CN114569145A - 图像校正方法、成像系统、电子设备和存储介质 - Google Patents
图像校正方法、成像系统、电子设备和存储介质 Download PDFInfo
- Publication number
- CN114569145A CN114569145A CN202210191371.7A CN202210191371A CN114569145A CN 114569145 A CN114569145 A CN 114569145A CN 202210191371 A CN202210191371 A CN 202210191371A CN 114569145 A CN114569145 A CN 114569145A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- bright
- image
- field image
- filter
- field
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000003702 image correction Methods 0.000 title claims abstract description 69
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 62
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 182
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims abstract description 105
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims description 14
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 14
- 230000004044 response Effects 0.000 description 24
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 14
- 230000008569 process Effects 0.000 description 13
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000002438 flame photometric detection Methods 0.000 description 1
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000011551 log transformation method Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/58—Testing, adjusting or calibrating thereof
- A61B6/582—Calibration
- A61B6/585—Calibration of detector units
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
本发明实施例提供一种图像校正方法、成像系统、电子设备和存储介质，涉及图像处理技术领域。本发明实施例通过预先配置滤过器的亮场过滤数据，得到滤过器在不同扫描电压下的亮场过滤比例，在获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以及暗场图像后，根据暗场图像对第一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图像，然后根据当前扫描电压以及滤过器的亮场过滤数据，对第二亮场图像进行转换，得到目标亮场图像，然后根据目标亮场图像，确定得到图像增益系数，然后根据图像增益系数，即可对扫描得到的待测对象的扫描图像进行校正。如此，在不拆卸滤过器的情况下，即可实现图像的校正，大大简化了校正的流程。
Description
技术领域
本发明涉及医疗影像技术领域，具体而言涉及一种图像校正方法、成像系 统、电子设备和存储介质。
背景技术
基于闪烁体和大规模非晶硅阵列的平板探测器(Flat Panel Detector，FPD)具有高分辨、高动态范围、高线性度等优点，被广泛应用于锥束CT(Cone Beam CT， CBCT)中。但FPD同样存在一些缺陷，如暗电流噪声，像素增益不一致等，造 成图像质量下降。因此，需要对FPD形成的图像进行暗电流以及增益校正。
相关技术的锥束CT中，通常增加有滤过器，以吸收低能量X射线，优化 射线的能谱，减少X射线剂量作用，并且使通过滤过后的X射线束变成能量分 布均匀的硬射线束。但由于滤过器为非均匀的物体，会影响图像的校正，因此， 在对FPD形成的图像执行校正前，通常需要对滤过器进行拆卸，从而使得校正 流程十分繁琐。
发明内容
基于上述研究，本发明提供一种图像校正方法、成像系统、电子设备和存 储介质，可在不拆卸滤过器的情况下，实现图像的校正，大大简化了校正的流 程。
本发明的实施例可以通过以下方式实现：
第一方面，本发明实施例提供一种图像校正方法，所述方法包括：
获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以及暗场图像，根据所述 暗场图像对所述第一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图像；
根据当前扫描电压以及预设的所述滤过器的亮场过滤数据，对所述第二亮 场图像进行转换，得到目标亮场图像，所述目标亮场图像表征在未安装所述滤 过器时扫描空气的亮场图像；所述亮场过滤数据包括不同的扫描电压对应的所 述滤过器的亮场过滤比例；
根据所述目标亮场图像，确定图像增益系数，根据所述图像增益系数，对 扫描得到的待测对象的扫描图像进行增益校正。
在可选的实施方式中，所述根据当前扫描电压以及预先得到的所述滤过器 的亮场过滤数据，对所述第二亮场图像进行转换，得到目标亮场图像的步骤包 括：
根据所述当前扫描电压，在所述亮场过滤数据中查找与所述当前扫描电压 对应的目标扫描电压；
根据所述目标扫描电压对应的亮场过滤比例，对所述第二亮场图像进行转 换，得到目标亮场图像；所述亮场过滤比例表征在未安装所述滤过器时扫描空 气得到的亮场图像与在安装所述滤过器时扫描空气得到的亮场图像的亮场比例。
在可选的实施方式中，所述根据当前扫描电压以及预设的所述滤过器的亮 场过滤数据，对所述第二亮场图像进行转换的步骤包括：
获取指示校正按钮关闭的操作指令，若所述成像器非线性响应，根据当前 扫描电压以及预设的所述滤过器的亮场过滤数据，对所述第二亮场图像进行转 换；或，
获取指示所述校正按钮开启的操作指令，根据当前扫描电压以及预设的所 述滤过器的亮场过滤数据，对所述第二亮场图像进行转换。
在可选的实施方式中，所述获取指示校正按钮关闭的操作指令之后，所述 方法还包括：
若所述成像器线性响应，根据所述暗场图像，对扫描得到的待测对象的扫 描图像进行暗电流校正，得到暗电流校正后的扫描图像；
对所述第二亮场图像以及暗电流校正后的扫描图像进行对数变换，以对暗 电流校正后的扫描图像进行增益校正。
在可选的实施方式中，所述根据所述目标亮场图像，确定图像增益系数的 步骤包括：
根据所述目标亮场图像的像素实际值，确定所述目标亮场图像的像素目标 值；
根据所述目标亮场图像中的像素实际值以及所述目标亮场图像的像素目标 值，确定得到图像增益系数。
在可选的实施方式中，所述根据所述目标亮场图像中的像素实际值以及所 述目标亮场图像的像素目标值，确定得到图像增益系数的步骤包括：
若成像器线性响应，确定所述目标亮场图像中的像素目标值以及所述目标 亮场图像的像素实际值的比值，将所述比值设置为图像增益系数；
若成像器非线性响应，将所述目标亮场图像中的像素实际值向所述目标亮 场图像的像素目标值进行拟合，得到拟合系数，将所述拟合系数设置为图像增 益系数。
在可选的实施方式中，所述根据所述暗场图像对所述第一亮场图像进行暗 电流校正，得到第二亮场图像的步骤包括：
将所述暗场图像分别与获取得到的多张第一亮场图像进行暗电流校正，得 到多张初始校正图像；
根据多张初始校正图像的平均值，得到平均亮场图像，将所述平均亮场图 像设置为第二亮场图像。
在可选的实施方式中，所述获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图 像以及暗场图像之前，所述方法还包括：
在不同的扫描电压下，分别获取通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图 像以及未通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图像；
对通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图像进行暗电流校正，得到暗电 流校正后的通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图像；
对未通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图像进行暗电流校正，得到暗 电流校正后的未通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图像；
确定在各所述扫描电压下，暗电流校正后的通过所述滤过器扫描空气时得 到的亮场图像与暗电流校正后的未通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图像 的亮场比例；
根据各所述扫描电压以及各所述扫描电压对应的亮场比例，得到所述滤过 器的亮场过滤数据。
第二方面，本发明实施例提供一种图像校正装置，所述图像校正装置包括：
