JP2020524332A - オンチップ・タイミング不確実性測定の分解能を増大させるシステムおよび方法 - Google Patents
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Abstract
Description
電源電圧およびノイズ・モニタ
論理回路内における信号伝搬遅延は電力供給とともに変化し、その結果として、Tcmin(fmax)はVDDとともに変化する。VDDの局所的変動は、電力グリッド内の直列抵抗に関連したIR(電流×抵抗)の低下のために起こることがある。VDDの局所的変動は、チップが突然により多くの電流を引き込んだときのLdl/dt効果/ノイズによっても起こることがあり、電力供給ピン上のパッケージ・インダクタンス(package inductance)がそのようなドループ(droop)を引き起こす。局所VDD値の時間的変動は、回路切換え活動および引き込まれる電流が経時的に変動するときに起こる。VDDの低下はfmaxを低下させることがあり、タイミング不良の根本的原因となることがあるため、VDDのこのような変動は、オンチップ・モニタを用いて経時的に追跡される。
クロック・スキュー(clock skew)およびジッタ(jitter)(SKITTER)モニタは、エッジ検出器として機能するように構成されたタップ付き遅延チェーン/線(tapped delay chain/line)を含む。タップ付き遅延チェーン内の第1の遅延にクロック信号が入力されたことに応答して、連続した2つの論理「1」および連続した2つの論理「0」がそれぞれ、クロック信号の立ち上がりおよび立ち下がりエッジの位置を示す。遅延線の出力ノードはタップ付きであり、エッジ−トリガ型のラッチ(edge-triggered latch)に供給される。遅延線上の連続した2つの論理「1」または連続した2つの論理「0」が、対応するXNOR2回路からの論理「1」に帰着するような態様で、近隣のラッチの出力がXNOR2回路を駆動する。
クリティカル・パス・モニタ(CPM)は、シリコン・プロセス・モニタの機能を、電圧、ジッタおよびノイズ・モニタの機能と組み合わせて、単一のユニットにしたものである。チップ上の経路遅延の動的測定、および測定された遅延とチップ上に記憶された初期較正データとの比較は、温度、電圧、ノイズおよび老化の効果に起因する経時的な遅延変化に関する情報を提供する。この情報を使用して、最適性能のために電力およびクロック周波数を管理することができる。例えば、CPMは、遅延経路上にクロック・パルスを発射するための信号発生器、および経路遅延をディジタル・ビットに変換するためのエッジ検出器を含むことができる。遅延経路上での初期測定は、チップ上での最小限の切換え活動で実施することができ、後の時点で変化を追跡するために、そのデータを記憶することができる。その後に、チップが機能モードにあるときに、所定の間隔で経路遅延を測定することができる。システム動作パラメータを調整して電力および周波数を最適にする目的に重大な変化を使用することができるように、後に、この動的経路遅延測定値を初期較正と比較することができる。
インバータ/インバータ回路/NOTゲートは、論理否定を実施する論理ゲートである。インバータ回路は、その入力とは反対の論理レベルを表す電圧を出力する。その主な機能は、印加された入力がローである場合には出力がハイになり、印加された入力がハイである場合には出力がローになるように、印加された入力信号を反転させることである。低コストで製造することができるように、インバータは、抵抗器に結合された単一のN型金属−酸化物−半導体(NMOS)トランジスタまたは単一のP型金属−酸化物−半導体(PMOS)(p−MOS)トランジスタを使用して構築することができる。低コストで製造できるのは、この「抵抗ドレイン型(resistive-drain)」手法が1つのタイプのトランジスタだけを使用するためである。しかしながら、2つの状態のうちの1つの状態において抵抗器に電流が流れるため、この抵抗ドレイン型構成は、電力消費および処理速度に関して不利である。その代わりに、CMOS構成の2つの相補的トランジスタを使用してインバータを構築することもでき、この構成は、両方の論理状態において一方のトランジスタが常にオフであるため電力消費を大幅に低減させ、また、NMOSオンリー(NMOS-only)型またはPMOSオンリー(PMOS-only)型のデバイスに比べて抵抗が比較的に小さいため、処理速度も向上させることができる。インバータは、抵抗器−トランジスタ論理(RTL)またはトランジスタ−トランジスタ論理(TTL)構成のバイポーラ接合トランジスタ(BJT)を用いて構築することもできる。インバータ回路が、2つの電圧レベル間でスワップする基本的な論理ゲートとして機能するように、ディジタル電子回路は、論理0または1に対応する固定電圧レベルで動作し、実際の電圧は実施態様が決定するが、TTL回路については一般的なレベルが(0、+5V)を含む。
