JP2022159633A - Igzo sintered body, manufacturing method thereof, and sputtering target - Google Patents

Igzo sintered body, manufacturing method thereof, and sputtering target Download PDF

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Abstract

To provide an IGZO sintered body having high density and deflective strength and less breakage when used as a sputtering target, and a manufacturing method thereof.SOLUTION: Disclosed is an oxide sintered body involving In, Ga, and Zn, wherein the sintered body is characterized by having a homologous crystal structure represented by InGaZnO4 and having a carbon content in the sintered body of 0.005 wt.% or under, a crystal grain size of 5 μm or under, and a relative density of the sintered body of 98% or over.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、薄膜トランジスタ(TFT)に用いられるインジウム、ガリウム、亜鉛及び酸素からなるIn-Ga-Zn-O(IGZO)半導体薄膜等の形成に用いられるスパッタリングターゲット、及びその製造方法に関するものである。 The present invention relates to a sputtering target used for forming an In--Ga--Zn--O (IGZO) semiconductor thin film composed of indium, gallium, zinc and oxygen used in a thin film transistor (TFT), and a method for producing the same.

近年、有機エレクトロルミネッセンス(EL)やフレキシブルディスプレイなど多様なフラットパネルディスプレイ(FPD)が提案されており、低温で薄膜形成が可能で、比較的高い移動度を有するTFTが要望されている。IGZO半導体薄膜は、結晶性のシリコン薄膜よりも低温で形成でき、かつ非結晶性のシリコン薄膜よりも移動度が高いことから、FPD用のTFT材料として注目されている(例えば、特許文献1、2参照)。また、IGZO膜は可視透過性を有しているため、液晶表示素子等のスイッチング素子や駆動回路素子等多岐にわたる用途に使用されている。このような用途では極力高い透過率を持つ薄膜材料が望まれている。 In recent years, various flat panel displays (FPDs) such as organic electroluminescence (EL) and flexible displays have been proposed, and TFTs capable of forming thin films at low temperatures and having relatively high mobility are desired. An IGZO semiconductor thin film can be formed at a lower temperature than a crystalline silicon thin film and has a higher mobility than an amorphous silicon thin film. 2). In addition, since the IGZO film has visible transparency, it is used in a wide variety of applications such as switching elements such as liquid crystal display elements and drive circuit elements. For such applications, a thin film material having as high a transmittance as possible is desired.

これらIGZO薄膜の形成は、大面積化が容易でかつ高性能の膜が得られることから、スパッタリング法が用いられる。一般的に、平板形スパッタリングターゲットにおいても円筒形スパッタリングターゲットにおいても、ターゲットとしてはIGZO焼結体が用いられる。IGZO焼結体としては、層状の構造を持つホモロガス結晶構造を有するものが主に用いられているが、層状構造による異方性のため焼結体強度が低く、放電時のプラズマによる熱応力が特定部位に集中すると、その応力によりターゲットが割れ易いという問題があった。 A sputtering method is used for the formation of these IGZO thin films because it is easy to increase the area and obtain a high-performance film. In general, an IGZO sintered compact is used as a target for both flat-plate sputtering targets and cylindrical sputtering targets. As IGZO sintered bodies, those having a homologous crystal structure with a layered structure are mainly used. When the stress concentrates on a specific portion, there is a problem that the target tends to crack due to the stress.

IGZO焼結体の強度の改善方法として、特許文献3でスピネル構造を含む結晶相とすることで抗折強度を58MPaに高くすることが示されている。また、特許文献4では、スピネル構造とビックスバイト含む結晶相とすることで抗折強度14.3kg/mm(約140MPa)を得ている。しかしながら、これらの方法ではIGZO膜の組成が限定されてしまうために、膜特性の最適化のためにIGZO焼結体のIn、GaとZnの組成比を適宜決定することができず、焼結体の組成比によらないで焼結体の強度を高める方法が望まれていた。特に、ホモロガス結晶構造のみとなる組成比の場合、著しく強度が低いために焼結体の強度の改善が強く望まれていた。 As a method for improving the strength of the IGZO sintered body, Patent Document 3 discloses increasing the bending strength to 58 MPa by using a crystal phase containing a spinel structure. Further, in Patent Document 4, a bending strength of 14.3 kg/mm 2 (about 140 MPa) is obtained by using a crystal phase containing a spinel structure and a bixbite. However, since the composition of the IGZO film is limited by these methods, the composition ratio of In, Ga, and Zn in the IGZO sintered body cannot be determined appropriately for optimizing the film characteristics. A method for increasing the strength of a sintered body without depending on the composition ratio of the body has been desired. In particular, in the case of a composition ratio that results in only a homologous crystal structure, the strength of the sintered body is remarkably low.

焼結体の強度を改善する方法として、焼結体の高密度化が有効であることが知られているが、IGZO焼結体は結晶成長が比較的早いために、ポア(気泡)が焼結体内部に残り易く高密度な焼結体を得ることは難しい。特許文献5には、焼結の保持時間を20時間以上とし、密度98%の焼結体を得ている。しかし、焼結体の結晶成長が促進されるため粒径は7μm以上と大きくなり、焼結体の強度の記述はないが、一般的にこのように粒径が成長した場合には焼結体の強度は低い。特に、ホモロガス構造の様な層状構造のみの焼結体の場合には更に強度が低下し易い。 It is known that increasing the density of the sintered body is effective as a method of improving the strength of the sintered body. It is difficult to obtain a high-density sintered body because it tends to remain inside the compact. In Patent Document 5, a sintered body with a density of 98% is obtained by setting the sintering holding time to 20 hours or longer. However, since the crystal growth of the sintered body is promoted, the grain size increases to 7 μm or more. strength is low. In particular, in the case of a sintered body having only a layered structure such as a homologous structure, the strength tends to be further reduced.

また、焼結体に不純物を添加し特性を改善する方法も知られており、特許文献6および特許文献7には100ppmから10000ppmの正四価以上の金属元素をIGZOターゲットに含有させ、焼結体の抵抗(バルクの抵抗)を1×10-3Ω・cm未満に低下させてアーキングを低下させているが、不純物を多量に添加する場合、IGZO膜の特性が悪化する可能性があるため、有効な方法とは言えない。 In addition, a method of adding impurities to a sintered body to improve its properties is also known. The resistance (bulk resistance) of the IGZO film is reduced to less than 1×10 −3 Ω·cm to reduce arcing. Not an effective method.

特開2000-044236号公報JP-A-2000-044236 特開2004-103957号公報JP-A-2004-103957 特開2008-163441号公報JP 2008-163441 A 特許国際公開2011/040028号Patent International Publication No. 2011/040028 特許国際公開2009/157535号Patent International Publication No. 2009/157535 特許国際公開2008/072486号Patent WO2008/072486 特許国際公開2009/157535号Patent International Publication No. 2009/157535

本発明の目的は、不純物が少なく、密度および抗折強度が高く、スパッタリングターゲットに使用された場合においても割れの少ないIGZO焼結体及びその製造方法を提供することにある。 An object of the present invention is to provide an IGZO sintered body containing few impurities, having high density and bending strength, and hardly cracking even when used as a sputtering target, and a method for producing the same.

本発明者らは、鋭意検討を重ねた結果、InGaZnOで表されるホモロガス結晶構造を有する焼結体において、含有炭素量が0.005wt%以下であり、結晶粒径が5μm以下かつ焼結体の相対密度が98%以上とすることで抗折強度を高められること、また、大型の焼結体においても研削加工で割れることなく、さらに、高いパワーを投入可能な円筒形スパッタリングターゲットとして用いた場合においても、割れることなく、優れた高パワー耐性を示すスパッタリングターゲットが得られることを見出し、本発明を完成するに至った。 As a result of extensive studies, the present inventors have found that a sintered body having a homologous crystal structure represented by InGaZnO has a carbon content of 0.005 wt% or less, a crystal grain size of 5 μm or less, and is sintered. The relative density of the body is 98% or more to increase the bending strength, and even a large sintered body does not crack during grinding, and it can be used as a cylindrical sputtering target that can be applied with high power. The inventors have found that a sputtering target exhibiting excellent high-power durability without cracking even when the target is subjected to pressure has been found, and the present invention has been completed.