图像获取模块，用于获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以及 暗场图像，根据所述暗场图像对所述第一亮场图像进行暗电流校正，得到第二 亮场图像；
亮场处理模块，用于根据当前扫描电压以及预设的所述滤过器的亮场过滤 数据，对所述第二亮场图像进行转换，得到目标亮场图像；所述目标亮场图像 表征在未安装所述滤过器时扫描空气的亮场图像，所述亮场过滤数据包括不同 的扫描电压对应的所述滤过器的亮场过滤比例；
图像校正模块，用于根据所述目标亮场图像，确定图像增益系数，根据所 述图像增益系数，对扫描得到的待测对象的扫描图像进行增益校正。
第三方面，本发明实施例提供一种成像系统，包括：
机架：
成像源，设置于所述机架上；
成像器，与所述成像源相对设置于所述机架上；
滤过器，设置于所述成像源与所述成像器之间；
校正设备，与所述成像器连接，所述校正设备用于：
获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以及暗场图像，根据所述 暗场图像对所述第一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图像；
根据当前扫描电压以及预设的所述滤过器的亮场过滤数据，对所述第二亮 场图像进行转换，得到目标亮场图像，所述目标亮场图像表征在未安装所述滤 过器时扫描空气的亮场图像；所述亮场过滤数据包括不同的扫描电压对应的所 述滤过器的亮场过滤比例；
根据所述目标亮场图像，确定图像增益系数，根据所述图像增益系数，对 扫描得到的待测对象的扫描图像进行增益校正。
第四方面，本发明实施例提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储 在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程 序时实现前述任一实施方式所述的图像校正方法。
第五方面，本发明实施例提供一种存储介质，所述存储介质包括计算机程 序，所述计算机程序运行时控制所述存储介质所在校正设备执行前述任一实施 方式所述的图像校正方法。
本发明实施例提供的图像校正方法、成像系统、电子设备和存储介质，通 过预先配置滤过器的亮场过滤数据，得到滤过器在不同扫描电压下的亮场过滤 比例，在获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以及暗场图像后，根 据暗场图像对第一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图像，然后根据当 前扫描电压以及滤过器的亮场过滤数据，对第二亮场图像进行转换，得到目标 亮场图像，根据目标亮场图像，确定得到图像增益系数，然后根据图像增益系 数，即可对扫描得到的待测对象的扫描图像进行增益校正。如此，在不拆卸滤 过器的情况下，即可实现图像的校正，大大简化了校正的流程。
附图说明
下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技 术方案及其它有益效果显而易见。
图1为本发明实施例提供的成像系统的一种结构场景图。
图2为本发明实施例提供的电子设备的一种结构示意图。
图3为本发明实施例提供的图像校正方法的一种流程示意图。
图4为本发明实施例提供的图像校正方法的另一种流程示意图。
图5为本发明实施例提供的图像校正方法的又一种流程示意图。
图6为本发明实施例提供的一种像素拟合示意图。
图7为本发明实施例提供的图像校正装置的一种方框示意图。
图标：100-电子设备；10-图像校正装置；11-图像获取模块；12-亮场处理 模块；13-图像校正模块；20-存储器；30-处理器；40-通信单元；50-显示单元； 200-成像源；300-滤过器；400-成像器。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清 楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是 全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳 动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、 “长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、 “右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、 “逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具 有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。 此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相 对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第 二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的描 述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安 装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是 可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通 讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的 连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据 具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上” 或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不 是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征 “之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或 仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下 方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特 征水平高度小于第二特征。
下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本发明的不同结构。 为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它 们仅仅为示例，并且目的不在于限制本发明。此外，本发明可以在不同例子中 重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指 示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本发明提供了的各种特定 的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/ 或其他材料的使用。
如背景技术，由于现有FPD存在暗电流噪声，像素增益不一致等缺陷问题， 因此，在现有平板探测器工作流下，均需要对FPD形成的图像进行暗电流以及 增益校正。其中，通过将FPD形成的图像与暗场图像进行作差计算，实现对 FPD形成的图像的暗电流校正，然后对暗电流校正后的图像计算像素理想值， 然后根据像素理想值，计算增益系数，根据增益系数，实现增益校正。
但由于滤过器为非均匀的物体，会影响像素理想值的计算，因此，实际应 用中，在对FPD形成的图像执行校正前，通常需要对滤过器进行拆卸，从而使 得校正流程十分繁琐。
基于上述研究，本实施例提供一种图像校正方法、成像系统、电子设备和 存储介质，通过预先配置滤过器在不同扫描电压下的亮场过滤比例，在获取通 过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以及暗场图像后，根据暗场图像对第 一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图像，然后根据当前扫描电压以及 滤过器的亮场过滤比例，对第二亮场图像进行转换，得到在未安装滤过器时扫 描空气的目标亮场图像，根据目标亮场图像，确定得到图像增益系数，然后根 据图像增益系数，即可对扫描得到的待测对象的扫描图像进行增益校正。如此， 在不拆卸滤过器的情况下，即可实现图像的校正，大大简化了校正的流程。
请参阅图1，图1为本实施例提供的一种成像系统的结构示意图，该成像 系统包括机架(图中未示出)、成像源200、滤过器300、成像器400以及电子 设备100，其中，成像源200与成像器400相对设置于机架上，而滤过器300 设置于成像源200与成像器400之间。
在本实施例中，其中，成像源200可以是，但不限于，X射线光源、γ射 线光源等射线光源。在本实施例中，成像源200产生的射线可用于对待测对象 进行扫描。其中，待测对象可以是人体、可以是模体，可以是动物等，只需要 能在成像系统下成像的物体即可。
在本实施例中，成像器400，可以是平板探测器(flat panel detector,FPD)， 用于接收成像源200发出的射线，将接收到的射线转变为可见光，由光电转换 变为电信号，再经模拟/数字转换器(analog/digital converter)转为数字信号， 从而得到图像数据。
为了能吸收低能量的射线，优化射线的能谱，减少射线剂量作用，并且使 通过滤过后的射线束变成能量分布均匀的硬射线束，本实施例在成像源200以 及成像器400之间增加滤过器300，通过滤过器300对成像源200发出的射线 进行过滤，而成像器400则接收过滤后的射线，将接收到的射线转变为可见光， 由光电转换变为电信号，再经模拟/数字转换器转为数字信号，得到图像数据。
