JP2022167609A - 磁石体の位置・方位検出装置 - Google Patents
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Abstract
Description
検出体に磁界ベクトルセンサを取り付けて外部から磁界を加えて、磁界ベクトルセンサで外部磁界を測定して位置を計算するシステムや、検出体に磁石を取り付けて位置を計測するシステムが開発されている。
またこの発明は、磁界ベクトルセンサを使用していないため、ガウスニュートン法に従って計算することができないため、磁場勾配を活用した反復プロセスを行って、測定値と理論値の誤差を最小限にするX、Y、Z、θ、φを求めているが、反復プロセスのために計算速度が遅く、リアルタイム性に難点があると思われる。実際本特許文献1には位置測定速度が記載されていない。
なお、非特許文献2に記載されている磁界ベクトルセンサは、厳密には3軸センサの測定位置の間には1.8mmのずれがあり、それを無視して磁界ベクトルセンサとみなして計算をしており、測定位置の誤差は5.5mmと大きく、実用できるレベルのものではない。
微小磁石(ミニ磁石)のサイズは直径が0.3~2mm、長さが1~15mm、磁石体の磁気モーメントを1×10-10~500×10-10Wbmと非常に小さく、磁界ベクトルセンサグリッドのエリア面積は一辺が40~200mmの正方形と十分な広さとして、さらに磁石体と磁界ベクトルセンサグリッドの距離を20~100mmと十分な距離を確保するという条件において、高性能な磁界ベクトルセンサとガウスニュートン法を用いて磁石体の位置精度を従来の5mm程度から0.5mm以下と改善し、かつ、1度以下の方位精度および1Hzから50Hzも測定速さの実現を可能とする磁石体の位置・方位検出システムを発明することを目指すことにした。
本発明は、微小な磁石体の位置方位精度と測定速さを大幅に改善することを目指したものである。
理論的には、計算に使用する測定値が多いほど、計算精度は高くなる。しかし、本発明においては、磁石体が小さく、磁石体が発する磁界は微弱であるため、磁石体の位置から測定位置が離れるほど、測定値に対する誤差が増大する。そのような測定値を計算に含めると逆に計算精度が低下することになる。本発明では、グリッドのエリア面積とセンサ密度を工夫した上で、誤差の小さな測定値のみを取捨選択して、計算精度を確保することに努めることにした。
さらに、ASICと4個のGSR素子を組付けた磁界センサ素子およびそれらを載せるセンサ基板の3部品を組み立てた。
電子回路をASICとして、そのASICの表面配線図を図7に示す。またセンサ基板の表面配線図を図8に示す。
配線は、各素子の4つの電極と基板表面上の16個の素子電極とを導線で接続する。センサ基板上の16個のASIC素子電極とASIC側の素子電極とをハンダ接合する。さらに、ASIC側の外部接続電極とセンサ基板表面側の外部接続電極とをハンダ接合する。
これにより素子で検知した外部磁界をASICで信号処理して、磁界ベクトル(Hx、Hy、Hz)を求め、それをセンサ基板裏面側の外部接続電極から取り出すことができる。
磁界ベクトルセンサグリッドの組み立て精度については、極力小さくすることが求められて、10μm以下が望ましい。
本発明では、磁界ベクトルセンサの検出力を市販品の100倍以上、あるいはサイズを1/10以下にすることで緻密なセンサ密度を有する磁界ベクトルセンサグリッドを製作し、それを使用することを前提に、位置と方位を同時に求める計算プログラム(図11)を作成した。
磁界ベクトルセンサグリッドの中心を原点にして、グリッド面をXY平面、XY平面に垂直軸をZ軸としたXYZ座標系を指定して、磁石体( )の位置を(X,Y,Z)とし、Z軸に対する回転角をφとし、X軸に対する回転角をθとして、さらに3次元磁界センサはグリッド上の原点を中心に、横方向に-iから+i、縦方向に-jから+jの位置(i,j)にi×j個の数配置されている。ここでセンサの間隔はX軸方向、Y軸方向ともに距離dとする。これらの磁界ベクトルセンサの測定値3×i×j個の測定値を使って、磁石体( )の位置X、Y、Zと方位θとΦを計算するものである。
