JP2022050038A - 接続試験機 - Google Patents

Abstract

【課題】 容易に端子の接続試験が可能な接続試験機を提供することである。【解決手段】 本実施形態に係る接続試験機は、信号供給部の第１出力端子に接続された第１入力端子と、デバイスの第２入力端子に接続された第２出力端子と、前記第１入力端子及び前記第２出力端子を接続する複数の配線と、前記複数の配線にそれぞれ設けられた複数のスイッチと、前記複数のスイッチのＯＮ／ＯＦＦのタイミングを制御する制御部と、を備える。【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、接続試験機に関する。

電子機器では、ＳＡＳ（Serial Attached SCSI）及びＳＡＴＡ（Serial Advanced Technology Attachment）等に対応するインターフェース（Ｉ／Ｆ）が使用されている。近年、電子機器、例えば、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）等のストレージデバイスは、ホットスワップに対応している。また、ホットスワップを実行するためには、ストレージデバイス及びストレージデバイスを接続する電子機器、例えば、ホスト等のデバイスと、デバイスのケーブル及びデバイスのコネクタ等の部品とのいずれもがホットスワップに対応している必要がある。しかし、意図せずホットスワップに非対応のデバイス及び部品が使用される場合もある。この場合、ホットプラグ時に発生する突入電流やオーバシュートによる過電圧によりデバイスの電子回路にダメージが蓄積し、素子が損傷する可能性もある。このような場合であっても、故障等なくデバイスが正常に動作するように、様々のパターンでコネクタの端子を接続する試験をする必要がある。コネクタを接続するスピードや接続時のコネクタの傾き等にバラつきが生じるため、人的にコネクタを接続してホットスワップを検証することは困難である。

特開２００２－１１６８８５号公報 米国特許第６５３２５５８号明細書 米国特許第１０１０１３６５号明細書 特開２００４－３３４６７２号公報

本発明の実施形態が解決しようとする課題は、容易に端子の接続試験が可能な接続試験機を提供することである。

本実施形態に係る接続試験機は、信号供給部の第１出力端子に接続された第１入力端子と、デバイスの第２入力端子に接続された第２出力端子と、前記第１入力端子及び前記第２出力端子を接続する複数の配線と、前記複数の配線にそれぞれ設けられた複数のスイッチと、前記複数のスイッチのＯＮ／ＯＦＦのタイミングを制御する制御部と、を備える。

図１は、第１実施形態に係る接続試験機の一例を示すブロック図である。 図２は、ホットスワップに対応する電子機器のＳＡＴＡ電源の出力端子と電子機器のＳＡＴＡ電源の入力端子との人的な接続タイミングの一例を示す模式図である。 図３は、ホットスワップに非対応な電子機器のＳＡＴＡ電源の出力端子と電子機器のＳＡＴＡ電源の入力端子とを人的に接続するタイミングの一例を示す模式図である。 図４は、第１実施形態に係る接続試験機の構成例を示す概要図である。 図５は、接続試験機と電子機器との電流及び電圧の測定方法の一例を示す概要図である。 図６は、接続試験機により疑似ホットプラグで電子機器が電気的に接続された場合の電子機器の状態の確認方法の一例を示す概要図である。 図７は、接続試験機により疑似ホットプラグで電子機器が電気的に接続された場合の電子機器の状態の確認方法の一例を示す概要図である。 図８は、変形例１に係る接続試験機の構成例を示す概要図である。 図９は、変形例２に係る接続試験機の構成例を示す概要図である。 図１０は、変形例３に係る接続試験機の構成例を示す概要図である。 図１１は、変形例４に係る接続試験機の構成例を示す概要図である。 図１２は、変形例５に係る接続試験機の構成例を示す概要図である。 図１３は、変形例６に係る接続試験機の構成例を示す概要図である。 図１４は、第２実施形態に係る接続試験機の一例を示すブロック図である。 図１５は、第２実施形態に係る接続試験機の構成例を示す概要図である。

以下、実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図面は、一例であって、発明の範囲を限定するものではない。
（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係る接続試験機２００の一例を示すブロック図である。接続試験機２００は、電子機器（電子装置又はデバイス）１００及び電子機器（電子装置又はデバイス）１に電気的に接続されている。図１に示した例では、接続試験機２００は、一端部に電子機器１００が接続され、一端部と反対側の他端部に電子機器１が接続されている。接続試験機２００は、電子機器を電気的に接続するタイミング（以下、接続タイミングと称する場合もある）を制御し、電子機器の接続状態の試験を実行する。接続試験機２００は、電子機器１００と電子機器１との電気的な接続タイミングを制御する。接続試験機２００は、電子機器１００のコネクタ（の端子）と電子機器１のコネクタ（の端子）との人的な接続タイミングに対応するように電子機器１００のコネクタと電子機器１のコネクタとの電気的な接続タイミングを制御する。言い換えると、接続試験機２００は、電子機器１００のコネクタ（の端子）と電子機器１のコネクタ（又は端子）との人的な接続タイミングを再現する。接続試験機２００は、電源を入れ稼働状態を保ったままコネクタ（の端子）等の着脱が可能なホットスワップに対応する電子機器１００のコネクタ（の端子）とホットスワップに対応する電子機器１のコネクタ（の端子）との人的な接続タイミングを再現する。接続試験機２００は、ホットスワップに非対応な電子機器１００とホットスワップに非対応な電子機器１との人的な接続タイミングを再現可能であってもよい。

電子機器１は、例えば、磁気ディスク装置（Hard Disk Drive：ＨＤＤ）及びメモリ装置（Solid State Drive：ＳＳＤ）等のストレージデバイスである。なお、電子機器１は、ストレージデバイス以外の電子機器であってもよい。電子機器１は、例えば、ホットスワップに対応する。電子機器１がホットスワップに対応している場合、電子機器１の各部品も、ホットスワップに対応する。電子機器１は、例えば、Serial Attached SCSI(SAS)（登録商標）及びSerial Advanced Technology Attachment(SATA)（登録商標）等に対応するインターフェース（Ｉ／Ｆ）を有する。例えば、電子機器１は、ＳＡＴＡ電源コネクタを有する。なお、電子機器１は、ホットスワップに非対応であってもよい。電子機器１がホットスワップに非対応である場合、電子機器１の各部品も、ホットスワップに非対応である。また、電子機器１は、ホットスワップに対応及び非対応に依らず、物理的にホットスワップが可能に形成されていてもよい。

