JP2021139026A - Method for manufacturing electroformed article and electroformed article - Google Patents

Method for manufacturing electroformed article and electroformed article Download PDF

Info

Publication number
JP2021139026A
JP2021139026A JP2020039833A JP2020039833A JP2021139026A JP 2021139026 A JP2021139026 A JP 2021139026A JP 2020039833 A JP2020039833 A JP 2020039833A JP 2020039833 A JP2020039833 A JP 2020039833A JP 2021139026 A JP2021139026 A JP 2021139026A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrocast
conductive
resist
substrate
mold layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2020039833A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP7490395B2 (en
Inventor
陽介 佐々木
Yosuke Sasaki
陽介 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Citizen Watch Co Ltd
Original Assignee
Citizen Watch Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Citizen Watch Co Ltd filed Critical Citizen Watch Co Ltd
Priority to JP2020039833A priority Critical patent/JP7490395B2/en
Publication of JP2021139026A publication Critical patent/JP2021139026A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7490395B2 publication Critical patent/JP7490395B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)

Abstract

To provide a method for manufacturing an electroformed article which does not require a mask for forming a conductive layer, can surely separate the conductive layer on a step surface at an appropriate position, and does not form a cavity between a first electroformed part and a second electroformed part.SOLUTION: Provided is a method for manufacturing an electroformed article 200 in which a first electroformed part 40 and a second electroformed part 80 projecting in a width direction from the first electroformed part 40 are integrally formed. The second electroformed part 80 is formed by an electroplating process in a state in which conductive particles 120 are distributed and arranged on a step forming surface 25 of a first layer resist 20 where the second electroformed part 80 forms a step surface 210 projecting in a width direction W from the first electroformed part 40.SELECTED DRAWING: Figure 2I

Description

本発明は、電鋳品の製造方法及び電鋳品に関する。 The present invention relates to a method for producing an electrocast product and an electrocast product.

例えば、時計の部品等微小な形状の構造物を、電鋳により製造することが行われている。そして、導電性基板に近い第1の電鋳部分と、第1の電鋳部分から幅方向に突出した導電性基板から遠い第2の電鋳部分とが一体に形成された電鋳品を製造する方法も提案されている(例えば、特許文献1,2参照)。 For example, a structure having a minute shape such as a clock part is manufactured by electrocasting. Then, an electroplated product is manufactured in which a first electroplated portion close to the conductive substrate and a second electroplated portion far from the conductive substrate protruding in the width direction from the first electroplated portion are integrally formed. A method of doing so has also been proposed (see, for example, Patent Documents 1 and 2).

特許文献1,2に記載の技術によれば、第1の電鋳部分(1層目の電鋳部分)に対応したレジストと第2の電鋳部分(2層目の電鋳部分)に対応したレジストとの段差の上面に導電層を形成する。 According to the techniques described in Patent Documents 1 and 2, the resist corresponding to the first electrocast portion (first layer electrocast portion) and the second electrocast portion (second layer electrocast portion) are supported. A conductive layer is formed on the upper surface of the step with the resist.

これにより、第1の電鋳部分が段差まで到達したときに、段差の上面に形成された導電層に第1の電鋳部分が繋がって段差の上面も導電性を有する部分となる。この結果、段差の上面の電鋳部分の成長速度が低下するのを抑制することができる。 As a result, when the first electrocast portion reaches the step, the first electrocast portion is connected to the conductive layer formed on the upper surface of the step, and the upper surface of the step also becomes a conductive portion. As a result, it is possible to suppress a decrease in the growth rate of the electrocast portion on the upper surface of the step.

特許第4550569号公報Japanese Patent No. 4550569 特許第4840756号公報Japanese Patent No. 4840756

ここで、特許文献1の技術によれば、1層目のレジストの露光後、露光部分も未露光部分も含めて全面に導電層を形成し、現像により未露光部分を除去し、その未露光部分の除去の際に、未露光部分の上面に形成されていた導電層が、露光部分(除去されずに残存する)の上面に形成された導電層から千切れて除去されるが、導電層が適切に千切れないため、未露光部分の上面に形成されていた部分の一部が残ってめくれたり、全部が残って1層目の未露光部分を除去できなかったりする。 Here, according to the technique of Patent Document 1, after the exposure of the first layer of the resist, a conductive layer is formed on the entire surface including the exposed portion and the unexposed portion, the unexposed portion is removed by development, and the unexposed portion is removed. When the portion is removed, the conductive layer formed on the upper surface of the unexposed portion is torn off from the conductive layer formed on the upper surface of the exposed portion (remaining without being removed), but the conductive layer is removed. Is not properly torn, so that a part of the portion formed on the upper surface of the unexposed portion remains and is turned over, or the entire portion remains and the unexposed portion of the first layer cannot be removed.

また、基板の内周側と外周側とでめっき速度に差があり、速度が遅い側において、第1の電鋳部分と第2の電鋳部分との間に空洞が形成される恐れがある。 Further, there is a difference in plating speed between the inner peripheral side and the outer peripheral side of the substrate, and there is a possibility that a cavity is formed between the first electrocast portion and the second electrocast portion on the slower side. ..

さらに、第2の電鋳部分が出来上がった後に、第2の電鋳部分の上面(表面)をグラインダで平坦に研削するが、研削の負荷により、段差面に形成されていた導電層が1層目のレジストの段差面から剥がれてしまい、第2の電鋳部分の表面の周縁部分が浮き上がった状態となり、表面をそのまま平坦に削ると、第2の電鋳部分は中心部に比べて周縁部分の厚さが薄くなってしまうという問題がある。 Further, after the second electrocast portion is completed, the upper surface (surface) of the second electrocast portion is ground flat with a grinder, but due to the grinding load, one conductive layer is formed on the stepped surface. The peripheral part of the surface of the second electrocast part is lifted due to peeling from the stepped surface of the resist of the eye, and when the surface is ground flat as it is, the second electrocast part is the peripheral part compared to the central part. There is a problem that the thickness of the material becomes thin.

また、特許文献2の技術は、1層目のレジストの露光後、2層目のレジストとの段差面となる部分に、マスクを用いて導電層を形成する。しかし、マスクを使うとコストが高くなる。 Further, in the technique of Patent Document 2, after the exposure of the first layer resist, a conductive layer is formed on a portion to be a stepped surface with the second layer resist by using a mask. However, using a mask increases the cost.

また、第1の電鋳部分が形成される1層目のレジストの空洞内では、めっき液の流速にむら(差)が生じ易く、空洞内の全体が均一にめっきされず、早く段差まで到達した部分が段差面の導電層に繋がった時点で、段差面と導電層との間でめっきが開始され、第2の電鋳部分が形成され始める。そして、第2の電鋳部分が成長すると、段差面に到達していない第1の電鋳部分との間に空洞が形成されてしまう。 Further, in the cavity of the first layer resist on which the first electrocast portion is formed, unevenness (difference) is likely to occur in the flow velocity of the plating solution, and the entire inside of the cavity is not uniformly plated and reaches a step quickly. When the formed portion is connected to the conductive layer on the stepped surface, plating is started between the stepped surface and the conductive layer, and a second electrocast portion is started to be formed. Then, when the second electrocast portion grows, a cavity is formed between the second electrocast portion and the first electrocast portion that has not reached the stepped surface.

さらに、第2の電鋳部分が出来上がった後に、第2の電鋳部分の上面(表面)をグラインダなどで平坦に研削するが、研削の負荷により、段差面に形成されていた導電層が1層目のレジストの段差面から剥がれてしまい、第2の電鋳部分の表面の周縁部分が浮き上がった状態となり、表面をそのまま平坦に削ると、第2の電鋳部分は中心部に比べて周縁部分の厚さが薄くなってしまうという問題がある。 Further, after the second electrocast portion is completed, the upper surface (surface) of the second electrocast portion is ground flat with a grinder or the like, but the conductive layer formed on the stepped surface is 1 due to the grinding load. The second layer of resist is peeled off from the stepped surface, and the peripheral edge of the surface of the second electrocast part is in a raised state. There is a problem that the thickness of the part becomes thin.

本発明は上記事情に鑑みなされたものであって、導電層を形成するためのマスクを必要とせず、かつ、段差面の導電層を適切な位置で確実に分離することができ、さらに、第1の電鋳部分と第2の電鋳部分との間に空洞が形成されない電鋳品の製造方法及び電鋳品を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, does not require a mask for forming the conductive layer, and can reliably separate the conductive layer on the stepped surface at an appropriate position. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing an electrocast product in which a cavity is not formed between the electrocast portion 1 and the second electrocast portion, and an electrocast product.

本発明の第1は、導電性基板に近い第1電鋳部分と、前記第1電鋳部分から幅方向に突出した前記導電性基板から遠い第2電鋳部分とが一体に形成された電鋳品の製造方法であって、前記導電性基板の上に、前記第1電鋳部分を形成する第1の型となる第1の型層を形成し、次いで、前記第1の型層の上面に、導電性の粒子を分布して配置し、次いで、前記第1の型層の上に、前記第2電鋳部分を形成する第2の型となる第2の型層を形成し、次いで、前記第1の型層の上面のうち、前記第2電鋳部分が前記第1電鋳部分から前記幅方向に突出した段差面を形成する段差形成面に配置された前記導電性の粒子を露出させた状態で、電気めっきの工程により、前記第1の電鋳部分及び前記第2電鋳部分を一体に形成する電鋳品の製造方法である。 The first of the present invention is an electroplating portion in which a first electroplated portion close to a conductive substrate and a second electroplated portion far from the conductive substrate protruding in the width direction from the first electroplated portion are integrally formed. A method for producing a cast product, in which a first mold layer serving as a first mold for forming the first electroplated portion is formed on the conductive substrate, and then the first mold layer is formed. Conductive particles are distributed and arranged on the upper surface, and then a second mold layer, which is a second mold for forming the second electroplated portion, is formed on the first mold layer. Next, among the upper surfaces of the first mold layer, the conductive particles arranged on the step forming surface on which the second electroplated portion forms a stepped surface protruding from the first electroplated portion in the width direction. This is a method for manufacturing an electrocast product in which the first electrocast portion and the second electrocast portion are integrally formed by an electroplating step in a state where the first electroplating portion and the second electrocast portion are integrally formed.