フリップ−フロップ/フリップ−フロップ回路は、2つの安定状態を有し、状態情報を記憶する目的に使用することができ、双安定マルチバイブレータである回路である。1つまたは複数の制御入力に印加された信号によって状態を変化させるようにフリップ−フロップを製作することができ、フリップ−フロップは1つまたは2つの出力を有する。フリップ−フロップは、その2つの状態のうちの一方の状態が「1」を表し、もう一方の状態が「0」を表すような態様で1ビット(2進数字)のデータを記憶する。フリップ−フロップに関して、有限状態機械の中で使用されるとき、出力および次の状態は、フリップ−フロップの現在の入力に依存するだけでなく、フリップ−フロップの現在の状態(したがって以前の入力)にも依存する。フリップ−フロップを使用して、パルスをカウントすること、および可変的にタイミングがとられた入力信号をある基準タイミング信号に同期させることができる。フリップ−フロップは、フリップ・フロップの出力が、一方のタイプのクロック・エッジ(ポジティブ・ゴーイング(positive going)またはネガティブ・ゴーイング(negative going))でのみ変化するような態様でクロッキングされる(同期またはエッジ・トリガされる(すなわちエッジ・センシティブである))。フリップ−フロップは、クロッキングされたデバイスとして、同期システム向けに、フリップ−フロップが、(クロッキング、パルシングまたはストロービング(strobing)として知られている)専用クロック信号の遷移を除いて同期システムの入力を無視するように特別に設計される。クロッキングによって、フリップ−フロップは、入力信号の値に基づいて、遷移時にその出力信号を変化させるかまたは維持する。あるフリップ−フロップは、クロックの立ち上がりエッジで出力を変化させ、別のフリップ−フロップは、立ち下がりエッジで出力を変化させる。フリップ−フロップは、フリップ−フロップがフリップ−フロップのクロック・ポート/入力において立ち上がりエッジ/立ち下がりエッジを受信したときにデータを捕捉するマスタ−スレーブ・ディジタル論理素子である。
ラッチは、2つのブール入力(Boolean input)(データおよびクロック)と1つのブール出力とを有するディジタル・ハードウェア記憶素子である。このようなラッチに関して、ラッチのクロック入力がある値(例えば論理1)であるときには、ラッチのデータ入力の値がラッチのデータ出力に伝搬され(すなわち透過モード)、ラッチのクロック入力がそれ以外の値(例えば論理0)であるときには、最後の伝搬された値がラッチの出力で保持される。このクロックを、時間ステップごとに0と1の間で交番する信号としてモデル化することができる。クロックが1であるときにサンプリングするラッチをL1ラッチと表示することができ、クロックが0であるときにサンプリングするラッチをL2ラッチと表示することができる。ディジタル設計様式の一型は、それぞれのL1ラッチがL2ラッチに直接にフィードすることを要求し(マスタ−スレーブ・ラッチ対と呼ばれる)、L2だけが組合せ論理を駆動することを可能にする。ラッチは、イネーブルされたときに透過的/非同期になるような態様のレベルセンシティブ(level-sensitive)な素子である。
クロック信号は、ハイ状態とロー状態の間で振動する特定のタイプの信号であり、メトロノームのように利用されてディジタル回路の動作を調整する。クロック信号は、クロック発生器/クロック回路によって生成される。より複雑な構成も使用されるが、最も一般的なクロック信号は、デューティ・サイクル50%の方形波の形態をとり、通常は、固定された一定の周波数を有する。同期のためにクロック信号を使用する回路は、立ち上がりエッジもしくは立ち下がりエッジで、または2倍のデータ転送速度の場合にはクロック・サイクルの立ち上がりエッジと立ち下がりエッジの両方で、活動状態になることがある。十分な複雑さを有する大部分の集積回路(IC)は、ワースト・ケース内部伝搬遅延よりも遅い速度でサイクリングする回路の異なる部分を同期させるために、クロック信号を使用する。ICがより複雑になるにつれて(例えばマイクロプロセッサ)、同期した正確なクロックを全ての回路に供給する課題はますます困難になる。
クロック不確実性は、クロック・エッジが出現する時間の不確実性であり、クロック・スキュー、クロック・ジッタおよびクロック・オーバヘッドによって決定される。クロック不確実性は、(i)影響を受けたチップを廃棄する必要性に帰着する、周波数非依存性の最小遅延(ホールド)不良、および(ii)より低い動作周波数でのチップの販売に帰着する、周波数依存性の最大遅延(セットアップ)不良など、ディジタル回路/チップ設計の実行可能性に対して有害な効果を有し得る。
クロック・スキュー(時にタイミング・スキューと呼ばれる)は、(コンピュータ・システムなどの)同期ディジタル回路システムにおいて、同じ源からのクロック信号が異なる構成要素に異なる時刻に到着する現象である。大部分のディジタル回路の動作は、回路上のデバイスのシーケンスおよびペーシング(pacing)を指令する「クロック」として知られる周期信号によって同期が取られる。このクロックは、単一の源から回路の全ての記憶素子に分配される。この記憶素子は、例えばレジスタまたはフリップ−フロップである。エッジ−トリガ型のレジスタを使用している回路では、クロック・エッジまたはチック(tick)がレジスタに到着したときに、そのレジスタは、レジスタ入力をレジスタ出力に伝達し、これらの新たな出力値が組合せ論理を流れて、次のクロック・チックのためのレジスタ入力にそれらの値を提供する。