JP2021058043A - 太陽電池パネルの検査装置、及び検査方法 - Google Patents
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Abstract
Description
エレクトロルミネッセンスを利用した太陽電池パネルの検査装置であって、
前記太陽電池パネルの起電力以上の電圧で直流電流を供給する直流電源と、
前記太陽電池パネルと前記直流電源との接続を開閉する開閉手段と、
前記太陽電池パネルを撮影する撮影手段と、
前記開閉手段が閉の状態で前記撮影手段により撮影された画像と、前記開閉手段が開の状態で前記撮影手段により撮影された画像とから診断画像を生成する生成手段と
を備えることにある。
また、屋外でのEL検査においては、太陽電池パネルが起電力を有するため、太陽光パネルと直流電源との接続時に、突入電流が逆流することで直流電源が故障したり、電力供給が停止したりする虞がある。本構成の太陽電池パネルの検査装置では、直流電源が、太陽電池パネルの起電力以上の電圧で直流電力を供給するため、開閉手段が太陽電池パネルと直流電源との接続を開閉する際に、直流電源へ突入電流が逆流することが防止される。そのため、屋外でのEL検査において、ロックイン制御等の精密なタイミング制御の必要のない直流電源を用いて、欠陥を高精度に判定できる鮮明な画像を得ることができる。
前記太陽電池パネルの端子間の電位差を測定する測定手段をさらに備え、
前記直流電源は、前記測定手段により測定された電位差以上の電圧で直流電力を供給することが好ましい。
前記撮影手段は、波長が960nm以上の光を透過する赤外透過フィルタを有することが好ましい。
前記撮影手段は、ワイヤーグリッドを備えた偏光フィルタを有することが好ましい。
前記診断画像は、前記開閉手段が閉の状態で撮影された画像と前記開閉手段が開の状態で撮影された画像との差分を取った差分画像、又は前記開閉手段が閉の状態で撮影された画像を前記開閉手段が開の状態で撮影された画像で除した除算画像であることが好ましい。
前記撮影手段は、前記開閉手段が閉の状態で前記太陽電池パネルを複数回撮影し、
前記生成手段は、前記開閉手段が閉の状態で撮影された画像毎に、前記差分画像又は前記除算画像を生成し、得られた複数の差分画像又は複数の除算画像の積算処理により前記診断画像を生成することが好ましい。
エレクトロルミネッセンスを利用した太陽電池パネルの検査方法であって、
直流電源と接続されていない状態で、前記太陽電池パネルを撮影する第1撮影工程と、
前記直流電源の電圧を、前記太陽電池パネルの起電力以上の電圧に設定する電圧設定工程と、
前記太陽電池パネルと前記直流電源とを接続し、前記太陽電池パネルに順バイアス電流を印加する接続工程と、
前記直流電源と接続されている状態で、前記太陽電池パネルを撮影する第2撮影工程と、
前記第1撮影工程において撮影された画像と、前記第2撮影工程において撮影された画像とから診断画像を生成する生成工程と
を包含することにある。
また、屋外でのEL検査においては、太陽電池パネルが起電力を有するため、太陽光パネルと直流電源との接続時に、突入電流が逆流することで直流電源が故障したり、電力供給が停止したりする虞がある。本構成の太陽電池パネルの検査方法では、電圧設定工程において直流電源の電圧を、太陽電池パネルの起電力以上の電圧に設定するため、接続工程において太陽電池パネルと直流電源とを接続する際に、直流電源へ突入電流が逆流することが防止される。そのため、屋外でのEL検査において、直流電源を用いて、欠陥を高精度に判定できる鮮明な画像を得ることができる。
図1は、本発明の太陽電池パネルの検査装置1の概略構成図である。図1に示すように、検査装置1は、屋外において太陽光Lが照射され、起電力が生じている状態の太陽電池パネルPを検査対象とし、太陽電池パネルPに電流を印加したときに生じるEL発光を利用して太陽電池パネルPを検査する装置である。太陽電池パネルPは、一般に、太陽電池セルが複数接続された太陽電池モジュールとして構成される。太陽電池セルは、負の電荷を有する電子を多く含むn型半導体と、正の電荷を有するホールを多く含むp型半導体とが接合されたものであり、接合面には電子もホールもない空乏層と呼ばれる領域が形成され、この空乏層には電界が生じる。空乏層に太陽光Lが入射すると光が半導体に吸収されて電子とホールが生じ、これらが電界で押し出されることにより、pn接合の逆バイアス方向に電流を流す起電力、即ち、太陽電池パネルPのp端子が高電位、n端子が低電位となる起電力が生じる。本発明の検査装置1は、例えば、48〜72枚の太陽電池セルが直列に接続され、36〜50Vの起電力を有する太陽電池モジュールとしての太陽電池パネルPの検査に使用可能である。太陽電池パネルPは、家屋の屋根等に設置される場合、通常、複数枚の太陽電池パネルPが直列に接続され、起電力を300V程度に高めた太陽電池ストリングを構成した状態で設置される。図1では説明の簡略化のために太陽電池パネルPを1枚のみ図示しているが、本発明の検査装置1の検査対象は、1枚の太陽電池パネルPに限らず、複数枚の太陽電池パネルPを接続した太陽電池ストリングとすることも可能である。検査対象の太陽電池パネルPとしては、例えば、単結晶シリコン型太陽電池、多結晶シリコン型太陽電池、CIGS{銅(Copper)−インジウム(Indium)−ガリウム(Gallium)−セレン(Selenium)}系化合物太陽電池等が挙げられる。
