JP2021021602A - 測定装置及び測定方法 - Google Patents

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【課題】サンプルの測定を簡易にかつ精度良く行う。【解決手段】光を発する光源(1)と、前記光源(1)からの光を分岐する光分岐器(2)と、前記分岐した光をサンプル(T)に照射し、前記サンプル(T)から発生する光又は電子を測定する複数の測定部(3A,3B)と、を備え、前記複数の測定部(3A,3B)は、互いに異なる分析手法により測定を行い、前記サンプル(T)に照射する光をそれぞれの分析手法に応じた特性の光に変換して前記サンプルに照射する、測定装置(100)。【選択図】図1

Description

本発明は、測定装置及び測定方法に関する。
サンプルの定性又は定量のため、様々な分析手法を用いた測定が行われている。例えば、分光法の1つであるコヒーレント反ストークスラマン散乱 (CARS:Coherent Anti-Stokes Raman Scattering)法が、燃料電池中の水分の測定に用いられている(特許文献1参照。)。分光法は非破壊及び非接触で測定が可能であり、製品の評価に特に有用である。
特開2016−156813号公報
CARS法以外にも、電子状態の測定には光電子分光法、膜の結晶性の測定にはラマン分光法等の分析手法が用いられている。
しかし、各分析手法で測定できる測定装置が必要になり、設備コストがかかるとともに、各分析手法を用いた測定装置によりサンプルの測定を繰り返さなければならず、分析に時間を要する。また、測定環境が異なることによる測定誤差が生じやすい。
本発明は、サンプルの測定を簡易にかつ精度良く行うことを目的とする。
本発明の一態様によれば、光を発する光源(1)と、前記光源(1)からの光を分岐する光分岐器(2)と、前記分岐した光をサンプル(T)に照射し、前記サンプル(T)から発生する光又は電子を測定する複数の測定部(3A,3B)と、を備え、前記複数の測定部(3A,3B)は、互いに異なる分析手法により測定を行い、前記サンプル(T)に照射する光をそれぞれの分析手法に応じた特性の光に変換して前記サンプルに照射する、測定装置(100)が提供される。
本発明の他の一態様によれば、光源(1)から光を発するステップと、前記光源(1)からの光を分岐して複数の測定部(3A,3B)にそれぞれ出力するステップと、前記各測定部(3A,3B)において、前記出力された光をサンプル(T)に照射し、前記サンプル(T)から発生する光又は電子を測定するステップと、を含み、前記複数の測定部(3A,3B)は、互いに異なる分析手法により測定を行い、前記測定するステップは、前記各測定部(3A,3B)において、前記サンプル(T)に照射する光をそれぞれの分析手法に応じた特性の光に変換することを含む、測定方法が提供される。
本発明によれば、サンプルの測定を簡易にかつ精度良く行うことができる。
本実施形態の測定装置の構成を示す概念図である。
以下、本発明の測定装置及び測定方法の実施の形態について、図面を参照して説明する。以下に説明する構成は、本発明の一実施態様としての一例(代表例)であり、本発明は以下に説明する構成に限定されない。
図1は、本発明の一実施形態の測定装置100の構成を示す。
測定装置100は、光をサンプルTに照射することによってサンプルTから発生する光又は電子を測定する。
測定装置100は、図1に示すように、光源1、光分岐器2及び2つの測定部3A及び3Bを備える。また、測定装置100は、複数のミラー4を備え、各ミラー4により光源1からの光を所定の光路へ導く。なお、光源1からの光を導くことができるのであれば、ミラー4のような光学系だけでなく、光ファイバー、光導波路等の導光モジュールが用いられてもよい。
光源1は、紫外線領域から赤外線領域までの波長領域内にある光を発する。このような光源1としては、公知の光源を使用することができ、例えば超短パルスレーザー、固体YAG(イットリウム・アルミニウム・ガーネット)レーザー、チタンサファイヤレーザー、Nd:Glassレーザー等が挙げられる。
光分岐器2は、光源1からの光を分岐する。光分岐器2としては特に限定されず、例えば光ファイバー、導波路、ハーフミラー、ダイクロイックミラー等を用いることができる。
測定部3A及び3Bは、分岐した光をサンプルTに照射し、当該サンプルTから発生する光又は電子を所定の分析手法により測定する。測定に使用できる分析手法としては、光又は電子の状態を分析できるのであれば特に限定されず、例えばCARS法、赤外分光法(IR:Infrared Spectroscopy)、FT−IR(Fourier Transform Infrared Spectroscopy)法、光電子分光法(Photoelectron Spectroscopy)、分光エリプソメトリー等の分光法の他、レーザー回折法等が挙げられる。
測定部3A及び3Bにおいて光を照射する基本的な構成は共通しており、図1に示すように、測定部3A及び3Bは、第1プローブ6、第2プローブ7及び検出器8を備える。測定部3A及び3Bは、必要に応じて第2プローブ7と検出器8の間に分光器を備えることができる。
第1プローブ6は、光源1から導かれた光を集光してサンプルTに照射する。第2プローブ7は、光の照射によりサンプルTから発生した光又は電子を集めて検出器8に出力する。検出器8は、第2プローブ7から出力された光又は電子を検出し、その強度を表す電気信号を出力する。
サンプルTから発生する光としては、例えば入射光に対する反射光、散乱光、透過光、サンプルTから放出される蛍光等が挙げられる。また、サンプルTから発生する電子としては、光電効果によってサンプルTから放出される電子(光電子)が挙げられる。
光の検出器8としては、例えばCCD(Charged-Coupled Devices)、ICCD(Intensified CCD)等の光電変換素子を用いることができる。電子の検出器8としては、例えばチャンネルトロン、マルチチャンネルトロン、マイクロチャンネルプレート等の電子倍増管を用いることができる。分光器が設けられる場合、検出器8は、分光器によって特定波長に分光された光の強度やエネルギーを検出する。
