JP2021015914A - アライメント条件の設定方法 - Google Patents

アライメント条件の設定方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2021015914A
JP2021015914A JP2019130473A JP2019130473A JP2021015914A JP 2021015914 A JP2021015914 A JP 2021015914A JP 2019130473 A JP2019130473 A JP 2019130473A JP 2019130473 A JP2019130473 A JP 2019130473A JP 2021015914 A JP2021015914 A JP 2021015914A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
key pattern
division
line
scheduled
key
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2019130473A
Other languages
English (en)
Inventor
諭 宮田
Satoshi Miyata
諭 宮田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2019130473A priority Critical patent/JP2021015914A/ja
Publication of JP2021015914A publication Critical patent/JP2021015914A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
  • Dicing (AREA)

Abstract

【課題】効率的なキーパターンの登録を可能とする。【解決手段】本発明に係るアライメント条件の設定方法は、被加工物を加工装置のチャックテーブルに保持する保持ステップを実施後、第1分割予定ラインの位置を割り出すために用いる第1キーパターンを加工装置に登録する第1キーパターン登録ステップと、登録した第1キーパターンで第1分割予定ラインの位置を割り出せるかテストする第1テストステップと、第2分割予定ラインの位置を割り出すために用いる第2キーパターンを加工装置に登録する第2キーパターン登録ステップと、登録した第2キーパターンで第2分割予定ラインの位置を割り出せるかテストする第2テストステップと、第1テストステップと第2テストステップで割り出せなかった第1分割予定ラインに対応する第1キーパターン及び第2分割予定ラインに対応する第2キーパターンを情報修正して再登録する再登録ステップと、を備える。【選択図】図4

Description

本発明は、アライメント条件の設定方法に関する。
半導体ウエーハやパッケージ基板などを切削装置やレーザー加工装置等で分割予定ラインに沿って加工する場合、加工送り方向(X軸方向)と分割予定ラインの向きを合わせる、いわゆるアライメントが行われる(例えば、特許文献1)。
上記アライメントには、切削装置やレーザー加工装置等により自動的に実施されるオートアライメントがある。オートアライメントでは、被加工物に形成された構造物(パターン等)をキーパターン(アライメントターゲット)として事前に登録しておき、かかるキーパターンを手掛かりに分割予定ラインの位置の割り出しを自動的に実施する。
特開平07−106405号公報
通常、被加工物は格子状に分割予定ラインが設定されるので、各方向の分割予定ラインを割り出すために、各方向(各チャンネル)でオートアライメントが実施される。オートアライメントにおいて、分割予定ラインに沿って同じキーパターンが複数無かった、或いはキーパターンの形状や見え方が場所によって違っていた等、キーパターンが不適切だった場合、再度キーパターンの登録が必要となる。例えば、片方のチャンネルのみでキーパターンが不適切だった場合、キーパターンが適切だったチャンネルについてもキーパターンの再登録が必要となり、手間がかかる。