電子機器１００は、例えば、ホストシステム（以下、単に、ホストと称する場合もある）、パーソナルコンピュータやスーパーコンピュータ等のコンピュータ、タブレット端末、スマートフォン、及びサーバー等である。電子機器１００は、例えば、ホットスワップに対応する。電子機器１００がホットスワップに対応している場合、電子機器１００の各部品も、ホットスワップに対応する。電子機器１００は、例えば、ＳＡＳ及びＳＡＴＡ等に対応するインターフェース（Ｉ／Ｆ）を有する。例えば、電子機器１００は、ＳＡＴＡ電源コネクタを有する。なお、電子機器１００は、ホットスワップに非対応であってもよい。電子機器１００がホットスワップに非対応である場合、電子機器１００の各部品も、ホットスワップに非対応である。また、電子機器１００は、ホットスワップに対応及び非対応に依らず、物理的にホットスワップが可能に形成されていてもよい。

図２は、ホットスワップに対応する電子機器１００のＳＡＴＡ電源の出力端子ＯＴ１と電子機器１のＳＡＴＡ電源の入力端子ＩＴ３との人的な接続タイミングの一例を示す模式図である。図２には、ホットスワップに対応する電子機器１００のＳＡＴＡ電源の出力端子ＯＴ１とホットスワップに対応する電子機器１のＳＡＴＡ電源の入力端子ＩＴ３とを示している。図２では、出力端子ＯＴ１は、１５本のピンを有している。出力端子ＯＴ１は、３．３Ｖの電圧に対応する（１）、（２）、及び（３）のピンと、グランド（ＧＮＤ）に対応する（４）、（５）、及び（６）のピンと、５Ｖの電圧に対応する（７）、（８）、及び（９）のピンと、グランド（ＧＮＤ）に対応する（１０）、（１１）、及び（１２）のピンと、１２Ｖに対応する（１３）、（１４）、及び（１５）のピンと、を含む。図２において、（３）、（７）、及び（１３）のピンは、それぞれ、プリチャージ抵抗に接続されている。（４）及び（１２）のピンの長さは、他のピンの長さよりも長い。図２では、入力端子ＩＴ３は、出力端子ＯＴ１の１５ピンにそれぞれ対応する１５本のピンを有している。出力端子ＯＴ１の（３）、（４）、（５）、（６）、（７）、（１０）、（１２）、及び（１３）にそれぞれ対向する入力端子ＩＴ３の複数のピンの長さは、他のピンの長さよりも長い。

図２には、ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを標準的に挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触（又は接続）タイミングを示すパターン（１ａ）を示している。ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを標準的に挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ａ）において、低いパターンに対応する解放（非接続、切断又はＯＦＦ）の状態から高いパターンに対応する接触（接続又はＯＮ）の状態に立ち上がったタイミングで出力端子ＯＴ１のピンと入力端子ＩＴ３のピンとが接触（接続）する。

図２には、ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とをゆっくり挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触（又は接続）タイミングを示すパターン（１ｂ）を示している。ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とをゆっくり挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ｂ）において、低いパターンに対応する解放（非接続、切断又はＯＦＦ）の状態から高いパターンに対応する接触（接続又はＯＮ）の状態に立ち上がったタイミングで出力端子ＯＴ１のピンと入力端子ＩＴ３のピンとが接触（接続）する。ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とをゆっくり挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ｂ）において、点線のパターンは、ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを標準的に挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ａ）を示している。

図２には、ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを速く挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触（又は接続）タイミングを示すパターン（１ｃ）を示している。ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを速く挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ｃ）において、低いパターンに対応する解放（非接続、切断又はＯＦＦ）の状態から高いパターンに対応する接触（接続又はＯＮ）の状態に立ち上がったタイミングで出力端子ＯＴ１のピンと入力端子ＩＴ３のピンとが接触（接続）する。ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを速く挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ｃ）において、点線のパターンは、ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを標準的に挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ａ）を示している。

図２には、ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを右斜めに傾けて挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触（又は接続）タイミングを示すパターン（１ｄ）を示している。ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを右斜めに傾けて挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ｄ）において、低いパターンに対応する解放（非接続、切断又はＯＦＦ）の状態から高いパターンに対応する接触（接続又はＯＮ）の状態に立ち上がったタイミングで出力端子ＯＴ１のピンと入力端子ＩＴ３のピンとが接触（接続）する。ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを右斜めに傾けて挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ｄ）において、点線のパターンは、ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを標準的に挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ａ）を示している。

図２には、ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを左斜めに傾けて挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触（又は接続）タイミングを示すパターン（１ｅ）を示している。ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを左斜めに傾けて挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ｅ）において、低いパターンに対応する解放（非接続、切断又はＯＦＦ）の状態から高いパターンに対応する接触（接続又はＯＮ）の状態に立ち上がったタイミングで出力端子ＯＴ１のピンと入力端子ＩＴ３のピンとが接触（接続）する。ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを左斜めに傾けて挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ｅ）において、点線のパターンは、ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを標準的に挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ａ）を示している。

図２には、ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを一部の接触（接続）が異物の混入等により阻害された状態で挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触（又は接続）タイミングを示すパターン（１ｆ）を示している。ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを一部の接触（接続）が阻害された状態で挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ｆ）において、低いパターンに対応する解放（非接続、切断又はＯＦＦ）の状態から高いパターンに対応する接触（接続又はＯＮ）の状態に立ち上がったタイミングで出力端子ＯＴ１のピンと入力端子ＩＴ３のピンとが接触（接続）する。ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを一部の接触（接続）が阻害された状態で挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ｆ）において、点線のパターンは、ホットスワップに対応する出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを標準的に挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（１ａ）を示している。

図３は、ホットスワップに非対応な電子機器１００のＳＡＴＡ電源の出力端子ＯＴ１と電子機器１のＳＡＴＡ電源の入力端子ＩＴ３とを人的に接続するタイミングの一例を示す模式図である。図３には、ホットスワップに非対応な電子機器１００のＳＡＴＡ電源の出力端子ＯＴ１とホットスワップに非対応な電子機器１のＳＡＴＡ電源の入力端子ＩＴ３とを示している。図３では、出力端子ＯＴ１は、１５本のピンを有している。図３において、出力端子ＯＴ１の１５本のピンの長さは、同じである。

