JP2021022592A - 半導体装置 - Google Patents

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翔太 岡坂
Shota Okasaka
翔太 岡坂
伊藤 史人
Fumito Ito
史人 伊藤
良 松林
Makoto Matsubayashi
良 松林
泰浩 小原
Yasuhiro Obara
泰浩 小原
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Abstract

【課題】放熱性が高い半導体装置を提供する。【解決手段】半導体装置1は、冷却器10と、冷却器10の上方に位置する放熱シート20と、放熱シート20の上方に位置する回路基板30と、回路基板30に実装される半導体素子50と、冷却器10に固定される枠体60とを備え、枠体60は、回路基板30を囲む枠形状を有する外枠部61と、外枠部61における開口領域611を横切るように回路基板30の上方に位置する梁部62と、梁部62に設けられ、回路基板30に向けて突出し、回路基板30を冷却器10に向けて押圧する突出部63とを有する。【選択図】図2

Description

本発明は、半導体装置に関する。
半導体装置において、放熱性の向上は、重要である。半導体素子が駆動することにより、半導体素子が発する熱は、半導体装置外へ放つことができなければ、半導体素子の破壊につながるためである。
特許文献1には、放熱性を向上させた半導体装置が開示されている。特許文献1に開示された半導体装置は、冷却器と、半導体素子を搭載した絶縁基板と、半導体素子を囲んで絶縁基板の周辺に載置された枠体と、枠体の開口部を塞ぐ蓋体と、蓋体と冷却器とを固定する固定用ボルトとを備える。また、枠体の中央部は、山形状の凸部となっている。この半導体装置においては、固定用ボルトをねじ込むことで、蓋体がたわみ、蓋体と接触する枠体から絶縁基板に力が加わる。その結果、絶縁基板と冷却器との密着性が向上して、半導体装置の放熱性を向上させている。
特開2009−94423号公報
一方で、特許文献1に開示されるような、絶縁基板の周辺を押し付けることで、絶縁基板と冷却器とを密着させる方法では、絶縁基板全体に均一な圧力を与えることができない。その結果、絶縁基板と冷却器とにおける、良好な密着状態を得ることが困難である。このため、冷却器からの放熱が十分に行われず、特許文献1に開示される半導体装置は、放熱性に課題がある。
そこで本発明は、放熱性が高い半導体装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本発明の一態様に係る半導体装置は、冷却器と、前記冷却器の上方に位置する放熱シートと、前記放熱シートの上方に位置する回路基板と、前記回路基板に実装される半導体素子と、前記冷却器に固定される枠体とを備え、前記枠体は、前記回路基板を囲む枠形状を有する外枠部と、前記外枠部における開口領域を横切るように前記回路基板の上方に位置する梁部と、前記梁部に設けられ、前記回路基板に向けて突出し、前記回路基板を前記冷却器に向けて押圧する突出部とを有する。
本発明によれば、放熱性が高い半導体装置を提供することができる。
図1は、実施の形態に係る半導体装置の平面図である。 図2は、図1におけるII−II線での断面図である。 図3は、変形例1に係る半導体装置の断面図である。 図4は、変形例2に係る半導体装置の断面図である。
以下では、本発明の実施の形態に係る半導体装置について、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、いずれも本発明の一具体例を示すものである。従って、以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置及び接続形態、ステップ、ステップの順序などは、一例であり、本発明を限定する趣旨ではない。よって、以下の実施の形態における構成要素のうち、独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。
また、各図は、模式図であり、必ずしも厳密に図示されたものではない。従って、例えば、各図において縮尺などは必ずしも一致しない。また、各図において、実質的に同一の構成については同一の符号を付しており、重複する説明は省略又は簡略化する。
また、本明細書において、平行又は直交などの要素間の関係性を示す用語及び正方形又は長方形などの要素の形状を示す用語、並びに、数値範囲は、厳格な意味のみを表す表現ではなく、実質的に同等な範囲、例えば数%程度の差異をも含むことを意味する表現である。
また、本明細書及び図面において、x軸、y軸及びz軸は、三次元直交座標系の三軸を示している。なお、各図において、放熱シートが設けられる冷却器の一面と平行な面がxy平面であって、x軸方向及びy軸方向は互いに直交する方向である。また、z軸方向は、x軸及びy軸に対し垂直な方向である。本明細書においては、z軸正側を上方側、z軸負側を下方側として説明することがある。また、本明細書においては、「平面視したとき」とは、「z軸負方向に半導体装置を見たとき」という意味である。
