JP2021144281A - 最適化装置、最適化方法、及び最適化プログラム - Google Patents
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Abstract
Description
磁気デバイスにおけるコイルに鎖交する磁束(鎖交磁束)の変化量は、例えば、磁気デバイスにおけるコイルと磁石の形状や配置に影響される。このため、例えば、磁気デバイスにおけるコイルと磁石の形状や配置を最適化することにより、磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を最大化することができる。
ここで、このような従来技術において、例えば、コイルの形状を最適化するために、コイルの形状を設計パラメータにより表す場合、当該設計パラメータとして円の半径を指定したときには、最適化するコイルの形状は円に限定される。このように、従来技術においては、設定した設計パラメータの性質により、コイルの形状等が限定され、十分な最適化が行えない場合がある。
ここで、このような従来技術を用いて効率的に目的関数の最適化を行うためには、上述したように、例えば、最適化する目的関数が複数の離散化されたパラメータで表されることが求められる。しかしながら、上述した電磁機器の設計を最適化する従来技術において、目的関数に含まれる設計パラメータは、ギャップ半径など比較的少数の、広い範囲を取り得る連続値である。
このため、上述した電磁機器の設計を最適化する従来技術では、組合せ最適化問題の形式で目的関数を表すことができず、したがって、コイル形状等の設計自由度をより大きくした場合の最適化を効率的に行うことができない。
すなわち、一つの実施態様では、最適化装置は、磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化装置であって、
磁気デバイスにおけるコイルが配される面を分割して、Nc個(Ncは整数)のコイル領域とし、
i番目のコイル領域Niにおいて、
コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数をxiとし、左回りコイルの補助変数をyiとし、
右回りコイルが存在する場合をxi=1とし、
右回りコイルが存在しない場合をxi=0とし、
左回りコイルが存在する場合をyi=1とし、
左回りコイルが存在しない場合をyi=0とし、
xi=1かつyi=1のときは右回りコイル及び左回りコイルはいずれも存在しないものとし、
コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi rightとし、コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi leftとしたとき、
Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化処理部を有する。
本件で開示する技術は、従来技術では、磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を、効率的かつ十分に最適化することができないという、本発明者らの知見に基づくものである。そこで、本件で開示する技術の詳細を説明する前に、従来技術の問題点等について、磁気デバイスが振動発電デバイスである場合を例として説明する。
振動発電デバイスでは、通常、振動発電デバイスが設置された対象物が振動することにより、振動発電デバイスにおけるコイルと磁石(永久磁石)の位置関係が変化することにより生じる電磁誘導という物理現象を利用して、振動を電力に変換する。
電磁誘導により生じる誘導電流(コイルに発生する誘導起電力)は、コイルにおける鎖交磁束の変化量が大きいほど大きくなるため、コイルにおける鎖交磁束の変化量を大きくすることにより、振動発電デバイスの発電量を多くすることができる。
振動発電デバイスなどの磁気デバイスにおけるコイルと磁石の形状や配置を最適化する際には、図2に示すように、例えば、面状に配置した磁石2と、磁石2と相対する(互いに向かい合う)コイル3とにおける形状や配置を最適化する。なお、図2に示したように、振動発電デバイスにおいては、磁石2として、多数の小さな磁石(小磁石)を配列させたものを用いることが効果的な場合がある。なお、図2では、多数の小磁石をy軸とz軸を含む平面(y−z平面)と平行に配列させて形成した磁石2に、4つのコイル3が相対するように配置した例を示している。
磁気デバイスが振動発電デバイスである場合において、コイルの形状を最適化する場合の設計パラメータとしては、コイルの形状を四角形とするときは、図3に示すように、例えば、コイルの一辺の長さA1、辺と辺の間の角度A2などとすることができる。また、コイルの形状を最適化する場合の設計パラメータは、コイルの形状を円とするときは、図4に示すように、例えば、コイルの半径A3とすることができる。
上記の従来技術においては、例えば、このようにして設定した設計パラメータを変数として含む目的関数を最適化することにより、デバイスの設計を行う。このように、対象物の形状を一意に決めることができるパラメータを定め、そのパラメータを変化させることにより最適化を行う手法は、「パラメータ最適化」と呼ばれる場合がある。
上述した従来技術においては、このような連続値の設計パラメータを含む目的関数の最適化には、当該目的関数に制約条件を加えて極小化又は最大化を行う数理計画法などを用いるとされている。
しかしながら、目的関数の最適化を数理計画法などのアルゴリズムで行う際には、目的関数に含まれる設計パラメータの数が多い場合や、目的関数で表された問題が組合せ最適化問題などのNP困難な問題である場合は、計算時間が長くなるときがある。
そこで、組合せ最適化問題を高速に解くことができる技術として、上述したように、アニーリングマシンなどを用いて、焼き鈍し法(アニーリング)による計算を行う技術が提案されている。組合せ最適化問題の求解を焼き鈍し法により行う手法としては、例えば、組合せ最適化問題における条件や制約に基づいた目的関数を用いる手法が提案されている。なお、目的関数は、エネルギー関数、コスト関数、ハミルトニアンなどと称される場合もある。
目的関数(目的関数式)は、当該目的関数におけるパラメータ(変数)が、組合せ最適化問題における最適な組合せとなるときに、最小の値をとる関数である。このため、目的関数が最小の値となる変数の組合せを探索する(目的関数を最小化する)ことにより、組合せ最適化問題の解を探索することができる。
アニーリングマシンなどを用いた焼き鈍し法においては、例えば、QUBO形式でされた目的関数をイジングモデルと呼ばれる形式に変換し、イジングモデルに変換した目的関数の値を最小化することにより、組合せ最適化問題を求解する。
wijは、i番目の要素(ビット)とj番目の要素(ビット)の間の重み付けのための係数(ウエイト)である。
siは、i番目の要素(ビット)が0又は1であることを表すバイナリ変数であり、sjは、j番目の要素(ビット)が0又は1であることを表すバイナリ変数である。
biは、i番目の要素(ビット)に対するバイアスを表す数値である。
const.は定数である。
例えば、図5に示すように、上記のQUBO形式のイジングモデル式に最小値を与えるビット(s;0又は1)の組合せを探索する(丸で囲った部分を探索する)ことにより、当該イジングモデル式を最適化することができるビットの状態を特定することができる。なお、図5において、縦軸はイジングモデル式(E(s))の値の大きさであり、横軸はビット(s)の組合せである。
そして、アニーリングマシンなどを用いた焼き鈍し法では、特定したビットの状態に基づいて、目的関数を最適化するパラメータを求めることができるため、短時間で効率的に目的関数を最適化することができる。このように、目的関数をQUBO形式で表現することができれば、当該目的関数をQUBO形式のイジングモデル式に変換することができ、当該イジングモデル式は、焼き鈍し法により短時間で効率的に最適化(最小化)することができる。
しかしながら、上述したように、従来技術においては、例えば、コイルの形状や配置を最適化するための目的関数のパラメータ(設計パラメータ)は広い範囲を取り得る連続値である。したがって、上記の従来技術では、設計パラメータが広い範囲を取り得る連続値であるため、焼き鈍し法に適したQUBO形式で目的関数を表すことができず、アニーリングマシンなどを用いた焼き鈍し法による効率的な最適化を行うことができない。このため、従来技術では、振動発電デバイスなどの磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化するために、コイルの形状や配置を最適化するための計算を効率的に行うことができず、計算時間が長くなってしまう場合があった。
すなわち、本発明者らは、下記の最適化装置等により、磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を、十分かつ効率的に最適化することができることを知見した。
本件で開示する技術の一例としての最適化装置は、磁気デバイスにおけるコイルが配される面を分割して、Nc個(Ncは整数)のコイル領域とし、
i番目のコイル領域Niにおいて、
コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数をxiとし、左回りコイルの補助変数をyiとし、
右回りコイルが存在する場合をxi=1とし、
右回りコイルが存在しない場合をxi=0とし、
左回りコイルが存在する場合をyi=1とし、
左回りコイルが存在しない場合をyi=0とし、
xi=1かつyi=1のときは右回りコイル及び左回りコイルはいずれも存在しないものとし、
コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi rightとし、コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi leftとしたとき、
Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化処理部を有する。
また、以下では、Nc個のコイル領域のうちのi番目のコイル領域を、コイル領域Niと称する場合がある。なお、Nc個のコイル領域における個々のコイル領域を意味する場合は「コイル領域」と称するものとし、Nc個のコイル領域の全体(Nc個のコイル領域の集合)を意味する場合は「コイル配置領域」と称するものとする。
さらに、本件で開示する技術の一例では、上記の補助変数について、右回りコイルが存在する場合をxi=1とし、右回りコイルが存在しない場合をxi=0とし、左回りコイルが存在する場合をyi=1とし、左回りコイルが存在しない場合をyi=0とする。加えて、本件で開示する技術の一例では、xi=1かつyi=1のときは右回りコイル及び左回りコイルはいずれも存在しないものとする。
本件で開示する技術の一例では、このように0又は1で表される補助変数を用いて、i番目のコイル領域Niに右回りコイルか存在するか否か、及び左回りコイルが存在するか否かを表現する。こうすることにより、本件で開示する技術の一例では、Nc個のコイル領域のそれぞれについて、右回りコイルが存在する場合と、左回りコイルが存在する場合と、コイルが存在しない場合とを、0又は1で表される補助変数により表現することができる。
このため、本件で開示する技術の一例では、これらの補助変数をパラメータとして含む目的関数式を最適化することにより、コイルの形状、位置、個数などについて制限を設けずに、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化することができる。言い換えると、本件で開示する技術の一例おいては、コイルの形状等が目的関数式のパラメータにより限定されないため、コイルの形状を十分に最適化することができるので、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化することができる。
より具体的には、本件で開示する技術の一例では、コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi rightとし、コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi leftとする。そして、本件で開示する技術の一例では、Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する。
つまり、本件で開示する技術の一例では、Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する、QUBO化可能な目的関数式を用いて、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する。このため、本件で開示する技術の一例では、QUBO形式のイジングモデル式に変換可能な目的関数式を用いるため、アニーリングマシンなどを用いた焼き鈍し法による効率的な最適化を行うことができる。言い換えると、本件で開示する技術の一例では、焼き鈍し法に適したQUBO形式で目的関数式を表すことができるため、当該目的関数式の最適化を効率的に行うことができる。
ここで、本件で開示する技術の一例を用いて、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する磁気デバイスとしては、コイルと磁石を有するものであれば特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。磁気デバイスとしては、例えば、振動発電デバイス、平面モータ、リニアモータ、磁気浮上装置などが挙げられる。
磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量は、例えば、磁気デバイスにおけるコイル及び磁石の少なくともいずれかが移動し、コイルと磁石の相対的な位置関係が変化したときの、変化前の鎖交磁束と変化後の鎖交磁束との差とすることができる。
まず、本件で開示する技術の一例として、磁気デバイスにおける磁石の向き及び配置を固定として、コイルの形状や配置を最適化することにより、磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する場合について説明する。
本件で開示する技術の一例において、最適化処理部は、磁気デバイスにおけるコイルが配される面を分割して、Nc個(Ncは整数)のコイル領域とする。言い換えると、最適化処理部は、磁気デバイスにおいてコイルを配置し得る面を所定の数(Nc)に分割して、Nc個のコイル領域とする。
また、「コイルが配される面を分割する」とは、磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する際、つまり、コイルにおける鎖交磁束の変化量が最適化された磁気デバイスを設計する際に、コイルを配置し得る面を仮想的に分割することを意味する。言い換えると、本件で開示する技術の一例では、コイルが配される面を分割することにより、当該面を、Nc個のコイル領域の集合(コイル配置領域)として扱う。
より具体的には、「Nc」は、例えば、目的関数式の最適化に用いる計算機(例えば、アニーリングマシン)で用いることができるビットの数、求められる計算精度、実際に作製することができるコイルの大きさなどに応じて、適宜選択することができる。
本件で開示する技術の一例において、最適化処理部は、i番目のコイル領域Niにおいて、コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数をxiとし、左回りコイルの補助変数をyiとする。さらに、本件で開示する技術の一例において、最適化処理部は、右回りコイルが存在する場合をxi=1とし、右回りコイルが存在しない場合をxi=0とし、左回りコイルが存在する場合をyi=1とし、左回りコイルが存在しない場合をyi=0とする。
言い換えると、本件で開示する技術の一例では、コイル領域ごとに、右回りコイルの存在を表現するための補助変数及び左回りコイルの存在を表現するための、0又は1で表される補助変数を用意する。そして、本件で開示する技術の一例では、右回りコイルと左回りコイルを区別した上で、i番目のコイル領域Niにコイルが存在する場合には補助変数を1とし、コイルが存在しない場合には補助変数を0とする。
このように、本件で開示する技術の一例においては、各コイル領域のコイルの状態を補助変数により一意に矛盾なく表現できるため、補助変数の値の組合せにより、コイル領域の集合として、磁気デバイスにおけるコイルの形状、位置、個数を表すことができる。このため、本件で開示する技術の一例では、これらの補助変数をパラメータとする目的関数式を最適化することにより、コイルの形状、位置、及び個数を最適化して、コイルにおける鎖交磁束の変化量を十分に最適化することができる。
本件で開示する技術の一例では、隣接する同種のコイル領域を互いに結合して1つのコイル領域とすることにより、実際の磁気デバイスの設計に、より利用しやすい形式として、磁気デバイスにおける最適なコイルの形状、個数、位置などを求めることができる。
こうすることにより、本件で開示する技術の一例では、実際の磁気デバイスの設計に、より利用しやすい形式として、コイルが配される面(コイル配置領域)の全体について、磁気デバイスにおける最適なコイルの形状、個数、位置などを求めることができる。
例えば、図10に示すように、本件で開示する技術の一例では、y軸方向に隣接する2つコイル領域において、コイルの向きが互いに異なる場合は、これらの2つのコイル領域を別のコイル領域として扱う。
例えば、図11に示すように、本件で開示する技術の一例では、同一のコイル領域に、異なる向きのコイル(右回りコイルと左回りコイル)が存在する条件となる場合は、このコイル領域にはコイルが存在しないものとして扱う。
本件で開示する技術の一例では、最適化処理部は、コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi rightとし、コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi leftとする。そして、本件で開示する技術の一例では、Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する。
ここで、コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量Δφi rightとコイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量Δφi leftは、上述したように、磁気デバイスにおける磁石の向き及び配置を固定とする場合、一定の値とすることができる。言い換えると、磁気デバイスにおける磁石の向き及び配置を固定とする場合、コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量Δφi rightとコイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量Δφi leftは、コイル領域Niについて定めることができる定数とすることができる。
ここで、右回りコイルの補助変数xi及び左回りコイルの補助変数yiは、0又は1で表される離散化された二値の変数であるため、これらの補助変数をパラメータとする目的関数式は、QUBO形式で表すことができる。つまり、本件で開示する技術の一例では、焼き鈍し法に適したQUBO形式で目的関数式を表すことができるため、当該目的関数式の最適化を効率的に行うことができる。
例えば、磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化(最大化)する目的変数式は、磁気デバイスのコイルの全体における鎖交磁束の変化量をΔφとすると、次式で表すことができる。
Hは、値が最大化されることにより最適化される目的関数式である。
Δφは、磁気デバイスのコイルの全体における鎖交磁束の変化量である。
なお、「→ max」は、目的関数式を最大化することを意味する記号である。
例えば、コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi rightとし、コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi leftとすると、次式の関係を満たす。
Hは、値が最大化されることにより最適化される目的関数式である。
Ncは、コイル領域の数を表す整数である。
Δφi rightは、i番目のコイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値である。
Δφi leftは、i番目のコイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値である。
xiは、コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数である。
yiは、コイル領域Niに存在し得る、左回りコイルの補助変数である。
なお、「→ max」は、目的関数式を最大化することを意味する記号である。
ただし、Eは、値が最小化されることにより最適化される目的関数式である。
なお、「→ min」は、目的関数式を最小化することを意味する記号である。
Eは、目的関数式である。
Ncは、コイル領域の数を表す整数である。
Δφi rightは、i番目のコイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値である。
Δφi leftは、i番目のコイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値である。
xiは、コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数である。
yiは、コイル領域Niに存在し得る、左回りコイルの補助変数である。
イジングモデル式に変換した目的関数式としては、例えば、下記の数式(3)で表される数式を用いることが好ましい。言い換えると、本件で開示する技術の一例では、最適化処理部が、下記式(3)で表されるイジングモデル式に変換した目的関数式に基づき最適化を行うことが好ましい。
Eは、イジングモデル式に変換した目的関数式であり、
wijは、i番目のビットとj番目のビットとの間の相互作用を表す数値であり、
biは、i番目の前記ビットに対するバイアスを表す数値であり、
siは、i番目のビットが0又は1であることを表すバイナリ変数であり、
sjは、j番目のビットが0又は1であることを表すバイナリ変数である。
上記式(3)における右辺の一項目は、全回路から選択可能な2つの回路の全組み合わせについて、漏れと重複なく、2つの回路の状態(ステート)と重み値(ウエイト)との積を積算したものである。
また、上記式(3)における右辺の二項目は、全回路のそれぞれのバイアスの値と状態との積を積算したものである。
つまり、イジングモデル式に変換する前の目的関数式のパラメータを抽出して、wij及びbiを求めることにより、目的関数式を、上記式(3)で表されるイジングモデル式に変換することができる。
目的関数式の最適化に用いるアニーリングマシンとしては、例えば、量子アニーリングマシン、半導体技術を用いた半導体アニーリングマシン、CPU(Central Processing Unit)やGPU(Graphics Processing Unit)を用いてソフトウェアにより実行されるシミュレーテッド・アニーリング(Simulated Annealing)を行うマシンなどが挙げられる。また、アニーリングマシンとしては、例えば、デジタルアニーラ(登録商標)を用いてもよい。
なお、アニーリングマシンを用いた焼き鈍し法の詳細については後述する。
ここからは、本件で開示する技術の一例として、磁気デバイスにおける磁石の向きと配置を固定とせずに、コイルの形状等だけでなく、磁石の向きと配置等についても最適化を行う場合について説明する。なお、上述したコイルの形状等の最適化と同様に行うことができる部分については、説明を省略する場合がある。
ここで、上述したように、従来技術においては、磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化を最適化しようとする際に、コイルの形状がパラメータにより制限される場合や、効率的な最適化を行うことができず最適化に長い時間が必要となる場合があった。このため、このような従来技術を用いて、磁気デバイスのコイルと磁石の両方の配置等を最適化しようとすると、特にコイルの最適化が不十分かつ非効率的なものとなり、磁気デバイスの性能の最適化を十分かつ効率的に行うことができない場合がある。
このように、従来技術を利用した手法では、磁気デバイスのコイルと磁石の両方の配置等を最適化による、磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量の最適化を、十分かつ効率的に行うことができない場合あった。
j番目の磁石領域Njにおいて、
磁石領域Njにおける磁化の向きが、
x軸の正の向きの場合をsj,1とし、
x軸の負の向きの場合をsj,2とし、
y軸の正の向きの場合をsj,3とし、
y軸の負の向きの場合をsj,4とし、
z軸の正の向きの場合をsj,5とし、
z軸の負の向きの場合をsj,6としたとき、
sj,k(k=1,2,3,4,5,6)の内のいずれかが「1」又はすべてが「0」であるものとの制約の下、
磁石領域と相対するコイル領域において、磁石領域Njから発生する、コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφ′i rightとし、コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφ′i leftとしたとき、
最適化処理部が、Δφ′i rightxi(i=1〜Nc)とΔφ′i leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する。
本件で開示する技術の一例において、最適化処理部は、磁気デバイスにおける磁石が配される領域を分割して、Nm個(Nmは整数)の磁石領域とする。言い換えると、本件で開示する技術の一例において、最適化処理部は、磁気デバイスにおいて磁石を配置し得る領域を所定の数(Nm)に分割して、Nm個の磁石領域とする。
また、以下では、Nm個の磁石領域のうちのj番目の磁石領域を、磁石領域Niと称する場合がある。なお、Nm個の磁石領域における個々の磁石領域を意味する場合は「磁石領域」と称するものとし、Nm個の磁石領域の全体(Nm個の磁石領域の集合)を意味する場合は「磁石配置領域」と称するものとする。
例えば、実際に磁気デバイスを作製する際などには、各磁石領域に小さな磁石を配置して、各磁石領域について任意の磁化の向きを有する磁石を用いることができる。
また、図12に示すように、1からNmの間の整数であるjを用いて、Nm個の磁石領域のうちのj番目の磁石領域を、磁石領域Njと称する場合がある。
より具体的には、「Nm」は、例えば、目的関数式の最適化に用いる計算機(例えば、アニーリングマシン)で用いることができるビットの数、求められる計算精度、実際に配置する磁石(小磁石)の数などに応じて、適宜選択することができる。
本件で開示する技術の一例において、最適化処理部は、例えば、j番目の磁石領域Njにおいて、磁石領域Njにおける磁化の向きが、x軸の正の向きの場合をsj,1とし、x軸の負の向きの場合をsj,2とし、y軸の正の向きの場合をsj,3とし、y軸の負の向きの場合をsj,4とし、z軸の正の向きの場合をsj,5とし、z軸の負の向きの場合をsj,6とする。
さらに、本件で開示する技術の一例において、最適化処理部は、例えば、sj,k(k=1,2,3,4,5,6)の内のいずれかが「1」又はすべてが「0」であるものとの制約を、後述する目的関数式に課す。
図13は、磁石の状態変数sj,kと、磁石の状態変数sj,kが表すj番目の磁石領域Njにおける磁化の向きとの対応の一例を示す図である。図13に示すように、磁石の状態変数sj,kは、状態番号k(k=1,2,3,4,5,6)ごとに、異なる磁化の向きを表すことができる。
同様に、本件で開示する技術の一例では、j番目の磁石領域Njについて、磁石の状態変数sj,k(k=1,2,3,4,5,6)がすべて「0」である場合は、j番目の磁石領域Njには磁化(磁石)が存在しないものとして扱う。
このため、sj,kの内のいずれかが「1」又はすべてが「0」であるものとの制約を目的関数式に課すことにより、j番目の磁石領域Njに、磁化(磁石)が存在するか否か、及び磁化が存在する場合の磁化の向き(磁石の向き)を一意に矛盾なく表現することができる。
本件で開示する技術の一例において、最適化処理部は、例えば、磁石領域と相対するコイル領域において、磁石領域Njから発生する、コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφ′i rightとし、コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφ′i leftとする。さらに、本件で開示する技術の一例において、最適化処理部は、例えば、磁石の状態変数sj,kの内のいずれかが「1」又はすべてが「0」であるものとの制約の下、Δφ′i rightxi(i=1〜Nc)とΔφ′i leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する。
ここで、右回りコイルの補助変数xi及び左回りコイルの補助変数yiは、0又は1で表される離散化された二値の変数であるため、これらの補助変数をパラメータとする目的関数式は、QUBO形式で表すことができる。さらに、磁石の状態変数sj,kも0又は1で表される離散化された二値の変数であるため、例えば、磁石の状態変数sj,kをパラメータとする制約項を、目的関数式が含む場合であっても、当該目的関数式は、QUBO形式で表すことができる。
このため、本件で開示する技術の一例では、焼き鈍し法に適したQUBO形式で目的関数式を表すことができるため、当該目的関数式の最適化を効率的に行うことができる。
例えば、最適化された磁石の向きと配置に従って、磁石領域に小さな磁石を配置することにより、磁石の向きや配置などが最適化された磁気デバイスを作製(設計)することができる。
まず、磁石領域Njにおける、状態番号kで表される向きの磁化(磁石)により発生する、コイル領域Niにおける鎖交磁束の変化量Δφ′i,j,kは、例えば、次式で表すことができる。
Δφ′i,j,kは、磁石領域Njにおける、状態番号kで表される向きの磁化(磁石)により発生する、コイル領域Niにおける鎖交磁束の変化量である。
Bx i,j,k(z)は、i番目のコイル領域Niの中心点に、磁石領域Njの状態番号kで表される向きの磁化(磁石)から発生する、変化前におけるx軸方向の磁束密度を意味する。
Bx i,j,k(z+Δz)は、i番目のコイル領域Niの中心点に、磁石領域Njの状態番号kで表される向きの磁化(磁石)から発生する、磁石配置領域MAをz軸方向にΔz移動させた後におけるx軸方向の磁束密度を意味する。
Aは、コイル領域の面積(コイルの断面積)である。
なお、上記の式では、変化前(移動前)の鎖交磁束から変化後(移動後)の鎖交磁束を引くことにより、鎖交磁束の変化量を算出する例を示したが、例えば、変化後の鎖交磁束から変化前の鎖交磁束を引くことにより、鎖交磁束の変化量を算出してもよい。
電磁気学の物理法則であるビオ・サバールの法則を用いると、磁化Mの磁石から観測点Pに発生する磁束密度B(Bはベクトル量)は、次式で表すことができる。
riは、ソース点(例えば、磁石領域の中心点)から、i番目のコイル領域Niへの距離である。
Mj,kは、磁石領域Njの状態番号kで表される向きの磁化である。
また、上記の式にソース点からi番目のコイル領域Niへの距離riが含まれていることからも明らかであるように、Bx i,j,kは、コイル領域Niと磁石領域Njとの間の距離によって変化する。このため、上記の式に基づいて、コイル領域Niにおける鎖交磁束の変化量Δφ′i,j,kを求めることにより、コイル領域Niと磁石領域Njとの間の距離を考慮して、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化することができる。
Δφ′i rightは、磁石領域Njから発生する、i番目のコイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値である。
Δφ′i leftは、磁石領域Njから発生する、i番目のコイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値である。
Δφ′i,j,kは、磁石領域Njにおける、状態番号kで表される向きの磁化(磁石)により発生する、コイル領域Niにおける鎖交磁束の変化量である。
sj,kは、磁石領域Njにおける磁化の向きを表す磁石の状態変数である。
Nmは、磁石領域の数を表す整数である。
H′は、目的関数式である。
Ncは、コイル領域の数を表す整数である。
Nmは、磁石領域の数を表す整数である。
Δφ′i rightは、磁石領域Njから発生する、i番目のコイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値である。
Δφ′i leftは、磁石領域Njから発生する、i番目のコイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値である。
xiは、i番目のコイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数である。
yiは、i番目のコイル領域Niに存在し得る、左回りコイルの補助変数である。
αは、正の数である。
sj,nは、j番目の磁石領域Njにおける、状態番号n(n=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数である。
sj,uは、j番目の磁石領域Njにおける、状態番号u(u=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数である。
なお、「→ max」は、目的関数式を最大化することを意味する記号である。
ただし、E′は、値が最小化されることにより最適化される目的関数式である。
なお、「→ min」は、目的関数式を最小化することを意味する記号である。
E′は、目的関数式である。
Ncは、コイル領域の数を表す整数である。
Nmは、磁石領域の数を表す整数である。
Δφ′i rightは、磁石領域Njから発生する、i番目のコイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値である。
Δφ′i leftは、磁石領域Njから発生する、i番目のコイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値である。
xiは、i番目のコイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数である。
yiは、i番目のコイル領域Niに存在し得る、左回りコイルの補助変数である。
αは、正の数である。
sj,nは、j番目の磁石領域Njにおける、状態番号n(n=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数である。
sj,uは、j番目の磁石領域Njにおける、状態番号u(u=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数である。
上記式(2)に加える他の制約項としては、例えば、磁気デバイスにおけるコイルの断面積が所定の面積となるように制約する制約項、磁気デバイスに用いる磁石(小磁石)の数が所定数となるように制約する制約項などが挙げられる。
βは、正の数である。
Ncは、コイル領域の数を表す整数である。
xiは、コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数である。
yiは、コイル領域Niに存在し得る、左回りコイルの補助変数である。
Ncoilは、コイル配置領域に配置する右回りコイルと左回りコイルの合計の数を指定する整数である。
このため、上記の項は、右回りコイルが存在すると扱うコイル領域の数と、左回りコイルが存在すると扱うコイル領域の数との合計がNcoilと異なる場合、即ちコイルの断面積が所定の面積でない場合に、目的関数式の値を大きくさせるペナルティーの項である。
γは、正の数である。
Nmは、磁石領域の数を表す整数である。
sj,kは、j番目の磁石領域Njにおける、状態番号k(k=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数である。
Nmagは、磁石配置領域に配置する磁石の合計の数を指定する整数である。
したがって、上記の項は、磁石を配置する磁石領域の数がNmagと異なる場合に、目的関数式の値を大きくさせるペナルティーの項である。
コイルと磁石の最適化を行う目的関数式を変換したイジングモデル式としては、コイルの形状等を最適化する場合と同様に、下記の数式(3)で表される数式を用いることが好ましい。言い換えると、本件で開示する技術の一例では、最適化処理部が、下記式(3)で表されるイジングモデル式に変換した目的関数式に基づき最適化を行うことが好ましい。
Eは、イジングモデル式に変換した目的関数式である。
wijは、i番目のビットとj番目のビットとの間の相互作用を表す数値である。
biは、i番目の前記ビットに対するバイアスを表す数値である。
siは、i番目のビットが0又は1であることを表すバイナリ変数である。
sjは、j番目のビットが0又は1であることを表すバイナリ変数である。
図15に、本件で開示する最適化装置のハードウェア構成例を示す。
最適化装置100においては、例えば、制御部101、主記憶装置102、補助記憶装置103、I/Oインターフェイス104、通信インターフェイス105、入力装置106、出力装置107、表示装置108が、システムバス109を介して接続されている。
制御部101は、例えば、主記憶装置102などに読み込まれたプログラム(例えば、本件で開示する最適化プログラムなど)を実行することにより、種々の機能を実現する。
本件で開示する最適化装置における最適化処理部が行う処理は、例えば、制御部101により行うことができる。
ROMは、例えば、BIOS(Basic Input/Output System)などの各種プログラムなどを記憶する。また、ROMとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、マスクROM、PROM(Programmable ROM)などが挙げられる。
RAMは、例えば、ROMや補助記憶装置103などに記憶された各種プログラムが、制御部101により実行される際に展開される作業範囲として機能する。RAMとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、DRAM(Dynamic Random Access Memory)、SRAM(Static Random Access Memory)などが挙げられる。
また、本件で開示する最適化装置プログラムは、例えば、補助記憶装置103に格納され、主記憶装置102のRAM(主メモリ)にロードされ、制御部101により実行される。
入力装置106としては、最適化装置100に対する各種要求や情報の入力を受け付けることができれば特に制限はなく、適宜公知のものを用いることができ、例えば、キーボード、マウス、タッチパネル、マイクなどが挙げられる。また、入力装置106がタッチパネル(タッチディスプレイ)である場合は、入力装置106が表示装置108を兼ねることができる。
表示装置108としては、特に制限はなく、適宜公知のものを用いることができ、例えば、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイなどが挙げられる。
図16に示す例において、最適化装置100は、目的関数式を定義する処理や当該目的関数式をイジングモデル式に変換する処理を行うコンピュータ200と、イジングモデル式の最適化を行うアニーリングマシン300とに分かれている。また、図16に示す例において、最適化装置100におけるコンピュータ200とアニーリングマシン300は、ネットワーク400により接続されている。
図16に示す例では、例えば、コンピュータ200における制御部101aとしてはCPUなどを用いることができ、アニーリングマシン300における制御部101bとしては焼き鈍し法(アニーリング)に特化した装置を用いることができる。
次いで、アニーリングマシン300により、受信したウエイト(wij)及びバイアス(bi)の値の情報に基づいてイジングモデル式の最適化(最小化)を行い、イジングモデル式の最小値と、当該最小値を与えるビットの状態(ステート)を求める。そして、求めたイジングモデル式の最小値と、当該最小値を与えるビットの状態(ステート)とを、アニーリングマシン300からコンピュータ200にネットワーク400を介して送信する。
続いて、コンピュータ200により、受信したイジングモデル式に最小値を与えるビットの状態(ステート)に基づいて、磁気デバイスにおけるコイルの鎖交磁束を最適化できるコイルの形状等や磁石の配置等を求める。
図17に示すように、最適化装置100は、通信機能部120と、入力機能部130と、出力機能部140と、表示機能部150と、記憶機能部160と、制御機能部170とを備える。
入力機能部130は、例えば、最適化装置100に対する各種指示を受け付ける。また、入力機能部130は、例えば、イジングモデル式に変換した目的関数式におけるバイアス及びウエイトのデータの入力を受け付けてもよい。
出力機能部140は、例えば、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化した磁気デバイスにおける、コイルや磁石の形状、配置、向きに関する情報などをプリントして出力する。
表示機能部150は、例えば、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化した磁気デバイスにおける、コイルや磁石の形状、配置、向きに関する情報などをディスプレイに表示する。
記憶機能部160は、例えば、各種プログラム、最適化した磁気デバイスにおけるコイルや磁石の形状、配置、向きに関する情報などを記憶する。
最適化処理部171は、例えば、Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する処理を行う。
次に、最適化処理部171は、磁気デバイスにおける磁石の向き及び配置を固定として、各コイル領域における鎖交磁束の変化量Δφを計算する(S102)。言い換えると、S102において、最適化処理部171は、磁石の向き及び配置を固定した条件で、コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量Δφi rightと、コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量Δφi leftを、それぞれのコイル領域Niについて求める。
次いで、最適化処理部171は、コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量Δφi rightと、コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量Δφi leftと、補助変数xiと、補助変数yiを用いて、Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を定義する(S104)。言い換えると、S104において、最適化処理部171は、0又は1で表される離散化された二値の変数である補助変数をパラメータとする、QUBO形式で表現可能な目的関数式を定義する。
Eは、イジングモデル式に変換した目的関数式であり、
wijは、i番目のビットとj番目のビットとの間の相互作用を表す数値であり、
biは、i番目の前記ビットに対するバイアスを表す数値であり、
siは、i番目のビットが0又は1であることを表すバイナリ変数であり、
sjは、j番目のビットが0又は1であることを表すバイナリ変数である。
続いて、最適化処理部171は、上記式(3)に最小値を与えるビットの状態(ステート)に基づいて、各コイル領域における右回りコイルの補助変数xiと、左回りコイルの補助変数yiとを特定する(S107)。
そして、最適化処理部171は、コイル配置領域における各コイル領域について、隣接する同種のコイル領域を互いに結合して、1つのコイル領域とし、実際のコイルの形状として利用しやすい形式に変換する(S109)。なお、S109において最適化処理部171が行う処理の詳細については後述する。
次に、最適化処理部171は、各磁石領域Njについて、磁石領域Njにおける磁化の向きを表す磁石の状態変数sj,kを割り当てる(S202)。言い換えると、S202において、最適化処理部171は、磁石領域Njにおける磁化の向きを、状態番号k(k=1,2,3,4,5,6)により表すことができる、0又は1で表される離散化された二値の変数である磁石の状態変数sj,kを割り当てる。
次いで、最適化処理部171は、各コイル領域から生じ得る、各コイル領域における鎖交磁束の変化量Δφ′を計算する(S204)。より具体的には、S204において、最適化処理部171は、ビオ・サバールの法則に従い、磁石配置領域を所定の距離移動させたときの磁束密度の変化量に基づき、コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量Δφ′i rightと、左回りコイルの鎖交磁束の変化量Δφ′i leftを、それぞれのコイル領域Niについて求める。
次に、最適化処理部171は、右回りコイルの鎖交磁束の変化量Δφ′i rightと、左回りコイルの鎖交磁束の変化量Δφ′i leftと、補助変数xiと、補助変数yiと、状態変数sj,kを用いて、Δφ′i rightxi(i=1〜Nc)とΔφ′i leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化し、磁化の向き関する制約を満たす目的関数式を定義する(S206)。つまり、S206において、最適化処理部171は、0又は1で表される離散化された二値の変数である補助変数xiとyi及び状態変数sj,kをパラメータとする、QUBO形式で表現可能な目的関数式を定義する。また、S206においては、sj,k(k=1,2,3,4,5,6)の内のいずれかが「1」又はすべてが「0」であるものとの制約を表す制約項を目的関数式が含むように定義することで、目的関数式に磁化の向き関する制約を課す。
次いで、最適化処理部171は、アニーリングマシンを用いて、上記式(3)を最小化する(S208)。なお、S208は、上述したS106と同様の処理とすることができる。
続いて、最適化処理部171は、特定した各コイル領域における右回りコイルの補助変数xiと、左回りコイルの補助変数yiに基づいて、各コイル領域に右回りコイル又は回りコイルを割り当てる(S211)。なお、S211は、上述したS108と同様の処理とすることができる。
そして、最適化処理部171は、コイル配置領域における各コイル領域について、隣接する同種のコイル領域を互いに結合して、1つのコイル領域とし、実際のコイルの形状として利用しやすい形式に変換する(S212)。なお、S212は、上述したS109と同様の処理とすることができる。
また、隣接する同種のコイル領域を互いに結合して1つのコイル領域とする際の流れの一例を説明するにあたり、図21に示すように、コイル配置領域CAにおける、y軸方向の分割数をNcyとする。
そして、最適化処理部171は、i番目のコイル領域Niには、コイルが存在しないものとすると、処理を終了させる(S302)。言い換えると、S302において、最適化処理部171は、i番目のコイル領域Niには、右回りコイル及び左回りコイルはいずれも存在しないものとして、処理を終了させる。
続いて、最適化処理部171は、コイル領域Niについて「xi=1」かつ「iをNcyで割ったあまりが0以外」である否かを判定する(S304)。言い換えると、S304において、図21に示した例について、最適化処理部171は、コイル領域Niの右隣にコイル領域が存在し、かつ当該右隣のコイル領域の補助変数xiが1であるか否かを判定する。
S304において、最適化処理部171は、「xi=1」かつ「iをNcyで割ったあまりが0以外」であると判定した場合は処理をS305に移し、「xi=1」かつ「iをNcyで割ったあまりが0以外」でないと判定した場合は処理をS306に移す。
続いて、最適化処理部171は、コイル領域Niについて「xi+Ncy=1」かつ「Nc−Ncyがi以上」であるか否かを判定する(S306)。言い換えると、S306においては、図21に示した例について、最適化処理部171は、コイル領域Niの下隣にコイル領域が存在し、かつ当該下隣のコイル領域の補助変数xiが1であるか否かを判定する。
S304において、最適化処理部171は、「xi+Ncy=1」かつ「Nc−Ncyがi以上」である判定した場合は処理をS307に移し、「xi+Ncy=1」かつ「Nc−Ncyがi以上」でないと判定した場合は処理をS308に移す。
焼き鈍し法は、乱数値や量子ビットの重ね合わせを用いて確率的に解を求める方法である。以下では最適化したい評価関数の値を最小化する問題を例に説明し、評価関数の値をエネルギーと呼ぶことにする。また、評価関数の値を最大化する場合は、評価関数の符号を変えればよい。
もし、これを決定論的にエネルギーが下がる場合に採択とし、上がる場合に不採択とすれば、エネルギーの変化は時間に対して広義単調減少となるが、局所解に到達したらそれ以上変化が起こらなくなってしまう。上記のように離散最適化問題には非常に多数の局所解が存在するために、状態が、ほとんど確実にあまり最適値に近くない局所解に捕まってしまう。したがって、離散最適化問題を解く際には、その状態を採択するかどうかを確率的に決定することが重要である。
以下では、焼き鈍し法を用いて最適解を求める方法について、順序を追って説明する。
(1)の式で表される許容確率を用いた場合、十分な反復後に定常状態に達したとすると、各状態の占有確率は熱力学における熱平衡状態に対するボルツマン分布に従う。
そして、高い温度から徐々に下げていくとエネルギーの低い状態の占有確率が増加するため、十分温度が下がるとエネルギーの低い状態が得られると考えられる。この様子が、材料を焼き鈍したときの状態変化とよく似ているため、この方法は焼き鈍し法(または、疑似焼き鈍し法)と称される。なお、エネルギーが上がる状態遷移が確率的に起こることは、物理学における熱励起に相当する。
まず、候補発生部114aは、状態保持部111に保持された現在の状態Sから次の状態への状態遷移の候補(候補番号{Ni})を1つまたは複数発生する。次に、エネルギー計算部112は、現在の状態Sと状態遷移の候補を用いて候補に挙げられた各状態遷移に対するエネルギー変化値{−ΔEi}を計算する。可否判定部114bは、温度制御部113で発生した温度値Tと乱数発生部114dで生成した確率変数(乱数値)を用い、各状態遷移のエネルギー変化値{−ΔEi}に応じて、上記(1)の式の許容確率でその状態遷移を許容する。
そして、可否判定部114bは、各状態遷移の可否{fi}を出力する。許容された状態遷移が複数ある場合には、遷移決定部114cは、乱数値を用いてランダムにそのうちの1つを選択する。そして、遷移決定部114cは、選択した状態遷移の遷移番号Nと、遷移可否fを出力する。許容された状態遷移が存在した場合、採択された状態遷移に応じて状態保持部111に記憶された状態変数の値が更新される。
2つの数に同じ単調増加関数を作用させても大小関係は変化しない。したがって、比較器の2つの入力に同じ単調増加関数を作用させても出力は変わらない。この単調増加関数として、fの逆関数f−1を採用すると、−ΔE/Tがf−1(u)より大きいとき1を出力する回路とすることができることがわかる。さらに、温度値Tが正であることから、−ΔEがTf−1(u)より大きいとき1を出力する回路でよいことがわかる。
図22中の遷移制御部114は、逆関数f−1(u)を実現するための変換テーブルであり、区間[0,1)を離散化した入力に対して次の関数の値を出力するノイズテーブルを含んでもよい。
本件で開示する最適化方法は、磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化方法であって、
磁気デバイスにおけるコイルが配される面を分割して、Nc個(Ncは整数)のコイル領域とし、
i番目のコイル領域Niにおいて、
コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数をxiとし、左回りコイルの補助変数をyiとし、
右回りコイルが存在する場合をxi=1とし、
右回りコイルが存在しない場合をxi=0とし、
左回りコイルが存在する場合をyi=1とし、
左回りコイルが存在しない場合をyi=0とし、
xi=1かつyi=1のときは右回りコイル及び左回りコイルはいずれも存在しないものとし、
コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi rightとし、コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi leftとしたとき、
Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化工程を含む。
本件で開示する最適化プログラムは、磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化プログラムであって、
磁気デバイスにおけるコイルが配される面を分割して、Nc個(Ncは整数)のコイル領域とし、
i番目のコイル領域Niにおいて、
コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数をxiとし、左回りコイルの補助変数をyiとし、
右回りコイルが存在する場合をxi=1とし、
右回りコイルが存在しない場合をxi=0とし、
左回りコイルが存在する場合をyi=1とし、
左回りコイルが存在しない場合をyi=0とし、
xi=1かつyi=1のときは右回りコイル及び左回りコイルはいずれも存在しないものとし、
コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi rightとし、コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi leftとしたとき、
Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する処理をコンピュータに行わせる。
さらに、本件で開示する最適化プログラムを、上記の記録媒体に記録する場合には、必要に応じて、コンピュータシステムが有する記録媒体読取装置を通じて、これを直接又はハードディスクにインストールして使用することができる。また、コンピュータシステムから情報通信ネットワークを通じてアクセス可能な外部記憶領域(他のコンピュータなど)に本件で開示する最適化プログラムを記録しておいてもよい。この場合、外部記憶領域に記録された本件で開示する最適化プログラムは、必要に応じて、外部記憶領域から情報通信ネットワークを通じてこれを直接、又はハードディスクにインストールして使用することができる。
なお、本件で開示する最適化プログラムは、複数の記録媒体に、任意の処理毎に分割されて記録されていてもよい。
本件で開示するコンピュータが読み取り可能な記録媒体は、本件で開示する最適化プログラムを記録してなる。
本件で開示するコンピュータが読み取り可能な記録媒体としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、内蔵ハードディスク、外付けハードディスク、CD−ROM、DVD−ROM、MOディスク、USBメモリなどが挙げられる。
また、本件で開示するコンピュータが読み取り可能な記録媒体は、本件で開示する最適化プログラムが任意の処理毎に分割されて記録された複数の記録媒体であってもよい。
実施例1として、本件で開示する最適化装置の一例を用いて、磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の最適化を行い、磁気デバイスにおける最適なコイルと磁石の配置などを求めた。実施例1では、図16に示すようなハードウェア構成を有する最適化装置を用いて、図19のフローチャートに示した流れに従って、磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の最適化を行った。また、目的関数式の最小化(式(3)イジングモデル式の最小化)には、デジタルアニーラ(登録商標)を用いた。
また、実施例1においては、図24及び25に示すように、磁石が配される領域(磁石配置領域MA)を、縦10×横10の分割数となるように、碁盤目状(グリッドパターン)に分割し、Nm=100となる立方体の磁石領域を形成した。なお、1つの磁石領域の一辺は10mmに設定した。
上記のコイル配置領域CAと磁石配置領域MAの設定には、デジタルアニーラ(登録商標)において、約1400ビットを使用した。
E′は、目的関数式である。
Ncは、コイル領域の数を表す整数である。
Nmは、磁石領域の数を表す整数である。
Δφ′i rightは、磁石領域Njから発生する、i番目のコイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値である。
Δφ′i leftは、磁石領域Njから発生する、i番目のコイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値である。
xiは、i番目のコイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数である。
yiは、i番目のコイル領域Niに存在し得る、左回りコイルの補助変数である。
αは、正の数である。
sj,nは、j番目の磁石領域Njにおける、状態番号n(n=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数である。
sj,uは、j番目の磁石領域Njにおける、状態番号u(u=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数である。
βは、正の数である。
Ncoilは、コイル配置領域に配置する右回りコイルと左回りコイルの合計の数を指定する整数である。
Δφ′i,j,kは、磁石領域Njにおける、状態番号kで表される向きの磁化(磁石)により発生する、コイル領域Niにおける鎖交磁束の変化量である。
Bx i,j,k(z)は、i番目のコイル領域Niの中心点に、磁石領域Njの状態番号kで表される向きの磁化(磁石)から発生する、変化前におけるx軸方向の磁束密度を意味する。
Bx i,j,k(z+Δz)は、i番目のコイル領域Niの中心点に、磁石領域Njの状態番号kで表される向きの磁化(磁石)から発生する、磁石配置領域MAをz軸方向にΔz移動させた後におけるx軸方向の磁束密度を意味する。
Aは、コイル領域の面積(コイルの断面積)である。
riは、ソース点(例えば、磁石領域の中心点)から、i番目のコイル領域Niへの距離である。
Mj,kは、磁石領域Njの状態番号kで表される向きの磁化である。
したがって、本件で開示する技術の一例においては、コイル配置領域CAと磁石配置領域MAとの距離を適切に考慮して、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化することができる。
実施例1においては、コイル配置領域CAと磁石配置領域MAとの距離(ギャップ幅)を1mmに設定した。
Eは、イジングモデル式に変換した目的関数式であり、
wijは、i番目のビットとj番目のビットとの間の相互作用を表す数値であり、
biは、i番目の前記ビットに対するバイアスを表す数値であり、
siは、i番目のビットが0又は1であることを表すバイナリ変数であり、
sjは、j番目のビットが0又は1であることを表すバイナリ変数である。
また、実施例1においては、図20に示したフローチャートの流れに従って、コイル配置領域CAにおける各コイル領域について、隣接する同種のコイル領域を互いに結合して、1つのコイル領域とした。
図28及び29は、実施例1において、コイル領域を移動させた後における、コイルの鎖交磁束の変化量を最適化したときの、コイルと磁石の配置等の一例を示す図である。
図26から29において、コイル配置領域MAの矢印はコイル領域における磁化の向きが矢印の指す方向であることを意味する。また、図26から29において、コイル配置領域MAの丸印は、コイル領域における磁化の向きが紙面手前方向(x軸のプラスの方向)であることを意味する。さらに、図26から29において、コイル配置領域MAの六角形の記号は、コイル領域における磁化の向きが紙面奥方向(x軸のマイナスの方向)であることを意味する。
実施例2では、実施例1において、コイル配置領域CAと磁石配置領域MAとの距離(ギャップ幅)を5mmに設定した以外は、実施例1と同様にして、コイルにおける鎖交磁束の変化量の最適化を行った。
図32及び33は、実施例2において、コイル領域を移動させた後における、コイルの鎖交磁束の変化量を最適化したときの、コイル領域を移動させる前のコイルと磁石の配置等の一例を示す図である。
コイル配置領域CAと磁石配置領域MAとの距離(ギャップ幅)を5mmに設定した実施例3においては、図30から33に示すように、3個の右回りコイルCRと3個の左回りコイルCLが配置されるときに、コイルにおける鎖交磁束の変化量が最適化された。
実施例3では、実施例1において、コイル配置領域CAと磁石配置領域MAとの距離(ギャップ幅)を10mmに設定した以外は、実施例1と同様にして、コイルにおける鎖交磁束の変化量の最適化を行った。
図36及び37は、実施例3において、コイル領域を移動させた後における、コイルの鎖交磁束の変化量を最適化したときの、コイル領域を移動させる前のコイルと磁石の配置等の一例を示す図である。
コイル配置領域CAと磁石配置領域MAとの距離(ギャップ幅)を10mmに設定した実施例3においては、図34から37に示すように、1個の右回りコイルCRと1個の左回りコイルCLが配置されるときに、コイルにおける鎖交磁束の変化量が最適化された。
また、実施例1から3の結果から、コイルと磁石の間の距離が近いほど、磁石の向きが細かく変化し、かつ、右回りコイルと左回りコイルが小さく交互に配置される状態が、最適化された状態となることがわかる。
図38の例に示すように、従来技術では、磁石2とコイル3を有する磁気デバイスについて、コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化しようとする際には、例えば、コイルの形状を一意に表す連続値のパラメータを用いる。この場合、従来技術においては、例えば、
パラメータとして円の半径(A3)を指定したときには、最適化するコイルの形状は円に限定されるなど、十分な最適化が行えない場合がある。
さらに、図38に示すように、従来技術では、パラメータとして広い範囲を取り得る連続値を用いるため、焼き鈍し法に適した形式(組合せ最適化問題の形式)で目的関数を表すことができず、焼き鈍し法による効率的な最適化を行うことができない。
さらに、本件で開示する技術の一実施形態においては、上述したように、離散化された二値の補助変数をパラメータとする目的関数式を用いるため、目的関数式を焼き鈍し法に適したQUBO形式で表すことできるので、効率的に最適化を行うことができる。
(付記1)
磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化装置であって、
前記磁気デバイスにおける前記コイルが配される面を分割して、Nc個(Ncは整数)のコイル領域とし、
i番目のコイル領域Niにおいて、
前記コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数をxiとし、左回りコイルの補助変数をyiとし、
右回りコイルが存在する場合をxi=1とし、
右回りコイルが存在しない場合をxi=0とし、
左回りコイルが存在する場合をyi=1とし、
左回りコイルが存在しない場合をyi=0とし、
xi=1かつyi=1のときは右回りコイル及び左回りコイルはいずれも存在しないものとし、
前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi rightとし、前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi leftとしたとき、
Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、前記コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化処理部を有することを特徴とする最適化装置。
(付記2)
前記最適化処理部が、下記式(1)で表される前記目的関数式に基づき最適化を行う、付記1に記載の最適化装置。
前記Eは、前記目的関数式であり、
前記Ncは、前記コイル領域の数を表す整数であり、
前記Δφi rightは、i番目の前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値であり、
前記Δφi leftは、i番目の前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値であり、
前記xiは、前記コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数であり、
前記yiは、前記コイル領域Niに存在し得る、左回りコイルの補助変数である。
(付記3)
i番目の前記コイル領域Niに存在するコイルと、前記コイル領域Niと隣接するコイル領域に存在するコイルとが同種である場合には、これらのコイル領域を互いに結合して1つのコイル領域とする、付記1又は2に記載の最適化装置。
(付記4)
前記磁気デバイスにおける磁石が配される領域を分割して、Nm個(Nmは整数)の磁石領域とし、
j番目の磁石領域Njにおいて、
前記磁石領域Njにおける磁化の向きが、
x軸の正の向きの場合をsj,1とし、
x軸の負の向きの場合をsj,2とし、
y軸の正の向きの場合をsj,3とし、
y軸の負の向きの場合をsj,4とし、
z軸の正の向きの場合をsj,5とし、
z軸の負の向きの場合をsj,6としたとき、
sj,k(k=1,2,3,4,5,6)の内のいずれかが「1」又はすべてが「0」であるものとの制約の下、
前記磁石領域と相対する前記コイル領域において、前記磁石領域Njから発生する、前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφ′i rightとし、前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφ′i leftとしたとき、
前記最適化処理部が、Δφ′i rightxi(i=1〜Nc)とΔφ′i leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、前記コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する、付記1から3のいずれかに記載の最適化装置。
(付記5)
前記最適化処理部が、下記式(2)で表される前記目的関数式に基づき最適化を行う、付記4に記載の最適化装置。
前記E′は、前記目的関数式であり、
前記Ncは、前記コイル領域の数を表す整数であり、
前記Nmは、前記磁石領域の数を表す整数であり、
前記Δφ′i rightは、前記磁石領域Njから発生する、i番目の前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値であり、
前記Δφ′i leftは、前記磁石領域Njから発生する、i番目の前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値であり、
前記xiは、i番目の前記コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数であり、
前記yiは、i番目の前記コイル領域Niに存在し得る、左回りコイルの補助変数であり、
前記αは、正の数であり、
前記sj,nは、j番目の前記磁石領域Njにおける、状態番号n(n=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数であり、
前記sj,uは、j番目の前記磁石領域Njにおける、状態番号u(u=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数である。
(付記6)
前記最適化処理部が、下記式(3)で表されるイジングモデル式に変換した前記目的関数式に基づき最適化を行う、付記1から5のいずれかに記載の最適化装置。
前記Eは、前記イジングモデル式に変換した目的関数式であり、
前記wijは、i番目のビットとj番目のビットとの間の相互作用を表す数値であり、
前記biは、i番目の前記ビットに対するバイアスを表す数値であり、
前記xiは、i番目の前記ビットが0又は1であることを表すバイナリ変数であり、
前記xjは、j番目の前記ビットが0又は1であることを表すバイナリ変数である。
(付記7)
前記最適化処理部が、焼き鈍し法により、前記イジングモデル式に変換した前記目的関数式を最小化することにより最適化を行う、付記6に記載の最適化装置。
(付記8)
磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化方法であって、
前記磁気デバイスにおける前記コイルが配される面を分割して、Nc個(Ncは整数)のコイル領域とし、
i番目のコイル領域Niにおいて、
前記コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数をxiとし、左回りコイルの補助変数をyiとし、
右回りコイルが存在する場合をxi=1とし、
右回りコイルが存在しない場合をxi=0とし、
左回りコイルが存在する場合をyi=1とし、
左回りコイルが存在しない場合をyi=0とし、
xi=1かつyi=1のときは右回りコイル及び左回りコイルはいずれも存在しないものとし、
前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi rightとし、前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi leftとしたとき、
Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、前記コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化工程を含むことを特徴とする最適化方法。
(付記9)
前記最適化工程において、下記式(1)で表される前記目的関数式に基づき最適化を行う、付記8に記載の最適化方法。
前記Eは、前記目的関数式であり、
前記Ncは、前記コイル領域の数を表す整数であり、
前記Δφi rightは、i番目の前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値であり、
前記Δφi leftは、i番目の前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値であり、
前記xiは、前記コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数であり、
前記yiは、前記コイル領域Niに存在し得る、左回りコイルの補助変数である。
(付記10)
i番目の前記コイル領域Niに存在するコイルと、前記コイル領域Niと隣接するコイル領域に存在するコイルとが同種である場合には、これらのコイル領域を互いに結合して1つのコイル領域とする、付記8又は9に記載の最適化方法。
(付記11)
前記磁気デバイスにおける磁石が配される領域を分割して、Nm個(Nmは整数)の磁石領域とし、
j番目の磁石領域Njにおいて、
前記磁石領域Njにおける磁化の向きが、
x軸の正の向きの場合をsj,1とし、
x軸の負の向きの場合をsj,2とし、
y軸の正の向きの場合をsj,3とし、
y軸の負の向きの場合をsj,4とし、
z軸の正の向きの場合をsj,5とし、
z軸の負の向きの場合をsj,6としたとき、
sj,k(k=1,2,3,4,5,6)の内のいずれかが「1」又はすべてが「0」であるものとの制約の下、
前記磁石領域と相対する前記コイル領域において、前記磁石領域Njから発生する、前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφ′i rightとし、前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφ′i leftとしたとき、
前記最適化工程において、Δφ′i rightxi(i=1〜Nc)とΔφ′i leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、前記コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する、付記8から10のいずれかに記載の最適化方法。
(付記12)
前記最適化工程において、下記式(2)で表される前記目的関数式に基づき最適化を行う、付記11に記載の最適化方法。
前記E′は、前記目的関数式であり、
前記Ncは、前記コイル領域の数を表す整数であり、
前記Nmは、前記磁石領域の数を表す整数であり、
前記Δφ′i rightは、前記磁石領域Njから発生する、i番目の前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値であり、
前記Δφ′i leftは、前記磁石領域Njから発生する、i番目の前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値であり、
前記xiは、i番目の前記コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数であり、
前記yiは、i番目の前記コイル領域Niに存在し得る、左回りコイルの補助変数であり、
前記αは、正の数であり、
前記sj,nは、j番目の前記磁石領域Njにおける、状態番号n(n=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数であり、
前記sj,uは、j番目の前記磁石領域Njにおける、状態番号u(u=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数である。
(付記13)
前記最適化工程において、下記式(3)で表されるイジングモデル式に変換した前記目的関数式に基づき最適化を行う、付記8から12のいずれかに記載の最適化方法。
前記Eは、前記イジングモデル式に変換した目的関数式であり、
前記wijは、i番目のビットとj番目のビットとの間の相互作用を表す数値であり、
前記biは、i番目の前記ビットに対するバイアスを表す数値であり、
前記xiは、i番目の前記ビットが0又は1であることを表すバイナリ変数であり、
前記xjは、j番目の前記ビットが0又は1であることを表すバイナリ変数である。
(付記14)
前記最適化工程において、焼き鈍し法により、前記イジングモデル式に変換した前記目的関数式を最小化することにより最適化を行う、付記13に記載の最適化方法。
(付記15)
磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化プログラムであって、
前記磁気デバイスにおける前記コイルが配される面を分割して、Nc個(Ncは整数)のコイル領域とし、
i番目のコイル領域Niにおいて、
前記コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数をxiとし、左回りコイルの補助変数をyiとし、
右回りコイルが存在する場合をxi=1とし、
右回りコイルが存在しない場合をxi=0とし、
左回りコイルが存在する場合をyi=1とし、
左回りコイルが存在しない場合をyi=0とし、
xi=1かつyi=1のときは右回りコイル及び左回りコイルはいずれも存在しないものとし、
前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi rightとし、前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi leftとしたとき、
Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、前記コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する処理をコンピュータに行わせることを特徴とする最適化プログラム。
(付記16)
前記処理において、下記式(1)で表される前記目的関数式に基づき最適化を行う、付記15に記載の最適化プログラム。
前記Eは、前記目的関数式であり、
前記Ncは、前記コイル領域の数を表す整数であり、
前記Δφi rightは、i番目の前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値であり、
前記Δφi leftは、i番目の前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値であり、
前記xiは、前記コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数であり、
前記yiは、前記コイル領域Niに存在し得る、左回りコイルの補助変数である。
(付記17)
i番目の前記コイル領域Niに存在するコイルと、前記コイル領域Niと隣接するコイル領域に存在するコイルとが同種である場合には、これらのコイル領域を互いに結合して1つのコイル領域とする、付記15又は16に記載の最適化プログラム。
(付記18)
前記磁気デバイスにおける磁石が配される領域を分割して、Nm個(Nmは整数)の磁石領域とし、
j番目の磁石領域Njにおいて、
前記磁石領域Njにおける磁化の向きが、
x軸の正の向きの場合をsj,1とし、
x軸の負の向きの場合をsj,2とし、
y軸の正の向きの場合をsj,3とし、
y軸の負の向きの場合をsj,4とし、
z軸の正の向きの場合をsj,5とし、
z軸の負の向きの場合をsj,6としたとき、
sj,k(k=1,2,3,4,5,6)の内のいずれかが「1」又はすべてが「0」であるものとの制約の下、
コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφ′i rightとし、前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφ′i leftとしたとき、
前記処理において、Δφ′i rightxi(i=1〜Nc)とΔφ′i leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、前記コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する、付記15から17のいずれかに記載の最適化プログラム。
(付記19)
前記処理において、下記式(2)で表される前記目的関数式に基づき最適化を行う、付記18に記載の最適化プログラム。
前記E′は、前記目的関数式であり、
前記Ncは、前記コイル領域の数を表す整数であり、
前記Nmは、前記磁石領域の数を表す整数であり、
前記Δφ′i rightは、前記磁石領域Njから発生する、i番目の前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値であり、
前記Δφ′i leftは、前記磁石領域Njから発生する、i番目の前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値であり、
前記xiは、i番目の前記コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数であり、
前記yiは、i番目の前記コイル領域Niに存在し得る、左回りコイルの補助変数であり、
前記αは、正の数であり、
前記sj,nは、j番目の前記磁石領域Njにおける、状態番号n(n=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数であり、
前記sj,uは、j番目の前記磁石領域Njにおける、状態番号u(u=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数である。
(付記20)
前記処理において、下記式(3)で表されるイジングモデル式に変換した前記目的関数式に基づき最適化を行う、付記15から19のいずれかに記載の最適化プログラム。
前記Eは、前記イジングモデル式に変換した目的関数式であり、
前記wijは、i番目のビットとj番目のビットとの間の相互作用を表す数値であり、
前記biは、i番目の前記ビットに対するバイアスを表す数値であり、
前記xiは、i番目の前記ビットが0又は1であることを表すバイナリ変数であり、
前記xjは、j番目の前記ビットが0又は1であることを表すバイナリ変数である。
(付記21)
前記処理において、焼き鈍し法により、前記イジングモデル式に変換した前記目的関数式を最小化することにより最適化を行う、付記20に記載の最適化プログラム。
3 コイル
100 最適化装置
101 制御部
102 主記憶装置
103 補助記憶装置
104 I/Oインターフェイス
105 通信インターフェイス
106 入力装置
107 出力装置
108 表示装置
109 バス
120 通信機能部
130 入力機能部
140 出力機能部
150 表示機能部
160 記憶機能部
170 制御機能部
171 最適化処理部
G 振動発電デバイス(磁気デバイスの一例)
CA コイル配置領域
MA 磁石配置領域
Claims (9)
- 磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化装置であって、
前記磁気デバイスにおける前記コイルが配される面を分割して、Nc個(Ncは整数)のコイル領域とし、
i番目のコイル領域Niにおいて、
前記コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数をxiとし、左回りコイルの補助変数をyiとし、
右回りコイルが存在する場合をxi=1とし、
右回りコイルが存在しない場合をxi=0とし、
左回りコイルが存在する場合をyi=1とし、
左回りコイルが存在しない場合をyi=0とし、
xi=1かつyi=1のときは右回りコイル及び左回りコイルはいずれも存在しないものとし、
前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi rightとし、前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi leftとしたとき、
Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、前記コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化処理部を有することを特徴とする最適化装置。 - i番目の前記コイル領域Niに存在するコイルと、前記コイル領域Niと隣接するコイル領域に存在するコイルとが同種である場合には、これらのコイル領域を互いに結合して1つのコイル領域とする、請求項1又は2に記載の最適化装置。
- 前記磁気デバイスにおける磁石が配される領域を分割して、Nm個(Nmは整数)の磁石領域とし、
j番目の磁石領域Njにおいて、
前記磁石領域Njにおける磁化の向きが、
x軸の正の向きの場合をsj,1とし、
x軸の負の向きの場合をsj,2とし、
y軸の正の向きの場合をsj,3とし、
y軸の負の向きの場合をsj,4とし、
z軸の正の向きの場合をsj,5とし、
z軸の負の向きの場合をsj,6としたとき、
sj,k(k=1,2,3,4,5,6)の内のいずれかが「1」又はすべてが「0」であるものとの制約の下、
前記磁石領域と相対する前記コイル領域において、前記磁石領域Njから発生する、前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφ′i rightとし、前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφ′i leftとしたとき、
前記最適化処理部が、Δφ′i rightxi(i=1〜Nc)とΔφ′i leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、前記コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する、請求項1から3のいずれかに記載の最適化装置。 - 前記最適化処理部が、下記式(2)で表される前記目的関数式に基づき最適化を行う、請求項4に記載の最適化装置。
前記E′は、前記目的関数式であり、
前記Ncは、前記コイル領域の数を表す整数であり、
前記Nmは、前記磁石領域の数を表す整数であり、
前記Δφ′i rightは、前記磁石領域Njから発生する、i番目の前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値であり、
前記Δφ′i leftは、前記磁石領域Njから発生する、i番目の前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量を表す数値であり、
前記αは、正の数であり、
前記xiは、i番目の前記コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数であり、
前記yiは、i番目の前記コイル領域Niに存在し得る、左回りコイルの補助変数であり、
前記sj,nは、j番目の前記磁石領域Njにおける、状態番号n(n=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数であり、
前記sj,uは、j番目の前記磁石領域Njにおける、状態番号u(u=1,2,3,4,5,6)のときの磁化の向きを表す、0又は1のバイナリ変数である。 - 前記最適化処理部が、焼き鈍し法により、前記イジングモデル式に変換した前記目的関数式を最小化することにより最適化を行う、請求項6に記載の最適化装置。
- 磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化方法であって、
前記磁気デバイスにおける前記コイルが配される面を分割して、Nc個(Ncは整数)のコイル領域とし、
i番目の前記コイル領域Niにおいて、
前記コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数をxiとし、左回りコイルの補助変数をyiとし、
右回りコイルが存在する場合をxi=1とし、
右回りコイルが存在しない場合をxi=0とし、
左回りコイルが存在する場合をyi=1とし、
左回りコイルが存在しない場合をyi=0とし、
xi=1かつyi=1のときは右回りコイル及び左回りコイルはいずれも存在しないものとし、
前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi rightとし、前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi leftとしたとき、
Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、前記コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化工程を含むことを特徴とする最適化方法。 - 磁気デバイスのコイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する最適化プログラムであって、
前記磁気デバイスにおける前記コイルが配される面を分割して、Nc個(Ncは整数)のコイル領域とし、
i番目の前記コイル領域Niにおいて、
前記コイル領域Niに存在し得る、右回りコイルの補助変数をxiとし、左回りコイルの補助変数をyiとし、
右回りコイルが存在する場合をxi=1とし、
右回りコイルが存在しない場合をxi=0とし、
左回りコイルが存在する場合をyi=1とし、
左回りコイルが存在しない場合をyi=0とし、
xi=1かつyi=1のときは右回りコイル及び左回りコイルはいずれも存在しないものとし、
前記コイル領域Niにおける右回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi rightとし、前記コイル領域Niにおける左回りコイルの鎖交磁束の変化量をΔφi leftとしたとき、
Δφi rightxi(i=1〜Nc)とΔφi leftyi(i=1〜Nc)の総和を最大化する目的関数式を用いて、前記コイルにおける鎖交磁束の変化量を最適化する処理をコンピュータに行わせることを特徴とする最適化プログラム。
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