JP2022187966A - カーボンナノチューブデバイス及びその使用方法 - Google Patents
カーボンナノチューブデバイス及びその使用方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2022187966A JP2022187966A JP2022009025A JP2022009025A JP2022187966A JP 2022187966 A JP2022187966 A JP 2022187966A JP 2022009025 A JP2022009025 A JP 2022009025A JP 2022009025 A JP2022009025 A JP 2022009025A JP 2022187966 A JP2022187966 A JP 2022187966A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carbon nanotube
- sample
- head
- scanning electron
- nanotube device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 141
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 title claims abstract description 140
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 140
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 25
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 5
- 238000004626 scanning electron microscopy Methods 0.000 claims description 2
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000003491 array Methods 0.000 description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical group [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/026—Means for avoiding or neutralising unwanted electrical charges on tube components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
- H01J37/09—Diaphragms; Shields associated with electron or ion-optical arrangements; Compensation of disturbing fields
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y40/00—Manufacture or treatment of nanostructures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/261—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/28—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Carbon And Carbon Compounds (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
106、206、306、406 カーボンナノチューブアレイ
102、202、302 ヘッド
104、204、304、404 ロングハンドル
108、208、308、408 スルーホール
Claims (4)
- カーボンナノチューブデバイスは、導電性基板及びカーボンナノチューブアレイを含み、
前記導電性基板は、ヘッド及びロングハンドルを含み、前記ヘッドは、スルーホールを有し、
前記カーボンナノチューブアレイは、前記スルーホールの周りの前記ヘッドの表面に設置され、前記ヘッドの表面に基本的に垂直な複数のカーボンナノチューブを含むことを特徴とするカーボンナノチューブデバイス。 - 前記ヘッド及び前記ロングハンドルの材料が同じ導電材料であることを特徴とする、請求項1に記載のカーボンナノチューブデバイス。
- 走査型電子顕微鏡に応用されるカーボンナノチューブデバイスは、導電性基板及びカーボンナノチューブアレイを含み、
前記導電性基板は、ヘッド及びロングハンドルを含み、前記ヘッドは、スルーホールを有し、
前記カーボンナノチューブアレイは、前記スルーホールの周りの前記ヘッドの表面に設置され、前記ヘッドの表面に基本的に垂直な複数のカーボンナノチューブを含み、
前記スルーホールは、前記走査型電子顕微鏡から放出された電子ビームを通させることに用いられ、前記カーボンナノチューブアレイは、前記走査型電子顕微鏡のサンプルの表面と接触することを特徴とする走査型電子顕微鏡に応用されるカーボンナノチューブデバイス。 - カーボンナノチューブデバイスの使用方法は、
前記カーボンナノチューブデバイスを提供するステップであって、前記カーボンナノチューブデバイスは、カーボンナノチューブアレイ及びスルーホールを含むステップと、
観察される走査型電子顕微鏡のサンプルを提供し、前記サンプルを前記走査型電子顕微鏡の観察領域に配置するステップと、
前記カーボンナノチューブデバイスをメカニカルアームに固定し、前記カーボンナノチューブデバイスにおけるカーボンナノチューブアレイを前記サンプルと接触させるように、前記メカニカルアームの位置を移動するステップと、
前記走査型電子顕微鏡の電源を入れ、前記走査型電子顕微鏡の電子ビームを、前記スルーホールを通し、且つ前記サンプルに当たらせ、前記サンプルを撮るステップと、
を含むことを特徴とするカーボンナノチューブデバイスの使用方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110639098.5A CN115458379A (zh) | 2021-06-08 | 2021-06-08 | 碳纳米管器件及其使用方法 |
CN202110639098.5 | 2021-06-08 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022187966A true JP2022187966A (ja) | 2022-12-20 |
JP7315934B2 JP7315934B2 (ja) | 2023-07-27 |
Family
ID=84285413
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2022009025A Active JP7315934B2 (ja) | 2021-06-08 | 2022-01-25 | カーボンナノチューブデバイス及びその使用方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11996261B2 (ja) |
JP (1) | JP7315934B2 (ja) |
CN (1) | CN115458379A (ja) |
TW (1) | TWI780784B (ja) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009193668A (ja) * | 2008-02-12 | 2009-08-27 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 試料冷却装置およびそれを備えた電子線分析観察装置 |
JP2011074887A (ja) * | 2009-10-01 | 2011-04-14 | Japan Aerospace Exploration Agency | ホローカソード |
JP2012146417A (ja) * | 2011-01-07 | 2012-08-02 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線装置及びそれを用いた試料への荷電粒子照射方法 |
JP2014048165A (ja) * | 2012-08-31 | 2014-03-17 | Nitto Denko Corp | 分析用除電部材 |
JP2015181122A (ja) * | 2010-07-30 | 2015-10-15 | パルセータ, エルエルシーPulsetor, Llc | 密接に結合したシンチレータ−光電子増倍管の組合せを含む電子検出器、それを用いた電子顕微鏡及びx線検出器 |
JP2018022620A (ja) * | 2016-08-04 | 2018-02-08 | 大日本印刷株式会社 | 試料収容セル及びその製造方法 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE60042679D1 (de) * | 2000-03-16 | 2009-09-17 | Hitachi Ltd | Vorrichtung zum Erzeugen eines Stromes von Ladungsträgern |