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、効率的なキーパターンの登録が可能なアライメント条件の設定方法を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、第1の方向に延在する複数の第1分割予定ラインと第2の方向に延在する複数の第2分割予定ラインによって区画された複数の領域にデバイスが設定された被加工物を該第1分割予定ライン及び該第2分割予定ラインに沿って加工する加工装置における、該第1分割予定ライン及び該第2分割予定ラインの位置を割り出すアライメント条件の設定方法であって、被加工物を該加工装置のチャックテーブルに保持する保持ステップと、該保持ステップを実施後、該第1分割予定ラインの位置を割り出すために用いる、該第1分割予定ラインに沿って複数存在する第1キーパターンを該加工装置に登録する第1キーパターン登録ステップと、登録した該第1キーパターンで該第1分割予定ラインの位置を割り出せるかテストする第1テストステップと、該第2分割予定ラインの位置を割り出すために用いる、該第2分割予定ラインに沿って複数存在する第2キーパターンを該加工装置に登録する第2キーパターン登録ステップと、登録した該第2キーパターンで該第2分割予定ラインの位置を割り出せるかテストする第2テストステップと、該第1テストステップと該第2テストステップで割り出せなかった該第1分割予定ラインに対応する第1キーパターン及び該第2分割予定ラインに対応する該第2キーパターンを情報修正して再登録する再登録ステップと、を備える。
また、上記アライメント条件の設定方法において、該第1キーパターン及び該第2キーパターンはカメラで撮影した画像によって登録され、再登録ステップでは、先に撮影したのと異なるキーパターンを、又は異なる光量で撮影したキーパターンを再登録してもよい。
本発明によれば、効率的なキーパターンの登録が可能なアライメント条件の設定方法を提供できるという効果を奏する。
図1は、実施形態に係る切削装置の構成例を示す斜視図である。 図2は、実施形態に係る加工対象となる被加工物の一例を示す斜視図である。 図3は、実施形態に係るカメラの構成例を示す側面図である。 図4は、実施形態に係るアライメント条件の設定方法の一例を示すフローチャートである。 図5は、実施形態に係る第1キーパターンの登録方法の一例を示す図である。 図6は、実施形態に係る第1キーパターンの登録方法の一例を示す図である。 図7は、実施形態に係る第2キーパターンの登録方法の一例を示す図である。 図8は、実施形態に係る第2キーパターンの登録方法の一例を示す図である。
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施形態を詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。
図1は、実施形態に係る切削装置の構成例を示す斜視図である。図1に示す切削装置1(加工装置の一例)は、各構造を支持する基台2を備えている。基台2の角部には、開口2aが形成されており、この開口2aの内側に昇降可能なカセットエレベータ3が設置されている。カセットエレベータ3の上面には、複数の被加工物100を収容可能なカセット4が載置される。図1では、説明の便宜上、カセット4の輪郭のみを図示している。
図2は、実施形態に係る加工対象となる被加工物の一例を示す斜視図である。図2に示す被加工物100は、例えば、シリコン、サファイア、ガリウムなどを母材とする円板形状の半導体デバイスウエーハや光デバイスウエーハである。被加工物100の表面101には、互いに直交する(格子状の)分割予定ライン(ストリート)102で複数の領域に区画されており、各領域には、IC、LED等のデバイス103が形成されている。各デバイス103には、キーパターン(アライメントターゲット)となり得る特徴的な形状の構造物が含まれている。
被加工物100の裏面104には、ダイシングテープ105が貼着され、このダイシングテープ105に環状フレーム106が貼着される。これにより、被加工物100は、ダイシングテープ105を介して環状フレーム106に支持される。また、被加工物100には、円板状のウエーハだけでなく、矩形板状に形成されたパッケージ基板、セラミックス基板、ガラス基板などが含まれる。切削装置1により、被加工物100に切削溝(加工溝)107が形成される。
図1に戻り、カセットエレベータ3に隣接する位置には、X軸方向(加工送り方向)に長い矩形状の開口2bが形成されている。この開口2b内には、移動テーブル5、移動テーブル5をX軸方向に移動させるテーブル移動機構(加工送りユニット)6、及びテーブル移動機構6を覆う防塵防滴カバー7が設けられている。
移動テーブル5上には、被加工物100を吸引、保持するチャックテーブル8が設置されている。チャックテーブル8の周囲には、被加工物100を支持する環状のフレーム109を四方から固定する4個のクランプ9が設けられている。