本発明の態様は以下の通りである。
(1) In、Ga、及びZnを含有する酸化物焼結体であって、InGaZnOで表されるホモロガス結晶構造を有し、焼結体中の炭素量が0.005wt%以下であり、結晶粒径が5μm以下、かつ焼結体の相対密度が98%以上であることを特徴とする焼結体。
(2) 抗折強度が150MPa以上であることを特徴とする(1)に記載の焼結体。
(3) ターゲット面の面積が200cm以上であって、形状が平板形であることを特徴とする(1)又は(2)に記載の焼結体。
(4) ターゲット面の面積が486cm以上であって、形状が円筒形であることを特徴とする(1)又は(2)に記載の焼結体。
(5) (1)から(4)のいずれかに記載の焼結体をターゲット材として用いることを特徴とするスパッタリングターゲット。
(6) 炭化水素系化合物含有量が0.6%以下である、In、Ga、及びZnを含有する原料粉末を混合し、成形型内に充填し、冷間静水圧プレスにより成形した成形体を利用する焼結体の製造方法であって、複数の型枠部材からなる組立式型枠、該組立式型枠の内面に沿って移動可能に設けられた上パンチおよび前記組立式型枠に接して設けられた底板を備えるとともに、加圧終了後の減圧時に生じる成形体の膨張に併せて、前記組立式型枠を構成する型枠部材が移動可能な構造を有する成形型を利用し成形し、得られた成形体を焼成することを特徴とする(1)から(4)のいずれかに記載の焼結体の製造方法。
(7) 組立式型枠に接して設けられた底板が、前記組立式型枠の内面に沿って移動することができないように構成されている成形型を利用することを特徴とする(6)に記載の焼結体の製造方法。
(8) 底板が上パンチよりも圧縮変形の少ない材料により構成される成形型を利用することを特徴とする(6)又は(7)に記載の焼結体の製造方法。
(9) 成形体を電磁波加熱を用いて焼成することを特徴とする(6)から(8)のいずれかに記載の焼結体の製造方法。
Aspects of the present invention are as follows.
(1) An oxide sintered body containing In, Ga, and Zn, having a homologous crystal structure represented by InGaZnO4 , and having a carbon content of 0.005 wt% or less in the sintered body, A sintered body having a grain size of 5 μm or less and a relative density of 98% or more.
(2) The sintered body according to (1), which has a bending strength of 150 MPa or more.
(3) The sintered body according to (1) or (2), wherein the target surface area is 200 cm 2 or more and the shape is a flat plate.
(4) The sintered body according to (1) or (2), wherein the target surface area is 486 cm 2 or more and the shape is cylindrical.
(5) A sputtering target using the sintered body according to any one of (1) to (4) as a target material.
(6) A compact obtained by mixing raw material powders containing In, Ga, and Zn with a hydrocarbon-based compound content of 0.6% or less, filling the mold, and molding by cold isostatic pressing. A method of manufacturing a sintered body using Molding using a molding die having a bottom plate provided in contact and having a structure in which the formwork members constituting the knockdown formwork can be moved in accordance with the expansion of the molded body that occurs when the pressure is reduced after the completion of pressurization. and firing the obtained molded body.
(7) A mold is used in which a bottom plate provided in contact with the knockdown form cannot move along the inner surface of the knockdown form (6). The method for producing a sintered body according to 1.
(8) The method for producing a sintered body according to (6) or (7), wherein the bottom plate is made of a material that undergoes less compression deformation than the upper punch.
(9) The method for producing a sintered body according to any one of (6) to (8), characterized in that the molded body is fired using electromagnetic wave heating.

以下、本発明を詳細に説明する。 The present invention will be described in detail below.

本発明のIGZO焼結体はインジウム、ガリウム、亜鉛及び酸素を含んでなり、InGaZnOで表されるホモロガス結晶構造を有する焼結体である。本発明で言う「InGaZnOで表されるホモロガス結晶構造を有する焼結体」とは、X線回折パターンがInGaZnO4の回折パターンと一致し、InGaZnOの回折パターンに帰属されないピークを含まないことを意味する。 The IGZO sintered body of the present invention is a sintered body containing indium, gallium, zinc and oxygen and having a homologous crystal structure represented by InGaZnO 4 . The term “sintered body having a homologous crystal structure represented by InGaZnO 4 ” as used in the present invention means that the X-ray diffraction pattern matches the diffraction pattern of InGaZnO 4 and does not contain peaks not attributed to the diffraction pattern of InGaZnO 4 . means.

本発明によれば、InGaZnOで表されるホモロガス結晶構造を有するIGZO焼結体の焼結体中の炭素量が0.005wt%以下であり、結晶粒径が5μm以下、かつ焼結体の相対密度が98%以上だと抗折強度が高く、スパッタリングターゲットに使用された場合においても割れの少ないIGZO焼結体となる。 According to the present invention, the carbon content in the IGZO sintered body having a homologous crystal structure represented by InGaZnO4 is 0.005 wt% or less, the crystal grain size is 5 μm or less, and the sintered body When the relative density is 98% or more, the IGZO sintered body has high bending strength and less cracks even when used as a sputtering target.

本発明のIGZO焼結体の炭素量は0.005wt%以下であり、好ましくは0.003wt%以下、さらに好ましくは0.001wt%以下である。そうすることで炭素を起点としたクラック発生を低減することが可能となる。 The carbon content of the IGZO sintered body of the present invention is 0.005 wt% or less, preferably 0.003 wt% or less, more preferably 0.001 wt% or less. By doing so, it is possible to reduce the occurrence of cracks originating from carbon.

本発明のIGZO焼結体の結晶粒径は5μm以下であり、好ましくは4.5μm以下であり、さらに好ましくは4μm以下である。好ましくは0.1μm以上、特に好ましくは1μm以上である。焼結体の結晶粒径が小さいほど、スパッタリングターゲットとして用いる場合、ターゲットから元素が均一に飛び出すために結晶粒径は小さいほど好ましい。 The grain size of the IGZO sintered body of the present invention is 5 μm or less, preferably 4.5 μm or less, more preferably 4 μm or less. It is preferably 0.1 μm or more, particularly preferably 1 μm or more. The smaller the crystal grain size of the sintered body is, the smaller the crystal grain size is, the better, because when the sintered body is used as a sputtering target, the elements are uniformly ejected from the target.

本発明のIGZO焼結体の相対密度は98%以上であり、99%以上が好ましい。相対密度が98%を下回る焼結体をターゲットとして用いると、スパッタリング中に異常放電が発生しやすくなる場合があり、異常放電により発生したパーティクルにより膜の品質が悪化して歩留りが低下する可能性があるからである。 The IGZO sintered body of the present invention has a relative density of 98% or more, preferably 99% or more. If a sintered body with a relative density of less than 98% is used as a target, abnormal discharge may easily occur during sputtering, and particles generated by abnormal discharge may deteriorate the quality of the film and reduce the yield. because there is

さらに、本発明のIGZO焼結体は、結晶粒界に存在するポアと結晶粒内に存在するポアの個数の比(結晶粒界のポア個数/結晶粒内のポア個数)が0.5以上であることが好ましい。IGZO焼結体がホモロガス結晶構造を有する場合、結晶粒内に層状の構造体を有している。この層状の構造体は焼結体の鏡面研磨面をエッチングすることで容易に確認することができるが、IGZO焼結体のクラックは、この結晶粒内に存在する層状構造体上を進行する場合が多い。このため、結晶粒内にポアが存在すると破壊源となり、焼結体の強度を著しく低下させてしまう。したがって、結晶粒内に存在するポアが少ない方が良く、粒内に存在するポアを減らし、粒界と粒内に存在するポアの比(結晶粒界のポア個数/結晶粒内のポア個数)を大きくすることで焼結体の強度を効果的に高めることができる。粒界と粒内に存在するポアの比(結晶粒界のポア個数/結晶粒内のポア個数)としては、0.5以上が好ましく、より好ましくは1以上で、さらに好ましくは3以上である。 Furthermore, in the IGZO sintered body of the present invention, the ratio of the number of pores existing at the grain boundaries to the number of pores existing within the crystal grains (the number of pores at the grain boundaries/the number of pores within the crystal grains) is 0.5 or more. is preferably When the IGZO sintered body has a homologous crystal structure, it has a layered structure within the crystal grains. This layered structure can be easily confirmed by etching the mirror-polished surface of the sintered body. There are many. Therefore, the presence of pores in the crystal grains becomes a source of fracture and significantly reduces the strength of the sintered body. Therefore, it is better to reduce the number of pores existing in the grain, and the ratio of the pores existing in the grain boundary to the pores in the grain (the number of pores in the grain boundary / the number of pores in the grain) can effectively increase the strength of the sintered body. The ratio of pores existing at grain boundaries and within grains (number of pores at grain boundaries/number of pores within grains) is preferably 0.5 or more, more preferably 1 or more, and still more preferably 3 or more. .

本発明のIGZO焼結体の抗折強度は150MPa以上であることが好ましい。焼結体の強度が高ければ研削加工においても割れが発生しにくく、歩留りが高いために生産性が良い。更に、スパッタリング中に高いパワーが投入される円筒形スパッタリングターゲットに使用した場合においても、割れの問題が発生しにくい。なお、本発明において、抗折強度はJISR1601の3点曲げ試験に準拠して測定した。 The bending strength of the IGZO sintered body of the present invention is preferably 150 MPa or more. If the strength of the sintered body is high, cracks are less likely to occur even during grinding, and the productivity is high because the yield is high. Furthermore, even when used in a cylindrical sputtering target to which high power is applied during sputtering, cracking is less likely to occur. In addition, in the present invention, the bending strength was measured according to the three-point bending test of JISR1601.

本発明のIGZO焼結体は、ターゲット面の面積が、200cm以上、好ましく400cm以上、さらに好ましくは600cm以上、特に好ましくは1200cm以上である、また、ターゲット面の形状は、平板系、円筒形のいずれであってもよい。特に、ターゲット面の面積が1302cm以上であって、形状が平板形又はターゲット面の面積が486cm以上であって、形状が円筒形であることが好ましい。 The IGZO sintered body of the present invention has a target surface area of 200 cm 2 or more, preferably 400 cm 2 or more, more preferably 600 cm 2 or more, and particularly preferably 1200 cm 2 or more. , cylindrical. In particular, it is preferable that the target surface area is 1302 cm 2 or more and the shape is a flat plate or the target surface area is 486 cm 2 or more and the shape is a cylinder.

