JP2021076526A5 - - Google Patents

Claims (5)

1. 計測対象と対向する状態で超音波探傷により前記計測対象の状態を計測するプローブと、
   前記プローブに設けられ、前記プローブの存在を示す情報を光学的に読み取り可能な状態で記録した第１マーカと、
   前記計測対象において材質及び厚さを示す仕様が連続して同一となる領域に各々設けられ、設けられた領域の範囲を示すと共に該設けられた領域の仕様の情報を光学的に読み取り可能な状態で記録した第２マーカと、
   前記計測対象を撮像する撮像部と、
   前記撮像部が取得した画像データから各々検出した前記第１マーカと前記第２マーカとの位置関係に基づいて選択した１つの前記第２マーカが示す領域の仕様の情報に基づいて前記プローブによる超音波探傷の条件を設定する制御部と、
   を含む超音波探傷システム。
2. 前記撮像部は１台以上であることを特徴とする請求項１記載の超音波探傷システム。
3. 前記第１マーカは、さらにプローブの仕様に関する情報が記録されていることを特徴とする請求項１乃至２のいずれか１項に記載の超音波探傷システム。
4. 前記撮像部は、前記プローブに設けられていることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の超音波探傷システム。
5. さらに、基準マーカとしての第３マーカを有し、該第３マーカと第１マーカとの位置関係の変化から、前記プローブの進行方向を推定することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の超音波探傷システム。