チャックテーブル8は、モータ等の回転駆動源(不図示)に連結されており、Z軸方向(高さ方向)に概ね平行な回転軸の周りに回転する。テーブル移動機構6で移動テーブル5をX軸方向に移動させれば、チャックテーブル8はX軸方向に加工送りされる。チャックテーブル8の上面は、被加工物100を保持する保持面8aとなっている。この保持面8aは、X軸方向及びY軸方向(割り出し送り方向)に対して概ね平行に形成されており、チャックテーブル8の内部に形成された流路(不図示)等を通じて吸引源(不図示)に接続されている。
開口2bの上方には、被加工物100を仮置きするための仮置き機構10が設けられている。仮置き機構10は、例えば、Y軸方向に平行な状態を維持しながらX軸方向に相互に接近、離隔される一対のガイドレール10a、10bを含んで構成される。各ガイドレール10a、10bは、カセット4から引き出された被加工物100(フレーム109)を載せた状態で、X軸方向(加工送り方向)に相互に接近して挟み込むことにより所定の位置に合わせる。
基台2の上方には、門型の第1支持構造11が開口2bを跨ぐように配置されている。第1支持構造11の表面(仮置き機構10側の面)には、Y軸方向に伸びる第1レール12が固定されており、この第1レール12には、第1移動機構13等を介して第1搬送機構14が連結されている。第1搬送機構14は、第1移動機構13によって昇降するとともに、第1レール12に沿ってY軸方向に移動する。
第1搬送機構14は、カセット4側にフレーム109を把持するための把持機構14aが設けられている。例えば、把持機構14aでフレーム109を把持して第1搬送機構14をY軸方向に移動させれば、カセット4に収容されている被加工物100を仮置き機構10のガイドレール10a,10bに引き出し、又は、ガイドレール10a,10bに載せられている被加工物100をカセット4に挿入できる。
また、第1支持構造11の表面(仮置き機構10側の面)には、Y軸方向に延びる第2レール15が第1レール12の上方に固定されている。この第2レール15には、第2移動機構16を介して第2搬送機構17が連結されている。第2搬送機構17は、第2移動機構16によって昇降するとともに、第2レール15に沿ってY軸方向に移動する。
第1支持構造11の裏面側には、門型の第2支持構造18が配置されている。第2支持構造18の表面(第1支持構造11側の面)には、それぞれ移動機構(割り出し送りユニット)19を介して2組の切削ユニット20が設けられている。この切削ユニット20は、回転駆動される図示しない回転スピンドルに装着された切削ブレード21を備え、この切削ブレード21が回転しつつ、チャックテーブル8(被加工物100)をX軸方向に加工送りすることにより、被加工物100を分割予定ライン102に沿って切削する。また、切削時よりも刃厚の厚い切削ブレード21を回転スピンドルに装着し、切削ブレード21が回転しつつ、チャックテーブル8(被加工物100)をZ軸方向に平行な回転軸の周りに回転させることにより、例えば、被加工物100の外周部のエッジトリミング加工を実施できる。
また、切削ユニット20に隣接する位置には、被加工物100の表面101(図2)側を撮影するカメラ22が設置されている。切削ユニット20及びカメラ22は、移動機構19によってY軸方向及びZ軸方向に移動する。
カメラ22は、チャックテーブル8の保持面8a上に保持された被加工物100の表面101を撮像するCCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)等の撮像素子を搭載した電子顕微鏡である。カメラ22は、例えば、アライメント用およびカーフチェック用に共用される。ここで、アライメント用の場合であれば、カメラ22によって取得した画像情報であるキーパターンを基に切削すべき領域部分を検出し、切削ユニット20による加工動作の位置付けに供する。また、カーフチェック用の場合であれば、切削された切削溝107をカメラ22の撮像位置に位置付けることで切削溝107を撮像して画像情報を生成するとともに、画像処理による切削溝データの生成に供する。図3は、実施形態に係るカメラの構成例を示す側面図である。図3に示すように、カメラ22は、チャックテーブル8の保持面8aに保持された被加工物100の表面101に照明光を照射する光源220と、受光部230とを備える。光源220は、ウエーハWを真上から照明する落斜光源221と、斜め方向から照明する斜光光源222とからなる。
開口2bに対して開口2aと反対側の位置には、洗浄ユニット24が配置されている。洗浄ユニット24は、筒状の洗浄空間内で被加工物100を吸引、保持するスピンナテーブル25を備えている。スピンナテーブル25の下部には、スピンナテーブル25を所定の速さで回転させる回転駆動源(不図示)が連結されている。スピンナテーブル25の上方には、被加工物100に向けて洗浄用の流体(代表的には、水とエアーとを混合した二流体)を噴射する噴射ノズル26が配置されている。被加工物100を保持したスピンナテーブル25を回転させて、噴射ノズル26から洗浄用の流体を噴射することで、被加工物100を洗浄できる。