なお、本発明のIGZO焼結体におけるインジウム、ガリウムおよび亜鉛の比率は、InGaZnOで表されるホモロガス結晶構造を生成する組成であれば特に制限はなく、金属元素の原子比換算でIn:Ga:Zn=1:1:1の組成とすることが好ましい。 In addition, the ratio of indium, gallium and zinc in the IGZO sintered body of the present invention is not particularly limited as long as it is a composition that produces a homologous crystal structure represented by InGaZnO4 . :Zn=1:1:1.

本発明のIGZO焼結体は、炭素以外に鉄等の金属不純物を含有していてもよく、該金属不純物の含有量50ppm以下が好ましく、さらに好ましく30ppm以下、特に好ましくは20ppm以下である。 The IGZO sintered body of the present invention may contain metal impurities such as iron in addition to carbon, and the content of the metal impurities is preferably 50 ppm or less, more preferably 30 ppm or less, and particularly preferably 20 ppm or less.

次に本発明のIGZO焼結体の製造方法について説明する。 Next, the method for producing the IGZO sintered body of the present invention will be described.

本発明のIGZO焼結体の製造方法は、In、Ga、及びZnを含有する原料粉末を混合(原料混合工程)し、成形型内に充填し、冷間静水圧プレスにより成形した成形体を利用する焼結体の製造方法であって、複数の型枠部材からなる組立式型枠、該組立式型枠の内面に沿って移動可能に設けられた上パンチおよび前記組立式型枠に接して設けられた底板を備えるとともに、加圧終了後の減圧時に生じる成形体の膨張に併せて、前記組立式型枠を構成する型枠部材が移動可能な構造を有する成形型を利用し成形(成形工程)し、得られた成形体を焼成(焼成工程)する、製造方法である。以下、工程毎に詳細に説明する。 In the method for producing an IGZO sintered body of the present invention, raw material powders containing In, Ga, and Zn are mixed (raw material mixing step), filled in a mold, and cold isostatically pressed to form a compact. A manufacturing method for a sintered body using a collapsible form comprising a plurality of form members, an upper punch provided movably along the inner surface of the collapsible form, and contacting the collapsible form Molding using a mold having a bottom plate provided at the end of pressurization and having a structure in which the formwork members constituting the knockdown formwork can move in accordance with the expansion of the molded body that occurs when the pressure is reduced after the end of pressurization ( molding step) and firing the obtained compact (firing step). Each step will be described in detail below.

(1)原料混合工程
原料粉末は特に限定されるものではなく、例えば、インジウム、ガリウム、亜鉛の塩化物、硝酸塩、炭酸塩等の金属塩粉末を用いることも可能であり、取り扱い性を考慮すると酸化物粉末が好ましい。
(1) Raw material mixing step The raw material powder is not particularly limited, and for example, it is possible to use metal salt powder such as indium, gallium, zinc chloride, nitrate, carbonate, etc. Considering ease of handling, Oxide powders are preferred.

各原料粉末の純度は、99.9%以上が好ましく、より好ましくは99.99%以上である。純度が低いと、含有される不純物により、本発明のIGZO焼結体を用いたスパッタリングターゲットを利用して形成されたTFT(薄膜トランジスタ)に、悪影響が及ぼされることがあるからである。 The purity of each raw material powder is preferably 99.9% or higher, more preferably 99.99% or higher. This is because if the purity is low, the contained impurities may adversely affect the TFT (thin film transistor) formed using the sputtering target using the IGZO sintered body of the present invention.

これらの原料の配合は、InGaZnOで表されるホモロガス結晶構造を生成する組成であれば特に制限はなく、金属元素の原子比換算でIn:Ga:Zn=1:1:1の組成とすることが好ましい。 The composition of these raw materials is not particularly limited as long as it has a composition that produces a homologous crystal structure represented by InGaZnO4 , and the composition is In:Ga:Zn = 1:1:1 in terms of the atomic ratio of the metal elements. is preferred.

原料粉末の結晶子径が大きいと焼成時において局所的に加熱され、割れたり、異常粒成長を引き起こしたりするため、原料粉末の結晶子径を60nm以下とすることが好ましい。原料粉末の結晶子径が60nmよりも大きい場合、各原料粉末を混合する前に予め粉砕処理することや混合時の粉末処理で同時に粉砕することも可能である。原料粉末の粉砕と混合は同じ装置を用いて行う場合が多いので、製造工程の簡略化を考慮すると、粉砕と混合を同時に行う方が好ましい。 If the raw material powder has a large crystallite size, it may be locally heated during firing, resulting in cracking or abnormal grain growth. When the crystallite size of the raw material powders is larger than 60 nm, it is possible to grind the raw material powders in advance before mixing them, or to grind them simultaneously during powder treatment during mixing. Since pulverization and mixing of the raw material powder are often performed using the same apparatus, it is preferable to perform pulverization and mixing at the same time in consideration of simplification of the manufacturing process.

これら各粉末の粉砕混合方法は、特に限定されるものではなく、ジルコニア、アルミナ、ナイロン樹脂等のボールやビーズを用いた乾式、湿式のメディア撹拌型ミルやメディアレスの容器回転式、機械撹拌式や気流式等の粉砕混合方法が例示される。具体的には、ボールミル、ビーズミル、アトライタ、振動ミル、遊星ミル、ジェットミル、二軸遊星撹拌式混合機等が挙げられる。その中でも容器や粉砕メディアからの炭化水素系不純物が混入する場合、焼結時に残留するため、セラミックス容器ならびにセラミックスメディアを利用した乾式、もしくは湿式粉砕混合方法を利用することが好ましく、さらに好ましくは湿式型の混合が好ましい。 The method of pulverizing and mixing these powders is not particularly limited, and includes dry and wet media stirring mills using balls and beads of zirconia, alumina, nylon resin, etc., and medialess vessel rotating and mechanical stirring types. and pulverization and mixing methods such as an airflow method are exemplified. Specific examples include ball mills, bead mills, attritors, vibration mills, planetary mills, jet mills, and twin-screw planetary stirring mixers. Among them, if hydrocarbon impurities from the container or grinding media are mixed in, they will remain during sintering. Therefore, it is preferable to use a dry or wet grinding and mixing method using a ceramic container and ceramic media, and more preferably a wet method. A mixture of types is preferred.

また、粉砕により結晶子径を小さくしても、粉末の凝集体が存在すると焼成後の密度が充分に上昇しない場合があり、粉砕後の粉末の粒径は微細であるほど好ましい。粉末の粒径はレーザー回折/散乱法で測定した時に、平均粒径として1.0μm以下であることが好ましく、更に好ましくは0.1から1.0μmである。また、BET法により測定した粉末の比表面積は11m/g以上であることが好ましく、更に好ましくは12m/g以上である。こうすることにより、焼結粒子が小さく、焼結密度の高い焼結体を得ることが可能となる。湿式法のボールミルやビーズミル、アトライタ、振動ミル、遊星ミル、ジェットミル等を用いる場合には、粉砕後のスラリーを乾燥する必要がある。この乾燥方法は特に限定されるものではないが、例えば、濾過乾燥、流動層乾燥、噴霧乾燥等が例示できる。 Even if the crystallite size is reduced by pulverization, the presence of aggregates of the powder may not sufficiently increase the density after firing. The particle size of the powder is preferably 1.0 μm or less, more preferably 0.1 to 1.0 μm as an average particle size measured by a laser diffraction/scattering method. Moreover, the specific surface area of the powder measured by the BET method is preferably 11 m 2 /g or more, more preferably 12 m 2 /g or more. By doing so, it is possible to obtain a sintered body with small sintered particles and high sintered density. When wet method ball mills, bead mills, attritors, vibration mills, planetary mills, jet mills, etc. are used, it is necessary to dry the slurry after pulverization. Although the drying method is not particularly limited, for example, filter drying, fluidized bed drying, spray drying and the like can be exemplified.

また、酸化物粉末以外の粉末を使用する場合や焼成時を容易にするため予めInGaZnOを生成させる場合は、混合後に900から1200℃で仮焼を行うことも出来る。仮焼粉末を使用する場合も粉砕して、平均粒径を1.0μm以下とすることが好ましく、0.1から1.0μmとすることがさらに好ましい。なお、成形処理に際しては、ポリビニルアルコール、アクリル系ポリマー、メチルセルロース、ワックス類、オレイン酸等の炭化水素系化合物の成形助剤を原料粉末に極力添加しないことが好ましい。スラリー化する際に必要な最低限の炭化水素系化合物の分散剤とすることが好ましく、さらに好ましくは分散剤を利用しないことにある。 In the case of using a powder other than the oxide powder or in the case of forming InGaZnO 4 in advance to facilitate firing, calcination can be performed at 900 to 1200° C. after mixing. When calcined powder is used, it is preferably pulverized to an average particle size of 1.0 μm or less, more preferably 0.1 to 1.0 μm. In the molding process, it is preferable not to add molding aids such as polyvinyl alcohol, acrylic polymers, methyl cellulose, waxes, and hydrocarbon compounds such as oleic acid to the raw material powder as much as possible. It is preferable to use the minimum amount of hydrocarbon-based compound as a dispersant necessary for slurrying, and it is more preferable not to use a dispersant.