理想的には、回路全体の振舞いを正確に予測することができるように、それぞれの記憶素子への入力が、次のクロック・チックのためにその最終的な値に適時に達する。システムがランすることができる最大速度は、物理的組成、温度および経路長の違いよって回路のさまざまな素子間に生じる変動を考慮しなければならない。同期回路では、2つのレジスタまたはフリップ−フロップを論理経路が接続している場合、それらの2つのレジスタまたはフリップ−フロップは、「連続して隣り合っている(sequentially adjacent)」と言われる。宛先レジスタ・クロック・ピンおよびソース・レジスタ・クロック・ピンにおけるクロック到着時間がそれぞれTCiおよびTCjに等しい、連続して隣り合った2つのレジスタRiおよびRjが与えられた場合、クロック・スキューは次のように定義することができる:Tskew i,j=TCi−TCj。クロック・スキューは、チップ上の異なる2つの位置に到着した全く同じ2つのクロック信号の遅延の差を表す(空間的分離)。クロック・スキューの結果、コア・クロックの単一の遷移は、全てのラッチまたはフリップ−フロップに同時に到着しないことがあり得る。
クロック・ジッタ/ジッタは、クロック信号生成回路によって導入されるクロック・エッジの不正確さである。クロック・ジッタは、クロック周期またはデューティ・サイクルの統計的変動と見ることができる。クロック・ジッタにより、クロック・ツリー内のいずれかの点でクロック周波数が一定にならないことが起こり得る。ワースト・ケース・ジッタは、使用可能なクロック・サイクル時間を決定し得る。
クロック・オーバヘッドは、逐次記憶素子(sequential storage element)が入来データをポジティブに記憶する(または分解する)必要がある時間を指す。クロック・オーバヘッドは、逐次記憶素子の準安定特性に直接に関係する。
ある種のクロック・ネットワーク(例えばツリー、グリッドおよび蛇行クロック・ネットワーク)では、満足のいくエッジ・レートを保証し、スキューを低減させるために、クロック信号をバッファする(再生する)必要がある。チップ内の領域またはクラスタへのクロック信号を再生するために、グローバル・クロック・バッファ(GCB)が使用され、GCBは通常、スキュー調整制御を有するように設計される。ローカル・クロック・バッファ/ローカル・クロック・バッファ回路(LCB)は、それぞれのクラスタ内の機能ブロックへのクロック信号を再生する目的に使用され、LCBは通常、電力を低減させるためにクロック信号がオンまたはオフにゲート制御されることを可能にする論理を含む。
パス・トランジスタ論理(pass transistor logic)(PTL)/パス・ゲート回路(pass gate circuit)は、電圧を供給するために直接に接続されるスイッチとしてトランジスタが使用される代わりに、回路のノード間で論理レベルを受け渡しするためのスイッチとしてトランジスタが使用されるように冗長なトランジスタを排除することによって、異なる論理ゲートを作製するために使用されるトランジスタの数を減らし、その結果として能動デバイスの数を減らす。パス・トランジスタは、周期的なクロック信号によって駆動され、入力信号Vinに応じて寄生容量Cxをチャージアップまたはチャージダウンするためのアクセス・スイッチとして機能する。したがって、クロック信号がアクティブ(CK=1)であるときの可能な2つの動作は、論理「1」トランスファ(静電容量Cxを論理ハイ・レベルにチャージアップすること)、および論理「0」トランスファ(静電容量Cxを論理ロー・レベルにチャージダウンすること)である。いずれにせよ、デプリーション・ロード(depletion load)nMOSインバータの出力は、電圧Vxに応じて論理的ロー・レベルまたは論理的ハイ・レベルをとる。
擬似負荷(dummy load)/擬似負荷回路は、電気的な負荷をシミュレートするために使用されるデバイスであり、通常は試験目的で使用される。
CPMは、CPM設計を選択する際に考慮すべき限界、およびチップ上の他のモニタとの重複を有する。例えば、今日のチップ設計に対して使用されている電子設計自動化(EDA)タイミング・ツールは、経路が正のスラック(slack)を有する場合(高速経路)に、サイクル時間を依然として満たしつつ電力を低減させるように、その経路上のゲートのトランジスタ幅が調整されるような態様で、トランジスタのサイズを適当に設定することによって、全ての経路の遅延を等しくすることを試みる。その結果として、Tcminを支配する単一の経路が存在せず、このことは、代表的な単一のクリティカル・パスを識別する際の困難につながる。
分解能を増大させるために長いサイクル時間(例えば2/3/4サイクル)でCPMを動作させることも問題となる。例えば、このようなスキームは、1%未満の分解能を得るのに4サイクルを必要とするであろう。さらに、例えば、電圧センサ(CPM)が1つの新たなマージン/電圧値を提供することが3サイクルごとにしか許されていない場合、CPMの分解能はより高くなるであろう。しかしながら、このようなスキームは、CPMから新たなサンプルを出力するためのより長い時間を含むCPM待ち時間につながり得る。ドループが起こっている間の増大した待ち時間は、軽減を遅らせ得る。言い換えると、このスキームは、緊急事態を(いくつかのポイントで)検出するCPMからのサンプルが、(1サイクルごとに1つサンプルをポップアップする場合に対して)遅延していると考えることができるような態様で、マージン/電圧の測定回数の減少に帰着し得る。CPMを電圧センサとして使用するとき、遅れはCPM分解能に依存する。したがって、分解能を細かくすることは遅れを小さくすることにつながり得る。したがって、分解能をより細かくする必要がある。
