JP2021150178A - 発熱装置、及び発熱装置の制御方法 - Google Patents
発熱装置、及び発熱装置の制御方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2021150178A JP2021150178A JP2020048883A JP2020048883A JP2021150178A JP 2021150178 A JP2021150178 A JP 2021150178A JP 2020048883 A JP2020048883 A JP 2020048883A JP 2020048883 A JP2020048883 A JP 2020048883A JP 2021150178 A JP2021150178 A JP 2021150178A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- frequency
- heat generating
- temperature change
- resistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B6/00—Heating by electric, magnetic or electromagnetic fields
- H05B6/02—Induction heating
- H05B6/06—Control, e.g. of temperature, of power
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B1/00—Details of electric heating devices
- H05B1/02—Automatic switching arrangements specially adapted to apparatus ; Control of heating devices
- H05B1/0227—Applications
- H05B1/0252—Domestic applications
- H05B1/0258—For cooking
- H05B1/0261—For cooking of food
- H05B1/0263—Ovens
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B3/00—Ohmic-resistance heating
- H05B3/02—Details
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B1/00—Details of electric heating devices
- H05B1/02—Automatic switching arrangements specially adapted to apparatus ; Control of heating devices
- H05B1/0227—Applications
- H05B1/023—Industrial applications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B6/00—Heating by electric, magnetic or electromagnetic fields
- H05B6/02—Induction heating
- H05B6/10—Induction heating apparatus, other than furnaces, for specific applications
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- General Induction Heating (AREA)
- Control Of Resistance Heating (AREA)
Abstract
【課題】発熱量を高める。【解決手段】周波数を可変可能な高周波電力源1と、高周波電力源1に接続した発熱素子4と、発熱素子4の発熱量(温度変化)と、発熱素子4の温度変化の測定値を、発熱素子4に供給される高周波電力と同一の直流電力が発熱素子4に供給されたときの温度変化の値で除算した除算値が最大となる周波数fの近傍で高周波電力源1を駆動させる制御装置50とを備える。また、発熱素子が抵抗器であれば、前記除算値が最大となる周波数fは、2〜30MHzである。【選択図】図1
Description
本発明は、発熱装置、及び発熱装置の制御方法に関し、例えば、抵抗器を高周波電力で発熱させる発熱装置に関する。
素材を加熱溶融する装置やストーブとして、電熱線を用いた発熱装置が多く使用されている。例えば、特許文献1には、スイッチング制御により、発熱量を一定にするスイッチング制御式電熱回路が開示されている。
特許文献1の技術は、電熱線に印加する矩形波の周波数を固定したものである。そのため、電熱線(発熱素子)の発熱量の最適化には限界がある。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、発熱素子の発熱量を高めることができる発熱装置、及び発熱装置の制御方法を提供することを目的とする。