図３には、ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを標準的に挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触（又は接続）タイミングを示すパターン（２ａ）を示している。ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを標準的に挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ａ）において、低いパターンに対応する解放（非接続、切断又はＯＦＦ）の状態から高いパターンに対応する接触（接続又はＯＮ）の状態に立ち上がったタイミングで出力端子ＯＴ１のピンと入力端子ＩＴ３のピンとが接触（接続）する。

図３には、ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とをゆっくり挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触（又は接続）タイミングを示すパターン（２ｂ）を示している。出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とをゆっくり挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ｂ）において、低いパターンに対応する解放（非接続、切断又はＯＦＦ）の状態から高いパターンに対応する接触（接続又はＯＮ）の状態に立ち上がったタイミングで出力端子ＯＴ１のピンと入力端子ＩＴ３のピンとが接触（接続）する。ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とをゆっくり挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ｂ）において、点線のパターンは、ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを標準的に挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ａ）を示している。

図３には、ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを速く挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触（又は接続）タイミングを示すパターン（２ｃ）を示している。ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを速く挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ｃ）において、低いパターンに対応する解放（非接続、切断又はＯＦＦ）の状態から高いパターンに対応する接触（接続又はＯＮ）の状態に立ち上がったタイミングで出力端子ＯＴ１のピンと入力端子ＩＴ３のピンとが接触（接続）する。ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを速く挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ｃ）において、点線のパターンは、ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを標準的に挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ａ）を示している。

図３には、ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを右斜めに傾けて挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触（又は接続）タイミングを示すパターン（２ｄ）を示している。出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを右斜めに傾けて挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ｄ）において、低いパターンに対応する解放（非接続、切断又はＯＦＦ）の状態から高いパターンに対応する接触（接続又はＯＮ）の状態に立ち上がったタイミングで出力端子ＯＴ１のピンと入力端子ＩＴ３のピンとが接触（接続）する。ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを右斜めに傾けて挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ｄ）において、点線のパターンは、ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを標準的に挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ａ）を示している。

図３には、ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを左斜めに傾けて挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触（又は接続）タイミングを示すパターン（２ｅ）を示している。出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを左斜めに傾けて挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ｅ）において、低いパターンに対応する解放（非接続、切断又はＯＦＦ）の状態から高いパターンに対応する接触（接続又はＯＮ）の状態に立ち上がったタイミングで出力端子ＯＴ１のピンと入力端子ＩＴ３のピンとが接触（接続）する。ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを左斜めに傾けて挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ｅ）において、点線のパターンは、ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを標準的に挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ａ）を示している。

図３には、ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを一部の接触（接続）が異物の混入等により阻害された状態で挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触（又は接続）タイミングを示すパターン（２ｆ）を示している。ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを一部の接触（接続）が阻害された状態で挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ｆ）において、低いパターンに対応する解放（非接続、切断又はＯＦＦ）の状態から高いパターンに対応する接触（接続又はＯＮ）の状態に立ち上がったタイミングで出力端子ＯＴ１のピンと入力端子ＩＴ３のピンとが接触（接続）する。ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを一部の接触（接続）が阻害された状態で挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ｆ）において、点線のパターンは、ホットスワップに非対応な出力端子ＯＴ１と入力端子ＩＴ３とを標準的に挿入した場合の出力端子ＯＴ１の各ピンと入力端子ＩＴ３の各ピンとの接触タイミングを示すパターン（２ａ）を示している。

図４は、本実施形態に係る接続試験機２００の構成例を示す概要図である。
電子機器１００は、信号供給ブロック１０１と、出力端子ＯＴ１とを有する。信号供給ブロック１０１は、信号又は電源を供給する。例えば、信号供給ブロック１０１は、電源（電圧若しくは電流）を供給する。信号供給ブロック１０１は、ＧＮＤ及び電源に接続されている複数の配線（又は信号線）を含む配線群（又は信号線群）ＷＲＧ１を含む。図４に示した例では、配線群ＷＲＧ１は、３．３Ｖの電源に接続された複数の配線、例えば、３本の配線を含む配線群ＷＲＧ１１と、５Ｖの電源に接続された複数の配線、例えば、３本の配線を含む配線群ＷＲＧ１２と、１２Ｖの電源に接続された複数の配線、例えば、３本の配線を含む配線群ＷＲＧ１３と、ＧＮＤに接続された複数の配線、例えば、６本の配線を含む配線群ＷＲＧＧ１と、を有する。図４に示した例では、配線群ＷＲＧ１１の内の１つの配線ＷＲＰ１１は、プリチャージ抵抗ＰＣが設けられている。配線群ＷＲＧ１２の内の１つの配線ＷＲＰ１２は、プリチャージ抵抗ＰＣが設けられている。配線群ＷＲＧ１３の内の１つの配線ＷＲＰ１３は、プリチャージ抵抗ＰＣが設けられている。配線群ＷＲＧ１１、ＷＲＧ１２、ＷＲＧ１３、及びＷＲＧＧ１は、それぞれ、出力端子ＯＴ１に電気的に接続されている。

出力端子ＯＴ１は、配線群ＷＲＧ１１の各配線に接続された各ピン（以下、配線群ＷＲＧ１１に対応する各出力ピンと称する場合もある）と、配線群ＷＲＧ１２の各配線に接続された各ピン（以下、配線群ＷＲＧ１２に対応する各出力ピンと称する場合もある）と、配線群ＷＲＧ１３の各配線に接続された各ピン（以下、配線群ＷＲＧ１３に対応する各出力ピンと称する場合もある）と、配線群ＷＲＧＧ１の各配線に接続された各ピン（以下、配線群ＷＲＧＧ１に対応する各出力ピンと称する場合もある）と、を含む。

電子機器１は、入力端子ＩＴ３を有する。入力端子ＩＴ３は、ピンＰ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６、Ｐ７、Ｐ８、Ｐ９、Ｐ１０、Ｐ１１、Ｐ１２、Ｐ１３、Ｐ１４、及びＰ１５を含む。

接続試験機２００は、スイッチアレイブロック２０１と、入力端子ＩＴ２と、出力端子ＯＴ２と、タイミング制御装置２０２とを備えている。なお、タイミング制御装置２０２は、接続試験機２００と別体として設けられていてもよい。

