JP5218032B2 - Method for producing sintered body for transparent conductive film - Google Patents
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Description
本発明は、透明導電膜用焼結体の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for producing a sintered body for a transparent conductive film.
ITO(Indium Tin Oxide)薄膜は高導電性、高透過率といった特徴を有し、更に微細加工も容易に行えることから、フラットパネルディスプレイ用表示電極、太陽電池用窓材、帯電防止膜等の広範囲な分野で用いられている。 ITO (Indium Tin Oxide) thin film has characteristics such as high conductivity and high transmittance, and can be easily finely processed. Therefore, a wide range of display electrodes for flat panel displays, window materials for solar cells, antistatic films, etc. Used in various fields.
このような透明導電膜の成膜方法として、大面積に均一な膜厚で成膜可能である点でスパッタリングターゲットを用いたスパッタリング法がよく採用されている。 As a method for forming such a transparent conductive film, a sputtering method using a sputtering target is often employed because it can form a film with a uniform thickness over a large area.
近年、薄膜を形成する基板の大型化や薄膜形成工程の生産性向上の観点から、スパッタリングターゲットの大型化が進んでいる。また、生産性向上のため、投入パワーを上げることができる円筒型のターゲットも注目され、太陽電池用途で使用されつつある。 In recent years, from the viewpoint of increasing the size of a substrate on which a thin film is formed and improving the productivity of a thin film forming process, the size of a sputtering target is increasing. Further, in order to improve productivity, a cylindrical target capable of increasing the input power has attracted attention and is being used in solar cell applications.
しかし、スパッタリングターゲットを大型化したり、投入パワーを高めるとITO等の透明導電膜用焼結体が割れやすくなるという問題がある。また、従来からターゲットの製造工程においても焼成工程やボンディング工程において割れが発生していた。 However, when the sputtering target is enlarged or the input power is increased, there is a problem that the sintered body for the transparent conductive film such as ITO is easily broken. Conventionally, cracks have also occurred in the firing process and bonding process in the target manufacturing process.
ITO焼結体の割れの対策としては、ITO焼結体の熱伝導率と機械的強度を向上させるために相対密度を85%以上、焼結体の平均結晶粒径を15μm以下としたITO焼結体(例えば、特許文献1参照)やITOの焼結開始温度以下で分解する結合剤を含有した成形体を焼結する方法(例えば、特許文献2参照)などが提案されているが、上記方法では十分に割れを防止することはできなかった。 As countermeasures against cracking of the ITO sintered body, in order to improve the thermal conductivity and mechanical strength of the ITO sintered body, the relative density is 85% or more and the average crystal grain size of the sintered body is 15 μm or less. A method of sintering a compact (for example, see Patent Document 2) or the like containing a binder that decomposes below the sintering start temperature of ITO (for example, see Patent Document 1) has been proposed. The method could not sufficiently prevent cracking.
また、ターゲット材の割れの主原因は熱衝撃付与により発生する熱応力であるにもかかわらず、ITO等のターゲット材の熱衝撃に関する検討はほとんどなされていなかった。 Moreover, although the main cause of the crack of the target material is the thermal stress generated by the application of the thermal shock, there has been almost no study on the thermal shock of the target material such as ITO.
ターゲット材の割れ防止のため、熱衝撃に強い透明導電膜用焼結体の製造方法を提供する。 Provided is a method for producing a sintered body for a transparent conductive film that is resistant to thermal shock in order to prevent cracking of a target material.
上記課題を解決すべく鋭意検討した結果、造粒粉末で成形した成形体を電磁波加熱で焼結することで、焼結体の平均結晶粒径を2μm以下に制御することができ、熱衝撃試験により求めた最大許容温度差が150℃以上である、割れ発生率が大幅に低下する透明導電膜用焼結体の製造方法を見出した。 As a result of diligent studies to solve the above problems, the sintered compact formed by granulated powder can be controlled by electromagnetic heating so that the average crystal grain size of the sintered body can be controlled to 2 μm or less. The manufacturing method of the sintered body for transparent conductive films where the maximum allowable temperature difference calculated | required by (150) is 150 degreeC or more and the crack generation rate falls significantly was discovered.
本発明の態様は以下の通りである。 Aspects of the present invention are as follows.
(1)透明導電膜用の原料粉末を混合後に造粒する工程と、当該造粒粉末を成形して成形体を作製する工程と、当該成形体を電磁波加熱により焼結させる工程とを含むことを特徴とする、焼結体の平均結晶粒径が2μm以下である透明導電膜用焼結体の製造方法。 (1) including a step of granulating the raw material powder for transparent conductive film after mixing, a step of forming the granulated powder to produce a molded body, and a step of sintering the molded body by electromagnetic wave heating A method for producing a sintered body for a transparent conductive film, wherein the sintered body has an average crystal grain size of 2 μm or less.
(2)透明導電膜用焼結体の相対密度が95%以上であることを特徴とする(1)記載の透明導電膜用焼結体の製造方法。 (2) The method for producing a sintered body for transparent conductive film according to (1), wherein the relative density of the sintered body for transparent conductive film is 95% or more.
(3)透明導電膜用の原料粉末がインジウム化合物粉末とスズ化合物粉末である(1)又は(2)に記載の透明導電膜用焼結体の製造方法。 (3) The method for producing a sintered body for a transparent conductive film according to (1) or (2), wherein the raw material powder for the transparent conductive film is an indium compound powder and a tin compound powder.
(4)透明導電膜用の原料粉末がアルミニウム化合物粉末と亜鉛化合物粉末である(1)又は(2)に記載の透明導電膜用焼結体の製造方法。 (4) The manufacturing method of the sintered body for transparent conductive films as described in (1) or (2) whose raw material powder for transparent conductive films is aluminum compound powder and zinc compound powder.
次に本発明について工程毎に説明する。 Next, this invention is demonstrated for every process.
(1)原料混合工程
本発明で製造できる透明導電膜用焼結体は特に限定されるものではないが、具体的には、インジウム、スズ及び酸素を含んでなる焼結体、アルミニウム、亜鉛及び酸素を含んでなる焼結体、ガリウム、亜鉛及び酸素を含んでなる焼結体などが挙げられる。
(1) Raw material mixing step The sintered body for transparent conductive film that can be produced in the present invention is not particularly limited, and specifically, a sintered body containing indium, tin and oxygen, aluminum, zinc, and Examples thereof include a sintered body containing oxygen and a sintered body containing gallium, zinc and oxygen.
インジウム、スズ及び酸素を含んでなる焼結体としては、インジウム、スズ及び酸素からなる焼結体や、この焼結体に対して更に第3元素を添加した焼結体を例示することができる。また、アルミニウム、亜鉛及び酸素を含んでなる焼結体としては、アルミニウム、亜鉛及び酸素からなる焼結体や、この焼結体に対して更に第3元素を添加した焼結体を例示することができる。 Examples of the sintered body containing indium, tin and oxygen include a sintered body made of indium, tin and oxygen, and a sintered body obtained by adding a third element to the sintered body. . Examples of the sintered body containing aluminum, zinc and oxygen include a sintered body made of aluminum, zinc and oxygen, and a sintered body in which a third element is further added to the sintered body. Can do.
原料粉末は特に限定されるものではなく、例えば、焼結体を構成する金属元素の金属塩粉末、酸化物、塩化物、硝酸塩、炭酸塩等を用いることも可能であるが、取り扱い性を考慮すると酸化物粉末が好ましい。 The raw material powder is not particularly limited. For example, metal salt powder, oxide, chloride, nitrate, carbonate, etc. of the metal element constituting the sintered body can be used, but handling properties are considered. Oxide powder is then preferred.
各原料粉末の純度は、通常99%以上、好ましくは99.9%以上、より好ましくは99.99%以上である。純度が低いと、不純物物質により、本発明の透明導電膜用焼結体を用いたスパッタリングターゲットで形成された透明導電膜に影響が及ぼされることがあるからである。 The purity of each raw material powder is usually 99% or higher, preferably 99.9% or higher, more preferably 99.99% or higher. This is because if the purity is low, the impurity material may affect the transparent conductive film formed by the sputtering target using the transparent conductive film sintered body of the present invention.
これらの原料の配合は例えば、インジウム、スズ及び酸素を含んでなる焼結体を得る場合は、酸化物換算でSnO2/(In2O3+SnO2)で4〜20重量%とすることが好ましく、さらに好ましくは5〜10重量%である。スズの含有量がこの範囲であると、スパッタリング法により成膜したときに得られる薄膜の抵抗率が低下する。 For example, in the case of obtaining a sintered body containing indium, tin and oxygen, the blending of these raw materials may be 4 to 20% by weight in terms of oxide, SnO 2 / (In 2 O 3 + SnO 2 ). Preferably, it is 5 to 10% by weight. When the tin content is within this range, the resistivity of the thin film obtained when the film is formed by sputtering is lowered.
また、アルミニウム、亜鉛及び酸素を含んでなる焼結体を得る場合は、酸化物換算でAl2O3/(ZnO+Al2O3)で1〜10重量%とすることが好ましく、さらに好ましくは2〜5重量%である。アルミニウムの含有量がこの範囲であると、スパッタリング法により成膜したときに得られる薄膜の抵抗率が低下する。 Also, aluminum, the case of obtaining a zinc and oxygen comprising at sintered body is preferably from 1 to 10 wt% in Al 2 O 3 / (ZnO + Al 2 O 3) in terms of oxide, more preferably 2 ~ 5% by weight. When the aluminum content is within this range, the resistivity of the thin film obtained when the film is formed by sputtering is lowered.
これら各粉末の混合は、特に限定されるものではないが、ジルコニア、アルミナ、ナイロン樹脂等のボールやビーズを用いた乾式、湿式のメディア撹拌型ミルやメディアレスの容器回転式混合、機械撹拌式混合等の混合方法が例示される。具体的には、ボールミル、ビーズミル、アトライタ、振動ミル、遊星ミル、ジェットミル、V型混合機、パドル式混合機、二軸遊星撹拌式混合機等が挙げられる。 The mixing of each of these powders is not particularly limited, but dry, wet media agitation type mills or medialess container rotary mixing, mechanical agitation types using balls and beads such as zirconia, alumina, nylon resin, etc. Examples of the mixing method include mixing. Specific examples include a ball mill, a bead mill, an attritor, a vibration mill, a planetary mill, a jet mill, a V-type mixer, a paddle mixer, and a twin-shaft planetary agitation mixer.
次いで、原料粉末は、噴霧乾燥等により造粒する。その理由としては、充填時の粉末が均一に充填され、均質な成形体が得られるからである。円筒などの複雑な形状をもつ成形体において均質な成形体が得られることは特に重要である。 Next, the raw material powder is granulated by spray drying or the like. The reason is that the powder at the time of filling is uniformly filled, and a homogeneous molded body is obtained. It is particularly important to obtain a homogeneous molded body in a molded body having a complicated shape such as a cylinder.
なぜなら、透明導電膜用焼結体はいずれもアルミナやジルコニアといった構造材料として代表的なセラミックス焼結体に比べ熱衝撃に弱く、均一な組成、組織を有する焼結体を得ることは熱衝撃特性の安定性にとって重要である。さらに電磁波加熱においては、目的焼成物のマイクロ波吸収による自己発熱を利用するため、成形体の組成、組織の均一性は、均一な焼結体を得るために非常に重要である。 This is because the sintered body for transparent conductive film is less susceptible to thermal shock than typical ceramic sintered bodies such as alumina and zirconia, and obtaining a sintered body with a uniform composition and structure It is important for the stability of Furthermore, in electromagnetic wave heating, self-heating due to microwave absorption of the target fired product is used, and therefore the composition of the molded body and the uniformity of the structure are very important for obtaining a uniform sintered body.
造粒粒子の平均粒子径は30〜200μmとすることが好ましく、40〜150μmとすることがより好ましく、50〜100μmとすることがさらに好ましい。この範囲では、焼結体の組織が均一となり、焼結密度が高い焼結体を得ることが可能となる。 The average particle diameter of the granulated particles is preferably 30 to 200 μm, more preferably 40 to 150 μm, and even more preferably 50 to 100 μm. Within this range, the structure of the sintered body becomes uniform and a sintered body having a high sintered density can be obtained.
噴霧乾燥のためのスラリーは、例えば、原料粉末と分散剤、有機バインダー、イオン交換水とを混合することにより調整することができる。分散剤としてはたとえば、アクリル酸塩、アクリル酸エステル等の単独又は共重合体からなるポリカルボン酸系化合物が挙げられる。また、有機バインダーとしては、たとえば、ポリビニルアルコールやアクリル酸・アクリルアミド共重合体、アクリル酸・メタクリル酸共重合体等の混合物が挙げられる。 The slurry for spray drying can be adjusted by, for example, mixing raw material powder with a dispersant, an organic binder, and ion-exchanged water. Examples of the dispersant include polycarboxylic acid compounds composed of homopolymers or copolymers of acrylates and acrylates. Examples of the organic binder include a mixture of polyvinyl alcohol, acrylic acid / acrylamide copolymer, acrylic acid / methacrylic acid copolymer, and the like.
分散剤、有機バインダーの添加量は原料粉末量に対して2重量%未満であることが好ましい。また、脱脂工程での歩留まりや生産性を高めるために有機バインダー、分散剤の添加量を1重量%未満にしても良く、または添加を行わなくても良い。 The addition amount of the dispersant and the organic binder is preferably less than 2% by weight based on the amount of the raw material powder. Moreover, in order to improve the yield and productivity in a degreasing process, the addition amount of an organic binder and a dispersing agent may be made less than 1 weight%, or it is not necessary to add.
本発明の噴霧乾燥に用いられる装置としては特に限定されるものではない。微粒子化方法としては、例えば回転円盤式、圧力噴射ノズル式、二流体ノズル式等が、乾燥方法も並流式、向流式、混合式等が挙げられる。 The apparatus used for spray drying of the present invention is not particularly limited. Examples of the fine particle forming method include a rotating disk method, a pressure injection nozzle method, and a two-fluid nozzle method, and a drying method includes a parallel flow method, a counter flow method, and a mixing method.
なお、成形処理に際しては、ポリビニルアルコール、アクリル系ポリマー、メチルセルロース、ワックス類、オレイン酸等の成形助剤を原料粉末に添加しても良い。 In the molding process, molding aids such as polyvinyl alcohol, acrylic polymer, methylcellulose, waxes, and oleic acid may be added to the raw material powder.
(2)成形工程
成形方法は、(1)工程で造粒した粉末を目的とした形状に成形できる成形方法を適宜選択することが可能であり、特に限定されるものではない。プレス成形法、鋳込み成形法、射出成形法等が例示できる。
(2) Molding step The molding method is not particularly limited, and a molding method capable of molding the powder granulated in step (1) into a desired shape can be appropriately selected. Examples thereof include a press molding method, a casting molding method, and an injection molding method.
成形圧力は成形体にクラック等の発生がなく、取り扱いが可能な成形体であれば特に限定されるものではないが、成形密度は可能な限り高めた方が好ましい。そのために冷間静水圧(CIP)成形等の方法を用いることも可能である。CIP圧力は充分な圧密効果を得るため1ton/cm2以上、好ましくは2ton/cm2以上、さらに好ましくは2〜3ton/cm2であることが望ましい。 The molding pressure is not particularly limited as long as it does not cause cracks in the molded body and can be handled, but it is preferable to increase the molding density as much as possible. Therefore, it is also possible to use a method such as cold isostatic pressing (CIP) molding. In order to obtain a sufficient consolidation effect, the CIP pressure is 1 ton / cm 2 or more, preferably 2 ton / cm 2 or more, and more preferably 2 to 3 ton / cm 2 .
ここで始めの成形を鋳込法により行い、続いてCIPを行った場合には、CIP後の成形体中に残存する水分及びバインダー等の有機物を除去する目的で脱バインダー処理を施してもよい。また、始めの成形をプレス法により行った場合でも、原料混合工程でバインダーを添加したときは、同様の脱バインダー処理を行うこともできる。 Here, when the first molding is performed by a casting method and then CIP is performed, a binder removal treatment may be performed for the purpose of removing moisture and organic substances such as binder remaining in the molded body after CIP. . Even when the first molding is performed by the press method, the same debinding treatment can be performed when a binder is added in the raw material mixing step.
(3)焼成工程
次に得られた成形体を焼結炉内に投入して焼結を行う。焼結方法としては、密度が高く、平均結晶粒径が小さな焼結体を得られる電磁波加熱による焼結を行う。
(3) Firing step Next, the obtained molded body is put into a sintering furnace and sintered. As a sintering method, sintering by electromagnetic wave heating which can obtain a sintered body having a high density and a small average crystal grain size is performed.
電磁波としてはマグネトロンまたはジャイロトロン等から発生する連続またはパルス状の2.45GHz等のマイクロ波、28GHz等のミリ波、またはサブミリ波が利用できる。電磁波の周波数の選択は被焼成物の焼結挙動から適切なものを選択することができるが、発振器のコスト等の経済性を考慮すると2.45GHzのマイクロ波が好ましい。 As electromagnetic waves, continuous or pulsed microwaves such as 2.45 GHz, millimeter waves such as 28 GHz, or submillimeter waves generated from a magnetron or gyrotron can be used. The electromagnetic wave frequency can be selected appropriately from the sintering behavior of the object to be fired, but a microwave of 2.45 GHz is preferable in consideration of economics such as the cost of the oscillator.
使用される電磁波焼成炉としては、バッチ式、連続式、外部加熱式とのハイブリット式等の種々の焼成炉を使用することができる。 As the electromagnetic wave firing furnace to be used, various firing furnaces such as a batch type, a continuous type, and a hybrid type with an external heating type can be used.
マイクロ波による焼成の場合、得られた成形体はセッターの上に置かれ、断熱材で囲まれる。この際、断熱材の内部に等温熱障壁のための材料を設置することも可能である。セッターや等温熱障壁の材質は被焼成物の焼成温度にて耐熱性を有する材料を選択すればよい。例えば、アルミナ、ムライト、ジルコニア、SiC等の耐熱性の高い材質を選択する。 In the case of firing by microwaves, the obtained molded body is placed on a setter and surrounded by a heat insulating material. At this time, it is also possible to install a material for the isothermal barrier inside the heat insulating material. As a material for the setter and the isothermal barrier, a material having heat resistance at the firing temperature of the object to be fired may be selected. For example, a material having high heat resistance such as alumina, mullite, zirconia, or SiC is selected.
昇温速度については特に限定されないが、平均結晶粒径を小さくする観点からは、20〜600℃/時間、好ましくは100〜600℃/時間、より好ましくは200〜500℃/時間である。水分やバインダーを含む成形体の場合、特に大型の成形体では水分やバインダー成分が揮発する際に、急激な体積膨張を伴うと成形体が割れることがあるため、水分やバインダー成分が揮発している温度領域、例えば100〜400℃の温度域においては昇温速度を20〜100℃/時間とすることが好ましい。 Although it does not specifically limit about a temperature increase rate, From a viewpoint of making an average crystal grain size small, it is 20-600 degreeC / hour, Preferably it is 100-600 degreeC / hour, More preferably, it is 200-500 degreeC / hour. In the case of a molded body containing moisture and binder, the moisture and binder component may volatilize because the molded body may crack if the moisture or binder component volatilizes, especially when the molded body contains a large volume. In a certain temperature range, for example, a temperature range of 100 to 400 ° C, the rate of temperature rise is preferably 20 to 100 ° C / hour.
焼成時の最高温度の設定は材料と目的の平均結晶粒径、密度により制御することができ、インジウム、スズ及び酸素を含んでなる焼結体を得る場合は、1400〜1650℃、好ましくは1450〜1600℃、より好ましくは1400〜1550℃である。また、アルミニウム、亜鉛及び酸素を含んでなる焼結体を得る場合は、1100〜1400℃、好ましくは1100〜1300℃である。 The setting of the maximum temperature during firing can be controlled by the material and the target average crystal grain size and density. When obtaining a sintered body containing indium, tin and oxygen, 1400 to 1650 ° C., preferably 1450 It is -1600 degreeC, More preferably, it is 1400-1550 degreeC. Moreover, when obtaining the sintered compact containing aluminum, zinc, and oxygen, it is 1100-1400 degreeC, Preferably it is 1100-1300 degreeC.
最高温度における保持時間は特に限定しないが、10時間以内で十分である。 The holding time at the maximum temperature is not particularly limited, but 10 hours or less is sufficient.
また、降温速度は特に規定されず、焼結炉の容量、焼結体のサイズ及び形状、割れ易さなどを考慮して適宜決定すればよい。 Further, the temperature lowering rate is not particularly defined and may be appropriately determined in consideration of the capacity of the sintering furnace, the size and shape of the sintered body, the ease of cracking, and the like.
焼結時の雰囲気としてはインジウム、スズ及び酸素を含んでなる焼結体を得る場合は、酸素気流中が好ましい。また、アルミニウム、亜鉛及び酸素を含んでなる焼結体を得る場合は、大気中または、不活性ガス中が好ましい。これらの雰囲気中で焼成を行うことで密度の高い焼結体を得ることができる。 The atmosphere during sintering is preferably in an oxygen stream when a sintered body containing indium, tin and oxygen is obtained. Moreover, when obtaining the sintered compact containing aluminum, zinc, and oxygen, the inside of air | atmosphere or inert gas is preferable. A sintered body having a high density can be obtained by firing in these atmospheres.
次に、本発明の方法で製造した透明導電膜用焼結体について説明する。 Next, the sintered body for transparent conductive films manufactured by the method of the present invention will be described.
本発明の方法で製造した透明導電膜用焼結体は、平均結晶粒径が2μm以下となる。造粒粉末で成形した成形体を電磁波加熱により焼結することで、微細結晶化しやすくなるからである。例えば、インジウム、スズ及び酸素からなる透明導電膜用焼結体の場合、スズの含有量が少ないと焼結体の平均結晶粒径が粗大化しやすいが、本発明ではそのような組成であっても、焼結体の平均結晶粒径を2μm以下に制御することが可能である。なお、本発明の平均結晶粒径はコード法により求めたコード径である。 The sintered body for transparent conductive film produced by the method of the present invention has an average crystal grain size of 2 μm or less. It is because it becomes easy to carry out fine crystallization by sintering the molded object shape | molded with granulated powder by electromagnetic wave heating. For example, in the case of a sintered body for a transparent conductive film made of indium, tin and oxygen, if the tin content is small, the average crystal grain size of the sintered body is likely to be coarsened. In addition, the average crystal grain size of the sintered body can be controlled to 2 μm or less. The average crystal grain size of the present invention is a cord diameter determined by a cord method.
焼結体の平均結晶粒径が2μm以下の場合、JISのR1648による熱衝撃試験により求めた最大許容温度差は150℃以上となる。 When the average crystal grain size of the sintered body is 2 μm or less, the maximum allowable temperature difference obtained by the thermal shock test according to JIS R1648 is 150 ° C. or more.
透明導電膜用焼結体とバッキングプレートを接合する場合、溶融状態のインジウムを使用する。インジウムハンダの融点は156.6℃であり、焼結体の内側と外側で約150℃の温度差が発生しうるため、最大許容温度差が150℃以上あるとボンディング時の割れを著しく低減することが可能である。 When joining the sintered body for transparent conductive film and the backing plate, indium in a molten state is used. Since the melting point of indium solder is 156.6 ° C. and a temperature difference of about 150 ° C. can occur between the inside and outside of the sintered body, if the maximum allowable temperature difference is 150 ° C. or more, cracks during bonding are significantly reduced. It is possible.
また、スパッタリング中のターゲット材の表面温度については詳細には判っていないが、スパッタされている部分とそうでない部分では温度差が発生する。また、円筒型スパッタリングターゲットの場合は、高出力で使用することと、スパッタリングターゲットが回転しているため、スパッタリング中は高温にさらされ、そうでないときは、低温になるサイクルがスパッタリングターゲットの寿命まで続く。そのため、長時間の繰り返し疲労により割れが発生する可能性があるが、最大許容温度差が150℃以上あれば、割れが発生する頻度は著しく低減するものと考えられる。 Further, although the surface temperature of the target material during sputtering is not known in detail, a temperature difference occurs between the part being sputtered and the part not being sputtered. In the case of a cylindrical sputtering target, since it is used at a high output and the sputtering target is rotating, the sputtering target is exposed to a high temperature during the sputtering. Continue. Therefore, cracks may occur due to repeated fatigue for a long time, but if the maximum allowable temperature difference is 150 ° C. or more, it is considered that the frequency of cracks is significantly reduced.
本発明の方法で製造した透明導電膜用焼結体の相対密度は95%以上が好ましく、98%以上であることがより好ましい。95%未満であると放電の安定性、スパッタリング薄膜の品質への影響がでる場合があるからである。 The relative density of the transparent conductive film sintered body produced by the method of the present invention is preferably 95% or more, and more preferably 98% or more. This is because if it is less than 95%, the discharge stability and the quality of the sputtering thin film may be affected.
本発明では、造粒粉末で成形した成形体を電磁波加熱で焼結することで、焼結体の平均結晶粒径を2μm以下に制御することができ、熱衝撃試験により求めた最大許容温度差が150℃以上となり、割れ発生率が大幅に低下する。 In the present invention, the average crystal grain size of the sintered body can be controlled to 2 μm or less by sintering the molded body formed of the granulated powder by electromagnetic wave heating, and the maximum allowable temperature difference obtained by the thermal shock test. Becomes 150 ° C. or higher, and the crack generation rate is greatly reduced.
以下、実施例により本発明を更に具体的に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。なお、本実施例における各測定は以下のように行った。 EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples, but the present invention is not limited thereto. In addition, each measurement in a present Example was performed as follows.
(1)焼結体密度
アルキメデス法により測定した。なお、相対密度(D)とは、インジウム、スズ及び酸素からなる焼結体の場合、In2O3とSnO2の真密度の相加平均から求められる理論密度(dITO)に対する相対値を示している。相加平均から求められる理論密度(dITO)とは、ターゲット組成において、In2O3とSnO2粉末の混合量をa(g)とb(g)とした時、それぞれの真密度7.18(g/cm3)、6.95(g/cm3)を用いて、
dITO=(a+b)/((a/7.18)+(b/6.95))(1)
により求められる。焼結体の測定密度をd1とすると、その相対密度Dは、D=d1/dITO×100(%)で求められる。
(1) Sintered body density It measured by the Archimedes method. In the case of a sintered body made of indium, tin and oxygen, the relative density (D) is a relative value with respect to a theoretical density ( dITO ) obtained from an arithmetic average of true densities of In 2 O 3 and SnO 2. Show. The theoretical density ( dITO ) obtained from the arithmetic mean is the true density of each of the target composition when the mixed amount of In 2 O 3 and SnO 2 powder is a (g) and b (g). 18 (g / cm 3 ), 6.95 (g / cm 3 )
dITO = (a + b) / ((a / 7.18) + (b / 6.95)) (1)
Is required. When the measured density of the sintered body is d 1 , the relative density D is obtained by D = d 1 / d ITO × 100 (%).
また、アルミニウム、亜鉛及び酸素からなる焼結体の場合、ZnO及びAl2O3粉末の混合量をx(g)及びy(g)としたとき、それぞれの真密度5.68(g/cm3)及び3.99(g/cm3)を用いて、
dAZO=(x+y)/((x/5.68)+(y/3.99))(2)
により求めることができ、実際に得られた焼結体の密度をd2とすると、その相対密度Dは、D=d2/dAZO×100で求めることができる。
Further, in the case of a sintered body made of aluminum, zinc, and oxygen, when the mixed amount of ZnO and Al 2 O 3 powder is x (g) and y (g), each true density is 5.68 (g / cm 3 ) and 3.99 (g / cm 3 )
d AZO = (x + y) / ((x / 5.68) + (y / 3.99)) (2)
When the density of the actually obtained sintered body is d 2 , the relative density D can be obtained by D = d 2 / d AZO × 100.
(2)平均結晶粒径
走査型電子顕微鏡(SEM)写真からコード法により求めた。コード長は30μmで行い、測定した結晶粒子は300個以上とした。
(2) Average crystal grain size It was determined by a code method from a scanning electron microscope (SEM) photograph. The cord length was 30 μm, and the measured crystal particles were 300 or more.
(3)熱衝撃試験
JISのR1648の相対法による熱衝撃試験方法に準拠し、熱衝撃で付与した温度差(ΔT)は100℃から225℃まで、25℃間隔で実施した。
(試験条件)
落下高さ :600mm
冷却水槽の大きさ :300×300×300mm
落下深さ :200mm
試験片温度測定位置:中央
試験片 :4×3×40mm
表面粗さ :0.4μm以下
面取り :C面、0.2mm
試験片数 :5本
残存曲げ試験の種類:3点曲げ試験
(4)放電評価
外径が88mm、内径78mm、長さが200mmの円筒型のターゲット用焼結体をインジウム半田を用いてチタン製のバッキングプレートにボンディングしてターゲットとした。このターゲットを以下のスパッタリング条件で連続放電させて、20時間毎にターゲットの割れの確認し、最長で100時間まで放電評価を行った。
(スパッタリング条件)
装置 :DCマグネトロンスパッタ装置
磁界強度 :500Gauss(ターゲット真上、水平成分)
基板温度 :25℃(無加熱)
到達真空度 :3×10−4Pa
スパッタリングガス :Ar+酸素
スパッタリングガス圧 :0.5Pa
DC電力 :300W
ガス圧 :7.0mTorr
酸素ガス濃度(O2/Ar):0.05%
(実施例1)
市販の酸化インジウム粉末(平均粒径0.8μm)と市販の酸化スズ粉末(平均粒径0.6μm)を、SnO2/(In2O3/SnO2)=10重量%となるように秤量し、イオン交換水、ポリカルボン酸系分散剤とともに、ビーズミルを用いて、ジルコニアビーズ(0.3mmφ)にて粉砕、混合し、スラリー化した。このスラリーをスプレードライヤーにて以下の条件で噴霧乾燥して、平均粒径38μm、かさ密度1.5g/cm3、タップ密度1.7g/cm3の造粒粉末を得た。
(乾燥条件)
ディスク回転数:15000rpm
送風入口温度 :200℃
送風出口温度 :120℃
スラリー供給量:2.5kg/hr
この混合粉末を円筒形状の焼結体が得られるように成形型に入れ、2ton/cm2の圧力でCIPによる処理を行った。次にこの成形体をマイクロ波焼成炉(周波数=2.45GHz)にSiC製のセッターの上に設置して、以下の条件で焼結した。
(焼結条件)
焼成温度 :1450℃
昇温速度 :300℃/時間
降温速度 :100℃/時間
1450℃での保持時間:2時間
雰囲気 :純酸素ガス導入
得られた焼結体について、焼結体密度、平均結晶粒径、熱衝撃試験、放電評価の評価を実施した。結果を表1に示す。
(3) Thermal shock test The temperature difference (ΔT) applied by thermal shock was 100 ° C. to 225 ° C. at 25 ° C. intervals in accordance with the thermal shock test method based on JIS R1648 relative method.
(Test conditions)
Drop height: 600mm
Cooling water tank size: 300 x 300 x 300 mm
Drop depth: 200mm
Test piece temperature measurement position: Central test piece: 4 × 3 × 40 mm
Surface roughness: 0.4 μm or less Chamfering: C surface, 0.2 mm
Number of test pieces: 5 types of residual bending test: 3-point bending test (4) Discharge evaluation A cylindrical sintered body for a target having an outer diameter of 88 mm, an inner diameter of 78 mm, and a length of 200 mm is made of titanium using indium solder. The target was bonded to the backing plate. This target was continuously discharged under the following sputtering conditions, and cracking of the target was confirmed every 20 hours, and discharge evaluation was performed up to 100 hours at the longest.
(Sputtering conditions)
Equipment: DC magnetron sputtering equipment Magnetic field strength: 500 Gauss (above target, horizontal component)
Substrate temperature: 25 ° C. (no heating)
Ultimate vacuum: 3 × 10 −4 Pa
Sputtering gas: Ar + oxygen sputtering gas pressure: 0.5 Pa
DC power: 300W
Gas pressure: 7.0 mTorr
Oxygen gas concentration (O 2 / Ar): 0.05%
Example 1
Commercially available indium oxide powder (average particle size 0.8 μm) and commercially available tin oxide powder (average particle size 0.6 μm) were weighed so that SnO 2 / (In 2 O 3 / SnO 2 ) = 10 wt% Then, together with ion-exchanged water and a polycarboxylic acid-based dispersant, the mixture was pulverized and mixed with zirconia beads (0.3 mmφ) using a bead mill to form a slurry. This slurry was spray-dried with a spray dryer under the following conditions to obtain a granulated powder having an average particle size of 38 μm, a bulk density of 1.5 g / cm 3 , and a tap density of 1.7 g / cm 3 .
(Drying conditions)
Disk rotation speed: 15000 rpm
Air inlet temperature: 200 ° C
Air outlet temperature: 120 ° C
Slurry supply amount: 2.5 kg / hr
This mixed powder was put in a mold so as to obtain a cylindrical sintered body, and was treated with CIP at a pressure of 2 ton / cm 2 . Next, this compact was placed on a setter made of SiC in a microwave firing furnace (frequency = 2.45 GHz) and sintered under the following conditions.
(Sintering conditions)
Firing temperature: 1450 ° C
Temperature increase rate: 300 ° C./hour Temperature decrease rate: 100 ° C./hour Holding time at 1450 ° C .: 2 hours Atmosphere: Pure oxygen gas introduction About the obtained sintered body, the sintered body density, average crystal grain size, thermal shock Evaluation of test and discharge evaluation was carried out. The results are shown in Table 1.
(実施例2)
実施例1と同じスラリーを乾燥条件を下記のものに変更して、スプレードライヤーにて噴霧乾燥して、平均粒径50μm、かさ密度1.6g/cm3、タップ密度1.8g/cm3の造粒粉末を得た。CIP時の圧力=1.5ton/cm2、焼成温度=1550℃とした以外は、実施例1と同様にして焼成を行った。得られた焼結体について、焼結体密度、平均結晶粒径、熱衝撃試験、放電評価の評価を実施した。結果を表1に示す。
(乾燥条件)
ディスク回転数:12000rpm
送風入口温度 :200℃
送風出口温度 :100℃
スラリー供給量:2.5kg/hr
(実施例3)
酸化スズの含有量をSnO2/(In2O3+SnO2)=5重量%とした以外は実施例1と同様にして焼成を行った。得られた焼結体について、焼結体密度、平均結晶粒径、熱衝撃試験、放電評価の評価を実施した。
(Example 2)
The same slurry as in Example 1 was changed to the following drying conditions, and spray-dried with a spray dryer. The average particle size was 50 μm, the bulk density was 1.6 g / cm 3 , and the tap density was 1.8 g / cm 3 . A granulated powder was obtained. Firing was performed in the same manner as in Example 1 except that the pressure at CIP was 1.5 ton / cm 2 and the firing temperature was 1550 ° C. About the obtained sintered compact, the sintered compact density, the average crystal grain diameter, the thermal shock test, and evaluation of discharge evaluation were implemented. The results are shown in Table 1.
(Drying conditions)
Disk rotation speed: 12000 rpm
Air inlet temperature: 200 ° C
Air outlet temperature: 100 ° C
Slurry supply amount: 2.5 kg / hr
(Example 3)
Firing was performed in the same manner as in Example 1 except that the content of tin oxide was SnO 2 / (In 2 O 3 + SnO 2 ) = 5 wt%. About the obtained sintered compact, the sintered compact density, the average crystal grain diameter, the thermal shock test, and evaluation of discharge evaluation were implemented.
(実施例4)
市販の酸化亜鉛粉末(平均粒径0.9μm)と市販の酸化アルミニウム粉末(平均粒径0.3μm)を、Al2O3/(ZnO+Al2O3)=2重量%となるように秤量し、イオン交換水、ポリカルボン酸系分散剤とともに、ビーズミルを用いて、アルミナビーズ(0.3mmφ)にて粉砕し、混合し、スラリー化した。このスラリーをスプレードライヤーにて下記の条件で噴霧乾燥して、平均粒径70μm、かさ密度1.5g/cm3、タップ密度1.8g/cm3の造粒粉末を得た。
(乾燥条件)
ディスク回転数:10000rpm
送風入口温度 :200℃
送風出口温度 :110℃
スラリー供給量:3.0kg/hr
この混合粉末を所定の形状の焼結体が得られるように成形型に入れ、2ton/cm2の圧力でCIPによる処理を行った。次にこの成形体をマイクロ波焼成炉(周波数=2.45GHz)にSiC製のセッターに厚さ2mmのアルミナ板を敷き、その上に設置して、以下の条件で焼結した。
(焼結条件)
焼成温度 :1300℃
昇温速度 :300℃/時間
降温速度 :100℃/時間
1300℃での保持時間:1時間
雰囲気 :純窒素ガス導入
得られた焼結体について、焼結体密度、平均結晶粒径、熱衝撃試験、放電評価の評価を実施した。結果を表1に示す。
Example 4
Commercially available zinc oxide powder (average particle size 0.9 μm) and commercially available aluminum oxide powder (average particle size 0.3 μm) were weighed so that Al 2 O 3 / (ZnO + Al 2 O 3 ) = 2 wt%. Along with ion-exchanged water and a polycarboxylic acid-based dispersant, the mixture was pulverized with alumina beads (0.3 mmφ) using a bead mill, mixed, and slurried. This slurry was spray-dried with a spray dryer under the following conditions to obtain a granulated powder having an average particle size of 70 μm, a bulk density of 1.5 g / cm 3 , and a tap density of 1.8 g / cm 3 .
(Drying conditions)
Disk rotation speed: 10000rpm
Air inlet temperature: 200 ° C
Air outlet temperature: 110 ° C
Slurry supply amount: 3.0 kg / hr
This mixed powder was put into a mold so as to obtain a sintered body having a predetermined shape, and was subjected to treatment by CIP at a pressure of 2 ton / cm 2 . Next, this molded body was placed in a microwave set furnace (frequency = 2.45 GHz) on a SiC setter with an alumina plate having a thickness of 2 mm, placed thereon, and sintered under the following conditions.
(Sintering conditions)
Firing temperature: 1300 ° C
Temperature increase rate: 300 ° C./hour Temperature decrease rate: 100 ° C./hour Holding time at 1300 ° C .: 1 hour Atmosphere: Pure nitrogen gas introduction About the obtained sintered body, the sintered body density, average crystal grain size, thermal shock Evaluation of test and discharge evaluation was carried out. The results are shown in Table 1.
(比較例1)
電気炉(発熱体=モリブデンシリサイトヒーター)を使用し、焼成温度=1600℃、昇温速度=50℃/時間、1600℃での保持時間=5時間とした以外は実施例1と同様にして焼成を行った。得られた焼結体について、焼結体密度、平均結晶粒径、熱衝撃試験、放電評価の評価を実施した。結果を表1に示す。
(Comparative Example 1)
Example 1 except that an electric furnace (heating element = molybdenum silicite heater) was used and the firing temperature = 1600 ° C., the heating rate = 50 ° C./hour, and the holding time at 1600 ° C. = 5 hours. Firing was performed. About the obtained sintered compact, the sintered compact density, the average crystal grain diameter, the thermal shock test, and evaluation of discharge evaluation were implemented. The results are shown in Table 1.
(比較例2)
電気炉(発熱体=モリブデンシリサイトヒーター)を使用し、焼成温度=1400℃、昇温速度=50℃/時間、1400℃での保持時間=4時間とした以外は実施例4と同様にして焼成を行った。得られた焼結体について、焼結体密度、平均結晶粒径、熱衝撃試験、放電評価の評価を実施した。結果を表1に示す。
(比較例3)
市販の酸化インジウム粉末(平均粒径0.8μm)と市販の酸化スズ粉末(平均粒径0.6μm)とをSnO2/(In2O3/SnO2)=5重量%となるように秤量し、ポリエチレン製のポットに入れ、乾式ボールミルにより16時間混合し、混合粉末を調製した。前記混合粉末のかさ密度を測定したところ、1.7g/cm3であった。
(Comparative Example 2)
The same as in Example 4 except that an electric furnace (heating element = molybdenum silicite heater) was used and the firing temperature = 1400 ° C., the heating rate = 50 ° C./hour, and the holding time at 1400 ° C. = 4 hours. Firing was performed. About the obtained sintered compact, the sintered compact density, the average crystal grain diameter, the thermal shock test, and evaluation of discharge evaluation were implemented. The results are shown in Table 1.
(Comparative Example 3)
Commercially available indium oxide powder (average particle size 0.8 μm) and commercially available tin oxide powder (average particle size 0.6 μm) were weighed so that SnO 2 / (In 2 O 3 / SnO 2 ) = 5 wt%. The mixture was then placed in a polyethylene pot and mixed for 16 hours by a dry ball mill to prepare a mixed powder. The bulk density of the mixed powder was measured and found to be 1.7 g / cm 3 .
この混合粉末を使用し、実施例2と同様にして焼成を行った。得られた焼結体について、焼結体密度、平均結晶粒径、熱衝撃試験、放電評価の評価を実施した。結果を表1に示す。 Using this mixed powder, firing was performed in the same manner as in Example 2. About the obtained sintered compact, the sintered compact density, the average crystal grain diameter, the thermal shock test, and evaluation of discharge evaluation were implemented. The results are shown in Table 1.
Claims (4)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008331178A JP5218032B2 (en) | 2008-12-25 | 2008-12-25 | Method for producing sintered body for transparent conductive film |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008331178A JP5218032B2 (en) | 2008-12-25 | 2008-12-25 | Method for producing sintered body for transparent conductive film |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010150093A JP2010150093A (en) | 2010-07-08 |
JP5218032B2 true JP5218032B2 (en) | 2013-06-26 |
Family
ID=42569610
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008331178A Active JP5218032B2 (en) | 2008-12-25 | 2008-12-25 | Method for producing sintered body for transparent conductive film |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5218032B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107250426A (en) * | 2015-04-30 | 2017-10-13 | 三井金属矿业株式会社 | ITO sputtering target materials |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5081960B2 (en) * | 2010-08-31 | 2012-11-28 | Jx日鉱日石金属株式会社 | Oxide sintered body and oxide semiconductor thin film |
JP5081959B2 (en) * | 2010-08-31 | 2012-11-28 | Jx日鉱日石金属株式会社 | Oxide sintered body and oxide semiconductor thin film |
JP5952891B2 (en) * | 2014-02-14 | 2016-07-13 | 株式会社コベルコ科研 | Oxide sintered body and method for producing sputtering target |
JP7169776B2 (en) | 2018-06-06 | 2022-11-11 | Koa株式会社 | Zinc oxide varistor and manufacturing method thereof |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06247765A (en) * | 1993-02-23 | 1994-09-06 | Toshiba Corp | Ito sintered compact, ito target and ito film |
JP3862385B2 (en) * | 1996-11-08 | 2006-12-27 | Dowaホールディングス株式会社 | Tin oxide-containing indium oxide powder and method for producing sintered body |
JPH1160339A (en) * | 1997-08-13 | 1999-03-02 | Mitsubishi Materials Corp | Setter for firing of indium oxide-zinc oxide and firing of indium oxide-zinc oxide compact using the same |
JP2004277836A (en) * | 2003-03-18 | 2004-10-07 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | Method of producing ito target |
JP4508079B2 (en) * | 2005-10-25 | 2010-07-21 | 住友金属鉱山株式会社 | Manufacturing method of sputtering target |
JP4894293B2 (en) * | 2006-02-24 | 2012-03-14 | 東ソー株式会社 | Conductive ceramic sintered body, sputtering target, and manufacturing method thereof |
JP4962356B2 (en) * | 2007-03-09 | 2012-06-27 | 三菱マテリアル株式会社 | ZnO vapor deposition material and ZnO film formed thereby |
-
2008
- 2008-12-25 JP JP2008331178A patent/JP5218032B2/en active Active
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---|---|---|---|---|
CN107250426A (en) * | 2015-04-30 | 2017-10-13 | 三井金属矿业株式会社 | ITO sputtering target materials |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010150093A (en) | 2010-07-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121217 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20121220 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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