JP2022167857A - 電流センサ - Google Patents
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Abstract
【課題】安価な電流センサであって、現在入手可能な電流センサと比べて小さい設置スペースしか必要とせず、取り付けが容易な電流センサを提供する。【解決手段】少なくとも1つの検知コイル(6,7)を支える少なくとも1つの支持要素(1,2)を備える電流センサを提供する。支持要素(1,2)はまた、少なくとも1つの検知コイル(6,7)が配置された少なくとも1つの面(4,5)を有している。検知コイル(6,7)は、通電導体(3)に関連して使用される。少なくとも2つの検知コイル(6,7)は、通電導体(3)の長手軸(9)に対する個々の検知コイル(6,7)の角度配向、及び/又は、前記通電導体(3)に対する個々の検知コイル(6,7)の垂直距離、のうちの少なくとも一方について、互いに異なっている。【選択図】図1
Description
本発明は、請求項1の特徴に関連する電流センサに関する。
US 2021/0048454 A1は、プリント基板を備える集積電流測定装置を開示している。このプリント基板は、分流抵抗器として構成されている。分流抵抗器は、プリセットされた抵抗値を有する抵抗素子と、当該抵抗素子の両側から延びる端子と、を含む。分流抵抗器は、プリント基板の底面に取り付けられている。ホールセンサが、プリント基板の上面に、分流抵抗器に対向するように搭載されており、ここでプリント基板は、ホールセンサと分流抵抗器との間に配置された状態となっている。
本発明の目的は、安価な電流センサであって、現在入手可能な電流センサと比べて小さい設置スペースしか必要とせず、取り付けが容易な電流センサを提供することにある。
この目的は、通電導体に関連して使用される少なくとも1つの支持要素を備える電流センサによって達成される。
支持要素は、少なくとも1つの検知コイルを支えている。支持要素は、少なくとも1つの検知コイルが配置された少なくとも1つの面を有している。
少なくとも2つの検知コイルは、通電導体の長手軸に対する個々の検知コイルの角度配向に関して、互いに異なっている。
あるいは、少なくとも2つの検知コイルは、通電導体に対する個々の検知コイルの垂直距離に関して、互いに異なっている。
電流が、通電導体を通って流れ、磁界を生成する。
支持要素は、通電導体の近傍に位置している。
また、支持要素は、通電導体によって生成された磁界に対して角度を有して配置されている。
検知コイルの磁界に関する感度は、通電導体を通って流れる電流によって生成された磁界に対する、検知コイルの角度配向に依存する。
<電流センサ>
公知の電流センサは、通電導体を通って流れる電流を測定する。通電導体を通って流れる電流は、通電導体の周辺領域に磁界を生成する。通電導体は、バスバーとして構成されていてよい。
公知の電流センサは、通電導体を通って流れる電流を測定する。通電導体を通って流れる電流は、通電導体の周辺領域に磁界を生成する。通電導体は、バスバーとして構成されていてよい。
いわゆるバスバーの代わりに、他の通電導体を用いることも可能である。
電流センサ内には、検知コイルが配置されている。検知コイルをバスバーに対して、どこに及びどのように配置することが出来るかについては、様々な選択肢がある。
磁界を生成及び/又は検出するためにコイルが使用される。検知コイルは、通電導体に対する検知コイルの位置若しくは角度配向によって、又は、距離によって定義される感度を有している。
以下に、検知コイルをより詳細に説明する。
電流センサは、通電導体を通って流れる電流によって生成される磁界を測定する。
公知の電流センサは、分流抵抗器、変流器、及び/又は、磁界に基づくトランスデューサといった技術を含む。
電流センサは、検出された磁界に比例する信号を生成する。
電流センサによって生成される信号は、例えば電流計において、測定された電流を表示するために使用可能である。
電流を測定するために使用される技術は、基礎となる物理的原理に応じて分類される。
電流センサは、少なくとも1つの第1のチャネル及び少なくとも1つの第2のチャネルを含んでいてよい。
第1のチャネル及び第2のチャネルは、それぞれ、少なくとも2つのコイルを含んでいてよい。両方のコイルは、互いに対して軸方向又は径方向に並んでいてよい。
少なくとも2つのコイルは、それぞれ、通電導体に隣接して配置されている。
個々のコイルの個々の感度について、両方のチャネル(第1及び第2のチャネル)は異なる感度を有していてよい。
電流の測定は、ファラデー効果センサ又はホール効果センサに基づき得る。
電流を測定するために、フラックスゲートセンサ又は分流抵抗器を使用可能である。
また、光ファイバ電流センサを使用して、電流を測定することも可能である。言うまでもなく、電流は、他の技術的手段によっても検出及び/又は測定可能である。
以下では、一例として、本発明は、磁界センサに基づき、通電導体を通って流れる電流によって生成された磁界を測定する。
通電導体を通って流れる電流によって生成された磁界を測定する磁界センサは、ホール効果センサであり得る。電流センサは、フラックスゲートセンサ又は磁気抵抗センサであってもよい。