切削ユニット20で加工された被加工物100は、例えば、第2搬送機構17で洗浄ユニット24へと搬入される。洗浄ユニット24で洗浄された被加工物100は、例えば、第1搬送機構14で仮置き機構10に載せられ、カセット4に収容される。
テーブル移動機構6、チャックテーブル8、第1搬送機構14、第2搬送機構17、移動機構19、切削ユニット20、カメラ22、洗浄ユニット24等の構成要素は、それぞれ、制御ユニット30に接続されている。
制御ユニット30は、CPU(Central Processing Unit)などの演算処理装置と、ROM(Read Only Memory)又はRAM(Random Access Memory)などの記憶装置と、入出力インタフェース装置とを備える。制御ユニット30は、かかる各部により、被加工物100の加工に必要な一連の工程に合わせて、上述した各構成要素を制御する。すなわち、上述した各構成要素は、記憶装置に記憶されたプログラムを、演算処理装置がRAM等を作業領域として実行することにより制御され、被加工物100の加工に必要な一連の工程が実行される。
図1に示す切削装置1では、例えば、フルオートメーション加工における一連の工程においてオートアライメント処理が実施される。オートアライメント処理は、事前に登録されたキーパターンと分割予定ライン102との位置関係に基づいて、加工対象となる被加工物100の分割予定ライン102の位置を自動的に割り出す処理である。
オートアライメント処理の実施に先立って、オペレータにより、キーパターンと分割予定ライン102との位置関係(距離情報)を切削装置1に記憶させるアライメントティーチ作業が実施される。アライメントティーチ作業では、被加工物100に形成されたデバイス103における特徴的な構造物(パターン等)がキーパターンとして選定される。選定されるキーパターンは、コントラストが高く、周囲に類似するパターンがない(ユニークである)こと等を条件に選定される。選定されたキーパターンは、カメラ22で撮像された画像情報として切削装置1に登録される。そして、このように登録されたキーパターンと、かかるキーパターンから最も近い各方向(チャンネル)の分割予定ライン102までの位置関係(距離情報)が事前に登録される。
通常、アライメントティーチ操作の最後に、オートアライメント動作確認が実施されるが、この動作確認は、実際のオートアライメント処理よりも簡易的に実施される。このため、実際のオートアライメント処理時にアライメントエラーが発生するおそれがある。実施形態に係る切削装置1では、実際のオートアライメント処理を想定したアライメント条件の設定を行うことにより、実際のオートアライメント処理を実行時にアライメントエラーが発生することをできるだけ防止する。
〔アライメント条件の設定方法〕
図4は、実施形態に係るアライメント条件の設定方法の一例を示すフローチャートである。図5及び図6は、実施形態に係る第1キーパターンの登録方法の一例を示す図である。図7及び図8は、実施形態に係る第2キーパターンの登録方法の一例を示す図である。図4に示すアライメント条件の設定方法は、制御ユニット30により実行される。
図4に示すように、実施形態に係るアライメント条件の設定方法は、保持ステップST41と、第1キーパターン登録ステップST42と、第1テストステップST43と、第2キーパターン登録ステップST44と、第2テストステップST45と、再登録ステップST46,ST47とを含む。
〔保持ステップST41〕
保持ステップST41は、被加工物100を切削装置1のチャックテーブル8に保持するステップである。具体的には、保持ステップST41は、ダイシングテープ105を介して環状フレーム106に支持された被加工物100を、この被加工物100の表面101側が上を向いて露出する状態でチャックテーブル8の保持面8aに吸引保持する。また、保持ステップST41において、環状のフレーム109はクランプ9によって固定される。
〔第1キーパターン登録ステップST42〕
第1キーパターン登録ステップST42は、保持ステップST41を実施後、第1分割予定ラインの位置を割り出すために用いる、第1分割予定ラインに沿って複数存在する第1キーパターンを切削装置1に登録するステップである。