スイッチアレイブロック２０１は、複数の配線、例えば、１５本の配線を含む配線群ＷＲＧ２と、スイッチ（又は、複数のスイッチを含むスイッチ群）Ｓ１と、を有する。配線群ＷＲＧ２は、配線群ＷＲＧ１に電気的に接続される。配線群ＷＲＧ２は、配線群ＷＲＧ１１に電気的に接続される配線群ＷＲＧ２１と、配線群ＷＲＧ１２に電気的に接続される配線群ＷＲＧ２２と、配線群ＷＲＧ１３に電気的に接続される配線群ＷＲＧ２３と、配線群ＷＲＧＧ１に電気的に接続される配線群ＷＲＧＧ２とを含む。スイッチＳ１は、切断及び接続（開閉）することで信号又は電気のＯＮ／ＯＦＦを切り替える。スイッチＳ１は、例えば、リレー素子を含む。スイッチＳ１は、切断されている場合又は開いている場合、信号又は電気の通信又は通電をＯＦＦにし、接続している場合又は閉じている場合、信号又は電気の通信又は通電をＯＮにする。図４に示した例では、スイッチＳ１は、配線群ＷＲＧ２の各配線に設けられ、配線群ＷＲＧ２の各配線の信号又は電気の通信又は通電のＯＮ／ＯＦＦを切り替える。

入力端子ＩＴ２は、出力端子ＯＴ１に接続される。入力端子ＩＴ２は、配線群ＷＲＧ２１の各配線に接続された各ピン（以下、配線群ＷＲＧ２１に対応する各入力ピンと称する場合もある）と、配線群ＷＲＧ２２の各配線に接続された各ピン（以下、配線群ＷＲＧ２２に対応する各入力ピンと称する場合もある）と、配線群ＷＲＧ２３の各配線に接続された各ピン（以下、配線群ＷＲＧ２３に対応する各入力ピンと称する場合もある）と、配線群ＷＲＧＧ２の各配線に接続された各ピン（以下、配線群ＷＲＧＧ２に対応する各入力ピンと称する場合もある）と、を含む。入力端子ＩＴ２が出力端子ＯＴ１に接続された場合、配線群ＷＲＧ２１に対応する各入力ピンは、配線群ＷＲＧ１１に対応する各出力ピンに電気的に接続されている。入力端子ＩＴ２が出力端子ＯＴ１に接続された場合、配線群ＷＲＧ２２に対応する各入力ピンは、配線群ＷＲＧ１２に対応する各出力ピンに電気的に接続されている。入力端子ＩＴ２が出力端子ＯＴ１に接続された場合、配線群ＷＲＧ２３に対応する各入力ピンは、配線群ＷＲＧ１３に対応する各出力ピンに電気的に接続されている。入力端子ＩＴ２が出力端子ＯＴ１に接続された場合、配線群ＷＲＧＧ２に対応する各入力ピンは、配線群ＷＲＧＧ１に対応する各出力ピンに電気的に接続されている。

出力端子ＯＴ２は、入力端子ＩＴ３に接続される。出力端子ＯＴ２は、配線群ＷＲＧ２１の各配線に接続された各ピン（以下、配線群ＷＲＧ２１に対応する各出力ピンと称する場合もある）と、配線群ＷＲＧ２２の各配線に接続された各ピン（以下、配線群ＷＲＧ２２に対応する各出力ピンと称する場合もある）と、配線群ＷＲＧ２３の各配線に接続された各ピン（以下、配線群ＷＲＧ２３に対応する各出力ピンと称する場合もある）と、配線群ＷＲＧＧ２の各配線に接続された各ピン（以下、配線群ＷＲＧＧ２に対応する各出力ピンと称する場合もある）と、を含む。出力端子ＯＴ２が入力端子ＩＴ３に接続された場合、配線群ＷＲＧ２１に対応する各出力ピンは、ピンＰ１、Ｐ２、及びＰ３に電気的に接続されている。出力端子ＯＴ２が入力端子ＩＴ３に接続された場合、配線群ＷＲＧ２２に対応する各出力ピンは、ピンＰ７、Ｐ８、及びＰ９に電気的に接続されている。出力端子ＯＴ２が入力端子ＩＴ３に接続された場合、配線群ＷＲＧ２３に対応する各出力ピンは、ピンＰ１３、Ｐ１４、及びＰ１５に電気的に接続されている。出力端子ＯＴ２が入力端子ＩＴ３に接続された場合、配線群ＷＲＧＧに対応する各出力ピンは、ピンＰ４、Ｐ５、Ｐ６、Ｐ１０、Ｐ１１、及びＰ１２に電気的に接続されている。

タイミング制御装置２０２は、接続タイミングを制御する。タイミング制御部２０２は、ホットスワップに対応する電子機器１の入力端子ＩＴ３と電子機器１００の出力端子ＯＴ１とを人的に接続する接続タイミングを再現する。例えば、タイミング制御部２０２は、図２に示した（1ａ）乃至（１ｆ）の接触（又は接続）タイミングのパターンを再現する。タイミング制御部２０２は、ホットスワップに非対応の電子機器１の入力端子ＩＴ３と電子機器１００の出力端子ＯＴ１とを人的に接続する接続タイミングを再現する。例えば、タイミング制御部２０２は、図３に示した（２ａ）乃至（２ｆ）の接触（又は接続）タイミングのパターンを再現する。なお、タイミング制御装置２０２は、図２に示した（1ａ）乃至（１ｆ）の接触（又は接続）タイミングのパターン、及び図３に示した（２ａ）乃至（２ｆ）の接触（又は接続）タイミングのパターン以外の電子機器１の入力端子ＩＴ３と電子機器１００の出力端子ＯＴ１とを接続する接続タイミングのパターンを再現可能であってもよい。タイミング制御装置２０２は、例えば、パーソナルコンピュータである。