ホール効果センサは、磁気システムによって生成された磁界を検知する。
ホール効果センサは、基本的な磁界センサであり、多くの用途に利用可能な出力を作成するために信号調節を必要とする。
フラックスゲートセンサは、通常、上述のホール効果センサと類似した測定原理に基づいて動作する。
いずれのセンサ(ホール効果センサ及びフラックスゲートセンサ)でも、電流によって磁界が生成される。ここでは、測定は特定の検知素子によって行われる。
ホール効果センサとは異なり、フラックスゲートセンサはホール効果センサの代わりに可飽和インダクタを使用する。
磁気抵抗電流センサは、通常、磁界が印加されると、その抵抗を放物線状に変化させる二端子デバイスとして設計されている。
磁気抵抗器の抵抗値は、磁界に応じて変動する。これは、磁気抵抗効果としても知られている。
<支持要素>
支持要素は、少なくとも1つの検知コイルを支えている。
支持要素は、少なくとも1つの検知コイルを支えている。
支持要素は、少なくとも1つの検知コイルが配置された少なくとも1つの面を備えている。
言うまでもなく、支持要素は、2つ以上の面を含んでいてよい。
したがって、支持要素は、支持要素の2つの面が互いに離反した長方形を有していてよい。
長方形の本体を有する支持要素は、検知コイルを支えるために、2つよりも多い数の面を有していてもよい。
支持要素の各面は、少なくとも1つの検知コイルを支えている。
支持要素は、通電導体の近傍に位置している。
通電導体に隣接した位置では、支持要素は、通電導体を通って流れる電流によって生成された、通電導体の磁界に対して角度を有して配置されている。
通電導体の磁界については、以下で、より詳細に説明する。
本発明の一実施形態では、少なくとも4つの検知コイルを支える支持要素が、通電導体の上にクリップ留めされている。
支持要素は、通電導体の上にクリップ留めされて、摩擦ロックを提供し得る。
支持要素は、形状結合された連結部によって、又は、構造結合された連結部によって、通電導体の上にクリップ留めされていてもよい。
支持要素は、絶縁材の平坦なシートを含んでいてよい。
支持要素は、支持要素に積層された銅箔の層をさらに含んでいてもよい。
支持要素は、任意の形状の基材であってよい。
一例として、支持要素は、電気部品又は電子部品を機械的に支持及び電気的に接続するプリント基板である。
支持要素は、少なくとも1つの導電トラック、又は、少なくとも1つの導電パッドを備え、及び/又は、非導電性基材の薄層の上及び/又は間に積層された1つ又は複数の銅の薄層からエッチングされた他の機構を有する。
上述のように、支持要素は、片面であってもよいし、両面であってもよい。
片面の支持要素は、1つの銅層を含み、両面の支持要素は、1つの支持要素の両面に銅層を支えている。
支持要素は、多数の面を含み、支持要素の各面は、少なくとも1つの検知コイルを支えていてよい。
<検知コイル>
検知コイルは、電磁気コイルであってもよい。
検知コイルは、電磁気コイルであってもよい。
検知コイルは、電線等の導電体である。
検知コイルは、通電導体を通って流れる電流によって生成される磁界と相互作用する。
本発明によれば、電流は、通電導体を通って流れることによって、磁界を生成する。
検知コイルは、少なくとも1つのループを有する巻線を含む。したがって、検知コイルは、軸方向において前後に配置された多数のループから構成されてもよい。
検知コイルのこのループの中心には、コア領域が存在する。
検知コイルのループは、互いに電気絶縁されている。
本発明の一実施形態によれば、検知コイルは、コモンモード阻止において、支持要素、及び/又は、別の検知コイル、及び/又は、通電導体に接続されている。
コモンモード阻止とは、電気差動増幅器の2つの入力電圧が同じ量だけ変化する時に、出力電圧の変化がどれ位少ないかを示すものである。
したがって、電気差動増幅器の2つの入力電圧は、コモンモードにおいて変化する。
本発明の他の一実施形態は、少なくとも2つの検知コイルを提供する。これらの検知コイルは、それぞれ、通電導体の長手軸に対して角度を有して配置されている。
長手軸に対する検知コイルの角度は、互いに異なる。
通電導体の長手軸に対する所定の位置を維持するためには、少なくとも2つ、好ましくは4つの検知コイルが支持要素に搭載されている。
したがって、検知コイルは、通電導体の長手軸に対して、ゼロと90度との間の角度で位置付けられ得る。
検知コイルは、通電導体の長手軸に対して、他の任意の角度で配置されていてもよい。
本発明の他の一実施形態では、検知コイルは、通電導体の長手軸に沿って延びている。
本発明のさらに他の一実施形態では、少なくとも2つの検知コイルが当該長手軸に対して横方向に配置されている。
通電導体の長手軸に対する検知コイルの角度配向に従い、磁界に対する検知コイルの角度配向が変化する。
換言すると、通電導体の長手軸に対する検知コイルの角度配向は、通電導体を通って流れる電流によって生成される磁界に対する検知コイルの角度配向に影響する。
通電導体を通って流れる電流によって生成される磁界に対する検知コイルの角度配向が、検知コイルの感度を決定する。
単に一例として、通電導体及び/又は磁界に対する検知コイルの角度配向の以下の値は、各検知コイルの対応する感度値を導く。
