JP2021104473A - 排ガス浄化用触媒 - Google Patents

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Abstract

【課題】本発明は、低温活性の向上した排ガス浄化用触媒を提供することを目的とする。【解決手段】本発明は、基材と、該基材上に形成された二層構造の触媒コート層を有する排ガス浄化用触媒であって、前記触媒コート層が、前記基材上に形成された下層と、前記下層上に形成された上層からなり、前記触媒コート層の上層が、透過型電子顕微鏡観察により測定された平均粒径が1.0nm以上2.0nm以下であり、且つ粒径の標準偏差σが0.8nm以下であるRh微粒子を含み、且つ排ガス流れ方向の下流側端面から基材全長の70%以上100%以下の長さの範囲に形成されている排ガス浄化用触媒に関する。【選択図】図4

Description

本発明は、排ガス浄化用触媒に関する。
自動車等の内燃機関から排出される排ガスには、一酸化炭素(CO)、炭化水素(HC)、窒素酸化物(NOx)等の有害成分が含まれており、これらの有害成分は排ガス浄化用触媒によって浄化されてから大気中に放出されている。従来、この排ガス浄化用触媒には、CO、HCの酸化とNOxの還元とを同時に行う三元触媒が用いられており、三元触媒としては、白金(Pt)、パラジウム(Pd)、ロジウム(Rh)等の貴金属を触媒金属として用いたものが広く用いられている。
近年、排ガス規制が厳しくなる一方で、資源リスクの観点から排ガス浄化用触媒に用いられる貴金属量は低減させることが求められている。貴金属の中でもRhはNOx還元活性を担っており、Rhを高活性化することにより、排ガス規制に対応しつつ、貴金属量を低減することが期待できる。
排ガス浄化用触媒において、貴金属の使用量を低減させる一つの方法として、貴金属を担体上に微細な粒子として担持して利用する方法が知られている。例えば、特許文献1には、酸化物担体に貴金属粒子を担持させて貴金属担持触媒とする工程と、還元雰囲気中で貴金属担持触媒を加熱処理して、貴金属の粒径を所定の範囲に制御する工程とを含む触媒の製造方法が開示されている。特許文献1の実施例には、酸化物担体上の貴金属粒子の粒径を2.8nm以上3.8nm以下の範囲に制御することができたことが記載されている。
また、特許文献2には、酸化物担体に貴金属微粒子を担持させた触媒に対して、還元剤を作用させて小粒径の貴金属微粒子を肥大化させ、該貴金属微粒子の最小粒径を1nm以上にする工程を有する、触媒の製造方法が開示されている。特許文献2の実施例には、酸化物担体上の貴金属微粒子の粒径を3.0nm以上4.1nm以下に制御できたことが記載されている。
しかし、粒径を制御したRh微粒子を用いた従来の触媒には、Rh微粒子が触媒反応中に凝集して劣化してしまい、触媒の耐久性が十分でない場合があった。このため、従来の排ガス浄化用触媒では、触媒の構造によっては低温活性が低下してしまう場合があった。
特開2016−147256号公報 特開2007−38085号公報
前記の通り、粒径を制御したRh微粒子を用いた従来の排ガス浄化用触媒には、低温活性の向上が求められていた。それ故、本発明は、低温活性の向上した排ガス浄化用触媒を提供することを目的とする。
本発明者らは、前記課題を解決するための手段を種々検討した結果、平均粒径及び粒径の標準偏差σを特定の範囲に制御したRh微粒子を触媒コート層の上層に用いることにより、排ガス浄化用触媒の低温活性を向上させることができることを見出し、本発明を完成した。
すなわち、本発明の要旨は以下の通りである。
(1)基材と、該基材上に形成された二層構造の触媒コート層を有する排ガス浄化用触媒であって、
前記触媒コート層が、前記基材上に形成された下層と、前記下層上に形成された上層からなり、
前記触媒コート層の上層が、透過型電子顕微鏡観察により測定された平均粒径が1.0nm以上2.0nm以下であり、且つ粒径の標準偏差σが0.8nm以下であるRh微粒子を含み、且つ排ガス流れ方向の下流側端面から基材全長の70%以上100%以下の長さの範囲に形成されている、排ガス浄化用触媒。
