JP2021072351A - Superconducting circuit device, spacer, and manufacturing method of superconducting circuit device - Google Patents

Superconducting circuit device, spacer, and manufacturing method of superconducting circuit device Download PDF

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Abstract

To provide a superconducting circuit device in which a distance between a quantum circuit chip and a substrate can be adjusted with extremely high accuracy.SOLUTION: A superconducting circuit device 1 has a quantum circuit chip 20, a substrate 40, and a spacer 50. In the quantum circuit chip 20, a quantum circuit 22 using a superconducting material and an electrode 24 (first electrode) are formed. An electrode 44 (second electrode) is formed on the substrate 40. The electrode 24 and the electrode 44 are connected by a bump 10. The spacer 50 is made of titanium or a titanium alloy. The spacer 50 is arranged at a predetermined position between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、超伝導回路装置、スペーサ、及び超伝導回路装置の製造方法に関する。 The present invention relates to a superconducting circuit device, a spacer, and a method for manufacturing the superconducting circuit device.

超伝導素子を用いた量子計算機は、超伝導素子を構成している超伝導材料、例えばニオブ(Nb)やアルミニウム(Al)など、が超伝導状態になるような極低温に冷却されて動作する。超伝導量子計算機を動作させる温度は低いほど好ましい。これは、温度が低いほどノイズの影響を低減できるため、量子計算機の性能が向上するからである。具体的には、超伝導量子計算機は100mK(ミリケルビン;絶対温度)以下の温度で動作させることが好ましく、100mK以下であれば温度は低いほど好ましい。例えば、超伝導量子計算機は、10mK程度の極低温に冷却して動作させる。超伝導素子を用いた量子計算機では、超伝導量子ビット(超伝導量子回路)を集積した量子回路チップが、フリップチップ接続により基板に接続されることが多い。ここで、特許文献1は、フリップチップ実装方法を開示している。特許文献1において、ICチップには、電極パッドに設けられた電気接続部材と高さ規制部材とが設けられている。そして、ICチップに設けられた電気接続部材を基板上の電極パッド上に位置決め搭載し、ICチップに設けられた高さ規制部材でICチップの高さ制御を行う。 A quantum computer using a superconducting element operates by being cooled to an extremely low temperature so that the superconducting materials constituting the superconducting element, such as niobium (Nb) and aluminum (Al), are in a superconducting state. .. The lower the temperature at which the superconducting quantum computer is operated, the more preferable it is. This is because the lower the temperature, the less the influence of noise, and the better the performance of the quantum computer. Specifically, the superconducting quantum computer is preferably operated at a temperature of 100 mK (millikelvin; absolute temperature) or less, and if it is 100 mK or less, the lower the temperature, the more preferable. For example, a superconducting quantum computer is operated by cooling it to an extremely low temperature of about 10 mK. In a quantum computer using a superconducting element, a quantum circuit chip in which superconducting qubits (superconducting qubits) are integrated is often connected to a substrate by flip-chip connection. Here, Patent Document 1 discloses a flip chip mounting method. In Patent Document 1, the IC chip is provided with an electrical connection member and a height regulating member provided on the electrode pad. Then, the electrical connection member provided on the IC chip is positioned and mounted on the electrode pad on the substrate, and the height of the IC chip is controlled by the height regulating member provided on the IC chip.

特開2001−15552号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2001-15552

超伝導素子を用いた量子計算機では、超伝導量子回路(以下、単に量子回路と称する)の性能と、量子回路の状態の読み出しとを両立するには、量子回路チップと基板との間の距離を、半導体装置では要求されないような極めて高い精度で調整する必要がある。一方、上述の特許文献1では、ICチップと基板間の間隔の精度を±5μm以下に規制することができると記載されている。しかしながら、超伝導素子を用いた量子計算機では、量子回路チップと基板との間の距離の精度を、±5μm以下よりもはるかに厳しい精度とすることが要求される。 In a quantum computer using a superconducting element, the distance between the quantum circuit chip and the substrate is required to achieve both the performance of the superconducting quantum circuit (hereinafter, simply referred to as the quantum circuit) and the reading of the state of the quantum circuit. Needs to be adjusted with extremely high precision, which is not required for semiconductor devices. On the other hand, Patent Document 1 described above describes that the accuracy of the distance between the IC chip and the substrate can be regulated to ± 5 μm or less. However, in a quantum computer using a superconducting element, the accuracy of the distance between the quantum circuit chip and the substrate is required to be much stricter than ± 5 μm or less.

本開示の目的は、このような課題を解決するためになされたものであり、量子回路チップと基板との間の距離を極めて精度よく調整することが可能な超伝導回路装置、スペーサ、及び超伝導回路装置の製造方法を提供することにある。 An object of the present disclosure is to solve such a problem, and superconducting circuit devices, spacers, and superconducting circuits capable of adjusting the distance between a quantum circuit chip and a substrate with extremely high accuracy. The purpose is to provide a method for manufacturing a conduction circuit device.

本開示にかかる超伝導回路装置は、超伝導材料を用いた量子回路と第1の電極とが形成された量子回路チップと、第2の電極が形成された基板と、スペーサとを有し、前記第1の電極と前記第2の電極とはバンプで接続されており、前記スペーサは、チタン又はチタン合金で形成され、量子回路チップと基板との間の予め定められた位置に配置されている。 The superconducting circuit apparatus according to the present disclosure includes a quantum circuit chip in which a quantum circuit using a superconducting material and a first electrode are formed, a substrate on which a second electrode is formed, and a spacer. The first electrode and the second electrode are connected by bumps, and the spacer is made of titanium or a titanium alloy and is arranged at a predetermined position between the quantum circuit chip and the substrate. There is.

また、本開示にかかるスペーサは、チタン又はチタン合金で形成され、超伝導回路装置に用いられる。 Further, the spacer according to the present disclosure is made of titanium or a titanium alloy and is used in a superconducting circuit device.

また、本開示にかかる超伝導回路装置の製造方法は、超伝導材料を用いた量子回路と第1の電極とが形成された量子回路チップと、第2の電極が形成された基板とを対向させ、前記基板の予め定められた位置に、チタン又はチタン合金で形成されたスペーサを配置し、前記基板の予め定められた位置に前記スペーサが配置された状態で、前記第1の電極と前記第2の電極とをバンプで接続する。 Further, in the method for manufacturing a superconducting circuit device according to the present disclosure, a quantum circuit chip using a superconducting material and a quantum circuit chip on which a first electrode is formed and a substrate on which a second electrode is formed face each other. Then, a spacer formed of titanium or a titanium alloy is arranged at a predetermined position on the substrate, and the spacer is arranged at a predetermined position on the substrate, and the first electrode and the said The second electrode is connected with a bump.

本開示によれば、量子回路チップと基板との間の距離を極めて精度よく調整することが可能な超伝導回路装置、スペーサ、及び超伝導回路装置の製造方法を提供できる。 According to the present disclosure, it is possible to provide a superconducting circuit device, a spacer, and a method for manufacturing a superconducting circuit device capable of adjusting the distance between a quantum circuit chip and a substrate with extremely high accuracy.

比較例にかかる超伝導回路装置を示す図である。It is a figure which shows the superconducting circuit apparatus which concerns on a comparative example. 特許文献1にかかる、半導体回路のフリップチップ実装においてチップと基板との距離を制御する方法を示す図である。It is a figure which shows the method of controlling the distance between a chip and a substrate in flip chip mounting of a semiconductor circuit which concerns on Patent Document 1. FIG. 本実施の形態にかかる超伝導回路装置を示す図である。It is a figure which shows the superconducting circuit apparatus which concerns on this embodiment. 実施の形態1にかかる超伝導回路装置の製造方法の第1の例を示す図である。It is a figure which shows the 1st example of the manufacturing method of the superconducting circuit apparatus which concerns on Embodiment 1. FIG. 実施の形態1にかかる超伝導回路装置の製造方法の第2の例を示す図である。It is a figure which shows the 2nd example of the manufacturing method of the superconducting circuit apparatus which concerns on Embodiment 1. FIG. 実施の形態1にかかる超伝導回路装置における、基板に対するスペーサの配置方法の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the arrangement method of the spacer with respect to the substrate in the superconducting circuit apparatus which concerns on Embodiment 1. FIG. 実施の形態1にかかる超伝導回路装置における、基板に対するスペーサの配置方法の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the arrangement method of the spacer with respect to the substrate in the superconducting circuit apparatus which concerns on Embodiment 1. FIG. 実施の形態1にかかる超伝導回路装置における、基板に対するスペーサの配置方法の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the arrangement method of the spacer with respect to the substrate in the superconducting circuit apparatus which concerns on Embodiment 1. FIG. 実施の形態1にかかる超伝導回路装置における、基板に対するスペーサの配置方法の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the arrangement method of the spacer with respect to the substrate in the superconducting circuit apparatus which concerns on Embodiment 1. FIG. 実施の形態1にかかる超伝導回路装置における、基板に対するスペーサの配置方法の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the arrangement method of the spacer with respect to the substrate in the superconducting circuit apparatus which concerns on Embodiment 1. FIG. 実施の形態1にかかる超伝導回路装置における、基板に対するスペーサの配置方法の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the arrangement method of the spacer with respect to the substrate in the superconducting circuit apparatus which concerns on Embodiment 1. FIG. 実施の形態2にかかる超伝導回路装置を示す図である。It is a figure which shows the superconducting circuit apparatus which concerns on Embodiment 2. 実施の形態3にかかる超伝導回路装置における、基板に対するスペーサの配置方法の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the arrangement method of the spacer with respect to the substrate in the superconducting circuit apparatus which concerns on Embodiment 3. FIG. 実施の形態3にかかる超伝導回路装置における、基板に対するスペーサの配置方法の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the arrangement method of the spacer with respect to the substrate in the superconducting circuit apparatus which concerns on Embodiment 3. FIG. 実施の形態3にかかる超伝導回路装置における、基板に対するスペーサの配置方法の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the arrangement method of the spacer with respect to the substrate in the superconducting circuit apparatus which concerns on Embodiment 3. FIG.

(本開示にかかる実施の形態の概要)
本開示の実施形態の説明に先立って、本開示にかかる実施の形態の概要について説明する。図1は、比較例にかかる超伝導回路装置1を示す図である。図1は、超伝導回路装置1の側面から見た断面図である。超伝導回路装置1は、例えば、量子計算機である。比較例にかかる超伝導回路装置1は、超伝導回路実装構造2と、読み出し部3と、制御部4とを有する。超伝導回路実装構造2は、量子回路チップ20と、基板40とを有する。量子回路チップ20と、基板40とは、フリップチップ接続によって接続されている。
(Outline of Embodiments of the present disclosure)
Prior to the description of the embodiments of the present disclosure, an outline of the embodiments according to the present disclosure will be described. FIG. 1 is a diagram showing a superconducting circuit device 1 according to a comparative example. FIG. 1 is a cross-sectional view taken from the side surface of the superconducting circuit device 1. The superconducting circuit device 1 is, for example, a quantum computer. The superconducting circuit device 1 according to the comparative example has a superconducting circuit mounting structure 2, a reading unit 3, and a control unit 4. The superconducting circuit mounting structure 2 has a quantum circuit chip 20 and a substrate 40. The quantum circuit chip 20 and the substrate 40 are connected by a flip chip connection.

読み出し部3及び制御部4は、300K(K:ケルビン)程度の室温下で使用される。一方、超伝導回路実装構造2(量子回路チップ20及び基板40)は、10mK程度の極低温に冷却される。具体的には、基板40は、コールドステージ(図示せず)に熱的に接触している。コールドステージは、10mK程度に冷却された、冷凍機のステージである。これにより、超伝導回路実装構造2は、10mK程度の極低温に冷却され得る。 The reading unit 3 and the control unit 4 are used at room temperature of about 300K (K: Kelvin). On the other hand, the superconducting circuit mounting structure 2 (quantum circuit chip 20 and substrate 40) is cooled to an extremely low temperature of about 10 mK. Specifically, the substrate 40 is in thermal contact with the cold stage (not shown). The cold stage is a stage of a refrigerator cooled to about 10 mK. As a result, the superconducting circuit mounting structure 2 can be cooled to an extremely low temperature of about 10 mK.

量子回路チップ20は、超伝導材料を用いた量子回路22を有する。量子回路22は、量子回路チップ20の表面20a(おもて面;基板40と対向する面)に形成されている。また、量子回路チップ20の表面20aには、導電部である電極24(24A,24B)が形成されている。電極24(第1の電極)は、量子回路チップ20のグランド電極である。 The quantum circuit chip 20 has a quantum circuit 22 using a superconducting material. The quantum circuit 22 is formed on the surface 20a (front surface; surface facing the substrate 40) of the quantum circuit chip 20. Further, electrodes 24 (24A, 24B), which are conductive portions, are formed on the surface 20a of the quantum circuit chip 20. The electrode 24 (first electrode) is a ground electrode of the quantum circuit chip 20.

量子回路22は、複数の超伝導量子ビットが集積された超伝導量子回路である。各超伝導量子ビットは、共振器を用いて構成されている。そして、量子ビットのQ値を高くするほど、量子ビットのコヒーレンス時間を長くすることができ、その結果、量子計算をより長い時間実行することができるようになる。そのため、各々の量子ビットのQ値をできるだけ大きくすることが望ましい。 The quantum circuit 22 is a superconducting quantum circuit in which a plurality of superconducting qubits are integrated. Each superconducting qubit is constructed using a resonator. Then, the higher the Q value of the qubit, the longer the coherence time of the qubit can be, and as a result, the quantum calculation can be executed for a longer time. Therefore, it is desirable to increase the Q value of each qubit as much as possible.

基板40は、例えばシリコン基板である。基板40の表面40a(おもて面;量子回路チップ20と対向する面)には、導電部である電極42(42A,42B)及び電極44(44A,44B)が形成されている。電極44(第2の電極)は、基板40のグランド電極である。また、後述するように、電極42A,42B(第3の電極)と量子回路22とが、キャパシティブ結合12又はインダクティブ結合14によって、非接触に結合されている。 The substrate 40 is, for example, a silicon substrate. Electrodes 42 (42A, 42B) and electrodes 44 (44A, 44B), which are conductive portions, are formed on the surface 40a (front surface; surface facing the quantum circuit chip 20) of the substrate 40. The electrode 44 (second electrode) is a ground electrode of the substrate 40. Further, as will be described later, the electrodes 42A and 42B (third electrode) and the quantum circuit 22 are non-contactly coupled by the capacity coupling 12 or the inductive coupling 14.

基板40の裏面40bは、コールドステージと接触している。また、基板40の裏面40bには、導電部である電極46(46A,46B)及び電極48(48A,48B)が形成されている。電極48A,48Bは、基板40のグランド電極である。電極46A及び電極48Aは、配線を介して読み出し部3と電気的に接続されている。また、電極46B及び電極48Bは、配線を介して制御部4と電気的に接続されている。また、電極42Aと電極46Aとの間及び電極42Bと電極46Bとの間には、基板40を貫通する貫通電極45(TSV;Through Silicon Via)が形成されている。同様に、電極44Aと電極48Aとの間及び電極44Bと電極48Bとの間には、貫通電極45が形成されている。 The back surface 40b of the substrate 40 is in contact with the cold stage. Further, electrodes 46 (46A, 46B) and electrodes 48 (48A, 48B), which are conductive portions, are formed on the back surface 40b of the substrate 40. The electrodes 48A and 48B are ground electrodes of the substrate 40. The electrode 46A and the electrode 48A are electrically connected to the reading unit 3 via wiring. Further, the electrodes 46B and 48B are electrically connected to the control unit 4 via wiring. Further, a through electrode 45 (TSV; Through Silicon Via) penetrating the substrate 40 is formed between the electrode 42A and the electrode 46A and between the electrode 42B and the electrode 46B. Similarly, a through electrode 45 is formed between the electrode 44A and the electrode 48A and between the electrode 44B and the electrode 48B.