(2)ステップ102にて、磁石体 の直下の最も近い、つまりmH(→)ij絶対値が最も大きい磁界センサの位置(a,b)番目をグリッドの計算上の計算上の原点(0,0,0)として計算上のグリッド座標系O-xyzを指定し、この座標系で改めてセンサグリッド位置番号(i,j)を決める。ここで、m ij 絶対値の最大値Sが、S/N比500以上であることを確認する。また計算上の原点として、それを中心に磁界ベクトルmH(→)ijの絶対値Sに対してセンサの測定誤差の値Nの割合S/Nが、25以上となる測定点を少なくとも9個、最大で49個存在することを確認する。
なお、磁界ベクトルmH(→)ijの絶対値Sが、S/N比が25以下の測定点については、測定誤差が大きくなるので、計算には加えないものとする。計算上の原点から離れるほど、m ij 絶対値は距離の3乗に比例するので、距離が4倍離れた点では、m ij 絶対値は60倍程度小さくなって、計算上の原点でS/N比が500あっても、8程度と低下するので、計算には含まないものとする。つまり精度の高い測定値だけを使って、計算データは少なくとも9個、最大で49個を入力して、計算を実行することにした。
(3)次に、ステップ103にて、磁石体( )がセンサグリッドの(i,j)番目のセンサ位置であるPijに作る磁界の理論値tH(→)ijを式(1)から求める。ここでまた磁石体の傾きをZ軸に対する回転角をφ、X軸に対する回転角をθとする。
(4)次に、ステップ104にて、磁界理論値と磁界測定値との差を測定誤差εijとして、求める。
eij=tH(→)ij-mH(→)ij
(5)次に、ステップ105にて、ステップ103により求めた測定誤差εijの誤差関数Eijを誤差の平方和として求める。
Eij=Σeij 2
(6)次に、ステップ106にて、ガウスニュートン法で、ステップ104により求めた誤差平方和が最小となるx、y、z、θ、φを、以下の連立方程式を使って求める。
∂Eij/∂x=0、∂Eij/∂y=0、∂Eij/∂z=0、∂Eij/∂φ=0、
∂Eij/∂θ=0
(7)次いでステップ107にて、計算上の座標系O―xyのxとyの値を使って、センサグリッド座標系O―XYの値XとYをステップ106にて求める。同時にZ、Θ=θ、Φ=φも求める。
X=x+d×a、Y=y+d×b、Z=z、Θ=θ、Φ=φ
調査条件は、磁界センサグリッドのエリア(196mm×196mm)に磁界ベクトルセンサの間隔は6mm、磁界ベクトルセンサの数は17個×17個、磁石体と磁界センサグリッドとの距離は40mm、磁界ベクトルセンサの磁界検出力は0.1nT、1nTおよび10nTとし、磁石の磁気モーメントの影響を調査した。
その結果、図12(a)に示すように、磁気モーメントが増加するほど位置精度は向上した。磁気モーメントが、4倍になると精度が4倍、9倍になると9倍、100倍になると100倍改善するようであった。
調査条件は、上記の位置精度を求めた条件と同じとした。
その結果、図12(b)に示すように、磁気モーメントが増加するほど方位精度は向上した。
なお、Y方向の位置精度および方位精度に及ぼす磁気モーメントの影響と磁界センサ間隔の影響についても同様の結果が得られた。
磁石体としては、サイズは、直径は0.3~2mm、長さは1~15mmで、磁石体の磁気モーメントを1×10-10~500×10-10Wbmとし、
磁界ベクトルセンサは、磁界センサ素子3に4個のGSRセンサ素子35を図3および図4に示すように、四角錐台の4つの傾斜角度37を有する斜面に、4回対称かつ鏡面対称に貼り付けたものである。
電子回路は、図2に示すGSRセンサの電子回路2を採用し、特定用途用集積回路(以下、ASICという。)を作製して、本発明に用いた。
配線は、各素子の4つの電極と基板表面上の16個の素子電極とを導線で接続する。センサ基板上の16個のASIC素子電極とASIC側の素子電極とをハンダ接合する。さらに、ASIC側の外部接続電極とセンサ基板表面側の外部接続電極とをハンダ接合する。
これにより磁界センサ素子3で検知した外部磁界をASIC40Aで信号処理して、磁界ベクトル(Hx、Hy、Hz)を求め、それをセンサ基板裏面側の外部接続電極から取り出すことができる。
<磁石体>
磁石体の磁石のサイズは、直径は0.3~2mm、長さは1~15mmで、磁石体の磁気モーメントは1×10-10~1000×10-10Wbmとする。磁石体は小さいほど好ましいが、小さいと磁気モーメントが小さくなって発生する磁界が弱くなり、位置決め精度が低下することから上記のサイズとする。