(2)前記触媒コート層の下層が、排ガス流れ方向の上流側端面から基材全長の40%以上100%以下の長さの範囲に形成されている、前記(1)に記載の排ガス浄化用触媒。
(3)前記触媒コート層の下層が触媒金属としてPtを含む、前記(1)又は(2)に記載の排ガス浄化用触媒。
本発明により、低温活性が向上した排ガス浄化用触媒を提供することが可能となる。
図1は、本発明の排ガス浄化用触媒の第1の実施形態を示す断面模式図である。 図2は、本発明の排ガス浄化用触媒の第2の実施形態を示す断面模式図である。 図3は、実施例1〜3及び比較例1〜3の触媒について、低温(250℃)及び高温(550℃)におけるNOx浄化率を示すグラフである。 図4は、実施例3及び比較例3〜5の触媒の低温(250℃)におけるNOx浄化率を示すグラフである。
以下、本発明の好ましい実施形態について詳細に説明する。
本発明の排ガス浄化用触媒は、基材と、該基材上に形成された触媒コート層を有する。触媒コート層は、基材上に形成された下層と、該下層上に形成された上層からなる二層構造を有する。本発明の排ガス浄化用触媒においては、触媒コート層の上層が、平均粒径及び粒径の標準偏差σが特定の範囲内に制御されたロジウム(Rh)微粒子(以下、粒径制御Rh微粒子、またRh微粒子とも記載する)を含むことを特徴とする。
本発明の排ガス浄化用触媒において、上層は、排ガス流れ方向の下流側端面から基材全長の70%以上100%以下の長さの範囲に形成されている。上層が粒径制御Rh微粒子を含み、且つこの範囲に形成されていることによって、触媒の耐久性が向上し、触媒の低温(例えば250℃)における活性が高くなる。一方、下層は、排ガス流れ方向の上流側端面から所定の範囲に形成されている。なお、上層及び下層において、触媒がコートされている範囲(以下、コート幅とも記載する)の上限は、基材全長の100%の長さである。
図1に、本発明の排ガス浄化用触媒の第1の実施形態を示す。図1に示されるように、排ガス浄化用触媒10は、基材11と、基材11上に形成された二層構造の触媒コート層14を有する。触媒コート層14は、上層12と下層13からなる。第1の実施形態において、上層12及び下層13は、基材全長の100%の長さにわたって形成されている。図1において、矢印は排ガス流れ方向を示す。この実施形態の変形として、上層12が、排ガス流れ方向の下流側端面から基材全長の70%以上100%未満の長さの範囲に形成されていてもよい。
図2に、本発明の排ガス浄化用触媒の第2の実施形態を示す。図2に示されるように、排ガス浄化用触媒20において、触媒コート層24は、上層22と下層23からなる。第2の実施形態において、上層22は、排ガス流れ方向の下流側端面から基材全長の70%以上100%未満の長さの範囲に形成されている。また、下層13は、排ガス流れ方向の上流側端面から基材全長の100%未満の長さの範囲に形成されている。図2において、矢印は排ガス流れ方向を示す。この実施形態の変形として、上層12が、排ガス流れ方向の下流側端面から基材全長の100%の長さにわたって形成されていてもよい。
本発明の排ガス浄化用触媒においては、前記の第1及び第2の実施形態並びにこれらの変形の実施形態のいずれの場合においても、上層が粒径制御Rh微粒子を含むことにより、触媒の耐久性が向上し、触媒の低温活性が向上する。
本発明の排ガス浄化用触媒において、触媒コート層の上層は、下流側端面から基材全長の70%以上100%以下、好ましくは80%以上100%以下の範囲に形成されている。本発明においては、上層が粒径制御Rh微粒子を含むことにより、触媒の耐久性が向上し、触媒の低温活性が向上するが、この効果は、上層のコート幅が、下流側端面から基材全長の70%以上であると顕著に発現する。また、触媒コート層の上層のコート幅は、下流側端面から基材全長の70%以上90%以下、さらには80%以上90%以下の長さの範囲であってもよい。
