JP2020527989A - 暗視野撮像のための散乱補正 - Google Patents
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Abstract
Description
X線撮像装置を用いて物体を撮像することから取得された暗視野画像データを受信するための入力インターフェースと、
コンプトン散乱補正済み画像データを取得するために、暗視野画像データをコンプトン散乱に関して補正する補正動作を実行するように構成される補正器モジュールであって、補正器モジュールは、
物体に関連する透過画像データに基づいて、コンプトン散乱推定データを推定することと、
コンプトン散乱推定データを、暗視野画像データに又は基本的な投影データに適用することとによって、コンプトン散乱補正済み画像データを取得するように構成される、補正器モジュールであって、暗視野画像データ及び透過データが投影データから再構成される、補正器モジュールと、
コンプトン散乱補正済みデータを出力するための出力インターフェースとを備える。
その物体に関連する透過データに基づいて、コンプトン散乱推定データを推定することと、
暗視野画像データにコンプトン散乱推定データを適用することとによって、コンプトン散乱補正済み画像データを取得するように構成される。
投影データから再構成可能な透過画像データに基づいて、又は別のやり方で取得された物体の透過データに基づいてコンプトン散乱を推定することと、
コンプトン散乱推定値に基づいて投影データを補正することとを含む。
補正済み投影データから新たな暗視野画像データを再構成することを含む。
X線撮像装置を用いて物体を撮像することから取得された暗視野画像データを受信するステップと、
コンプトン散乱補正済み画像データを取得するために、暗視野画像データをコンプトン散乱に関して補正する補正動作を実行するステップと、
コンプトン散乱補正済み画像データを出力するステップとを有する。
その物体に関連する透過データに基づいて、散乱推定値を推定するステップと、
暗視野画像データに散乱推定値を適用するステップとを有する。
投影データから再構成可能な透過画像データに基づいて、又は別のやり方で取得された物体の透過データに基づいて、コンプトン散乱推定値を推定するステップと、
コンプトン散乱推定値に基づいて投影データを補正するステップとを有する。
補正済み投影データから新たな暗視野画像データを再構成するステップを含む。
IScatterCorrected=Imeasured−S (1)
(IScatterCorrected=P;すなわち、IScatterCorrected=Imeasured*(1−SF)) (2)
及び
TScatterCorrected=IScatterCorrected/I0 (3)
又は
log(TScatterCorrected)=log(Tmeasured)+log(1−SF)(TScatterCorrected<Tmeasured) (4)
DScatterCorrected=Dmeasured/SF (DScatterCorrected>Dmeasured) (5)
又は
log(DScatterCorrected)=log(Dmeasured)−log(SF) (6)
Ri=TI0(1+DV0cos(α0+iΔα))(7)
Ri=TI0(1+DV0cos(α0+iΔα))+S ただし、T*I0=P(8)
RiscatterCorrected=Ri−S (11)
により、iごとに補正されるか、又は散乱情報Sは、別のやり方で、元の投影データRiとピクセル単位で適切に算術的に結合される。
RiscatterCorrected=TI0(1+DV0cos(α0+iΔα) (12)
により、新たな正弦曲線モデルに当てはめられる。
a)骨を表す透過画像内(画像領域又は投影領域内)のエリアを識別するサブステップ。
b)画像全体に関して、又は画像ロケーション(ボクセル又はピクセル)ごとに、骨分画値に達するために、透過画像において測定されるような全透過量に対して骨が寄与する量(例えば、パーセンテージ)を推定するサブステップ。
c)それぞれの骨貫通経路長を、水−ファントムに基づく散乱補正/推定のために使用される、水を貫通するコンプトン散乱等価経路長に置き換えるサブステップ。このサブステップでは、被測定強度に関する補正係数(すなわち、ビームの散乱のない減衰量)を特定するために、骨と水との既知の光電減衰の差を使用することができる。
d)好ましくは所定のデータベースから、(ステップcにおいて)特定された水−厚さ等価量に最も適合する、あらかじめ計算された散乱カーネルを選択するサブステップ。
Claims (9)
- X線撮像装置を用いて物体を撮像することによって取得される暗視野画像データを受信するための入力インターフェースと、
コンプトン散乱補正済み画像データを取得するために、前記暗視野画像データをコンプトン散乱に関して補正する補正動作を実行する補正器モジュールであって、前記補正器モジュールは、
前記物体に関連する透過画像データに基づいて、コンプトン散乱推定データを推定することと、
前記暗視野画像データに、又は基本的な投影データに、前記コンプトン散乱推定データを適用することとによって、前記コンプトン散乱補正済み画像データを取得する、補正器モジュールであって、前記暗視野画像データ及び/又は透過データは前記投影データから再構成される、補正器モジュールと、
前記コンプトン散乱補正済み画像データを出力するための出力インターフェースとを備える、画像処理システム。 - 前記補正器モジュールによる前記補正動作は、
前記補正済み投影データからコンプトン散乱補正済み画像データを再構成することを含む、請求項1に記載の画像処理システム。 - 前記補正器モジュールによるコンプトン散乱の前記推定を、前記物体の材料又は組織タイプに基づいて適応させる、請求項1又は2に記載の画像処理システム。
- 前記撮像を実行するための撮像装置は、i)全視野X線撮像装置、又はii)スロットスキャニングX線撮像装置を含む、請求項1から3のいずれか一項に記載の画像処理システム。
- 請求項1から4のいずれか一項に記載の画像処理システムと、前記X線撮像装置とを備える、撮像機器。
- 画像処理の方法であって、前記方法は、
X線撮像装置を用いて物体を撮像することから取得される暗視野画像データを受信するステップと、
コンプトン散乱補正済み画像データを取得するために、前記暗視野画像データをコンプトン散乱に関して補正する補正動作を実行するステップであって、前記実行するステップは、
前記物体に関連する透過画像データに基づいて、コンプトン散乱推定データを推定するステップと、
前記暗視野画像データに、又は基本的な投影データに前記コンプトン散乱推定データを適用するステップであって、前記暗視野画像データ及び/又は透過データが前記投影データから再構成される、ステップとを含む、実行するステップと、
前記コンプトン散乱補正済み画像データを出力するステップとを有する、画像処理の方法。 - コンプトン散乱の前記推定するステップを前記物体の材料又は組織タイプに基づいて適応させる、請求項6に記載の方法。
- 少なくとも1つの処理ユニットによって実行されるときに、前記処理ユニットに請求項6又は7に記載の方法を実行させる、コンピュータプログラム。
- 請求項8に記載のコンピュータプログラムを記憶している、コンピュータ可読媒体。
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