原料粉末の炭化水素系化合物の含有量が0.6wt%以下であることが好ましく、さらに好ましくは0.3wt%以下、さらに好ましくは0.2wt%以下、更に好ましくは0.1wt%以下、特に、原料粉末に炭化水素系化合物を含有しないことがさらに好ましい。 The content of the hydrocarbon compound in the raw material powder is preferably 0.6 wt% or less, more preferably 0.3 wt% or less, still more preferably 0.2 wt% or less, still more preferably 0.1 wt% or less, especially , it is more preferable that the raw material powder does not contain a hydrocarbon-based compound.

(2)成形工程
成形方法は、原料粉末(仮焼した場合には仮焼した混合粉末)を目的とした形状に成形できる成形方法を適宜選択することが可能であるが、冷間静水圧プレスにより成形した成形体を利用する焼結体の製造方法であって、複数の型枠部材からなる組立式型枠、該組立式型枠の内面に沿って移動可能に設けられた上パンチおよび前記組立式型枠に接して設けられた底板を備えるとともに、加圧終了後の減圧時に生じる成形体の膨張に併せて、前記組立式型枠を構成する型枠部材が移動可能な構造を有する成形型を利用する。なお、前記底板は前記組立式型枠の内面に沿って移動することができないように構成されていることが好ましい。また、前記底板又は下パンチは前記上パンチよりも圧縮変形の少ない材料で構成されていることが好ましく、特に、前記底板又は下パンチが金属製であり、前記上パンチが樹脂製であることが好ましい。
(2) Forming process As the forming method, it is possible to appropriately select a forming method capable of forming the raw material powder (calcined mixed powder when calcined) into the desired shape. A method for manufacturing a sintered body using a molded body formed by the A molding having a bottom plate provided in contact with a collapsible formwork, and having a structure in which the formwork members constituting the collapsible formwork can be moved in accordance with the expansion of the molded body that occurs when the pressure is reduced after the completion of pressurization. use the mold. In addition, it is preferable that the bottom plate is configured so as not to be able to move along the inner surface of the knockdown formwork. In addition, the bottom plate or the lower punch is preferably made of a material that undergoes less compression deformation than the upper punch. Particularly, the bottom plate or the lower punch is made of metal, and the upper punch is made of resin. preferable.

その成形型は、成形型内に原料粉末を充填し圧縮して成形体を製造するための成形型であって、加圧圧縮時には充填した原料粉末に対して実質的に1軸方向からのみ加圧し、加圧終了後の減圧時には成形体に対して実質的に等方的に圧力を開放可能な構造を有していることを特徴とする圧縮成形用成形型である。なお、成形体の板面を水平にした状態で成形を行う場合、成形体の自重や、上パンチの重量による力が成形体に作用するが、本発明の成形体では、成形体の板面の面積が大きいため、これらの力による圧力は無視することができる。 The molding die is a molding die for producing a compact by filling the raw material powder in the molding die and compressing it. The mold for compression molding is characterized in that it has a structure capable of isotropically releasing the pressure substantially isotropically with respect to the molding when the pressure is reduced after the completion of the pressurization. In addition, when molding is performed with the plate surface of the formed body horizontal, the force due to the weight of the formed body and the weight of the upper punch acts on the formed body. Since the area of is large, the pressure due to these forces can be neglected.

さらに、本発明の上記成形型では、組立式型枠を構成する型枠部材の少なくとも一部が、隣接する型枠部材の端部と係合し、成形時の加圧下において、組立式型枠が形成する原料粉末充填室の開口形状が所定の大きさ以下にならないように制限する構造を、その端部に有していることが好ましい。なお、本発明においては、原料粉末充填室は組立式型枠の内面、上パンチの底面及び底板(又は下パンチ)の上面により構成される空間を意味するが、この原料粉末充填室の上パンチの底面に平行な面での断面形状を原料粉末充填室の開口形状又は組立式型枠の開口形状と称する。 Further, in the mold of the present invention, at least a part of the formwork members constituting the knockdown formwork engages with the ends of the adjacent formwork members, and under pressure during molding, the knockdown formwork It is preferable to have a structure at the end portion for limiting the shape of the opening of the raw material powder filling chamber formed by to not be smaller than a predetermined size. In the present invention, the raw material powder filling chamber means the space formed by the inner surface of the knockdown mold, the bottom surface of the upper punch, and the upper surface of the bottom plate (or lower punch). The cross-sectional shape on the plane parallel to the bottom surface of is referred to as the opening shape of the raw powder filling chamber or the opening shape of the prefabricated formwork.

また、底板及び上パンチの原料粉末に接する面は各々1つの平面で構成されていても良く、また、底板が互いに移動可能な複数の底板構成部材からなり、かつ、前記底板の原料粉末に接する面に少なくとも1つの凹部を有するものであっても良い。同様に、上パンチが互いに移動可能な複数の上パンチ構成部材からなり、かつ、前記上パンチの原料粉末に接する面に少なくとも1つの凹部を有するものであっても良い。 Further, the surfaces of the bottom plate and the upper punch that come into contact with the raw material powder may each be composed of one flat surface, and the bottom plate is composed of a plurality of mutually movable bottom plate constituting members, and is in contact with the raw material powder of the bottom plate. The surface may have at least one recess. Similarly, the upper punch may be composed of a plurality of mutually movable upper punch constituent members, and may have at least one concave portion on the surface of the upper punch that is in contact with the raw material powder.

成形圧力は成形体にクラック等の発生がなく、取り扱いが可能な成形体であれば特に限定されるものではなく、成形密度は可能な限り高めた方が好ましい。そのために冷間静水圧プレス(CIP)成形におけるCIP圧力は充分な圧密効果を得るため1ton/cm以上が好ましく、さらに好ましくは2ton/cm以上、とりわけ好ましくは2から3ton/cmである。 The molding pressure is not particularly limited as long as the molded body does not cause cracks or the like and can be handled, and it is preferable to increase the molding density as much as possible. Therefore, the CIP pressure in cold isostatic press (CIP) molding is preferably 1 ton/cm 2 or more, more preferably 2 ton/cm 2 or more, and particularly preferably 2 to 3 ton/cm 2 in order to obtain a sufficient consolidation effect. .

(3)焼成工程
次に得られた成形体を焼成する。焼成に際しては、電磁波加熱を用いて焼成することが好ましく、使用される焼成炉としては、バッチ式、連続式、外部加熱式とのハイブリット式等の種々の焼成炉を使用することができる。
(3) Firing Step Next, the molded body obtained is fired. At the time of firing, it is preferable to use electromagnetic wave heating, and as the firing furnace to be used, various firing furnaces such as batch type, continuous type, and hybrid type with external heating type can be used.

一般的にセラミックス材料の焼成に用いられる電気炉のような外部加熱の場合、焼結体の外表面から焼結が進行するために、焼結体の中心部でクローズドポアとなりポアが残り易く、特にIGZOのように結晶の成長速度が速い材料では、結晶粒子の内部(粒内)にポアが取り込まれ易く、高密度で均一な焼結体が得られ難い。さらに、層状で異方性を持つIGZOの結晶構造では、一次粒子が成長するとその異方性のために結晶粒子の間(粒界)に隙間が発生し、ポアが集合し大きなポアとなり易い。したがって、特にIGZOのように結晶の粒成長が速く異方性を持つ材料は、電気炉のような外部加熱では、高密度でかつ微細な組織をもつ焼結体を得ることが困難である。ここで述べられる一次粒子とは焼結体を断面研磨後、エッチング後に観察される粒子径を指す。 In the case of external heating such as an electric furnace generally used for sintering ceramic materials, sintering progresses from the outer surface of the sintered body. In particular, in a material such as IGZO, which has a high crystal growth rate, pores are likely to be incorporated into the crystal grains (inside the grains), making it difficult to obtain a high-density and uniform sintered body. Furthermore, in the layered and anisotropic crystal structure of IGZO, when primary particles grow, the anisotropy causes gaps between crystal particles (grain boundaries), and pores tend to aggregate to form large pores. Therefore, it is difficult to obtain a sintered body having a high density and a fine structure by external heating such as an electric furnace, particularly for a material such as IGZO, which has anisotropic crystal grain growth. The primary particles referred to here refer to particle diameters observed after cross-sectional polishing and etching of the sintered body.

一方、電磁波加熱による自己発熱の場合、焼結体自身が内部から加熱され、オープンポアの状態で焼結体の中心部から均一に焼結が進行し、ポアが焼結体の外に吐き出される理想的な焼結が可能である。また、電磁波加熱は、急速に加熱しても焼結体自身の内部から自己発熱により加熱されるため、大型品でも温度分布が少なく、焼成において割れ難く、さらに、自己発熱により均一に加熱されるために、焼成の保持時間も短くすることができ、結晶粒子の成長を抑制することが可能である。 On the other hand, in the case of self-heating by electromagnetic wave heating, the sintered body itself is heated from the inside, sintering proceeds uniformly from the center of the sintered body in the state of open pores, and the pores are discharged outside the sintered body. Ideal sintering is possible. In addition, even if the sintered body is heated rapidly by electromagnetic waves, the sintered body is heated by self-heating from within itself. Therefore, even large-sized products have little temperature distribution, are less likely to crack during firing, and are evenly heated by self-heating. Therefore, the holding time of firing can be shortened, and the growth of crystal grains can be suppressed.