本発明の第2は、第1電鋳部分と、前記第1電鋳部分から幅方向に突出した第2電鋳部分とが一体に形成され、前記第2電鋳部分が前記第1電鋳部分から前記幅方向に突出した段差面を有し、前記段差面に、前記第2電鋳部分を電気めっきの工程で形成する際の電極となる導電性の粒子が、分布して配置されている電鋳品である。 In the second aspect of the present invention, the first electroplated portion and the second electroplated portion protruding in the width direction from the first electroplated portion are integrally formed, and the second electroplated portion is the first electroplated portion. It has a stepped surface that protrudes from the portion in the width direction, and conductive particles that serve as electrodes when the second electroplated portion is formed in the electroplating step are distributed and arranged on the stepped surface. It is an electroplated product.

本発明に係る電鋳品の製造方法及び電鋳品によれば、導電層を形成するためのマスクを必要とせず、かつ、段差面の導電層を適切な位置で確実に分離することができ、さらに、第1の電鋳部分と第2の電鋳部分との間に空洞が形成されるのを防止することができる。 According to the method for producing an electrocast product and the electrocast product according to the present invention, a mask for forming the conductive layer is not required, and the conductive layer on the stepped surface can be reliably separated at an appropriate position. Further, it is possible to prevent the formation of a cavity between the first electrocast portion and the second electrocast portion.

本発明の一実施形態である電鋳品の製造方法の流れのうち導電粒子分散シートを形成する流れを模式的に示す断面図(その1)である。It is sectional drawing (the 1) which shows typically the flow of forming the conductive particle dispersion sheet in the flow of the manufacturing method of the electric casting article which is one Embodiment of this invention. 実施形態の導電粒子分散シートを形成する流れを模式的に示す断面図(その2)である。It is sectional drawing (the 2) which shows typically the flow of forming the conductive particle dispersion sheet of an embodiment. 実施形態の導電粒子分散シートを形成する流れを模式的に示す断面図(その3)である。It is sectional drawing (the 3) which shows typically the flow of forming the conductive particle dispersion sheet of an embodiment. 実施形態の導電粒子分散シートを形成する流れを模式的に示す断面図(その4)である。It is sectional drawing (the 4) which shows typically the flow of forming the conductive particle dispersion sheet of an embodiment. 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その1)である。It is sectional drawing (the 1) which shows typically the flow of the manufacturing method of the electric casting product of embodiment. 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その2)である。It is sectional drawing (the 2) which shows typically the flow of the manufacturing method of the electric casting product of embodiment. 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その3)である。It is sectional drawing (the 3) which shows typically the flow of the manufacturing method of the electric casting product of embodiment. 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その4)である。It is sectional drawing (the 4) which shows typically the flow of the manufacturing method of the electric casting product of embodiment. 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その5)である。FIG. 5 is a cross-sectional view (No. 5) schematically showing a flow of a method for manufacturing an electrocast product according to an embodiment. 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その6)である。FIG. 6 is a cross-sectional view (No. 6) schematically showing a flow of a method for manufacturing an electrocast product according to an embodiment. 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その7)である。It is sectional drawing (the 7) which shows typically the flow of the manufacturing method of the electric casting product of embodiment. 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その8)である。It is sectional drawing (8) which shows typically the flow of the manufacturing method of the electric casting product of embodiment. 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その4)である。It is sectional drawing (the 4) which shows typically the flow of the manufacturing method of the electric casting product of embodiment. 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その5)である。FIG. 5 is a cross-sectional view (No. 5) schematically showing a flow of a method for manufacturing an electrocast product according to an embodiment. 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その6)である。FIG. 6 is a cross-sectional view (No. 6) schematically showing a flow of a method for manufacturing an electrocast product according to an embodiment. 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その7)である。It is sectional drawing (the 7) which shows typically the flow of the manufacturing method of the electric casting product of embodiment. 実施形態の電鋳品の製造方法の流れを模式的に示す断面図(その8)である。It is sectional drawing (8) which shows typically the flow of the manufacturing method of the electric casting product of embodiment. 実施形態ではない、導電粒子分散シートが一体の導電膜350である比較例を示す断面図である。FIG. 5 is a cross-sectional view showing a comparative example in which the conductive particle dispersion sheet is an integral conductive film 350, which is not an embodiment. 第1電鋳部分に対応した空洞(未露光領域)における電鋳の成長速度が、仮に部分的に不均一となった場合を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the case where the growth rate of electric casting in the cavity (unexposed area) corresponding to the 1st electric casting part becomes non-uniform partially. 実施形態における1層目の型層を、レジストではなく、シリコン基板で形成した、実施形態の変形例(変形例1)を示す断面図(その1)である。FIG. 1 is a cross-sectional view (No. 1) showing a modified example (Modified Example 1) of the embodiment in which the first mold layer in the embodiment is formed of a silicon substrate instead of a resist. 変形例1を示す断面図(その2)である。It is sectional drawing (the 2) which shows the modification 1. FIG. 変形例1を示す断面図(その3)である。It is sectional drawing (the 3) which shows the modification 1. FIG. 変形例1を示す断面図(その4)である。It is sectional drawing (the 4) which shows the modification 1. FIG. 変形例1を示す断面図(その5)である。FIG. 5 is a cross-sectional view (No. 5) showing a modification 1. 変形例1を示す断面図(その6)である。FIG. 6 is a cross-sectional view (No. 6) showing a modification 1. 変形例1を示す断面図(その7)である。It is sectional drawing (7) which shows the modification 1. FIG. 変形例1を示す断面図(その8)である。It is sectional drawing (8) which shows the modification 1. FIG. 変形例1を示す断面図(その9)である。It is sectional drawing (9) which shows the modification 1. FIG. 変形例1を示す断面図(その10)である。It is sectional drawing (10) which shows the modification 1. FIG. 変形例1を示す断面図(その11)である。It is sectional drawing (11) which shows the modification 1. FIG. 変形例1を示す断面図(その12)である。It is sectional drawing (12) which shows the modification 1. FIG. 変形例1を示す断面図(その13)である。It is sectional drawing (13) which shows the modification 1. FIG. 実施形態における導電性の粒子を、レジストに対して抜け止めの形状に変えた導電性の粒子とした、実施形態の変形例(変形例2)を示す断面図(その1)である。FIG. 1 is a cross-sectional view (No. 1) showing a modified example (modified example 2) of the embodiment in which the conductive particles in the embodiment are made into conductive particles in which the conductive particles are changed into a shape that prevents the resist from coming off. 変形例2を示す断面図(その2)である。It is sectional drawing (the 2) which shows the modification 2. 変形例2を示す断面図(その3)である。FIG. 3 is a cross-sectional view (No. 3) showing a modification 2. 変形例2を示す断面図(その4)である。It is sectional drawing (the 4) which shows the modification 2. 変形例2を示す断面図(その5)である。FIG. 5 is a cross-sectional view (No. 5) showing a modification 2. 変形例2を示す断面図(その6)である。FIG. 6 is a cross-sectional view (No. 6) showing a modification 2. 変形例2を示す断面図(その7)である。FIG. 7 is a cross-sectional view (No. 7) showing a modification 2.

以下、本発明に係る電鋳品の製造方法及び電鋳品の実施形態について、図面を用いて説明する。 Hereinafter, a method for producing an electrocast product and an embodiment of the electrocast product according to the present invention will be described with reference to the drawings.

図1A〜1Dは本発明の一実施形態である電鋳品200の製造方法の流れのうち導電粒子分散膜を形成する流れを模式的に示す断面図であり、図2A〜2Mは本発明の一実施形態である電鋳品200の製造方法の流れを模式的に示す断面図である。 1A to 1D are cross-sectional views schematically showing a flow of forming a conductive particle dispersion film in the flow of a manufacturing method of an electrocast product 200 according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 2A to 2M are cross-sectional views of the present invention. It is sectional drawing which shows typically the flow of the manufacturing method of the electric casting product 200 which is one Embodiment.

図示の電鋳品200の製造方法は、導電性基板10(以下、単に、基板10という。)に近い第1電鋳部分40と、第1電鋳部分40から幅方向Wに突出した、基板10から遠い第2電鋳部分80とが一体に形成された電鋳品200の製造方法である。 The illustrated electrocast product 200 is manufactured by a first electrocast portion 40 close to the conductive substrate 10 (hereinafter, simply referred to as a substrate 10) and a substrate protruding from the first electrocast portion 40 in the width direction W. This is a method for manufacturing an electrocast product 200 in which a second electrocast portion 80 far from 10 is integrally formed.

