JP2021059782A - 半導体素子用放熱部品 - Google Patents
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Abstract
Description
本明細書において、「〜」という記号は「以上」及び「以下」を意味する。例えば、「A〜B」というのは、A以上でありB以下であるという意味である。
本実施形態に好適な方法は、高圧下で含浸を行う高圧鍛造法であり、熱伝導率等の特性に優れた緻密な複合体を得るには溶湯鍛造法が好ましい。溶湯鍛造法とは、一般的に、高圧容器内に、ダイヤモンド等の粉末又は成形体を装填し、これにアルミニウム合金等の溶湯を高温、高圧下で含浸させて複合材料を得る方法である。
アルミニウム−ダイヤモンド系複合体の原料であるダイヤモンド粉末は、天然ダイヤモンド粉末もしくは人造ダイヤモンド粉末のいずれも使用することができる。また、該ダイヤモンド粉末には、必要に応じて、例えばシリカ等の結合材を添加してもよい。結合材を添加することにより、成形体を形成することができるという効果を得ることができる。
ここで、溶湯鍛造法にてアルミニウム合金が含浸し得る多孔質体からなる型材7の材料としては、溶湯鍛造法にてアルミニウム合金が含浸できる多孔質体であれば特に制約はない。しかし、該多孔質体としては、耐熱性に優れ、安定した溶湯の供給が行える、黒鉛、窒化ホウ素、アルミナ繊維等の多孔質体等が好ましく用いられる。
更に、緻密な離型板8としては、ステンレス板やセラミックス板を使用することができ、溶湯鍛造法にてアルミニウム合金が含浸されない緻密体であれば特に制限はない。また、離型板に塗布する離型剤については、耐熱性に優れる、黒鉛、窒化ホウ素、アルミナ等の離型剤が好ましく使用できる。さらには、離型板の表面をアルミナゾル等によりコーティングした後、上記離型剤を塗布することにより、より安定した離型が行える離型板を得ることができる。
本実施形態に係るアルミニウム−ダイヤモンド系複合体中のアルミニウム合金(アルミニウムを含有する金属)は、含浸時にダイヤモンド粉末の空隙中(ダイヤモンド粒子間)に十分に浸透させるために、なるべく融点が低いことが好ましい。このようなアルミニウム合金として、例えばシリコンを5〜25質量%含有したアルミニウム合金が挙げられる。シリコンを5〜25質量%含有したアルミニウム合金を用いることにより、アルミニウム−ダイヤモンド系複合体の緻密化が促進されるという効果を得ることができる。
なお、上記操作により得られたアルミニウム−ダイヤモンド系成形体には、アニール処理を行ってもよい。アニール処理を行うことにより、上記アルミニウム−ダイヤモンド系成形体内の歪みが除去され、より安定した熱伝導率特性を有するアルミニウム−ダイヤモンド系複合体を得ることができる。
次に、本実施形態に係るアルミニウム−ダイヤモンド系複合体の加工方法の例を説明する。上記アルミニウム−ダイヤモンド系複合体は、非常に硬い難加工性材料である。このため、通常の機械加工やダイヤモンド工具を用いた研削加工が難しく、ウォータージェット加工、レーザー加工、放電加工によって加工する。
本実施形態に係るアルミニウム−ダイヤモンド系複合体では、複合化部(図1の3)の両面がアルミニウムを含有する金属(アルミニウム合金)を含む材料からなる表面層(図1の4)で被覆されていることを特徴とする。
本実施形態に係るアルミニウム−ダイヤモンド系複合体は、両面がアルミニウムを含有する金属を含む材料からなる表面層4で被覆された構造を有しているため、この表面層4を加工(研磨)することにより、表面精度(表面粗さ:Ra)を調整することができる。この表面層4の加工は、通常の金属加工で採用される加工方法が採用でき、例えばバフ研磨機等を用いて研磨を行い、表面粗さ(Ra)を1μm以下とすることができる。
本実施形態に係るアルミニウム−ダイヤモンド系複合体では、上記ダイヤモンド粒子とアルミニウム合金との複合化部(図1の3)を有する。このような構造のアルミニウム−ダイヤモンド系複合体では、上記表面層4と複合化部3との間に応力が生じにくく、研磨等で力が加わった時に、表面層4が破損することがない。
本実施形態に係るアルミニウム−ダイヤモンド系複合体は、半導体素子のヒートシンクとして用いる場合、半導体素子とロウ付けにより接合して用いられることが多い。よって、アルミニウム−ダイヤモンド系複合体の接合表面には、表面金属層を設ける必要がある。表面金属層の形成方法としては、めっき法、蒸着法、スパッタリング法等の方法を採用することができる。処理費用の面からは、めっき処理が好ましい。
以下、めっき処理について説明する。
本実施形態のアルミニウム−ダイヤモンド系複合体放熱部品は、高熱伝導率かつ半導体素子と同等レベルの低熱膨張率であり、GaN、GaAs、SiC等の高出力が要求される半導体レーザー素子又は高周波素子の放熱部品として好適である。特に、高周波素子であるGaN−HEMT素子、GaAs−HEMT素子の放熱部品として好適である。
表1に示す平均粒子径を持つ市販されている高純度ダイヤモンド粉末A(ダイヤモンドイノベーション社製/グレード MBG600)と高純度のダイヤモンド粉末B(ダイヤモンドイノベーション社製/グレード MBM)を7対3の重量比で混合した。各粉末の粒子径の体積分布のピークは平均粒子径と同位置に見られた。ダイヤモンド粉末Aとダイヤモンド粉末Bの混合粉末の粒度分布測定を行った結果、体積分布における1〜35μmの体積分布の面積と45〜205μmの体積分布の面積の比率が3対7であった。粒度分布の測定は、純水に各ダイヤモンド粉末を加えスラリーを作製して測定溶液とし、水の屈折率を1.33、ダイヤモンドの屈折率を2.42として、分光光度計(ベックマン・コールター社製:コールターLS230)により測定した。
実施例1と同様の方法で作製したアルミニウム-ダイヤモンド系複合体を超音波洗浄した後、Zn触媒による前処理後に電気Niめっき、電気Auめっきの順に形成した。めっき膜厚みを表3に示す。また、比較例7では電気Niめっきの後に無電解Ni−Pめっき膜を形成させた。
市販されている高純度のダイヤモンド粉末A(ダイヤモンドイノベーション社製/平均粒径:130μm)と高純度のダイヤモンド粉末B(ダイヤモンドイノベーション社製/平均粒子径:15μm)を表4に示す重量比で混合した。ダイヤモンド粉末Aとダイヤモンド粉末Bの混合粉末の粒度分布測定を行った結果、体積分布において15μmに第一ピーク、130μmに第二ピークを持ち、体積分布における1〜35μmの体積分布の面積と45〜205μmの体積分布の面積の比率は表4に示す値であった。粒度分布の測定は、純水に各ダイヤモンド粉末を加えスラリーを作製して測定溶液とし、水の屈折率を1.33、ダイヤモンドの屈折率を2.42として、分光光度計(ベックマン・コールター社製:コールターLS230)により測定した。
実施例1で、ダイヤモンド粉末の上下に表6に示す厚みの挿入材を配置し離型板8で両面を挟む様に充填して構造体とした以外は、実施例1と同様にして、アルミニウム−ダイヤモンド系複合体を作製した。実施例29、30はアルミナ繊維(電気化学工業社製デンカアルセンボード/品種:BD−1600およびBD−1700LN)を、比較例12ではアルミナ繊維(電気化学工業社製/デンカアルセンボード/品種:BD1700)をプレス機で押しつぶし嵩密度を1.1g/cm3にしたものを挿入材として配置した。使用したダイヤモンド粉末の粒度分布測定を行った結果、体積分布において15μmに第一ピーク、130μmに第二ピークを持ち、体積分布における1〜35μmの体積分布の面積と45〜205μmの体積分布の面積の比率は3対7であった。粒度分布の測定は、純水に各ダイヤモンド粉末を加えスラリーを作製して測定溶液とし、水の屈折率を1.33、ダイヤモンドの屈折率を2.42として、分光光度計(ベックマン・コールター社製:コールターLS230)により測定した。
2 表面金属層
3 複合化部
4 表面層
5 Ni層
6 Au層
7 多孔質体からなる型材
8 離型材を塗布した離型板
9 ダイヤモンド粉末
10 金属板
Claims (5)
- 粒子径の体積分布の第一ピークが5〜25μmにあり、第二ピークが55〜195μmにあり、粒子径が1〜35μmである体積分布の面積と粒子径が45〜205μmである体積分布の面積との比率が1対9ないし4対6であるダイヤモンド粉末を50体積%〜80体積%含有し、残部がアルミニウムを含有する金属で構成される複合化部を備え、
該複合化部の両主面に、アルミニウムを含有する金属を80体積%以上含有する、膜厚0.03〜0.2mmの表面層を備え、
少なくとも一方の表面層上に、(1)膜厚が0.5〜6.5μmである結晶質のNi層、(2)膜厚が0.05μm以上であるAu層を更に備えることを特徴とする半導体素子用放熱部品。 - Ni層およびAu層がめっき処理により形成されるめっき膜であり、めっき膜のピール強度が50N/cm以上であることを特徴とする請求項1に記載の半導体素子用放熱部品。
- 搭載される半導体素子が、GaN、GaAsまたはSiCからなる半導体レーザー素子または高周波素子であることを特徴とする請求項1または2記載の半導体素子用放熱部品。
- 前記複合化部が、溶湯鍛造法により製造されるアルミニウム-ダイヤモンド系複合体であり、温度25℃での熱伝導率が400W/mK以上、温度25℃から150℃の線熱膨張係数が5.0×10−6〜10.0×10−6/K、両主面の表面粗さ(Ra)が、1μm以下であるアルミニウム−ダイヤモンド系複合体であることを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の半導体素子用放熱部品。
- ダイヤモンド粉末の粒子が、その表面に化学的に結合したβ型炭化珪素の層の存在により特徴づけられるアルミニウム−ダイヤモンド系複合体であることを特徴とする請求項1から4いずれか一項に記載の半導体素子用放熱部品。
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