しかし、電磁波加熱による自己発熱は、外部加熱のようにどのような材料で適用できるものではなく、加熱のし易さは、被加熱材料の電磁波吸収特性に依存する。電磁波吸収特性は、誘電損失が大きい物質ほど良く、誘電損失の小さい物質では電磁波を吸収せず、電磁波加熱ができない。誘電損失は個々の物質により決まるが、誘電損失には温度依存性があり、物質によっては温度により電磁波吸収特性が大きく異なるものがある。電磁波吸収特性が異なる物質が共存する場合、吸収特性の良い物質が存在するところで局所的に加熱され、吸収特性の悪いところでは加熱されないため、試料内で温度分布が発生し割れたり、局所的な異常粒成長を引き起こしたりする。このため、電磁波吸収特性が異なる物質が共存する場合、割れのない均一な焼結体を得るのが困難である。 However, unlike external heating, self-heating by electromagnetic wave heating cannot be applied to any material, and the easiness of heating depends on the electromagnetic wave absorption characteristics of the material to be heated. The electromagnetic wave absorption property is better for a substance with a larger dielectric loss, and a substance with a smaller dielectric loss does not absorb electromagnetic waves and cannot be heated by electromagnetic waves. Although the dielectric loss is determined by each material, the dielectric loss has temperature dependence, and depending on the material, the electromagnetic wave absorption characteristics may vary greatly depending on the temperature. When materials with different electromagnetic wave absorption characteristics coexist, the parts with good absorption characteristics are locally heated, and the parts with poor absorption characteristics are not heated. It causes abnormal grain growth. Therefore, when substances with different electromagnetic wave absorption characteristics coexist, it is difficult to obtain a uniform sintered body without cracks.

本発明のIGZO焼結体において、金属元素の原子比換算でIn:Ga:Zn=1:1:1の組成となるように原料を配合する場合、原料として酸化インジウム、酸化ガリウム、酸化亜鉛を用いると、酸化インジウムは室温付近の低温から高温まで電磁波吸収特性が良好な自己発熱し易い物質であるが、酸化ガリウムは電磁波吸収特性が悪く自己発熱し難い物質であり、さらに酸化亜鉛は低温域では電磁波吸収特性が悪く特定の温度を超えると電磁波吸収特性が良くなる温度依存性を示す物質である。すなわち、IGZOは、電磁波吸収特性が全く異なる材料が共存する複合材料系であり、上記説明のように電磁波加熱をした場合、局所的な加熱による割れや異常粒成長などを引き起こし、均一な焼結体を得ることが困難な材料である。 In the IGZO sintered body of the present invention, when the raw materials are blended so as to have a composition of In:Ga:Zn=1:1:1 in terms of the atomic ratio of the metal elements, indium oxide, gallium oxide, and zinc oxide are used as raw materials. When used, indium oxide is a substance that easily self-heats with good electromagnetic wave absorption characteristics from low temperature to high temperature near room temperature, but gallium oxide is a substance that has poor electromagnetic wave absorption characteristics and is difficult to self-heat, and zinc oxide is a low-temperature region. is a substance that shows temperature dependence, in which the electromagnetic wave absorption characteristics are poor and the electromagnetic wave absorption characteristics improve when the temperature exceeds a specific temperature. That is, IGZO is a composite material system in which materials with completely different electromagnetic wave absorption characteristics coexist, and when subjected to electromagnetic wave heating as described above, local heating causes cracks and abnormal grain growth, resulting in uniform sintering. It is a material that is difficult to obtain.

しかしながら、InGaZnOで表されるホモロガス結晶構造のみを有するIGZO焼結体の焼成において、原料粉末のX線回折から求められる結晶子径を60nm以下に粉末を調製することで、電磁波加熱においても割れがない均一な焼結体を得ることが可能となる。複数の原料を混合した複合原料の場合、本願で言う原料粉末のX線回折から求められる結晶子径とは、各原料の結晶構造に由来するX線回折ピークからそれぞれ別々に結晶子径を算出したときの最大の値である。 However, in the firing of the IGZO sintered body having only the homologous crystal structure represented by InGaZnO4 , by preparing the powder so that the crystallite diameter obtained from the X-ray diffraction of the raw material powder is 60 nm or less, cracking even under electromagnetic wave heating It becomes possible to obtain a uniform sintered body without In the case of a composite raw material in which a plurality of raw materials are mixed, the crystallite diameter obtained from the X-ray diffraction of the raw material powder referred to in this application is calculated separately from the X-ray diffraction peak derived from the crystal structure of each raw material. It is the maximum value when

電磁波を用いた加熱は、吸収した電磁波により物質内部の双極子が振動・回転・衝突・摩擦を引き起こし、物質の自己発熱によって加熱される。すなわち、結晶粒子の内部で自己発熱が起きるが、その発生する熱量は結晶粒子の大きさによって決まるため、原料粉末の結晶粒子を小さくすることで、局所的に発生する発熱を小さく、さらに分散することができ、自己発熱の違いによる温度分布を小さく抑えることができる。これにより、電磁波吸収特性が異なる材料が共存するIGZOでも、割れが無く、均一な焼結体を得ることが可能となる。 Heating using electromagnetic waves causes the dipoles inside the material to vibrate, rotate, collide, and friction due to the absorbed electromagnetic waves, and the material is heated by self-heating. In other words, although self-heating occurs inside the crystal grains, the amount of heat generated is determined by the size of the crystal grains. It is possible to suppress the temperature distribution due to the difference in self-heating. This makes it possible to obtain a uniform sintered body without cracks even in IGZO in which materials with different electromagnetic wave absorption properties coexist.

本発明のIGZO焼結体は、電磁波加熱であり自己発熱による均一加熱のため、高密度化に必要な十分な焼成温度であるにも関わらず、急速加熱や保持時間を短くすることで、結晶粒子の成長を抑制し、高密度で、高強度な焼結体を得ることができる。 The IGZO sintered body of the present invention is heated by electromagnetic waves and is uniformly heated by self-heating. It is possible to suppress grain growth and obtain a high-density, high-strength sintered body.

本発明で用いる電磁波としてはマグネトロンまたはジャイロトロン等から発生する連続またはパルス状の2.45GHz等のマイクロ波、28GHz等のミリ波、またはサブミリ波が利用できる。電磁波の周波数の選択は、被焼成物の電磁波吸収特性から適切なものを選択することができるが、発振器のコスト等の経済性を考慮すると2.45GHzのマイクロ波が好ましい。 As the electromagnetic waves used in the present invention, continuous or pulsed microwaves such as 2.45 GHz, millimeter waves such as 28 GHz, or submillimeter waves generated from magnetrons or gyrotrons can be used. The frequency of the electromagnetic waves can be selected appropriately according to the electromagnetic wave absorption characteristics of the object to be fired, but considering the economic efficiency such as the cost of the oscillator, microwaves of 2.45 GHz are preferable.

電磁波による焼成の場合、成形体はセッターの上に置かれ、断熱材で囲まれる。この際、断熱材の内側に等温熱障壁を設置することも可能である。セッターや等温熱障壁の材質は焼成温度にて耐熱性を有する材料を選択すればよく、アルミナ、ムライト、ジルコニア、SiC等が挙げられる。 In the case of sintering by electromagnetic waves, the compact is placed on a setter and surrounded by heat insulating material. At this time, it is also possible to install an isothermal heat barrier inside the heat insulating material. Materials having heat resistance at the firing temperature may be selected for the material of the setter and the isothermal heat barrier, such as alumina, mullite, zirconia, and SiC.

焼成時の昇温速度については特に限定はなく、高強度の焼結体を得るために、20から600℃/時間が好ましく、好ましくは100から600℃/時間、より好ましくは300から600℃/時間、さらに好ましくは400から600℃/時間とする。電磁波による焼成は自己発熱による加熱であるため、被焼成物内の温度分布が小さく、特に大型焼成物を速い昇温速度で加熱しても割れの発生が非常に少ない。なお水分や炭化水素系化合物を含む成形体の場合、特に大型の成形体では水分やバインダー成分が揮発する際に、急激な体積膨張を伴うと成形体が割れることがある。このため、水分やバインダー成分が揮発している温度領域、例えば100から400℃の温度域においては昇温速度を20から100℃/時間とすることが好ましい。 The rate of temperature increase during firing is not particularly limited, and in order to obtain a high-strength sintered body, the rate is preferably 20 to 600°C/hour, preferably 100 to 600°C/hour, more preferably 300 to 600°C/hour. time, more preferably 400 to 600° C./hour. Since sintering by electromagnetic waves is heating by self-heating, the temperature distribution in the sintered material is small, and even if a large-sized sintered material is heated at a high rate of temperature rise, cracking is extremely rare. In the case of a molded body containing water or a hydrocarbon-based compound, especially a large-sized molded body, when the water or binder components evaporate, the molded body may crack due to rapid volume expansion. Therefore, in a temperature range where moisture and binder components volatilize, for example, a temperature range of 100 to 400° C., it is preferable to set the heating rate to 20 to 100° C./hour.

焼成温度は、1300℃から1500℃が好ましい。この温度範囲であれば、得られる焼結体は、十分にInGaZnOのホモロガス結晶構造となる。 The firing temperature is preferably 1300°C to 1500°C. Within this temperature range, the obtained sintered body has a sufficiently homologous crystal structure of InGaZnO 4 .