触媒コート層の下層は、上流側端面から基材全長の100%以下の長さの範囲に形成されていればよい。ここで、平均粒径及び粒径の標準偏差σが本発明の特定の範囲外であるRh微粒子を上層に用いた場合、下層のコート幅が長くなると、低温(例えば250℃)における触媒活性が低くなる場合がある。しかし、本発明の粒径制御Rh微粒子を上層に用いることにより、下層のコート幅が長くなっても触媒の低温活性を高く維持することができる。また、触媒コート層の下層のコート幅が長くなると、高温(例えば550℃)における触媒活性が高くなる傾向がある。これらのことから、触媒コート層の下層のコート幅は、上流側端面から基材全長の好ましくは40%以上100%以下、より好ましくは60%以上100%以下、特に好ましくは60%以上80%以下の長さの範囲である。下層のコート幅が基材全長の40%以上100%以下の長さの範囲であることにより、触媒の低温活性及び高温活性を両立することができる。
好ましい実施形態において、触媒コート層の上層のコート幅は、下流側端面から基材全長の80%以上100%以下の長さの範囲であり、触媒コート層の下層のコート幅は、上流側端面から基材全長の40%以上100%以下の長さの範囲である。より好ましい実施形態において、触媒コート層の上層のコート幅は、下流側端面から基材全長の80%以上100%以下の長さの範囲であり、触媒コート層の下層のコート幅は、上流側端面から基材全長の60%以上80%以下の長さの範囲である。
触媒コート層において、下層の上に上層が重なっている部分の幅は、基材全長の好ましくは20%以上100%以下、好ましくは20%以上60%以下、より好ましくは40%以上60%以下の長さの範囲である。
本発明の排ガス浄化用触媒に用いる基材としては、特に限定されずに、一般的に用いられている多数のセルを有するハニカム形状の材料を使用することができる。基材の材質としては、コージェライト(2MgO・2Al・5SiO)、アルミナ、ジルコニア、炭化ケイ素等の耐熱性を有するセラミックス材料や、ステンレス鋼等の金属箔からなるメタル材料が挙げられるが、コストの観点からコージェライトが好ましい。
触媒コート層の上層は、平均粒径及び粒径の標準偏差σが特定の範囲内に制御されたRh微粒子を含む。この粒径制御Rh微粒子は、平均粒径が比較的小さいため、有意に大きな比表面積を示し、高い触媒活性を有する。また、この粒径制御Rh微粒子は、粒径分布が狭く、粗大粒子及び微細粒子の割合が少ないため、高い耐久性及び高い触媒活性を有する。この粒径制御Rh微粒子を触媒コート層の上層に用いることにより、触媒の耐久性が向上し、触媒の低温活性が向上する。
Rh微粒子は、平均粒径が1.0nm以上2.0nm以下である。本発明において、Rh微粒子の平均粒径は、透過型電子顕微鏡(TEM)による観察において撮影した画像を元に、直接に投影面積円相当径を計測し、集合数100以上の粒子群を解析することによって得られた個数平均粒子径である。
Rh微粒子の平均粒径を1.0nm以上とすることにより、触媒反応中に凝集して粗大化する要因となると考えられる粒径1.0nm未満の微細粒子の割合を低減することができるため、Rh微粒子の劣化を抑制し、触媒の耐久性を向上させることができる。一方、Rh微粒子の平均粒径を2.0nm以下とすることにより、Rh微粒子の表面積を大きくすることができ、触媒活性を高くすることができる。Rh微粒子の平均粒径は、好ましくは1.1nm以上、より好ましくは1.2nm以上である。また、Rh微粒子の平均粒径は、好ましくは1.9nm以下であり、より好ましくは1.8nm以下であり、特に好ましくは1.6nm以下である。Rh微粒子の平均粒径は、好ましくは1.1nm以上1.9nm以下であり、より好ましくは1.2nm以上1.8nm以下である。
Rh微粒子は、透過型電子顕微鏡観察により測定された粒径の標準偏差σが、0.8nm以下である。Rh微粒子は、粒径の標準偏差σが0.8nm以下であるため、粒径分布がシャープであり、微細粒子及び粗大粒子の含有割合が低い。微細粒子が少ないことにより、触媒反応中のRh微粒子の凝集が抑制されるため、Rhの劣化が抑制され、触媒の耐久性が向上する。また、粗大粒子が少ないことにより、Rh微粒子の表面積が大きくなり、触媒活性が向上する。
Rh微粒子の粒径の標準偏差σは、好ましくは0.7nm以下であり、より好ましくは0.6nm以下であり、特に好ましくは0.5nm以下である。Rh微粒子の粒径は単分散であってもよいが、標準偏差σが0.2nm以上、0.3nm以上又は0.4nm以上であっても、本発明の効果を奏することができる。