直流電源10は、太陽電池パネルPの起電力以上の電圧で直流電流を印加する電源であり、開閉手段20を介して太陽電池パネルPに接続される。直流電源10と開閉手段20との間には、ブロッキングダイオードが挿入されていることが好ましい。直流電源10と太陽電池パネルPとの接続は、直流電源10の正極が太陽電池パネルPのp端子側、直流電源10の負極が太陽電池パネルPのn端子側となっている。太陽光Lが照射されている状態では、太陽電池パネルPにはp端子が高電位、n端子が低電位となる起電力、即ち、直流電源10に電流を逆流させる向きの起電力が生じているが、直流電源10は、太陽電池パネルPの起電力以上の電圧で直流電流を印加するため、開閉手段20が太陽電池パネルPと直流電源10との接続を開閉する際に、太陽電池パネルPの起電力に起因する突入電流が直流電源10へ逆流することや、ブロッキングダイオードの故障もしくは短絡や断線を防止することができる。ここで、「太陽電池パネルPの起電力以上の電圧」とは、必ずしも、検査対象の太陽電池パネルPの最大動作電圧(例えば、36V)以上の電圧である必要はなく、検査時の日射量に応じて太陽電池パネルPに生じた起電力以上の電圧であればよい。そのため、直流電源10の印加電圧は、太陽電池パネルPの開放電圧(例えば、36V)以上の電圧や、太陽電池パネルPの設置環境や稼働実績から予測される起電力以上の電圧に予め設定(プリセット設定)してもよいし、検査時の日射量に応じて太陽電池パネルPに生じている起電力をリアルタイムで測定し、測定値以上の電圧に設定(リアルタイム設定)してもよい。図1の例では、測定手段50により太陽電池パネルPのp端子−n端子間の電位差を測定し、直流電源10は、測定値以上の電圧で直流電流を印加するように、制御手段70により制御される。直流電源10の印加電圧が、測定手段50により測定された太陽電池パネルPのp端子−n端子間の電位差以上の電圧であれば、天候や日射量の変動に伴って太陽電池パネルPの起電力が変動した場合にも、常に太陽電池パネルPの起電力以上の電圧で直流電流を印加することが可能となる。
開閉手段20は、直流電源10と太陽電池パネルPとの間に挿入されたスイッチである。太陽電池パネルPの起電力に起因する突入電流から直流電源10をより確実に保護するためには、直流電源10の正極と太陽電池パネルPのp端子との間、及び直流電源10の負極と太陽電池パネルPのn端子との間を夫々開閉可能であることが好ましく、特に、双極単投スイッチであることが好ましい。開閉手段20には、半導体スイッチ、及び機械式スイッチの何れを用いることも可能である。開閉手段20の開閉は、図1に示す例では、制御手段70により制御されるが、本発明の検査装置1は、検査員の操作により開閉手段20を開閉するように構成することも可能である。
撮影手段30は、太陽電池パネルPを撮影するものであり、カメラ31と、カメラ31に装着された筒状のフード32と、フード32の内側に配された赤外透過フィルタ33と、偏光フィルタ34とを有する。撮影手段30は、カメラ31が太陽電池パネルPの全体を確実に撮影できるように、最適な位置にセットされる。複数の太陽電池パネルPが接続された太陽電池ストリングを検査対象とする場合には、撮影手段30は、カメラ31が太陽電池ストリングの全体を撮影できる位置にセットされることが好ましい。例えば、家屋の屋根等に設置された太陽電池パネルPを検査対象とすることを想定すると、太陽電池パネルPの全体を撮影できる位置に撮影手段30をセットするために、高所作業車のバスケット等に撮影手段30を設けることが好ましい。また、検査対象の太陽電池パネルPがより高所にあり、撮影環境が厳しい場合は、撮影手段30を小型無人航空機(ドローン等)に搭載することも可能である。
生成手段40は、撮影手段30にて撮影され、データとして記憶されているEL発光画像及び非発光画像から、太陽電池パネルPの欠陥判定に用いる診断画像を生成する。生成手段40は、CUP、メモリ、ストレージ等を有するコンピュータにおいてプログラムを実行することにより、その機能を実現することができる。
測定手段50は、太陽電池パネルPのp端子−n端子間の電位差を測定する電圧計である。図1の例では、測定手段50による測定値は、制御手段70へ出力され、制御手段70では、この測定値に基づいて、直流電源10の電圧を設定する。