図４に示した例では、タイミング制御装置２０２は、複数のスイッチＳ１に電気的に配線等により接続され、複数のスイッチＳ１の切断及び接続（開閉又はＯＮ／ＯＦＦ）を制御する。タイミング制御装置２０２は、複数のスイッチＳ１のＯＮ／ＯＦＦを制御することにより、電子機器１の入力端子ＩＴ３と電子機器１００の出力端子ＯＴ１とを接続する様々な接続タイミングを再現する。例えば、タイミング制御装置２０２は、複数のスイッチＳ１のＯＮ／ＯＦＦを制御することにより、ホットスワップに対応する電子機器１の入力端子ＩＴ３と電子機器１００の出力端子ＯＴ１とを人的に接続する接続タイミングを再現する。言い換えると、タイミング制御装置２０２は、複数のスイッチＳ１のＯＮ／ＯＦＦを制御することにより電子機器１の入力端子ＩＴ３と電子機器１００の出力端子ＯＴ１とをホットスワップ（ホットプラグ）で接続する状態を疑似的に再現し、ホットスワップに対応する電子機器１の入力端子ＩＴ３と電子機器１００の出力端子ＯＴ１とを人的に接続する接続タイミングを再現する。例えば、タイミング制御装置２０２は、複数のスイッチＳ１のＯＮ／ＯＦＦを制御することにより、ホットスワップに非対応な電子機器１の入力端子ＩＴ３と電子機器１００の出力端子ＯＴ１とを人的に接続する接続タイミングを再現する。言い換えると、タイミング制御装置２０２は、複数のスイッチＳ１のＯＮ／ＯＦＦを制御することにより電子機器１の入力端子ＩＴ３と電子機器１００の出力端子ＯＴ１とをホットスワップ（ホットプラグ）で接続する状態を疑似的に再現し、ホットスワップに非対応な電子機器１の入力端子ＩＴ３と電子機器１００の出力端子ＯＴ１とを人的に接続する接続タイミングを再現する。以下、“ホットスワップ（ホットプラグ）で接続する状態を疑似的に再現すること”を“疑似ホットスワップ”又は“疑似ホットプラグ”と称する場合もある。

図５は、接続試験機２００と電子機器１との電流及び電圧の測定方法の一例を示す概要図である。図５は、図４に対応している。
測定器２１０は、電流及び電圧を測定（又はモニタ）する。図５に示した例では、測定器２１０は、接続試験機２００と電子機器１との電流及び電圧を測定する。例えば、測定器２１０は、接続試験機２００の出力端子ＯＴ２の各ピンと電子機器１の入力端子ＩＴ３の各ピンとの電流及び電圧を測定する。測定器２１０は、接続試験機２００の出力端子ＯＴ２の各ピン及び電子機器１の入力端子ＩＴ３の各ピンの電流及び電圧の各測定結果と接続試験機２００の出力端子ＯＴ２の各ピン及び電子機器１の入力端子ＩＴ３の各ピンの接続タイミングのパターンとを紐づけて所定のシステム又は所定の記録装置に保存する。なお、接続試験機２００は、測定器２１０を含んでいてもよい。また、測定器２１０は、なくともよい。

図６は、接続試験機２００により疑似ホットプラグで電子機器１００が電気的に接続された場合の電子機器１の状態の確認方法の一例を示す概要図である。図６は、図４に対応している。
診断システム２２０は、電子機器１の状態を診断する。図６に示した例では、診断システム２２０は、接続試験機２００と異なる配線で電子機器１に接続されている。診断システム２２０は、接続試験機２００により疑似ホットプラグで電子機器１００が電気的に接続された場合の電子機器１の状態を診断する。言い換えると、診断システム２２０は、接続試験機２００により疑似ホットプラグで電子機器１００が電気的に接続された場合の電子機器１が正常に動作しているか正常に動作していないかを診断する。診断システム２２０は、接続試験機２００により疑似ホットプラグで電子機器１００が電気的に接続された場合の電子機器１の状態の診断と接続試験機２００の出力端子ＯＴ２の各ピン及び電子機器１の入力端子ＩＴ３の各ピンの接続タイミングのパターンとを紐づけて所定のシステム又は所定の記録装置に保存する。なお、接続試験機２００の出力端子ＯＴ２から電子機器１の入力端子ＩＴ３に信号が入力される場合、診断システム２２０のＩ／Ｆと信号供給の仕組みとは兼ねる必要がある。また、接続試験機２００は、診断システム２２０を含んでいてもよい。

図７は、接続試験機２００により疑似ホットプラグで電子機器１００が電気的に接続された場合の電子機器１の状態の確認方法の一例を示す概要図である。
図７に示した例では、診断システム２２０は、接続試験機２００により疑似ホットプラグで電子機器１００に電気的に接続する試験をした後の電子機器１の状態を診断する。

本実施形態によれば、接続試験機２００は、スイッチアレイブロック２０１と、入力端子ＩＴ２と、出力端子ＯＴ２と、タイミング制御装置２０２とを備えている。接続試験機２００の入力端子ＩＴ２の各ピンには、電子機器１００の出力端子ＯＴ１の各ピンが接続されている。接続試験機２００の出力端子ＯＴ２の各ピンには、電子機器１の入力端子ＩＴ３の各ピンが接続されている。スイッチアレイブロック２０１は、入力端子ＩＴ２の各ピンと出力端子ＯＴ２の各ピンとを接続する配線群ＷＲＧ２と、配線群ＷＲＧ２の各配線に設けられた各スイッチＳ１とを有している。タイミング制御装置２０２は、各スイッチＳ１に配線等により接続され、各スイッチＳ１のＯＮ／ＯＦＦを制御する。タイミング制御装置２０２は、各スイッチＳ１のＯＮ／ＯＦＦを制御することにより電子機器１００の出力端子ＯＴ１に疑似ホットプラグで電子機器１の入力端子ＩＴ３を電気的に接続し、電子機器１の入力端子ＩＴ３と電子機器１００の出力端子ＯＴ１とを人的に接続する接続タイミングを再現する。接続試験機２００は、自動的にホットスワップで電子機器１００の出力端子ＯＴ１と電子機器１の入力端子ＩＴ３とを接続する試験することができる。また、接続試験機２００は、電子機器１の入力端子ＩＴ３と電子機器１００の出力端子ＯＴ１との様々な接続タイミングを再現できる。また、接続試験機２００は、安価な部品のみで可動部がない構成である。そのため、接続試験機２００は、容易に端子の接続試験ができる。

