列を含む、請求項17に記載のシステム。
- 前記複数の超解像画像が、約10~約40ナノメートル未満のぼけを含む、請求項5に記載のシステム。
- 前記ぼけが、約20~約150フレーム毎秒のフレームレートにおいて生じる、請求項19に記載のシステム。
- 前記複数の分析物が、前記画像化システムの回折限界未満またはλ/(2*NA)未満の中心間の間隔で、前記基材上に配置される、請求項2に記載のシステム。
- 前記複数の計算が、瞬間的な計算を含む、請求項2に記載のシステム。
- 前記請求項のいずれか一項に記載のシステムを利用して、移動している基材上の複数のフィールドを画像化する方法。
- 以下の工程を含む、複数のフィールドを含む移動している基材を画像化する方法:
a. 該基材をステージ上に配置する工程であって、光源に近接する規定された経路に沿って移動するように該ステージが構成されている、工程;
b. 該ステージに機械的かつ機能的に連結されているエンコーダーから位置情報を受け取るように位置処理モジュールを構成する工程であって、該位置処理モジュールが、該ステージについての複数の位置の複数の計算を実施するようにさらに構成されている、工程;
c. 該位置処理モジュールに機能的に連結されている該規定された経路に近接する軸に連結されているスキャニングミラーを、該ステージについての該位置の該複数の計算を受け取るように構成する工程;および
d. 1つまたは複数のカメラを用いて、該複数のフィールドのうちの少なくとも1つのフィールドを画像化する工程。 - (b)~(d)が同期的に実施される、請求項24に記載の方法。
- 以下の工程をさらに含む、請求項24または25に記載の方法:
e. 前記基材上に配置された複数の分析物のうちのある分析物の位置、または、
前記基材上に配置されたある分析物の、該基材上に配置された別の分析物に対する相対位置
を同定するために複数の画像を処理するための画像化アルゴリズムを使用する工程。 - 前記複数の分析物が、該複数の分析物のうちのある分析物と該複数の分析物のうちの別の分析物との間の最小有効ピッチがλ/(2*NA)未満であるような密度で前記基材上に配置されており、式中、λが、光路において使用される光の波長であり、かつ「NA」が、前記光学画像化モジュールの開口数である、請求項26に記載の方法。
- 前記スキャニングミラーの複数の動作が、前記位置処理モジュールの前記複数の計算から生じる、請求項24または25に記載の方法。
- 前記複数の計算が、前記ステージの速度測定値または位置測定値の関数である、請求項24または25に記載の方法。
- (b)が、前記複数の計算を波形で出力するように前記位置処理モジュールをさらに構成することをさらに含む、請求項24または25に記載の方法。
- (b)が、
前記基材上に配置された前記複数の分析物のうちの前記分析物の前記位置、または、
前記基材上に配置された前記分析物の、該基材上に配置された別の分析物に対する前記相対位置
についての1つまたは複数の補正値を生成するように;および
該1つまたは複数の補正値を前記波形に適用するように
前記位置処理モジュールを構成することをさらに含む、請求項30に記載の方法。 - (c)が、
前記複数のフィールドのうちの1つのフィールドのスキャンが完了したら元の位置へと移動するように、および前記複数のフィールドのうちの次のフィールドのスキャンを開始するように、前記スキャニングミラーをさらに構成すること
をさらに含む、請求項24または25に記載の方法。 - (b)が、複数のエンコーダーカウントからシグナル周期を生成するように該エンコーダーを構成することをさらに含む、請求項24または25に記載の方法。
- 前記エンコーダーカウントが、約0.05マイクロメートル~約30マイクロメートルの距離に位置付けられる、請求項33に記載の方法。
- 前記エンコーダーが、512ナノメートルにおいて、前記複数のエンコーダーカウントからシグナル周期を生成する、請求項34に記載の方法。
- 前記複数の画像のうちのある画像が、約10~約40ナノメートル未満のぼけを含む、請求項26に記載の方法。
- 前記ぼけが、約20~約150フレーム毎秒のフレームレートにおいて生じる、請求項36に記載のシステム。
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