具体的には、図5に示すように、第1キーパターン登録ステップST42は、第1分割予定ライン102−1に沿って複数存在する第1キーパターン120−1,120−2,120−3を切削装置1に登録する。第1キーパターン120−1,120−2,120−3は、それぞれ被加工物100に形成された各デバイス103における特徴的な構造物(パターン等)である。第1キーパターン登録ステップS42では、オペレータによって第1キーパターン120の候補となるパターン等がターゲットとして選定される。ターゲットの選定時、図6に示すように、切削装置1による所定のチェック機能により、スパイラルチェックが実施され、ターゲットなるパターンの周囲に類似したパターンが存在しないこと(ユニークなパターンであること)が確認される。ターゲットとなるパターンの周囲に類似したパターンが存在しないことが確認されると、第1キーパターン登録ステップS42では、カメラ22により、選定されたターゲットの画像の撮像が行われる。カメラ22によりターゲットの画像を撮像する際、最適なフォーカスや光量の設定が行われる。そして、第1キーパターン登録ステップS42では、撮像された第1キーパターン120の画像と第1分割予定ライン102−1との位置関係(距離情報)の登録が行われる。
〔第1テストステップST43〕
第1テストステップST43は、第1キーパターン登録ステップST42により切削装置1に登録した第1キーパターン120−1,120−2,120−3で第1分割予定ライン102−1の位置を割り出せるかをテストするステップである。具体的には、第1キーパターン120−1,120−2,120−3を用いてθ合わせを行った後、第1キーパターン120−3の位置から所定位置離れた第1分割予定ライン102−1の位置の割り出しを実行する。θ合わせにより、加工送り方向と、横方向に並んだ複数の第1キーパターン120−1,120−2,120−3の並ぶ向きとを合わせる。これにより第1キーパターン120−1,120−2,120−3と所定の位置関係になる第1分割予定ライン102−1の向きが必然的に加工送り方向と平行になる。
第1キーパターン120−3の位置から所定位置離れた第1分割予定ライン102−1の位置の割り出しに成功すると、第1テストステップST43では、第1キーパターン120−1,120−2,120−3による第1テストに成功したものと判定する。第1テストステップST43において、第1テストに成功した場合(第1テストステップST43;Yes)、次の第2キーパターン登録ステップST44に移る。
〔第2キーパターン登録ステップST44〕
第2キーパターン登録ステップST44は、第2分割予定ラインの位置を割り出すために用いる、第2分割予定ラインに沿って複数存在する第2キーパターンを切削装置1に登録するステップである。
具体的には、図7に示すように、第2キーパターン登録ステップST44は、第2分割予定ライン102−2に沿って複数存在する第2キーパターン130−1,130−2,130−3を切削装置1に登録する。第2キーパターン130−1,130−2,130−3は、それぞれ被加工物100に形成された各デバイス103における特徴的な構造物(パターン等)である。第2キーパターン登録ステップS44では、オペレータによって第2キーパターン130の候補となるパターン等がターゲットとして選定される。ターゲットの選定時、図8に示すように、切削装置1による所定のチェック機能により、スパイラルチェックが実施され、ターゲットなるパターンの周囲に類似したパターンが存在しないこと(ユニークなパターンであること)が確認される。ターゲットとなるパターンの周囲に類似したパターンが存在しないことが確認されると、第2キーパターン登録ステップS44では、カメラ22により、選定されたターゲットの画像が撮像される。カメラ22によりターゲットの画像を撮像する際、最適なフォーカスや光量の設定が行われる。そして、第2キーパターン登録ステップS44では、撮像された第2キーパターン130と第2分割予定ライン102−2との位置関係(距離情報)の登録が行われる。
〔第2テストステップST45〕
第2テストステップST45は、第2キーパターン登録ステップST44により切削装置1に登録した第2キーパターン130−1,130−2,130−3で第2分割予定ライン102−2の位置を割り出せるかテストするステップである。具体的には、第2キーパターン130−1,130−2,130−3を用いてθ合わせを行った後、第2キーパターン130−3の位置から所定位置離れた第2分割予定ライン102−2の位置の割り出しを実行する。θ合わせにより、加工送り方向と、横方向に並んだ複数の第2キーパターン130−1,130−2,130−3の並ぶ向きとを合わせる。これにより第2キーパターン130−1,130−2,130−3と所定の位置関係になる第2分割予定ライン102−2の向きが必然的に加工送り方向と平行になる。