図1を参照すると、例示的な実施形態において、本発明は、オンチップ・タイミング不確実性測定の分解能を増大させるシステム100を提供する。例示的な実施形態において、このシステムは、(1)チェーン構成で論理的に結合された遅延回路110、112、114、116のセットであり、(a)遅延回路110、112、114、116のうちのそれぞれの遅延回路が遅延入力および遅延出力を含み、(b)セットの中の第1の遅延回路110の遅延入力が、プログラム可能遅延回路190のプログラム可能遅延回路出力に論理的に結合されており、(c)セットの中の第2の遅延回路112の遅延入力が、第1の遅延回路110の遅延出力に論理的に結合されており、(d)セットの中の残りの遅延回路114、116のうちのそれぞれの遅延回路の遅延入力が、セットの中の直前の遅延回路の遅延出力に論理的に結合されている、遅延回路110、112、114、116のセットと、(2)遅延回路110、112、114、116のうちのそれぞれの遅延回路の遅延出力にそれぞれ論理的に結合された複数のフリップ−フロップ回路120、122、124、126、128、130であり、フリップ−フロップ回路の段140、142を形成しており、(a)フリップ−フロップ回路120、122、124、126、128、130のうちのそれぞれのフリップ−フロップ回路が、フリップ−フロップ入力、クロック入力およびフリップ−フロップ出力を含み、(b)複数のフリップ−フロップ回路120、122、124、126、128、130のうちのそれぞれのフリップ−フロップ回路のフリップ−フロップ入力がそれぞれ、遅延回路110、112、114、116のうちのそれぞれの遅延回路の遅延出力に論理的に結合されている、複数のフリップ−フロップ回路120、122、124、126、128、130と、(3)フリップ−フロップ回路の段140、142のうちのそれぞれの段にそれぞれ論理的に結合されたクロック回路150、152であり、(a)クロック回路150、152のクロック出力が、フリップ−フロップ回路の段140、142のうちのそれぞれの段の中のそれぞれのフリップ−フロップ回路120、124、128、122、126、130のクロック入力に論理的に結合されており、(b)クロック回路150、152が、プログラム可能遅延を含むスキュード・クロック信号を、クロック回路150、152のクロック出力から、フリップ−フロップ回路の段140、142のうちのそれぞれの段の中のそれぞれのフリップ−フロップ回路120、124、128、122、126、130のクロック入力に送信するように論理的に構成されており、その結果、対応するプログラム可能遅延を含むスキュード・クロック信号がそれぞれ、クロック回路150、152によって、フリップ−フロップ回路の段140、142に送信される、クロック回路150、152とを含み、(4)遅延回路110、112、114、116のセットの中の第1の遅延回路110の遅延入力が、プログラム可能遅延回路190のプログラム可能遅延回路出力からの出力を受信したことに応答して、遅延回路110、112、114、116のうちのそれぞれの遅延回路の遅延出力からの出力を、複数のフリップ−フロップ回路120、122、124、126、128、130のうちのそれぞれのフリップ−フロップ回路のフリップ−フロップ入力上で受信したことに応答して、およびクロック回路150、152からのスキュード・クロック信号を、フリップ−フロップ回路の段140、142のうちのそれぞれの段の中のそれぞれのフリップ−フロップ回路120、124、128、122、126、130のクロック入力上で受信したことに応答して、遅延回路110、112、114、116のうちのそれぞれの遅延回路の遅延出力から送信されたエッジ信号が、複数のフリップ−フロップ回路120、122、124、126、128、130内でどれくらい遠くまで伝搬したのかを、複数のフリップ−フロップ回路120、122、124、126、128、130のフリップ−フロップ出力を介してそれぞれ示すように、複数のフリップ−フロップ回路120、122、124、126、128、130が論理的に構成されている。