在本实施例中，滤过器300可以是楔形滤过器或者是其它形状的滤过器。 可选的，在本实施例中，滤过器300为蝴蝶结滤过器。
在本实施例中，成像器400可以与电子设备100电连接，也可以是通信连 接等等，具体不做限制，可以根据实际需求而设置。
当成像器400在得到图像数据后，即可将图像数据发送至电子设备100， 由电子设备100进行图像重建以及图像校正等操作。本实施例提供的图像校正 方法，应用于电子设备100，由电子设备100执行。
如图2所示，本实施例提供的电子设备100，包括存储器20、处理器30、 通信单元40以及显示单元50，存储器20存储有处理器30可执行的机器可读 指令，当电子设备100运行时，处理器30及存储器20之间通过总线通信，处 理器30执行机器可读指令，并执行图像校正方法。
存储器20、处理器30、通信单元40以及显示单元50各元件相互之间直接或 间接地电性连接，以实现信号的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过 一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。
其中，存储器20可以是，但不限于，随机读取存储器(Random Access memory，RAM)，只读存储器(Read Only Memory，ROM)，可编程只读存储器 (Programmable Read-Only Memory，PROM)，可擦除只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory，EPROM)，电可擦除只读存储器(Electric Erasable Programmable Read-Only Memory，EEPROM)等。
在一些实施例中，处理器30用以执行本实施例中描述的一个或多个功能。 在一些实施例中，处理器30可以包括一个或多个处理核(例如，单核处理器(S) 或多核处理器(S))。仅作为举例，处理器30可以包括中央处理单元 (CentralProcessingUnit，CPU)、专用集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuit， ASIC)、专用指令集处理器(ApplicationSpecificInstruction-setProcessor，ASIP)、 图形处理单元(GraphicsProcessingUnit，GPU)、物理处理单元 (PhysicsProcessingUnit，PPU)、数字信号处理器(DigitalSignalProcessor，DSP)、 现场可编程门阵列(FieldProgrammableGateArray，FPGA)、可编程逻辑控制器 (ProgrammableLogicController，PLC)、微控制器单元、简化指令集计算机(ReducedInstructionSetComputing，RISC)或微处理器等，或其任意组合。
为了便于说明，在电子设备100中仅描述了一个处理器。然而，应当注意， 本实施例中的电子设备100还可以包括多个处理器，因此本实施例中描述的一个 处理器执行的步骤也可以由多个处理器联合执行或单独执行。例如，若电子设 备的处理器执行步骤A和步骤B，则应该理解，步骤A和步骤B也可以由两个不 同的处理器共同执行或者在一个处理器中单独执行。例如，处理器执行步骤A， 第二处理器执行步骤B，或者处理器和第二处理器共同执行步骤A和B。
本实施例中，存储器20用于存储程序，处理器30用于在接收到执行指令后， 执行程序。本实施例任一实施方式所揭示的流程定义的方法可以应用于处理器 30中，或者由处理器30实现。
通信单元40用于通过网络建立电子设备100与其他设备之间的通信连接，并 用于通过网络收发数据。
在一些实施方式中，网络可以是任何类型的有线或者无线网络，或者是他 们的结合。仅作为示例，网络可以包括有线网络、无线网络、光纤网络、远程 通信网络、内联网、因特网、局域网(Local Area Network，LAN)、广域网(Wide Area Network，WAN)、无线局域网(Wireless Local Area Networks，WLAN)、 城域网(Metropolitan Area Network，MAN)、广域网(Wide Area Network， WAN)、公共电话交换网(Public Switched TelephoneNetwork，PSTN)、蓝牙 网络、ZigBee网络、或近场通信(Near Field Communication，NFC)网络等， 或其任意组合。
本实施例中，显示单元50在电子设备100与用户之间提供一个交互界面(例 如用户操作界面)用于显示图像信息。在本实施例中，所述显示单元50可以是液 晶显示器或触控显示器。若为触控显示器，其可为支持单点和多点触控操作的 电容式触控屏或电阻式触控屏等。支持单点和多点触控操作是指触控显示器能 感应到来自该触控显示器上一个或多个位置处产生的触控操作，并将该感应到 的触控操作交由处理器30进行计算和处理。
为了便于用户与显示单元50之间的交互，在本实施例中，电子设备100还可 以包括输入输出单元，输入输出单元用于提供给用户输入数据，实现用户与电 子设备之间100的交互。输入输出单元可以是，但不限于，鼠标和键盘等。
在一些实施例中，电子设备100可以包括1个或N个显示单元50，N为大于1 的正整数。
在本实施例中，电子设备100可以是直接发出操控命令的计算机设备，如上 位机设备。
可以理解地，图2所示的结构仅为示意。电子设备还可以具有比图2所示 更多或者更少的组件，或者具有与图2所示不同的配置。图2所示的各组件可 以采用硬件、软件或其组合实现。
基于图1和图2示出的结构图对本实施例提供的图像校正方法的步骤进行 详细阐述。请结合参阅图3，本实施例所提供的图像校正方法包括步骤S101至 步骤S103。
步骤S101：获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以及暗场图像， 根据暗场图像对第一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图像。
其中，暗场图像为无射线光源曝光下，成像器采集得到的图像，即成像源 未开启时，成像器采集得到的图像，表征成像器的暗电流噪声的图像。第一亮 场为在射线光源曝光下，成像器采集得到的空气的亮场图像，即成像源开启时， 成像器采集得到的空气的亮场图像。
在本实施例中，在安装滤过器后，在无射线曝光的情况下，成像器采集暗 场图像，在射线曝光的情况下，成像器采集空气的第一亮场图像。成像器在采 集得到暗场图像以及第一亮场图像后，即可将采集得到的暗场图像以及第一亮 场图像发送至电子设备。
在得到暗场图像以及第一亮场图像后，即可根据暗场图像对第一亮场图像 进行暗电流校正，得到第二亮场图像。
在本实施例中，根据暗场图像对第一亮场图像进行暗电流校正，可以是将 第一亮场图像与暗场图像进行作差计算，实现对第一亮场图像的暗电流校正， 得到第二亮场图像。
步骤S102：根据当前扫描电压以及预设的滤过器的过滤数据，对第二亮场 图像进行转换，得到目标亮场图像。
在本实施例中，成像源包括射线管(如X射线管)以及发生器等器件。其 中，射线管是产生射线光源的器件，包括用于发射电子的灯丝的阴极、用于接 受电子轰击的靶材的阳极以及真空管等，真空管可以是由玻璃或者陶瓷制成， 阴极和阳极均被密封在真空管中。发生器是用于为射线管的阴、阳两极提供直 流高压和灯丝加热电压的器件，主要包括高压电路、灯丝电路、控制电路及封 装以上电路的箱体等器件，其中高压电路主要将交流低电压(如220V/380V) 升压至直流高电压(如150kV)，从而给射线管供电，灯丝电路主要将低电压 (如220V/380V)降压至超低电压(如12V)，从而给灯丝供电，加热灯丝产 生自由电子，控制电路主要用于控制高压发生器的输出电压、输出灯丝电流和 加载时间，同时与其他射线设备影像链部件通讯，保证曝光的准确性。
在本实施例中，扫描电压则指的是给射线管供电的电压，即射线管中阴阳 两极之间的管电压。在进行扫描检测时，可以通过调节管电压，使形成的图像 更加清晰，通过增加管电压，可以使光子的能力更高，可以让光子穿透密度和 厚度更高的物体。
在本实施例中，在获取得到扫描空气的第一亮场图像后，将扫描第一亮场 图像时的管电压作为当前扫描电压，然后根据当前扫描电压以及预设的滤过器 的亮场过滤数据，将第二亮场图像转换为目标亮场图像，其中，目标亮场图像 表征在未安装滤过器时扫描空气的理论亮场图像。
在本实施例中，滤过器的亮场过滤数据包括不同的扫描电压对应的滤过器 的亮场过滤比例，而滤过器的亮场过滤比例表征在未安装滤过器时扫描空气得 到的亮场图像与在安装滤过器时扫描空气得到的亮场图像的亮场比例，即滤过 器对成像源产生的光源的亮场过滤比例，进而通过滤过器的亮场过滤数据，可 以将由滤过器过滤后而采集到的图像转换为未经滤过器过滤而采集得到的图像。 如此，通过设置滤过器的亮场过滤数据，在进行图像校正时，则可以无需对滤 过器进行拆除，即可得到未经滤过器进行过滤的亮场图像，从而大大简化了校 正流程。
步骤S103：根据目标亮场图像，确定图像增益系数，根据图像增益系数， 对扫描得到的待测对象的扫描图像进行增益校正。
其中，在将第二亮场图像转换为目标亮场图像后，即可根据目标亮场图像， 计算得到图像增益系数。在根据目标亮场图像计算图像增益系数时，可以通过 计算目标亮场图像中各像素的目标值，根据目标亮场图像中各像素的实际值与 目标值，计算得到图像增益系数。
在得到图像增益系数后，在扫描待测对象时，即可采用图像增益系数，对 扫描得到的待测对象的扫描图像进行增益校正。
