JP2022162716A - Defect inspection system, defect inspection method, and defect inspection program - Google Patents
Defect inspection system, defect inspection method, and defect inspection program Download PDFInfo
- Publication number
- JP2022162716A JP2022162716A JP2021067680A JP2021067680A JP2022162716A JP 2022162716 A JP2022162716 A JP 2022162716A JP 2021067680 A JP2021067680 A JP 2021067680A JP 2021067680 A JP2021067680 A JP 2021067680A JP 2022162716 A JP2022162716 A JP 2022162716A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- input
- monitoring information
- input area
- defect
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 242
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 76
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 73
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 3
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000010079 rubber tapping Methods 0.000 description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 230000004397 blinking Effects 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000001568 sexual effect Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Images
Abstract
Description
本願に係る不具合検査システム、不具合検査方法及び不具合検査プログラムは、検査対象の不具合を繰り返し継続的に検査する技術に関する。 A defect inspection system, a defect inspection method, and a defect inspection program according to the present application relate to a technology for repeatedly and continuously inspecting a defect to be inspected.
各種機器の不具合を検査する不具合検査システムとしては、たとえば後記特許文献1に開示された技術がある。この不具合検査の技術は、航空機等の検査対象機械に生じた不具合部位の情報を取得するシステムである。
As a defect inspection system for inspecting various devices for defects, for example, there is a technique disclosed in
このシステムにおいては、携帯端末5で撮影された画像と、携帯端末5の現在位置情報とをサーバ6が取り込み、予め記憶部20に記憶されている設計モデル25から撮影箇所のモデル画像を生成し、携帯端末5に送信する。
In this system, a server 6 captures an image captured by a mobile terminal 5 and current position information of the mobile terminal 5, and generates a model image of the captured location from a design model 25 stored in advance in a
点検作業員は、亀裂や腐食等の不具合部位を発見した場合、モデル画像を参照して携帯端末5から不具合部位の描画を操作入力して描画情報を生成し、これをサーバ6に送信する。サーバ6は、この描画情報と部品の寸法情報とに基づいて不具合部位の形状を定量化し、亀裂の寸法や腐食の面積等に関する不具合情報を生成する。 When an inspector finds a defective portion such as a crack or corrosion, the inspector refers to the model image and inputs the drawing of the defective portion from the portable terminal 5 to generate drawing information, which is transmitted to the server 6. The server 6 quantifies the shape of the defective portion based on this drawing information and the dimensional information of the part, and generates defect information regarding the size of the crack, the area of corrosion, and the like.
各種機器の不具合は、通常、時間の経過にともなって発生し徐々に進行するため、不具合検査は所定の期間をおいて繰り返し継続的に実施する必要がある。そして、検査結果の記録は正確かつ効率的に行うことが求められる。しかし、前述の特許文献1に開示された技術は、検査が繰り返し継続的に実施される点を前提とするものではなく、繰り返し実施される検査結果の記録を正確かつ効率的に行うことができない。
Malfunctions in various types of equipment usually occur over time and progress gradually. Therefore, it is necessary to repeatedly perform malfunction inspections at predetermined intervals. Accurate and efficient recording of inspection results is required. However, the technique disclosed in the above-mentioned
そこで本願に係る不具合検査システム、不具合検査方法及び不具合検査プログラムは、これらの問題を解決するため、繰り返し実施される検査結果の記録を正確かつ効率的に行うことができる不具合検査システム、不具合検査方法及び不具合検査プログラムを提供することを課題とする。 Therefore, in order to solve these problems, the defect inspection system, defect inspection method, and defect inspection program according to the present application are capable of accurately and efficiently recording the results of repeated inspections. and to provide a defect inspection program.
本願に係る不具合検査システムは、
検査対象の不具合を2回以上継続的に検査する不具合検査に用いる不具合検査システムであって、
特定の検査対象における検査部位と関連付けられた検査結果入力領域であって検査結果が入力される検査結果入力領域、及び特定の検査部位について今後重点的に監視すべきであることを示す重点監視情報が入力される重点監視情報入力領域を表示する表示手段、
入力された検査対象の検査結果及び重点監視情報を毎回、記憶する記憶手段、
特定の検査対象につき、今回の検査について検査結果入力領域を表示手段に表示する際、前回以前の検査結果において対応する検査対象について重点監視情報が入力されているときは、当該検査結果入力領域に当該重点監視情報を反映させる制御手段、
を備えたことを特徴とする。
The defect inspection system according to the present application is
A defect inspection system used for defect inspection for continuously inspecting defects to be inspected two or more times,
Intensive monitoring information indicating that the inspection result input area in which the inspection result is input and which is associated with the inspection site in the specific inspection target and that the specific inspection site should be monitored intensively in the future. display means for displaying an important monitoring information input area in which is input;
storage means for storing the input inspection results and important monitoring information of the inspection target each time;
When the inspection result input area for the current inspection is displayed on the display means for a specific inspection target, if intensive monitoring information has been entered for the corresponding inspection target in the previous inspection results, the inspection result input area control means for reflecting the focused monitoring information;
characterized by comprising