Rh微粒子は、特に粒径1.0nm未満の微細粒子の割合が低減されている。粒径1.0nm末満の微細粒子の割合が少ないことにより、触媒反応中のRh微粒子の凝集が抑制されるため、Rhの劣化が抑制され、触媒の耐久性が向上する。Rh微粒子は、粒径1.0nm未満のRh微粒子の存在割合が、Rh微粒子の全重量に対して、好ましくは5重量%以下である。この値は、4重量%以下、3重量%以下、2重量%以下、1重量%以下、0.5重量%以下、0.3重量%以下又は0.1重量%以下であってよく、これを全く含まなくてもよい。
好ましい実施形態において、Rh微粒子は、透過型電子顕微鏡によって測定したときに、平均粒径が1.2nm以上1.8nm以下であり、且つ粒径1.0nm未満のRh微粒子の存在割合が、Rh微粒子の全重量に対して5.0重量%以下である。
Rh微粒子は、好ましくは、担体粒子上に担持されている。担体粒子としては、特に限定されずに、例えば、酸化物担体粒子を用いることができる。担持方法は、含浸担持法、吸着担持法及び吸水担持法等の一般的な担持法を利用することができる。
酸化物担体粒子としては、例えば、金属の酸化物の粒子を用いることができる。この金属酸化物に含まれる金属としては、例えば、周期律表の3族、4族及び13族から選択される金属やランタノイド系の金属の1種以上が挙げられる。酸化物担体粒子が2種以上の金属の酸化物から構成されるとき、2種以上の金属酸化物の混合物、2種以上の金属を含む複合酸化物、又は1種以上の金属酸化物と、1種以上の複合酸化物との混合物のいずれであってもよい。
金属酸化物は、例えば、スカンジウム(Sc)、イットリウム(Y)、ランタン(La)、セリウム(Ce)、ネオジム(Nd)、サマリウム(Sm)、ユウロピウム(Eu)、ルテチウム(Lu)、チタン(Ti)、ジルコニウム(Zr)及びアルミニウム(Al)から選択される1種以上の金属の酸化物であってよく、好ましくはY、La、Ce、Ti、Zr及びAlから選択される1種以上の金属の酸化物である。金属酸化物としては、イットリア(Y)、ランタナ(La)及びジルコニア(ZrO)の複合酸化物を用いることが好ましい。
担体粒子の粒径は、目的に応じて、当業者によって適宜に設定されてよい。
Rh微粒子を担体粒子上に担持して用いる場合、Rh微粒子の担持量は、担体粒子の重量を基準として、例えば5重量%以下、3重量%以下、1重量%以下、0.7重量%以下、0.5重量%以下、0.3重量%以下、又は0.2重量%以下である。また、Rh微粒子の担持量は、担体粒子の重量を基準として、例えば0.01重量%以上、0.02重量%以上、0.05重量%以上、0.07重量%以上、0.1重量%以上、0.2重量%以上、0.5重量%以上、1重量%以上である。
Rh微粒子を担体粒子上に担持して用いる場合、このRh担持触媒粒子は、担体粒子を、予め所定の粒径分布に制御されたRh微粒子前駆体を含有するRh微粒子前駆体分散液と接触させ、次いで焼成することによって製造することができる。
Rh微粒子前駆体分散液は、例えば、以下のいずれかの方法によって製造することができる。
(1)反応場のクリアランスが所定の範囲に設定された反応器中で、Rh化合物の酸性溶液と、塩基性溶液とを反応させる方法(方法1)、及び
(2)Rh化合物の酸性溶液と、塩基性溶液とを混合して反応させた後、高速ミキサー中で撹拌処理する方法(方法2)。
方法1では、Rh化合物(例えば、Rhの無機酸塩)の酸性溶液と、塩基性溶液(例えば、含窒素有機化合物の水溶液)とを反応させる際に、反応場のクリアランスが所定の範囲に設定された反応器を用いることにより、得られる分散液中に含まれるRh微粒子前駆体(例えばRhの水酸化物)の粒径及び粒径分布を制御することができる。
反応器が有するクリアランス調節部材は、例えば、2枚の平板、平板と波状板との組み合わせ、細管等であってよい。反応場のクリアランスは、所望の粒径及び粒径分布に応じて適宜設定することができる。反応場のクリアランスが所定の範囲に設定された反応器としては、例えば、適当なクリアランス調節部材を有するマイクロリアクター等を用いることができる。