図2を参照すると、例示的な実施形態において、本発明は、オンチップ・タイミング不確実性測定の分解能を増大させる方法200を提供する。例示的な実施形態において、方法200は、(1)プログラム可能遅延回路のプログラム可能遅延回路出力からの出力を、チェーン構成で論理的に結合された遅延回路のセットの中の第1の遅延回路の遅延入力上で受信する動作210と、(2)遅延回路のセットの中の第1の遅延回路の遅延入力が、プログラム可能遅延回路のプログラム可能遅延回路出力からの出力を受信したことに応答して、遅延回路のうちのそれぞれの遅延回路の遅延出力からの出力を、複数のフリップ−フロップ回路のうちのそれぞれのフリップ−フロップ回路のフリップ−フロップ入力上で受信する動作212であり、複数のフリップ−フロップ回路がフリップ−フロップ回路の段を形成している、動作212と、(3)フリップ−フロップ回路の段のうちのそれぞれの段に論理的に結合されたクロック回路によって、プログラム可能遅延を含むスキュード・クロック信号を、クロック回路のクロック出力から、フリップ−フロップ回路の段のうちのそれぞれの段の中のそれぞれのフリップ−フロップ回路のクロック入力に送信する動作214であり、その結果、対応するプログラム可能遅延を含むスキュード・クロック信号がそれぞれ、クロック回路によって、フリップ−フロップ回路の段に送信される、動作214と、(4)遅延回路のうちのそれぞれの遅延回路の遅延出力からの出力を、複数のフリップ−フロップ回路のうちのそれぞれのフリップ−フロップ回路のフリップ−フロップ入力上で受信したことに応答して、およびクロック回路からのスキュード・クロック信号を、フリップ−フロップ回路の段のうちのそれぞれの段の中のそれぞれのフリップ−フロップ回路のクロック入力上で受信したことに応答して、遅延回路のうちのそれぞれの遅延回路の遅延出力から送信されたエッジ信号が、複数のフリップ−フロップ回路内でどれくらい遠くまで伝搬したのかを、複数のフリップ−フロップ回路によって、複数のフリップ−フロップ回路のフリップ−フロップ出力を介してそれぞれ示す動作216とを含む。
プログラム可能遅延によるもの
例示的な実施形態において、この方法は、(a)フリップ−フロップ回路の段のうちのそれぞれの段に対応するローカル・クロック・バッファ回路であり、(i)ローカル・クロック・バッファ回路が、ローカル・クロック・バッファ入力およびローカル・クロック・バッファ出力を含み、(ii)ローカル・クロック・バッファ回路のローカル・クロック・バッファ入力がマスタ・クロック回路の出力に論理的に結合された、ローカル・クロック・バッファ回路と、(b)フリップ−フロップ回路の段のうちのそれぞれの段に対応するチェーン構成で論理的に結合されたインバータ回路のセットであり、(i)インバータ回路のうちのそれぞれのインバータ回路がインバータ入力およびインバータ出力を含み、(ii)インバータ回路のセットの中の第1のインバータ回路のインバータ入力が、ローカル・クロック・バッファ回路のローカル・クロック・バッファ出力に論理的に結合されており、(iii)インバータ回路のセットの中の第2のインバータ回路のインバータ入力が、第1のインバータ回路のインバータ出力に論理的に結合されており、(iv)インバータ回路のセットの中の残りのインバータ回路のうちのそれぞれのインバータ回路のインバータ入力が、インバータ回路のセットの中の直前のインバータ回路のインバータ出力に論理的に結合されている、インバータ回路のセットと、(c)フリップ−フロップ回路の段のうちのそれぞれの段に対応するインバータ回路のセットの中のインバータ回路のうちのそれぞれのインバータ回路のインバータ出力に論理的に結合されたパス・ゲート回路および擬似負荷回路のセットであり、パス・ゲート回路および擬似負荷回路のセットが、パス・ゲート回路および擬似負荷回路のセットの制御線が制御信号を受信したことに応答してスキュード・クロック信号のプログラム可能遅延を生成するように論理的に構成された、パス・ゲート回路および擬似負荷回路のセットとを含み、(d)インバータ回路のセットの中の第1のインバータ回路のインバータ入力がローカル・クロック・バッファ回路のローカル・クロック・バッファ出力からの出力を受信したことに応答して、およびパス・ゲート回路および擬似負荷回路のセットが、スキュード・クロック信号のプログラム可能遅延を生成したことに応答して、フリップ−フロップ回路の段のうちのそれぞれの段にスキュード・クロック信号を送信するように、インバータ回路のセットの中の最後のインバータ回路のインバータ出力が論理的に構成されている。例えば、擬似負荷回路は、インバータ回路、キャパシタおよび可変容量性負荷のうちの少なくとも1つとすることができる。
例示的な実施形態において、クロック回路は、(a)フリップ−フロップ回路の段のうちのそれぞれの段に対応するローカル・クロック・バッファ回路であり、(i)ローカル・クロック・バッファ回路が、ローカル・クロック・バッファ入力、電圧供給入力およびローカル・クロック・バッファ出力を含み、(ii)ローカル・クロック・バッファ回路のローカル・クロック・バッファ入力が、マスタ・クロック回路のマスタ・クロック回路出力に論理的に結合された、ローカル・クロック・バッファ回路と、(b)フリップ−フロップ回路の段のうちのそれぞれの段に対応するローカル・クロック・バッファ回路の電圧供給入力に電気的に結合されたプログラム可能ヘッダ回路であり、プログラム可能ヘッダ回路が、スキュード・クロック信号のプログラム可能遅延を生成するように電気的に構成された、プログラム可能ヘッダ回路とを含み、(c)ローカル・クロック・バッファ回路のローカル・クロック・バッファ入力が、マスタ・クロック回路のマスタ・クロック回路出力からの出力を受信したことに応答して、およびプログラム可能ヘッダ回路が、スキュード・クロック信号のプログラム可能遅延を生成したことに応答して、フリップ−フロップ回路の段のうちのそれぞれの段にスキュード・クロック信号を送信するように、ローカル・クロック・バッファ回路のローカル・クロック・バッファ出力が論理的に構成されている。特定の実施形態において、プログラム可能ヘッダ回路は少なくとも1つのトランジスタを含む。特定の実施形態において、この少なくとも1つのトランジスタはp−MOSトランジスタである。例えば、プログラム可能ヘッダ回路は、そのそれぞれのローカル・クロック・バッファ回路に異なる電圧供給を提供することができる。具体的な例では、プログラム可能ヘッダ回路が異なる強度(strength)を有する。さらなる例では、プログラム可能ヘッダ回路がそれぞれ、プログラム可能ヘッダ回路内のトランジスタの数に比例した異なる強度を有する。