また、本願に係る不具合検査方法は、
検査対象の不具合を2回以上継続的に検査する不具合検査に用いる不具合検査方法であって、
表示手段は、特定の検査対象における検査部位と関連付けられた検査結果入力領域であって検査結果が入力される検査結果入力領域、及び特定の検査部位について今後重点的に監視すべきであることを示す重点監視情報が入力される重点監視情報入力領域を表示し、
記憶手段は、入力された検査対象の検査結果及び重点監視情報を毎回、記憶し、
制御手段は、特定の検査対象につき、今回の検査について検査結果入力領域を表示手段に表示する際、前回以前の検査結果において対応する検査対象について重点監視情報が入力されているときは、当該検査結果入力領域に当該重点監視情報を反映させる、
ことを特徴とする。
Further, the defect inspection method according to the present application is
A defect inspection method used for defect inspection for continuously inspecting defects to be inspected two or more times,
The display means indicates that the inspection result input area, which is an inspection result input area associated with the inspection site in the specific inspection object and into which the inspection result is input, and the specific inspection site should be monitored intensively in the future. display the key monitoring information input area where the key monitoring information shown is input,
The storage means stores the input inspection results of the inspection object and the important monitoring information each time,
When the control means displays the inspection result input area for the current inspection on the display means for a specific inspection object, if the intensive monitoring information for the corresponding inspection object has been input in the previous inspection result, reflecting the relevant focused monitoring information in the result input area;
It is characterized by
さらに、本願に係る不具合検査プログラムは、
検査対象の不具合を2回以上継続的に検査する不具合検査に用いる不具合検査プログラムであって、
特定の検査対象における検査部位と関連付けられた検査結果入力領域であって検査結果が入力される検査結果入力領域、及び特定の検査部位について今後重点的に監視すべきであることを示す重点監視情報が入力される重点監視情報入力領域を表示する表示機能、
入力された検査対象の検査結果及び重点監視情報を毎回、記憶する記憶機能、
特定の検査対象につき、今回の検査について検査結果入力領域を表示手段に表示する際、前回以前の検査結果において対応する検査対象について重点監視情報が入力されているときは、当該検査結果入力領域に当該重点監視情報を反映させる制御機能、
をコンピュータに実行させることを特徴とする。
Furthermore, the defect inspection program according to the present application is
A defect inspection program used for defect inspection for continuously inspecting defects to be inspected twice or more,
Intensive monitoring information indicating that the inspection result input area in which the inspection result is input and which is associated with the inspection site in the specific inspection target and that the specific inspection site should be monitored intensively in the future. display function to display the important monitoring information input area where is input,
A storage function that stores the input inspection results and important monitoring information of the inspection target each time,
When the inspection result input area for the current inspection is displayed on the display means for a specific inspection target, if intensive monitoring information has been entered for the corresponding inspection target in the previous inspection results, the inspection result input area a control function that reflects the focused monitoring information;
is executed by a computer.
本願に係る不具合検査システム、不具合検査方法及び不具合検査プログラムにおいては、特定の検査対象につき、今回の検査について検査結果入力領域を表示手段に表示する際、前回以前の検査結果において対応する検査対象について重点監視情報が入力されているときは、当該検査結果入力領域に当該重点監視情報を反映させる。 In the defect inspection system, defect inspection method, and defect inspection program according to the present application, when displaying the inspection result input area for the current inspection on the display means for a specific inspection object, the corresponding inspection object in the previous inspection result When intensive monitoring information is input, the intensive monitoring information is reflected in the inspection result input area.
このため、検査結果を検査結果入力領域に入力する際、重点的に監視すべき特定の検査部位について注意が喚起され、見落としや入力ミスが容易かつ確実に防止される。したがって、繰り返し継続的に実施される検査結果の記録を正確かつ効率的に行うことができる。 Therefore, when inputting the inspection result into the inspection result input area, attention is called to the specific inspection site that should be monitored intensively, and oversight and input errors can be easily and reliably prevented. Therefore, it is possible to accurately and efficiently record the results of examinations that are performed repeatedly and continuously.
[実施形態における用語説明]
実施形態において示す主な用語は、それぞれ本願に係る不具合検査システム、不具合検査方法及び不具合検査プログラムの下記の要素に対応している。
[Explanation of terms in the embodiment]
The main terms used in the embodiments correspond to the following elements of the defect inspection system, defect inspection method, and defect inspection program according to the present application.
サーバ制御部2・・・制御手段、制御機能
メモリ3・・・記憶手段、記憶機能
表示部15・・・表示手段、表示機能
機器21・・・検査対象
入力ウインドウ41、42、43、44、45、61、62、63、64、65、71、72、73、74、75、81、82、83、84、85・・・検査結果入力領域
重点監視チェック部41b、45b、71b、81b・・・重点監視情報入力領域
太枠81f・・・強調表示
[第1の実施形態]
本願に係る不具合検査システム、不具合検査方法及び不具合検査プログラムの第1の実施形態を説明する。本実施形態では、不具合検査として産業プラントに設置されている各種機器の検査システムを例示する。
[First Embodiment]
A first embodiment of a defect inspection system, a defect inspection method, and a defect inspection program according to the present application will be described. In the present embodiment, an inspection system for various devices installed in an industrial plant is exemplified as a defect inspection.