第2キーパターン130−3の位置から所定位置離れた第2分割予定ライン102−2の位置の割り出しに成功すると、第2テストステップST45では、第2キーパターン130−1,130−2,130−3による第2テストに成功したものと判定する。第2テストステップST45において、第2テストに成功した場合(第2テストステップST45;Yes)、図4に示すアライメント条件の設定方法の手順を終了する。
〔再登録ステップST46〕
上記第1テストステップST43において、第1テストに成功しなかった場合(第1テストステップST43;No)、再登録ステップST46を実施する。再登録ステップST46は、第1テストステップST43で割り出せなかった第1分割予定ライン102−1に対応するキーパターンを情報修正して再登録するステップである。再登録ステップST46を実施後、第1テストステップST43に戻り、情報修正されたキーパターンにより、改めて第1分割予定ライン102−1の位置を割り出せるかの第1テストが実施される。
〔再登録ステップST47〕
また、第2テストステップST45において、第2テストに成功しなかった場合(第2テストステップST45;No)、再登録ステップST47を実施する。再登録ステップST47は、第2テストステップST45で割り出せなかった第2分割予定ライン102−2に対応するキーパターンを情報修正して再登録するステップである。例えば、第2キーパターン130−1により第2分割予定ライン102−2を割り出せなかった場合、図7に示すように、再登録ステップST46により第2キーパターン131−1の再登録を実施する。第2キーパターン131−1を再登録後、図4に示す設定方法は、第2テストステップST45に戻り、情報修正された第2キーパターン131−1により、改めて第2分割予定ライン102−2の位置を割り出せるかの第2テストを改めて実施する。
再登録ステップST46及び再登録ステップST47によるキーパターンの情報修正は、キーパターンそのものを変更して再登録する方法や、同一のキーパターンを異なる光量(照明条件)で撮影して再登録する方法などによって実施される。
上記実施形態に係るアライメント条件の設定方法は、第1分割予定ライン102−1に対応する第1キーパターン120−1及び第2分割予定ライン102−2に対応する第2キーパターン130−1をそれぞれ登録する。各キーパターンの登録後、かかるアライメント条件の設定方法は、第1分割予定ライン102−1及び第2分割予定ライン102−2を割り出せるかをテストする。そして、上記実施形態に係るアライメント条件の設定方法は、テストの結果に応じて、第1キーパターン120−1及び第2キーパターン1301の情報修正を個別に実施する。すなわち、かかるアライメント条件の設定方法は、第1キーパターン120−1に基づいて第1分割予定ライン102−1の割り出しに成功しなかった場合、第1キーパターン120−1の情報修正を実施する。また、かかるアライメント条件の設定方法は、第2キーパターン130−1に基づいて第2分割予定ライン102−2の割り出しに成功しなかった場合、第2キーパターン130−1の情報修正を実施する。このように、かかるアライメント条件の設定方法によれば、実際のオートアライメント処理を想定し、各方向(チャンネル)に対応するキーパターンの情報修正を予め実施する。かかるアライメント条件の設定方法によれば、実際のアライメントを実施した段階で、一方の方向(チャンネル)に対応するキーパターンの再登録に伴って、他方のチャンネル(方向)に対応するキーパターンを再登録するといった手間が発生することを回避できる。このように、実施形態によれば、効率的なキーパターンの登録が可能となり、アライメント条件の設定における手間を軽減できる。
〔第1テストステップST43の変形例〕
第1テストステップST43は、上述した手順以外にも、以下のような手順で実行してもよい。例えば、第1キーパターン120−1による第1分割予定ライン102−1の位置を割り出しに成功すると、カメラ22をワーク右方向(X軸方向)に2チップ分(デバイス103、2つ分)移動させる。そして、第1キーパターン120−2の認識を実行し、第1キーパターン120−2に基づいて第1分割予定ライン102−1の位置の割り出しを行う。
第1キーパターン120−2による第1分割予定ライン102−1の位置の割り出しに成功すると、続いて、カメラ22をワーク右方向(X軸方向)に4チップ分(デバイス103、4つ分)移動させる。そして、第1キーパターン120−3の認識を実行し、第1キーパターン120−3に基づいて第1分割予定ライン102−1の位置の割り出しを行う。第1キーパターン120−3による第1分割予定ライン102−1の位置の割り出しに成功すると、第1テストステップST43では、第1キーパターン120−1,120−2,120−3による第1テストに成功したものと判定する。