上記の表1を参照すると、通電導体の長手軸に対する、及び/又は、通電導体の磁界に対する特定のコイルの角度配向が60°(度)の場合、各コイルの感度の量は50%となる。
コイルの最大感度(100%)は、通電導体の磁界に対する特定のコイルの角度配向が0°(度)の場合に得られる。
コイルの最小感度(0%)は、通電導体の磁界に対する特定のコイルの角度配向が90°(度)の場合に得られる。
本発明の他の一実施形態によれば、検知コイルは、通電導体の方に向けられた支持要素の面に配置されている。
本発明の他の一実施形態は、通電導体から離反した支持要素の面の検知コイルを提供する。
支持要素の両面に、少なくとも1つのコイルが配置されていてよい。
本発明のさらなる一実施形態によれば、少なくとも2つの支持要素が通電導体の一側面に配置されていてよい。
これらの少なくとも2つの支持要素は、通電導体に対して軸方向に配置されていることが可能である。
また、これらの少なくとも2つの支持要素は、通電導体に対して径方向に配置されていることが可能である。
通電導体に対して径方向及び/又は軸方向に配置されている、これらの少なくとも2つの支持要素は、少なくとも1つの検知コイルを備えていてよい。支持要素の各面に、少なくとも2つの検知コイルが配置されていてよい。
本発明のさらなる実施形態は、少なくとも2つの検知コイルが支持要素の各面に配置されていることを示している。ここでは、支持要素の面は互いに離反している。
この実施形態は、互いに反対方向を向いた少なくとも2つの検知コイルを提供する。
また、検知コイルは、通電導体に対して異なる距離で配置されている。
本発明の他の一実施形態によれば、検知コイルは、互いに対称に支持要素の面に配置されている。
言うまでもなく、検知コイルは、非対称に支持要素の面に配置されていてもよい。
対称軸は、支持要素に対して垂直であり得る。
一例として、対称軸は、支持要素を貫通する平面において延びていてもよい。
本発明の他の一実施形態は、磁界を検知する検知コイルが感度を有していることを開示する。
感度は、通電導体に対する検知コイルの位置に依存する。
感度は、通電導体に対する検知コイルの角度配向に依存し得る。
あるいは、感度は、通電導体に対する検知コイルの距離に依存していてもよい。
検知コイルの感度は、測定可能な、印加電流パラメータの最大値及び最小値を含む全ての値を含む。
検知コイルの感度は、特に、通電導体の長手軸に対する検知コイルの角度配向に依存している。
本発明の他の一実施形態は、1つ又は複数の検知コイル、及び、1つ又は複数の支持要素を含むハウジングを提供する。
このハウジングは、検知コイル及び/又は支持要素及び/又は通電導体を、少なくとも部分的に包囲している。
ハウジングは、包囲される部品を、汚染及び/又は損傷から保護することに役立つ。
<通電導体>
通電導体は、電流を導通させる。
通電導体は、電流を導通させる。
通電導体の通電性能は、導電性と呼ばれる。
通常、通電導体は、少なくとも1つの金属から製造される。金属のうち、通電導体は、銅から成ることが可能である。
通電導体は、様々な金属の合金を含んでいてもよい。
本発明の他の一実施形態では、バスバーの形の通電導体が開示される。
バスバーは、矩形の平坦な金属ボディから構成されていることが可能である。バスバーは、平坦なストリップであり得る。バスバーは、頑丈な棒やロッドとして提供されていてもよい。バスバーは、多数の異なる形状で形成され得る。
バスバーは、大電流を分配させるように構成されている。
バスバーは、通常、絶縁されていない。バスバーは、十分な剛性を有している。
通常、バスバーは、銅、真鍮、又は、アルミニウムから成る。
<通電導体及び磁界>
通電導体を通って流れる電流が、磁界を生成する。磁界は、通電導体を通って流れる電流に対して垂直に延びる。
通電導体を通って流れる電流が、磁界を生成する。磁界は、通電導体を通って流れる電流に対して垂直に延びる。
単に一例として、電流は、通電導体の長手軸に沿って流れて磁界を生成する。磁界は、通電導体の長手軸に対して径方向に延びる。
さらに、磁界の規模は、通電導体を通って流れる電流の量に比例する。
磁界の放射は、通電導体の形状に影響を受ける。
矩形の通電導体(バスバー等)の角が、通電導体の磁界に影響する。したがって、通電導体(バスバー)に近い距離において、磁界は、楕円形のようになる。
本発明のさらなる一実施形態によれば、通電導体は、孔を有している。
少なくとも2つの検知コイルを支える支持要素は、通電導体の孔を通って延びている。
通電導体の孔を通って延びながら、支持要素は、通電導体に対する、好ましくは直角の角度配向を有している。
また、通電導体の孔を通って延びる支持要素は、磁界に対して垂直な配向を有している。
通電導体の中心に配置された孔が、電流を2つの等しい部分に分割する。
通電導体を通って流れる電流によって生成された磁界は、この孔の内部で正反対の勾配を生成する。
磁界は、通電導体を通って流れる電流に対して垂直に延びる。したがって、磁界は、通電導体の孔の中心に向かって集結する。通電導体の孔により、磁界が三次元の態様を有するようになる。