前記目的を達成するために、本発明の発熱装置は、周波数を可変可能な高周波電力源(1)と、前記高周波電力源に接続した発熱素子(抵抗器4)と、前記発熱素子の発熱量(例えば、温度変化測定値)を、前記発熱素子に入力される高周波電力(例えば、発熱素子に供給される高周波電力と同一の直流電力が発熱素子に供給されたときの温度変化の値)で除算した除算値が最大となる周波数の近傍で前記高周波電力源を駆動させる制御装置(50)と、を備えることを特徴とする。なお、括弧内の符号や文字は、実施形態において付した符号等であって、本発明を限定するものではない。
本発明によれば、発熱素子の発熱量を高めることができる。
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態(以下、「本実施形態」と称する)につき詳細に説明する。なお、各図は、本実施形態を十分に理解できる程度に、概略的に示してあるに過ぎない。また、各図において、共通する構成要素や同様な構成要素については、同一の符号を付し、それらの重複する説明を省略する。
(第1実施形態)
図1は、本発明の第1実施形態である発熱装置の構成図である。
発熱装置100は、高周波電力源としてのファンクションジェネレータ1と、RLC直列回路10と、測定装置としてのオシロスコープ30と、電流プローブ20と、熱電対40と、制御装置50とを備える。RLC直列回路10は、可変コンデンサ2と、コイル3と、発熱素子としての抵抗器4との直列回路である。
図1は、本発明の第1実施形態である発熱装置の構成図である。
発熱装置100は、高周波電力源としてのファンクションジェネレータ1と、RLC直列回路10と、測定装置としてのオシロスコープ30と、電流プローブ20と、熱電対40と、制御装置50とを備える。RLC直列回路10は、可変コンデンサ2と、コイル3と、発熱素子としての抵抗器4との直列回路である。
ファンクションジェネレータ1は、任意の周波数で任意の波形を発生することができる装置であるが、本実施形態では、信号fで周波数可変可能な正弦波発生器として使用する。ここでは、周波数2MHz〜30MHz程度の正弦波を想定している。
ファンクションジェネレータ1は、例えば、YOKOGAWA FG410である。正弦波の振幅周波数特性は、5MHz〜20MHzで±0.3dBであり、20MHz〜30MHzで±0.5dBである。このファンクションジェネレータ1は、デジタル直接合成シンセサイザが波形生成し、D/A変換器、ローパスフィルタを介してアナログ信号を出力する。つまり、ファンクションジェネレータ1は、共振回路を有していない。
可変コンデンサ2は、キャパシタンスCを可変することができるコンデンサである。コイル3は、インダクタンスLのコイルである。コイル3は、例えば、線径0.55[mm]のエナメル線を、内径14[mm]、高さ10[mm]に形成したものである。抵抗器4は、膜厚タイプである。可変コンデンサ2とコイル3と抵抗器4とは直列接続されており、RLC直列回路10を構成する。RLC直列回路10は、ファンクションジェネレータ1により、正弦波高周波電圧が印加される。RLC直列回路10は、可変コンデンサ2のキャパシタンスCを可変して共振状態で使用する。
オシロスコープ30は、複数のチャンネルの電圧波形を観測する測定装置であり、何れかのチャンネルで電圧測定に使用される。オシロスコープ30は、電圧プローブが抵抗器4の両端に接続されており、抵抗器4の両端電圧VRを測定する。オシロスコープ30は、例えば、YOKOGAWA DLM2034である。このオシロスコープの周波数帯域(≧−3dB)は、±3divの正弦波入力時、100mV〜100V/divのレンジで 250MHzであり、20mV〜50mV/divのレンジで 300MHzである。この周波数帯域は、ファンクションジェネレータ1が出力する正弦波の周波数範囲2MHz〜30MHzに対して十分に広い。
電流プローブ20は、オシロスコープ30の他のチャンネルに接続し、RLC直列回路10に流れる電流を測定するものである。電流プローブ20は、導線をクランプする方式であり、抵抗分圧による誤差を生じない。電流プローブ20は、例えば、YOKOGAWA 701918である。この電流プローブ20の定格は、周波数120MHzで−3dBである。熱電対40は、抵抗器4の温度(表面温度)を測定するためのものであり、制御装置50が測定温度を取り込む。
制御装置50は、測定回路50a及び制御回路50bを有している。
測定回路50aは、熱電対40が取得した温度情報を取り込む機能部である。制御回路50bは、CPU(Central Processing Unit)であり、オシロスコープ30及びファンクションジェネレータ1を制御する機能部である。制御回路50bは、抵抗器4が発熱する発熱量と、抵抗器4に供給される高周波電力との比が最大になるようにファンクションジェネレータ1の発振周波数を制御する。また、抵抗器4の温度変化(温度上昇)は、抵抗器4が発熱する発熱量に比例する。そのため、制御回路50bは、抵抗器4の表面温度と、抵抗器4に供給される高周波電力との比が最大になるようにファンクションジェネレータ1の発振周波数を制御することになる。
測定回路50aは、熱電対40が取得した温度情報を取り込む機能部である。制御回路50bは、CPU(Central Processing Unit)であり、オシロスコープ30及びファンクションジェネレータ1を制御する機能部である。制御回路50bは、抵抗器4が発熱する発熱量と、抵抗器4に供給される高周波電力との比が最大になるようにファンクションジェネレータ1の発振周波数を制御する。また、抵抗器4の温度変化(温度上昇)は、抵抗器4が発熱する発熱量に比例する。そのため、制御回路50bは、抵抗器4の表面温度と、抵抗器4に供給される高周波電力との比が最大になるようにファンクションジェネレータ1の発振周波数を制御することになる。