方法2では、Rh化合物(例えば、Rhの無機酸塩)の酸性溶液と、塩基性溶液(例えば、含窒素有機化合物の水溶液)との反応によって、大粒径の粒子として生成したRh微粒子前駆体を高速ミキサー中で撹拌処理して、強い剪断力を与えて分散することにより、分散後のRh微粒子前駆体の平均粒径及び粒径分布を制御することができる。
以上のようにして調製したRh微粒子前駆体分散液を担体粒子と接触させ、次いで焼成することによって、Rh担持触媒粒子を得ることができる。
触媒コート層の上層におけるRh微粒子の含有量は、基材容量に対して、好ましくは0.01g/L以上0.7g/L以下であり、より好ましくは0.1g/L以上0.5g/L以下である。上層におけるRh微粒子の含有量が0.01g/L以上0.7g/L以下であると、触媒の耐久性の向上及びRhの使用量の低減を両立することができる。
Rh微粒子を担体粒子上に担持してRh担持触媒粒子として用いる場合、触媒コート層の上層におけるRh担持触媒粒子の含有量は、基材容量に対して、好ましくは10g/L以上80g/L以下であり、より好ましくは20g/L以上60g/L以下である。
触媒コート層の上層は、好ましくは酸素吸蔵能を有するOSC材を含む。OSC材は酸素吸蔵能を有する無機材料であり、リーン排ガスが供給された際に酸素を吸蔵し、リッチ排ガスが供給された際に吸蔵した酸素を放出する。OSC材としては、特に限定されずに、例えば、酸化セリウム(セリア:CeO)や該セリアを含む複合酸化物(例えば、セリア−ジルコニア(ZrO)複合酸化物(CZ又はZC複合酸化物))等が挙げられる。前記のOSC材の中でも、高い酸素吸蔵能を有しており、且つ比較的安価であるため、セリア−ジルコニア複合酸化物を用いることが好ましい。セリア−ジルコニア複合酸化物は、ランタナ(La)及びイットリア(Y)等との複合酸化物の形態で用いてもよい。セリア−ジルコニア複合酸化物におけるセリアとジルコニアとの混合割合は、CeO/ZrO=0.1以上1.0以下であると好ましい。
触媒コート層の上層がOSC材を含む場合、その含有量は、基材容量に対して、好ましくは1g/L以上75g/L以下であり、より好ましくは5g/L以上50g/L以下である。上層におけるOSC材の含有量が基材容量に対して1g/L以上75g/L以下であると、効果的に触媒の耐久性を向上させることができる。
触媒コート層の上層は、前記の粒径制御Rh微粒子及びOSC材の他に、任意の他の成分を含んでいてもよい。他の成分としては、特に限定されずに、例えば、金属酸化物等が挙げられる。触媒コート層の上層が他の成分を含む場合、その含有量は、基材容量に対して、好ましくは100g/L以下であり、より好ましくは50g/L以下である。
金属酸化物は、特に限定されずに、例えば、スカンジウム(Sc)、イットリウム(Y)、ランタン(La)、セリウム(Ce)、ネオジム(Nd)、サマリウム(Sm)、ユウロピウム(Eu)、ルテチウム(Lu)、チタン(Ti)、ジルコニウム(Zr)及びアルミニウム(Al)から選択される1種以上の金属の酸化物であってよい。金属酸化物としては、アルミナ(Al)又はAl及びランタナ(La)の複合酸化物を用いることが好ましい。
触媒コート層の下層は、好ましくは、Rh以外の白金族貴金属を触媒金属として含む。白金族貴金属としては、ルテニウム(Ru)、パラジウム(Pd)、オスミウム(Os)、イリジウム(Ir)及び白金(Pt)が挙げられ、Ptを用いることが好ましい。触媒コート層の上層に粒径制御Rh微粒子を用いることにより、下層の白金族貴金属等の触媒金属の共存下での触媒の耐久性を向上させることができる。
触媒コート層の下層において、触媒金属は、担体粒子上に担持して用いてもよい。担体粒子としては、特に限定されずに、例えば、酸化物担体粒子を用いることができる。担持方法は、含浸担持法、吸着担持法及び吸水担持法等の一般的な担持法を利用することができる。
酸化物担体粒子としては、例えば、金属の酸化物の粒子を用いることができる。この金属酸化物に含まれる金属としては、例えば、周期律表の3族、4族及び13族から選択される金属やランタノイド系の金属の1種以上が挙げられる。酸化物担体粒子が2種以上の金属の酸化物から構成されるとき、2種以上の金属酸化物の混合物、2種以上の金属を含む複合酸化物、又は1種以上の金属酸化物と、1種以上の複合酸化物との混合物のいずれであってもよい。