図6は、産業プラントに設置されている各種機器の配置図である。図6に表されているエリア20にはアイコンマークによって示されている多数の各種機器21が配置されており、これらの機器21を1名又は2名以上の検査作業員がそれぞれ携帯端末を持参し、機器の腐食、変形、破損等を検査する。この検査はたとえば1年に1回継続的に繰り返して実施される。検査作業員は検査結果を携帯端末から入力し、この検査データはシステムを集中的に管理しているサーバに無線で送信される。
FIG. 6 is a layout diagram of various devices installed in an industrial plant. In an
(検査システムのハードウエア構成の説明)
本実施形態における検査システムのハードウエア構成を図1に基づいて説明する。サーバ1は、サーバ制御部2、メモリ3及び通信部4を備えている。また、携帯端末10は、携帯制御部11、入力部12、撮影部13、メモリ14、表示部15及び通信部16を備えている。サーバ1と携帯端末10とは、それぞれ通信部4及び通信部16を介して無線通信を行い、データを送受信する。
(Description of the hardware configuration of the inspection system)
The hardware configuration of the inspection system according to this embodiment will be described with reference to FIG. The
携帯端末10の表示部15には、検査を行う際、検査対象とする機器に対応した図面等の画面表示が行われ、検査作業員は入力部12を通じて各種指令や文字を入力し、カメラである撮影部13を用いて検査対象の画像を撮影して表示部15に表示させる。これらの入力データはメモリ14に記憶されるとともにサーバ1に向けて送信される。
When performing an inspection, the
そして、サーバ1は携帯端末10から送信された入力データをメモリ3に記憶して蓄積する。また、サーバ制御部2は検査データ記録処理の所定のプログラムに従って携帯端末10の表示部15の表示等を制御する。
Then, the
(検査データ記録処理の説明:前回の入力データがない場合)
次に、サーバ1のサーバ制御部2が実行する検査データ記録処理のプログラムを図2のフローチャートに従って説明する。まず、サーバ制御部2は、携帯端末10の入力部12から対象機器を指定する入力があったか否かを判別する(ステップS2)。携帯端末10を持参している検査作業員は、検査を行う直前に入力部12から検査対象とする機器の識別番号を入力する。
(Description of inspection data recording process: when there is no previous input data)
Next, a program for examination data recording processing executed by the
なおこの場合、携帯端末10の表示部15に図6に示す各種機器の配置図を表示し、特定の機器21のアイコンマークをタップして対象機器の指定を入力するように構成してもよい。また、機器21に直接付されたバーコードやQRコード(登録商標)を読取装置で読み取り、機器の指定を入力することもできる。
In this case, the layout of various devices shown in FIG. 6 may be displayed on the
携帯端末10から対象機器を指定する入力があった場合、サーバ制御部2はメモリ3内に蓄積されているデータを参照し、ステップS2で指定された対象機器に対応する機器(本実施形態では同一の場所に設置された同一の機器)について前回の検査時におけるデータがあるか否かを判別する(ステップS4)。ここでは対象とする検査機器の検査は初めてであり、前回データがメモリ3内に記憶されていないとする。
When there is an input specifying a target device from the
この場合ステップS8に進み、サーバ制御部2は携帯端末10の表示部15に、対象機器についての既定の入力フォームを表示する。この表示が図3に示す画面表示40である。画面表示40には、中央部に対象機器の図面49が表示され、上部にタイトル枠48が表示される。タイトル枠48には、機器名、機器の識別番号及び検査日時(現在時刻)が表示される。
In this case, the process proceeds to step S8, and the
そして、画面表示40には、対象機器の特定の検査部位と関連付けられた入力ウインドウ41、42、43、44が表示される。検査部位と各入力ウインドウ41、42、43、44は、画面上、ライン90で結ばれることによって関連付けが表示される。これらの検査部位は、ステップS2で指定された対象機器に関して、必ず検査すべき部位として予め登録され、サーバ1のメモリ3に記憶されている。
The
たとえば入力ウインドウ41は、検査部位名称表示部41a、重点監視チェック部41b、画像入力部41c及びコメント入力部41dを備えている。検査部位名称表示部41aにはこの検査部位の名称が初めから表示されているが、その他の重点監視チェック部41b、画像入力部41c及びコメント入力部41dは空欄である。なお、入力ウインドウ42、43、44についても、入力ウインドウ41と同様、検査部位名称表示部、重点監視チェック部、画像入力部及びコメント入力部が表示されている。
For example, the
検査作業員は携帯端末10の表示部15に表示された画面表示40を参照しながら、各検査部位を検査する。検査は検査作業員による目視による確認や各種の検査機器(図示せず)を用いて行われる。また、検査作業員は検査部位を携帯端末10の撮影部13で撮影し、各入力ウインドウ41、42、43、44の画像入力部に入力して表示させ、さらにコメント入力部にコメントを入力して表示させる。画像やコメントを入力した状態が図3の画面表示50である。
The inspection worker inspects each inspection part while referring to the
たとえば、入力ウインドウ41の画像入力部41cに画像を入力する場合、画像入力部41cをタップした後、対象となる検査部位を撮影部13で撮影する。これによって、画像入力部41cには撮影した画像が表示される。また、入力ウインドウ41のコメント入力部41dをタップすれば、入力部12を通じてコメントの文字を入力することができる。
