JP2022015758A - Wiring board - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は配線基板に関する。 The present invention relates to a wiring board.
特許文献1には、配線層上に形成され、ソルダーレジスト層から突出する金属ポストを複数有する配線基板が開示されている。複数の金属ポストの夫々が接続されている配線層は同じ厚さに形成されている。 Patent Document 1 discloses a wiring board formed on a wiring layer and having a plurality of metal posts protruding from a solder resist layer. The wiring layer to which each of the plurality of metal posts is connected is formed to have the same thickness.
特許文献1の配線基板において、より小径の金属ポストが配線層上に形成される場合には、金属ポストの径に対する高さの割合が増大し、金属ポストの有する剛性が低下するものと考えられる。金属ポストにかかる外力に対する物理的な耐性が低く、接続部分の剥離などの不良が発生する虞があると考えられる。 In the wiring substrate of Patent Document 1, when a metal post having a smaller diameter is formed on the wiring layer, it is considered that the ratio of the height to the diameter of the metal post increases and the rigidity of the metal post decreases. .. It is considered that the physical resistance to the external force applied to the metal post is low, and there is a possibility that defects such as peeling of the connection portion may occur.
本発明の配線基板は、樹脂絶縁層と、前記樹脂絶縁層上に形成される複数の導体パッドと、前記樹脂絶縁層及び前記導体パッドを被覆する被覆絶縁層と、前記複数の導体パッドの夫々の上に接続され前記被覆絶縁層から突出する複数の金属ポストと、を備えている。前記複数の金属ポストは、第1の金属ポストと第1の金属ポストよりも大径の第2の金属ポストとを含み、前記第1の金属ポスト及び前記第2の金属ポストの前記被覆絶縁層の表面に対する高さは略等しく、前記第1の金属ポストが接続されている前記導体パッドの厚さは、前記第2の金属ポストが接続されている前記導体パッドの厚さよりも大きい。 The wiring board of the present invention includes a resin insulating layer, a plurality of conductor pads formed on the resin insulating layer, a coated insulating layer covering the resin insulating layer and the conductor pad, and the plurality of conductor pads, respectively. It comprises a plurality of metal posts, which are connected on top of and project from the coated insulating layer. The plurality of metal posts include a first metal post and a second metal post having a diameter larger than that of the first metal post, and the first metal post and the covering insulating layer of the second metal post. The height with respect to the surface of the metal post is substantially equal, and the thickness of the conductor pad to which the first metal post is connected is larger than the thickness of the conductor pad to which the second metal post is connected.
本発明の実施形態によれば、比較的小径の金属ポストであっても、外力に対する物理的な耐性の高い構造が提供され得る。金属ポストと導体パッドとの接続部分における剥離などの不良の発生が抑制され得る、信頼性の高い配線基板を提供することができる。 According to an embodiment of the present invention, even a metal post having a relatively small diameter can provide a structure having high physical resistance to an external force. It is possible to provide a highly reliable wiring board capable of suppressing the occurrence of defects such as peeling at the connection portion between the metal post and the conductor pad.