磁界ベクトルセンサグリッド8の1つの画素となる磁界ベクトルセンサ4について説明する。
磁界ベクトルセンサ4は、図9の組み立て図、図3および図4の磁界センサ素子3に示すように、センサ基板40上に台座30と台座30の4つの斜面に配置されたGSR素子35とからなる磁界センサ素子40Gが搭載され、ASIC40Aおよび電極・配線から構成される。
この磁界ベクトルセンサ4は、3次元磁界ベクトルを測定できて、磁界検出力が0.1~10nTである。
GSR素子のサイズは、長さは0.4~3mmで、幅は0.2~0.4mmとする。
センサ基板40には、図5に示すように、表面側には16個の素子電極61と16個のASICの素子電極62および複数個の外部接続電極を設け、表面側の外部接続電極はスルーホールを介して裏面側の対応する外部接続電極に接続する配線構造を有している。
ASIC40Aをセンサ基板40の表面に接合するが、その際ASIC40Aの出力電極とセンサ基板40のASIC用出力電極52を連結し、ASICの出力電極52とセンサ基板の出力電極63とを連結することによって、磁界センサの配線がすべて連結し、センサ基板40のスルーホール44を介してセンサ基板裏面にある出力電極46につながることになる(図7、図8)。
なお、3次元磁界ベクトルセンサとしては、磁界検出力は、0.1~10nTを有する限り、その構成、種類にこだわるものではない。
次に、磁界ベクトルセンサ4を磁界ベクトルセンサリッドにした場合、画素は磁界ベクトルセンサの大きさは最小0.6mmから最大6mmであるが、配線の幅を考慮すると画素の大きさは、最小2mmから最大10mmとなる。
センサグリッドデータ処理回路および位置方位演算装置は、磁界センサグリッドの中心を原点にして、グリッド面をXY平面、XY平面に垂直軸をZ軸としたXYZ座標系を指定して、前記磁石体( )の位置を(X,Y,Z)とし、Z軸に対する回転角をΦとし、X軸に対する回転角をΘとして、さらに3次元磁界センサはグリッド上の原点を中心に、横方向に-iから+i、縦方向に-jから+jの位置(i,j)にi×j個の数配置されている。ここでセンサの間隔はX軸方向、Y軸方向ともに距離dとする。これらの磁界ベクトルセンサの測定値3×i×j個の測定値を使って、磁石体( )の位置X、Y、Zと方位Θ、Φを計算するものである。
図11は、センサデータグリッド処理およびそのセンサグリッドから位置と方位を算出する計算プログラムのフローチャートである。以下、詳細に説明する。
(1)先ず、ステップ101にて、センサグリッド位置(i,j)における磁界を計測して磁界測定値mH(→)ijを求める。
(2)ステップ102にて磁石体 の直下の最も近い、つまりmH(→)ij絶対値が最も大きい磁界センサの位置(a,b)番目をグリッドの計算上の計算上の原点(0、0、0)として計算上のグリッド座標系O-xyzを指定し、この座標系で改めてセンサグリッド位置番号(i,j)を決める。ここで、m ij 絶対値の最大値Sが、S/N比500以上であることを確認する。計算上の原点として、それを中心に磁界ベクトルmH(→)ijの絶対値Sに対してセンサの測定誤差の値Nの割合S/Nが、25以上となる測定点を少なくとも9個存在することを確認する。入力データとしては、S/N比の大きな順に最大で49個を使用する。S/N比が25以下の測定点については、測定誤差が大きくなるので、計算には加えないものとする。
(3) 磁界ベクトルmH(→)ijの絶対値が最大となる前記磁界センサグリッド位置(i,j)を
(4)次に、ステップ103にて、磁石体( )がセンサグリッドの(i,j)番目のセンサ位置であるPijに作る磁界の理論値tH(→)ijを式(1)から求める。
(5)次に、ステップ104にて、磁界理論値と磁界測定値との差を測定誤差εijとして、求める。
eij=tH(→)ij-mH(→)ij
(6)次に、ステップ105にて、ステップ103により求めた測定誤差εijの誤差関数Eijを誤差の平方和として求める。
Eij=Σeij 2
(7)次に、ステップ106にて、ガウスニュートン法で、ステップ104により求めた誤差平方和が最小となるx、y、z、θ、φを、以下の連立方程式を使って求める。
∂Eij/∂x=0、∂Eij/∂y=0、∂Eij/∂z=0、∂Eij/∂φ=0、∂Eij/∂θ=0