在本实施例中，为了减少工作量，在得到图像增益系数后，可以将图像增 益系数保存在一文件夹中，在对待测对象进行扫描时，只需要调用该文件夹， 利用该文件夹中的图像增益系数即可对扫描得到的待测对象的扫描图像进行增 益校正，如此，可以避免在每次进行扫描时均要对图像增益系数进行计算，减 少了图像增益系数的次数。需要说明的是，在将图像增益系数进行保存后，可 以每隔预设时间，对保存的图像增益系数进行更新，即每隔预设时间，则需要 对图像增益系数进行重新计算，然后以重新计算得到的图像增益系数，对保存 的图像增益系数进行更新，以此，提高图像增益系数的准确性。
本实施例提供的图像校正方法，通过预先配置滤过器在不同扫描电压下的 亮场过滤比例，在获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以及暗场图 像后，即可根据暗场图像对第一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图像， 然后根据当前扫描电压以及滤过器的亮场过滤比例，对第二亮场图像进行转换， 得到目标亮场图像，根据目标亮场图像，计算得到图像增益系数，然后根据图 像增益系数，即可对扫描得到的待测对象的扫描图像进行增益校正。如此，通 过配置滤过器在不同扫描电压下的亮场过滤比例，即可在不拆卸滤过器的情况 下，实现图像的校正，大大简化了校正的流程。
为了提高准确性，去除噪声影响，在本实施例中，可以在无射线曝光的情 况下，采集多张暗场图像，然后将采集得到的多张暗场图像取平均，以平均图 像，作为用于图像校正的暗场图像，即对采集得到的多张暗场图像D(x,y)计算 平均值，得到平均暗场图
以
作为用于图像校正的暗场图像。相 应地，可以在射线曝光，使视场中仅有空气的情况下，采集多张亮场图像，对 采集得到的多张亮场图像取平均，以平均图像作为用于图像校正的第一亮场图 像，即对采集得到的多张亮场图像I(x,y)计算平均值，得到
以
作 为用于图像校正的第一亮场图像，x,y为图像中像素的索引。
在得到暗场图像
以及第一亮场图像
后，即将第一亮场图像
与暗场图像
进行作差计算，以对第一亮场图像
进行暗电流校 正，得到第二亮场图像，即
其中，I0(x,y)为第 二亮场图像，I0raw(x,y)为第一亮场图像，
为暗场图像。
需要说明的是，由于成像器的暗电流变化频繁，在实际扫描的过程中，可 在每次扫描前，均在无射线曝光的情况下，采集多张暗场图像，以采集得到的 多张暗场图像的平均图像作为用于图像校正的暗场图像，以保证图像校正的准 确性。相应地，也可在每次扫描前，均在射线曝光的情况下，采集多张亮场图 像，以采集得到的多张亮场图像的平均图像作为用于图像校正的第一亮场图像， 以提高图像校正的准确性。
在一种实施方式中，本实施例还可以在射线曝光，使视场中仅有空气的情 况下，采集多张第一亮场图像，然后将暗场图像分别与获取得到的多张第一亮 场图像进行暗电流校正，即将暗场图像分别与获取得到的多张第一亮场图像进 行差值计算，得到多张初始校正图像，然后根据多张初始校正图像的平均值， 得到平均亮场图像，将平均亮场图像设置为第二亮场图像。
鉴于实际应用中，成像器存在线性以及非线性两种响应情况，对于线性响 应，成像器采集得到的亮场图像的像素灰度值随扫描剂量的增加而线性增加， 而对于非线性响应，成像器采集得到的亮场图像的像素灰度值未随扫描剂量的 增加而线性增加。针对成像器不同的响应情况，需要用不同的方式采集亮场图 像，然后计算亮场图像的平均值。基于此，在本实施例中，根据暗场图像对第 一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图像的步骤可以包括：
若成像器线性响应，将暗场图像分别与不同扫描角度下的第一亮场图像进 行差值计算，得到不同扫描角度下的校正后的初始亮场图像，计算不同扫描角 度下的校正后的初始亮场图像的平均值，得到平均亮场图像，将平均亮场图像 设置为第二亮场图像。
若成像器非线性响应，将暗场图像分别与在设定的扫描剂量以及扫描角度 下获取得到的多张第一亮场图像进行差值计算，得到在设定的扫描剂量以及扫 描角度下的校正后的多张初始亮场图像，计算当前扫描剂量下的校正后的多张 初始亮场图像的平均值，得到平均亮场图像，将平均亮场图像设置为第二亮场 图像。
其中，扫描角度表示成像源的扫描角度，可以根据实际需求而设置，具体 不做限制。扫描剂量表示待检测对象接收的射线平面内的辐射剂量，可以根据 实际需求而设置，具体不做限制。
当成像器线性响应时，可以在不同的扫描角度下，在不同的扫描角度下， 使视场中只有空气，然后射线曝光的情况下采集图像，如此，即可获取得到不 同扫描角度下的第一亮场图像。
在获取得到不同扫描角度下的第一亮场图像后，即可将暗场图像分别与不 同扫描角度下的第一亮场图像进行差值计算，以对不同扫描角度下的第一亮场 图像进行暗电流校正，得到不同扫描角度下的校正后的初始亮场图像。
在得到不同扫描角度下的校正后的初始亮场图像后，计算不同扫描角度下 的校正后的初始亮场图像的平均值，得到平均亮场图像，在得到平均亮场图像 后，即可将平均亮场图像作为暗电流校正后的第一亮场图像，即第二亮场图像。
可选的，在本实施例中，根据暗场图像对第一亮场图像进行暗电流校正， 得到第二亮场图像，可以通过以下公式实现：
其中，M为扫描角度的个数，I0rawi(x,y)为第i个扫描角度下得到的第一亮 场图像，
为暗场图像，I0(x,y)为平均亮场图像，即本实施例所述的第二 亮场图像。
本实施例通过对M个扫描角度下的第一亮场图像进行暗电流校正后，计算 平均值，得到平均亮场图像，消除了亮场图像中的图像噪声，并且实现亮场图 像的暗电流校正，通过平均亮场图像与暗电流校正后的扫描图像对数变换，消 除了扫描图像中成像器的增益影响，实现了扫描图像的增益校正。
若成像器非线性响应时，可以在设定的扫描剂量以及扫描角度下获取多张 第一亮场图像，即在同一扫描剂量以及扫描角度下获取多张第一亮场图像，然 后将暗场图像分别与在设定的扫描剂量以及扫描角度下获取得到的多张第一亮 场图像进行差值计算，得到在设定的扫描剂量以及扫描角度下的校正后的多张 初始亮场图像，然后计算多张初始亮场图像的平均值，得到平均亮场图像，将 平均亮场图像设置为第二亮场图像。
本实施例通过将暗场图像分别与获取得到的多张第一亮场图像进行暗电流 校正，得到多张初始校正图像，以多张初始校正图像的平均值，得到第二亮场 图像，可以在去除亮场图像中的暗电流噪声影响以及亮场图像本身的噪声影响， 提高图像的准确性。
为了准确获得滤过器的亮场过滤数据，在本实施例中，可以通过以下步骤 得到滤过器的亮场过滤数据：
在不同的扫描电压下，分别获取通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像以 及未通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像。
对通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像进行暗电流校正，得到暗电流校 正后的通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像。
对未通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像进行暗电流校正，得到暗电流 校正后的未通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像。
确定在各扫描电压下，暗电流校正后的通过滤过器扫描空气时得到的亮场 图像与暗电流校正后的未通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像的亮场比例。
根据各扫描电压以及各扫描电压对应的亮场比例，得到滤过器的亮场过滤 数据。
其中，对于滤过器来说，当滤过器的机械位置在成像源与成像器之间固定 时，滤过器的亮场过滤比例则只与成像源的扫描电压相关，与成像源的管电流、 曝光时间等因素无关。因此，在本实施例中，在不同的扫描电压下，分别获取 通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像以及未通过滤过器扫描空气时得到的亮 场图像时，滤过器的机械位置均保持不变。
其中，获取通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像，即表示在安装滤过器 且视场中仅有空气的情况下，获取成像器采集得到的亮场图像。相应地，获取 未通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像，即表示在未安装滤过器且视场中仅 有空气的情况下，获取成像器采集得到的亮场图像。
为了避免噪声干扰，在本实施例中，可以采集多张通过滤过器扫描空气时 得到的亮场图像，然后计算采集得到的多张亮场图像的平均值，得到通过滤过 器扫描空气时的平均亮场图，以该平均亮场图参与计算。相应地，也可以采集 多张未通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像，然后计算采集得到的多张亮场 图像的平均值，得到未通过滤过器扫描空气时的平均亮场图，以该平均亮场图 参与计算。
在不同的扫描电压下，分别获取得到通过滤过器扫描空气时得到的亮场图 像以及未通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像后，即可计算在各扫描电压下， 通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像与未通过滤过器扫描空气时得到的亮场 图像的亮场比例。
在本实施例中，为了提高准确性，针对每个扫描电压，在计算该扫描电压 下，通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像与未通过滤过器扫描空气时得到的 亮场图像的亮场比例时，可以先分别对通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像 以及未通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像进行暗电流校正，然后根据暗电 流校正后的亮场图像进行计算。