表示手段60は、生成手段40で生成された診断画像を表示するディスプレイである。診断画像を表示手段60に表示させることにより、検査員は、欠陥の有無の診断、及び欠陥箇所の特定を目視によって行うことができる。なお、目視による確認は検査員によってばらつきが生じる虞がある。そこで、検査装置1には、太陽電池パネルPの欠陥をより確実に検出できるように、判定手段を設けてもよい。判定手段は、生成手段40によって生成された診断画像の解析により、太陽電池パネルPの状態を判定する。例えば、サンプルとして欠陥の無い良品の太陽電池パネルPの診断画像(以下、「サンプル画像」とする。)を予め生成し、不揮発性メモリ等のストレージに記憶させておく。判定手段は、このサンプル画像と検査対象の太陽電池パネルPの診断画像とを比較し、発光強度の差が閾値より大きい箇所に欠陥があると診断する。このとき、表示手段60に判定手段の判定結果を表示することが好ましい。この場合、表示手段60には、検査対象の太陽電池パネルPの診断画像とともに、判定手段による欠陥判定結果が同時に表示されるため、太陽電池パネルPの欠陥の有無や欠陥の程度を容易に判断することが可能となる。その結果、太陽電池パネルPの欠陥検出の精度、及び検査の信頼性が向上する。
制御手段70は、CPU、メモリ、ストレージ等を有するコンピュータにおいてプログラムを実行することにより、上記説明した検査装置1の各構成要素の動作を制御する機能を実現する。制御手段70が、検査装置1の各構成要素の動作を制御することで、太陽電池パネルPの欠陥検査を、迅速且つ簡便に実施することが可能となる。
検査装置1を用いた太陽電池パネルPの検査方法を説明する。図6は、本発明の太陽電池パネルの検査方法のフローチャートである。本発明の検査方法では、第1モード設定工程(S1)、第1撮影工程(S2)、電圧設定工程(S3)、接続工程(S4)、第2モード設定工程(S5)、第2撮影工程(S6)、及び生成工程(S8)の各工程を順に実行する。なお、開始時の第1モード設定工程(S1)、及び接続工程(S4)の後の第2モード設定工程(S5)は、必要に応じて実行すればよい。
10 直流電源
20 開閉手段
30 撮影手段
33 赤外透過フィルタ
34 偏光フィルタ
40 生成手段
50 測定手段
P 太陽電池パネル
Claims (7)
- エレクトロルミネッセンスを利用した太陽電池パネルの検査装置であって、
前記太陽電池パネルの起電力以上の電圧で直流電流を供給する直流電源と、
前記太陽電池パネルと前記直流電源との接続を開閉する開閉手段と、
前記太陽電池パネルを撮影する撮影手段と、
前記開閉手段が閉の状態で前記撮影手段により撮影された画像と、前記開閉手段が開の状態で前記撮影手段により撮影された画像とから診断画像を生成する生成手段と
を備える太陽電池パネルの検査装置。 - 前記太陽電池パネルの端子間の電位差を測定する測定手段をさらに備え、
前記直流電源は、前記測定手段により測定された電位差以上の電圧で直流電力を供給する請求項1に記載の太陽電池パネルの検査装置。 - 前記撮影手段は、波長が960nm以上の光を透過する赤外透過フィルタを有する請求項1又は2に記載の太陽電池パネルの検査装置。
- 前記撮影手段は、ワイヤーグリッドを備えた偏光フィルタを有する請求項1〜3の何れか一項に記載の太陽電池パネルの検査装置。
- 前記診断画像は、前記開閉手段が閉の状態で撮影された画像と前記開閉手段が開の状態で撮影された画像との差分を取った差分画像、又は前記開閉手段が閉の状態で撮影された画像を前記開閉手段が開の状態で撮影された画像で除した除算画像である請求項1〜4の何れか一項に記載の太陽電池パネルの検査装置。
- 前記撮影手段は、前記開閉手段が閉の状態で前記太陽電池パネルを複数回撮影し、
前記生成手段は、前記開閉手段が閉の状態で撮影された画像毎に、前記差分画像又は前記除算画像を生成し、得られた複数の差分画像又は複数の除算画像の積算処理により前記診断画像を生成する請求項5に記載の太陽電池パネルの検査装置。 - エレクトロルミネッセンスを利用した太陽電池パネルの検査方法であって、
直流電源と接続されていない状態で、前記太陽電池パネルを撮影する第1撮影工程と、
前記直流電源の電圧を、前記太陽電池パネルの起電力以上の電圧に設定する電圧設定工程と、
前記太陽電池パネルと前記直流電源とを接続し、前記太陽電池パネルに順バイアス電流を印加する接続工程と、
前記直流電源と接続されている状態で、前記太陽電池パネルを撮影する第2撮影工程と、
前記第1撮影工程において撮影された画像と、前記第2撮影工程において撮影された画像とから診断画像を生成する生成工程と
を包含する太陽電池パネルの検査方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6999911B1 (ja) * | 2021-06-29 | 2022-01-19 | 株式会社アイテス | 太陽電池パネルの検査装置、及び検査方法 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006125936A (ja) * | 2004-10-27 | 2006-05-18 | Sharp Corp | 光学検査装置および光学検査方法、並びにカラーフィルタの製造方法 |
US20110153228A1 (en) * | 2009-12-23 | 2011-06-23 | General Electric Company | Photon imaging system for detecting defects in photovoltaic devices, and method thereof |