次に、図面を参照しながら本発明の一実施形態である配線基板について説明する。なお、以下、参照される図面においては、各構成要素の寸法の正確な比率を示すことは意図されておらず、理解され易いように本発明の特徴が強調されて描かれている。図1には、本実施形態の配線基板の一例である配線基板10の断面が部分的に示されている。配線基板10は、交互に積層される絶縁層及び導体層で形成されており、図1にはその一部の樹脂絶縁層101、被覆絶縁層103及び導体層102が示されている。図示される配線基板10の片方の面Fは、半導体素子などの外部の電子部品が搭載される部品搭載面として形成されている。図1に示される、配線基板10の部品搭載面Fは、被覆絶縁層103、及び、被覆絶縁層103のから突出する金属ポスト104の表面から構成されている。
Next, a wiring board according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In the drawings referred to below, it is not intended to show the exact ratio of the dimensions of each component, and the features of the present invention are emphasized for easy understanding. FIG. 1 partially shows a cross section of a
なお、本実施形態の配線基板10の説明では、配線基板10を構成する各要素の部品搭載面F側、すなわち紙面における上側を「上側」又は単に「上」と称し、反対側を「下側」又は単に「下」と称する。従って、各要素における上側の端部は「上端」とも称され、下側の端部は「下端」とも称される。
In the description of the
図1では、配線基板10が有する複数の樹脂絶縁層101及び導体層102のうち、部品搭載面F側の3層が図示されている。実施形態の配線基板10が有する樹脂絶縁層101及び導体層102の層数は特に限定されず、適宜増減され得る。配線基板10がより多くの導体層を含むことにより、配線基板10の平面サイズを大きくすることなく、より規模が大きく複雑な電気回路が配線基板10内に形成され得る。
In FIG. 1, among a plurality of
樹脂絶縁層101に接する導体層102は、任意の導体パターンを有している。導体層102は、樹脂絶縁層101を貫通して形成されているビア導体112を介して樹脂絶縁層101の反対側の導体層102と電気的に接続される。図示の例では、各ビア導体112は部品搭載面Fから反対側に向かって縮径するテーパー形状を有しているが、ビア導体112の形状はこれに限定されない。部品搭載面Fに向かって縮径する形状であってもよく、また、樹脂絶縁層101の厚さ方向において同径で導体層102に対して略直交する円柱形状に形成されてもよい。なお、便宜上、「縮径」という文言が用いられているが、ビア導体112の開口形状は必ずしも円形に限定されない。「縮径」は、単に、ビア導体112の水平断面における外周上の最長の2点間の距離が小さくなることを意味している。
The
図示される3層の導体層102のうち最も部品搭載面Fの近くに形成される導体層102は、導体パッド102pを含んでいる。導体パッド102pは、その上に形成される金属ポスト104を介して、半導体素子などの外部の電子部品が有する接続用のパッドと電気的に接続される。金属ポスト104は、導体パッド102p及び樹脂絶縁層101の表面上を覆うように形成されている被覆絶縁層103から部品搭載面F側に突出している。
The
本実施形態の配線基板10が有する複数の金属ポスト104は、径の大きさの異なる金属ポスト104f、104sを含んでいる。具体的には、比較的小径の第1の金属ポスト104fと、第1の金属ポスト104fよりも大径の第2の金属ポスト104sを含んでいる。第1及び第2の金属ポスト104f、104sは、被覆絶縁層103に対して略等しい高さを有している。そして、第1の金属ポスト104fは複数の導体パッド102pのうち比較的厚さが大きい導体パッド102pfに接続されており、第2の金属ポスト104sは比較的厚さの小さい導体パッド102psに接続されている。なお、ここで「小径」及び「大径」との用語における「径」は、金属ポスト104の下端における外周上の最長の2点間距離を意味している。従って「小径」又は「大径」の語は、対比された2つの金属ポスト104の下端における外周上の最長の2点間距離が、比較上小さい又は大きいことを意味している。
The plurality of
上述のように、比較的小径の第1の金属ポスト104fが接続されている導体パッド102pfの厚さが比較的大きいことで、金属ポスト104fの下端の径に対する高さ(配線基板10の厚さ方向における長さ)の比率が過大になることが抑制される。すなわち、金属ポスト104fが細長の形状を有することによる物理的脆弱化が回避され、比較的高い剛性を有する金属ポスト104fが提供され得る。
As described above, since the thickness of the conductor pad 102pf to which the