量子回路チップ20の表面20aに形成された電極24と、基板40の表面40aに形成された電極44とが、バンプ10で接続されている。つまり、量子回路チップ20の表面20aに形成された電極24A(第1の電極)と、基板40の表面40aに形成された電極44A(第2の電極)とが、バンプ10Aで接続されている。同様に、量子回路チップ20の表面20aに形成された電極24B(第1の電極)と、基板40の表面40aに形成された電極44B(第2の電極)とが、バンプ10Bで接続されている。 The electrode 24 formed on the surface 20a of the quantum circuit chip 20 and the electrode 44 formed on the surface 40a of the substrate 40 are connected by a bump 10. That is, the electrode 24A (first electrode) formed on the surface 20a of the quantum circuit chip 20 and the electrode 44A (second electrode) formed on the surface 40a of the substrate 40 are connected by a bump 10A. .. Similarly, the electrode 24B (first electrode) formed on the surface 20a of the quantum circuit chip 20 and the electrode 44B (second electrode) formed on the surface 40a of the substrate 40 are connected by a bump 10B. There is.

また、量子回路チップ20の表面20aに形成された量子回路22の導電部と、基板40の表面40aに形成された電極42Bとが対向している。そして、量子回路22と電極42Bとの間に存在する相互インダクタンスを介して、量子回路22と電極42Bとは、インダクティブ結合14によって結合している。ここで、インダクティブ結合とは、上記の相互インダクタンスを介した非接触の結合のことである。 Further, the conductive portion of the quantum circuit 22 formed on the surface 20a of the quantum circuit chip 20 and the electrode 42B formed on the surface 40a of the substrate 40 face each other. Then, the quantum circuit 22 and the electrode 42B are coupled by the inductive coupling 14 via the mutual inductance existing between the quantum circuit 22 and the electrode 42B. Here, the inductive coupling is a non-contact coupling via the mutual inductance described above.

また、量子回路チップ20の表面20aに形成された量子回路22の別の導電部と、基板40の表面40aに形成された電極42Aとが対向している。そして、量子回路22と電極42Aとの間に存在するキャパシタンスを介して、量子回路22と電極42Aとは、キャパシティブ結合12によって結合している。ここで、キャパシティブ結合とは、上記のキャパシタンスを介した非接触の結合のことである。 Further, another conductive portion of the quantum circuit 22 formed on the surface 20a of the quantum circuit chip 20 and the electrode 42A formed on the surface 40a of the substrate 40 face each other. Then, the quantum circuit 22 and the electrode 42A are coupled by the capacitive coupling 12 via the capacitance existing between the quantum circuit 22 and the electrode 42A. Here, the capacity coupling is a non-contact coupling via the above-mentioned capacitance.

そして、基板40の裏面40bの電極46,48に読み出し部3及び制御部4を接続することにより、量子回路22の制御及び読み出しを行う。具体的には、制御部4から出力された制御信号は、貫通電極45を通って基板40の表面40aに形成された電極42に到達する。そして、制御信号は、インダクティブ結合14を介して、量子回路22に伝達される。このようにして、制御部4は、インダクティブ結合によって、非接触で、量子回路チップ20上の量子回路22の制御を行う。同様に、量子回路チップ20の量子回路22の状態は、量子回路チップ20と基板40の間の非接触のキャパシティブ結合12を介して、基板40の表面40aに形成された電極42Aと貫通電極45とを経由して、読み出し部3によって読み出される。 Then, the quantum circuit 22 is controlled and read by connecting the reading unit 3 and the control unit 4 to the electrodes 46 and 48 on the back surface 40b of the substrate 40. Specifically, the control signal output from the control unit 4 passes through the through electrode 45 and reaches the electrode 42 formed on the surface 40a of the substrate 40. Then, the control signal is transmitted to the quantum circuit 22 via the inductive coupling 14. In this way, the control unit 4 controls the quantum circuit 22 on the quantum circuit chip 20 in a non-contact manner by inductive coupling. Similarly, the state of the quantum circuit 22 of the quantum circuit chip 20 is the electrode 42A and the through electrode 45 formed on the surface 40a of the substrate 40 via the non-contact capacitive coupling 12 between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40. It is read by the reading unit 3 via and.

ここで、量子回路チップ20と基板40の間の距離は、可能な限り設計値に近く、かつ、数mm四方〜数cm四方のサイズの量子回路チップ20の全域にわたって均一であることが要求される。これは、量子回路22の性能、及び、キャパシティブ結合12(及びインダクティブ結合14)の強さが、量子回路チップ20と基板40との間の距離に依存するためである。具体的には、量子回路チップ20と基板40との間の距離を、例えば1μm〜10μmに設計する必要がある。さらに、数mm四方〜数cm四方の量子回路チップ20の全域にわたって、量子回路チップ20と基板40との間の距離の誤差を、±20%(±0.2μm〜±2μm)以内にする必要がある。 Here, the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 is required to be as close to the design value as possible and uniform over the entire area of the quantum circuit chip 20 having a size of several mm square to several cm square. To. This is because the performance of the quantum circuit 22 and the strength of the capacity coupling 12 (and the inductive coupling 14) depend on the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40. Specifically, it is necessary to design the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 to be, for example, 1 μm to 10 μm. Further, it is necessary to keep the error of the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 within ± 20% (± 0.2 μm to ± 2 μm) over the entire area of the quantum circuit chip 20 of several mm square to several cm square. There is.

キャパシティブ結合12のキャパシタンスは、量子回路チップ20と基板40との間の距離が短いほど大きくなる。そして、キャパシティブ結合12のキャパシタンスが大きすぎると、量子回路22のQ値が低下してしまい、量子回路22の性能が低下してしまう。一方、キャパシティブ結合12のキャパシタンスを小さくすると、Q値が高くなり量子回路22の性能は向上する。しかしながら、キャパシティブ結合12のキャパシタンスを小さすぎると、キャパシティブ結合12が弱くなるため、読み出し部3が量子回路22の状態を読み出すことが困難になってしまう。 The capacitance of the capacitive coupling 12 increases as the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 decreases. If the capacitance of the capacitive coupling 12 is too large, the Q value of the quantum circuit 22 will decrease, and the performance of the quantum circuit 22 will decrease. On the other hand, if the capacitance of the capacitive coupling 12 is reduced, the Q value becomes high and the performance of the quantum circuit 22 is improved. However, if the capacitance of the capacitive coupling 12 is too small, the capacitive coupling 12 becomes weak, and it becomes difficult for the reading unit 3 to read the state of the quantum circuit 22.

キャパシティブ結合12のキャパシタンスには、上記のようなトレードオフの関係がある。したがって、キャパシティブ結合12のキャパシタンスの大きさ、つまり量子回路チップ20と基板40との間の距離には、適切な値がある。そして、超伝導量子ビットを多数集積した実用的な超伝導量子回路チップの場合、数mm四方〜数cm四方のチップ全域にわたって、この距離を極めて精度よく適切な値にしなければならない、という厳しい要請がある。このように、量子回路チップ20をフリップチップ接続により基板40に実装する際に、非常に精度よく、量子回路チップ20と基板40との間の距離を制御(調整)することが要求される。そのような厳しい条件は、超伝導量子回路以外の半導体回路では要求されなかった、超伝導量子回路特有の条件である。 The capacitance of the capacity coupling 12 has the above-mentioned trade-off relationship. Therefore, the magnitude of the capacitance of the capacitive coupling 12, that is, the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 has an appropriate value. In the case of a practical superconducting quantum circuit chip in which a large number of superconducting qubits are integrated, there is a strict requirement that this distance must be set to an extremely accurate and appropriate value over the entire chip of several mm square to several cm square. There is. As described above, when the quantum circuit chip 20 is mounted on the substrate 40 by the flip chip connection, it is required to control (adjust) the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 with very high accuracy. Such strict conditions are peculiar to superconducting quantum circuits, which are not required for semiconductor circuits other than superconducting quantum circuits.

図2は、特許文献1にかかる、半導体回路90のフリップチップ実装においてチップと基板との距離を制御する方法を示す図である。特許文献1においては、(a)に示すように、ICチップ93に、電極パッド94に設けられた電気接続部材95と、銅(Cu)等の高さ規制部材96が設けられている。そして、電気接続部材95を基板91上の電極パッド92上に位置決め搭載する。そして、(b)に示すように、高さ規制部材96でICチップ93の高さ制御を行い、電気接続部材95の加熱接合を行ってICチップ93の電極パッド94と基板91の電極パッド92とを接続する。そして、フリップチップ実装の際に高さ規制部材96が基板91に当たるため、ICチップ93と基板91の間の距離を規制することができる。 FIG. 2 is a diagram showing a method of controlling a distance between a chip and a substrate in flip-chip mounting of a semiconductor circuit 90 according to Patent Document 1. In Patent Document 1, as shown in (a), the IC chip 93 is provided with an electrical connection member 95 provided on the electrode pad 94 and a height regulating member 96 such as copper (Cu). Then, the electrical connection member 95 is positioned and mounted on the electrode pad 92 on the substrate 91. Then, as shown in (b), the height of the IC chip 93 is controlled by the height regulating member 96, the electrical connection member 95 is heat-bonded, and the electrode pad 94 of the IC chip 93 and the electrode pad 92 of the substrate 91 are joined. And connect. Since the height regulating member 96 hits the substrate 91 when the flip chip is mounted, the distance between the IC chip 93 and the substrate 91 can be regulated.

しかしながら、図2に示すような特許文献1にかかる方法では、チップと基板の間の距離の精度が粗くなるおそれがある。特許文献1では、ICチップ93と基板91の間の距離について、±5μm以内の精度を出すことを課題としている。しかしながら、超伝導量子回路のフリップチップ実装には、この精度よりも高い精度が要求されるため、この方法は適用できないという問題がある。この問題を解決し、非常に精度の高いフリップチップ実装の方法を実現することが、超伝導量子回路の実用化にとって不可欠な課題になっている。 However, in the method according to Patent Document 1 as shown in FIG. 2, the accuracy of the distance between the chip and the substrate may become coarse. In Patent Document 1, it is an object to obtain an accuracy of ± 5 μm or less with respect to the distance between the IC chip 93 and the substrate 91. However, there is a problem that this method cannot be applied because the flip-chip mounting of the superconducting quantum circuit requires higher accuracy than this accuracy. Solving this problem and realizing a highly accurate flip-chip mounting method has become an indispensable issue for the practical application of superconducting quantum circuits.

図3は、本実施の形態にかかる超伝導回路装置1を示す図である。図3は、超伝導回路装置1の側面から見た断面図である。なお、図3において、読み出し部3及び制御部4は省略されている(以下の図においても同様)。本実施の形態にかかる超伝導回路装置1は、実質的に図1に示した超伝導回路装置1と同様の構成を有する。つまり、本実施の形態にかかる超伝導回路装置1は、量子回路チップ20と、基板40とを有する。量子回路チップ20には、超伝導材料を用いた量子回路22と電極24(第1の電極)とが形成されている。基板40には、電極44(第2の電極)が形成されている。電極24と電極44とはバンプ10で接続されている。 FIG. 3 is a diagram showing a superconducting circuit device 1 according to the present embodiment. FIG. 3 is a cross-sectional view seen from the side surface of the superconducting circuit device 1. In FIG. 3, the reading unit 3 and the control unit 4 are omitted (the same applies to the following figures). The superconducting circuit device 1 according to the present embodiment has substantially the same configuration as the superconducting circuit device 1 shown in FIG. That is, the superconducting circuit device 1 according to the present embodiment has a quantum circuit chip 20 and a substrate 40. The quantum circuit chip 20 is formed with a quantum circuit 22 using a superconducting material and an electrode 24 (first electrode). An electrode 44 (second electrode) is formed on the substrate 40. The electrode 24 and the electrode 44 are connected by a bump 10.

さらに、本実施の形態にかかる超伝導回路装置1は、スペーサ50を有する。スペーサ50は、チタン(Ti)又はチタン合金で形成されている。また、スペーサ50は、量子回路チップ20と基板40との間の予め定められた位置に、量子回路チップ20と基板40とに接触した状態で配置されている。本実施の形態にかかる超伝導回路装置1は、このように構成されているので、後述するように、量子回路チップ20と基板40との間の距離を極めて精度よく調整することが可能である。したがって、本実施の形態にかかる超伝導回路装置1は、量子回路22の性能と、量子回路22の状態の読み出し容易性とを、両立させることができる。したがって、本実施の形態にかかる超伝導回路装置1は、装置全体としての性能を向上させることが可能である。 Further, the superconducting circuit device 1 according to the present embodiment has a spacer 50. The spacer 50 is made of titanium (Ti) or a titanium alloy. Further, the spacer 50 is arranged at a predetermined position between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 in a state of being in contact with the quantum circuit chip 20 and the substrate 40. Since the superconducting circuit device 1 according to the present embodiment is configured in this way, it is possible to adjust the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 with extremely high accuracy, as will be described later. .. Therefore, the superconducting circuit device 1 according to the present embodiment can achieve both the performance of the quantum circuit 22 and the ease of reading the state of the quantum circuit 22. Therefore, the superconducting circuit device 1 according to the present embodiment can improve the performance of the device as a whole.

また、本実施の形態にかかる超伝導回路装置1の製造方法は、以下の処理を有する。すなわち、量子回路22と電極24とが形成された量子回路チップ20と、電極44が形成された基板40とを対向させる。また、基板40の予め定められた位置に、チタン又はチタン合金で形成されたスペーサ50を配置する。そして、基板40の予め定められた位置にスペーサ50が配置された状態で、電極24と電極44とをバンプで接続する。これにより、量子回路チップ20と基板40との間の距離を極めて精度よく調整することが可能である。なお、量子回路チップ20と基板40とを対向させる処理と、基板40にスペーサ50を配置する処理の順序は問わない(以下に示す説明でも同様)。 In addition, the method for manufacturing the superconducting circuit device 1 according to the present embodiment includes the following processing. That is, the quantum circuit chip 20 in which the quantum circuit 22 and the electrode 24 are formed and the substrate 40 in which the electrode 44 is formed are opposed to each other. Further, a spacer 50 made of titanium or a titanium alloy is arranged at a predetermined position on the substrate 40. Then, the electrode 24 and the electrode 44 are connected by bumps in a state where the spacer 50 is arranged at a predetermined position on the substrate 40. This makes it possible to adjust the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 with extremely high accuracy. The order of the process of facing the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 and the process of arranging the spacer 50 on the substrate 40 does not matter (the same applies to the description shown below).

(実施の形態1)
以下、実施形態について、図面を参照しながら説明する。説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略、及び簡略化がなされている。また、各図面において、同一の要素には同一の符号が付されており、必要に応じて重複説明は省略されている。
(Embodiment 1)
Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings. In order to clarify the explanation, the following description and drawings have been omitted or simplified as appropriate. Further, in each drawing, the same elements are designated by the same reference numerals, and duplicate explanations are omitted as necessary.