また、本明細書において、「上方」及び「下方」という用語は、絶対的な空間認識における上方向(鉛直上方)及び下方向(鉛直下方)を指すものではなく、積層構造における積層順を基に相対的な位置関係により規定される用語として用いる。なお、「上方」及び「下方」などの用語は、あくまでも部材間の相互の配置を指定するために用いており、半導体装置の使用時における姿勢を限定する意図ではない。また、「上方」及び「下方」という用語は、2つの構成要素が互いに間隔を空けて配置されて2つの構成要素の間に別の構成要素が存在する場合のみならず、2つの構成要素が互いに密着して配置されて2つの構成要素が接触する場合にも適用される。
(実施の形態)
[構成]
まず、本実施の形態に係る半導体装置1の構成について、図1及び図2を用いて説明する。図1は、本実施の形態に係る半導体装置1の平面図である。図2は、図1におけるII−II線での断面図である。なお、図2においては、図が煩雑になるのを避けるため、本実施の形態に係る半導体装置1が備えるバスバー90は、図示されない。
図1及び図2に示されるように、半導体装置1は、冷却器10と、放熱シート20と、回路基板30と、半導体素子50と、枠体60と、バスバー90とを備える。本実施の形態に係る半導体装置1は、パワー半導体装置として利用することができる。例えば、半導体装置1が備える半導体素子50がIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor(絶縁ゲートバイポーラトランジスタ))である。この場合、半導体装置1は、直流を交流へ変換するインバータ装置の一部として利用することができる。また、例えば、本実施の形態に係る半導体装置1が3つ接続された装置は、3相インバータ装置として利用することができる。続いて、本実施の形態に係る半導体装置1が備える各要素について説明する。
はじめに、冷却器10について、説明する。
冷却器10は、半導体素子50が発する熱を放熱するための部材である。すなわち、冷却器10は、半導体素子50が発する熱を半導体装置1の外部へ放つための部材である。本実施の形態に係る冷却器10は、フィン形状を有するヒートシンクである。また、冷却器10は、送風機を備えたヒートシンクであってもよい。本実施の形態に係る冷却器10は、銅、アルミニウム又は鉄などの熱伝導率が高い材料により構成される。
冷却器10は、フィン形状を有する面と反対側に、放熱シート20が設けられる一面を有する。また、この一面には、半導体装置1が備えるその他の構成要素が設けられる。すなわち、冷却器10は、図2に示されるように、半導体装置1の支持台としての役割を果たす。冷却器10は、リジッドな性質をもつため、冷却器10に対し力が与えられても、変形量が非常に小さい。
本実施の形態に係る冷却器10には、冷却器10をz軸方向に貫通するネジ孔が設けられている。当該ネジ孔は、冷却器10と枠体60とを固定するネジ11が挿通される。当該ネジ孔は、後述する枠体60と冷却器10とが接する箇所に設けられている。
次に、放熱シート20について、説明する。
放熱シート20は、冷却器10の上方に位置するシートである。本実施の形態においては、放熱シート20は、冷却器10が有する一面に接触している。
放熱シート20は、半導体素子50が発する熱を冷却器10へ伝導する。本実施の形態に係る放熱シート20は、グラファイトシートである。より具体的には、本実施の形態に係る放熱シート20は、高い柔軟性を有するグラファイトシートである。本実施の形態に係る放熱シート20の形状は、平面視したときに、長方形形状となる。また、放熱シート20が半導体素子50が発する熱を伝導することができれば、放熱シート20の材料及び形状は、上記に限定されない。
本実施の形態に係る放熱シート20は、高い柔軟性を有する。そのため、放熱シート20に対し、圧力が与えられると、放熱シート20は変形する。なお、放熱シート20は、放熱グリスと、同時に使用されてもよい。
続いて、回路基板30について説明する。
回路基板30は、放熱シート20の上方に位置する基板であり、回路基板30は、半導体素子50を実装するための基板である。また、回路基板30は、半導体素子50が発する熱を放熱シート20へ伝導する。図1に示されるように、本実施の形態に係る回路基板30の形状は、平面視したときに、長方形形状である。回路基板30は、例えば、x軸方向に40ミリメートル、y軸方向に50ミリメートの大きさである。回路基板30は、放熱シート20と接する面に導電層を有する。より具体的には、本実施の形態に係る回路基板30は、絶縁基板33と、第1導電層31と、第2導電層32とを有する。第1導電層31と、絶縁基板33と、第2導電層32とは、放熱シート20から離れる方向に、すなわち上方に向けて、この順で積層されている。また、放熱シート20と第1導電層31とは、接している。すなわち、本実施の形態においては、上述の回路基板30が放熱シート20と接する面に有する導電層とは、第1導電層31である。なお、図1においては、第2導電層32は、密度の高いドットが付された領域で示されている。第2導電層32は、半導体素子50を実装する配線パターン形状に形成されている。また、図1においては、第1導電層31は、絶縁基板33の背面に位置するため、図示されないが、第1導電層31の形状は、平面視したときに、長方形形状である。