For example, when inputting an image into the
なお、対象機器に関して任意に検査部位を追加したい場合は、画面表示40で追加する特定の検査部位に対応した箇所をタップする。これによって追加部位と関連付けられた入力ウインドウが新たに画面上に現れる。図3の画面表示50における入力ウインドウ45が追加された入力ウインドウであり、追加された検査部位との関連付けがライン90によって画面上、表示されている。入力ウインドウ45も検査部位名称表示部45a、重点監視チェック部45b、画像入力部45c及びコメント入力部45dを備えている。
If you want to arbitrarily add an inspection site for the target device, tap the location corresponding to the specific inspection site to be added on the
追加された入力ウインドウ45は、検査部位名称表示部45aが空欄であるため、検査作業員は検査部位の名称を入力する。そして、さらに画像入力部45c及びコメント入力部45dにそれぞれ撮影画像、コメントを入力して表示させる。
In the added
以上のような入力が携帯端末10にあった場合、サーバ制御部2はその都度、入力データを取り込み、各入力データをメモリ3に記憶して蓄積する(ステップS14、S16)。そして、検査作業員が携帯端末10から検査終了の入力を行った場合、その入力を受けてサーバ制御部2は、検査日時(現在時刻)を最新の状態に更新した後処理を終了する(ステップS18)。
When the
(検査データ記録処理の説明:前回の入力データがある場合)
次に、図6の配置図に示す各種機器を2回目以降に検査する場合の検査データ記録処理を図2のフローチャートを用いて説明する。2回目以降の検査においても検査作業員は、検査の対象機器を指定するために、携帯端末10の入力部12から対象機器の識別番号等を入力する。
(Description of inspection data recording process: when there is previous input data)
Next, inspection data recording processing when inspecting the various devices shown in the layout diagram of FIG. 6 for the second time or later will be described using the flowchart of FIG. In the second and subsequent inspections, the inspection worker inputs the identification number of the target device from the
サーバ制御部2はこの対象機器の指定の入力を判別し(ステップS2)、同一の場所に設置された同一の機器について前回の検査時におけるデータがあるかどうかを判別する(ステップS4)。この場合、2回目以降の検査であるため、前回データがサーバ1のメモリ3に記録されている。前回の入力データの内容を示す表示が図4の画面表示50である。
The
前回データがあるため、サーバ制御部2はステップS4からステップS6に進み、前回データにおけるいずれかの入力ウインドウに重点監視チェック部のチェックが記録されているか否かを判別する。重点監視チェック部のチェックとは、画面表示50に表示される入力ウインドウ41、42、43、44、45の重点監視チェック部(たとえば入力ウインドウ41の重点監視チェック部41b)に入力されているチェックであり、検査によって直ちに修理や交換等の処置は必要ないが、今後の検査において重点的に監視すべき検査部位に関して検査作業員が重点監視チェック部をタップして入力記録されたチェックである。
Since there is the previous data, the
この場合、画面表示50に示されているように、入力ウインドウ41、42、43、44、45のいずれにも重点監視チェック部のチェックの記録がないため、ステップS6からステップS10に進み、前回データと同一の入力ウインドウを今回の入力フォームとして携帯端末10の表示部15に表示する。この表示が図4の画面表示60である。
In this case, as shown in
各入力ウインドウ61、62、63、64、65には、検査部位名称表示部に検査部位の名称が表示されているのみであり、その他の重点監視チェック部、画像入力部及びコメント入力部はすべて空欄になっている。前回の検査時に追加された入力ウインドウ45についても検査部位名称表示部45aに検査部位の名称のみが表示された入力ウインドウ65が画面表示60に表示される。
In each of the
そして、検査作業員は各検査部位の検査を行い、画面表示60のそれぞれの入力ウインドウ61、62、63、64、65に撮影画像やコメントを入力する。サーバ制御部1は、入力されたデータをメモリ3に記録し(ステップS14、S16)、終了指示が入力された時、検査日時(現在時刻)を最新の状態に更新した後処理を終了する(ステップS18)。
Then, the inspection operator inspects each inspection site, and inputs photographed images and comments in
(検査データ記録処理の説明:前回の入力データがあり、かつ重点監視チェックがある場合)
続いて、2回目以降の検査において前回データに重点監視チェックが記録されている場合の検査データ記録処理を図2のフローチャートを用いて説明する。
(Description of inspection data recording process: when there is previous input data and there is an intensive monitoring check)
Next, the inspection data recording process in the second and subsequent inspections when the important monitoring check is recorded in the previous data will be described with reference to the flow chart of FIG.