まず、実施の形態1について説明する。なお、実施の形態1にかかる超伝導回路装置1の構成は、図3に示したものと実質的に同様である。つまり、実施の形態1にかかる超伝導回路装置1は、量子回路22と電極24とが形成された量子回路チップ20と、電極44が形成された基板40と、チタン又はチタン合金で形成されたスペーサ50とを有する。なお、以下、図4及び図5を用いて、実施の形態1にかかる超伝導回路装置1の製造方法を説明するが、実施の形態1にかかる超伝導回路装置1の製造方法は、図4及び図5に示したものに限定されない。 First, the first embodiment will be described. The configuration of the superconducting circuit device 1 according to the first embodiment is substantially the same as that shown in FIG. That is, the superconducting circuit device 1 according to the first embodiment is formed of a quantum circuit chip 20 in which a quantum circuit 22 and an electrode 24 are formed, a substrate 40 in which an electrode 44 is formed, and titanium or a titanium alloy. It has a spacer 50 and. Hereinafter, the method of manufacturing the superconducting circuit device 1 according to the first embodiment will be described with reference to FIGS. 4 and 5, but the method of manufacturing the superconducting circuit device 1 according to the first embodiment is shown in FIG. And not limited to those shown in FIG.

図4は、実施の形態1にかかる超伝導回路装置1の製造方法の第1の例を示す図である。(a)で示すように、量子回路22と電極24とが形成された量子回路チップ20と、電極44が形成された基板40とを対向させる。このとき、電極24には、バンプ10が付着している。また、基板40に形成されたアライメントマーク60A(位置決め部材60)に対応する位置に、スペーサ50Aを配置する。具体的には、産業用ロボット等の搬送機械が、スペーサ50Aを搬送する際に、アライメントマーク60Aを目標にして、スペーサ50を配置してもよい。これにより、スペーサ50Aは、基板40上の予め定められた位置に配置される。 FIG. 4 is a diagram showing a first example of the method for manufacturing the superconducting circuit device 1 according to the first embodiment. As shown in (a), the quantum circuit chip 20 in which the quantum circuit 22 and the electrode 24 are formed and the substrate 40 in which the electrode 44 is formed are opposed to each other. At this time, the bump 10 is attached to the electrode 24. Further, the spacer 50A is arranged at a position corresponding to the alignment mark 60A (positioning member 60) formed on the substrate 40. Specifically, when a conveying machine such as an industrial robot conveys the spacer 50A, the spacer 50 may be arranged with the alignment mark 60A as a target. As a result, the spacer 50A is arranged at a predetermined position on the substrate 40.

その後、(b)で示すように、スペーサ50Aが基板40上の予め定められた位置に配置された状態で、バンプ10によって量子回路チップ20と基板40とを接続する(フリップチップ接続)。具体的には、量子回路チップ20の電極24に付着したバンプ10が、基板40上の電極44に圧接することで、電極24と電極44とがバンプ10で接続される。これにより、スペーサ50Aは、量子回路チップ20と基板40との間に挟まれた状態となり、量子回路チップ20が、スペーサ50に接触する。つまり、スペーサ50Aが、量子回路チップ20と基板40とに接触した状態となる。 Then, as shown in (b), the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 are connected by bumps 10 in a state where the spacer 50A is arranged at a predetermined position on the substrate 40 (flip chip connection). Specifically, the bump 10 attached to the electrode 24 of the quantum circuit chip 20 is pressed against the electrode 44 on the substrate 40, so that the electrode 24 and the electrode 44 are connected by the bump 10. As a result, the spacer 50A is sandwiched between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40, and the quantum circuit chip 20 comes into contact with the spacer 50. That is, the spacer 50A is in contact with the quantum circuit chip 20 and the substrate 40.

ここで、スペーサ50A(50)は、チタン又はチタン合金で形成されているので、スペーサ50A(50)の板厚を、量子回路チップ20と基板40との間の距離の設計値に対応する値に、精度よく加工することができる。したがって、量子回路チップ20と基板40との間の距離(間隔)を、量子回路チップ20の全域に亘って、設計値に極めて近い値とすることができる。これにより、上述したように、量子回路22と電極42との間で、キャパシティブ結合12及びインダクティブ結合14が構成される。 Here, since the spacer 50A (50) is made of titanium or a titanium alloy, the plate thickness of the spacer 50A (50) is set to a value corresponding to the design value of the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40. In addition, it can be processed with high accuracy. Therefore, the distance (distance) between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 can be set to a value extremely close to the design value over the entire area of the quantum circuit chip 20. As a result, as described above, the capacity coupling 12 and the inductive coupling 14 are formed between the quantum circuit 22 and the electrode 42.

図5は、実施の形態1にかかる超伝導回路装置1の製造方法の第2の例を示す図である。(a)で示すように、量子回路22と電極24とが形成された量子回路チップ20と、電極44が形成された基板40とを対向させる。このとき、電極24には、バンプ10が付着している。また、基板40に形成された位置決め用凸部60B(位置決め部材60)に対応する位置に、スペーサ50Aを配置する。具体的には、産業用ロボット等の搬送機械が、スペーサ50Aを搬送する際に、位置決め用凸部60Bにスペーサ50の側面が接するようにして、スペーサ50を配置してもよい。これにより、スペーサ50Aは、基板40上の予め定められた位置に配置される。 FIG. 5 is a diagram showing a second example of the manufacturing method of the superconducting circuit device 1 according to the first embodiment. As shown in (a), the quantum circuit chip 20 in which the quantum circuit 22 and the electrode 24 are formed and the substrate 40 in which the electrode 44 is formed are opposed to each other. At this time, the bump 10 is attached to the electrode 24. Further, the spacer 50A is arranged at a position corresponding to the positioning convex portion 60B (positioning member 60) formed on the substrate 40. Specifically, when a conveying machine such as an industrial robot conveys the spacer 50A, the spacer 50 may be arranged so that the side surface of the spacer 50 is in contact with the positioning convex portion 60B. As a result, the spacer 50A is arranged at a predetermined position on the substrate 40.

その後、(b)で示すように、図4と同様にして、スペーサ50Aが基板40上の予め定められた位置に配置された状態で、バンプ10によって量子回路チップ20と基板40とを接続する(フリップチップ接続)。これにより、スペーサ50Aは、量子回路チップ20と基板40との間に挟まれた状態となり、量子回路チップ20が、スペーサ50に接触する。したがって、上述したように、量子回路チップ20と基板40との間の距離(間隔)を、量子回路チップ20の全域に亘って、設計値に極めて近い値とすることができる。これにより、上述したように、量子回路22と電極42との間で、キャパシティブ結合12及びインダクティブ結合14が構成される。 After that, as shown in (b), the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 are connected by the bump 10 in a state where the spacer 50A is arranged at a predetermined position on the substrate 40 in the same manner as in FIG. (Flip chip connection). As a result, the spacer 50A is sandwiched between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40, and the quantum circuit chip 20 comes into contact with the spacer 50. Therefore, as described above, the distance (interval) between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 can be set to a value extremely close to the design value over the entire area of the quantum circuit chip 20. As a result, as described above, the capacity coupling 12 and the inductive coupling 14 are formed between the quantum circuit 22 and the electrode 42.

なお、位置決め用凸部60Bは、例えば酸化シリコン(SiO)又は銅(Cu)で形成され得る。位置決め用凸部60BをSiOで形成する場合は、まず、基板40にスパッタによりSiO膜を形成する。そして、そのSiO膜をフォトリソグラフィーによりパターニングを行い、エッチングを行うことにより、基板40上の所望の位置に所望の形状のSiOの位置決め用凸部60Bを形成することができる。位置決め用凸部60BをCuで形成する場合は、基板40上にレジストを塗布した後、フォトリソグラフィーによりパターニングを行い、メッキにより銅を形成する。そして、最後にレジストを除去することにより、基板40上の所望の位置に所望の形状のCuの位置決め用凸部60Bを形成することができる。 The positioning convex portion 60B may be formed of, for example, silicon oxide (SiO 2 ) or copper (Cu). When the positioning convex portion 60B is formed of SiO 2 , first, a SiO 2 film is formed on the substrate 40 by sputtering. Then, the SiO 2 film is patterned by photolithography and etched to form a convex portion 60B for positioning the SiO 2 having a desired shape at a desired position on the substrate 40. When the positioning convex portion 60B is formed of Cu, a resist is applied onto the substrate 40, patterning is performed by photolithography, and copper is formed by plating. Finally, by removing the resist, a Cu positioning convex portion 60B having a desired shape can be formed at a desired position on the substrate 40.

また、スペーサ50Aの配置の方法については、例えば、以下の方法を用いてもよい。例えば、真空ピンセットを用いて、スペーサ50Aを基板40上の所定の位置に配置することができる。この場合、真空ピンセットでスペーサ50Aを吸着した状態で、基板40上の所定の位置にスペーサ50Aを置く。そして、真空を解除することによりスペーサ50Aを真空ピンセットから離すことで、基板40上の所定の位置にスペーサ50Aを配置できる。なお、真空ピンセットではなくても、ただのピンセットでスペーサ50Aをつまんで基板40上の所定の位置に置くという方法でもよい。 Further, as for the method of arranging the spacer 50A, for example, the following method may be used. For example, using vacuum tweezers, the spacer 50A can be placed at a predetermined position on the substrate 40. In this case, the spacer 50A is placed at a predetermined position on the substrate 40 with the spacer 50A adsorbed by the vacuum tweezers. Then, by releasing the vacuum and separating the spacer 50A from the vacuum tweezers, the spacer 50A can be arranged at a predetermined position on the substrate 40. In addition, instead of using vacuum tweezers, a method of pinching the spacer 50A with simple tweezers and placing it at a predetermined position on the substrate 40 may be used.

また、離型フィルム(離型シート)を用いて、スペーサ50Aを基板40上の所定の位置に配置することができる。この場合、スペーサ50Aの背面に離型フィルムを貼り付けた状態で、離型フィルムごとスペーサ50Aを基板40上の所定の位置に置いたあと、離型フィルムをスペーサ50Aから剥すことで、基板40上の所定の位置にスペーサ50Aを配置できる。なお、離型フィルムをスペーサ50Aに貼り付けておくことにより、スペーサ50Aの形状が容易に変形しない(破壊されない)ので、スペーサ50Aの形状を維持したまま基板40上の所定の位置にスペーサ50Aを置くことが容易となる。また、スペーサ50Aを所定の位置に置いた後、スペーサ50Aを動かさないように離型フィルムを剥すためには、例えば、離型フィルムを、中央で左右に切断された2パーツの状態にしておくことが考えられる。この場合、スペーサ50Aを所定の位置に置いた後、まず、離型フィルムのついたスペーサ50Aの例えば左半分の任意の場所をピンセット等で抑えたまま、右半分の離型フィルムを剥す。その後、離型フィルムが剥された後のスペーサ50Aの右半分の任意の場所をピンセットなどで抑えながら、左半分の離型フィルムを剥す。 Further, the spacer 50A can be arranged at a predetermined position on the substrate 40 by using a release film (release sheet). In this case, with the release film attached to the back surface of the spacer 50A, the spacer 50A is placed at a predetermined position on the substrate 40 together with the release film, and then the release film is peeled off from the spacer 50A to form the substrate 40. The spacer 50A can be arranged at a predetermined position on the top. By attaching the release film to the spacer 50A, the shape of the spacer 50A is not easily deformed (not destroyed), so that the spacer 50A is placed at a predetermined position on the substrate 40 while maintaining the shape of the spacer 50A. It will be easy to put. Further, in order to peel off the release film so as not to move the spacer 50A after placing the spacer 50A in a predetermined position, for example, the release film is kept in a state of two parts cut to the left and right at the center. Can be considered. In this case, after placing the spacer 50A in a predetermined position, first, the release film on the right half of the spacer 50A with the release film is peeled off while holding an arbitrary place on the left half with tweezers or the like. After that, the release film on the left half is peeled off while holding an arbitrary place on the right half of the spacer 50A after the release film is peeled off with tweezers or the like.

基板40に形成される電極42,44,46,48の材料は、導電性がある任意の材料であってもよい。しかしながら、超伝導材料を用いた量子回路22が実装されることを考慮して、電極42,44,46,48は、Nb(ニオブ)又はAl(アルミニウム)などの超伝導材料を含んでいることが好ましい。 The material of the electrodes 42, 44, 46, 48 formed on the substrate 40 may be any conductive material. However, considering that the quantum circuit 22 using the superconducting material is mounted, the electrodes 42, 44, 46, 48 include a superconducting material such as Nb (niobium) or Al (aluminum). Is preferable.

また、バンプ10の材料も導電性があれば任意である。しかしながら、超伝導材料を用いた量子回路22が実装されることを考慮して、バンプ10は、In(インジウム)又はSn(すず)などの超伝導材料を含んでいることが好ましい。また、基板40上又は量子回路チップ20上に形成されている電極の厚さは、50nm〜300nm程度である。また、基板40及び量子回路チップ20の厚さは、200μm〜600μm程度である。 Further, the material of the bump 10 is also arbitrary as long as it has conductivity. However, considering that the quantum circuit 22 using the superconducting material is mounted, the bump 10 preferably contains a superconducting material such as In (indium) or Sn (tin). The thickness of the electrodes formed on the substrate 40 or the quantum circuit chip 20 is about 50 nm to 300 nm. The thickness of the substrate 40 and the quantum circuit chip 20 is about 200 μm to 600 μm.

次に、実施の形態1にかかるスペーサ50Aの特徴(要求される仕様)を説明する。まず、スペーサ50Aは、厚さ1μm以上10μm以内、かつ、数mm四方〜数cm四方の量子回路チップ20全体の広さにわたって厚さの誤差が±20%以内であることが、設計条件として要求される。上述したように、超伝導回路装置1の動作を良好にするため、数mm四方〜数cm四方の量子回路チップ20の全域にわたって、量子回路チップ20と基板40との間の距離の誤差を、±20%(±0.2μm〜±2μm)以内にする必要がある。この要求を満たすために、上記の設計条件は必須の条件である。 Next, the features (required specifications) of the spacer 50A according to the first embodiment will be described. First, as a design condition, the spacer 50A is required to have a thickness of 1 μm or more and 10 μm or less, and a thickness error of ± 20% or less over the entire width of the quantum circuit chip 20 of several mm square to several cm square. Will be done. As described above, in order to improve the operation of the superconducting circuit device 1, an error in the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 is set over the entire area of the quantum circuit chip 20 of several mm square to several cm square. It must be within ± 20% (± 0.2 μm to ± 2 μm). In order to meet this requirement, the above design conditions are indispensable.

次に、スペーサ50Aの融点が、バンプ10の材料の融点よりも高いことが要求される。これは、フリップチップ接続の際にスペーサ50Aが溶けないようにするためである。また、スペーサ50Aが、バンプ10の材料よりも硬いことが要求される。これは、フリップチップ接続の際にスペーサ50Aが厚さ方向に変形しないようにするためである。また、スペーサ50Aは、非磁性であるであることが要求される。この条件は、量子回路22を正常に動作させるために必須の条件である。 Next, the melting point of the spacer 50A is required to be higher than the melting point of the material of the bump 10. This is to prevent the spacer 50A from melting when the flip chip is connected. Further, the spacer 50A is required to be harder than the material of the bump 10. This is to prevent the spacer 50A from being deformed in the thickness direction when the flip chip is connected. Further, the spacer 50A is required to be non-magnetic. This condition is an indispensable condition for the quantum circuit 22 to operate normally.