第1導電層31は、絶縁基板33の下方の一面に、第2導電層32は、絶縁基板33の上方の一面に位置している。第1導電層31及び第2導電層32は、電気伝導率が高く、かつ、熱伝導率が高い材料で構成される。本実施の形態に係る第1導電層31及び第2導電層32は、銅により構成されるが、第1導電層31及び第2導電層32を構成する材料は、電気伝導率が高く、かつ、熱伝導率が高い材料であれば、銅に限らない。第1導電層31及び第2導電層32を構成する材料は、例えば、アルミニウムなどである。このように、絶縁基板33の両面に、2つの導電層が設けられることで、絶縁基板33の反りを抑制することができる。なお、絶縁基板33の両面に設けられる2つの導電層が同一の材料により構成されることで、絶縁基板33の反りをより抑制することができる。
また、回路基板30が放熱シート20と接する面に有する導電層は、平面視したときに、当該導電層の全ての領域が放熱シート20と重なる。すなわち、本実施の形態に係る第1導電層31は、平面視したときに、第1導電層31の全ての領域が放熱シート20と重なる。本実施の形態においては、平面視したときに、放熱シート20及び第1導電層31の形状は、長方形形状である。第1導電層31の全ての領域が放熱シート20と重なるため、放熱シート20の形状は、第1導電層31の形状よりも大きい長方形形状である。これにより、第1導電層31の下方の面の全ての領域が放熱シート20と接触する。すなわち、半導体素子50が発する熱は、第1導電層31から放熱シート20に向けて容易に移動する。
絶縁基板33は、電気抵抗率が高く、かつ、熱伝導率が高い材料で構成される。絶縁基板33は、例えば、アルミナ又はジルコニアなどを含むセラミック基板を用いることができる。また、絶縁基板33は、例えば、フェノール又はエポキシなどを含む樹脂基板を用いることができる。本実施の形態に係る絶縁基板33は、エポキシ樹脂基板であるが、絶縁基板33の材料は、電気抵抗率が高く、かつ、熱伝導率が高い材料であれば、上記材料に限らない。さらに、絶縁基板33は、リジッドな性質をもつ。そのため、絶縁基板33に対し力が与えられても、絶縁基板33の変形量は、非常に小さい。すなわち、回路基板30は、リジッドな性質をもち、回路基板30に対し力が与えられても、回路基板30の変形量は、非常に小さい。
次に、半導体素子50について説明する。
半導体素子50は、回路基板30に実装される。より具体的には、半導体素子50は、図2に示されるように、回路基板30が有する第2導電層32と、はんだ層40を介して接合される。本実施の形態においては、2つの半導体素子50が第2導電層32の上方に設けられる。本実施の形態に係る半導体素子50は、IGBTであるが、半導体素子50は、これに限らない。半導体素子50が駆動することで、熱を発する。
さらに、バスバー90について説明する。なお、図1においては、バスバー90は、密度の低いドットが付された領域で示されている。
バスバー90は、第2導電層32と半導体素子50とを電気的に接続する電気伝導率が高い部材である。バスバー90は、第2導電層32の一部と、当該一部とは異なる第2導電層32の一部とを電気的に接続してもよい。本実施の形態においては、バスバー90は、銅により構成され、バスバー90の形状は、平板形状である。このため、バスバー90は、大電流を流すことができる。しかしながら、バスバー90の材料及び形状は、高い電気伝導率を有する材料及び高い導電性を有する形状であれば、上記に限らない。
続いて、枠体60について説明する。なお、図1においては、枠体60は、斜線が付された領域で示されている。
枠体60は、冷却器10に固定される部材である。なお、枠体60は、樹脂、金属又はセラミックスなどの材料により構成される。本実施の形態に係る枠体60は、PPS(ポリフェニレンサルファイド)系樹脂により構成されるが、枠体60の材料は、エポキシ系樹脂又はPBT(ポリブチレンテレフタレート)系樹脂等を用いることができる。また、枠体60の材料は、上記に限られず、耐熱性が高く、成型性に優れた材料であれば、その他の樹脂材料を用いることができる。
枠体60は、外枠部61と、梁部62と、突出部63とを有する。
外枠部61は、回路基板30を囲む枠形状を有する部材である。本実施の形態において、枠形状とは、回路基板30の全周囲を完全に囲う形状だが、これに限らない。枠形状とは、例えば、平面視したときにC字型のように回路基板30の周囲を完全に囲わない形状でもよい。本実施の形態に係る外枠部61は、冷却器10の上方に設けられ、放熱シート20と同じく、冷却器10が有する一面に接している。なお、外枠部61と冷却器10との間には、接着層などの介在層が存在してもよい。また、外枠部61は、冷却器10の側面に位置してもよい。つまり、外枠部61は、回路基板30と冷却器10とを囲む枠形状を有してもよい。