測定部3A及び3Bが用いる分析手法は互いに異なる。本実施形態において、測定部3Aが用いる分析手法はCARS法であり、サンプルTが発するCARS光を測定する。測定部3Bが用いる分析手法は光電子分光法であり、サンプルTが発する光電子を測定する。例えば、サンプルTが燃料電池の電極である場合、CARS法により電極の劣化要因である水の定性及び定量を行うことができ、光電子分光法により電極の電子状態等を評価できる。
サンプルTに照射する光の特性、例えば光の波長、角振動数又は偏光の方向は、各測定部3A及び3Bが用いる分析手法によって異なる。よって、測定部3A及び3Bは、1又は複数の変換器5を備え、光源1からの光を変換器5によりそれぞれの分析手法に応じた特性の光に変換してサンプルTに照射する。
変換器5としては、例えば光の波長(周波数)を変換するフォトニック結晶等の非線形光学結晶、光パラメトリック発振器、波長板、特定の波長の光を通過させるダイクロイックミラー、光ファイバー、光の偏光の方向を一定の方向に変換する偏光板等が挙げられる。また、変換器5は、希ガス中に光を通すことにより当該光の波長を変換してもよい。
CARS法を用いる測定部3Aは、角振動数が異なる2つの光、すなわち角振動数ωのポンプ光と角振動数ω(ω<ω)のストークス光とをサンプルTに照射する。そのため、測定部3Aは、光源1からの光を2つに分岐する光分岐器2、分岐した光の特性を変換する2つの変換器5及び光合流器9を備える。
ストークス光に変換する変換器5としては、例えばフォトニック結晶ファイバーを使用できる。ポンプ光に変換する変換器5としては、例えば光パラメトリック発振器を使用できる。ポンプ光は、図示しない光学的遅延回路によって遅延された後、光合流器9によりストークス光と合流し、第1プローブ6に導かれる。光合流器9としては、光分岐器2と同様にダイロックミラー等を使用できる。
ストークス光及びポンプ光は、第1プローブ6により集光されてサンプルTに照射される。光の照射によりサンプルTから角振動数(2ω−ω)のCARS光が発生する。このCARS光は、第2プローブ7により集光され、分光器で分光された後、検出器8においてその強度が検出される。
光電子分光法により測定する測定部3Bは、変換器5により光源1からの光の波長を紫外線領域の波長に変換する。変換器5としては、例えば非線形光学結晶を使用できる。変換された光は第1プローブ6によりサンプルTに照射され、サンプルTから発生した光電子が第2プローブ7により集められ、検出器8において検出される。
測定時、光源1が光を発すると、当該光は光分岐器2により分岐した後、各測定部3A及び3Bに出力される。出力された光は、各測定部3A及び3Bにおいて、波長又は角振動数が異なる光に変換されてサンプルTに同時に照射される。照射によってサンプルTから発生したCARS光の測定が測定部3Aにより行われるとともに、サンプルTから発生した光電子の測定が測定部3Bにより行われる。
以上のように、本実施形態の測定装置100によれば、光源1が発した光を分岐して各測定部3A及び3Bに出力し、測定部3Aにおいて角振動数が異なるストークス光及びポンプ光に変換し、測定部3Bにおいて紫外光に変換して、サンプルTに照射する。したがって、単一の光源1から発した光を用いて、測定部3AにおけるCARS光の測定と、測定部3Bにおける光電子の測定と、を並行して行うことができる。
これにより、1つの測定装置100でCARS法と光電子分光法の両方の測定を行うことができ、測定時間及び設備コストを減らすことができる。各測定部3A及び3Bによって照射される光は、元は同じ光であるため、光源1の特性のばらつき及び時間の経過による測定誤差をなくして測定精度を向上させることができる。したがって、サンプルTの測定を簡易にかつ精度良く行うことができる。
分析手法のなかでも、CARS法はラマン分光法に比べて信号強度が強く、微量の成分も高精度に検出することができる。電池の電極層中の水分は微量でも劣化要因となる。よって、複数のうちの1つの測定部3AがCARS法による測定を行う測定装置100は、サンプルTが電池の場合には特に有用である。CARS法は大気下で測定可能であるので、電池の製造を中断することなく、製造ライン上で高精度な測定が可能であり、高品質の電池を高い生産効率で製造できる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、これらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
上記実施形態では、CARS法を用いた測定部3Aに光電子分光法を用いた測定部3Bを組み合わせた例を説明したが、他の分析手法の組み合わせであってもよい。また、測定部の数も2つに限られない。例えば、CARS法の測定部3A及び光電子分光法の測定部3BにFT−IR法の測定部をさらに組み合わせてもよい。測定部は、用いる分析手法によって、真空チャンバー等を備えてもよい。
また、光分岐器2は、複数の測定部のなかからユーザにより選択された一部の測定部に光が出力されるように、光源1からの光を分岐してもよい。これにより、不要な測定は行わないようにすることができる。例えば、CARS法、光電子分光法及びFT−IR法をそれぞれ用いる3つの測定部がある場合、光分岐器2は、通常は光源1からの光を3つに分岐して3つの測定部にそれぞれ出力する。そのうちのCARS法とFT−IR法の2つの測定部が選択された場合、光分岐器2は光源1からの光を2つに分岐して選択された2つの測定部にそれぞれ出力する。
また、測定部3A及び3Bは、用いる分析手法に応じて複数の変換器5を組み合わせることもできる。例えば、光源1からの光を、1つの変換器5により特定の波長の光に変換し、もう1つの変換器5によりこの特定波長の光の偏光の方向を変換してもよい。
また、測定部3Aは、CARS光の測定結果をイメージングに利用するCARS顕微鏡として設けられてもよい。CARS顕微鏡は、CARS光から求められるラマンスペクトルを、ポンプ光及びストークス光を集光する位置を変化させて複数測定し、分子種ごとの空間分布の画像を生成する。
100・・・測定装置、2・・・光分岐器、3A,3B・・・測定部、4・・・ミラー、5・・・変換器、6・・・第1プローブ、7・・・第2プローブ、8・・・検出器、T・・・サンプル