焼成温度での保持時間は特に限定はなく、5時間以内が好ましい。また、降温速度は、焼成温度から1100℃までは250℃/時間以上が好ましく、好ましくは300℃/時間以上である。この温度域を250℃/時間以上で降温することで焼結体の表面へ取り込まれる酸素を少なくすることができ、焼結体表面の色むらを抑制することが可能である。これ以外の温度域では、降温速度については特に限定はなく、焼結炉の容量、焼結体のサイズ及び形状、割れ易さなどを考慮して適宜決定することができる。 The holding time at the firing temperature is not particularly limited, and is preferably within 5 hours. Moreover, the temperature drop rate is preferably 250° C./hour or more, preferably 300° C./hour or more, from the firing temperature to 1100° C. By lowering the temperature in this temperature range at 250° C./hour or more, the amount of oxygen taken into the surface of the sintered body can be reduced, and it is possible to suppress color unevenness on the surface of the sintered body. In other temperature ranges, the cooling rate is not particularly limited, and can be appropriately determined in consideration of the capacity of the sintering furnace, the size and shape of the sintered body, the susceptibility to cracking, and the like.

焼成時の雰囲気としては特に制限はなく、亜鉛の昇華を抑制するために大気または酸素雰囲気とすることが好ましい。また、焼結体表面の色むらの抑制や焼結体の比抵抗を下げる目的で、焼成温度からの降温時に、窒素等の非酸化性雰囲気とすることも可能である。 The atmosphere during firing is not particularly limited, and air or oxygen atmosphere is preferable in order to suppress the sublimation of zinc. Further, for the purpose of suppressing color unevenness on the surface of the sintered body and lowering the specific resistance of the sintered body, a non-oxidizing atmosphere such as nitrogen may be used when the temperature is lowered from the firing temperature.

得られた焼結体は、平面研削盤、円筒研削盤、旋盤、切断機、マシニングセンター等の
機械加工機を用いて、板状、円状、円筒状等の所望の形状に研削加工することもできる。さらに、必要に応じて無酸素銅やチタン等からなるバッキングプレート、バッキングチューブにインジウム半田等を用いて接合(ボンディング)することにより、本発明の焼結体をターゲット材としたスパッタリングターゲットを得ることができる。
The obtained sintered body can be ground into a desired shape such as a plate, circle, or cylinder using a machine such as a surface grinder, cylindrical grinder, lathe, cutting machine, or machining center. can. Furthermore, if necessary, a sputtering target using the sintered body of the present invention as a target material can be obtained by bonding to a backing plate or backing tube made of oxygen-free copper, titanium, or the like using indium solder or the like. can be done.

焼結体のサイズは、特に限定はなく、本発明による焼結体は強度が高いため大型のターゲットを製造することが可能となる。平板形スパッタリングターゲットの場合、縦100mm×横200mm(ターゲット面の面積200cm)以上の大型の焼結体を作製することができる。その焼結体サイズは大きい程生産効率が高くなる。その面積は400cm以上が好ましく、さらに好ましくは1200cm以上である。また、円筒形スパッタリングターゲットの場合、外径91mmΦ×170mm(ターゲット面の面積486cm)以上の大型の焼結体を作製することができる。なお、ここで言うターゲット面の面積とは、スパッタリングされる側の焼結体表面の面積を言う。なお、複数の焼結体から構成される多分割ターゲットの場合、それぞれの焼結体の中でスパッタリングされる側の焼結体表面の面積が最大のものを多分割ターゲットにおけるターゲット面の面積とする。 The size of the sintered body is not particularly limited, and since the sintered body according to the present invention has high strength, it is possible to manufacture a large-sized target. In the case of a flat sputtering target, a large sintered body of 100 mm long×200 mm wide (target surface area 200 cm 2 ) or more can be produced. The larger the size of the sintered body, the higher the production efficiency. The area is preferably 400 cm 2 or more, more preferably 1200 cm 2 or more. In the case of a cylindrical sputtering target, a large sintered body having an outer diameter of 91 mmΦ×170 mm (target surface area of 486 cm 2 ) or more can be produced. The area of the target surface referred to here means the area of the surface of the sintered body on the sputtering side. In the case of a multi-divided target composed of a plurality of sintered bodies, the area of the target surface of the multi-divided target is the area of the surface of the sintered body on the sputtering side that is the largest among the sintered bodies. do.

また、ターゲットの厚みは特に限定はなく、4mm以上15mm以下が好ましい。4mmより薄い場合は、ターゲット利用率が低く経済的でない。また、15mmより厚い場合には、焼結体の重量が重くなるため、ターゲット化工程でハンドリング設備等が必要となる。 Moreover, the thickness of the target is not particularly limited, and is preferably 4 mm or more and 15 mm or less. If the thickness is less than 4 mm, the target utilization rate is low and it is not economical. Further, if the thickness is more than 15 mm, the weight of the sintered body becomes heavy, so handling equipment or the like is required in the targeting process.

ターゲットの表面粗さは特に限定はなく、表面粗さを小さくするためには研削時間がかかり経済的で無いため、表面粗さ(Ra)は1μm以上が好ましい。 The surface roughness of the target is not particularly limited, and the surface roughness (Ra) is preferably 1 μm or more because it takes a long time to reduce the surface roughness and is not economical.

本発明では、InGaZnOで表されるホモロガス結晶構造のみを有するIGZO焼結体において、高密度かつ高強度を有する焼結体を得ることができる。このような焼結体を平板形スパッタリングターゲットまたは円筒形スパッタリングターゲットとして使用した場合、割れの問題の発生が少なく、異常放電(アーキング)の発生が少ない高品質のターゲットを製造することができる。また、焼結体の強度が高いために焼結体の加工が容易となり、大型のターゲットを歩留りよく作製することができる。 In the present invention, an IGZO sintered body having only a homologous crystal structure represented by InGaZnO 4 can be obtained as a sintered body having high density and high strength. When such a sintered body is used as a planar sputtering target or a cylindrical sputtering target, it is possible to manufacture a high-quality target with less cracking and less abnormal discharge (arcing). Moreover, since the strength of the sintered body is high, the sintered body can be easily processed, and a large-sized target can be produced with a high yield.

実施例3、比較例3で得られたIGZO焼結体の抗折強度とポア個数比(粒界/粒内)の関係を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing the relationship between the bending strength and the pore number ratio (grain boundary/intragranular) of the IGZO sintered bodies obtained in Example 3 and Comparative Example 3; 本発明の成形型の一例を模式的に分解して示す斜視図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a perspective view which shows typically exploded an example of the shaping|molding die of this invention. 本発明の成形型の一例を分解して示す断面図(側面図)である。1 is a sectional view (side view) showing an exploded example of a mold of the present invention; FIG. 本発明の成形型の一例を示す断面図(側面図)である。1 is a cross-sectional view (side view) showing an example of a mold of the present invention; FIG. 本発明の成形型の他の例を模式的に分解して示す斜視図である。FIG. 3 is a schematic exploded perspective view of another example of the mold of the present invention.

以下、実施例により本発明を更に具体的に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。なお、本実施例における各測定は以下のように行った。 EXAMPLES The present invention will be described in more detail with reference to examples below, but the present invention is not limited to these examples. In addition, each measurement in the present Example was performed as follows.

(1)焼結体の密度
焼結体の相対密度は、JISR1634に準拠して、アルキメデス法によりかさ密度を測定し、真密度で割って相対密度を求めた。焼結体の真密度は、X線回折の結晶格子から算出される6.38g/cm(MaterialsDataInc.JADE7(ver.7j)FileNo.00-038-1104参照)を用いた。
(1) Density of sintered body The relative density of the sintered body was obtained by measuring the bulk density by the Archimedes method in accordance with JISR1634 and dividing it by the true density. The true density of the sintered body was 6.38 g/cm 3 (see Materials Data Inc. JADE7 (ver.7j) File No. 00-038-1104) calculated from the X-ray diffraction crystal lattice.