CN102253046A (zh) * | 2011-04-26 | 2011-11-23 | 3i系统公司 | 太阳能电池片电致发光缺陷检测与iv检测一体化系统 |
JP2013036747A (ja) * | 2011-08-03 | 2013-02-21 | Toshiba Corp | 太陽電池アレイ検査装置および太陽電池アレイ検査方法 |
JP2014228517A (ja) * | 2013-05-27 | 2014-12-08 | 国立大学法人 奈良先端科学技術大学院大学 | 太陽電池モジュールの評価方法及びその利用 |
JP2015219330A (ja) * | 2014-05-16 | 2015-12-07 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | カメラ装置およびそれを用いたカメラシステム |
JP2016039766A (ja) * | 2014-08-11 | 2016-03-22 | 東北電力株式会社 | 太陽電池パネル異常検出システム |
JP2018098880A (ja) * | 2016-12-12 | 2018-06-21 | トヨタ自動車株式会社 | 太陽光発電システム |
US20180262159A1 (en) * | 2017-03-09 | 2018-09-13 | Alliance For Sustainable Energy, Llc | Illuminated outdoor luminescence imaging of photovoltaic modules |
JP2019140886A (ja) * | 2018-02-13 | 2019-08-22 | 北陸電話工事株式会社 | 太陽電池モジュール劣化診断システム |
-
2019
- 2019-10-01 JP JP2019181506A patent/JP7149534B2/ja active Active
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006125936A (ja) * | 2004-10-27 | 2006-05-18 | Sharp Corp | 光学検査装置および光学検査方法、並びにカラーフィルタの製造方法 |
US20110153228A1 (en) * | 2009-12-23 | 2011-06-23 | General Electric Company | Photon imaging system for detecting defects in photovoltaic devices, and method thereof |
CN102253046A (zh) * | 2011-04-26 | 2011-11-23 | 3i系统公司 | 太阳能电池片电致发光缺陷检测与iv检测一体化系统 |
JP2013036747A (ja) * | 2011-08-03 | 2013-02-21 | Toshiba Corp | 太陽電池アレイ検査装置および太陽電池アレイ検査方法 |
JP2014228517A (ja) * | 2013-05-27 | 2014-12-08 | 国立大学法人 奈良先端科学技術大学院大学 | 太陽電池モジュールの評価方法及びその利用 |
JP2015219330A (ja) * | 2014-05-16 | 2015-12-07 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | カメラ装置およびそれを用いたカメラシステム |
JP2016039766A (ja) * | 2014-08-11 | 2016-03-22 | 東北電力株式会社 | 太陽電池パネル異常検出システム |
JP2018098880A (ja) * | 2016-12-12 | 2018-06-21 | トヨタ自動車株式会社 | 太陽光発電システム |
US20180262159A1 (en) * | 2017-03-09 | 2018-09-13 | Alliance For Sustainable Energy, Llc | Illuminated outdoor luminescence imaging of photovoltaic modules |
JP2019140886A (ja) * | 2018-02-13 | 2019-08-22 | 北陸電話工事株式会社 | 太陽電池モジュール劣化診断システム |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6999911B1 (ja) * | 2021-06-29 | 2022-01-19 | 株式会社アイテス | 太陽電池パネルの検査装置、及び検査方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7149534B2 (ja) | 2022-10-07 |
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