金属酸化物は、例えば、スカンジウム(Sc)、イットリウム(Y)、ランタン(La)、セリウム(Ce)、ネオジム(Nd)、サマリウム(Sm)、ユウロピウム(Eu)、ルテチウム(Lu)、チタン(Ti)、ジルコニウム(Zr)及びアルミニウム(Al)から選択される1種以上の金属の酸化物であってよく、好ましくはY、La、Ce、Ti、Zr及びAlから選択される1種以上の金属の酸化物である。金属酸化物としては、アルミナ(Al)又はAl及びランタナ(La)の複合酸化物を用いることが好ましい。
触媒コート層の下層における触媒金属の含有量は、基材容量に対して、好ましくは0.01g/L以上1g/L以下であり、より好ましくは0.1g/L以上0.9g/L以下である。下層における触媒金属の含有量が0.01g/L以上1g/L以下であると、十分に高い排ガス浄化能が確保される。
触媒金属を担体粒子上に担持して担持触媒粒子として用いる場合、下層における担持触媒粒子の含有量は、基材容量に対して、好ましくは1g/L以上100g/L以下であり、より好ましくは10g/L以上50g/L以下である。
触媒コート層の下層は、前記の触媒金属の他に、任意の他の成分を含んでいてもよい。他の成分としては、特に限定されずに、例えばOSC材等が挙げられる。触媒コート層の下層が他の成分を含む場合、その含有量は、基材容量に対して、好ましくは100g/L以下、より好ましくは80g/L以下、特に好ましくは60g/L以下である。
OSC材としては、特に限定されずに、例えば、酸化セリウム(セリア:CeO)や該セリアを含む複合酸化物(例えば、セリア−ジルコニア(ZrO)複合酸化物(CZ又はZC複合酸化物))等が挙げられる。前記のOSC材の中でも、高い酸素吸蔵能を有しており、且つ比較的安価であるため、セリア−ジルコニア複合酸化物を用いることが好ましい。セリア−ジルコニア複合酸化物は、ランタナ(La)及びイットリア(Y)等との複合酸化物の形態で用いてもよい。セリア−ジルコニア複合酸化物におけるセリアとジルコニアとの混合割合は、CeO/ZrO=0.1以上1.0以下であると好ましい。
本発明の排ガス浄化用触媒は、当業者に公知の方法によって基材上に触媒コート層の成分を含むスラリーをコートすることにより、製造することができる。一実施形態において、例えば、Pt等の触媒金属とOSC材を含むスラリーを公知の方法を用いて基材の上流側端面から所定の範囲にわたりコートし、所定の温度及び時間にて乾燥及び焼成することにより、基材上に下層を形成する。次いで、粒径制御Rh微粒子、OSC材及び金属酸化物を含むスラリーを公知の方法を用いて下流側端面から所定の範囲にわたりコートして、所定の温度及び時間にて乾燥及び焼成することにより、上層を形成する。
以下、実施例を用いて本発明をさらに具体的に説明する。但し、本発明の技術的範囲はこれら実施例に限定されるものではない。
<触媒の調製>
使用原料
材料1:Al:4重量%−La複合化Al
材料2:ZY:84重量%−ZrO、6重量%−La、10重量%−Y複合酸化物
材料3:Pt/Al:Ptが材料1に担持された材料
材料4:粒径制御Rh分散液
材料5:Rh/ZY:Rhが材料2に担持された材料
材料6:粒径制御Rh/ZY:材料4のRhが材料2に担持された材料
材料7:ビーカー法Rh分散液
材料8:ビーカー法Rh/ZY:材料7のRhが材料2に担持された材料
材料9:ZC(OSC材):20重量%−CeO、70重量%−ZrO、5重量%−La、5重量%−Y複合酸化物
基材:875cc(400セル四角 壁厚4mil)のコージェライトハニカム基材
材料3〜材料8は以下のようにして調製した。
材料3:Pt/Al
硝酸Pt溶液と材料1とを接触させた後、焼成することにより、担持量2.85重量%のPtが材料1に担持された材料3を得た。
材料4:粒径制御Rh分散液
イオン交換水50mL中に硝酸Rh(III)0.2gを加えて溶解し、Rh化合物の酸性溶液(pH1.0)を調製した。