通電導体の孔を通って延びながら、支持要素は、通電導体を通って流れる電流に対して平行に配置されていてもよい。
孔の中では、支持要素は、通電導体内で電流の流れの向きに対して直角の位置に配置されていてもよい。
以下において、本発明を、4つの例を参照しながらより詳細に説明する。
通電導体であって、通電導体に対して平面状に配置された4つの検知コイルを備える通電導体を示す図である。
支持要素が貫通している孔を有する通電導体を示す図である。
通電導体上にクリップ留めされた支持要素を示す図である。
通電導体と、各面上で1つの検知コイルを支える1つの支持要素と、を示す図である。
通電導体の各側面に1つ配置されたコイルを備える通電導体であって、これらのコイルは、通電導体から離間されている通電導体を示す図である。
通電導体の長手軸に対して横方向に配置された2つの検知コイルを有する電流センサを示す図である。
再び図1を参照し、図1に示される検知コイルの配置条件において測定した結果を示す座標系を含む図である。
図1の条件下で行った周波数試験の結果を示す図である。
再び図1を参照し、図1に示される検知コイルの配置条件において測定した結果を示す図であり、ここで、検知コイルは110(オーム)の利得抵抗を有する。
再び図1を参照し、高基準試験の結果を示す図である。
再び図1を参照し、異なる数の巻線コイルを比較した結果を示す図である。
再び図1を参照し、検知コイルの出力信号動作を示す図である。
再び図1を参照し、外部磁界に影響を受ける検知コイルの出力信号動作を示す図である。
再び図2を参照し、図2に示される検知コイルの配置条件において測定した結果を提供する座標系を含む図である。
再び図4を参照し、図4に示される検知コイルの配置条件において測定した結果を提供する座標系を含む図である。
検知コイルの予期される巻線感度を提供する座標系を示す図である。
再び図1を参照し、通電導体の長手軸に対して径方向に延びる磁界の線を示す図である。
矢印Xの方向及び矢印Yの方向の両方における、検知コイルのコアに沿った磁束密度の値を示す図である。
矢印Xの方向における、検知コイルのコアに沿った磁束密度の値を示す図である。
矢印Yの方向における、検知コイルのコアに沿った磁束密度の値を示す図である。
図1及び図4を参照し、検知コイルが通電導体の長手軸に対して異なる角度配向で配置された通電導体を示す図である。
図1及び図4を参照し、通電導体の磁界に関する支配的な磁界成分(Bx)を示す図である。
図1及び図4を参照し、通電導体の磁界に関する支配的な磁界成分(Bx)を示す図である。
異なるコイルの位置における磁界値の比較を示す図である。
通電導体の長手軸に対して横方向の配向を有する検知コイルに関する、図23に相当する座標系を示す図である。
通電導体に対して異なる距離に配置された2つの個々の検知コイルを示す図である。
図2を参照し、2つのコイルが貫通した孔を備える通電導体の磁界を示す図である。
図2を参照し、矢印X及び矢印Yの両方に沿った磁束密度の合計を示す図である。
図27の図に類似した図であって、図27では、磁束密度(B)は矢印Yの方向に示されている点が相違点である。
再び図2を参照し、通電導体に対する検知コイルの矢印Yに沿った距離に応じた磁束密度を表す座標系を示す図である。
再び図2を参照し、通電導体に対する検知コイルの矢印Yに沿った距離に応じた磁束密度を表す座標系を示す図である。
通電導体の孔の直径にわたる、磁束密度の変動を示す図である。
通電導体を貫通した孔の近傍に形成された磁界ホットスポットの変動を示す図である。
フラックスゲートセンサの中心における最大磁界が、フラックスゲートセンサの通電導体(バスバー)からの距離に依存していることを示す図である。
4つのチャネルを表す座標系を示す図である。各チャネルは1つの検知コイルを備えており、これらの検知コイルは、互いに対して異なる傾斜角を有している。
図7~図11において、座標系のX軸上の値(I)は、バスバーを流れる電流の強度を指す。電流の強度の値は、A(アンペア)で表されている。
図7~図11において、Y軸上の値Vout(mV)は、バスバーを流れる電流によって検知コイル内に誘導される電圧を指す。
図1は、2つの支持要素1、2が通電導体3にクリップ留めされている部分図p1を示す。
各支持要素1、2は、それぞれ通電導体3に対向する面4、5を備えている。
通電導体3に対向する面4、5において、各支持要素1、2は、検知コイル6、7を支えている。
図1の部分図p2は、側方から見た通電導体3の断面を示す図である。
電流8が、通電導体3の長手軸9の方向に流れており、磁界10を生成している。
図示されていない支持要素1、2により、検知コイル6、7は通電導体3の近傍に配置されている。
したがって、各検知コイル6、7は、磁界10に対して露出されている。
図1の部分図p3は、検知コイル6、7の角度配向12が、磁界10に対する検知コイル6、7の感度100%を提供することを開示している。
通電導体3の長手軸9に対する、及び/又は、磁界10に対する検知コイル6、7の角度配向13は、磁界10に対する検知コイル6、7の感度70%を提供する。
通電導体3の磁界10や通電導体3の長手軸9に対する、検知コイル6、7の角度配向14は、検知コイル6、7の感度40%を提供する。