(2)結晶子径
各原料粉末のメインピークを含む範囲のX線回折パターンを測定し、X線回折ピークからScherrerの式により結晶子径を算出した。なお、複数の原料を混合した複合原料の場合、各原料の結晶構造に帰属できるX線回折ピークの中で最大強度のピークから算出した。
(X線回折試験の測定条件)
走査方法:ステップスキャン法(FT法)
X線源:CUKα
パワー:40kV、40mA
ステップ幅:0.01°
(3)X線回折測定
鏡面研磨した焼結体試料の2θ=20から70°の範囲のX線回折パターンを測定し、InGaZnOの回折パターン((株)リガク社のX線回折解析ソフトJADE7.0のデーターベースNo:01-070-3626)と比較した。
(X線回折試験の測定条件)
走査方法:ステップスキャン法(FT法)
X線源:CUKα
パワー:40kV、40mA
ステップ幅:0.02°
(4)平均一次粒子径
鏡面研磨し、エッチング処理した焼結体試料を走査型電子顕微鏡で観察し、得られた焼結体組織画像から直径法で一次粒子径を測定した。少なくとも任意の3点以上を観察し、300個以上の粒子について測定し、その50%粒子径を平均一次粒子径とした。
(エッチング条件)
溶液:塩酸3N
温度:50℃
時間:70から80秒
(走査電子顕微鏡の測定条件)
加速電圧:40kV、40mA
(5)ポア個数
(4)と同様にして、得られた焼結体組織写真から結晶粒界と粒内に存在するポアの個
数を測定した。少なくとも任意の3点以上を観察し、500個以上のポアの測定を行った。
(2) Crystallite Size The X-ray diffraction pattern in the range including the main peak of each raw material powder was measured, and the crystallite size was calculated from the X-ray diffraction peak by Scherrer's formula. In the case of a composite raw material obtained by mixing a plurality of raw materials, it was calculated from the peak with the maximum intensity among the X-ray diffraction peaks attributed to the crystal structure of each raw material.
(Measurement conditions for X-ray diffraction test)
Scanning method: Step scan method (FT method)
X-ray source: CUKα
Power: 40kV, 40mA
Step width: 0.01°
(3) X-ray diffraction measurement The X-ray diffraction pattern of the mirror-polished sintered body sample in the range of 2θ = 20 to 70 ° was measured, and the diffraction pattern of InGaZnO 4 (X-ray diffraction analysis software JADE 7 of Rigaku Co., Ltd.) was measured. .0 database No: 01-070-3626).
(Measurement conditions for X-ray diffraction test)
Scanning method: Step scan method (FT method)
X-ray source: CUKα
Power: 40kV, 40mA
Step width: 0.02°
(4) Average Primary Particle Size A mirror-polished and etched sintered body sample was observed with a scanning electron microscope, and the primary particle size was measured by the diameter method from the obtained sintered body structure image. At least three arbitrary points were observed, 300 or more particles were measured, and the 50% particle size was taken as the average primary particle size.
(Etching conditions)
Solution: 3N hydrochloric acid
Temperature: 50°C
Time: 70 to 80 seconds (scanning electron microscope measurement conditions)
Accelerating voltage: 40kV, 40mA
(5) Number of Pores In the same manner as in (4), the number of pores existing at grain boundaries and within grains was measured from the micrograph of the obtained sintered body. At least three arbitrary points were observed and 500 or more pores were measured.

(6)抗折強度
JISR1601に準拠して測定した。
(抗折強度の測定条件)
試験方法:3点曲げ試験
支点間距離:30mm
試料サイズ:3×4×40mm
ヘッド速度:0.5mm/min
(7)炭素量測定
焼結体中の炭素量は炭素量分析装置(LECO社製)を利用し測定を行った。
(6) Bending strength Measured according to JISR1601.
(Measurement conditions for bending strength)
Test method: 3-point bending test Distance between fulcrums: 30 mm
Sample size: 3 x 4 x 40mm
Head speed: 0.5mm/min
(7) Carbon content measurement The carbon content in the sintered body was measured using a carbon content analyzer (manufactured by LECO).

(実施例1から3)
純度99.99%以上の酸化インジウム粉末、酸化ガリウム粉末、酸化亜鉛粉末を、金属元素の原子比換算でIn:Ga:Zn=1:1:1となるように秤量し得た。秤量した粉末を純水にてスラリー化し、そのスラリー濃度を50wt%とした状態で、0.3mmφのジルコニアビーズを用いて湿式ビーズミルの処理回数を変えて、実施例1から3の3種類のスラリーを得た。この時スラリー粘度が1000ps以下となるように適宜分散剤(DISPEX(登録商標) AA 4040/BASF社製)を添加した。添加量は酸化インジウム、酸化ガリウム、酸化亜鉛粉末の合計量に対し0.1~0.2wt%とした。次に、これらの粉砕処理を行ったスラリーを噴霧乾燥機により造粒乾燥を行い、原料粉末を得た。粉砕の処理回数と得られた粉末のX線回折から算出した結晶子径等の測定結果を表1に示す。
(Examples 1 to 3)
Indium oxide powder, gallium oxide powder, and zinc oxide powder with a purity of 99.99% or more were weighed so that the atomic ratio of the metal elements was In:Ga:Zn=1:1:1. The weighed powder was slurried with pure water, and in a state where the slurry concentration was 50 wt%, zirconia beads of 0.3 mmφ were used to change the number of wet bead mill treatments, and three types of slurries of Examples 1 to 3 were prepared. got At this time, a dispersant (DISPEX (registered trademark) AA 4040/manufactured by BASF) was appropriately added so that the slurry viscosity was 1000 ps or less. The amount added was 0.1 to 0.2 wt % with respect to the total amount of indium oxide, gallium oxide and zinc oxide powder. Next, the slurries subjected to these pulverization treatments were granulated and dried using a spray dryer to obtain raw material powders. Table 1 shows the number of pulverization treatments and the results of measurements such as the crystallite size calculated from the X-ray diffraction of the obtained powder.

これら粉末を用いて、300kg/cmの圧力で金型プレスにより30mm×30mm×10mmtの成形体を作製後、2ton/cmの圧力でCIP処理した。 Using these powders, a compact of 30 mm×30 mm×10 mmt was produced by a mold press at a pressure of 300 kg/cm 2 and then CIP-treated at a pressure of 2 ton/cm 2 .

次にこの成形体をマイクロ波焼成炉(周波数=2.45GHz)でアルミナ製のセッターの上に設置して、以下の条件で焼成し、焼結体を得た。
(焼成条件)
焼成温度:1400℃
保持時間:1時間
昇温速度:300℃/時間
雰囲気:大気
降温速度:300℃/時間(1400℃から1100℃まで)
得られた焼結体の焼成割れの状況、相対密度、X線回折の測定結果を表1に示す。
Next, this molded body was placed on an alumina setter in a microwave firing furnace (frequency = 2.45 GHz) and fired under the following conditions to obtain a sintered body.
(Firing conditions)
Firing temperature: 1400°C
Holding time: 1 hour Heating rate: 300°C/hour Atmosphere: Atmospheric cooling rate: 300°C/hour (from 1400°C to 1100°C)
Table 1 shows the results of sintering cracking, relative density, and X-ray diffraction of the obtained sintered body.

(比較例1)
湿式ビーズミルにて粉砕処理を1回行った以外は、実施例1と同様の方法で焼結体を得た。得られた粉末のX線回折から算出した結晶子径の測定結果と、得られた焼結体の焼成割れの状況、相対密度、X線回折の測定結果等を表1に示す。
(Comparative example 1)
A sintered body was obtained in the same manner as in Example 1, except that the pulverization treatment was performed once with a wet bead mill. Table 1 shows the measurement results of the crystallite size calculated from the X-ray diffraction of the obtained powder, the state of sintering cracks of the obtained sintered body, the relative density, the X-ray diffraction measurement results, and the like.

(比較例2)
実施例1と同様に原料粉末を秤量し、秤量した粉末と直径15mmの鉄心入りナイロン製ボールをポリエチレン製のポットに入れ、乾式ボールミルにより24時間混合し、混合粉末を調製した。得られた粉末のX線回折から算出した結晶子径の測定結果等を表1に示す。
(Comparative example 2)
The raw material powder was weighed in the same manner as in Example 1, and the weighed powder and iron-cored nylon balls with a diameter of 15 mm were placed in a polyethylene pot and mixed by a dry ball mill for 24 hours to prepare a mixed powder. Table 1 shows the measurement results of the crystallite size calculated from the X-ray diffraction of the obtained powder.

次に、この粉末を実施例1と同様の方法にて成形および焼成を行った。得られた焼結体の焼成割れの状況、相対密度、X線回折等の測定結果を表1に示す。均一に混合できず、また、ナイロンやポリエチレンが混入し炭素量が増加した。 Next, this powder was molded and fired in the same manner as in Example 1. Table 1 shows the results of measurement of the sintered body obtained, such as the state of sintering cracks, relative density, and X-ray diffraction. It was not possible to mix uniformly, and nylon and polyethylene were mixed and the amount of carbon increased.

Figure 2022159633000002
Figure 2022159633000002

(実施例4から8)
実施例2の粉末を用いて、成形体の大きさを120mm×210mm×10mm
t(スパッタ面面積252cm相当)とし、平板形の成形体を作製するにあたり、上記成形体を得ることが可能なサイズ(図2)の成形型を利用し、5の部分に粉末を充填、上パンチ1、緩衝材6を載せた上で全体を真空包装し、CIP装置にて2ton/cm2の圧力で加圧し、成形体を得た。マイクロ波焼成の条件を一部変更した以外、実施例1と同様の方法で5種類の焼結体を得た。焼成条件と得られた焼結体の相対密度、結晶粒径、ポア個数比(粒界/粒内)、抗折強度、X線回折等の測定結果を表2に示す。
(Examples 4 to 8)
Using the powder of Example 2, the size of the compact is 120 mm × 210 mm × 10 mm
t (equivalent to a sputtering surface area of 252 cm 2 ), and when producing a flat plate-shaped compact, a mold having a size (Fig. 2) that allows the above compact to be obtained is used, and powder is filled in the portion 5, After placing the upper punch 1 and the cushioning material 6, the whole was vacuum-packaged and pressurized at a pressure of 2 ton/cm 2 by a CIP device to obtain a compact. Five types of sintered bodies were obtained in the same manner as in Example 1, except that the microwave firing conditions were partially changed. Table 2 shows the sintering conditions and the measurement results of relative density, crystal grain size, pore number ratio (grain boundary/grain), bending strength, X-ray diffraction, etc. of the obtained sintered body.