この製造方法は、まず、図1A〜1Dに示すように、第1電鋳部分40と第2電鋳部分80との段差面に配置される導電粒子分散シート140を形成する。具体的には、まず、図1Aに示すように、耐熱性を有し、かつ可撓性を有する基板110の一方の面110a上に、導電膜121を形成する。なお、導電膜121を形成する前に、面110aに離型剤を塗布しておいてもよい。 In this manufacturing method, first, as shown in FIGS. 1A to 1D, a conductive particle dispersion sheet 140 arranged on a stepped surface between the first electrocast portion 40 and the second electrocast portion 80 is formed. Specifically, first, as shown in FIG. 1A, the conductive film 121 is formed on one surface 110a of the substrate 110 having heat resistance and flexibility. Before forming the conductive film 121, a mold release agent may be applied to the surface 110a.

基板110としては、例えば、日本電気硝子株式会社製のフレキシブルガラスであるG−Leaf(登録商標)や、ゼノマックスジャパン株式会社(東洋紡株式会社と長瀬産業株式会社との合弁会社)製の高耐熱性ポリイミドフィルムであるゼノマックス(登録商標)などを用いることができる。なお、基板110は、これら例示のものに限定されない。 Examples of the substrate 110 include G-Leaf (registered trademark), which is a flexible glass manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd., and high heat resistance manufactured by Xenomax Japan Co., Ltd. (a joint venture between Toyobo Co., Ltd. and Nagase Sangyo Co., Ltd.). Xenomax (registered trademark), which is a sex polyimide film, can be used. The substrate 110 is not limited to these examples.

導電膜121は、例えば、導電体として金(Au)を用いることができ、この場合、導電膜121は、金の導電体を例えば厚さ5[nm]に形成したものである。なお、導電膜121は、金の導電体で形成したものに限定されず、また、厚さも5[nm]に限定されず、例えば1〜10[nm]の範囲を適用することができる。導電膜121の厚さは10[nm]以上であってもよい。 For the conductive film 121, for example, gold (Au) can be used as the conductor, and in this case, the conductive film 121 is formed by forming a gold conductor to, for example, a thickness of 5 [nm]. The conductive film 121 is not limited to the one formed of a gold conductor, and the thickness is not limited to 5 [nm], and for example, a range of 1 to 10 [nm] can be applied. The thickness of the conductive film 121 may be 10 [nm] or more.

次に、導電膜121が形成された基板110を加熱して、導電膜121を、図1Bに示すように、基板110上で分布した導電性の粒子120に粒子化する。導電体が金の場合は、例えば大気圧下において温度400[℃]で1[時間]加熱することにより、粒子化することができる。導電性の粒子120は、図1Cの平面図(図1Bの→方向から見た平面視)に示すように、粒子120同士が離れて分布した配置となる。 Next, the substrate 110 on which the conductive film 121 is formed is heated to form the conductive film 121 into conductive particles 120 distributed on the substrate 110, as shown in FIG. 1B. When the conductor is gold, it can be made into particles by heating at a temperature of 400 [° C.] for 1 [hour] under atmospheric pressure, for example. As shown in the plan view of FIG. 1C (plan view seen from the → direction in FIG. 1B), the conductive particles 120 are arranged so that the particles 120 are distributed apart from each other.

図1Cの平面図において、基板110の面110aの面積に対する粒子120の占める平面視での面積の百分率を充填率[%]としたとき、充填率は30[%]以上90[%]以下である。なお、本実施形態において、50[%]以上の充填率であることが好ましい。 In the plan view of FIG. 1C, when the percentage of the area occupied by the particles 120 in the plan view with respect to the area of the surface 110a of the substrate 110 is defined as the filling rate [%], the filling rate is 30 [%] or more and 90 [%] or less. be. In this embodiment, the filling rate is preferably 50 [%] or more.

導電性の粒子120の充填率が上述した範囲を下回っているときは、導電性の粒子120を形成した後に、基板110の面110aに追加して導電膜121を形成し、400[℃]で1[時間]、再度加熱することを繰り返すことにより、充填率を高めることができる。 When the filling rate of the conductive particles 120 is lower than the above range, the conductive particles 120 are formed, and then the conductive particles 121 are added to the surface 110a of the substrate 110 to form the conductive film 121 at 400 [° C.]. The filling rate can be increased by repeating heating again for 1 [hour].

なお、導電性の粒子120は、大きくても長辺が10[μm]以下であることが好ましく、上述した導電膜121の塗布及び加熱の工程の繰り返し回数を増やすことで、粒子120が球形に近づき、一方向にのみ長い粒子120の生成を抑制することができる。 The conductive particles 120 preferably have a long side of 10 [μm] or less at the maximum, and the particles 120 become spherical by increasing the number of repetitions of the above-mentioned coating and heating steps of the conductive film 121. It is possible to approach and suppress the formation of long particles 120 in only one direction.

次に、図1Dに示すように、導電性の粒子120が分布して配置された面110a上にレジスト130を塗布し、その後、加熱してレジスト130中の溶媒を除去する。レジスト130の厚さt2は、導電性の粒子120が覆われる程度であればよい。レジスト130は、例えば、化学増幅型のエポキシ系ネガ型フォトレジストで形成されているが、ネガ型に限定されず、例えば、ポリメチルメタクリレート系ポジ型フォトレジスト等であってもよい。 Next, as shown in FIG. 1D, the resist 130 is applied onto the surface 110a in which the conductive particles 120 are distributed and arranged, and then heated to remove the solvent in the resist 130. The thickness t2 of the resist 130 may be such that the conductive particles 120 are covered. The resist 130 is formed of, for example, a chemically amplified epoxy-based negative photoresist, but is not limited to the negative type, and may be, for example, a polymethylmethacrylate-based positive photoresist or the like.

レジスト130を塗布することによって、面110a上で分布して配置された複数の導電性の粒子120を、レジスト130によって固めることで、所定の充填率で複数の導電性の粒子120が分布して配置された、一体の導電粒子分散シート140を生成することができる。 By applying the resist 130, the plurality of conductive particles 120 distributed and arranged on the surface 110a are solidified by the resist 130, so that the plurality of conductive particles 120 are distributed at a predetermined filling rate. The arranged conductive particle dispersion sheet 140 can be generated.

導電粒子分散シート140の生成と並行して、又は前後して、図2Aに示すように、導電性の基板10上に、第1の型層となる1層目のレジスト20を塗布する。その後、加熱してレジスト20内の溶媒を除去する。 As shown in FIG. 2A, the first layer resist 20 to be the first mold layer is applied onto the conductive substrate 10 in parallel with or before and after the formation of the conductive particle dispersion sheet 140. Then, it is heated to remove the solvent in the resist 20.

導電性の基板10は、導電性の金属で形成されてもよいし、又は、半導体であるシリコン等の基板本体や非導電性の樹脂などの基板本体にそれぞれ導電性の膜を形成して導電性を発揮するものでもよい。なお、導電性の基板10は、複数種類の金属を積層して形成したものでもよい。 The conductive substrate 10 may be formed of a conductive metal, or a conductive film may be formed on a substrate body such as silicon which is a semiconductor or a substrate body such as a non-conductive resin to conduct conductivity. It may be one that exerts its sexuality. The conductive substrate 10 may be formed by laminating a plurality of types of metals.

レジスト20は、少なくともレジスト130と同じ型(レジスト130がネガ型であるときはレジスト20もネガ型、レジスト130がポジ型であるときはレジスト20もポジ型)のものを使用する必要があり、同じ材料であることが好ましい。 The resist 20 must be of at least the same type as the resist 130 (when the resist 130 is a negative type, the resist 20 is also a negative type, and when the resist 130 is a positive type, the resist 20 is also a positive type). It is preferably the same material.

本実施形態の製造方法は、次に、図2Bに示すように、レジスト20の、基板10から遠い側の面20aに、導電粒子分散シート140を貼り合わせる。具体的には、レジスト20の面20aに、図1Dに示した導電粒子分散シート140の、基板110とは反対側の面140aを密着させる。 Next, in the manufacturing method of the present embodiment, as shown in FIG. 2B, the conductive particle dispersion sheet 140 is attached to the surface 20a of the resist 20 on the side far from the substrate 10. Specifically, the surface 20a of the resist 20 is brought into close contact with the surface 140a of the conductive particle dispersion sheet 140 shown in FIG. 1D, which is opposite to the substrate 110.

このとき、レジスト20の面20aと導電粒子分散シート140の面140aとの間に気泡が入るのを防止するために、上述した両者の密着の操作を、以下の(1),(2),(3)のいずれかの方法で行うことができる。 At this time, in order to prevent air bubbles from entering between the surface 20a of the resist 20 and the surface 140a of the conductive particle dispersion sheet 140, the above-mentioned operation of close contact between the two is performed in the following (1), (2),. This can be done by any of the methods (3).

(1)レジスト20及びレジスト130のガラス転移点以下の温度に加温する
(2)レジスト20及びレジスト130のガラス転移点以下の温度に加温して密着の操作をした後、レジスト20及びレジスト130のガラス転移点以上の温度に加温して両者の界面の結合力を向上させる
(3)レジスト20及びレジスト130のガラス転移点以上の温度に加温する(ただし、厚さの制御を行うために、加圧の条件を精密にコントロールする必要がある)
(1) Heat the resist 20 and the resist 130 to a temperature below the glass transition point (2) After heating the resist 20 and the resist 130 to a temperature below the glass transition point and performing an adhesion operation, the resist 20 and the resist Warm to a temperature above the glass transition point of 130 to improve the bonding force at the interface between the two (3) Warm to a temperature above the glass transition point of the resist 20 and resist 130 (however, the thickness is controlled). Therefore, it is necessary to precisely control the pressurization conditions)

次いで、図2Cに示すように、基板110を導電粒子分散シート140から剥がす。ここで、導電粒子分散シート140の導電性の粒子120及びレジスト130と基板110との密着性は低いため、基板110は比較的容易に剥離することができるが、基板110の面110aに予め離型剤が塗布されていると、より容易に基板110を剥離することができる。 Then, as shown in FIG. 2C, the substrate 110 is peeled off from the conductive particle dispersion sheet 140. Here, since the adhesiveness between the conductive particles 120 and the resist 130 of the conductive particle dispersion sheet 140 and the substrate 110 is low, the substrate 110 can be peeled off relatively easily, but the substrate 110 is previously released from the surface 110a of the substrate 110. When the mold agent is applied, the substrate 110 can be peeled off more easily.