磁界10に対してほぼ垂直な角度配向は、検知コイル6、7の感度0%を提供する。
図2の部分図p1は、孔16を有する通電導体3を示している。
支持要素1、2は、通電導体3の孔16を貫通して延びている。
支持要素1、2は、2つの検知コイル6、7を提供する。
検知コイル6、7は、異なる極性17を有している。
図2の部分図p2は、通電導体3の断面を示している。
支持要素1、2は、孔16を貫通して延びている。
支持要素1、2は、2つの面を有している。
支持要素1、2の面4、5は、互いに対向する方向に向いている。
図2の部分図p3は、通電導体3の平面図であり、その中心に孔16がある。
長手軸9に沿った電流8が、通電導体3の長手軸9に対して径方向に延びる磁界10を生成する。
支持要素1、2は、通電導体3の孔16を貫通して延びている。
支持要素1の面4及び5の上に配置された検知コイル6、7は、孔16を貫通して延びる磁界10に対する角度配向12を有している。
検知コイル6、7の角度配向12により、検知コイル6、7の感度が100%となる。
図3は、支持要素1、2が通電導体3にクリップ留めされている部分図p1を示す。
支持要素1、2は、2つの面4、5を示している。
各面4、5は、2つの検知コイル6、7を支えている。
支持要素1、2の面4では、検知コイル6、7が、通電導体3の各側に配置されている。
支持要素1、2の面5では、検知コイル6、7が、通電導体3の長手軸9に対して、通電導体3の一方の側に配置されている。
図3の部分図p2は、図3の部分図p1の側面図を示す。
部分図p2において、支持要素1、2の面4に検知コイル6、7が設けられている。
検知コイル6、7は、通電導体3に対して平行に配置されている。
図3の部分図p2では、検知コイル6及び7は、長手軸9に対して通電導体3の各側に配置されている。
図3の部分図p3は、検知コイル6、7が通電導体3の長手軸9に対して通電導体3の一方の側に配置された支持要素1、2を示している。
図4は、図1に示される部分図p1、p2、及び、p3に類似した部分図p1、p2、及び、p3を示している。
図4の部分図p1、p2、及び、p3は、通電導体3の一方の側に1つの支持要素1、2だけが配置されている点において異なっている。
図4の部分図p1及びp2では、支持要素1、2は、通電導体3の一方の側に配置されている。
しかしながら、支持要素1、2は、その各面4、5にそれぞれ1つの検知コイル6、7を示している。
図4の部分図p1及びp2では、支持要素1、2の面4は、通電導体3の方に向けられている。
支持要素1、2の面5は、通電導体3から離反している。
したがって、通電導体3に対する検知コイル6の径方向の距離は、通電導体3に対する検知コイル7の径方向の距離よりも小さい。検知コイル7は、支持要素1、2の面5に配置されている。
電流8が通電導体3の長手軸9に沿って通電導体3を通って流れると、磁界10が生成される。
支持要素1、2の両面4及び5上の検知コイル6及び7の配置により、検知コイル6及び7が磁界10に対して異なって露出されることになる。
磁界10に対する検知コイル6及び7の異なる露出は、通電導体3及び磁界10に対する検知コイル6及び7の角度配向によるものである。
図5は、両側にそれぞれ1つの支持要素1、2が配置された通電導体3を示している。
各支持要素1、2は、通電導体3の方を向いた、支持要素1、2の面4、5に配置された個々の検知コイル6、7を支えている。
両方の支持要素1、2は、通電導体3から離間されている。したがって、個々の検知コイル6、7も、通電導体3に対して距離を置いて配置されている。
図6は、通電導体3の長手軸9に軸対称に隣り合って配置された2つの検知コイル6、7を有する電流センサを示している。
図6は、バスバーに対して一対に配置された2つの検知コイルを示している。この一対の検知コイルのうちの第1の検知コイルは、バスバーの長手軸に対して傾斜して配置されている。
この一対の検知コイルのうちの第2の検知コイルを位置決めするためには、バスバーの長手軸に対する第1の検知コイルの傾斜角を、バスバーの長手軸を中心に鏡映反転させる。
バスバーの長手軸に対する第1及び第2の検知コイルの傾斜角は、同一である。
第1の検知コイルの傾斜角をバスバーの長手軸を中心に鏡映反転させることにより、第2の検知コイルの鏡映反転された傾斜角が得られる。
両方の検知コイル(第1の検知コイル及び第2の検知コイル)の傾斜角は、同じ大きさであるが、正反対の符号を有している。
一効果として、傾斜角をバスバーの長手軸を中心に鏡映させることにより、バスバーに対する検知コイルの正反対の測定信号が導かれる。
検知コイルは、ボビン内に配置されたコアを有している場合が多い。コアとボビンとの間の空間により、検知コイルによる測定が不正確な結果になる場合がある。
2つの検知コイル(第1の検知コイル及び第2の検知コイル)間の角度により、測定がさらに不正確となる。バスバーの長手軸に対する第1の検知コイル及び第2の検知コイルの傾斜角は、同じ大きさであるが正反対の符号を有している。これらの2つのコイル間の角度が大きければ大きいほど、コイルの測定が不正確になる。