(7)次いで、ステップ107にて、計算上の座標系O―xyのxとyの値を使って、センサグリッド座標系O―XYの値XとYをステップ106にて求める。同時にZ、Θ=θ、Φ=φも求める。
X=x+d×a、Y=y+d×b、Z=z、Θ=θ、Φ=φ
なお、本発明は、誤差平方和から最適値を計算する仕方は、上記連立方程式の計算方法にこだわるものではない。
磁石体の磁石のサイズは、直径は0.5mm、長さは5mmのステンレス磁石で、磁石体の磁気モーメントは5×10-9Wbmである。
なお、ステンレス磁石は直径1.0mmの18Cr-8Ni系オーステナイト系ステンレス鋼を伸線加工して、冷間加工度は75%にて直径0.5mmとした。これにより85%のマルテンサイト量を得た後、3000Oeの磁界を棒状の軸方向に印加して、長さ5mmを着磁して磁石とした。
ASICをセンサ基板の表面に接合するが、その際ASICの出力電極とセンサ基板のASIC用出力電極を連結し、ASICの出力電極とセンサ基板の出力電極とを連結することによって、磁界センサの配線がすべて連結し、センサ基板のスルーホールを介してセンサ基板裏面にある出力電極につながることになる。
はじめに、磁石体、磁界ベクトルセンサ、電子回路、磁界ベクトルセンサグリッドおよびHx、Hy、Hzを算出する計算式は、実施例1に準拠した構成からなる。
on-ASICタイプのGSRセンサ91は、GSR素子912をASIC911表面に直接形成し、4つのGSRセンサ91を図14に示すように四角錐台の台座の長方形902の斜面に設置したものである。
実施例2の位置・方位の精度は、位置精度が0.06mm、方位精度が0.2度で、位置測定速度は20Hzであった。
11:基板、12:磁性ワイヤ、13:コイル、14:ワイヤ端子、15:ワイヤ電極、
16:接続配線(ワイヤ電極用)、17:コイル端子、18:コイル電極、19:接続配線(コイル電極用)
2:電子回路(GSRセンサの電子回路)
21:パルス発振器、22:GSR素子、221:ワイヤ電極、222:コイル電極、23:寄生容量、24:回路入力電極、25a:1段目検波タイミング調整回路(T1)、25b:2段目検波タイミング調整回路(T2)、26:サンプルホールド回路(出力側回路)、27a:1段目電子スイッチ(SW1)、27b:2段目電子スイッチ(SW2)、28a:1段目サンプルホールド用コンデンサ(C1)、28b:2段目サンプルホールド用コンデンサ(C2)、29:増幅器
2A:電子回路(磁界センサの電子回路)
70(70X1、70X2、70Y1、70Y2):GSR素子、71:パルス発振器、72:信号処理回路、73:切り替えスイッチ、74:ADコンバータ、75:演算回路、76:データ通信回路
3:磁界ベクトルセンサ素子
30:台座、31:上面、32:底辺、33:稜線、34:基軸線マーク、35:GSR素子 351:磁性ワイヤ、36:底面、37:傾斜角度、38:中空部(中空)
4、4A:磁界ベクトルセンサ(組み立て)
40:センサ基板、40A:ASIC、40G:素子台座(台座30とGSR素子からなる)、41:素子電極(センサ基板40の表面の素子電極)、42:接続配線(素子35の電極と素子電極41との配線)、43:接続配線(素子電極41とASIC用電極との配線)、44:スルーホール、45:接続配線(センサ基板40の裏面の配線)46:出力電極(センサ基板40の裏面の出力電極)
5:ASICの電極配置
51:ASICの素子電極、52:ASICの出力電極
6:センサ基板の表面の配線図
61:素子電極(素子電極41)、62:ASIC用電極(ASICの素子電極)、63:出力電極、64:接続配線(素子電極61とASIC用電極62との配線)
8:磁界ベクトルセンサグリッド
81:磁界ベクトルセンサ、82:信号出力一次マルチブレイクサMUX、83:信号出力二次マルチブレイクサ、84:信号出力端子、85:センサグリッド基板、86:配線基板
9:磁界センサ素子(on-ASICタイプ)
90:台座、901:三角形の斜面、902:長方形の斜面、903:正方形の上面
91:GSRセンサ、911:ASIC、912:GSR素子、913:磁性ワイヤ
Claims (3)
- 磁石体、磁界ベクトルセンサ、磁界センサグリッド、センサグリッドデータ処理回路および位置方位演算装置からなる磁石体の位置・方位検出装置において、