なお、基板110が紫外線を透過する場合は、基板110の剥離は、次の露光工程の後に行ってもよい。 When the substrate 110 transmits ultraviolet rays, the substrate 110 may be peeled off after the next exposure step.

次いで、図2Dに示すように、開口部31と遮蔽部32とが形成されたフォトマスク30を介して、導電粒子分散シート140を通じでレジスト20にUV光(紫外線)Lを照射(露光)する。導電粒子分散シート140における粒子120の充填率は100よりも小さいため、粒子120が存在していないレジスト130の領域を介して、レジスト20には、開口部31を通じてUV光Lが照射された領域(露光領域)21と、遮蔽部32によりUV光Lが照射されなかった領域(未露光領域)22とが形成される。 Next, as shown in FIG. 2D, the resist 20 is irradiated (exposed) with UV light (ultraviolet rays) L through the conductive particle dispersion sheet 140 via the photomask 30 in which the opening 31 and the shielding portion 32 are formed. .. Since the filling rate of the particles 120 in the conductive particle dispersion sheet 140 is smaller than 100, the region in which the resist 20 is irradiated with UV light L through the opening 31 through the region of the resist 130 in which the particles 120 do not exist. A (exposed region) 21 and a region (unexposed region) 22 not irradiated with UV light L by the shielding portion 32 are formed.

未露光領域22は、後の現像処理により空洞となり、基板10に近い第1電鋳部分40を形成する型(第1の型)となる。 The unexposed area 22 becomes hollow by the subsequent development process, and becomes a mold (first mold) for forming the first electrocast portion 40 close to the substrate 10.

次いで、図2Eに示すように、導電粒子分散シート140を挟んで1層目のレジスト20の上に、第2の型層となる2層目のレジスト60を形成する。このレジスト60は、基板10に近い第1電鋳部分40に比べて、基板10から遠い側であるの第2電鋳部分80に対応している。 Next, as shown in FIG. 2E, a second-layer resist 60 to be a second mold layer is formed on the first-layer resist 20 with the conductive particle dispersion sheet 140 interposed therebetween. The resist 60 corresponds to the second electrocast portion 80 on the side farther from the substrate 10 than the first electrocast portion 40 closer to the substrate 10.

次いで、図2Fに示すように、開口部71と遮蔽部72とが形成されたフォトマスク70を介して、2層目のレジスト60にUV光(紫外線)Lを照射(露光)する。これにより、レジスト60には、開口部71を通じてUV光Lが照射された領域(露光領域)61と、遮蔽部72によりUV光Lが照射されなかった領域(未露光領域)62とが形成される。未露光領域62は、後の現像処理により空洞となり、基板10から遠い第2電鋳部分80を形成する型(第2の型)となる。 Next, as shown in FIG. 2F, the resist 60 of the second layer is irradiated (exposed) with UV light (ultraviolet rays) L via the photomask 70 in which the opening 71 and the shielding portion 72 are formed. As a result, the resist 60 is formed with a region (exposed region) 61 that is irradiated with UV light L through the opening 71 and a region (unexposed region) 62 that is not irradiated with UV light L by the shielding portion 72. NS. The unexposed area 62 becomes hollow by the subsequent development process, and becomes a mold (second mold) for forming the second electrocast portion 80 far from the substrate 10.

ここで、厚さ方向tに直交する幅方向Wに沿った、2層目のレジスト60の未露光領域62の幅W2は、1層目のレジスト20の未露光領域22の幅W1よりも広い。この結果、図2Gに示すように、現像処理により、1層目のレジスト20の未露光領域22と2層目のレジスト60の未露光領域62を除去すると、1層目のレジスト20には、第1電鋳部分40から第2電鋳部分80が幅方向Wに突出した段差面を形成する段差形成面25が形成される。 Here, the width W2 of the unexposed region 62 of the second layer resist 60 along the width direction W orthogonal to the thickness direction t is wider than the width W1 of the unexposed region 22 of the first layer resist 20. .. As a result, as shown in FIG. 2G, when the unexposed region 22 of the first layer resist 20 and the unexposed region 62 of the second layer resist 60 are removed by the development process, the first layer resist 20 is subjected to. A step forming surface 25 is formed in which the first electrocast portion 40 to the second electrocast portion 80 project from the width direction W to form a step surface.

また、現像により、レジスト20,60が除去される際に、レジスト20の未露光領域22に対応した導電粒子分散シート140の部分142も除去されるが、段差形成面25に対応した導電粒子分散シート140の部分141と部分142とは、導電体が一体の膜として繋がっているのではなく、粒子120が分布して配置されたレジスト130のみで繋がっているため、現像により、適切な境界で容易に千切れる。 Further, when the resists 20 and 60 are removed by development, the portion 142 of the conductive particle dispersion sheet 140 corresponding to the unexposed region 22 of the resist 20 is also removed, but the conductive particle dispersion corresponding to the step forming surface 25 is also removed. Since the conductors are not connected as an integral film but only the resist 130 in which the particles 120 are distributed and arranged, the portions 141 and 142 of the sheet 140 are connected at an appropriate boundary by development. Easy to tear.

なお、段差形成面25の導電粒子分散シート140の表面に、粒子120が露出していないときは、後述する金属めっきによる電鋳に先立って、導電粒子分散シート140の表面を、酸素プラズマでアッシング処理して、段差形成面25に粒子120を露出させる。 When the particles 120 are not exposed on the surface of the conductive particle dispersion sheet 140 on the step forming surface 25, the surface of the conductive particle dispersion sheet 140 is ashed with oxygen plasma prior to electrocasting by metal plating described later. The treatment is performed to expose the particles 120 to the step forming surface 25.

次いで、基板10との間で、ニッケル(Ni)を用いた電気めっきにより、まず、1層目のレジスト20の未露光領域22に対応した空洞を型として、図2Hに示すように、第1電鋳部分40が形成される。なお、電鋳材料はニッケルに限定されるものではなく、銅(Cu)、錫(Sn)、コバルト(Co)など電鋳可能な材料の全てを適用可能である。 Next, by electroplating with the substrate 10 using nickel (Ni), first, as shown in FIG. 2H, the first cavity corresponding to the unexposed region 22 of the first layer resist 20 is used as a mold. The electroplated portion 40 is formed. The electroformed material is not limited to nickel, and all electroformed materials such as copper (Cu), tin (Sn), and cobalt (Co) can be applied.

第1電鋳部分40の成長が進むと、やがて図2Iに示すように、成長した第1電鋳部分40の先端部分が、導電粒子分散シート140に到達する。第1電鋳部分40は、当然に導電性を有するため、第1電鋳部分40に繋がった導電粒子分散シート140の粒子120も基板10と導通し、基板10と同様に、電気めっきの電極となる。そして、2層目のレジスト60の未露光領域62に対応した空洞を型として、図2Jに示すように、第2電鋳部分80が形成される。 As the growth of the first electrocast portion 40 progresses, the tip portion of the grown first electrocast portion 40 eventually reaches the conductive particle dispersion sheet 140, as shown in FIG. 2I. Since the first electrocast portion 40 naturally has conductivity, the particles 120 of the conductive particle dispersion sheet 140 connected to the first electrocast portion 40 also conduct with the substrate 10, and the electroplating electrode is similar to the substrate 10. It becomes. Then, as shown in FIG. 2J, the second electrocast portion 80 is formed by using the cavity corresponding to the unexposed region 62 of the second layer resist 60 as a mold.

ここで、導電粒子分散シート140の粒子120も電気めっきの電極となるため、第1電鋳部分40よりも幅方向Wに突出した段差形成面25からも、第2電鋳部分80が成長していく。 Here, since the particles 120 of the conductive particle dispersion sheet 140 also serve as electrodes for electroplating, the second electrocast portion 80 grows from the step forming surface 25 that protrudes in the width direction W from the first electrocast portion 40. To go.

このとき、幅方向Wの成長速度は、粒子120の充填率に依存し、例えば、粒子120の充填率が50[%]の場合の成長速度は、粒子120の充填率が0[%]の場合の成長速度の約2倍となる。 At this time, the growth rate in the width direction W depends on the filling rate of the particles 120. For example, when the filling rate of the particles 120 is 50 [%], the growth rate is such that the filling rate of the particles 120 is 0 [%]. It is about twice the growth rate of the case.

そして、第2電鋳部分80が所望の厚さまで成長した後に、図2Kに示すように、レジスト60の上面60a及び第2電鋳部分80の上面80aを平坦に研削及び研磨する。 Then, after the second electrocast portion 80 has grown to a desired thickness, the upper surface 60a of the resist 60 and the upper surface 80a of the second electrocast portion 80 are ground and polished flat as shown in FIG. 2K.

その後、レジスト20,60,130を除去し、基板10も除去することにより、図2Lに示すように、第1電鋳部分40と、第1電鋳部分40から幅方向Wに突出した第2電鋳部分80とが一体に形成された電鋳品200が製造される。第1電鋳部分40から第2電鋳部分80の幅方向Wに突出した面は、段差形成面25によって形成された段差面210となる。 After that, by removing the resists 20, 60, and 130 and also removing the substrate 10, as shown in FIG. 2L, the first electrocast portion 40 and the second projecting from the first electrocast portion 40 in the width direction W. An electrocast product 200 in which the electrocast portion 80 is integrally formed is manufactured. The surface of the first electrocast portion 40 protruding in the width direction W of the second electrocast portion 80 becomes a step surface 210 formed by the step forming surface 25.