不正確な測定は、第1及び第2の検知コイルの測定結果を互いに減算することによって、数学的に排除される。バスバーに対する検知コイルの物理的配置によって、及び/又は、コアとボビンとの間の空間によって起こり得る機械的不正確性は、個々のコイルの測定結果を減算することにより数学的に排除される。
バスバーの長手軸を中心に鏡映反転された傾斜角を有する検知コイル間の角度を低減すれば、外部磁界の検知コイル(第1及び第2の検知コイル)への影響が大幅に低減される。
検知コイルの測定信号は、外部磁界によって影響を受け、結果として磁気ノイズ障害を引き起こし、検知コイルの測定信号に影響する。個々の検知コイルの測定結果を減算することは、いわゆる信号対雑音比をさらに向上させる。
図7は、検知コイル6、7によって行われた測定の結果を表す座標系である。図7では、異なるアンペア値(A)を有する電流が、通電導体3に印加されている。
アンペア値(A)は、座標系のX軸にプロットされている。
対応する出力電圧値(Vout:mV)が、Y軸に示されている。
図7の座標系には、異なる曲線が示されている。
個々の曲線は、異なるコイル6、7を示している。
各コイル6、7は、通電導体3に対して異なる角度配向12、13、14、15を有している。
図7の例では、各検知コイル6、7は、それぞれ、27オーム、56オーム、110オーム、又は、330オームの抵抗を有している。
したがって、通電導体3に対する検知コイル6、7の角度配向に応じて、各検知コイル6、7は、異なる出力電圧値(Vout:mV)を有する。
図8は、図1に関連して、図1に示されるコイル6、7に対して行われた周波数(w)試験の結果を示す図である。
図8のx軸では、電流(アンペア(A))が0A~400Aの範囲にわたっている。
Y軸は、対応する出力電圧値(Vout:mV)を表示している。
図8に示される各曲線は、異なる回線周波数を表している。
回線周波数とは、配電網における交流電圧による電気供給源の周波数である。
図8において、長手軸9に対する角度配向が5°の検知コイル6、7について、周波数試験を行った。
図9には、アンペア値(A)がX軸にプロットされており、出力電圧値(Vout:mV)がY軸にプロットされている。
図9の各曲線は、通電導体3の長手軸9に対する個々の検知コイル6、7の異なる角度配向12、13、14、15を表している。
図9では、通電導体3の長手軸9に対する検知コイル6、7の角度配向は、5°の角度から90°の角度までの範囲を有している。
図10は、通電導体3の長手軸9に対する検知コイル6、7の角度配向が5°である場合の高基準試験を示す図である。
図10の異なる曲線は、通電導体3に対する検知コイル6、7の垂直距離を表しており、その範囲は1.45mm~7.5mmである。
図11は、異なる数の巻線のコイル5、6の比較を示す図である。
図11の曲線は、通電導体3に対する個々のコイル6、7の様々な垂直距離を表すものである。この垂直距離は、1.5mmから、2.5mm、5mm、及び、7.5mmの範囲を有している。
図11の各曲線は、上述の垂直距離のうちの1つに関連付けられている。
図11の曲線は、4つの群に分けられる。
第1の群:垂直距離2.5mm
第2の群;垂直距離5mm
第3の群:垂直距離7.5mm
第4の群:垂直距離1.5mm
第1の群:垂直距離2.5mm
第2の群;垂直距離5mm
第3の群:垂直距離7.5mm
第4の群:垂直距離1.5mm
また、垂直距離の各群は、異なる数の巻線を有するコイル6、7を指す。
垂直距離の各群内において、コイル6、7は異なる回線周波数に関連する。
図12は、通電導体3の長手軸9に対して横方向に配置された2つの検知コイル6、7に関連する座標系を示している。
図12によれば、曲線CH1及びCH2は、それぞれ、コイル6及び7に関連するものである。
図12では、X軸にプロットされた値は、電流のアンペア値(A)を示す。
Y軸には、対応する電圧(V)が示されている。
曲線CH1は、通電導体3の長手軸9に対する角度配向が5°であるコイル6に関連する。
曲線CH2は、通電導体3の長手軸9に対する角度配向が-5°であるコイル7に関連する。
図12に加えて、図13では、両曲線CH1及びCH2は平行に変位されている。
平行な曲線CH1’及びCH2’は、両方の検知コイル6及び7が、それぞれ、外部磁界に露出されていることを示している。
図14は、通電導体3に設けられた孔16を貫通して延びる検知コイル6、7(上記の図2を参照)に関する図である。
通電導体3の長手軸9に対する検知コイル6、7の角度配向の度数(°)が、X軸にプロットされている。
Y軸には、通電導体3を通って流れる電流のアンペア値が示されている。
Y軸のアンペア値(A)は、ほぼ150Aで始まっている。
図15のX軸には、電流がアンペア(A)で表されており、Y軸は出力電圧値(Vout:mV)を示している。
図15に示される曲線は、通電導体3に対する検知コイル6、7の異なる角度配向に応じた、出力電圧値(Vout:mV)を表している。
コイル6、7の予期される巻線感度が、図16に示されている。
図17は、通電導体3の横断面図である。
支持要素1及び2の面4、5上に、検知コイル6及び7が視認可能である。
磁界10の線が、通電導体3の長手軸9に対して径方向に延びている。
左側の囲み欄には、磁束密度がテスラ(B)で表示されている。