なお、図示の例では、金属ポスト104は、部品搭載面F側(上端側)から導体パッド102側(下端側)へ向かうに従って径が拡大する形状を有している。特に、第1の金属ポスト104fがこのような形状を有することで、さらに、104fの剛性が良好に確保され得る。金属ポスト104fと導体パッド102pfとの接続部において比較的広い接続面が確保され、信頼性の高い良好な接続を得ることが可能となる。
In the illustrated example, the
配線基板10の樹脂絶縁層101は、エポキシ樹脂等の任意の絶縁性樹脂を用いて形成される。ポリイミド樹脂、BT樹脂(ビスマレイミド-トリアジン樹脂)、ポリフェニレンエーテル樹脂、フェノール樹脂等も用いられ得る。樹脂絶縁層101はシリカなどの無機フィラーを含んでいてもよい。図示される例の配線基板10においては、樹脂絶縁層101は芯材を含んでいないが、必要に応じてガラス繊維やアラミド繊維などの芯材を含んでもよい。芯材を含むことで配線基板10の強度が向上し得る。複数の樹脂絶縁層101は、夫々異なる材料で構成されてもよく、全てが同じ材料で形成されてもよい。
The
導体層102は、銅やニッケルなど、適切な導電性を有する任意の材料を用いて形成され得る。導体層102は、例えば、金属膜層(好ましくは無電解銅めっき膜層)もしくは電解めっき膜層(好ましくは電解銅めっき膜層)、又はこれらの組み合わせによって形成される。図示の例では、金属膜層102n及び電解めっき膜層102eの2層構造で形成されている。しかし、配線基板10を構成する各導体層102の構成は、図1に例示される多層構造に限定されない。導体層102は、例えば、金属箔層、金属膜層、及び電解めっき膜層の3層構造で構成されてもよい。
The
ビア導体112は、図1に示されるように、導体層102を構成している金属膜層102n及び電解めっき膜層102eと一体的に形成され得る。ビア導体112は導通用孔112h内を充填するいわゆるフィルドビアであり、導通用孔112h内の底面及び側面を被覆する金属膜層と電解めっき膜層とで構成されている。
As shown in FIG. 1, the via
被覆絶縁層103は任意の絶縁性の樹脂材料を用いて形成される。被覆絶縁層103は、例えば、感光性のポリイミド樹脂やエポキシ樹脂等を用いて形成される。被覆絶縁層103は、導体パッド102pと、導体パッド102p上に形成される金属ポスト104の側面の一部と、複数の導体パッド102pの間に露出する樹脂絶縁層101の表面とを覆っている。被覆絶縁層103はソルダーレジスト層であり得る。
The coating insulating
金属ポスト104は、例えば、銅、又は、ニッケルを用いて形成される。金属ポスト104は、詳しくは後述するように、導体パッド102p上に任意の金属材料の電解めっきが施されることで形成され得る。金属ポスト104が、導体パッド102pが含む金属と同種の金属材料を含むことで、導体パッド102pと金属ポスト104との接続性が向上することがある。例えば、導体パッド102pが無電解銅めっき膜層及び電解銅めっき膜層で構成されている場合には、金属ポスト104も電解銅めっき膜層又は無電解銅めっき膜層で構成されていることが好ましい。金属ポスト104の上端には、図示しない保護層が形成されてもよい。例えば、Ni/Sn、Ni/Pd/Auなどからなる保護層が設けられる。保護層はNi/Au、又はSnにより形成されてもよい。OSP膜が形成されてもよい。
The
図2は、図1における一点鎖線で囲まれる領域IIの拡大図である。図示されるように、第1の金属ポスト104fの径は、第2の金属ポスト104sの径よりも小さい。これらのサイズが異なる第1の金属ポスト104fと第2の金属ポスト104sとは、被覆絶縁層103に対して略等しい高さを有している。そして、第1の金属ポスト104fが接続している導体パッド102pfの厚さ(樹脂絶縁層101の表面からの高さ)fH2は、第2の導体パッド102psの厚さsH2よりも大きい。すなわち、比較的小径の第1の金属ポスト104fが有する高さfH1は、比較的大径の第2の金属ポスト104sが有する高さsH1よりも小さい。
FIG. 2 is an enlarged view of the region II surrounded by the alternate long and short dash line in FIG. As shown, the diameter of the
上述のように、径の小さい第1の金属ポスト104fにおいて高さfH1が比較的小さいことで、第1の金属ポスト104fは高い剛性を有し得る。部品搭載面Fへの電子部品の搭載時などにかかり得る外力に対する物理的耐性が高まり、第1の金属ポスト104fと導体パッド102pfとの接続部における剥離や破壊などの不良の発生が抑制され得る。具体的には、第1の金属ポスト104fの高さfH1の、第1の金属ポスト104fの基端側の径104fdに対する比率は、1.5以上、且つ、3.5以下であることが好ましい。導体パッド102pfは、その上に接続される金属ポスト104fの径104fdの寸法、及び、金属ポスト104fが有するべき高さfH1の寸法に応じた厚さfH2を有するように形成される。
As described above, the height fH1 of the