図2は、RLC直列回路の交流電圧ベクトル図である。
RLC直列回路10(図1)は、可変コンデンサ2とコイル3と抵抗器4との直列回路である。可変コンデンサ2の両端電圧VCと、コイル3の両端電圧VLとは位相が反転している。また、抵抗器4の両端電圧VRは、VC及びVLに対して位相が90°ずれている。可変コンデンサ2のキャパシタンスCを調整し、共振させることにより、|VC|=|VL|となる。結果的に、RLC直列回路10のインピーダンスZは、Z=Rとなる。つまり、可変コンデンサ2及びコイル3を削除した回路でも構わない。なお、配線に用いられる0.7φ程度のリード線の単位長さ当りのインダクタンスlは、l≒10−6[H/m]である。リアクタンスは、周波数10[MHz]で60[Ω/m]程度あるが、共振により無視できる。
RLC直列回路10(図1)は、可変コンデンサ2とコイル3と抵抗器4との直列回路である。可変コンデンサ2の両端電圧VCと、コイル3の両端電圧VLとは位相が反転している。また、抵抗器4の両端電圧VRは、VC及びVLに対して位相が90°ずれている。可変コンデンサ2のキャパシタンスCを調整し、共振させることにより、|VC|=|VL|となる。結果的に、RLC直列回路10のインピーダンスZは、Z=Rとなる。つまり、可変コンデンサ2及びコイル3を削除した回路でも構わない。なお、配線に用いられる0.7φ程度のリード線の単位長さ当りのインダクタンスlは、l≒10−6[H/m]である。リアクタンスは、周波数10[MHz]で60[Ω/m]程度あるが、共振により無視できる。
後記するように、特定の周波数帯(例えば、2MHz〜30MHz、好ましくは4MHz〜26MHz)の高周波電力が抵抗器4に供給されたときの発熱量(温度変化)は、該高周波電力と同一の直流電力が抵抗器4に供給されたときの発熱量(温度変化)よりも大きいことを、我々は発見した。本実施形態の発熱装置100は、このことを利用したものである。
(第2実施形態)
まず、第2実施形態の構成について説明し、第1実施形態と比較しつつ特性評価を行う。
まず、第2実施形態の構成について説明し、第1実施形態と比較しつつ特性評価を行う。
図3は、本発明の第2実施形態である発熱装置の構成図である。
発熱装置200は、正弦波発生器としてのファンクションジェネレータ1と、抵抗器4と、測定装置としてのオシロスコープ30と、電流プローブ20と、熱電対40と、制御装置50とを備える。つまり、第2実施形態では、ファンクションジェネレータ1は、抵抗器4のみに接続されている点が特徴である。この抵抗器4のみの回路をR回路11ともいう。
発熱装置200は、正弦波発生器としてのファンクションジェネレータ1と、抵抗器4と、測定装置としてのオシロスコープ30と、電流プローブ20と、熱電対40と、制御装置50とを備える。つまり、第2実施形態では、ファンクションジェネレータ1は、抵抗器4のみに接続されている点が特徴である。この抵抗器4のみの回路をR回路11ともいう。
(特性評価)
以下、第1実施形態の発熱装置100及び第2実施形態の発熱装置200の電気特性、及び温度変化特性について説明する。
以下、第1実施形態の発熱装置100及び第2実施形態の発熱装置200の電気特性、及び温度変化特性について説明する。
図4は、抵抗器の両端電圧の周波数特性を示す図であり、図5は、抵抗器に流れる電流の周波数特性を示す図である。
横軸は、ファンクションジェネレータ1の周波数[MHz]であり、2MHz〜30MHzまで測定している。図4の縦軸は、抵抗器4の両端の実効電圧[V]である。実線は、RLC直列回路10の抵抗器4の実効電圧測定値であり、破線は、R回路11の実効電圧測定値である。また、一点鎖線は、RLC直列回路10及びR回路11の実効電圧計算値である。同様に、図5の縦軸は、抵抗器4に流れる実効電流[mA]である。実線は、RLC直列回路10の抵抗器4に流れる実効電流測定値であり、破線は、R回路11に流れる実効電流測定値である。また、一点鎖線は、RLC直列回路10及びR回路11の実効電流計算値である。
横軸は、ファンクションジェネレータ1の周波数[MHz]であり、2MHz〜30MHzまで測定している。図4の縦軸は、抵抗器4の両端の実効電圧[V]である。実線は、RLC直列回路10の抵抗器4の実効電圧測定値であり、破線は、R回路11の実効電圧測定値である。また、一点鎖線は、RLC直列回路10及びR回路11の実効電圧計算値である。同様に、図5の縦軸は、抵抗器4に流れる実効電流[mA]である。実線は、RLC直列回路10の抵抗器4に流れる実効電流測定値であり、破線は、R回路11に流れる実効電流測定値である。また、一点鎖線は、RLC直列回路10及びR回路11の実効電流計算値である。
ここで、RLC直列回路10及びR回路11の計算値は、以下のように演算している。ファンクションジェネレータ1の出力設定電圧20Vp−p(実効電圧7.07V)、出力インピーダンス50Ωなので、実効電圧計算値は、7.07V×{47Ω/(47Ω+50Ω)}=3.426Vである。また、実効電流計算値は、3.426V/47Ω=72.9mAである。
RLC直列回路10及びR回路11の実効電圧測定値及び実効電流測定値は、周波数の増加に伴い、徐々に低下している。特に、実効電流測定値(図5)は、実効電圧測定値(図4)の約2倍の勾配で低下している。また、RLC直列回路10とR回路11との差は、少ない。
図6は、直流供給電力と抵抗器の温度変化との関係を示す図である。
横軸は、抵抗器4に流した直流電流の値の2乗に抵抗値(47Ω)を乗算した直流電力[mW]である。例えば、抵抗値47[Ω]の抵抗器4に直流電流72.9[mA]を流したときの直流電力の計算値は、250[mW]である。縦軸は、抵抗器4に直流電流を流し、熱電対40で測定した表面温度の温度変化[℃]である。温度変化T1は、抵抗器4の温度(T2)及び外気温度(T0)を測定し、T1=(T2−T0)としている。温度変化の勾配は、例えば、W1=174[mW]のときに温度変化T3=10℃なので、0.0575[℃/mW]である。
横軸は、抵抗器4に流した直流電流の値の2乗に抵抗値(47Ω)を乗算した直流電力[mW]である。例えば、抵抗値47[Ω]の抵抗器4に直流電流72.9[mA]を流したときの直流電力の計算値は、250[mW]である。縦軸は、抵抗器4に直流電流を流し、熱電対40で測定した表面温度の温度変化[℃]である。温度変化T1は、抵抗器4の温度(T2)及び外気温度(T0)を測定し、T1=(T2−T0)としている。温度変化の勾配は、例えば、W1=174[mW]のときに温度変化T3=10℃なので、0.0575[℃/mW]である。
図7は、抵抗器の温度変化の周波数特性である。
横軸は、ファンクションジェネレータ1の周波数[MHz]であり、周波数は、2MHz〜30MHzまで測定している。縦軸は、熱電対40で測定した抵抗器4の表面温度の温度変化[℃]である。実線は、RLC直列回路10(図1)の温度変化測定値であり、破線は、R回路11(図3)の温度変化測定値である。一点鎖線は、RLC直列回路10の温度変化予想値であり、二点鎖線は、R回路11の温度変化予想値である。
横軸は、ファンクションジェネレータ1の周波数[MHz]であり、周波数は、2MHz〜30MHzまで測定している。縦軸は、熱電対40で測定した抵抗器4の表面温度の温度変化[℃]である。実線は、RLC直列回路10(図1)の温度変化測定値であり、破線は、R回路11(図3)の温度変化測定値である。一点鎖線は、RLC直列回路10の温度変化予想値であり、二点鎖線は、R回路11の温度変化予想値である。
RLC直列回路10及びR回路11において、温度変化予想値は、抵抗器4に供給される高周波電力(抵抗値(47Ω)×実効電流(図5)2)と同一の直流電力[mW]が抵抗器4に供給されたときに測定した表面温度(直流での表面温度)の温度変化(図6)である。なお、高周波電力(実効電圧(図4)×実効電流(図5))と同一の直流電力が抵抗器4に供給されたとしても、図6と同様の傾向を示す。
温度変化測定値と温度変化予想値との双方が、周波数の増加に伴い、徐々に低下している。また、温度変化測定値(実線、破線)は、温度変化予想値(一点鎖線、二点鎖線)を超えている点が特徴的である。つまり、高周波による温度変化(温度上昇)が直流による温度変化(温度上昇)を超えている点が特徴的である。
図8は、抵抗器の温度変化測定値の温度変化予想値に対する割合を示す図である。
横軸は、ファンクションジェネレータ1の周波数[MHz]であり、周波数は、2MHz〜30MHzまで測定している。縦軸は、抵抗器4の温度変化測定値を温度変化予想値で除した値[%]である。実線は、RLC直列回路10での割合であり、破線は、R回路11での割合である。一点鎖線は、(RLC直列回路10での割合−R回路11での割合)である。
横軸は、ファンクションジェネレータ1の周波数[MHz]であり、周波数は、2MHz〜30MHzまで測定している。縦軸は、抵抗器4の温度変化測定値を温度変化予想値で除した値[%]である。実線は、RLC直列回路10での割合であり、破線は、R回路11での割合である。一点鎖線は、(RLC直列回路10での割合−R回路11での割合)である。
温度変化測定値が温度変化予想値を超えているので(図7)、RLC直列回路10及びR回路11の温度変化の割合は、2MHz〜30MHzで100%以上になっている。例えば、RLC直列回路10では、16MHzでピーク値161%である。つまり、特定の周波数帯(例えば、4MHz〜26MHz)の高周波電力が抵抗器4に供給されたときの温度変化は、該高周波電力と同一の直流電力が抵抗器4に供給されたときの温度変化よりも大きいことを、我々は発見した。
また、RLC直列回路10での割合(実線)は、R回路11の割合(破線)よりも大きく、その差(一点鎖線)は、10%〜20%である。つまり、可変コンデンサ2及びコイル3の直列回路は、実質的に、10%〜20%、抵抗器4の発熱量に影響を及ぼしている。
図9は、抵抗器の温度変化と抵抗値との関係を示す図である。
横軸は、抵抗器4に直流電流を流したときの温度変化[℃]であり、縦軸は、抵抗値[Ω]である。温度が変化しても抵抗値は約47[Ω]と固定している。
横軸は、抵抗器4に直流電流を流したときの温度変化[℃]であり、縦軸は、抵抗値[Ω]である。温度が変化しても抵抗値は約47[Ω]と固定している。
次に、抵抗器4の抵抗値をR=47[Ω]からR=120[Ω]まで増加して、同様の測定を行った。その他の測定条件は、図4〜図9と同様である。
図10は、抵抗器の両端電圧の周波数特性を示す図であり、図11は、抵抗器に流れる電流の周波数特性を示す図である。図12は、直流供給電力と、抵抗器の温度変化との関係を示す図である。図13は、抵抗器の温度変化の周波数特性である。図14は、抵抗器の温度変化測定値の温度変化予想値に対する割合を示す図である。図15は、抵抗器の温度変化と抵抗値との関係を示す図である。
実効電圧及び実効電流の計算値は、以下のように演算している。
ファンクションジェネレータ1は、出力電圧の実効値7.07V、出力インピーダンス50Ωなので、実効電圧計算値は、7.07V×{120Ω/(120Ω+50Ω)}=4.99Vである。また、実効電流計算値は、4.99V/120Ω=41.6mAである。この実効電圧・電流計算値に相当する直流電力は、207.5[mW]である。
ファンクションジェネレータ1は、出力電圧の実効値7.07V、出力インピーダンス50Ωなので、実効電圧計算値は、7.07V×{120Ω/(120Ω+50Ω)}=4.99Vである。また、実効電流計算値は、4.99V/120Ω=41.6mAである。この実効電圧・電流計算値に相当する直流電力は、207.5[mW]である。
抵抗器4の抵抗値をR=47[Ω]からR=120[Ω]まで増加しても、傾向の変化は無い。なお、直流電力207.5[mW]は、抵抗値47[Ω]のときに供給される直流電力250[mW]よりも少ないので、図14の温度変化は、図7の温度変化よりも少ない。また、図14の温度変化の割合では、RLC直列回路(実線)が14MHzでピーク171%を示している。
これらの結果から、4MHz〜30MHz(好ましくは、10MHz〜20MHz、さらに好ましくは、13MHz〜17MHz)の高周波電力を抵抗器4に供給したときの発熱量は、該高周波電力に相当する直流電力を抵抗器4に供給したときの発熱量よりも多い、ということが云える。
次に、R回路の実効電圧、実効電流、抵抗器4の温度変化、(温度変化測定値/温度変化予想値)を横軸の周波数を対数にして評価する。R回路は、抵抗値47Ωの抵抗器4のみの回路である。
図16は、R回路の実効電圧測定値の周波数特性を示す図であり、図17は、R回路の実効電流測定値の周波数特性を示す図である。横軸は周波数[Hz]であり、図16の縦軸は実効電圧[V]であり、図17の縦軸は、実効電流[mA]である。図16,17の何れも、実線が測定値であり、破線が計算値である。
また、図18は、抵抗器4の温度変化の周波数特性を示す図である。横軸は周波数[Hz]であり、縦軸は温度[℃]である。実線が測定値であり、破線が予想値である。この温度変化予想値は、抵抗値×実効電流2で演算した交流電力に相当する直流電力を抵抗器4に供給したときの温度上昇である。
電圧実効値(図16)は、周波数10MHz付近から直線的に低下し、電流実効値(図17)は、5MHz付近から直線的に緩やかに低下する。一方、温度変化(図18)は、予想値が5MHz付近から直線的に低下しているのに対し、測定値は、10MHz近傍から急激に低下している。つまり、実効電流測定値(図17)が5MHz付近から直線的に緩やかに低下しているのに対し、温度変化測定値(図18)は、10MHz近傍から急激に低下する減少が生じている。
図19は、R回路の温度変化測定値の温度変化予想値に対する割合の周波数特性を示す図である。横軸は、周波数[Hz]であり、縦軸は、割合[%]である。
温度変化測定値/温度変化予想値は、5MHz〜30MHzにてピークが発生する。つまり、5MHz〜30MHzでは、高周波電力による発熱量が直流電力による発熱量を上回っている。この現象は、電子の運動エネルギの上昇のためと考えられる。この電子の運動エネルギは、電流の自由電子と抵抗の原子の電子との衝突で熱エネルギに変換される。
温度変化測定値/温度変化予想値は、5MHz〜30MHzにてピークが発生する。つまり、5MHz〜30MHzでは、高周波電力による発熱量が直流電力による発熱量を上回っている。この現象は、電子の運動エネルギの上昇のためと考えられる。この電子の運動エネルギは、電流の自由電子と抵抗の原子の電子との衝突で熱エネルギに変換される。
(C回路)
次に、キャパシタンスC=5[pF]の固定コンデンサに正弦波電圧を印加し、正弦波電流を測定するC回路について、周波数を可変した周波数特性を測定した。なお、固定コンデンサは、発熱しないが、特定の周波数帯(例えば、5MHz〜30MHz)で測定電流値が変化するか否か検討する意義がある。
次に、キャパシタンスC=5[pF]の固定コンデンサに正弦波電圧を印加し、正弦波電流を測定するC回路について、周波数を可変した周波数特性を測定した。なお、固定コンデンサは、発熱しないが、特定の周波数帯(例えば、5MHz〜30MHz)で測定電流値が変化するか否か検討する意義がある。
図20は、固定コンデンサの両端電圧の周波数特性である。横軸は、周波数[MHz]であり、縦軸は、電圧[V0−p]である。実線は、計算値であり、固定コンデンサを接続していない状態の無負荷電圧計算値である。一点鎖線は、固定コンデンサを接続した状態の電圧測定値である。測定値の方が計算値よりも電圧が低下している。
図21は、固定コンデンサに流れる電流の周波数特性である。横軸は、周波数[MHz]であり、縦軸は、電流[mAp−p]である。実線は、I=ωCVで計算した計算値である。一点鎖線は電流測定値である。電流測定値の方が電流計算値を上回っている。
図22は、電流測定値の電流計算値に対する割合の周波数特性である。
横軸は、周波数[MHz]であり、縦軸は、電流測定値の電流計算値に対する割合[%]である。周波数2MHz〜30MHzで100%を超えている。この現象は、固定コンデンサの負極で電子の運動エネルギが上昇し、固定コンデンサの正極で自由電子が押し出され、結果的に電流が増加したものと考えられる。なお、周波数2MHz〜30MHz以外の他の周波数では、電子の運動エネルギが増加しないので、電流の増加現象も生じない。
横軸は、周波数[MHz]であり、縦軸は、電流測定値の電流計算値に対する割合[%]である。周波数2MHz〜30MHzで100%を超えている。この現象は、固定コンデンサの負極で電子の運動エネルギが上昇し、固定コンデンサの正極で自由電子が押し出され、結果的に電流が増加したものと考えられる。なお、周波数2MHz〜30MHz以外の他の周波数では、電子の運動エネルギが増加しないので、電流の増加現象も生じない。
ここで、電流プローブ20(図1)及び抵抗器4の周波数特性の影響について検討する。
図23は、電流プローブの周波数特性を示す図である。
横軸は、周波数[Hz]であり、縦軸は、Gain[dB]である。電流プローブ20の定格は、周波数120MHzで−3dBである。電流プローブ20は、1MHz以下の低い周波数では、Gain≒0であるが、破線で示す数MHz〜30MHzでGainが若干低下し、100MHz近傍でGainが戻る性質を有している点が特徴的である。
横軸は、周波数[Hz]であり、縦軸は、Gain[dB]である。電流プローブ20の定格は、周波数120MHzで−3dBである。電流プローブ20は、1MHz以下の低い周波数では、Gain≒0であるが、破線で示す数MHz〜30MHzでGainが若干低下し、100MHz近傍でGainが戻る性質を有している点が特徴的である。
この電流プローブ20の特徴的性質により、電流測定値を電流計算値で除した電流比(図19)が周波数2MHz〜30MHzで100%を超える現象を説明し得る。また、周波数の増加によって生じる抵抗器4に流れる実効電流(図5、図11)の低下が実効電圧(図4、図10)の低下よりも大きいことも説明し得る。
しかしながら、抵抗器4に供給される高周波電力は、R×I2で計算していたが、R×I×Vで計算しても、温度変化の傾向に大きな変化がない。つまり、抵抗器4の両端の実効電圧(図4)にも、周波数依存性がある。したがって、周波数2MHz〜30MHzでは、電子の運動エネルギの上昇のため、発熱量が増加したとの発見は、電流プローブ20の周波数特性では否定されない。
図24は、一般的な抵抗器の周波数特性を示す図である。
横軸は、周波数[MHz]であり、縦軸は、直流からのインピーダンス変化ΔZ[%]である。抵抗器4のインピーダンスの変化ΔZは、100MHz以上で大きくなっている。言い換えれば、ファンクションジェネレータ1の出力正弦波の周波数2〜30MHz程度では、抵抗器4のインピーダンスの変化ΔZは、無視できる。
横軸は、周波数[MHz]であり、縦軸は、直流からのインピーダンス変化ΔZ[%]である。抵抗器4のインピーダンスの変化ΔZは、100MHz以上で大きくなっている。言い換えれば、ファンクションジェネレータ1の出力正弦波の周波数2〜30MHz程度では、抵抗器4のインピーダンスの変化ΔZは、無視できる。
図25は、制御装置の動作を説明するためのフローチャートである。
このフロー(S10)は、第1,2実施形態の制御装置50が逐次実行するものである。
制御装置50は、まず、抵抗器4の高周波入力電力の計測・演算を行う(S1)。このとき、抵抗器4の抵抗値Rに高周波電流測定値の二乗を乗算した値を高周波入力電力とする。
このフロー(S10)は、第1,2実施形態の制御装置50が逐次実行するものである。
制御装置50は、まず、抵抗器4の高周波入力電力の計測・演算を行う(S1)。このとき、抵抗器4の抵抗値Rに高周波電流測定値の二乗を乗算した値を高周波入力電力とする。
S1の処理後、制御装置50は、S1で演算した高周波入力電力と同一の直流電力が抵抗器4に供給されたとしたときの温度変化の予想値を、テーブル(図6,12をテーブルにしたもの)を参照して求める(S2)。S2の処理後、制御装置50は、抵抗器4の温度変化を測定する(S3)。S3の処理後、制御装置50は、S3で測定した抵抗器4の温度変化測定値と、S2で求めた温度変化の予想値との比を演算する(S4)。S4の処理後、制御装置50は、S4で演算した比が所定範囲以下であったり、その比が所定幅以上低下したりしたか否か判定する(S5)。
S4で演算した比が所定範囲以下であったり、その比が所定幅以上低下したりしたときには(S5でYes)、制御装置50は、S4で演算した比が基準値又は前回の値よりも増加したか低下したか否か判定する(S6)。ここで、初回のループでは基準値(例えば、S5の所定範囲の中間値)を使用し、2回目以降のループでは前回の値を使用する。
S6の処理後、S4で演算した比が増加していたとき(S6で増加)、制御装置50は、ファンクションジェネレータ1の周波数を、同一方向に修正する(S7)。一方、S4で演算した比が低下していたとき(S6で低下)、制御装置50は、ファンクションジェネレータ1(図1)の周波数を、逆方向に修正する(S8)。S7,8の処理後、制御装置50は、処理をS1に戻し、高周波入力電力の計測や演算を繰り返す。また、S4で演算した比が所定範囲以下であったり、その比が所定幅以上低下したりしなかったときや(S5でNo)、S6で比の変化がなかったときには(S6で変化無し)、制御装置50は、このフローを終了する。
つまり、このフロー(S10)は、抵抗器4の温度変化測定値と、抵抗器4に供給される高周波入力電力と同一の直流電力が抵抗器4に供給されたとしたときの温度変化の予想値との比(除算値)が所定範囲以下であったり、その比が所定幅以上低下したりしたときには、その比が最大になるように、駆動回路130(図25)やファンクションジェネレータ1(図1)の周波数を修正する。
言い換えれば、制御装置50は、抵抗器4の発熱量を、抵抗器4に供給される高周波入力電力で除算した除算値が最大となる周波数の近傍でファンクションジェネレータ1(図1)を駆動させる。
1 ファンクションジェネレータ(正弦波発振器、高周波電力源)
2 可変コンデンサ
3 コイル
4 抵抗器(発熱素子)
10 RLC直列回路
11 R回路
20 電流プローブ
30 オシロスコープ(測定装置)
40,41 熱電対
50 制御装置
100,200 発熱装置
2 可変コンデンサ
3 コイル
4 抵抗器(発熱素子)
10 RLC直列回路
11 R回路
20 電流プローブ
30 オシロスコープ(測定装置)
40,41 熱電対
50 制御装置
100,200 発熱装置
Claims (7)
- 周波数を可変可能な高周波電力源と、
前記高周波電力源に接続した発熱素子と、
前記発熱素子の温度変化の測定値を、前記発熱素子に供給される高周波電力と同一の直流電力が前記発熱素子に供給されたときの温度変化の値で除算した除算値が最大となる周波数の近傍で前記高周波電力源を駆動させる制御装置と、
を備えることを特徴とする発熱装置。 - 周波数を可変可能な高周波電力源と、
前記高周波電力源に接続した発熱素子と、
前記発熱素子の発熱量を、前記発熱素子に供給される高周波電力で除算した除算値が最大となる周波数の近傍で前記高周波電力源を駆動させる制御装置と、
を備えることを特徴とする発熱装置。 - 前記発熱素子の温度変化の測定値を、前記発熱量と見なし、
前記制御装置は、前記測定値を、前記発熱素子に供給される高周波電力と同一の直流電力が前記発熱素子に供給されたときの温度変化の値で除算して、前記除算値を演算する
ことを特徴とする請求項2に記載の発熱装置。 - 前記発熱素子は、抵抗器であり、
前記除算値が最大となる周波数は、2〜30MHzである
ことを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れか一項に記載の発熱装置。 - 前記制御装置は、前記除算値が所定値よりも低下したときに、前記周波数を変動させる
ことを特徴とする請求項1乃至請求項4の何れか一項に記載の発熱装置。 - 前記制御装置は、前記除算値が所定幅以上低下したとき、前記周波数を変動させる
ことを特徴とする請求項1乃至請求項5の何れか一項に記載の発熱装置。 - 周波数を可変可能な高周波電力源と、前記高周波電力源に接続した発熱素子とを備える発熱装置の制御装置が実行する制御方法であって、
前記発熱素子の温度変化の測定値を前記発熱素子に入力される高周波電力と同一の直流電力が前記発熱素子に供給されたときの温度変化で除算した除算値が最大となる周波数の近傍で前記高周波電力源を駆動させるステップを実行する
ことを特徴とする発熱装置の制御方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020048883A JP2021150178A (ja) | 2020-03-19 | 2020-03-19 | 発熱装置、及び発熱装置の制御方法 |
US17/204,118 US20210298133A1 (en) | 2020-03-19 | 2021-03-17 | Heating device and control method of heating device |
CN202110284791.5A CN113498223A (zh) | 2020-03-19 | 2021-03-17 | 发热装置及发热装置的控制方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2020048883A JP2021150178A (ja) | 2020-03-19 | 2020-03-19 | 発熱装置、及び発熱装置の制御方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021150178A true JP2021150178A (ja) | 2021-09-27 |
Family
ID=77748870
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020048883A Pending JP2021150178A (ja) | 2020-03-19 | 2020-03-19 | 発熱装置、及び発熱装置の制御方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20210298133A1 (ja) |
JP (1) | JP2021150178A (ja) |
CN (1) | CN113498223A (ja) |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4086466A (en) * | 1976-04-30 | 1978-04-25 | Scharlack Ronald S | Automatic heater controller |
JP2965381B2 (ja) * | 1991-05-15 | 1999-10-18 | 平田機工株式会社 | 定電圧制御型電熱回路 |
KR100989329B1 (ko) * | 2003-04-11 | 2010-10-25 | 파나소닉 주식회사 | 고주파 가열장치 |
KR100493337B1 (ko) * | 2004-09-07 | 2005-06-02 | 주식회사 경인특수금속 | 고주파 펄스 발진기 |
EP2194758B1 (en) * | 2005-12-26 | 2011-10-05 | Panasonic Corporation | State detector for detecting operating state of radio-frequency heating apparatus |