図17に示される矢印は、磁界10の線の流れの方向を表している。
図18は、磁界10の磁束密度(B)を示している点において図17と異なる。
磁界10の磁束密度(B)の値は、図18の左側の囲み欄に表示されている。
図18は、含まれる全てのコイル6、7の、矢印Xの方向及び矢印Yの方向の両方における磁束密度(B)の値を示している。
図18とは異なり、図19は、通電導体3の矢印Xの方向における磁束密度プロット(B)を示している。
図18及び図19とは異なり、図20は、矢印Yの方向における磁界10の磁束密度(B)の値を示している。
図21は、検知コイル6、7が通電導体3の近傍に配置された通電導体3を示す図である。
個々の検知コイル6、7の角度配向12、13、14、15に応じて、検知コイル6、7を、L1及びL5、L2及びL6、L3及びL7、L4及びL8と呼ぶ。
図21では、文字Lは、A電線の中心の線を表す。磁界10は、A電線の中心の線に沿って測定される。
図21の例では、コイルは、通電導体3の表面から約1.45mm離間されている。
図22は、磁束密度(B)の支配的な磁界成分(Bx)を示す図である。支配的な磁界成分(Bx)は、磁界配向によって生じる。ここで、磁界10の向きは、電流の方向に起因する。
電流の流れは、通電導体3の長手軸9に沿って向けられている。
図22では、コイルL4及びL8が、通電導体3の長手軸9に対して横方向に配置されている。
また、図22に示されるコイルL4及びL8は、通電導体3の長手軸9に対して同じ角度配向を有している。
通電導体3の長手軸9に対して、コイルL4及びL8のうちの一方は、通電導体3の上側に配置されており、コイルL4及びL8のうちの他方は、通電導体3の下側に配置されている。
通電導体3の上側及び下側に配置されながら、コイルL4及びL8は、磁界の線について反対方向を有している。
結果として、コイルL4及びL8は、約140ガウスの高磁界を有している。
コイルL4及びL8とは異なり、図22では、コイルL5及びL1は、通電導体3の長手軸9の方向において配置されている。
磁界の線に対するコイルL5及びL1の配向の方向により、検知コイルL5及びL1は、約0.5Gの最低磁界10を有している。
図23は、異なるコイル位置における磁界値の比較を示す図である。
図23の座標系のX軸は、通電導体3に対するコイル6、7の距離を示している。Y軸は、磁界10の磁束密度(B)をテスラで表している。
図23の例では、支持要素1、2は、通電導体3の表面から5mm離間されている。
検知コイル6、7は、通電導体3から約1.45mm離間されている。
この座標系は、各測定コイル6、7内部の異なる線の磁束密度(B)の合計を示している。
各測定コイル6、7内部の様々な線は、通電導体3と検知コイル6、7との間の異なる距離(1mm~10mm)を表している。
座標系のX軸は、0mm~6mmの範囲の距離を表す。
一方、Y軸は、磁束密度(B)をテスラで示しており、コイル6、7の内部の異なる線を表す。
一例として、図23では、1つのコイル6、7が、通電導体3から1.45mm離間されており、1つの支持要素1、2が、通電導体3から5mm離間されている。
図24は、図23と同様の座標系を示している。
図24では、検知コイル6、7は、通電導体3の長手軸9に対して横方向に配向されている。
通電導体3の長手軸9に対する横方向の配向において、コイル6、7は、通電導体3の長手軸9に対して90°の角度に位置決めされている。
図25は、2つの個々の検知コイルL8及びL4に関連するものである。
通電導体3の上側及び下側に配置されながら、コイルL4及びL8は、磁界の線に対して反対の配向を有している。
また、検知コイルL8及びL4は、通電導体3に対する異なる距離に配置されており、この距離は、1mm~10mmの範囲である。
通電導体3に対する検知コイルL8及びL4の距離に応じて、かつ、磁界の線に対する個々のコイルL8及びL4の向きに応じて、コイルのA電線の中心に対する磁界10の密度は、それぞれ、-14.4~-6.1の範囲、及び、6.1~14.14の範囲である。
図26は、孔16を有する通電導体3を示している。
2つのコイル6、7は、通電導体3の孔16を貫通して延びている。
通電導体3は、通電導体3の長手軸9に対して直角に切断されている。
電流は、通電導体3の長手軸9に沿って流れる。
したがって、磁界10の線は、通電導体3の長手軸9に対して径方向に延び、磁界10の線が、通電導体3の孔16を貫通して延びている。
図27は、矢印X及び矢印Yの両方に沿った磁束密度の合計を示す図である。
矢印Yは、通電導体3に対して垂直に、孔16を貫通して延びている。
他方、矢印Xは、通電導体3の1つの平面内を延びている。
図28の描画は、図27の描画に類似している。
しかしながら、図28は、磁束密度(B)が通電導体3の孔16を貫通して延びる矢印Yの方向に示されている点において、図27と異なる。
図29は、通電導体3の孔16を貫通して延びる2つの検知コイルL1及びL2に関連するものである。
通電導体3を通って流れる電流に応じて、各検知コイルL1及びL2は、それぞれ磁界10を有する。
しかしながら、検知コイルL1及びL2の磁界10の磁力線は、反対の方向に向けられている。