(実施例9、比較例3、4)
実施例2の粉末を用いて、成形体の大きさを120mm×210mm×10mmtとし、バインダーとしてポリビニルアルコールを原料に対し1%混合した以外、実施例1と同様の方法で成形体を得た。次に、この成形体を電気炉でアルミナ製のセッターの上に設置して、表2に示した焼成条件以外は、以下の条件で焼成し、実施例9、比較例3、4の3種類の焼結体を得た。
(比較例5)
バインダーを添加せずに成形した以外は比較例3と同様の方法で成形を行ったが、成形割れを生じたため、焼結体を作製することができなかった。
(焼成条件)
雰囲気:大気
降温速度:200℃/時間(1400℃から1100℃まで)
得られた焼結体の相対密度、結晶粒径、ポア個数比(粒界/粒内)、抗折強度、X線回折等の測定結果を表2に示す。
(Example 9, Comparative Examples 3 and 4)
A compact was obtained in the same manner as in Example 1, except that the powder of Example 2 was used, the size of the compact was 120 mm×210 mm×10 mmt, and 1% polyvinyl alcohol was added as a binder to the raw materials. Next, this molded body was placed on an alumina setter in an electric furnace and fired under the following conditions except for the firing conditions shown in Table 2. Three kinds of Example 9 and Comparative Examples 3 and 4 A sintered body was obtained.
(Comparative Example 5)
Molding was carried out in the same manner as in Comparative Example 3, except that molding was performed without adding a binder.
(Firing conditions)
Atmosphere: Atmospheric cooling rate: 200°C/hour (from 1400°C to 1100°C)
Table 2 shows the measurement results of the relative density, crystal grain size, pore number ratio (grain boundary/grain), bending strength, X-ray diffraction, etc. of the obtained sintered body.

Figure 2022159633000003
Figure 2022159633000003

(実施例10から13)
平板形および円筒形の種々の大きさの成形体を作製した以外、実施例5と同様の方法で焼結体を作製した。次に、これら焼結体をターゲットとするために、平板形の焼結体は平面研削盤により、円筒形の焼結体は円筒研削盤により加工を実施した。加工後の焼結体に割れは認められなかった。得られた焼結体のサイズおよび割れ発生の有無等を表3に示す。
(Examples 10 to 13)
Sintered bodies were produced in the same manner as in Example 5, except that flat plate-shaped and cylindrical compacts of various sizes were produced. Next, in order to use these sintered bodies as targets, the flat sintered bodies were processed by a surface grinder, and the cylindrical sintered bodies were processed by a cylindrical grinder. No cracks were observed in the sintered body after working. Table 3 shows the sizes of the obtained sintered bodies and the presence or absence of cracks.

作製した焼結体のうち、実施例12の円筒形焼結体をチタン製のバッキングチューブにそれぞれボンディングしてターゲットとした後、回転カソード型のスパッタ装置に取り付け、下記条件にて残厚み1mmまでスパッタリングを行った。その後、ターゲット表面を観察し、割れが発生していないことを確認した。
(スパッタリング条件)
ガス:アルゴン、酸素(10%)
圧力:0.3Pa
電源:DC
投入パワー:1kW(10.6W/cm
ターゲット回転:5rpm
(比較例6,7)
平板形および円筒形の種々の大きさの成形体を作製した以外、比較例3と同様の方法で焼結体を作製した。次に、これら焼結体をターゲットとするために、平板形の焼結体は平面研削盤により、円筒形の焼結体は円筒研削盤により加工を実施した。得られた焼結体のサイズおよび割れ発生の有無等を表3に示す。
Among the produced sintered bodies, the cylindrical sintered bodies of Example 12 were each bonded to a titanium backing tube to form a target, then attached to a rotating cathode type sputtering apparatus, and the remaining thickness was 1 mm under the following conditions. Sputtering was performed. After that, the surface of the target was observed to confirm that no cracks occurred.
(Sputtering conditions)
Gas: Argon, Oxygen (10%)
Pressure: 0.3Pa
Power supply: DC
Input power: 1 kW (10.6 W/cm 2 )
Target rotation: 5 rpm
(Comparative Examples 6 and 7)
Sintered bodies were produced in the same manner as in Comparative Example 3, except that flat plate-shaped and cylindrical compacts of various sizes were produced. Next, in order to use these sintered bodies as targets, the flat sintered bodies were processed by a surface grinder, and the cylindrical sintered bodies were processed by a cylindrical grinder. Table 3 shows the sizes of the obtained sintered bodies and the presence or absence of cracks.

作製した焼結体のうち、比較例6の円筒形焼結体をチタン製のバッキングチューブにボンディングしてターゲットとした後、回転カソード型のスパッタ装置に取り付け、実施例14と同様の条件にてスパッタリングを行った。その後、ターゲット表面を観察し、スパッタリングの初期(3kWh)に割れが発生したことを確認した。 Among the prepared sintered bodies, the cylindrical sintered body of Comparative Example 6 was bonded to a titanium backing tube to form a target, and then attached to a rotating cathode type sputtering apparatus under the same conditions as in Example 14. Sputtering was performed. After that, the surface of the target was observed, and it was confirmed that cracks occurred at the initial stage of sputtering (3 kWh).

Figure 2022159633000004
Figure 2022159633000004

1、11 上パンチ
2、12 組立式型枠
2a、12a 型枠部材
2b、12b 型枠部材
3、13 底板
4、14 台座
5 原料粉末
6 緩衝材
7、8 段部
Reference Signs List 1, 11 Upper punches 2, 12 Prefabricated forms 2a, 12a Formwork members 2b, 12b Formwork members 3, 13 Bottom plates 4, 14 Pedestal 5 Raw material powder 6 Cushioning materials 7, 8 Steps

Claims (9)

In、Ga、及びZnを含有する酸化物焼結体であって、InGaZnOで表されるホモロガス結晶構造を有し、焼結体中の炭素量が0.005wt%以下であり、結晶粒径が5μm以下、かつ焼結体の相対密度が98%以上であることを特徴とする焼結体。 An oxide sintered body containing In, Ga, and Zn, having a homologous crystal structure represented by InGaZnO4 , having a carbon content of 0.005 wt% or less in the sintered body, and having a crystal grain size is 5 µm or less, and the relative density of the sintered body is 98% or more. 抗折強度が150MPa以上であることを特徴とする請求項1に記載の焼結体。 2. The sintered body according to claim 1, which has a bending strength of 150 MPa or more. ターゲット面の面積が200cm以上であって、形状が平板形であることを特徴とする請求項1又は2記載の焼結体。 3. The sintered body according to claim 1, wherein the target surface area is 200 cm< 2 > or more and the shape is a flat plate. ターゲット面の面積が486cm以上であって、形状が円筒形であることを特徴とする請求項1又は2記載の焼結体。 3. The sintered body according to claim 1, wherein the target surface has an area of 486 cm 2 or more and is cylindrical in shape. 請求項1から4のいずれかに記載の焼結体をターゲット材として用いることを特徴とするスパッタリングターゲット。 A sputtering target using the sintered body according to any one of claims 1 to 4 as a target material. 炭化水素系化合物含有量が0.6%以下である、In、Ga、及びZnを含有する原料粉末を混合し、成形型内に充填し、冷間静水圧プレスにより成形した成形体を利用する焼結体の製造方法であって、複数の型枠部材からなる組立式型枠、該組立式型枠の内面に沿って移動可能に設けられた上パンチおよび前記組立式型枠に接して設けられた底板を備えるとともに、加圧終了後の減圧時に生じる成形体の膨張に併せて、前記組立式型枠を構成する型枠部材が移動可能な構造を有する成形型を利用し成形し、得られた成形体を焼成することを特徴とする請求項1から4いずれかに記載の焼結体の製造方法。 Raw material powders containing In, Ga, and Zn with a hydrocarbon-based compound content of 0.6% or less are mixed, filled in a mold, and molded by cold isostatic pressing to use a compact. A method for manufacturing a sintered body, comprising: a collapsible form comprising a plurality of form members; an upper punch provided movably along an inner surface of the collapsible form; and a molding die having a structure in which the formwork members constituting the knockdown formwork can move in accordance with the expansion of the molded body that occurs when the pressure is reduced after pressurization is completed, and the 5. The method for producing a sintered body according to claim 1, wherein the molded body thus obtained is sintered. 組立式型枠に接して設けられた底板が、前記組立式型枠の内面に沿って移動することができないように構成されている成形型を利用することを特徴とする請求項6に記載の焼結体の製造方法。 7. The mold according to claim 6, wherein the bottom plate provided in contact with the knockdown formwork is configured so as not to be able to move along the inner surface of the knockdown formwork. A method for producing a sintered body. 底板が上パンチよりも圧縮変形の少ない材料により構成される成形型を利用することを特徴とする請求項6又は7に記載の焼結体の製造方法。 8. The method for producing a sintered body according to claim 6, wherein the bottom plate is made of a material that undergoes less compression deformation than the upper punch. 成形体を電磁波加熱を用いて焼成することを特徴とする請求項6から8のいずれかに記載の焼結体の製造方法。 9. The method for producing a sintered body according to any one of claims 6 to 8, wherein the molded body is fired using electromagnetic wave heating.
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