なお、電鋳品200の段差面210には、導電粒子分散シート140に含まれていた導電性の粒子120が残っている。この粒子120は、元の導電膜121が金である場合、表面プラズモン共鳴により、赤色や黄色等の色彩を帯びるため、色彩による装飾的な効果を得ることができる。したがって、そのような装飾的効果を得る目的で、粒子120を段差面210にあえて残してもよいし、又は、図2Mに示すように、段差面210から粒子120を除去してもよい。 The conductive particles 120 contained in the conductive particle dispersion sheet 140 remain on the stepped surface 210 of the electrocast product 200. When the original conductive film 121 is gold, the particles 120 take on a color such as red or yellow due to surface plasmon resonance, so that a decorative effect due to the color can be obtained. Therefore, for the purpose of obtaining such a decorative effect, the particles 120 may be intentionally left on the stepped surface 210, or the particles 120 may be removed from the stepped surface 210 as shown in FIG. 2M.

以上のように、本実施形態の電鋳品200の製造方法によれば、導電粒子分散シート140は、導電性の粒子120同士は離れていて、レジスト130だけで繋がっているため、1層目のレジスト20の未露光領域22が除去されたときに、その未露光領域22の上面に配置されている導電粒子分散シート140の部分142と、段差形成面25の導電粒子分散シート140の部分141とは、容易に切断される。 As described above, according to the method for producing the electrocast product 200 of the present embodiment, the conductive particle dispersion sheet 140 is the first layer because the conductive particles 120 are separated from each other and are connected only by the resist 130. When the unexposed region 22 of the resist 20 is removed, the portion 142 of the conductive particle dispersion sheet 140 arranged on the upper surface of the unexposed region 22 and the portion 141 of the conductive particle dispersion sheet 140 of the step forming surface 25. Is easily cut off.

したがって、図3Aに示すように、導電粒子分散シート140が一体の導電膜350であるものに比べて、未露光領域22に対応した部分352と段差形成面25に対応した部分351との境界で正確に切断されずに、その残った部分が、導電膜350を剥がれ易くするということが無い。 Therefore, as shown in FIG. 3A, at the boundary between the portion 352 corresponding to the unexposed region 22 and the portion 351 corresponding to the step forming surface 25, as compared with the case where the conductive particle dispersion sheet 140 is an integral conductive film 350. The remaining portion of the conductive film 350 is not easily peeled off without being cut accurately.

また、導電粒子分散シート140は、1層目のレジスト20の未露光領域22と段差形成面25との境界で正確に切断される、また、導電粒子120は適切な位置で完全に分離されているため、段差形成面25の形状ごとに合致する形状に形成された導電膜形成用のマスクを用意する必要が無い。したがって、本実施形態の電鋳品200の製造方法は、そのようなマスクを都度準備する製造方法に比べて、製造コストを低減することができる。 Further, the conductive particle dispersion sheet 140 is accurately cut at the boundary between the unexposed region 22 of the first layer resist 20 and the step forming surface 25, and the conductive particles 120 are completely separated at appropriate positions. Therefore, it is not necessary to prepare a mask for forming a conductive film formed in a shape that matches each shape of the step forming surface 25. Therefore, the manufacturing method of the electrocast product 200 of the present embodiment can reduce the manufacturing cost as compared with the manufacturing method in which such a mask is prepared each time.

また、本実施形態の電鋳品200の製造方法は、1層目のレジスト20の、第1電鋳部分40に対応した空洞(未露光領域22)における電鋳の成長速度が、仮に部分的に不均一となって、例えば図3Bに示すように、第1電鋳部分40の一部のみが他部に先行して導電粒子分散シート140に到達した場合であっても、第1電鋳部分40が到達していない導電粒子分散シート140の部分は、基板10と導通しない。 Further, in the method for manufacturing the electric casting product 200 of the present embodiment, the growth rate of the electric casting in the cavity (unexposed region 22) corresponding to the first electric casting portion 40 of the first layer resist 20 is assumed to be partial. Even when only a part of the first electrocast portion 40 reaches the conductive particle dispersion sheet 140 prior to the other portion, as shown in FIG. 3B, for example, the first electrocast The portion of the conductive particle dispersion sheet 140 to which the portion 40 has not reached does not conduct with the substrate 10.

このため、その第1電鋳部分40が到達していない導電粒子分散シート140の部分からは、第1電鋳部分40が到達する前に第2電鋳部分80が成長し始めることが無い。 Therefore, the second electrocast portion 80 does not start to grow from the portion of the conductive particle dispersion sheet 140 that the first electrocast portion 40 has not reached before the first electrocast portion 40 arrives.

したがって、第1電鋳部分40が到達する以前に第2電鋳部分が成長し始めた場合に形成され得る、第1電鋳部分40と第2電鋳部分80との間の空洞が発生することが無い。 Therefore, a cavity is generated between the first electrocast portion 40 and the second electrocast portion 80, which may be formed when the second electrocast portion starts to grow before the first electrocast portion 40 arrives. There is nothing.

また、本実施形態の電鋳品200の製造方法は、段差形成面25において、導電粒子分散シート140の粒子120が主に球形であるため表面積が大きく、したがって、第2電鋳部分80の段差面210が、この粒子120に接する面積は、平坦な導電膜に接する面積に比べて大きいため、第2電鋳部分80と粒子120との結合力が大きい。 Further, in the method for manufacturing the electrocast product 200 of the present embodiment, the surface area of the step forming surface 25 is large because the particles 120 of the conductive particle dispersion sheet 140 are mainly spherical, and therefore the step of the second electrocast portion 80. Since the area of the surface 210 in contact with the particles 120 is larger than the area in contact with the flat conductive film, the bonding force between the second electrocast portion 80 and the particles 120 is large.

したがって、本実施形態の電鋳品200の製造方法は、第2電鋳部分80の上面80aをグラインダで研削、研磨する(図2K参照)ことによる負荷に対する抵抗力が強く、段差面210が段差形成面25から剥離し難くなって、第2電鋳部分80の周囲が浮き上がるのを防止又は抑制することができる。 Therefore, in the method for manufacturing the electrocast product 200 of the present embodiment, the upper surface 80a of the second electrocast portion 80 is ground and polished with a grinder (see FIG. 2K) to have a strong resistance to a load, and the stepped surface 210 has a stepped surface. It becomes difficult to peel off from the forming surface 25, and it is possible to prevent or suppress the periphery of the second electrocast portion 80 from rising.

そして、第2電鋳部分80の周囲が中心部に対して浮き上がらないため、第2電鋳部分80の上面80aを、例えば図2Kに示すように研削、研磨したときに、第2電鋳部分80の周囲部分の厚さが中心部分の厚さよりも薄くなることが無く、均一な厚さとすることができる。 Since the periphery of the second electrocast portion 80 does not rise with respect to the central portion, when the upper surface 80a of the second electrocast portion 80 is ground and polished as shown in FIG. 2K, for example, the second electrocast portion The thickness of the peripheral portion of 80 is not thinner than the thickness of the central portion, and the thickness can be made uniform.

本実施形態の電鋳品200の製造方法で用いる導電粒子分散シート140は、粒子120の充填率が30[%]以上90[%]以下であるが、充填率が30[%]未満であると、第2電鋳部分80を電気めっきで成長させるための電極として、十分な成長速度を得ることができず、また、充填率が90[%]を超えると、導電粒子分散シート140に覆われた下層(1層目)のレジスト20を十分に露光することができない。 In the conductive particle dispersion sheet 140 used in the method for producing the electroplated product 200 of the present embodiment, the filling rate of the particles 120 is 30 [%] or more and 90 [%] or less, but the filling rate is less than 30 [%]. As an electrode for growing the second electrocast portion 80 by electroplating, a sufficient growth rate cannot be obtained, and when the filling rate exceeds 90 [%], the conductive particle dispersion sheet 140 is covered. The resist 20 of the lower layer (first layer) that has been broken cannot be sufficiently exposed.

なお、充填率が50[%]以上であると、第2電鋳部分80の成長速度を十分に速めることができるため好ましい。 When the filling rate is 50 [%] or more, the growth rate of the second electrocast portion 80 can be sufficiently accelerated, which is preferable.

<変形例1>
実施例の電鋳品200は、第1電鋳部分40の型となる1層目の部分(型層)をレジスト20によって形成したものである。ここで、レジスト20は、一般的に、基板10上に、スピンコータによって形成される。
<Modification example 1>
In the electrocast product 200 of the embodiment, the first layer portion (mold layer) to be the mold of the first electrocast portion 40 is formed by the resist 20. Here, the resist 20 is generally formed on the substrate 10 by a spin coater.

スピンコータは、回転させているため遠心力が作用し、回転の中心に近い内周側のレジストよりも、外周側のレジストが厚くなり易く、第1電鋳部分40の厚さの精度を調整するのが難しい。また、レジストを研削しようとしても、紫外線に反応するレジストを、紫外線を受けない環境下で研削するのはコストが掛かる。 Since the spin coater is rotated, centrifugal force acts on it, and the resist on the outer peripheral side tends to be thicker than the resist on the inner peripheral side near the center of rotation, and the accuracy of the thickness of the first electrocast portion 40 is adjusted. Is difficult. Further, even if an attempt is made to grind a resist, it is costly to grind a resist that reacts with ultraviolet rays in an environment that does not receive ultraviolet rays.