ステップS2及びステップS4は前述の場合と同様であり、サーバ制御部2はステップS4からステップS6に進んで、前回のデータにおけるいずれかの入力ウインドウに重点監視チェック部のチェックの記録があるか否かを判別する。前回の入力データの内容を示す表示が図5の画面表示70である。
Steps S2 and S4 are the same as those described above, and the
画面表示70に表れている入力ウインドウ71の重点監視チェック部71bにはチェックが記録されて表示されている。すなわち、この対象機器についての前回の検査の際、入力ウインドウ71とライン90で結ばれている検査部位について、直ちに修理や交換等の処置は必要ないが、今後の検査において重点的に監視すべき不具合が確認され、検査作業員が重点監視チェック部71bをタップしてチェックを入力記録している。また、コメント入力部71dにも不具合についてのコメントが入力されている。つまり、この対象機器について、重点監視チェック部71bにチェックが入力記録されている旨のデータと、コメント入力部71dに不具合についてのコメントを表示するためのデータとが少なくともメモリ3に保存されている。
A check is recorded and displayed in an important
対象機器について重点監視チェック部71bにチェックが入力記録されている旨のデータがメモリ3に存在していると判断すると、サーバ制御部2はステップS6からステップS12に進み、今回の入力フォームである画面表示80を携帯端末10の表示部15に表示する際、前回データにおいて重点監視チェック部71bにチェックが記録されている入力ウインドウ71に対応する入力ウインドウ81を太枠81fで強調表示する。
If it is determined that the data indicating that the check has been input and recorded in the focused
なお、入力ウインドウ81には、検査部位名称表示部81aに検査部位の名称が表示されるとともに重点監視チェック部81bにチェックが表示されるが、画像入力部81c及びコメント入力部81dは空欄である。今回の入力フォームにおいて重点監視チェック部81bに初めからチェックが記録されていることによって、さらに次回の検査を行う際、次回の入力フォームにおいて入力ウインドウ81に対応する入力ウインドウは、同様に強調表示されることになる。
In the
前回データにおいて重点監視チェック部にチェックが記録されている入力ウインドウに対応する入力ウインドウが太枠で強調表示されることによって、重点的に監視すべき特定の検査部位について注意が喚起され、見落としや入力ミスが容易かつ確実に防止される。したがって、繰り返し継続的に実施される検査結果の記録を正確かつ効率的に行うことができる。 By highlighting the input window corresponding to the input window that has been checked in the key monitoring check part in the previous data with a thick frame, attention is called to the specific inspection part that should be monitored intensively, and it is possible to overlook it. Input errors are easily and reliably prevented. Therefore, it is possible to accurately and efficiently record the results of examinations that are performed repeatedly and continuously.
検査作業員は、各検査部位を検査して画面表示80の各入力ウインドウ81、82、83、84、85に撮影画像やコメントを入力する。重点監視が必要な入力ウインドウ81に関する検査部位については、検査の結果に応じて修理や交換等の適切な処置が行われる。
The inspection operator inspects each inspection site and inputs photographed images and comments in
[第2の実施形態]
次に、本願に係る不具合検査システム、不具合検査方法及び不具合検査プログラムの第2の実施形態を図7のフローチャートに従って説明する。ハードウエア構成や携帯端末の表示部における画面表示は第1の実施形態と同様である。
[Second embodiment]
Next, a second embodiment of the defect inspection system, defect inspection method, and defect inspection program according to the present application will be described with reference to the flowchart of FIG. The hardware configuration and screen display on the display unit of the mobile terminal are the same as in the first embodiment.
本実施形態における検査データ記録処理のフローチャート(図7)も、前述の第1の実施形態におけるフローチャート(図2)とほぼ同様であり、図7のフローチャートにおけるステップS52、S56、S58、S60、S62、S64、S66、S68は、図2のフローチャートにおけるステップS2、S6、S8、S10、S12、S14、S16、S18に対応しており、実質的な処理の内容は同じである。本実施例における図7のフローチャートが、第1の実施形態と実質的に異なるのはステップS55の処理である。 The flow chart (FIG. 7) of the inspection data recording process in this embodiment is also substantially the same as the flow chart (FIG. 2) in the first embodiment, and steps S52, S56, S58, S60, and S62 in the flow chart of FIG. , S64, S66, and S68 correspond to steps S2, S6, S8, S10, S12, S14, S16, and S18 in the flow chart of FIG. 2, and the substantial processing contents are the same. The substantial difference between the flowchart of FIG. 7 in this embodiment and the first embodiment is the processing of step S55.
以下では、第1の実施形態と異なる部分を中心に説明し、その他は説明を省略する。前述の第1の実施形態におけるフローチャートのステップS4では、ステップS2で指定された対象機器と「同一の場所に設置された同一の機器」について前回の検査時におけるデータがあるか否かを判別し、ステップS10、S12においてその同一機器の前回データに対応した入力ウインドウを携帯端末10の表示部15に表示した。
The following description will focus on the parts that are different from the first embodiment, and will omit the description of the rest. In step S4 of the flowchart in the first embodiment described above, it is determined whether or not there is data at the time of the previous inspection for the target device specified in step S2 and the "same device installed in the same place." Then, in steps S10 and S12, an input window corresponding to the previous data of the same device is displayed on the
これに対して、本実施形態におけるステップS55では、ステップS52で指定された対象機器に対応する機器として、「異なる場所に設置された同一の機器」及び「同種の機器」を取り上げ、前回データの有無を判別する。ここで、「異なる場所に設置された同一の機器」とは、型式や型番等が同一であるが設置場所が異なる機器であり、「同種の機器」とは、たとえば機器の設置時期が同時期であるもの、機器の設置場所が位置的に近いもの、機器の設置環境が状況的に近いもの、機器の使用頻度が類似するものであり、それぞれの機器について1つ又は2つ以上の「異なる場所に設置された同一の機器」又は「同種の機器」が予めサーバ1のメモリ3に登録されて記憶されている。
On the other hand, in step S55 in the present embodiment, as devices corresponding to the target device specified in step S52, "the same device installed in a different place" and "the same type of device" are taken up, and the previous data Determine presence/absence. Here, "the same device installed in a different place" means a device that has the same model, model number, etc. but is installed in a different place. equipment located close to each other, equipment installed in close proximity to each other, equipment used in a similar frequency of use, and each equipment has one or more “different The same device installed at a place or the same type of device are registered and stored in the
ステップS55では、少なくとも1つの「異なる場所に設置された同一の機器」又は「同種の機器」について前回データがあるか否かを判別する。そして、ステップS56では前回データのある「異なる場所に設置された同一の機器」又は「同種の機器」のうちのいずれかに重点監視チェックが記録されている場合、ステップS56からステップS62に進んでその重点監視チェックが記録されている前回データと同一の入力ウインドウを表示し、かつ重点監視チェックのある入力ウインドウを太枠で強調表示する。 In step S55, it is determined whether or not there is previous data for at least one "same device installed in a different location" or "similar device". Then, in step S56, if the priority monitoring check is recorded in either the "same device installed in a different location" or the "same type of device" in the previous data, the process proceeds from step S56 to step S62. The same input window as the previous data in which the important monitoring check is recorded is displayed, and the input window with the important monitoring check is highlighted with a thick frame.