また、スペーサ50Aは、厚さ1μm程度、かつ広さ数mm四方〜数cm四方程度の非常に薄い板状であっても、基板40上に配置する際に、折れ曲がることのないようにハンドリングできることが要求される。
上記の条件を満たす材料として、チタン又はチタン合金(チタン材料)が適している。したがって、本実施の形態では、スペーサ50として、チタン又はチタン合金を採用する。
Further, even if the spacer 50A has a very thin plate shape having a thickness of about 1 μm and a width of about several mm square to several cm square, it can be handled so as not to be bent when placed on the substrate 40. Is required.
Titanium or a titanium alloy (titanium material) is suitable as a material satisfying the above conditions. Therefore, in the present embodiment, titanium or a titanium alloy is adopted as the spacer 50.

チタン合金は、例えばNb−Ti合金が考えられるが、後述する条件を満たすチタン合金であれば、その組成は任意である。また、スペーサ50Aは、チタン材料を圧延して厚さ数μmの箔に加工し、レーザ加工によって所定の寸法に切断することで、成形され得る。なお、レーザ加工は、切断によって発生するバリによる厚みのバラツキを上記の厚さの誤差(精度)に影響を及ぼさないようにする(厚みのバラツキを許容範囲に収める)ことを実現できる。また、上述したように、本実施の形態では、スペーサ50Aと基板40とを別個に製造加工するので、基板40からスペーサ50の上面までの高さの精度を極めて高くすることができる。なお、スペーサ50Aの加工の方法として、レーザ加工の他に、水や空気やガスなどの圧力で切断する方法や、薬品を用いたエッチングや、切削や、抜型を用いた成型加工が挙げられる。 As the titanium alloy, for example, an Nb—Ti alloy can be considered, but the composition is arbitrary as long as it is a titanium alloy that satisfies the conditions described later. Further, the spacer 50A can be formed by rolling a titanium material, processing it into a foil having a thickness of several μm, and cutting it into a predetermined size by laser processing. The laser machining can realize that the thickness variation due to burrs generated by cutting does not affect the above-mentioned thickness error (accuracy) (the thickness variation is within an allowable range). Further, as described above, in the present embodiment, since the spacer 50A and the substrate 40 are manufactured and processed separately, the accuracy of the height from the substrate 40 to the upper surface of the spacer 50 can be made extremely high. Examples of the processing method of the spacer 50A include a method of cutting with pressure of water, air, gas, etc., etching using chemicals, cutting, and molding processing using a die, in addition to laser processing.

実施の形態1にかかるスペーサ50Aは、量子回路22を動作させる温度において超伝導にならない、つまり常伝導状態であることが要求される。ここで、量子回路22を動作させる温度は、100mK以下であることが好ましく、100mK以下であれば温度は低いほど好ましい。例えば、量子回路22は、10mK程度の極低温に冷却して動作される。これは、量子回路チップ20を効率的に冷却するために、基板40と量子回路チップ20と間の熱パスとしても機能させるためである。以下、詳述する。 The spacer 50A according to the first embodiment is required not to become superconducting at the temperature at which the quantum circuit 22 is operated, that is, to be in a normal conducting state. Here, the temperature at which the quantum circuit 22 is operated is preferably 100 mK or less, and if it is 100 mK or less, the lower the temperature, the more preferable. For example, the quantum circuit 22 is operated by cooling to an extremely low temperature of about 10 mK. This is to function as a heat path between the substrate 40 and the quantum circuit chip 20 in order to efficiently cool the quantum circuit chip 20. The details will be described below.

上述したように、基板40は、コールドステージによって冷却されている。この場合、量子回路チップ20は、コールドステージとは、基板40及びバンプ10を通してのみ、熱的に接触している。言い換えると、量子回路チップ20は、基板40及びバンプ10を介してのみ、コールドステージによって熱を奪われる。これは、量子回路チップ20及び基板40の周囲が真空であり、真空は基本的に熱伝導パスとしては機能しないためである。ここで、バンプ10にはIn(インジウム)等の超伝導材料を用いることが一般的である。そして、超伝導材料を用いたバンプ10(超伝導バンプ)は熱をほとんど通さない。したがって、結果的に、コールドステージと量子回路チップ20との間の熱伝導パスは非常に弱いものとなってしまう。そのため、量子回路チップ20の冷却が非効率的になってしまうという問題がある。 As described above, the substrate 40 is cooled by the cold stage. In this case, the quantum circuit chip 20 is in thermal contact with the cold stage only through the substrate 40 and the bump 10. In other words, the quantum circuit chip 20 is deprived of heat by the cold stage only through the substrate 40 and the bump 10. This is because there is a vacuum around the quantum circuit chip 20 and the substrate 40, and the vacuum basically does not function as a heat conduction path. Here, it is common to use a superconducting material such as In (indium) for the bump 10. The bump 10 (superconducting bump) using the superconducting material hardly conducts heat. Therefore, as a result, the heat conduction path between the cold stage and the quantum circuit chip 20 becomes very weak. Therefore, there is a problem that the cooling of the quantum circuit chip 20 becomes inefficient.

これに対し、実施の形態1にかかるスペーサ50Aは、量子回路22を動作させる温度において超伝導にならない(常伝導状態である)チタン材料で形成されている。このような材料は、量子回路22を動作させる温度においても熱伝導度が超伝導バンプに比べて非常に高いため、基板40と量子回路チップ20との間に強力な熱伝導パスを形成できる。したがって、結果として、量子回路チップ20を効率的に冷却することが可能になるという効果がある。 On the other hand, the spacer 50A according to the first embodiment is made of a titanium material that does not become superconducting (in a normal conduction state) at the temperature at which the quantum circuit 22 is operated. Since such a material has a very high thermal conductivity as compared with the superconducting bump even at the temperature at which the quantum circuit 22 is operated, a strong heat conduction path can be formed between the substrate 40 and the quantum circuit chip 20. Therefore, as a result, there is an effect that the quantum circuit chip 20 can be efficiently cooled.

なお、チタンは、非常に純度が高く結晶性の高い試料を作製できた場合、量子回路22を動作させるような極低温、例えば100mK以下で、超伝導状態であることが知られている。一方、チタンをスペーサの形状に成形加工した場合、成形加工によって結晶性が低下するなどの原因により、超伝導転移温度が極めて低くなり、その結果、量子回路22を動作させるような極低温、例えば100mK以下のような極低温、で、超伝導状態にならない場合がある。実施の形態1では、量子回路22を動作させる温度で超伝導状態にならない(常伝導状態である)チタン材料のスペーサ50Aを敢えて用いることにより、基板40と量子回路チップ20との間の熱伝導パスを実現できる。 It is known that titanium is in a superconducting state at an extremely low temperature such as 100 mK or less, which causes the quantum circuit 22 to operate, when a sample having extremely high purity and high crystallinity can be prepared. On the other hand, when titanium is molded into the shape of a spacer, the superconducting transition temperature becomes extremely low due to factors such as a decrease in crystallinity due to the molding process, and as a result, an extremely low temperature such that the quantum circuit 22 is operated, for example. At extremely low temperatures such as 100 mK or less, the superconducting state may not be achieved. In the first embodiment, heat conduction between the substrate 40 and the quantum circuit chip 20 is performed by intentionally using a spacer 50A made of a titanium material that does not become a superconducting state (normal conduction state) at the temperature at which the quantum circuit 22 is operated. The path can be realized.

図6〜図11は、実施の形態1にかかる超伝導回路装置1における、基板40に対するスペーサ50Aの配置方法の例を示す図である。図6〜図11は、超伝導回路装置1を上(図3の上方向)から見た平面図である。但し、説明のため、図6〜図11において、量子回路チップ20は透過しているように示されている。また、図6〜図11では、コールドステージ及び位置決め部材60の図示を省略している。 6 to 11 are views showing an example of a method of arranging the spacer 50A with respect to the substrate 40 in the superconducting circuit device 1 according to the first embodiment. 6 to 11 are plan views of the superconducting circuit device 1 as viewed from above (upward in FIG. 3). However, for the sake of explanation, the quantum circuit chip 20 is shown to be transparent in FIGS. 6 to 11. Further, in FIGS. 6 to 11, the cold stage and the positioning member 60 are not shown.

図6は、実施の形態1にかかる超伝導回路装置1における、基板40に対するスペーサ50Aの配置方法の第1の例を示す図である。第1の例では、量子回路チップ20の中央近傍の領域20cに量子回路22が配置され、その領域20cの周囲にスペーサ50Aが配置されている。つまり、第1の例において、スペーサ50Aは、量子回路22が配置された領域の周囲に配置されている。 FIG. 6 is a diagram showing a first example of a method of arranging the spacer 50A with respect to the substrate 40 in the superconducting circuit device 1 according to the first embodiment. In the first example, the quantum circuit 22 is arranged in the region 20c near the center of the quantum circuit chip 20, and the spacer 50A is arranged around the region 20c. That is, in the first example, the spacer 50A is arranged around the region where the quantum circuit 22 is arranged.

通常、量子回路22は、量子回路チップ20の中央近傍に配置されることが多いので、量子回路チップ20の外周(周端)近傍は空きスペースとなっていることが多い。そこで、図6に示した第1の例のように、空きスペースである外周近傍にスペーサ50Aを配置することで、空きスペースを有効に利用できる。 Normally, since the quantum circuit 22 is often arranged near the center of the quantum circuit chip 20, there is often an empty space near the outer periphery (peripheral end) of the quantum circuit chip 20. Therefore, as in the first example shown in FIG. 6, by arranging the spacer 50A in the vicinity of the outer periphery which is an empty space, the empty space can be effectively used.

また、第1の例では、量子回路チップ20の外周近傍にスペーサ50Aが配置されている。これにより、量子回路チップ20の外周側が撓むことが抑制される。したがって、量子回路チップ20の全域に亘って、量子回路チップ20と基板40との間の距離の精度を高めることができる(後述する他の例でも同様)。 Further, in the first example, the spacer 50A is arranged near the outer periphery of the quantum circuit chip 20. As a result, bending of the outer peripheral side of the quantum circuit chip 20 is suppressed. Therefore, the accuracy of the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 can be improved over the entire area of the quantum circuit chip 20 (the same applies to other examples described later).

図7は、実施の形態1にかかる超伝導回路装置1における、基板40に対するスペーサ50Aの配置方法の第2の例を示す図である。第1の例と同様に、第2の例では、量子回路チップ20の中央近傍の領域20cに量子回路22が配置され、その領域20cの周囲にスペーサ50A−1が配置されている。但し、領域20cの略中央に量子回路22が配置されない領域が設けられており、その領域にスペーサ50A−2が配置されている。 FIG. 7 is a diagram showing a second example of a method of arranging the spacer 50A with respect to the substrate 40 in the superconducting circuit device 1 according to the first embodiment. Similar to the first example, in the second example, the quantum circuit 22 is arranged in the region 20c near the center of the quantum circuit chip 20, and the spacer 50A-1 is arranged around the region 20c. However, a region in which the quantum circuit 22 is not arranged is provided in the substantially center of the region 20c, and the spacer 50A-2 is arranged in that region.

つまり、第2の例において、スペーサ50A−1は、量子回路22が配置された領域の周囲の領域(第1の領域)に配置されている。また、第2の例において、スペーサ50A−2は、量子回路22が配置された領域に挟まれた領域(第2の領域)に配置されている。言い換えると、スペーサ50A−2は、量子回路22が配置された領域に少なくとも一部を囲まれた領域(第2の領域)に配置されている。 That is, in the second example, the spacer 50A-1 is arranged in a region (first region) around the region in which the quantum circuit 22 is arranged. Further, in the second example, the spacer 50A-2 is arranged in a region (second region) sandwiched between the regions in which the quantum circuit 22 is arranged. In other words, the spacer 50A-2 is arranged in a region (second region) surrounded by at least a part of the region in which the quantum circuit 22 is arranged.

このように、量子回路チップ20の中央近傍にスペーサ50A−2を配置することで、量子回路チップ20の中央近傍の撓みを抑制できる。つまり、第1の例では、量子回路チップ20の中央近傍が支持されていないので量子回路チップ20の中央近傍が撓んでしまうおそれがある。これに対し、第2の例のように量子回路チップ20の中央近傍にスペーサ50A−2を配置することで、量子回路チップ20の中央付近の撓みを抑制できる。したがって、第1の例と比較して、上述した量子回路チップ20と基板40との間の距離の精度をさらに高めることができる。 By arranging the spacer 50A-2 near the center of the quantum circuit chip 20 in this way, bending of the quantum circuit chip 20 near the center can be suppressed. That is, in the first example, since the vicinity of the center of the quantum circuit chip 20 is not supported, the vicinity of the center of the quantum circuit chip 20 may be bent. On the other hand, by arranging the spacer 50A-2 near the center of the quantum circuit chip 20 as in the second example, bending near the center of the quantum circuit chip 20 can be suppressed. Therefore, the accuracy of the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 described above can be further improved as compared with the first example.

図8は、実施の形態1にかかる超伝導回路装置1における、基板40に対するスペーサ50Aの配置方法の第3の例を示す図である。第3の例では、スペーサ50Aは、量子回路22が配置された領域の周囲に配置されたスペーサ50A−1と、量子回路22が配置された領域に挟まれた領域に配置されたスペーサ50A−3とが、一体となって構成されている。 FIG. 8 is a diagram showing a third example of a method of arranging the spacer 50A with respect to the substrate 40 in the superconducting circuit device 1 according to the first embodiment. In the third example, the spacer 50A is a spacer 50A-1 arranged around the region where the quantum circuit 22 is arranged, and a spacer 50A- arranged in the region sandwiched between the region where the quantum circuit 22 is arranged. 3 is integrally configured.

具体的には、第1の例と同様に、スペーサ50A−1は、量子回路チップ20の外周近傍に配置されている。また、第3の例では、量子回路22は、量子回路チップ20の中央付近において、領域20cAと、領域20cBとに分かれて配置されている。そして、領域20cAと領域20cBとの間に、棒状のスペーサ50A−3が配置されている。 Specifically, as in the first example, the spacer 50A-1 is arranged near the outer circumference of the quantum circuit chip 20. Further, in the third example, the quantum circuit 22 is divided into a region 20cA and a region 20cB in the vicinity of the center of the quantum circuit chip 20. Then, a rod-shaped spacer 50A-3 is arranged between the region 20cA and the region 20cB.

つまり、スペーサ50A−1は、量子回路22が配置された領域(領域20cA,20cB)の周囲の領域(第1の領域)に配置されている。また、スペーサ50A−3は、量子回路22が配置された領域(領域20cA,20cB)に挟まれた領域(第2の領域)に配置されている。言い換えると、スペーサ50A−3は、量子回路22が配置された領域に少なくとも一部を囲まれた領域(第2の領域)に配置されている。 That is, the spacer 50A-1 is arranged in a region (first region) around the region (regions 20cA, 20cB) in which the quantum circuit 22 is arranged. Further, the spacer 50A-3 is arranged in a region (second region) sandwiched between regions (regions 20cA and 20cB) in which the quantum circuit 22 is arranged. In other words, the spacer 50A-3 is arranged in a region (second region) surrounded by at least a part of the region in which the quantum circuit 22 is arranged.

