JP2021158584A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2021158584A5
JP2021158584A5 JP2020058463A JP2020058463A JP2021158584A5 JP 2021158584 A5 JP2021158584 A5 JP 2021158584A5 JP 2020058463 A JP2020058463 A JP 2020058463A JP 2020058463 A JP2020058463 A JP 2020058463A JP 2021158584 A5 JP2021158584 A5 JP 2021158584A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
detection sensitivity
defects
difference
image processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2020058463A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2021158584A (ja
JP7483459B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2020058463A priority Critical patent/JP7483459B2/ja
Priority claimed from JP2020058463A external-priority patent/JP7483459B2/ja
Priority to US17/208,401 priority patent/US11354799B2/en
Publication of JP2021158584A publication Critical patent/JP2021158584A/ja
Publication of JP2021158584A5 publication Critical patent/JP2021158584A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7483459B2 publication Critical patent/JP7483459B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2020058463A 2020-03-27 2020-03-27 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム Active JP7483459B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020058463A JP7483459B2 (ja) 2020-03-27 2020-03-27 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム
US17/208,401 US11354799B2 (en) 2020-03-27 2021-03-22 Image processing for inspecting an inspection target image so that a difference in the difference image greater than a threshold value is reduced

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020058463A JP7483459B2 (ja) 2020-03-27 2020-03-27 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2021158584A JP2021158584A (ja) 2021-10-07
JP2021158584A5 true JP2021158584A5 (https=) 2023-03-31
JP7483459B2 JP7483459B2 (ja) 2024-05-15

Family

ID=77856362

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020058463A Active JP7483459B2 (ja) 2020-03-27 2020-03-27 画像処理装置、画像処理方法及びプログラム

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11354799B2 (https=)
JP (1) JP7483459B2 (https=)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7237872B2 (ja) * 2020-02-14 2023-03-13 株式会社東芝 検査装置、検査方法、及びプログラム
US11665303B2 (en) * 2021-05-31 2023-05-30 Canon Kabushiki Kaisha Image processing apparatus, method, and product for inspecting a target image by correcting a partial region adjacent another partial region based on differences between a reference image and the target image
JP7736486B2 (ja) * 2021-08-30 2025-09-09 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 解析支援装置、解析支援システム及びプログラム
JP7818935B2 (ja) * 2021-11-24 2026-02-24 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム
JP2023129970A (ja) * 2022-03-07 2023-09-20 セイコーエプソン株式会社 印刷画像の欠陥判別装置、およびその判別方法
JP2024070143A (ja) * 2022-11-10 2024-05-22 富士フイルム株式会社 印刷物検査装置、印刷物検査方法、プログラム及び印刷システム
JP7698673B2 (ja) * 2023-03-03 2025-06-25 キヤノン株式会社 検査装置及び検査システム

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6705305B2 (ja) 2016-06-27 2020-06-03 株式会社リコー 検査装置、検査方法及びプログラム
JP6938992B2 (ja) 2017-03-16 2021-09-22 株式会社リコー 検査装置、検査システム、検査方法及びプログラム
US10981376B2 (en) * 2018-07-03 2021-04-20 Ricoh Company, Ltd. Inspection apparatus, image reading apparatus, image forming apparatus, inspection method, and recording medium
JP7167615B2 (ja) * 2018-10-05 2022-11-09 コニカミノルタ株式会社 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2021158584A5 (https=)
US10699400B2 (en) Image processing apparatus, image processing method, and storage medium
JP5388250B2 (ja) フィルタ検査方法および装置
JP2016508295A5 (https=)
JP2021135145A5 (https=)
US8842270B2 (en) Method and inspection device for bright spot defect detection of a polarizer
JP2022094791A5 (https=)
JP2013161485A5 (https=)
CN111866501B (zh) 一种摄像模组检测方法、装置、电子设备及介质
JP2017166929A (ja) シート状の被検査体の欠陥検査装置、欠陥検査方法及び欠陥検査システム
CN108871185B (zh) 零件检测的方法、装置、设备以及计算机可读存储介质
JP2021158583A5 (https=)
US10210605B2 (en) Method and device for detecting boundary of region on display motherboard
JP2010213012A5 (ja) 画像処理装置及びその制御方法、画像出力装置、並びに画像出力方法
JP2016015536A5 (https=)
JP2013115751A5 (https=)
JP2017219343A (ja) 欠陥検査装置、欠陥検査方法、フィルム製造装置及びフィルム製造方法
JP2011158367A (ja) 被検査物の検査方法、検査用プログラム及び検査装置
CN117589770A (zh) Pcb贴片板检测方法、装置、设备及介质
CN117078679B (zh) 一种基于机器视觉的散热风扇自动组装线生产检测方法
CN111300983A (zh) 用于图像检查的快速图像修正
JP5557271B2 (ja) 放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム
JP2009236550A (ja) 欠陥検出方法
JP2022174395A5 (https=)
JP2017194334A (ja) 検査装置、検査方法及び検査プログラム