図4A〜4Mは、実施形態における1層目の型層を、レジスト20ではなく、シリコン基板321で形成した、実施形態の変形例(変形例1)を示す断面図である。 4A to 4M are cross-sectional views showing a modified example (modified example 1) of the embodiment in which the first mold layer in the embodiment is formed of a silicon substrate 321 instead of the resist 20.

この変形例1の電鋳品200の製造方法は、まず、第1電鋳部分40の型となる第1の型層としてのシリコン基板321を用意し、図4Aに示すように、一方の面321aに、プラズマCVD又は熱酸化処理などによって、酸化シリコン層321cを形成する。 In the method for manufacturing the electrocast product 200 of the first modification, first, a silicon substrate 321 as a first mold layer to be a mold of the first electrocast portion 40 is prepared, and as shown in FIG. 4A, one surface is provided. A silicon oxide layer 321c is formed on the 321a by plasma CVD, thermal oxidation treatment, or the like.

次いで、図4Bに示すように、シリコン基板321の酸化シリコン321cが形成された反対の面321bを研削、研磨して、均一の厚さt3とする。 Next, as shown in FIG. 4B, the opposite surface 321b on which the silicon oxide 321c of the silicon substrate 321 is formed is ground and polished to obtain a uniform thickness t3.

ここで、図4Aの例では、シリコン基板321の一方の面321aのみに酸化シリコン層321cを形成しているが、酸化シリコン層321cを両面に形成してもよい。その場合は、シリコン基板321の両面のうち、いずれか一方の面のみ研削、研磨を行う。 Here, in the example of FIG. 4A, the silicon oxide layer 321c is formed only on one surface 321a of the silicon substrate 321. However, the silicon oxide layer 321c may be formed on both surfaces. In that case, only one of the two surfaces of the silicon substrate 321 is ground and polished.

次いで、図4Cに示すように、研削、研磨した面(321b)上に、例えば、スパッタリングにより、導電層322を形成する。 Next, as shown in FIG. 4C, a conductive layer 322 is formed on the ground and polished surface (321b) by, for example, sputtering.

次いで、図4Dに示すように、シリコンやガラスで形成されたサポート基板324に、図4Cに示した導電層322を、接着剤323で貼り付ける。 Next, as shown in FIG. 4D, the conductive layer 322 shown in FIG. 4C is attached to the support substrate 324 made of silicon or glass with an adhesive 323.

次いで、図4Eに示すように、酸化シリコン層321cにレジスト325を塗布し、第1電鋳部分40を形成する空洞に対応した範囲を未露光領域325aとするマスキングにより露光を行ったうえで、現像処理を行って未露光領域325aを除去する。次いで、酸化エッチングにより、酸化シリコン層321cのうち、未露光領域325aに対応した領域321dを除去し、その後レジスト325も除去する。 Next, as shown in FIG. 4E, a resist 325 is applied to the silicon oxide layer 321c, and the area corresponding to the cavity forming the first electrocast portion 40 is exposed by masking as an unexposed area 325a. A development process is performed to remove the unexposed region 325a. Next, of the silicon oxide layer 321c, the region 321d corresponding to the unexposed region 325a is removed by oxidative etching, and then the resist 325 is also removed.

次いで、図4Fに示すように、酸化シリコン層321cをマスクとして、除去された領域321dに対応した領域321eを、深堀反応性イオンエッチングにより除去し、この領域321eを、第1電鋳部分40に対応した空洞に形成する。この領域321eは、導電層322に近い第1電鋳部分40を形成する型(第1の型)となる。 Next, as shown in FIG. 4F, using the silicon oxide layer 321c as a mask, the region 321e corresponding to the removed region 321d was removed by deep-drill reactive ion etching, and this region 321e was transferred to the first electrocast portion 40. Form in the corresponding cavity. This region 321e is a mold (first mold) for forming the first electrocast portion 40 close to the conductive layer 322.

次いで、図4Gに示すように、酸化シリコン層321cに、図2Cに示した導電粒子分散シート140を貼り付ける。導電粒子分散シート140の貼り付けは、図2B,2Cにより説明した実施形態と同じ工程で行うことができる。そして、第1電鋳部分40を形成する空洞に対応した範囲を未露光領域142とするマスキングにより、露光を行う。 Next, as shown in FIG. 4G, the conductive particle dispersion sheet 140 shown in FIG. 2C is attached to the silicon oxide layer 321c. The conductive particle dispersion sheet 140 can be attached in the same process as the embodiment described with reference to FIGS. 2B and 2C. Then, the exposure is performed by masking so that the range corresponding to the cavity forming the first electrocast portion 40 is the unexposed region 142.

次いで、図4Hに示すように、導電粒子分散シート140上に、第2の型層である2層目のレジスト60を形成する。次いで、図2Fと同様に、フォトマスク70を介して2層目のレジスト60にUV光(紫外線)Lを照射(露光)し、現像により第2電鋳部分80を形成する型(第2の型)となる未露光領域62を除去する。このとき、領域321eに対応した導電粒子分散シート140の部分も除去される。 Next, as shown in FIG. 4H, a second resist 60, which is a second mold layer, is formed on the conductive particle dispersion sheet 140. Next, as in FIG. 2F, the second layer resist 60 is irradiated (exposed) with UV light (ultraviolet rays) L via the photomask 70, and the second electrocast portion 80 is formed by development (second). The unexposed area 62 that becomes the mold) is removed. At this time, the portion of the conductive particle dispersion sheet 140 corresponding to the region 321e is also removed.

次いで、導電層322との間で、ニッケル(Ni)を用いた電気めっきにより、図4Iに示すように、1層目のシリコン基板321の領域321eに対応した空洞に第1電鋳部分40が形成され、2層目のレジスト60の未露光領域62に対応した空洞に第2電鋳部分80が形成されて、第1電鋳部分40と第2電鋳部分80とが一体の電鋳品200が形成される。なお、電鋳材料はニッケルに限定されるものではなく、銅、錫、コバルトなど電鋳可能な材料の全てを適用可能である。 Next, by electroplating with the conductive layer 322 using nickel (Ni), as shown in FIG. 4I, the first electrocast portion 40 is formed in the cavity corresponding to the region 321e of the first layer silicon substrate 321. The second electroplated portion 80 is formed in the cavity corresponding to the unexposed region 62 of the second layer resist 60, and the first electroplated portion 40 and the second electroplated portion 80 are integrally electroplated. 200 is formed. The electroformed material is not limited to nickel, and all electroformed materials such as copper, tin, and cobalt can be applied.

2層目のレジスト60の上面60a及び第2電鋳部分80の上面80aを研削、研磨して、第2電鋳部分80の厚さt4を均一な厚さとする。 The upper surface 60a of the second layer resist 60 and the upper surface 80a of the second electrocast portion 80 are ground and polished to make the thickness t4 of the second electrocast portion 80 uniform.

次いで、図4Jに示すように、接着剤323を剥がしてサポート基板324と導電層322側とを分離し、導電層322側を上下反対にして、第2電鋳部分80及び2層目のレジスト60を、接着剤323により、サポート基板324に貼り付ける。 Next, as shown in FIG. 4J, the adhesive 323 is peeled off to separate the support substrate 324 and the conductive layer 322 side, and the conductive layer 322 side is turned upside down to turn the second electrocast portion 80 and the second layer resist. 60 is attached to the support substrate 324 with the adhesive 323.

次いで、図4Kに示すように、導電層322、シリコン基板321及び酸化シリコン層321cを、エッチングで除去する。例えば、導電層が金(Au)の場合、導電層をヨウ素系エッチング液で、シリコンを水酸化カリウムで、酸化シリコンをCHF3ガスを用いたプラズマエッチングで、各々除去する。 Next, as shown in FIG. 4K, the conductive layer 322, the silicon substrate 321 and the silicon oxide layer 321c are removed by etching. For example, when the conductive layer is gold (Au), the conductive layer is removed by an iodine-based etching solution, silicon is removed by potassium hydroxide, and silicon oxide is removed by plasma etching using CHF3 gas.

次いで、図4Lに示すように、導電粒子分散シート140、レジスト60,130を除去し、接着剤323を溶解することで除去して、電鋳品200をサポート基板324から分離する。これにより、段差面210に、導電粒子分散シート140に含まれていた導電性の粒子120が残っている電鋳品200が形成される。 Next, as shown in FIG. 4L, the conductive particle dispersion sheets 140 and the resists 60 and 130 are removed, and the adhesive 323 is dissolved to remove the electroformed product 200 from the support substrate 324. As a result, the electrocast product 200 in which the conductive particles 120 contained in the conductive particle dispersion sheet 140 remain is formed on the stepped surface 210.

この電鋳部品200には、段差面210に導電性の粒子120が残っているが、実施形態と同様の装飾的効果を得る目的により、粒子120を敢えて残してもよいし、又は、図4Mに示すように、導電性の粒子120を除去してよい。 In this electrocast component 200, the conductive particles 120 remain on the stepped surface 210, but the particles 120 may be intentionally left for the purpose of obtaining the same decorative effect as in the embodiment, or FIG. 4M. As shown in, the conductive particles 120 may be removed.

以上のように、変形例1による電鋳品200の製造方法によれば、実施形態と同じ効果を得ることができるのに加えて、厚さが不均一になることがあるレジストを用いずに、厚さを均一に生成することができるシリコン基板321を型層として用いて第1電鋳部分40を生成することにより、電鋳品200の1層目の厚さt3を均一にすることができる。 As described above, according to the method for manufacturing the electric cast product 200 according to the first modification, in addition to being able to obtain the same effect as that of the embodiment, without using a resist which may have a non-uniform thickness. By forming the first electrocast portion 40 using the silicon substrate 321 capable of uniformly producing the thickness, the thickness t3 of the first layer of the electrocast product 200 can be made uniform. can.