図30は、通電導体3の孔16の全長にわたる、磁束密度の変動を示す図である。
図30の磁束密度は、通電導体3の孔16を貫通して矢印Yに沿って延びる2つの検知コイル6及び7に関連するものである。
図31は、孔16の近傍に形成され、通電導体3を貫通して延びる磁界ホットスポットの変動を示す図である。
磁界ホットスポットは、孔16の縁部の近傍に形成されている。
孔16の縁部は、各フラックスゲートセンサの中心に向かうにつれて徐々に縮小する。
したがって、磁界ホットスポットは、4.5mテスラの値に到達する。
図32は、フラックスゲートの中心における最大磁界10が、通電導体(バスバー)3からのフラックスゲートの距離に依存していることを示す図である。
通電導体3を貫通する孔16の場合、フラックスゲートの中心における最大磁界は、約4.9mTである。
図33は、4つのチャネルを表す座標系を示す図である。各チャネルは、互いに対して同じ傾斜角を有する2つの検知コイルを備えている。図33では、両方のチャネル及びその関連付けられた検知コイルを、それぞれ、CH1~CH4と呼ぶ。
図33では、検知コイル(CH1)及び(CH2)の測定結果、及び、検知コイル(CH3)及び(CH4)の測定結果を、それぞれ、互いに対して減算する。
1 支持要素
2 支持要素
3 通電導体
4 支持要素の面
5 支持要素の面
6 検知コイル
7 検知コイル
8 電流
9 長手軸
10 磁界
11 通電導体の近傍
12 角度配向
13 角度配向
14 角度配向
15 角度配向
16 孔
17 検知コイルの極性
18 対向面
19 対向面
20 水平距離
2 支持要素
3 通電導体
4 支持要素の面
5 支持要素の面
6 検知コイル
7 検知コイル
8 電流
9 長手軸
10 磁界
11 通電導体の近傍
12 角度配向
13 角度配向
14 角度配向
15 角度配向
16 孔
17 検知コイルの極性
18 対向面
19 対向面
20 水平距離
Claims (13)
- 少なくとも1つの支持要素(1,2)を備える電流センサであって、
前記少なくとも1つの支持要素(1,2)は、
少なくとも1つの検知コイル(6,7)を支えると共に、
前記少なくとも1つの検知コイル(6,7)が配置された少なくとも1つの面(4,5,18,19)を有し、
前記検知コイル(6,7)は、通電導体(3)に関連して使用される、電流センサにおいて、
少なくとも2つの検知コイル(6,7)は、
前記通電導体(3)の長手軸(9)に対する個々の前記検知コイル(6,7)の角度配向、及び/又は、
前記通電導体(3)に対する個々の前記検知コイル(6,7)の垂直距離若しくは位置(20)、のうちの少なくとも一方について、互いに異なっていることを特徴とする、電流センサ。 - 前記通電導体(3)はバスバーであることを特徴とする、請求項1に記載の電流センサ。
- 前記検知コイル(6,7)は、コモンモード阻止において、前記支持要素(1,2)、及び/又は、別の検知コイル(6,7)、及び/又は、前記通電導体(3)に接続されていることを特徴とする、請求項1に記載の電流センサ。
- 前記支持要素(1,2)は、前記通電導体(3)に設けられた孔(16)を貫通して延びることを特徴とする、請求項1に記載の電流センサ。
- 少なくとも2つの検知コイル(6,7)は、前記通電導体(3)の長手軸(9)に対して角度を有して配置されており、前記検知コイル(6,7)の前記長手軸(9)に対する角度は、互いに異なることを特徴とする、請求項1に記載の電流センサ。
- 少なくとも2つの検知コイル(6,7)は、前記通電導体(3)の長手軸(9)に対して角度を有して配置されており、前記検知コイル(6,7)の前記長手軸(9)に対する角度は、互いに同一であることを特徴とする、請求項1に記載の電流センサ。
- 前記検知コイル(6,7)は、前記通電導体(3)の方に向けられた前記支持要素(1,2)の面(4,5,18,19)に配置されていることを特徴とする、請求項1に記載の電流センサ。
- 前記検知コイル(6,7)は、前記通電導体(3)に離反した前記支持要素(1,2)の面(4,5,18,19)に配置されていることを特徴とする、請求項1に記載の電流センサ。
- 互いに離反している前記支持要素(1,2)の各面(4,5,18,19)に、少なくとも1つの検知コイル(6,7)が配置されていることを特徴とする、請求項1に記載の電流センサ。
- 前記検知コイル(6,7)は、前記支持要素(1,2)の両面(4,5,18,19)で、互いに対称に配置されていることを特徴とする、請求項1に記載の電流センサ。
- 少なくとも2つの検知コイル(6,7)が、前記通電導体(3)の長手軸(9)の方向に配置されていることを特徴とする、請求項1に記載の電流センサ。
- 少なくとも2つの検知コイル(6,7)が、前記長手軸に対して横方向に配置されていることを特徴とする、請求項1~10の1つ又は複数に記載の電流センサ。
- 少なくとも2つの検知コイル(6,7)を支える前記支持要素(1,2)は、前記通電導体(3)にクリップ留めされていることを特徴とする、請求項1に記載の電流センサ。
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