一実施形態において、本発明は、それぞれの遅延ブロックblockの出力が多数のラッチによって捕捉される遅延ブロックのチェーンを使用する。例えば、「block−i」がi番目の遅延ブロックである場合、latch−i,jは、i番目の遅延ブロックの出力を捕捉するj番目のラッチであるとする。具体的には、例えば、latch i,1は、サイクルの終わりに出力を捕捉することができ、latch i,2は、それよりもわずかに後の時刻に出力を捕捉することができ、latch i,3は、それよりもわずかに後の時刻に出力を捕捉することができ、以下同様である。さらなる例では、DTが、これらのラッチの捕捉クロック間のスキューである場合、信号伝搬がDTだけ変化した場合にlatch i,2の状態が変化することができるように、latch i,2は、latch i,1が補足してから時間DTの後に、伝搬された信号を捕捉することができる。DTは、それぞれの遅延ブロックの遅延よりも小さくすることができる。一実施形態において、本発明は、その結果、時間ベースのセンサの有効分解能を増大させることができる。具体的には、例えば、本発明は、(分解能を増大させるための)多数の連続した測定を必要とすることなしに、オンチップ・タイミング不確実性の測定分解能の増大(おそらく1ピコ秒未満の分解能)を提供することができる。
Claims (13)
- システムであって、
チェーン構成で論理的に結合された遅延回路のセットであり、
前記遅延回路のうちのそれぞれの遅延回路が遅延入力および遅延出力を備え、前記セットの中の第1の遅延回路の前記遅延入力が、プログラム可能遅延回路のプログラム可能遅延回路出力に論理的に結合されており、
前記セットの中の第2の遅延回路の前記遅延入力が、前記第1の遅延回路の前記遅延出力に論理的に結合されており、
前記セットの中の残りの遅延回路のうちのそれぞれの遅延回路の前記遅延入力が、前記セットの中の直前の遅延回路の前記遅延出力に論理的に結合されている、
遅延回路の前記セットと、
前記遅延回路のうちの前記それぞれの遅延回路の前記遅延出力にそれぞれ論理的に結合された複数のフリップ−フロップ回路であり、フリップ−フロップ回路の段を形成しており、
前記フリップ−フロップ回路のうちのそれぞれのフリップ−フロップ回路が、フリップ−フロップ入力、クロック入力およびフリップ−フロップ出力を備え、
前記複数のフリップ−フロップ回路のうちのそれぞれのフリップ−フロップ回路の前記フリップ−フロップ入力がそれぞれ、前記遅延回路のうちの前記それぞれの遅延回路の前記遅延出力に論理的に結合されている、
前記複数のフリップ−フロップ回路と、
フリップ−フロップ回路の前記段のうちのそれぞれの段にそれぞれ論理的に結合されたクロック回路であり、
前記クロック回路のクロック出力が、フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段の中のそれぞれのフリップ−フロップ回路の前記クロック入力に論理的に結合されており、
前記クロック回路が、プログラム可能遅延を含むスキュード・クロック信号を、前記クロック回路の前記クロック出力から、フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段の中の前記それぞれのフリップ−フロップ回路の前記クロック入力に送信するように論理的に構成されており、その結果、対応するプログラム可能遅延を含むスキュード・クロック信号がそれぞれ、クロック回路によって、フリップ−フロップ回路の前記段に送信される、
前記クロック回路と
を備え、
遅延回路の前記セットの中の前記第1の遅延回路の前記遅延入力が、前記プログラム可能遅延回路の前記プログラム可能遅延回路出力からの出力を受信したことに応答して、前記遅延回路のうちの前記それぞれの遅延回路の前記遅延出力からの出力を、前記複数のフリップ−フロップ回路のうちの前記それぞれのフリップ−フロップ回路の前記フリップ−フロップ入力上で受信したことに応答して、および前記クロック回路からの前記スキュード・クロック信号を、フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段の中の前記それぞれのフリップ−フロップ回路の前記クロック入力上で受信したことに応答して、前記遅延回路のうちの前記それぞれの遅延回路の前記遅延出力から送信されたエッジ信号が、前記複数のフリップ−フロップ回路内でどれくらい遠くまで伝搬したのかを、前記複数のフリップ−フロップ回路の前記フリップ−フロップ出力を介してそれぞれ示すように、前記複数のフリップ−フロップ回路が論理的に構成された、