本実施の形態においては、外枠部61は、平面視したときに、矩形の枠形状である。また、外枠部61における開口領域611は、外枠部61が有する枠形状にって囲まれる3次元の空間である。なお、開口領域611は、図1及び2において、矩形の点線で囲まれた領域である。開口領域611は、放熱シート20、回路基板30、はんだ層40、半導体素子50及びバスバー90を内包する。
上述のように、枠体60は、冷却器10に固定されるが、より厳密には、枠体60が有する外枠部61が冷却器10に固定される。外枠部61には、外枠部61をz軸方向に延び、外枠部61を貫通しないネジ孔が設けられている。
ネジ11は、冷却器10に設けられたネジ孔と外枠部61に設けられたネジ孔とに挿通され、冷却器10と外枠部61とを締結する。これにより、外枠部61は、冷却器10に押し付けられるように固定される。すなわち、枠体60の全体が冷却器10に押し付けられるように固定される。
梁部62は、外枠部61における開口領域611を横切るように回路基板30の上方に位置する部材である。梁部62が外枠部61における開口領域611を横切るように、とは、梁部62が外枠部61の一箇所から開口領域611のいずれかの領域を経由して当該外枠部61の一箇所とは異なる外枠部61の一箇所へと接続されることを指す。例えば、本実施の形態においては、梁部62は、矩形である外枠部61の一辺と当該外枠部61の一辺と正対する一辺とに接続される。
本実施の形態に係る梁部62の形状は、四角柱形状であるが、梁部62の形状は、これに限らない。例えば、梁部62の形状は、角柱形状、円柱形状又は平板形状であってもよい。梁部62の形状が角柱形状又は円柱形状である場合、梁部62の形状は、直線状又は曲線状のいずれであってもよい。梁部62は、例えば、x軸方向に5ミリメートル、z軸方向に5ミリメートルの大きさの四角柱形状である。また、梁部62は、蓋形状であってもよい。蓋形状とは、平面視したときの外枠部61における開口領域611を全て覆う形状である。また、梁部62は、回路基板30とは接触せずに、上方に位置する。
突出部63は、梁部62に設けられ、回路基板30に向けて突出する部材である。より具体的には、突出部63は、四角柱形状である梁部62の下方の面から、回路基板30に向けて、すなわち、下方に向けて、突出する部材である。本実施の形態に係る突出部63の形状は、円柱形状であるが、突出部63の形状は、これに限らない。例えば、突出部63の形状は、角柱又は円柱であってもよい。また、突出部63は、回路基板30に接触する。より具体的には、突出部63は、第2導電層32及び/又は絶縁基板33に接触する。言い換えると、突出部63は、はんだ層40及び半導体素子50には、接触しない。
さらに、突出部63は、回路基板30を冷却器10に向けて押圧する。すなわち、図2においては、突出部63は、回路基板30をz軸負方向に向けて押圧する。上述のように、枠体60は、冷却器10に押し付けられるように固定されており、かつ、突出部63は、回路基板30に接触する。以上のように、枠体60全体が冷却器10に押し付けられるため、枠体60が有する突出部63は、回路基板30を冷却器10に向けて押圧することができる。
また、突出部63は、梁部62の下方の面であれば、どの位置に設けられてもよい。すなわち、突出部63は、梁部62の直下方向であれば、回路基板30の任意の場所を押圧することができる。本実施の形態においては、突出部63は、梁部62の中央に設けられるため、突出部63は、回路基板30の中央部を押圧することができる。そのため、突出部63は、回路基板30を冷却器10に向けて、回路基板30の全体を均一に押圧することができる。
なお、回路基板30の中央部とは、回路基板30の中央付近の部分を意味し、厳密に解釈されるものではない。例えば、回路基板30の中央部とは、以下のように決定される。図1において回路基板30を平面視したときに、回路基板30のx軸方向の長さを三等分してx軸正方向に並ぶ順に左部、中部及び右部とし、回路基板30のy軸方向の長さを三等分してy軸正方向に並ぶ順に下部、中部及び上部とする。このとき、回路基板30の中央部とは、x軸方向及びy軸方向の両方において、中部である領域である。しかしながら、これに限らない。
さらに、枠体60は、複数のばね部材70を有する。
複数のばね部材70は、弾性変形する部材である。そのため、複数のばね部材70は、圧力が与えられることで複数のばね部材70自身の形状を変化させ、圧力が取り除かれることで元の複数のばね部材70自身の形状に復元する性質をもつ。
また、複数のばね部材70のそれぞれは、回路基板30の向かい合う縁辺部のそれぞれを冷却器10に向けて押圧する。図2において、複数のばね部材70のそれぞれは、回路基板30を下方に向けて押圧する。縁辺部とは、回路基板30の周縁部である。例えば、長方形形状における向かい合う縁辺部とは、向かい合う二辺の周囲である。本実施の形態においては、平面視したときに、回路基板30の形状は、長方形形状である。よって、回路基板30の向かい合う縁辺部とは、回路基板30の向かい合う二辺の周囲である。また、複数のばね部材70のそれぞれは、回路基板30の向かい合う縁辺部のそれぞれと接触する。