Claims (6)

  1. 光を発する光源(1)と、
    前記光源(1)からの光を分岐する光分岐器(2)と、
    前記分岐した光をサンプル(T)に照射し、前記サンプル(T)から発生する光又は電子を測定する複数の測定部(3A,3B)と、を備え、
    前記複数の測定部(3A,3B)は、互いに異なる分析手法により測定を行い、前記サンプル(T)に照射する光をそれぞれの分析手法に応じた特性の光に変換して前記サンプルに照射する、
    測定装置(100)。
  2. 前記測定部(3A,3B)は、前記光の波長、角振動数又は偏光の方向を変換する、
    請求項1に記載の測定装置(100)。
  3. 前記光分岐器(2)は、前記複数の測定部(3A,3B)のなかから選択された一部の測定部に、前記光源(1)からの光を分岐して出力する、
    請求項1又は2に記載の測定装置(100)。
  4. 前記光源(1)からの光は、前記光分岐器(2)により分岐し、前記複数の測定部(3A,3B)により前記サンプル(T)に同時に照射される、
    請求項1〜3のいずれか一項に記載の測定装置(100)。
  5. 前記複数の測定部(3A,3B)のうちの1つは、前記光分岐器(2)により分岐した光をさらに2つに分岐し、角振動数が異なる2つの光に変換して前記サンプル(T)に照射することで、前記サンプル(T)から発生するCARS光を測定する、
    請求項1〜4のいずれか一項に記載の測定装置(100)。
  6. 光源(1)から光を発するステップと、
    前記光源(1)からの光を分岐して複数の測定部(3A,3B)にそれぞれ出力するステップと、
    前記各測定部(3A,3B)において、前記出力された光をサンプル(T)に照射し、前記サンプル(T)から発生する光又は電子を測定するステップと、を含み、
    前記複数の測定部(3A,3B)は、互いに異なる分析手法により測定を行い、
    前記測定するステップは、前記各測定部(3A,3B)において、前記サンプル(T)に照射する光をそれぞれの分析手法に応じた特性の光に変換することを含む、
    測定方法。

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