システム。 - 前記遅延回路のうちの前記それぞれの遅延回路が少なくとも2つのインバータ回路を備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記スキュード・クロック信号が共通の周波数を有し、
前記スキュード・クロック信号のうちのそれぞれのスキュード・クロック信号が、対応するプログラム可能遅延によって決定される異なる到着時間(スキュー)を有する、
請求項1に記載のシステム。 - 前記クロック回路が、
フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段に対応するローカル・クロック・バッファ回路であり、
前記ローカル・クロック・バッファ回路が、ローカル・クロック・バッファ入力およびローカル・クロック・バッファ出力を備え、
前記ローカル・クロック・バッファ回路の前記ローカル・クロック・バッファ入力がマスタ・クロック回路の出力に論理的に結合された、
前記ローカル・クロック・バッファ回路と、
フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段に対応するチェーン構成で論理的に結合されたインバータ回路のセットであり、
前記インバータ回路のうちのそれぞれのインバータ回路がインバータ入力およびインバータ出力を備え、
インバータ回路の前記セットの中の第1のインバータ回路の前記インバータ入力が、前記ローカル・クロック・バッファ回路の前記ローカル・クロック・バッファ出力に論理的に結合されており、
インバータ回路の前記セットの中の第2のインバータ回路の前記インバータ入力が、前記第1のインバータ回路の前記インバータ出力に論理的に結合されており、
インバータ回路の前記セットの中の残りのインバータ回路のうちのそれぞれのインバータ回路の前記インバータ入力が、インバータ回路の前記セットの中の直前のインバータ回路の前記インバータ出力に論理的に結合されている、
インバータ回路の前記セットと、
フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段に対応するインバータ回路の前記セットの中の前記インバータ回路のうちのそれぞれのインバータ回路の前記インバータ出力に論理的に結合されたパス・ゲート回路および擬似負荷回路のセットであり、パス・ゲート回路および擬似負荷回路の前記セットが、パス・ゲート回路および擬似負荷回路の前記セットの制御線が制御信号を受信したことに応答して前記スキュード・クロック信号の前記プログラム可能遅延を生成するように論理的に構成された、パス・ゲート回路および擬似負荷回路の前記セットと
を備え、
インバータ回路の前記セットの中の前記第1のインバータ回路の前記インバータ入力が前記ローカル・クロック・バッファ回路の前記ローカル・クロック・バッファ出力からの出力を受信したことに応答して、およびパス・ゲート回路および擬似負荷回路の前記セットが前記スキュード・クロック信号の前記プログラム可能遅延を生成したことに応答して、フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段に前記スキュード・クロック信号を送信するように、インバータ回路の前記セットの中の最後のインバータ回路の前記インバータ出力が論理的に構成された、
請求項1に記載のシステム。 - 前記クロック回路が、
フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段に対応するローカル・クロック・バッファ回路であり、
前記ローカル・クロック・バッファ回路が、ローカル・クロック・バッファ入力、電圧供給入力およびローカル・クロック・バッファ出力を備え、
前記ローカル・クロック・バッファ回路の前記ローカル・クロック・バッファ入力が、マスタ・クロック回路のマスタ・クロック回路出力に論理的に結合された、
前記ローカル・クロック・バッファ回路と、
フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段に対応する前記ローカル・クロック・バッファ回路の前記電圧供給入力に電気的に結合されたプログラム可能ヘッダ回路であり、前記プログラム可能ヘッダ回路が、前記スキュード・クロック信号の前記プログラム可能遅延を生成するように電気的に構成された、前記プログラム可能ヘッダ回路と
を備え、
前記ローカル・クロック・バッファ回路の前記ローカル・クロック・バッファ入力が、前記マスタ・クロック回路の前記マスタ・クロック回路出力からの出力を受信したことに応答して、および前記プログラム可能ヘッダ回路が、前記スキュード・クロック信号の前記プログラム可能遅延を生成したことに応答して、フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段に前記スキュード・クロック信号を送信するように、前記ローカル・クロック・バッファ回路の前記ローカル・クロック・バッファ出力が論理的に構成された、
請求項1に記載のシステム。 - 前記プログラム可能ヘッダ回路が少なくとも1つのトランジスタを備える、請求項5に記載のシステム。
- 前記少なくとも1つのトランジスタがp−MOSトランジスタである、請求項6に記載のシステム。
- 方法であって、
プログラム可能遅延回路のプログラム可能遅延回路出力からの出力を、チェーン構成で論理的に結合された遅延回路のセットの中の第1の遅延回路の遅延入力上で受信することと、