〔第2テストステップST45の変形例〕
第2テストステップST45は、上述した手順以外にも、以下のような手順で実行してもよい。例えば、第2キーパターン130−1による第2分割予定ライン102−2の位置を割り出しに成功すると、カメラ22をワーク右方向(Y軸方向)に2チップ分(デバイス103、2つ分)移動させる。そして、第2キーパターン130−2の認識を実行し、第2キーパターン130−2に基づいて第2分割予定ライン102−2の位置の割り出しを行う。
第2キーパターン130−2による第2分割予定ライン102−2の位置の割り出しに成功すると、続いて、カメラ22をワーク右方向(Y軸方向)に4チップ分(デバイス103、4つ分)移動させる。そして、第2キーパターン130−3の認識を実行し、第2キーパターン130−3に基づいて第2分割予定ライン102−2の位置の割り出しを行う。第2キーパターン130−3による第2分割予定ライン102−2の位置の割り出しに成功すると、第2テストステップST45では、第2キーパターン130−1,130−2,130−3による第2テストに成功したものと判定する。
1 切削装置
2 基台
3 カセットエレベータ
4 カセット
5 移動テーブル
6 テーブル移動機構
7 防塵防滴カバー
8 チャックテーブル
9 クランプ
10 仮置き機構
11 第1支持構造
12 第1レール
13 第1移動機構
14 第1搬送機構
15 第2レール
16 第2移動機構
17 第2搬送機構
18 第2支持構造
19 移動機構
20 切削ユニット
21 切削ブレード
22 カメラ
24 洗浄ユニット
25 スピンナテーブル
26 噴射ノズル
30 制御ユニット
100 被加工物
102 分割予定ライン(ストリート)
102−1 第1分割予定ライン
102−2 第2分割予定ライン
103 デバイス
105 ダイシングテープ
106 環状フレーム

Claims (2)

  1. 第1の方向に延在する複数の第1分割予定ラインと第2の方向に延在する複数の第2分割予定ラインによって区画された複数の領域にデバイスが設定された被加工物を該第1分割予定ライン及び該第2分割予定ラインに沿って加工する加工装置における、該第1分割予定ライン及び該第2分割予定ラインの位置を割り出すアライメント条件の設定方法であって、
    被加工物を該加工装置のチャックテーブルに保持する保持ステップと、
    該保持ステップを実施後、該第1分割予定ラインの位置を割り出すために用いる、該第1分割予定ラインに沿って複数存在する第1キーパターンを該加工装置に登録する第1キーパターン登録ステップと、
    登録した該第1キーパターンで該第1分割予定ラインの位置を割り出せるかテストする第1テストステップと、
    該第2分割予定ラインの位置を割り出すために用いる、該第2分割予定ラインに沿って複数存在する第2キーパターンを該加工装置に登録する第2キーパターン登録ステップと、
    登録した該第2キーパターンで該第2分割予定ラインの位置を割り出せるかテストする第2テストステップと、
    該第1テストステップと該第2テストステップで割り出せなかった該第1分割予定ラインに対応する第1キーパターン及び該第2分割予定ラインに対応する該第2キーパターンを情報修正して再登録する再登録ステップと、
    を備えるアライメント条件の設定方法。
  2. 該第1キーパターン及び該第2キーパターンはカメラで撮影した画像によって登録され、
    再登録ステップでは、先に撮影したのと異なるキーパターンを、又は異なる光量で撮影したキーパターンを再登録する請求項1に記載のアライメント条件の設定方法。
JP2019130473A 2019-07-12 2019-07-12 アライメント条件の設定方法 Pending JP2021015914A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019130473A JP2021015914A (ja) 2019-07-12 2019-07-12 アライメント条件の設定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019130473A JP2021015914A (ja) 2019-07-12 2019-07-12 アライメント条件の設定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2021015914A true JP2021015914A (ja) 2021-02-12