すなわち、「異なる場所に設置された同一の機器」又は「同種の機器」の前回データに重点監視チェックの記録データが存在する場合、今回の対象機器についても同様の不具合が同時期に発生する可能性が高い。このため、同種の機器の前回データの重要監視チェックを今回の入力フォームの入力ウインドウに反映させて強調表示することによって、重点的に監視すべき特定の検査部位について注意が喚起され、見落としや入力ミスが容易かつ確実に防止される。したがって、繰り返し継続的に実施される検査結果の記録を正確かつ効率的に行うことができる。 In other words, if the previous data for the same device installed in a different location or for the same type of device contains recorded data from an intensive monitoring check, it is possible that the same problem will occur at the same time for the target device this time. highly sexual. Therefore, by reflecting the important monitoring check of the previous data of the same type of equipment in the input window of the current input form and highlighting it, attention is called to the specific inspection site that should be monitored intensively, and oversight and input Mistakes are easily and reliably prevented. Therefore, it is possible to accurately and efficiently record the results of examinations that are performed repeatedly and continuously.
ステップS56で前回データのある「異なる場所に設置された同一の機器」及び「同種の機器」のいずれにも重点監視チェックが記録されていない場合、ステップS56からステップS60に進んで「異なる場所に設置された同一の機器」又は「同種の機器」の前回データのうち最も入力ウインドウの数が多いものと同一の入力ウインドウを表示する。 In step S56, if neither "the same device installed in a different location" nor "the same type of device" in the previous data has an important monitoring check recorded, the process proceeds from step S56 to step S60 and "a different location The same input window as that having the largest number of input windows among the previous data of "same installed equipment" or "similar equipment" is displayed.
なお、まず第1の実施形態と同様、「同一の場所に設置された同一の機器」の前回データの有無を判別し、ある場合はその前回データを用いて以後の処理を行い、ない場合に本実施形態のように「異なる場所に設置された同一の機器」又は「同種の機器」の前回データの有無を判別し、以後、本実施形態の処理を実行するようにしてもよい。 First, as in the first embodiment, the presence or absence of the previous data of "the same device installed in the same place" is determined. As in the present embodiment, it may be determined whether or not there is previous data for "the same device installed at a different location" or "the same type of device", and then the processing of the present embodiment may be executed.
[その他の実施形態]
前述の実施形態においては、不具合検査の例として産業プラントに設置されている各種機器の検査システムを例示したが、これに限定されるものではなく、繰り返し継続的に実施される検査であれば本願に係る不具合検査システム、不具合検査方法及び不具合検査プログラムを適用することができる。
[Other embodiments]
In the above-described embodiment, an inspection system for various devices installed in an industrial plant was exemplified as an example of defect inspection, but the present invention is not limited to this, and any inspection that is repeatedly and continuously performed can be performed. can be applied to the defect inspection system, defect inspection method, and defect inspection program.
また、前述の実施形態において示した各画面表示40、50、60、70、80は表示部15(表示手段)への表示内容の一例であり、対象機器の図面や入力ウインドウ(検査結果入力領域)又は重点監視チェック部(重点監視情報入力領域)の配置やデザイン等はこれらに限定されるものではなく、他の配置やデザイン等を採用してもよい。 Further, each of the screen displays 40, 50, 60, 70, and 80 shown in the above-described embodiment is an example of the display content on the display unit 15 (display means). ) or the important monitoring check section (important monitoring information input area) are not limited to these, and other layouts, designs, etc. may be employed.
さらに、前述の実施形態においては、「同一の場所に設置された同一の対象機器」、「異なる場所に設置された同一の機器」又は「同種の機器」に前回データがあるか否かを判別ししたが(図2のステップS4、図7のステップS55)、前回データだけではなく、前回より前の検査時におけるデータの有無も併せて判別することもできる。 Furthermore, in the above-described embodiment, it is determined whether or not the "same target device installed in the same location", "same device installed in a different location", or "same type of device" has previous data. However, (step S4 in FIG. 2, step S55 in FIG. 7), not only the previous data but also the presence/absence of data at the time of examination before the previous time can also be determined.