上述のように、枠体60は、冷却器10に押し付けられるように固定されている。さらに、枠体60が有する複数のばね部材70は、弾性変形し、かつ、複数のばね部材70のそれぞれは、回路基板30の向かい合う縁辺部のそれぞれと接触する。これにより、枠体60全体が冷却器10に押し付けられるため、枠体60が有する複数のばね部材70は、弾性変形を利用して、回路基板30の向かい合う縁辺部のそれぞれを冷却器10に向けて押圧することができる。複数のばね部材70は、突出部63と組み合わせることで、回路基板30の全体をより均一に押圧することができる。例えば、回路基板30に反りがある場合でも、突出部63が回路基板30の中央部を、複数のばね部材70が回路基板30の向かい合う縁辺部を押圧することで、回路基板30の全体をより均一に押圧することができる。
また、複数のばね部材70は、外枠部61によって支持される複数の第1ばね部材71を含む。本実施の形態においては、複数のばね部材70の全てが複数の第1ばね部材71である。複数の第1ばね部材71の一端が外枠部61の中に埋め込まれることで、複数の第1ばね部材71は、外枠部61によって支持されている。本実施の形態に係る複数の第1ばね部材71は、板ばねにより構成されるが、複数の第1ばね部材71は、他の種類のばね部材により構成されてもよい。
なお、本実施の形態においては、図1に示すように、複数の第1ばね部材71は、半導体装置1のy軸軸正側に2つ、y軸負側に1つ設けられるが、これに限らない。複数の第1ばね部材71が適切な場所に配置されることで、回路基板30の全体をより均一に押圧することができる。すなわち、複数の第1ばね部材71は、外枠部61の任意の場所に設けることができ、複数の第1ばね部材71を適切な場所に配置することで、複数の第1ばね部材71は、回路基板30の全体をより均一に押圧することができる。
本実施の形態においては、枠体60及び複数の第1ばね部材71は、インサート成型を用いて製造される。すなわち、複数の第1ばね部材71が金型内に設置され、さらに、枠体60を構成する材料(PPS)が金型内に注入されることで、枠体60及び複数の第1ばね部材71が一体となって成型される。しかしながら、枠体60及び複数の第1ばね部材71を製造する方法は、上記に限られない。
また、複数の第1ばね部材71の少なくとも1つの第1ばね部材71は、導電性を有する導電性ばね端子711である。本実施の形態においては、複数の第1ばね部材71の全てが導電性ばね端子711である。図1に示すように、半導体装置1には、3つの導電性ばね端子711が設けられている。よって、本実施の形態においては、複数のばね部材70の全ては、複数の第1ばね部材71であって、3つの導電性ばね端子711である。導電性ばね端子711は、電気伝導率が高い材料であれば、どのような材料で構成されてもよい。例えば、導電性ばね端子711は、銅、アルミニウム、鉄、銅又はインバー(登録商標)などを含む材料により構成される。また、例えば、導電性ばね端子711は、銅、アルミニウム、鉄、銅又はインバーなどを含む材料が積層された構成であってもよい。なお、インバー(登録商標)とは、合金であり、鉄とニッケルとマンガンと炭素とを含む。本実施の形態においては、3つの導電性ばね端子711は、銅を含む材料により構成される。
さらに、導電性ばね端子711の一端は、回路基板30と電気的に接続される。上述のように、複数のばね部材70のそれぞれ、すなわち、3つの導電性ばね端子711は、回路基板30の向かい合う縁辺部のそれぞれと接触する。回路基板30の向かい合う縁辺部のそれぞれにおいて、3つの導電性ばね端子711の一端は、回路基板30と電気的に接続される。つまり、本実施の形態においては、3つの導電性ばね端子711の一端は、回路基板30が有する第2導電層32と電気的に接続する。
一方で、導電性ばね端子711の他端は、外枠部61の上面に露出する。外枠部61の上面とは、外枠部61の上方側の面であって、図1において、平面視したときに視認できる面である。また、図1及び2において、外枠部61の上面は、z軸正側の面でもある。導電性ばね端子711の他端が露出することで、導電性ばね端子711の他端は、半導体装置1の外部と電気的な接点となりうる。以上から、導電性ばね端子711は、回路基板30の電極として利用することができる。
ここで、突出部63及び複数のばね部材70が回路基板30を押圧する点に着目する。このときに発生する押圧する力100について、説明する。
[押圧する力100の作用]
上述のように、突出部63は、回路基板30を冷却器10に向けて、回路基板30の全体を均一に押圧することができる。さらに、複数のばね部材70は、突出部63と組み合わせることで、回路基板30の全体をより均一に押圧することができる。
このように、突出部63及び複数のばね部材70が回路基板30を押圧することによって、押圧する力100が発生する。押圧する力100は、半導体装置1において、以下のように作用する。