なお、変形例1は、2層の電鋳部分40,80が一体に形成された電鋳品200を製造する方法であるが、3層以上の電鋳部分を一体に形成するものであってもよい。この場合、最上層の電鋳部分の型層のみをレジスト60とし、最上層を除いた他の全ての電鋳部分の型層をレジスト60又はシリコン基板321のいずれかで形成すればよい。 The first modification is a method of manufacturing an electrocast product 200 in which two layers of electrocast portions 40 and 80 are integrally formed, but the method is one in which three or more layers of electrocast portions are integrally formed. May be good. In this case, only the mold layer of the electrocast portion of the uppermost layer may be used as the resist 60, and the mold layers of all the other electrocast portions except the uppermost layer may be formed by either the resist 60 or the silicon substrate 321.

<変形例2>
実施例の電鋳品200は、導電性の粒子120が球形に近いが、粒子120の形状を変えて、導電粒子分散シート140におけるレジスト130と導電性の粒子120との結合力を増大させてもよい。
<Modification 2>
In the electrocast product 200 of the example, the conductive particles 120 are close to spherical, but the shape of the particles 120 is changed to increase the bonding force between the resist 130 and the conductive particles 120 in the conductive particle dispersion sheet 140. May be good.

図5A〜5Fは、実施形態における導電性の粒子120を、レジストに対して抜け止めの形状に変えた導電性の粒子129とした、実施形態の変形例(変形例2)を示す断面図である。 5A to 5F are cross-sectional views showing a modified example (modified example 2) of the embodiment in which the conductive particles 120 in the embodiment are changed to conductive particles 129 in which the conductive particles 120 are changed into a shape that prevents the resist from coming off. be.

この変形例2の電鋳品200の製造方法は、まず、実施形態の導電粒子分散シート140に代えて導電粒子分散シート240を形成する。 In the method of manufacturing the electrocast product 200 of the second modification, first, the conductive particle dispersion sheet 240 is formed instead of the conductive particle dispersion sheet 140 of the embodiment.

具体的には、図5Aに示すように、基板110の一方の面110a上に、熱剥離シート115を貼り付け、熱剥離シート115の上に導電膜121を形成する。 Specifically, as shown in FIG. 5A, the heat release sheet 115 is attached on one surface 110a of the substrate 110, and the conductive film 121 is formed on the heat release sheet 115.

次に、図5Bに示すように、導電膜121の上に、レジスト130を形成し、このレジスト130に、後に、粒子120に対応した導電性の粒子129を形成するための未露光領域132を形成する。未露光領域132は、幅W5の遮光部を有するマスクを用いた露光により形成することができる。これにより、幅W5の未露光領域132が形成され、現像により、未露光領域132のレジスト130が除去されて幅W5の空洞が形成される。 Next, as shown in FIG. 5B, a resist 130 is formed on the conductive film 121, and an unexposed region 132 for forming conductive particles 129 corresponding to the particles 120 is formed on the resist 130 later. Form. The unexposed region 132 can be formed by exposure using a mask having a light-shielding portion having a width W5. As a result, the unexposed region 132 having a width W5 is formed, and the resist 130 in the unexposed region 132 is removed by development to form a cavity having a width W5.

次に、図5Cに示すように、導電膜121を電極とした湿式めっきにより、未露光領域132の空洞に、導電性の粒子129を形成させる。導電性の粒子129は、レジスト130の空洞からレジスト130の外側まで成長すると、空洞の幅W5よりも広い幅W6(>W5)まで成長する。これにより、導電性の粒子129は、空洞と同じ幅W5の粒子部分127と、空洞よりも広い幅W6の粒子部分128とが一体に形成されたものとなる。 Next, as shown in FIG. 5C, conductive particles 129 are formed in the cavities of the unexposed region 132 by wet plating using the conductive film 121 as an electrode. When the conductive particles 129 grow from the cavity of the resist 130 to the outside of the resist 130, the conductive particles 129 grow to a width W6 (> W5) wider than the width W5 of the cavity. As a result, the conductive particle 129 is formed by integrally forming a particle portion 127 having the same width W5 as the cavity and a particle portion 128 having a width W6 wider than the cavity.

次いで、図5Dに示すように、導電性の粒子129が分布して配置されたレジスト130の上にさらに、レジスト138を塗布して加熱し、レジスト138中の溶媒を除去する。レジスト138は、導電性の粒子129が覆われる程度の厚さであればよい。レジスト138はレジスト130と同じものであってもよい。 Next, as shown in FIG. 5D, the resist 138 is further applied and heated on the resist 130 in which the conductive particles 129 are distributed and arranged to remove the solvent in the resist 138. The resist 138 may be thick enough to cover the conductive particles 129. The resist 138 may be the same as the resist 130.

レジスト138を塗布することによって、幅W5の粒子部分127よりも幅の広い粒子部分128をレジスト138に埋めた状態にすることができ、これにより、分布して配置された複数の導電性の粒子129を、レジスト130,138によって一体に形成した導電粒子分散シート240を生成することができる。 By applying the resist 138, the particle portion 128 having a width wider than the particle portion 127 having a width W5 can be embedded in the resist 138, whereby a plurality of electrically distributed particles arranged in a distributed manner can be obtained. It is possible to generate a conductive particle dispersion sheet 240 in which 129 is integrally formed by resists 130 and 138.

次に、実施形態の図2Bに示したのと同様に、図5Eに示すように、導電粒子分散シート240の生成と並行して、又は前後して生成された、図2Aに示した、導電性の基板10上に塗布された1層目のレジスト20に、導電粒子分散シート240を貼り合わせる。この導電シートの240の貼り合わせは、実施形態と同じである。 Next, as shown in FIG. 5E, as shown in FIG. 2B of the embodiment, the conductivity shown in FIG. 2A was generated in parallel with or before and after the generation of the conductive particle dispersion sheet 240. The conductive particle dispersion sheet 240 is attached to the first layer resist 20 coated on the property substrate 10. The bonding of 240 of the conductive sheets is the same as that of the embodiment.

次に、図5Fに示すように、熱を加えて熱剥離シート115の粘着力を低下させることで、基板110を除去し、さらに、導電膜121を除去して、実施形態1の導電粒子分散シート140と同様の、粒子129が分布して配置された導電粒子分散シート240を、1層目のレジスト20の上に形成することができる。 Next, as shown in FIG. 5F, the substrate 110 is removed by applying heat to reduce the adhesive strength of the heat release sheet 115, and further, the conductive film 121 is removed to disperse the conductive particles according to the first embodiment. Similar to the sheet 140, the conductive particle dispersion sheet 240 in which the particles 129 are distributed and arranged can be formed on the first layer resist 20.

そして、このように形成された導電粒子分散シート240に分布した粒子129は、導電粒子分散シート140の表面に露出した上側の粒子部分127が幅W5であり、レジスト130,138に埋まった下側の粒子部分128が、粒子部分127よりも広い幅W6となる。 Then, in the particles 129 distributed on the conductive particle dispersion sheet 240 formed in this way, the upper particle portion 127 exposed on the surface of the conductive particle dispersion sheet 140 has a width W5, and the lower side is buried in the resists 130 and 138. The particle portion 128 of the above has a width W6 wider than that of the particle portion 127.

上側の粒子部分127は、図5Gに示すように、第2電鋳部分80を形成する際の電極となるため、第2電鋳部分80と結合する。ここで、仮に、第2電鋳部分80の表面が研削等されて第2電鋳部分80の周囲が上方に浮き上がるような負荷を受けても、レジスト130,138に埋まっている粒子部分128は、第2電鋳部分80に結合する粒子部分127よりも幅が広く形成されているため、粒子129が第2電鋳部分80とともに浮き上がろうとしても、粒子部分128がレジスト130,138からの抜け止め機能を発揮する。 As shown in FIG. 5G, the upper particle portion 127 serves as an electrode when forming the second electrocast portion 80, and thus is coupled to the second electrocast portion 80. Here, even if the surface of the second electrocast portion 80 is ground and a load is applied such that the periphery of the second electrocast portion 80 is lifted upward, the particle portion 128 buried in the resists 130 and 138 remains. Since the width is formed wider than the particle portion 127 bonded to the second electrocast portion 80, even if the particles 129 try to float together with the second electrocast portion 80, the particle portion 128 is formed from the resists 130 and 138. Demonstrates the function of preventing the particles from coming off.

このように、変形例2による電鋳品200の製造方法によれば、実施形態と同じ効果を得ることができるのに加えて、導電粒子分散シート240の粒子129とレジスト130,138との結合力が実施形態の導電粒子分散シート140よりも増強されていることにより、第2電鋳部分80の浮き上がりを、一層強固に防止することができる。 As described above, according to the method for producing the electrocast product 200 according to the second modification, in addition to being able to obtain the same effect as that of the embodiment, the bonding between the particles 129 of the conductive particle dispersion sheet 240 and the resists 130 and 138 is obtained. Since the force is stronger than that of the conductive particle dispersion sheet 140 of the embodiment, the floating of the second electrocast portion 80 can be prevented more firmly.