次に、前述した第１実施形態の他の実施形態及び他の変形例に係る接続試験機について説明する。他の実施形態及び他の変形例において、前述した第１実施形態と同一の部分には同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する。
（変形例１）
変形例１の接続試験機２００は、スイッチアレイブロック２０１の構成が前述した第１実施形態の接続試験機２００と異なる。
図８は、変形例１に係る接続試験機２００の構成例を示す概要図である。図８に示したスイッチアレイブロック２０１は、図１２に示したスイッチレイブロック２０１のスイッチＳ１をスイッチＳ２に置き換えた構成に相当する。

スイッチアレイブロック２０１は、スイッチ（又は、スイッチ群）Ｓ２と、を有する。スイッチＳ２は、スイッチＳ１と、コンデンサ（補償コンデンサ）ＣＤＳとを有する。コンデンサＣＤＳは、スイッチＳ１に接続された配線のスイッチＳ１の直前の部分に設けられている。言い換えると、コンデンサＣＤＳは、入力端子ＩＴ２とスイッチＳ１との間の配線（配線群ＷＲＧ２の各配線）に設けられている。つまり、コンデンサＣＤＳは、入力端子ＩＴ２とスイッチＳ１とを接続する配線（配線群ＷＲＧ２の各配線の一部分）に設けられている。言い換えると、コンデンサＣＤＳは、スイッチＳ１よりも入力端子ＩＴ２側の配線（配線群ＷＲＧ２の各配線の一部分）に設けられている。図８に示した例では、スイッチＳ２は、配線群ＷＲＧ２の各配線に設けられ、配線群ＷＲＧ２の各配線の信号又は電気の通信又は通電のＯＮ／ＯＦＦを切り替える。

変形例１によれば、接続試験機２００は、配線群ＷＲＧ２の各配線に設けられた各スイッチＳ２を有するスイッチアレイブロック２０１を有する。スイッチＳ２は、スイッチＳ１と、スイッチＳ１に接続された配線のスイッチＳ１の直前の部分に設けられたコンデンサＣＤＳとを有する。接続試験機２００は、疑似ホットプラグで電子機器１００の出力端子ＯＴ１と電子機器１のＩＴ３とを電気的に接続した場合の突入電流を補償することができる。また、接続試験機２００は、疑似ホットプラグで電子機器１００の出力端子ＯＴ１と電子機器１のＩＴ３とを電気的に接続した場合の配線インピーダンスによる影響を防止できる。

（変形例２）
変形例２の接続試験機２００は、スイッチアレイブロック２０１の構成が前述した第１実施形態及変形例１の接続試験機２００と異なる。
図９は、変形例２に係る接続試験機２００の構成例を示す概要図である。図９に示したスイッチアレイブロック２０１は、図８に示したスイッチアレイブロック２０１のスイッチＳ２の一部をスイッチＳ３に置き換えた構成に相当する。
図９に示した例では、配線群ＷＲＧ１１の内の１つの配線ＷＲＰ１１は、プリチャージ抵抗ＰＣが設けられていない、又は取り外されている。配線群ＷＲＧ１２の内の１つの配線ＷＲＰ１２は、プリチャージ抵抗ＰＣが設けられていない、又は取り外されている。配線群ＷＲＧ１３の内の１つの配線ＷＲＰ１３は、プリチャージ抵抗ＰＣが設けられていない、又は取り外されている。

スイッチアレイブロック２０１は、配線群ＷＲＧ２と、スイッチＳ２と、スイッチ（又は、スイッチ群）Ｓ３とを有する。配線群ＷＲＧ２の配線群ＷＲＧ２１は、配線ＷＲＰ１１に電気的に接続される配線ＷＲＰ２１を有する。配線群ＷＲＧ２の配線群ＷＲＧ２１は、配線ＷＲＰ１２に電気的に接続される配線ＷＲＰ２２を有する。配線群ＷＲＧ２の配線群ＷＲＧ２１は、配線ＷＲＰ１１に電気的に接続される配線ＷＲＰ２１を有する。スイッチＳ２は、配線群ＷＲＧ２の配線ＷＲＰ２１、ＷＲＰ２２、及びＷＲＰ２３以外の各配線に設けられ、配線群ＷＲＧ２の配線ＷＲＰ２１、ＷＲＰ２２、及びＷＲＰ２３以外の各配線の信号又は電気の通信又は通電のＯＮ／ＯＦＦを切り替える。スイッチＳ３は、スイッチＳ２と、プリチャージ抵抗ＰＣとを有する。プリチャージ抵抗ＰＣは、コンデンサＣＤＳとスイッチＳ１とを接続する配線のスイッチＳ１の直前の部分に設けられている。図９に示した例では、スイッチＳ３は、配線ＷＲＰ２１、ＷＲＰ２２、及びＷＲＰ２３に設けられ、配線ＷＲＰ２１、ＷＲＰ２２、及びＷＲＰ２３の信号又は電気の通信又は通電のＯＮ／ＯＦＦを切り替える。

変形例２によれば、接続試験機２００は、配線ＷＲＰ２１、ＷＲＰ２２、及びＷＲＰ２３に設けられた各スイッチＳ３を有するスイッチアレイブロック２０１を有する。接続試験機２００は、コンデンサＣＤＳを配置することで失われる電子機器１の突入電流を低減するためのプリチャージ抵抗ＰＣの効果をスイッチＳ３により補完することができる。

（変形例３）
変形例３の接続試験機２００は、構成が前述した第１実施形態、変形例１、及び変形例２の接続試験機２００と異なる。
図１０は、変形例３に係る接続試験機２００の構成例を示す概要図である。図１０は、図９に対応している。
スイッチＳ３は、複数のスイッチＳ３０を有する。複数のスイッチＳ３０は、それぞれ、異なる抵抗値のプリチャージ抵抗を有する。複数のスイッチＳ３０は、例えば、スイッチＳ３１と、スイッチＳ３２と、…を含む。また、複数のスイッチ３０は、３つ以上であってもよい。スイッチＳ３１は、スイッチＳ１と、スイッチＳ１に接続された配線のスイッチＳ１の直前の部分に設けられたコンデンサＣＤＳと、スイッチＳ１及びコンデンサＣＤＳを接続する配線のスイッチＳ１の直前の部分に設けられたプリチャージ抵抗ＰＣ１とを有する。スイッチＳ３２は、スイッチＳ１と、スイッチＳ１の直前の配線に設けられたコンデンサＣＤＳと、プリチャージ抵抗ＰＣ１の抵抗値と異なる抵抗値を有し、スイッチＳ１及びコンデンサＣＤＳを接続する配線のスイッチＳ１の直前の部分に設けられたプリチャージ抵抗ＰＣ２とを有する。図１０に示した例では、スイッチＳ３１及びＳ３２は、配線ＷＲＰ２１から分岐した配線ＷＲＰ２１１及びＷＲＰ２１２に並列に接続され、配線ＷＲＰ２１の信号又は電気の通信又は通電のＯＮ／ＯＦＦを切り替える。スイッチＳ３１及びＳ３２は、配線ＷＲＰ２２から分岐した配線ＷＲＰ２２１及びＷＲＰ２２２に並列に接続され、配線ＷＲＰ２２の信号又は電気の通信又は通電のＯＮ／ＯＦＦを切り替える。スイッチＳ３１及びＳ３２は、配線ＷＲＰ２３から分岐した配線ＷＲＰ２３１及びＷＲＰ２３２に並列に接続され、配線ＷＲＰ２３の信号又は電気の通信又は通電のＯＮ／ＯＦＦを切り替える。スイッチＳ３１は、配線ＷＲＰ２１１，ＷＲＰ２２１、及びＷＲＰ２３１に設けられている。スイッチＳ３１において、スイッチＳ１は、配線ＷＲＰ２１１，ＷＲＰ２２１、及びＷＲＰ２３１に設けられている。スイッチＳ３１において、コンデンサＣＤＳは、入力端子ＩＴ２及びスイッチＳ１を接続する配線ＷＲＰ２１１、ＷＲＰ２２１、及びＷＲＰ２３１の一部分に設けられている。言い換えると、スイッチＳ３１において、コンデンサＣＤＳは、スイッチＳ１よりも入力端子ＩＴ２側の配線ＷＲＰ２１１、ＷＲＰ２２１、及びＷＲＰ２３１の一部分に設けられている。スイッチＳ３１において、プリチャージ抵抗ＰＣ１は、コンデンサＣＤＳ及びスイッチＳ１を接続する配線ＷＲＰ２１１，ＷＲＰ２２１、及びＷＲＰ２３１の一部分に設けられている。言い換えると、スイッチＳ３２は、配線ＷＲＰ２１２，ＷＲＰ２２２、及びＷＲＰ２３２に設けられている。スイッチＳ３２において、スイッチＳ１は、配線ＷＲＰ２１２，ＷＲＰ２２２、及びＷＲＰ２３２に設けられている。スイッチＳ３２において、コンデンサＣＤＳは、入力端子ＩＴ２及びスイッチＳ１を接続する配線ＷＲＰ２１２，ＷＲＰ２２２、及びＷＲＰ２３２の一部分に設けられている。言い換えると、スイッチＳ３２において、コンデンサＣＤＳは、スイッチＳ１よりも入力端子ＩＴ２側の配線ＷＲＰ２１２，ＷＲＰ２２２、及びＷＲＰ２３２の一部分に設けられている。スイッチＳ３２において、プリチャージ抵抗ＰＣ１は、コンデンサＣＤＳ及びスイッチＳ１を接続する配線ＷＲＰ２１２，ＷＲＰ２２２、及びＷＲＰ２３２の一部分に設けられている。なお、スイッチＳ３は、可変抵抗を有していてもよい。

タイミング制御装置２０２は、切り替え制御装置２０２０を含む。切り替え制御装置２０２０は、複数のスイッチ３０に電気的に接続され、複数のスイッチ３０のＯＮ／ＯＦＦを切り替える。例えば、切り替え制御装置２０２０は、スイッチＳ３１及びＳ３２に電気的に接続されている。切り替え制御装置２０２０は、例えば、スイッチＳ３１をＯＮにした場合、スイッチ３２をＯＦＦにし、スイッチＳ３２をＯＮにした場合、スイッチＳ３１をＯＦＦにする。

変形例３によれば、接続試験機２００は、異なる抵抗値のプリチャージ抵抗を有する複数のスイッチ３０を含む各スイッチＳ３を有するスイッチアレイブロック２０１と、複数のスイッチ３０のＯＮ／ＯＦＦを切り替える切り替え制御装置２０２０とを含むタイミング制御装置２０２と、を有する。そのため、接続試験機２００は、様々な抵抗値のプリチャージ抵抗の端子の接続試験を容易にすることができる。

（変形例４）
変形例４の接続試験機２００は、スイッチアレイブロック２０１の構成が前述した第１実施形態、変形例１、変形例２、及び変形例３の接続試験機２００と異なる。
図１１は、変形例４に係る接続試験機２００の構成例を示す概要図である。図１１に示したスイッチアレイブロック２０１は、図４に示したスイッチアレイブロック２０１で同じ系統の配線を１つの配線にまとめた構成に相当する。
スイッチアレイブロック２０１は、配線群ＷＲＧ２と、スイッチＳ１とを有する。配線群ＷＲＧ２１は、同じ系統の配線、例えば、配線ＷＲＰ２１以外の配線が配線ＷＲ２１に接続されている。配線群ＷＲＧ２２は、同じ系統の配線、例えば、配線ＷＲＰ２２以外の配線が配線ＷＲ２２に接続されている。配線群ＷＲＧ２３は、同じ系統の配線、例えば、配線ＷＲＰ２３以外の配線が配線ＷＲ２３に接続されている。配線ＷＲ２１、ＷＲ２２、及びＷＲ２３は、十分な電気容量を有し、配線群ＷＲＧ２１の各配線、配線群ＷＲＧ２２の各配線、配線群ＷＲＧ２３の各配線の電気容量よりも大きい電気容量を有する。図１１に示した例では、スイッチＳ１は、配線ＷＲ２１、ＷＲ２２、ＷＲ２３、ＷＲＰ２１、ＷＲＰ２２、及びＷＲＰ２３に設けられ、配線ＷＲ２１、ＷＲ２２、ＷＲ２３、ＷＲＰ２１、ＷＲＰ２２、及びＷＲＰ２３の信号又は電気の通信又は通電のＯＮ／ＯＦＦを切り替える。

変形例４によれば、接続試験機２００は、同じ系統の配線をまとめた１つの配線に設けられたスイッチＳ１を有するスイッチアレイブロック２０１を含む。そのため、接続試験機２００は、構成を簡略化することができる。

（変形例５）
変形例５の接続試験機２００は、スイッチアレイブロック２０１の構成が前述した第１実施形態、変形例１乃至４の接続試験機２００と異なる。
図１２は、変形例５に係る接続試験機２００の構成例を示す概要図である。図１２に示したスイッチアレイブロック２０１は、図１１に示したスイッチアレイブロック２０１のスイッチＳ１をスイッチＳ２に置き換えた構成に相当する。

図１２に示した例では、スイッチＳ２は、配線ＷＲ２１、ＷＲ２２、ＷＲ２３、ＷＲＰ２１、ＷＲＰ２２、及びＷＲＰ２３に設けられ、配線ＷＲ２１、ＷＲ２２、ＷＲ２３、ＷＲＰ２１、ＷＲＰ２２、及びＷＲＰ２３の信号又は電気の通信又は通電のＯＮ／ＯＦＦを切り替える。
変形例５によれば、接続試験機２００は、疑似ホットプラグで電子機器１００の出力端子ＯＴ１と電子機器１のＩＴ３とを電気的に接続した場合の突入電流を補償することができる。また、接続試験機２００は、疑似ホットプラグで電子機器１００の出力端子ＯＴ１と電子機器１のＩＴ３とを電気的に接続した場合の配線インピーダンスによる影響を防止できる。

（変形例６）
変形例６の接続試験機２００は、スイッチアレイブロック２０１の構成が前述した第１実施形態、変形例１乃至５の接続試験機２００と異なる。
図１３は、変形例６に係る接続試験機２００の構成例を示す概要図である。図１３に示したスイッチアレイブロック２０１は、図１２に示したスイッチアレイブロック２０１のスイッチＳ２の一部をスイッチＳ３に置き換えた構成に相当する。

図１３に示した例では、配線群ＷＲＧ１１の内の１つの配線ＷＲＰ１１は、プリチャージ抵抗ＰＣが設けられていない、又は取り外されている。配線群ＷＲＧ１２の内の１つの配線ＷＲＰ１２は、プリチャージ抵抗ＰＣが設けられていない、又は取り外されている。配線群ＷＲＧ１３の内の１つの配線ＷＲＰ１３は、プリチャージ抵抗ＰＣが設けられていない、又は取り外されている。

図１３に示した例では、スイッチＳ３は、配線ＷＲＰ２１、ＷＲＰ２２、及びＷＲＰ２３に設けられ、配線ＷＲＰ２１、ＷＲＰ２２、及びＷＲＰ２３の信号又は電気の通信又は通電のＯＮ／ＯＦＦを切り替える。
変形例６によれば、接続試験機２００は、コンデンサＣＤＳを配置することで失われる電子機器１の突入電流を低減するためのプリチャージ抵抗ＰＣの効果をスイッチＳ３により補完することができる。

（第２実施形態）
第２実施形態の接続試験機２００は、構成が前述した第１実施形態、変形例１乃至６の接続試験機２００と異なる。
図１４は、第２実施形態に係る接続試験機２００の一例を示すブロック図である。図１４に示した例では、接続試験機２００は、一端部に電子機器１が接続されている。

図１５は、第２実施形態に係る接続試験機２００の構成例を示す概要図である。
接続試験機２００は、信号又は電源を供給し、電子機器の電気的な接続タイミングを制御する。スイッチアレイブロック２０１は、信号供給ブロック１０１と、出力端子ＯＴ１とさらに備えている。
第２実施形態によれば、接続試験機２００は、信号供給ブロック１０１と、出力端子ＯＴ１とさらに備えるスイッチアレイブロック２０１を有する。そのため、接続試験機２００は、容易に端子の接続試験ができる。

いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。

１、１００…電子機器、１０１…信号供給ブロック、２００…接続試験機、２０１…スイッチアレイブロック、２０２…タイミング制御装置、Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３…スイッチ。

Claims (9)

1. 信号供給部の第１出力端子に接続された第１入力端子と、
   デバイスの第２入力端子に接続された第２出力端子と、
   前記第１入力端子及び前記第２出力端子を接続する複数の配線と、
   前記複数の配線にそれぞれ設けられた複数のスイッチと、
   前記複数のスイッチのＯＮ／ＯＦＦのタイミングを制御する制御部と、を備える接続試験機。
2. 前記第１入力端子と前記複数の配線の内の第１配線に設けられた前記複数のスイッチの内の第１スイッチとを接続する前記第１配線の一部分に設けられた第１コンデンサと、をさらに備える、請求項１に記載の接続試験機。
3. 前記第１スイッチ及び前記第１コンデンサを接続する前記第１配線の一部分に設けられた第１抵抗をさらに備える、請求項２に記載の接続試験機。
4. 前記第１配線から分岐した第２配線に設けられた前記複数のスイッチの内の第２スイッチと前記第１入力端子とを接続する前記第２配線の一部分に設けられた第２コンデンサと、
   前記第２スイッチ及び前記第２コンデンサを接続する前記第２配線の一部分に設けられた前記第１抵抗の第１抵抗値と異なる第２抵抗値の第２抵抗とをさらに備え、
   前記制御部は、前記第１スイッチ及び前記第２スイッチを切り替える、請求項３に記載の接続試験機。
5. 前記複数の配線の内の第１配線及び第２配線に接続される第３配線と、前記第３配線に設けられた前記複数のスイッチの内の第１スイッチと、をさらに備える、請求項１に記載の接続試験機。
6. 前記第１入力端子と前記第１スイッチとの間の前記第３配線に設けられた第１コンデンサをさらに備える、請求項５に記載の接続試験機。
7. 前記第１コンデンサと前記第１スイッチとの間の前記第３配線に設けられた第１抵抗をさらに備える、請求項６に記載の接続試験機。
8. 前記信号供給部及び前記デバイスは、物理的にホットスワップが可能である、請求項１乃至７のいずれか１項に記載の接続試験機。
9. 信号を供給し、第１出力端子を有する信号供給部と、
   前記第１出力端子に接続された第１入力端子と、
   デバイスの第２入力端子に接続された第２出力端子と、
   前記第１入力端子及び前記第２出力端子を接続する複数の配線と、
   前記複数の配線にそれぞれ設けられた複数のスイッチと、
   前記複数のスイッチのＯＮ／ＯＦＦのタイミングを制御する制御部と、備える接続試験機。

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