遅延回路の前記セットの中の前記第1の遅延回路の前記遅延入力が、前記プログラム可能遅延回路の前記プログラム可能遅延回路出力からの前記出力を受信したことに応答して、前記遅延回路のうちのそれぞれの遅延回路の遅延出力からの出力を、複数のフリップ−フロップ回路のうちのそれぞれのフリップ−フロップ回路のフリップ−フロップ入力上で受信することであり、前記複数のフリップ−フロップ回路がフリップ−フロップ回路の段を形成している、前記受信することと、
前記遅延回路のうちの前記それぞれの遅延回路の前記遅延出力からの前記出力を、前記複数のフリップ−フロップ回路のうちの前記それぞれのフリップ−フロップ回路の前記フリップ−フロップ入力上で受信したことに応答して、およびクロック回路からのスキュード・クロック信号を、フリップ−フロップ回路の前記段のうちのそれぞれの段の中のそれぞれのフリップ−フロップ回路のクロック入力上で受信したことに応答して、前記遅延回路のうちの前記それぞれの遅延回路の前記遅延出力から送信されたエッジ信号が、前記複数のフリップ−フロップ回路内でどれくらい遠くまで伝搬したのかを、前記複数のフリップ−フロップ回路によって、前記複数のフリップ−フロップ回路のフリップ−フロップ出力を介してそれぞれ示すことと
を含む方法。 - フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段に対するクロック回路によって、プログラム可能遅延を含むスキュード・クロック信号を、前記クロック回路のクロック出力から、フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段の中のそれぞれのフリップ−フロップ回路のクロック入力に送信することをさらに含み、その結果、対応するプログラム可能遅延を含むスキュード・クロック信号がそれぞれ、前記クロック回路によって、フリップ−フロップ回路の前記段に送信される、請求項8に記載の方法。
- 前記遅延回路のうちの前記それぞれの遅延回路が少なくとも2つのインバータ回路を備える、請求項8に記載の方法。
- 前記スキュード・クロック信号が共通の周波数を有し、
前記スキュード・クロック信号のうちのそれぞれのスキュード・クロック信号が、対応するプログラム可能遅延によって決定される異なる到着時間(スキュー)を有する、
請求項9に記載の方法。 - 前記送信することが、
マスタ・クロック回路のマスタ・クロック回路出力からの出力を、フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段に対応するローカル・クロック・バッファ回路のローカル・クロック・バッファ入力上で受信することと、
前記ローカル・クロック・バッファ回路の前記ローカル・クロック・バッファ入力が、前記マスタ・クロック回路の前記マスタ・クロック回路出力からの前記出力を受信したことに応答して、前記ローカル・クロック・バッファ回路のローカル・クロック・バッファ出力からの出力を、フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段に対応するチェーン構成で論理的に結合されたインバータ回路のセットの中の第1のインバータ回路のインバータ入力上で受信することと、
パス・ゲート回路および擬似負荷回路のセットの制御線が制御信号を受信したことに応答して、パス・ゲート回路および擬似負荷回路の前記セットによって、前記スキュード・クロック信号の前記プログラム可能遅延を生成することと、
インバータ回路の前記セットの中の前記第1のインバータ回路の前記インバータ入力が前記ローカル・クロック・バッファ回路の前記ローカル・クロック・バッファ出力からの前記出力を受信したことに応答して、および前記生成に応答して、インバータ回路の前記セットの中の最後のインバータ回路によって、フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段に前記スキュード・クロック信号を送信することと
を含む、請求項9に記載の方法。 - 前記送信することが、
マスタ・クロック回路のマスタ・クロック回路出力からの出力を、フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段に対応するローカル・クロック・バッファ回路のローカル・クロック・バッファ入力上で受信することと、
フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段に対応する前記ローカル・クロック・バッファ回路の電圧供給入力に電気的に結合されたプログラム可能ヘッダ回路によって、前記スキュード・クロック信号の前記プログラム可能遅延を生成することと、
前記ローカル・クロック・バッファ回路の前記ローカル・クロック・バッファ入力が前記マスタ・クロック回路の前記マスタ・クロック回路出力からの前記出力を受信したことに応答して、および前記生成に応答して、前記ローカル・クロック・バッファ回路によって、フリップ−フロップ回路の前記段のうちの前記それぞれの段に前記スキュード・クロック信号を送信することと
を含む、請求項9に記載の方法。
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