在分别对通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像以及未通过滤过器扫描空 气时得到的亮场图像进行暗电流校正时，可以将通过滤过器扫描空气时得到的 亮场图像与暗场图像进行作差，将未通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像与 暗场图像进行作差，以此实现对通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像以及未 通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像的暗电流校正。
可选的，针对每个扫描电压，可以通过以下公式，计算得到该扫描电压下 的亮场比例：
其中，R(x,y)为该扫描电压下的亮场比例，
为未通过滤过器扫描空 气时得到的平均亮场图像，即未安装滤过器时获取得到的平均亮场图像， 
为通过滤过器扫描空气时得到的平均亮场图像，即安装滤过器时获取得 到的平均亮场图像，
为暗场图像。
在本实施例中，每个扫描电压下的亮场比例，即反映了在每个扫描电压下， 滤过器对成像源的亮场过滤比例，因此，可将各扫描电压下的亮场比例设置为 亮场过滤比例，进而在得到每个扫描电压下的亮场比例后，即得到每个扫描电 压对应的亮场比例后，将各扫描电压以及各扫描电压对应的亮场比例进行关联 保存后，即可得到滤过器的亮场过滤数据。
在本实施例中，在得到滤过器的亮场过滤数据后，可将亮场过滤数据作为 后台配置文件进行存储，后续在进行图像校正时，可以直接调用该文件，利用 该文件将通过滤过器扫描空气得到的第一亮场图像，直接转换为未安装滤过器 时扫描空气得到的理论亮场图像，即第二亮场图像。如此，无需对滤过器进行 拆卸，也可以得到未安装滤过器时扫描空气得到的亮场图像，大大简化了校正 工作流程。
需要说明的是，为了保证计算的准确性，后续在使用时，滤过器的机械位 置，也应与计算滤过器的亮场过滤数据时的机械位置保持一致，如此，可避免 由于滤过器的机械位置不同而引入的误差，以保证数据的准确性。
基于此，在本实施例中，根据当前扫描电压以及预先得到的滤过器的亮场 过滤数据，对第一亮场图像进行转换，得到第二亮场图像的步骤可以包括：
根据当前扫描电压，在亮场过滤数据中查找与当前扫描电压对应的目标扫 描电压。
根据目标扫描电压对应的亮场过滤比例，对第二亮场图像进行转换，得到 目标亮场图像。
其中，根据当前扫描电压，在亮场过滤数据中查找与当前扫描电压对应的 目标扫描电压时，可以将当前扫描电压依次与亮场过滤数据中的扫描电压进行 匹配，然后将与当前扫描电压对应的扫描电压作为目标扫描电压。
可选的，在亮场过滤数据中查找与当前扫描电压对应的目标扫描电压时， 可以在亮场过滤数据中查找与当前扫描电压相同的目标扫描电压。在可选的实 施方式中，若在亮场过滤数据中未查找到与当前扫描电压相同的目标扫描电压， 还可以在亮场过滤数据中查找与当前扫描电压差距最小的扫描电压，若差距在 设定阈值内，则将差距最小的扫描电压设置为目标扫描电压，若差距未在设定 阈值内，则可以提示用户检测当前扫描电压以及是否需要调整当前扫描电压， 或者是否将差距最小的扫描电压设置为目标扫描电压。
在查找得到目标扫描电压后，即可根据目标扫描电压对应的亮场过滤比例， 对第二亮场图像进行转换，得到目标亮场图像。
在本实施例中，亮场过滤比例即为在未安装滤过器时扫描空气得到的亮场 图像与在安装滤过器时扫描空气得到的亮场图像的亮场比例，因此，在根据目 标扫描电压对应的亮场过滤比例，对第二亮场图像进行转换，得到目标亮场图 像时，可以将第二亮场图像乘以目标扫描电压对应的亮场过滤比例，从而得到 目标亮场图像。
例如，目标扫描电压对应的亮场过滤比例为R＝I1/I2，I1为未安装滤过器 时扫描空气得到的亮场图像，I2为在安装滤过器时扫描空气得到的亮场图像， 由于第二亮场图像是在安装滤过器时获得的亮场图像，因此，第一亮场图像即 为I2，进而在根据目标扫描电压对应的亮场过滤比例，对第二亮场图像进行转 换，得到目标亮场图像时，即可将目标亮场图像I2乘以目标扫描电压对应的亮 场过滤比例R，得到目标亮场图像，即目标亮场图像I1＝R*I2。
本实施例提供的图像校正方法，通过确定滤过器过滤前后的亮场比例，得 到滤过器的亮场过滤数据，通过将亮场过滤数据作为后台配置文件进行存储， 后续在进行所有的图像校正时，都可以直接调用该文件，利用该文件将通过滤 过器扫描空气得到的亮场图像，直接转换为未安装滤过器时扫描空气得到的亮 场图像。如此，无需对滤过器进行拆卸，在安装滤过器的状态下也可以得到未 安装滤过器时扫描空气得到的亮场图像，大大简化了校正工作流程。
在本实施例中，由于图像的重建，需要分别扫描空气的投影图像和待测对 象的投影图像，将空气的投影图像以及待测对象的投影图像进行对数变换，即 log变换，计算衰减线积分，然后利用衰减线积分进行图像的重建。而由于空气 和待测对象的投影图像中都存在线性增益系数，在进行对数变换时可以将此增 益系数消除，并且该操作可在安装滤过器下进行。因此，当成像器线性响应时， 由于扫描空气得到的亮场图像以及扫描待测对象得到的扫描图像均存在线性增 益系数，对亮场图像以及扫描图像进行对数变换，即可将线性增益系数消除， 进而，当成像器线性响应时，可以无需通过亮场过滤数据，将通过滤过器扫描 空气得到的亮场图像，转换为未安装滤过器时扫描空气得到的亮场图像，以此 计算图像增益系数，并利用图像增益系数进行图像校正。
基于此，为了简化流程、减少工作量，以及满足用户需求，在本实施例中， 通过设置校正开关机制，对于不同的响应情况提供不同的校正方式。基于此， 在本实施例中，根据当前扫描电压以及预设的滤过器的亮场过滤数据，对第二 亮场图像进行转换的步骤还可以包括：
获取指示校正按钮关闭的操作指令，若成像器非线性响应，根据当前扫描 电压以及预设的滤过器的亮场过滤数据，对第二亮场图像进行转换；或，
获取指示校正按钮开启的操作指令，根据当前扫描电压以及预设的滤过器 的亮场过滤数据，对第二亮场图像进行转换。
在本实施例中，电子设备通过显示单元可以向用户提供交互界面，该交互 界面上设置有校正按钮，校正按钮可以进行开启和关闭两个操作，当成像器线 性响应时，用户可以选择不使用亮场过滤数据，即不通过调用图像增益系数进 行图像校正，而当用户选择不使用亮场过滤数据进行图像校正时，则可以操作 校正按钮进行关闭操作，将校正按钮关闭。
当用户在交互界面上将校正按钮关闭后，即向电子设备发送了校正按钮关 闭的操作指令，进而电子设备则可以获取得到指示校正按钮关闭的操作指令， 然后通过响应指示校正按钮关闭的操作指令，即可将扫描空气得到的亮场图像 以及扫描待测对象得到的扫描图像进行对数变换，以消除增益。
但由于成像器在使用过程中，会随着使用时间的增加，由线性响应变为非 线性响应，而用户未获知这一情况，因此，在获取得到校正按钮关闭的操作指 令后，还可以响应指示校正按钮关闭的操作指令，检测成像器是否为线性响应， 若成像器线性响应，则将扫描空气得到的亮场图像以及扫描待测对象得到的扫 描图像进行对数变换，以消除增益，若成像器非线性响应，则还需要根据当前 扫描电压以及预设的滤过器的亮场过滤数据，对第二亮场图像进行转换，得到 目标亮场图像，然后根据目标亮场图像，计算图像增益系数，基于图像增益系 数，对扫描得到的待测图像的扫描图像进行图像增益校正。
可选的，在本实施例中，可以在不放物体的情况，采集不同剂量的亮场图 像，判断亮场图像的像素灰度值是否随剂量的增加而线性增加，若像素灰度值 随剂量的增加而线性增加，则表示成像器为线性响应，若像素灰度值未随剂量 的增加而线性增加，则表示成像器不为线性响应。
由于扫描得到的图像可能存在暗电流噪声，为了提高准确性，在本实施例 中，请结合参阅图4，若成像器线性响应，将扫描空气得到的亮场图像以及扫 描待测对象得到的扫描图像进行对数变换，以消除图像增益的步骤具体可以包 括步骤S201至步骤S202。
步骤S201：根据暗场图像，对扫描得到的待测对象的扫描图像进行暗电流 校正，得到暗电流校正后的扫描图像。
步骤S202：对第二亮场图像以及暗电流校正后的扫描图像进行对数变换， 以对暗电流校正后的扫描图像进行增益校正。
其中，根据暗场图像，对扫描得到的待测对象的扫描图像进行暗电流校正 时，可以将扫描图像与暗场图像进行差值计算，得到暗电流校正后的扫描图像， 即
其中，l(x,y)为暗电流校正后的扫描图像， Iraw(x,y)为扫描图像，
为暗场图像。
在得到暗电流校正后的扫描图像，即可对第二亮场图像以及暗电流校正后 的扫描图像进行对数变换，从而消除扫描图像的增益。
在对第二亮场图像以及暗电流校正后的扫描图像进行对数变换时，可以通 过以下公式实现：
其中，I0(x,y)为第二亮场图像，p为衰减线积分,Iraw(x,y)为扫描图像， 
为暗场图像。
本实施例在成像器线性响应的情况下，根据暗场图像对扫描图像进行暗电 流校正，然后对第二亮场图像以及暗电流校正后的扫描图像进行对数变换，如 此通过简单的运算即可消除成像器的暗电流以及增益影响，实现图像的暗电流 以及增益校正。
可以理解地，在本实施例中，当用户选择使用亮场过滤数据，即通过调用 图像增益系数进行图像校正时，则以操作校正按钮进行开启操作，将校正按钮 开启。当用户在交互界面上将校正按钮开启后，即向电子设备发送了校正按钮 开启的操作指令，进而电子设备则可以获取得到指示校正按钮开启的操作指令， 然后响应指示校正按钮开启的操作指令，即可根据当前扫描电压以及预设的滤 过器的亮场过滤数据，对第二亮场图像进行转换，得到目标亮场图像，根据目 标亮场图像，计算图像增益系数，根据图像增益系数，对扫描得到的待测对象 的扫描图像进行校正。
可选的，在本实施例中，请结合参阅图5，根据目标亮场图像，确定图像 增益系数的步骤包括步骤S301至步骤S302。
步骤S301：根据目标亮场图像的像素实际值，确定目标亮场图像的像素目 标值。
步骤S302：根据目标亮场图像中的像素实际值以及目标亮场图像的像素目 标值，确定得到图像增益系数。