US20070145267A1 (en) * | 2005-12-12 | 2007-06-28 | Adler David L | Portable scanning electron microscope |
CN101276724B (zh) * | 2007-03-30 | 2011-06-22 | 北京富纳特创新科技有限公司 | 透射电镜微栅及其制备方法 |
CN102005357B (zh) * | 2009-08-28 | 2012-12-19 | 清华大学 | 透射电镜微栅 |
CN101381071B (zh) * | 2007-09-07 | 2011-05-04 | 清华大学 | 碳纳米管复合薄膜及其制备方法 |
US9460887B2 (en) * | 2009-05-18 | 2016-10-04 | Hermes Microvision, Inc. | Discharging method for charged particle beam imaging |
CN102194633B (zh) * | 2010-03-17 | 2013-08-28 | 清华大学 | 透射电镜微栅 |
CN101866804B (zh) * | 2010-04-14 | 2012-05-16 | 北京富纳特创新科技有限公司 | 透射电镜微栅 |
EP2601669B1 (en) * | 2010-08-02 | 2017-04-05 | Protochips, Inc. | Electron microscope sample holder for forming a gas or liquid cell with two semiconductor devices |
DE102010052674A1 (de) * | 2010-11-24 | 2012-05-24 | Carl Zeiss Ag | Probenträger mit Justiermarkierung |
JP5743950B2 (ja) * | 2012-04-27 | 2015-07-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 走査電子顕微鏡 |
CN107481914B (zh) * | 2016-06-08 | 2023-06-06 | 清华大学 | 一种透射型低能量电子显微系统 |
CN211208384U (zh) * | 2020-03-16 | 2020-08-07 | 北京城市学院 | 一种扫描电镜样品台集合器 |
-
2021
- 2021-06-08 CN CN202110639098.5A patent/CN115458379A/zh active Pending
- 2021-06-18 TW TW110122492A patent/TWI780784B/zh active
-
2022
- 2022-01-25 JP JP2022009025A patent/JP7315934B2/ja active Active
- 2022-02-24 US US17/679,652 patent/US11996261B2/en active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009193668A (ja) * | 2008-02-12 | 2009-08-27 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 試料冷却装置およびそれを備えた電子線分析観察装置 |
JP2011074887A (ja) * | 2009-10-01 | 2011-04-14 | Japan Aerospace Exploration Agency | ホローカソード |
JP2015181122A (ja) * | 2010-07-30 | 2015-10-15 | パルセータ, エルエルシーPulsetor, Llc | 密接に結合したシンチレータ−光電子増倍管の組合せを含む電子検出器、それを用いた電子顕微鏡及びx線検出器 |
JP2012146417A (ja) * | 2011-01-07 | 2012-08-02 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線装置及びそれを用いた試料への荷電粒子照射方法 |
JP2014048165A (ja) * | 2012-08-31 | 2014-03-17 | Nitto Denko Corp | 分析用除電部材 |
JP2018022620A (ja) * | 2016-08-04 | 2018-02-08 | 大日本印刷株式会社 | 試料収容セル及びその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US11996261B2 (en) | 2024-05-28 |
TWI780784B (zh) | 2022-10-11 |
JP7315934B2 (ja) | 2023-07-27 |
TW202248630A (zh) | 2022-12-16 |
CN115458379A (zh) | 2022-12-09 |
US20220392732A1 (en) | 2022-12-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN1924553B (zh) | 用于确定粒子光学装置中透镜误差的方法 | |
US9184023B2 (en) | Transmission electron microscope micro-grid | |
US9257258B2 (en) | Method of making transmission electron microscope micro-grid | |
JP7315934B2 (ja) | カーボンナノチューブデバイス及びその使用方法 | |
US20150364294A1 (en) | Transmission electron microscope micro-grid | |
US7323227B2 (en) | Process for precise arrangement of micro-bodies | |
CN109841549B (zh) | 一种无损转移自支撑低维材料的方法 | |
JP2007287401A (ja) | 導電性針およびその製造方法 | |
CN113325021A (zh) | 一种原位测试方法和能够搭载微纳尺度样品的样品台 | |
TW201443966A (zh) | 高處理量掃描致偏器及其製造之方法 | |
JP2006244796A (ja) | 電子顕微鏡の試料ホルダ | |
EP2835654A1 (en) | Insulator coated conductive probe and method of production thereof | |
US20040240613A1 (en) | Device and method for generating an x-ray point source by geometric confinement | |
CN114397482A (zh) | 探针装置与探针控制设备 | |
JPH0684451A (ja) | 熱電界放射陰極 | |
JP7186985B1 (ja) | 走査型電子顕微鏡のサンプルの処理方法 | |
JP2006252994A (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
JP4332624B2 (ja) | カーボンナノチューブの付着方法および付着装置 | |
TWI853302B (zh) | 高解析度多束源以及產生多束的方法 | |
KR102207711B1 (ko) | 시료 관찰 장치 및 방법 | |
CN216792273U (zh) | 探针装置与探针控制设备 | |
CN217239380U (zh) | 石墨烯电极静电透镜及扫描电子显微镜 | |
JP2005158338A (ja) | 試料の観察装置及び加工装置 | |
US20230154725A1 (en) | Emitter for emitting charged particles | |
KR100601962B1 (ko) | 정전기적으로 구동되는 나노 집게 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220125 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20221115 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230117 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230207 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230407 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230620 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230706 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7315934 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |