JP2022100221A - マザーボードの配線空間を節約する改良されたメモリモジュール - Google Patents
マザーボードの配線空間を節約する改良されたメモリモジュール Download PDFInfo
- Publication number
- JP2022100221A JP2022100221A JP2021156032A JP2021156032A JP2022100221A JP 2022100221 A JP2022100221 A JP 2022100221A JP 2021156032 A JP2021156032 A JP 2021156032A JP 2021156032 A JP2021156032 A JP 2021156032A JP 2022100221 A JP2022100221 A JP 2022100221A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- module
- memory module
- connector
- dimm
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 title claims abstract description 208
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 25
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 8
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 claims description 7
- 239000000306 component Substances 0.000 description 35
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 17
- 230000006870 function Effects 0.000 description 14
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 12
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 10
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 7
- 238000013528 artificial neural network Methods 0.000 description 6
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 5
- 238000013473 artificial intelligence Methods 0.000 description 4
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 4
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 description 4
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 4
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 230000011664 signaling Effects 0.000 description 3
- 101100498818 Arabidopsis thaliana DDR4 gene Proteins 0.000 description 2
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 2
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000004549 pulsed laser deposition Methods 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003542 behavioural effect Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 239000005387 chalcogenide glass Substances 0.000 description 1
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000008358 core component Substances 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 1
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000002070 nanowire Substances 0.000 description 1
- 230000006855 networking Effects 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 230000002085 persistent effect Effects 0.000 description 1
- 239000012782 phase change material Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000000306 recurrent effect Effects 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
- 210000001525 retina Anatomy 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 210000000352 storage cell Anatomy 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/02—Disposition of storage elements, e.g. in the form of a matrix array
- G11C5/04—Supports for storage elements, e.g. memory modules; Mounting or fixing of storage elements on such supports
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/065—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L25/0652—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the devices being arranged next and on each other, i.e. mixed assemblies
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/02—Disposition of storage elements, e.g. in the form of a matrix array
- G11C5/025—Geometric lay-out considerations of storage- and peripheral-blocks in a semiconductor storage device
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/06—Arrangements for interconnecting storage elements electrically, e.g. by wiring
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/06—Arrangements for interconnecting storage elements electrically, e.g. by wiring
- G11C5/066—Means for reducing external access-lines for a semiconductor memory clip, e.g. by multiplexing at least address and data signals
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/52—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
- H01L23/538—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
- H01L23/5386—Geometry or layout of the interconnection structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L24/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/065—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L25/0655—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the devices being arranged next to each other
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/18—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
- H01R12/70—Coupling devices
- H01R12/71—Coupling devices for rigid printing circuits or like structures
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/10—Aspects relating to interfaces of memory device to external buses
- G11C2207/101—Analog or multilevel bus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
- H01L2924/143—Digital devices
- H01L2924/1434—Memory
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
- H01L2924/143—Digital devices
- H01L2924/1434—Memory
- H01L2924/1435—Random access memory [RAM]
- H01L2924/1436—Dynamic random-access memory [DRAM]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
- H01L2924/143—Digital devices
- H01L2924/1434—Memory
- H01L2924/1435—Random access memory [RAM]
- H01L2924/1436—Dynamic random-access memory [DRAM]
- H01L2924/14361—Synchronous dynamic random access memory [SDRAM]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/1517—Multilayer substrate
- H01L2924/15192—Resurf arrangement of the internal vias
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geometry (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
- Memory System (AREA)
- Mounting Of Printed Circuit Boards And The Like (AREA)
Abstract
【課題】マザーボードの配線空間を節約する改良されたメモリモジュール、メモリモジュールを備える装置及びコンピューティングシステム提供する。【解決手段】装置は、マザーボード202に接続するためのDIMM201を含む。DIMM201は、DIMM201の中心軸201に沿ったコネクタ203_1、203_2を有する。DIMM201は、DIMM201の縁部とコネクタの側との間に存在するDIMM201の第1の領域に配置された第1の半導体チップ(PMICチップ211)をさらに有する。DIMM201は、DIM201の対向縁部とコネクタの対向測との間に存在するDIM201の第2の領域に配置された第2の半導体チップ(高性能半導体チップ204)を有する。【選択図】図2
Description
本発明の分野は、一般に電子技術に関し、より詳細には、マザーボードの配線空間を節約する改良されたメモリモジュールに関する。
図1aおよび図1bは、「バタフライ」実装で配置された1対のスモールアウトラインデュアルインメモリモジュール101_1、101_2(SODIMM)を示す(図1aは側面図を示し、図1bは上面図を示す)。バタフライ動作の場合、SODIMM101_1、101_2は、それぞれの面がSODIMM101_1、101_2が接続されているマザーボード102と平行になるように配置される。
図1aおよび図1bに示すように、両方のSODIMM101_1、101_2は、マザーボード102に取り付けられた対応するコネクタ103_1、103_2と物理的および電気的に接続する電気入力/出力(I/O)を含む縁部を有する。各コネクタ103_1、103_2は、SODIMM101_1、101_2をマザーボード102に物理的に固定して、SODIMM101_1、101_2とマザーボード102との間で信号を伝送するための電気配線も有する。
典型的には、バタフライSODIMMは、SODIMM101_1、101_2上のメモリチップをローカルメモリまたはメインメモリとして使用する、プロセッサなどの高性能半導体チップ104の近くに配置される。
図1aおよび図1bの特定の従来技術の実装では、1つのJEDEC(半導体技術協会) デュアルデータレート(DDR)メモリチャネルが各SODIMMにルーティングされる(例えば、第1のDDR5メモリチャネルは、第1のSODIMM101_1にルーティングされ、第2のDDR5メモリチャネルは第2のDIMM101_2にルーティングされる)。したがって、高性能半導体チップ104は、高性能半導体チップから出ている異なるメモリチャネルにアクセスすることによって、異なるSODIMM101_1、101_2上のメモリチップにアクセスする。
本発明のより良い理解は、以下の図面と併せて以下の詳細な説明から得ることができる。
図1aおよび図1bのバタフライ配置に関する問題は、高性能半導体チップ104と、高性能半導体チップ104に最も近いSODIMM101_1上にあるメモリチップとの間の信号配線に関して著しい非効率性が存在するということである。
ここでは、強調表示された信号トレース105で示すように、トレースが高性能半導体チップ104から離れて延長された距離を通り、その結果、コネクタ103_1に到達でき、高性能半導体チップ104に到達するために反対方向に折り返すためだけであるという点で有意な「折り返し」がある。
システム設計者は、さらに多くの機能をより小さなフォームファクタに組み込む方法をますます模索しているため、マザーボード102内の信号トレースのための空間はさらに制約される。ここでは、図1aで強調表示されたトレース105の拡張された折り返し実行セグメント106が、マザーボード空間の非効率的な使用に対応している。セグメント106を短くできれば、解放された空間を他の信号のために使用して、マザーボードの102の配線空間の制約を緩和できる。
図2の(a)および図2の(b)は、改良されたフォームファクタDIMM201のコネクタ203を、DIMM縁部に沿ってではなく、DIMM201の中心軸210に沿って配置する改良された手法を示す。図2の(a)は側面図を示し、図2の(b)は上面図を示す。
図2の(a)の側面図に関して、改良されたフォームファクタDIMM201の中心軸210に沿ったコネクタ203_2の配置は、折り返されたトレースセグメント206の長さを大幅に短縮する。すなわち、信号トレースは、高性能半導体チップ204から離れる方向に、DIMM201の遠端までずっと延ばすのではなく、代わりに、DIMM201の中央領域まで延ばすだけでよい。したがって、図2の(a)の折り返しセグメント206の長さは、図1aの従来技術の解決策における折り返しセグメント106の長さの(約)半分である。
さらに、図2の(b)に見られるように、異なるチャネルに結合されたメモリチップは、図1bに見られるように、一方のSODIMM101_1のメモリチップが、高性能半導体チップ104と他方のSODIMM101_2のメモリチップとの間にあるのではなく、「並べて」配置される。
並べて配置すると、両方のチャネルのメモリチップを改良されたフォームファクタDIMM201に配置できる。すなわち、第1のJEDEC DDRメモリチャネル「CH1」(例えば、DDR5メモリチャネル)のメモリチップは、DIMM201の上部に配置され、第2のJEDEC DDRメモリチャネル「CH2」のメモリチップは、DIMM201の下部に配置される(両方の領域/チャネルのメモリチップは、右側の「A」部分および左側の「B」部分を有する)。
両方のメモリチャネルには、改良されたフォームファクタDIMM201に独自の関連するコネクタがある。すなわち、コネクタ203_1は、DIMM201の上部領域のメモリチップを第1のメモリチャネルCH1に結合し、コネクタ203_2は、DIMM201の下部領域のメモリチップを第2のメモリチャネルCH2に結合する(様々な実施形態において、改良されたフォームファクタDIMM201は、メモリチップとコネクタとの間に結合されたバッファチップを含む)。
したがって、図2の(a)および図2の(b)の手法は、図1aおよび図1bの手法と比較して、マザーボード202の配線空間を節約するだけでなく、ハードウェア実装も節約する(消費されるDIMMプリント回路基板が1つ少なくなる)。
様々な実施形態では、チャネルごとまたはDIMMごとに1つの電源管理用集積回路(PMIC)チップがある。したがって、図2の(a)および図2の(b)の特定の改良されたフォームファクタDIMM201の場合、1つまたは2つのPMICチップが存在し得る。とにかく、様々な実施形態では、単一または1対のPMICチップ211は、DIMMの上側にある改良されたフォームファクタDIMM201の中心軸210に沿って配置される(コネクタ203_1、203_2は、DIMM201の下側にあるDIMM201の中心軸210に沿って配置される)。
図2の(a)および図2の(b)の実施形態では、メモリチャネルごとに2つのランクが存在し得る(上側のメモリチップは1つのランクに対応し、下側のメモリチップは第2のランクに対応する)。各ランクは、AハーフとBハーフに分けられ、Aハーフは高性能半導体チップ204からより遠いDIMM201の側にあり、Bハーフは高性能半導体チップ204により近いDIMM201の側にある。
図3aから図3eは、DIMMの中心軸に沿ってコネクタを配置する追加の改良されたフォームファクタDIMMバージョンを示す。図3aは、図2の(a)および図2の(b)のDIMM201と同様のDIMMを示しているが、さらにエラー訂正コード(ECC)情報を格納するためのメモリチップが追加されている。したがって、図3aのDIMMは、図2の(a)および図2の(b)のDIMMよりもわずかに長くなる。
図3bは、1つのチャネルのみに接続し、したがって、図2の(a)および図2の(b)のDIMM201の半分のメモリチップ(および(約)半分の長さ)を有する単一チャネルカードを示す。
図3cは、ロープロファイル実装のためのシングルランクDIMMを示す。ここでは、DIMMの垂直方向の高さを低く保つために、メモリチップはDIMMの上面に配置されていない(これにより、メモリチップが両面に実装されているDIMMと比較してチャネルごとのランクが削除される)。DIMMは、図2の(a)、図2の(b)のようにデュアルチャネルにするか、または図3bのようにシングルチャネルにすることができる。さらに、図3cのDIMMは、ECCメモリチップを含むことも含まないこともできる。
図3dは、チャネルごとに2ランクのメモリチップを統合する別の解決策を示しているが、一方のランクのメモリチップはDIMMの上面に配置され、他方のランクのメモリチップはマザーボードに直接取り付けられている。図3dの解決策は、例えば、マザーボード上に固定量のメモリを有するシステムに使用できる。全体的なメモリ容量は、DIMMごとにチャネルごとに1つのランクを追加することにより拡張できる。
コネクタは、例えば、システムまたは他の場所に電気ノイズを導入する放出放射線源になる可能性がある。図3eは、上述の改良されたフォームファクタDIMMのコネクタから放出されるノイズは、例えば、マザーボードの上面とDIMMの下面との間にコネクタをカプセル化する接地された導電性材料(例えば、金属箔)でコネクタをシールドすることによって減衰できることを示す。
システム設計者の選択に応じて、1つまたは複数のDIMMを1つのチャネルに接続できる。したがって、例えば、別の改良されたフォームファクタDIMMを図2の(b)のDIMM201の隣に配置し得る。ここで、他方のDIMMの上部領域は、第1のチャネルに結合されたメモリチップを有し、他方のDIMMの下部領域は、第2のチャネルに結合されたメモリチップを有する。
上述の改良されたフォームファクタDIMMは、ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)チップ、インテル社のOptane(商標)メモリなどの不揮発性バイトアドレス指定可能メモリチップ(例えば、抵抗記憶セルがチップ基板の上に積層された3次元クロスポイントメモリ)、またはDRAMと不揮発性バイトアドレス指定可能メモリチップとの組み合わせを含むことができる。
上記の教示は、DIMM以外の他のモジュールにも適用できる可能性があることを指摘しておくのが適切である。例えば、プリント回路基板(マザーボード)に接続する1つまたは複数の半導体チップを有する他の様々な種類のモジュールは、モジュールの中心軸に沿って配置されたコネクタを有し得る。
このようなモジュールに配置できるチップは、多数の異なる高性能半導体チップ(例えば、システムオンチップ、アクセラレータチップ(例えば、ニューラルネットワークプロセッサ)、グラフィックスプロセッシングユニット(GPU)、汎用グラフィックスプロセッシングユニット(GPGPU)、フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)、特定用途向け集積回路(ASIC))、「X」処理ユニット(「XPU」)のいずれかであり得る。ここで、「X」は、汎用プロセッサ以外の任意のプロセッサであり得る(例えば、グラフィックスの場合はG、データの場合はD、インフラストラクチャの場合はIなど)。
本明細書の教示を利用するモジュールを有するPCBボードは、業界標準のラック(19インチ(482.6mm)または23インチ(584.2mm)の幅方向の開口部を有し、特定の高さ単位(例えば、1U、2U、3U、ここで、U=1.75インチ(44.45mm))の高さを有するシャーシ用の取り付け穴を有するラックなど)と互換性のある寸法を有するシャーシに組み込むことができる。一例は、IEC60297電子機器の機械構造-482.6mm(19インチ)シリーズの機械構造の寸法である。ただし、一般的には、任意の寸法のシャーシが可能である。
上述のマザーボード接続へのチップパッケージの電気I/Oは、様々なデータセンタコンピューティングおよびネットワーキングシステムの相互接続技術に関連する信号の転送に互換性があり得るか、または信号の転送に使用され得る。例には、例えば、Infinity Fabric(例えば、アドバンストマイクロデバイセズ(AMD(商標))製品に関連する、および/または実装されている)またはその派生物のいずれかに関連するデータおよび/またはクロック信号、アクセラレータ向けキャッシュコヒーレントインターコネクト(CCIX)コンソーシアムまたはその派生物によって開発された仕様、GEN-Zコンソーシアムまたはその派生物によって開発された仕様、コヒーレントアクセラレータプロセッサインターフェイス(CAPI)またはその派生物によって開発された仕様、コンピュータエクスプレスリンク(CXL)コンソーシアムまたはその派生物によって開発された仕様、ハイパートランスポートコンソーシアムまたはその派生物によって開発された仕様、イーサネット(登録商標)、インフィニバンド(登録商標)、NVMe-oF(登録商標)、PCIe(登録商標)などが挙げられる。
上記の教示を利用するモジュールを有するPCBボード、および/またはPCBボードの関連する電子システムは、コンピュータシステム全体の主要な構成要素(例えば、CPU、メインメモリコントローラ、メインメモリ、周辺機器コントローラ、大容量不揮発性ストレージ)を含み得るか、または、コンピュータシステム全体の一部のサブセット(例えば、主にCPUプロセッサ電源を含むシャーシ、主にメインメモリ制御およびメインメモリを含むシャーシ、主にストレージコントローラおよびストレージを含むシャーシ)のみの機能を含み得る。後者は、分離されたコンピューティングシステムに特に有用であり得る。
分離されたコンピュータシステムの場合、コンピューティングシステムのコア構成要素(例えば、CPUプロセッサ、メモリ、ストレージ、アクセラレータなど)がすべて共通のシャーシ内に収容され、共通のマザーボードに接続されている従来のコンピュータとは異なり、そのような構成要素は、同一の狭いマザーボードではなく、より大きな露出したバックプレーンまたはネットワークに接続する別個のプラグ可能なカードまたは他のプラグ可能な構成要素(例えば、CPUカード、システムメモリカード、ストレージカード、アクセラレータカードなど)に統合される。そのようなものとして、例えば、CPUカードをバックプレーンまたはネットワークに追加することでCPUコンピュータ電源を追加できる、メモリカードを追加することでバックプレーンまたはネットワークにシステムメモリを追加できる、などがある。このようなシステムは、従来のコンピュータよりもさらに高速なカード間接続を示すことができる。1つまたは複数の分離されたコンピュータおよび/または従来のコンピュータ/サーバは、例えば、データセンタなどの情報技術(IT)実装のより大きな構成におけるコンピューティングシステム機能のためのポイントオブデリバリ(PoD)として識別され得る。
図4は、例示的なシステムを示す。システムは、本明細書で提供される教示を使用できる。システム400は、システム400のための処理、動作管理、および命令の実行を提供するプロセッサ410を含む。プロセッサ410は、システム400に処理を提供するための任意のタイプのマイクロプロセッサ、中央処理装置(CPU)、グラフィックスプロセッシングユニット(GPU)、処理コア、または他の処理ハードウェア、またはプロセッサの組み合わせを含むことができる。プロセッサ410は、システム400の全体的な動作を制御し、1つまたは複数のプログラム可能な汎用または専用マイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ(DSP)、プログラマブルコントローラ、特定用途向け集積回路(ASIC)、プログラマブルロジックデバイス(PLD)など、またはそのようなデバイスの組み合わせとすることができるか、または含むことができる。
一例では、システム400は、メモリサブシステム420またはグラフィックスインターフェイス構成要素440、またはアクセラレータ442など、より高い帯域幅の接続を必要とするシステム構成要素の高速インターフェイスまたは高スループットインターフェイスを表すことができる、プロセッサ410に結合されたインターフェイス412を含む。インターフェイス412は、スタンドアロンの構成要素とすることができる、またはプロセッサダイ上に統合させることができる、インターフェイス回路を表す。存在する場合、グラフィックスインターフェイス440は、システム400のユーザに視覚表示を提供するためにグラフィックス構成要素にインターフェイスする。一例では、グラフィックスインターフェイス440は、ユーザに出力を提供する高精細(HD)ディスプレイを駆動することができる。高解像度とは、約100PPI(画素/インチ)以上の画素密度を持つディスプレイを指し、フルHD(例えば、1080p)、Retinaディスプレイ、4K(超高解像度またはUHD)などのフォーマットを含めることができる。一例では、ディスプレイはタッチスクリーンディスプレイを含むことができる。一例では、グラフィックスインターフェイス440は、メモリ430に格納されたデータに基づいて、またはプロセッサ410によって実行される動作に基づいて、あるいは両方に基づいてディスプレイを生成する。一例では、グラフィックスインターフェイス440は、メモリ430に格納されたデータに基づいて、またはプロセッサ410によって実行される動作に基づいて、または両方に基づいてディスプレイを生成する。
アクセラレータ442は、プロセッサ410によってアクセスまたは使用され得る固定関数オフロードエンジンであり得る。例えば、アクセラレータ442の中のアクセラレータは、圧縮(DC)機能、公開鍵暗号化(PKE)などの暗号化サービス、暗号、ハッシュ/認証機能、復号化、または他の機能またはサービスを提供できる。いくつかの実施形態では、追加的または代替的に、アクセラレータ442の中のアクセラレータは、本明細書に記載されるようなフィールド選択コントローラ機能を提供する。場合によっては、アクセラレータ442は、CPUソケット(例えば、CPUを含み、CPUとの電気的インターフェイスを提供するマザーボードまたは回路基板へのコネクタ)に統合できる。例えば、アクセラレータ442は、シングルまたはマルチコアプロセッサ、グラフィックスプロセッシングユニット、論理実行ユニットシングルまたはマルチレベルキャッシュ、プログラムまたはスレッドを独立して実行するために使用可能な機能ユニット、特定用途向け集積回路(ASIC)、ニューラルネットワークプロセッサ(NNP)、「X」プロセッシングユニット(XPU)、プログラマブルコントロールロジック、およびフィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)などのプログラマブルプロセッシング要素を含むことができる。アクセラレータ442は、複数のニューラルネットワークを提供でき、プロセッサコア、またはグラフィックスプロセッシングユニットを、人工知能(AI)または機械学習(ML)モデルで使用するために使用可能にすることができる。例えば、AIモデルは、強化学習スキーム、Q学習スキーム、ディープQ学習、または非同期アドバンテージアクタークリティカル(A3C)、コンビナトリアルニューラルネットワーク、リカレントコンビナトリアルニューラルネットワーク、または他のAIもしくはMLモデルのいずれかまたはそれらの組み合わせを使用または含むことができる。複数のニューラルネットワーク、プロセッサコア、またはグラフィックスプロセッシングユニットをAIまたはMLモデルで使用するために使用可能にすることができる。
メモリサブシステム420は、システム400のメインメモリを表し、プロセッサ410によって実行されるコード、またはルーチンを実行する際に使用されるデータ値のための記憶装置を提供する。メモリサブシステム420は、読み取り専用メモリ(ROM)、フラッシュメモリ、揮発性メモリ、またはそのようなデバイスの組み合わせなどの1つまたは複数のメモリデバイス430を含むことができる。メモリ430は、とりわけ、オペレーティングシステム(OS)432を格納およびホストし、システム400で命令を実行するためのソフトウェアプラットフォームを提供する。さらに、アプリケーション434は、メモリ430のOS432のソフトウェアプラットフォームで実行することができる。アプリケーション434は、1つまたは複数の機能の実行を実行するための独自の動作ロジックを有するプログラムを表す。プロセス436は、OS432または1つまたは複数のアプリケーション434あるいはその組み合わせに補助機能を提供するエージェントまたはルーチンを表す。OS432、アプリケーション434、およびプロセス436は、システム400に機能を提供するソフトウェアロジックを提供する。一例では、メモリサブシステム420は、コマンドを生成してメモリ430に発行するメモリコントローラであるメモリコントローラ422を含む。メモリコントローラ422は、プロセッサ410の物理的な部分、またはインターフェイス412の物理的な部分とすることができることが理解されるであろう。例えば、メモリコントローラ422は、プロセッサ410を備えた回路上に統合された統合メモリコントローラであり得る。いくつかの例では、システムオンチップ(SOCまたはSoC)は、プロセッサ、グラフィックス、メモリ、メモリコントローラ、および入力/出力(I/O)制御ロジックの1つまたは複数を1つのSoCパッケージに統合する。
揮発性メモリとは、デバイスへの電力供給が遮断された場合に状態(およびその中に格納されるデータ)が不定になるメモリである。動的揮発性メモリでは、状態を維持するためにデバイスに格納されているデータをリフレッシュする必要がある。ダイナミック揮発性メモリの一例には、DRAM(ダイナミックランダムアクセスメモリ)、またはシンクロナスDRAM(SDRAM)などのバリアントがある。本明細書に記載されるように、メモリサブシステムは、DDR3(ダブルデータレートバージョン3、2007年6月27日にJEDEC(半導体技術協会)によって最初にリリース)などの多くのメモリ技術と互換性があり得る。DDR4(DDRバージョン4、JEDECによって2012年9月に公開された初期仕様)、DDR4E(DDRバージョン4)、LPDDR3(低電力DDRバージョン3、JESD209-3B、JEDECによって2013年8月)、LPDDR4(LPDDRバージョン4、JESD209-4、2014年8月にJEDECによって最初に公開)、WIO2(登録商標)(ワイド入力/出力バージョン2、JESD229-2、2014年8月にJEDECによって最初に公開)、HBM(高帯域幅メモリ、JESD325、2013年10月にJEDECによって最初に公開)、LPDDR5(低電力DDR5、JESD209-5、2019年2月にJEDECによって最初に公開)、DDR5(DDRバージョン5、JESD79-5、2020年7月にJEDECによって最初に公開)、HBM2(HBMバージョン2、現在JEDECで議論中)、またはその他またはメモリ技術の組み合わせ、およびそのような仕様の派生物または拡張に基づく技術などのいくつかのメモリ技術と互換性があり得る。JEDEC規格は、www.jedec.orgで入手できる。
具体的に示されていないが、システム400は、メモリバス、グラフィックスバス、インターフェイスバスなどのデバイス間の1つまたは複数のバスまたはバスシステムを含むことができることが理解されるであろう。バスまたは他の信号線は、構成要素を互いに通信的または電気的に結合するか、または構成要素を通信的および電気的の両方で結合することができる。バスには、物理通信回線、ポイントツーポイント接続、ブリッジ、アダプタ、コントローラ、またはその他の電気回路、あるいはそれらの組み合わせを含めることができる。バスは例えば、システムバス、ペリフェラルコンポーネントインターコネクト(PCIe)バス、ハイパートランスポートまたは業界標準アーキテクチャ(ISA)バス、小型コンピュータシステムインターフェイス(SCSI)バス、リモートダイレクトメモリアクセス(RDMA)、インターネット小型コンピュータシステムインターフェイス(iSCSI)、NVMエクスプレス(NVMe)、コヒーレントアクセラレータインターフェイス(CXL)、コヒーレントアクセラレータプロセッサインターフェイス(CAPI)、ユニバーサルシリアルバス(USB)、または米国電気電子学会(IEEE)規格1394バスのうちの1つまたは複数を含むことができる。
一例では、システム400は、インターフェイス412に結合することができる、インターフェイス414を含む。一例では、インターフェイス414は、スタンドアロン構成要素および集積回路を含むことができるインターフェイス回路を表す。一例では、複数のユーザインターフェイス構成要素または周辺構成要素、あるいはその両方がインターフェイス414に結合する。ネットワークインターフェイス450は、システム400に、1つまたは複数のネットワークを介してリモートデバイス(例えば、サーバまたは他のコンピューティングデバイス)と通信する能力を提供する。ネットワークインターフェイス450は、イーサネット(登録商標)アダプタ、無線相互接続構成要素、セルラネットワーク相互接続構成要素、USB(ユニバーサルシリアルバス)、または他の有線または無線の標準ベースまたは専用インターフェイスを含むことができる。ネットワークインターフェイス450は、リモートデバイスにデータを送信でき、リモートデバイスは、メモリに格納されたデータを送信することを含むことができる。ネットワークインターフェイス450は、リモートデバイスからデータを受信でき、リモートデバイスは、受信したデータをメモリに格納することを含むことができる。様々な実施形態を、ネットワークインターフェイス450、プロセッサ410、およびメモリサブシステム420に関連して使用できる。
一例では、システム400は、1つまたは複数の入力/出力(I/O)インターフェイス460を含む。I/Oインターフェイス460は、ユーザがシステム400と相互作用する1つまたは複数のインターフェイス構成要素(例えば、音声、英数字、触覚/タッチ、または他のインターフェイス)を含むことができる。周辺インターフェイス470は、上記で具体的に言及されていない任意のハードウェアインターフェイスを含むことができる。周辺機器は一般に、システム400に依存して接続するデバイスを指す。依存接続とは、動作を実行し、ユーザが相互作用する、ソフトウェアプラットフォームまたはハードウェアプラットフォーム、あるいはその両方をシステム400が提供する接続である。
一例では、システム400は、データをが、不揮発的な方法で格納するための記憶装置サブシステム480を含む。一例では、特定のシステム実装で、記憶装置480の少なくとも特定の構成要素は、メモリサブシステム420の構成要素とオーバーラップすることができる。記憶装置サブシステム480は、1つまたは複数の磁気ディスク、ソリッドステートディスク、または光学ベースのディスク、またはそれらの組み合わせなど、不揮発性の方法で大量のデータを格納するための任意の従来の媒体とすることができるか、または含むことができる記憶装置484を含む。記憶装置484は、コードまたは命令およびデータ486を永続的状態で保持する(例えば、システム400への電力供給の遮断にかかわらず、値は保持される)。記憶装置484は、一般に「メモリ」であると考えることができるが、メモリ430は、典型的には、プロセッサ410に命令を提供する実行メモリまたは動作メモリである。記憶装置484は不揮発が、不揮発、メモリ430は揮発性メモリを含むことができる(例えば、システム400への電力供給が遮断された場合、データの値または状態は不定である)。一例では、記憶装置サブシステム480は、記憶装置484とインターフェイスするコントローラ482を含む。一例では、コントローラ482は、インターフェイス414またはプロセッサ410の物理的部分であるか、またはプロセッサ410およびインターフェイス414の両方に回路またはロジックを含むことができる。
不揮発性メモリ(NVM)デバイスは、デバイスへの電力供給が遮断された場合でも状態が確定しているメモリである。一実施形態では、NVMデバイスは、NAND技術などのブロックアドレス可能メモリデバイス、または、より具体的には、多閾値レベルNANDフラッシュメモリ(例えば、シングルレベルセル(「SLC」)、マルチレベルセル(「MLC」)、クアッドレベルセル(「QLC」)、トライレベルセル(「TLC」)、またはその他のNAND)を備えることができる。NVMデバイスは、バイトアドレス指定可能インプレース書き込み3次元クロスポイントメモリデバイス、または、シングルレベルまたはマルチレベル相変化メモリ(PCM)もしくはスイッチ付き相変化メモリ(PCMS)、カルコゲナイド相変化材料(例えば、カルコゲナイドガラス)を使用するNVMデバイス、金属酸化物ベース、酸素空孔ベースおよび導電性ブリッジランダムアクセスメモリ(CB-RAM)、ナノワイヤメモリ、強誘電体ランダムアクセスメモリ(FeRAM、FRAM(登録商標))、メモリスタ技術を組み込んだ磁気抵抗ランダムアクセスメモリ(MRAM)、スピントランスファトルク(STT)MRAM、スピントロニック磁気接合メモリベースデバイス、磁気トンネル接合(MTJ)ベースデバイス、DW(領域壁)およびSOT(スピンオービットトランスファ)ベースデバイス、サイリスタベースメモリデバイスを含む抵抗メモリ、または上記のいずれかの組み合わせ、またはその他のメモリなどの他のバイトアドレス指定可能インプレース書き込みNVMデバイス(永続メモリとも呼ばれる)を備えることもできる。
電源(図示せず)は、システム400の構成要素に電力を供給する。より具体的には、電源は、典型的には、システム400の構成要素に電力を供給するために、システム600の1つまたは複数の電力供給とインターフェイスする。一例では、電源は、壁コンセントに差し込むためのAC-DC(交流から直流)アダプタを含む。そのようなAC電力は、再生可能エネルギー(例えば、太陽光発電)電源とすることができる。一例では、電源は、外部AC-DCコンバータなどのDC電源を含む。一例では、電源または電力供給は、充電フィールドに近接して充電するための無線充電ハードウェアを含む。一例では、電源は、内部バッテリ、交流電源、モーションベース電源、太陽電池電源、または燃料電池電源を含むことができる。
一例では、システム400は、分離されたコンピューティングシステムとして実装できる。例えば、システム600は、相互接続されたプロセッサ、メモリ、ストレージ、ネットワークインターフェイス、および他の構成要素の計算スレッドで実装できる。PCIe、イーサネット、または光相互接続(または、それらの組み合わせ)などの高速相互接続を使用できる。例えば、スレッドは、主要なアーキテクチャコンピュータ構成要素をラックプラグ可能な構成要素(例えば、ラックプラグ可能な処理構成要素、ラックプラグ可能なメモリ構成要素、ラックプラグ可能なストレージ構成要素、ラックプラグ可能なアクセラレータ構成要素など)にモジュール化しようとする、オープンコンピュートプロジェクト(OCP)またはその他の分離されたコンピューティング作業によって公布された仕様に従って設計できる。
図5は、データセンタの例を示す。様々な実施形態を、図5のデータセンタ内、またはデータセンタと共に使用できる。図5に示すように、データセンタ500は、光ファブリック512を含み得る。光ファブリック512は、一般に、光信号媒体(光ケーブルなど)およびデータセンタ500内の任意の特定のスレッドがデータセンタ500内の他のスレッドに信号を送信する(およびデータセンタ500から信号を受信する)ことができる光スイッチングインフラストラクチャの組み合わせを含み得る。しかし、光、無線、および/または電気信号は、ファブリック512を使用して送信できる。光ファブリック512が任意の所与のスレッドに提供するシグナリング接続は、同じラック内の他のスレッドと他のラック内のスレッドの両方への接続を含み得る。データセンタ500は、4つのラック502A~502Dを含み、ラック502A~502Dは、スレッド504A-1および504A-2、504B-1および504B-2、504C-1および504C-2、ならびに504D-1および504D-2のそれぞれの対を収容する。したがって、この例では、データセンタ500は合計8つのスレッドを含む。光ファブリック512は、他の7つのスレッドのうちの1つまたは複数とのスレッドシグナリング接続を提供できる。例えば、光ファブリック512を介して、ラック502A内のスレッド504A-1は、ラック502A内のスレッド504A-2、ならびにデータセンタ500の他のラック502B、502C、および502Dに分散されている、他の6つのスレッド504B-1、504B-2、504C-1、504C-2、504D-1および504D-2とのシグナリング接続を有し得る。本実施形態は、この例に限定されない。例えば、ファブリック512は、光および/または電気信号を提供できる。
図6は、環境600が、それぞれがトップオブラック(ToR)スイッチ604、ポッドマネージャ606、および複数のプールされたシステムドロワを含む複数のコンピューティングラック602を含むことを示す。一般に、プールされたシステムドロワは、例えば、分離されたコンピューティングシステムを実行するために、プールされたコンピュータドロワおよびプールされたストレージドロワを含み得る。任意選択で、プールされたシステムドロワは、プールされたメモリドロワおよびプールされた入力/出力(I/O)ドロワも含み得る。図示の実施形態では、プールされたシステムドロワは、インテル(登録商標)XEON(登録商標)プールされたコンピュータドロワ608、およびインテル(登録商標)ATOM(商標)プールされたコンピュータドロワ210、プールされたストレージドロワ212、プールされたメモリドロワ214、およびプールされたI/Oドロワ616を含む。プールされたシステムドロワのそれぞれは、40ギガビット/秒(Gb/s)または100Gb/sイーサネットリンクまたは100Gb+/sシリコンフォトニクス(SiPh)光リンクなどの高速リンク618を介してToRスイッチ604に接続される。一実施形態では、高速リンク618は、800Gb/s SiPh光リンクを備える。
この場合も、ドロワは、主要なアーキテクチャコンピュータ構成要素をラックプラグ可能な構成要素(例えば、ラックプラグ可能な処理構成要素、ラックプラグ可能なメモリ構成要素、ラックプラグ可能なストレージ構成要素、ラックプラグ可能なアクセラレータ構成要素など)にモジュール化しようとする、オープンコンピュートプロジェクト(OCP)またはその他の分離されたコンピューティング作業によって公布された仕様に従って設計できる。
ネットワーク620への接続によって示されるように、複数のコンピューティングラック600は、それらのToRスイッチ604を介して(例えば、ポッドレベルスイッチまたはデータセンタスイッチに)相互接続され得る。いくつかの実施形態では、コンピューティングラック602のグループは、ポッドマネージャ606を介して別個のポッドとして管理される。一実施形態では、単一のポッドマネージャを使用して、ポッド内のすべてのラックを管理する。あるいは、分散ポッドマネージャをポッド管理操作に使用され得る。
マルチラック環境600は、RSD環境の様々な態様を管理するために使用される管理インターフェイス622をさらに含む。これは、ラック構成を管理することを含み、対応するパラメータは、ラック構成データ624として格納される。
本明細書の実施形態は、様々なタイプのコンピューティング、スマートフォン、タブレット、パーソナルコンピュータ、およびデータセンタおよび/またはサーバファーム環境で使用されるようなスイッチ、ルータなどネットワーク機器、ラック、およびブレードサーバに実装され得る。データセンタおよびサーバファームで使用されるサーバは、ラックベースサーバまたはブレードサーバなどのアレイサーバ構成を備える。これらのサーバは、プライベートイントラネットを形成するために、LAN間で適切なスイッチングおよびルーティング機能を使用してサーバのセットをローカルエリアネットワーク(LAN)内に分割するなど、様々なネットワークプロビジョニングを介する通信で相互接続される。例えば、クラウドホスティング施設は通常、多数のサーバを備えた大規模なデータセンタを採用し得る。ブレードは、サーバタイプの機能を実行するように構成される別個のコンピューティングプラットフォーム、すなわち、「カード上のサーバ」を備える。したがって、各ブレードは、適切な集積回路(IC)およびボードに取り付けられた他の構成要素を結合するための内部配線(例えば、バス)を提供するメインプリント回路基板(メインボード)を含む、従来のサーバに共通の構成要素を含む。
様々な例は、ハードウェア要素、ソフトウェア要素、または両方の組み合わせを使用して実装し得る。いくつかの例では、ハードウェア要素は、デバイス、構成要素、プロセッサ、マイクロプロセッサ、回路、回路要素(例えば、トランジスタ、レジスタ、コンデンサ、インダクタなど)、集積回路、ASIC、PLD、DSP、FPGA、メモリユニット、論理ゲート、レジスタ、半導体デバイス、チップ、マイクロチップ、チップセットなどを含み得る。いくつかの例では、ソフトウェア要素は、ソフトウェア構成要素、プログラム、アプリケーション、コンピュータプログラム、アプリケーションプログラム、システムプログラム、マシンプログラム、オペレーティングシステムソフトウェア、ミドルウェア、ファームウェア、ソフトウェアモジュール、ルーチン、サブルーチン、関数、方法、手順、ソフトウェアインターフェイス、API、命令セット、コンピューティングコード、コンピュータコード、コードセグメント、コンピュータコードセグメント、単語、値、記号、またはそれらの任意の組み合わせを含み得る。例がハードウェア要素および/またはソフトウェア要素を使用して実装されるかどうかの判断は、所与の実装に所望されるような、所望の計算速度、電力レベル、耐熱性、処理サイクルバジェット、入力データ速度、出力データ速度、メモリリソース、データバス速度およびその他の設計または性能の制約などのいくつもの要因によって異なり得る。ハードウェア、ファームウェア、および/またはソフトウェア要素は、本明細書では、総称して、または個別に「モジュール」、「ロジック」、「回路」、または「電気回路」と呼ばれ得ることに留意されたい。
いくつかの例は、製品または少なくとも1つのコンピュータ可読媒体を使用して実装され得るか、またはそれらとして実装され得る。コンピュータ可読媒体は、ロジックを格納するための非一時的記憶媒体を含み得る。いくつかの例では、非一時的記憶媒体は、揮発性メモリまたは不揮発性メモリ、取り外し可能または取り外し不可能なメモリ、消去可能または消去不可能なメモリ、書き込み可能または再書き込み可能なメモリなど、電子データを格納できる1つまたは複数のタイプのコンピュータ可読記憶媒体を含み得る。いくつかの例では、ロジックは、ソフトウェア構成要素、プログラム、アプリケーション、コンピュータプログラム、アプリケーションプログラム、システムプログラム、マシンプログラム、オペレーティングシステムソフトウェア、ミドルウェア、ファームウェア、ソフトウェアモジュール、ルーチン、サブルーチン、関数、方法、手順、ソフトウェアインターフェイス、API、命令セット、コンピューティングコード、コンピュータコード、コードセグメント、コンピュータコードセグメント、単語、値、記号、またはそれらの任意の組み合わせなどの様々なソフトウェア要素を含み得る。
いくつかの例によれば、コンピュータ可読媒体は、機械、コンピューティングデバイスまたはシステムによって実行されたときに、機械、コンピューティングデバイスまたはシステムに、記載された例に従った方法および/または操作を実行させる命令を格納または維持するための非一時的記憶媒体を含み得る。命令は、ソースコード、コンパイルされたコード、解釈されたコード、実行可能コード、静的コード、動的コードなどの任意の適切なタイプのコードを含み得る。命令は、特定の機能を実行するように機械、コンピューティングデバイス、またはシステムに指示するために、事前定義されたコンピュータ言語、方法、または構文に従って実施され得る。命令は、任意の適切な高水準、低水準、オブジェクト指向、ビジュアル、コンパイルされた、および/または解釈されたプログラミング言語を使用して実施され得る。
少なくとも1つの例の1つまたは複数の態様は、プロセッサ内の様々なロジックを表す少なくとも1つの機械可読媒体に格納された表現命令によって実装され得て、命令は、機械、コンピューティングデバイスまたはシステムによって読み取られると、機械、コンピューティングデバイスまたはシステムに、本明細書に記載の技術を実行するためのロジックを製作させる。「IPコア」として知られる、そのような表現は、有形の機械可読媒体に格納され、様々な顧客または製造施設に供給されて、実際にロジックまたはプロセッサを製造する製造機械にロードされ得る。
「一例」または「例」という句の出現は、必ずしもすべてが同じ例または実施形態を指すとは限らない。本明細書に記載の任意の態様は、態様が同じ図または要素に関して記載されているかどうかに関係なく、本明細書に記載されている他の任意の態様または同様の態様と組み合わせることができる。添付の図に示されるブロック機能の分割、省略、または包含は、これらの機能を実装するためのハードウェア構成要素、回路、ソフトウェア、および/または要素が、実施形態において必ずしも分割、省略、または包含されることを意味するものではない。
いくつかの例は、「結合された(coupled)」および「接続された(connected)」という表現とそれらの派生語を使用して説明され得る。これらの用語は、必ずしも互いの同義語として意図されているわけではない。例えば、「接続された(connected)」および/または「結合された(coupled)」という用語を使用する説明は、2つ以上の要素が互いに直接物理的または電気的に接触していることを示し得る。ただし、「結合された(coupled)」という用語は、2つ以上の要素が互いに直接接触していないが、それでも互いに協力または相互作用していることを意味し得る。
本明細書における「第1(first)」、「第2(second)」などの用語は、順序、数量、または重要性を示すのではなく、ある要素を別の要素から区別するために使用される。本明細書における「a」および「an」という用語は、数量の制限を示すものではなく、参照される項目のうちの少なくとも1つの存在を示すものである。信号に関して本明細書で使用される「アサートされた(asserted)」という用語は、信号がアクティブであり、論理0または論理1のいずれかの論理レベルを信号に適用することによって達成できる信号の状態を示す。「に続いて(follow)」または「の後に(after)」という用語は、他の何らかの1つまたは複数のイベントの直後または後に続くことを指し得る。代替の実施形態に従って、他の一連のステップも実行され得る。さらに、特定の用途に応じて、追加のステップが追加または削除され得る。変更の任意の組み合わせを使用でき、本開示の利点を有する当業者は、その多くの変形、修正、および代替の実施形態を理解するであろう。
特に明記しない限り、句「X、YまたはZのうちの少なくとも1つ」などの選言的な言葉は、項目、用語などがX、YもしくはZまたはそのいずれかの組み合わせ(例えば、X、Yおよび/またはZ)であってもよいことを示すために一般的に用いられるとして文脈の中で理解される。したがって、そのような選言的な言語は、特定の実施形態がXの少なくとも1つ、Yの少なくとも1つ、またはZの少なくとも1つがそれぞれ存在することを必要とすることを黙示することを一般的に意図しておらず、意図するべきではない。さらに、特に明記しない限り、句「X、Y、およびZの少なくとも1つ」などの接続詞は、X、Y、Z、または「X、Y、および/またはZ」を含むそれらの任意の組み合わせを意味すると理解されるべきである。
装置について説明してきた。本装置は、メモリモジュールの中心軸に沿ってコネクタを有するメモリモジュールを含む。メモリモジュールは、メモリモジュールの縁部とコネクタの側との間に存在するメモリモジュールの第1の領域に配置されたメモリチップの第1のセット、およびメモリモジュールの対向縁部とコネクタの対向測との間に存在する、メモリモジュールの第2の領域に配置されたメモリチップの第2のセットをさらに含む。