図示の例においては、金属ポスト104f、104sは導体パッド102pf、102psに向かって径が拡大する形状を有している。すなわち、金属ポスト104f、104sの導体パッド102pf、102psと接続している下端(基端)側の径は、その反対側(上端側)の径よりも大きい。このような形状を有することで、金属ポスト104f、104sと導体パッド102pf、102psとの接続信頼性が向上することがある。特に、径が比較的小さい第1の金属ポスト104fは、隣接する金属ポスト104fに対して比較的狭い中心間距離(ピッチ)を有することがある。このような場合においても、上端側において、隣接する金属ポスト104fに対する比較的広い離間距離(ギャップ)が確保され得る。上端側での隣接する金属ポスト104f同士の短絡が抑制されながらも、基端側での導体パッド102pfとの接続信頼性が向上し得る。この短絡抑制及び接続信頼性の観点から、金属ポスト104fの上端側の面の面積の、基端側の面の面積に対する比率は、0.75以上、且つ、0.95以下であることが好ましい。しかしながら、金属ポスト104f、104sの形状は、これに限定されない。金属ポスト104f、104sは基端側から上端側にかけて略同径の円柱状に形成されてもよい。
In the illustrated example, the metal posts 104f and 104s have a shape whose diameter increases toward the conductor pads 102pf and 102ps. That is, the diameter on the lower end (base end) side connected to the conductor pads 102pf and 102ps of the metal posts 104f and 104s is larger than the diameter on the opposite side (upper end side). Having such a shape may improve the connection reliability between the metal posts 104f and 104s and the conductor pads 102pf and 102ps. In particular, the
図3には、導体パッド102pが図2に示される構造と異なる構造を有する例が示されている。図示の例では、導体パッド102pf、102psの金属ポスト104f、104sと接続する側(上側)の面は、上側に向かって隆起している。すなわち、導体パッド102pf、102psの上側の面は、金属ポスト104f、104s側に向かって凸になるように湾曲している。導体パッド102pf、102psの、金属ポスト104f、104sとの接続面が湾曲することで広い接続面積が確保され得る。なお、金属ポスト104f、104sの上端側の面も、導体パッド102pf、102psの隆起形状に伴って隆起してもよい。金属ポスト104f、104sの上端面の隆起によって金属ポスト104と電子部品などの接続パッドとの間での接続信頼性が向上し得る。
FIG. 3 shows an example in which the
図3に示されるように、被覆絶縁層103と金属ポスト104f、104sとの密着性の観点から、金属ポスト104f、104sの表面(特に被覆絶縁層103に被覆される面)は粗面に形成されていることが望ましい。また、導体パッド102pの表面も同様に粗面化されていることで、被覆絶縁層103と導体パッド102pとの密着性も向上し得る。例えば、金属ポスト104f、104s及び導体パッド102pの表面には共通の粗面化処理が施され、金属ポスト104f、104s及び導体パッド102pの被覆絶縁層103に被覆される面は、略等しい表面粗さを有する粗面に形成され得る。
As shown in FIG. 3, from the viewpoint of adhesion between the coated insulating
以下に、図1に示される配線基板10を製造する方法が、図4A~4Gを参照しながら説明される。図4A~4Gにおいては、図1と同様に、配線基板10の全体は図示されず、金属ポスト104が形成される部品搭載面F側の部分的な断面のみが図示される。なお、以下の説明においても、各要素において、配線基板10の部品搭載面F側(紙面における上側)を「上」又は「上側」と称し、「外側」又は単に「外」とも称する。
Hereinafter, a method for manufacturing the
先ず、図4Aに示されるように、最外の樹脂絶縁層101の積層までが完了した配線基板10pが準備される。配線基板10pは、複数の絶縁層及び導体層が積層されるビルドアップ方式による一般的な配線基板の製造方法により製造される。
First, as shown in FIG. 4A, a wiring board 10p in which the outermost
次に、図4Bに示されるように、配線基板10pの最外の樹脂絶縁層101の、ビア導体112の形成箇所に対応する位置に、最外の樹脂絶縁層101を貫通する導通用孔112hが形成される。導通用孔112hは、例えば炭酸ガスレーザー、又は、YAGレーザーなどのレーザー光の照射によって穿孔される。そして、導通用孔112hの内側及び樹脂絶縁層101の表面の全体に亘って、例えば無電解銅めっき膜層である金属膜層102nが形成される。
Next, as shown in FIG. 4B, the
続いて、金属膜層102n上に電解めっき用のめっきレジスト102rが形成される。めっきレジスト102rは、例えば、アクリル樹脂などを含むドライフィルムレジストを用いて形成される。めっきレジスト102rは、配線基板10の最外の導体層102が有するべき、導体パッド102pを含む導体パターンに応じた、開口102rhを有するように形成される。開口102rhは、適切な開口パターンを有するマスクを用いた露光及び現像によるフォトリソグラフィを用いて形成され得る。
Subsequently, a plating resist 102r for electrolytic plating is formed on the
次に、図4Cに示されるように、金属膜層102nを給電層として用いた電解めっきにより、樹脂絶縁層101の導通用孔112hの内部、及び、めっきレジスト102rの開口102rhの内部が充填される。ビア導体112、及び、導体パッド102pf、102psが形成される。導体パッド102pf、102psは、その上に形成される金属ポスト104の径のサイズによって、異なる厚さに形成される。具体的には、その上に径の小さい第1の金属ポスト104fが形成される導体パッド102pfは、その上に径の大きい第2の金属ポスト104sが形成される導体パッド102psよりも厚く形成される。
Next, as shown in FIG. 4C, the inside of the
この導体パッド102pf、102psの厚さの差異の程度は、導体パッド102pf、102psと一体的に形成され得るビア導体112のサイズ、すなわち、導通用孔112hの寸法に影響され得る。また、導体パッド102pf用の開口102rhと導体パッド102ps用の開口102rhとの寸法の差異、すなわち、導体パッドの102pfと導体パッド102psとの平面方向における寸法の差異にも影響され得る。従って、導体パッド102pf、102psが有するべき厚さに応じて、導通用孔112hの寸法、及び、開口102rhの寸法が調整され得る。また、これらの影響を考慮して、電解めっきの条件(温度、電流密度、めっき時間など)が適切に調整されることにより、異なる厚さを有する導体パッド102pf、102psが形成され得る。図示の例では、導体パッド102pf、102psの上側の表面は平坦に形成されている。電解めっきの条件により上側に向かって隆起する導体パッド102pf、102psを得ることも可能である。導体パッド102pf、102psの形成後にはめっきレジスト102rは除去される。
The degree of the difference in thickness between the
次に、図4Dに示されるように、めっきレジスト102rの除去により露出する金属膜層102n上及び導体パッド102pf、102ps上に、金属ポスト104形成用のレジスト層104rが形成される。レジスト層104rは、例えば、アクリル樹脂などを含む感光性のドライフィルムレジストを用いて形成される。レジスト層104rには、金属ポスト104形成用の開口104rhが形成される。開口104rhの形成には、フォトリソグラフィが用いられる。フォトリソグラフィにおけるフォトマスクの開口形状により、導体パッド102pf上には比較的小径の開口104rhfが形成され、導体パッド102ps上には比較的大径の開口104rhsが形成される。露光条件によっては、上側から下側に向かって径の拡大する形状の開口104rhf、104rhsが形成され得る。
Next, as shown in FIG. 4D, a resist
続いて、レジスト層104rの開口104rhf、104rhsの内面に、金属膜層102nを給電層として利用する電解めっきが施されることにより、金属ポスト104f、104sが形成される。金属ポスト104f、104sの形成に用いられる電解めっきは、例えば、電解銅めっき、又は、電解ニッケルめっきである。電解めっきによって形成されるめっき層は、導体パッド102pf、102psの表面から上方に向かって、いわゆるボトムアップで成長する。
Subsequently, the inner surfaces of the openings 104rhf and 104rhs of the resist
開口104rh内の所望の位置まで充填した状態で電解めっきは終了し、金属ポスト104f、104sの形成が完了する。この状態において、金属ポスト104fの上端面と金属ポスト104sの上端面とは、樹脂絶縁層101の表面に対して略等しい高さに形成されている。なお、金属ポスト104f、104sの上側の面(上端面)の形状は、導体パッド102pf、102psの金属ポスト104f、104sと接する表面の形状、及び、電解めっきの条件などにより変化し得る。金属ポスト104f、104sの上端面には、必要に応じて、Ni/Sn、Au、Ni/Au、又はNi/Pd/Au、などからなる表面保護膜(図示せず)が形成され得る。
Electroplating is completed with the
次に、図4Eに示されるように、レジスト層104rが除去される。レジスト層104rの除去によって露出する金属膜層102nはエッチングにより除去される。導体パッド102pf、102ps及び金属ポスト104f、104sが完全に露出すると共に、複数の導体パッド102pf、102psの間から樹脂絶縁層101の表面が露出する。露出した金属ポスト104f、104s及び導体パッド102pf、102psの表面には、必要に応じて共通の粗面化処理が施され得る。
Next, as shown in FIG. 4E, the resist
次いで、図4Fに示されるように、複数の導体パッド102pf、102psの間から露出する樹脂絶縁層101の表面、導体パッド102pf、102ps、及び金属ポスト104f、104sを被覆するように、被覆絶縁層103が形成される。被覆絶縁層103は、導体パッド102pf、102ps及び金属ポスト104f、104sを完全に被覆する。これにより、金属ポスト104f、104sは被覆絶縁層103に埋没した状態となる。
Next, as shown in FIG. 4F, the coated insulating layer so as to cover the surface of the