在得到目标亮场图像后，即可对目标亮场图像计算理想值，即计算目标亮 场图像的像素目标值。在本实施例中，在根据目标亮场图像的像素实际值，计 算目标亮场图像的像素目标值时，可以计算目标亮场图像中所有像素的像素实 际值的平均值，以计算得到的平均值作为目标亮场图像中所有像素的像素目标 值。例如，目标亮场图像中存在像素A，像素B以及像素C，对像素A、像素 B以及像素C的像素实际值计算平均值，假设平均值为m，则像素A、像素B 以及像素C的像素目标值均为m。
在得到目标亮场图像的像素目标值后，即可根据目标亮场图像的像素目标 值以及像素实际值，计算图像增益系数。
需要说明的是，在根据目标亮场图像的像素目标值以及像素实际值，计算 图像增益系数时，是对目标亮场图像中每个像素单独进行计算，即针对目标亮 场图像中每个像素，根据像素目标值与该像素的像素实际值，计算得到该像素 的图像增益系数。可以理解地，若目标亮场图像中的每个像素的像素实际值不 同，则目标亮场图像中的每个像素的图像增益系数可能也不同。
鉴于实际应用中，成像器存在线性响应以及非线性响应两种情况，当成像 器线性响应时，成像器的增益系数也为线性增益系数，而当成像器非线性响应 时，成像器的增益系数也不为线性增益系数，因此，对于线性响应与非线性响 应两种情况，本实施例采用不同的方式计算图像增益系数。基于此，在本实施 例中，根据目标亮场图像中的像素实际值以及目标亮场图像的像素目标值，计 算得到图像增益系数的步骤可以包括：
若成像器线性响应，计算目标亮场图像中的像素目标值以及目标亮场图像 的像素实际值的比值，将比值设置为图像增益系数。
若成像器非线性响应，将目标亮场图像中的像素实际值向目标亮场图像的 像素目标值进行拟合，得到拟合系数，将拟合系数设置为图像增益系数。
其中，当成像器线性响应时，针对目标亮场图像中的每个像素，计算该像 素的像素目标值与像素实际值的比值，以计算得到的比值作为该像素的图像增 益系数，即图像增益系数
G(x,y)为像素目标值，g(x,y)为像素 实际值。
而成像器非线性响应时，针对目标亮场图像中的每个像素，可将该像素的 像素实际值向像素目标值进行拟合，得到拟合系数，然后将该拟合系数作为该 像素的图像增益系数。
为了提高准确性，当成像器非线性响应时，可以在不同剂量下，计算对应 的像素目标值，基于不同剂量下的像素目标值以及像素实际值进行拟合，得到 拟合系数。详细地，当成像器非线性响应时，可以获取不同剂量(mAs)下扫 描空气得到的亮场图像I(x,y,mAs)，可以在每个剂量中获取多张亮场图像，然 后对每个剂量获取得到的多张亮场图像进行暗电流校正，即将每个剂量获取得 到的多张亮场图像减去暗场图像，得到每个剂量下的多张暗电流校正后的亮场 图像。在得到每个剂量下的多张暗电流校正后的亮场图像后，计算多张暗电流 校正后的亮场图像的平均值，得到每个剂量下的平均亮场图像
然 后利用亮场过滤数据，对每个剂量下的平均亮场图像进行转换，得到每个剂量 下的目标亮场图像g(x,y,mAs)。
在得到每个剂量下的目标亮场图像后，针对每个剂量，计算该剂量下的目 标亮场图像中所有像素的像素实际值的平均值，以计算得到的平均值作为该剂 量下的目标亮场图像中所有像素的像素目标值Iideal(mAs)。
在得到每个剂量下的目标亮场图像中所有像素的像素目标值后，针对每个 像素，根据不同剂量下的像素目标值以及该像素的像素实际值进行拟合，得到 该像素的拟合系数，然后将该拟合系数作为该像素的图像增益系数。
针对每个像素，在根据不同剂量下的像素目标值以及该像素的像素实际值 进行拟合时，可以剂量的变化为横坐标，像素的灰度值为纵坐标，将该像素的 像素实际值向像素目标值进行拟合，如图6所示，图6为单个像素的拟合示意 图。
可选的，在本实施例中，针对目标亮场图像中的每个像素，将该像素的像 素实际值向该像素目标值进行拟合时，可以通过多项式拟合的方式进行拟合， 从而得到拟合系数。
在计算得到目标亮场图像中的每个像素的图像增益系数后，将每个像素的 图像增益系数进行保存，得到图像增益系数文件，在后续对待测对象的扫描图 像进行增益校正时，即可调用该图像增益系数文件，对扫描图像中的每个像素 进行增益校正。
可以理解地，当成像器线性响应时，则可以调用线性响应计算得到的图像 增益系数文件，对扫描图像中的每个像素进行增益校正。而当成像器非线性响 应时，则可以调用非线性响应计算得到的图像增益系数文件，对扫描图像中的 每个像素进行增益校正。
在本实施例中，当成像器线性响应时，可以通过以下公式对扫描图像中的 每个像素进行增益校正：
其中，Icorr(x,y)为增益校正后的扫描图像，Iraw(x,y)为未校正的扫描图像，
为暗场图像，K(x,y)为线性响应计算得到的图像增益系数。
当成像器非线性响应时，可以通过以下公式对扫描图像中的每个像素进行 增益校正：
其中，Icorr(x,y)为增益校正后的扫描图像，Aj(x,y)为非线性响应计算得到 的图像增益系数，即拟合系数，Iraw(x,y)为未校正的扫描图像，
为暗场 图像，n为拟合阶数。
本实施例提供的图像校正方法，针对成像器不同的响应情况，提供了不同 的校正方式，可以有效提高了图像校正的准确性。
本实施例提供的图像校正方法，通过预先配置滤过器在不同扫描电压下的 亮场过滤数据比例，在获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以及暗 场图像后，根据暗场图像对第一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图像， 然后根据当前扫描电压以及滤过器的亮场过滤数据，对第二亮场图像进行转换， 得到目标亮场图像，然后根据目标亮场图像，计算得到图像增益系数，然后根 据图像增益系数，即可对扫描得到的待测对象的扫描图像进行增益校正。如此， 在不拆卸滤过器的情况下，即在安装滤过器的状态下也可实现图像的校正，大 大简化了校正的流程。
本实施例提供的图像校正方法，通过设置校正按钮，在成像器线性响应时， 可直接对暗电流校正后的第一亮场图像以及暗电流校正后的扫描图像进行对数 变换，即可消除扫描图像中的增益影响，实现增益校正。
基于同一发明构思，请结合图7，本实施例还提供一种图像校正装置10， 应用于图2所示的电子设备，如图7所示，本实施例提供的图像校正装置10 包括图像获取模块11、亮场处理模块12以及图像校正模块13。
图像获取模块11，用于获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以 及暗场图像，根据暗场图像对第一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图 像。
亮场处理模块12，用于根据当前扫描电压以及预设的滤过器的亮场过滤数 据，对第二亮场图像进行转换，得到目标亮场图像；目标亮场图像表征在未安 装滤过器时扫描空气的亮场图像，亮场过滤数据包括不同的扫描电压对应的所 述滤过器的亮场过滤比例。
图像校正模块13，用于根据目标亮场图像，确定图像增益系数，根据图像 增益系数，对扫描得到的待测对象的扫描图像进行校正。
在可选的实施方式中，亮场处理模块12用于：
根据当前扫描电压，在亮场过滤数据中查找与当前扫描电压对应的目标扫 描电压。
根据目标扫描电压对应的亮场过滤比例，对第二亮场图像进行转换，得到 目标亮场图像；亮场过滤比例表征在未安装滤过器时扫描空气得到的亮场图像 与在安装滤过器时扫描空气得到的亮场图像的亮场比例。
在可选的实施方式中，亮场处理模块12用于：
获取指示校正按钮关闭的操作指令，若成像器非线性响应，根据当前扫描 电压以及预设的滤过器的亮场过滤数据，对第二亮场图像进行转换；或，
获取指示校正按钮开启的操作指令，根据当前扫描电压以及预设的滤过器 的亮场过滤数据，对第二亮场图像进行转换。
在可选的实施方式中，获取指示校正按钮关闭的操作指令之后，亮场处理 模块12用于：
若成像器线性响应，根据暗场图像，对扫描得到的待测对象的扫描图像进 行暗电流校正，得到暗电流校正后的扫描图像。
对第二亮场图像以及暗电流校正后的扫描图像进行对数变换，以对暗电流 校正后的扫描图像进行增益校正。
在可选的实施方式中，图像校正模块13用于：
根据目标亮场图像的像素实际值，确定目标亮场图像的像素目标值。
根据目标亮场图像中的像素实际值以及目标亮场图像的像素目标值，确定 得到图像增益系数。
在可选的实施方式中，图像校正模块13用于：：
若成像器线性响应，确定目标亮场图像中的像素目标值以及目标亮场图像 的像素实际值的比值，将比值设置为图像增益系数。
若成像器非线性响应，将目标亮场图像中的像素实际值向目标亮场图像的 像素目标值进行拟合，得到拟合系数，将拟合系数设置为图像增益系数。
在可选的实施方式中，图像获取模块11用于：
将暗场图像分别与获取得到的多张第一亮场图像进行暗电流校正，得到多 张初始校正图像。
根据多张初始校正图像的平均值，得到平均亮场图像，将平均亮场图像设 置为第二亮场图像。
在可选的实施方式中，在获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像 以及暗场图像之前，亮场处理模块12用于：
在不同的扫描电压下，分别获取通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像以 及未通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像。
对通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像进行暗电流校正，得到暗电流校 正后的通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像。
对未通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像进行暗电流校正，得到暗电流 校正后的未通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像。
确定在各扫描电压下，暗电流校正后的通过滤过器扫描空气时得到的亮场 图像与暗电流校正后的未通过滤过器扫描空气时得到的亮场图像的亮场比例。
根据各扫描电压以及各扫描电压对应的亮场比例，得到滤过器的亮场过滤 数据。