まず、回路基板30は、押圧する力100によって、冷却器10に向けて、すなわち、下方に向けて押圧される。回路基板30及び冷却器10は、リジッドな性質をもつため、回路基板30及び冷却器10が変形することはない。一方で、回路基板30と冷却器10とに挟まれる放熱シート20は、柔軟性を有する。そのため、押圧する力100が発生すると、放熱シート20は、圧縮され、変形する。ここで、放熱シート20に接する冷却器10の表面に着目する。例えば、この冷却器10の表面に、微小サイズの凹凸があるとしても、放熱シート20が変形することで、放熱シート20が当該凹凸に入り込む。これにより、放熱シート20と冷却器10との密着性が向上する。さらに、放熱シート20に接する回路基板30の表面、厳密には、第1導電層31の表面にも、同様の現象がおこる。放熱シート20に接する第1導電層31の表面に、微小サイズの凹凸があるとしても、放熱シート20が変形することで、放熱シート20が当該凹凸に入り込む。これにより、回路基板30と放熱シート20との密着性が向上する。それぞれの密着性が向上することにより、放熱シート20と冷却器10との接触熱抵抗及び放熱シート20と回路基板30との接触熱抵抗が低下する。よって、半導体素子50が発する熱は、はんだ層40と、回路基板30と、放熱シート20と、冷却器10とを順に、効率よく伝わって、冷却器10によって、半導体装置1の外部へ放たれる。すなわち、放熱性が高い半導体装置1が実現される。
[効果など]
以上のように、本実施の形態に係る半導体装置1は、冷却器10と、冷却器10の上方に位置する放熱シート20と、放熱シート20の上方に位置する回路基板30と、回路基板30に実装される半導体素子50と、冷却器10に固定される枠体60とを備える。枠体60は、回路基板30を囲む枠形状を有する外枠部61を有する。また、枠体60は、外枠部61における開口領域611を横切るように回路基板30の上方に位置する梁部62を有する。また、枠体60は、梁部62に設けられ、回路基板30に向けて突出し、回路基板30を冷却器10に向けて押圧する突出部63とを有する。
これにより、本実施の形態においては、突出部63は、回路基板30の中央部を押圧する。そのため、突出部63は、回路基板30の全体を均一に押圧することができる。押圧する力100が発生すると、放熱シート20が圧縮され、変形する。その結果、放熱シート20と冷却器10との密着性及び回路基板30と放熱シート20との密着性が向上する。それぞれの密着性が向上することにより、放熱シート20と冷却器10との接触熱抵抗及び放熱シート20と回路基板30との接触熱抵抗が低下する。そのため、半導体素子50が発する熱は、はんだ層40と、回路基板30と、放熱シート20と、冷却器10とを順に、効率よく伝わって、冷却器10によって、半導体装置1の外部へ放たれる。すなわち、放熱性が高い半導体装置1が実現される。
また、本実施の形態に係る半導体装置1において、枠体60は、さらに、弾性変形する複数のばね部材70を有し、複数のばね部材70のそれぞれは、回路基板30の向かい合う縁辺部のそれぞれを冷却器10に向けて押圧する。
これにより、本実施の形態においては、複数のばね部材70は、回路基板30の向かい合う縁辺部のそれぞれを押圧する。複数のばね部材70は、突出部63と組み合わせることで、回路基板30の全体をより均一に押圧することができる。例えば、回路基板30に反りがある場合でも、突出部63が回路基板30の中央部を、複数のばね部材70が回路基板30の向かい合う縁辺部を押圧するすることで、回路基板30の全体をより均一に押圧することができる。押圧する力100が発生すると、放熱シート20が圧縮され、変形する。その結果、放熱シート20と冷却器10との密着性及び回路基板30と放熱シート20との密着性が向上する。それぞれの密着性が向上することにより、放熱シート20と冷却器10との接触熱抵抗及び放熱シート20と回路基板30との接触熱抵抗が低下する。そのため、半導体素子50が発する熱は、はんだ層40と、回路基板30と、放熱シート20と、冷却器10とを順に、効率よく伝わって、冷却器10によって、半導体装置1の外部へ放たれる。すなわち、放熱性がより高い半導体装置1が実現される。
また、本実施の形態に係る半導体装置1において、複数のばね部材70は、外枠部61によって支持される複数の第1ばね部材71を含む。
これにより、複数の第1ばね部材71は、外枠部61の任意の場所に設けることができ、複数の第1ばね部材71を適切な場所に配置することで、複数の第1ばね部材71は、回路基板30の全体をより均一に押圧することができる。
また、本実施の形態に係る半導体装置1において、複数の第1ばね部材71の少なくとも1つの第1ばね部材71は、導電性を有する導電性ばね端子711である。導電性ばね端子711の一端は、回路基板30と電気的に接続され、導電性ばね端子711の他端は、外枠部61の上面に露出する。
これにより、導電性ばね端子711は、回路基板30の電極として利用することができる。
また、本実施の形態に係る半導体装置1において、回路基板30は、放熱シート20と接する面に導電層を有し、導電層は、平面視したときに、導電層の全ての領域が放熱シート20と重なる。
これにより、第1導電層31の下方の面の全ての領域が放熱シート20と接触する。すなわち、半導体素子50が発する熱は、第1導電層31から放熱シート20に向けて容易に移動する。そのため、半導体素子50が発する熱は、はんだ層40と、回路基板30と、放熱シート20と、冷却器10とを順に、効率よく伝わって、冷却器10によって、半導体装置1の外部へ放たれる。すなわち、放熱性がより高い半導体装置1が実現される。
(変形例1)
実施の形態においては、複数の第1ばね部材71の全てが導電性ばね端子711であるが、これに限らない。図3は、本変形例に係る半導体装置1aの断面図である。本変形例においては、複数の第1ばね部材71のうち2つの第1ばね部材71は、導電性を有する導電性ばね端子711であり、複数の第1ばね部材71のうち1つの第1ばね部材71aは、導電性を有さない点が実施の形態とは異なる。
このように、複数の第1ばね部材71は、導電性を有する2つの導電性ばね端子711と、導電性を有さない1つの第1ばね部材71aとの組み合わせであってもよい。また、導電性を有さない1つの第1ばね部材71aの一端は、外枠部61の上面に露出しなくてもよい。
なお、本変形例では、実施の形態と共通の構成要素については、同一の符号を付しており、重複する説明は省略する。
(変形例2)
実施の形態においては、複数のばね部材70の全てが、複数の第1ばね部材71であるが、これに限らない。本変形例においては、複数のばね部材70は、梁部62によって支持される複数の第2ばね部材72bを含む点が実施の形態とは異なる。より具体的には、複数のばね部材70の全ては、複数の第2ばね部材72bである。なお、本変形例では、実施の形態と共通の構成要素については、その詳細な説明を省略する。
[構成]
図4は、本変形例に係る半導体装置1bの断面図である。本変形例に係る半導体装置1bが備える枠体60は、実施の形態と同じく梁部62を有する。
本変形例に係る複数のばね部材70は、実施の形態と同じく、弾性変形し、複数のばね部材70のそれぞれは、回路基板30の向かい合う縁辺部のそれぞれを冷却器10に向けて押圧する。さらに、上述のように、複数のばね部材70の全ては、梁部62によって支持される複数の第2ばね部材72bである。
複数の第2ばね部材72bは、四角柱形状である梁部62の下方の面から回路基板30に向けて、すなわち、下方に向けて設けられる部材である。本変形例の複数の第2ばね部材72bは、コイルばねであるが、複数の第2ばね部材72bは、これに限らない。例えば、複数の第2ばね部材72bは、他の種類のばね部材であってもよい。また、複数の第2ばね部材72bは、回路基板30に接触する。すなわち、複数の第2ばね部材72bは、第2導電層32及び/又は絶縁基板33に接触する。言い換えると、複数の第2ばね部材72bは、はんだ層40及び半導体素子50には、接触しない。
本変形例においては、図4に示すように、複数の第2ばね部材72bは、突出部63よりy軸軸正側に1つ、突出部63よりy軸負側に1つ設けられるが、これに限らない。複数の第2ばね部材72bが適切な場所に配置することで、回路基板30の全体をより均一に押圧することができる。すなわち、複数の第2ばね部材72bは、梁部62の任意の場所に設けることができ、複数の第2ばね部材72bを適切な場所に配置することで、複数の第2ばね部材72bは、回路基板30の全体をより均一に押圧することができる。
[効果など]
本変形例に係る半導体装置1bにおいて、複数のばね部材70は、梁部62によって支持される複数の第2ばね部材72bを含む。
これにより、複数の第2ばね部材72bは、梁部62の任意の場所に設けることができ、複数の第2ばね部材72bを適切な場所に配置することで、複数の第2ばね部材72bは、回路基板30の全体をより均一に押圧することができる。
(その他)
以上、実施の形態に係る半導体装置について説明したが、本発明は、上記実施の形態及び変形例に限定されるものではない。
実施の形態においては、枠体60と冷却器10とは、ネジ11により固定されたが、これに限らない。枠体60と冷却器10とは、その他の方法により固定されてもよい。例えば、枠体60と冷却器10とを挟持するジグにより、枠体60と冷却器10とが固定されてもよい。この場合、当該ジグは、枠体60をz軸負向きに、冷却器10をz軸正向きに押し付けるように挟持する。また、例えば、枠体60と冷却器10との間に挿入される接着剤により、枠体60と冷却器10とが固定されてもよい。この場合、枠体60と冷却器10とが固定される際に、枠体60と冷却器10とが互いに押し付けられるように固定される。いずれも例においても、枠体60が冷却器10に押し付けられるように固定されることで、枠体60が有する突出部63は、回路基板30を押圧することができる。
また、半導体装置1、1a及び1bは、封止樹脂部材を備えていてもよい。封止樹脂部材は、エポキシ系樹脂などにより構成される。封止樹脂部材は、外枠部61における開口領域611に充填される。封止部樹脂部材は、放熱シート20、回路基板30、はんだ層40、半導体素子50及びバスバー90の周囲を覆う。これにより、放熱シート20、回路基板30、はんだ層40、半導体素子50及びバスバー90が湿気などから保護され、半導体装置1の耐久性が向上する。
なお、実施の形態においては、梁部62は、矩形である外枠部61の一辺と当該外枠部61の一辺と正対する一辺とに接続されるがこれに限らない。例えば、梁部62は、矩形である外枠部61の隣り合う二辺どうしに接続されてもよい。
また、実施の形態においては、梁部62は、1本設けられたが、これに限らない。梁部62は、複数設けられてもよい。また、実施の形態においては、突出部63は、1本設けられたが、これに限らない。突出部63は、複数設けられてもよい。これにより、複数の突出部63は、回路基板30を冷却器10に向けて、回路基板30の全体をより均一に押圧することができる。
実施の形態においては、枠体60及び複数の第1ばね部材71は、インサート成型を用いて製造されるが、これに限らない。例えば、枠体60が複数に分けて製造されてもよい。具体的には、まず、図2における複数の第1ばね部材71より下方側の枠体60と、複数の第1ばね部材71より上方側の枠体60とがそれぞれ製造される。次に、当該下方側の枠体60と、当該上方側の枠体60とによって、複数の第1ばね部材71が挟まれるように固定されることで、枠体60及び複数の第1ばね部材71が製造されてもよい。
また、複数の第1ばね部材71が枠体60内に内包されず、複数の第1ばね部材71の全てが枠体60外に露出していてもよい。この場合は、複数の第1ばね部材71は、接着剤又はネジなどにより枠体60に固定される。
なお、実施の形態においては、3つの導電性ばね端子711の一端は、第2導電層32と電気的に接続したが、このとき、3つの導電性ばね端子711と第2導電層32との間に介在層が存在してもよい。介在層は、例えば、はんだ材料などを用いることができる。これにより、3つの導電性ばね端子711と第2導電層32とは、容易に電気的に接続することができる。
また、実施の形態においては、縁辺部とは、回路基板30の周縁部であるとしたが、例えば、以下のようであってもよい。縁辺部は、回路基板30を平面視したときの回路基板30の一辺の長さをLとした場合に、回路基板30の端からの長さが0.3L以下である領域であってもよい。
その他、上記実施の形態及び変形例に対して当業者が思いつく各種変形を施して得られる形態又は本発明の趣旨を逸脱しない範囲で各実施の形態における構成要素及び機能を任意に組み合わせることで実現される形態も本発明に含まれる。
本開示に係る半導体装置は、産業機器の駆動制御機器、モータを備えた家電の駆動制御機器、電気自動車、又は、ハイブリッド自動車向けの車載制御機器等の様々な用途の半導体装置として利用可能である。
1、1a、1b 半導体装置
10 冷却器
11 ネジ
20 放熱シート
30 回路基板
31 第1導電層
32 第2導電層
33 絶縁基板
40 はんだ層
50 半導体素子
60 枠体
61 外枠部
62 梁部
63 突出部
70 ばね部材
71、71a 第1ばね部材
711 導電性ばね端子
72b 第2ばね部材
90 バスバー
100 押圧する力
L 回路基板の一辺の長さ

Claims (6)

  1. 冷却器と、
    前記冷却器の上方に位置する放熱シートと、
    前記放熱シートの上方に位置する回路基板と、
    前記回路基板に実装される半導体素子と、
    前記冷却器に固定される枠体とを備え、
    前記枠体は、
    前記回路基板を囲む枠形状を有する外枠部と、
    前記外枠部における開口領域を横切るように前記回路基板の上方に位置する梁部と、
    前記梁部に設けられ、前記回路基板に向けて突出し、前記回路基板を前記冷却器に向けて押圧する突出部とを有する
    半導体装置。
  2. さらに、前記枠体は、弾性変形する複数のばね部材を有し、
    前記複数のばね部材のそれぞれは、前記回路基板の向かい合う縁辺部のそれぞれを前記冷却器に向けて押圧する
    請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記複数のばね部材は、前記外枠部によって支持される複数の第1ばね部材を含む
    請求項2に記載の半導体装置。
  4. 前記複数の第1ばね部材の少なくとも1つの第1ばね部材は、導電性を有する導電性ばね端子であって、
    前記導電性ばね端子の一端は、前記回路基板と電気的に接続され、
    前記導電性ばね端子の他端は、前記外枠部の上面に露出する
    請求項3に記載の半導体装置。
  5. 前記複数のばね部材は、前記梁部によって支持される複数の第2ばね部材を含む
    請求項2から4のいずれか1項に記載の半導体装置。
  6. 前記回路基板は、前記放熱シートと接する面に導電層を有し、
    前記導電層は、平面視したときに、前記導電層の全ての領域が前記放熱シートと重なる
    請求項1から5のいずれか1項に記載の半導体装置。
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