また、前述の実施形態においては、入力ウインドウ(検査結果入力領域)の強調表示として入力ウインドウの太枠81fを例示したが、今後重点的に監視すべきである特定の検査部位について、検査作業員の注意が喚起されるような表示であれば他の表示形式を採用することができる。たとえば、画面上の他の表示部分と異なる色彩を用いて入力ウインドウ(検査結果入力領域)を強調表示してもよい。また、入力ウインドウ(検査結果入力領域)を点滅表示させることによって強調表示してもよい。
In the above-described embodiment, the input window (inspection result input area) is highlighted by the
なお、前述の実施形態においては、画面表示上で1つの強調表示が行われる例を示したが、前回データに重点監視チェックが入力されている入力ウインドウが複数あれば、今回の入力フォームにもこれに対応して複数の入力ウインドウについて強調表示が行われる。 In the above-described embodiment, an example is shown in which one highlight is displayed on the screen display. Correspondingly, a plurality of input windows are highlighted.
さらに、前述の実施形態においては、入力ウインドウ(検査結果入力領域)に対象機器の正面図のみが表示された例を示したが、正面図とともに背面図、側面図等、他方向の図面を表示してもよい。また、表示する図面は一つであり、他方向の図面を選択して表示を切り換えることが可能な構成を採用することもできる。この場合、図面の切り換えに対応して、表示図面の検査部位と関連付けて表示することが可能な入力ウインドウ(検査結果入力領域)の表示も切り換わるように構成することができる。また、対象機器の立体図を入力ウインドウ(検査結果入力領域)に表示することもできる。 Furthermore, in the above-described embodiment, only the front view of the target device is displayed in the input window (inspection result input area). You may Further, it is also possible to employ a configuration in which only one drawing is displayed and the display can be switched by selecting a drawing in another direction. In this case, the display of the input window (inspection result input area) that can be displayed in association with the inspection site of the displayed drawing can be switched in response to the switching of the drawing. In addition, a three-dimensional diagram of the target device can be displayed in the input window (inspection result input area).
2:サーバ制御部 3:メモリ 15:表示部 21:機器
41、42、43、44、45、61、62、63、64、65、71、72、73、74、75、81、82、83、84、85:入力ウインドウ
41b、45b、71b、81b:重点監視チェック部 81f:太枠
2: Server control unit 3: Memory 15: Display unit 21: Equipment
41, 42, 43, 44, 45, 61, 62, 63, 64, 65, 71, 72, 73, 74, 75, 81, 82, 83, 84, 85: Input window
41b, 45b, 71b, 81b: Priority monitoring
Claims (6)
特定の検査対象における検査部位と関連付けられた検査結果入力領域であって検査結果が入力される検査結果入力領域、及び特定の検査部位について今後重点的に監視すべきであることを示す重点監視情報が入力される重点監視情報入力領域を表示する表示手段、
入力された検査対象の検査結果及び重点監視情報を毎回、記憶する記憶手段、
特定の検査対象につき、今回の検査について検査結果入力領域を表示手段に表示する際、前回以前の検査結果において対応する検査対象について重点監視情報が入力されているときは、当該検査結果入力領域に当該重点監視情報を反映させる制御手段、
を備えたことを特徴とする不具合検査システム。 A defect inspection system used for defect inspection for continuously inspecting defects to be inspected two or more times,
Intensive monitoring information indicating that the inspection result input area in which the inspection result is input and which is associated with the inspection site in the specific inspection target and that the specific inspection site should be monitored intensively in the future. display means for displaying an important monitoring information input area in which is input;
storage means for storing the input inspection results and important monitoring information of the inspection target each time;
When the inspection result input area for the current inspection is displayed on the display means for a specific inspection target, if intensive monitoring information has been entered for the corresponding inspection target in the previous inspection results, the inspection result input area control means for reflecting the focused monitoring information;
A defect inspection system comprising:
制御手段は、特定の検査対象につき、今回の検査について検査結果入力領域を表示手段に表示する際、前回以前の検査結果において対応する検査対象について重点監視情報が入力されているときは、当該検査結果入力領域を強調表示して当該重点監視情報を反映させる、
ことを特徴とする不具合検査システム。 In the defect inspection system according to claim 1,
When the control means displays the inspection result input area for the current inspection on the display means for a specific inspection object, if the intensive monitoring information for the corresponding inspection object has been input in the previous inspection result, highlighting the result input area to reflect the relevant key monitoring information;
A defect inspection system characterized by:
制御手段は、特定の検査対象につき、今回の検査について検査結果入力領域を表示手段に表示する際、前回以前の検査結果において同一の検査対象について重点監視情報が入力されているときは、当該検査結果入力領域に当該重点監視情報を反映させる、
ことを特徴とする不具合検査システム。 In the defect inspection system according to claim 1 or claim 2,
When the control means displays the inspection result input area for the current inspection on the display means for a specific inspection object, if the focused monitoring information for the same inspection object has been input in the previous inspection result, the reflecting the relevant focused monitoring information in the result input area;
A defect inspection system characterized by:
複数の検査対象を対象として検査する不具合検査に用いる不具合検査システムであって、
制御手段は、特定の検査対象につき、今回の検査について検査結果入力領域を表示手段に表示する際、前回以前の検査結果において同種の検査対象について重点監視情報が入力されているときは、当該検査結果入力領域に当該重点監視情報を反映させる、
ことを特徴とする不具合検査システム。 In the defect inspection system according to claim 1 or claim 2,
A defect inspection system used for defect inspection for inspecting a plurality of inspection targets,
When the control means displays the inspection result input area for the current inspection on the display means for a specific inspection target, if the focused monitoring information for the same type of inspection target has been input in the previous inspection result, the reflecting the relevant focused monitoring information in the result input area;
A defect inspection system characterized by:
表示手段は、特定の検査対象における検査部位と関連付けられた検査結果入力領域であって検査結果が入力される検査結果入力領域、及び特定の検査部位について今後重点的に監視すべきであることを示す重点監視情報が入力される重点監視情報入力領域を表示し、
記憶手段は、入力された検査対象の検査結果及び重点監視情報を毎回、記憶し、