Family

ID=74530648

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019130473A Pending JP2021015914A (ja) 2019-07-12 2019-07-12 アライメント条件の設定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2021015914A (ja)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07321181A (ja) * 1994-05-20 1995-12-08 Disco Abrasive Syst Ltd キーパターン自動設定ティーチシステム
JP2007128949A (ja) * 2005-11-01 2007-05-24 Disco Abrasive Syst Ltd 加工装置及びターゲットパターンの登録支援方法
JP2013008796A (ja) * 2011-06-23 2013-01-10 Disco Abrasive Syst Ltd ウェーハの加工方法
JP2014203836A (ja) * 2013-04-01 2014-10-27 株式会社ディスコ ターゲットパターン設定方法、及び、キーパターン検出方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07321181A (ja) * 1994-05-20 1995-12-08 Disco Abrasive Syst Ltd キーパターン自動設定ティーチシステム
JP2007128949A (ja) * 2005-11-01 2007-05-24 Disco Abrasive Syst Ltd 加工装置及びターゲットパターンの登録支援方法
JP2013008796A (ja) * 2011-06-23 2013-01-10 Disco Abrasive Syst Ltd ウェーハの加工方法
JP2014203836A (ja) * 2013-04-01 2014-10-27 株式会社ディスコ ターゲットパターン設定方法、及び、キーパターン検出方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5686545B2 (ja) 切削方法
JP5394204B2 (ja) 切削ブレードの消耗量管理方法
CN110783245B (zh) 对准方法
CN110370471B (zh) 加工装置
CN105845561B (zh) 对准方法
JP2018181931A (ja) 切削装置
TW201634211A (zh) 加工裝置
CN110783246B (zh) 对准方法
JP2021015914A (ja) アライメント条件の設定方法
JP2018032825A (ja) 被加工物のアライメント方法
JP6830731B2 (ja) 切削装置
JP2020123622A (ja) キーパターンの検出方法、及び装置
JP7368138B2 (ja) 加工装置
JP6486230B2 (ja) アライメント方法
KR102550937B1 (ko) 웨이퍼의 가공 방법
TW201903865A (zh) 扇狀晶圓片的加工方法
CN111515915B (zh) 对准方法
JP2018129372A (ja) ダイシング装置及びダイシング方法
JP7222733B2 (ja) アライメント方法
KR20230138408A (ko) 피가공물의 가공 방법
KR20210092670A (ko) 가공 장치
JP2022081254A (ja) 加工装置
JP2024006434A (ja) レーザー加工装置の検査方法及びレーザー加工装置
JP2022083252A (ja) 加工装置及び加工方法
JP2020177994A (ja) ウエーハの加工方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220520

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20230315

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230328

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20231003