このように、第3の例のように量子回路チップ20の中央近傍にスペーサ50A−3を配置することで、第2の例と同様に、量子回路チップ20の撓みを抑制できる。したがって、第1の例と比較して、上述した量子回路チップ20と基板40との間の距離の精度をさらに高めることができる。また、第3の例では、スペーサ50A−1とスペーサ50A−3とが一体となっているので、第2の例と比較して、容易に、スペーサ50Aを基板40に配置することができる。 In this way, by arranging the spacer 50A-3 near the center of the quantum circuit chip 20 as in the third example, the deflection of the quantum circuit chip 20 can be suppressed as in the second example. Therefore, the accuracy of the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 described above can be further improved as compared with the first example. Further, in the third example, since the spacer 50A-1 and the spacer 50A-3 are integrated, the spacer 50A can be easily arranged on the substrate 40 as compared with the second example.

なお、図8の例では、量子回路22が配置される領域(領域20cA,20cB)の形状が矩形であるが、このような構成に限られない。スペーサ50A−3がスペーサ50A−1の対角線上に設けられてもよい。この場合、量子回路22が配置される領域(領域20cA,20cB)の形状は、三角形となる。このことは、後述する図9の例でも同様である。 In the example of FIG. 8, the shape of the region (regions 20cA, 20cB) where the quantum circuit 22 is arranged is rectangular, but the configuration is not limited to this. Spacers 50A-3 may be provided diagonally to spacers 50A-1. In this case, the shape of the region (regions 20cA, 20cB) where the quantum circuit 22 is arranged is triangular. This also applies to the example of FIG. 9 described later.

図9は、実施の形態1にかかる超伝導回路装置1における、基板40に対するスペーサ50Aの配置方法の第4の例を示す図である。第4の例では、スペーサ50Aは、量子回路22が配置された領域の周囲の一部に配置された2つのスペーサ50A−4と、量子回路22が配置された領域に挟まれた領域に配置されたスペーサ50A−3とで構成されている。 FIG. 9 is a diagram showing a fourth example of a method of arranging the spacer 50A with respect to the substrate 40 in the superconducting circuit device 1 according to the first embodiment. In the fourth example, the spacer 50A is arranged in a region sandwiched between two spacers 50A-4 arranged in a part around the region in which the quantum circuit 22 is arranged and the region in which the quantum circuit 22 is arranged. It is composed of the spacer 50A-3.

具体的には、第3の例と同様に、第4の例では、量子回路22は、量子回路チップ20の中央付近において、領域20cAと、領域20cBとに分かれて配置されている。そして、領域20cAと領域20cBとの間に、棒状のスペーサ50A−3が配置されている。また、2つのスペーサ50A−4は、量子回路チップ20の対向する辺にそれぞれ配置されている。なお、第4の例では、スペーサ50A−4は、配置されている量子回路チップ20の一辺を完全に覆うように配置されている。 Specifically, as in the third example, in the fourth example, the quantum circuit 22 is divided into a region 20cA and a region 20cB in the vicinity of the center of the quantum circuit chip 20. Then, a rod-shaped spacer 50A-3 is arranged between the region 20cA and the region 20cB. Further, the two spacers 50A-4 are arranged on opposite sides of the quantum circuit chip 20, respectively. In the fourth example, the spacer 50A-4 is arranged so as to completely cover one side of the arranged quantum circuit chip 20.

スペーサ50A−4は、量子回路22が配置された領域(領域20cA,20cB)の周囲の領域(第1の領域)に配置されている。また、スペーサ50A−3は、量子回路22が配置された領域(領域20cA,20cB)に挟まれた領域(第2の領域)に配置されている。言い換えると、スペーサ50A−3は、量子回路22が配置された領域に少なくとも一部を囲まれた領域(第2の領域)に配置されている。 The spacer 50A-4 is arranged in a region (first region) around the region (regions 20cA, 20cB) in which the quantum circuit 22 is arranged. Further, the spacer 50A-3 is arranged in a region (second region) sandwiched between regions (regions 20cA and 20cB) in which the quantum circuit 22 is arranged. In other words, the spacer 50A-3 is arranged in a region (second region) surrounded by at least a part of the region in which the quantum circuit 22 is arranged.

このように、量子回路チップ20の対向する辺に2つのスペーサ50A−4がそれぞれ配置されていることで、量子回路チップ20の外周側が撓むことが抑制される。また、量子回路チップ20の中央近傍にスペーサ50A−3を配置することで、第2の例と同様に、量子回路チップ20の中央近傍の撓みを抑制できる。したがって、第1の例と比較して、上述した量子回路チップ20と基板40との間の距離の精度をさらに高めることができる。 By arranging the two spacers 50A-4 on the opposite sides of the quantum circuit chip 20 in this way, the outer peripheral side of the quantum circuit chip 20 is suppressed from bending. Further, by arranging the spacer 50A-3 near the center of the quantum circuit chip 20, it is possible to suppress the deflection of the quantum circuit chip 20 near the center as in the second example. Therefore, the accuracy of the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 described above can be further improved as compared with the first example.

なお、図9では、スペーサ50A−3とスペーサ50A−4とが別個に配置されている。しかしながら、量子回路チップ20の辺のうち、棒状のスペーサ50A−3の両端近傍の辺(図9の縦方向の2辺)に、スペーサ50A−4を配置してもよい。こうすることで、スペーサ50A−3とスペーサ50A−4とを(H字形に)一体とすることができる。この場合、第3の例と同様に、容易に、スペーサ50Aを基板40に配置することができる。 In FIG. 9, the spacer 50A-3 and the spacer 50A-4 are arranged separately. However, among the sides of the quantum circuit chip 20, the spacer 50A-4 may be arranged on the sides (two sides in the vertical direction of FIG. 9) near both ends of the rod-shaped spacer 50A-3. By doing so, the spacer 50A-3 and the spacer 50A-4 can be integrated (in an H shape). In this case, the spacer 50A can be easily arranged on the substrate 40 as in the third example.

図10は、実施の形態1にかかる超伝導回路装置1における、基板40に対するスペーサ50Aの配置方法の第5の例を示す図である。第5の例では、スペーサ50Aは、量子回路22が配置された領域の周囲に配置されたスペーサ50A−1と、量子回路22が配置された領域に挟まれた領域に配置されたスペーサ50A−5とが、一体となって構成されている。 FIG. 10 is a diagram showing a fifth example of a method of arranging the spacer 50A with respect to the substrate 40 in the superconducting circuit device 1 according to the first embodiment. In the fifth example, the spacer 50A is a spacer 50A-1 arranged around the region where the quantum circuit 22 is arranged, and a spacer 50A- arranged in the region sandwiched between the region where the quantum circuit 22 is arranged. 5 is integrally configured.

具体的には、第1の例と同様に、第5の例では、スペーサ50A−1は、量子回路チップ20の外周近傍に配置されている。また、第5の例では、量子回路22は、量子回路チップ20の中央付近において、領域20cCと、領域20cDと、領域20cEと、領域20cFとに分かれて配置されている。そして、これらの4つの領域20cの間に、2つの棒が交差した形状(X字形)のスペーサ50A−5が配置されている。 Specifically, as in the first example, in the fifth example, the spacer 50A-1 is arranged near the outer periphery of the quantum circuit chip 20. Further, in the fifth example, the quantum circuit 22 is divided into a region 20cC, a region 20cD, a region 20cE, and a region 20cF near the center of the quantum circuit chip 20. Then, between these four regions 20c, spacers 50A-5 having a shape (X-shape) in which two rods intersect are arranged.

つまり、スペーサ50A−1は、量子回路22が配置された領域(領域20cC,20cD,20cE,20cF)の周囲の領域(第1の領域)に配置されている。また、スペーサ50A−5は、量子回路22が配置された領域(領域20cC,20cD,20cE,20cF)に挟まれた領域(第2の領域)に配置されている。言い換えると、スペーサ50A−5は、量子回路22が配置された領域に少なくとも一部を囲まれた領域(第2の領域)に配置されている。なお、図10では、スペーサ50A−5は、2つの斜め方向の棒が交差した形状であるが、スペーサ50A−5は、縦方向の横と横方向の棒とが交差した形状であってもよい。 That is, the spacer 50A-1 is arranged in a region (first region) around the region (regions 20cC, 20cD, 20cE, 20cF) in which the quantum circuit 22 is arranged. Further, the spacer 50A-5 is arranged in a region (second region) sandwiched between regions (regions 20cC, 20cD, 20cE, 20cF) in which the quantum circuit 22 is arranged. In other words, the spacer 50A-5 is arranged in a region (second region) surrounded by at least a part of the region in which the quantum circuit 22 is arranged. In FIG. 10, the spacer 50A-5 has a shape in which two diagonal rods intersect, but the spacer 50A-5 has a shape in which the vertical horizontal and horizontal rods intersect. Good.

このように、第5の例のように量子回路チップ20の中央近傍にスペーサ50A−5を配置することで、第2の例と同様に、量子回路チップ20の中央近傍の撓みを抑制できる。したがって、第1の例と比較して、上述した量子回路チップ20と基板40との間の距離の精度をさらに高めることができる。また、第5の例では、スペーサ50A−1とスペーサ50A−3とが一体となっているので、第2の例などと比較して、容易に、スペーサ50Aを基板40に配置することができる。 In this way, by arranging the spacer 50A-5 near the center of the quantum circuit chip 20 as in the fifth example, it is possible to suppress the deflection of the quantum circuit chip 20 near the center as in the second example. Therefore, the accuracy of the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 described above can be further improved as compared with the first example. Further, in the fifth example, since the spacer 50A-1 and the spacer 50A-3 are integrated, the spacer 50A can be easily arranged on the substrate 40 as compared with the second example and the like. ..

さらに、図10のスペーサ50A−5の面積は、図8のスペーサ50A−3の面積よりも大きい。したがって、第5の例では、第3の例と比較して、量子回路チップ20の中央近傍で量子回路チップ20を支持するスペーサ50Aの面積が大きい。したがって、量子回路チップ20全体の撓みをさらに抑制できる。 Further, the area of the spacer 50A-5 in FIG. 10 is larger than the area of the spacer 50A-3 in FIG. Therefore, in the fifth example, the area of the spacer 50A that supports the quantum circuit chip 20 is larger in the vicinity of the center of the quantum circuit chip 20 than in the third example. Therefore, the deflection of the entire quantum circuit chip 20 can be further suppressed.

図11は、実施の形態1にかかる超伝導回路装置1における、基板40に対するスペーサ50Aの配置方法の第6の例を示す図である。第6の例では、スペーサ50Aは、量子回路22が配置された領域の周囲に配置された4つのスペーサ50A−6と、量子回路22が配置された領域に挟まれた領域に配置されたスペーサ50A−5とが、一体となって構成されている。 FIG. 11 is a diagram showing a sixth example of a method of arranging the spacer 50A with respect to the substrate 40 in the superconducting circuit device 1 according to the first embodiment. In the sixth example, the spacer 50A is a spacer arranged in a region sandwiched between four spacers 50A-6 arranged around the region where the quantum circuit 22 is arranged and the region where the quantum circuit 22 is arranged. 50A-5 and 50A-5 are integrally configured.

具体的には、4つのスペーサ50A−6は、量子回路チップ20の4つの角部近傍に配置されている。また、第5の例と同様に、第6の例では、量子回路22は、量子回路チップ20の中央付近において、領域20cCと、領域20cDと、領域20cEと、領域20cFとに分かれて配置されている。そして、これらの4つの領域20cの間に、2つの棒が交差した形状のスペーサ50A−5が配置されている。 Specifically, the four spacers 50A-6 are arranged near the four corners of the quantum circuit chip 20. Further, similarly to the fifth example, in the sixth example, the quantum circuit 22 is divided into a region 20cC, a region 20cD, a region 20cE, and a region 20cF in the vicinity of the center of the quantum circuit chip 20. ing. Then, between these four regions 20c, spacers 50A-5 having a shape in which two rods intersect are arranged.

つまり、スペーサ50A−6は、量子回路22が配置された領域(領域20cC,20cD,20cE,20cF)の周囲の領域(第1の領域)に配置されている。また、スペーサ50A−5は、量子回路22が配置された領域(領域20cC,20cD,20cE,20cF)に挟まれた領域(第2の領域)に配置されている。言い換えると、スペーサ50A−5は、量子回路22が配置された領域に少なくとも一部を囲まれた領域(第2の領域)に配置されている。 That is, the spacer 50A-6 is arranged in a region (first region) around the region (regions 20cC, 20cD, 20cE, 20cF) in which the quantum circuit 22 is arranged. Further, the spacer 50A-5 is arranged in a region (second region) sandwiched between regions (regions 20cC, 20cD, 20cE, 20cF) in which the quantum circuit 22 is arranged. In other words, the spacer 50A-5 is arranged in a region (second region) surrounded by at least a part of the region in which the quantum circuit 22 is arranged.

第6の例のように4つのスペーサ50A−6が量子回路チップ20の4つの角部近傍に配置されていることで、量子回路チップ20の角部が撓むことを抑制できる。また、第6の例のように量子回路チップ20の中央近傍にスペーサ50A−5を配置することで、第2の例と同様に、量子回路チップ20の中央近傍の撓みを抑制できる。したがって、第1の例と比較して、上述した量子回路チップ20と基板40との間の距離の精度をさらに高めることができる。また、第6の例では、4つのスペーサ50A−6とスペーサ50A−3とが一体となっているので、第2の例などと比較して、容易に、スペーサ50Aを基板40に配置することができる。 By arranging the four spacers 50A-6 in the vicinity of the four corners of the quantum circuit chip 20 as in the sixth example, it is possible to prevent the corners of the quantum circuit chip 20 from bending. Further, by arranging the spacer 50A-5 near the center of the quantum circuit chip 20 as in the sixth example, it is possible to suppress the deflection of the quantum circuit chip 20 near the center as in the second example. Therefore, the accuracy of the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 described above can be further improved as compared with the first example. Further, in the sixth example, since the four spacers 50A-6 and the spacers 50A-3 are integrated, the spacers 50A can be easily arranged on the substrate 40 as compared with the second example and the like. Can be done.

図6〜図11に示した例において、量子回路22を動作させる温度で常伝導状態であるチタン材料のスペーサ50Aが用いられ得る。したがって、基板40と量子回路チップ20との間の熱伝導パスを効果的に実現できる。特に、図10に示した第5の例のように、基板40と接触しているスペーサ50Aの面積が大きいほど、その熱伝導パスによる冷却効果が高くなり得る。 In the examples shown in FIGS. 6 to 11, a spacer 50A made of titanium material, which is in a normal conduction state at a temperature at which the quantum circuit 22 is operated, can be used. Therefore, the heat conduction path between the substrate 40 and the quantum circuit chip 20 can be effectively realized. In particular, as in the fifth example shown in FIG. 10, the larger the area of the spacer 50A in contact with the substrate 40, the higher the cooling effect due to the heat conduction path can be.