制御手段は、特定の検査対象につき、今回の検査について検査結果入力領域を表示手段に表示する際、前回以前の検査結果において対応する検査対象について重点監視情報が入力されているときは、当該検査結果入力領域に当該重点監視情報を反映させる、
ことを特徴とする不具合検査方法。 A defect inspection method used for defect inspection for continuously inspecting defects to be inspected two or more times,
The display means indicates that the inspection result input area, which is an inspection result input area associated with the inspection site in the specific inspection object and into which the inspection result is input, and the specific inspection site should be monitored intensively in the future. display the key monitoring information input area where the key monitoring information shown is input,
The storage means stores the input inspection results of the inspection object and the important monitoring information each time,
When the control means displays the inspection result input area for the current inspection on the display means for a specific inspection object, if the intensive monitoring information for the corresponding inspection object has been input in the previous inspection result, reflecting the relevant focused monitoring information in the result input area;
A defect inspection method characterized by:
特定の検査対象における検査部位と関連付けられた検査結果入力領域であって検査結果が入力される検査結果入力領域、及び特定の検査部位について今後重点的に監視すべきであることを示す重点監視情報が入力される重点監視情報入力領域を表示する表示機能、
入力された検査対象の検査結果及び重点監視情報を毎回、記憶する記憶機能、
特定の検査対象につき、今回の検査について検査結果入力領域を表示手段に表示する際、前回以前の検査結果において対応する検査対象について重点監視情報が入力されているときは、当該検査結果入力領域に当該重点監視情報を反映させる制御機能、
をコンピュータに実行させることを特徴とする不具合検査プログラム。
A defect inspection program used for defect inspection for continuously inspecting defects to be inspected twice or more,
Intensive monitoring information indicating that the inspection result input area in which the inspection result is input and which is associated with the inspection site in the specific inspection target and that the specific inspection site should be monitored intensively in the future. display function to display the important monitoring information input area where is input,
A storage function that stores the input inspection results and important monitoring information of the inspection target each time,
When the inspection result input area for the current inspection is displayed on the display means for a specific inspection target, if intensive monitoring information has been entered for the corresponding inspection target in the previous inspection results, the inspection result input area a control function that reflects the focused monitoring information;
A defect inspection program characterized by causing a computer to execute
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021067680A JP2022162716A (en) | 2021-04-13 | 2021-04-13 | Defect inspection system, defect inspection method, and defect inspection program |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2021067680A JP2022162716A (en) | 2021-04-13 | 2021-04-13 | Defect inspection system, defect inspection method, and defect inspection program |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022162716A true JP2022162716A (en) | 2022-10-25 |
Family
ID=83724741
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021067680A Pending JP2022162716A (en) | 2021-04-13 | 2021-04-13 | Defect inspection system, defect inspection method, and defect inspection program |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2022162716A (en) |
-
2021
- 2021-04-13 JP JP2021067680A patent/JP2022162716A/en active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11449980B2 (en) | System and method for combined automatic and manual inspection | |
JP4417400B2 (en) | Solder inspection line centralized management system and management device used therefor | |
KR101117472B1 (en) | Apparatus and Method for Visual Inspection | |
CN111954890A (en) | Terminal device, work machine system, information processing method, and server device | |
JP2000131242A (en) | Defect analyzer | |
JP4813071B2 (en) | Macro image display system and macro image display method | |
JP2002297669A (en) | Inspection support system | |
JP6907508B2 (en) | Inspection system, control method and program of inspection equipment | |
JP4500876B1 (en) | production management system | |
JP2022162716A (en) | Defect inspection system, defect inspection method, and defect inspection program | |
JP3099666B2 (en) | Article inspection equipment | |
JP2003263475A (en) | Pump inspection work support system | |
WO2018158815A1 (en) | Inspection assistance device, inspection assistance method, and recording medium | |
JP2008217608A (en) | Remote monitoring system and method of industrial machine | |
WO2015174115A1 (en) | Data management device and data management program | |
JP2019028642A (en) | Inspection report reparation system | |
JP5191928B2 (en) | Onboard data creation support device and component mounting device | |
JP2884785B2 (en) | Field operation support system | |
WO2020090229A1 (en) | Inspection assistance method, inspection assistance device, and inspection assistance program | |
JP2004240772A (en) | Press plate progress device | |
JP2008244183A (en) | Inspection support system, and data processor and processing method | |
JP2008181341A (en) | Manufacturing defect factor analysis support device | |
JP2001077600A (en) | Inspection system | |
US20230221709A1 (en) | System and method for manufacturing and maintenance | |
JP5930405B2 (en) | Inspection system, inspection method and terminal |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20240221 |