次いで、図4Gに示されるように、被覆絶縁層103の厚さ方向における一部分が除去され、金属ポスト104f、104sの一部が被覆絶縁層103から露出する。金属ポスト104f、104sが被覆絶縁層103から上側に突出する状態となる。被覆絶縁層103の厚さ方向における部分的な除去には、例えば、CF4又はCF4+O2によるプラズマエッチングなどのドライプロセスが用いられ得る。また、ブラスト処理により被覆絶縁層103の厚さ方向の一部が除去されて金属ポスト104f、104sの露出が行われてもよい。以上の工程により、図1に示される配線基板10が完成する。金属ポスト104f、104sの被覆絶縁層103から露出する部分には、耐熱性プリフラックスなどからなる表面保護膜(図示せず)が形成されてよい。
Then, as shown in FIG. 4G, a part of the covering insulating
実施形態の配線基板10の製造においては、図4Cに示される導体パッド102pの形成に続くめっきレジスト102rの除去後に、上述の工程とは異なる工程を経て配線基板10が製造されてもよい。例えば、金属膜層102n上にレジスト層104rが形成されずに、めっきレジスト102rの除去に続いて、導体パッド102pf、102psの間から露出する金属膜層102nも除去される。金属膜層102nの除去により露出する樹脂絶縁層101の表面及び導体パッド102pf、102ps上に被覆絶縁層103が形成される。
In the production of the
例えばソルダーレジストとなる被覆絶縁層103は、樹脂絶縁層101の表面及び導体パッド102pf、102psを被覆する。そして被覆絶縁層103に導体パッド102pf、102psを露出させる開口が露光及び現像により形成される。この際、レジスト層104rに開口104rhf、104rhsが形成される場合と同様に、導体パッド102pf上には比較的径の小さい開口が形成され、導体パッド102ps上には比較的径の大きい開口が形成される。次いで、被覆絶縁層103に形成された開口内に無電解めっきにより金属ポスト104f、104sが形成される。この場合、金属ポスト104f、104sの形成においては、無電解めっきに先行して、開口内にめっき析出用の触媒層が形成され得る。触媒層には、例えば、パラジウム(Pd)、金(Au)、白金(Pt)、又はルテニウム(Ru)などの金属が用いられ得る。金属ポスト104f、104sの形成に次いで、被覆絶縁層103の厚さ方向の一部が除去される。金属ポスト104f、104sが部分的に被覆絶縁層103から露出し、上側に突出する。配線基板10の形成が完了する。
For example, the coated insulating
実施形態の配線基板は、各図面に例示される構造や、本明細書において例示された構造や材料を備えるものに限定されない。例えば、部品搭載面Fに最も近い導体層102には、導体パッド102pの他にも異なる導体パターンが含まれ得る。また、実施形態の配線基板の製造方法は、各図面を参照して説明された方法に限定されず、その条件や順序などは適宜変更され得る。現に製造される配線基板の構造に応じて、一部の工程が省略されてもよく、別の工程が追加されてもよい。
The wiring board of the embodiment is not limited to the structure exemplified in each drawing and the one provided with the structure and the material exemplified in the present specification. For example, the
101 樹脂絶縁層
102 導体層
102p、102pf、102ps 導体パッド
103 被覆絶縁層
104 金属ポスト
104f 第1の金属ポスト
104s 第2の金属ポスト
112 ビア導体
102n 金属膜層
102e 電解めっき膜層
102r めっきレジスト
104r レジスト層
fH1、sH1 高さ
fH2、sH2 厚さ
101
Claims (9)
前記複数の金属ポストは、第1の金属ポストと第1の金属ポストよりも大径の第2の金属ポストとを含み、
前記第1の金属ポストが接続されている前記導体パッドの厚さは、前記第2の金属ポストが接続されている前記導体パッドの厚さよりも大きい。 A resin insulating layer, a plurality of conductor pads formed on the resin insulating layer, a coated insulating layer covering the resin insulating layer and the conductor pad, and the coating connected on each of the plurality of conductor pads. A wiring board comprising a plurality of metal posts protruding from an insulating layer.
The plurality of metal posts include a first metal post and a second metal post having a diameter larger than that of the first metal post.
The thickness of the conductor pad to which the first metal post is connected is larger than the thickness of the conductor pad to which the second metal post is connected.
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