また、スペーサ50Aは、量子回路チップ20の量子回路22が配置されている領域20cに接触しないように配置されている。仮に、スペーサ50Aが量子回路22と接触してしまうと、インダクティブ結合14又はキャパシティブ結合12の途中にスペーサ50Aが存在することとなる可能性がある。この場合、インダクティブ結合14又はキャパシティブ結合12を効果的に機能させることができなくなるおそれがある。一方、本実施の形態では、スペーサ50Aが、量子回路チップ20の量子回路22が配置されている領域20cに接触しないように配置されているので、インダクティブ結合14又はキャパシティブ結合12の機能の低下を抑制させることができる。 Further, the spacer 50A is arranged so as not to come into contact with the region 20c in which the quantum circuit 22 of the quantum circuit chip 20 is arranged. If the spacer 50A comes into contact with the quantum circuit 22, the spacer 50A may be present in the middle of the inductive coupling 14 or the capacitive coupling 12. In this case, the inductive bond 14 or the capacity bond 12 may not be able to function effectively. On the other hand, in the present embodiment, since the spacer 50A is arranged so as not to come into contact with the region 20c in which the quantum circuit 22 of the quantum circuit chip 20 is arranged, the function of the inductive coupling 14 or the capacity coupling 12 is deteriorated. It can be suppressed.

但し、量子回路22の近傍で量子回路チップ20が撓むことを抑制するために、スペーサ50Aは、量子回路22が配置されている領域20cのできるだけ近くに配置することが好ましい。つまり、量子回路22が配置されている領域20cとスペーサ50Aとの間の最短距離は、できるだけ短い方がよい。 However, in order to prevent the quantum circuit chip 20 from bending in the vicinity of the quantum circuit 22, the spacer 50A is preferably arranged as close as possible to the region 20c in which the quantum circuit 22 is arranged. That is, the shortest distance between the region 20c in which the quantum circuit 22 is arranged and the spacer 50A should be as short as possible.

上述したように、本実施の形態においては、チタン材料(チタン又はチタン合金)で形成されたスペーサ50が量子回路チップ20と基板40との間の予め定められた位置に配置されている。これにより、量子回路チップ20と基板40との間の距離を、極めて精度よく調整することが可能である。したがって、本実施の形態にかかる超伝導回路装置1は、上述したように、装置全体としての性能を向上させることが可能である。 As described above, in the present embodiment, the spacer 50 made of the titanium material (titanium or titanium alloy) is arranged at a predetermined position between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40. This makes it possible to adjust the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 with extremely high accuracy. Therefore, the superconducting circuit device 1 according to the present embodiment can improve the performance of the device as a whole, as described above.

また、本実施の形態においては、スペーサ50は、量子回路22が配置された領域20cの周囲の領域に配置され得る。これにより、上述したように、量子回路チップ20の外周近傍が撓むことが抑制される。したがって、量子回路チップ20と基板40との間の距離を、量子回路チップ20の全域に亘って、極めて精度よく調整することが可能である。また、スペーサ50は、量子回路22が配置された領域20cに挟まれた領域に配置され得る。これにより、量子回路22が配置された量子回路チップ20の中央近傍で量子回路チップ20が撓むことが抑制される。したがって、量子回路チップ20と基板40との間の距離を、量子回路チップ20の全域に亘って、さらに精度よく調整することが可能である。また、スペーサ50Aは、量子回路22が配置された領域の周囲の領域(第1の領域)に配置される部分と、量子回路22が配置された領域に挟まれた領域(第2の領域)に配置される部分とが、一体となるように形成され得る。これにより、容易に、スペーサ50Aを基板40に配置することができる。 Further, in the present embodiment, the spacer 50 may be arranged in a region around the region 20c in which the quantum circuit 22 is arranged. As a result, as described above, bending of the vicinity of the outer circumference of the quantum circuit chip 20 is suppressed. Therefore, the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 can be adjusted with extremely high accuracy over the entire area of the quantum circuit chip 20. Further, the spacer 50 may be arranged in a region sandwiched between the regions 20c in which the quantum circuit 22 is arranged. As a result, the quantum circuit chip 20 is prevented from bending near the center of the quantum circuit chip 20 in which the quantum circuit 22 is arranged. Therefore, the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 can be adjusted more accurately over the entire area of the quantum circuit chip 20. Further, the spacer 50A is a region (second region) sandwiched between a portion arranged in a region (first region) around the region in which the quantum circuit 22 is arranged and a region in which the quantum circuit 22 is arranged. The portions arranged in the can be formed so as to be integrated with each other. Thereby, the spacer 50A can be easily arranged on the substrate 40.

また、実施の形態1においては、スペーサ50Aは、量子回路22を動作させる温度で常伝導状態であるチタン材料で形成されている。したがって、上述したように、基板40と量子回路チップ20との間の熱伝導パスを効果的に実現できる。したがって、量子回路チップ20を効率的に冷却することが可能となる。 Further, in the first embodiment, the spacer 50A is made of a titanium material which is in a normal conduction state at a temperature at which the quantum circuit 22 is operated. Therefore, as described above, the heat conduction path between the substrate 40 and the quantum circuit chip 20 can be effectively realized. Therefore, the quantum circuit chip 20 can be cooled efficiently.

なお、図2に示した方法では、ICチップ93に銅で形成された高さ規制部材96が形成されている。この方法では、高さ規制部材96を形成するために、ICチップ93が多数形成されているウエハ上に銅をメッキで積層した後、CMP(Chemical Mechanical Polishing)によって平坦化をすることで高さ規制部材96を形成し、そのあとでウエハを切断して各チップに個片化する必要がある。その場合、CMPによって平坦化をしたあとのウエハの平坦度にムラが生じることを避けられないため、ウエハの位置によって高さ規制部材96の高さが異なってしまう。そのため、高さ規制部材96を設計通りの高さで精度よく作製することが困難であるという問題がある。また、この方法では、メッキ装置及び研磨装置等が必要となり、作業工程の複雑化及びコストの高騰を招来するおそれがある。 In the method shown in FIG. 2, a height regulating member 96 made of copper is formed on the IC chip 93. In this method, in order to form the height regulating member 96, copper is laminated by plating on a wafer on which a large number of IC chips 93 are formed, and then flattened by CMP (Chemical Mechanical Polishing) to form a height. It is necessary to form the regulating member 96, and then cut the wafer to separate it into individual chips. In that case, it is inevitable that the flatness of the wafer after being flattened by CMP will be uneven, so that the height of the height regulating member 96 will differ depending on the position of the wafer. Therefore, there is a problem that it is difficult to accurately manufacture the height regulating member 96 at the height as designed. In addition, this method requires a plating device, a polishing device, and the like, which may complicate the work process and increase the cost.

一方、本実施の形態にかかるスペーサ50は、量子回路チップ20とは別個に製造される。したがって、量子回路チップ20を個片化したあとに、基板40上にスペーサ50を置くだけでよい。したがって、本実施の形態では、メッキ装置及び研磨装置が不要であるので、図2の例と比較して、作業工程が簡略化でき、コストも削減され得る。また、スペーサ50は、極めて精度よく成形され得る。さらに、スペーサ50は、基板40と別に製造され得る。したがって、基板40の表面処理を精度よく行った後でスペーサ50を置くことで、基板40からスペーサ50の上面までの高さの精度を極めて高くすることができる。 On the other hand, the spacer 50 according to the present embodiment is manufactured separately from the quantum circuit chip 20. Therefore, it is only necessary to place the spacer 50 on the substrate 40 after the quantum circuit chip 20 is fragmented. Therefore, in the present embodiment, since the plating device and the polishing device are not required, the work process can be simplified and the cost can be reduced as compared with the example of FIG. Further, the spacer 50 can be molded with extremely high accuracy. Further, the spacer 50 may be manufactured separately from the substrate 40. Therefore, by placing the spacer 50 after performing the surface treatment of the substrate 40 with high accuracy, the accuracy of the height from the substrate 40 to the upper surface of the spacer 50 can be made extremely high.

(実施の形態2)
次に、実施の形態2について説明する。説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略、及び簡略化がなされている。また、各図面において、同一の要素には同一の符号が付されており、必要に応じて重複説明は省略されている。実施の形態2は、スペーサ50の特性が実施の形態1にかかるものと異なる点で、実施の形態1と異なる。
(Embodiment 2)
Next, the second embodiment will be described. In order to clarify the explanation, the following description and drawings have been omitted or simplified as appropriate. Further, in each drawing, the same elements are designated by the same reference numerals, and duplicate explanations are omitted as necessary. The second embodiment is different from the first embodiment in that the characteristics of the spacer 50 are different from those of the first embodiment.

図12は、実施の形態2にかかる超伝導回路装置1を示す図である。実施の形態2にかかる超伝導回路装置1の構成は、後述するスペーサ50の特性を除いて、図3に示したものと実質的に同様である。つまり、実施の形態2にかかる超伝導回路装置1は、量子回路22と電極24とが形成された量子回路チップ20と、電極44が形成された基板40と、チタン又はチタン合金で形成されたスペーサ50とを有する。また、実施の形態2にかかる超伝導回路装置1の製造方法は、図4及び図5に示した方法であってもよい。 FIG. 12 is a diagram showing a superconducting circuit device 1 according to the second embodiment. The configuration of the superconducting circuit device 1 according to the second embodiment is substantially the same as that shown in FIG. 3, except for the characteristics of the spacer 50 described later. That is, the superconducting circuit device 1 according to the second embodiment is formed of a quantum circuit chip 20 in which the quantum circuit 22 and the electrode 24 are formed, a substrate 40 in which the electrode 44 is formed, and titanium or a titanium alloy. It has a spacer 50 and. Further, the method for manufacturing the superconducting circuit device 1 according to the second embodiment may be the method shown in FIGS. 4 and 5.

したがって、実施の形態2においても、上述したような、量子回路チップ20と基板40との間の距離を、極めて精度よく調整することが可能である。したがって、実施の形態2にかかる超伝導回路装置1は、実施の形態1と同様に、装置全体としての性能を向上させることが可能である。 Therefore, also in the second embodiment, it is possible to adjust the distance between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 with extremely high accuracy as described above. Therefore, the superconducting circuit device 1 according to the second embodiment can improve the performance of the device as a whole as in the first embodiment.

ここで、実施の形態2にかかるスペーサ50Bは、実施の形態1にかかるスペーサ50Aと異なり、量子回路22を動作させる温度において超伝導状態になるチタン材料で形成されている。つまり、実施の形態2にかかるスペーサ50Bは、量子回路22を動作させる温度において超伝導状態である。これは、スペーサ50Bを磁気シールドとしても機能させるためである。以下、詳述する。なお、上述したように、チタンは、非常に純度が高く結晶性の高い試料を作製できた場合、量子回路22を動作させるような極低温、例えば100mK以下のような極低温、で、超伝導状態である。したがって、実施の形態2にかかるスペーサ50Bは、純度が高く結晶性の良いチタン材料(チタン及びチタン合金)で形成され得る。 Here, the spacer 50B according to the second embodiment is made of a titanium material that is in a superconducting state at a temperature at which the quantum circuit 22 is operated, unlike the spacer 50A according to the first embodiment. That is, the spacer 50B according to the second embodiment is in a superconducting state at the temperature at which the quantum circuit 22 is operated. This is because the spacer 50B also functions as a magnetic shield. The details will be described below. As described above, titanium is superconducting at an extremely low temperature such that the quantum circuit 22 is operated, for example, an extremely low temperature such as 100 mK or less, when a sample having extremely high purity and high crystallinity can be prepared. It is in a state. Therefore, the spacer 50B according to the second embodiment can be formed of a titanium material (titanium and a titanium alloy) having high purity and good crystallinity.

一般的に、超伝導量子回路は、磁気に非常に敏感であり、例えば地磁気程度の非常に微弱な磁気が存在するだけでも敏感に反応して誤動作を発生してしまうおそれがある。また、超伝導量子回路を動作させる環境には、地磁気以外にも、様々な磁気ノイズが存在し得る。したがって、そのような微弱な磁気ノイズから超伝導量子回路を遮蔽(シールド)することが望ましい。 In general, superconducting quantum circuits are very sensitive to magnetism, and even the presence of very weak magnetism, such as geomagnetism, may react sensitively and cause malfunctions. In addition to geomagnetism, various magnetic noises may exist in the environment in which the superconducting quantum circuit is operated. Therefore, it is desirable to shield the superconducting quantum circuit from such weak magnetic noise.

実施の形態2では、スペーサ50Bに超伝導材料を用いることにより、この磁気シールドの機能を実現する。超伝導材料は、マイスナー効果による完全反磁性という超伝導特有の性質により、非常に高性能な磁気シールドとして機能し得る。したがって、スペーサ50Bは、図12に示すように、矢印Aで示すような非常に微弱な磁気ノイズから、量子回路22を遮蔽することができる。したがって、実施の形態2にかかる超伝導回路装置1は、量子回路22が誤動作を発生する確率を低減することができる。 In the second embodiment, the function of this magnetic shield is realized by using a superconducting material for the spacer 50B. The superconducting material can function as a very high-performance magnetic shield due to the unique property of superconductivity, which is the complete antimagnetism due to the Meissner effect. Therefore, as shown in FIG. 12, the spacer 50B can shield the quantum circuit 22 from the very weak magnetic noise as shown by the arrow A. Therefore, the superconducting circuit device 1 according to the second embodiment can reduce the probability that the quantum circuit 22 will malfunction.

なお、基板40に対するスペーサ50Bの配置方法は、図6〜図11に例示したものを採用可能である。特に、図6〜図8,図10に例示するように、量子回路チップ20の外周近傍の全域にスペーサ50Bを配置することで、量子回路22を、外周から侵入する磁気ノイズから遮蔽することができる。言い換えると、スペーサ50Bによって、量子回路22に対する磁気ノイズの影響を抑制できる。 As the method of arranging the spacer 50B with respect to the substrate 40, those illustrated in FIGS. 6 to 11 can be adopted. In particular, as illustrated in FIGS. 6 to 8 and 10, by arranging the spacer 50B in the entire area near the outer circumference of the quantum circuit chip 20, the quantum circuit 22 can be shielded from magnetic noise invading from the outer circumference. it can. In other words, the spacer 50B can suppress the influence of magnetic noise on the quantum circuit 22.

なお、図9に例示した配置方法であっても、スペーサ50Bが量子回路22に対する地磁気(磁気ノイズ)の影響を抑制することがあり得る。地磁気は地球の南北方向に強く働く。したがって、図9の2つのスペーサ50A−4の位置にスペーサ50Bを配置し、この2つのスペーサ50Bが量子回路22のそれぞれ北側及び南側に配置されるように超伝導回路装置1を置くことで、量子回路22に対する地磁気(磁気ノイズ)の影響を抑制し得る。言い換えると、図9の上方が北方向又は南方向となるように超伝導回路装置1を置き、2つのスペーサ50Bの長手方向が東西方向に沿って配置されるようにすることで、量子回路22に対する地磁気(磁気ノイズ)の影響を抑制し得る。なお、量子回路チップ20の縦方向の辺から量子回路22(領域20cA)までの距離をできるだけ空けることで、さらに、量子回路22に対する地磁気(磁気ノイズ)の影響を抑制することができる。 Even with the arrangement method illustrated in FIG. 9, the spacer 50B may suppress the influence of geomagnetism (magnetic noise) on the quantum circuit 22. Geomagnetism works strongly in the north-south direction of the earth. Therefore, by arranging the spacers 50B at the positions of the two spacers 50A-4 in FIG. 9, and arranging the superconducting circuit device 1 so that the two spacers 50B are arranged on the north side and the south side of the quantum circuit 22, respectively. The influence of geomagnetism (magnetic noise) on the quantum circuit 22 can be suppressed. In other words, the superconducting circuit device 1 is placed so that the upper part of FIG. 9 is in the north direction or the south direction, and the longitudinal directions of the two spacers 50B are arranged along the east-west direction. The influence of geomagnetism (magnetic noise) on the ground can be suppressed. By keeping the distance from the vertical side of the quantum circuit chip 20 to the quantum circuit 22 (region 20cA) as much as possible, the influence of geomagnetism (magnetic noise) on the quantum circuit 22 can be further suppressed.

(実施の形態3)
次に、実施の形態3について説明する。説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略、及び簡略化がなされている。また、各図面において、同一の要素には同一の符号が付されており、必要に応じて重複説明は省略されている。実施の形態3は、異なる特性のスペーサ50が同じ基板40(超伝導回路装置1)に配置されている点で、他の実施の形態と異なる。
(Embodiment 3)
Next, the third embodiment will be described. In order to clarify the explanation, the following description and drawings have been omitted or simplified as appropriate. Further, in each drawing, the same elements are designated by the same reference numerals, and duplicate explanations are omitted as necessary. The third embodiment is different from other embodiments in that spacers 50 having different characteristics are arranged on the same substrate 40 (superconducting circuit device 1).

図13〜図15は、実施の形態3にかかる超伝導回路装置1における、基板40に対するスペーサ50の配置方法の例を示す図である。図13〜図15は、超伝導回路装置1を上(図3の上方向)から見た平面図である。但し、説明のため、図13〜図15において、量子回路チップ20は透過しているように示されている。また、図13〜図15では、位置決め部材60の図示を省略している。 13 to 15 are views showing an example of a method of arranging the spacer 50 with respect to the substrate 40 in the superconducting circuit device 1 according to the third embodiment. 13 to 15 are plan views of the superconducting circuit device 1 as viewed from above (upward in FIG. 3). However, for the sake of explanation, the quantum circuit chip 20 is shown to be transparent in FIGS. 13 to 15. Further, in FIGS. 13 to 15, the positioning member 60 is not shown.

図13は、実施の形態3にかかる超伝導回路装置1における、基板40に対するスペーサ50の配置方法の第1の例を示す図である。図13に示す配置方法は、図7に示した配置方法に対応している。ここで、図13に示す例では、量子回路チップ20の中央近傍の領域20cに量子回路22が配置され、その領域20cの周囲にスペーサ50Bが配置されている。そして、領域20cの略中央に量子回路22が配置されない領域が設けられており、その領域にスペーサ50Aが配置されている。 FIG. 13 is a diagram showing a first example of a method of arranging the spacer 50 with respect to the substrate 40 in the superconducting circuit device 1 according to the third embodiment. The arrangement method shown in FIG. 13 corresponds to the arrangement method shown in FIG. 7. Here, in the example shown in FIG. 13, the quantum circuit 22 is arranged in the region 20c near the center of the quantum circuit chip 20, and the spacer 50B is arranged around the region 20c. A region in which the quantum circuit 22 is not arranged is provided in the substantially center of the region 20c, and the spacer 50A is arranged in that region.

つまり、図13に示す例において、量子回路22を動作させる温度の温度において超伝導状態であるスペーサ50Bが、量子回路22が配置された領域の周囲の領域(第1の領域)に配置されている。また、量子回路22を動作させる温度の温度において常伝導状態であるスペーサ50Aが、量子回路22が配置された領域に挟まれた領域(第2の領域)に配置されている。言い換えると、スペーサ50Aは、量子回路22が配置された領域に少なくとも一部を囲まれた領域(第2の領域)に配置されている。 That is, in the example shown in FIG. 13, the spacer 50B, which is in a superconducting state at the temperature at which the quantum circuit 22 is operated, is arranged in a region (first region) around the region in which the quantum circuit 22 is arranged. There is. Further, the spacer 50A, which is in a normal conduction state at the temperature at which the quantum circuit 22 is operated, is arranged in a region (second region) sandwiched between the regions in which the quantum circuit 22 is arranged. In other words, the spacer 50A is arranged in a region (second region) surrounded by at least a part of the region in which the quantum circuit 22 is arranged.

図14は、実施の形態3にかかる超伝導回路装置1における、基板40に対するスペーサ50の配置方法の第2の例を示す図である。図14に示す配置方法は、図8に示した配置方法に対応している。ここで、図14に示す例では、量子回路22が配置された領域の周囲にスペーサ50Bが配置されている。また、量子回路22は、量子回路チップ20の中央付近において、領域20cAと、領域20cBとに分かれて配置されている。そして、領域20cAと領域20cBとの間に、棒状のスペーサ50Aが配置されている。 FIG. 14 is a diagram showing a second example of a method of arranging the spacer 50 with respect to the substrate 40 in the superconducting circuit device 1 according to the third embodiment. The arrangement method shown in FIG. 14 corresponds to the arrangement method shown in FIG. Here, in the example shown in FIG. 14, the spacer 50B is arranged around the region where the quantum circuit 22 is arranged. Further, the quantum circuit 22 is divided into a region 20cA and a region 20cB in the vicinity of the center of the quantum circuit chip 20. A rod-shaped spacer 50A is arranged between the region 20cA and the region 20cB.

つまり、図14に示す例において、量子回路22を動作させる温度の温度において超伝導状態であるスペーサ50Bが、量子回路22が配置された領域の周囲の領域(第1の領域)に配置されている。また、量子回路22を動作させる温度の温度において常伝導状態であるスペーサ50Aが、量子回路22が配置された領域に挟まれた領域(第2の領域)に配置されている。言い換えると、スペーサ50Aは、量子回路22が配置された領域に少なくとも一部を囲まれた領域(第2の領域)に配置されている。 That is, in the example shown in FIG. 14, the spacer 50B, which is in a superconducting state at the temperature at which the quantum circuit 22 is operated, is arranged in a region (first region) around the region in which the quantum circuit 22 is arranged. There is. Further, the spacer 50A, which is in a normal conduction state at the temperature at which the quantum circuit 22 is operated, is arranged in a region (second region) sandwiched between the regions in which the quantum circuit 22 is arranged. In other words, the spacer 50A is arranged in a region (second region) surrounded by at least a part of the region in which the quantum circuit 22 is arranged.

図15は、実施の形態3にかかる超伝導回路装置1における、基板40に対するスペーサ50の配置方法の第3の例を示す図である。図15に示す配置方法は、図10に示した配置方法に対応している。ここで、図15に示す例では、量子回路22が配置された領域の周囲にスペーサ50Bが配置されている。また、量子回路22は、量子回路チップ20の中央付近において、領域20cCと、領域20cDと、領域20cEと、領域20cFとに分かれて配置されている。そして、これらの4つの領域20cの間に、2つの棒が交差した形状のスペーサ50Aが配置されている。 FIG. 15 is a diagram showing a third example of a method of arranging the spacer 50 with respect to the substrate 40 in the superconducting circuit device 1 according to the third embodiment. The arrangement method shown in FIG. 15 corresponds to the arrangement method shown in FIG. Here, in the example shown in FIG. 15, the spacer 50B is arranged around the region where the quantum circuit 22 is arranged. Further, the quantum circuit 22 is divided into a region 20cC, a region 20cD, a region 20cE, and a region 20cF near the center of the quantum circuit chip 20. Then, between these four regions 20c, a spacer 50A having a shape in which two rods intersect is arranged.

つまり、図15に示す例において、量子回路22を動作させる温度の温度において超伝導状態であるスペーサ50Bが、量子回路22が配置された領域の周囲の領域(第1の領域)に配置されている。また、量子回路22を動作させる温度の温度において常伝導状態であるスペーサ50Aが、量子回路22が配置された領域に挟まれた領域(第2の領域)に配置されている。言い換えると、スペーサ50Aは、量子回路22が配置された領域に少なくとも一部を囲まれた領域(第2の領域)に配置されている。 That is, in the example shown in FIG. 15, the spacer 50B, which is in a superconducting state at the temperature at which the quantum circuit 22 is operated, is arranged in a region (first region) around the region in which the quantum circuit 22 is arranged. There is. Further, the spacer 50A, which is in a normal conduction state at the temperature at which the quantum circuit 22 is operated, is arranged in a region (second region) sandwiched between the regions in which the quantum circuit 22 is arranged. In other words, the spacer 50A is arranged in a region (second region) surrounded by at least a part of the region in which the quantum circuit 22 is arranged.

以上説明したように、実施の形態3では、スペーサ50は、量子回路22が配置された領域の周囲の領域(第1の領域)と、量子回路22が配置された領域に挟まれた領域(第2の領域)とに配置されている。そして、第1の領域に配置された部分(スペーサ50B)は、量子回路22を動作させる温度の温度において超伝導状態であり、第2の領域に配置された部分(スペーサ50A)は、量子回路22を動作させる温度の温度において常伝導状態である。 As described above, in the third embodiment, the spacer 50 has a region (first region) around the region where the quantum circuit 22 is arranged and a region (first region) sandwiched between the region where the quantum circuit 22 is arranged (the region). It is arranged in the second area). The portion (spacer 50B) arranged in the first region is in a superconducting state at the temperature at which the quantum circuit 22 is operated, and the portion (spacer 50A) arranged in the second region is the quantum circuit. It is in a normal conduction state at the temperature at which 22 is operated.

量子回路22を動作させる温度の温度において超伝導状態であるスペーサ50Bが、量子回路22が配置された領域の周囲の領域(第1の領域)に配置されていることで、実施の形態2のように、量子回路22に対する磁気ノイズを遮断することができる。また、量子回路22を動作させる温度の温度において常伝導状態であるスペーサ50Aが、量子回路22が配置された領域に挟まれた領域(第2の領域)に配置されていることで、実施の形態1のように、量子回路チップ20を効率的に冷却することができる。したがって、実施の形態3にかかる超伝導回路装置1では、スペーサ50が、磁気シールド及び熱伝導パスの両方の機能を果たすことが可能となる。なお、図13〜図15の例では、量子回路チップ20の外周近傍及び中央近傍にスペーサ50が配置されているので、実施の形態1と同様に、量子回路チップ20と基板40との間の距離の精度をさらに高めることができる。 The spacer 50B, which is in a superconducting state at the temperature at which the quantum circuit 22 is operated, is arranged in a region (first region) around the region in which the quantum circuit 22 is arranged. As described above, the magnetic noise for the quantum circuit 22 can be blocked. Further, the spacer 50A, which is in a normal conduction state at the temperature at which the quantum circuit 22 is operated, is arranged in the region (second region) sandwiched between the regions in which the quantum circuit 22 is arranged. As in the first embodiment, the quantum circuit chip 20 can be efficiently cooled. Therefore, in the superconducting circuit device 1 according to the third embodiment, the spacer 50 can function as both a magnetic shield and a heat conduction path. In the examples of FIGS. 13 to 15, since the spacer 50 is arranged near the outer periphery and the center of the quantum circuit chip 20, the space between the quantum circuit chip 20 and the substrate 40 is similar to that of the first embodiment. The accuracy of the distance can be further improved.

なお、実施の形態3においては、スペーサ50Aとスペーサ50Bとで超伝導の特性が異なるので、図14及び図15において、スペーサ50Aとスペーサ50Bとは、一体でなくてもよい。つまり、実施の形態3において、スペーサ50Aとスペーサ50Bとは、別個に製造され得る。なお、超伝導の特性が異なるスペーサ50Aとスペーサ50Bと一体とすることが可能であれば、両者を一体としてもよい。これにより、上述したように、スペーサ50を基板40に容易に配置することが可能となる。 In the third embodiment, the spacer 50A and the spacer 50B have different superconducting characteristics. Therefore, in FIGS. 14 and 15, the spacer 50A and the spacer 50B do not have to be integrated. That is, in the third embodiment, the spacer 50A and the spacer 50B can be manufactured separately. If it is possible to integrate the spacer 50A and the spacer 50B, which have different superconducting characteristics, they may be integrated. This makes it possible to easily arrange the spacer 50 on the substrate 40 as described above.

(変形例)
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、実施の形態1において、スペーサ50の配置方法は、図6〜図11に例示したものに限られない。
(Modification example)
The present invention is not limited to the above embodiment, and can be appropriately modified without departing from the spirit. For example, in the first embodiment, the method of arranging the spacer 50 is not limited to that illustrated in FIGS. 6 to 11.

例えば、図6に例示したように量子回路チップ20の外周近傍にスペーサ50を配置し、さらに、外周近傍に配置されたスペーサ50の内側に、外周近傍に配置されたスペーサ50と同様の形状のスペーサ50を配置してもよい。つまり、中空の四角形(四辺形)の形状のスペーサ50が二重に配置されてもよい。さらに、スペーサ50は、図6に例示するような四辺形の形状に配置される必要はない。スペーサ50は、量子回路チップ20の外周形状に合わせて、適宜、配置され得る。例えば、量子回路チップ20の外周形状が円形である場合、スペーサ50は、円形に配置され得る。これらのことは、他の実施の形態においても同様である。 For example, as illustrated in FIG. 6, the spacer 50 is arranged near the outer circumference of the quantum circuit chip 20, and further, inside the spacer 50 arranged near the outer circumference, the shape is similar to that of the spacer 50 arranged near the outer circumference. The spacer 50 may be arranged. That is, the spacer 50 in the shape of a hollow quadrangle (quadrilateral) may be doubly arranged. Further, the spacer 50 need not be arranged in a quadrilateral shape as illustrated in FIG. The spacer 50 may be appropriately arranged according to the outer peripheral shape of the quantum circuit chip 20. For example, when the outer peripheral shape of the quantum circuit chip 20 is circular, the spacer 50 may be arranged in a circular shape. These things are the same in other embodiments.

上記の実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、以下には限られない。
(付記1)
超伝導材料を用いた量子回路と第1の電極とが形成された量子回路チップと、
第2の電極が形成された基板と、
スペーサと
を有し、
前記第1の電極と前記第2の電極とはバンプで接続されており、
前記スペーサは、チタン又はチタン合金で形成され、量子回路チップと基板との間の予め定められた位置に配置されている
超伝導回路装置。
(付記2)
前記基板には、第3の電極が形成されており、
前記第3の電極と前記量子回路とが、キャパシティブ結合によって結合されており、前記キャパシティブ結合を介して、前記量子回路の状態の読み出しが行われる
付記1に記載の超伝導回路装置。
(付記3)
前記スペーサは、前記量子回路を動作させる温度において常伝導状態である
付記1又は2に記載の超伝導回路装置。
(付記4)
前記スペーサは、前記量子回路を動作させる温度において超伝導状態である
付記1又は2に記載の超伝導回路装置。
(付記5)
前記スペーサは、前記量子回路が配置された領域の周囲の領域に配置されている
付記1から4のいずれか1項に記載の超伝導回路装置。
(付記6)
前記スペーサは、前記量子回路が配置された領域に挟まれた領域に配置されている
付記1から5のいずれか1項に記載の超伝導回路装置。
(付記7)
前記スペーサは、前記量子回路が配置された領域の周囲の第1の領域と、前記量子回路が配置された領域に挟まれた第2の領域とに配置されており、
前記第1の領域に配置された前記スペーサと前記第2の領域に配置された前記スペーサとが一体となるように形成されている
付記1から4のいずれか1項に記載の超伝導回路装置。
(付記8)
前記スペーサは、前記量子回路が配置された領域の周囲の第1の領域と、前記量子回路が配置された領域に挟まれた第2の領域とに配置されており、
前記第1の領域に配置された前記スペーサは、前記量子回路を動作させる温度において超伝導状態であり、
前記第2の領域に配置された前記スペーサは、前記量子回路を動作させる温度において常伝導状態である
付記1又は2に記載の超伝導回路装置。
(付記9)
前記スペーサは、前記基板に形成された位置決め部材に対応する位置に配置されている
付記1から8のいずれか1項に記載の超伝導回路装置。
(付記10)
チタン又はチタン合金で形成され、
超伝導材料を用いた量子回路と第1の電極とが形成された量子回路チップと、第2の電極が形成された基板とが、前記第1の電極と前記第2の電極とでバンプで接続される際に、前記量子回路チップと前記基板との間の予め定められた位置に配置される、
スペーサ。
(付記11)
前記量子回路を動作させる温度において常伝導状態である
付記10に記載のスペーサ。
(付記12)
前記量子回路を動作させる温度において超伝導状態である
付記10に記載のスペーサ。
(付記13)
前記量子回路が配置された領域の周囲の領域に配置される
付記10から12のいずれか1項に記載のスペーサ。
(付記14)
前記量子回路が配置された領域に挟まれた領域に配置される
付記10から13のいずれか1項に記載のスペーサ。
(付記15)
前記量子回路が配置された領域の周囲の第1の領域と、前記量子回路が配置された領域に挟まれた第2の領域とに配置され、
前記第1の領域に配置される部分と前記第2の領域に配置される部分とが一体となるように形成されている
付記10から13のいずれか1項に記載のスペーサ。
(付記16)
前記量子回路が配置された領域の周囲の第1の領域と、前記量子回路が配置された領域に挟まれた第2の領域とに配置されており、
前記第1の領域に配置された部分は、前記量子回路を動作させる温度において超伝導状態であり、
前記第2の領域に配置された部分は、前記量子回路を動作させる温度において常伝導状態である
付記10又は11に記載のスペーサ。
(付記17)
超伝導材料を用いた量子回路と第1の電極とが形成された量子回路チップと、第2の電極が形成された基板とを対向させ、
前記基板の予め定められた位置に、チタン又はチタン合金で形成されたスペーサを配置し、
前記基板の予め定められた位置に前記スペーサが配置された状態で、前記第1の電極と前記第2の電極とをバンプで接続する
超伝導回路装置の製造方法。
(付記18)
前記基板に形成された第3の電極と前記量子回路とが、キャパシティブ結合によって結合され、前記キャパシティブ結合を介して、前記量子回路の状態の読み出しが行われる
付記17に記載の超伝導回路装置の製造方法。
(付記19)
前記スペーサは、前記量子回路を動作させる温度において常伝導状態である
付記17又は18に記載の超伝導回路装置の製造方法。
(付記20)
前記スペーサは、前記量子回路を動作させる温度において超伝導状態である
付記17又は18に記載の超伝導回路装置の製造方法。
(付記21)
前記スペーサは、前記量子回路が配置された領域の周囲の領域に配置される
付記17から20のいずれか1項に記載の超伝導回路装置の製造方法。
(付記22)
前記スペーサは、前記量子回路が配置された領域に挟まれた領域に配置される
付記17から21のいずれか1項に記載の超伝導回路装置の製造方法。
(付記23)
前記スペーサは、前記量子回路が配置された領域の周囲の第1の領域と、前記量子回路が配置された領域に挟まれた第2の領域とに配置され、
前記第1の領域に配置された前記スペーサと前記第2の領域に配置された前記スペーサとが一体となるように形成されている
付記17から20のいずれか1項に記載の超伝導回路装置の製造方法。
(付記24)
前記スペーサは、前記量子回路が配置された領域の周囲の第1の領域と、前記量子回路が配置された領域に挟まれた第2の領域とに配置され、
前記第1の領域に配置された前記スペーサは、前記量子回路を動作させる温度において超伝導状態であり、
前記第2の領域に配置された前記スペーサは、前記量子回路を動作させる温度において常伝導状態である
付記17又は18に記載の超伝導回路装置の製造方法。
(付記25)
前記スペーサは、前記基板に形成された位置決め部材に対応する位置に配置される
付記17から24のいずれか1項に記載の超伝導回路装置の製造方法。
Some or all of the above embodiments may also be described, but not limited to:
(Appendix 1)
A quantum circuit chip in which a quantum circuit using a superconducting material and a first electrode are formed,
The substrate on which the second electrode was formed and
Has a spacer and
The first electrode and the second electrode are connected by bumps.
A superconducting circuit device in which the spacer is made of titanium or a titanium alloy and is arranged at a predetermined position between a quantum circuit chip and a substrate.
(Appendix 2)
A third electrode is formed on the substrate.
The superconducting circuit apparatus according to Appendix 1, wherein the third electrode and the quantum circuit are coupled by a capacity coupling, and the state of the quantum circuit is read out through the capacity coupling.
(Appendix 3)
The superconducting circuit device according to Appendix 1 or 2, wherein the spacer is in a normal conduction state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
(Appendix 4)
The superconducting circuit device according to Appendix 1 or 2, wherein the spacer is in a superconducting state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
(Appendix 5)
The superconducting circuit device according to any one of Supplementary note 1 to 4, wherein the spacer is arranged in a region around a region in which the quantum circuit is arranged.
(Appendix 6)
The superconducting circuit device according to any one of Appendix 1 to 5, wherein the spacer is arranged in a region sandwiched between regions in which the quantum circuit is arranged.
(Appendix 7)
The spacer is arranged in a first region around the region in which the quantum circuit is arranged and a second region sandwiched between the regions in which the quantum circuit is arranged.
The superconducting circuit device according to any one of Supplementary note 1 to 4, wherein the spacer arranged in the first region and the spacer arranged in the second region are formed to be integrated. ..
(Appendix 8)
The spacer is arranged in a first region around the region in which the quantum circuit is arranged and a second region sandwiched between the regions in which the quantum circuit is arranged.
The spacer arranged in the first region is in a superconducting state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
The superconducting circuit device according to Appendix 1 or 2, wherein the spacer arranged in the second region is in a normal conduction state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
(Appendix 9)
The superconducting circuit device according to any one of Appendix 1 to 8, wherein the spacer is arranged at a position corresponding to a positioning member formed on the substrate.
(Appendix 10)
Formed of titanium or titanium alloy,
A quantum circuit chip in which a quantum circuit using a superconducting material and a first electrode are formed, and a substrate on which a second electrode is formed are bumped by the first electrode and the second electrode. When connected, it is placed at a predetermined position between the quantum circuit chip and the substrate.
Spacer.
(Appendix 11)
The spacer according to Appendix 10, which is in a normal conduction state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
(Appendix 12)
The spacer according to Appendix 10, which is in a superconducting state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
(Appendix 13)
The spacer according to any one of Appendix 10 to 12, which is arranged in a region around the region in which the quantum circuit is arranged.
(Appendix 14)
The spacer according to any one of Appendix 10 to 13, which is arranged in a region sandwiched between regions in which the quantum circuit is arranged.
(Appendix 15)
It is arranged in a first region around the region where the quantum circuit is arranged and a second region sandwiched between the regions where the quantum circuit is arranged.
The spacer according to any one of Appendix 10 to 13, wherein the portion arranged in the first region and the portion arranged in the second region are formed to be integrated.
(Appendix 16)
It is arranged in a first region around the region in which the quantum circuit is arranged and a second region sandwiched between the regions in which the quantum circuit is arranged.
The portion arranged in the first region is in a superconducting state at the temperature at which the quantum circuit is operated.
The spacer according to Appendix 10 or 11, wherein the portion arranged in the second region is in a normal conduction state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
(Appendix 17)
A quantum circuit chip in which a quantum circuit using a superconducting material and a first electrode are formed is opposed to a substrate on which a second electrode is formed.
A spacer made of titanium or a titanium alloy is placed at a predetermined position on the substrate.
A method for manufacturing a superconducting circuit device in which the first electrode and the second electrode are connected by bumps in a state where the spacer is arranged at a predetermined position on the substrate.
(Appendix 18)
The superconducting circuit apparatus according to Appendix 17, wherein the third electrode formed on the substrate and the quantum circuit are coupled by a capacity coupling, and the state of the quantum circuit is read out through the capacity coupling. Production method.
(Appendix 19)
The method for manufacturing a superconducting circuit device according to Appendix 17 or 18, wherein the spacer is in a normal conduction state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
(Appendix 20)
The method for manufacturing a superconducting circuit device according to Appendix 17 or 18, wherein the spacer is in a superconducting state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
(Appendix 21)
The method for manufacturing a superconducting circuit device according to any one of Supplementary note 17 to 20, wherein the spacer is arranged in a region around a region in which the quantum circuit is arranged.
(Appendix 22)
The method for manufacturing a superconducting circuit device according to any one of Supplementary note 17 to 21, wherein the spacer is arranged in a region sandwiched between regions in which the quantum circuit is arranged.
(Appendix 23)
The spacer is arranged in a first region around the region in which the quantum circuit is arranged and a second region sandwiched between the regions in which the quantum circuit is arranged.
The superconducting circuit device according to any one of Supplementary note 17 to 20, wherein the spacer arranged in the first region and the spacer arranged in the second region are formed to be integrated. Manufacturing method.
(Appendix 24)
The spacer is arranged in a first region around the region in which the quantum circuit is arranged and a second region sandwiched between the regions in which the quantum circuit is arranged.
The spacer arranged in the first region is in a superconducting state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
The method for manufacturing a superconducting circuit device according to Appendix 17 or 18, wherein the spacer arranged in the second region is in a normal conduction state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
(Appendix 25)
The method for manufacturing a superconducting circuit device according to any one of Appendix 17 to 24, wherein the spacer is arranged at a position corresponding to a positioning member formed on the substrate.

1 超伝導回路装置
2 超伝導回路実装構造
3 読み出し部
4 制御部
10 バンプ
12 キャパシティブ結合
14 インダクティブ結合
20 量子回路チップ
20a 表面
20c 領域
22 量子回路
24 電極
40 基板
42,44,46,48 電極
45 貫通電極
50 スペーサ
60 位置決め部材
1 Superconducting circuit device 2 Superconducting circuit mounting structure 3 Reading unit 4 Control unit 10 Bump 12 Capable coupling 14 Inductive coupling 20 Quantum circuit chip 20a Surface 20c Region 22 Quantum circuit 24 Electrode 40 Substrate 42, 44, 46, 48 Electrode 45 Penetration Electrode 50 Spacer 60 Positioning member

Claims (10)

超伝導材料を用いた量子回路と第1の電極とが形成された量子回路チップと、
第2の電極が形成された基板と、
スペーサと
を有し、
前記第1の電極と前記第2の電極とはバンプで接続されており、
前記スペーサは、チタン又はチタン合金で形成され、量子回路チップと基板との間の予め定められた位置に配置されている
超伝導回路装置。
A quantum circuit chip in which a quantum circuit using a superconducting material and a first electrode are formed,
The substrate on which the second electrode was formed and
Has a spacer and
The first electrode and the second electrode are connected by bumps.
A superconducting circuit device in which the spacer is made of titanium or a titanium alloy and is arranged at a predetermined position between a quantum circuit chip and a substrate.
前記基板には、第3の電極が形成されており、
前記第3の電極と前記量子回路とが、キャパシティブ結合によって結合されており、前記キャパシティブ結合を介して、前記量子回路の状態の読み出しが行われる
請求項1に記載の超伝導回路装置。
A third electrode is formed on the substrate.
The superconducting circuit apparatus according to claim 1, wherein the third electrode and the quantum circuit are coupled by a capacity coupling, and the state of the quantum circuit is read out through the capacity coupling.
前記スペーサは、前記量子回路を動作させる温度において常伝導状態である
請求項1又は2に記載の超伝導回路装置。
The superconducting circuit device according to claim 1 or 2, wherein the spacer is in a normal conduction state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
前記スペーサは、前記量子回路を動作させる温度において超伝導状態である
請求項1又は2に記載の超伝導回路装置。
The superconducting circuit apparatus according to claim 1 or 2, wherein the spacer is in a superconducting state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
前記スペーサは、前記量子回路が配置された領域の周囲の領域に配置されている
請求項1から4のいずれか1項に記載の超伝導回路装置。
The superconducting circuit device according to any one of claims 1 to 4, wherein the spacer is arranged in a region around a region in which the quantum circuit is arranged.
前記スペーサは、前記量子回路が配置された領域に挟まれた領域に配置されている
請求項1から5のいずれか1項に記載の超伝導回路装置。
The superconducting circuit device according to any one of claims 1 to 5, wherein the spacer is arranged in a region sandwiched between regions in which the quantum circuit is arranged.
前記スペーサは、前記量子回路が配置された領域の周囲の第1の領域と、前記量子回路が配置された領域に挟まれた第2の領域とに配置されており、
前記第1の領域に配置された前記スペーサと前記第2の領域に配置された前記スペーサとが一体となるように形成されている
請求項1から4のいずれか1項に記載の超伝導回路装置。
The spacer is arranged in a first region around the region in which the quantum circuit is arranged and a second region sandwiched between the regions in which the quantum circuit is arranged.
The superconducting circuit according to any one of claims 1 to 4, wherein the spacer arranged in the first region and the spacer arranged in the second region are integrally formed. apparatus.
前記スペーサは、前記量子回路が配置された領域の周囲の第1の領域と、前記量子回路が配置された領域に挟まれた第2の領域とに配置されており、
前記第1の領域に配置された前記スペーサは、前記量子回路を動作させる温度において超伝導状態であり、
前記第2の領域に配置された前記スペーサは、前記量子回路を動作させる温度において常伝導状態である
請求項1又は2に記載の超伝導回路装置。
The spacer is arranged in a first region around the region in which the quantum circuit is arranged and a second region sandwiched between the regions in which the quantum circuit is arranged.
The spacer arranged in the first region is in a superconducting state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
The superconducting circuit device according to claim 1 or 2, wherein the spacer arranged in the second region is in a normal conduction state at a temperature at which the quantum circuit is operated.
チタン又はチタン合金で形成され、超伝導回路装置に用いられるスペーサ。 A spacer made of titanium or a titanium alloy and used in superconducting circuit equipment. 超伝導材料を用いた量子回路と第1の電極とが形成された量子回路チップと、第2の電極が形成された基板とを対向させ、
前記基板の予め定められた位置に、チタン又はチタン合金で形成されたスペーサを配置し、
前記基板の予め定められた位置に前記スペーサが配置された状態で、前記第1の電極と前記第2の電極とをバンプで接続する
超伝導回路装置の製造方法。
A quantum circuit chip in which a quantum circuit using a superconducting material and a first electrode are formed is opposed to a substrate on which a second electrode is formed.
A spacer made of titanium or a titanium alloy is placed at a predetermined position on the substrate.
A method for manufacturing a superconducting circuit device in which the first electrode and the second electrode are connected by bumps in a state where the spacer is arranged at a predetermined position on the substrate.
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