JP5675138B2 (ja) * | 2010-03-25 | 2015-02-25 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置 |
CN105246178A (zh) * | 2015-09-30 | 2016-01-13 | 河南油田亚盛电器有限责任公司 | 电加热器专用电气引接装置及其加工工艺 |
-
2020
- 2020-03-19 JP JP2020048883A patent/JP2021150178A/ja active Pending
-
2021
- 2021-03-17 CN CN202110284791.5A patent/CN113498223A/zh active Pending
- 2021-03-17 US US17/204,118 patent/US20210298133A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20210298133A1 (en) | 2021-09-23 |
CN113498223A (zh) | 2021-10-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11349307B2 (en) | Active filter for resonance reduction | |
JP5553904B2 (ja) | 磁気結合インダクタを含む装置において実行される誘導加熱方法 | |
EP2556575A2 (en) | Power quality improvement by active filter | |
Coday et al. | High accuracy calorimetric measurements and modeling of ceramic capacitor losses under large ripple operation | |
Nagasaki et al. | Characterization of power capacitors under practical current condition using capacitor loss analyzer | |
JP7444875B2 (ja) | プラズマ処理装置用電圧波形生成器 | |
JP2021150178A (ja) | 発熱装置、及び発熱装置の制御方法 | |
Coday et al. | Characterization and modeling of ceramic capacitor losses under large signal operating conditions | |
CN110275124B (zh) | 用于mmc子模块电容器试验的直流叠加纹波发生电路 | |
CN111220861B (zh) | 一种用于mmc子模块电容器试验的大电流发生电路 | |
JP3661012B2 (ja) | 配電系アクティブフィルタ装置及び制御方式 | |
US2406804A (en) | Negative resistance device for generating oscillations or reducing damping | |
CN113138310B (zh) | 交流电弧黑盒模型、计算装置及存储介质 | |
Ismail et al. | The Effect of Amplitude Modulation Index and Frequency Modulation Index on Total Harmonic Distortion in 1-Phase Inverter | |
JP6154216B2 (ja) | インバータ回路の制御回路、この制御回路を備えたインバータ装置、このインバータ装置を備えた誘導加熱装置、および、制御方法 | |
JP2013516727A (ja) | 気体放電ランプを駆動する装置 | |
JPH10106738A (ja) | 誘導加熱装置 | |
US3351843A (en) | Electrical apparatus | |
Biju et al. | An adaptive control strategy for single-phase cascaded H-bridge multilevel inverter under distorted load conditions | |
TW202001269A (zh) | 電力電子元件之電壓響應測試方法 | |
US2611091A (en) | Control system | |
Shafi et al. | Influence of voltage and frequency dimming on power losses in HF electronic ballasts for compact fluorescent lamps | |
CN115372847B (zh) | 一种电池测试设备的控制装置和方法 | |
Engleitner et al. | Small-signal modeling of a DC-DC Class-E piezoconverter based on generalized averaging method | |
Liu et al. | Effect of Jump Voltage and Rise Time on the Temperature and Electric Field Distribution Along the Stress Grading System of An Inverter-fed Motor |