本实施例提供的图像校正方法，通过预先配置滤过器的亮场过滤数据，得 到滤过器在不同扫描电压下的亮场过滤比例，在获取通过滤过器扫描得到的空 气的第一亮场图像以及暗场图像后，根据暗场图像对第一亮场图像进行暗电流 校正，得到第二亮场图像，然后根据当前扫描电压以及滤过器的亮场过滤数据， 对第二亮场图像进行转换，得到目标亮场图像，根据目标亮场图像，计算得到 图像增益系数，然后根据图像增益系数，即可对扫描得到的待测对象的扫描图 像进行校正。如此，在不拆卸滤过器的情况下，即可实现图像的校正，大大简 化了校正的流程。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述 的图像校正装置的具体工作过程，可以参考前述方法中的对应过程，在此不再 过多赘述。
在上述基础上，本实施例还提供一种存储介质，所述存储介质包括计算机 程序，所述计算机程序运行时控制所述存储介质所在校准设备执行前述任一实 施方式所述的图像校正方法。
其中，存储介质可以是，但不限于，U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM， Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁 碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述 的存储介质的具体工作过程，可以参考前述方法中的对应过程，在此不再过多 赘述。
综上，本发明实施例提供的图像校正方法、成像系统、电子设备和存储介 质，通过预先配置滤过器的亮场过滤数据，得到滤过器在不同扫描电压下的亮 场过滤比例，在获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以及暗场图像 后，根据暗场图像对第一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图像，然后 根据当前扫描电压以及滤过器的亮场过滤数据，对第二亮场图像进行转换，得 到目标亮场图像，然后根据目标亮场图像，确定得到图像增益系数，然后根据 图像增益系数，即可对扫描得到的待测对象的扫描图像进行校正。如此，在不 拆卸滤过器的情况下，即可实现图像的校正，大大简化了校正的流程。并且通过设置校正按钮，在成像器线性响应时，可直接对暗电流校正后的第一亮场图 像以及暗电流校正后的扫描图像进行对数变换，即可消除扫描图像中的增益影 响，实现增益校正，简化了校正流程。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详 述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
以上对本发明实施例所提供的图像校正方法、装置、成像系统、电子设备 和存储介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方 式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的技术方案及其核 心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载 的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或 者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例的技术方案的范围。
Claims (11)
1.一种图像校正方法，其特征在于，所述方法包括：
获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以及暗场图像，根据所述暗场图像对所述第一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图像；
根据当前扫描电压以及预设的所述滤过器的亮场过滤数据，对所述第二亮场图像进行转换，得到目标亮场图像，所述目标亮场图像表征在未安装所述滤过器时扫描空气的亮场图像；所述亮场过滤数据包括不同的扫描电压对应的所述滤过器的亮场过滤比例；
根据所述目标亮场图像，确定图像增益系数，根据所述图像增益系数，对扫描得到的待测对象的扫描图像进行增益校正。
2.根据权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于，所述根据当前扫描电压以及预先得到的所述滤过器的亮场过滤数据，对所述第二亮场图像进行转换，得到目标亮场图像的步骤包括：
根据所述当前扫描电压，在所述亮场过滤数据中查找与所述当前扫描电压对应的目标扫描电压；
根据所述目标扫描电压对应的亮场过滤比例，对所述第二亮场图像进行转换，得到目标亮场图像；所述亮场过滤比例表征在未安装所述滤过器时扫描空气得到的亮场图像与在安装所述滤过器时扫描空气得到的亮场图像的亮场比例。
3.根据权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于，所述根据当前扫描电压以及预设的所述滤过器的亮场过滤数据，对所述第二亮场图像进行转换的步骤包括：
获取指示校正按钮关闭的操作指令，若所述成像器非线性响应，根据当前扫描电压以及预设的所述滤过器的亮场过滤数据，对所述第二亮场图像进行转换；或，
获取指示所述校正按钮开启的操作指令，根据当前扫描电压以及预设的所述滤过器的亮场过滤数据，对所述第二亮场图像进行转换。
4.根据权利要求3所述的图像校正方法，其特征在于，所述获取指示校正按钮关闭的操作指令之后，所述方法还包括：
若所述成像器线性响应，根据所述暗场图像，对扫描得到的待测对象的扫描图像进行暗电流校正，得到暗电流校正后的扫描图像；
对所述第二亮场图像以及暗电流校正后的扫描图像进行对数变换，以对暗电流校正后的扫描图像进行增益校正。
5.根据权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于，所述根据所述目标亮场图像，确定图像增益系数的步骤包括：
根据所述目标亮场图像的像素实际值，确定所述目标亮场图像的像素目标值；
根据所述目标亮场图像中的像素实际值以及所述目标亮场图像的像素目标值，确定得到图像增益系数。
6.根据权利要求5所述的图像校正方法，其特征在于，所述根据所述目标亮场图像中的像素实际值以及所述目标亮场图像的像素目标值，确定得到图像增益系数的步骤包括：
若成像器线性响应，确定所述目标亮场图像中的像素目标值以及所述目标亮场图像的像素实际值的比值，将所述比值设置为图像增益系数；
若成像器非线性响应，将所述目标亮场图像中的像素实际值向所述目标亮场图像的像素目标值进行拟合，得到拟合系数，将所述拟合系数设置为图像增益系数。
7.根据权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于，所述根据所述暗场图像对所述第一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图像的步骤包括：
将所述暗场图像分别与获取得到的多张第一亮场图像进行暗电流校正，得到多张初始校正图像；
根据多张初始校正图像的平均值，得到平均亮场图像，将所述平均亮场图像设置为第二亮场图像。
8.根据权利要求1所述的图像校正方法，其特征在于，所述获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以及暗场图像之前，所述方法还包括：
在不同的扫描电压下，分别获取通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图像以及未通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图像；
对通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图像进行暗电流校正，得到暗电流校正后的通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图像；
对未通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图像进行暗电流校正，得到暗电流校正后的未通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图像；
确定在各所述扫描电压下，暗电流校正后的通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图像与暗电流校正后的未通过所述滤过器扫描空气时得到的亮场图像的亮场比例；
根据各所述扫描电压以及各所述扫描电压对应的亮场比例，得到所述滤过器的亮场过滤数据。
9.一种成像系统，其特征在于，包括：
机架：
成像源，设置于所述机架上；
成像器，与所述成像源相对设置于所述机架上；
滤过器，设置于所述成像源与所述成像器之间；
校正设备，与所述成像器连接，所述校正设备用于：
获取通过滤过器扫描得到的空气的第一亮场图像以及暗场图像，根据所述暗场图像对所述第一亮场图像进行暗电流校正，得到第二亮场图像；
根据当前扫描电压以及预设的所述滤过器的亮场过滤数据，对所述第二亮场图像进行转换，得到目标亮场图像，所述目标亮场图像表征在未安装所述滤过器时扫描空气的亮场图像；所述亮场过滤数据包括不同的扫描电压对应的所述滤过器的亮场过滤比例；
根据所述目标亮场图像，确定图像增益系数，根据所述图像增益系数，对扫描得到的待测对象的扫描图像进行增益校正。
10.一种电子设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至8任一项所述的图像校正方法。