様々な実施形態では、メモリモジュールは、デュアルインラインメモリモジュール(DIMM)である。様々な実施形態では、メモリモジュールは、スモールアウトラインデュアルインメモリモジュール(SODIMM)である。様々な実施形態では、メモリチップの第1のセットは、メモリチャネルに結合される。様々な実施形態では、メモリチップの第2のセットは、メモリチャネルに結合される。様々な実施形態では、第2のメモリチャネルは、メモリモジュール上のメモリチップのランクに結合される。様々な実施形態では、メモリチップの第1のセットは、ECC情報を格納するランクの一部である。様々な実施形態では、メモリモジュールは、メモリモジュールの表面上に追加のメモリチップを有し、メモリチップの第1および第2のセットは、メモリモジュールの対面上にある。
コンピューティングシステムについて説明してきた。コンピューティングシステムは、第1のコネクタを有するマザーボードを含む。メモリモジュールは、メモリモジュールの中心軸に沿った第2のコネクタを含む。第1のコネクタは第2のコネクタに接続されている。メモリモジュールは、メモリモジュールの縁部とコネクタの側との間に存在するメモリモジュールの第1の領域に配置されたメモリチップの第1のセット、およびメモリモジュールの対向縁部とコネクタの対向測との間に存在する、メモリモジュールの第2の領域に配置されたメモリチップの第2のセットをさらに含む。
装置について説明する。装置は、プリント回路基板に接続するためのモジュールを備える。モジュールは、モジュールの中心軸に沿ったコネクタを含む。モジュールは、モジュールの縁部とコネクタの側との間に存在するモジュールの第1の領域に配置された第1の半導体チップ、およびモジュールの対向縁部とコネクタの対向測との間に存在する、モジュールの第2の領域に配置された第2の半導体チップをさらに含む。
[他の可能な項目]
(項目1)
メモリモジュールであって、上記メモリモジュールが、上記メモリモジュールの中心軸に沿ったコネクタを有し、上記メモリモジュールが、上記メモリモジュールの縁部と上記コネクタの側との間に存在する上記メモリモジュールの第1の領域に配置されたメモリチップの第1のセットと、上記メモリモジュールの対向縁部と上記コネクタの対向測との間に存在する、上記メモリモジュールの第2の領域に配置されたメモリチップの第2のセットとをさらに有する、メモリモジュール
を備える装置。
(項目2)
上記メモリモジュールが、デュアルインラインメモリモジュール(DIMM)である、項目1に記載の装置。
(項目3)
上記メモリチップの第1のセットがメモリチャネルに結合される、項目1に記載の装置。
(項目4)
上記メモリチップの上記第2のセットが上記メモリチャネルに結合される、項目3に記載の装置。
(項目5)
第2のメモリチャネルが、上記メモリモジュール上のメモリチップのランクに結合される、項目3に記載の装置。
(項目6)
上記メモリチップの第1のセットが、ECC情報を格納するランクの一部である、項目1に記載の装置。
(項目7)
上記メモリモジュールが、上記メモリモジュールの表面上に追加のメモリチップを有し、上記メモリモジュールの対面上に上記メモリチップの第1のセットおよび上記メモリチップの第2のセットを有する、項目1に記載の装置。
(項目8)
第1のコネクタを有するマザーボードと、
メモリモジュールであって、上記メモリモジュールが、上記メモリモジュールの中心軸に沿った第2のコネクタを有し、上記第1のコネクタが上記第2のコネクタに接続され、上記メモリモジュールが、上記メモリモジュールの縁部と上記第2のコネクタの側との間に存在する上記メモリモジュールの第1の領域に配置されたメモリチップの第1のセットと、上記メモリモジュールの対向縁部と上記第2のコネクタの対向測との間に存在する、上記メモリモジュールの第2の領域に配置されたメモリチップの第2のセットとをさらに有する、メモリモジュールと
を備える、コンピューティングシステム。
(項目9)
上記メモリモジュールが、デュアルインラインメモリモジュール(DIMM)である、項目8に記載のコンピューティングシステム。
(項目10)
上記メモリチップの第1のセットがメモリチャネルに結合される、項目8に記載のコンピューティングシステム。
(項目11)
上記メモリチップの第2のセットが上記メモリチャネルに結合される、項目10に記載のコンピューティングシステム。
(項目12)
第2のメモリチャネルが、上記メモリモジュール上のメモリチップのランクに結合される、項目10に記載のコンピューティングシステム。
(項目13)
上記メモリチップの第1のセットが、ECC情報を格納するランクの一部である、項目8に記載のコンピューティングシステム。
(項目14)
上記メモリモジュールが、上記メモリモジュールの表面上の追加のメモリチップ、上記メモリモジュールの対面上の上記メモリチップの第1のセットおよび上記メモリチップの第2のセットを有する、項目8に記載のコンピューティングシステム。
(項目15)
プリント回路基板に接続するモジュールであって、上記モジュールが、上記モジュールの中心軸に沿ったコネクタを有し、上記モジュールが、上記モジュールの縁部と上記コネクタの側との間に存在する上記モジュールの第1の領域に配置された第1の半導体チップと、上記モジュールの対向縁部と上記コネクタの対向測との間に存在する上記モジュールの第2の領域に配置された第2の半導体チップとをさらに有する、モジュール
を備える装置。
[他の可能な項目]
(項目1)
メモリモジュールであって、上記メモリモジュールが、上記メモリモジュールの中心軸に沿ったコネクタを有し、上記メモリモジュールが、上記メモリモジュールの縁部と上記コネクタの側との間に存在する上記メモリモジュールの第1の領域に配置されたメモリチップの第1のセットと、上記メモリモジュールの対向縁部と上記コネクタの対向測との間に存在する、上記メモリモジュールの第2の領域に配置されたメモリチップの第2のセットとをさらに有する、メモリモジュール
を備える装置。
(項目2)
上記メモリモジュールが、デュアルインラインメモリモジュール(DIMM)である、項目1に記載の装置。
(項目3)
上記メモリチップの第1のセットがメモリチャネルに結合される、項目1に記載の装置。
(項目4)
上記メモリチップの上記第2のセットが上記メモリチャネルに結合される、項目3に記載の装置。
(項目5)
第2のメモリチャネルが、上記メモリモジュール上のメモリチップのランクに結合される、項目3に記載の装置。
(項目6)
上記メモリチップの第1のセットが、ECC情報を格納するランクの一部である、項目1に記載の装置。
(項目7)
上記メモリモジュールが、上記メモリモジュールの表面上に追加のメモリチップを有し、上記メモリモジュールの対面上に上記メモリチップの第1のセットおよび上記メモリチップの第2のセットを有する、項目1に記載の装置。
(項目8)
第1のコネクタを有するマザーボードと、
メモリモジュールであって、上記メモリモジュールが、上記メモリモジュールの中心軸に沿った第2のコネクタを有し、上記第1のコネクタが上記第2のコネクタに接続され、上記メモリモジュールが、上記メモリモジュールの縁部と上記第2のコネクタの側との間に存在する上記メモリモジュールの第1の領域に配置されたメモリチップの第1のセットと、上記メモリモジュールの対向縁部と上記第2のコネクタの対向測との間に存在する、上記メモリモジュールの第2の領域に配置されたメモリチップの第2のセットとをさらに有する、メモリモジュールと
を備える、コンピューティングシステム。
(項目9)
上記メモリモジュールが、デュアルインラインメモリモジュール(DIMM)である、項目8に記載のコンピューティングシステム。
(項目10)
上記メモリチップの第1のセットがメモリチャネルに結合される、項目8に記載のコンピューティングシステム。
(項目11)
上記メモリチップの第2のセットが上記メモリチャネルに結合される、項目10に記載のコンピューティングシステム。
(項目12)
第2のメモリチャネルが、上記メモリモジュール上のメモリチップのランクに結合される、項目10に記載のコンピューティングシステム。
(項目13)
上記メモリチップの第1のセットが、ECC情報を格納するランクの一部である、項目8に記載のコンピューティングシステム。
(項目14)
上記メモリモジュールが、上記メモリモジュールの表面上の追加のメモリチップ、上記メモリモジュールの対面上の上記メモリチップの第1のセットおよび上記メモリチップの第2のセットを有する、項目8に記載のコンピューティングシステム。
(項目15)
プリント回路基板に接続するモジュールであって、上記モジュールが、上記モジュールの中心軸に沿ったコネクタを有し、上記モジュールが、上記モジュールの縁部と上記コネクタの側との間に存在する上記モジュールの第1の領域に配置された第1の半導体チップと、上記モジュールの対向縁部と上記コネクタの対向測との間に存在する上記モジュールの第2の領域に配置された第2の半導体チップとをさらに有する、モジュール
を備える装置。
Claims (10)
- メモリモジュールであって、前記メモリモジュールが、前記メモリモジュールの中心軸に沿ったコネクタを有し、前記メモリモジュールが、前記メモリモジュールの縁部と前記コネクタの側との間に存在する前記メモリモジュールの第1の領域に配置されたメモリチップの第1のセットと、前記メモリモジュールの対向縁部と前記コネクタの対向測との間に存在する、前記メモリモジュールの第2の領域に配置されたメモリチップの第2のセットとをさらに有する、メモリモジュール
を備える装置。 - 前記メモリモジュールが、デュアルインラインメモリモジュール(DIMM)である、請求項1に記載の装置。
- 前記メモリチップの第1のセットがメモリチャネルに結合される、請求項1に記載の装置。
- 前記メモリチップの前記第2のセットが前記メモリチャネルに結合される、請求項3に記載の装置。
- 第2のメモリチャネルが、前記メモリモジュール上のメモリチップのランクに結合される、請求項3に記載の装置。
- 前記メモリチップの第1のセットが、ECC情報を格納するランクの一部である、請求項1に記載の装置。
- 前記メモリモジュールが、前記メモリモジュールの表面上に追加のメモリチップを有し、前記メモリモジュールの対面上に前記メモリチップの第1のセットおよび前記メモリチップの第2のセットを有する、請求項1に記載の装置。
- 請求項1から5のいずれか1項の主題を備える、コンピューティングシステム。
- 請求項6または7の主題を備える、請求項8に記載のコンピューティングシステム。
- プリント回路基板に接続するモジュールであって、前記モジュールが、前記モジュールの中心軸に沿ったコネクタを有し、前記モジュールが、前記モジュールの縁部と前記コネクタの側との間に存在する前記モジュールの第1の領域に配置された第1の半導体チップと、前記モジュールの対向縁部と前記コネクタの対向測との間に存在する前記モジュールの第2の領域に配置された第2の半導体チップとをさらに有する、モジュール
を備える装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US17/132,504 US20210183410A1 (en) | 2020-12-23 | 2020-12-23 | Improved memory module that conserves motherboard wiring space |
US17/132,504 | 2020-12-23 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022100221A true JP2022100221A (ja) | 2022-07-05 |
Family
ID=76320528
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2021156032A Pending JP2022100221A (ja) | 2020-12-23 | 2021-09-24 | マザーボードの配線空間を節約する改良されたメモリモジュール |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20210183410A1 (ja) |
EP (1) | EP4020472B1 (ja) |
JP (1) | JP2022100221A (ja) |
KR (1) | KR20220091360A (ja) |
CN (1) | CN114664332A (ja) |
BR (1) | BR102021023462A2 (ja) |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6674648B2 (en) * | 2001-07-23 | 2004-01-06 | Intel Corporation | Termination cards and systems therefore |
US7227759B2 (en) * | 2004-04-01 | 2007-06-05 | Silicon Pipe, Inc. | Signal-segregating connector system |
KR100818621B1 (ko) * | 2006-08-11 | 2008-04-01 | 삼성전자주식회사 | 메모리 모듈, 메모리 모듈용 소켓 및 그를 구비한 메인보드 |
KR101811301B1 (ko) * | 2011-05-24 | 2017-12-26 | 삼성전자주식회사 | 반도체 패키지 |
US11500576B2 (en) * | 2017-08-26 | 2022-11-15 | Entrantech Inc. | Apparatus and architecture of non-volatile memory module in parallel configuration |
-
2020
- 2020-12-23 US US17/132,504 patent/US20210183410A1/en active Pending
-
2021
- 2021-09-22 EP EP21198388.7A patent/EP4020472B1/en active Active
- 2021-09-24 JP JP2021156032A patent/JP2022100221A/ja active Pending
- 2021-11-22 BR BR102021023462-8A patent/BR102021023462A2/pt unknown
- 2021-11-23 CN CN202111394259.5A patent/CN114664332A/zh active Pending
- 2021-11-23 KR KR1020210162147A patent/KR20220091360A/ko unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP4020472A1 (en) | 2022-06-29 |
EP4020472B1 (en) | 2024-04-03 |
BR102021023462A2 (pt) | 2023-02-14 |
KR20220091360A (ko) | 2022-06-30 |
US20210183410A1 (en) | 2021-06-17 |
CN114664332A (zh) | 2022-06-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20210149812A1 (en) | Network interface controller with eviction cache | |
US10917321B2 (en) | Disaggregated physical memory resources in a data center | |
CN116189728A (zh) | 在存储器插槽中支持多个存储器类型 | |
NL2032113B1 (en) | Stacked memory chip solution with reduced package inputs/outputs (i/os) | |
US20210286551A1 (en) | Data access ordering for writing-to or reading-from memory devices | |
US20210074333A1 (en) | Package pin pattern for device-to-device connection | |
US11960900B2 (en) | Technologies for fast booting with error-correcting code memory | |
NL2030962B1 (en) | Ground pin for device-to-device connection | |
NL2031894B1 (en) | Dimm socket with seating floor to meet both longer length edge contacts and shorter length edge contacts | |
US20210120670A1 (en) | Reduced vertical profile ejector for liquid cooled modules | |
JP2022100221A (ja) | マザーボードの配線空間を節約する改良されたメモリモジュール | |
US20210191811A1 (en) | Memory striping approach that interleaves sub protected data words | |
TW202225905A (zh) | 用於高輸入/輸出(i/o)計數封裝半導體晶片之裝載框架 | |
US20210279128A1 (en) | Buffer that supports burst transfers having parallel crc and data transmissions | |
US20210328370A1 (en) | Leaf spring for improved memory module that conserves motherboard wiring space | |
US20210286727A1 (en) | Dynamic random access memory (dram) with scalable meta data | |
US20220304142A1 (en) | Circuit board to reduce far end cross talk | |
NL2031930B1 (en) | Dual in-line memory module (dimm) socket that prevents improper dimm release | |
US20220077609A1 (en) | Memory module connector for thin computing systems | |
US20210407553A1 (en) | Method and apparatus for improved memory module supply current surge response | |
US20220102917A1 (en) | Pin configuration for device-to-device connection |