前記磁石体は、直径は0.3~2mm、長さは1~15mmの大きさで、前記磁石体の磁気モーメントは1×10-10~500×10-10Wbmとし、
前記磁界ベクトルセンサは、前記磁石体から発する磁界ベクトルを計測するもので、磁界ベクトルセンサ素子と電子回路と演算回路とからなり、
前記磁界ベクトルセンサ素子は、底辺は0.6mm~6mm、高さは0.3mm~3mmからなり、20度~45度の傾斜角度θを有する四角錐台または八角錐台の台座の4つの斜面に4つのGSR素子を4回対称、かつ鏡像対称に貼り付けてなり、
前記電子回路は、前記4つのGSR素子の出力電圧を、磁界検出力は0.1~10nTにて100Hz~10KHzの測定サンプリング速度で、4つの磁界測定値Hx1、Hx2、Hy1、Hy2に変換する機能を有し、
前記演算回路は、
Hx=(1/2cosθ)(Hx1-Hx2)、
Hy=(1/2cosθ)(Hy1-Hy2)、
Hz=(1/4sinθ)(Hx1+Hx+Hy1+Hy)、
なる計算式で磁界ベクトル(Hx、Hy、Hz)を算出し、
前記磁界ベクトルセンサグリッドは、平面板に前記磁界ベクトルセンサを5~15mmの間隔で少なくとも25個配置してなり、
前記センサグリッドデータ処理回路は、前記磁界センサグリッドにより計測した磁界測定データを高速で処理して、位置方位演算装置に転送し、
前記位置方位演算装置は、そのセンサグリッドデータから磁石体の位置X、Y、Zと方位Θ、Φをガウスニュートン法で計算し、位置精度0.5mm以下、方位精度1度以下、位置方位測定速度は1Hzから50Hzで計算して、その計算値を表示装置に出力することを特徴とする磁石体の位置・方位検出装置。 - 請求項1において、
前記センサグリッドデータ処理回路および前記位置方位演算装置は、磁石体( )の位置と方位を、前記磁界センサグリッドの中心を原点にして、グリッド面をXY平面、XY平面に垂直軸をZ軸としたXYZ座標系を指定して、磁界ベクトルmH(→)ijの絶対値が最大となる測定点を中心にすくなくとも9個の測定点における測定値を使って、
前記磁石体( )の位置を(X,Y,Z)とし、方位をZ軸に対する回転角をΦとし、X軸に対する回転角をΘとして、X、Y、Z、ΘおよびΦを、ガウスニュートン法に従って、以下のステップで
(1)前記磁界センサグリッドの位置(i,j)における磁界ベクトルmH(→)ijを計測し、
(2)前記磁石体( )が、位置(X,Y,Z)および方位(θ、φ)にあるとして、前記磁界センサグリッドの位置(i,j)につくる磁界ベクトルtH(→)ijの理論値を計算し、
(3)測定誤差を、eij=tH(→)ij(X,Y,Z、θ、φ)-mH(→)ijにより計算し、
(4)誤差の平方和を、Eij=Σeij 2により計算し、
(5)誤差の平方和を最小とするX、Y、Z、Θ、Φを算出し、
かつ、反復プロセスを含まない方法で計算して、位置精度0.5mm以下、方位精度1度以下、位置測定速度は1Hz~50Hzで位置・方位を測定することを特徴とする磁石体の位置・方位検出装置。 - 請求項2において、
前記磁界ベクトルmH(→)ijの測定値の最大となる絶対値Sがセンサの検出力Nに対して、S/N比が500以下の場合において、
(1)前記磁界ベクトルmH(→)ijの絶対値が最大となる前記磁界センサグリッド位置(i,j)を計算上の原点として、
(2)それを中心に前記磁界ベクトルmH(→)ijの絶対値Sに対してセンサの検出力Nに対して、S/N比が25以上となる測定点を少なくとも9個、最大で49個を抽出し、
(3)抽出した測定点における測定磁界ベクトルの測定値と理論値の誤差から算出した誤差の平方和を最小にするX、Y、Z、Θ、Φをガウスニュートン法に従って、算出することを特徴とする磁石体の位置・方位検出装置。
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JP2021073521A JP7126645B1 (ja) | 2021-04-23 | 2021-04-23 | 磁石体の位置・方位検出装置 |
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2021
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