11.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括计算机程序，所述计算机程序运行时控制所述存储介质所在校正设备执行权利要求1至8任一项所述的图像校正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210191371.7A CN114569145B (zh) | 2022-02-28 | 2022-02-28 | 图像校正方法、成像系统、电子设备和存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210191371.7A CN114569145B (zh) | 2022-02-28 | 2022-02-28 | 图像校正方法、成像系统、电子设备和存储介质 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114569145A true CN114569145A (zh) | 2022-06-03 |
| CN114569145B CN114569145B (zh) | 2024-08-06 |
Family
ID=81771670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202210191371.7A Active CN114569145B (zh) | 2022-02-28 | 2022-02-28 | 图像校正方法、成像系统、电子设备和存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN114569145B (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117745603A (zh) * | 2024-02-20 | 2024-03-22 | 湖南科洛德科技有限公司 | 基于线阵扫描设备的产品图像校正方法及设备和存储介质 |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101510298A (zh) * | 2009-03-17 | 2009-08-19 | 西北工业大学 | 一种ct伪影的综合校正方法 |
| CN102572273A (zh) * | 2010-12-21 | 2012-07-11 | 株式会社日立制作所 | 摄像装置 |
| CN103445803A (zh) * | 2013-09-09 | 2013-12-18 | 深圳先进技术研究院 | 基于正弦图的ct系统射束硬化消除方法及其系统 |
| CN109709597A (zh) * | 2018-11-13 | 2019-05-03 | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 | 平板探测器的增益校正方法 |
| CN110998653A (zh) * | 2017-07-26 | 2020-04-10 | 皇家飞利浦有限公司 | 用于暗场成像的散射校正 |
| WO2020090168A1 (ja) * | 2018-10-31 | 2020-05-07 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線位相差撮影システム |
| CN111553960A (zh) * | 2020-04-24 | 2020-08-18 | 重庆大学 | 一种基于投影均值图像的环状伪影快速校正方法 |
| CN113160092A (zh) * | 2021-05-17 | 2021-07-23 | 北京航星机器制造有限公司 | 一种物体遮挡条件下的探测器图像校正方法及系统 |
-
2022
- 2022-02-28 CN CN202210191371.7A patent/CN114569145B/zh active Active
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101510298A (zh) * | 2009-03-17 | 2009-08-19 | 西北工业大学 | 一种ct伪影的综合校正方法 |
| CN102572273A (zh) * | 2010-12-21 | 2012-07-11 | 株式会社日立制作所 | 摄像装置 |
| CN103445803A (zh) * | 2013-09-09 | 2013-12-18 | 深圳先进技术研究院 | 基于正弦图的ct系统射束硬化消除方法及其系统 |
| CN110998653A (zh) * | 2017-07-26 | 2020-04-10 | 皇家飞利浦有限公司 | 用于暗场成像的散射校正 |
| WO2020090168A1 (ja) * | 2018-10-31 | 2020-05-07 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線位相差撮影システム |
| CN109709597A (zh) * | 2018-11-13 | 2019-05-03 | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 | 平板探测器的增益校正方法 |
| CN111553960A (zh) * | 2020-04-24 | 2020-08-18 | 重庆大学 | 一种基于投影均值图像的环状伪影快速校正方法 |
| CN113160092A (zh) * | 2021-05-17 | 2021-07-23 | 北京航星机器制造有限公司 | 一种物体遮挡条件下的探测器图像校正方法及系统 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 董歌 等: "Micro CT投影图像噪声的去除", 医疗卫生装备, vol. 30, no. 2, 28 February 2009 (2009-02-28), pages 7 - 10 * |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117745603A (zh) * | 2024-02-20 | 2024-03-22 | 湖南科洛德科技有限公司 | 基于线阵扫描设备的产品图像校正方法及设备和存储介质 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN114569145B (zh) | 2024-08-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5405093B2 (ja) | 画像処理装置及び画像処理方法 | |
| JP5283718B2 (ja) | 放射線画像検出装置及び放射線画像検出装置に用いられるゲイン設定方法 | |
| EP1349378A1 (en) | Gain correction of image signal and calibration for gain correction | |
| US9301728B2 (en) | X-ray apparatus | |
| JP4807846B2 (ja) | Ｘ線画像診断装置 | |
| JPWO2010061810A1 (ja) | 放射線撮像装置 | |
| JP5424956B2 (ja) | 乳房放射線画像撮影装置 | |
| JP5858671B2 (ja) | 情報処理装置、放射線撮影システム、ｃアーム撮影装置及び入出力特性の取得方法 | |
| JP5498176B2 (ja) | ディジタル・イメージング・システムのためのゲイン較正及び補正手法 | |
| CN114569145B (zh) | 图像校正方法、成像系统、电子设备和存储介质 | |
| US20230068259A1 (en) | Auto exposure control system and image correction method | |
| CN109480891A (zh) | 计算机断层扫描系统和计算机断层扫描图像的生成方法 | |
| US20200077036A1 (en) | Radiographic imaging system | |
| US20180299565A1 (en) | A method for reshaping the characteristic exposure response and dosimetry of a direct radiography system | |
| JP2011067543A (ja) | 放射線制御装置及び放射線撮影システム、並びに撮影条件設定方法 | |
| JP2013135796A (ja) | 撮影制御装置、放射線撮影システム及び撮影制御方法 | |
| US20220313195A1 (en) | Image processing apparatus and storage medium | |
| US7949174B2 (en) | System and method for calibrating an X-ray detector | |
| JP2009171990A (ja) | Ｘ線検出器を較正するシステム及び方法 | |
| WO2019092981A1 (ja) | 画像処理装置、画像処理方法、放射線撮影装置、放射線撮影装置の制御方法、およびプログラム | |
| WO2013042416A1 (ja) | 放射線動画処理装置、放射線動画撮影装置、放射線動画撮影システム、放射線動画撮影方法、放射線動画撮影プログラム、及び放射線動画撮影プログラム記憶媒体 | |
| JP7309988B2 (ja) | 医用画像処理装置および医用画像処理方法 | |
| JP7574026B2 (ja) | 放射線撮影装置及びその制御方法、放射線撮影システム、並びに、プログラム | |
| JP7144292B2 (ja) | 医用画像処理装置および医用画像処理方法 | |
| JP2011250884A (ja) | Ｘ線診断装置及びキャリブレーションデータ保管システム |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |