JP2022086455A - 検査装置、画像形成装置、及び検査プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】エッジ部の欠陥を検出する閾値を単に下げて正解画像と対象画像とを照合する場合に比べて、欠陥の検出精度を向上可能な検査装置、画像形成装置、及び検査プログラムを提供することを目的とする。【解決手段】正解画像取得部２０が正解画像を取得し、対象画像取得部２２が検査対象の対象画像を取得し、正解画像エッジ抽出部２４が正解画像のエッジ情報を抽出し、対象画像エッジ抽出部２６が対象画像のエッジ情報を抽出し、比較部２８が、正解画像と対象画像の差分画像を導出し、閾値設定部３０が、正解画像及び対象情報のエッジ情報、並びに、正解画像の明るさ情報を用いて欠陥を検出する閾値を設定し、欠陥検出部３２が、差分画像及び閾値を用いて対象画像の欠陥を検出する。【選択図】図２

Description

本発明は、検査装置、画像形成装置、及び検査プログラムに関する。

特許文献１には、複数の画像処理機能を有する画像形成装置によって紙面上に画像形成出力された画像を読み取った読取画像の検査を行う画像検査装置が提案されている。詳細には、画像検査装置は、出力対象画像の情報形式に応じた内容の画像処理を行って検査用画像を生成し、生成した検査用画像と読取画像との差分に基づいて読取画像の欠陥を判定することが提案されている。また、エッジを抽出し、エッジ部分について、検査用画像と読取画像との差分を許容する範囲を拡大するように閾値を変更することが提案されている。

特許第６００７６９０号公報

正解画像と検査対象の対象画像とを照合する際に、エッジ部の欠陥を検出する閾値を下げてしまうとエッジ部の欠陥を検出できない場合があった。そこで、本発明は、エッジ部の欠陥を検出する閾値を単に下げて正解画像と対象画像とを照合する場合に比べて、欠陥の検出精度を向上可能な検査装置、画像形成装置、及び検査プログラムを提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、第１態様に係る検査装置は、プロセッサを備え、前記プロセッサは、正解画像及び検査対象の対象画像の各々の画像情報を取得し、取得した画像情報を用いて前記正解画像及び前記対象画像の各々のエッジ情報を抽出し、前記正解画像と前記対象画像の差分画像を導出し、前記エッジ情報、並びに、前記正解画像の明るさ情報または色情報を用いて欠陥を検出する閾値を変更して、前記差分画像及び前記閾値を用いて前記対象画像の欠陥を検出する処理を行う。

また、第２態様に係る検査装置は、第１態様に係る検査装置において、前記プロセッサは、前記明るさ情報を用いる場合、前記正解画像及び前記対象画像のエッジの有無、並びに、前記正解画像の予め定めた明暗に応じて予め定めた閾値に変更する。

また、第３態様に係る検査装置は、第１態様に係る検査装置において、前記プロセッサは、前記色情報を用いる場合、前記正解画像及び前記対象画像のエッジの有無、並びに、前記色情報の色領域毎に予め定めた明暗に応じて予め定めた閾値に変更する。

また、第４態様に係る検査装置は、第１態様又は第３態様に係る検査装置において、前記プロセッサは、前記色情報を用いる場合、前記差分画像として色差を導出する。

また、第５態様に係る検査装置は、第１態様又は第４態様に係る検査装置において、前記プロセッサは、前記色情報を用いる場合、予め定めた特定の色のときに前記閾値を変更する。

また、第６態様に係る検査装置は、第１態様～第５態様の何れか１の態様に係る検査装置において、前記プロセッサは、前記正解画像及び前記対象画像のエッジの予め定めた範囲のエッジ周辺情報を更に用いて前記閾値を変更する。

また、第７態様に係る検査装置は、第１態様～第６態様の何れか１の態様に係る検査装置において、前記プロセッサは、前記正解画像のオブジェクト情報を更に用いて前記閾値を変更する。

また、第８態様に係る検査装置は、第１態様～第７態様の何れか１の態様に係る検査装置において、前記プロセッサは、前記正解画像のオブジェクト情報を用いて前記エッジ情報を抽出する際の抽出閾値を変更して前記エッジ情報を抽出する。

また、第９態様に係る検査装置は、第８態様に係る検査装置において、前記プロセッサは、オブジェクトの種類毎に予め定めた値の前記抽出閾値に変更する。

また、第１０態様に係る画像形成装置は、第１態様～第９態様の何れか１の態様に記載の検査装置と、予め生成した前記正解画像の画像情報を用いて記録媒体に画像を形成する画像形成部と、前記画像形成部によって画像が形成された前記記録媒体を読み取って前記対象画像の画像情報を生成する読取部と、を含む。

また、第１１態様に係る肩鎖プログラムは、コンピュータに、正解画像及び検査対象の対象画像の各々画像情報を取得し、取得した画像情報を用いて前記正解画像及び前記対象画像の各々のエッジ情報を抽出し、前記正解画像と前記対象画像の差分画像を導出し、前記エッジ情報、並びに、前記正解画像の明るさ情報または色情報を用いて欠陥を検出する閾値を変更して、前記差分画像及び前記閾値を用いて前記対象画像の欠陥を検出する処理を実行させる。

第１態様によれば、エッジ部の欠陥を検出する閾値を単に下げて正解画像と対象画像とを照合する場合に比べて、欠陥の検出精度を向上可能な検査装置を提供できる。

第２態様によれば、正解画像及び対象画像のエッジ情報、並びに、正解画像の明るさ情報を用いて欠陥を検出する閾値を変更することが可能となる。

第３態様によれば、正解画像及び対象画像のエッジ情報、並びに、正解画像の色情報を用いて欠陥を検出する閾値を変更することが可能となる。

第４態様によれば、色領域毎に欠陥を検出することが可能となる。

第５態様によれば、特定の色に対して閾値を変更することが可能となる。

第６態様によれば、エッジ情報のみを用いて閾値を変更する場合よりも欠陥の検出精度を向上することが可能となる。

第７態様によれば、エッジ情報のみを用いて閾値を変更する場合よりも欠陥の検出精度を向上することが可能となる。

第８態様によれば、正解画像のオブジェクトに合わせたエッジ情報の抽出が可能となる。

第９態様によれば、オブジェクトの種類に適したエッジ情報の抽出閾値に変更することが可能となる。

第１０態様によれば、エッジ部の欠陥を検出する閾値を単に下げて正解画像と対象画像とを照合する場合に比べて、欠陥の検出精度を向上可能な画像形成装置を提供できる。

第１１態様によれば、エッジ部の欠陥を検出する閾値を単に下げて正解画像と対象画像とを照合する場合に比べて、欠陥の検出精度を向上可能な検査プログラムを提供できる。

本実施形態に係る検査装置の概略構成を示す図である。 本実施形態に係る検査装置の機能構成を示す機能ブロック図である。 画像のエッジ近傍において、デジタル画像とアナログ画像の差によって発生する欠陥の誤検知を説明するための図である。 対象画像にしかエッジがない場合と、正解画像にある黒点や白点が印刷で消失してしまい対象画像にない場合を示す図である。 正解画像のエッジ部分の欠陥を検出する閾値を高くして欠陥を検出し難くする従来技術において、検出可能な欠陥と検出不可能な欠陥の例を示す図である。 本実施形態に係る検査装置で行われる処理の流れの一例を示すフローチャートである。 欠陥判定閾値設定処理の流れの一例を示すフローチャートである。 閾値テーブルの一例を示す図である。 明るさ判定のための、色領域毎に予め定めた判定閾値の一例を示す図である。 エッジ周辺の情報を用いる場合の閾値テーブルの一例を示す図である。 印刷装置及び読取装置の機能を備えた画像形成装置に本実施形態に係る検査装置を含む場合の画像形成装置の構成の一例を示すブロック図である。

以下、図面を参照して本発明の実施の形態の一例を詳細に説明する。図１は、本実施形態に係る検査装置の概略構成を示す図である。

本実施形態に係る検査装置１０は、正解画像と検査対象の画像とを比較して画像の欠陥を検査する処理を行う。なお、以降の説明では、検査対象の画像は対象画像と称する。

本実施形態における画像の欠陥の一例としては、対象画像の正解画像に対する画像の抜けや、ゴミなどによる画像の付与、画像のゆがみ等がある。また、正解画像は、本実施形態では、画像形成の基となるデジタルの画像情報（例えば、ＰＤＬ（ｐａｇｅ ｄｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ ｌａｎｇｕａｇｅ）ファイルをラスターイメージに変換／生成したもの）を正解画像とし、検査の対象画像は、正解画像の画像情報に基づく画像形成を行って用紙等の記録媒体を読み取ることによって得られる画像情報とする検査を行う検査装置１０を一例として説明する。なお、対象画像の欠陥のうち、正解画像にない画像が対象画像にある欠陥を付与と称し、正解画像にあって対象画像にない画像の欠陥を抜けと称する。

検査装置１０は、プロセッサの一例としてのＣＰＵ（Central Processing Unit）１０Ａ、ＲＯＭ（Read Only Memory）１０Ｂ、ＲＡＭ（Random Access Memory）１０Ｃ、ストレージ１０Ｄ、操作部１０Ｅ、表示部１０Ｆ、及び通信回線Ｉ／Ｆ（インタフェース）部１０Ｇを備えている。ＣＰＵ１０Ａは、検査装置１０の全体の動作を司る。ＲＯＭ１０Ｂは、各種制御プログラムや各種パラメータ等が予め記憶される。ＲＡＭ１０Ｃは、ＣＰＵ１０Ａによる各種プログラムの実行時のワークエリア等として用いられる。ストレージ１０Ｄは、各種のデータやアプリケーション・プログラム等が記憶される。操作部１０Ｅは各種の情報を入力するために用いられる。表示部１０Ｆは、各種の情報を表示するために用いられる。通信回線Ｉ／Ｆ部１０Ｇは、外部の機器に接続可能とされ、外部の機器と各種データの送受信を行う。以上の検査装置１０の各部はシステムバス１０Ｈにより電気的に相互に接続されている。なお、本実施の形態に係る検査装置１０では、ストレージ１０Ｄを記憶部として適用しているが、これに限らず、ハードディスクやフラッシュメモリ等の他の不揮発性の記憶部を適用してもよい。

以上の構成により、本実施の形態に係る検査装置１０は、ＣＰＵ１０Ａにより、ＲＯＭ１０Ｂ、ＲＡＭ１０Ｃ、及びストレージ１０Ｄに対するアクセス、操作部１０Ｅを介した各種データの取得、表示部１０Ｆに対する各種情報の表示を各々実行する。また、検査装置１０は、ＣＰＵ１０Ａにより、通信回線Ｉ／Ｆ部１０Ｇを介した各種データの送受信の制御を実行する。

ここで、検査装置１０のＣＰＵ１０ＡがＲＯＭ１０Ｂに記憶されたプログラムを実行することにより実現される機能構成について説明する。図２は、本実施形態に係る検査装置１０の機能構成を示す機能ブロック図である。

検査装置１０は、図２に示すように、正解画像取得部２０、対象画像取得部２２、正解画像エッジ抽出部２４、対象画像エッジ抽出部２６、比較部２８、閾値設定部３０、欠陥検出部３２、及び出力部３４の機能を有する。

正解画像取得部２０は、対象画像に対する基準となる正解画像を取得する。正解画像は、本実施形態では、印刷用画像生成装置１２が生成した正解画像の画像情報を取得する。

対象画像取得部２２は、検査の対象となる対象画像を取得する。対象画像は、本実施形態では、印刷用画像生成装置１２が生成した正解画像の画像情報に基づいて、印刷装置１４が画像形成した用紙等の記録媒体を読取装置１６が読み取ることによって得られる対象画像を表す画像情報を取得する。

正解画像エッジ抽出部２４は、正解画像取得部２０が取得した正解画像の画像情報に基づいて、エッジを抽出する処理を行ってエッジ情報を生成する。

対象画像エッジ抽出部２６は、対象画像取得部２２が取得した対象画像の画像情報に基づいて、エッジを抽出する処理を行ってエッジ情報を生成する。

比較部２８は、正解画像と対象画像を比較して画像の位置合わせを行うと共に、正解画像と対象画像の差分を算出することにより正解画像と対象画像の比較を行う。

閾値設定部３０は、正解画像と対象画像の差分画像から欠陥を検出するための閾値を設定する。本実施形態では、閾値設定部３０は、正解画像取得部２０が取得した正解画像の画像情報から正解画像の明るさ情報を取得する。また、正解画像エッジ抽出部２４及び対象画像エッジ抽出部２６の各々からエッジ情報を取得する。そして、正解画像及び対象画像のエッジ情報、並びに、正解画像の明るさ情報または色情報を用いて欠陥を検出する閾値を画素毎に変更して閾値を設定する。例えば、正解画像及び対象画像のエッジ情報、並びに、正解画像の明るさ情報または色情報に応じて予め定めた閾値を画素毎に設定する。或いは、エッジの有無、及び明暗の組み合わせに応じて予め定めた閾値を画素毎に設定してもよい。

欠陥検出部３２は、閾値設定部３０によって設定された閾値を用いて、正解画像と対象画像の差分画像に対して画素毎に欠陥の有無を判定する処理を行う。

出力部３４は、欠陥検出部３２の検出結果を取得して対象画像の欠陥の検出結果を出力する処理を行う。

ところで、本実施形態に係る検査装置１０のように、ＤＡ検査を行う場合、画像のエッジ近傍において、デジタル画像とアナログ画像の差によって欠陥の誤検知が発生しやすい。例えば、図３に示すように、正解画像のデジタル画像に対して、対象画像はアナログデータのため、エッジ部になまりが発生するので、正解画像と対象画像の差分を求めると、欠陥検出の閾値を超えてしまい、欠陥の誤検出が発生する場合があった。

従来技術では、正解画像のエッジ部分の欠陥を検出する閾値を高くして欠陥を検出し難くしていた。従来技術では、図４の上段に示すように、対象画像にしかエッジ（図４上段の点線部分）がない場合は、問題なく欠陥が検出される。一方、図４の下段に示すように、正解画像にある黒点や白点が、印刷で消失してしまい対象画像にない場合、エッジ部の閾値を一意に高くしてしまうと印刷での消失を検出できない。

具体的には、図５の上から１段目に示すように、点線で示すエッジ領域に画像の抜けや付与がない場合は、閾値を変更することで、エッジ部を欠陥として誤検出されることがなくなる。また、図５の上から２段目の点線の丸領域の黒点、及び図５の上から５段目の点線の丸領域の白点は、閾値が高くても検出される。

一方、図５の上から３、５段目の点線の丸領域のように、対象画像に印刷で発生した黒点や白点がエッジ領域近傍にある場合は、エッジの閾値を一意に高くすると欠陥が検出されない。

従って、エッジ部の閾値を一意に変更すると、正解画像にエッジがあった場合の抜け（例えば、点などの文字等）、埋まり（例えば、白抜き文字等）、エッジ近傍の明るい背景中の画像の抜け、及びエッジ近傍の暗い背景中の付与された画像などが検出されない場合がある。

そこで、本実施形態に係る検査装置１０は、正解画像及び対象画像のエッジ情報、並びに、正解画像の明るさ情報を用いて欠陥を検出する閾値を変更して、対象画像の欠陥を検出する処理を行う。すなわち、エッジ情報だけではなく、正解画像の明るさ情報を用いて欠陥検出の閾値を変更することにより、欠陥の検出精度を向上する。

これにより、図５の上から１段目に示すように、正解画像及び対象画像にエッジ部が存在する場合、エッジ情報だけではなく、正解画像の明るさ情報を用いて欠陥検出の閾値を変更することで、エッジ部の誤検知が軽減される。

また、図５の上から２段目以降に示すように、対象画像に印刷で発生した黒点や白点がエッジ近傍にある場合でも、本実施形態では、明るい領域は抜けの閾値を低めに設定し、暗い領域は付与の閾値を低めに設定することで、検出精度が向上される。

続いて、上述のように構成された本実施形態に係る検査装置１０で行われる具体的な処理について説明する。図６は、本実施形態に係る検査装置１０で行われる処理の流れの一例を示すフローチャートである。なお、図６の処理は、例えば、操作部１０Ｅ等の操作により、検査開始が指示された場合に開始する。

ステップ１００では、ＣＰＵ１０Ａが、正解画像を取得してステップ１０２へ移行する。すなわち、正解画像取得部２０が、印刷用画像生成装置１２が生成した正解画像の画像情報を取得する。

ステップ１０２では、ＣＰＵ１０Ａが、対象画像を取得してステップ１０４へ移行する。すなわち、対象画像取得部２２が、印刷用画像生成装置１２が生成した正解画像の画像情報に基づいて、印刷装置１４が画像形成した用紙等の記録媒体を読取装置１６が読み取ることによって得られる対象画像を表す画像情報を取得する。なお、ステップ１００とステップ１０２は逆の順序でもよい。

ステップ１０４では、ＣＰＵ１０Ａが、正解画像のエッジを抽出してステップ１０６へ移行する。すなわち、正解画像エッジ抽出部２４が、正解画像取得部２０が取得した正解画像の画像情報に基づいて、エッジを抽出する処理を行ってエッジ情報を生成する。

ステップ１０６では、ＣＰＵ１０Ａが、対象画像のエッジを抽出してステップ１０８へ移行する。すなわち、対象画像エッジ抽出部２６が、対象画像取得部２２が取得した対象画像の画像情報に基づいて、エッジを抽出する処理を行ってエッジ情報を生成する。なお、ステップ１０４とステップ１０６は逆の順序でもよい。

ステップ１０８では、ＣＰＵ１０Ａが、正解画像と対象画像の位置合わせを行ってステップ１１０へ移行する。すなわち、比較部２８が、正解画像と対象画像を比較して画像の位置合わせを行う。具体的には、画像の位置合わせは、正解画像と対象画像の全面を位置合わせする面処理でもよいし、画素毎に位置合わせする画素処理でもよいし、ブロック毎に分割してブロック毎に位置合わせするブロック処理でもよい。また、画像の位置合わせはステップ１００及びステップ１０２によって画像取得後に行ってもよい。

ステップ１１０では、ＣＰＵ１０Ａが、正解画像の明るさを判定してステップ１１２へ移行する。すなわち、閾値設定部３０が、正解画像取得部２０が取得した正解画像の画像情報から正解画像の明るさ情報を取得して明るさを判定する。正解画像の明るさの判定は、例えば、明度を０～１００として導出して、明度が５０より暗い場合は暗いと判定し、明度が５０以上の場合は明るいと判定する。

ステップ１１２では、ＣＰＵ１０Ａが、欠陥判定閾値設定処理を行ってステップ１１４へ移行する。すなわち、閾値設定部３０が、正解画像及び対象画像のエッジ情報、並びに、正解画像の明るさ情報または色情報を用いて欠陥を検出する閾値を画素毎に変更して閾値を設定する。本実施形態では、正解画像及び対象画像のエッジ情報、並びに正解画像の明るさ情報に応じて予め定めた閾値を画素毎に設定する処理を行う。なお、欠陥判定閾値設定処理の詳細については後述する。

ステップ１１４では、ＣＰＵ１０Ａが、正解画像と対象画像を比較してステップ１１６へ移行する。本実施形態では、比較部２８が、正解画像と対象画像の差分を算出することにより正解画像と対象画像の比較を行う。

ステップ１１６では、ＣＰＵ１０Ａが、欠陥判定を行ってステップ１１８へ移行する。すなわち、欠陥検出部３２が、正解画像と対象画像の比較結果に基づいて画像の欠陥の有無を判定する。欠陥判定は、ステップ１１２の欠陥判定閾値設定処理で設定された閾値を用いて、画像の欠陥の有無を判定する。

ステップ１１８では、ＣＰＵ１０Ａが、全画素について欠陥判定を終了したか否かを判定する。該判定が否定された場合にはステップ１１０に戻って他の画素について上述の処理を繰り返し、判定が肯定された場合にステップ１２０へ移行する。

ステップ１２０では、ＣＰＵ１０Ａが、対象画像の欠陥を判定した結果を出力して一連の処理を終了する。すなわち、出力部３４が、欠陥検出部３２の検出結果を取得して対象画像の欠陥の検出結果を出力する処理を行う。

続いて、上述の欠陥判定閾値設定処理について詳細に説明する。図７は、欠陥判定閾値設定処理の流れの一例を示すフローチャートである。

ステップ２００では、ＣＰＵ１０Ａが、正解画像が明るいか否かを判定する。該判定は、閾値設定部３０が、上述のステップ１１０の正解画像の明るさの判定結果に基づいて判定する。該判定が肯定された場合にはステップ２０２へ移行し、否定された場合にはステップ２１６へ移行する。

ステップ２０２では、ＣＰＵ１０Ａが、正解画像にエッジがあるか否かを判定する。該判定は、閾値設定部３０が、上述のステップ１０４で生成された正解画像のエッジ情報に基づいて、注目画像がエッジに該当するか否かを判定する。該判定が肯定された場合にはステップ２０４へ移行し、否定された場合にはステップ２１０へ移行する。

ステップ２０４では、ＣＰＵ１０Ａが、対象画像にエッジがあるか否かを判定する。該判定は、閾値設定部３０が、上述のステップ１０６で生成された対象画像のエッジ情報に基づいて、注目画素がエッジに該当するか否かを判定する。該判定が肯定された場合にはステップ２０６へ移行し、否定された場合にはステップ２０８へ移行する。

ステップ２０６では、ＣＰＵ１０Ａが、抜け閾値を予め定めた中低に設定し、付与閾値を予め定めた高に設定する。例えば、図８に示す予め定めた閾値テーブルに従って、閾値設定部３０が、抜け閾値を中低として定めた７５に設定し、付与閾値を高として定めた１５０に設定して図６のステップ１１４へ移行する。

ステップ２０８では、ＣＰＵ１０Ａが、抜け閾値を予め定めた中に設定し、付与閾値を予め定めた高に設定する。例えば、図８に示す予め定めた閾値テーブルに従って、閾値設定部３０が、抜け閾値を中として定めた１００に設定し、付与閾値を高として定めた１５０に設定して図６のステップ１１４へ移行する。

一方、ステップ２１０では、ＣＰＵ１０Ａが、対象画像にエッジがあるか否かを判定する。該判定は、閾値設定部３０が、上述のステップ１０６で生成された対象画像のエッジ情報に基づいて、注目画素がエッジに該当するか否かを判定する。該判定が肯定された場合にはステップ２１２へ移行し、否定された場合にはステップ２１４へ移行する。

ステップ２１２では、ＣＰＵ１０Ａが、抜け閾値を予め定めた低に設定し、付与閾値を予め定めた低に設定する。例えば、図８に示す予め定めた閾値テーブルに従って、閾値設定部３０が、抜け閾値を低として定めた５０に設定し、付与閾値を低として定めた５０に設定して図６のステップ１１４へ移行する。

ステップ２１４では、ＣＰＵ１０Ａが、抜け閾値を予め定めた中に設定し、付与閾値を予め定めた中に設定する。例えば、図８に示す予め定めた閾値テーブルに従って、閾値設定部３０が、抜け閾値を中として定めた１００に設定し、付与閾値を中として定めた１００に設定して図６のステップ１１４へ移行する。

一方、ステップ２１６では、ＣＰＵ１０Ａが、正解画像にエッジがあるか否かを判定する。該判定は、閾値設定部３０が、上述のステップ１０４で生成された正解画像のエッジ情報に基づいて、注目画像がエッジに該当するか否かを判定する。該判定が肯定された場合にはステップ２１８へ移行し、否定された場合にはステップ２２４へ移行する。

ステップ２１８では、ＣＰＵ１０Ａが、対象画像にエッジがあるか否かを判定する。該判定は、閾値設定部３０が、上述のステップ１０６で生成された対象画像のエッジ情報に基づいて、注目画素がエッジに該当するか否かを判定する。該判定が肯定された場合にはステップ２２０へ移行し、否定された場合にはステップ２２２へ移行する。

ステップ２２０では、ＣＰＵ１０Ａが、抜け閾値を予め定めた高に設定し、付与閾値を予め定めた中低に設定する。例えば、図８に示す予め定めた閾値テーブルに従って、閾値設定部３０が、抜け閾値を高として定めた１５０に設定し、付与閾値を中低として定めた７５に設定して図６のステップ１１４へ移行する。

ステップ２２２では、ＣＰＵ１０Ａが、抜け閾値を予め定めた高に設定し、付与閾値を予め定めた中に設定する。例えば、図８に示す予め定めた閾値テーブルに従って、閾値設定部３０が、抜け閾値を高として定めた１５０に設定し、付与閾値を中として定めた１００に設定して図６のステップ１１４へ移行する。

一方、ステップ２２４では、ＣＰＵ１０Ａが、対象画像にエッジがあるか否かを判定する。該判定は、閾値設定部３０が、上述のステップ１０６で生成された対象画像のエッジ情報に基づいて、注目画素がエッジに該当するか否かを判定する。該判定が肯定された場合にはステップ２２６へ移行し、否定された場合にはステップ２２８へ移行する。

ステップ２２６では、ＣＰＵ１０Ａが、抜け閾値を予め定めた低に設定し、付与閾値を予め定めた低に設定する。例えば、図８に示す予め定めた閾値テーブルに従って、閾値設定部３０が、抜け閾値を低として定めた５０に設定し、付与閾値を低として定めた５０に設定して図６のステップ１１４へ移行する。

ステップ２２８では、ＣＰＵ１０Ａが、抜け閾値を予め定めた中に設定し、付与閾値を予め定めた中に設定する。例えば、図８に示す予め定めた閾値テーブルに従って、閾値設定部３０が、抜け閾値を中として定めた１００に設定し、付与閾値を中として定めた１００に設定して図６のステップ１１４へ移行する。

なお、上記の実施形態では、正解画像及び対象画像のエッジ情報、並びに、正解画像の明るさ情報を用いて欠陥を検出する閾値を変更したが、明るさ情報の代わりに色情報を用いてもよい。ここで、色情報とは、明るさ情報が含まれるものとする。

色情報を用いる場合は、正解画像としては、例えば、ＲＩＰ（Raster Image Processor）画像を用いると共に、対象画像は、正解画像を印刷装置１４で印刷して、原稿を読取装置１６で読み取った画像を用いる。また、正解画像及び対象画像は、例えば、Ｌａｂ色空間を想定する。

そして、エッジ抽出は、Ｌの面もしくはＬａｂ全ての面で実施し、図６、７の処理における明るさの判定を色領域毎の明るさ判定に変更する。明るさの判定は、図９に示すように、色領域毎に予め定めた判定閾値を用いる。図９の例では、Ｙ（イエロー）領域は、Ｋ（黒）が５０％の明度と、Ｙが５０％の彩度とを結ぶ線を明暗の判定閾値としている。また、Ｍ（マゼンタ）領域は、Ｋが５０％の明度と、Ｍが５０％の彩度とを結ぶ線を明暗の判定閾値としている。また、Ｃ（シアン）領域は、Ｋが５０％の明度と、Ｃが５０％の彩度とを結ぶ線を明暗の閾値としている。

また、正解画像と対象画像を比較する場合の差分画像の算出は、色差ΔＥを用いて差分画像を算出して、上記の実施形態と同様に、欠陥判定を行う。

なお、この場合、予め定めた特定の色の場合に予め定めた閾値を変更してもよい。すなわち、予め定めた特定のＬａｂの値の時に閾値を変更してもよい。例えば、白だけ他の色より厳しい閾値に変更したり、赤だけ厳しい閾値に変更したり、青は緩い閾値に変更してもよい。

また、上記の実施形態では、正解画像及び対象画像のエッジ情報、並びに、正解画像の明るさ情報を用いて欠陥を検出する閾値を変更したが、エッジ情報に加えてエッジ周辺情報、及びオブジェクト情報の少なくとも一方を更に用いてもよい。エッジ周辺情報としては、例えば、エッジ部から数画素（例えば、１、２画素等）を拡張した領域の情報を用いる。エッジ部から拡張する画素数は、解像度に応じて変更してもよい。例えば、拡張する解像度が高いほど画素数を多くしてもよい。

上記実施形態に対してさらにエッジ周辺の情報を用いる場合には、図１０に示す閾値テーブルに従って閾値を変更する。図１０は、エッジ周辺の情報を用いる場合の閾値テーブルの一例を示す図である。

図１０の閾値テーブルの例では、正解画像のエッジがなし、拡張エッジがなし、対象画像のエッジがなし、拡張エッジがなし、かつ正解画像の明るさが明るい場合、抜けの閾値を１００、付与の閾値を１００に設定する。

また、正解画像のエッジがなし、拡張エッジがなし、対象画像のエッジがなし、拡張エッジがなし、かつ正解画像の明るさが暗い場合、抜けの閾値を１００、付与の閾値を１００に設定する。

また、正解画像のエッジがなし、拡張エッジがなし、対象画像のエッジがなし、拡張エッジがあり、かつ正解画像の明るさが明るい場合、抜けの閾値を７５、付与の閾値を７５に設定する。

また、正解画像のエッジがなし、拡張エッジがなし、対象画像のエッジがなし、拡張エッジがあり、かつ正解画像の明るさが暗い場合、抜けの閾値を７５、付与の閾値を７５に設定する。

また、正解画像のエッジがなし、拡張エッジがなし、対象画像のエッジがあり、拡張エッジがあり、かつ正解画像の明るさが明るい場合、抜けの閾値を５０、付与の閾値を５０に設定する。

また、正解画像のエッジがなし、拡張エッジがなし、対象画像のエッジがあり、拡張エッジがあり、かつ正解画像の明るさが暗い場合、抜けの閾値を５０、付与の閾値を５０に設定する。

また、正解画像のエッジがなし、拡張エッジがあり、対象画像のエッジがなし、拡張エッジがなし、かつ正解画像の明るさが明るい場合、抜けの閾値を１００、付与の閾値を１２５に設定する。

また、正解画像のエッジがなし、拡張エッジがあり、対象画像のエッジがなし、拡張エッジがなし、かつ正解画像の明るさが暗い場合、抜けの閾値を１２５、付与の閾値を１００に設定する。

また、正解画像のエッジがなし、拡張エッジがあり、対象画像のエッジがなし、拡張エッジがあり、かつ正解画像の明るさが明るい場合、抜けの閾値を８７．５、付与の閾値を１２５に設定する。

また、正解画像のエッジがなし、拡張エッジがあり、対象画像のエッジがなし、拡張エッジがあり、かつ正解画像の明るさが暗い場合、抜けの閾値を１２５、付与の閾値を８７．５に設定する。

また、正解画像のエッジがなし、拡張エッジがあり、対象画像のエッジがあり、拡張エッジがあり、かつ正解画像の明るさが明るい場合、抜けの閾値を８１．２５、付与の閾値を１３７．５に設定する。

また、正解画像のエッジがなし、拡張エッジがあり、対象画像のエッジがあり、拡張エッジがあり、かつ正解画像の明るさが暗い場合、抜けの閾値を１３７．５、付与の閾値を８１．２５に設定する。

また、正解画像のエッジがあり、拡張エッジがあり、対象画像のエッジがなし、拡張エッジがなし、かつ正解画像の明るさが明るい場合、抜けの閾値を１００、付与の閾値を１５０に設定する。

また、正解画像のエッジがあり、拡張エッジがあり、対象画像のエッジがなし、拡張エッジがなし、かつ正解画像の明るさが暗い場合、抜けの閾値を１５０、付与の閾値を１００に設定する。

また、正解画像のエッジがあり、拡張エッジがあり、対象画像のエッジがなし、拡張エッジがあり、かつ正解画像の明るさが明るい場合、抜けの閾値を８１．２５、付与の閾値を１３７．５に設定する。

また、正解画像のエッジがあり、拡張エッジがあり、対象画像のエッジがなし、拡張エッジがあり、かつ正解画像の明るさが暗い場合、抜けの閾値を１３７．５、付与の閾値を８１．２５に設定する。

また、正解画像のエッジがあり、拡張エッジがあり、対象画像のエッジがあり、拡張エッジがあり、かつ正解画像の明るさが明るい場合、抜けの閾値を７５、付与の閾値を１５０に設定する。

また、正解画像のエッジがあり、拡張エッジがあり、対象画像のエッジがあり、拡張エッジがあり、かつ正解画像の明るさが暗い場合、抜けの閾値を１５０、付与の閾値を７５に設定する。

また、エッジ情報に加えてオブジェクト情報を更に用いて閾値を変更する場合には、テキスト、グラフィック、イメージなどのオブジェクトの種類毎に予め定めた閾値を設定してもよい。例えば、テキスト、グラフィックは、イメージに比べてエッジ部で欠陥の誤検知が発生しやすいので、イメージに比べて高い閾値となるように設定して欠陥を検出し難くしてもよい。

なお、正解画像エッジ抽出部２４及び対象画像エッジ抽出部２６の各々において、エッジを抽出する際に、オブジェクト情報を用いてエッジを抽出する際の抽出閾値を変更してもよい。例えば、オブジェクトの種類毎に予め定めた値の抽出閾値に変更する。具体的には、オブジェクト情報がテキスト及びグラフィックの場合はエッジの抽出閾値を、イメージに比べて高めの閾値に設定し、イメージの場合はテキスト及びグラフィックよりも低めの閾値に設定する。これにより、オブジェクトに合わせたエッジ抽出が行われる。

また、本実施形態に係る検査装置１０は、印刷装置１４及び読取装置１６の機能を備えた画像形成装置に含む形態としてもよい。或いは、印刷装置１４または読取装置１６の機能を備えた画像形成装置に検査装置１０を含む形態としてもよい。

ここで、印刷装置１４及び読取装置１６の機能を備えた画像形成装置５０に検査装置１０を含む場合の画像形成装置の構成について説明する。図１１は、印刷装置１４及び読取装置１６の機能を備えた画像形成装置５０に本実施形態に係る検査装置１０を含む場合の画像形成装置の構成の一例を示すブロック図である。

図１１に示すように、画像形成装置５０は、表示操作部５２、制御部５４、画像生成部５６、形成部５８、及び排出部６０を含んでいる。

表示操作部５２は、液晶等の表示部と、画像形成に関する各種設定を行うための操作部と、を含んでいる。例えば、表示操作部５２を操作することにより、画像形成の各種条件や画像形成する記録媒体の種類等の各種設定が行われる。

制御部５４は、画像形成装置５０の各部を統括的に制御し、表示操作部５２に設定された内容に従って画像形成装置５０の各部を制御する。制御部５４は、例えば、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、及び入出力部を備えたマイクロコンピュータで構成されている。ＲＯＭには画像形成するための動作を制御するためのプログラムが予め記憶され、該プログラムをＲＡＭに展開してＣＰＵが実行することによって画像形成装置５０の各部の動作が制御される。

画像生成部５６は、原稿画像を読み取ることにより原稿画像を表す画像情報を生成する。或いは、外部のコンピュータから送信される画像情報を取得することにより、画像形成すべき原稿画像の画像情報を生成する。そして、画像生成部５６により生成された画像情報を正解画像として検査装置１０が取得する。

形成部５８は、給紙部６２、搬送部６４、画像処理部６６、画像形成部６８、定着部７０、及び読取部としての画像読取部７２を備えている。

給紙部６２は、記録媒体としての記録紙が収容され、記録紙を搬送部６４に供給する。給紙部６２には、例えば、ロール状に巻き取られた記録紙が収容され、記録紙が引き出されて搬送部に供給される。或いは、給紙部６２は、異なる大きさや種類の用紙を収容するための複数の収容部を備え、主要部から用紙が引き出されて搬送部に供給される。この場合は、表示操作部５２等で設定された用紙を各収容部から搬送部６４へ供給する。また、外部から画像情報を取得する場合には、外部より指定された種類の用紙を各収容部から搬送部６４へ供給する。

搬送部６４は、記録紙または用紙に画像を形成する位置へ給紙部６２より供給された記録紙または用紙を搬送し、画像形成された記録紙または用紙を排出部６０へ搬送する。

画像処理部６６は、画像生成部５６によって生成、または画像生成部５６が外部から受信した画像情報を受信して、画像形成部６８が処理するための画像処理を行って、画像処理後の画像情報を画像形成部６８へ出力する。

画像形成部６８は、画像処理部６６から画像情報を受け取って、画像情報が表す画像を記録紙または用紙に形成する。例えば、画像形成部６８は、電子写真方式を採用して画像を記録紙または用紙に転写するようにしてもよいし、インクジェット方式等を採用してインクを記録紙または用紙に吐出して画像を形成するようにしてもよい。

定着部７０は、画像を記録紙に定着させるための処理を行う。定着させるための処理としては、画像が形成された記録紙または用紙を加圧及び加熱の少なくとも一方の処理を施すことにより、画像を記録紙または用紙に定着させる。

画像読取部７２は、画像が形成された記録紙または用紙を読み取って、各種補正（例えば、位置ずれ補正、色補正等）を行うための画像情報を取得する。また、画像読取部７２が読み取ることによって得られる画像情報を検査装置１０が取得する。

また、排出部６０は、画像形成された記録紙をロール状に巻き取って収容する。或いは、画像形成された用紙を排出する。

なお、上記の実施形態では、画像形成の基となるデジタルの画像情報を正解画像 とし、検査の対象画像は、正解画像の画像情報に基づく画像形成を行って用紙等の記録媒体を読み取ることによって得られる画像情報とすることを一例として説明したが、デジタルの正解画像の代わりに、予め定めた基準の正解画像を読み取った画像情報を正解画像としたＡＡ（アナログ-アナログ）検査を行う検査装置に適用してもよい。

上記各実施形態において、プロセッサとは広義的なプロセッサを指し、汎用的なプロセッサ（例えば CPU： Central Processing Unit、等）や、専用のプロセッサ（例えばGPU： Graphics Processing Unit、ASIC： Application Specific Integrated Circuit、FPGA： Field Programmable Gate Array、プログラマブル論理デバイス、等）を含むものである。

また上記各実施形態におけるプロセッサの動作は、１つのプロセッサによって成すのみでなく、物理的に離れた位置に存在する複数のプロセッサが協働して成すものであってもよい。また、プロセッサの各動作の順序は上記各実施形態において記載した順序のみに限定されるものではなく、適宜変更してもよい。

また、上記の実施形態に係る検査装置１０で行われる処理は、ソフトウエアで行われる処理としてもよいし、ハードウエアで行われる処理としてもよいし、双方を組み合わせた処理としてもよい。また、検査装置１０の各部で行われる処理は、プログラムとして記憶媒体に記憶して流通させるようにしてもよい。

また、本発明は、上記に限定されるものでなく、上記以外にも、その主旨を逸脱しない範囲内において種々変形して実施可能であることは勿論である。

１０ 検査装置
１０Ａ ＣＰＵ
１２ 印刷用画像生成装置
１４ 印刷装置
１６ 読取装置
２０ 正解画像取得部
２２ 対象画像取得部
２４ 正解画像エッジ抽出部
２６ 対象画像エッジ抽出部
２８ 比較部
３０ 閾値設定部
３２ 欠陥検出部
５０ 画像形成装置
６８ 画像形成部
７２ 画像読取部

Claims (11)

1. プロセッサを備え、前記プロセッサは、
   正解画像及び検査対象の対象画像の各々の画像情報を取得し、
   取得した画像情報を用いて前記正解画像及び前記対象画像の各々のエッジ情報を抽出し、
   前記正解画像と前記対象画像の差分画像を導出し、
   前記エッジ情報、並びに、前記正解画像の明るさ情報または色情報を用いて欠陥を検出する閾値を変更して、前記差分画像及び前記閾値を用いて前記対象画像の欠陥を検出する処理を行う検査装置。
2. 前記プロセッサは、前記明るさ情報を用いる場合、前記正解画像及び前記対象画像のエッジの有無、並びに、前記正解画像の予め定めた明暗に応じて予め定めた閾値に変更する請求項１に記載の検査装置。
3. 前記プロセッサは、前記色情報を用いる場合、前記正解画像及び前記対象画像のエッジの有無、並びに、前記色情報の色領域毎に予め定めた明暗に応じて予め定めた閾値に変更する請求項１に記載の検査装置。
4. 前記プロセッサは、前記色情報を用いる場合、前記差分画像として色差を導出する請求項１又は請求項３に記載の検査装置。
5. 前記プロセッサは、前記色情報を用いる場合、予め定めた特定の色のときに前記閾値を変更する請求項１又は請求項４に記載の検査装置。
6. 前記プロセッサは、前記正解画像及び前記対象画像のエッジの予め定めた範囲のエッジ周辺情報を更に用いて前記閾値を変更する請求項１～５の何れか１項に記載の検査装置。
7. 前記プロセッサは、前記正解画像のオブジェクト情報を更に用いて前記閾値を変更する請求項１～６の何れか１項に記載の検査装置。
8. 前記プロセッサは、前記正解画像のオブジェクト情報を用いて前記エッジ情報を抽出する際の抽出閾値を変更して前記エッジ情報を抽出する請求項１～７の何れか１項に記載の検査装置。
9. 前記プロセッサは、オブジェクトの種類毎に予め定めた値の前記抽出閾値に変更する請求項８に記載の検査装置。
10. 請求項１～９の何れか１項に記載の検査装置と、
    予め生成した前記正解画像の画像情報を用いて記録媒体に画像を形成する画像形成部と、
    前記画像形成部によって画像が形成された前記記録媒体を読み取って前記対象画像の画像情報を生成する読取部と、
    を含む画像形成装置。
11. コンピュータに、
    正解画像及び検査対象の対象画像の各々画像情報を取得し、
    取得した画像情報を用いて前記正解画像及び前記対象画像の各々のエッジ情報を抽出し、
    前記正解画像と前記対象画像の差分画像を導出し、
    前記エッジ情報、並びに、前記正解画像の明るさ情報または色情報を用いて欠陥を検出する閾値を変更して、前記差分画像及び前記閾値を用いて前記対象画像の欠陥を検出する処理を実行させるための検査プログラム。

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