10 導電性基板
20,60 レジスト
25 段差形成面
40 第1電鋳部分
80 第2電鋳部分
120 粒子
140 導電粒子分散シート
200 電鋳品
210 段差面
L UV光
W 幅方向
W1,W2 幅
t 厚さ方向
10 Conductive Substrate 20, 60 Resist 25 Step Forming Surface 40 First Electroplated Part 80 Second Electroplated Part 120 Particles 140 Conductive Particle Dispersion Sheet 200 Electroplated Product 210 Step Surface L UV Light W Width Direction W1, W2 Width t Thickness Direction

Claims (6)

導電性基板に近い第1電鋳部分と、前記第1電鋳部分から幅方向に突出した前記導電性基板から遠い第2電鋳部分とが一体に形成された電鋳品の製造方法であって、
前記導電性基板の上に、前記第1電鋳部分を形成する第1の型となる第1の型層を形成し、
次いで、前記第1の型層の上面に、導電性の粒子を分布して配置し、
次いで、前記第1の型層の上に、前記第2電鋳部分を形成する第2の型となる第2の型層を形成し、
次いで、前記第1の型層の上面のうち、前記第2電鋳部分が前記第1電鋳部分から前記幅方向に突出した段差面を形成する段差形成面に配置された前記導電性の粒子を露出させた状態で、電気めっきの工程により、前記第1の電鋳部分及び前記第2電鋳部分を一体に形成する電鋳品の製造方法。
It is a method for manufacturing an electroplated product in which a first electroplated portion close to a conductive substrate and a second electroplated portion far from the conductive substrate protruding in the width direction from the first electroplated portion are integrally formed. hand,
On the conductive substrate, a first mold layer to be a first mold for forming the first electrocast portion is formed.
Next, conductive particles are distributed and arranged on the upper surface of the first mold layer.
Next, on the first mold layer, a second mold layer to be a second mold for forming the second electrocast portion is formed.
Next, among the upper surfaces of the first mold layer, the conductive particles arranged on the step forming surface on which the second electroplated portion forms a stepped surface protruding from the first electroplated portion in the width direction. A method for manufacturing an electrocast product in which the first electrocast portion and the second electrocast portion are integrally formed by an electroplating step in a state where the first electroplated portion and the second electrocast portion are integrally formed.
耐熱性を有する可撓性の基板に導電性膜を形成し、
前記導電性膜が形成された前記基板を加熱して、前記導電性膜を、前記基板上で分布した導電性の粒子に粒子化し、
前記導電性の粒子が分布した基板上にレジストを塗布した後、加熱して、分布した多数の前記導電性の粒子を前記レジストによって一体化した導電粒子分散シートに形成し、
前記導電粒子分散シートのレジストの上面側を前記第1の型層の上面に貼り、
前記基板を剥がすことにより、前記第1の型層の上面に前記導電性の粒子を分布して配置する請求項1に記載の電鋳品の製造方法。
A conductive film is formed on a flexible substrate having heat resistance,
The substrate on which the conductive film is formed is heated to atomize the conductive film into conductive particles distributed on the substrate.
A resist is applied onto a substrate on which the conductive particles are distributed, and then heated to form a large number of the distributed conductive particles into a conductive particle dispersion sheet integrated with the resist.
The upper surface side of the resist of the conductive particle dispersion sheet is attached to the upper surface of the first mold layer.
The method for producing an electrocast product according to claim 1, wherein the conductive particles are distributed and arranged on the upper surface of the first mold layer by peeling off the substrate.
前記粒子は、前記レジストに埋まっている粒子部分の幅が、前記第2電鋳部分に結合される粒子部分の幅よりも広く形成されて、前記レジストに埋まっている粒子部分が抜け止めを形成している請求項2に記載の電鋳品の製造方法。 The width of the particle portion embedded in the resist is wider than the width of the particle portion bonded to the second electrocast portion, and the particle portion embedded in the resist forms a retaining material. The method for manufacturing an electrocast product according to claim 2. 前記第2の型層を形成するのに先立って、前記第1の型層の上面に前記導電性の粒子が分布して配置された状態で、前記第1の型層に、前記第1の電鋳部分に対応した空洞を形成する請求項1から3のうちいずれか1項に記載の電鋳品の製造方法。 Prior to forming the second mold layer, the conductive particles are distributed and arranged on the upper surface of the first mold layer, and the first mold layer is covered with the first mold layer. The method for manufacturing an electrocast product according to any one of claims 1 to 3, wherein a cavity corresponding to the electrocast portion is formed. 前記第1の型層の上面における前記導電性の粒子の分布した配置は、前記上面の面積に占める前記導電性の粒子の面積の比率で定義される充填率が、30〜90[%]となる配置である請求項1から4のうちいずれか1項に記載の電鋳品の製造方法。 In the arrangement of the conductive particles distributed on the upper surface of the first mold layer, the filling rate defined by the ratio of the area of the conductive particles to the area of the upper surface is 30 to 90 [%]. The method for manufacturing an electrocast product according to any one of claims 1 to 4, wherein the arrangement is as follows. 第1電鋳部分と、前記第1電鋳部分から幅方向に突出した第2電鋳部分とが一体に形成され、
前記第2電鋳部分が前記第1電鋳部分から前記幅方向に突出した段差面を有し、
前記段差面に、前記第2電鋳部分を電気めっきの工程で形成する際の電極となる導電性の粒子が、分布して配置されている電鋳品。
The first electrocast portion and the second electrocast portion protruding in the width direction from the first electrocast portion are integrally formed.
The second electrocast portion has a stepped surface protruding from the first electrocast portion in the width direction.
An electrocast product in which conductive particles that serve as electrodes when the second electroplating portion is formed in the electroplating step are distributed and arranged on the stepped surface.
JP2020039833A 2020-03-09 2020-03-09 Manufacturing method of electroformed product and electroformed product Active JP7490395B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020039833A JP7490395B2 (en) 2020-03-09 2020-03-09 Manufacturing method of electroformed product and electroformed product

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020039833A JP7490395B2 (en) 2020-03-09 2020-03-09 Manufacturing method of electroformed product and electroformed product

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2021139026A true JP2021139026A (en) 2021-09-16
JP7490395B2 JP7490395B2 (en) 2024-05-27

Family

ID=77667903

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2020039833A Active JP7490395B2 (en) 2020-03-09 2020-03-09 Manufacturing method of electroformed product and electroformed product

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP7490395B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116081568A (en) * 2023-01-06 2023-05-09 航科新世纪科技发展(深圳)有限公司 Metal filling method of wafer through hole structure

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11293486A (en) * 1998-04-16 1999-10-26 Canon Inc Manufacture of microstructure
JP2006169620A (en) * 2004-12-20 2006-06-29 Seiko Instruments Inc Electroforming die and its production method
JP2007070678A (en) * 2005-09-06 2007-03-22 Seiko Instruments Inc Electroforming die, method for producing electroforming die, and method for producing electroformed component

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11293486A (en) * 1998-04-16 1999-10-26 Canon Inc Manufacture of microstructure
JP2006169620A (en) * 2004-12-20 2006-06-29 Seiko Instruments Inc Electroforming die and its production method
JP2007070678A (en) * 2005-09-06 2007-03-22 Seiko Instruments Inc Electroforming die, method for producing electroforming die, and method for producing electroformed component

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116081568A (en) * 2023-01-06 2023-05-09 航科新世纪科技发展(深圳)有限公司 Metal filling method of wafer through hole structure

Also Published As

Publication number Publication date
JP7490395B2 (en) 2024-05-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI326912B (en) Electronic parts packaging structure and method of manufacturing the same
US8110918B2 (en) Flexible substrate for a semiconductor package, method of manufacturing the same, and semiconductor package including flexible substrate
JP4981712B2 (en) Wiring board manufacturing method and semiconductor package manufacturing method
US8234781B2 (en) Printed circuit board and method of fabricating the same
WO2000007419A1 (en) Production method for flexible substrate
US10553456B2 (en) Semiconductor package and manufacturing method of semiconductor package
JP2021139026A (en) Method for manufacturing electroformed article and electroformed article
JP2017199834A (en) Semiconductor package and method of manufacturing the same
US20170358462A1 (en) Manufacturing method of semiconductor package
US20090223700A1 (en) Thin flexible circuits
JP2006054307A (en) Manufacturing method of substrate
JP2005300930A (en) Method for manufacturing optical and electrical consolidated substrate
JP5372112B2 (en) Wiring board manufacturing method and semiconductor package manufacturing method
JPH06326108A (en) Bump electrode and its manufacture
US10783908B1 (en) Microstructure patterned surfaces for integrated lead disk drive head suspensions
JP2000216522A (en) Flexible board and manufacture thereof
JP2014017534A (en) Method for manufacturing wiring board
US8927880B2 (en) Printed circuit board and method for manufacturing the same
KR101272664B1 (en) Multilayer printed circuit board including metal pattern including a seed layer and a plating layer, and method for manufacturing the same
FR2857780A1 (en) Manufacture of an anisotropic conductor film incorporating traversing inserts for direct connection with semiconductor chips for sensors and Micro-Electronic Mechanical Systems
US20240155774A1 (en) Wiring transfer plate, wiring-equipped wiring transfer plate, wiring body intermediate material, and method for manufacturing wiring body
US20240153859A1 (en) Wiring body, mounting substrate, method for manufacturing wiring body, and method for manufacturing mounting substrate
EP4319496A1 (en) Wiring body, mounting substrate, wiring transfer plate with wiring, intermediate material for wiring body, manufacturing method for wiring body, and manufacturing method for mounting substrate
TW201142518A (en) Method for fabricating an interposer
JP3935480B2 (en) Flexible substrate manufacturing method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20221117

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230929

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20231003

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20231130

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20240305

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20240412

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20240422

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20240514

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20240515

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7490395

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150