有機塩基溶液として、水酸化テトラエチルアンモニウム水溶液(濃度175g/L、pH14)を準備した。
クリアランス調節部材としての2枚の平板を有する反応器(マイクロリアクター)を用い、クリアランスが10μmに設定された反応場に、前記のRh化合物の酸性溶液及び有機塩基溶液を導入する手法により、両液を水酸化テトラエチルアンモニウム(TEAH)と硝酸Rh(RN)とのモル比(TEAH/RN)が18となる条件で反応させて、Rh微粒子前駆体分散液を調製した。得られたRh微粒子前駆体分散液のpHは14であった。また、得られたRh微粒子前駆体分散液に含まれるRh微粒子前駆体のメジアン径(D50)を動的光散乱法(DLS)によって測定したところ、2.0nmであった。
材料5:Rh/ZY
硝酸Rh溶液と材料2とを接触させた後、焼成することにより、担持量0.75重量%のRhが材料2に担持された材料を得た。透過型電子顕微鏡によって測定したRh微粒子の平均粒径は0.70nmであった。
材料6:粒径制御Rh/ZY
材料4と材料2とを接触させた後、焼成することにより、担持量0.75重量%のRhが材料2に担持された材料6を得た。透過型電子顕微鏡によって測定したRh微粒子の平均粒径は1.40nmであり、粒径の標準偏差σは0.48nmであった。この粒径制御Rhの粒径分布において、1.0nm未満の微細粒子の割合は、材料8のビーカー法Rhと比較して少なかった。
材料7:ビーカー法Rh分散液
クリアランス調節部材を有する反応器を用いずに、Rh化合物の酸性溶液と有機塩基溶液との反応をビーカー中で行った以外は材料4の調製と同様にして、材料7を調製した。
材料8:ビーカー法Rh/ZY
材料6の調製と同様にして、材料7のRhが材料2に担持された材料8を調製した。透過型電子顕微鏡によって測定したRh微粒子の平均粒径は1.42nmであり、粒径の標準偏差σは0.94nmであった。
実施例1
蒸留水に材料3、材料9及びAl系バインダーを攪拌しながら投入し、これらの材料が懸濁したスラリー1を調製した。次に、調製したスラリー1を上流側端面から基材へ流し込み、ブロアーで不要分を吹き払い、基材壁面に材料をコーティングした。コート幅は上流側端面から基材全長の40%に調整した。また、コート量は、基材容量に対して材料3が30g/L、材料9が40g/Lとなるようにした。最後に、120℃の乾燥機で2時間乾燥した後、電気炉で500℃にて2時間焼成し、触媒コート層の下層を調製した。
同様に、蒸留水に材料6、材料1、材料9及びAl系バインダーを攪拌しながら投入し、これらの材料が懸濁したスラリー2を調製した。次に、調製したスラリー2を下流側端面から基材へ流し込み、ブロアーで不要分を吹き払い、基材壁面に材料をコーティングした。コート幅は下流側端面から基材全長の80%に調整した。また、コート量は、基材容量に対して材料6が50g/L、材料1が25g/L、材料9が15g/Lになるようにした。最後に、120℃の乾燥機で2時間乾燥した後、電気炉で500℃にて2時間焼成し、触媒コート層の上層を調製した。
実施例2及び3
下層のコート幅をそれぞれ基材全長の60%及び80%に変更した以外は実施例1と同様にして、実施例2及び3の触媒を調製した。
比較例1
材料6を材料5に置き換えた以外は実施例1と同様にして、比較例1の触媒を調製した。
比較例2及び3
下層のコート幅をそれぞれ基材全長の60%及び80%に変更した以外は比較例1と同様にして、比較例2及び3の触媒を調製した。
比較例4
材料6を材料8に置き換えた以外は実施例3と同様にして、比較例4の触媒を調製した。
比較例5
上層のコート幅を基材全長の60%に変更した以外は実施例3と同様にして、比較例5の触媒を調製した。
表1に、実施例1〜3及び比較例1〜5の触媒の上層及び下層の組成並びにコート幅を示す。
Figure 2021104473
<耐久試験>
調製した各触媒について、実際のエンジンを用いて耐久試験を実施した。具体的には、耐久試験は、各触媒をV型8気筒エンジンの排気系にそれぞれ装着し、触媒床温900℃で46時間にわたり、ストイキ及びリーンの各雰囲気の排ガスを一定時間(3:1の比率)ずつ繰り返して流すことにより行った。
<性能評価>
低温活性評価
触媒床温250℃で空燃比(A/F)14.1、15.1の排ガスを交互に3分間供給し、Ga=20g/sでのNOx浄化率を評価した。A/Fの切り替えタイミングはセンサ判定値より決定し、おおよそ1.2〜1.6秒であった。切り替え3回目のリッチ(A/F=14.1)で2分経過時から60秒間のNOx浄化率を平均し、NOx浄化率を算出した。
高温活性評価
触媒床温550℃で空燃比(A/F)14.1、15.1の排ガスを交互に3分間供給し、Ga=35g/sでのNOx浄化率を評価した。A/Fの切り替えタイミングはセンサ判定値より決定し、おおよそ1.2〜1.6秒であった。切り替え3回目のリッチ(A/F=14.1)2分経過時から60秒間のNOx浄化率を平均し、NOx浄化率を算出した。
表2に実施例1〜3及び比較例1〜5の触媒の上層及び下層のコート幅並びにRh微粒子の詳細を示す。また、図3に、実施例1〜3及び比較例1〜3の触媒について、低温(250℃)及び高温(550℃)におけるNOx浄化率を示す。
Figure 2021104473
図3に示されるように、平均粒径及び粒径の標準偏差σが本発明の特定の範囲内に制御されている粒径制御Rh微粒子を上層に含む実施例1〜3の触媒は、Rh微粒子の平均粒径が本発明の所定の範囲外である比較例1〜3の触媒と比較して、低温におけるNOx浄化率が有意に高くなった。特に、実施例1〜3の触媒は比較例1〜3の触媒と比較して、下層のコート幅が同じ場合、高温におけるNOx浄化率はほぼ同等であるが、低温におけるNOx浄化率が有意に高くなっていた。また、比較例1〜3の触媒は、下層のコート幅が増加するにつれて、低温におけるNOx浄化率が低下する傾向があったが、粒径制御Rh微粒子を用いた実施例1〜3の触媒では、下層のコート幅が増加しても低温におけるNOx浄化率はほぼ一定であった。よって、粒径制御Rh微粒子を用いた本発明の触媒において、低温活性向上効果は、下層のコート幅が増加するにつれて大きくなっていた。
図4に、実施例3及び比較例3〜5の触媒の低温(250℃)におけるNOx浄化率を示す。実施例3と比較例3及び4の触媒とは、上層に用いたRh微粒子の種類が異なり、実施例3と比較例5の触媒とは、上層の触媒コート層のコート幅が異なる。図4に示されるように、実施例3と比較例3、4の比較により、上層に含まれるRh微粒子の平均粒径及び粒径の標準偏差σを本発明の特定の範囲内に制御することにより、低温におけるNOx浄化率が有意に高くなることが示された。特に、実施例3と比較例4の比較により、Rh微粒子の平均粒径だけでなく、粒径の標準偏差σも制御することにより、低温におけるNOx浄化率が向上することが示された。これは、Rh微粒子の粒径の標準偏差σが小さく、粒径がより均一化されているためであると考えられる。また、実施例3と比較例5の比較により、粒径制御Rh微粒子を用いた上層のコート幅には、低温におけるNOx浄化率を向上させるために適した範囲があり、その範囲は、基材全長の70%以上100%以下であることが示された。
10 排ガス浄化用触媒
11 基材
12 上層
13 下層
14 触媒コート層
20 排ガス浄化用触媒
21 基材
22 上層
23 下層
24 触媒コート層

Claims (3)

  1. 基材と、該基材上に形成された二層構造の触媒コート層を有する排ガス浄化用触媒であって、
    前記触媒コート層が、前記基材上に形成された下層と、前記下層上に形成された上層からなり、
    前記触媒コート層の上層が、透過型電子顕微鏡観察により測定された平均粒径が1.0nm以上2.0nm以下であり、且つ粒径の標準偏差σが0.8nm以下であるRh微粒子を含み、且つ排ガス流れ方向の下流側端面から基材全長の70%以上100%以下の長さの範囲に形成されている、排ガス浄化用触媒。
  2. 前記触媒コート層の下層が、排ガス流れ方向の上流側端面から基材全長の40%以上100%以下の長さの範囲に形成されている、請求項1に記載の排ガス浄化用触媒。
  3. 前記触媒コート層の下層が触媒金属としてPtを含む、請求項1又は2に記載の排ガス浄化用触媒。
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